JPH1092864A - ボンディング装置 - Google Patents
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Abstract
に取り込むことができ、又、ボンディング不良につなが
る恐れがある事態の検出をもなし得るボンディング装置
を提供すること。 【解決手段】 リード15の上面に対して直行する方向
において該リードまでの距離情報を得る計測手段20を
設け、該距離情報を元に各リード上のボンディング点を
求める。かかる構成により、従来のワイヤボンディング
装置のようにボンディング点の位置設定の元となる情報
が画像情報であるが故の問題がなく、各ボンディング点
の位置情報を正確にかつ連続的に迅速に取り込むことが
できる。加えて、従来のワイヤボンディング装置のよう
に画像情報を得るために装置を逐次停止させる必要がな
く、作業能率が高い。また、上記距離情報によってリー
ドの反り等を認識することができ、誤認識によるボンデ
ィング不良を回避することができる。
Description
製造工程に用いられるボンディング装置に関する。特
に、ICチップ上のパッド(電極)と、該ICチップが
貼着されているリードフレームに形成された外部リード
とを導電性を有するワイヤを用いて接続するワイヤボン
ディング装置におけるボンディング点の位置決め機能等
に関する。
示す。
は、撮像手段としてのカメラ1と、キャピラリ2aが先
端に装着されたボンディングアーム2と、該ボンディン
グアーム2を上下に駆動する駆動手段3と、これらボン
ディングアーム2及び駆動手段3からなるボンディング
手段を搭載してX方向及びY方向に二次元的に移動させ
て位置決めする位置決め手段としてのXYテーブル4
と、該キャピラリ2a及びボンディングアーム2等から
なるボンディングヘッドによるボンディング作業が行わ
れるボンディングステージ5とを備えている。該ボンデ
ィングステージ5はヒータ5aを有している。
像認識ユニット8と、該画像認識ユニット8からの出力
を受けるモニタ9と、マイクロプロセッサを含むコント
ローラユニット10と、このコントローラユニット10
からの指令信号に応じて前記駆動手段3及びXYテーブ
ル4への駆動信号を発する駆動ユニット11とが設けら
れている。
複数のICチップ12が長手方向に並べて貼着されたリ
ードフレームL\F(図6参照)が扱われる。作業開始
に際して加熱されているボンディングステージ5上に該
リードフレームL\Fが搬入され、且つ、最先のICチ
ップ12がボンディング作業位置に位置決めされる。こ
の状態で、上記ボンディングアーム2及びXYテーブル
4が作動せしめられて該最先のICチップ12に関する
ボンディング作業が行われる。
ば正方形にしてその上面外周に沿って多数のパッド12
aが並設され、リードフレームL\Fに形成されたラン
ド部14に貼着されている。そして、リードフレームL
\Fには、これらパッド12a各々に対応するリード1
5が設けられている。
が、その前に、ボンディング作業に先立ち予め行われる
セルフティーチに関して簡単に説明する。セルフティー
チは、ボンディング対象たる前記パッド12a及びリー
ド15上の各ボンディング位置等に関する各種条件設定
を行うものである。
よる映像をモニタ9にて目視しながらマニピュレータ
(図示せず)等を用いて前記XYテーブル4を手動操作
し、該モニタ9の画面に設けられているクロスライン9
aの交点を上記リード15又はパッド12a上の所定位
置、すなわちボンディングを行うべき位置に可能な限り
正確に合わせる(目合わせ)。このクロスライン9aの
交点の座標は、該XYテーブル4上の座標としてみるこ
とができ、目合わせが完了した時点で各ボンディング点
の座標をメモリさせる。このようなティーチングによ
り、基準となるボンディング点の座標が予めメモリ内に
メモリされる。
記カメラ1により得られるリード15又はパッド12a
の画像情報を2値化回路によって2値化し、この2値化
された画像情報に基づき該リード15又はパッド12a
のボンディング位置座標を求める。そして、予めメモリ
に記憶されている基準となるボンディング位置座標と、
得られた2値化情報による座標とを比較して両者のX方
向及びY方向のズレ量を算出し、このズレ量を補正した
