JPH10325812A - Compact probe for oblique incident measurement - Google Patents
Compact probe for oblique incident measurementInfo
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- JPH10325812A JPH10325812A JP22703797A JP22703797A JPH10325812A JP H10325812 A JPH10325812 A JP H10325812A JP 22703797 A JP22703797 A JP 22703797A JP 22703797 A JP22703797 A JP 22703797A JP H10325812 A JPH10325812 A JP H10325812A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトプロー
ブ及び斜め入射測定用コンパクトプローブに関するもの
で、より具体的には、電波吸収体の垂直入射及びまたは
斜め入射に対する吸収特性を測定する際に使用されるプ
ローブに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a compact probe and a compact probe for oblique incidence measurement, and more specifically to a compact probe used for measuring the absorption characteristics of a radio wave absorber at normal incidence and / or oblique incidence. Probe.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、電波吸収体の吸収特性を行う場合
には、同軸管や導波管を用いて行う方法がある。すなわ
ち、導波管等の内面に符合する形状に加工した測定対象
の試料を装着する。そして、導波管等から試料に対して
電波を放射し、その反射波を受信し反射損失を測定する
ものである。2. Description of the Related Art Heretofore, there has been a method of performing absorption characteristics of a radio wave absorber using a coaxial waveguide or a waveguide. That is, a sample to be measured processed into a shape conforming to the inner surface of a waveguide or the like is mounted. Then, a radio wave is emitted from the waveguide or the like to the sample, the reflected wave is received, and the reflection loss is measured.
【０００３】また、実際に使用する電波吸収体（パネ
ル）をオープンサイト内に設置し、電波吸収体に向けて
電波を放射し、その反射波をアンテナを用いて測定し空
間定在波法やタイムドメイン法を用いて測定するものも
ある。In addition, a radio wave absorber (panel) actually used is installed in an open site, a radio wave is radiated toward the radio wave absorber, and a reflected wave is measured using an antenna, and a spatial standing wave method or the like is used. Some are measured using the time domain method.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たいずれの方法も以下に示す問題を有し、一長一短であ
る。まず前者の同軸管等の場合には、管内に電波吸収体
を挿入することから、所定の寸法形状に加工しなければ
ならない。そして、例えばＴＶゴースト対策用の電波吸
収体などの建造物の外壁や内壁に設置される電波吸収体
のパネルは、１辺が数ｍというような寸法となり、係る
パネルの大きさは導波管等の大きさに比べて遥かに大き
くなる。よって、その様に実際に使用する際の大きさ
と、測定する試料の大きさが大きく異なるので、必ずし
もパネルの特性を測定しているとはいいがたい。しか
も、導波管等の内部に試料を装着した際に、係る管の内
周面と試料が隙間なく密着していないと、試料のみの特
性ではなく、その試料と管の内周面間に存在する隙間内
の空間（空気）と試料を合わせた全体の反射損失を求め
ていることになる。つまり、幾ら高性能に測定しても、
試料の加工精度が低いと最終的な測定精度は低下する。
その結果、非常に高精度に試料を加工しなければなら
ず、処理が煩雑で加工に時間も要する。However, each of the above-mentioned methods has the following problems and has advantages and disadvantages. First, in the case of the former coaxial tube or the like, since a radio wave absorber is inserted into the tube, it must be processed into a predetermined size and shape. For example, a panel of a radio wave absorber installed on an outer wall or an inner wall of a building such as a radio wave absorber for TV ghost countermeasures has dimensions such that one side is several meters, and the size of the panel is a waveguide. It is much larger than the same size. Therefore, since the size of the sample to be measured is so different from the size of the sample actually used, it is difficult to say that the characteristics of the panel are always measured. Moreover, when a sample is mounted inside a waveguide or the like, if the inner peripheral surface of the tube and the sample are not in close contact with each other without a gap, not only the characteristics of the sample but also the gap between the sample and the inner peripheral surface of the tube will be exhibited. This means that the total reflection loss including the space (air) in the existing gap and the sample is determined. In other words, no matter how high the measurement,
If the processing accuracy of the sample is low, the final measurement accuracy will decrease.
As a result, the sample must be processed with very high precision, the processing is complicated, and the processing requires time.
【０００５】一方、後者のアンテナを用いたものでは、
パネルをオープンサイト上に設置することから、周囲に
何もない非常に広い空間が必要となり、簡単に実験を行
うことはできない。また、設備が大掛かりなものとな
り、装置が大型化しコスト高となる。On the other hand, in the case of using the latter antenna,
The installation of the panels on an open site requires a very large space with no surroundings, making it difficult to conduct experiments. In addition, the equipment becomes large-scale, the apparatus becomes large, and the cost increases.
【０００６】また、測定対象物に対して斜めに入射した
電波の影響を測定する場合には、上記した同軸間や導波
管を用いた測定はできず、オープンサイトを利用した方
法を採らなければならない。しかも斜め入射させるため
には、上記した垂直入射のものに比べると、さらに大き
な空間が必要となり、上記問題がより顕著となる。Further, when measuring the influence of a radio wave obliquely incident on an object to be measured, the above-described measurement using a coaxial space or a waveguide cannot be performed, and a method using an open site must be adopted. Must. Moreover, in order to make the light obliquely incident, a larger space is required as compared with the case of the above-mentioned normal incidence, and the above problem becomes more remarkable.
【０００７】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、簡易な構造でもって精度良く電波吸収特性を求める
ことができ、しかも、実際の使用する態様・大きさのま
ま測定することができ、試料の加工が不要で係る処理が
簡単に行うことができ、しかも、小さい測定空間で処理
をすることができるコンパクトプローブを提供すること
にある。さらに、斜め入射特性を小型かつ簡易な装置で
測定することができる斜め入射測定用コンパクトプロー
ブを提供することを他の目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned background, and has as its object to solve the above-described problems and to obtain radio wave absorption characteristics with a simple structure and high accuracy. To provide a compact probe that can be measured in the actual use mode and size, does not require sample processing, can perform such processing easily, and can perform processing in a small measurement space. It is in. It is another object of the present invention to provide a compact probe for oblique incidence measurement capable of measuring oblique incidence characteristics with a small and simple device.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係るコンパクトプローブでは、導電性の
帯状の板部材（実施の形態では、「導電性帯板」に対
応）を所定間隔をおいて平行に配置するとともに、その
終端側にはショート部材（実施の形態では、「スライ
ダ」に対応）を介在させて前記両板部材同士を短絡させ
る。前記板部材の先端部は、所定のテーパ角で先端側の
間隔が広くなるように構成される。前記一方の板部材に
同軸コネクタを設けるとともに、その同軸コネクタに接
続された給電ピンの先端を他方の板部材に電気的に接続
するように構成した（請求項１）。In order to achieve the above object, in the compact probe according to the present invention, a conductive strip-shaped plate member (corresponding to "conductive strip" in the embodiment) is provided at a predetermined interval. And the two plate members are short-circuited by interposing a short-circuit member (corresponding to a “slider” in the embodiment) on the end side thereof. The distal end of the plate member is configured such that the interval on the distal end side is widened at a predetermined taper angle. A coaxial connector is provided on the one plate member, and a tip of a power supply pin connected to the coaxial connector is electrically connected to the other plate member.
【０００９】給電ピンから発せられた電波は、板部材間
の空間を長手方向に進むが、ショート部材側は終端であ
るので、結局先端部から放射される。そこで、先端部を
測定対象物に絶縁状態で接触（近接）させると、先端部
から放射される電波が直に測定対象物に照射される。そ
して、その測定対象物で反射された電波はそのまま先端
部から給電ピンに向けて伝播し給電ピンに受波される。
すなわち、先端部を測定対象物に接触させるだけである
ので、測定対象物を所定の寸法形状に加工する必要はな
く、また、オープンサイトも必要がなく小型かつ簡易に
測定できる。また、テーパ角を適宜に設定することによ
り、電波を最大放射することができ、しかも負荷との整
合がとれる。同軸コネクタは、板部材ひいてはショート
部材と導通状態となっているので、測定時に同軸コネク
タに装着した同軸ケーブルは同軸コネクタを介して板部
材・ショート部材と導通されて整合がとられる。また、
給電ピンとショート部材（終端）との距離は、好ましく
は測定中心周波数の波長の１／４になるように設定する
ことである。The radio wave emitted from the power supply pin travels in the space between the plate members in the longitudinal direction. However, since the short member side is the end, it is eventually radiated from the tip. Therefore, when the tip is brought into contact (approach) with the object to be measured in an insulated state, a radio wave radiated from the tip is directly irradiated on the object to be measured. Then, the radio wave reflected by the object to be measured propagates from the front end portion toward the power supply pin and is received by the power supply pin.
That is, since only the tip portion is brought into contact with the object to be measured, it is not necessary to process the object to be measured to a predetermined size and shape, and it is not necessary to have an open site, so that the measurement can be made small and simple. In addition, by appropriately setting the taper angle, it is possible to radiate the radio wave at the maximum, and to match the load. Since the coaxial connector is in a conductive state with the plate member and the short member, the coaxial cable attached to the coaxial connector at the time of measurement is conducted to the plate member and the short member via the coaxial connector to achieve matching. Also,
The distance between the power supply pin and the short-circuit member (terminal) is preferably set to be 1/4 of the wavelength of the measurement center frequency.
【００１０】前記ショート部材が給電ピンに対して前後
進移動可能に設けられ、前記給電ピンからショート部材
までの距離を変更可能とすると好ましい（請求項２）。
すなわち、上記したように給電ピンとショート部材との
距離を測定中心周波数の波長の１／４になるようにする
と最も整合がとれる。したがって、測定周波数に応じて
調整可能となり、広範囲の周波数帯域に対応可能とな
る。Preferably, the short member is provided so as to be able to move forward and backward with respect to the power supply pin, and the distance from the power supply pin to the short member can be changed (claim 2).
That is, when the distance between the power supply pin and the short member is set to be 1/4 of the wavelength of the measurement center frequency as described above, the best matching can be obtained. Therefore, it is possible to adjust according to the measurement frequency, and it is possible to cope with a wide frequency band.
【００１１】前記先端部は、板部材の本体に対して回転
自在に接続され、前記テーパ角を変更可能としてもよい
（請求項３）。すなわち、テーパ角を調整することによ
り負荷との整合をとることができ、また、電波の放射量
を調整できる。The tip portion may be rotatably connected to a main body of the plate member so that the taper angle can be changed. That is, by adjusting the taper angle, matching with the load can be achieved, and the radiation amount of the radio wave can be adjusted.
【００１２】また、前記両板部材間に形成される空間内
の少なくとも給電ピンより先端側を、空気よりも高い誘
電率の部材を配置するようにしてもよい（請求項４）。
その様にすると、誘電体等の高い誘電率の部材の中を進
む電波は、見かけ上波長が小さくなり小型化ができる。[0012] A member having a dielectric constant higher than that of air may be disposed at least on a tip side of the power supply pin in a space formed between the two plate members.
By doing so, the radio wave traveling through a member having a high dielectric constant such as a dielectric has an apparently small wavelength and can be reduced in size.
【００１３】前記先端部の少なくとも測定対象物に接触
する部分に弾性体を設けると好ましく、その場合の弾性
体としては、導電性としてもよく（請求項５）、或い
は、絶縁性としてもよい（請求項６）。すなわち、高精
度な測定を行うためには、先端部を密着させる必要があ
る。そこで、弾性体を設けると、測定対象物の表面に凹
凸などがあっても密着させることができ、高精度な測定
が可能となる。そして、導電性とした場合には、導電性
の板部材と同様の機能を発揮する。また、絶縁性とした
場合には、通常測定時に先端部と測定対象物との間に絶
縁物を介在させるため、係る絶縁物の機能を兼用させる
ことができるので、絶縁性の弾性体を直接測定対象物の
表面に接触・密着させることができ、作業性が向上す
る。さらに本発明で言う弾性体は、密着させることが目
的であるので、弾性変形すればよく、ばね等のように弾
性復元力を必ずしも有していなくてもよい。It is preferable that an elastic body is provided at least at a portion of the tip portion which comes into contact with the object to be measured. In this case, the elastic body may be conductive (claim 5) or may be insulating ( Claim 6). That is, in order to perform a highly accurate measurement, it is necessary to bring the tip into close contact. Therefore, if an elastic body is provided, even if there are irregularities on the surface of the object to be measured, it can be brought into close contact with the object, and highly accurate measurement can be performed. And when it is made conductive, it performs the same function as the conductive plate member. In addition, in the case of insulating, since an insulator is interposed between the tip portion and the object to be measured during the normal measurement, the function of the insulator can also be used. It can be brought into contact and close contact with the surface of the measurement object, and the workability is improved. Further, the elastic body referred to in the present invention is intended to be brought into close contact, and therefore may be elastically deformed, and does not necessarily have to have an elastic restoring force like a spring or the like.
【００１４】本発明に係る斜め入射測定用コンパクトプ
ローブでは、請求項１〜６のいずれか１項に記載のコン
パクトプローブを２個用い、一方のコンパクトプローブ
を送信用プローブとし、他方のコンパクトプローブを受
信用プローブとして使う。そして、前記送信用プローブ
と受信用プローブは、測定対象物の法線に対して線対称
で所定角度傾斜配置するとともに、その先端部を前記測
定対象物の表面から所定距離だけ離して配置するように
した（請求項７）。In the compact probe for oblique incidence measurement according to the present invention, two compact probes according to any one of claims 1 to 6 are used, one compact probe is used as a transmission probe, and the other compact probe is used as a compact probe. Used as a receiving probe. The transmitting probe and the receiving probe are arranged symmetrically with respect to the normal of the object to be measured and are inclined at a predetermined angle, and the distal ends thereof are arranged at a predetermined distance from the surface of the object to be measured. (Claim 7).
【００１５】最終的な配置・形状が請求項７のようにな
っていれば、必ずしも２個の分離したプローブを用いる
必要はなく、全部或いは一部が一体化したものでもよ
い。すなわち、例えば両プローブを構成する１つの板部
材同士を一体的に製造し、その一体化した板部材の両側
にそれぞれ別の板部材を所定の間隔をおいて取り付ける
ことにより、結果として２個のプローブを製造するよう
にしたものでもよい。If the final arrangement and shape are as described in claim 7, it is not always necessary to use two separate probes, and they may be integrated in whole or in part. That is, for example, one plate member constituting both probes is integrally manufactured, and another plate member is attached to each side of the integrated plate member at a predetermined interval, thereby resulting in two pieces. A probe may be manufactured.
【００１６】そして、好ましくは前記先端部は、先端先
細り状に形成することである（請求項８）。さらに、前
記両プローブの隣接する先端部同士を接触させるとよい
（請求項９）。この時、接触していれば、分離可能であ
っても、分離不能に一体化されたものでもよい。Preferably, the tip is formed to have a tapered tip. Further, it is preferable that the adjacent tips of the two probes are brought into contact with each other (claim 9). At this time, if they are in contact with each other, they may be separable or may be unseparable and integrated.
【００１７】さらには、前記先端部と前記測定対象物と
の間に、周囲の雰囲気の誘電率とほぼ等しい材質からな
る調整部材を介在させ、その調整部材の両面に前記先端
部と前記測定対象物を接触させるようにしてもよい（請
求項１０）。このようにすると、先端部と測定対象物と
の間の距離を所望の距離に容易に設定できる。Further, an adjusting member made of a material substantially equal to the dielectric constant of the surrounding atmosphere is interposed between the tip and the object to be measured, and the tip and the object to be measured are provided on both surfaces of the adjusting member. You may make it contact an object (claim 10). With this configuration, the distance between the tip and the measurement target can be easily set to a desired distance.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】図１，図２は、本発明に係るコン
パクトプローブの一実施の形態を示している。同図に示
すように、コンパクトプローブ１０は、平行平板構造の
２枚の導電性帯板１１，１１を所定の間隔をおいて配置
し、それら２枚の導電性帯板１１，１１の一端（終端）
に、ショート部材たるスライダ１２を介在させている。
導電性帯板１１，１１は、本例ではアルミを用いて形成
している。さらに、スライダ１２も導電性材料からな
り、このスライダ１２を介して両導電性帯板１１，１１
が終端でショートするようになっている。1 and 2 show an embodiment of a compact probe according to the present invention. As shown in FIG. 1, the compact probe 10 has two conductive strips 11 having a parallel plate structure arranged at a predetermined interval, and one end of each of the two conductive strips 11 (11). End)
, A slider 12 as a short member is interposed.
The conductive strips 11 and 11 are formed using aluminum in this example. Further, the slider 12 is also made of a conductive material, and the two conductive strips 11
Is short-circuited at the end.
【００１９】また、導電性帯板１１，１１の所定位置に
は、ボルト１３を挿入する孔部が形成されている。さら
にスライダ１２にも長手方向に延びるようにして長孔が
形成されている。これにより、それら孔部及び長孔にボ
ルト１３を挿入するとともに、ナットで締結することに
より、両導電性帯板１１，１１及びスライダ１２は、挟
み込まれた状態で両側から圧力を受けるため、所定の位
置関係で固定される。そして、ボルト・ナットを緩める
（取り外しはしない）と、スライダ１２が長孔に案内さ
れて長手方向に相対移動（導電性帯板１１に対して）で
きるように構成している。At predetermined positions of the conductive strips 11, 11, there are formed holes into which bolts 13 are inserted. Further, a long hole is formed in the slider 12 so as to extend in the longitudinal direction. As a result, the bolts 13 are inserted into the holes and the elongated holes and fastened with nuts, so that the conductive strips 11 and 11 and the slider 12 receive pressure from both sides while being sandwiched. Is fixed in the positional relationship of. Then, when the bolts and nuts are loosened (not removed), the slider 12 is guided by the elongated holes and can be relatively moved in the longitudinal direction (with respect to the conductive strip 11).
【００２０】導電性帯板１１は、スライダ１２と反対側
の先端が開放されており、その先端部１１ａは先端に行
くにしたがって、間隔が広がるように所定のテーパ角
（広がり角度）θで傾斜配置されている。そして、導電
性帯板１１の本体部分と、先端部１１ａは、回転軸１１
ｂにて連結され、テーパ角θを自由に調整できるように
なっている。The conductive strip 11 is open at the end opposite to the slider 12, and the end 11a is inclined at a predetermined taper angle (spread angle) θ so as to increase the distance toward the end. Are located. The main body of the conductive strip 11 and the tip 11 a
b, so that the taper angle θ can be freely adjusted.
【００２１】さらに、一方の導電性帯板１１には、同軸
コネクタ１５が取り付けられ、その同軸コネクタ１５の
内部導体である給電ピン１５ａが、反対側の導電性帯板
１１に接触され短絡される。この給電ピン１５ａの先端
と導電性帯板１１との接触部は、容易に離反しないよう
に、例えば半田付けなどにより電気的・機械的に強固に
接続している。そして、この給電ピン１５ａと、終端で
あるスライダ１２との距離Ｌは、測定中心周波数の波長
の１／４になるように調整すると、最も感度が良くな
る。すなわち、本形態では、そのように測定波長に応じ
て最適な環境を得るため、スライダ１２を移動可能にし
ている。よって、そのように最適な環境を得られなくて
も良い場合には、固定式としてももちろん良い。Further, a coaxial connector 15 is attached to one conductive strip 11, and a power supply pin 15a, which is an internal conductor of the coaxial connector 15, is brought into contact with the conductive strip 11 on the opposite side and short-circuited. . The contact portion between the tip of the power supply pin 15a and the conductive strip 11 is firmly connected electrically and mechanically by, for example, soldering so as not to separate easily. When the distance L between the power supply pin 15a and the slider 12, which is the terminal, is adjusted to be 1/4 of the wavelength of the measurement center frequency, the sensitivity becomes the best. That is, in the present embodiment, the slider 12 is made movable in order to obtain an optimum environment according to the measurement wavelength. Therefore, when it is not necessary to obtain such an optimal environment, a fixed type may be used.
【００２２】また、先端開放部位での離反距離をＡ、先
端部１１ａ（導電性帯板１１）の幅をＢ、導電性帯板１
１，１１間の間隔をｂとした場合に、結線部（同軸コネ
クタ１５）のインピーダンスＺを５０Ωとし、先端部１
１ａのインピーダンスＺ0 が、 Ｚ＝（ｂ／Ａ）・Ｚ0 となるように設定し、さらに、空間のインピーダンスと
の整合を採るために、 Ａ＝Ｂ になるように調整している。しかも最大放射させるため
にテーパ角θは４５度になるようにしている。The separation distance at the open end is A, the width of the end portion 11a (conductive strip 11) is B, and the conductive strip 1 is
When the distance between the end portions 1 and 11 is b, the impedance Z of the connection portion (coaxial connector 15) is 50Ω,
The impedance Z0 of 1a is set so that Z = (b / A) .Z0, and further adjusted so that A = B in order to match the impedance with the space. In addition, the taper angle θ is set to 45 degrees for maximum radiation.
【００２３】図３は、上記した構成のコンパクトプロー
ブ１０を用いて反射特性を測定する装置構成を示してい
る。同図に示すように、コンパクトプローブ１０の同軸
コネクタ１５に同軸ケーブル１８の一端を接続し、その
同軸ケーブル１８の他端をベクトルネットワークアナラ
イザ１９に接続する。そして、ベクトルネットワークア
ナライザ１９内のタイムドメイン機能を使って測定す
る。FIG. 3 shows the configuration of an apparatus for measuring reflection characteristics using the compact probe 10 having the above configuration. As shown in the figure, one end of a coaxial cable 18 is connected to the coaxial connector 15 of the compact probe 10, and the other end of the coaxial cable 18 is connected to a vector network analyzer 19. Then, the measurement is performed using a time domain function in the vector network analyzer 19.
【００２４】測定を行うには、図示するように、測定対
象（図示の例では、金属板２０の上に電波吸収体２１を
貼り合わたもの）の表面に、先端部１１ａを接触させ
る。この時、両導電性帯板１１，１１の先端部１１ａ，
１１ａがともに測定対象面に線接触するようにセットす
る。この時、その測定対象の表面を介して両先端部１１
ａ，１１ａが短絡するのを防止するため、実際には、先
端部１１ａと測定対象物の表面との間には、絶縁性シー
ト（例えば「紙」）を介在させる。To perform the measurement, as shown in the figure, the tip 11a is brought into contact with the surface of the object to be measured (in the illustrated example, a radio wave absorber 21 is bonded on a metal plate 20). At this time, the tip portions 11a of the conductive strips 11, 11
11a are set so as to make line contact with the surface to be measured. At this time, both tip portions 11 are interposed through the surface of the measurement object.
In order to prevent a short circuit between the tip 11a and the tip 11a, an insulating sheet (for example, "paper") is interposed between the tip 11a and the surface of the object to be measured.
【００２５】この状態で、給電ピン１５ａから電力を供
給すると、両導電性帯板１１，１１が一種の導波管とし
て機能し、両者１１，１１間の空間内を先端部１１ａ側
に向けて電波が進み、測定対象物である電波吸収体２１
に直接放射される。そして、電波吸収体２１で反射され
た反射波が上記と逆の経路を通って給電ピン１５ａに至
り、ベクトルネットワークアナライザ１９に伝送され
る。このようにアナライザ１９に戻ってくる電波は、上
記したように測定対象物（電波吸収体２１）の表面で反
射されてきた正規のものに限られず、終端部での反射
や、途中で反射して戻ってきたものも含まれている。In this state, when power is supplied from the power supply pin 15a, the two conductive strips 11, 11 function as a kind of waveguide, and the space between the two strips 11, 11 is directed toward the tip 11a. The radio wave advances and the radio wave absorber 21 which is the object to be measured
Directly radiated to Then, the reflected wave reflected by the radio wave absorber 21 reaches the power supply pin 15 a through the reverse path, and is transmitted to the vector network analyzer 19. As described above, the radio wave returning to the analyzer 19 is not limited to the regular one reflected on the surface of the object to be measured (the radio wave absorber 21) as described above. And those that have returned.
【００２６】そこで、ベクトルネットワークアナライザ
１９では、まず、与えられた信号をフーリエ逆変換をし
て時間領域に変更する。電波の速度並びに給電ピン１５
ａから先端部１１ａ（測定対象物）までの距離が既知で
あるので、測定用の電波を発してから正規の反射波が戻
ってくるまでにかかる時間も一義的に決まる。そこで、
その時間に一定のマージンをかけた時間領域だけ通過す
るゲートを設け、不要な波を除去する。この後、周波数
領域にフーリエ変換することで測定対象物からの反射波
のみの周波数−反射損失（リターンロス）特性を抽出す
ることができる。Therefore, the vector network analyzer 19 first performs an inverse Fourier transform on the given signal to change it to the time domain. Radio wave speed and power supply pin 15
Since the distance from “a” to the tip 11 a (measurement target) is known, the time required from the emission of the measurement radio wave to the return of the regular reflected wave is also uniquely determined. Therefore,
A gate is provided that passes only a time area with a certain margin applied to that time, and unnecessary waves are removed. After that, the frequency-reflection loss (return loss) characteristic of only the reflected wave from the object to be measured can be extracted by performing Fourier transform in the frequency domain.
【００２７】＊実験結果 本発明品を用いて正しく反射特性を測定できることを実
証するため、以下に示す実験を行った。両導電性帯板１
１，１１間の間隔ｂを４［ｍｍ］、給電ピン１５ａから
先端部１１ａの回転中心（回転軸１１ｂ）までの距離を
１００［ｍｍ］、先端部１１ａの長さを２０［ｍｍ］、
テーパ角θを４５度とし、２．３［ＧＨｚ］と４［ＧＨ
ｚ］付近でそれぞれ吸収特性がある電波吸収体について
の反射損失を求めた。なお、給電ピン１５ａと終端部ま
での距離Ｌはλ／４となるように調整した。* Experimental Results In order to verify that the reflection characteristics can be correctly measured using the product of the present invention, the following experiments were conducted. Both conductive strips 1
The distance b between the pins 1 and 11 is 4 [mm], the distance from the power supply pin 15a to the center of rotation of the tip 11a (rotation axis 11b) is 100 [mm], the length of the tip 11a is 20 [mm],
When the taper angle θ is 45 degrees, 2.3 [GHz] and 4 [GH
z], the reflection loss of a radio wave absorber having an absorption characteristic was determined. The distance L between the power supply pin 15a and the terminal end was adjusted to be λ / 4.
【００２８】まず、４［ＧＨｚ］付近に吸収特性を有す
る電波吸収体について実験を行った。上記したようにま
ずフーリエ逆変換を行い、金属板のみの場合と金属板の
上に電波吸収体を貼り合わせたものについてそれぞれ時
間に対する電界強度の特性を求めた。これにより、図４
に示すような時間に対する電界強度の特性が求められ
る。なお、図中破線は測定対象物が金属板のみの場合で
あり、同図中実施線が、図３に示すように金属板の上に
電波吸収体を重ねたものについての特性図である。First, an experiment was conducted on a radio wave absorber having an absorption characteristic near 4 [GHz]. First, inverse Fourier transform was performed as described above, and the characteristics of the electric field intensity with respect to time were obtained for the case of using only the metal plate and the case of attaching the radio wave absorber on the metal plate. As a result, FIG.
The characteristics of the electric field strength with respect to time as shown in FIG. Note that the broken line in the figure is a case where the object to be measured is only a metal plate, and the working line in the diagram is a characteristic diagram of a case where a radio wave absorber is superimposed on a metal plate as shown in FIG.
【００２９】次に、図４に示す特性から不要な波を除去
すべく、５４５［ｐｓ］〜８００［ｐｓ］の範囲のみ通
過するゲートをかけた。これにより、図４の特性図は、
図５のように一定の時間領域のみピークが抽出された図
となる。もちろん実線及び破線の意味は図４のものと同
様である。Next, in order to remove unnecessary waves from the characteristics shown in FIG. 4, a gate is passed that passes only in the range of 545 [ps] to 800 [ps]. Thereby, the characteristic diagram of FIG.
As shown in FIG. 5, a peak is extracted only in a certain time region. Of course, the meanings of the solid line and the broken line are the same as those in FIG.
【００３０】この図５に示す特性から周波数領域に対し
てフーリエ変換して反射の周波数特性を求める。そし
て、金属板単体のものと電波吸収体のレベルの差をとる
ことにより、図６中実線で示すような周波数に対する反
射損失が求められた。図から明らかなように、４［ＧＨ
ｚ］の周囲で電波吸収されていることが確認でき、正し
く測定できていることが確認できる。さらに、同一の電
波吸収体を所定形状に加工し、従来法である同軸管を用
いて反射損失の測定を行った。その結果、図６中破線で
示すような特性が得られ、本発明に係るコンパクトプロ
ーブ１０を用いた測定結果とほぼ一致していることが確
認できた。From the characteristics shown in FIG. 5, Fourier transform is performed on the frequency domain to determine the frequency characteristics of reflection. Then, by taking the difference between the level of the metal plate alone and the level of the radio wave absorber, the reflection loss with respect to the frequency as shown by the solid line in FIG. 6 was obtained. As is clear from the figure, 4 [GH
z], it can be confirmed that the radio wave is absorbed, and it can be confirmed that the measurement is correctly performed. Further, the same radio wave absorber was processed into a predetermined shape, and the reflection loss was measured using a conventional coaxial tube. As a result, the characteristics shown by the broken lines in FIG. 6 were obtained, and it was confirmed that the characteristics almost coincided with the measurement results using the compact probe 10 according to the present invention.
【００３１】同様に、試料を２．３［ＧＨｚ］付近に吸
収特性を有する電波吸収体に替えて同様の実験を行った
ところ、最終的な周波数に対する反射損失は図７に示す
ような結果が得られた。同図から明らかなように、本発
明方法による結果（実線）と、同軸管による測定結果
（破線）はほぼ一致した特性が得られることが確認でき
た。Similarly, a similar experiment was performed by replacing the sample with a radio wave absorber having an absorption characteristic around 2.3 [GHz], and the result as shown in FIG. Obtained. As is apparent from the figure, it was confirmed that the results obtained by the method of the present invention (solid line) and the results obtained by measurement with the coaxial tube (broken line) obtained substantially the same characteristics.
【００３２】図８は、同一の試料に対しテーパ角θを変
えて測定した結果を示している。同図から明らかなよう
に、実線で示すテーパ角４５度のものが最も感度が高く
なり、破線で示す３０度のものや一点鎖線で示す６０度
のものは４５度よりは感度が悪くなる。但し、いずれの
場合もピーク時で２０ｄＢ以上であり、十分使用に耐え
られるものである。FIG. 8 shows the result of measurement on the same sample while changing the taper angle θ. As is clear from the drawing, the sensitivity is highest when the taper angle is 45 degrees indicated by the solid line, and the sensitivity is lower when the taper angle is 30 degrees indicated by the broken line and when the taper angle is 60 degrees indicated by the alternate long and short dash line. However, in each case, the peak is 20 dB or more, which is sufficient for use.
【００３３】図９は、本発明に係るコンパクトプローブ
の変形例を示している。同図に示すように、導電性帯板
１１の先端部１１ａの先端に、弾性体２５を装着してい
る。このように弾性体を設けたことにより、仮に測定対
象の表面に凹凸などがあっても、密着させることがで
き、高感度な測定ができる。この弾性体２５としては、
例えば、導電性ゴムのように導電性の弾性体を用いるこ
とができる。このように導電性の弾性体を用いた場合に
は、弾性体２５も図１に示す実施の形態における先端部
の一部として作用する。FIG. 9 shows a modification of the compact probe according to the present invention. As shown in the figure, an elastic body 25 is attached to the tip of the tip portion 11a of the conductive strip 11. By providing the elastic body in this way, even if the surface of the object to be measured has irregularities or the like, it can be brought into close contact, and high-sensitivity measurement can be performed. As the elastic body 25,
For example, a conductive elastic body such as conductive rubber can be used. When a conductive elastic body is used as described above, the elastic body 25 also functions as a part of the distal end portion in the embodiment shown in FIG.
【００３４】また、逆に導電性を有しない通常のゴムや
スポンジ等を用いても良い。すなわち、上記した測定方
法で説明したように、先端部１１ａと測定対象物の表面
との間に絶縁性シートを設けている。そこで、係る絶縁
性シートの替わりに絶縁性の弾性体を取り付けることに
より、先端部１１ａと測定対象物とが直接接触して短絡
しないようにしている。つまり、絶縁シートを介在させ
る手間がなくなり、操作性が良好となる。しかも、弾性
体であるので、測定対象部の表面形状に関係なく密着さ
せることができる。Conversely, ordinary rubber or sponge having no conductivity may be used. That is, as described in the above-described measurement method, the insulating sheet is provided between the distal end portion 11a and the surface of the measurement object. Therefore, by attaching an insulating elastic body instead of the insulating sheet, the tip 11a and the object to be measured are prevented from coming into direct contact with each other to cause a short circuit. That is, the trouble of interposing the insulating sheet is eliminated, and the operability is improved. Moreover, since it is an elastic body, it can be brought into close contact regardless of the surface shape of the measurement target portion.
【００３５】なお、上記した例ではいずれも両導電性帯
板１１，１１間は、開放させられて空気が存在している
が、本発明はこれに限ることはなく、例えば図１０に示
すように、誘電体２６等の空気よりも誘電率の高い材質
を介在させるようにしても良い。そのようにすると、よ
り小型化が図れ、また同一の寸法形状であれば、より低
い周波数領域の特性が行えるようになる。In each of the above-described examples, air is present between both conductive strips 11 and 11 in an open state. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. Alternatively, a material having a higher dielectric constant than air, such as the dielectric 26, may be interposed. By doing so, the size can be further reduced, and if the dimensions are the same, characteristics in a lower frequency range can be achieved.
【００３６】図１１は、本発明に係る斜め入射測定用コ
ンパクトプローブの一実施の形態を示している。同図に
示すように、本形態では、上記した図１に示すようなコ
ンパクトプローブを２個用意し、一方のコンパクトプロ
ーブを送信用プローブ１０ａとし、他方のコンパクトプ
ローブを受信用プローブ１０ｂとする。この時使用する
両プローブ１０ａ，１０ｂは、同一の寸法形状のものを
用いている。FIG. 11 shows an embodiment of the compact probe for oblique incidence measurement according to the present invention. As shown in the figure, in this embodiment, two compact probes as shown in FIG. 1 are prepared, one compact probe is used as a transmitting probe 10a, and the other compact probe is used as a receiving probe 10b. The probes 10a and 10b used at this time have the same dimensions and shape.
【００３７】そして、個々の形態は、図１と比較すると
わかるように、基本的に同一である（対応する部材には
同一符号を付している）が、導電性帯板１１の先端部１
１ａ′の形状を先端先細り状にしている点で異なる。具
体的には、導電性帯板１１の先端部１１ａは、所定角度
範囲（本形態では０度から１８０度）で回転可能となっ
ており、所定の角度θで先端が開くように形成され、そ
の広がり角度θは、例えば４５度にすると電波が最大放
射されるので好ましい。そして、スライダ１２の位置を
調整することにより、給電ピンとショート部（スライダ
１２の給電部側端面）までの距離を測定中心周波数の１
／４になるように設定する。The respective forms are basically the same (the same reference numerals are given to the corresponding members), as can be seen from the comparison with FIG.
The difference is that the shape of 1a 'is tapered. Specifically, the front end portion 11a of the conductive strip 11 is rotatable within a predetermined angle range (0 to 180 degrees in the present embodiment), and is formed so that the front end opens at a predetermined angle θ. The spread angle θ is preferably set to 45 degrees, for example, since the maximum amount of radio waves is emitted. Then, by adjusting the position of the slider 12, the distance between the power supply pin and the short-circuit portion (the end face of the slider 12 on the power supply portion side) is set to one of the measurement center frequencies.
/ 4.
【００３８】また、先端開放部位での離反距離をＡ、先
端部１１ａ（導電性帯板１１）の幅をＢ、導電性帯板１
１，１１間の間隔をｂとした場合に、結線部（同軸コネ
クタ１５）のインピーダンスＺを５０Ωとし、先端部１
１ａ′のインピーダンスＺ0が、 Ｚ＝（ｂ／Ａ）・Ｚ0 となるように設定し、さらに、空間のインピーダンスと
の整合を採るために、 Ａ＝Ｂ になる（開口面が正方形）ように調整している。しかも
最大放射させるためにテーパ角θは４５度になるように
している。係る点でも、上記した垂直入射特性を測定す
るための単体のコンパクトプローブと同様である。The separation distance at the open end is A, the width of the end 11a (conductive strip 11) is B, and the conductive strip 1 is
When the distance between the end portions 1 and 11 is b, the impedance Z of the connection portion (coaxial connector 15) is 50Ω,
The impedance Z0 of 1a 'is set so that Z = (b / A) .Z0, and further adjusted so that A = B (the aperture surface is square) in order to match the impedance with the space. doing. In addition, the taper angle θ is set to 45 degrees for maximum radiation. Also in this respect, it is the same as a single compact probe for measuring the vertical incidence characteristics described above.
【００３９】そして、両プローブ１０ａ，１０ｂは、測
定対象物３０の法線に対して線対称で所定角度αだけ傾
斜配置するとともに、その先端部１１ａ′を測定対象物
３０の表面から所定距離だけ離して配置している。しか
も、両プローブ１０ａ，１０ｂの隣接する先端部１１
ａ′同士は接触させている。The probes 10a and 10b are arranged symmetrically with respect to the normal line of the measuring object 30 and inclined at a predetermined angle α, and their tips 11a 'are moved by a predetermined distance from the surface of the measuring object 30. They are placed apart. In addition, the adjacent tip portions 11 of the probes 10a and 10b
a 'are in contact with each other.
【００４０】そして、上記の構成において実際に斜め入
射の特性を測定する場合には、例えば両プローブ１０
ａ，１０ｂを同軸ケーブル１８を介して図外のベクトル
ネットワークアナライザに接続し、送信用プローブ１０
ａから所定の電波を放射し、タイムドメイン法を用いて
前記電波の放射から一定時間経過後に受信用プローブ１
０ｂに受信された電波（反射波）のみを抽出するように
している。When the characteristics of oblique incidence are actually measured in the above configuration, for example, both probes 10
a and 10b are connected via a coaxial cable 18 to a vector network analyzer (not shown),
a, a predetermined radio wave is radiated from a, and after a predetermined time has passed from the radio wave radiation using the time domain method, the receiving probe 1
Only radio waves (reflected waves) received at 0b are extracted.
【００４１】＊実験結果 本発明品を用いて正しく反射特性を測定できることを実
証するため、以下に示す実験を行った。両導電性帯板１
１，１１間の間隔ｂを４［ｍｍ］、給電ピン１５ａから
先端部１１ａの回転中心（回転軸１１ｂ）までの距離を
１００［ｍｍ］、先端部１１ａの長さを５０［ｍｍ］、
テーパ角θを４５度とし、各プローブの傾斜角度（入射
角）αは２０度とした。金属板２０の上面に４［ＧＨ
ｚ］付近に吸収特性を有する電波吸収体２１を張り合わ
せたプレートを測定対象物３０とし、その電波吸収体２
１についての反射損失を求めた。なお、給電ピン１５ａ
と終端部までの距離Ｌはλ／４となるように調整した。* Experimental Results In order to verify that the reflection characteristics can be measured correctly using the product of the present invention, the following experiments were conducted. Both conductive strips 1
The distance b between the pins 1 and 11 is 4 [mm], the distance from the power supply pin 15a to the center of rotation of the tip 11a (the rotation axis 11b) is 100 [mm], the length of the tip 11a is 50 [mm],
The taper angle θ was 45 degrees, and the inclination angle (incident angle) α of each probe was 20 degrees. 4 [GH] on the upper surface of the metal plate 20
z], a plate on which a radio wave absorber 21 having an absorption characteristic is adhered in the vicinity of the radio wave absorber 2
The reflection loss for No. 1 was determined. The power supply pin 15a
And the distance L to the terminal portion was adjusted to be λ / 4.
【００４２】まず、上記した垂直入射の時と同様にフー
リエ逆変換を行い、金属板のみの場合と金属板の上に電
波吸収体を貼り合わせたものについてそれぞれ時間に対
する電界強度の特性を求めた。これにより、図１２に示
すような時間に対する電界強度の特性が求められる。な
お、図中破線は測定対象物が金属板のみの場合であり、
同図中実施線が、図１１に示すように金属板２０の上に
電波吸収体２１を重ねたものについての特性図である。First, the inverse Fourier transform was performed in the same manner as in the case of the normal incidence described above, and the characteristics of the electric field strength with respect to time were obtained for the case of only the metal plate and the case where the radio wave absorber was attached on the metal plate. . Thus, the characteristics of the electric field strength with respect to time as shown in FIG. 12 are obtained. In addition, the broken line in the figure is a case where the measuring object is only a metal plate,
FIG. 11 is a characteristic diagram in which the working line in FIG. 11 is obtained by stacking the radio wave absorber 21 on the metal plate 20 as shown in FIG.
