JPH1090084A - ガラス、ガラスセラミック等の基板上の温度測定レジスタの較正方法 - Google Patents
ガラス、ガラスセラミック等の基板上の温度測定レジスタの較正方法Info
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- JPH1090084A JPH1090084A JP9207641A JP20764197A JPH1090084A JP H1090084 A JPH1090084 A JP H1090084A JP 9207641 A JP9207641 A JP 9207641A JP 20764197 A JP20764197 A JP 20764197A JP H1090084 A JPH1090084 A JP H1090084A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/68—Heating arrangements specially adapted for cooking plates or analogous hot-plates
- H05B3/74—Non-metallic plates, e.g. vitroceramic, ceramic or glassceramic hobs, also including power or control circuits
- H05B3/746—Protection, e.g. overheat cutoff, hot plate indicator
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Ceramic Engineering (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造および／またはエージングと関係した測
定誤差を考慮に入れた、温度測定レジスタを較正する方
法を提供する。 【解決手段】 ガラス、ガラスセラミックまたは同様な
材料で製造された基板上の温度測定レジスタ、特にはガ
ラスセラミック調理板上の導体ストリップレジスタを較
正する方法は、温度測定レジスタ用の温度抵抗特性曲線
を得るため、基板材料の温度に従属する電気抵抗を決定
することによる温度測定レジスタを使用することによっ
て得られた測定抵抗値と関連した温度を測定することを
含む。
定誤差を考慮に入れた、温度測定レジスタを較正する方
法を提供する。 【解決手段】 ガラス、ガラスセラミックまたは同様な
材料で製造された基板上の温度測定レジスタ、特にはガ
ラスセラミック調理板上の導体ストリップレジスタを較
正する方法は、温度測定レジスタ用の温度抵抗特性曲線
を得るため、基板材料の温度に従属する電気抵抗を決定
することによる温度測定レジスタを使用することによっ
て得られた測定抵抗値と関連した温度を測定することを
含む。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はガラス、ガラスセラ
ミックまたは同様な基板上の温度測定レジスタ（ｒｅｓ
ｉｓｔｏｒ）、特にガラスセラミック調理面上の導体ス
トリップレジスタを較正する方法に関する。
ミックまたは同様な基板上の温度測定レジスタ（ｒｅｓ
ｉｓｔｏｒ）、特にガラスセラミック調理面上の導体ス
トリップレジスタを較正する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ガラスセラミック調理板を備えた調理装
置の有用性を高めるためには、調理領域の温度を測定し
かつ指示し、または温度測定を利用して調理プロセスを
制御することが望ましい。例えば、導体ストリップを調
理領域に近い調理面の下側に適用し、導電性材料の温度
に従属するレジスタ（温度測定レジスタ）を利用するこ
とができる。この装置は電熱調理装置またはガスで加熱
される調理装置ならびに、なかんずくグリル装置に使用
可能である。貴金属、例えば、金またはプラチナが好ま
しくは高い稼働温度における導体ストリップ材料として
使用されている。また、銀を低い最低温度（４００℃よ
りも低い）において使用することができる。この型式の
温度測定は、例えばドイツ特許出願第４０２２８４５号
明細書に記載されている。
置の有用性を高めるためには、調理領域の温度を測定し
かつ指示し、または温度測定を利用して調理プロセスを
制御することが望ましい。例えば、導体ストリップを調
理領域に近い調理面の下側に適用し、導電性材料の温度
に従属するレジスタ（温度測定レジスタ）を利用するこ
とができる。この装置は電熱調理装置またはガスで加熱
される調理装置ならびに、なかんずくグリル装置に使用
可能である。貴金属、例えば、金またはプラチナが好ま
しくは高い稼働温度における導体ストリップ材料として
使用されている。また、銀を低い最低温度（４００℃よ
りも低い）において使用することができる。この型式の
温度測定は、例えばドイツ特許出願第４０２２８４５号
明細書に記載されている。
【０００３】一般に電気抵抗は、一般に使用されている
導体ストリップ材料においては温度に対してほぼ線形に
増大し、かつ電子装置が関連している温度範囲全体にお
いて十分満足に分析することができる。しかしながら、
上記型式の温度測定レジスタは実用中にエージングを受
ける不利がある。そのために、温度測定レジスタの温度
抵抗特性曲線はかなりの程度変化する。
導体ストリップ材料においては温度に対してほぼ線形に
