JPH10272427A - Granular substance inspection method and granular substance inspection device - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To carry out highly accurate inspection by a relatively simple operation and mechanism and to surely remove foreign matter from a granular substance. SOLUTION: In this granular substance inspection method, a granular substance p is continuously fed onto the outer peripheral surface of a rotating inspection drum 1 to form a uniform thin layer p1 of the granular substance p on the outer peripheral surface of the inspection drum 1, after it is carried by about a quarter of a circuit through the rotation of the inspection drum 1, it is continuously dropped and recovered and also the granular substance layer p1 on the inspection drum 1 is photographed during being carried by about a quarter of a circuit to take in an image of the granular substance layer p1. The obtained image is applied to image processing to detect the foreign mater intruded into the granular substance p and a prescribed quantity of a granular substance p3 containing the foreign matter is separated and removed from a flow p2 of the granular substance dropped from the inspection drum 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、医薬品、食品、化
成品等の原料、半製品、製品など、各種の粉粒体中に混
入した異物を検出して除去するための粉粒体の検査方
法、及び粉粒体検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection of powders and granules for detecting and removing foreign substances mixed in various kinds of powders, such as raw materials, semi-finished products and products of pharmaceuticals, foods and chemical products. The present invention relates to a method and a granular material inspection device.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来から、医薬品、食品等の分野では、
製造原料や製品又は半製品の粉粒体中に混入した、金属
片、毛髪、汚れた粒子、その他の異物（本明細書では、
汚れた粒子なども含めてこれらを「異物」と総称する）
を取り除くための異物検査が行われている。このよう
な、粉粒体の異物検査は、従来作業員による目視検査に
より行われてきたが、近年、作業員の目視検査に代わっ
て粉粒体の検査を自動的に行う検査装置が用いられるよ
うになってきている。2. Description of the Related Art Conventionally, in the fields of pharmaceuticals and foods,
Metal fragments, hair, soiled particles, and other foreign substances mixed in the powder of the raw materials for production or products or semi-finished products (in this specification,
These are collectively referred to as "foreign matter" including dirty particles.)
Inspection of foreign matter to remove the dust is performed. Conventionally, such foreign material inspection of the granular material has been performed by a visual inspection by an operator. In recent years, an inspection device that automatically performs an inspection of the granular material instead of the visual inspection of the operator is used. It is becoming.

【０００３】このような粉粒体の自動検査を行う従来の
装置としては、特公平３−６０３８１号公報に記載され
た装置を例示することができる。[0003] As a conventional apparatus for performing such an automatic inspection of a granular material, an apparatus described in Japanese Patent Publication No. 3-60381 can be exemplified.

【０００４】この従来の検査装置は、図５に示した構成
となっている。即ち、図中ａ１，ａ２は、所定の間隔も
って並列配置された一対の透明回転円筒であり、この透
明回転円筒ａ１，ａ２の間に粉粒体が通過する粉粒体落
下通路ｂが形成されている。この落下通路ｂの上方に
は、落下通路ｂに粉粒体を案内する落下ガイドｃが設け
られていると共に、落下通路ｂの下方には、粉粒体を落
下通路ｂの下方に配設された選別装置ｄに案内する回収
ガイドｅが設けられている。また、図中ｆはホッパーｆ
１内に貯留された粉粒体ｐを振動発生装置ｆ２により連
続的に上記落下ガイドｃ内へと落下させる供給部であ
り、図中ｇは上記選別装置ｄを通過してきた粉粒体ｐを
回収する回収容器である。[0004] This conventional inspection apparatus has a configuration shown in FIG. That is, in the drawing, a1 and a2 are a pair of transparent rotary cylinders arranged in parallel at a predetermined interval, and a powder drop passage b through which the powder passes is formed between the transparent rotary cylinders a1 and a2. ing. Above the drop passage b, there is provided a drop guide c for guiding the powder and granules to the drop passage b, and below the drop passage b, the powder and granules are disposed below the drop passage b. And a collection guide e for guiding to the sorting device d. In the figure, f is a hopper f
1 is a supply unit for continuously dropping the granular material p stored in 1 into the dropping guide c by the vibration generating device f2. In the figure, g denotes the granular material p passing through the sorting device d. It is a collection container to collect.

【０００５】上記一方の透明回転円筒ａ１内には、ハー
フミラーｈと反射光源ｊ１とが配設されており、この反
射光源ｊ１からハーフミラーｈを透過させて上記落下通
路ｂ内を通過する粉粒体ｐに反射光を照射すると共に、
粉粒体ｐからの反射光がハーフミラーｈにより反射して
透明回転円筒ａ１の外側に配置されたラインセンサカメ
ラｋに入射するようになっている。また、上記他方の透
明回転円筒ａ２内には、透過光源ｊ２が配設されてお
り、この透過光源ｊ２から上記落下通路ｂ内に透過光を
照射すると共に、この透過光が落下通路ｂ内を通過する
粉粒体ｐに遮られずに落下通路ｂを透過した場合には、
この透過光が上記ハーフミラーｈに反射して上記ライン
センサカメラｋに入射するようになっている。この場
合、この透過光源ｊ２からの透過光の光量は、上記反射
光源ｊ１からの反射光が良品の粒子（汚れ等の不良がな
い粉粒体粒子）に反射した反射光の光量と等しくなるよ
うに設定されており、これにより粉粒体粒子が上記落下
通路ｂに存在せずに上記反射光が落下通路ｂを透過して
しまう場合でも、等しい光量を有する上記透過光がハー
フミラーｈを介してラインセンサカメラｋに入射するよ
うになっている。[0005] A half mirror h and a reflection light source j1 are arranged in the one transparent rotary cylinder a1, and the powder passing through the falling passage b through the half mirror h from the reflection light source j1. While irradiating the reflected light to the granular material p,
The reflected light from the granular material p is reflected by the half mirror h and is incident on the line sensor camera k disposed outside the transparent rotary cylinder a1. A transmission light source j2 is provided in the other transparent rotary cylinder a2. The transmission light source j2 irradiates transmitted light into the falling passage b, and the transmitted light passes through the falling passage b. When passing through the falling passage b without being blocked by the passing granular material p,
The transmitted light is reflected by the half mirror h and is incident on the line sensor camera k. In this case, the light amount of the transmitted light from the transmission light source j2 is equal to the light amount of the reflected light from the reflection light source j1 reflected on non-defective particles (particles having no defect such as dirt). Therefore, even if the particulate light does not exist in the falling path b and the reflected light passes through the falling path b, the transmitted light having the same light amount passes through the half mirror h. And enters the line sensor camera k.

【０００６】また、上記選別装置ｄには、粉粒体の通過
通路ｍの中間部に吸引除去通路ｎが設けられており、こ
の吸引除去通路ｎに取り付けられた自動開閉バルブｎ１
が開くことにより、通過通路ｍ内を通過中の粉粒体をこ
の吸引除去通路ｎを通して吸引除去するようになってい
る。そして、上記自動開閉バルブｎ１は、常時は閉じら
れた状態となっており、画像処理装置ｒ１と２つの選別
装置制御手段ｒ２，ｒ３とからなる判定処理部ｒからの
指令によって随時開くようになっている。[0006] In the sorting device d, a suction removal passage n is provided at an intermediate portion of a passage m through which the powdery and granular material passes, and an automatic opening / closing valve n1 attached to the suction removal passage n is provided.
Is opened, the powdery particles passing through the passage passage m are suctioned and removed through the suction removal passage n. The automatic opening / closing valve n1 is normally closed, and is opened at any time by a command from a determination processing unit r including the image processing device r1 and the two sorting device control means r2, r3. ing.

【０００７】なお、図中ｓ，ｓは透明回転円筒ａ１，ａ
２の外周面を清掃するクリーナー、ｔ，ｔは透明回転円
筒ａ１，ａ２に帯電した静電気を除去する静電除去装置
である。In the figures, s and s are transparent rotary cylinders a1 and a
Reference numeral t, t denotes an electrostatic removing device for removing static electricity charged on the transparent rotating cylinders a1, a2.

【０００８】この従来の粉粒体検査装置による粉粒体の
検査は、次のようにして行われる。上記両透明回転円筒
ａ１，ａ２を互いに逆方向ｘ１，ｘ２に回転させると共
に、上記反射光源ｊ１及び透過光源ｊ２からそれぞれ反
射光及び透過光を落下通路ｂに照射し、この状態で上記
供給部ｆから検査対象の粉粒体ｐを連続的に上記両落下
ガイドｃ，ｃ間に落下させ、粉粒体ｐを所定厚さの粉粒
体層として上記落下通路ｂ及び上記通過通路ｍを順次通
過させた後、上記回収容器ｇに回収する。[0008] Inspection of a granular material by this conventional granular material inspection apparatus is performed as follows. The two transparent rotary cylinders a1 and a2 are rotated in opposite directions x1 and x2, and reflected light and transmitted light are radiated from the reflection light source j1 and the transmission light source j2 to the falling path b, respectively. , The powder p to be inspected is continuously dropped between the two drop guides c, c, and the powder p is sequentially passed through the drop passage b and the passage m as a powder layer having a predetermined thickness. After that, it is collected in the collection container g.