【００４３】次に、図１２に示す特性から不要な波を除
去すべく２００〜５００の範囲のみ通過するゲートをか
けて得られた特性から周波数領域に対してフーリエ変換
して反射の周波数特性を求める。そして、金属板単体の
ものと電波吸収体のレベルの差をとることにより、図１
３中実線で示すような周波数に対する反射損失が求めら
れた。図から明らかなように、４［ＧＨｚ］の周囲で電
波吸収されていることが確認でき、正しく測定できてい
ることが確認できる。さらに、同一の電波吸収体を所定
形状に加工し、同軸管測定法で材料定数を測定しそれか
ら反射特性を算出すると、図１３中破線で示すような特
性（理論値）が得られ、本発明に係るコンパクトプロー
ブを用いた測定結果と最大損失レベルがほぼ一致してい
ることが確認できた。Next, in order to remove unnecessary waves from the characteristic shown in FIG. 12, a gate obtained by passing through only the range of 200 to 500 is subjected to Fourier transform in the frequency domain to obtain the reflection frequency characteristic. Ask. The difference between the level of the single metal plate and the level of the radio wave absorber is obtained to obtain FIG.
3. The return loss with respect to the frequency shown by the solid line in FIG. As is clear from the figure, it can be confirmed that the radio wave is absorbed around 4 [GHz], and it can be confirmed that the measurement has been performed correctly. Further, when the same electromagnetic wave absorber is processed into a predetermined shape, the material constant is measured by a coaxial tube measurement method, and the reflection characteristic is calculated from the material constant, the characteristic (theoretical value) shown by the broken line in FIG. 13 is obtained. It was confirmed that the measurement result using the compact probe according to the above and the maximum loss level almost coincided.
【００４４】また、入射角αを変えて上記と同様の実験
を行い、測定結果（反射損失の実測値と理論値）を求め
た。その結果、図１４〜図１６に示すような結果が得ら
れ（実線が測定値で波線が理論値）、いずれの角度であ
ってもほぼ理論値通りの結果が得られた。Further, the same experiment as described above was performed by changing the incident angle α, and the measurement results (actual and theoretical values of reflection loss) were obtained. As a result, the results as shown in FIGS. 14 to 16 were obtained (solid lines are measured values, and dashed lines are theoretical values), and almost the same results were obtained at any angle.
【００４５】図１７は、本発明の別の実施の形態を示し
ている。同図に示すように、本形態では、プローブ１０
ａ，１０ｂの先端と測定対象物３０の間に調整部材３１
を挿入している。この調整部材３１は、誘電率εが空気
（１）に近く、絶縁性のあるものが好ましい。これによ
り、係る調整部材３１を測定対象物３０の上面においた
状態でプローブの先端部１１ａを調整部材３１の表面に
接触されることにより、所望の間隔が得られるので、操
作性が良好となる。FIG. 17 shows another embodiment of the present invention. As shown in FIG.
a adjusting member 31 between the tip of the measuring object 30
Is inserted. The adjusting member 31 preferably has a dielectric constant ε close to that of air (1) and has insulating properties. Thereby, a desired interval can be obtained by contacting the tip portion 11a of the probe with the surface of the adjustment member 31 in a state where the adjustment member 31 is placed on the upper surface of the measurement target 30, thereby improving the operability. .
【００４６】また、上記した実施の形態では、先端部１
１ａ′が先端先細り状のものを用いたが、上記した図１
のものと同様に、矩形状となっていてもよい。但し、そ
の場合に測定対象物３０との離反距離は、図１８に示す
ように先端部１１ａの下端からの距離Ｌが所望の距離に
なるように設定する必要がある。In the above embodiment, the tip 1
1a 'used a tapered tip.
It may be rectangular as in the case of. However, in this case, the separation distance from the measurement target 30 needs to be set so that the distance L from the lower end of the distal end portion 11a becomes a desired distance as shown in FIG.
【００４７】さらにまた、図示省略するが、上記した垂
直入射で用いた各プローブをそのまま斜め入射用の送信
・受信プローブとして用いることができるのはもちろん
である（例えば、導電性帯板１１，１１間に誘電体を介
在させて小型化を図るなど）。Further, although not shown, each probe used at the normal incidence can be used as it is as a transmission / reception probe for oblique incidence as it is (for example, the conductive strips 11, 11). (For example, miniaturization by interposing a dielectric between them).
【００４８】[0048]
【発明の効果】以上のように、本発明に係るコンパクト
プローブでは、簡易な構造でもって精度良く垂直入射並
びに斜め入射のいずれの電波吸収特性を求めることがで
きる。しかも、プローブの先端部を測定対象物に接触さ
せればよいので、実際に使用する態様・大きさのまま測
定することができ、試料の加工が不要で係る処理が簡単
に行うことができる。しかも、直接電波を放射し、反射
波を受けるので、オープンサイトにする必要がなく小さ
い測定空間で処理をすることができる。その結果、例え
ば既設の建造物等に対する測定も可能となる。As described above, with the compact probe according to the present invention, it is possible to accurately obtain radio wave absorption characteristics at normal incidence and oblique incidence with a simple structure. In addition, since the probe tip only needs to be brought into contact with the object to be measured, the measurement can be performed with the actual use mode and size, and the processing can be easily performed without processing the sample. In addition, since radio waves are directly emitted and reflected waves are received, it is not necessary to make the site open, and processing can be performed in a small measurement space. As a result, for example, it is possible to measure an existing building or the like.
【図１】本発明に係るコンパクトプローブの好適な一実
施の形態を示す図である。FIG. 1 is a view showing a preferred embodiment of a compact probe according to the present invention.
【図２】その先端部分を示す図である。FIG. 2 is a view showing a tip portion thereof.
【図３】測定装置全体を示す外観図である。FIG. 3 is an external view showing the entire measurement device.
【図４】実験結果を示す図である。FIG. 4 is a view showing an experimental result.
【図５】実験結果を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing experimental results.
【図６】実験結果を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing experimental results.
【図７】実験結果を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing experimental results.
【図８】実験結果を示す図である。FIG. 8 is a view showing an experimental result.
【図９】本発明に係るコンパクトプローブの好適な他の
実施の形態の要部を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a main part of another preferred embodiment of the compact probe according to the present invention.
【図１０】本発明に係るコンパクトプローブの好適な他
の実施の形態を示す図である。FIG. 10 is a view showing another preferred embodiment of the compact probe according to the present invention.
【図１１】本発明に係る斜め入射測定用コンパクトプロ
ーブの好適な一実施の形態を示す図である。FIG. 11 is a view showing a preferred embodiment of a compact probe for oblique incidence measurement according to the present invention.
【図１２】実験結果を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing experimental results.
【図１３】実験結果を示す図である。FIG. 13 is a view showing an experimental result.
【図１４】実験結果を示す図である。FIG. 14 is a view showing an experimental result.
【図１５】実験結果を示す図である。FIG. 15 is a view showing an experimental result.
【図１６】実験結果を示す図である。FIG. 16 is a view showing an experimental result.
