JPH10282172A - 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 - Google Patents
電子機器、並びにその電子機器の測定方法Info
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- JPH10282172A JPH10282172A JP9087812A JP8781297A JPH10282172A JP H10282172 A JPH10282172 A JP H10282172A JP 9087812 A JP9087812 A JP 9087812A JP 8781297 A JP8781297 A JP 8781297A JP H10282172 A JPH10282172 A JP H10282172A
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
- Casings For Electric Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の電子機器は、カバー３３には、回路パ
ターン３５に対向する孔３３ｂだけが設けられるもので
あるため、測定時に、電子機器を移動、調整せねば成ら
ず、その作業が面倒で、測定作業に手間がかかるという
問題がある。 【解決手段】 本発明の電子機器は、プリント基板５と
カバー３、４に、筺体１の上下方向で、筺体１を貫通す
る孔５ｃ，３ｃ，４ｃを設けたため、この孔５ｃ，３
ｃ，４ｃを測定時の位置決め用として利用できて、測定
作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来る。
ターン３５に対向する孔３３ｂだけが設けられるもので
あるため、測定時に、電子機器を移動、調整せねば成ら
ず、その作業が面倒で、測定作業に手間がかかるという
問題がある。 【解決手段】 本発明の電子機器は、プリント基板５と
カバー３、４に、筺体１の上下方向で、筺体１を貫通す
る孔５ｃ，３ｃ，４ｃを設けたため、この孔５ｃ，３
ｃ，４ｃを測定時の位置決め用として利用できて、測定
作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、テレビチューナ等
に使用される電子機器、並びにその電子機器の検査、或
いは調整等のための測定方法に関する。
に使用される電子機器、並びにその電子機器の検査、或
いは調整等のための測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来におけるチューナ等の電子機器は、
図４に示すように、上下両側に開放部３１ａを有する口
型の枠体３１と、矩形状をなし、下方に折り曲げられた
挟持片３２ａを有する上部のカバー３２と、挟持片３３
ａを有する下部のカバー３３を備えている。そして、枠
体３１の開放部３１ａを塞ぐように、上下のカバー３
２、３３を枠体３１に被せ、挟持片３２ａ、３３ａで枠
体３１を挟持して、箱形の筺体３０が構成されている。
図４に示すように、上下両側に開放部３１ａを有する口
型の枠体３１と、矩形状をなし、下方に折り曲げられた
挟持片３２ａを有する上部のカバー３２と、挟持片３３
ａを有する下部のカバー３３を備えている。そして、枠
体３１の開放部３１ａを塞ぐように、上下のカバー３
２、３３を枠体３１に被せ、挟持片３２ａ、３３ａで枠
体３１を挟持して、箱形の筺体３０が構成されている。
【０００３】また、プリント基板３４には、所望の回路
パターン３５が形成され、ここでは図示しないが、コイ
ル、抵抗器、コンデンサ等の電気部品がプリント基板３
４に搭載されて、これらの電気部品が回路パターン３５
に接続された構成となっている。そして、このように電
気部品が搭載されたプリント基板３４は、筺体３０内に
収納されて取り付けられている。また、下部のカバー３
３には、筺体３０内に取り付けられたプリント基板３４
の一部の回路パターン３５と対向する位置に、孔３３ｂ
が設けられた構成となっている。
パターン３５が形成され、ここでは図示しないが、コイ
ル、抵抗器、コンデンサ等の電気部品がプリント基板３
４に搭載されて、これらの電気部品が回路パターン３５
に接続された構成となっている。そして、このように電
気部品が搭載されたプリント基板３４は、筺体３０内に
収納されて取り付けられている。また、下部のカバー３
３には、筺体３０内に取り付けられたプリント基板３４
の一部の回路パターン３５と対向する位置に、孔３３ｂ
が設けられた構成となっている。
【０００４】そして、このような構成を有する電子機器
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
【０００５】そして、前述のような測定のための電子機
器の測定装置は、図４に示すように、電子機器を保持す
るための保持台４０には、電子機器を受けるための凹部
４０ａと、孔４０ｂとが設けられている。また、治具
