JPH10282172A - 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 - Google Patents
電子機器、並びにその電子機器の測定方法Info
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- JPH10282172A JPH10282172A JP9087812A JP8781297A JPH10282172A JP H10282172 A JPH10282172 A JP H10282172A JP 9087812 A JP9087812 A JP 9087812A JP 8781297 A JP8781297 A JP 8781297A JP H10282172 A JPH10282172 A JP H10282172A
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- G01R1/02—General constructional details
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
- Casings For Electric Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の電子機器は、カバー33には、回路パ
ターン35に対向する孔33bだけが設けられるもので
あるため、測定時に、電子機器を移動、調整せねば成ら
ず、その作業が面倒で、測定作業に手間がかかるという
問題がある。 【解決手段】 本発明の電子機器は、プリント基板5と
カバー3、4に、筺体1の上下方向で、筺体1を貫通す
る孔5c,3c,4cを設けたため、この孔5c,3
c,4cを測定時の位置決め用として利用できて、測定
作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来る。
ターン35に対向する孔33bだけが設けられるもので
あるため、測定時に、電子機器を移動、調整せねば成ら
ず、その作業が面倒で、測定作業に手間がかかるという
問題がある。 【解決手段】 本発明の電子機器は、プリント基板5と
カバー3、4に、筺体1の上下方向で、筺体1を貫通す
る孔5c,3c,4cを設けたため、この孔5c,3
c,4cを測定時の位置決め用として利用できて、測定
作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、テレビチューナ等
に使用される電子機器、並びにその電子機器の検査、或
いは調整等のための測定方法に関する。
に使用される電子機器、並びにその電子機器の検査、或
いは調整等のための測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来におけるチューナ等の電子機器は、
図4に示すように、上下両側に開放部31aを有する口
型の枠体31と、矩形状をなし、下方に折り曲げられた
挟持片32aを有する上部のカバー32と、挟持片33
aを有する下部のカバー33を備えている。そして、枠
体31の開放部31aを塞ぐように、上下のカバー3
2、33を枠体31に被せ、挟持片32a、33aで枠
体31を挟持して、箱形の筺体30が構成されている。
図4に示すように、上下両側に開放部31aを有する口
型の枠体31と、矩形状をなし、下方に折り曲げられた
挟持片32aを有する上部のカバー32と、挟持片33
aを有する下部のカバー33を備えている。そして、枠
体31の開放部31aを塞ぐように、上下のカバー3
2、33を枠体31に被せ、挟持片32a、33aで枠
体31を挟持して、箱形の筺体30が構成されている。
【0003】また、プリント基板34には、所望の回路
パターン35が形成され、ここでは図示しないが、コイ
ル、抵抗器、コンデンサ等の電気部品がプリント基板3
4に搭載されて、これらの電気部品が回路パターン35
に接続された構成となっている。そして、このように電
気部品が搭載されたプリント基板34は、筺体30内に
収納されて取り付けられている。また、下部のカバー3
3には、筺体30内に取り付けられたプリント基板34
の一部の回路パターン35と対向する位置に、孔33b
が設けられた構成となっている。
パターン35が形成され、ここでは図示しないが、コイ
ル、抵抗器、コンデンサ等の電気部品がプリント基板3
4に搭載されて、これらの電気部品が回路パターン35
に接続された構成となっている。そして、このように電
気部品が搭載されたプリント基板34は、筺体30内に
収納されて取り付けられている。また、下部のカバー3
3には、筺体30内に取り付けられたプリント基板34
の一部の回路パターン35と対向する位置に、孔33b
が設けられた構成となっている。
【0004】そして、このような構成を有する電子機器
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
【0005】そして、前述のような測定のための電子機
器の測定装置は、図4に示すように、電子機器を保持す
るための保持台40には、電子機器を受けるための凹部
40aと、孔40bとが設けられている。また、治具
(図示せず)に移動可能に取り付けられた可動部41に
は、絶縁体42を介してテストピン43が取り付けら
れ、手動によって可動体41を動かし、テストピン43
を、保持台40の孔40bに出し入れするようにしてい
る。
器の測定装置は、図4に示すように、電子機器を保持す
