JPH10257129A - 伝送装置の試験方法 - Google Patents
伝送装置の試験方法Info
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- JPH10257129A JPH10257129A JP9058789A JP5878997A JPH10257129A JP H10257129 A JPH10257129 A JP H10257129A JP 9058789 A JP9058789 A JP 9058789A JP 5878997 A JP5878997 A JP 5878997A JP H10257129 A JPH10257129 A JP H10257129A
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】伝送装置の試験で、試験の実行、障害モジュー
ルの特定、障害モジュール上の障害部位、及び障害原因
の解析を自動的に行う。 【解決手段】装置ハードウエアのメモリ及び装置制御部
のメモリにアクセス可能な装置モニタソフトウエアを搭
載した装置制御部を持つ、被試験伝送装置と、試験実行
ソフトウエア,試験機制御ソフトウエア,装置制御ソフ
トウエア,装置モニタ部通信ソフトウエアを持つ試験制
御端末と、試験機とからなる。
ルの特定、障害モジュール上の障害部位、及び障害原因
の解析を自動的に行う。 【解決手段】装置ハードウエアのメモリ及び装置制御部
のメモリにアクセス可能な装置モニタソフトウエアを搭
載した装置制御部を持つ、被試験伝送装置と、試験実行
ソフトウエア,試験機制御ソフトウエア,装置制御ソフ
トウエア,装置モニタ部通信ソフトウエアを持つ試験制
御端末と、試験機とからなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は伝送装置について効
率的な試験を提供する試験方法に関する。
率的な試験を提供する試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術の一実施例として、伝送装置に
関する試験、及び障害部位及び障害原因の解析方法を例
に示す。
関する試験、及び障害部位及び障害原因の解析方法を例
に示す。
【0003】一般に伝送装置の試験では、図1に示すよ
うに、試験機制御端末100により、試験機200を制
御し、自動または手動により、伝送装置の回線導通試
験,通信警報試験などの試験を行う。1回目の試験の終
了後、装置制御端末400より伝送装置300の装置制
御部302を制御し、装置を構成し、冗長構成を持つ複
数の機能モジュール301の現用系から予備系への切り
替え、または予備系から現用系への切り戻しを行うこと
により、現用系,予備系の機能モジュール301の全数
について、試験を行う。また必要により、さらに、装置
送信クロックモード,伝送路符号など、伝送装置の設定
変更,状態変更を行い、試験を行う。
うに、試験機制御端末100により、試験機200を制
御し、自動または手動により、伝送装置の回線導通試
験,通信警報試験などの試験を行う。1回目の試験の終
了後、装置制御端末400より伝送装置300の装置制
御部302を制御し、装置を構成し、冗長構成を持つ複
数の機能モジュール301の現用系から予備系への切り
替え、または予備系から現用系への切り戻しを行うこと
により、現用系,予備系の機能モジュール301の全数
について、試験を行う。また必要により、さらに、装置
送信クロックモード,伝送路符号など、伝送装置の設定
変更,状態変更を行い、試験を行う。
【0004】試験の結果が不良、即ち被試験装置に障害
があった場合、手動により試験を行い、障害を再現さ
せ、装置機能モジュール単位で障害部位の特定を行う。
があった場合、手動により試験を行い、障害を再現さ
せ、装置機能モジュール単位で障害部位の特定を行う。
【0005】障害を機能モジュール単位で特定後、装置
制御部302を被試験装置より取り外し、代わりに装置
モニタソフトウエア501を持つ、障害解析用の疑似制
御モジュール500を取り付け、試験制御端末とは別の
障害解析用端末600より、装置モニタソフトウエア5
01を制御し、障害モジュール上のハードウエアメモリ
にアクセスし、さらに詳細な障害部位及び障害モードの
解析を行う。
制御部302を被試験装置より取り外し、代わりに装置
モニタソフトウエア501を持つ、障害解析用の疑似制
御モジュール500を取り付け、試験制御端末とは別の
障害解析用端末600より、装置モニタソフトウエア5
01を制御し、障害モジュール上のハードウエアメモリ
にアクセスし、さらに詳細な障害部位及び障害モードの
解析を行う。
【0006】上記技術のうち、端末より、試験機を制御