（図示せず）に移動可能に取り付けられた可動部４１に
は、絶縁体４２を介してテストピン４３が取り付けら
れ、手動によって可動体４１を動かし、テストピン４３
を、保持台４０の孔４０ｂに出し入れするようにしてい
る。
器の測定装置は、図４に示すように、電子機器を保持す
るための保持台４０には、電子機器を受けるための凹部
４０ａと、孔４０ｂとが設けられている。また、治具
（図示せず）に移動可能に取り付けられた可動部４１に
は、絶縁体４２を介してテストピン４３が取り付けら
れ、手動によって可動体４１を動かし、テストピン４３
を、保持台４０の孔４０ｂに出し入れするようにしてい
る。
【０００６】そして、従来における電子機器の測定方法
は、図５に示すように、先ず、電子機器を保持台４０の
凹部４０ａ内に載置する。次に、可動体４１を、図４の
状態から図５に示すように、治具をガイドにして、手動
により上方に移動する。この時、テストピン４３がカバ
ー３３に接触しないように、電子機器を手で移動して調
整しながら、カバー３３の孔３３ｂにテストピン４３を
挿入し、テストピン４３の先端を回路パターン３５に接
触させる。そして、この状態で電子機器の特性、性能等
を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を行う。
そして、測定、検査後、可動体４１を図４に示すような
状態に移動すると、電子機器の測定が完了する。
は、図５に示すように、先ず、電子機器を保持台４０の
凹部４０ａ内に載置する。次に、可動体４１を、図４の
状態から図５に示すように、治具をガイドにして、手動
により上方に移動する。この時、テストピン４３がカバ
ー３３に接触しないように、電子機器を手で移動して調
整しながら、カバー３３の孔３３ｂにテストピン４３を
挿入し、テストピン４３の先端を回路パターン３５に接
触させる。そして、この状態で電子機器の特性、性能等
を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を行う。
そして、測定、検査後、可動体４１を図４に示すような
状態に移動すると、電子機器の測定が完了する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子機器は、カ
バー３３には、回路パターン３５に対向する孔３３ｂだ
けが設けられるものであるため、測定時に、電子機器を
移動、調整せねば成らず、その作業が面倒で、測定作業
に手間がかかるという問題がある。また、従来の測定方
法は、保持台４０に電子機器を載置し、手動による可動
体４１によって、テストピン４３をカバー３３の孔３３
ａに挿入するため、電子機器の位置決めが不確実で、電
子機器の手動による調整が必要で、また、可動体４１が
手動による移動であるため、その作業が面倒で、測定作
業に手間がかかり、生産性が悪いという問題がある。
バー３３には、回路パターン３５に対向する孔３３ｂだ
けが設けられるものであるため、測定時に、電子機器を
移動、調整せねば成らず、その作業が面倒で、測定作業
に手間がかかるという問題がある。また、従来の測定方
法は、保持台４０に電子機器を載置し、手動による可動
体４１によって、テストピン４３をカバー３３の孔３３
ａに挿入するため、電子機器の位置決めが不確実で、電
子機器の手動による調整が必要で、また、可動体４１が
手動による移動であるため、その作業が面倒で、測定作
業に手間がかかり、生産性が悪いという問題がある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に第１の解決手段として、上下両側に開放部を有する四
角枠状の枠体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成
された箱形の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パタ
ーンを有するプリント基板とを備え、該プリント基板の
回路パターンに対向する位置において、前記カバーに孔
を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線状
で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記
カバーとに設けた構成とした。また、第２の解決手段と
して、開放部と底壁とを有するＵ字型の枠体と、該枠体
の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の筺体と、前
記筺体内に配置され、回路パターンを有するプリント基
板とを備え、該プリント基板の回路パターンに対向する
位置において、前記カバー、或いは前記底壁に孔を設け
ると共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記
筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーと
前記底壁とに設けた構成とした。また、第３の解決手段
として、前記筺体を貫通する前記孔を複数個設けた構成
とした。また、第４の解決手段として、筺体の上下方向
において直線状で、筺体を貫通して設けられた一個、又
は複数個の第１の孔と、前記筺体内に配置されたプリン
ト基板に形成された回路パターンに対向してカバー、又
は底壁に設けられた第２の孔を有する電子機器の、前記
第１の孔にガイド棒を挿入した状態で、前記第２の孔に
テストピンを挿入し、該テストピンを前記回路パターン
に接触させた方法とした。また、第５の解決手段とし
て、前記ガイド棒とテストピンとを支持した支持部材を
駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを同時に駆動
するようにした方法とした。また、第６の解決手段とし
て、前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側から、前記
第１の孔にガイド棒を挿入するようにした方法とした。
更に、第７の解決手段として、前記支持部材に対して前
記テストピンを上下動可能とし、該テストピンが前記回
路パターンに接触した後、テストピンは移動を停止する
と共に、前記支持部材は移動できるようにした方法とし
た。
に第１の解決手段として、上下両側に開放部を有する四
角枠状の枠体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成
された箱形の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パタ
ーンを有するプリント基板とを備え、該プリント基板の
回路パターンに対向する位置において、前記カバーに孔
を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線状
で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記
カバーとに設けた構成とした。また、第２の解決手段と
して、開放部と底壁とを有するＵ字型の枠体と、該枠体
の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の筺体と、前
記筺体内に配置され、回路パターンを有するプリント基
板とを備え、該プリント基板の回路パターンに対向する
位置において、前記カバー、或いは前記底壁に孔を設け
ると共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記
筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーと
前記底壁とに設けた構成とした。また、第３の解決手段
として、前記筺体を貫通する前記孔を複数個設けた構成
とした。また、第４の解決手段として、筺体の上下方向
において直線状で、筺体を貫通して設けられた一個、又
は複数個の第１の孔と、前記筺体内に配置されたプリン
ト基板に形成された回路パターンに対向してカバー、又
は底壁に設けられた第２の孔を有する電子機器の、前記
第１の孔にガイド棒を挿入した状態で、前記第２の孔に
テストピンを挿入し、該テストピンを前記回路パターン
に接触させた方法とした。また、第５の解決手段とし
て、前記ガイド棒とテストピンとを支持した支持部材を
駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを同時に駆動
するようにした方法とした。また、第６の解決手段とし
て、前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側から、前記
第１の孔にガイド棒を挿入するようにした方法とした。
更に、第７の解決手段として、前記支持部材に対して前
記テストピンを上下動可能とし、該テストピンが前記回
路パターンに接触した後、テストピンは移動を停止する
と共に、前記支持部材は移動できるようにした方法とし
た。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に、本発明の電子機器、並びに
その電子機器の測定方法の一実施例を、図１、図２に基
づいて説明すると、図１は、本発明の電子機器、並びに
電子機器の測定装置を示す要部断面図、図２は、電子機
器の測定方法を示す説明図である。そして、本発明にお
ける電子機器は、図１に示すように、上下両側に開放部
２ａ、２ｂを有する四角枠状の枠体２と、矩形状をな
し、下方に折り曲げられた挟持片３ａを有する上部のカ
バー３と、挟持片４ａを有する下部のカバー４を備えて
いる。そして、枠体２の開放部２ａを塞ぐように上部の
カバー３を、また、枠体２の開放部２ｂを塞ぐように下
部のカバー４を、それぞれ枠体２に被せ、挟持片３ａ、
４ａで枠体２を挟持して、箱形の筺体１が構成されてい
る。
その電子機器の測定方法の一実施例を、図１、図２に基
づいて説明すると、図１は、本発明の電子機器、並びに
