JPH1052415A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JPH1052415A JPH1052415A JP9123751A JP12375197A JPH1052415A JP H1052415 A JPH1052415 A JP H1052415A JP 9123751 A JP9123751 A JP 9123751A JP 12375197 A JP12375197 A JP 12375197A JP H1052415 A JPH1052415 A JP H1052415A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】静磁場不均一による減衰、高周波磁場の連続照
射による悪影響を軽減して核スピン信号の複数のエコー
を連続的に得る。 【構成】静磁場を発生する手段１４と、静磁場に傾斜を
かける傾斜磁場を印加する手段８、９、１０と、検査対
象に高周波磁場を印加する手段４と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段４とを有する核磁気共鳴を
用いた検査装置において、傾斜磁場を印加する手段と高
周波磁場を印加する手段と核磁気共鳴信号を検出する手
段とを制御する制御手段１を有し、該制御手段１は、１
８０°高周波磁場パルスの複数回印加し、検査対象１６
の核スピンによるエコーを複数回発生させ、順次異なる
フェーズドエンコード量を付与してその複数回のエコー
を順次測定するシーケンスを複数のブロックに分割して
実施し、各ブロックの開始毎に核スピンの励起を行うこ
との制御を実行する。 【効果】減衰の少ない多数のエコーを測定できる。
射による悪影響を軽減して核スピン信号の複数のエコー
を連続的に得る。 【構成】静磁場を発生する手段１４と、静磁場に傾斜を
かける傾斜磁場を印加する手段８、９、１０と、検査対
象に高周波磁場を印加する手段４と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段４とを有する核磁気共鳴を
用いた検査装置において、傾斜磁場を印加する手段と高
周波磁場を印加する手段と核磁気共鳴信号を検出する手
段とを制御する制御手段１を有し、該制御手段１は、１
８０°高周波磁場パルスの複数回印加し、検査対象１６
の核スピンによるエコーを複数回発生させ、順次異なる
フェーズドエンコード量を付与してその複数回のエコー
を順次測定するシーケンスを複数のブロックに分割して
実施し、各ブロックの開始毎に核スピンの励起を行うこ
との制御を実行する。 【効果】減衰の少ない多数のエコーを測定できる。
Description
【産業上の利用分野】本発明は核磁気共鳴現象を用い、
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査装置に関する。
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査装置に関する。
【従来の技術】従来、人体などの内部構造を非破壊的に
検査する方法として、Ｘ線ＣＴや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近、核磁気共鳴現象を用い同
様の検査を行なう試みが成功し、Ｘ線ＣＴや超音波装置
では得られない情報を取得できることが明らかになっ
た。核磁気共鳴装置は、対象とする核スピンから発生す
る高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに核スピン
の密度あるいは緩和時間を位置の関数として表示するも
のである。従来まで提案されている方法には、投影再構
成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも投影角度
を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を変えて１
００〜２００回位の測定を行ない、得られたデ−タを計
算機で処理し、元の核スピン分布を求めるものである。
この場合、１回の測定が終了してから次の測定に移るま
でに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなければなら
ず、測定の大部分がこのために費やされていた。これに
対して、Ｇ．Ｊｏｈｎｓｏｎらはエコーを次々と形成
し、横緩和時間Ｔ2よりも十分短い時間内に全ての測定
を完了する方法を提案した（Ｊ．Ｍａｇｎ．Ｒｅｓｏ
ｎ．５４，３７４（１９８３）を参照のこと)。即ち、
信号読み出し傾斜磁場の反転を繰り返してエコーを次々
と形成し、かつエコーとエコーとの間でフェーズエンコ
ードを行なうことにより、１回のシーケンスで全てのフ
ェーズエンコードに対応した信号を測定するものであ
る。しかし、この方法は重大な欠点がある。それは、傾
斜磁場の反転により回復するのは印加した傾斜磁場によ
って生じた核スピンの位相分散だけであり、静磁場の不
均一により生じたの位相分散は累積する一方であるた
め、エコーが時間とともに次第に減衰して行くことであ
る。勿論、対象物体自身の横緩和時間Ｔ2に応じた核ス
ピンの横緩和による減衰は、どのような方法でも回復不
可能であるため、この減衰も加わる。例えば、対象物体
が生体である場合、部位にもよるが平均的Ｔ2は１００
ｍｓ程度である。一方、静磁場の不均一による減衰は次
に示す手順で計算できる。いま対象物体内で静磁場にΔ
Ｈの不均一があり、検査すべき絵素数がＮ2の時、厚さ
方向の不均一を無視する１絵素あたりの不均一ΔｈはΔ
Ｈ／Ｎで与えられる。ところが、実際には断面像を得る
場合は、厚さ１ｃｍ程度のスライスに限定して信号を得
る。このため、１絵素あたりの不均一は、このスライス
の厚さ方向での不均一が支配的となり、ΔＨ／Ｎより１
桁高い値になると考えられる。そこで、Δｈ＝１０・Δ
Ｈ／Ｎと置くと、Δｈによる減衰の時定数Ｔ2＊は、Ｔ2
＊＝２／γΔＨとなる。ここでγは核磁気回転比であ
る。従って、静磁場強度Ｈ0が０．５Ｔ、不均一が１０
ｐｐｍ、Ｎ＝２５６とすると、プロトンに対してはＴ2
＊＝３８ｍｓとなり、生体のＴ2に対して無視できない
値となることが分かる。
検査する方法として、Ｘ線ＣＴや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近、核磁気共鳴現象を用い同
様の検査を行なう試みが成功し、Ｘ線ＣＴや超音波装置
では得られない情報を取得できることが明らかになっ
た。核磁気共鳴装置は、対象とする核スピンから発生す
る高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに核スピン
