JPH10241164A - 情報記録装置 - Google Patents

情報記録装置

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JPH10241164A
JPH10241164A JP9322654A JP32265497A JPH10241164A JP H10241164 A JPH10241164 A JP H10241164A JP 9322654 A JP9322654 A JP 9322654A JP 32265497 A JP32265497 A JP 32265497A JP H10241164 A JPH10241164 A JP H10241164A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱干渉および熱蓄積の補償を行い、微小マー
クを安定かつ高精度に形成する。 【解決手段】 記録符号列における同一長のマーク記録
時に少なくとも２通りの記録波形を発生する記録エネル
ギー照射手段、もしくは記録符号列における同一長のス
ペース記録時に少なくとも２通りの記録波形を発生する
記録エネルギー照射手段を用いる。 【効果】 信頼性の高い記録・再生動作が実現でき、小
型大容量の情報記録装置を安価に提供できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は記録媒体にエネルギ
ーを照射することによって記録媒体に局所的な物理的変
化を引き起こし情報の記録を行う情報記録装置に関する
ものであり、専ら光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】現在一般に流通している光ディスクは、
記録膜を加熱することにより記録膜上に反転磁区による
マークを形成する光磁気ディスクと、加熱時のエネルギ
ー投入量を制御することにより記録膜の冷却速度を変化
させ、記録膜上にアモルファス領域によるマークを形成
する相変化ディスクに大別できる。これらの光ディスク
において記録密度向上を図るための方法としては、情報
を担うマークを全体的に縮小するか、マーク長、スペー
ス長の変化の刻みを短くしてマーク・エッジ位置を検出
する時間幅を狭くとる方法があげられるが、いずれの方
式においてもマークを高精度に形成することが必須であ
る。しかし光スポット径の約半分以下の微小マークを安
定かつ高精度に形成することは極めて難しい。これは微
小マークを形成する場合には、光スポットによる記録膜
の昇温部分の中でもピーク温度部分付近の空間的な温度
勾配が緩やかな部分のみでマーク形成をせざるを得ない
からである。このため記録エネルギー照射前の記録膜温
度や記録エネルギーの強度変動によって記録時の最高到
達温度がマーク毎に変動し、実効的に記録膜の記録感度
が変動すると、マーク形状が大きくばらつく。記録波形
によってマークの形状を制御するタイプの光ディスクの
場合、特に記録パターンによって記録膜の最高到達温度
にばらつきが生じやすい。この問題を解決するには短波
長レーザ光源を用いて光スポット径を縮小するの最も直
接的である。しかし代表的なレーザ光源である半導体レ
ーザ・ダイオードの短波長化は、記録密度の上昇に対す
る要求に応じ切れていないのが現状である。
【０００３】したがって微小マークを安定に形成し信頼
性の高い記録・再生を行うためには、これらの問題が生
じにくい記録波形を選択しなければならない。記録波形
の解決すべき問題は次の２点である。すなわち第１の問
題とは熱クロストークの抑制であり、これは近接するマ
ークをその間隔によらず均一に形成できることを意味す
る。第２の問題とは熱蓄積の一定化であり、これは連続
するマークをその長さによらず均一に形成できることを
意味する。熱クロストークの抑制，熱蓄積の一定化を実
現することにより再生信号のエッジ・シフトを抑制でき
るので、記録方式として高線密度化に有利なマーク・エ
ッジ記録方式を用いることが可能となる。また熱蓄積の
一定化を実現することによって再生クロストークの一定
化が図れ、トラック間隔を縮小することができるので、
結果として記録面密度の向上が実現可能となる。
【０００４】以上の問題を解決する目的で特開平５―２
９８７３７号公報に記載の第１の従来技術では、マーク
形成期間に相当する記録波形を記録符号列のマークの長
さに対応した一連のパルス列から構成し、各パルスの個
数および振幅を記録符号列の長さに応じて制御する。マ
ーク形成期間の記録波形は先頭部と後続部分の２つの部
分に分けられ、各パルスのパルス高は一般に異なってい
る。さらに記録波形のマーク非形成期間には、スペース