増大し、かつ電子装置が関連している温度範囲全体にお
いて十分満足に分析することができる。しかしながら、
上記型式の温度測定レジスタは実用中にエージングを受
ける不利がある。そのために、温度測定レジスタの温度
抵抗特性曲線はかなりの程度変化する。
【０００４】温度測定レジスタの抵抗は、典型的には約
２０００時間の標準使用時間の約６００℃の標準使用時
間において、エージングにより２０℃（Ｒ２０）の温度
においては１４オームから１５オームまで変化する。例
えば、従来２０℃に対応する１４オームの抵抗は、Ｒ
２０の１４オームから１５オームまで変化のために−８
℃で既に測定される。従来５０℃の温度に対応する１
５．０１オームの抵抗は既に２０．３℃で測定され、ま
た、従来４００℃の温度に対応する２６．７７オームの
抵抗は既に３４７℃で達してしまう。いずれにせよ、こ
れは２９．７°から５３°までの真の読みからの偏差に
対応している。また、導体ストリップレジスタを製造す
る場合の製造業者の公差により、上記の可変の範囲にお
いて変化を生ずる。
２０００時間の標準使用時間の約６００℃の標準使用時
間において、エージングにより２０℃（Ｒ２０）の温度
においては１４オームから１５オームまで変化する。例
えば、従来２０℃に対応する１４オームの抵抗は、Ｒ
２０の１４オームから１５オームまで変化のために−８
℃で既に測定される。従来５０℃の温度に対応する１
５．０１オームの抵抗は既に２０．３℃で測定され、ま
た、従来４００℃の温度に対応する２６．７７オームの
抵抗は既に３４７℃で達してしまう。いずれにせよ、こ
れは２９．７°から５３°までの真の読みからの偏差に
対応している。また、導体ストリップレジスタを製造す
る場合の製造業者の公差により、上記の可変の範囲にお
いて変化を生ずる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の１つの目的
は、製造および／またはエージングと関係した測定誤差
を考慮に入れた上記の温度測定レジスタを較正する方法
を提供することにある。
は、製造および／またはエージングと関係した測定誤差
を考慮に入れた上記の温度測定レジスタを較正する方法
を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、ガラ
ス、ガラスセラミックまたは同様な基板の温度測定レジ
スタ、特にガラスセラミック調理面上の導体ストリップ
レジスタを較正する方法は、温度に依存するレジスタ用
の温度抵抗特性曲線を決定するために、基板の電気抵抗
に依存する温度を測定することにより、温度測定レジス
タの少なくとも１つの測定された抵抗値と関連した温度
（すなわち、１つまたは複数の測定される抵抗値が温度
測定レジスタにより得られる１つまたは複数の温度）を
測定することからなる。
ス、ガラスセラミックまたは同様な基板の温度測定レジ
スタ、特にガラスセラミック調理面上の導体ストリップ
レジスタを較正する方法は、温度に依存するレジスタ用
の温度抵抗特性曲線を決定するために、基板の電気抵抗
に依存する温度を測定することにより、温度測定レジス
タの少なくとも１つの測定された抵抗値と関連した温度
（すなわち、１つまたは複数の測定される抵抗値が温度
測定レジスタにより得られる１つまたは複数の温度）を
測定することからなる。
【０００７】本発明は基板材料の電気抵抗が通常高い温
度において、ガラス、ガラスセラミックまたは同様な材
料から製造された基板の温度測定に、好適である事実を
利用している。本発明でいう「匹敵する（ｃｏｍｐａｒ
ａｂｌｅ）材料または類似した（ｓｉｍｉｌａｒ）材
料」という用語は、ガラスまたはガラスセラミックに匹
敵する温度抵抗特性曲線を有する任意の材料を意味して
いる。「匹敵する材料」なる用語は、例えば、セラミッ
クおよび結晶、例えばマイカおよび水晶を含む。
度において、ガラス、ガラスセラミックまたは同様な材
料から製造された基板の温度測定に、好適である事実を
利用している。本発明でいう「匹敵する（ｃｏｍｐａｒ
ａｂｌｅ）材料または類似した（ｓｉｍｉｌａｒ）材
料」という用語は、ガラスまたはガラスセラミックに匹
敵する温度抵抗特性曲線を有する任意の材料を意味して
いる。「匹敵する材料」なる用語は、例えば、セラミッ
クおよび結晶、例えばマイカおよび水晶を含む。
【０００８】本発明を、ガラスセラミック調理面に適用
される導体ストリップレジスタの例により、限定するこ
となく示す。しかしながら、本発明はガラスセラミック
調理面上の導体ストリップレジスタのみに使用可能では
ない。また、その他の用途が重要である。例えば、温度
測定（例えば、熱分解プロセスの間の）は、ガラス成分
を含むその他の製品、例えばガラス窓を有する家庭用オ
ーブンのドアにおいて特に望ましい。熱分解プロセスに
おける家庭用オーブンの内部の温度は、典型的には５０
０℃であり、この温度により窓の温度が窓の負担限界に
近い３００℃までの値に達する。この窓の温度の測定ま
たは観察により、窓の熱破壊を回避することができる。
される導体ストリップレジスタの例により、限定するこ
となく示す。しかしながら、本発明はガラスセラミック
調理面上の導体ストリップレジスタのみに使用可能では
ない。また、その他の用途が重要である。例えば、温度
測定（例えば、熱分解プロセスの間の）は、ガラス成分
を含むその他の製品、例えばガラス窓を有する家庭用オ
ーブンのドアにおいて特に望ましい。熱分解プロセスに