【０００９】このとき、上記落下通路ｂにおいて、上記
反射光源ｊ１から上記粉粒体層に照射されて反射した反
射光が上記ハーフミラーｈを介して上記ラインセンサカ
メラｋに入射し、粉粒体層の画像が連続的に取り込まれ
る。そして、この画像が上記判定処理部ｒにより画像処
理されて異物の検出が行われ、異物が検出された場合
に、この判定処理部ｒから上記選別装置ｄに吸引除去指
令が発信され、この指令に応じて上記自動開閉バルブｎ
１が開いて選別装置ｄの通過通路ｍを通過する粉粒体層
から異物を含む所定量の粉粒体が吸引除去されるもので
ある。At this time, in the falling path b, the reflected light radiated from the reflection light source j1 to the granular material layer and reflected is incident on the line sensor camera k via the half mirror h, and Images of the layers are continuously captured. Then, the image is subjected to image processing by the determination processing unit r to detect foreign matter. When a foreign matter is detected, a suction removal command is transmitted from the determination processing unit r to the sorting device d. The automatic opening and closing valve n according to
1 is opened, and a predetermined amount of granular material including foreign matter is sucked and removed from the granular material layer passing through the passage m of the sorting device d.

【００１０】この場合、上記異物の検出は、次のように
行われる。即ち、正常な粉粒体のみからなる粉粒体層か
らの反射光は常にほぼ一定の光量を有し、これがライン
センサカメラｋに入射することとなるが、この粉粒体層
に異物が存在するとこの部分の反射光の光量が変化し、
上記判定処理部ｒにより画像中に現れる光量変化を検出
することによって異物の検出が行われる。このとき、上
記粉粒体層に欠け等が生じて粉粒体の粒子が全く存在し
ない部分があると、反射光源ｊ１から照射された光は落
下通路ｂを通過してしまい、正常な反射光が得られない
が、この場合には、上記透過光源から照射された光が、
落下通路ｂを通過して正常な反射光と等しい光量を有す
る透過光としてラインセンサカメラｋに入射し、このよ
うな粉粒体層の欠けを異物と誤認することがないように
なっている。In this case, the detection of the foreign matter is performed as follows. That is, the reflected light from the particle layer composed only of normal particles always has a substantially constant light amount, and this is incident on the line sensor camera k. Then, the amount of reflected light in this part changes,
The foreign matter is detected by detecting a change in the amount of light appearing in the image by the determination processing unit r. At this time, if there is a portion where the particles of the granular material do not exist at all due to chipping or the like in the granular material layer, the light emitted from the reflection light source j1 passes through the falling path b, and the normal reflected light Is not obtained, in this case, the light emitted from the transmission light source,
The light passes through the falling path b and enters the line sensor camera k as transmitted light having the same amount of light as normal reflected light, so that the chipping of such a granular material layer is not mistaken for a foreign substance.

【００１１】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の検査装置には、以下の欠点がある。即ち、上記従来
の検査装置は、上記供給部ｆから粉粒体ｐを連続的に落
下させて自然落下による粉粒体の流下層を形成するよう
になっており、この場合に上記落下ガイドｃや一対の透
明回転円筒ａ１，ａ２などによって自然落下する粉粒体
層を均一厚とするように工夫されているが、上記落下ガ
イドｃや一対の透明回転円筒ａ１，ａ２により形成され
た通路は、粉粒体の詰まり等を防止するためにあまり狭
くすることはできず、また自然落下による粉粒体の落下
運動は粒子レベルでみれば非常に不安定なものであり、
均一厚の粉粒体層を安定的に形成することは困難であ
る。従って、自然落下する粉粒体層に部分的に厚い箇所
が生じる虞があり、この厚い部分に異物が存在すると粉
粒体層の撮影側の面（図中、右側）にこの異物が露出せ
ずに正常な粒子に覆われた状態となる場合があり、この
場合には異物を検出して除去することができない。However, the above conventional inspection apparatus has the following disadvantages. That is, the above-mentioned conventional inspection apparatus is configured to continuously drop the granular material p from the supply unit f to form a falling layer of the granular material by natural fall. In this case, the drop guide c And a pair of transparent rotating cylinders a1, a2, etc., are designed so that the powder / particle layer that naturally falls has a uniform thickness, but the passage formed by the drop guide c and the pair of transparent rotating cylinders a1, a2 is , Can not be made too narrow to prevent clogging of the granular material, etc. Also, the falling movement of the granular material by natural fall is very unstable at the particle level,
It is difficult to stably form a granular layer having a uniform thickness. Therefore, there is a possibility that a thick part may be partially formed in the granule layer which falls naturally, and if foreign matter is present in this thick part, the foreign matter is exposed on the photographing side surface (the right side in the figure) of the granule layer. May be in a state of being covered with normal particles, and in this case, the foreign matter cannot be detected and removed.

【００１２】また、上記検査装置は、流下する粉粒体層
から異物を吸引除去するようになっているが、この場
合、上記吸引除去通路ｎは検査領域である上記落下通路
ｂと連通しているため、吸引除去時の気流の乱れが少な
からず検査領域を通過中の粉粒体層に影響し、落下速度
の変動、落下軌道の乱れ、層厚の乱れなどが検査領域の
粉粒体層に発生し、安定的な検査を行うことが困難であ
る。The inspection apparatus is adapted to suck and remove foreign matter from the flowing granular material layer. In this case, the suction and removal passage n communicates with the falling passage b as an inspection area. As a result, turbulence in the air flow during suction removal affects not only a small amount of the granular material layer passing through the inspection area, but also fluctuations in the drop speed, turbulence in the drop trajectory, and turbulence in the layer thickness, etc. And it is difficult to perform a stable inspection.

【００１３】更に、上記従来の検査装置では、粉粒体層
に粒子が分散した状態となって欠け（粒子が存在しない
部分）が生じた場合には、上述のように、上記透過光の
光量を正常な反射光の光量と等しく設定することによ
り、欠け部分の補正を行うようになっているが、この場
合このような欠け部分を異物と誤認することなく、高い
検査精度を達成するには、透過光の光量を極めて高精度
に反射光と等しく設定しなければならず、また反射光の
光量は粉粒体の色調、粒径、形状などにより変化するた
め、検査対象の粉粒体を代える場合には、このような厳
格な光量設定をその都度行わなければならない。Further, in the above-described conventional inspection apparatus, when the particles are dispersed in the granular material layer and chipping (part where no particles are present) occurs, as described above, the amount of the transmitted light is reduced. Is set to be equal to the amount of normal reflected light, so that the missing portion is corrected.In this case, to achieve high inspection accuracy without misidentifying such a missing portion as a foreign matter, , The amount of transmitted light must be set very accurately to be equal to the amount of reflected light, and the amount of reflected light varies depending on the color tone, particle size, shape, etc. of the granular material. In such a case, such a strict light amount setting must be performed each time.

【００１４】また更に、上記検査装置では、一対の透明
回転円筒ａ１，ａ２を通して粉粒体層の撮影を行うよう
になっているので、透明回転円筒ａ１，ａ２の汚れが検
査精度に大きく影響し、このためこれら透明回転円筒ａ
１，ａ２に対して高度なクリーニング処理を常に行う必
要があり、そのために煩雑なクリーニング機構部やメン
テナンスが要求される。Further, in the above-described inspection apparatus, since the imaging of the granular material layer is performed through the pair of transparent rotary cylinders a1 and a2, the contamination of the transparent rotary cylinders a1 and a2 greatly affects the inspection accuracy. Therefore, these transparent rotating cylinders a
It is necessary to constantly perform an advanced cleaning process on the cleaning devices 1 and a2, and thus a complicated cleaning mechanism and maintenance are required.

【００１５】このように、従来の検査装置で用いられて
いる検査方法では、必ずしも十分な検査精度を得ること
ができず、また検査条件の設定や検査機構部に煩雑な作
業やメンテナンスが要求されるという欠点がある。As described above, the inspection method used in the conventional inspection apparatus cannot always provide sufficient inspection accuracy, and also requires setting of inspection conditions and complicated work and maintenance for the inspection mechanism. Disadvantage.

【００１６】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、比較的簡便な操作や機構によって高精度な検査を行
うことができる粉粒体の検査方法、及び粉粒体検査装置
を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a method and apparatus for inspecting a granular material capable of performing a highly accurate inspection by a relatively simple operation and mechanism. With the goal.