部を前置して記録補助パルスを発生する。マーク形成期
間とは記録符号列におけるマークの長さを反映し、図４
（ｃ）に示すように、あるマークの形成に必要な記録エ
ネルギーを供給するエネルギー・レベルをもったパル
ス、すなわち該エネルギー・レベルが発生されなければ
マークが形成されないエネルギー・レベルのパルスの、
最初のパルスの立ち上がりから最後のパルスの立ち下が
りまでとして定義する。またマーク非形成期間とは記録
符号列におけるスペースの長さを反映し、マーク形成期
間以外の期間として定義する。以上の定義は本明細書中
の説明において共通である。以上により、スペース長に
よらず先行するマーク形成部分から直後のマークの前エ
ッジ位置への熱拡散を補償でき、マーク幅およびマーク
・エッジ位置が高精度に制御できるとしている。
【０００５】また前記の問題を解決する目的で、特開平
１―０７８４３７号公報に記載の第２の従来技術では、
先行するマーク非形成期間の長さ参照し、直後のマーク
形成期間に対応する記録波形の一部を可変としている。
すなわち図４（ａ）において、各々に先行するスペース
４０１，４０３の長さを参照して、マーク４０２，４０
４に対応する記録波形、さらに詳細にはマーク４０２，
４０４の前エッジ形成位置を補償する記録エネルギー照
射手段を備えている。これにより、スペース長によらず
先行マーク形成部分から直後のマークの前エッジ位置へ
の熱拡散を補償でき、マーク幅およびマーク・エッジ位
置が高精度に制御できるとしている。
【０００６】また、他の公知例としては、特開平５―１
４３９９３号公報があり、この中には、直前のライトパ
ルスと現在のライトパルスとの間のブランク期間が短い
場合は、直前の光パルスで発生した熱の影響を受けるた
め、この予熱効果をブランク期間が長い場合と同じにす
る旨の記載、及び、直前のライトパルスのパルス幅と直
前のブランク期間の測定値とを用いて現在のライトパル
スの直前に設けるバイアス発光部のエネルギー量及びパ
ルス幅を決定する旨の記載がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし第１の問題点と
して、前記の各従来技術では後続マークの前エッジ部分
の形成条件の補償を行っていたが、この補償が十分では
なかった。さらに先行マーク形成時に投入されたエネル
ギー量の大小による直後のマークの前エッジ形成位置付
近への熱拡散の補償は考慮されていなかったために、先
行マーク形成期間が一定長である場合に限り、２つのマ
ーク間のマーク非形成期間の長さによらず、後続のマー
クを安定に記録することが可能であった。しかし直前の
マーク形成期間が変化する場合には、２つのマーク間の
マーク非形成期間が一定であっても、後続のマークの前
エッジを目標位置に形成することは困難であった。すな
わち先行マーク形成期間が長いほど、先行マーク形成時
に投入された熱エネルギーが直後のマークの前エッジ形
成位置付近へ拡散し、前エッジが直前のマークの後エッ
ジ近づく。以上の現象は記録線密度を上昇させた場合、
および２つのマーク間のマーク非形成期間が短いほど顕
著となる。
【０００８】また第２の問題点として、前記の各従来技
術では熱蓄積の一定化が不十分であり、マーク幅を縮小
し記録線密度を上昇させた場合にマーク長に依存した後
エッジの目標位置からの変動を十分に抑制することがで
きなかった。すなわちマーク先頭部からの距離に依存し
て後エッジ位置およびマーク幅が変動してしていた。以
上の現象は記録線密度を上昇させるほど顕著となる。
【０００９】したがって以上の理由から、前記の各従来
技術では高記録線密度時に微小マークを十分な精度で形
成することができず、結果として十分な記録面密度を実
現することができなかった。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記第１の問題を解決す
る目的で、記録媒体にエネルギーを照射することによっ
て記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の記
録を行う情報記録装置において、記録符号列における同
一長のマーク記録時に少なくとも２通りの記録波形を発
生する記録エネルギー照射手段もしくは記録符号列にお
ける同一長のスペース記録時に少なくとも２通りの記録
波形を発生する記録エネルギー照射手段を備える。
【００１１】さらに前記第１の問題を解決する目的で、
記録媒体にエネルギーを照射することによって記録媒体
に局所的な物理的変化を引き起こし情報の記録を行う情
報記録装置において、データ記録時の記録符号列におけ