電子機器の測定装置を示す要部断面図、図２は、電子機
器の測定方法を示す説明図である。そして、本発明にお
ける電子機器は、図１に示すように、上下両側に開放部
２ａ、２ｂを有する四角枠状の枠体２と、矩形状をな
し、下方に折り曲げられた挟持片３ａを有する上部のカ
バー３と、挟持片４ａを有する下部のカバー４を備えて
いる。そして、枠体２の開放部２ａを塞ぐように上部の
カバー３を、また、枠体２の開放部２ｂを塞ぐように下
部のカバー４を、それぞれ枠体２に被せ、挟持片３ａ、
４ａで枠体２を挟持して、箱形の筺体１が構成されてい
る。
【００１０】また、プリント基板５には、所望の配線用
パターン、及び測定用ランドから成る回路パターン６が
形成され、ここでは図示しないが、コイル、抵抗器、コ
ンデンサ等の電気部品がプリント基板５に搭載されて、
これらの電気部品が回路パターン６に接続された構成と
なっている。そして、このように電気部品が搭載された
プリント基板３４は、筺体３０内に収納されて取り付け
られている。また、下部のカバー４には、筺体１内に取
り付けられたプリント基板５の一部の回路パターン６と
対向する位置に、孔４ｂが設けられた構成となってい
る。更に、上下のカバー３と４、及びプリント基板５に
は、筺体１の上下方向において直線状で、筺体１を貫通
する円形の孔３ｃ，４ｃ，５ｃが設けられており、この
孔３ｃ，４ｃ，５ｃは、筺体１に複数個形成されてお
り、この実施例では２個所、設けたものと成っている。
パターン、及び測定用ランドから成る回路パターン６が
形成され、ここでは図示しないが、コイル、抵抗器、コ
ンデンサ等の電気部品がプリント基板５に搭載されて、
これらの電気部品が回路パターン６に接続された構成と
なっている。そして、このように電気部品が搭載された
プリント基板３４は、筺体３０内に収納されて取り付け
られている。また、下部のカバー４には、筺体１内に取
り付けられたプリント基板５の一部の回路パターン６と
対向する位置に、孔４ｂが設けられた構成となってい
る。更に、上下のカバー３と４、及びプリント基板５に
は、筺体１の上下方向において直線状で、筺体１を貫通
する円形の孔３ｃ，４ｃ，５ｃが設けられており、この
孔３ｃ，４ｃ，５ｃは、筺体１に複数個形成されてお
り、この実施例では２個所、設けたものと成っている。
【００１１】そして、このような構成を有する電子機器
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
【００１２】そして、前述のような測定のための電子機
器の測定装置は、図１に示すように、電子機器を保持す
るための保持台１０には、電子機器を受けるための凹部
１０ａと、孔１０ｂとが設けられている。また、取付部
（図示せず）に移動可能に取り付けられた支持部材１１
には、先端に円錐状部１２ａを有する複数個の円柱のガ
イド棒１２と、テストピン１３を取り付けた絶縁体１４
とが取り付けられている。また、絶縁体１４は、その鍔
部１４ａと支持部材１１との間にバネ１５が設けられ、
支持部材１１を挟んで反対側に留め具１６を設けること
によって、テストピン１３と共に上下動可能に、支持部
材１１に取り付けられている。また、モータ等の駆動部
材１７が設けられ、この駆動部材１７に設けられた可動
部１７ａが支持部材１１と関連づけられ、駆動部材１７
の駆動により、可動部１７ａを介して支持部材１１を上
下動するようになっている。
器の測定装置は、図１に示すように、電子機器を保持す
るための保持台１０には、電子機器を受けるための凹部
１０ａと、孔１０ｂとが設けられている。また、取付部
（図示せず）に移動可能に取り付けられた支持部材１１
には、先端に円錐状部１２ａを有する複数個の円柱のガ
イド棒１２と、テストピン１３を取り付けた絶縁体１４
とが取り付けられている。また、絶縁体１４は、その鍔
部１４ａと支持部材１１との間にバネ１５が設けられ、
支持部材１１を挟んで反対側に留め具１６を設けること
によって、テストピン１３と共に上下動可能に、支持部
材１１に取り付けられている。また、モータ等の駆動部
材１７が設けられ、この駆動部材１７に設けられた可動
部１７ａが支持部材１１と関連づけられ、駆動部材１７
の駆動により、可動部１７ａを介して支持部材１１を上
下動するようになっている。
【００１３】そして、上述のような構成を有する本発明
の測定装置における電子機器の測定方法は、図２に示す
ように、先ず、電子機器を保持台１０の凹部１０ａ内に
載置、保持する。次に、図１に状態で駆動部材１７を駆
動して、可動部１７ａで支持部材１１を上方に移動す
る。すると、先ず、ガイド棒１２の円錐状部１２ａが、
カバー４の孔４ｃ内に挿入されながら上方に移動して、
このガイド棒１２によって、カバー４の孔４ｂとテスト
ピン１３との位置決めが確実になされる。更に、駆動部
材１７により支持部材１１を上方に移動すると、ガイド
棒１２は順次プリント基板５の孔５ｃ，カバー３の孔３
ｃに挿入、貫通して電子機器の位置決めを正確に行うよ
