JPH11125581A - オートレンズメータ - Google Patents
オートレンズメータInfo
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- JPH11125581A JPH11125581A JP9292078A JP29207897A JPH11125581A JP H11125581 A JPH11125581 A JP H11125581A JP 9292078 A JP9292078 A JP 9292078A JP 29207897 A JP29207897 A JP 29207897A JP H11125581 A JPH11125581 A JP H11125581A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マニュアル式のレンズメータの光学特性値に
近い光学測定値を迅速かつ簡単な光学構成により自動測
定により得ることのできるオートレンズメータを提供す
る。 【解決手段】 本発明のオートレンズメータは、被検レ
ンズ１７の光学特性を測定するための測定光束Ｐの投光
光路１３に少なくとも３個の開口１８ａを有する光学特
性測定用パターン１８を設けると共に、各開口１８ａを
透過した測定光束Ｐの光点像を受像する二次元受像素子
２０を設け、二次元受像素子２０上での各光点像の位置
を検出して、被検レンズ１７の光学特性を自動的に演算
測定し、投光光路１３に測定可能な最も度の強いプラス
のパワーの被検レンズ１７がセットされているとしたと
き、二次元受像素子２０から被検レンズ１７の裏面頂点
位置１７ａまでの距離Ｚがそのバックフォーカス距離Ｚ
１よりも小さく設定されている。
近い光学測定値を迅速かつ簡単な光学構成により自動測
定により得ることのできるオートレンズメータを提供す
る。 【解決手段】 本発明のオートレンズメータは、被検レ
ンズ１７の光学特性を測定するための測定光束Ｐの投光
光路１３に少なくとも３個の開口１８ａを有する光学特
性測定用パターン１８を設けると共に、各開口１８ａを
透過した測定光束Ｐの光点像を受像する二次元受像素子
２０を設け、二次元受像素子２０上での各光点像の位置
を検出して、被検レンズ１７の光学特性を自動的に演算
測定し、投光光路１３に測定可能な最も度の強いプラス
のパワーの被検レンズ１７がセットされているとしたと
き、二次元受像素子２０から被検レンズ１７の裏面頂点
位置１７ａまでの距離Ｚがそのバックフォーカス距離Ｚ
１よりも小さく設定されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、マニュアルレンズ
メータの光学特性値に近い光学測定値を迅速かつ簡単な
光学構成により自動測定により得ることのできるオート
レンズメータに関する。
メータの光学特性値に近い光学測定値を迅速かつ簡単な
光学構成により自動測定により得ることのできるオート
レンズメータに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、測定光束の投光光路に被検レ
ンズをセットし、光軸を中心として５φ〜８φの測定光
束を被検レンズに投光し、検者が最もコロナのピントの
合う位置にディオプターハンドルを調節して、被検レン
ズの度数を読み取るマニュアル式のレンズメータが知ら
れている。このマニュアル式のレンズメータによる光学
特性値は、被検レンズを装用したときに目の瞳孔を透過
する光束が最も集まった位置における測定値に近く、現
実に被検レンズを目に装用したときに対応する好ましい
測定値が得られる。
ンズをセットし、光軸を中心として５φ〜８φの測定光
束を被検レンズに投光し、検者が最もコロナのピントの
合う位置にディオプターハンドルを調節して、被検レン
ズの度数を読み取るマニュアル式のレンズメータが知ら
れている。このマニュアル式のレンズメータによる光学
特性値は、被検レンズを装用したときに目の瞳孔を透過
する光束が最も集まった位置における測定値に近く、現
実に被検レンズを目に装用したときに対応する好ましい
測定値が得られる。
【０００３】一方、オートレンズメータには、図１
（ａ）に示すように、被検レンズ１の光学特性を測定す
るための測定光束Ｐの投光光路２に、図２に示すよう