る記録パターン識別手段を有し、該記録符号列における
同一長のマーク記録時に前記識別手段の識別結果に基づ
いて少なくとも２通りの記録波形を発生する記録エネル
ギー照射手段もしくは該記録符号列における同一長のス
ペース記録時に前記識別手段の識別結果に基づいて少な
くとも２通りの記録波形を発生する記録エネルギー照射
手段を備える。
【００１２】ここで記録パターンとはマークもしくはス
ペースの長さおよびその配列順序関係等の情報を意味
し、記録波形とは記録媒体に照射する記録エネルギーの
与え方すなわち記録エネルギー・レベルの時間変化を指
す。
【００１３】以上により直前のマークとの間にあるスペ
ース長に関して後続マークの前エッジ部分の形成条件の
補償を精密に行い、さらに直前のマーク形成時に投入さ
れたエネルギー量の大小による直後のマークの前エッジ
形成位置付近への熱拡散の補償を行う。このために直前
のマークの長さおよび、２つのマーク間のスペースの長
さによらず、マークを安定に記録することが可能とな
る。
【００１４】さらに前記第２の問題を解決する目的で、
記録媒体にエネルギーを照射することによって記録媒体
に局所的な物理的変化を引き起こし情報の記録を行う情
報記録装置において、マーク形成期間の記録波形の上エ
ンベロープおよび下エンベロープがマーク形成期間先頭
からの時間経過にしたがって低下する該記録波形を発生
する記録エネルギー照射手段を備える。
【００１５】以上により長マーク形成時の熱蓄積の補償
が厳密に行われ、マーク長によらず長マークの後エッジ
が目標とする位置に正しく形成されるようになる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態の例を説
明する。本実施例では記録媒体として光磁気記録媒体を
例にとって説明するが、これは記録媒体を特に限定する
ものではなく、記録媒体にエネルギーを照射することに
よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
の記録を行う記録媒体に共通の技術である。
【００１７】また以下の実施例においては、単一のパラ
メータのみが異なる記録波形を用いて説明を行うが、こ
れは本発明における記録波形の組み合わせを限定するも
のではない。すなわち、例えば図８（ａ）に示す記録波
形はＰａ，Ｐｂ，Ｐｗ１，Ｐｗ２，Ｔｂ，Ｔｗ１，Ｔｗ
２，Ｔｂｗの各パラメータを指定すれば一意に記述でき
るが、異なる記録波形の組み合わせとしてこれら複数の
パラメータが同時に異なる記録波形を用いてもよいし、
記録波形の変化部分はマーク形成部分であってもマーク
非形成部分であっても両方であっても良い。また記録波
形を記述するパラメータを限定するものでもなく、本実
施例以外のパラメータで記述される記録波形の組み合わ
せを用いてもよい。さらに図８（ａ），８（ｂ）に示す
ように、共通のパラメータで記述できない記録波形の組
み合わせを用いても当然よい。
【００１８】さらに記録エネルギーのレベルとは記録媒
体上の記録膜の熱的な緩和時間よりも長い期間にわたる
平均エネルギー・レベルを意味し、何らかの理由でチャ
ネル・ビット長（マーク，スペースのエッジ位置の変化
単位）に相当する周期の周波数よりも十分に高い周波数
成分が記録波形に重畳されているような場合には、その
周波数成分の影響が無視できる程度以上の期間にわたる
平均エネルギー・レベルを指すものとする。
【００１９】図１は本発明による情報記録装置の構成の
一例を説明する図である。記録されるユーザ・データ１
１５はコントローラ１１８によって管理され、所定の量
に達するまで一旦バッファ１１４に蓄えられる。バッフ
ァ１１４から送り出された記録データ１２７は、符号器
１１３において光磁気記録媒体１１７上に形成されるマ
ーク（図示せず）配置に対応する記録符号列１２６に変
換される。記録符号列１２６は記録波形発生回路１１２
に伝達され、ここで記録波形に対応したレベル発生信号
１２５に変換される。符号器１１３，記録波形発生回路
１１２は基準時間発生器１１９の発生する基準時間信号
１２８に同期して動作する。レーザ駆動回路１１１はレ
ベル発生信号１２５を参照してレーザ駆動電流１２４を
発生し、記録エネルギー源であるレーザ１１０を所定の
記録波形にしたがって発光させる。レーザ１１０から放
出されたレーザ光１２３はハーフ・ミラー１０８，対物
レンズ１１６を経由して光磁気記録媒体１１７上に集光
され、記録膜（図示せず）を加熱してマークを形成す
る。情報の再生時にはマークを破壊しない程度に低いレ
ベルのレーザ光１２３で光磁気記録媒体１１７上のマー
ク配列を走査する。光磁気記録媒体１１７からの反射光