るための保持台40には、電子機器を受けるための凹部
40aと、孔40bとが設けられている。また、治具
(図示せず)に移動可能に取り付けられた可動部41に
は、絶縁体42を介してテストピン43が取り付けら
れ、手動によって可動体41を動かし、テストピン43
を、保持台40の孔40bに出し入れするようにしてい
る。
【0006】そして、従来における電子機器の測定方法
は、図5に示すように、先ず、電子機器を保持台40の
凹部40a内に載置する。次に、可動体41を、図4の
状態から図5に示すように、治具をガイドにして、手動
により上方に移動する。この時、テストピン43がカバ
ー33に接触しないように、電子機器を手で移動して調
整しながら、カバー33の孔33bにテストピン43を
挿入し、テストピン43の先端を回路パターン35に接
触させる。そして、この状態で電子機器の特性、性能等
を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を行う。
そして、測定、検査後、可動体41を図4に示すような
状態に移動すると、電子機器の測定が完了する。
は、図5に示すように、先ず、電子機器を保持台40の
凹部40a内に載置する。次に、可動体41を、図4の
状態から図5に示すように、治具をガイドにして、手動
により上方に移動する。この時、テストピン43がカバ
ー33に接触しないように、電子機器を手で移動して調
整しながら、カバー33の孔33bにテストピン43を
挿入し、テストピン43の先端を回路パターン35に接
触させる。そして、この状態で電子機器の特性、性能等
を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を行う。
そして、測定、検査後、可動体41を図4に示すような
状態に移動すると、電子機器の測定が完了する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子機器は、カ
バー33には、回路パターン35に対向する孔33bだ
けが設けられるものであるため、測定時に、電子機器を
移動、調整せねば成らず、その作業が面倒で、測定作業
に手間がかかるという問題がある。また、従来の測定方
法は、保持台40に電子機器を載置し、手動による可動
体41によって、テストピン43をカバー33の孔33
aに挿入するため、電子機器の位置決めが不確実で、電
子機器の手動による調整が必要で、また、可動体41が
手動による移動であるため、その作業が面倒で、測定作
業に手間がかかり、生産性が悪いという問題がある。
バー33には、回路パターン35に対向する孔33bだ
けが設けられるものであるため、測定時に、電子機器を
移動、調整せねば成らず、その作業が面倒で、測定作業
に手間がかかるという問題がある。また、従来の測定方
法は、保持台40に電子機器を載置し、手動による可動
体41によって、テストピン43をカバー33の孔33
aに挿入するため、電子機器の位置決めが不確実で、電
子機器の手動による調整が必要で、また、可動体41が
手動による移動であるため、その作業が面倒で、測定作
業に手間がかかり、生産性が悪いという問題がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に第1の解決手段として、上下両側に開放部を有する四
角枠状の枠体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成
された箱形の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パタ
ーンを有するプリント基板とを備え、該プリント基板の
回路パターンに対向する位置において、前記カバーに孔
を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線状
で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記
カバーとに設けた構成とした。また、第2の解決手段と
して、開放部と底壁とを有するU字型の枠体と、該枠体
の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の筺体と、前
記筺体内に配置され、回路パターンを有するプリント基
板とを備え、該プリント基板の回路パターンに対向する
位置において、前記カバー、或いは前記底壁に孔を設け
ると共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記
筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーと
前記底壁とに設けた構成とした。また、第3の解決手段
として、前記筺体を貫通する前記孔を複数個設けた構成
とした。また、第4の解決手段として、筺体の上下方向
において直線状で、筺体を貫通して設けられた一個、又
は複数個の第1の孔と、前記筺体内に配置されたプリン
ト基板に形成された回路パターンに対向してカバー、又
は底壁に設けられた第2の孔を有する電子機器の、前記
第1の孔にガイド棒を挿入した状態で、前記第2の孔に
テストピンを挿入し、該テストピンを前記回路パターン
に接触させた方法とした。また、第5の解決手段とし
て、前記ガイド棒とテストピンとを支持した支持部材を
駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを同時に駆動
するようにした方法とした。また、第6の解決手段とし
て、前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側から、前記
第1の孔にガイド棒を挿入するようにした方法とした。
更に、第7の解決手段として、前記支持部材に対して前
記テストピンを上下動可能とし、該テストピンが前記回
路パターンに接触した後、テストピンは移動を停止する
と共に、前記支持部材は移動できるようにした方法とし
た。
に第1の解決手段として、上下両側に開放部を有する四
角枠状の枠体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成
された箱形の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パタ
ーンを有するプリント基板とを備え、該プリント基板の
回路パターンに対向する位置において、前記カバーに孔
を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線状
で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記
カバーとに設けた構成とした。また、第2の解決手段と
して、開放部と底壁とを有するU字型の枠体と、該枠体
の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の筺体と、前
記筺体内に配置され、回路パターンを有するプリント基
板とを備え、該プリント基板の回路パターンに対向する
位置において、前記カバー、或いは前記底壁に孔を設け
ると共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記
筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーと
前記底壁とに設けた構成とした。また、第3の解決手段
として、前記筺体を貫通する前記孔を複数個設けた構成
とした。また、第4の解決手段として、筺体の上下方向
において直線状で、筺体を貫通して設けられた一個、又
は複数個の第1の孔と、前記筺体内に配置されたプリン
ト基板に形成された回路パターンに対向してカバー、又
は底壁に設けられた第2の孔を有する電子機器の、前記
第1の孔にガイド棒を挿入した状態で、前記第2の孔に
テストピンを挿入し、該テストピンを前記回路パターン
に接触させた方法とした。また、第5の解決手段とし
て、前記ガイド棒とテストピンとを支持した支持部材を
駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを同時に駆動
するようにした方法とした。また、第6の解決手段とし
て、前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側から、前記
第1の孔にガイド棒を挿入するようにした方法とした。
更に、第7の解決手段として、前記支持部材に対して前
記テストピンを上下動可能とし、該テストピンが前記回
路パターンに接触した後、テストピンは移動を停止する
と共に、前記支持部材は移動できるようにした方法とし
た。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の電子機器、並びに
その電子機器の測定方法の一実施例を、図1、図2に基
づいて説明すると、図1は、本発明の電子機器、並びに
電子機器の測定装置を示す要部断面図、図2は、電子機
器の測定方法を示す説明図である。そして、本発明にお
ける電子機器は、図1に示すように、上下両側に開放部
2a、2bを有する四角枠状の枠体2と、矩形状をな
し、下方に折り曲げられた挟持片3aを有する上部のカ
バー3と、挟持片4aを有する下部のカバー4を備えて
いる。そして、枠体2の開放部2aを塞ぐように上部の
カバー3を、また、枠体2の開放部2bを塞ぐように下
部のカバー4を、それぞれ枠体2に被せ、挟持片3a、
4aで枠体2を挟持して、箱形の筺体1が構成されてい
る。
その電子機器の測定方法の一実施例を、図1、図2に基
づいて説明すると、図1は、本発明の電子機器、並びに
電子機器の測定装置を示す要部断面図、図2は、電子機
器の測定方法を示す説明図である。そして、本発明にお
ける電子機器は、図1に示すように、上下両側に開放部
2a、2bを有する四角枠状の枠体2と、矩形状をな
し、下方に折り曲げられた挟持片3aを有する上部のカ
バー3と、挟持片4aを有する下部のカバー4を備えて
いる。そして、枠体2の開放部2aを塞ぐように上部の
カバー3を、また、枠体2の開放部2bを塞ぐように下
部のカバー4を、それぞれ枠体2に被せ、挟持片3a、
4aで枠体2を挟持して、箱形の筺体1が構成されてい
る。
【0010】また、プリント基板5には、所望の配線用
パターン、及び測定用ランドから成る回路パターン6が
形成され、ここでは図示しないが、コイル、抵抗器、コ
ンデンサ等の電気部品がプリント基板5に搭載されて、
これらの電気部品が回路パターン6に接続された構成と
なっている。そして、このように電気部品が搭載された
プリント基板34は、筺体30内に収納されて取り付け
られている。また、下部のカバー4には、筺体1内に取
り付けられたプリント基板5の一部の回路パターン6と
対向する位置に、孔4bが設けられた構成となってい
る。更に、上下のカバー3と4、及びプリント基板5に
は、筺体1の上下方向において直線状で、筺体1を貫通
する円形の孔3c,4c,5cが設けられており、この
孔3c,4c,5cは、筺体1に複数個形成されてお
り、この実施例では2個所、設けたものと成っている。