値をボンディング点としてメモリ(RAM)に記憶させ
る。
行う。
ボンディングしようとするとき、先端にボール18a
(図7参照)が形成されたワイヤ18が挿通されたキャ
ピラリ2aを、前記カメラ4からの画像情報に基づく前
記XYテーブル4の作動により該パッド12aの直上に
位置決めする。
動手段3によりボンディングアーム2を駆動してキャピ
ラリ2aを下降させ、該パッド12a上でボール18a
を押しつぶして熱圧着ボンディングを行う。このとき、
図示しない超音波励振手段を以て該キャピラリ2aを励
振することも行われる。
と、ボンディングアーム2の昇降動作及びXYテーブル
4の動作が適宜行われ、所定のループコントロールに従
ってワイヤ18が引き出され、第1ボンディング点に対
すると同様にしてリード15上の第2ボンディング点へ
のボンディングが行われる。
さまで上昇させる過程でワイヤのカットが行われ、一組
のパッド12a及びリード15の接続が完了する。
ド12aとこれらに対応して配設された各リード15に
ついて上記の一連の動作が繰り返される。
ボンディング装置においては、次のような問題がある。
像情報は、画像認識ユニット8内の2値化回路により2
値化された情報となる。この2値化情報は、例えば、リ
ードを認識するときは「1」、それ以外の部分は「0」
というようにデジタル化されるため、モニタ9に表示さ
れる画像も明暗の差として表わされることとなる。つま
り、カメラ1により得られる画像情報は、ボンディング
ステージ上の平面における画像情報であるため、バリ等
によりエッジ検出が鮮明でなかったり、図7における高
さ方向(紙面に直角な方向)における成分の画像情報が
鮮明に得られないという問題がある。
がり等を生じていた場合などは、このような高さ方向の
成分は判別が難しく、又、リードロケートではリードの
幅方向中点を検出するように予め設定されているため、
中点検出が正確になされていない場合や前記不良がある
場合などにそのままボンディングしてしまうとボンディ
ング不良が発生する可能性がある。しかも、上記のよう
なボンディング不良の判定は、別の検査工程で行うた
め、ボンディング時点では判定することができず、検査
時間も多く要するため、ボンディングの高速化を進める
上で解決されるべき問題である。
れたものであって、その目的とするところは、各ボンデ
ィング点の位置情報を正確かつ迅速に取り込むことがで
き、又、ボンディング不良につながる恐れがある事態の
検出をもなし得るボンディング装置を提供することであ
る。
るボンディング装置を提供する。
本発明に係るボンディング装置は、ボンディング手段
と、該ボンディング手段及びボンディング対象を二次元
的に相対移動させて位置決めする位置決め手段と、前記
ボンディング対象を撮像する撮像手段と、前記相対移動
が行われる平面に対して直行する方向において所定基準
位置から前記ボンディング対象等までの距離情報を得る
計測手段と、該距離情報を記憶し制御する制御手段とを
備えている。
に、下記の各構成が採用されている。
は、前記計測手段は、発光手段と、反射光を受けて距離
に応じた受光信号を発する受光手段とを有する。
前記撮像手段よりの画像情報に基づき前記ボンディング
対象のボンディング部位の位置座標を前記制御手段内の
メモリ内に記憶させ、メモリ内から予め定められたプロ
グラムに従って順次読み出して該ボンディング部位に順
次前記計測手段を走査させることによって得られた前記
距離情報等に基づいてボンディング位置を求めるように
している。
測手段を走査させて得られた情報と予め求められた情報
とを比較することによって、ボンディング対象の位置ズ
レや不良等の良否を判定するようにしている。
前記ボンディング対象はリードであり、前記計測手段に
よって該リードの曲がりや製品不良、リード間のピッチ
等を計測することによって、ボンディング不良等の判定
を行うようにしている。
イヤボンディング装置を、添付図面を参照しつつ説明す
る。但し、本発明に係るこのワイヤボンディング装置
は、以下に説明する部分以外は図6に示した従来のワイ
ヤボンディング装置と同様に構成されており、装置全体
としての構成及び動作の説明は重複する故に省略し、要
部のみの説明に止める。
来例の構成部分と同一又は対応する構成部分については
同じ参照符号を付して示している。
グ装置は、計測手段20を有している。該計測手段20
は、XYテーブル4上に設けられたブラケット21にカ
メラ1と共に取り付けられている。
て示す)、すなわち、ボンディング対象たるICチップ
12及びリードフレームL\Fに対してボンディング手
段(ボンディングアーム2及び駆動手段3からなる)が
二次元的移動を行う平面に対して直行する方向におい
て、所定の基準位置(後述)から該ボンディング対象ま
での距離情報を得るものである。該計測手段20は次の
ように構成されている。
ス25を有し、該ケース25内に、発光手段としての半
導体レーザ27と、該半導体レーザ27を駆動する駆動
回路29と、該半導体レーザ27から発せられるレーザ
光の集束等をなす投光レンズ31と、受光手段としての
光位置検知素子33と、該光位置検知素子33への入射
光の集束等をなす受光レンズ35とを有している。該光
位置検知素子33の出力を増幅するアンプ37、38が
設けられている。
ディング対象等)の表面40が計測の基準位置41から
離間している方向及び距離に応じた信号を発する。詳し
くは、前記半導体レーザ27から発せられるレーザ光は
この表面40で反射し、その反射光が該位置検知素子3
3に入射してスポットを形成するが、該表面40が基準
位置41に対してA方向、B方向のどちら側に位置する
かによって該スポットが該位置検知素子33上でA′、
B′方向に移動し、又、該スポットの移動量は該基準位
置41に対する表面40の距離に対応する。位置検知素
子33は、このスポットの移動方向及び移動量に応じた
電気信号を発する。
前記アンプ37、38によって増幅され、図示しないA
/D変換回路を経てデジタル信号に変換されてコントロ
ーラユニット10に距離情報として供給される(図1参
照)。該コントローラユニット10は具備したメモリ
(RAM)内にこの距離情報を記憶し、その記憶情報に
基づいて後述の制御をなす。
(図7参照)及びパッド12a(同)上のボンディング
部位の位置座標をマニピュレータ又は撮像手段であるカ
メラ1よりの画像情報等に基づいて得てコントローラユ
ニット10のメモリ(RAM)に入力する作業、つまり
セルフティーチは、従来と同様に前記の如く行われる。
ティーチによってメモリ(RAM)に入力された各リー
ド15及びパッド12aのボンディング部位の位置座標
に基づいて、下記のように制御する。
ついて説明すると、予め定められたプログラムに従って
XYテーブル4の作動により、計測手段20をリード1
5X1上の基準となる位置座標CP1 に移動させる。この
とき、リードの中点に位置するように移動する。そし
て、計測手段20は、図3に示すように、リード15X1
乃至15Xnまでをリードの幅方向、すなわち横切る方向
に走査する。この走査によって得られた距離情報、すな
わち図4(b)に示す情報は、コントローラユニット1
0内のメモリに順次メモリされる。
おいて二点鎖線で示す経路45を経るようにすることも
できるが、他の経路により走査させてもよく、図示せぬ
走査手段により任意に設定することができる。
示すようにリード15X1の中点CP1 からリード15X2
の中点CP2 までのピッチP1 移動して走査すると、リ
ード15X1の中点CP1 から端部(エッジ)までの距離
b/2が略同一高さであることがわかる。同様にリード
15X2もリードの端部から中点CP2 までの情報が得ら
れる。
離情報が得られると、リードの幅、すなわち、エッジ検
出が確実になされるので、その中点の検出も正確に行う
ことができる。
ード間のピッチが異なる場合であっても容易に行うこと
ができる。つまり、画像処理によって、リードの位置座
標の補正を行わなくても、この計測手段20を用いるこ
とによって正確にかつ高速に処理を行うことができる。
すなわち、画像処理では、各リードを認識し、かつ、デ
ジタル画像に変換する処理に時間を要し、高速化が難し
いが、この計測手段20を用いれば、ティーチングによ
って定められた基準座標に移動して走査することによっ
てデジタル画像に変換することなく直ちに高さの距離情
報が得られ、かつ、座標はXYテーブル4上の座標とし
て得られるので、リードのエッジ検出並びに幅も容易に
演算することができる。従って、高速処理ができる。
