JPH11134875A - 半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御装置及び制御方法 - Google Patents

半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御装置及び制御方法

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JPH11134875A
JPH11134875A JP30072397A JP30072397A JPH11134875A JP H11134875 A JPH11134875 A JP H11134875A JP 30072397 A JP30072397 A JP 30072397A JP 30072397 A JP30072397 A JP 30072397A JP H11134875 A JPH11134875 A JP H11134875A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】セクタ毎のデータ消去を可能とするフラッシュ
メモリの制御方法を提供する。 【解決手段】複数のセクタで1つのデータブロックを構
成し、該データブロック毎に各セクタの格納データを消
去可能とした半導体記憶装置おいて、セクタに消去フラ
グ12を格納する領域を備え、該消去フラグ12が設定
されたとき、該セクタの格納データを読み出し不能とす
る疑似消去状態とし、該消去フラグが設定されないと
き、該セクタの格納データを読み出し可能とする未消去
状態とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体記憶装置
特にフラッシュメモリのデータ消去方法に関するもので
ある。
【0002】半導体記憶装置の一種類であるフラッシュ
メモリは、PCカードやその他の携帯用電子機器に使用
され、今後ますます市場が拡大すると予想される。PC
カードや携帯用電子機器の利便性を向上させるために、
このようなフラッシュメモリのデータ消去動作の自由度
を向上させることが必要となっている。
【0003】
【従来の技術】従来のフラッシュメモリのデータ格納領
域は、例えば図7に示すように、8つのセクタ1a〜1
hで1つのデータブロック2が構成され、このようなブ
ロック2が多数配列される。
【0004】このようなフラッシュメモリでは、各セク
タに格納されたデータの消去動作は、データブロック単
位で行われる。すなわち、例えばデータブロック2a内
のセクタ1a,1c,1d,1gにデータが書き込まれ
ている状態で、セクタ1cに書き込まれているデータの
みを消去したい場合にも、データブロック2aを一括し
て消去することしかできない。
【0005】そこで、セクタ1a,1d,1gに書き込
まれているデータを維持したい場合には、セクタ1a,
1d,1gの格納データを他のデータブロック2bに格
納した後、データブロック2a内の格納データを一括し
て消去する必要がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のフ
ラッシュメモリでは、セクタ毎に格納データを消去する
ことはできない。従って、データ消去動作の自由度が低
く、所望のセクタの格納データのみを消去する場合に
は、煩雑なデータ転送処理が必要となるという問題点が
ある。
【0007】この発明の目的は、セクタ毎のデータ消去
を可能とするフラッシュメモリの制御方法を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1では、ホスト装
置15より送出されるフラッシュメモリのセクタ11単
位の消去命令に応答して、該消去命令で指定されるセク
タ11に消去フラグを書き込むことにより、該セクタを
擬似的消去状態に設定する請求項2では、前記消去フラ
グは複数ビットで構成し、該消去フラグの各ビットに格
納された「1」の数が偶数であるか奇数であるかに基づ
いて、前記疑似消去状態あるいは未消去状態のいずれか
を設定可能とした。
【0009】請求項3では、前記消去フラグの各ビット
に格納された「1」あるいは「0」のいずれかのデータ
を1ビットずつ順次反転させることにより、前記疑似消
去状態及び未消去状態を交互に設定可能とした。
【0010】請求項4では、各データブロックに連続し
て格納されたセクタを前記疑似消去状態に設定すると
き、消去要求されたセクタ数に基づいて連続して格納さ
れたデータブロックのセクタにわたって疑似消去状態と
する。
【0011】請求項5では、前記疑似消去状態の設定に
基づいて、1つのデータブロック内の全セクタが疑似消
去状態に設定されたとき、該データブロックをブロック
単位で消去可能とする。
【0012】請求項6では、ホスト装置に接続されて該
ホスト装置とのデータの通信を行う半導体記憶装置は、
フラッシュメモリで構成され、少なくとも1つのセクタ
を含む消去単位としてのブロックを複数有してなる記憶
領域と、前記ホスト装置より送出されるセクタ単位の消
去命令に基づいて、該消去命令で指定されるセクタに消
去フラグを書き込むことにより、該セクタを擬似的消去
状態に設定する制御部とを有する。
【0013】請求項7では、半導体記憶装置のセクタ
は、複数のビットからなる消去フラグ領域を含み、前記
制御部は、該消去フラグ領域の「1」が書き込まれたビ
ット数が奇数であるか偶数であるかに基づいて、当該セ
クタを疑似消去状態あるいは未消去状態のいずれかの状
態に設定する。
【0014】請求項8では、半導体記憶装置の制御部
は、該消去フラグの各ビットに格納された「1」若しく
は「0」のいずれか一方のデータを1ビットずつ反転す
ることにより、当該セクタに対し、疑似消去状態と未消
去状態を交互に設定する。
【0015】請求項9では、フラッシュメモリで構成さ
れ、少なくとも1つのセクタを含む消去単位としてのブ
ロックを複数有してなる記憶領域を備えた半導体記憶装
置がホスト装置に接続されて、該ホスト装置とデータの
通信を行う半導体記憶装置の制御装置で、前記ホスト装
置より送出されるセクタ単位の消去命令に基づいて、該
消去命令で指定されるセクタに消去フラグを書き込むこ
とにより、該セクタを擬似的消去状態に設定する。
【0016】請求項10では、請求項9において、前記
セクタは、複数のビットからなる消去フラグ領域を含
み、該消去フラグ領域の「1」が書き込まれたビット数
が奇数であるか偶数であるかに基づいて、当該セクタを
疑似消去状態あるいは未消去状態のいずれかの状態に設
定する。
【0017】請求項11では、請求項10において、前
記消去フラグの各ビットに格納された「1」若しくは
「0」のいずれか一方のデータを1ビットずつ反転する
ことにより、当該セクタに対し、疑似消去状態と未消去
状態を交互に設定する。
【0018】(作用)請求項1,6,9では、消去フラ
グを書き込むことにより、当該セクタの格納データは読
み出されないので、当該セクタは擬似的に消去された状
態になる。
【0019】請求項2,7,10では、消去フラグの各
ビットに格納された「1」の数を偶数とすれば、例えば
未消去状態となり、奇数とすれば疑似消去状態となる。
請求項3,8,11では、消去フラグの各ビットに格納
された「1」あるいは「0」のデータを、1ビットずつ
反転させることにより、疑似消去状態と未消去状態とが
交互に設定される。
【0020】請求項4では、連続して疑似消去状態に設
定するセクタ数が当該データブロック内で連続するセク
タ数を超えると、当該データブロックに連続するデータ
ブロックのセクタを疑似消去状態に設定する。
【0021】請求項5では、1つのデータブロック内の
全セクタが疑似消去状態に設定されて、当該セクタの格
納データが不要となったとき、当該データブロックをブ
ロック単位で消去すると、全セクタの格納データが完全
に消去される。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は、本発明が適用されるシス
テム構成を示す。図1において、ホスト装置15は、例
えばパソコンやデジタルカメラであり、CPU15aを
備える。前記ホスト装置15には、バス19を介して外
部記憶装置としてのメモリーカード16が接続される。
【0023】前記メモリーカード16にはフラッシュメ
モリセルで構成される記憶領域17が設定され、その記
憶領域17は複数のデータブロック13に分割され、各
データブロック13は複数のセクタ11に分割され、各
セクタ11にデータがそれぞれ格納される。
【0024】また、前記メモリーカード16には制御部
(メモリコントローラ)18が搭載され、前記ホスト装
置15のCPU15aから発信されるコマンドに応答し
て、該コマンド中で指定されるアドレスのブロックやセ
クタに対し、データの読み書きや消去等の処理を行う。
【0025】前記ホスト装置15のCPU15aは、前
記記憶領域17内の各セクタ11を当該セクタ11の論
理アドレスで指定する。図2は、フラッシュメモリの1
つのセクタ11を示す。そのセクタ11の一部には8ビ
ットの消去フラグ12が設定される。前記セクタ11
は、例えば528バイトのデータ領域で構成され、その
データ領域内の16バイトが管理データ領域として設定
され、残りの512バイトがユーザーデータ領域として
設定される。そして、前記消去フラグ12は、管理デー
タ領域内に設定される。
【0026】前記消去フラグ12中の有効フラグ中、
「1」が書き込まれているビットの数が偶数であれば、
制御部18により当該セクタのデータは有効と判断さ
れ、奇数であれば、無効と判断される。
【0027】前記フラッシュメモリの書き込み動作、読
み出し動作及び消去動作は、ホスト装置15のCPU1
5aからのコマンドに基づいて動作する制御部18によ
り行われる。すなわち、フラッシュメモリには、制御部
18によりデータが書き込まれ、書き込まれたデータは
制御部18により読み出され、書き込まれたデータは制
御部18により消去可能である。
【0028】データの書き込み動作時には、制御部18
は前記CPU15aが出力する書き込みコマンドに基づ
いて空きセクタにデータを書き込む。空きセクタの各ビ
ットは「1」であり、制御部18による書き込み動作
は、所定のビットを「0」とする動作が行われる。
【0029】なお、CPU15aからの書き込みコマン
ドがデータの更新を示す場合、すなわちすでに有効デー
タが格納されているセクタが書き込み先として指定され
た場合には、制御部18は、書き込み先のセクタに有効
データが格納されていること(消去フラグで「1」が書
き込まれたビットが偶数であること)を検出した後、空
きセクタに更新データを書き込むとともに、旧データが
格納されているセクタの消去フラグの「1」が書き込ま
れている1ビットを「0」とすることにより、旧データ
を擬似的に消去する。
【0030】有効データの消去動作時には、制御部18
はCPU15aが出力する消去コマンドで指定されたセ
クタの消去フラグの「1」が書き込まれている1ビット
を「0」とする。
【0031】前記各セクタ11の消去フラグ12には、
図3(a)に示すように、最初に「FFh」すなわちす
べてのビットに「1」が書き込まれる。この状態では、
消去フラグ12内の「1」の数は偶数であるので、読み
出し動作時には当該セクタ11の格納データは未消去状
態と判断されて読み出される。
【0032】次いで、格納データを消去状態としたいセ
クタ11の消去フラグ12の1ビットを、同図(b)に
示すように「0」とすると、消去フラグ12内の「1」
の数は奇数であるので、読み出し動作時には当該セクタ
11の格納データは消去状態と判断されて読み出され
ず、例えば空きセクタと同様にすべて「1」のデータが
読み出される。
【0033】次いで、消去状態にあるセクタ11の格納
データを復活させたい場合には、当該セクタ11の消去
フラグ12の「1」が書き込まれている1ビットを、同
図(c)に示すように「0」とする。
【0034】すると、消去フラグ12内の「1」の数は
偶数となるので、読み出し動作時には当該セクタ11の
格納データは未消去状態と判断されて読み出される。す
なわち、当該セクタ11の格納データは消去状態から未
消去状態に復活する。
【0035】このようにして、消去フラグ12内で
「1」が書き込まれているビットを順次「0」とするこ
とにより、当該セクタ11の格納データを3回まで有効
状態及び無効状態に交互に切り換えることが可能とな
る。
【0036】また、図3(h)に示すように、消去フラ
グ12が「00h」すなわちすべてのビットが「0」と
なった場合には、当該セクタ11の格納データは消去状
態と判断される。
【0037】上記のような消去フラグ12を備えたセク
タ11では、消去フラグ12の内容に基づいて複数のセ
クタ11を同時に消去状態とすることが可能となる。同
時に消去状態とするセクタ11は複数のブロックに跨っ
ていてもよい。
【0038】図4は、それぞれ8セクタで構成される3
つのブロック13a〜13cに跨って、連続する19の
セクタを消去する場合を示す。前記ブロック13a,1
3bは境界A−Aを介して連続し、前記ブロック13
b,13cは境界B−Bを介して連続するものとする。
【0039】ブロック13aの2番目のセクタ11aを
先頭として、連続する19セクタの格納データを消去状
態とするCPU15aからの消去要求が前記制御部18
に入力されると、まずブロック13aのセクタ11aか
ら最後部のセクタ11bまで、その消去フラグに「1」
が書き込まれているビット数を奇数として疑似消去され
る。
【0040】ブロック13aでは7セクタが疑似消去さ
れ、残り12セクタを消去する必要があるので、ブロッ
ク13aに連続するブロック13bが消去対象となる。
そして、ブロック13bの先頭のセクタ11cから最後
部のセクタ11dまでの8セクタが上記のように疑似消
去される。
【0041】すると、残り4セクタを消去する必要があ
るので、ブロック13cが消去対象となる。そして、ブ
ロック13cの先頭のセクタ11eから4番目のセクタ
11fまで、上記のように疑似消去される。
【0042】このような動作により、複数のブロックに
跨って任意数のセクタの格納データを疑似消去すること
が可能となる。図5は、1つのブロック13d内のセク
タを複数回にわたって疑似消去する場合を示す。例えば
1回目の疑似消去動作で先頭から3番目のセクタ11g
から7番目のセクタ11hまでを疑似消去する。ブロッ
ク13d内の残りのセクタは未消去状態として格納デー
タを読み出し得る状態として使用する。
【0043】2回目の疑似消去動作で、先頭のセクタ1
1iと2番目のセクタ11jとを疑似消去し、残りのセ
クタは未消去状態として格納データを読み出し得る状態
として使用する。
【0044】3回目の疑似消去動作で、残りのセクタ1
1k,11m,11nを疑似消去する。すると、ブロッ
ク13d内の全セクタが疑似消去され、ブロック13d
内の格納データは読み出されない状態となる。また、各
セクタの消去フラグの書き換えにより、ブロック13d
内の任意のセクタの格納データを未消去状態に復活させ
ることも可能である。
【0045】一方、全セクタを疑似消去状態としたブロ
ック13dは新たなデータを書き込むことはできないた
め、疑似消去した格納データが不要なデータである場合
には、3回目の疑似消去動作に換えて、ブロック消去動
作を行えば、ブロック13dの各セクタには新たなデー
タを格納することが可能となる。
【0046】また、ブロック内の全セクタが復活不可能
(全セクタにおいて、消去フラグの全ビットが「0」)
であれば、制御部18はこれを検出してブロック消去を
行うことができる。
【0047】図6は、任意の複数のブロック13e〜1
3g内の任意のセクタを疑似消去する場合を示す。ブロ
ック13eのセクタ11o,11pと、ブロック13f
のセクタ11q及びブロック13gのセクタ11rに対
するCPU15aからの消去要求が制御部18に入力さ
れると、前記セクタ11o〜11rに対し任意の順番で
前記疑似消去動作が行われる。
【0048】このようにして、連続あるいは不連続な任
意のブロック13e〜13g内のセクタの疑似消去動作
が可能となり、各ブロック13e〜13gで疑似消去動
作を行わないセクタから格納データを読み出すことが可
能である。
【0049】このような消去フラグ12を備えたフラッ
シュメモリでは、次に示す作用効果を得ることができ
る。 (1)各セクタに消去フラグ12を設定し、その消去フ
ラグの設定に基づいて、当該セクタの格納データを読み