【００１７】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、水平軸を中心にして回転する検査ドラムの
頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を連続
的に供給して、該検査ドラムの外周面上に上記粉粒体の
均一な薄層を形成し、これを検査ドラムの外周面上に載
置した状態で該検査ドラムの回転により約１／４周搬送
した後に連続的に落下させて回収すると共に、上記搬送
中に検査ドラム上の粉粒体層を撮影して上記粉粒体層の
画像を取り込み、得られた画像を画像処理して粉粒体中
に混入した異物を検出し、この異物を含んだ所定量の粉
粒体を上記検査ドラムから落下する粉粒体流から分離除
去することを特徴とする粉粒体の検査方法を提供する。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a method for continuously supplying a powdery or granular material to an outer peripheral surface at or near a vertex position of an inspection drum rotating about a horizontal axis. Then, a uniform thin layer of the above-mentioned granular material was formed on the outer peripheral surface of the inspection drum, and was transported about 1/4 turn by rotation of the inspection drum while being placed on the outer peripheral surface of the inspection drum. Later, it is continuously dropped and collected, and during the transport, the powder and granular material layer on the inspection drum is photographed, and the image of the particulate and particulate layer is captured. The present invention provides a method for inspecting a granular material, comprising: detecting foreign matter mixed in a sample; and separating and removing a predetermined amount of the granular material containing the foreign matter from a flow of the granular material falling from the inspection drum.

【００１８】即ち、本発明の検査方法は、水平軸を中心
にして回転する検査ドラムの外周面上に、該ドラムの頂
点位置又はその近傍において、検査対象の粉粒体を連続
的に供給し、粉粒体の供給量と検査ドラムの回転速度と
の関係により該検査ドラムの外周面上に一定厚の薄層を
形成して搬送し、この検査ドラムの外周面上に載置され
た状態の粉粒体層を連続的に撮影して、画像の取り込み
を行うものである。That is, according to the inspection method of the present invention, the granular material to be inspected is continuously supplied to the outer peripheral surface of the inspection drum rotating about the horizontal axis at or near the vertex position of the drum. A state in which a thin layer having a constant thickness is formed on the outer peripheral surface of the inspection drum according to the relationship between the supply amount of the granular material and the rotation speed of the inspection drum, and is conveyed, and is placed on the outer peripheral surface of the inspection drum. Is continuously photographed to take in an image.

【００１９】従って、従来の検査装置のように自然落下
する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥かに安定した
状態の粉粒体層に対して画像の取り込みを行うことがで
き、安定的な画像を確実に得ることができる。この場
合、本発明の検査方法では、検査ドラム上への粉粒体供
給量と検査ドラムの回転速度とを調整制御して検査ドラ
ム上に所定厚さの薄層として粉粒体層を形成することに
より、この粉粒体層が検査ドラムの外周面に載置された
状態で、厚さ、速度、軌道等に変化が生じることなく安
定的に検査領域（撮影位置）に搬送されて撮影され、常
に最良かつ一定の条件下で検査が行われるので、検査精
度を大幅に向上させることができるものである。Therefore, an image can be taken in a much more stable state of the granular material layer than in the case of photographing a naturally falling granular material layer as in a conventional inspection apparatus. Image can be reliably obtained. In this case, in the inspection method of the present invention, the supply amount of the granular material on the inspection drum and the rotation speed of the inspection drum are adjusted and controlled to form the granular material layer as a thin layer having a predetermined thickness on the inspection drum. Thereby, in a state in which the granular material layer is placed on the outer peripheral surface of the inspection drum, the thickness, speed, trajectory, and the like are stably conveyed to the inspection area (imaging position) without change, and the image is captured. Since the inspection is always performed under the best and constant condition, the inspection accuracy can be greatly improved.

【００２０】ここで、本発明の検査方法において、得ら
れた画像から異物を検出し、該異物を取り除く操作は、
上記従来の検査装置と同様に、取り込んだ画像中に明度
又は輝度の変化として現れる異物を画像処理によって検
出し、この異物を含んだ所定量の粉粒体を上記検査ドラ
ムから落下する粉粒体の流から分離除去することにより
行われる。この場合、検査精度をより高くするために
は、上記検査ドラムの外周面上に形成する粉粒体層の厚
さをできる限り薄くして、異物が粉粒体層中に埋もれる
ことがないようにすることが好ましく、この場合粉粒体
層を非常に薄く形成すると、該粉粒体層に部分的に粒子
が存在しない欠けた部分が生じ易くなるが、本発明の検
査方法では、上記検査ドラムの外周面を検査対象の粉粒
体と同一の色調とすることにより、このような欠けた部
分を異物と誤認することなく、高精度で信頼性の高い検
査を行うことができる。Here, in the inspection method of the present invention, the operation of detecting foreign matter from the obtained image and removing the foreign matter includes the following steps.
Similar to the above-described conventional inspection apparatus, foreign matter that appears as a change in brightness or luminance in a captured image is detected by image processing, and a predetermined amount of the granular material containing the foreign matter falls from the inspection drum. This is done by separating and removing from the stream. In this case, in order to increase the inspection accuracy, the thickness of the granular material layer formed on the outer peripheral surface of the inspection drum is made as thin as possible so that foreign matter is not buried in the granular material layer. In this case, if the granular material layer is formed to be very thin, a chipped portion in which particles are not present partially in the granular material layer is likely to be generated. By setting the outer peripheral surface of the drum to have the same color tone as that of the granular material to be inspected, a highly accurate and highly reliable inspection can be performed without erroneously recognizing such a chipped portion as a foreign substance.

【００２１】従って、本発明の検査方法によれば、単に
検査ドラムの外周面を検査対象の粉粒体と同一の色調と
することにより、粉粒体層に生じた欠け部分を異物と誤
認することなく、該粉粒体層を非常に薄く形成して高精
度の検査を行うことができるものであり、上記従来の検
査装置のように、透過光の光量を厳格に設定するような
煩雑な設定を要することなく、容易に高精度な検査を行
うことができるものである。Therefore, according to the inspection method of the present invention, the chipped portion generated in the granular material layer is erroneously recognized as a foreign substance simply by making the outer peripheral surface of the inspection drum have the same color tone as the granular material to be inspected. Without this, the granular material layer can be formed very thin and a high-precision inspection can be performed, and as in the above-described conventional inspection apparatus, a complicated operation such as strictly setting the amount of transmitted light is required. A high-precision inspection can be easily performed without setting.

【００２２】更に、本発明の検査方法では、上記検査ド
ラム上に載置された状態の粉粒体層を直接撮像装置で撮
影することにより、画像の取り込みを行うことができる
ので、透明回転円筒を通して撮影を行う上記従来の検査
装置のような高度なクリーニングを要することなく、検
査ドラム表面を簡易にクリーニングするだけで、信頼性
の高い検査を確実に行うことができるものである。Further, according to the inspection method of the present invention, an image can be taken by directly photographing the granular material layer placed on the inspection drum with an imaging device, so that the transparent rotating cylinder can be obtained. A highly reliable inspection can be reliably performed only by simply cleaning the surface of the inspection drum without the need for sophisticated cleaning as in the above-described conventional inspection apparatus that performs image capturing through the apparatus.

【００２３】このように、本発明の粉粒体の検査方法に
よれば、検査条件の設定や検査機構部に煩雑な作業やメ
ンテナンスを要することなく、比較的簡便な操作や機構
によって高精度な検査を行うことができるものである。As described above, according to the method for inspecting a granular material of the present invention, complicated operations and maintenance are not required for setting inspection conditions and an inspection mechanism, and highly accurate operations and mechanisms are used. An inspection can be performed.

【００２４】また、本発明は、上記本発明の検査方法に
より粉粒体の検査を行う検査装置として、粉粒体中に混
入した異物を検出除去するための検査装置であって、水
平軸を中心にして回転し、外周面に粉粒体を均一な薄層
状に載置して頂点位置又はその近傍から約１／４周搬送
した後、連続的に落下させる検査ドラムと、該検査ドラ
ムの頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を
連続的に供給する粉粒体供給手段と、上記検査ドラムの
外周面上に載置されて搬送される粉粒体層を連続的に撮
影し、該粉粒体層の画像を取り込む撮像装置と、該撮像
装置により取り込まれた画像を画像処理して異物を検出
する検出手段と、該検出手段からの検出信号に応じて、
上記検査ドラムから落下する粉粒体流から異物を含む所
定量の粉粒体を分離除去する異物回収手段とを具備して
なることを特徴とする粉粒体検査装置を提供する。According to the present invention, there is provided an inspection apparatus for detecting and removing a foreign substance mixed in a granular material as an inspection apparatus for inspecting a granular material by the inspection method of the present invention. An inspection drum that rotates around the center, places the granules in a uniform thin layer on the outer peripheral surface, conveys about 1/4 turn from or near the apex position, and continuously drops the inspection drum; A granular material supply means for continuously supplying the granular material on the outer peripheral surface at or near the apex position, and continuously photographing the granular material layer placed and transported on the outer peripheral surface of the inspection drum Then, an imaging device that captures the image of the granular material layer, a detection unit that performs image processing on the image captured by the imaging device to detect foreign matter, and according to a detection signal from the detection unit,
A foreign matter collecting device for separating and removing a predetermined amount of granular material containing foreign matter from a granular material flow falling from the inspection drum is provided.