し、人手を介さずに試験を行うことは、広く公知された
技術である。また関連技術として、伝送装置の監視制御
部を評価する装置として、「自動試験装置SDH伝送装
置の監視制御部の評価装置[(特開平7−28850
9)]」が、光通信ネットワークの光パラメータの自動
テスト装置として、「光通信ネットワークをテストする
装置[(平3−169130)]」がある。
し、人手を介さずに試験を行うことは、広く公知された
技術である。また関連技術として、伝送装置の監視制御
部を評価する装置として、「自動試験装置SDH伝送装
置の監視制御部の評価装置[(特開平7−28850
9)]」が、光通信ネットワークの光パラメータの自動
テスト装置として、「光通信ネットワークをテストする
装置[(平3−169130)]」がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来技術では、試験の
課程で、伝送装置の状態,設定の変更を、試験制御端末
と別の、装置制御端末より行う必要があった。
課程で、伝送装置の状態,設定の変更を、試験制御端末
と別の、装置制御端末より行う必要があった。
【0008】また、図2に示す例のように、試験項目の
一つである、回線の導通の条件として、伝送装置700
内の、複数のハードウエア機能モジュール701〜71
2の全てが、良好であることが上げられるため、試験の
結果が不良、即ち、伝送装置に障害が認められた場合、
どのモジュールに障害があるかを特定するため、手動に
より障害を再現させ、障害をモジュール単位で特定する
必要があった。
一つである、回線の導通の条件として、伝送装置700
内の、複数のハードウエア機能モジュール701〜71
2の全てが、良好であることが上げられるため、試験の
結果が不良、即ち、伝送装置に障害が認められた場合、
どのモジュールに障害があるかを特定するため、手動に
より障害を再現させ、障害をモジュール単位で特定する
必要があった。
【0009】また障害モジュール特定後、モジュールの
改修のため、さらに詳細な障害解析、即ち、モジュール
上のどの部位が、どのように異常であるかを、手動によ
り、解析する必要があった。このため、特別な知識を持
った、技術者が、装置制御部を一旦、取り外し、代わり
に、装置モニタ機能を持つソフトウエアを持つ、解析用
疑似制御モジュールを取り付け、試験制御端末,装置制
御端末とは、さらに別の解析用端末により、障害モジュ
ール上の、障害部位の特定及び障害モードの解析を行う
必要であった。また装置制御モジュールと疑似制御モジ
ュールとの交換の際、装置の状態が変化し、障害が再現
しなくなる問題があった。
改修のため、さらに詳細な障害解析、即ち、モジュール
上のどの部位が、どのように異常であるかを、手動によ
り、解析する必要があった。このため、特別な知識を持
った、技術者が、装置制御部を一旦、取り外し、代わり
に、装置モニタ機能を持つソフトウエアを持つ、解析用
疑似制御モジュールを取り付け、試験制御端末,装置制
御端末とは、さらに別の解析用端末により、障害モジュ
ール上の、障害部位の特定及び障害モードの解析を行う
必要であった。また装置制御モジュールと疑似制御モジ
ュールとの交換の際、装置の状態が変化し、障害が再現
しなくなる問題があった。
【0010】本発明は、さらに、試験端末より、伝送装
置制御部を制御し、装置の設定,状態を変化させなが
ら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行い、伝
送装置の合否判定を行う試験方法を提供する。
置制御部を制御し、装置の設定,状態を変化させなが
ら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行い、伝
送装置の合否判定を行う試験方法を提供する。
【0011】本発明は、さらに、試験の実行に引き続
き、自動的に障害モジュールの特定を行い、障害特定時
間の短縮及び、作業の無人化を実現する試験方法を提供
する。
き、自動的に障害モジュールの特定を行い、障害特定時
間の短縮及び、作業の無人化を実現する試験方法を提供
する。
【0012】本発明は、さらに、特定された障害モジュ
ール上のより詳細な障害部位及び障害モードの特定を、
自動的に、オンライン即ち、装置制御部と解析用モジュ
ールを交換することなく行い、解析時間の短縮、作業の
無人化を実現する試験方法を提供する。
ール上のより詳細な障害部位及び障害モードの特定を、
自動的に、オンライン即ち、装置制御部と解析用モジュ
ールを交換することなく行い、解析時間の短縮、作業の
無人化を実現する試験方法を提供する。
【0013】本発明は、さらに、モデムを接続すること
により、障害モジュール上の障害部位及び障害モードの
特定を、公衆回線等の回線を利用した遠隔操作により行
う、解析方法を提供する。
により、障害モジュール上の障害部位及び障害モードの
特定を、公衆回線等の回線を利用した遠隔操作により行
う、解析方法を提供する。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、伝送装置の装置制御部に、従来技術では
障害解析用の疑似制御モジュールが持ち、装置ハードウ
エアのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、読み
書きが可能な、装置モニタソフトウエアを内蔵するこ
と、試験制御端末に、従来技術での、試験実行ソフトウ
エア,試験機制御ソフトウエア,装置制御ソフトウエア
の他に、装置モニタソフトウエアと通信し、制御するソ
フトウエアを加える。
達成するため、伝送装置の装置制御部に、従来技術では
障害解析用の疑似制御モジュールが持ち、装置ハードウ
エアのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、読み
書きが可能な、装置モニタソフトウエアを内蔵するこ
と、試験制御端末に、従来技術での、試験実行ソフトウ
エア,試験機制御ソフトウエア,装置制御ソフトウエア
の他に、装置モニタソフトウエアと通信し、制御するソ
フトウエアを加える。
【0015】
【発明の実施の形態】図3に本発明の実施例として伝送
装置の自動試験方式による構成を示す。試験系は試験実
行ソフトウエア801、試験機制御ソフトウエア80
2、装置制御ソフトウエア803、装置モニタ部通信ソ
フトウエア804を持つ、試験制御端末800、一つま
たは複数の、被試験伝送装置700、試験機200、及
び被試験装置の構成モジュールとして、一つまたは複数
の高速インタフェース部現用モジュール701、一つま
たは複数の高速インタフェース予備モジュール702、
一つまたは複数の低速インタフェース部現用モジュール
703、一つまたは複数の低速インタフェース予備モジ
ュール704、多重変換部現用モジュール705、多重
変換部予備モジュール706、オーバヘッド部現用モジ
ュール707、オーバヘッド部予備モジュール708、
セレクタ部現用モジュール709、セレクタ部予備モジ
ュール710、クロック部現用モジュール711、クロ
ック部予備モジュール712、装置モニタソフトウエア
714を持つ、一つまたは複数の装置制御部713によ
り構成される。
装置の自動試験方式による構成を示す。試験系は試験実
行ソフトウエア801、試験機制御ソフトウエア80
2、装置制御ソフトウエア803、装置モニタ部通信ソ
フトウエア804を持つ、試験制御端末800、一つま
たは複数の、被試験伝送装置700、試験機200、及
び被試験装置の構成モジュールとして、一つまたは複数
の高速インタフェース部現用モジュール701、一つま
たは複数の高速インタフェース予備モジュール702、
一つまたは複数の低速インタフェース部現用モジュール
703、一つまたは複数の低速インタフェース予備モジ
ュール704、多重変換部現用モジュール705、多重
変換部予備モジュール706、オーバヘッド部現用モジ
ュール707、オーバヘッド部予備モジュール708、
セレクタ部現用モジュール709、セレクタ部予備モジ
ュール710、クロック部現用モジュール711、クロ
ック部予備モジュール712、装置モニタソフトウエア
714を持つ、一つまたは複数の装置制御部713によ
り構成される。
【0016】本発明による試験及び解析方法の1例を図
4ないし図6に示す。
4ないし図6に示す。
【0017】試験制御端末800上の試験実行ソフトウ
エア801は、試験機制御ソフトウエア802により試
験機200を、また装置制御ソフトウエア803によ
り、装置制御部713経由で各機能モジュールをそれぞ
れ制御し、図4のS2として、全ての機能モジュールに
ついて現用側が選択された状態とした上で、S3として
1回目の自動試験を実行する。
エア801は、試験機制御ソフトウエア802により試
験機200を、また装置制御ソフトウエア803によ
り、装置制御部713経由で各機能モジュールをそれぞ
れ制御し、図4のS2として、全ての機能モジュールに
ついて現用側が選択された状態とした上で、S3として
1回目の自動試験を実行する。
【0018】1回目の試験結果が良好である場合、試験
制御端末800より装置制御部を経由して、S4として
701〜712の各モジュールの切替制御を行い、全て
のモジュールで予備側を選択させ、S5で2回目の自動
試験を行う。
制御端末800より装置制御部を経由して、S4として
701〜712の各モジュールの切替制御を行い、全て
のモジュールで予備側を選択させ、S5で2回目の自動
試験を行う。
【0019】1回目の試験に引き続き、2回目の試験結
果も良好である場合、被試験伝送装置上に実装された全
機能モジュールが正常であると判断し、S6として試験
結果を表示し、試験を終了する。
果も良好である場合、被試験伝送装置上に実装された全
機能モジュールが正常であると判断し、S6として試験
結果を表示し、試験を終了する。
【0020】1回目の試験結果が良好で、2回目の試験
結果が不良である場合、予備側に障害モジュールがある
と判断し、図5のS11として高速インタフェース部予
備702を、高速インタフェース部現用701に切り戻
し、S12として3回目の試験を行う。3回目の試験結
果が良好であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部予備702であると判断し、S13として障害部位
及び障害モードの解析を行い、S14として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
結果が不良である場合、予備側に障害モジュールがある
と判断し、図5のS11として高速インタフェース部予
備702を、高速インタフェース部現用701に切り戻
し、S12として3回目の試験を行う。3回目の試験結
果が良好であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部予備702であると判断し、S13として障害部位
及び障害モードの解析を行い、S14として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
【0021】3回目の試験結果が不良であれば、高速イ
ンタフェース部予備702には障害がないと判断し、次
にS15として低速インタフェース部予備704を、低
速インタフェース部現用703に切り戻し4回目の試験
を行う。以下同様に、S18〜S29により、試験結果
が良好となるまで、多重変換部,オーバヘッド部,セレ
クタ部,クロック部について、順次現用への切り戻しを
行い、試験することで、障害モジュールを特定し、障害
モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及び原
因の特定を行う。S28の結果が不良の場合、S2に戻
り、再度試験をやり直す。
ンタフェース部予備702には障害がないと判断し、次
にS15として低速インタフェース部予備704を、低
速インタフェース部現用703に切り戻し4回目の試験
を行う。以下同様に、S18〜S29により、試験結果
が良好となるまで、多重変換部,オーバヘッド部,セレ
クタ部,クロック部について、順次現用への切り戻しを
行い、試験することで、障害モジュールを特定し、障害
モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及び原
因の特定を行う。S28の結果が不良の場合、S2に戻
り、再度試験をやり直す。
【0022】1回目の試験結果が不良である場合にも、
S7として試験制御端末800より装置制御部を制御
し、高速インタフェース部,低速インタフェース部,多
重変換部,オーバヘッド部,セレクタ部,クロック部を
同時に予備側へ切り替え、S8として2回目の自動試験
を行う。
S7として試験制御端末800より装置制御部を制御
し、高速インタフェース部,低速インタフェース部,多
重変換部,オーバヘッド部,セレクタ部,クロック部を
同時に予備側へ切り替え、S8として2回目の自動試験
を行う。
【0023】1回目の試験結果が不良で、2回目の試験
結果が良好である場合、現用側に障害モジュールがある
と判断し、図6のS30として高速インタフェース部予
備702を、高速インタフェース部現用701に切り戻
し、S31として3回目の試験を行う。3回目の試験結
果が不良であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部現用701であると判断し、S32として障害部位
及び障害モードの解析を行い、S33として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
結果が良好である場合、現用側に障害モジュールがある
と判断し、図6のS30として高速インタフェース部予
備702を、高速インタフェース部現用701に切り戻
し、S31として3回目の試験を行う。3回目の試験結
果が不良であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部現用701であると判断し、S32として障害部位
及び障害モードの解析を行い、S33として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
【0024】3回目の試験結果が良好であれば、高速イ
ンタフェース部現用701には障害がないと判断し、次
に、S34として低速インタフェース部予備704を、
低速インタフェース部現用703に切り戻し、S35と
して4回目の試験を行う。
ンタフェース部現用701には障害がないと判断し、次
に、S34として低速インタフェース部予備704を、
低速インタフェース部現用703に切り戻し、S35と
して4回目の試験を行う。
【0025】以下同様に、S37〜S48により、試験
結果が不良となるまで、多重変換部,オーバヘッド部,
セレクタ部,クロック部について、順次現用への切り戻
しを行い、試験することで、障害モジュールを特定し、
障害モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及
び原因の特定を行う。S47の結果が不良の場合、S2
に戻り、再度試験をやり直す。
結果が不良となるまで、多重変換部,オーバヘッド部,
セレクタ部,クロック部について、順次現用への切り戻
しを行い、試験することで、障害モジュールを特定し、
障害モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及
び原因の特定を行う。S47の結果が不良の場合、S2
に戻り、再度試験をやり直す。
【0026】1回目の試験に引き続き、2回目の試験結
果も不良である場合、伝送装置上に実装されたいずれか
一つまたは複数の機能モジュールが現用・予備の両系障
害を持つと判断し、S9として、試験制御端末800よ
り701〜712の全機能モジュールについて、自己診
断プログラムを順次起動、解析し、障害モジュールの特
定を行う。
果も不良である場合、伝送装置上に実装されたいずれか
一つまたは複数の機能モジュールが現用・予備の両系障
害を持つと判断し、S9として、試験制御端末800よ
り701〜712の全機能モジュールについて、自己診
断プログラムを順次起動、解析し、障害モジュールの特
定を行う。
【0027】次に、障害モジュールの特定後に行う、障
害部位、及び障害モードの解析方法の実施例を示す。図
7に装置制御部のブロック図を示す。
害部位、及び障害モードの解析方法の実施例を示す。図
7に装置制御部のブロック図を示す。
【0028】障害モジュールが特定された場合、試験制
御端末800上の試験実行ソフトウエア801より、装
置モニタソフト通信ソフトウエア804経由で、装置制
御部900の、CPU901上の装置モニタソフトウエ
ア902を制御し、ハードウエアアクセスソフト903
を経由して、当該モジュール上のLSIレジスタ情報、
及び装置制御部900上の、メモリ904の情報を読み
出す。読み出された結果は、予め試験制御端末800に
保存された、正常時のレジスタ情報期待値と比較され、
読み出し値との差分により、モジュール上の障害部位及
び障害モードが特定される。
御端末800上の試験実行ソフトウエア801より、装
置モニタソフト通信ソフトウエア804経由で、装置制
御部900の、CPU901上の装置モニタソフトウエ
ア902を制御し、ハードウエアアクセスソフト903
を経由して、当該モジュール上のLSIレジスタ情報、
及び装置制御部900上の、メモリ904の情報を読み
出す。読み出された結果は、予め試験制御端末800に
保存された、正常時のレジスタ情報期待値と比較され、
読み出し値との差分により、モジュール上の障害部位及
び障害モードが特定される。
【0029】また試験制御端末800,装置制御部90
0にモデム905を接続することにより、通信回線によ
り、遠隔地に置かれた伝送装置の、障害モジュールの障
害部位、及び障害モードの解析が可能である。
0にモデム905を接続することにより、通信回線によ
り、遠隔地に置かれた伝送装置の、障害モジュールの障
害部位、及び障害モードの解析が可能である。
【0030】
【発明の効果】伝送装置の試験、障害モジュール特定、
障害モジュール上の障害部位の特定、及び故障モード解
析を、一貫して、オンラインで、自動的に行うことを可
能とし、従来の、手動による方法と比較して、解析時間
の短縮,省力化を実現すると共に、人為的操作誤りを無
くすことで作業の正確性を向上する。
障害モジュール上の障害部位の特定、及び故障モード解
析を、一貫して、オンラインで、自動的に行うことを可
能とし、従来の、手動による方法と比較して、解析時間
の短縮,省力化を実現すると共に、人為的操作誤りを無
くすことで作業の正確性を向上する。
【図1】従来方法による試験方法例の構成を示すブロッ
ク図。
ク図。
【図2】従来方法による障害モジュールの特定方法例の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図3】本発明による障害モジュールの解析方法の実現
例を示すブロック図。
例を示すブロック図。
【図4】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図5】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図6】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図7】本発明による障害モジュール上の障害部位の解
析方法の部分構成を示すブロック図。
析方法の部分構成を示すブロック図。
200…試験機。700…伝送装置、800…試験制御
端末。
端末。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中川 好美 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地株式 会社日立製作所情報通信事業部内
Claims (6)
- 【請求項1】伝送装置の試験方法において、端末により
伝送装置制御部を制御し、装置の設定,状態を変化させ
ながら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行う
ことを特徴とした伝送装置の試験方法。 - 【請求項2】請求項1において上記伝送装置に障害が認
められた場合、引き続き、上記端末より、上記伝送装置
制御部を制御し、冗長構成を持つ装置構成モジュールの
予備系への切り替え、または現用系へ切り戻しを行った
後、再度試験を行うことを繰り返し、障害モジュール自
動的に特定する伝送装置の試験方法。 - 【請求項3】請求項2において上記端末より、上記伝送
装置に内蔵されたモニタソフトウエアを起動し、障害の
あるモジュール上のハードウエアの状態及び上記伝送装
置制御部上の目盛内容を読み出し、予め、上記端末上に
保存された情報と比較することで、障害モジュール上の
障害部位及び障害モードを自動的に解析する伝送装置の
自動試験方法。 - 【請求項4】請求項3において、上記試験制御端末か
ら、オンラインで、装置を構成するハードウエアモジュ
ールのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、メモ
リ内容の読み込み及び書き込みを可能とする装置モニタ
ソフトウエアを搭載した制御部を持つ伝送装置。 - 【請求項5】請求項1,2または3において、上記モニ
タソフトウエアと通信し、制御するソフトウエアと、試
験実行ソフトウエアと、試験機を制御するソフトウエア
と、上記伝送装置の制御部を制御するソフトウエアを持
つ試験制御端末による試験制御を行う伝送装置の試験方
法。 - 【請求項6】請求項4による上記伝送装置の制御部で、
モデムを接続することで、請求項3の上記障害部位及び
障害モードの解析を、回線により、遠隔で行う伝送装置
の解析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9058789A JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9058789A JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10257129A true JPH10257129A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=13094349
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9058789A Pending JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10257129A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011097466A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Ntt Docomo Inc | 監視システム、監視方法、監視用プログラム |
-
1997
- 1997-03-13 JP JP9058789A patent/JPH10257129A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011097466A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Ntt Docomo Inc | 監視システム、監視方法、監視用プログラム |
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