出さない疑似消去状態を設定することができる。従っ
て、任意のセクタ毎に未消去状態及び疑似消去状態のい
ずれかを設定することができる。 (2)消去フラグ12のビット数を8ビットとし、その
消去フラグ12の「1」が書き込まれているビット数が
偶数であるとき当該セクタを未消去に設定し、奇数であ
るとき当該セクタを疑似消去に設定し、消去フラグ12
を「FFh」の状態から順次1ビットずつ「0」に書き
換えれば、当該セクタを疑似消去状態から未消去状態に
3回まで復活させることができる。 (3)消去フラグ12のビット数を8ビット以外の適宜
な偶数ビットに設定すれば、当該セクタの疑似消去状態
から未消去状態への復活可能回数を適宜に設定すること
ができる。 (4)複数のブロックに跨る任意数の連続するセクタを
疑似消去状態に設定することができる。 (5)同一ブロック内の任意数のセクタを未消去状態か
ら疑似消去状態に、あるいは疑似消去状態から未消去状
態へ複数回に分けて設定することができる。 (6)任意数の異なるブロック内の任意数のセクタを疑
似消去状態に設定することができる。
【0050】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明はセクタ
毎のデータ消去を可能とするフラッシュメモリのデータ
消去方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 半導体記憶装置の制御装置を示すブロック図
である。
【図2】 セクタを示す説明図である。
【図3】 消去フラグを示す説明図である。
【図4】 複数のデータブロックに跨るセクタ毎の消去
動作を示す説明図である。
【図5】 同一データブロック内のセクタ毎の消去動作
を示す説明図である。
【図6】 複数のデータブロックのセクタ毎の消去動作
を示す説明図である。
【図7】 従来の消去動作を示す説明図である。
【符号の説明】
11 セクタ 12 消去フラグ 13 データブロック 15 ホスト装置 16 メモリーカード 17 記憶領域 18 制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ▲高▼松屋 嘉宏 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フラッシュメモリで構成され、少なくと
    も1つのセクタを含む消去単位としてのブロックを複数
    有してなる記憶領域を備え、ホスト装置に接続されて該
    ホスト装置とデータの通信を行う半導体記憶装置の制御
    方法であって、 前記ホスト装置より送出される前記セクタ単位の消去命
    令に応答して、該消去命令で指定されるセクタに消去フ
    ラグを書き込むことにより、該セクタを擬似的消去状態
    に設定することを特徴とする半導体記憶装置の制御方
    法。
  2. 【請求項2】 前記消去フラグは複数ビットで構成し、
    該消去フラグの各ビットに格納された「1」の数が偶数
    であるか奇数であるかに基づいて、疑似消去状態あるい
    は未消去状態のいずれかを設定可能としたことを特徴と
    する請求項1記載の半導体記憶装置の制御方法。
  3. 【請求項3】 前記消去フラグの各ビットに格納された
    「1」若しくは「0」のいずれかのデータを1ビットず
    つ順次反転させることにより、前記疑似消去状態及び未
    消去状態を交互に設定可能としたことを特徴とする請求
    項2記載の半導体記憶装置の制御方法。
  4. 【請求項4】 各データブロックに連続して格納された
    セクタを前記疑似消去状態に設定するとき、消去要求さ
    れたセクタ数に基づいて連続して格納されたデータブロ
    ックのセクタにわたって疑似消去状態とすることを特徴
    とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体記憶装
    置の制御方法。
  5. 【請求項5】 前記疑似消去状態の設定に基づいて、1
    つのデータブロック内の全セクタが疑似消去状態に設定
    されたとき、該データブロックをブロック単位で消去可
    能とすることを特徴とする請求項4記載の半導体記憶装
    置の制御方法。
  6. 【請求項6】 ホスト装置に接続されて該ホスト装置と
    のデータの通信を行う半導体記憶装置であって、 フラッシュメモリで構成され、少なくとも1つのセクタ
    を含む消去単位としてのブロックを複数有してなる記憶
    領域と、 前記ホスト装置より送出されるセクタ単位の消去命令に
    基づいて、該消去命令で指定されるセクタに消去フラグ
    を書き込むことにより、該セクタを擬似的消去状態に設
    定する制御部と、を有することを特徴とする半導体記憶
    装置。
  7. 【請求項7】 前記セクタは、複数のビットからなる消
    去フラグ領域を含み、 前記制御部は、該消去フラグ領域の「1」が書き込まれ
    たビット数が奇数であるか偶数であるかに基づいて、当
    該セクタを疑似消去状態あるいは未消去状態のいずれか
    の状態に設定することを特徴とする請求項6記載の半導
    体記憶装置。
  8. 【請求項8】 前記制御部は、該消去フラグの各ビット
    に格納された「1」若しくは「0」のいずれか一方のデ
    ータを1ビットずつ反転することにより、当該セクタに
    対し、疑似消去状態と未消去状態を交互に設定すること
    を特徴とする請求項7記載の半導体記憶装置。
  9. 【請求項9】 フラッシュメモリで構成され、少なくと
    も1つのセクタを含む消去単位としてのブロックを複数
    有してなる記憶領域を備え、ホスト装置に接続されて該
    ホスト装置とデータの通信を行う半導体記憶装置の制御
    装置であって、 前記ホスト装置より送出されるセクタ単位の消去命令に
    基づいて、該消去命令で指定されるセクタに消去フラグ
    を書き込むことにより、該セクタを擬似的消去状態に設
    定することを特徴とする半導体記憶装置の制御装置。
  10. 【請求項10】 前記セクタは、複数のビットからなる
    消去フラグ領域を含み、該消去フラグ領域の「1」が書
    き込まれたビット数が奇数であるか偶数であるかに基づ
    いて、当該セクタを疑似消去状態あるいは未消去状態の
    いずれかの状態に設定することを特徴とする請求項9記
    載の半導体記憶装置の制御装置。
  11. 【請求項11】 前記消去フラグの各ビットに格納され
    た「1」若しくは「0」のいずれか一方のデータを1ビ
    ットずつ反転することにより、当該セクタに対し、疑似
    消去状態と未消去状態を交互に設定することを特徴とす
    る請求項10記載の半導体記憶装置の制御装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009252255A (ja) * 2008-04-01 2009-10-29 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3292181B2 (ja) * 1999-09-20 2002-06-17 ヤマハ株式会社 Cd−rwディスクの消去方法およびcd−rw記録装置
DE10030990B4 (de) * 2000-06-30 2010-11-25 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Beschreiben und Löschen eines nichtflüchtigen Speicherbereichs
US6331954B1 (en) * 2001-06-28 2001-12-18 Advanced Micro Devices, Inc. Determination of misalignment for floating gates near a gate stack bending point in array of flash memory cells
US6948026B2 (en) * 2001-08-24 2005-09-20 Micron Technology, Inc. Erase block management
US7181611B2 (en) * 2002-10-28 2007-02-20 Sandisk Corporation Power management block for use in a non-volatile memory system
JP4001055B2 (ja) * 2003-05-28 2007-10-31 船井電機株式会社 ディスク記録装置
TWI257044B (en) * 2004-11-26 2006-06-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Apparatus and method for prolonging useful life of non-volatile memory
US7706183B2 (en) * 2005-07-27 2010-04-27 Spansion Llc Read mode for flash memory
CN100464375C (zh) * 2005-10-08 2009-02-25 晶豪科技股份有限公司 降低擦除时间及防止过擦除之擦除方法
US7423915B2 (en) * 2006-01-17 2008-09-09 Spansion Llc Random cache read using a double memory
KR100780963B1 (ko) * 2006-11-03 2007-12-03 삼성전자주식회사 메모리 카드 및 메모리 카드의 구동 방법
US7747813B2 (en) * 2006-11-24 2010-06-29 Sandforce, Inc. Multi-memory device system and method for managing a lifetime thereof
US7904764B2 (en) * 2006-11-24 2011-03-08 Sandforce, Inc. Memory lifetime gauging system, method and computer program product
US20080126685A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Radoslav Danilak System, method, and computer program product for reducing memory write operations using an instruction set
US7809900B2 (en) * 2006-11-24 2010-10-05 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for delaying an operation that reduces a lifetime of memory