は対物レンズ１１６，ハーフ・ミラー１０８を経由し、
偏光分離素子１０７に入射される。偏光分離素子１０７
では、マークの磁化方向に応じて偏光面が逆向きに回転
した反射光を互いに直交する偏光に分離し、各々は検出
レンズ１０６を通じて光検出器１０１上に導かれる。光
検出器１０１は互いに直交する偏光の強度を、それらに
比例した電気信号に変換する。該電気信号は各々の光検
出器１０１に設けられた前置増幅器１００によって十分
な振幅まで増幅された後、差動増幅器１０２に伝達され
る。差動増幅器１０２は入力信号間の差を演算し、光磁
気記録媒体１１７上の走査位置におけるマークの有無に
対応した光磁気再生信号１２０を生成する。光磁気再生
信号１２０は波形等化器１０３によって波形等化処理を
受け、さらに２値化器１０４において２値化再生信号１
２１に変換される。さらに復号器１０５はこの２値化再
生信号１２１を参照し、符号器１１３の逆変換を施して
再生データ１２２をバッファ１１４に蓄える。再生デー
タ１２２はコントローラ１１８によって管理され、所定
の量に達すると最終的に再生されたユーザ・データ１１
５として装置外部に出力される。
【００２０】図２（ａ）〜（ｄ）は本発明における記録
符号列のマーク，スペースとそれを記録する記録波形の
一例を説明する図である。図２（ａ）は記録データを符
号器で変換した結果の記録符号列を表している。図２
（ｂ）は記録媒体上のマーク配列のイメージを示したも
ので、記録・再生用のレーザ光スポットは図２（ｂ）中
左から右へ走査する。マーク２０２は記録符号列２００
中の各々のマークに１対１で対応しており、その期間に
比例した長さで形成される。図２（ｃ）は図２（ａ）の
記録符号列２００に対応した本発明における記録波形の
１例であり、記録符号列２００における２Ｌ長のマーク
記録時に異なる２通りの記録波形を発生する。また図２
（ｄ）は図２（ａ）の記録符号列２００に対応した本発
明における記録波形の他の１例であり、記録符号列２０
０における３Ｌ長のスペース記録時に異なる２通りの記
録波形を発生する。ここでＬは記録符号列２００におけ
るマーク長およびスペース長の変化量の最小単位であ
る。
【００２１】図３は図１の記録処理系１２９の構成の一
例を詳細に説明した図である。記録データ１２７は符号
器１１３において所定の変換規則にしたがい記録符号列
１２６に変換される。記録符号列１２６は記録パターン
認識器３０２，マーク長ラッチ３００およびスペース長
ラッチ３０１に入力される。マーク長ラッチ３００は記
録符号列１２６中のマーク長を、スペース長ラッチ３０
１は記録符号列１２６中のスペース長をＦＩＦＯ動作で
所定の期間保持し、各々が保持するマーク長，スペース
長は記録パターン認識器３０２に入力される。記録パタ
ーン認識器３０２は符号器１１３からの記録符号列１２
６および先行する記録パターンの情報であるマーク長ラ
ッチ３００およびスペース長ラッチ３０１からの情報を
参照し、実際の記録波形に対応したＰｂ発生信号３１
１，Ｐａ発生信号３１２，Ｐｗ１発生信号３１３，Ｐｗ
２発生信号３１４を先行する記録パターンに応じて適応
的に発生する。レーザ駆動回路１１１はこれらのレベル
発生信号１２５を参照してレーザ駆動電流１２４を合成
し、記録エネルギー源であるレーザ１１０を駆動する。
また符号器１１３，記録パターン認識器３０２，マーク
長ラッチ３００およびスペース長ラッチ３０１は基準時
間信号１２８によって制御されており、各種信号の伝達
および発生は基準時間信号３１０に同期して行われる。
【００２２】今、符号器が出力する記録符号列をマー
ク，スペースの組で分類し、ｎ番目（ｎは自然数）のマ
ークの長さ，スペースの長さを各々Ｍ（ｎ），Ｓ（ｎ）
と表すことにする。マーク長ラッチ３００は直後のｎ＋
１番目のマークの記録が終了するまで直前のマーク長Ｍ
（ｎ）を保持し、スペース長ラッチ３０１は直後のｎ＋
１番目のスペースの記録が終了するまで直前のスペース
長 Ｓ（ｎ）を保持するものとする。例えば情報記録装
置がｎ番目のスペースに引き続いてｎ＋１番目のマーク
を記録しようとしている場合、マーク長ラッチ３００は
ｎ＋１番目のマークを記録する間じゅうｎ番目のマーク
長Ｍ（ｎ）を保持し、その結果を記録パターン認識器３
０２に与え続ける。記録パターン認識器３０２は記録符
号列１２６およびこのＭ（ｎ）の値を参照し、例えば図
２（ｃ）の記録波形の場合、Ｍ（ｎ）が３Ｌ以上であれ
ばｎ＋１番目のマーク記録時（マーク形成期間）の先頭
パルスのエネルギー・レベルがＰｗ３に、Ｍ（ｎ）が３
Ｌ未満であればｎ＋１番目のマーク記録時の先頭パルス
のエネルギー・レベルがