JPH10257129A - 伝送装置の試験方法 - Google Patents
伝送装置の試験方法Info
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- JPH10257129A JPH10257129A JP9058789A JP5878997A JPH10257129A JP H10257129 A JPH10257129 A JP H10257129A JP 9058789 A JP9058789 A JP 9058789A JP 5878997 A JP5878997 A JP 5878997A JP H10257129 A JPH10257129 A JP H10257129A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】伝送装置の試験で、試験の実行、障害モジュー
ルの特定、障害モジュール上の障害部位、及び障害原因
の解析を自動的に行う。 【解決手段】装置ハードウエアのメモリ及び装置制御部
のメモリにアクセス可能な装置モニタソフトウエアを搭
載した装置制御部を持つ、被試験伝送装置と、試験実行
ソフトウエア，試験機制御ソフトウエア，装置制御ソフ
トウエア，装置モニタ部通信ソフトウエアを持つ試験制
御端末と、試験機とからなる。
ルの特定、障害モジュール上の障害部位、及び障害原因
の解析を自動的に行う。 【解決手段】装置ハードウエアのメモリ及び装置制御部
のメモリにアクセス可能な装置モニタソフトウエアを搭
載した装置制御部を持つ、被試験伝送装置と、試験実行
ソフトウエア，試験機制御ソフトウエア，装置制御ソフ
トウエア，装置モニタ部通信ソフトウエアを持つ試験制
御端末と、試験機とからなる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は伝送装置について効
率的な試験を提供する試験方法に関する。
率的な試験を提供する試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の一実施例として、伝送装置に
関する試験、及び障害部位及び障害原因の解析方法を例
に示す。
関する試験、及び障害部位及び障害原因の解析方法を例
に示す。
【０００３】一般に伝送装置の試験では、図１に示すよ
うに、試験機制御端末１００により、試験機２００を制
御し、自動または手動により、伝送装置の回線導通試
験，通信警報試験などの試験を行う。１回目の試験の終
了後、装置制御端末４００より伝送装置３００の装置制
御部３０２を制御し、装置を構成し、冗長構成を持つ複
数の機能モジュール３０１の現用系から予備系への切り
替え、または予備系から現用系への切り戻しを行うこと
により、現用系，予備系の機能モジュール３０１の全数
について、試験を行う。また必要により、さらに、装置
送信クロックモード，伝送路符号など、伝送装置の設定
変更，状態変更を行い、試験を行う。
うに、試験機制御端末１００により、試験機２００を制
御し、自動または手動により、伝送装置の回線導通試
験，通信警報試験などの試験を行う。１回目の試験の終
了後、装置制御端末４００より伝送装置３００の装置制
御部３０２を制御し、装置を構成し、冗長構成を持つ複
数の機能モジュール３０１の現用系から予備系への切り
替え、または予備系から現用系への切り戻しを行うこと
により、現用系，予備系の機能モジュール３０１の全数
について、試験を行う。また必要により、さらに、装置
送信クロックモード，伝送路符号など、伝送装置の設定
変更，状態変更を行い、試験を行う。
【０００４】試験の結果が不良、即ち被試験装置に障害
があった場合、手動により試験を行い、障害を再現さ
せ、装置機能モジュール単位で障害部位の特定を行う。
があった場合、手動により試験を行い、障害を再現さ
せ、装置機能モジュール単位で障害部位の特定を行う。
【０００５】障害を機能モジュール単位で特定後、装置
制御部３０２を被試験装置より取り外し、代わりに装置
モニタソフトウエア５０１を持つ、障害解析用の疑似制
御モジュール５００を取り付け、試験制御端末とは別の
障害解析用端末６００より、装置モニタソフトウエア５
０１を制御し、障害モジュール上のハードウエアメモリ
にアクセスし、さらに詳細な障害部位及び障害モードの
解析を行う。
制御部３０２を被試験装置より取り外し、代わりに装置
モニタソフトウエア５０１を持つ、障害解析用の疑似制
御モジュール５００を取り付け、試験制御端末とは別の
障害解析用端末６００より、装置モニタソフトウエア５
０１を制御し、障害モジュール上のハードウエアメモリ
にアクセスし、さらに詳細な障害部位及び障害モードの
解析を行う。
【０００６】上記技術のうち、端末より、試験機を制御