【００２５】即ち、この粉粒体検査装置は、回転する上
記検査ドラムの外周面上に、該検査ドラムの頂点位置又
はその近傍において上記粉粒体供給手段によって粉粒体
を連続的に供給することにより、検査ドラム上に粉粒体
層を形成すると共に、この粉粒体層を検査ドラムの回転
によって頂点位置又はその近傍から約１／４周搬送して
連続的に落下させ、このとき検査ドラムの外周面上に載
置されて搬送される上記粉粒体層を上記撮像装置で連続
的に撮影して該粉粒体層の画像を取り込み、この画像を
上記検出手段により画像処理して異物の検出を行うと共
に、検出手段が異物検出時に発信する検出信号に応じ
て、上記異物回収手段が上記検査ドラムから連続的に落
下する粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を分離除
去するものである。That is, the powder and granular material inspection apparatus continuously supplies the powder and granular material on the outer peripheral surface of the rotating inspection drum at or near the vertex position of the inspection drum by the powder and particle supply means. In this way, a granular material layer is formed on the inspection drum, and the granular material layer is conveyed about 1/4 turn from or near the vertex position by the rotation of the inspection drum and continuously dropped. The image of the granular material layer is continuously captured by the imaging device to capture the image of the granular material layer placed and transported on the outer peripheral surface of the drum, and the image is processed by the detection unit. The foreign matter is detected, and the foreign matter collecting means removes a predetermined amount of the granular material containing the foreign matter from the granular material stream continuously falling from the inspection drum in accordance with the detection signal transmitted when the foreign matter is detected by the detecting means. It is to be separated and removed.

【００２６】このように、本発明の粉粒体検査装置によ
れば、上記本発明の検査方法に従って粉粒体中に混入し
た異物が自動的に検出除去され、従って、検査条件の設
定や検査機構部に煩雑な作業やメンテナンスを要するこ
となく、比較的簡便な操作や機構によって高精度な検査
を自動的に行うことができるものである。As described above, according to the granular material inspection apparatus of the present invention, the foreign matter mixed in the granular material is automatically detected and removed according to the above-described inspection method of the present invention. A high-precision inspection can be automatically performed by a relatively simple operation and mechanism without requiring a complicated operation or maintenance for the mechanism section.

【００２７】[0027]

【発明の実施の形態及び実施例】以下、実施例を示し、
本発明をより具体的に説明する。図１，２は、本発明の
検査方法により、粉粒体中に混入した異物を自動的に検
出して除去する粉粒体検査装置の一例を示すものであ
り、この粉粒体検査装置は、図１に示されているよう
に、所定の速度で定速回転する検査ドラム１と、該検査
ドラム１の外周面上に検査対象の粉粒体ｐを供給する粉
粒体供給手段２と、上記検査ドラム１外周面上の粉粒体
層ｐ１を撮影する撮像装置３と、該撮像装置３により取
り込まれた画像を画像処理して異物の検出を行う検出手
段（図示せず）と、該検出手段から発信される検出信号
に応じて異物を分離除去する異物回収手段４とを具備し
ている。Embodiments and examples of the present invention will be described below.
The present invention will be described more specifically. 1 and 2 show an example of a granular material inspection apparatus that automatically detects and removes foreign matter mixed in a granular material by the inspection method of the present invention. As shown in FIG. 1, an inspection drum 1 rotating at a constant speed at a predetermined speed, and a granular material supply means 2 for supplying a granular material p to be inspected on the outer peripheral surface of the inspection drum 1 An image pickup device 3 for photographing the granular material layer p1 on the outer peripheral surface of the inspection drum 1, a detection means (not shown) for performing image processing on an image captured by the image pickup device 3 and detecting foreign matter; A foreign matter collecting means for separating and removing foreign matter in accordance with a detection signal transmitted from the detecting means;

【００２８】上記検査ドラム１は、図２に示されている
ように、短軸で大径のドラムであり、その中央部一面側
に円形の凹部１１が形成され、この凹部１１内に水平方
向に沿って配置された回転駆動軸１２の円板状のフラン
ジ１２ａが挿入されてビス止め１２ｂされている。上記
回転駆動軸１２は、特に図示していないが、モーター等
の駆動源に適宜なギアやタイミングベルトなどを介して
連結されており、この駆動源からの駆動力によりこの回
転駆動軸１２が回転し、更にこの回転駆動軸１２に駆動
されて検査ドラム１が水平軸を中心に図１中反時計回り
に回転するようになっている。As shown in FIG. 2, the inspection drum 1 is a drum having a short axis and a large diameter, and a circular recess 11 is formed on one surface of a central portion thereof. The disk-shaped flange 12a of the rotary drive shaft 12 arranged along the shaft is inserted and screwed 12b. Although not shown, the rotary drive shaft 12 is connected to a drive source such as a motor via an appropriate gear or timing belt, and the rotary drive shaft 12 is rotated by a drive force from the drive source. Further, the inspection drum 1 is further driven by the rotation drive shaft 12 to rotate counterclockwise in FIG. 1 around the horizontal axis.

【００２９】この検査ドラム１の外周面両側縁部には、
図２に示されているように、低い堰壁１３，１３が周方
向に沿って連続して一体に突設されており、これら堰壁
１３，１３間が検査面となっている。ここで、この検査
ドラム１の外周面は、特に制限されるものではないが、
検査対象の粉粒体と同一の色調とすることが好ましく、
これにより検査ドラム１の外周面を粉粒体中に混入した
異物と誤認することを確実に防止することができる。On both side edges of the outer peripheral surface of the inspection drum 1,
As shown in FIG. 2, the lower weir walls 13, 13 are continuously and integrally protruded along the circumferential direction, and the space between these weir walls 13, 13 is an inspection surface. Here, the outer peripheral surface of the inspection drum 1 is not particularly limited,
It is preferable to have the same color tone as the granular material to be inspected,
Thus, it is possible to reliably prevent the outer peripheral surface of the inspection drum 1 from being erroneously recognized as a foreign substance mixed in the powder or granular material.

【００３０】また、上記粉粒体供給手段２は、図１に示
されているように、篩過器２１を有しており、この篩過
器２１に直進フィーダ２２の振動トラフ２２１から粉粒
体ｐを投入し、この粉粒体ｐを篩過器２１で篩いなが
ら、筒状のシュート２３を通して、上記検査ドラム１の
外周面上に連続的に供給するようになっている。なお、
粉粒体ｐの供給位置は、検査ドラム１の頂点位置（最も
高い位置、以下同様）又はその近傍位置とされ、本実施
例の装置では、図１に示されているように、検査ドラム
１の頂点から回転方向後方にややずれた位置とされてい
る。Further, as shown in FIG. 1, the granular material supply means 2 has a sieving device 21. The sieving device 21 is provided with a powdery material from a vibration trough 221 of a linear feeder 22. The powder p is supplied, and the powder p is continuously supplied onto the outer peripheral surface of the inspection drum 1 through the cylindrical chute 23 while being sieved with the sieve 21. In addition,
The supply position of the granular material p is set at the vertex position (the highest position, the same applies hereinafter) of the inspection drum 1 or a position in the vicinity thereof. In the apparatus of the present embodiment, as shown in FIG. The position is slightly shifted backward in the rotational direction from the vertex of.

【００３１】上記篩過器２１は、上記振動トラフ２２１
から投入される粉粒体ｐを一旦貯留する略ロート状のホ
ッパー２１１と該ホッパー２１１の下に連設された３つ
の篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃとで構成されており、これ
らホッパー２１１及び篩２１ａ〜２１ｃを適宜な装置に
より細かく揺り動かして、上記ホッパー２１１内の粉粒
体ｐを上記３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃで順次篩い
ながら、上記検査ローラ１の外周面上に落下させるよう
になっている。The sieving device 21 includes the vibration trough 221.
And a sieve 21a, 21b, and 21c provided below the hopper 211. The hopper 211 and the sieve 21a are provided. To 21c are finely shaken by an appropriate device so that the powders p in the hopper 211 are dropped on the outer peripheral surface of the inspection roller 1 while being sieved by the three sieves 21a, 21b, 21c sequentially. I have.

【００３２】この篩過器２１は、上記ホッパー２１１及
び複数の篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃを有し、これらを細
かく揺り動かして粉粒体ｐを篩いながら検査ローラ１の
外周面に供給することができるものであればよく、この
篩過器２１を振動させる機構に制限はないが、具体例を
挙げれば、図３，図４に示した機構を例示することがで
きる。The sieve 21 has the hopper 211 and a plurality of sieves 21a, 21b, 21c, which can be finely shaken to supply the powder p to the outer peripheral surface of the inspection roller 1 while sieving. The mechanism for vibrating the sieving device 21 is not limited, but specific examples include the mechanisms shown in FIGS. 3 and 4.