の密度あるいは緩和時間を位置の関数として表示するも
のである。従来まで提案されている方法には、投影再構
成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも投影角度
を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を変えて１
００〜２００回位の測定を行ない、得られたデ−タを計
算機で処理し、元の核スピン分布を求めるものである。
この場合、１回の測定が終了してから次の測定に移るま
でに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなければなら
ず、測定の大部分がこのために費やされていた。これに
対して、Ｇ．Ｊｏｈｎｓｏｎらはエコーを次々と形成
し、横緩和時間Ｔ2よりも十分短い時間内に全ての測定
を完了する方法を提案した（Ｊ．Ｍａｇｎ．Ｒｅｓｏ
ｎ．５４，３７４（１９８３）を参照のこと)。即ち、
信号読み出し傾斜磁場の反転を繰り返してエコーを次々
と形成し、かつエコーとエコーとの間でフェーズエンコ
ードを行なうことにより、１回のシーケンスで全てのフ
ェーズエンコードに対応した信号を測定するものであ
る。しかし、この方法は重大な欠点がある。それは、傾
斜磁場の反転により回復するのは印加した傾斜磁場によ
って生じた核スピンの位相分散だけであり、静磁場の不
均一により生じたの位相分散は累積する一方であるた
め、エコーが時間とともに次第に減衰して行くことであ
る。勿論、対象物体自身の横緩和時間Ｔ2に応じた核ス
ピンの横緩和による減衰は、どのような方法でも回復不
可能であるため、この減衰も加わる。例えば、対象物体
が生体である場合、部位にもよるが平均的Ｔ2は１００
ｍｓ程度である。一方、静磁場の不均一による減衰は次
に示す手順で計算できる。いま対象物体内で静磁場にΔ
Ｈの不均一があり、検査すべき絵素数がＮ2の時、厚さ
方向の不均一を無視する１絵素あたりの不均一ΔｈはΔ
Ｈ／Ｎで与えられる。ところが、実際には断面像を得る
場合は、厚さ１ｃｍ程度のスライスに限定して信号を得
る。このため、１絵素あたりの不均一は、このスライス
の厚さ方向での不均一が支配的となり、ΔＨ／Ｎより１
桁高い値になると考えられる。そこで、Δｈ＝１０・Δ
Ｈ／Ｎと置くと、Δｈによる減衰の時定数Ｔ2＊は、Ｔ2
＊＝２／γΔＨとなる。ここでγは核磁気回転比であ
る。従って、静磁場強度Ｈ0が０．５Ｔ、不均一が１０
ｐｐｍ、Ｎ＝２５６とすると、プロトンに対してはＴ2
＊＝３８ｍｓとなり、生体のＴ2に対して無視できない
値となることが分かる。
【発明が解決しようとする課題】上記した様に、傾斜磁
場の反転により次々とエコーを形成するＧ．Ｊｏｈｎｓ
ｏｎらの提案した方法では、静磁場の不均一による減衰
のために一連のデ−タを取得できない事態が生じるおそ
れがある。一方、１８０°ｒｆパルスを連続して照射し
て次々とエコーを形成する方法は、これらのｒｆパルス
が測定対象に悪影響を及ぼす（高周波磁場による加熱効
果等）、あるいは、１８０°ｒｆパルスの照射時間を確
保するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない等の
欠点を有する。そこで本発明の目的は、静磁場の不均一
による減衰を受けず、かつｒｆパルスの連続照射で生じ
る欠点をも解消して、複数のエコーを次々と形成し得る
核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置を提供することに
ある。
場の反転により次々とエコーを形成するＧ．Ｊｏｈｎｓ
ｏｎらの提案した方法では、静磁場の不均一による減衰
のために一連のデ−タを取得できない事態が生じるおそ
れがある。一方、１８０°ｒｆパルスを連続して照射し
て次々とエコーを形成する方法は、これらのｒｆパルス
が測定対象に悪影響を及ぼす（高周波磁場による加熱効
果等）、あるいは、１８０°ｒｆパルスの照射時間を確
保するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない等の
欠点を有する。そこで本発明の目的は、静磁場の不均一
による減衰を受けず、かつｒｆパルスの連続照射で生じ
る欠点をも解消して、複数のエコーを次々と形成し得る
核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置を提供することに
ある。
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、１８０°高周波磁場パ
ルスの照射、あるは１８０°高周波磁場パルスの照射と
傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエコー信号を発
生させる。即ち、本発明は、静磁場を発生する手段と、
静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査
対象に高周波磁場を印加する手段と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段と、傾斜磁場を印加する手
段と高周波磁場を印加する手段と核磁気共鳴信号を検出
する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共鳴を用
いた検査装置において、制御手段は、（１）第１の方向
の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して検査対象の
所定スライス内の核スピンを励起すること、（２）第１
の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁場、１８０°高周
波磁場パルス、第２の時間積分をもつ第２の方向の傾斜
磁場を検査対象に順次印加して、位相エンコード量が付
与されたスピンエコー信号を第３の方向の傾斜磁場の印
加の下で検出すること、（３）スピンエコー信号の発生
に続いて、第２の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、（２）において印加された１８０°高周波磁場パル
スの位相が反転した１８０°高周波磁場パルス、第１の
時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁場を検査対象に順次
印加して、位相エンコード量が付与されたスピンエコー
信号を、３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出するこ
と、（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御を行な
い、各スピンエコー信号毎に異なる位相エンコード量を
各スピンエコー信号に付与することに特徴がある。
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、１８０°高周波磁場パ
ルスの照射、あるは１８０°高周波磁場パルスの照射と
傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエコー信号を発
生させる。即ち、本発明は、静磁場を発生する手段と、
静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査
対象に高周波磁場を印加する手段と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段と、傾斜磁場を印加する手
段と高周波磁場を印加する手段と核磁気共鳴信号を検出
する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共鳴を用
いた検査装置において、制御手段は、（１）第１の方向
の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して検査対象の
所定スライス内の核スピンを励起すること、（２）第１
の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁場、１８０°高周
波磁場パルス、第２の時間積分をもつ第２の方向の傾斜
磁場を検査対象に順次印加して、位相エンコード量が付
与されたスピンエコー信号を第３の方向の傾斜磁場の印
加の下で検出すること、（３）スピンエコー信号の発生
に続いて、第２の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、（２）において印加された１８０°高周波磁場パル
スの位相が反転した１８０°高周波磁場パルス、第１の
時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁場を検査対象に順次
印加して、位相エンコード量が付与されたスピンエコー
信号を、３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出するこ
と、（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御を行な
い、各スピンエコー信号毎に異なる位相エンコード量を
各スピンエコー信号に付与することに特徴がある。
【作用】即ち本発明は、静磁場の不均一による信号の減
衰は、１８０°ｒｆパルスにより回復させることが可能
であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により累積
した位相分散が無視しえなくなった時点において、１８
０°ｒｆパルスを照射することによってそれを回復させ
るものである。このような走査を繰り返せば、静磁場の
不均一による信号減衰を最小限におさえ、静磁場不均一
に基づく画質劣化を防止し、しかもｒｆパルスの連続照
射による対象への悪影響や、シーケンスの長時間化を軽
減して多数のエコーを計測することが可能となる。な
お、測定対象自身のＴ2による減衰は依然として回復し
ない。これを考慮するなら、Ｔ2による減衰が無視し得
なくなった時点において、測定を中断し、新しい磁化の
回復を待って測定を繰り返す。ただし、この場合にはフ
ェーズエンコードする量は繰り返し間で均等ではなく、
中断後の最初のエンコードに対しては、それまでに印加
したフェーズエンコード磁場の総和に匹敵するフェーズ
エンコード磁場に次のエンコード磁場を加えた磁場を印
加しなければならない。勿論、この方法によれば測定時
間が長くなるが、その犠牲において画質を向上させるこ
とが可能になるわけである。
衰は、１８０°ｒｆパルスにより回復させることが可能
であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により累積
した位相分散が無視しえなくなった時点において、１８
０°ｒｆパルスを照射することによってそれを回復させ
るものである。このような走査を繰り返せば、静磁場の
不均一による信号減衰を最小限におさえ、静磁場不均一
に基づく画質劣化を防止し、しかもｒｆパルスの連続照
射による対象への悪影響や、シーケンスの長時間化を軽
減して多数のエコーを計測することが可能となる。な
お、測定対象自身のＴ2による減衰は依然として回復し
ない。これを考慮するなら、Ｔ2による減衰が無視し得
なくなった時点において、測定を中断し、新しい磁化の
回復を待って測定を繰り返す。ただし、この場合にはフ
ェーズエンコードする量は繰り返し間で均等ではなく、
中断後の最初のエンコードに対しては、それまでに印加
したフェーズエンコード磁場の総和に匹敵するフェーズ
エンコード磁場に次のエンコード磁場を加えた磁場を印
加しなければならない。勿論、この方法によれば測定時
間が長くなるが、その犠牲において画質を向上させるこ
とが可能になるわけである。
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を説明す
る。図１に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
１は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器２の出力は電力増幅器３で増幅
され、コイル４を励振する。コイル４は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器５を通り、検波器
６で検波後、信号処理装置７にで画像に変換される。高
周波パルス発生器２の他の出力は検波器６で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。ｚ方向及びｘ、
ｙ方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル８、９、１
０で行ない、これらのコイルは増幅器１１、１２、１３
で駆動される。測定対象物１６はベッド１７上に横たわ
っており、ベッド１７は台１８上を移動する。図２に本
発明の実施例の前提となる計測シーケンスを示す。ま
ず、９０°ｒｆパルスと傾斜磁場Ｇｚとによりスライス
を選択した後、区間１でＧｘ、Ｇｙを印加する。フェー
ズエンコードはＧｘにより行なうが、Ｇｘの過渡応答の
悪影響を除去するために、この区間においてダミー磁場
を印加しておく。続いて照射する１８０°ｒｆパルスの
後で印加するフェーズエンコードは実質的には両者の差
となるため、過渡応答によるエンコード分は相殺され
る。従って、図３に示すように両者の差は、同図斜線で
示すように幅Δｔ、高さＧｘの矩形波と見做すことがで
きる。このような形状にエンコードの増分を整えること
は極めて有用である。それは、一連のシーケンスを複数
ブロックに分割し、最初のブロック終了後、次のブロッ
クを始める時、それまで印加したフェーズエンコード磁
場の総和の次のステップに相当するフェーズエンコード
を付与することが著しく容易になるからである。ここに
示したダミー磁場は、次に照射する１８０°ｒｆパルス
の直前にも印加し、区間３における磁場と同様にその増
分が矩形波となるようにする。以後のシーケンスは、図
２に示すように、区間２（実際には若干異なるが）を繰
り返すことになる。ただし、ここで重要な点は、ダミー
磁場とフェーズエンコード磁場との関係である。傾斜磁
場が核スピンに及ぼす効果は、１８０°ｒｆパルスによ
り逆の働きをする性質があるため、図２の区間２の最初
の部分においては、傾斜磁場の時間積分は（数１）とな
り、実質的にΔＳ1の磁場が印加されたのに等しい。
る。図１に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
１は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器２の出力は電力増幅器３で増幅
され、コイル４を励振する。コイル４は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器５を通り、検波器
６で検波後、信号処理装置７にで画像に変換される。高
周波パルス発生器２の他の出力は検波器６で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。ｚ方向及びｘ、
ｙ方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル８、９、１
０で行ない、これらのコイルは増幅器１１、１２、１３
で駆動される。測定対象物１６はベッド１７上に横たわ
っており、ベッド１７は台１８上を移動する。図２に本
発明の実施例の前提となる計測シーケンスを示す。ま
ず、９０°ｒｆパルスと傾斜磁場Ｇｚとによりスライス
を選択した後、区間１でＧｘ、Ｇｙを印加する。フェー
ズエンコードはＧｘにより行なうが、Ｇｘの過渡応答の
悪影響を除去するために、この区間においてダミー磁場
を印加しておく。続いて照射する１８０°ｒｆパルスの
後で印加するフェーズエンコードは実質的には両者の差
となるため、過渡応答によるエンコード分は相殺され
る。従って、図３に示すように両者の差は、同図斜線で
示すように幅Δｔ、高さＧｘの矩形波と見做すことがで
きる。このような形状にエンコードの増分を整えること
は極めて有用である。それは、一連のシーケンスを複数
ブロックに分割し、最初のブロック終了後、次のブロッ
クを始める時、それまで印加したフェーズエンコード磁
場の総和の次のステップに相当するフェーズエンコード
を付与することが著しく容易になるからである。ここに
示したダミー磁場は、次に照射する１８０°ｒｆパルス
の直前にも印加し、区間３における磁場と同様にその増
分が矩形波となるようにする。以後のシーケンスは、図
２に示すように、区間２（実際には若干異なるが）を繰
り返すことになる。ただし、ここで重要な点は、ダミー
磁場とフェーズエンコード磁場との関係である。傾斜磁
場が核スピンに及ぼす効果は、１８０°ｒｆパルスによ
り逆の働きをする性質があるため、図２の区間２の最初
の部分においては、傾斜磁場の時間積分は（数１）とな
り、実質的にΔＳ1の磁場が印加されたのに等しい。
【数１】 ΔＳ1＝Ｓｂ−Ｓａ …（数１） 従って、最初の信号は、ΔＳ1によるエンコードを受け
たことになる。次に区間３では、（数２）となり、ΔＳ
1の２倍の磁場が符号反転して印加されたことになる。
たことになる。次に区間３では、（数２）となり、ΔＳ
1の２倍の磁場が符号反転して印加されたことになる。
【数２】 ΔＳ2＝Ｓｂ−Ｓａ−ΔＳ1＝２（Ｓａ−Ｓｂ）＝−２ΔＳ1 …（数２） 以後は、３ΔＳ1、−４ΔＳ1、５ΔＳ1、……のように
繰り返す。このシーケンスでは、静磁場の不均一による
減衰が１８０°パルス毎に回復させられるが、測定対象
自身の横緩和Ｔ2による減衰は次第に蓄積するだけであ
る。そのため、Ｔ2による減衰が無視し得なくなった時
点において、新しいブロックへと移らなければならな
い。この時、前述したように、それまでに印加したフェ
ーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当するフ
ェーズエンコードを付与することから新しいブロックを
始める。図４は、その最初のステップに対するシーケン
スを示す。それまでに印加した磁場の時間積分をｎΔＳ
（ただし、１８０°ｒｆパルスによる符号反転を考慮）
とすると、（数３）で示される関係を満足するように、
ｔ1〜ｔ4を選択すればよい（左辺の積分∫Ｇｘｄｔの範
囲はｔ＝ｔ1〜ｔ2、積分∫Ｇｘｄｔ’の範囲はｔ’＝ｔ
3〜ｔ4である）。以後のシーケンスは、図２の区間２に
示すものと同じである。
繰り返す。このシーケンスでは、静磁場の不均一による
減衰が１８０°パルス毎に回復させられるが、測定対象
自身の横緩和Ｔ2による減衰は次第に蓄積するだけであ
る。そのため、Ｔ2による減衰が無視し得なくなった時
点において、新しいブロックへと移らなければならな
い。この時、前述したように、それまでに印加したフェ
ーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当するフ
ェーズエンコードを付与することから新しいブロックを
始める。図４は、その最初のステップに対するシーケン
スを示す。それまでに印加した磁場の時間積分をｎΔＳ
（ただし、１８０°ｒｆパルスによる符号反転を考慮）
とすると、（数３）で示される関係を満足するように、
ｔ1〜ｔ4を選択すればよい（左辺の積分∫Ｇｘｄｔの範
囲はｔ＝ｔ1〜ｔ2、積分∫Ｇｘｄｔ’の範囲はｔ’＝ｔ
3〜ｔ4である）。以後のシーケンスは、図２の区間２に
示すものと同じである。
【数３】 ∫Ｇｘｄｔ−∫Ｇｘｄｔ’＝（ｎ＋１）ΔＳ …（数３） □本発明の実施例を図５に示す。このシーケンスは、図
２にて説明したブロック毎に分割され、各ブロックで複
数のエコーを得るシーケンスを基本とし、その複数のエ
コーを形成するのに、１８０°パルスと傾斜磁場の反転
を組み合わせたものである。即ち、１８０°パルスを図
２に示すように連続して照射することには、場合によっ
ては測定対象に悪影響を及ぼすのみならず、エコー間の
時間が長くなるという欠点がある。また、図２のシーケ
ンスでは、１８０°パルス毎にｚ方向に厚みを持つスラ
イスの選択が繰り返されるが、そのスライス選択の特性
が理想的でない限り、実質的なスライス厚さが次第に減
少し、これによっても後のエコーほど信号が減衰する。
それに対して、図５に示すように１８０°パルスと傾斜
磁場Ｇｙの反転の組み合わせを用いれば、同じ数のエコ
ーを得るのに１８０°パルスの数が減少し、上記の欠点
を解消できる。しかも図中の２回目の１８０°パルス以
後の第４、第５、第６エコー（図では省略）では、その
２回目の１８０°パルスの印加により次第に静磁場の不
均一による位相分散が回復してくるので、この位相分散
による信号減衰分は回復する。従って、解消できない対
象自身の横緩和による信号減衰が無視し得なくなるま
で、この１８０°パルスと傾斜磁場の反転の組み合わせ
によるパルス形成を繰り返す。なお、図５に示す例では
フェーズエンコードするための磁場は、図６に示すよう
に正負両極性を有する磁場形状とする。これにより、図
６の斜線部分の面積は相殺し、その結果、フェーズエン
コードに寄与する磁場はΔｔＧｘとなり、先に述べたと
同様にフェーズエンコードの増分を矩形波とするこがで
きる。１８０°パルスと磁場反転の組み合わせ方は、被
測定体のＴ2と静磁場の不均一の大小関係で決まり、一
般に静磁場の不均一が大きい程、１８０°パルスの数を
増やさなければならない。なお、図２および図５で照射
する１８０°ｒｆパルスは、交互に位相を１８０°ずら
すことにより、１８０°ｒｆパルスの振幅の誤差により
生じる信号の減衰を低減させることができる。本発明の
別の実施例を図７と図８に示す。この実施例は、前述し
たブロック間の待ち時間を短縮する方法である。即ち、
ブロックの終了した時点ｔｅに続く区間において、それ
までに付与された実効的なフェーズエンコード磁場と、
信号のピーク以後に付与された傾斜磁場の各々を相殺す
ることにより、最後の測定で生じた核スピン間の位相分
散を修復し、それを９０°ｒｆパルスにより静磁場と同
じ方向に強制的に向けてやるのである。この操作によ
り、本来ならばあるブロックの測定が完了してから測定
対象の平均的Ｔ1程度の時間待たなければならないとこ
ろを、９０°ｒｆパルスにより元に戻した残留磁化の分
だけ回復が早まり、ブロック間の待ち時間を短縮するこ
とができる。
２にて説明したブロック毎に分割され、各ブロックで複
数のエコーを得るシーケンスを基本とし、その複数のエ
コーを形成するのに、１８０°パルスと傾斜磁場の反転
を組み合わせたものである。即ち、１８０°パルスを図
２に示すように連続して照射することには、場合によっ
ては測定対象に悪影響を及ぼすのみならず、エコー間の
時間が長くなるという欠点がある。また、図２のシーケ
ンスでは、１８０°パルス毎にｚ方向に厚みを持つスラ
イスの選択が繰り返されるが、そのスライス選択の特性
が理想的でない限り、実質的なスライス厚さが次第に減
少し、これによっても後のエコーほど信号が減衰する。
それに対して、図５に示すように１８０°パルスと傾斜
磁場Ｇｙの反転の組み合わせを用いれば、同じ数のエコ
ーを得るのに１８０°パルスの数が減少し、上記の欠点
を解消できる。しかも図中の２回目の１８０°パルス以
後の第４、第５、第６エコー（図では省略）では、その
２回目の１８０°パルスの印加により次第に静磁場の不
均一による位相分散が回復してくるので、この位相分散
による信号減衰分は回復する。従って、解消できない対
象自身の横緩和による信号減衰が無視し得なくなるま
で、この１８０°パルスと傾斜磁場の反転の組み合わせ
によるパルス形成を繰り返す。なお、図５に示す例では
フェーズエンコードするための磁場は、図６に示すよう
に正負両極性を有する磁場形状とする。これにより、図
６の斜線部分の面積は相殺し、その結果、フェーズエン
コードに寄与する磁場はΔｔＧｘとなり、先に述べたと
同様にフェーズエンコードの増分を矩形波とするこがで
きる。１８０°パルスと磁場反転の組み合わせ方は、被
測定体のＴ2と静磁場の不均一の大小関係で決まり、一
般に静磁場の不均一が大きい程、１８０°パルスの数を
増やさなければならない。なお、図２および図５で照射
する１８０°ｒｆパルスは、交互に位相を１８０°ずら
すことにより、１８０°ｒｆパルスの振幅の誤差により
生じる信号の減衰を低減させることができる。本発明の
別の実施例を図７と図８に示す。この実施例は、前述し
たブロック間の待ち時間を短縮する方法である。即ち、
ブロックの終了した時点ｔｅに続く区間において、それ
までに付与された実効的なフェーズエンコード磁場と、
信号のピーク以後に付与された傾斜磁場の各々を相殺す
ることにより、最後の測定で生じた核スピン間の位相分
散を修復し、それを９０°ｒｆパルスにより静磁場と同
じ方向に強制的に向けてやるのである。この操作によ
り、本来ならばあるブロックの測定が完了してから測定
対象の平均的Ｔ1程度の時間待たなければならないとこ
ろを、９０°ｒｆパルスにより元に戻した残留磁化の分
だけ回復が早まり、ブロック間の待ち時間を短縮するこ
とができる。
【発明の効果】本発明によれば、１８０°高周波磁場パ
ルスの照射、あるは１８０°高周波磁場パルスの照射と
傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエコー信号を発
生させることにより、静磁場不均一に基づく画質劣化を
防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪影響も軽減
し、かつ測定時間を短縮することが可能になる。
ルスの照射、あるは１８０°高周波磁場パルスの照射と
傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエコー信号を発
生させることにより、静磁場不均一に基づく画質劣化を
防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪影響も軽減
し、かつ測定時間を短縮することが可能になる。
【図１】本発明を実施する核磁気共鳴検査装置の概略構
成図。
成図。
【図２】本発明の実施例の前提となる方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
【図３】図２の一部を詳細に示す図。
【図４】図２で示したブロックの次のブロックのパルス
系列を示す図。
系列を示す図。
【図５】本発明の実施例の方法のパルス系列を示す図。
【図６】図５の一部を詳細に示す図。
【図７】本発明の別の実施例の方法のパルス系列を示す
図。
図。
【図８】本発明のさらに別の実施例の方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
１…制御装置、２…高周波パルス発生器、４…励振、受
信用コイル、６…検波器、７…信号処理装置、８、９、
１０…傾斜磁場発生用コイル、１４…静磁場発生用コイ
ル、１６…測定対象物体、ｒｆ…高周波磁場パルス波
形、Ｇｚ…スライス選択用傾斜磁場波形、Ｇｘ…フェー
ズエンコード用傾斜磁場波形、Ｇｙ…読み出し、及びエ
コー形成用傾斜磁場波形。
信用コイル、６…検波器、７…信号処理装置、８、９、
１０…傾斜磁場発生用コイル、１４…静磁場発生用コイ
ル、１６…測定対象物体、ｒｆ…高周波磁場パルス波
形、Ｇｚ…スライス選択用傾斜磁場波形、Ｇｘ…フェー
ズエンコード用傾斜磁場波形、Ｇｙ…読み出し、及びエ
コー形成用傾斜磁場波形。
Claims (10)
- 【請求項１】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）第１の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、１８０°高周波磁場パルス、第２の時間積分をもつ
前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加し
て、位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（３）前記スピンエコー信号の発生に続いて、前記第２
の時間積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場、前記１８
０°高周波磁場パルス、前記第１の時間積分をもつ前記
第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加して、
位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を前記
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御を行ない、
前記各１８０°高周波磁場パルスの印加毎に極性が変化
し前記各スピンエコー信号毎に異なる位相エンコード量
を前記各スピンエコー信号に付与することを特徴とする
核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項２】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）第１の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、１８０°高周波磁場パルス、第２の時間積分をもつ
前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加し
て、位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（３）前記スピンエコー信号の発生に続いて、前記第２
の時間積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場、（２）に
おいて印加された前記１８０°高周波磁場パルスの位相
が反転した１８０°高周波磁場パルス、前記第１の時間
積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に
順次印加して、位相エンコード量が付与されたスピンエ
コー信号を前記第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出
すること、（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御
を行ない、前記各１８０°高周波磁場パルスの印加毎に
極性が変化し前記各スピンエコー信号毎に異なる位相エ
ンコード量を前記各スピンエコー信号に付与することを
特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項３】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）第１の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、１８０°高周波磁場パルス、第２の時間積分をもつ
前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加し
て、位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（３）前記スピンエコー信号の発生に続いて、前記第２
の時間積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場、前記１８
０°高周波磁場パルス、前記第１の時間積分をもつ前記
第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加して、
位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を前記
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御を行ない、
前記各スピンエコー信号毎に異なる位相エンコード量を
前記各スピンエコー信号に付与することを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項４】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）第１の時間積分をもつ第２の方向の傾斜磁
場、１８０°高周波磁場パルス、第２の時間積分をもつ
前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に順次印加し
て、位相エンコード量が付与されたスピンエコー信号を
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出すること、
（３）前記スピンエコー信号の発生に続いて、前記第２
の時間積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場、（２）に
おいて印加された前記１８０°高周波磁場パルスの位相
が反転した１８０°高周波磁場パルス、前記第１の時間
積分をもつ前記第２の方向の傾斜磁場を前記検査対象に
順次印加して、位相エンコード量が付与されたスピンエ
コー信号を前記第３の方向の傾斜磁場の印加の下で検出
すること、（４）（２）、（３）を繰返すこと、の制御
を行ない、前記各スピンエコー信号毎に異なる位相エン
コード量を前記各スピンエコー信号に付与することを特
徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項５】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）１８０°高周波磁場パルスの前後で時間積分
の異なる第２の方向の傾斜磁場を印加してスピンエコー
信号に位相エンコード量を付与すること、（３）前記ス
ピンエコー信号が最大となる時点を含み１回の連続する
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で前記スピンエコー信
号を検出すること、（４）（２）、（３）を繰返すこ
と、の制御を行ない、前記各１８０°高周波磁場パルス
の印加毎に極性が変化し前記各スピンエコー信号毎に異
なる位相エンコード量を前記各スピンエコー信号に付与
することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項６】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）１８０°高周波磁場パルスの前後で時間積分
の異なる第２の方向の傾斜磁場を印加してスピンエコー
信号に位相エンコード量を付与すること、（３）前記ス
ピンエコー信号が最大となる時点を含み１回の連続する
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で前記スピンエコー信
号を検出すること、（４）（２）、（３）を前記１８０
°高周波磁場パルスの位相を交互に反転して繰返すこ
と、の制御を行ない、前記各１８０°高周波磁場パルス
の印加毎に極性が変化し前記各スピンエコー信号毎に異
なる位相エンコード量を前記各スピンエコー信号に付与
することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項７】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）１８０°高周波磁場パルスの前後で時間積分
の異なる第２の方向の傾斜磁場を印加してスピンエコー
信号に位相エンコード量を付与すること、（３）前記ス
ピンエコー信号が最大となる時点を含み１回の連続する
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で前記スピンエコー信
号を検出すること、（４）（２）、（３）を繰返すこ
と、の制御を行ない、前記各スピンエコー信号毎に異な
る位相エンコード量を前記各スピンエコー信号に付与す
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項８】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）１８０°高周波磁場パルスの前後で時間積分
の異なる第２の方向の傾斜磁場を印加してスピンエコー
信号に位相エンコード量を付与すること、（３）前記ス
ピンエコー信号が最大となる時点を含み１回の連続する
第３の方向の傾斜磁場の印加の下で前記スピンエコー信
号を検出すること、（４）（２）、（３）を前記１８０
°高周波磁場パルスの位相を交互に反転して繰返すこ
と、の制御を行ない、前記各スピンエコー信号毎に異な
る位相エンコード量を前記各スピンエコー信号に付与す
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項９】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に傾
斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高周
波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気共
鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手段
と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信号
を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気共
鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、（１）
第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印加して
前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するこ
と、（２）前記高周波磁場パルスの印加から第１の所定
時間の経過後、前記検査対象に１８０°高周波磁場パル
スを第２の所定時間の間隔をもって複数回印加して、前
記各１８０°高周波磁場パルスの印加から前記第２の所
定時間の間隔のほぼ半分の時間経過後の時点にスピンエ
コー信号のピーク値を発生させること、（３）前記各１
８０°高周波磁場パルスの印加後に発生する各スピンエ
コー信号毎にそれぞれ異なった位相エンコード量が付与
されるように、前記各１８０°高周波磁場パルスの印加
後に引き続いて第２の方向の傾斜磁場を印加すること、
（４）前記ピーク値が発生する時点を含んで前記各第２
の所定時間の間隔内で連続して、第３方向の傾斜磁場を
第３の所定時間にわたり印加すること、（５）前記第２
の所定時間の各間隔内に発生する前記スピンエコー信号
を、前記第３の方向の傾斜磁場の印加中に検出するこ
と、の制御を行なうことを特徴とする核磁気共鳴を用い
た検査装置。 - 【請求項１０】静磁場を発生する手段と、前記静磁場に
傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、検査対象に高
周波磁場を印加する手段と、前記検査対象からの核磁気
共鳴信号を検出する手段と、前記傾斜磁場を印加する手
段と前記高周波磁場を印加する手段と前記核磁気共鳴信
号を検出する手段とを制御する制御手段を有する核磁気
共鳴を用いた検査装置において、前記制御手段は、
（１）第１の方向の傾斜磁場と高周波磁場パルスとを印
加して前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起
すること、（２）前記高周波磁場パルスの印加から第１
の所定時間の経過後、前記検査対象に１８０°高周波磁
場パルスを第２の所定時間の間隔をもって複数回印加す
ること、（３）前記各１８０°高周波磁場パルスの印加
後に発生する各スピンエコー信号毎にそれぞれ異なった
位相エンコード量が付与されるように、前記各１８０°
高周波磁場パルスの印加後に引き続いて第２の方向の傾
斜磁場を印加すること、（４）前記第２の所定時間の各
間隔の中央部に前記各スピンエコー信号のピーク値が発
生するように、前記ピーク値が発生する時点を含んで前
記第２の所定時間の各間隔内で連続して、第３方向の傾
斜磁場を第３の所定時間にわたり印加すること、（５）
前記第２の所定時間の各間隔内に発生する前記スピンエ
コー信号を、前記第３の方向の傾斜磁場の印加中に検出
すること、の制御を行なうことを特徴とする核磁気共鳴
を用いた検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9123751A JP2908380B2 (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9123751A JP2908380B2 (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7310317A Division JP2760330B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1052415A true JPH1052415A (ja) | 1998-02-24 |
| JP2908380B2 JP2908380B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=14868418
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9123751A Expired - Lifetime JP2908380B2 (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2908380B2 (ja) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5381288A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-18 | Nat Res Dev | Nuclear magnetic resonance method |
| JPS58116344A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-11 | 株式会社東芝 | 診断用核磁気共鳴装置 |
| JPS58200145A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-11-21 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | Ｎｍｒイメージング方法と装置 |
| JPS5954952A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-03-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS5957147A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-04-02 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS5967450A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-04-17 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 疑似ｆｉｄｎｍｒ信号の影響を克服する方法と装置 |
| JPS5983041A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-14 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS6162851A (ja) * | 1984-09-05 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
-
1997
- 1997-05-14 JP JP9123751A patent/JP2908380B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5381288A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-18 | Nat Res Dev | Nuclear magnetic resonance method |
| JPS58116344A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-11 | 株式会社東芝 | 診断用核磁気共鳴装置 |
| JPS58200145A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-11-21 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | Ｎｍｒイメージング方法と装置 |
| JPS5967450A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-04-17 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 疑似ｆｉｄｎｍｒ信号の影響を克服する方法と装置 |
| JPS5954952A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-03-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS5957147A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-04-02 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS5983041A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-14 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS6162851A (ja) * | 1984-09-05 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2908380B2 (ja) | 1999-06-21 |
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