おける家庭用オーブンの内部の温度は、典型的には５０
０℃であり、この温度により窓の温度が窓の負担限界に
近い３００℃までの値に達する。この窓の温度の測定ま
たは観察により、窓の熱破壊を回避することができる。
【０００９】ガラスセラミック調理面を備えた調理装置
において、温度測定のためにガラスセラミック温度測定
レジスタを使用することが知られており、これは例えば
ドイツ特許出願第２１３９８２８号および第４０２２８
４６号明細書に記載されている。通常、間に配置された
ストリップ状のガラスセラミック温度測定レジスタと隣
接し、かつ接触する導体ストリップは、調理領域に近い
ガラスセラミック調理面の下側において、半径に沿って
平行に配置されている。また、ガラスセラミック温度測
定レジスタのこの型式のその他の幾何学的な形態が、例
えばドイツ特許出願第４０２２８４６号および第４０２
２８４４号明細書から既に知られている。
において、温度測定のためにガラスセラミック温度測定
レジスタを使用することが知られており、これは例えば
ドイツ特許出願第２１３９８２８号および第４０２２８
４６号明細書に記載されている。通常、間に配置された
ストリップ状のガラスセラミック温度測定レジスタと隣
接し、かつ接触する導体ストリップは、調理領域に近い
ガラスセラミック調理面の下側において、半径に沿って
平行に配置されている。また、ガラスセラミック温度測
定レジスタのこの型式のその他の幾何学的な形態が、例
えばドイツ特許出願第４０２２８４６号および第４０２
２８４４号明細書から既に知られている。
【００１０】ガラスセラミックの温度ＴＧＫとガラスセ
ラミックセンサの抵抗ＲＧＫとの間の関係は次式（１）
により表わされる。 ＴＧＫ＝−Ｂ／（ｌｇ（ＲＧＫ）＋Ａ）） （１） 式中、ＡおよびＢはセンサおよびガラスセラミックの幾
何学的形状に依存する定数とする。
ラミックセンサの抵抗ＲＧＫとの間の関係は次式（１）
により表わされる。 ＴＧＫ＝−Ｂ／（ｌｇ（ＲＧＫ）＋Ａ）） （１） 式中、ＡおよびＢはセンサおよびガラスセラミックの幾
何学的形状に依存する定数とする。
【００１１】ガラスセラミック温度測定レジスタの抵抗
が、温度が下降するにつれて指数的に増大すること、ま
た既に２５０℃以下で既に高抵抗であるため、ガラスセ
ラミックレジスタをもはや慣用の電子装置に使用できな
いことは不利である。一般に、ガラスセラミックまたは
ガラスの電気抵抗は、導体ストリップレジスタと対照的
に、稼動中のエージングに起因する変化の発生に関して
は、一般に非常に安定している。また、抵抗値の製造要
因的変化も多分に無視され得る。ガラスセラミック温度
測定レジスタの測定誤差は、典型的には、上記の稼動デ
ータ（持続時間、温度）を有するガラスセラミック調理
面に対しては約３°にすぎない。従って、ガラスセラミ
ック温度測定レジスタの抵抗は、導体ストリップ温度測
定レジスタの較正のための基準変数（ｒｅｆｅｒｅｎｃ
ｅ ｖａｒｉａｂｌｅ）として優れている。
が、温度が下降するにつれて指数的に増大すること、ま
た既に２５０℃以下で既に高抵抗であるため、ガラスセ
ラミックレジスタをもはや慣用の電子装置に使用できな
いことは不利である。一般に、ガラスセラミックまたは
ガラスの電気抵抗は、導体ストリップレジスタと対照的
に、稼動中のエージングに起因する変化の発生に関して
は、一般に非常に安定している。また、抵抗値の製造要
因的変化も多分に無視され得る。ガラスセラミック温度
測定レジスタの測定誤差は、典型的には、上記の稼動デ
ータ（持続時間、温度）を有するガラスセラミック調理
面に対しては約３°にすぎない。従って、ガラスセラミ
ック温度測定レジスタの抵抗は、導体ストリップ温度測
定レジスタの較正のための基準変数（ｒｅｆｅｒｅｎｃ
ｅ ｖａｒｉａｂｌｅ）として優れている。
【００１２】従って、本発明によれば、導体ストリップ
温度測定レジスタ（製造中にエーシングし、または変化
した）により指示された温度は、（非常に安定した）ガ
ラスセラミック温度測定レジスタにより示された温度に
よって較正される。較正は、通常２５０℃と６００℃と
の間の温度において行われる。２５０℃の温度において
は、ガラスセラミック温度測定レジスタはもはや使用不
可能であり、かつ調理装置の稼動範囲は６００℃で終わ
るものである。原理上では、この方法は７５０℃のガラ
スセラミックの負荷限度まで使用可能である。
温度測定レジスタ（製造中にエーシングし、または変化
した）により指示された温度は、（非常に安定した）ガ
ラスセラミック温度測定レジスタにより示された温度に
よって較正される。較正は、通常２５０℃と６００℃と
の間の温度において行われる。２５０℃の温度において
は、ガラスセラミック温度測定レジスタはもはや使用不
可能であり、かつ調理装置の稼動範囲は６００℃で終わ
るものである。原理上では、この方法は７５０℃のガラ
スセラミックの負荷限度まで使用可能である。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下に、この較正方法を実施する
ための物理的原理を記載する。
ための物理的原理を記載する。
【００１４】十分な線形の温度抵抗特性曲線を有する導
体ストリップ材料、例えば金またはプラチナの導体スト
リップの温度ＴＬＢと導体ストリップの抵抗ＲＬＢとの