【００３３】図３は、モーターＭに駆動されて回転する
２つ偏芯回転軸２１２，２１２に上記篩過器２１を連結
し、篩過器２１を偏芯回転運動させるものである。即
ち、モーターＭが固定された基板２１３に先端部２１２
ｂが部分的に偏芯した偏芯回転軸２１２，２１２を回転
可能に並設してその基端部２１２ａをベルトＢでモータ
ーＭと接続し、偏芯した先端部２１２ｂを篩過器２１に
固定した軸受体２１４に回転可能に連結したものであ
る。なお、図中２１５はプーリー、２１６はボールベア
リングである。FIG. 3 shows a structure in which the sieving device 21 is connected to two eccentric rotating shafts 212, 212 driven and rotated by a motor M, and the sieving device 21 is eccentrically rotated. That is, the tip 212 is attached to the substrate 213 to which the motor M is fixed.
The eccentric rotary shafts 212, b of which are partially eccentric are rotatably juxtaposed, the base end 212 a thereof is connected to the motor M by a belt B, and the eccentric front end 212 b is passed through the sieving device 21. It is rotatably connected to a fixed bearing body 214. In the drawing, reference numeral 215 denotes a pulley, and 216 denotes a ball bearing.

【００３４】この図３の機構の動作について説明する
と、モーターＭによりベルトＢを介して上記偏芯回転軸
２１２，２１２を回転させ、該偏芯回転軸２１２，２１
２の偏芯した先端部２１２ｂを偏芯回転させて、上記軸
受体２１４を揺動させ、これと一体的に篩過器２１を揺
動させるものである。この場合、篩過器２１の運動は、
円を描くように揺り動く運動となり、内部の粉粒体が均
一に篩われるが、このような運動により粉粒体を篩う場
合には、各篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃ内の外側に粉粒体
が寄ってしまい、周壁内面に粉粒体が付着しやすいた
め、図３に示したように、篩過器２１にそれ自体が振動
するバイブレータ２１７を取り付け、篩過器２１に微震
動を与えて粉粒体の周壁内面への付着を防止することが
好ましい。The operation of the mechanism shown in FIG. 3 will be described. The eccentric rotary shafts 212 and 212 are rotated by the motor M via the belt B, and the eccentric rotary shafts 212 and 21 are rotated.
The eccentric tip portion 212b is eccentrically rotated to swing the bearing member 214, and the sieving device 21 is swung integrally therewith. In this case, the movement of the sieve 21 is
The motion is a swinging motion in a circular motion, and the powder inside the material is uniformly sieved. When the powder is sieved by such a motion, the powder inside the sieves 21a, 21b, and 21c is placed outside. Since the body is shifted and the granular material easily adheres to the inner surface of the peripheral wall, as shown in FIG. 3, a vibrator 217 which vibrates itself is attached to the sieving device 21 to give a slight vibration to the sieving device 21. It is preferable to prevent the particles from adhering to the inner surface of the peripheral wall.

【００３５】また、図４は、振動フィーダ２１７に基板
２１８を取り付け、この基板２１８に上記篩過器２１を
固定したものであり、振動フィーダ２１７により上記基
板２１８と一体的に篩過器２１を揺り動かし、これによ
り篩過器２１内部の粉粒体を篩い落とすものである。FIG. 4 is a view in which a substrate 218 is attached to a vibration feeder 217, and the sieving device 21 is fixed to the substrate 218. The sieving device 21 is integrated with the substrate 218 by the vibration feeder 217. The powder is shaken, thereby sifting off the powder and granules inside the sieving device 21.

【００３６】ここで、上記篩過器２１には、図３，４に
示されているように、ホッパー２１１に該ホッパー２１
１内の粉粒体量を検知するレベルセンサ２４を取り付け
ておくことが好ましく、このレベルセンサ２４によりホ
ッパー２１１内に貯留された粉粒体の量を検知して、そ
の情報をこのホッパー２１１に粉粒体を投入する上記直
進フィーダ２２にフィードバックして直進フィーダ２２
からの粉粒体投入量を調節し、ホッパー２１１内に常に
一定量の粉粒体が貯留されているようにすることが好ま
しい。これにより、一定量の粉粒体をより安定的に上記
検査ローラ１外周面に供給することができる。Here, as shown in FIGS. 3 and 4, the sieving device 21 has a hopper 211 attached thereto.
It is preferable to attach a level sensor 24 for detecting the amount of the granular material in the hopper 211. The level sensor 24 detects the amount of the granular material stored in the hopper 211, and sends the information to the hopper 211. The linear feeder 22 is fed back to the linear feeder 22 for feeding the powder and granules.
It is preferable to control the amount of powder and granular material supplied from the hopper 211 so that a constant amount of powder and granular material is always stored in the hopper 211. Thus, a certain amount of the granular material can be more stably supplied to the outer peripheral surface of the inspection roller 1.

【００３７】なお、上記篩過器２１に用いられる上記篩
２１ａ，２１ｂ，２１ｃは、いずれも同一の目開きを有
するものであっても、異なる目開きを有するものを組み
合わせて用いてもよく、異なる目開きを有するものを組
み合わせて用いる場合には、順次目開きが小さくなるよ
うに組み合わせることが好ましい。The sieves 21a, 21b, and 21c used in the sieve 21 may have the same aperture or may have different apertures in combination. In the case of using a combination having different apertures, it is preferable to combine them so that the apertures are sequentially reduced.

【００３８】また、上記シュート２３は、図２に示され
ているように、その下端部が上記検査ドラム１の外周面
に近接した状態に立設されており、このシュート２３を
通して上記篩過器２１により篩い落とされた粉粒体ｐが
検査ドラム１の外周面上に連続的に落下し、検査ドラム
１外周面の上記両堰壁１３，１３間に所定厚さの粉粒体
層ｐ１が形成されるようになっている。この場合、シュ
ート２３は、図２に示されているように、その周壁の下
端部が内側へと折り返されて、下端内周縁部に沿って折
り返し部２３１が形成されている。これにより、粉粒体
がシュート２３の内周面に付着して形成される粉粒体塊
が落下した場合に、これを上記折り返し部２３１でキャ
ッチし、粉粒体塊が検査ドラム１の外周面上に落下して
上記粉粒体層ｐ１が部分的に厚くなってしまうことを防
止するようになっている。なお、特に図示していない
が、このシュート２３にも上記図３に示した篩過器２１
と同様に自らが振動するバイブレータを固定して、微震
動を与えておくことが好ましく、これにより粉粒体がシ
ュート２３の内周面に付着することを防止することがで
きる。As shown in FIG. 2, the chute 23 has its lower end erected close to the outer peripheral surface of the inspection drum 1. The granular material p sieved by 21 falls continuously on the outer peripheral surface of the inspection drum 1, and a granular material layer p 1 having a predetermined thickness is formed between the two weir walls 13 on the outer peripheral surface of the inspection drum 1. Is formed. In this case, as shown in FIG. 2, the lower end of the peripheral wall of the chute 23 is folded inward, and a folded portion 231 is formed along the inner peripheral edge of the lower end. In this way, when a powder mass formed by attaching the powder material to the inner peripheral surface of the chute 23 falls, this is caught by the folded portion 231, and the powder mass is removed from the outer periphery of the inspection drum 1. This prevents the powder and granular material layer p1 from falling on the surface and becoming partially thick. Although not specifically shown, the chute 23 also has a sieve 21 shown in FIG.
Similarly, it is preferable to fix the vibrator which vibrates by itself and to apply micro-vibration, thereby preventing the granular material from adhering to the inner peripheral surface of the chute 23.

【００３９】次に、上記撮像装置３は、図１に示されて
いるように、ラインセンサカメラ３１と照明用光源３２
とを具備しており、照明用光源３２により上記検査ドラ
ム１の外周面上に載置形成された上記粉粒体層ｐ１を照
明し、これを上記ラインセンサカメラ３１により撮影し
て粉粒体層ｐ１の画像を取り込むようになっている。な
お、図中３３は、上記ラインセンサカメラ３１或いは上
記照明用光源３２の角度などを調節する調整機構部であ
る。Next, as shown in FIG. 1, the image pickup device 3 includes a line sensor camera 31 and a light source 32 for illumination.
The illumination light source 32 illuminates the granular material layer p <b> 1 mounted on the outer peripheral surface of the inspection drum 1, and photographs the granular material layer p <b> 1 with the line sensor camera 31. The image of the layer p1 is taken in. In the figure, reference numeral 33 denotes an adjusting mechanism for adjusting the angle of the line sensor camera 31 or the illumination light source 32 and the like.

【００４０】ここで、この撮像装置３により画像の取り
込みを行う位置は、上記検査ドラム１の外周面に載置形
成された上記粉粒体層ｐ１を安定的に撮影し得る位置で
あればよく、特に制限されるものではないが、通常は検
査ドラム１の頂点位置から回転方向に０〜３５゜の位置
であることが好ましく、特に１５゜付近であることが好
ましい。Here, the position at which an image is taken in by the image pickup device 3 may be any position at which the above-mentioned granular material layer p1 mounted on the outer peripheral surface of the above-mentioned inspection drum 1 can be stably photographed. Although not particularly limited, it is usually preferable that the position is from 0 to 35 ° in the rotation direction from the vertex position of the inspection drum 1, and particularly preferably around 15 °.

【００４１】この撮像装置３により取り込まれた粉粒体
層ｐ１の画像は、検出手段（図示せず）により画像処理
されて異物の検出が行われ、異物が検出された場合に
は、検出信号を上記異物回収手段４に発信するようにな
っている。ここで、この検出手段は、コンピュータを用
いた公知の画像処理装置などを用いて構成することがで
き、公知の方法により画像処理して異物の検出を行うこ
とができる。The image of the granular material layer p1 taken in by the imaging device 3 is subjected to image processing by a detecting means (not shown) to detect foreign matter, and when foreign matter is detected, a detection signal is output. Is transmitted to the foreign matter collecting means 4. Here, this detection means can be configured using a known image processing device or the like using a computer, and image processing can be performed by a known method to detect foreign matter.

【００４２】上記異物回収手段４は、図１に示されてい
るように、検査ドラム１から落下する粉粒体流ｐ２が通
過し得る貫通路４１１と粉粒体流ｐ２を受容する分離回
収升４１２とが並設された分離回収器４１を有してお
り、この分離回収器４１を上記検査ドラム１の下方に移
動可能に配置したものである。この分離回収器４１は、
常時は検査ドラム１から落下する粉粒体流ｐ２が上記貫
通路４１１を通過するように配置されており、上記検出
手段から検出信号が発せられた時に、制御装置（図示せ
ず）によって図１中に矢印で示した水平方向に一旦移動
して粉粒体流ｐ２を上記分離回収升４１２に受容し、異
物を含む所定量の粉粒体ｐ３を上記粉粒体流ｐ２から分
離回収するようになっている。As shown in FIG. 1, the foreign matter collecting means 4 includes a through passage 411 through which the powder flow p2 falling from the inspection drum 1 can pass and a separating and collecting box for receiving the powder flow p2. 412 and a separation / collection device 41 arranged side by side, and the separation / collection device 41 is movably disposed below the inspection drum 1. This separation / recovery device 41
Normally, the powder flow p2 falling from the inspection drum 1 is disposed so as to pass through the through passage 411, and when a detection signal is issued from the detection means, a control device (not shown) uses FIG. It moves once in the horizontal direction indicated by the arrow to receive the particulate stream p2 in the separation and recovery box 412, and separates and recovers a predetermined amount of the powder p3 containing foreign matter from the particulate stream p2. It has become.

【００４３】なお、図１中５は上記粉粒体層ｐ１及び粉
粒体流ｐ２を囲うように配設されたカバー体、６は検査
ドラム１の外周面をクリーニングするブラシロール（ク
リーニング装置）、７は検査ドラム１表面に帯電した静
電気を除去する除電ロール（除電装置）である。In FIG. 1, reference numeral 5 denotes a cover provided so as to surround the powder layer p1 and the powder flow p2, and 6 denotes a brush roll (cleaning device) for cleaning the outer peripheral surface of the inspection drum 1. Reference numerals 7 denote static elimination rolls (static eliminators) for removing static electricity charged on the surface of the inspection drum 1.

【００４４】この粉粒体検査装置は、本発明の検査方法
に従って粉粒体中に混入した金属片、毛髪、汚れた粒
子、その他の異物（これらを、総称して異物という）を
検出して分離除去するものであり、以下のようにして、
検査を行うものである。This particle inspection apparatus detects metal fragments, hair, dirty particles, and other foreign substances (collectively referred to as foreign substances) mixed in the particles according to the inspection method of the present invention. It is to be separated and removed, as follows:
An inspection is performed.

【００４５】上記直進フィーダ２２を駆動させて振動ト
ラフ２２１から検査対象である粉粒体ｐを篩過器２１の
ホッパー２１１内に投入し、この粉粒体ｐを篩過器２１
で篩いながら、筒状のシュート２３を通して、所定速度
で回転する上記検査ドラム１の外周面上に連続的に供給
する。このとき、ホッパー２１１に投入された粉粒体ｐ
は、３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃにより順次篩われ
て一定量が常時シュート２３内に落下し、かつ偏りなく
均一に検査ドラム１上へと落下する。このとき、大きな
異物は上記篩過器２１を通過する際に粉粒体ｐから除去
される。The linear feeder 22 is driven to put the powdery material p to be inspected from the vibration trough 221 into the hopper 211 of the sieving device 21.
While being sieved, the liquid is continuously supplied onto the outer peripheral surface of the inspection drum 1 rotating at a predetermined speed through a cylindrical chute 23. At this time, the granular material p charged into the hopper 211
Are sieved sequentially by the three sieves 21a, 21b, 21c, and a constant amount always falls into the chute 23, and falls uniformly onto the inspection drum 1 without bias. At this time, large foreign matter is removed from the granular material p when passing through the sieve 21.

【００４６】これにより、図２に示されているように、
検査ドラム１の外周面上に均一厚の粉粒体層ｐ１が形成
される。ここで、この検査ドラム１外周面上に形成され
る粉粒体層ｐ１の厚さは、検査ドラム１の回転速度と粉
粒体ｐの供給量とを調節することにより調整することが
でき、粉粒体層ｐ１内に異物が埋もれてしまうことな
く、異物が確実に粉粒体層ｐ１表面に露出するように、
できるだけ薄くすることが好ましい。この粉粒体層ｐ１
の具体的な厚さは、検査対象である粉粒体ｐの粒径に応
じて適宜設定され、好ましくは粉粒体ｐの平均粒径とほ
ぼ同等の厚さに調整される。例えば、粉粒体ｐの平均粒
径が１００μｍであれば約１００μｍの粉粒体層ｐ１と
することが最適であり、本実施例の装置によれば、上記
篩過器２１の３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃによって
篩いながら常に一定量の粉粒体を均一に供給し得るこ
と、及び検査ドラム１の回転速度と粉粒体供給量とを調
整することにより、このような平均粒径とほぼ同一のご
く薄い粉粒体層ｐ１を安定的に形成することが可能であ
る。As a result, as shown in FIG.
A powder layer having a uniform thickness p1 is formed on the outer peripheral surface of the inspection drum 1. Here, the thickness of the granular material layer p1 formed on the outer peripheral surface of the inspection drum 1 can be adjusted by adjusting the rotation speed of the inspection drum 1 and the supply amount of the granular material p, In order that the foreign matter is surely exposed to the surface of the granular material layer p1 without the foreign matter being buried in the granular material layer p1,
It is preferable to make it as thin as possible. This granular material layer p1
Is appropriately set according to the particle size of the granular material p to be inspected, and is preferably adjusted to a thickness substantially equal to the average particle size of the granular material p. For example, if the average particle size of the granular material p is 100 μm, it is optimal to set the granular material layer p1 to about 100 μm. According to the apparatus of the present embodiment, the three sieves 21a of the sieve 21 are used. , 21b, and 21c, a constant amount of powder and granules can always be supplied uniformly, and by adjusting the rotation speed of the inspection drum 1 and the supply amount of powder and granules, the average particle diameter can be substantially reduced. It is possible to stably form the same very thin granular material layer p1.

【００４７】この検査ドラム１の外周面上に形成された
粉粒体層ｐ１は、図１に示されているように、検査ドラ
ム１の回転により、検査ドラム１の外周面に載置された
状態で該検査ドラム１の頂点付近からほぼ１／４周搬送
された後、連続した粉粒体流ｐ２として検査ドラム１か
ら落下し、上記分離回収器４１の貫通路４１１を通過
し、回収容器（図示せず）等に回収され、又は直接包装
工程などの次工程へと搬送される。The granular material layer p1 formed on the outer peripheral surface of the inspection drum 1 is mounted on the outer peripheral surface of the inspection drum 1 by the rotation of the inspection drum 1 as shown in FIG. After being transported from the vicinity of the apex of the inspection drum 1 substantially in the state in the vicinity, it falls from the inspection drum 1 as a continuous powder flow p2, passes through the through passage 411 of the separation and recovery unit 41, and is collected. (Not shown), or transported directly to the next process such as a packaging process.

【００４８】このとき、上記検査ドラムの外周面上に載
置された状態で搬送されている粉粒体層ｐ１を上記撮像
装置３のラインセンサカメラ３１で連続的に撮影し、上
記粉粒体層ｐ１の画像を取り込み、得られた画像を上記
検出手段（図示せず）により画像処理して粉粒体中に混
入した異物の検出を行う。その結果、異物が検出された
場合には、該検出手段（図示せず）から検出信号が発信
され、この検出信号に応答して上記分離回収器４１が一
時的に移動して、上記粉粒体流ｐ２からこの異物を含ん
だ所定量の粉粒体ｐ３が分離回収升４１２に分離除去さ
れる。これにより、粉粒体ｐに混入した異物が粉粒体ｐ
から分離除去され、正常の粉粒体のみが回収容器（図示
せず）などに回収され、又は次工程へと搬送される。At this time, the granular material layer p1 conveyed while being placed on the outer peripheral surface of the inspection drum is continuously photographed by the line sensor camera 31 of the imaging device 3, and The image of the layer p1 is captured, and the obtained image is subjected to image processing by the detection means (not shown) to detect a foreign substance mixed in the granular material. As a result, when a foreign substance is detected, a detection signal is transmitted from the detection means (not shown), and in response to the detection signal, the separation / recovery device 41 is temporarily moved, and A predetermined amount of the granular material p3 containing the foreign matter is separated and removed from the body flow p2 by the separation / recovery box 412. As a result, foreign matter mixed in the powder
, And only normal particles are collected in a collection container (not shown) or the like, or transported to the next step.

【００４９】ここで、上記撮像装置３による画像の取り
込みは、上記照明用光源３２により検査ドラム１上の粉
粒体層ｐ１を照明しながら、該粉粒体層ｐ１の表面を上
記ラインセンサカメラ３１で撮影することにより行われ
るが、このとき粉粒体層ｐ１中に粉粒体と少しでも色調
の異なる異物が存在すると、この異物は取り込んだ画像
中に明度又は輝度の変化として現れ、これを上記検出手
段（図示せず）で画像処理によって検出されるものであ
る。この場合、本発明の検査方法では、検査ドラム１の
外周面上に載置された状態の粉粒体層ｐ１を撮影して、
画像の取り込みが行われるので、従来の検査装置のよう
に自然落下する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥か
に安定した状態の粉粒体層ｐ１に対して画像の取り込み
を行うことができ、安定的な画像を確実に得ることがで
きる。また、この粉粒体層ｐ１が検査ドラム１の外周面
に載置された状態で、厚さ、速度、軌道等に変化が生じ
ることなく安定的に検査領域（撮影位置）に搬送されて
撮影され、常に最良かつ一定の条件下で検査が行われる
ので、検査精度を大幅に向上させることができるもので
ある。Here, the image is captured by the imaging device 3 while the illumination light source 32 illuminates the powder layer p1 on the inspection drum 1 while the surface of the powder layer p1 is scanned by the line sensor camera. This is performed by photographing at 31. At this time, if there is a foreign matter having a color tone slightly different from that of the granular material in the granular material layer p1, the foreign material appears as a change in lightness or luminance in the captured image. Is detected by image processing by the detection means (not shown). In this case, in the inspection method of the present invention, the granular material layer p1 placed on the outer peripheral surface of the inspection drum 1 is photographed,
Since the image is taken in, the image is taken in the powder layer p1 in a much more stable state as compared with the case where the particle layer which falls naturally like the conventional inspection device is photographed. And a stable image can be reliably obtained. Further, in a state in which the granular material layer p1 is placed on the outer peripheral surface of the inspection drum 1, it is stably transported to the inspection area (imaging position) without any change in thickness, speed, orbit, and photographed. In addition, since the inspection is always performed under the best and constant condition, the inspection accuracy can be greatly improved.

【００５０】また、上述のように、粉粒体層ｐ１を粉粒
体の平均粒径とほぼ同一の非常に薄い層とすることがで
きるので、異物が粉粒体層ｐ１に埋もれてしまうような
ことがなく、異物を確実に検出することができ、非常に
信頼性の高い検査を行うことができる。この場合、粉粒
体層ｐ１をこのように粉粒体の平均粒径と等しいほどに
薄く形成すると、該粉粒体層ｐ１に部分的に粒子が存在
しない欠けた部分が生じ易くなるが、この場合でも、上
述のように検査ドラム１の外周面を検査対象の粉粒体ｐ
と同一の色調とすることにより、このような欠けた部分
を異物と誤認することなく、高精度で信頼性の高い検査
を行うことができるものである。Further, as described above, since the granular material layer p1 can be formed as a very thin layer having substantially the same average particle diameter as the granular material, foreign matter is buried in the granular material layer p1. Therefore, the foreign matter can be reliably detected, and a highly reliable inspection can be performed. In this case, if the granular material layer p1 is formed so thin as to be equal to the average particle diameter of the granular material, a chipped portion in which particles do not exist partially in the granular material layer p1 easily occurs. Even in this case, as described above, the outer peripheral surface of the inspection drum 1 is
By using the same color tone as described above, a highly accurate and highly reliable inspection can be performed without erroneously recognizing such a missing portion as a foreign substance.

【００５１】従って、本発明の検査方法によれば、単に
上記検査ドラム１の外周面を検査対象の粉粒体ｐと同一
の色調とすることにより、粉粒体層ｐ１に生じた欠け部
分を異物と誤認することなく、該粉粒体層ｐ１を非常に
薄く形成して高精度の検査を行うことができるものであ
り、上記従来の検査装置のように、透過光の光量を厳格
に設定するような煩雑な設定を要することなく、容易に
高精度な検査を行うことができるものである。Therefore, according to the inspection method of the present invention, by simply setting the outer peripheral surface of the inspection drum 1 to have the same color tone as that of the granular material p to be inspected, the chipped portion generated in the granular material layer p1 is eliminated. The particle layer p1 can be formed very thin and a high-precision inspection can be performed without being erroneously recognized as a foreign substance, and the amount of transmitted light is strictly set as in the above-described conventional inspection apparatus. This makes it possible to easily perform high-precision inspection without requiring complicated settings such as those described above.

【００５２】更に、本発明の検査方法では、上記検査ド
ラム１上に載置された状態の粉粒体層ｐ１を直接撮像装
置で撮影することにより、画像の取り込みを行うことが
できるので、透明回転円筒を通して撮影を行う上記従来
の検査装置のような高度なクリーニングを要することな
く、検査ドラム表面を上記ブラシロール６を用いて簡易
にクリーニングするだけで、信頼性の高い検査を確実に
行うことができるものである。Further, according to the inspection method of the present invention, an image can be taken in by directly photographing the granular material layer p1 placed on the inspection drum 1 with an image pickup device, so that the image can be captured. The highly reliable inspection can be reliably performed by simply cleaning the surface of the inspection drum using the brush roll 6 without requiring advanced cleaning as in the above-described conventional inspection apparatus that performs imaging through a rotating cylinder. Can be done.

【００５３】このように、本実施例の検査装置を用いた
本発明の粉粒体の検査方法によれば、検査条件の設定や
検査機構部に煩雑な機構や設定、調整、メンテナンスな
どを要することなく、比較的簡便な操作や機構によって
高精度な検査を確実に行うことができるものである。As described above, according to the method for inspecting a granular material of the present invention using the inspection apparatus of this embodiment, setting of inspection conditions and complicated mechanisms, settings, adjustments, maintenance, and the like are required for the inspection mechanism. Without this, a highly accurate inspection can be reliably performed by a relatively simple operation and mechanism.

【００５４】なお、本発明の検査方法及び検査装置は、
上記実施例に制限されるものではなく、種々変更するこ
とができる。例えば、上記実施例では、上記粉粒体供給
手段２として、篩過器２１を有し、この篩過器２１で粉
粒体を篩いながら検査ドラム１に粉粒体を供給する機構
を採用したが、粉粒体供給手段２はその他の機構により
粉粒体を供給するものであってもよく、要は一定量の粉
粒体を均一に供給し得るものであればよい。また、異物
回収手段４も上記分離回収器４１を用いたものに限定さ
れるものではなく、従来の装置のように吸引により落下
する粉粒体流ｐ２から異物を吸引除去することもでき、
この場合でも本発明の検査方法及び装置では、粉粒体層
ｐ１が検査ドラム１上に載置された安定的な状態で検査
が行われるため、吸引による気流の乱れに影響されるこ
となく、良好な検査を行うことができるものである。更
に、上記実施例ではラインセンサカメラ３１を用いて画
像の取り込みを行うようにしたが、２次元カメラを用い
て画像の取り込みを行ってもよく、その他の構成につい
ても本発明の要旨を逸脱しない限り、適宜変更して差し
支えない。更に、本発明の検査方法及び検査装置は、医
薬品の原料、半製品、製品などの粉粒体中に混入した異
物を検出して除去するための検査方法及び検査装置とし
て好適に用いられるものであるが、医薬以外にも、食
品、化成品等の原料、半製品、製品など、その他の粉粒
体の検査にも好適に採用されるものである。The inspection method and the inspection apparatus according to the present invention
The present invention is not limited to the above embodiment, but can be variously modified. For example, in the above-described embodiment, a mechanism that has a sieve 21 as the granular material supply means 2 and that supplies the granular material to the inspection drum 1 while sieving the granular material with the sieve 21 is employed. However, the granular material supply means 2 may be one that supplies the granular material by another mechanism, that is, any means that can uniformly supply a fixed amount of the granular material. Further, the foreign matter collecting means 4 is not limited to the one using the separation and collecting device 41, but can also remove foreign matter by suction from the granular material flow p2 falling by suction as in a conventional apparatus.
Even in this case, according to the inspection method and apparatus of the present invention, the inspection is performed in a stable state in which the granular material layer p1 is placed on the inspection drum 1, and therefore, is not affected by the turbulence of the airflow due to suction. A good inspection can be performed. Furthermore, in the above embodiment, the image is captured using the line sensor camera 31. However, the image may be captured using a two-dimensional camera, and other configurations do not depart from the gist of the present invention. As long as it can be changed as appropriate. Further, the inspection method and the inspection apparatus of the present invention are suitably used as an inspection method and an inspection apparatus for detecting and removing a foreign substance mixed in a granular material such as a raw material of a pharmaceutical product, a semi-finished product, and a product. However, in addition to pharmaceuticals, it is also suitably used for inspection of other granular materials such as raw materials such as foods and chemical products, semi-finished products and products.

【００５５】[0055]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の粉粒体の
検査方法及び検査装置によれば、回転する検査ドラムの
外周面上に粉粒体層を載置形成し、この粉粒体層を撮影
して異物の検出を行うようにしたことにより、複雑な機
構や煩雑な条件設定を要することなく、比較的簡便な操
作や機構によって、従来の方法及び装置では達成し得な
かった高精度な検査を行うことができるものである。As described above, according to the method and apparatus for inspecting a granular material of the present invention, a granular material layer is placed and formed on the outer peripheral surface of a rotating inspection drum. By photographing the layer and detecting foreign matter, a relatively simple operation and mechanism can be achieved without a complicated mechanism or complicated condition setting. An accurate inspection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の一実施例にかかる粉粒体検査装置を示
す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a granular material inspection apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図２】同検査装置を構成する検査ドラムを示す図１の
Ａ−Ａ線に沿った拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line AA of FIG. 1 showing an inspection drum constituting the inspection apparatus.

【図３】同検査装置の粉粒体供給手段を構成する篩過器
の一例を示す概略図であり、（Ａ）は断面図、（Ｂ）は
（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿って一部を断面とした平面図であ
る。FIG. 3 is a schematic view showing an example of a sieving device which constitutes a powdery and granular material supply means of the inspection apparatus, where (A) is a cross-sectional view and (B) is a view taken along line BB of (A). It is the top view which made a part into section.

【図４】同検査装置の粉粒体供給手段を構成する篩過器
の他の例を示す概略図であり、（Ａ）は断面図、（Ｂ）
は（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿って一部を断面とした平面図で
ある。FIG. 4 is a schematic view showing another example of a sieving device which constitutes the powder and granular material supply means of the inspection apparatus, in which (A) is a cross-sectional view and (B).
FIG. 2 is a plan view partially sectioned along the line BB of FIG.

【図５】従来の粉粒体検査装置を示す概略図である。FIG. 5 is a schematic view showing a conventional granular material inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 検査ドラム １２ 回転駆動軸（水平軸） ２ 粉粒体供給手段 ２１ 篩過器 ２１ａ，２１ｂ，２１ｃ 篩 ２１１ ホッパー ３ 撮像装置 ３１ ラインセンサカメラ ３２ 照明用光源 ４ 異物回収手段 ６ ブラシロール（クリーニング装置） ７ 除電ロール（除電装置） ｐ 粉粒体 ｐ１ 粉粒体層 ｐ２ 粉粒体流 ｐ３ 異物を含む粉粒体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection drum 12 Rotation drive shaft (horizontal axis) 2 Granular material supply means 21 Sieving device 21a, 21b, 21c Sieve 211 Hopper 3 Imaging device 31 Line sensor camera 32 Light source for illumination 4 Foreign matter collection means 6 Brush roll (cleaning device) 7) Static elimination roll (static eliminator) p Granule p1 Granule layer p2 Granule flow p3 Powder containing foreign matter

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 水平軸を中心にして回転する検査ドラム
の頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を連
続的に供給して、該検査ドラムの外周面上に上記粉粒体
の均一な薄層を形成し、これを検査ドラムの外周面上に
載置した状態で該検査ドラムの回転により約１／４周搬
送した後に連続的に落下させて回収すると共に、上記搬
送中に検査ドラム上の粉粒体層を撮影して上記粉粒体層
の画像を取り込み、得られた画像を画像処理して粉粒体
中に混入した異物を検出し、この異物を含んだ所定量の
粉粒体を上記検査ドラムから落下する粉粒体流から分離
除去することを特徴とする粉粒体の検査方法。The present invention relates to a method of continuously supplying a granular material to an outer peripheral surface at or near a vertex position of an inspection drum rotating about a horizontal axis, and to apply the granular material to an outer peripheral surface of the inspection drum. A uniform thin layer is formed, and is placed on the outer peripheral surface of the inspection drum. After being transported for about 1/4 turn by rotation of the inspection drum, it is continuously dropped and collected. An image of the granular material layer is captured on the inspection drum, the image of the granular material layer is captured, and the obtained image is subjected to image processing to detect foreign matter mixed in the granular material, and a predetermined amount including the foreign matter is included. A method for inspecting a granular material, wherein the granular material is separated and removed from the granular material flow falling from the inspection drum. 【請求項２】 粉粒体を篩い落としながら上記検査ドラ
ムの外周面上に供給する請求項１記載の粉粒体の検査方
法。2. The method for inspecting a granular material according to claim 1, wherein the granular material is supplied onto the outer peripheral surface of the inspection drum while being sieved. 【請求項３】 上記検査ドラムとして、外周面が検査対
象の粉粒体と同一の色調を有するものを用いる請求項１
又は２記載の粉粒体の検査方法。3. The inspection drum having an outer peripheral surface having the same color tone as a powdery or granular material to be inspected.
Or the inspection method of the granular material of 2. 【請求項４】 上記粉粒体が、医薬の原料、半製品、製
品である請求項１〜３のいずれか１項に記載の粉粒体の
検査方法。4. The method for inspecting a granular material according to claim 1, wherein the granular material is a raw material, a semi-finished product, or a product of a medicine. 【請求項５】 粉粒体中に混入した異物を検出除去する
ための検査装置であって、水平軸を中心にして回転し、
外周面に粉粒体を均一な薄層状に載置して頂点位置又は
その近傍から約１／４周搬送した後、連続的に落下させ
る検査ドラムと、該検査ドラムの頂点位置又はその近傍
における外周面上に粉粒体を連続的に供給する粉粒体供
給手段と、上記検査ドラムの外周面上に載置されて搬送
される粉粒体層を連続的に撮影し、該粉粒体層の画像を
取り込む撮像装置と、該撮像装置により取り込まれた画
像を画像処理して異物を検出する検出手段と、該検出手
段からの検出信号に応じて、上記検査ドラムから落下す
る粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去す
る異物回収手段とを具備してなることを特徴とする粉粒
体検査装置。5. An inspection device for detecting and removing a foreign substance mixed in a granular material, wherein the inspection device rotates about a horizontal axis,
An inspection drum that places the granules on the outer peripheral surface in a uniform thin layer and conveys about ４ round from the vertex position or the vicinity thereof, and then continuously drops, and an inspection drum at the vertex position of the test drum or the vicinity thereof A powder supply means for continuously supplying the powder on the outer peripheral surface, and a powder layer continuously mounted and conveyed on the outer peripheral surface of the inspection drum; An imaging device that captures an image of a layer, a detection unit that performs image processing on the image captured by the imaging device to detect a foreign substance, and a granular material that falls from the inspection drum according to a detection signal from the detection unit An apparatus for inspecting a granular material, comprising: a foreign matter collecting means for separating and removing a predetermined amount of a granular material containing a foreign matter from a stream. 【請求項６】 上記粉粒体供給手段が、１又は複数の篩
を連設した篩過器を具備し、この篩過器を介して粉粒体
を上記検査ドラムの外周面上に供給するように構成した
請求項５記載の粉粒体検査装置。6. The granular material supply means includes a sieve provided with one or a plurality of sieves, and supplies the granular material onto the outer peripheral surface of the inspection drum via the sieve. The granular material inspection apparatus according to claim 5, wherein the inspection apparatus is configured as follows. 【請求項７】 上記検査ドラムが、検査対象の粉粒体と
同一色調の外周面を有するものである請求項５又は６記
載の粉粒体検査装置。7. An apparatus for inspecting a granular material according to claim 5, wherein the inspection drum has an outer peripheral surface having the same color tone as the granular material to be inspected. 【請求項８】 粉粒体落下位置から粉粒体供給位置まで
の間に、上記検査ドラム外周面を、クリーニングするク
リーニング装置及び静電除去する除電装置を備えた請求
項５〜７のいずれか１項に記載の粉粒体検査装置。8. The cleaning device according to claim 5, further comprising a cleaning device for cleaning the outer peripheral surface of the inspection drum and a static eliminator for removing static electricity between the powder-particle drop position and the powder-particle supply position. Item 2. The granular material inspection device according to Item 1.