し、人手を介さずに試験を行うことは、広く公知された
技術である。また関連技術として、伝送装置の監視制御
部を評価する装置として、「自動試験装置ＳＤＨ伝送装
置の監視制御部の評価装置[（特開平７−２８８５０
９）］」が、光通信ネットワークの光パラメータの自動
テスト装置として、「光通信ネットワークをテストする
装置［（平３−１６９１３０）］」がある。
し、人手を介さずに試験を行うことは、広く公知された
技術である。また関連技術として、伝送装置の監視制御
部を評価する装置として、「自動試験装置ＳＤＨ伝送装
置の監視制御部の評価装置[（特開平７−２８８５０
９）］」が、光通信ネットワークの光パラメータの自動
テスト装置として、「光通信ネットワークをテストする
装置［（平３−１６９１３０）］」がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来技術では、試験の
課程で、伝送装置の状態，設定の変更を、試験制御端末
と別の、装置制御端末より行う必要があった。
課程で、伝送装置の状態，設定の変更を、試験制御端末
と別の、装置制御端末より行う必要があった。
【０００８】また、図２に示す例のように、試験項目の
一つである、回線の導通の条件として、伝送装置７００
内の、複数のハードウエア機能モジュール７０１〜７１
２の全てが、良好であることが上げられるため、試験の
結果が不良、即ち、伝送装置に障害が認められた場合、
どのモジュールに障害があるかを特定するため、手動に
より障害を再現させ、障害をモジュール単位で特定する
必要があった。
一つである、回線の導通の条件として、伝送装置７００
内の、複数のハードウエア機能モジュール７０１〜７１
２の全てが、良好であることが上げられるため、試験の
結果が不良、即ち、伝送装置に障害が認められた場合、
どのモジュールに障害があるかを特定するため、手動に
より障害を再現させ、障害をモジュール単位で特定する
必要があった。
【０００９】また障害モジュール特定後、モジュールの
改修のため、さらに詳細な障害解析、即ち、モジュール
上のどの部位が、どのように異常であるかを、手動によ
り、解析する必要があった。このため、特別な知識を持
った、技術者が、装置制御部を一旦、取り外し、代わり
に、装置モニタ機能を持つソフトウエアを持つ、解析用
疑似制御モジュールを取り付け、試験制御端末，装置制
御端末とは、さらに別の解析用端末により、障害モジュ
ール上の、障害部位の特定及び障害モードの解析を行う
必要であった。また装置制御モジュールと疑似制御モジ
ュールとの交換の際、装置の状態が変化し、障害が再現
しなくなる問題があった。
改修のため、さらに詳細な障害解析、即ち、モジュール
上のどの部位が、どのように異常であるかを、手動によ
り、解析する必要があった。このため、特別な知識を持
った、技術者が、装置制御部を一旦、取り外し、代わり
に、装置モニタ機能を持つソフトウエアを持つ、解析用
疑似制御モジュールを取り付け、試験制御端末，装置制
御端末とは、さらに別の解析用端末により、障害モジュ
ール上の、障害部位の特定及び障害モードの解析を行う
必要であった。また装置制御モジュールと疑似制御モジ
ュールとの交換の際、装置の状態が変化し、障害が再現
しなくなる問題があった。
【００１０】本発明は、さらに、試験端末より、伝送装
置制御部を制御し、装置の設定，状態を変化させなが
ら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行い、伝
送装置の合否判定を行う試験方法を提供する。
置制御部を制御し、装置の設定，状態を変化させなが
ら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行い、伝
送装置の合否判定を行う試験方法を提供する。
【００１１】本発明は、さらに、試験の実行に引き続
き、自動的に障害モジュールの特定を行い、障害特定時
間の短縮及び、作業の無人化を実現する試験方法を提供
する。
き、自動的に障害モジュールの特定を行い、障害特定時
間の短縮及び、作業の無人化を実現する試験方法を提供
する。
【００１２】本発明は、さらに、特定された障害モジュ
ール上のより詳細な障害部位及び障害モードの特定を、
自動的に、オンライン即ち、装置制御部と解析用モジュ
ールを交換することなく行い、解析時間の短縮、作業の
無人化を実現する試験方法を提供する。
ール上のより詳細な障害部位及び障害モードの特定を、
自動的に、オンライン即ち、装置制御部と解析用モジュ
ールを交換することなく行い、解析時間の短縮、作業の
無人化を実現する試験方法を提供する。
【００１３】本発明は、さらに、モデムを接続すること
により、障害モジュール上の障害部位及び障害モードの