間の関係は、次式により表わされる。 ＲＬＢ＝Ｒ２０（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）） （２） および／または Ｒ２０＝ＲＬＢ／（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）） （３） または ＴＬＢ＝（（ＲＬＢ−Ｒ２０）／（Ｒ２０×α２０）＋２０ （４） 式中、Ｒ２０は２０℃における導体ストリップの抵抗で
あり、かつα２０は抵抗の温度係数である。抵抗α２０
の温度係数は、文献に２０℃で報告されているので、こ
れらの値は２０℃における値である。上記関係は、他の
参照温度に対しても正しい。
体ストリップ材料、例えば金またはプラチナの導体スト
リップの温度ＴＬＢと導体ストリップの抵抗ＲＬＢとの
間の関係は、次式により表わされる。 ＲＬＢ＝Ｒ２０（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）） （２） および／または Ｒ２０＝ＲＬＢ／（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）） （３） または ＴＬＢ＝（（ＲＬＢ−Ｒ２０）／（Ｒ２０×α２０）＋２０ （４） 式中、Ｒ２０は２０℃における導体ストリップの抵抗で
あり、かつα２０は抵抗の温度係数である。抵抗α２０
の温度係数は、文献に２０℃で報告されているので、こ
れらの値は２０℃における値である。上記関係は、他の
参照温度に対しても正しい。
【００１５】抵抗がもはや温度に線形に依存していない
ときに、温度抵抗特性曲線は、一般に式（５）の多項式
で表わされる。 ＲＬＢ＝Ｒ２０（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）＋β２０（ＴＬＢ−２０）２ ＋δ２０（ＴＬＢ−２０）３＋…） （５） 実際の使用においては、Ｒ２０および、より高い要求条
件でα２０もまた（そして必要であれば、β２０および
δ２０も）導体ストリップ材料のエージングおよび／ま
たは製造公差のために、上記のような変更を受ける。
ときに、温度抵抗特性曲線は、一般に式（５）の多項式
で表わされる。 ＲＬＢ＝Ｒ２０（１＋α２０（ＴＬＢ−２０）＋β２０（ＴＬＢ−２０）２ ＋δ２０（ＴＬＢ−２０）３＋…） （５） 実際の使用においては、Ｒ２０および、より高い要求条
件でα２０もまた（そして必要であれば、β２０および
δ２０も）導体ストリップ材料のエージングおよび／ま
たは製造公差のために、上記のような変更を受ける。
【００１６】導体ストリップの温度は、隣接したガラス
セラミックの温度と同じである。ＴＬＢ＝ＴＧＫ。従っ
て、２５０℃と６００℃との間の温度における本発明に
よる較正においては、ガラスセラミックセンサで測定さ
れる温度は、測定導体ストリップ抵抗ＲＬＢに割り当て
られる。十分に一定のα２０によって、正確な値Ｒ２０
を式（３）から決定することができる。調理領域の温度
の正確な値は、この修正されたＲ２０での室温から６０
０℃までの関係する温度範囲全体にわたるＲＬＢから今
や決定される。
セラミックの温度と同じである。ＴＬＢ＝ＴＧＫ。従っ
て、２５０℃と６００℃との間の温度における本発明に
よる較正においては、ガラスセラミックセンサで測定さ
れる温度は、測定導体ストリップ抵抗ＲＬＢに割り当て
られる。十分に一定のα２０によって、正確な値Ｒ２０
を式（３）から決定することができる。調理領域の温度
の正確な値は、この修正されたＲ２０での室温から６０
０℃までの関係する温度範囲全体にわたるＲＬＢから今
や決定される。
【００１７】抵抗の温度係数が、要求される条件を十分
に満たす程度に知られていない場合には、上記の方法の
展開として、較正が２５０℃よりも高い２つの温度に対
して行われる。α２０およびＲ２０に対する式のシステ
ムは、測定値を使用して解かれる。
に満たす程度に知られていない場合には、上記の方法の
展開として、較正が２５０℃よりも高い２つの温度に対
して行われる。α２０およびＲ２０に対する式のシステ
ムは、測定値を使用して解かれる。
【００１８】温度が２５０℃を越えるとき、または定期
的な大きい時間間隔において、または特殊の稼動状態
（例えば、調理容器が配置されていない場合の調理領域
の操作）のときに、修正を行うことができる。この較正
は、例えば基板材料に基づいた温度測定と導体ストリッ
プ抵抗とに基づいた温度測定が５℃よりも大きくなった
ときに行うことができる。実験によれば、十分な測定精
度が保証されるためには、約１０時間の稼動後に較正を
１回行えば十分である。較正は約１秒間で行うことがで
きるので、較正が調理操作に実質的な妨害を与えること
はない。調理容器を配置していない状態で調理領域を稼
動する間の構成は、熱伝達、従って、調理領域の温度プ
ロファイルが正確に画定される点で有利である。これに
より、較正の精度を高めることができる。
的な大きい時間間隔において、または特殊の稼動状態
（例えば、調理容器が配置されていない場合の調理領域
の操作）のときに、修正を行うことができる。この較正
は、例えば基板材料に基づいた温度測定と導体ストリッ
プ抵抗とに基づいた温度測定が５℃よりも大きくなった
ときに行うことができる。実験によれば、十分な測定精
度が保証されるためには、約１０時間の稼動後に較正を
１回行えば十分である。較正は約１秒間で行うことがで
きるので、較正が調理操作に実質的な妨害を与えること
はない。調理容器を配置していない状態で調理領域を稼
動する間の構成は、熱伝達、従って、調理領域の温度プ
ロファイルが正確に画定される点で有利である。これに
より、較正の精度を高めることができる。
【００１９】本発明による方法を以下に実施例により例
示する。１８０ｍｍの長さを有し、かつ約３ｍｍ隔置さ
れた相互に平行に延在する２つの金製の導体ストリップ
が温度センサとして使用される。電気抵抗値が導体スト
リップに沿って、および導体ストリップの間のガラスセ
ラミック材料に沿って測定された。両方の値を別の温度
センサ（Ｐｔ１００）で決定されたガラスセラミック上
のある位置におけるガラスセラミックの温度と相関させ
た。
示する。１８０ｍｍの長さを有し、かつ約３ｍｍ隔置さ
れた相互に平行に延在する２つの金製の導体ストリップ
が温度センサとして使用される。電気抵抗値が導体スト
リップに沿って、および導体ストリップの間のガラスセ
ラミック材料に沿って測定された。両方の値を別の温度
センサ（Ｐｔ１００）で決定されたガラスセラミック上
のある位置におけるガラスセラミックの温度と相関させ
た。
【００２０】約６００℃における導体ストリップ抵抗の
測定値の組が２０００時間のエージングの前後で測定さ
れ、そして、電気抵抗α２０の関連温度係数が計算され
た。 Ｔｃｏｌｄ Ｒ２０ ＴＬＢ ＲＬＢ α２０ 新品の状態 ２０℃ １４ ４００℃ ２６．７７ ２．４× オーム オーム １０−３／ｋ エージング後 ２０℃ １５ ４００℃ ２８．６８ ２．４× オーム オーム １０−３／ｋ
測定値の組が２０００時間のエージングの前後で測定さ
れ、そして、電気抵抗α２０の関連温度係数が計算され
た。 Ｔｃｏｌｄ Ｒ２０ ＴＬＢ ＲＬＢ α２０ 新品の状態 ２０℃ １４ ４００℃ ２６．７７ ２．４× オーム オーム １０−３／ｋ エージング後 ２０℃ １５ ４００℃ ２８．６８ ２．４× オーム オーム １０−３／ｋ
【００２１】計算された温度係数α２０は、使用された
測定構造体および導体ストリップの全長にわたっての関
連温度プロファイルに対して特有であり、エージングの
間、それ自体がきわめて安定していることが判明した。
エージング後、式（４）によれば２６．７７オームの抵
抗は３４７℃の温度で既に達成される。しかしながら、
較正を行わない場合には、導体ストリップセンサは４０
０℃の温度を決定しよう。本発明によれば、例えば４０
０℃への温度修正は、±３℃の精度でもって、ガラスセ
ラミックセンサにより行うことができる。
測定構造体および導体ストリップの全長にわたっての関
連温度プロファイルに対して特有であり、エージングの
間、それ自体がきわめて安定していることが判明した。
エージング後、式（４）によれば２６．７７オームの抵
抗は３４７℃の温度で既に達成される。しかしながら、
較正を行わない場合には、導体ストリップセンサは４０
０℃の温度を決定しよう。本発明によれば、例えば４０
０℃への温度修正は、±３℃の精度でもって、ガラスセ
ラミックセンサにより行うことができる。
【００２２】Ｒ２０の新しい冷抵抗（ｃｏｌｄ ｒｅｓ
ｉｓｔａｎｃｅ）は、一定のα２０および式（３）から
求めた十分に正確な抵抗測定の元に、式（６）によって
正確に、１５オーム＋０．０６オームとして得られる。
この際、ＴＬＢ＝ＴＧＫであり、かつΔＴＬＢ＝ΔＴ
ＧＫである。 ΔＲ２０＝±｜−ＲＬＢα２０／（１＋α２０×ＴＬＢ−α２０）２｜ＴＬ Ｂ （６）
ｉｓｔａｎｃｅ）は、一定のα２０および式（３）から
求めた十分に正確な抵抗測定の元に、式（６）によって
正確に、１５オーム＋０．０６オームとして得られる。
この際、ＴＬＢ＝ＴＧＫであり、かつΔＴＬＢ＝ΔＴ
ＧＫである。 ΔＲ２０＝±｜−ＲＬＢα２０／（１＋α２０×ＴＬＢ−α２０）２｜ＴＬ Ｂ （６）
【００２３】今や温度は、導体ストリップの抵抗、例え
ばＲＬＢ＝５０℃において１６．０８オームとこの新し
いＲ２０−ΔＲ２０により、式（７）によるΔＴＬＢ＝
±１．８℃に従って正確に式（４）により決定すること
ができる。 ΔＴＬＢ＝±｜−ＲＬＢ／（α２０×Ｒ２０ ２）｜×Ｒ２０ （７） エージング後に較正を行わない場合には、８２℃の温度
が、式（４）による１６．０８オームに相当する５０℃
のかわりに示されよう。
ばＲＬＢ＝５０℃において１６．０８オームとこの新し
いＲ２０−ΔＲ２０により、式（７）によるΔＴＬＢ＝
±１．８℃に従って正確に式（４）により決定すること
ができる。 ΔＴＬＢ＝±｜−ＲＬＢ／（α２０×Ｒ２０ ２）｜×Ｒ２０ （７） エージング後に較正を行わない場合には、８２℃の温度
が、式（４）による１６．０８オームに相当する５０℃
のかわりに示されよう。
【００２４】本発明による方法は、非常に正確な温度の
決定が比較的に小さな構造により、長い稼動時間にわた
って可能であるという利点を有する。従って、ガラスセ
ラミック調理面の場合には実際上、前記の従来技術にお
いて知られている導体ストリップ装置を選択することが
できる。導体ストリップ温度測定レジスタの測定抵抗を
決定するためには、両端部において、両方の平行な導体
ストリップの一方を接触させるだけで良い。両方の導体
ストリップと境接し、かつ接触し、かつ調理面の実際の
温度を決定するために使用されるストリップ状のガラス
セラミック温度測定レジスタが両方の導体ストリップの
間に配置される。
決定が比較的に小さな構造により、長い稼動時間にわた
って可能であるという利点を有する。従って、ガラスセ
ラミック調理面の場合には実際上、前記の従来技術にお
いて知られている導体ストリップ装置を選択することが
できる。導体ストリップ温度測定レジスタの測定抵抗を
