JPH1049680A - Method for inspecting printing pattern defect of printed matter - Google Patents
Method for inspecting printing pattern defect of printed matterInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、各種平面印刷物の
印刷生産において常に問題となる印刷パターンの図柄ず
れ、図柄切れ等を自動的に検出するための印刷物の印刷
パターン欠陥検査方法に関し、さらに詳しくは、例え
ば、自動車用セラミック基板等の平面印刷された、いわ
ゆる配線パターン（配線図柄）や、同様に平面印刷され
たプリペイドカード、液晶ディスプレイ用カラーフィル
タ等の印刷パターン（印刷図柄）を検査対象とする印刷
物の印刷パターン欠陥検査方法に係るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a printed pattern defect of a printed material for automatically detecting a pattern shift, a broken pattern, or the like of a printed pattern which is always a problem in print production of various flat printed materials. For example, a so-called wiring pattern (wiring pattern) printed on a plane, such as a ceramic substrate for an automobile, or a printed pattern (printing pattern) such as a prepaid card, a color filter for a liquid crystal display, etc., also printed on a plane, are inspected. The present invention relates to a print pattern defect inspection method for a printed material to be inspected.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来から、この種の印刷物における印刷
パターンの欠陥検査については、通常の場合、検査対象
となる印刷物を所定方向に移送させながら、該移送経路
に対応して１次元、２次元の各方向に配列させた夫々の
検出素子、例えば、光電検出素子（Charge Coupled Dev
ice 、ＣＣＤ素子）を用いることで、該印刷物の表面に
印刷された図柄パターンを順次に検出すると共に、該検
出された検査対象としての個々の図柄、ひいては、印刷
パターンの輪郭情報を２次元記憶素子に記憶して蓄積さ
せ、該蓄積された検査対象の印刷パターンの輪郭情報
と、予め記憶されている正常な標準印刷パターンの輪郭
情報とを、逐次に相互比較して所期の欠陥検査を行なう
手法が一般的に知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a defect inspection of a printed pattern of a printed material of this kind, usually, a printed material to be inspected is transported in a predetermined direction while one-dimensionally or two-dimensionally corresponding to the transport path. , For example, a photoelectric detection element (Charge Coupled Dev.)
ice, CCD elements), the pattern patterns printed on the surface of the printed matter are sequentially detected, and the detected individual patterns to be inspected, and furthermore, the contour information of the printed patterns are two-dimensionally stored. The contour information of the stored print pattern to be inspected and the contour information of the normal standard print pattern stored in advance are sequentially compared with each other to perform an intended defect inspection. Techniques for doing so are generally known.
【０００３】即ち、例えば、特開平１−１００４４１号
公報には、印刷物における検査対象の印刷パターンを１
次元ＣＣＤカメラによって撮像すると共に、撮像された
画像情報を微分演算処理して該印刷パターンの濃度変化
部を抽出し、指定した画素幅分相当に水平及び垂直の各
方向に膨張処理を行なった上で、該印刷パターンの図柄
輪郭情報を１画素単位のビットマップで表現し、同様の
手法で得た前回の印刷物一周期分相当の印刷パターン輪
郭情報と逐次に比較することにより、印刷物の印刷パタ
ーン欠陥を検出する手段が開示されている。That is, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. H1-100441 discloses that a printed pattern to be inspected in a printed material is one.
The image is taken by a three-dimensional CCD camera, and the taken image information is subjected to differential operation processing to extract a density change portion of the print pattern, and subjected to expansion processing in horizontal and vertical directions corresponding to a designated pixel width. Then, the pattern outline information of the print pattern is represented by a bitmap in units of one pixel, and sequentially compared with the print pattern outline information corresponding to one cycle of the previous print, which is obtained by the same method. Means for detecting defects are disclosed.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来方法での印刷パターンの図柄輪郭情報を１画素
単位のビットマップで表現して比較する手段において
は、検査装置の構成上、記憶領域、ここでは、検査対象
の図柄パターンにおける一周期相当分の水平及び垂直の
各方向での夫々の解像度に見合ったビットデータを展開
し得るだけの比較的大容量の記憶領域を必要とするばか
りでなく、しかも相互比較のためには、該比較的大容量
の記憶領域を少なくとも２画面相当分は必要としてお
り、この結果、装置全体の価格が高価になるという問題
点がある。However, in the means for expressing and comparing the pattern outline information of the print pattern by the bit map of one pixel unit in the conventional method, the storage area, Here, not only is a relatively large storage area necessary to develop bit data corresponding to each resolution in each of the horizontal and vertical directions corresponding to one cycle in the design pattern to be inspected, Further, for the purpose of mutual comparison, the storage area of relatively large capacity is required for at least two screens. As a result, there is a problem that the price of the entire apparatus becomes expensive.
【０００５】また、前記のような２次元の図柄輪郭情報
に対して、画像濃度情報を付加した３次元方式による印
刷物の印刷パターン欠陥検査装置を考慮するときは、よ
り一層、大容量の記憶素子と、それに加えて濃度情報ま
でを含めた位置ずれ補正回路等をも必要とするために、
さらに装置価格が高価になるものであった。When considering a three-dimensional printed pattern defect inspection apparatus for a printed matter in which image density information is added to the two-dimensional pattern outline information as described above, an even larger capacity storage element is required. And, in addition, a misregistration correction circuit including the density information is also required.
Further, the equipment price becomes expensive.
【０００６】本発明は、このような従来の問題点を解消
するためになされたもので、その目的とするところは、
可及的簡単な手法によって、所期の印刷パターンの欠陥
検査を効果的になし得るようにした印刷物の印刷パター
ン欠陥検査方法を提供することである。[0006] The present invention has been made to solve such a conventional problem.
An object of the present invention is to provide a print pattern defect inspection method for a printed material, which can effectively perform an intended print pattern defect inspection by a method as simple as possible.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明においては、所定
方向に移動する検査対象印刷物を発光素子によって光照
射すると共に、その反射光を１次元ＣＣＤカメラに受光
させて電気信号に変換した上で、検査対象図柄からの反
射光強度に対応する出力信号に合致した領域を画素連続
長さ、水平方向開始画素位置、及び垂直方向ＣＣＤカメ
ラ走査回数カウント値として順次に検出し、予め正常に
印刷された基準印刷物によって得られる同様な３項目の
発生度数分布配列データから、該当配列の度数を減算す
ることにより、これらの各項目の発生度数分布配列にお
ける検査中演算での減算結果が零未満となる場合、もし
くは、検査対象図柄の一周期相当分の検査を終了した時
点で、前記発生度数分布配列に１以上の数値が残存して
いる場合に印刷不良として検出するようにしたものであ
る。According to the present invention, a printed material to be inspected moving in a predetermined direction is irradiated with light by a light emitting element, and the reflected light is received by a one-dimensional CCD camera to be converted into an electric signal. The areas that match the output signal corresponding to the intensity of the reflected light from the design to be inspected are sequentially detected as the pixel continuous length, the horizontal start pixel position, and the vertical CCD camera scan count value, and are normally printed in advance. By subtracting the frequency of the corresponding array from the frequency distribution array data of the same three items obtained by the reference printed material, the subtraction result in the operation under inspection in the frequency distribution array of these items becomes less than zero. Or, at the point in time when the inspection for one cycle corresponding to the symbol to be inspected is completed, if one or more numerical values remain in the occurrence frequency distribution array, printing is not performed. It is obtained so as to detect a.
【０００８】即ち、本発明に係る請求項１に記載の印刷
物の印刷パターン欠陥検査方法は、印刷物の印刷パター
ン認識において、前記印刷物を移送しながら、該印刷物
の印刷パターンを１次元ＣＣＤカメラにより順次に撮像
して画像信号を得ると共に、該画像信号から特定濃度領
域のみを抽出して指定画素幅以上に連続した画素領域を
検出したとき、該検出した画素領域での検出画素の画素
連続長さ、水平方向開始位置及び垂直方向開始位置の各
データを生成した上で、該生成された検査対象の印刷パ
ターンの累積度数分布配列データと、予め正常な標準印
刷パターンによって得た同様な累積度数分布配列データ
とを順次に比較して減算処理し、検査対象の印刷パター
ンの処理終了時に、正常な標準印刷パターンとの累積度
数分布テーブルの演算結果が〈零未満〉もしくは〈１〉
以上となった場合に、これをパターン欠陥発生として認
識することを特徴としている。According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a printed pattern of a printed matter, wherein the printed pattern of the printed matter is sequentially transferred by a one-dimensional CCD camera while transferring the printed matter in recognition of the printed pattern of the printed matter. When an image signal is obtained by capturing an image, and only a specific density region is extracted from the image signal to detect a pixel region that is continuous over a specified pixel width, the pixel continuation length of the detected pixel in the detected pixel region After generating each data of the horizontal start position and the vertical start position, the cumulative frequency distribution array data of the generated print pattern to be inspected and the similar cumulative frequency distribution previously obtained by a normal standard print pattern The sequence data is sequentially compared and subtracted, and when the processing of the print pattern to be inspected is completed, the cumulative frequency distribution table with the normal standard print pattern is stored. Calculation results <less than zero> or <1>
In the case described above, this is recognized as occurrence of a pattern defect.
【０００９】本発明に係る請求項２に記載の印刷物の印
刷パターン欠陥検査方法は、前記請求項１の印刷物の印
刷パターン欠陥検査方法において、前記検査対象の印刷
パターンの累積度数分布配列データを二重化した上で、
前記標準印刷パターンの累積度数分布配列データと順次
に比較し得るようにしたことを特徴としている。According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a printed pattern defect of a printed material according to the first aspect, wherein the cumulative frequency distribution array data of the print pattern to be inspected is duplicated. After doing
The present invention is characterized in that it can be sequentially compared with the cumulative frequency distribution array data of the standard print pattern.
【００１０】ここで、先ず、図１には、一例による各種
印刷物での画素連続長さの度数分布における印刷パター
ンの特性例を示してある。First, FIG. 1 shows an example of the characteristics of a print pattern in the frequency distribution of the continuous pixel length in various printed materials according to an example.
【００１１】即ち、この図１において、同図（ａ）は、
この場合、画素連続長さの度数分布における正常な印刷
パターン（後述の標準印刷パターンに対応する）の図柄
態様とその特性例を示すものであり、また、同図（ｂ）
は、同上印刷パターンにパターン切れを生じた印刷不良
のときの図柄態様とその特性例を示し、同図（ｃ）は、
同上印刷パターンにパターン膨張を生じた印刷不良のと
きの図柄態様とその特性例を示し、同図（ｄ）は、同上
印刷パターンにパターンずれを生じた印刷不良のときの
図柄態様とその特性例を示すものである。That is, in FIG. 1, FIG.
In this case, the figure shows a symbol pattern of a normal print pattern (corresponding to a standard print pattern described later) in the frequency distribution of the continuous pixel length and an example of its characteristic, and FIG.
Fig. 7 shows a pattern form and an example of its characteristic when there is a printing failure in which a print pattern is cut off in the same as above.
FIG. 4D shows a design pattern and a characteristic example when the print pattern has a pattern expansion and a pattern failure, and FIG. 6D shows a pattern form and a characteristic example when the print pattern has a print defect with a pattern shift. It shows.
【００１２】これらの図１の各図から明らかな如く、こ
こでの図１に示す印刷物での画素連続長さの度数分布に
おける印刷パターン特性の場合には、印刷パターンのパ
ターン切れや、パターン膨張については、ＣＣＤカメラ
の画素分解能に見合って発生度数分布が敏感に変化する
が、これらのパターン切れや、パターン膨張を伴わない
印刷図柄の前後左右への平行移動（パターンずれ）につ
いては、その発生度数分布が全く変化しないことが分か
る。As is apparent from the respective figures of FIG. 1, in the case of the print pattern characteristic in the frequency distribution of the continuous pixel length in the printed matter shown in FIG. The distribution of occurrence frequency changes sensitively in accordance with the pixel resolution of the CCD camera. However, the occurrence of these pattern breaks and the parallel movement of the printed pattern without pattern expansion to the front, back, left and right (pattern shift) It can be seen that the frequency distribution does not change at all.
【００１３】次に、図２には、図１と同種印刷物での画
素連続長さデータの水平位置別の発生度数分布における
印刷パターンの特性例を示してある。Next, FIG. 2 shows an example of the characteristics of a printing pattern in the frequency distribution of occurrence of pixel continuous length data for each horizontal position in the same kind of printed matter as FIG.
【００１４】即ち、この図２において、同図（ａ）は、
この場合、画素連続長さデータの水平位置別の発生度数
分布における正常な印刷パターン（同様に標準印刷パタ
ーンに対応する）の図柄態様とその特性例を示すもので
あり、また、同図（ｂ）は、同上印刷パターンにパター
ン切れを生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例
を示し、同図（ｃ）は、同上印刷パターンにパターン膨
張を生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例を示
し、同図（ｄ）は、同上印刷パターンにパターンずれを
生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例を示すも
のである。That is, in FIG. 2, FIG.
In this case, a pattern form of a normal print pattern (similarly corresponding to a standard print pattern) and a characteristic example thereof in a frequency distribution of occurrence of pixel continuous length data for each horizontal position are shown, and FIG. ) Shows a design pattern and a characteristic example when the print pattern has a pattern defect in the same as the above, and FIG. 4C shows a pattern form when the print pattern has a print defect and a pattern expansion has occurred in the same as the above. FIG. 6D shows a pattern example and a characteristic example thereof when there is a printing failure in which a pattern shift has occurred in the print pattern.
【００１５】また、図３には、図１と同種印刷物での画
素連続長さデータの垂直位置別の発生度数分布における
印刷パターンの特性例を示してある。FIG. 3 shows an example of the characteristics of a printing pattern in the frequency distribution of occurrence of pixel continuous length data for each vertical position in the same kind of printed matter as FIG.
【００１６】即ち、この図３において、同図（ａ）は、
この場合、画素連続長さデータの垂直位置別の発生度数
分布における正常な印刷パターン（同様に標準印刷パタ
ーンに対応する）の図柄態様とその特性例を示すもので
あり、また、同図（ｂ）は、同上印刷パターンにパター
ン切れを生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例
を示し、同図（ｃ）は、同上印刷パターンにパターン膨
張を生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例を示
し、同図（ｄ）は、同上印刷パターンにパターンずれを
生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例を示すも
のである。That is, in FIG. 3, FIG.
In this case, a pattern form of a normal print pattern (similarly corresponding to a standard print pattern) in the frequency distribution of occurrence of pixel continuous length data for each vertical position and a characteristic example thereof are shown. ) Shows a design pattern and a characteristic example when the print pattern has a pattern defect in the same as the above, and FIG. 4C shows a pattern form when the print pattern has a print defect and a pattern expansion has occurred in the same as the above. FIG. 6D shows a pattern example and a characteristic example thereof when there is a printing failure in which a pattern shift has occurred in the print pattern.
【００１７】これらの図２及び図３から明らかな如く、
該図２及び図３の各図に示す印刷物での画素連続長さデ
ータの水平及び垂直位置別の発生度数分布における印刷
パターン特性の場合には、画素連続長さデータの水平及
び垂直位置別の発生度数分布が、印刷図柄の前方及び後
方、左方及び右方への各平行移動（パターンずれ）に対
して敏感に変化し、且つそのパターン切れや、パターン
膨張についても、同様に水平、及び垂直方向へ夫々に変
化することが分かる。As apparent from FIGS. 2 and 3,
In the case of the print pattern characteristic in the frequency distribution of the continuous pixel data in the horizontal and vertical positions in the printed matter shown in FIGS. 2 and 3, the horizontal and vertical positions of the continuous pixel data in the horizontal and vertical positions are different. The occurrence frequency distribution changes sensitively to each translation (pattern shift) to the front and rear, left and right of the printed symbol, and the pattern cut and the pattern expansion are also horizontally and similarly. It can be seen that each changes in the vertical direction.
【００１８】従って、本発明方法においては、前記図１
ないし図３に個々に挙げた３項目の発生度数分布の刻み
単位を検査目的に対応して夫々独立的に可変させること
により、例えば、微細な印刷不良に対する感度調整が可
能となる。また、必要に応じては、前記処理のための回
路を複数に構成して相互に比較操作することで、ここで
の目的とする印刷物の欠陥検査、つまり、同一図柄が連
続する印刷パターンの欠陥検査を容易に行ない得るので
ある。Therefore, in the method of the present invention,
In addition, by independently changing the units of the frequency distribution of the three items individually shown in FIG. 3 in accordance with the inspection purpose, for example, it becomes possible to adjust the sensitivity to minute print defects. In addition, if necessary, a plurality of circuits for the processing are configured and compared with each other to perform a defect inspection of a target printed matter, that is, a defect of a printed pattern in which the same symbols are continuously formed. Inspection can be done easily.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る印刷物の印刷
パターン欠陥検査方法の各別による夫々の実施形態例に
つき、図４及び図５を参照して詳細に説明する。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a plan view of a printed pattern defect inspection method according to the present invention; FIG.
【００２０】[0020]
【実施例１】図４は、本発明方法の実施例１を適用した
印刷パターン欠陥検査装置の概要を示す回路ブロック図
である。FIG. 4 is a circuit block diagram showing the outline of a printed pattern defect inspection apparatus to which the first embodiment of the present invention is applied.
【００２１】この図４に示す実施例１の装置構成におい
て、検査対象となる図柄（印刷パターン）が印刷されて
いる印刷物１０は、この場合、あらためては図示してい
ないが、適当する移送手段によって矢示方向に所定の一
定速度で移送されるものとする。In the apparatus configuration of the first embodiment shown in FIG. 4, a printed material 10 on which a pattern (print pattern) to be inspected is printed is not shown again in this case, but is transferred by a suitable transport means. It is assumed that the sheet is transferred at a predetermined constant speed in the direction indicated by the arrow.
【００２２】一方、前記印刷物１０の移送経路に対向配
置されて表面の印刷図柄を検出する１次元ＣＣＤカメラ
１１は、カメラ駆動回路１２によって駆動されると共
に、発光素子１３で全幅が光照射された印刷物１０の印
刷面からの反射光を受光して、その印刷図柄に対応した
電圧信号を発生する。なお、印刷物１０が光を透過する
ものの場合であれば、該印刷物１０の裏面側に同様な発
光素子１３を設置して光照射させ、その透過光を受光さ
せるようにすればよい。On the other hand, the one-dimensional CCD camera 11 which is disposed opposite to the transfer path of the printed matter 10 and detects the printed pattern on the front side is driven by the camera driving circuit 12 and the light emitting element 13 illuminates the entire width with light. Light reflected from the printing surface of the printed material 10 is received, and a voltage signal corresponding to the printed pattern is generated. In the case where the printed material 10 transmits light, a similar light emitting element 13 may be provided on the back side of the printed material 10 to irradiate light and receive the transmitted light.
【００２３】前記図示省略した移送手段に対しては、印
刷物１０の移送速度を検出する移送速度検出用ロータリ
ーエンコーダ１４と印刷物１０の通過を検出する通過検
出用センサ１５とが夫々に設けられており、該ロータリ
ーエンコーダ１３からの移送速度検出信号と検出センサ
１４からの印刷物通過検出信号とは、検査同期制御部１
６に夫々入力されて、前記カメラ駆動回路１２からのＣ
ＣＤカメラ１１の毎回の走査区間内における有効画素領
域信号と同期して検査対象の印刷図柄の水平方向及び垂
直方向における夫々の検査有効区間信号を生成する。な
お、ここでは、前記検査同期制御部１６に対して記憶素
子を付加させることにより、印刷図柄内の任意の矩形領
域に対応した検査有効区間信号を生成させて用いるよう
にしてもよい。A transfer speed detecting rotary encoder 14 for detecting the transfer speed of the printed matter 10 and a passage detecting sensor 15 for detecting the passage of the printed matter 10 are provided for the transfer means not shown. The transfer speed detection signal from the rotary encoder 13 and the printed material passage detection signal from the detection sensor 14
6 are respectively input to C
In synchronization with an effective pixel area signal in each scanning section of the CD camera 11, each inspection effective section signal in the horizontal direction and the vertical direction of a print symbol to be inspected is generated. Here, a storage element may be added to the inspection synchronization control unit 16 to generate and use an inspection effective section signal corresponding to an arbitrary rectangular area in a printed symbol.
【００２４】前記１次元ＣＣＤカメラ１１からの出力信
号は、個々の電圧比較回路（Ａ）１７、電圧比較回路
（Ｂ）１８に入力され、該Ａ、Ｂの各電圧比較回路１
７、１８においては、予め設定されている夫々の各比較
電圧Ｖ（Ａ）、Ｖ（Ｂ）に対して、前記ＣＣＤカメラ１
１の各画素出力電圧が高いか低いかの状態信号をデータ
生成回路１９に出力する。The output signal from the one-dimensional CCD camera 11 is input to each of the voltage comparison circuits (A) 17 and (B) 18, and the voltage comparison circuits 1 and 2 of A and B respectively.
7 and 18, the CCD camera 1 is controlled by the respective preset comparison voltages V (A) and V (B).
A state signal indicating whether each pixel output voltage is high or low is output to the data generation circuit 19.
【００２５】前記データ生成回路１９では、これらの２
つの状態信号が、予め設定されている有効画素幅以上の
長さであるか否かを判断し、該２つの状態信号が、有効
画素幅以上の長さで、且つ予め設定されている論理モー
ドと一致している場合に、画素連続長さと水平開始位置
及び垂直開始位置との各データを生成し、該各データ信
号を夫々に対応する第１、第２及び第３の各演算処理回
路２０、２３、２６に入力する。In the data generation circuit 19, these two
It is determined whether the two status signals are longer than the preset effective pixel width, and the two status signals are longer than the preset effective pixel width and the logic mode is longer than the preset effective pixel width. If they match, the respective data of the pixel continuous length and the horizontal start position and the vertical start position are generated, and the respective data signals are respectively corresponding to the first, second and third arithmetic processing circuits 20. , 23, 26.
【００２６】ここで、前記論理モードとは、この場合、
次に示す式（１）もしくは式（２）の選択信号である。Here, the logical mode is, in this case,
This is a selection signal of Expression (1) or Expression (2) shown below.
【００２７】[0027]
【数１】 (Equation 1)
【００２８】これらの各式（１）、（２）において、Ａ
は、前記電圧比較回路（Ａ）１７の出力であり、前記Ｃ
ＣＤカメラ１１からのカメラ出力電圧が比較電圧Ｖ
（Ａ）よりも高ければ〈１〉の値をとる。Ｂは、前記電
圧比較回路（Ｂ）１８の出力であり、同様に、前記ＣＣ
Ｄカメラ１１からのカメラ出力電圧が比較電圧Ｖ（Ｂ）
よりも高ければ〈１〉の値をとる。In each of these equations (1) and (2), A
Is the output of the voltage comparison circuit (A) 17 and
The camera output voltage from the CD camera 11 is the comparison voltage V
If it is higher than (A), the value of <1> is taken. B is an output of the voltage comparison circuit (B) 18, and similarly,
The camera output voltage from the D camera 11 is the comparison voltage V (B)
If higher, the value of <1> is taken.
【００２９】そして、前記式（１）または式（２）の何
れかの論理モードを選択すると、比較電圧Ｖ（Ａ）、Ｖ
（Ｂ）の設定により、印刷図柄の濃淡に比例したカメラ
出力信号から、特定の濃度領域に対応した領域のみが抽
出される。When one of the logic modes of the above formula (1) or (2) is selected, the comparison voltages V (A) and V (A)
With the setting of (B), only the area corresponding to the specific density area is extracted from the camera output signal proportional to the density of the print symbol.
【００３０】前記第１の演算処理回路２０は、第１の基
準配列データ記憶素子２１及び第１の零個数記憶素子２
２を有しており、この第１の演算処理回路２０では、前
記データ生成回路１９より入力される画素連続長さデー
タから、第１の基準配列データ記憶素子２１の減算処理
対象とする基準値の読み出し番地を確定して該当基準デ
ータを読み込み、入力内容の値から〈１〉を減じて、そ
の演算結果を該第１の基準配列データ記憶素子２１の読
み出してきた番地に格納する。また、この演算処理時に
あって、演算結果が零となった場合には、第１の零個数
記憶素子２２の内部記憶領域に予め設定されている値か
ら〈１〉を減じて、その演算結果を該第１の零個数記憶
素子２２に再記憶させる。The first arithmetic processing circuit 20 includes a first reference array data storage element 21 and a first zero-number storage element 2.
In the first arithmetic processing circuit 20, the reference value to be subtracted by the first reference array data storage element 21 from the pixel continuous length data input from the data generation circuit 19 Is determined, the corresponding reference data is read, <1> is subtracted from the value of the input content, and the operation result is stored in the read address of the first reference array data storage element 21. If the result of the operation becomes zero during this operation, <1> is subtracted from the value preset in the internal storage area of the first zero-number storage element 22, and the operation result is obtained. Is stored again in the first zero-number storage element 22.
【００３１】而して、この演算処理過程において、前記
第１の基準配列データ記憶素子２１との演算結果が〈零
未満〉となった場合、それに、前記第１の零個数記憶素
子２２との演算結果が〈零未満〉となった場合にあって
は、不良検出信号Ａ1 を所定時間出力し、また、印刷図
柄一周期分の検査終了時点で、第１の零個数記憶素子２
２の値が〈１〉以上の場合には、不良検出信号Ａ2 を所
定時間出力する。In this operation process, if the operation result with the first reference array data storage element 21 becomes <less than zero>, then the first zero-number storage element 22 If the result of the calculation is <less than zero>, the failure detection signal A1 is output for a predetermined time, and at the end of the inspection for one cycle of the print symbol, the first zero-number storage element 2 is output.
2 values in the case of <1> above, outputs a defect detection signal A 2 predetermined time.
【００３２】前記第２の演算処理回路２３は、第２の基
準配列データ記憶素子２４及び第２の零個数記憶素子２
５を有しており、この第２の演算処理回路２３において
も、前記とほぼ同様にして、前記データ生成回路１９よ
り入力される水平開始位置データの不良判定を行ない、
その演算処理過程において、前記第２の基準配列データ
記憶素子２４との演算結果が〈零未満〉となった場合、
それに、前記第２の零個数記憶素子２５との演算結果が
〈零未満〉となった場合にあっては、不良検出信号Ｂ1
を所定時間出力し、また、印刷図柄１周期分の検査終了
時点で、第２の零個数記憶素子２５の値が〈１〉以上の
場合には、不良検出信号Ｂ2 を所定時間出力する。The second arithmetic processing circuit 23 includes a second reference array data storage element 24 and a second zero-number storage element 2.
5, the second arithmetic processing circuit 23 also performs a failure determination of the horizontal start position data input from the data generation circuit 19 in substantially the same manner as described above.
In the operation process, when the operation result with the second reference array data storage element 24 becomes <less than zero>
If the result of the operation with the second zero-number storage element 25 becomes <less than zero>, the failure detection signal B 1
The predetermined time outputting, also, the inspection end of the printing pattern one cycle, if the value of the second zero or number storage device 25 is not less than <1> outputs a defect detection signal B 2 predetermined time.
【００３３】前記第３の演算処理回路２６は、第３の基
準配列データ記憶素子２７及び第３の零個数記憶素子２
８を有しており、この第３の演算処理回路２６において
も、前記とほぼ同様にして、前記データ生成回路１９よ
り入力される垂直開始位置データの不良判定を行ない、
その演算処理過程において、前記第３の基準配列データ
記憶素子２７との演算結果が〈零未満〉となった場合、
それに、前記第３の零個数記憶素子２８との演算結果が
〈零未満〉となった場合にあっては、不良検出信号Ｃ1
を所定時間出力し、また、印刷図柄１周期分の検査終了
時点で、第３の零個数記憶素子２８の値が〈１〉以上の
場合には、不良検出信号Ｃ2 を所定時間出力する。The third arithmetic processing circuit 26 includes a third reference array data storage element 27 and a third zero-number storage element 2.
The third arithmetic processing circuit 26 also performs a defect determination of the vertical start position data input from the data generation circuit 19 in substantially the same manner as described above.
In the operation process, when the operation result with the third reference array data storage element 27 becomes <less than zero>
In addition, when the result of the operation with the third zero-number storage element 28 becomes <less than zero>, the failure detection signal C1
The predetermined time outputting, also, the inspection end of the printing pattern one cycle, if the value of the third zero or number storage element 28 is not less than <1> outputs a defect detection signal C 2 predetermined time.
【００３４】そして、この場合、前記個々の各基準配列
データ記憶素子２１、２４、２７と個々の各零個数記憶
素子２２、２５、２８との夫々に対して予め設定される
値については、前記データ生成回路１９から外部に出力
される画像連続長さ、水平開始位置及び垂直開始位置の
各生データにより、別の手段で印刷図柄が正常と判断さ
れた検査対象の印刷物、つまり、基準となる検査対象の
印刷物を前記移送手段により一定速度で移送して得られ
る１次元ＣＣＤカメラ１１からの基準配列データ及び該
基準配列データで零以外の値が書き込まれた度数刻みの
個数を零個数の夫々の各基準値として用いる。In this case, the values preset for each of the individual reference array data storage elements 21, 24, 27 and each of the zero-number storage elements 22, 25, 28 are as follows. Based on the raw image data of the continuous image length, the horizontal start position, and the vertical start position output from the data generation circuit 19 to the outside, the printed matter to be inspected whose printed pattern is determined to be normal by another means, that is, becomes a reference. The reference array data from the one-dimensional CCD camera 11 obtained by transferring the printed matter to be inspected at a constant speed by the transfer means and the number of frequency steps in which a value other than zero is written in the reference array data are each set to zero. Is used as each reference value.
【００３５】従って、前記夫々の各基準値については、
例えば、検査対象印刷物の印刷図柄がＣＡＤ(Computer
Aided Design) によって生成されたものであれば、検査
対象の印刷図柄での画像連続長さ及び２次元座標位置の
値から容易に算出できるのであり、また、該夫々の各基
準値の決定には、印刷図柄の原版との比較確認作業が必
要となるが、前記した生データから、画像表示機能付き
のコンピュータ等によって、グラフィックイメージとし
て本検査装置での認識結果を容易に再構成できるもの
で、作業者の負担を大きく軽減し得るのである。Therefore, for each of the reference values,
For example, if the printed pattern of the printed material to be inspected is CAD (Computer)
Aided Design), it can be easily calculated from the values of the image continuous length and the two-dimensional coordinate position in the printed pattern to be inspected, and the determination of each reference value Although it is necessary to perform a work of comparing and confirming the printed pattern with the original, from the raw data described above, a computer having an image display function or the like can easily reconstruct the recognition result in the present inspection apparatus as a graphic image, The burden on the worker can be greatly reduced.
【００３６】[0036]
【実施例２】次に、図５は、本発明の実施例２を適用し
た印刷パターン欠陥検査装置での主要部の概要を示す回
路ブロック図である。Second Embodiment Next, FIG. 5 is a circuit block diagram showing an outline of a main part in a printed pattern defect inspection apparatus to which a second embodiment of the present invention is applied.
【００３７】本実施例２は、前記実施例１の装置構成に
おいて、第１ないし第３の各演算処理回路、各基準配列
データ記憶素子及び各零個数記憶素子を夫々に二重化し
たものであり、この図５に示す構成では、説明の簡略化
を図るため、第１のグループに二重化を施した場合につ
いて述べる。In the second embodiment, the first to third arithmetic processing circuits, each reference array data storage element, and each zero-number storage element are duplicated in the apparatus configuration of the first embodiment. In the configuration shown in FIG. 5, a case where the first group is duplicated will be described to simplify the description.
【００３８】即ち、この図５に示す実施例２の装置構成
において、３０は前記第１の演算処理回路２０に並設さ
れる基準データ配列作成用演算処理回路であり、前記デ
ータ生成回路１９から入力される画素連続長さデータに
より、前記第１の基準配列データ記憶素子２１もしくは
これに並設される基準配列データ記憶素子３１の内、記
憶素子切り替え回路３３で選択された何れか一方の記憶
素子から加算処理を行うところの該当データの読み出し
番地を確定して該当基準データを読み出した後に〈１〉
を加算して元の読み出し番地に格納する。なお、この加
算処理が行われる配列の該当位置には、処理フラグのビ
ットをたてておき、一周期分の基準データ作成終了時に
配列処理フラグの累積度数を前記記憶素子切り替え回路
３３で選択されている前記第１の零個数記憶素子２２も
しくはこれに並設される零個数記憶素子３２に書き込み
を行う。That is, in the apparatus configuration of the second embodiment shown in FIG. 5, reference numeral 30 denotes an operation processing circuit for creating a reference data array provided in parallel with the first operation processing circuit 20. According to the input pixel continuous length data, one of the first reference array data storage element 21 and the reference array data storage element 31 arranged in parallel with the first reference array data storage element 31 selected by the storage element switching circuit 33 is stored. After determining the read address of the data to be subjected to the addition processing from the element and reading the corresponding reference data, <1>
Is added and stored in the original read address. A bit of a processing flag is set in a corresponding position of the array where the addition process is performed, and the accumulation frequency of the array processing flag is selected by the storage element switching circuit 33 at the end of creation of one cycle of reference data. Writing is performed to the first zero-number storage element 22 or the zero-number storage element 32 arranged in parallel with the first zero-number storage element 22.
【００３９】一方、前記第１の演算処理回路２０は、前
記記憶素子切り替え回路３３で選択されている前記第１
の比較検査用基準データ記憶素子から前記実施例１の場
合と同様に印刷不良の検出を行うのである。なお、この
場合、前記記憶素子切り替え回路３３では、その切り替
え信号の入力時にあって、比較検査用基準データ記憶素
子に選択していた記憶素子を強制リセットすることによ
り、記憶内容を全て零にするための処理を実行する。On the other hand, the first arithmetic processing circuit 20 is provided with the first arithmetic processing circuit 20 selected by the storage element switching circuit 33.
The printing failure is detected from the comparative inspection reference data storage element in the same manner as in the first embodiment. In this case, the storage element switching circuit 33 forcibly resets the storage element selected as the reference data storage element for comparison inspection at the time of inputting the switching signal, so that the storage contents are all set to zero. Execute the process for
【００４０】また、本手法では、１回目の図柄検査時点
でおいてのみ、前記実施例１で述べている正常品から得
られた基準データを基準配列データ記憶素子２１、３１
及び零個数記憶素子２２、３２に予め設定しておくこと
で、１回目の図柄から完全な検査を行うことができるの
である。In this method, the reference data obtained from the normal product described in the first embodiment is stored in the reference array data storage elements 21 and 31 only at the time of the first symbol inspection.
By setting the zero number storage elements 22 and 32 in advance, a complete inspection can be performed from the first symbol.
【００４１】ここで、前記第２及び第３の各グループで
処理される水平開始位置及び垂直開始位置の各データに
ついても、前記第１のグループにおけると同様の処理を
なすことで、同様に印刷不良の検出を行うのである。Here, the data of the horizontal start position and the data of the vertical start position processed in each of the second and third groups are also processed in the same manner as in the first group, so that printing is performed in the same manner. The failure is detected.
【００４２】[0042]
【発明の効果】以上、各実施の態様によって詳述したよ
うに、本発明方法によれば、印刷物の印刷パターン認識
において、画素連続領域の２次元的な特徴に着目して、
基準配列データとの演算のみで印刷不良を容易且つ効果
的に検出できるのであり、この結果、高速での印刷パタ
ーン認識、ひいては印刷物の同一図柄が連続する印刷パ
ターンの欠陥検査を小規模且つ低価格のシステムによっ
て実現し得るという利点を有し、併せて、画素連続長
さ、水平及び垂直の各開始位置での夫々の欠陥発生信号
を総合判断することで、検査対象パターンでの左右、前
後の位置ずれに対する感度についても任意に可変し得る
等の優れた特長がある。As described above in detail in each embodiment, according to the method of the present invention, in recognizing a print pattern of a printed matter, attention is paid to a two-dimensional feature of a pixel continuous area.
A print defect can be easily and effectively detected only by calculation with the reference array data. As a result, high-speed print pattern recognition and, consequently, defect inspection of a print pattern in which the same pattern of printed matter is continuous can be performed on a small scale at a low cost. In addition, it has the advantage of being able to be realized by the system of the above, and in addition, by comprehensively judging the defect occurrence signal at each of the horizontal and vertical start positions, the left and right, front and rear in the pattern to be inspected, There is an excellent feature that the sensitivity to displacement can be arbitrarily varied.
【図１】画素連続長さ度数分布における各種印刷物での
印刷パターンの特性例を夫々に示し、（ａ）は正常な印
刷パターンの図柄態様とその特性例、（ｂ）はパターン
切れを生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性例、
（ｃ）はパターン膨張を生じた印刷不良のときの図柄態
様とその特性例、（ｄ）はパターンずれを生じた印刷不
良のときの図柄態様とその特性例である。FIGS. 1A and 1B show examples of characteristics of print patterns in various printed materials in a pixel continuous length frequency distribution, respectively, wherein FIG. 1A shows a design pattern of a normal print pattern and its characteristic examples, and FIG. Design mode and its characteristic example at the time of printing failure,
(C) shows a design pattern and its characteristic example at the time of printing failure with pattern expansion, and (d) shows a design pattern and its characteristic example at the time of printing failure with pattern shift.
【図２】画素連続長さデータの水平位置別発生度数分布
における各種印刷物での印刷パターンの特性例を夫々に
示し、（ａ）は正常な印刷パターンの図柄態様とその特
性例、（ｂ）はパターン切れを生じた印刷不良のときの
図柄態様とその特性例、（ｃ）はパターン膨張を生じた
印刷不良のときの図柄態様とその特性例、（ｄ）はパタ
ーンずれを生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性
例である。FIGS. 2A and 2B show examples of characteristics of print patterns in various printed materials in the occurrence frequency distribution for each horizontal position of pixel continuous length data, wherein FIG. 2A shows a symbol pattern of a normal print pattern and an example of the characteristics; Is a design pattern and its characteristic example at the time of a print failure in which a pattern is cut off, (c) is a design pattern and its characteristic example at the time of a print failure with a pattern expansion, and (d) is a print failure with a pattern shift. FIG. 9 is a design mode and an example of its characteristic at the time of FIG.
【図３】画素連続長さデータの垂直位置別発生度数分布
における各種印刷物での印刷パターンの特性例を夫々に
示し、（ａ）は正常な印刷パターンの図柄態様とその特
性例、（ｂ）はパターン切れを生じた印刷不良のときの
図柄態様とその特性例、（ｃ）はパターン膨張を生じた
印刷不良のときの図柄態様とその特性例、（ｄ）はパタ
ーンずれを生じた印刷不良のときの図柄態様とその特性
例である。FIGS. 3A and 3B respectively show examples of characteristics of print patterns in various printed materials in the occurrence frequency distribution for each vertical position of pixel continuous length data, in which FIG. 3A shows a symbol pattern of a normal print pattern and an example of the characteristics; Is a design pattern and its characteristic example at the time of a print failure in which a pattern is cut off, (c) is a design pattern and its characteristic example at the time of a print failure with a pattern expansion, and (d) is a print failure with a pattern shift. FIG. 9 is a design mode and an example of its characteristic at the time of FIG.
【図４】本発明方法の実施例１を適用した印刷パターン
欠陥検査装置の全体の概要構成を示す回路ブロック図で
ある。FIG. 4 is a circuit block diagram showing an overall schematic configuration of a print pattern defect inspection apparatus to which the first embodiment of the present invention is applied.
【図５】本発明方法の実施例２を適用した印刷パターン
欠陥検査装置の主要部の概要構成を示す回路ブロック図
である。FIG. 5 is a circuit block diagram showing a schematic configuration of a main part of a printed pattern defect inspection apparatus to which a second embodiment of the present invention is applied.