特定を、公衆回線等の回線を利用した遠隔操作により行
う、解析方法を提供する。
により、障害モジュール上の障害部位及び障害モードの
特定を、公衆回線等の回線を利用した遠隔操作により行
う、解析方法を提供する。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、伝送装置の装置制御部に、従来技術では
障害解析用の疑似制御モジュールが持ち、装置ハードウ
エアのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、読み
書きが可能な、装置モニタソフトウエアを内蔵するこ
と、試験制御端末に、従来技術での、試験実行ソフトウ
エア，試験機制御ソフトウエア，装置制御ソフトウエア
の他に、装置モニタソフトウエアと通信し、制御するソ
フトウエアを加える。
達成するため、伝送装置の装置制御部に、従来技術では
障害解析用の疑似制御モジュールが持ち、装置ハードウ
エアのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、読み
書きが可能な、装置モニタソフトウエアを内蔵するこ
と、試験制御端末に、従来技術での、試験実行ソフトウ
エア，試験機制御ソフトウエア，装置制御ソフトウエア
の他に、装置モニタソフトウエアと通信し、制御するソ
フトウエアを加える。
【００１５】
【発明の実施の形態】図３に本発明の実施例として伝送
装置の自動試験方式による構成を示す。試験系は試験実
行ソフトウエア８０１、試験機制御ソフトウエア８０
２、装置制御ソフトウエア８０３、装置モニタ部通信ソ
フトウエア８０４を持つ、試験制御端末８００、一つま
たは複数の、被試験伝送装置７００、試験機２００、及
び被試験装置の構成モジュールとして、一つまたは複数
の高速インタフェース部現用モジュール７０１、一つま
たは複数の高速インタフェース予備モジュール７０２、
一つまたは複数の低速インタフェース部現用モジュール
７０３、一つまたは複数の低速インタフェース予備モジ
ュール７０４、多重変換部現用モジュール７０５、多重
変換部予備モジュール７０６、オーバヘッド部現用モジ
ュール７０７、オーバヘッド部予備モジュール７０８、
セレクタ部現用モジュール７０９、セレクタ部予備モジ
ュール７１０、クロック部現用モジュール７１１、クロ
ック部予備モジュール７１２、装置モニタソフトウエア
７１４を持つ、一つまたは複数の装置制御部７１３によ
り構成される。
装置の自動試験方式による構成を示す。試験系は試験実
行ソフトウエア８０１、試験機制御ソフトウエア８０
２、装置制御ソフトウエア８０３、装置モニタ部通信ソ
フトウエア８０４を持つ、試験制御端末８００、一つま
たは複数の、被試験伝送装置７００、試験機２００、及
び被試験装置の構成モジュールとして、一つまたは複数
の高速インタフェース部現用モジュール７０１、一つま
たは複数の高速インタフェース予備モジュール７０２、
一つまたは複数の低速インタフェース部現用モジュール
７０３、一つまたは複数の低速インタフェース予備モジ
ュール７０４、多重変換部現用モジュール７０５、多重
変換部予備モジュール７０６、オーバヘッド部現用モジ
ュール７０７、オーバヘッド部予備モジュール７０８、
セレクタ部現用モジュール７０９、セレクタ部予備モジ
ュール７１０、クロック部現用モジュール７１１、クロ
ック部予備モジュール７１２、装置モニタソフトウエア
７１４を持つ、一つまたは複数の装置制御部７１３によ
り構成される。
【００１６】本発明による試験及び解析方法の１例を図
４ないし図６に示す。
４ないし図６に示す。
【００１７】試験制御端末８００上の試験実行ソフトウ
エア８０１は、試験機制御ソフトウエア８０２により試
験機２００を、また装置制御ソフトウエア８０３によ
り、装置制御部７１３経由で各機能モジュールをそれぞ
れ制御し、図４のＳ２として、全ての機能モジュールに
ついて現用側が選択された状態とした上で、Ｓ３として
１回目の自動試験を実行する。
エア８０１は、試験機制御ソフトウエア８０２により試
験機２００を、また装置制御ソフトウエア８０３によ
り、装置制御部７１３経由で各機能モジュールをそれぞ
れ制御し、図４のＳ２として、全ての機能モジュールに
ついて現用側が選択された状態とした上で、Ｓ３として
１回目の自動試験を実行する。
【００１８】１回目の試験結果が良好である場合、試験
制御端末８００より装置制御部を経由して、Ｓ４として
７０１〜７１２の各モジュールの切替制御を行い、全て
のモジュールで予備側を選択させ、Ｓ５で２回目の自動
試験を行う。
制御端末８００より装置制御部を経由して、Ｓ４として
７０１〜７１２の各モジュールの切替制御を行い、全て
のモジュールで予備側を選択させ、Ｓ５で２回目の自動