決定するためには、両端部において、両方の平行な導体
ストリップの一方を接触させるだけで良い。両方の導体
ストリップと境接し、かつ接触し、かつ調理面の実際の
温度を決定するために使用されるストリップ状のガラス
セラミック温度測定レジスタが両方の導体ストリップの
間に配置される。
【００２５】本願の原出願である１９９６年８月９日に
出願されたドイツ特許出願第１９６３２０５７．７−５
２号明細書の開示内容がこの明細書に包含されている。
このドイツ特許出願明細書は、前述した本発明および特
許請求の範囲を記載しているがゆえに、特許法第４１条
による本発明の優先権主張のための根拠となるものであ
る。
出願されたドイツ特許出願第１９６３２０５７．７−５
２号明細書の開示内容がこの明細書に包含されている。
このドイツ特許出願明細書は、前述した本発明および特
許請求の範囲を記載しているがゆえに、特許法第４１条
による本発明の優先権主張のための根拠となるものであ
る。
【００２６】本発明は、ガラス、ガラスセラミックまた
は同様な基板上の温度測定レジスタを較正する方法を実
施されるものとして例示し、かつ記載してあるが、種々
の変型および変更が本発明の精神からなんら逸脱するこ
となく実施することができるので、本発明は記載した詳
細事項に限定されるものではない。以上の記載は、さら
なる分析を行う必要なく本発明の趣旨を十分に示してい
るので、他の人々は現在の知識のまま、本発明の一般的
なおよび本質的な特徴と省略することなく、種々の用途
に容易に適応することができよう。
は同様な基板上の温度測定レジスタを較正する方法を実
施されるものとして例示し、かつ記載してあるが、種々
の変型および変更が本発明の精神からなんら逸脱するこ
となく実施することができるので、本発明は記載した詳
細事項に限定されるものではない。以上の記載は、さら
なる分析を行う必要なく本発明の趣旨を十分に示してい
るので、他の人々は現在の知識のまま、本発明の一般的
なおよび本質的な特徴と省略することなく、種々の用途
に容易に適応することができよう。
Claims (12)
- 【請求項１】 ガラス、ガラスセラミックまたは同様な
基板材料で製造された基板上に配置された温度測定レジ
スタを較正方法において、前記方法が温度測定レジスタ
用の温度抵抗特性曲線を得るために、基板材料の少なく
とも１つの温度に従属する電気抵抗を決定することによ
り、温度測定レジスタを使用することによって得られた
測定された抵抗値と関連した温度を測定する過程を含む
較正方法。 - 【請求項２】 測定された抵抗値と関連した前記温度
が、較正を行うために２５０℃から６００℃までの範囲
内の温度において測定される請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 測定された抵抗値と関連した前記温度
が、較正を行うために基板材料を使用して得られた測定
温度値の導体ストリップレジスタを使用して得られた温
度値からの偏差が５℃よりも大きいときに測定される請
求項１に記載の方法。 - 【請求項４】 測定された抵抗値と関連した前記温度
が、較正を行うために製造後１０時間の稼働後に測定さ
れる請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】 測定された抵抗値と関連した前記温度
が、較正を行うために温度に従属するレジスタと直接的
に境接する基板材料の少なくとも１つの温度に従属する
電気抵抗を測定することにより測定される請求項１に記
載の方法。 - 【請求項６】 温度測定レジスタが基板上の１つの導体
ストリップからなり、かつさらに、別の導体ストリップ
と、基板上の前記導体ストリップの間に配置された基板
材料を含む別の温度測定レジスタとを提供することを含
み、かつ測定された抵抗値と関連した前記温度を決定す
るために基板材料を含む前記の別の温度測定レジスタを
使用することを含む請求項１に記載の方法。 - 【請求項７】 さらに温度測定レジスタの測定された抵
抗値と較正を行うための温度との間の所定の数学的な関
係を使用することと、前記の所定の数学的な関係を表わ
す少なくとも１つの数式におけるいくつかの未知の変数
によっていくつかの較正点を選択することを含む請求項
１に記載の方法。 - 【請求項８】 測定された抵抗値と関連した前記温度が
較正を行うために２５０℃よりも高い温度のみにおいて
測定され、かつさらに較正を行うために実質的に一定の
抵抗の温度係数を有する温度測定レジスタ用の線形温度
抵抗特性曲線を使用することを含む請求項１に記載の方
法。 - 【請求項９】 ガラスセラミック製の調理面基板上に配
置された温度測定導体ストリップレジスタを較正する方
法において、前記方法が温度測定導体ストリップレジス
タ用の温度抵抗特性曲線を得るために、ガラスセラミッ
ク基板の温度に従属する電気抵抗を決定することによ
り、温度測定導体ストリップレジスタを使用することに
より得られた測定された抵抗値と関連した温度を測定す
る工程を含む方法。 - 【請求項１０】 さらに調理面基板の製造後に調理面基
板を１０時間稼働した後に較正を行うことを含む請求項
９に記載の方法。 - 【請求項１１】 さらにガラスセラミック基板を使用し
て決定された測定温度と温度測定基板を使用して得られ
た温度との偏差が５℃よりも大きいときに較正を行うこ
とを含む請求項１に記載の方法。 - 【請求項１２】 さらに別の１つの導体ストリップレジ
スタと基板上の前記導体ストリップレジスタの間に配置
されたガラスセラミック基板の材料を含む別の１つの温
度測定レジスタとを提供することを含み、かつ測定され
た抵抗値と関連した前記温度を決定するためにガラスセ
ラミック基板の材料を含む前記の別の１つの温度測定レ
ジスタを使用することを含む請求項９に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19632057.7 | 1996-08-09 | ||
| DE19632057A DE19632057C2 (de) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | Verfahren zum Kalibrieren von Temperaturmeßwiderständen auf Trägern aus Glas, Glaskeramik oder dergleichen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090084A true JPH1090084A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=7802156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9207641A Pending JPH1090084A (ja) | 1996-08-09 | 1997-08-01 | ガラス、ガラスセラミック等の基板上の温度測定レジスタの較正方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6155711A (ja) |
| EP (1) | EP0823620B1 (ja) |
| JP (1) | JPH1090084A (ja) |
| DE (2) | DE19632057C2 (ja) |
| ES (1) | ES2230577T3 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7509349B2 (en) * | 1998-10-01 | 2009-03-24 | Onepin, Inc. | Method and apparatus for storing and retrieving business contact information in a computer system |
| DE19906115C1 (de) | 1999-02-13 | 2000-08-31 | Schott Glas | Verfahren zum Erkennen des Leerkochens von Geschirr bei Kochfeldern mit einer Glaskeramik-Kochfläche und zugehörige Vorrichtung |
| DE10023179C2 (de) * | 2000-05-11 | 2002-07-18 | Schott Glas | Vorrichtung und deren Verwendung Steuerung von Kochfeldern mit Glaskeramikkochflächen |
| GB0206069D0 (en) * | 2002-03-15 | 2002-04-24 | Ceramaspeed Ltd | Electrical heating assembly |
| US6815648B2 (en) * | 2002-12-31 | 2004-11-09 | General Electric Company | Contact sensor arrangements for glass-ceramic cooktop appliances |
| ATE332493T1 (de) * | 2004-02-24 | 2006-07-15 | Electrovac | Temperaturmessfühler |
| US8890038B2 (en) | 2004-03-30 | 2014-11-18 | Thermoceramix Inc. | Heating apparatus with multiple element array |
| US7482556B2 (en) * | 2004-03-30 | 2009-01-27 | Shaw John R | Heating apparatus with multiple element array |
| DE102006010107A1 (de) * | 2006-03-01 | 2007-09-06 | E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung eines an eine Steuerung angeschlossenen Temperatursensors |
| JP2007329008A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Tokyo Electron Ltd | 熱板及びその製造方法 |
| US8816280B2 (en) | 2012-03-21 | 2014-08-26 | Analog Devices, Inc. | Infrared sensor |
| US9476772B2 (en) | 2012-03-29 | 2016-10-25 | Analog Devices, Inc. | Temperature sensor and an infrared detector including such a sensor |
| US11300458B2 (en) | 2017-09-05 | 2022-04-12 | Littelfuse, Inc. | Temperature sensing tape, assembly, and method of temperature control |
| JP2019090785A (ja) * | 2017-09-05 | 2019-06-13 | リテルヒューズ・インク | 温度感知テープ |
| CN110057468A (zh) * | 2019-01-31 | 2019-07-26 | 西安和其光电科技股份有限公司 | 一种应用于测温设备的标定方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2139828C3 (de) * | 1971-08-09 | 1974-02-14 | Jenaer Glaswerk Schott & Gen., 6500 Mainz | Temperaturmeßwiderstand mit großer Temperaturwechselbeständigkeit aus Glaskeramik |
| US4237368A (en) * | 1978-06-02 | 1980-12-02 | General Electric Company | Temperature sensor for glass-ceramic cooktop |
| DE3145333A1 (de) * | 1981-11-14 | 1983-05-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Verfahren zum pruefen von temperaturfuehlern |
| DE3571276D1 (en) * | 1984-02-01 | 1989-08-03 | Koch Elektronik Ag | Trimming method for a temperature sensor |
| DE4022845A1 (de) * | 1990-07-18 | 1992-01-23 | Schott Glaswerke | Temperatursensor oder -sensoranordnung aus glaskeramik und kontaktierenden filmwiderstaenden |
| DE4022844C1 (ja) * | 1990-07-18 | 1992-02-27 | Schott Glaswerke, 6500 Mainz, De | |
| DE4022846C2 (de) * | 1990-07-18 | 1994-08-11 | Schott Glaswerke | Vorrichtung zur Leistungssteuerung und -begrenzung bei einer Heizfläche aus Glaskeramik oder einem vergleichbaren Material |
| DE4337272A1 (de) * | 1993-11-02 | 1995-05-04 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur Temperaturbestimmung eines Objekts |
-
1996
- 1996-08-09 DE DE19632057A patent/DE19632057C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-07-04 ES ES97111283T patent/ES2230577T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-04 DE DE59711986T patent/DE59711986D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-07-04 EP EP97111283A patent/EP0823620B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-08-01 JP JP9207641A patent/JPH1090084A/ja active Pending
- 1997-08-05 US US08/906,570 patent/US6155711A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19632057A1 (de) | 1998-02-12 |
| US6155711A (en) | 2000-12-05 |
| ES2230577T3 (es) | 2005-05-01 |
| EP0823620A1 (de) | 1998-02-11 |
| EP0823620B1 (de) | 2004-10-06 |
| DE19632057C2 (de) | 2000-06-21 |
| DE59711986D1 (de) | 2004-11-11 |
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