に、多数の開口３を有する光学特性測定用パターン４を
設けると共に、前記各開口３を透過した測定光束の光点
像を受像する二次元受像素子５を設け、二次元受像素子
５上での各光点像の位置を検出して、被検レンズ１の光
学特性を自動的に演算測定する構成のものが知られてい
る。なお、その図１（ａ）において、６は測定光束発生
光源、７はピンホール、８はコリメータレンズ、９はレ
ンズ受けである。
（ａ）に示すように、被検レンズ１の光学特性を測定す
るための測定光束Ｐの投光光路２に、図２に示すよう
に、多数の開口３を有する光学特性測定用パターン４を
設けると共に、前記各開口３を透過した測定光束の光点
像を受像する二次元受像素子５を設け、二次元受像素子
５上での各光点像の位置を検出して、被検レンズ１の光
学特性を自動的に演算測定する構成のものが知られてい
る。なお、その図１（ａ）において、６は測定光束発生
光源、７はピンホール、８はコリメータレンズ、９はレ
ンズ受けである。
【０００４】このオートレンズメータによれば、マニュ
アル式のレンズメータ場合に比べて、測定のばらつきが
小さいというメリットがある。
アル式のレンズメータ場合に比べて、測定のばらつきが
小さいというメリットがある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、被検レンズ
１には、図３に示すように、球面収差が存在し、特に、
コンタクトレンズでは、その裏面の曲率半径が小さい
（裏面の湾曲が大きい）ので、その球面収差が他のレン
ズに比べて大きい。このような球面収差の大きいレンズ
では、図３に示すように、測定光束Ｐの交差のため、図
１（ａ）に示す被検レンズ１の裏面頂点位置１ａから二
次元受像素子５までの距離を被検レンズのバックフォー
カス距離ｆｂよりも大きく設計すると、光点像の位置関
係が図１（ｂ）に示すように交差するため、光点像のみ
からでは交差の有無が判断できないという問題がある。
その図１において、実線の光線は被検レンズ１により偏
向された光線を示し、破線の光線はその被検レンズ１の
度数とは異なる度数の被検レンズによって偏向された光
線を示し、破線で示す位置に二次元受像素子５を置く
と、度数の異なる被検レンズでも光点像が同じ位置にで
き、光点像のみからでは光線の交差の有無が判断できな
い。
１には、図３に示すように、球面収差が存在し、特に、
コンタクトレンズでは、その裏面の曲率半径が小さい
（裏面の湾曲が大きい）ので、その球面収差が他のレン
ズに比べて大きい。このような球面収差の大きいレンズ
では、図３に示すように、測定光束Ｐの交差のため、図
１（ａ）に示す被検レンズ１の裏面頂点位置１ａから二
次元受像素子５までの距離を被検レンズのバックフォー
カス距離ｆｂよりも大きく設計すると、光点像の位置関
係が図１（ｂ）に示すように交差するため、光点像のみ
からでは交差の有無が判断できないという問題がある。
その図１において、実線の光線は被検レンズ１により偏
向された光線を示し、破線の光線はその被検レンズ１の
度数とは異なる度数の被検レンズによって偏向された光
線を示し、破線で示す位置に二次元受像素子５を置く
と、度数の異なる被検レンズでも光点像が同じ位置にで
き、光点像のみからでは光線の交差の有無が判断できな
い。
【０００６】また、マニュアル式のレンズメータによる
光学特性値とオートレンズメータによる光学特性値とに
ズレが生じる。すなわち、マニュアル式のレンズメータ
の場合には、図３に示すように、全ての光線が集合した
点ｆａにおける光学特性値であるのに対して、オートレ
ンズメータによる場合には、ある光線高さｈの細い光線
ｎで測定すると、光軸上のバックフォーカス距離がｆｂ
であるのに対し、収差の影響により見かけのバックフォ
ーカス距離がｆｂ’となり、光学特性値としての度数が
強めに出てしまうと共に、マニュアル式のレンズメータ
によるバックフォーカス距離（度数）ｆａと異なるバッ
クフォーカス距離（度数）のものが得られることにな
る。
光学特性値とオートレンズメータによる光学特性値とに
ズレが生じる。すなわち、マニュアル式のレンズメータ
の場合には、図３に示すように、全ての光線が集合した
点ｆａにおける光学特性値であるのに対して、オートレ
ンズメータによる場合には、ある光線高さｈの細い光線
ｎで測定すると、光軸上のバックフォーカス距離がｆｂ
であるのに対し、収差の影響により見かけのバックフォ
ーカス距離がｆｂ’となり、光学特性値としての度数が
強めに出てしまうと共に、マニュアル式のレンズメータ
によるバックフォーカス距離（度数）ｆａと異なるバッ
クフォーカス距離（度数）のものが得られることにな
る。
【０００７】被検レンズ１に球面収差がある場合であっ
ても、オートレンズメータによる光学特性の光学特性値
（度数）を、できる限りマニュアル式のレンズメータに
よる光学特性値（度数）に近づけるのが、上述の理由に
より望ましい。
ても、オートレンズメータによる光学特性の光学特性値
（度数）を、できる限りマニュアル式のレンズメータに
よる光学特性値（度数）に近づけるのが、上述の理由に
より望ましい。
【０００８】そこで、従来のオートレンズメータでは、
多数の開口が必要で、各光線高さでの各光点像の二次元
受像素子５上での位置を演算により求め、この演算値に
よりｆｂ置又はｆａ置を求めているものもあるが、光点
像の個数が非常に多いため、演算処理に時間がかかりリ
アルタイムでの測定が難しい。
多数の開口が必要で、各光線高さでの各光点像の二次元
受像素子５上での位置を演算により求め、この演算値に
よりｆｂ置又はｆａ置を求めているものもあるが、光点
像の個数が非常に多いため、演算処理に時間がかかりリ
アルタイムでの測定が難しい。
【０００９】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、マニュアルレンズメー
タの光学特性値に近い光学測定値を迅速かつ簡単な光学
構成により自動測定により得ることのできるオートレン
ズメータを提供するところにある。
ので、その目的とするところは、マニュアルレンズメー
タの光学特性値に近い光学測定値を迅速かつ簡単な光学
構成により自動測定により得ることのできるオートレン
ズメータを提供するところにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載のオート
レンズメータは、被検レンズの光学特性を測定するため
の測定光束の投光光路に少なくとも３個の開口を有する
光学特性測定用パターンを設けると共に、前記各開口を
透過した測定光束の光点像を受像する二次元受像素子を
設け、該二次元受像素子上での前記各光点像の位置を検
出して、前記被検レンズの光学特性を自動的に演算測定
するオートレンズメータであって、前記投光光路に測定
可能な最も度の強いプラスのパワーの被検レンズがセッ
トされているとしたとき、前記二次元受像素子から前記
被検レンズの裏面頂点位置までの距離が、そのバックフ
ォーカス距離よりも小さく設定されている。
レンズメータは、被検レンズの光学特性を測定するため
の測定光束の投光光路に少なくとも３個の開口を有する
光学特性測定用パターンを設けると共に、前記各開口を
透過した測定光束の光点像を受像する二次元受像素子を
設け、該二次元受像素子上での前記各光点像の位置を検
出して、前記被検レンズの光学特性を自動的に演算測定
するオートレンズメータであって、前記投光光路に測定
可能な最も度の強いプラスのパワーの被検レンズがセッ
トされているとしたとき、前記二次元受像素子から前記
被検レンズの裏面頂点位置までの距離が、そのバックフ
ォーカス距離よりも小さく設定されている。
【００１１】前記二次元受像素子上での光点像に基づき
演算された度数が、前記被検レンズをマニュアル式のレ
ンズメータにより測定したときの度数に近い値が得られ
るように前記各開口の大きさが設定されると共に前記各
開口にそれぞれ収束レンズを設けるのが望ましく、前記
収束レンズの焦点距離は光学特性値±５ディオプターの
範囲のいずれか最も使用頻度の多いレンズが前記投光光
路にセットされたときに前記光点像の大きさが最小とな
るように設定されているのが望ましい。
演算された度数が、前記被検レンズをマニュアル式のレ
ンズメータにより測定したときの度数に近い値が得られ
るように前記各開口の大きさが設定されると共に前記各
開口にそれぞれ収束レンズを設けるのが望ましく、前記
収束レンズの焦点距離は光学特性値±５ディオプターの
範囲のいずれか最も使用頻度の多いレンズが前記投光光
路にセットされたときに前記光点像の大きさが最小とな
るように設定されているのが望ましい。