試験を行う。
【００１９】１回目の試験に引き続き、２回目の試験結
果も良好である場合、被試験伝送装置上に実装された全
機能モジュールが正常であると判断し、Ｓ６として試験
結果を表示し、試験を終了する。
果も良好である場合、被試験伝送装置上に実装された全
機能モジュールが正常であると判断し、Ｓ６として試験
結果を表示し、試験を終了する。
【００２０】１回目の試験結果が良好で、２回目の試験
結果が不良である場合、予備側に障害モジュールがある
と判断し、図５のＳ１１として高速インタフェース部予
備７０２を、高速インタフェース部現用７０１に切り戻
し、Ｓ１２として３回目の試験を行う。３回目の試験結
果が良好であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部予備７０２であると判断し、Ｓ１３として障害部位
及び障害モードの解析を行い、Ｓ１４として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
結果が不良である場合、予備側に障害モジュールがある
と判断し、図５のＳ１１として高速インタフェース部予
備７０２を、高速インタフェース部現用７０１に切り戻
し、Ｓ１２として３回目の試験を行う。３回目の試験結
果が良好であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部予備７０２であると判断し、Ｓ１３として障害部位
及び障害モードの解析を行い、Ｓ１４として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
【００２１】３回目の試験結果が不良であれば、高速イ
ンタフェース部予備７０２には障害がないと判断し、次
にＳ１５として低速インタフェース部予備７０４を、低
速インタフェース部現用７０３に切り戻し４回目の試験
を行う。以下同様に、Ｓ１８〜Ｓ２９により、試験結果
が良好となるまで、多重変換部，オーバヘッド部，セレ
クタ部，クロック部について、順次現用への切り戻しを
行い、試験することで、障害モジュールを特定し、障害
モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及び原
因の特定を行う。Ｓ２８の結果が不良の場合、Ｓ２に戻
り、再度試験をやり直す。
ンタフェース部予備７０２には障害がないと判断し、次
にＳ１５として低速インタフェース部予備７０４を、低
速インタフェース部現用７０３に切り戻し４回目の試験
を行う。以下同様に、Ｓ１８〜Ｓ２９により、試験結果
が良好となるまで、多重変換部，オーバヘッド部，セレ
クタ部，クロック部について、順次現用への切り戻しを
行い、試験することで、障害モジュールを特定し、障害
モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及び原
因の特定を行う。Ｓ２８の結果が不良の場合、Ｓ２に戻
り、再度試験をやり直す。
【００２２】１回目の試験結果が不良である場合にも、
Ｓ７として試験制御端末８００より装置制御部を制御
し、高速インタフェース部，低速インタフェース部，多
重変換部，オーバヘッド部，セレクタ部，クロック部を
同時に予備側へ切り替え、Ｓ８として２回目の自動試験
を行う。
Ｓ７として試験制御端末８００より装置制御部を制御
し、高速インタフェース部，低速インタフェース部，多
重変換部，オーバヘッド部，セレクタ部，クロック部を
同時に予備側へ切り替え、Ｓ８として２回目の自動試験
を行う。
【００２３】１回目の試験結果が不良で、２回目の試験
結果が良好である場合、現用側に障害モジュールがある
と判断し、図６のＳ３０として高速インタフェース部予
備７０２を、高速インタフェース部現用７０１に切り戻
し、Ｓ３１として３回目の試験を行う。３回目の試験結
果が不良であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部現用７０１であると判断し、Ｓ３２として障害部位
及び障害モードの解析を行い、Ｓ３３として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
結果が良好である場合、現用側に障害モジュールがある
と判断し、図６のＳ３０として高速インタフェース部予
備７０２を、高速インタフェース部現用７０１に切り戻
し、Ｓ３１として３回目の試験を行う。３回目の試験結
果が不良であれば、障害モジュールは高速インタフェー
ス部現用７０１であると判断し、Ｓ３２として障害部位
及び障害モードの解析を行い、Ｓ３３として試験結果、
障害モジュール名、解析結果を表示し、試験を終了す
る。
【００２４】３回目の試験結果が良好であれば、高速イ
ンタフェース部現用７０１には障害がないと判断し、次
に、Ｓ３４として低速インタフェース部予備７０４を、
低速インタフェース部現用７０３に切り戻し、Ｓ３５と
して４回目の試験を行う。
ンタフェース部現用７０１には障害がないと判断し、次
に、Ｓ３４として低速インタフェース部予備７０４を、
低速インタフェース部現用７０３に切り戻し、Ｓ３５と
して４回目の試験を行う。
【００２５】以下同様に、Ｓ３７〜Ｓ４８により、試験
結果が不良となるまで、多重変換部，オーバヘッド部，
セレクタ部，クロック部について、順次現用への切り戻
しを行い、試験することで、障害モジュールを特定し、
障害モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及
び原因の特定を行う。Ｓ４７の結果が不良の場合、Ｓ２
に戻り、再度試験をやり直す。
結果が不良となるまで、多重変換部，オーバヘッド部，
セレクタ部，クロック部について、順次現用への切り戻
しを行い、試験することで、障害モジュールを特定し、
障害モジュールが特定された場合、引き続き障害部位及
び原因の特定を行う。Ｓ４７の結果が不良の場合、Ｓ２
に戻り、再度試験をやり直す。
【００２６】１回目の試験に引き続き、２回目の試験結
果も不良である場合、伝送装置上に実装されたいずれか
一つまたは複数の機能モジュールが現用・予備の両系障
害を持つと判断し、Ｓ９として、試験制御端末８００よ
り７０１〜７１２の全機能モジュールについて、自己診
断プログラムを順次起動、解析し、障害モジュールの特
定を行う。
果も不良である場合、伝送装置上に実装されたいずれか
一つまたは複数の機能モジュールが現用・予備の両系障
害を持つと判断し、Ｓ９として、試験制御端末８００よ
り７０１〜７１２の全機能モジュールについて、自己診
断プログラムを順次起動、解析し、障害モジュールの特
定を行う。
【００２７】次に、障害モジュールの特定後に行う、障
害部位、及び障害モードの解析方法の実施例を示す。図
７に装置制御部のブロック図を示す。
害部位、及び障害モードの解析方法の実施例を示す。図
７に装置制御部のブロック図を示す。
【００２８】障害モジュールが特定された場合、試験制
御端末８００上の試験実行ソフトウエア８０１より、装
置モニタソフト通信ソフトウエア８０４経由で、装置制
御部９００の、ＣＰＵ９０１上の装置モニタソフトウエ
ア９０２を制御し、ハードウエアアクセスソフト９０３
を経由して、当該モジュール上のＬＳＩレジスタ情報、
及び装置制御部９００上の、メモリ９０４の情報を読み
出す。読み出された結果は、予め試験制御端末８００に
保存された、正常時のレジスタ情報期待値と比較され、
読み出し値との差分により、モジュール上の障害部位及
び障害モードが特定される。
御端末８００上の試験実行ソフトウエア８０１より、装
置モニタソフト通信ソフトウエア８０４経由で、装置制
御部９００の、ＣＰＵ９０１上の装置モニタソフトウエ
ア９０２を制御し、ハードウエアアクセスソフト９０３
を経由して、当該モジュール上のＬＳＩレジスタ情報、
及び装置制御部９００上の、メモリ９０４の情報を読み
出す。読み出された結果は、予め試験制御端末８００に
保存された、正常時のレジスタ情報期待値と比較され、
読み出し値との差分により、モジュール上の障害部位及
び障害モードが特定される。
【００２９】また試験制御端末８００，装置制御部９０
０にモデム９０５を接続することにより、通信回線によ
り、遠隔地に置かれた伝送装置の、障害モジュールの障
害部位、及び障害モードの解析が可能である。
０にモデム９０５を接続することにより、通信回線によ
り、遠隔地に置かれた伝送装置の、障害モジュールの障
害部位、及び障害モードの解析が可能である。
【００３０】
【発明の効果】伝送装置の試験、障害モジュール特定、
障害モジュール上の障害部位の特定、及び故障モード解
析を、一貫して、オンラインで、自動的に行うことを可
能とし、従来の、手動による方法と比較して、解析時間
の短縮，省力化を実現すると共に、人為的操作誤りを無
くすことで作業の正確性を向上する。
障害モジュール上の障害部位の特定、及び故障モード解
析を、一貫して、オンラインで、自動的に行うことを可
能とし、従来の、手動による方法と比較して、解析時間
の短縮，省力化を実現すると共に、人為的操作誤りを無
くすことで作業の正確性を向上する。
【図１】従来方法による試験方法例の構成を示すブロッ
ク図。
ク図。
【図２】従来方法による障害モジュールの特定方法例の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図３】本発明による障害モジュールの解析方法の実現
例を示すブロック図。
例を示すブロック図。