【図１７】本発明に係るコンパクトプローブの好適な他
の実施の形態の要部を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing a main part of another preferred embodiment of the compact probe according to the present invention.
【図１８】本発明に係るコンパクトプローブの好適なさ
らに他の実施の形態の要部を示す図である。FIG. 18 is a view showing a main part of still another preferred embodiment of the compact probe according to the present invention.
１０ コンパクトプローブ １０ａ 送信プローブ １０ｂ 受信プローブ １１ 導電性帯板 １１ａ，１１ａ′ 先端部 １１ｂ 回転軸 １２ スライダ（ショート部材） １５ 同軸コネクタ １５ａ 給電ピン ２０ 金属板（測定対象物） ２１ 電波吸収体（測定対象物） ２５ 弾性体 ２６ 誘電体 ３０ 測定対象物 ３１ 調整部材 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Compact probe 10a Transmission probe 10b Receiving probe 11 Conductive strip 11a, 11a 'Tip part 11b Rotation axis 12 Slider (short member) 15 Coaxial connector 15a Power supply pin 20 Metal plate (measured object) 21 Radio wave absorber (measured object) 25) Elastic body 26 Dielectric 30 Measurement object 31 Adjustment member
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石倉 誠 東京都港区新橋５丁目36番11号 富士電気 化学株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Makoto Ishikura 5-36-11 Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Inside Fuji Electric Chemical Co., Ltd.
Claims (10)
隔をおいて平行に配置するとともに、その終端側にはシ
ョート部材（１２）を介在させて前記両板部材同士を短
絡させ、 前記板部材の先端部（１１ａ）は、所定のテーパ角で先
端側の間隔が広くなるように構成され、 前記一方の板部材に同軸コネクタ（１５）を設けるとと
もに、その同軸コネクタに接続された給電ピン（１５
ａ）の先端を他方の板部材に電気的に接続するように構
成したことを特徴とするコンパクトプローブ。1. A conductive strip-shaped plate member (11) is arranged in parallel at a predetermined interval, and a short-circuit member (12) is interposed at a terminal side thereof to short-circuit the two plate members. The distal end portion (11a) of the plate member is configured such that the interval on the distal end side is widened at a predetermined taper angle, and a coaxial connector (15) is provided on the one plate member and connected to the coaxial connector. Power supply pin (15
A compact probe characterized in that the tip of (a) is electrically connected to the other plate member.
後進移動可能に設けられ、前記給電ピンからショート部
材までの距離を変更可能としたことを特徴とする請求項
１に記載のコンパクトプローブ。2. The compact probe according to claim 1, wherein the short member is provided so as to be able to move forward and backward with respect to a power supply pin, and a distance from the power supply pin to the short member can be changed.
転自在に接続され、前記テーパ角を変更可能としたこと
を特徴とする請求項１または２に記載のコンパクトプロ
ーブ。3. The compact probe according to claim 1, wherein the distal end is rotatably connected to a main body of the plate member, and the taper angle can be changed.
なくとも給電ピンより先端側を、空気よりも高い誘電率
の部材（２６）を配置したことを特徴とする請求項１〜
３のいずれか１項に記載のコンパクトプローブ。4. A member (26) having a dielectric constant higher than that of air is disposed at least on a tip side of a power supply pin in a space formed between the two plate members.
4. The compact probe according to any one of 3.
触する部分に導電性の弾性体を設けたことを特徴とする
請求項１〜４のいずれか１項に記載のコンパクトプロー
ブ。5. The compact probe according to claim 1, wherein a conductive elastic body is provided on at least a portion of the tip portion that contacts the object to be measured.
触する部分に絶縁性の弾性体を設けたことを特徴とする
請求項１〜４のいずれか１項に記載のコンパクトプロー
ブ。6. The compact probe according to claim 1, wherein an insulating elastic body is provided on at least a portion of said tip portion that contacts the object to be measured.
ンパクトプローブを２個用いるとともに、一方のコンパ
クトプローブを送信用プローブ（１０ａ）とし、他方の
コンパクトプローブを受信用プローブ（１０ｂ）とし、 前記送信用プローブと受信用プローブは、測定対象物
（３０）の法線に対して線対称で所定角度傾斜配置する
とともに、その先端部を前記測定対象物の表面から所定
距離だけ離して配置するようにしたことを特徴とする斜
め入射測定用コンパクトプローブ。7. Two compact probes according to any one of claims 1 to 6, wherein one compact probe is used as a transmitting probe (10a) and the other compact probe is used as a receiving probe (10b). The transmitting probe and the receiving probe are arranged symmetrically with respect to the normal to the object to be measured (30) and are inclined at a predetermined angle, and their tips are separated by a predetermined distance from the surface of the object to be measured. A compact probe for oblique incidence measurement characterized by being arranged.
を特徴とする請求項７に記載の斜め入射測定用コンパク
トプローブ。8. The compact probe for oblique incidence measurement according to claim 7, wherein the tip portion is tapered.
接触させたことを特徴とする請求項７から８のいずれか
１項に記載の斜め入射測定用コンパクトプローブ。9. The compact probe for oblique incidence measurement according to claim 7, wherein adjacent tips of both probes are brought into contact with each other.
に、周囲の雰囲気の誘電率とほぼ等しい材質からなる調
整部材（３１）を介在させ、その調整部材の両面に前記
先端部と前記測定対象物を接触させるようにしたことを
特徴とする斜め入射測定用コンパクトプローブ。10. An adjusting member (31) made of a material substantially equal to a dielectric constant of a surrounding atmosphere is interposed between the tip and the object to be measured, and the tip and the adjusting member are provided on both surfaces of the adjusting member. A compact probe for oblique incidence measurement, wherein a measurement object is brought into contact with the object.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22703797A JP3734345B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-08-11 | Compact probe and oblique probe for oblique incidence measurement |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9288397 | 1997-03-28 | ||
| JP9-92883 | 1997-03-28 | ||
| JP22703797A JP3734345B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-08-11 | Compact probe and oblique probe for oblique incidence measurement |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10325812A true JPH10325812A (en) | 1998-12-08 |
| JP3734345B2 JP3734345B2 (en) | 2006-01-11 |
Family
ID=26434258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22703797A Expired - Lifetime JP3734345B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-08-11 | Compact probe and oblique probe for oblique incidence measurement |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3734345B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005332994A (en) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Kyocera Corp | Method and apparatus for evaluating characteristic of radio wave absorber |
| CN115236144A (en) * | 2022-07-22 | 2022-10-25 | 北京芯宸科技有限公司 | Short-circuiting device for single-ended probe calibration for liquid dielectric constant measurement |
-
1997
- 1997-08-11 JP JP22703797A patent/JP3734345B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005332994A (en) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Kyocera Corp | Method and apparatus for evaluating characteristic of radio wave absorber |
| CN115236144A (en) * | 2022-07-22 | 2022-10-25 | 北京芯宸科技有限公司 | Short-circuiting device for single-ended probe calibration for liquid dielectric constant measurement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3734345B2 (en) | 2006-01-11 |
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