とき、例えば図3に示すリード15X1が一部破損15Y
しているような場合には、所定の高さ情報が得られな
い。従って、この場合、再度図3に示す経路46のよう
に走査することによってリード15X1の良否を判定する
ことができる。したがって、従来のようにこの位置でボ
ンディングしてしまうとボンディング不良を起こしてい
たものもボンディング時に検出を行うことができる。こ
の検出は、図3に示す破損のみではなく、曲がり等にも
対処することができる。しかも、経路46のような走査
を予めプログラムで設定することによって任意のリード
や、全リードに対して長手方向の距離測定を行うことが
できると共に、検査も併せて行うことができる。
は、互いに2回に分けて別々に行ってもよいし、複合的
に1回の走査としてもよく、任意に設定することができ
る。
0は、図4の(b)信号と、走査によるXYテーブル4
の二次元座標上の変位とから、図5で参照符号15a及
び15bで示す部位、すなわちリード15の両側縁及び
先端縁の位置を知ることができる。但し、各リードでこ
れらの位置は異なるが、ここではある1つのリードに着
目して説明する。
15a,15aの位置情報から、リード15の幅b(図
5参照)をXYテーブル4の位置座標をもとに演算す
る。そして、この幅bの方向では例えばその中心にボン
ディング点47(図3及び図4ではCP2 )を設定する
のであれば、b/2を演算して両側縁15aからb/2
ずつの位置を求め、メモリ(RAM)に記憶させる。
ング点の位置を上記先端縁15bから例えばa(図5参
照)の位置に設定するのであれば、該先端縁15bから
aの位置を演算して求め、メモリ(RAM)に記憶させ
る。
ィング点47の位置がメモリに記憶され、同様にして他
のリードについても行われる。
グ装置では、従来のワイヤボンディング装置のようにボ
ンディング点の位置設定の元となる情報が画像情報であ
るが故の問題がなく、各ボンディング点の位置情報を正
確にかつ連続的に迅速に取り込むことができる。加え
て、従来のワイヤボンディング装置のように画像情報を
得るために装置を逐次停止する必要がなく、作業能率が
高い。
距離情報は、リードに関してはその厚み方向の情報であ
るから、或るリードが該厚み方向の変形、例えば反り等
を生じている場合に該距離情報から認識することがで
き、誤認識によるボンディング不良を回避することが可
能である。
上記距離情報を利用して次のことも行っている。
15間のピッチP1 、P2 を演算して求める。そして、
予めメモリ(ROM)内に定められた情報とこのピッチ
とを比較することによって、リードの位置ズレ、つまり
ピッチズレや不良等の良否を判定する。
手段20は、特に、上述したリードの曲がりや製品不
良、リード間のピッチ等の計測にも好適であり、これを
用いることによってボンディング不良等の判定を有効に
なすことができる。
ディング作業は計測手段20を使用して行われる。ま
た、その他のボンディング部位についても同様に計測す
ることができる。
ては、上記計測手段20として半導体レーザ27等を含
むものが採用されているが、この他、公知の種々の光学
的な計測手段を採用し得るし、光学的な計測手段に限る
ものでもない。但し、本実施例におけるような光学的計
測手段20は、その計測精度が極めて高く、しかも極く
僅かな距離の測定も行え、有用である。
置を例にとって説明したが、本発明はテープボンディン
グ装置にも適用可能である。
ディング装置においては、ボンディング手段及びボンデ
ィング対象の二次元的相対移動が行われる平面に対して
直行する方向において、ボンディング対象等までの距離
情報を計測手段によって得、この距離情報を元に各ボン
ディング点の位置情報を収集するようになされている。
ドである場合、連続して走査しながら全てのリードの表
面までの距離情報を得、この距離情報と走査による二次
元座標上の変位とから各リードの幅等を演算し、更に該
幅等を元に演算して各リード上のボンディング点を求
め、メモリに記憶させる。
グ装置のようにボンディング点の位置設定の元となる情
報が画像情報であるが故の問題がなく、各ボンディング
点の位置情報を正確にかつ連続的に迅速に取り込むこと
ができる。加えて、従来のワイヤボンディング装置のよ