うになる。そして、その間に、テストピン１３は、カバ
ー４に接触すると無く孔４ｂに挿通されて、その先端が
回路パターン６に接触する。また、このテストピン１３
が回路パターン６に接触した後、支持部材１１が上方に
移動したときは、テストピン１３は、バネ１５によって
その位置を保持できるようになり、図２に示すような状
態となる。そして、この図２の状態で電子機器の特性、
性能等を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を
行う。そして、測定、検査後、駆動部材１７を駆動し
て、支持部材１１を、図２の状態から図１の状態に移動
すると、電子機器の測定が完了する。
の測定装置における電子機器の測定方法は、図２に示す
ように、先ず、電子機器を保持台１０の凹部１０ａ内に
載置、保持する。次に、図１に状態で駆動部材１７を駆
動して、可動部１７ａで支持部材１１を上方に移動す
る。すると、先ず、ガイド棒１２の円錐状部１２ａが、
カバー４の孔４ｃ内に挿入されながら上方に移動して、
このガイド棒１２によって、カバー４の孔４ｂとテスト
ピン１３との位置決めが確実になされる。更に、駆動部
材１７により支持部材１１を上方に移動すると、ガイド
棒１２は順次プリント基板５の孔５ｃ，カバー３の孔３
ｃに挿入、貫通して電子機器の位置決めを正確に行うよ
うになる。そして、その間に、テストピン１３は、カバ
ー４に接触すると無く孔４ｂに挿通されて、その先端が
回路パターン６に接触する。また、このテストピン１３
が回路パターン６に接触した後、支持部材１１が上方に
移動したときは、テストピン１３は、バネ１５によって
その位置を保持できるようになり、図２に示すような状
態となる。そして、この図２の状態で電子機器の特性、
性能等を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を
行う。そして、測定、検査後、駆動部材１７を駆動し
て、支持部材１１を、図２の状態から図１の状態に移動
すると、電子機器の測定が完了する。
【００１４】図３は、本発明の電子機器の他の実施例を
示し、前記実施例の下部のカバー４に代えて、筺体１を
構成する枠体２に底壁２ｃを設け、この底壁２ｃに、回
路パターン６と対向するテストピン１３の挿通用の孔２
ｄを設けると共に、プリント基板６の孔５ｃに対向する
複数個の孔２ｅを設け、この孔２ｅをガイド棒１２の挿
通用としたもので、その他の構成は前記の実施例と同様
であり、ここでは同一部品に同一番号を付して、その説
明を省略する。そして、このような電子機器において
も、前述した測定装置により同様の方法により、その測
定を行うものである。
示し、前記実施例の下部のカバー４に代えて、筺体１を
構成する枠体２に底壁２ｃを設け、この底壁２ｃに、回
路パターン６と対向するテストピン１３の挿通用の孔２
ｄを設けると共に、プリント基板６の孔５ｃに対向する
複数個の孔２ｅを設け、この孔２ｅをガイド棒１２の挿
通用としたもので、その他の構成は前記の実施例と同様
であり、ここでは同一部品に同一番号を付して、その説
明を省略する。そして、このような電子機器において
も、前述した測定装置により同様の方法により、その測
定を行うものである。
【００１５】また、電子機器は、種々の大きさのものが
存在し、これに伴い、上下方向の高さの異なる種類が存
在する。そして、筺体１の上下方向で、筺体１を貫通す
る孔を設けることにより、高さが低いものは、ガイド棒
１２が筺体１を貫通し、高さが高いものは、ガイド棒１
２の先端が筺体１内に位置することにより、高さの異な
る筺体１であっても、ガイド棒１２を共用できるものと
成っている。
存在し、これに伴い、上下方向の高さの異なる種類が存
在する。そして、筺体１の上下方向で、筺体１を貫通す
る孔を設けることにより、高さが低いものは、ガイド棒
１２が筺体１を貫通し、高さが高いものは、ガイド棒１
２の先端が筺体１内に位置することにより、高さの異な
る筺体１であっても、ガイド棒１２を共用できるものと
成っている。
【００１６】
【発明の効果】本発明の電子機器は、プリント基板とカ
バーに、筺体の上下方向で、筺体を貫通する孔を設けた
ため、この孔を測定時の位置決め用として利用できて、
測定作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来
る。また、筺体を貫通する孔を設けることより、筺体の
高さの異なるものにおいても、同じ測定装置が共用でき
る。また、プリント基板と枠体の底壁に、筺体の上下方
向で、筺体を貫通する孔を設けたため、この孔を測定時
の位置決め用として利用できて、測定作業を容易にし、
作業の短縮化を図ることが出来る。また、筺体を貫通す
る孔を設けることより、筺体の高さの異なるものにおい
ても、同じ測定装置が共用できる。また、筺体を貫通す
る孔を複数個設けることにより、筺体の位置決めを、よ
り正確に出来、更に、作業の確実性と短縮化を図ること
が出来る。また、本発明の測定方法は、筺体を貫通する
孔にガイド棒を挿入して、測定を行うようにしたため、
ガイド棒で筺体の位置決めが出来、測定作業を容易に
し、作業の短縮化を図ることが出来る。また、ガイド棒
とテストピンを同時に支持部材で移動するようにしたた
め、筺体を所定の位置に位置決めしながら、テストピン
が回路パターンに接触することが出来、その作業が極め
て簡単、容易となり、作業性を向上することが出来る。
また、ガイド棒の先端に円錐状部を設けることにより、
ガイド棒の孔への挿入を容易にし、孔へのガイド棒の挿
入動作をより確実に行うことが出来る。更に、支持部材
に対してテストピンを上下動可能にすることによって、
プリント基板の取付誤差、或いは若干の取付位置の変更
においても、テストピンが回路パターンに追従して接触
させることが出来ると共に、テストピンが回路パターン
に接触した後でも、支持部材の移動が可能となり、ガイ
ド棒の移動に融通性を持たせることが出来、位置決めと
接触を確実にすることが出来る。
バーに、筺体の上下方向で、筺体を貫通する孔を設けた
ため、この孔を測定時の位置決め用として利用できて、
測定作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来
る。また、筺体を貫通する孔を設けることより、筺体の
高さの異なるものにおいても、同じ測定装置が共用でき
る。また、プリント基板と枠体の底壁に、筺体の上下方
向で、筺体を貫通する孔を設けたため、この孔を測定時
の位置決め用として利用できて、測定作業を容易にし、
作業の短縮化を図ることが出来る。また、筺体を貫通す
る孔を設けることより、筺体の高さの異なるものにおい
ても、同じ測定装置が共用できる。また、筺体を貫通す
る孔を複数個設けることにより、筺体の位置決めを、よ
り正確に出来、更に、作業の確実性と短縮化を図ること
が出来る。また、本発明の測定方法は、筺体を貫通する
孔にガイド棒を挿入して、測定を行うようにしたため、
ガイド棒で筺体の位置決めが出来、測定作業を容易に
し、作業の短縮化を図ることが出来る。また、ガイド棒
とテストピンを同時に支持部材で移動するようにしたた
め、筺体を所定の位置に位置決めしながら、テストピン
が回路パターンに接触することが出来、その作業が極め
て簡単、容易となり、作業性を向上することが出来る。
また、ガイド棒の先端に円錐状部を設けることにより、
ガイド棒の孔への挿入を容易にし、孔へのガイド棒の挿
入動作をより確実に行うことが出来る。更に、支持部材
に対してテストピンを上下動可能にすることによって、
プリント基板の取付誤差、或いは若干の取付位置の変更
においても、テストピンが回路パターンに追従して接触
させることが出来ると共に、テストピンが回路パターン
に接触した後でも、支持部材の移動が可能となり、ガイ
ド棒の移動に融通性を持たせることが出来、位置決めと
接触を確実にすることが出来る。
【図１】本発明の電子機器、並びにその電子機器の測定
装置を示す要部断面図。
装置を示す要部断面図。
【図２】本発明の電子機器の測定方法を示す説明図。
【図３】本発明の電子機器の他の実施例を示す要部断面
図。
図。
【図４】従来の電子機器、並びにその電子機器の測定装
置を示す要部断面図。
置を示す要部断面図。
【図５】従来の電子機器の測定方法を示す説明図。
１ 筺体 ２ 枠体 ２ａ 開放部 ２ｂ 開放部 ２ｃ 底壁 ２ｄ 孔 ２ｅ 孔 ３ カバー ３ａ 挟持片 ３ｃ 孔 ４ カバー ４ａ 挟持片 ４ｂ 孔 ４ｃ 孔 ５ プリント基板 ５ｃ 孔 ６ 回路パターン １０ 保持台 １０ａ 凹部 １０ｂ 孔 １１ 支持部材 １２ ガイド棒 １２ａ 円錐状部 １３ テストピン １４ 絶縁体 １４ａ 鍔部 １５ バネ １６ 留め具 １７ 駆動部材 １７ａ 可動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小関 正彦 東京都大田区雪谷大塚町１番７号 アルプ ス電気株式会社内
Claims (7)
- 【請求項１】 上下両側に開放部を有する四角枠状の枠
体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成された箱形
の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パターンを有す
るプリント基板とを備え、該プリント基板の回路パター
ンに対向する位置において、前記カバーに孔を設けると
共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記筺体
を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーとに設
けたことを特徴とする電子機器。 - 【請求項２】 開放部と底壁とを有するＵ字型の枠体
と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の
筺体と、前記筺体内に配置され、回路パターンを有する
プリント基板とを備え、該プリント基板の回路パターン