パターン、及び測定用ランドから成る回路パターン6が
形成され、ここでは図示しないが、コイル、抵抗器、コ
ンデンサ等の電気部品がプリント基板5に搭載されて、
これらの電気部品が回路パターン6に接続された構成と
なっている。そして、このように電気部品が搭載された
プリント基板34は、筺体30内に収納されて取り付け
られている。また、下部のカバー4には、筺体1内に取
り付けられたプリント基板5の一部の回路パターン6と
対向する位置に、孔4bが設けられた構成となってい
る。更に、上下のカバー3と4、及びプリント基板5に
は、筺体1の上下方向において直線状で、筺体1を貫通
する円形の孔3c,4c,5cが設けられており、この
孔3c,4c,5cは、筺体1に複数個形成されてお
り、この実施例では2個所、設けたものと成っている。
【0011】そして、このような構成を有する電子機器
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
は、組み立てられた完成後、所望の電気的特性、或いは
性能等を備えているかどうかを、特定の回路の部分で測
定、検査される。そして、この測定、検査により、必要
に応じて、コイル等の調整を行い、所望の特性、性能の
電子機器を得るものである。
【0012】そして、前述のような測定のための電子機
器の測定装置は、図1に示すように、電子機器を保持す
るための保持台10には、電子機器を受けるための凹部
10aと、孔10bとが設けられている。また、取付部
(図示せず)に移動可能に取り付けられた支持部材11
には、先端に円錐状部12aを有する複数個の円柱のガ
イド棒12と、テストピン13を取り付けた絶縁体14
とが取り付けられている。また、絶縁体14は、その鍔
部14aと支持部材11との間にバネ15が設けられ、
支持部材11を挟んで反対側に留め具16を設けること
によって、テストピン13と共に上下動可能に、支持部
材11に取り付けられている。また、モータ等の駆動部
材17が設けられ、この駆動部材17に設けられた可動
部17aが支持部材11と関連づけられ、駆動部材17
の駆動により、可動部17aを介して支持部材11を上
下動するようになっている。
器の測定装置は、図1に示すように、電子機器を保持す
るための保持台10には、電子機器を受けるための凹部
10aと、孔10bとが設けられている。また、取付部
(図示せず)に移動可能に取り付けられた支持部材11
には、先端に円錐状部12aを有する複数個の円柱のガ
イド棒12と、テストピン13を取り付けた絶縁体14
とが取り付けられている。また、絶縁体14は、その鍔
部14aと支持部材11との間にバネ15が設けられ、
支持部材11を挟んで反対側に留め具16を設けること
によって、テストピン13と共に上下動可能に、支持部
材11に取り付けられている。また、モータ等の駆動部
材17が設けられ、この駆動部材17に設けられた可動
部17aが支持部材11と関連づけられ、駆動部材17
の駆動により、可動部17aを介して支持部材11を上
下動するようになっている。
【0013】そして、上述のような構成を有する本発明
の測定装置における電子機器の測定方法は、図2に示す
ように、先ず、電子機器を保持台10の凹部10a内に
載置、保持する。次に、図1に状態で駆動部材17を駆
動して、可動部17aで支持部材11を上方に移動す
る。すると、先ず、ガイド棒12の円錐状部12aが、
カバー4の孔4c内に挿入されながら上方に移動して、
このガイド棒12によって、カバー4の孔4bとテスト
ピン13との位置決めが確実になされる。更に、駆動部
材17により支持部材11を上方に移動すると、ガイド
棒12は順次プリント基板5の孔5c,カバー3の孔3
cに挿入、貫通して電子機器の位置決めを正確に行うよ
うになる。そして、その間に、テストピン13は、カバ
ー4に接触すると無く孔4bに挿通されて、その先端が
回路パターン6に接触する。また、このテストピン13
が回路パターン6に接触した後、支持部材11が上方に
移動したときは、テストピン13は、バネ15によって
その位置を保持できるようになり、図2に示すような状
態となる。そして、この図2の状態で電子機器の特性、
性能等を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を
行う。そして、測定、検査後、駆動部材17を駆動し
て、支持部材11を、図2の状態から図1の状態に移動
すると、電子機器の測定が完了する。
の測定装置における電子機器の測定方法は、図2に示す
ように、先ず、電子機器を保持台10の凹部10a内に
載置、保持する。次に、図1に状態で駆動部材17を駆
動して、可動部17aで支持部材11を上方に移動す
る。すると、先ず、ガイド棒12の円錐状部12aが、
カバー4の孔4c内に挿入されながら上方に移動して、
このガイド棒12によって、カバー4の孔4bとテスト
ピン13との位置決めが確実になされる。更に、駆動部
材17により支持部材11を上方に移動すると、ガイド
棒12は順次プリント基板5の孔5c,カバー3の孔3
cに挿入、貫通して電子機器の位置決めを正確に行うよ
うになる。そして、その間に、テストピン13は、カバ
ー4に接触すると無く孔4bに挿通されて、その先端が
回路パターン6に接触する。また、このテストピン13
が回路パターン6に接触した後、支持部材11が上方に
移動したときは、テストピン13は、バネ15によって
その位置を保持できるようになり、図2に示すような状
態となる。そして、この図2の状態で電子機器の特性、
性能等を測定、検査し、必要に応じて電子機器の調整を
行う。そして、測定、検査後、駆動部材17を駆動し
て、支持部材11を、図2の状態から図1の状態に移動
すると、電子機器の測定が完了する。
【0014】図3は、本発明の電子機器の他の実施例を
示し、前記実施例の下部のカバー4に代えて、筺体1を
構成する枠体2に底壁2cを設け、この底壁2cに、回
路パターン6と対向するテストピン13の挿通用の孔2
dを設けると共に、プリント基板6の孔5cに対向する
複数個の孔2eを設け、この孔2eをガイド棒12の挿
通用としたもので、その他の構成は前記の実施例と同様
であり、ここでは同一部品に同一番号を付して、その説
明を省略する。そして、このような電子機器において
も、前述した測定装置により同様の方法により、その測
定を行うものである。
示し、前記実施例の下部のカバー4に代えて、筺体1を
構成する枠体2に底壁2cを設け、この底壁2cに、回
路パターン6と対向するテストピン13の挿通用の孔2
dを設けると共に、プリント基板6の孔5cに対向する
複数個の孔2eを設け、この孔2eをガイド棒12の挿
通用としたもので、その他の構成は前記の実施例と同様
であり、ここでは同一部品に同一番号を付して、その説
明を省略する。そして、このような電子機器において
も、前述した測定装置により同様の方法により、その測
定を行うものである。
【0015】また、電子機器は、種々の大きさのものが
存在し、これに伴い、上下方向の高さの異なる種類が存
在する。そして、筺体1の上下方向で、筺体1を貫通す
る孔を設けることにより、高さが低いものは、ガイド棒
12が筺体1を貫通し、高さが高いものは、ガイド棒1
2の先端が筺体1内に位置することにより、高さの異な
る筺体1であっても、ガイド棒12を共用できるものと
成っている。
存在し、これに伴い、上下方向の高さの異なる種類が存
在する。そして、筺体1の上下方向で、筺体1を貫通す
る孔を設けることにより、高さが低いものは、ガイド棒
12が筺体1を貫通し、高さが高いものは、ガイド棒1
2の先端が筺体1内に位置することにより、高さの異な
る筺体1であっても、ガイド棒12を共用できるものと
成っている。
【0016】
【発明の効果】本発明の電子機器は、プリント基板とカ
バーに、筺体の上下方向で、筺体を貫通する孔を設けた
ため、この孔を測定時の位置決め用として利用できて、
測定作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来
る。また、筺体を貫通する孔を設けることより、筺体の
高さの異なるものにおいても、同じ測定装置が共用でき
る。また、プリント基板と枠体の底壁に、筺体の上下方
向で、筺体を貫通する孔を設けたため、この孔を測定時
の位置決め用として利用できて、測定作業を容易にし、
作業の短縮化を図ることが出来る。また、筺体を貫通す
る孔を設けることより、筺体の高さの異なるものにおい
ても、同じ測定装置が共用できる。また、筺体を貫通す
る孔を複数個設けることにより、筺体の位置決めを、よ
り正確に出来、更に、作業の確実性と短縮化を図ること
が出来る。また、本発明の測定方法は、筺体を貫通する
孔にガイド棒を挿入して、測定を行うようにしたため、
ガイド棒で筺体の位置決めが出来、測定作業を容易に
し、作業の短縮化を図ることが出来る。また、ガイド棒
とテストピンを同時に支持部材で移動するようにしたた
め、筺体を所定の位置に位置決めしながら、テストピン
が回路パターンに接触することが出来、その作業が極め
て簡単、容易となり、作業性を向上することが出来る。
また、ガイド棒の先端に円錐状部を設けることにより、
ガイド棒の孔への挿入を容易にし、孔へのガイド棒の挿
入動作をより確実に行うことが出来る。更に、支持部材
に対してテストピンを上下動可能にすることによって、
プリント基板の取付誤差、或いは若干の取付位置の変更
においても、テストピンが回路パターンに追従して接触
させることが出来ると共に、テストピンが回路パターン
に接触した後でも、支持部材の移動が可能となり、ガイ
ド棒の移動に融通性を持たせることが出来、位置決めと
接触を確実にすることが出来る。
バーに、筺体の上下方向で、筺体を貫通する孔を設けた
ため、この孔を測定時の位置決め用として利用できて、
測定作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来
る。また、筺体を貫通する孔を設けることより、筺体の
高さの異なるものにおいても、同じ測定装置が共用でき
る。また、プリント基板と枠体の底壁に、筺体の上下方
向で、筺体を貫通する孔を設けたため、この孔を測定時
の位置決め用として利用できて、測定作業を容易にし、
作業の短縮化を図ることが出来る。また、筺体を貫通す
る孔を設けることより、筺体の高さの異なるものにおい
ても、同じ測定装置が共用できる。また、筺体を貫通す
る孔を複数個設けることにより、筺体の位置決めを、よ
り正確に出来、更に、作業の確実性と短縮化を図ること
が出来る。また、本発明の測定方法は、筺体を貫通する
孔にガイド棒を挿入して、測定を行うようにしたため、
ガイド棒で筺体の位置決めが出来、測定作業を容易に
し、作業の短縮化を図ることが出来る。また、ガイド棒
とテストピンを同時に支持部材で移動するようにしたた
め、筺体を所定の位置に位置決めしながら、テストピン
が回路パターンに接触することが出来、その作業が極め
て簡単、容易となり、作業性を向上することが出来る。
また、ガイド棒の先端に円錐状部を設けることにより、
ガイド棒の孔への挿入を容易にし、孔へのガイド棒の挿
入動作をより確実に行うことが出来る。更に、支持部材
に対してテストピンを上下動可能にすることによって、
プリント基板の取付誤差、或いは若干の取付位置の変更
においても、テストピンが回路パターンに追従して接触
させることが出来ると共に、テストピンが回路パターン
に接触した後でも、支持部材の移動が可能となり、ガイ
ド棒の移動に融通性を持たせることが出来、位置決めと
接触を確実にすることが出来る。
【図1】本発明の電子機器、並びにその電子機器の測定
装置を示す要部断面図。
装置を示す要部断面図。
【図2】本発明の電子機器の測定方法を示す説明図。
【図3】本発明の電子機器の他の実施例を示す要部断面
図。
図。
【図4】従来の電子機器、並びにその電子機器の測定装
置を示す要部断面図。
置を示す要部断面図。
【図5】従来の電子機器の測定方法を示す説明図。
1 筺体 2 枠体 2a 開放部 2b 開放部 2c 底壁 2d 孔 2e 孔 3 カバー 3a 挟持片 3c 孔 4 カバー 4a 挟持片 4b 孔 4c 孔 5 プリント基板 5c 孔 6 回路パターン 10 保持台 10a 凹部 10b 孔 11 支持部材 12 ガイド棒 12a 円錐状部 13 テストピン 14 絶縁体 14a 鍔部 15 バネ 16 留め具 17 駆動部材 17a 可動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小関 正彦 東京都大田区雪谷大塚町1番7号 アルプ ス電気株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】 上下両側に開放部を有する四角枠状の枠
体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成された箱形
の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パターンを有す
るプリント基板とを備え、該プリント基板の回路パター
ンに対向する位置において、前記カバーに孔を設けると
共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記筺体
を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーとに設
けたことを特徴とする電子機器。 - 【請求項2】 開放部と底壁とを有するU字型の枠体
と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の
筺体と、前記筺体内に配置され、回路パターンを有する
プリント基板とを備え、該プリント基板の回路パターン
に対向する位置において、前記カバー、或いは前記底壁
に孔を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線
状で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前
記カバーと前記底壁とに設けたことを特徴とする電子機
器。 - 【請求項3】 前記筺体を貫通する前記孔を複数個設け
たことを特徴とする請求項1、又は2記載の電子機器。 - 【請求項4】 筺体の上下方向において直線状で、筺体
を貫通して設けられた一個、又は複数個の第1の孔と、
前記筺体内に配置されたプリント基板に形成された回路
パターンに対向してカバー、又は底壁に設けられた第2
の孔を有する電子機器の、前記第1の孔にガイド棒を挿
入した状態で、前記第2の孔にテストピンを挿入し、該
テストピンを前記回路パターンに接触させたことを特徴
とする電子機器の測定方法。 - 【請求項5】 前記ガイド棒とテストピンとを支持した
支持部材を駆動して、前記ガイド棒と前記テストピンを
同時に駆動するようにしたことを特徴とする請求項4記
載の電子機器の測定方法。 - 【請求項6】 前記ガイド棒の先端に設けた円錐状部側
から、前記第1の孔にガイド棒を挿入するようにしたこ
とを特徴とする請求項4、又は5記載の電子機器の測定
方法。 - 【請求項7】 前記支持部材に対して前記テストピンを
上下動可能とし、該テストピンが前記回路パターンに接
触した後、テストピンは移動を停止すると共に、前記支
持部材は移動できるようにしたことを特徴とする請求項
5、又は6記載の電子機器の測定方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9087812A JPH10282172A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
MYPI9801112 MY129515A (en) | 1997-04-07 | 1998-03-13 | Electronic device and method for measuring the electronic device |
GB9805395A GB2326772B (en) | 1997-04-07 | 1998-03-16 | Electronic device and method for measuring the electronic device |
CN98101241A CN1102019C (zh) | 1997-04-07 | 1998-04-03 | 电子装置、电子装置的测定装置以及测定方法 |
KR1019980012028A KR19980081120A (ko) | 1997-04-07 | 1998-04-06 | 전자기기 및 그 전자기기의 측정방법 |
MXPA/A/1998/002725A MXPA98002725A (en) | 1997-04-07 | 1998-04-06 | Electronic device and method for measuring the electron device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9087812A JPH10282172A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10282172A true JPH10282172A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=13925398
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9087812A Pending JPH10282172A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10282172A (ja) |
KR (1) | KR19980081120A (ja) |
CN (1) | CN1102019C (ja) |
GB (1) | GB2326772B (ja) |
MY (1) | MY129515A (ja) |
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---|---|---|---|---|
JP2006080435A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | 回路基板検査装置 |
CN112711244A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-27 | 张雪梅 | 汽车电动尾门控制单元快速检测设备 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6066957A (en) * | 1997-09-11 | 2000-05-23 | Delaware Capital Formation, Inc. | Floating spring probe wireless test fixture |
WO2000035262A2 (en) * | 1998-12-04 | 2000-06-15 | Formfactor, Inc. | Method for mounting an electronic component |
CN101784166A (zh) * | 2010-03-05 | 2010-07-21 | 苏州工业园区时代华龙科技有限公司 | Pcb电路板工艺边框结构 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5928348A (ja) * | 1982-08-09 | 1984-02-15 | Hitachi Ltd | 物品収容数量検出装置 |
DE3723570A1 (de) * | 1986-08-29 | 1989-01-26 | Siemens Ag | Kontaktiervorrichtung in form einer sogenannten nadelkarte fuer zu pruefende hochpolige bauelemente der mikroelektronik |
JPH0775817B2 (ja) * | 1989-02-27 | 1995-08-16 | 富士機械製造株式会社 | 電子部品の保持位置検出装置 |
JP2937785B2 (ja) * | 1995-02-02 | 1999-08-23 | ヤマハ発動機株式会社 | 実装機の部品状態検出装置 |
-
1997
- 1997-04-07 JP JP9087812A patent/JPH10282172A/ja active Pending
-
1998
- 1998-03-13 MY MYPI9801112 patent/MY129515A/en unknown
- 1998-03-16 GB GB9805395A patent/GB2326772B/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-03 CN CN98101241A patent/CN1102019C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-06 KR KR1019980012028A patent/KR19980081120A/ko not_active Application Discontinuation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2326772A (en) | 1998-12-30 |
CN1102019C (zh) | 2003-02-19 |
CN1195964A (zh) | 1998-10-14 |
GB2326772B (en) | 2001-07-11 |
KR19980081120A (ko) | 1998-11-25 |
MX9802725A (es) | 1998-12-31 |
MY129515A (en) | 2007-04-30 |
GB9805395D0 (en) | 1998-05-06 |
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