US7904619B2 (en) * 2006-11-24 2011-03-08 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for reducing memory write operations using difference information
US8090980B2 (en) * 2006-12-08 2012-01-03 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for providing data redundancy in a plurality of storage devices
US7904672B2 (en) 2006-12-08 2011-03-08 Sandforce, Inc. System and method for providing data redundancy after reducing memory writes
US7515500B2 (en) * 2006-12-20 2009-04-07 Nokia Corporation Memory device performance enhancement through pre-erase mechanism
US7731365B2 (en) * 2007-03-19 2010-06-08 Johnson&Johnson Vision Care, Inc. Method of fitting contact lenses
US7849275B2 (en) * 2007-11-19 2010-12-07 Sandforce, Inc. System, method and a computer program product for writing data to different storage devices based on write frequency
US7903486B2 (en) 2007-11-19 2011-03-08 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for increasing a lifetime of a plurality of blocks of memory
US9183133B2 (en) 2007-11-28 2015-11-10 Seagate Technology Llc System, method, and computer program product for increasing spare space in memory to extend a lifetime of the memory
US20100017588A1 (en) * 2008-07-15 2010-01-21 Radoslav Danilak System, method, and computer program product for providing an extended capability to a system
US20100017566A1 (en) * 2008-07-15 2010-01-21 Radoslav Danilak System, method, and computer program product for interfacing computing device hardware of a computing device and an operating system utilizing a virtualization layer
US20100064093A1 (en) * 2008-09-09 2010-03-11 Radoslav Danilak System, method, and computer program product for converting data in a binary representation to a non-power of two representation
US20100125696A1 (en) * 2008-11-17 2010-05-20 Prasanth Kumar Memory Controller For Controlling The Wear In A Non-volatile Memory Device And A Method Of Operation Therefor
US20100146236A1 (en) * 2008-12-08 2010-06-10 Radoslav Danilak System, method, and computer program product for rendering at least a portion of data useless in immediate response to a delete command
US8230159B2 (en) 2009-03-27 2012-07-24 Lsi Corporation System, method, and computer program product for sending logical block address de-allocation status information