１０ 検査対象の印刷物 １１ １次元ＣＣＤカメラ １２ カメラ駆動回路 １３ 発光素子 １４ 移送速度検出用ロータリーエンコーダ １５ 通過検出用センサ １６ 検査同期制御部 １７ 電圧比較回路（Ａ） １８ 電圧比較回路（Ｂ） １９ データ生成回路 ２０ 第１の演算処理回路 ２１ 第１の基準配列データ記憶素子 ２２ 第１の零個数記憶素子 ２３ 第２の演算回路 ２４ 第２の基準配列データ記憶素子 ２５ 第２の零個数記憶素子 ２６ 第３の演算回路 ２７ 第３の基準配列データ記憶素子 ２８ 第３の零個数記憶素子 ３０ 第１の演算処理回路に並設される演算処理回路 ３１ 第１の基準配列データ記憶素子に並設される基準
配列データ記憶素子 ３２ 第１の零個数記憶素子に並設される零個数記憶素
子 ３３ 記憶素子切り替え回路 Ｖ（Ａ） 電圧比較回路（Ａ）の比較電圧 Ｖ（Ｂ） 電圧比較回路（Ｂ）の比較電圧 Ａ 電圧比較回路（Ａ）の比較出力 Ｂ 電圧比較回路（Ｂ）の比較出力 Ａ1 、Ａ2 、Ｂ1 、Ｂ2 、Ｃ1 、Ｃ2 不良検出信号Reference Signs List 10 Printed material to be inspected 11 One-dimensional CCD camera 12 Camera drive circuit 13 Light emitting element 14 Rotary encoder for detecting transfer speed 15 Passage detection sensor 16 Inspection synchronization control unit 17 Voltage comparison circuit (A) 18 Voltage comparison circuit (B) 19 Data Generation Circuit 20 First Arithmetic Processing Circuit 21 First Reference Array Data Storage Element 22 First Zero Number Storage Element 23 Second Arithmetic Circuit 24 Second Reference Array Data Storage Element 25 Second Zero Number Storage Element 26 Third arithmetic circuit 27 Third reference array data storage element 28 Third zero-number storage element 30 Arithmetic processing circuit arranged in parallel with first arithmetic processing circuit 31 Arranged in parallel with first reference array data storage element Reference array data storage element 32 Zero-number storage element provided in parallel with first zero-number storage element 33 Storage-element switching circuit V (A) voltage較回path comparison output A 1 of the comparison voltage V (B) comparison output B voltage comparator circuit compares the voltage A voltage comparator circuit of the voltage comparator circuit (B) (A) (B ) of (A), A 2, B 1, B 2 , C 1 , C 2 defect detection signal
Claims (2)
記印刷物を移送しながら、該印刷物の印刷パターンを１
次元ＣＣＤカメラにより順次に撮像して画像信号を得る
と共に、該画像信号から特定濃度領域のみを抽出して指
定画素幅以上に連続した画素領域を検出したとき、該検
出した画素領域での検出画素の画素連続長さ、水平方向
開始位置及び垂直方向開始位置の各データを生成した上
で、該生成された検査対象の印刷パターンの累積度数分
布配列データと、予め正常な標準印刷パターンによって
得た同様な累積度数分布配列データとを順次に比較して
減算処理し、検査対象の印刷パターンの処理終了時に、
正常な標準印刷パターンとの累積度数分布テーブルの演
算結果が〈零未満〉もしくは〈１〉以上となった場合
に、これをパターン欠陥発生として認識することを特徴
とする印刷物の印刷パターン欠陥検査方法。1. A method for recognizing a print pattern of a printed matter, wherein the print pattern of the printed matter is changed by one while transferring the printed matter.
An image signal is obtained by sequentially capturing images with a three-dimensional CCD camera, and when only a specific density area is extracted from the image signal to detect a pixel area continuous over a specified pixel width, the detected pixel in the detected pixel area is detected. After generating each data of the pixel continuous length, the horizontal start position and the vertical start position, the cumulative frequency distribution array data of the generated print pattern to be inspected and the normal standard print pattern were obtained in advance. A similar cumulative frequency distribution array data is sequentially compared and subjected to subtraction processing, and at the end of processing of the print pattern to be inspected,
A print pattern defect inspection method for printed matter, wherein when a calculation result of a cumulative frequency distribution table with a normal standard print pattern is <less than zero> or <1> or more, this is recognized as occurrence of a pattern defect. .
分布配列データを二重化した上で、前記標準印刷パター
ンの累積度数分布配列データと順次に比較することを特
徴とする請求項１に記載の印刷物の印刷パターン欠陥検
査方法。2. The printed matter according to claim 1, wherein the cumulative frequency distribution array data of the print pattern to be inspected is duplicated and then sequentially compared with the cumulative frequency distribution array data of the standard print pattern. Printing pattern defect inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8220805A JPH1049680A (en) | 1996-08-05 | 1996-08-05 | Method for inspecting printing pattern defect of printed matter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8220805A JPH1049680A (en) | 1996-08-05 | 1996-08-05 | Method for inspecting printing pattern defect of printed matter |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1049680A true JPH1049680A (en) | 1998-02-20 |
Family
ID=16756848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8220805A Pending JPH1049680A (en) | 1996-08-05 | 1996-08-05 | Method for inspecting printing pattern defect of printed matter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1049680A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2354330A1 (en) * | 2009-04-23 | 2011-03-14 | Universitat Pompeu Fabra | Method for calculating measures of similarity between time signals |
| US20140300911A1 (en) * | 2013-04-03 | 2014-10-09 | Hewlett-Packard Indigo, B.V. | To generate a histogram matched image |
| US9019526B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-04-28 | Ricoh Company, Limited | Image examination apparatus, image examination system, and image examination method |
| US9185240B2 (en) | 2013-02-12 | 2015-11-10 | Ricoh Company, Limited | Image test apparatus, image test system, and image test method |
-
1996
- 1996-08-05 JP JP8220805A patent/JPH1049680A/en active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| ES2354330A1 (en) * | 2009-04-23 | 2011-03-14 | Universitat Pompeu Fabra | Method for calculating measures of similarity between time signals |
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