うに画像情報を得るために装置を逐次停止する必要がな
く、作業能率が高い。
てはその厚み方向の情報であるから、或るリードが反り
等を生じている場合に該情報から認識することができ、
誤認識によるボンディング不良を回避することが可能で
ある。
ィング装置を示す図である。
が具備する計測手段を示す図である。
の走査が行われる状況を示す平面図である。
れるリードと、その走査で得られる信号とを示す図であ
る。
を設定する状況を説明するための図である。
図である。
きICチップ及びリードを示す平面図である。
段) 11 駆動ユニット 12 ICチップ 12a (ICチップ12の)パッド 15 リード 18 ワイヤ 20 計測手段 27 半導体レーザ(発光手段) 29 駆動回路 33 光位置検知素子(受光手段) 47 ボンディング点
Claims (5)
- 【請求項1】 ボンディング手段と、該ボンディング手
段及びボンディング対象を二次元的に相対移動させて位
置決めする位置決め手段と、 前記ボンディング対象を撮像する撮像手段と、 前記相対移動が行われる平面に対して直交する方向にお
いて所定基準位置から前記ボンディング対象等までの距
離情報を得る計測手段と、 該距離情報を記憶し制御する制御手段とを備えたことを
特徴とするボンディング装置。 - 【請求項2】 前記計測手段は、発光手段と、反射光を
受けて距離に応じた受光信号を発する受光手段とを有す
ることを特徴とする請求項1記載のボンディング装置。 - 【請求項3】 前記撮像手段よりの画像情報に基づき前
記ボンディング対象のボンディング部位の位置座標を前
記制御手段内のメモリ内に記憶させ、メモリ内から予め
定められたプログラムに従って順次読み出して該ボンデ
ィング部位に順次前記計測手段を走査させることによっ
て得られた前記距離情報等に基づいてボンディング位置
を求めるようにしたことを特徴とする請求項1又は請求
項2記載のボンディング装置。 - 【請求項4】 前記計測手段を走査させて得られた情報
と予め定められた情報とを比較することによって、ボン
ディング対象の位置ズレや不良等の良否を判定するよう
にしたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のうちい
ずれか1記載のボンディング装置。 - 【請求項5】 前記ボンディング対象はリードであり、
前記計測手段によって該リードの曲がりや製品不良、リ
ード間のピッチ等を計測することによって、ボンディン
グ不良等の判定を行うようにしたことを特徴とする請求
項1乃至請求項4のうちいずれか1記載のボンディング
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8261394A JPH1092864A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | ボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8261394A JPH1092864A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | ボンディング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1092864A true JPH1092864A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17361261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8261394A Pending JPH1092864A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | ボンディング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1092864A (ja) |
-
1996
- 1996-09-10 JP JP8261394A patent/JPH1092864A/ja active Pending
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