US8090905B2 (en) * 2009-03-27 2012-01-03 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for converting logical block address de-allocation information in a first format to a second format
US20100250830A1 (en) * 2009-03-27 2010-09-30 Ross John Stenfort System, method, and computer program product for hardening data stored on a solid state disk
US8671258B2 (en) 2009-03-27 2014-03-11 Lsi Corporation Storage system logical block address de-allocation management
US20110004718A1 (en) 2009-07-02 2011-01-06 Ross John Stenfort System, method, and computer program product for ordering a plurality of write commands associated with a storage device
US9792074B2 (en) * 2009-07-06 2017-10-17 Seagate Technology Llc System, method, and computer program product for interfacing one or more storage devices with a plurality of bridge chips
US8140712B2 (en) * 2009-07-17 2012-03-20 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for inserting a gap in information sent from a drive to a host device
US8516166B2 (en) * 2009-07-20 2013-08-20 Lsi Corporation System, method, and computer program product for reducing a rate of data transfer to at least a portion of memory
US8108737B2 (en) * 2009-10-05 2012-01-31 Sandforce, Inc. System, method, and computer program product for sending failure information from a serial ATA (SATA) solid state drive (SSD) to a host device
KR102271502B1 (ko) * 2017-10-25 2021-07-01 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 그 제어 방법
CN112463020A (zh) * 2019-09-09 2021-03-09 杭州海康威视数字技术股份有限公司 基于Flash的数据存取方法、装置及设备
CN112579004A (zh) * 2020-12-17 2021-03-30 杭州艾芯智能科技有限公司 快速删除flash数据的方法、***、计算机设备及存储介质
CN112817527B (zh) * 2021-01-21 2024-06-04 深圳市显控科技股份有限公司 掉电数据存储方法、单片机及计算机可读存储介质

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69024086T2 (de) * 1989-04-13 1996-06-20 Sundisk Corp EEprom-System mit Blocklöschung
FR2673372B1 (fr) * 1991-02-28 1993-10-01 Oreal Composition cosmetique capable d'estomper les defauts de la peau.
JP2582487B2 (ja) * 1991-07-12 1997-02-19 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 半導体メモリを用いた外部記憶システム及びその制御方法
US5933847A (en) * 1995-09-28 1999-08-03 Canon Kabushiki Kaisha Selecting erase method based on type of power supply for flash EEPROM
JP3960639B2 (ja) * 1996-05-10 2007-08-15 株式会社ルネサステクノロジ 不揮発性半導体記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009252255A (ja) * 2008-04-01 2009-10-29 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置

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