【図４】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図５】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図６】本発明による障害モジュールの特定方法の実現
例を示すフローチャート。
例を示すフローチャート。
【図７】本発明による障害モジュール上の障害部位の解
析方法の部分構成を示すブロック図。
析方法の部分構成を示すブロック図。
２００…試験機。７００…伝送装置、８００…試験制御
端末。
端末。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中川 好美 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地株式 会社日立製作所情報通信事業部内
Claims (6)
- 【請求項１】伝送装置の試験方法において、端末により
伝送装置制御部を制御し、装置の設定，状態を変化させ
ながら、同時に、試験機を制御し、自動的に試験を行う
ことを特徴とした伝送装置の試験方法。 - 【請求項２】請求項１において上記伝送装置に障害が認
められた場合、引き続き、上記端末より、上記伝送装置
制御部を制御し、冗長構成を持つ装置構成モジュールの
予備系への切り替え、または現用系へ切り戻しを行った
後、再度試験を行うことを繰り返し、障害モジュール自
動的に特定する伝送装置の試験方法。 - 【請求項３】請求項２において上記端末より、上記伝送
装置に内蔵されたモニタソフトウエアを起動し、障害の
あるモジュール上のハードウエアの状態及び上記伝送装
置制御部上の目盛内容を読み出し、予め、上記端末上に
保存された情報と比較することで、障害モジュール上の
障害部位及び障害モードを自動的に解析する伝送装置の
自動試験方法。 - 【請求項４】請求項３において、上記試験制御端末か
ら、オンラインで、装置を構成するハードウエアモジュ
ールのメモリ及び、制御部のメモリにアクセスし、メモ
リ内容の読み込み及び書き込みを可能とする装置モニタ
ソフトウエアを搭載した制御部を持つ伝送装置。 - 【請求項５】請求項１，２または３において、上記モニ
タソフトウエアと通信し、制御するソフトウエアと、試
験実行ソフトウエアと、試験機を制御するソフトウエア
と、上記伝送装置の制御部を制御するソフトウエアを持
つ試験制御端末による試験制御を行う伝送装置の試験方
法。 - 【請求項６】請求項４による上記伝送装置の制御部で、
モデムを接続することで、請求項３の上記障害部位及び
障害モードの解析を、回線により、遠隔で行う伝送装置
の解析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9058789A JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9058789A JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10257129A true JPH10257129A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=13094349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9058789A Pending JPH10257129A (ja) | 1997-03-13 | 1997-03-13 | 伝送装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10257129A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011097466A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Ntt Docomo Inc | 監視システム、監視方法、監視用プログラム |
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1997
- 1997-03-13 JP JP9058789A patent/JPH10257129A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011097466A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Ntt Docomo Inc | 監視システム、監視方法、監視用プログラム |
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