【００１２】前記投光光路に測定可能な最も度の強いプ
ラスのパワーの被検レンズがセットされているとしたと
き、前記各光点像が前記二次元受像素子上で互いに密着
しない大きさとされているのが更に好ましい。
ラスのパワーの被検レンズがセットされているとしたと
き、前記各光点像が前記二次元受像素子上で互いに密着
しない大きさとされているのが更に好ましい。
【００１３】
【発明の実施の形態】図４において、１０はＬＥＤ、１
１は拡散板、１２はピンホールである。ＬＥＤ１０、拡
散板１１、ピンホール１２は測定光束発生用の光源部を
構成し、ピンホール１２は拡散二次点光源として機能す
る。ピンホール１２から出射された光束は投光光路１３
に設けられたコリメータレンズ１４により平行光束に変
換される。投光光路１３にはレンズ受け１５が設けら
れ、このレンズ受け１５には被検レンズ１７がセットさ
れる。レンズ受け１５は被検レンズ１７が眼鏡レンズの
場合にはその直径が約８φ（ｍｍ）であるが、被検レン
ズ１７としてコンタクトレンズがセットされる場合に
は、その直径が約５φ（ｍｍ）のレンズ受け１５に置き
換えられる。
１は拡散板、１２はピンホールである。ＬＥＤ１０、拡
散板１１、ピンホール１２は測定光束発生用の光源部を
構成し、ピンホール１２は拡散二次点光源として機能す
る。ピンホール１２から出射された光束は投光光路１３
に設けられたコリメータレンズ１４により平行光束に変
換される。投光光路１３にはレンズ受け１５が設けら
れ、このレンズ受け１５には被検レンズ１７がセットさ
れる。レンズ受け１５は被検レンズ１７が眼鏡レンズの
場合にはその直径が約８φ（ｍｍ）であるが、被検レン
ズ１７としてコンタクトレンズがセットされる場合に
は、その直径が約５φ（ｍｍ）のレンズ受け１５に置き
換えられる。
【００１４】レンズ受け１５の後方には、図５に示すよ
うに開口１８ａを有する光学特性測定用パターン１８が
設けられているが、開口１８ａの個数は少なくとも３個
以上であれば良い。少なくとも３個あれば、光学特性値
を演算できるからである。また、開口１８ａの個数が多
すぎると、演算に時間がかかるため、４個が望ましい。
ここでは、開口１８ａはそれぞれ円形であり、測定光軸
Ｏから等距離の箇所に９０度ずつずれて配置されてい
る。累進レンズのように回転対称でない被検レンズ１７
でも測定できるようにするため、上下対称位置に開口１
８ａを設けることが望ましい。
うに開口１８ａを有する光学特性測定用パターン１８が
設けられているが、開口１８ａの個数は少なくとも３個
以上であれば良い。少なくとも３個あれば、光学特性値
を演算できるからである。また、開口１８ａの個数が多
すぎると、演算に時間がかかるため、４個が望ましい。
ここでは、開口１８ａはそれぞれ円形であり、測定光軸
Ｏから等距離の箇所に９０度ずつずれて配置されてい
る。累進レンズのように回転対称でない被検レンズ１７
でも測定できるようにするため、上下対称位置に開口１
８ａを設けることが望ましい。
【００１５】各開口１８ａには、収束レンズ１９がそれ
ぞれ配設されている。開口１８ａの大きさは、オートレ
ンズメータによる光学特性の測定値を、できる限りマニ
ュアル式のレンズメータによる光学特性値に近づけるよ
うにするため、なるべく大きいのが望ましい。被検レン
ズ１７がコンタクトレンズである場合、レンズ受け１５
の開口が約５φであるので、４個の開口１８ａの外接円
が５ｍｍ以下であることが要求される。また、開口１８
ａの大きさが大きすぎると、パワーがプラスの強度の被
検レンズ１７を測定する場合、光点像同志が密着して各
光点像の重心位置を演算できなくなり、一方、開口１８
ａの中心位置Ｏ１は測定光軸Ｏからその中心位置Ｏ１ま
での距離ｌが短いと測定感度が鈍り、逆に大きすぎる
と、パワーがマイナスの強度の被検レンズ１７の場合に
光点像が後述する二次元受像センサの有効エリアからは
み出すため、測定光軸Ｏから中心位置Ｏ１までの距離ｌ
が１ｍｍ程度で、開口１８ａの大きさが１φ程度である
ことが望ましい。
ぞれ配設されている。開口１８ａの大きさは、オートレ
ンズメータによる光学特性の測定値を、できる限りマニ
ュアル式のレンズメータによる光学特性値に近づけるよ
うにするため、なるべく大きいのが望ましい。被検レン
ズ１７がコンタクトレンズである場合、レンズ受け１５
の開口が約５φであるので、４個の開口１８ａの外接円
が５ｍｍ以下であることが要求される。また、開口１８
ａの大きさが大きすぎると、パワーがプラスの強度の被
検レンズ１７を測定する場合、光点像同志が密着して各
光点像の重心位置を演算できなくなり、一方、開口１８
ａの中心位置Ｏ１は測定光軸Ｏからその中心位置Ｏ１ま
での距離ｌが短いと測定感度が鈍り、逆に大きすぎる
と、パワーがマイナスの強度の被検レンズ１７の場合に
光点像が後述する二次元受像センサの有効エリアからは
み出すため、測定光軸Ｏから中心位置Ｏ１までの距離ｌ
が１ｍｍ程度で、開口１８ａの大きさが１φ程度である
ことが望ましい。
【００１６】その光学特性測定用パターン板１８は、例
えば、ガラス板に金枠を設け、この金枠にマイクロレン
ズを固定したものを用いても良いし、また例えば、１枚
の樹脂板又はガラス板に４個の収束レンズ１９を成形し
たモールドレンズを用いても良いし、エッチングにより
ガラス板に回折現象を利用した集光レンズ１９を形成し
たものを用いても良い。また、収束レンズ１９以外の部
分をクロム等の物質を用いて遮光するのが望ましい。
えば、ガラス板に金枠を設け、この金枠にマイクロレン
ズを固定したものを用いても良いし、また例えば、１枚
の樹脂板又はガラス板に４個の収束レンズ１９を成形し
たモールドレンズを用いても良いし、エッチングにより
ガラス板に回折現象を利用した集光レンズ１９を形成し
たものを用いても良い。また、収束レンズ１９以外の部
分をクロム等の物質を用いて遮光するのが望ましい。
【００１７】この光学特性測定用パターン１８の後方に
は、二次元受像素子としてのエリアＣＣＤ２０が設けら
れている。エリアＣＣＤ２０からレンズ受けまでの距離
Ｚ、すなわち、二次元受像素子２０から被検レンズ１７
の裏面頂点位置１７ａまでの距離Ｚは、投光光路１３に
測定可能な最も度の強いプラスのパワーの被検レンズ１
７がセットされているとしたときそのバックフォーカス
距離Ｚ１よりも小さく設定されている。光点像同志の重
なり又は被検レンズ１７を透過した測定光束の逆転を避
けるためである。
は、二次元受像素子としてのエリアＣＣＤ２０が設けら
れている。エリアＣＣＤ２０からレンズ受けまでの距離
Ｚ、すなわち、二次元受像素子２０から被検レンズ１７
の裏面頂点位置１７ａまでの距離Ｚは、投光光路１３に
測定可能な最も度の強いプラスのパワーの被検レンズ１
７がセットされているとしたときそのバックフォーカス
距離Ｚ１よりも小さく設定されている。光点像同志の重
なり又は被検レンズ１７を透過した測定光束の逆転を避
けるためである。
【００１８】すなわち、図６に示すように、エリアＣＣ
Ｄ２０を破線で示す位置に設けると、被検レンズ１７の
上の領域を通過した測定光束Ｐ１はエリアＣＣＤ２０の
下の領域に結像し、下の領域を通過した測定光束Ｐ２は
エリアＣＣＤ２０の上の領域に結像し、測定光束Ｐの逆
転が生じて被検レンズ１７を通過する際の測定光束Ｐが
エリアＣＣＤ２０上のどの光点像に対応するか判別でき
なくなるからである。
Ｄ２０を破線で示す位置に設けると、被検レンズ１７の
上の領域を通過した測定光束Ｐ１はエリアＣＣＤ２０の
下の領域に結像し、下の領域を通過した測定光束Ｐ２は
エリアＣＣＤ２０の上の領域に結像し、測定光束Ｐの逆
転が生じて被検レンズ１７を通過する際の測定光束Ｐが
エリアＣＣＤ２０上のどの光点像に対応するか判別でき
なくなるからである。
【００１９】そこで、例えば、オートレンズメータの測
定可能な被検レンズ１７の測定度数が±２５ディオプタ
ーの場合、バックフォーカス距離Ｚ１は４０ｍｍである
ので、レンズ受け１５からエリアＣＣＤ２０までの距離
Ｚは２０ｍｍ〜３０ｍｍであるのが望ましい。距離Ｚを
２０ｍｍ以下に設定すると、測定感度が劣化する。な
お、レンズ受け１５とエリアＣＣＤ２０との間にリレー
レンズを設けた場合、この限りではない。
定可能な被検レンズ１７の測定度数が±２５ディオプタ
ーの場合、バックフォーカス距離Ｚ１は４０ｍｍである
ので、レンズ受け１５からエリアＣＣＤ２０までの距離
Ｚは２０ｍｍ〜３０ｍｍであるのが望ましい。距離Ｚを
２０ｍｍ以下に設定すると、測定感度が劣化する。な
お、レンズ受け１５とエリアＣＣＤ２０との間にリレー
レンズを設けた場合、この限りではない。
【００２０】また、測定頻度が高い度数の被検レンズ１
７、例えば、弱度（−２．５Ｄ）の被検レンズ１７が投
光光路１３にセットされたとき、エリアＣＣＤ２０上で
の光点像の大きさが最小となるように設定するのが、キ
ズ、汚れの測定への影響を受けにくくするうえで好まし
い。
７、例えば、弱度（−２．５Ｄ）の被検レンズ１７が投
光光路１３にセットされたとき、エリアＣＣＤ２０上で
の光点像の大きさが最小となるように設定するのが、キ
ズ、汚れの測定への影響を受けにくくするうえで好まし
い。
【００２１】被検レンズ１７へ入射する測定光束ｎは、
被検レンズ１７の透過後に偏向され、その偏向の度合い
は入射高さｈとその入射位置における被検レンズ１７の
度数とにより定まり、透過後の測定光束の偏向角θとす
ると、Ｓ＝ｔａｎθ／１０ｈであり、入射高さｈは既知
であり、図７に示すように、エリアＣＣＤ２０上での中
心線Ｏ’からの高さをｈｉとすると、θ＝（ｈ−ｈｉ／
Ｚ）であるので、重心位置Ｇ１〜Ｇ４が求まれば、被検
レンズ１７の度数Ｓが求められる。
被検レンズ１７の透過後に偏向され、その偏向の度合い
は入射高さｈとその入射位置における被検レンズ１７の
度数とにより定まり、透過後の測定光束の偏向角θとす
ると、Ｓ＝ｔａｎθ／１０ｈであり、入射高さｈは既知
であり、図７に示すように、エリアＣＣＤ２０上での中
心線Ｏ’からの高さをｈｉとすると、θ＝（ｈ−ｈｉ／
Ｚ）であるので、重心位置Ｇ１〜Ｇ４が求まれば、被検
レンズ１７の度数Ｓが求められる。
【００２２】被検レンズ１７がプラスのパワーを有する
場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の間隔は狭まり、マ
イナスパワーを有する場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ
４の間隔が広がり、被検レンズ１７が球面レンズの場合
には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の中心位置Ｇ０は中心線
Ｏ’から略等距離の位置にあるが、被検レンズ１７に歪
みがある場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の中心位置
Ｇ０から中心線Ｏ’までの距離は異なることになる。
場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の間隔は狭まり、マ
イナスパワーを有する場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ
４の間隔が広がり、被検レンズ１７が球面レンズの場合
には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の中心位置Ｇ０は中心線
Ｏ’から略等距離の位置にあるが、被検レンズ１７に歪
みがある場合には、各光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の中心位置
Ｇ０から中心線Ｏ’までの距離は異なることになる。
【００２３】本発明によれば、開口１８ａをできる限り
大きく形成したので、被検レンズ１７の収差の影響を受
けて多数の細い光線が各１個の開口１８ａを通過するこ
とになり、従って、各１個の開口１８ａの各光点像ＰＭ
１〜ＰＭ４の重心位置Ｇ１〜Ｇ４が１本の細い光線に基
づく中心位置（重心位置）Ｇ０に対してずれてエリアＣ
ＣＤ２０上に形成されることになり、マニュアル式のレ
ンズメータにより得られる度数に近い値の度数が得られ
ることになる。
大きく形成したので、被検レンズ１７の収差の影響を受
けて多数の細い光線が各１個の開口１８ａを通過するこ
とになり、従って、各１個の開口１８ａの各光点像ＰＭ
１〜ＰＭ４の重心位置Ｇ１〜Ｇ４が１本の細い光線に基
づく中心位置（重心位置）Ｇ０に対してずれてエリアＣ
ＣＤ２０上に形成されることになり、マニュアル式のレ
ンズメータにより得られる度数に近い値の度数が得られ
ることになる。
【００２４】また、開口１８ａに向かう測定光束Ｐが通
る被検レンズ１７の局所領域に小さいキズ、汚れが存在
して、開口１８ａに向かう測定光束が部分的に遮られた
としても、その遮られる割合が細い光線の場合に比べて
小さいので、光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の重心位置Ｇ１〜Ｇ
４のずれが小さく、従って、ゴミ、汚れに起因する測定
誤差が小さくなり、測定精度が向上する。
る被検レンズ１７の局所領域に小さいキズ、汚れが存在
して、開口１８ａに向かう測定光束が部分的に遮られた
としても、その遮られる割合が細い光線の場合に比べて
小さいので、光点像ＰＭ１〜ＰＭ４の重心位置Ｇ１〜Ｇ
４のずれが小さく、従って、ゴミ、汚れに起因する測定
誤差が小さくなり、測定精度が向上する。
【００２５】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成した
ので、マニュアルレンズメータの光学特性測定値に近い
光学測定値を自動測定により得ることができるという効
果を奏する。
ので、マニュアルレンズメータの光学特性測定値に近い
光学測定値を自動測定により得ることができるという効
果を奏する。
【００２６】また、被検レンズにゴミ、汚れが存在して
いる場合でも、ゴミ、汚れに起因する測定誤差が小さく
なり、測定精度が向上するという効果を奏する。
いる場合でも、ゴミ、汚れに起因する測定誤差が小さく
なり、測定精度が向上するという効果を奏する。
【図１】 従来のオートレンズメータの光学系を示す図
であって、（ａ）はその測定原理を説明するための光学
図、（ｂ）はその不具合の一例を示す図である。
であって、（ａ）はその測定原理を説明するための光学
図、（ｂ）はその不具合の一例を示す図である。
【図２】 図１に示す光学特性測定用パターンの平面図
である。
である。
【図３】 被検レンズを透過した測定光束の光線経路を
示す光線図である。
示す光線図である。
【図４】 本発明に係わるオートレンズメータの測定原
理を説明するための光学図である。
理を説明するための光学図である。
【図５】 図４に示す光学特性測定用パターンの平面図
である。
である。
【図６】 本発明に係わる光学特性測定用パターンと被
検レンズの測定光束の光線経路と二次元受像素子との位
置関係を示す模式図である。
検レンズの測定光束の光線経路と二次元受像素子との位
置関係を示す模式図である。
【図７】 本発明に係わる二次元受像素子に受像された
光点像を示す平面図である。
光点像を示す平面図である。
１３…投光光路 １７…被検レンズ １７ａ…裏面頂点位置 １８…光学特性測定用パターン １８ａ…開口 ２０…二次元受像素子 Ｐ…測定光束 Ｚ１…バックフォーカス距離
Claims (4)
- 【請求項１】 被検レンズの光学特性を測定するための
測定光束の投光光路に少なくとも３個の開口を有する光
学特性測定用パターンを設けると共に、前記各開口を透
過した測定光束の光点像を受像する二次元受像素子を設
け、該二次元受像素子上での前記各光点像の位置を検出
して、前記被検レンズの光学特性を自動的に演算測定す
るオートレンズメータであって、前記投光光路に測定可
能な最も度の強いプラスのパワーの被検レンズがセット
されているとしたとき、前記二次元受像素子から前記被
検レンズの裏面頂点位置までの距離が、そのバックフォ
ーカス距離よりも小さく設定されているオートレンズメ
ータ。 - 【請求項２】 前記二次元受像素子上での光点像に基づ
き演算された度数が、前記被検レンズをマニュアル式の
レンズメータにより測定したときの度数に近い値が得ら
れるように前記各開口の大きさが設定され、かつ、前記
各開口にはそれぞれ収束レンズが設けられている請求項
１に記載のオートレンズメータ。 - 【請求項３】 前記収束レンズの焦点距離は光学特性値
±５ディオプターの範囲のいずれかが前記投光光路にセ
ットされたときに前記光点像の大きさが最小となるよう
に設定されている請求項２に記載のオートレンズメー
タ。 - 【請求項４】 前記投光光路に測定可能な最も度の強い
プラスのパワーの被検レンズがセットされているとした
とき、前記各光点像が前記二次元受像素子上で互いに密
着しない大きさとされている請求項２に記載のオートレ
ンズメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9292078A JPH11125581A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | オートレンズメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9292078A JPH11125581A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | オートレンズメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11125581A true JPH11125581A (ja) | 1999-05-11 |
Family
ID=17777261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9292078A Pending JPH11125581A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | オートレンズメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11125581A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001188025A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Topcon Corp | 波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡 |
| US7230693B2 (en) | 2004-03-31 | 2007-06-12 | Nidek Co., Ltd. | Lens meter |
| US7486389B2 (en) | 2005-01-07 | 2009-02-03 | Nidek Co., Ltd. | Lens meter for measuring refractive power distribution |
| JP2009128207A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Suruga Seiki Kk | 光束波面の曲率測定方法及び光束波面の曲率測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62155350U (ja) * | 1986-03-25 | 1987-10-02 | ||
| JPH0618363A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Canon Inc | レンズメータ |
-
1997
- 1997-10-24 JP JP9292078A patent/JPH11125581A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62155350U (ja) * | 1986-03-25 | 1987-10-02 | ||
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Cited By (4)
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| US7486389B2 (en) | 2005-01-07 | 2009-02-03 | Nidek Co., Ltd. | Lens meter for measuring refractive power distribution |
| JP2009128207A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Suruga Seiki Kk | 光束波面の曲率測定方法及び光束波面の曲率測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040928 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060223 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060307 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060905 |