に対向する位置において、前記カバー、或いは前記底壁
に孔を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線
状で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前
記カバーと前記底壁とに設けたことを特徴とする電子機
器。 - 【請求項３】 前記筺体を貫通する前記孔を複数個設け
たことを特徴とする請求項１、又は２記載の電子機器。 - 【請求項４】 筺体の上下方向において直線状で、筺体
を貫通して設けられた一個、又は複数個の第１の孔と、
前記筺体内に配置されたプリント基板に形成された回路
パターンに対向してカバー、又は底壁に設けられた第２
の孔を有する電子機器の、前記第１の孔にガイド棒を挿
入した状態で、前記第２の孔にテストピンを挿入し、該
テストピンを前記回路パターンに接触させたことを特徴
とする電子機器の測定方法。 - 【請求項５】 前記ガイド棒とテストピンとを支持した
支持部材を駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを
同時に駆動するようにしたことを特徴とする請求項４記
載の電子機器の測定方法。 - 【請求項６】 前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側
から、前記第１の孔にガイド棒を挿入するようにしたこ
とを特徴とする請求項４、又は５記載の電子機器の測定
方法。 - 【請求項７】 前記支持部材に対して前記テストピンを
上下動可能とし、該テストピンが前記回路パターンに接
触した後、テストピンは移動を停止すると共に、前記支
持部材は移動できるようにしたことを特徴とする請求項
５、又は６記載の電子機器の測定方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9087812A JPH10282172A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
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| GB9805395A GB2326772B (en) | 1997-04-07 | 1998-03-16 | Electronic device and method for measuring the electronic device |
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| KR1019980012028A KR19980081120A (ko) | 1997-04-07 | 1998-04-06 | 전자기기 및 그 전자기기의 측정방법 |
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|---|---|---|---|
| JP9087812A JPH10282172A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
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Family Applications (1)
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN112711244A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-27 | 张雪梅 | 汽车电动尾门控制单元快速检测设备 |
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-
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- 1998-03-16 GB GB9805395A patent/GB2326772B/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-03 CN CN98101241A patent/CN1102019C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-06 KR KR1019980012028A patent/KR19980081120A/ko not_active Application Discontinuation
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| CN112711244B (zh) * | 2020-12-18 | 2022-01-14 | 上海勤达科技有限公司 | 汽车电动尾门控制单元快速检测设备 |
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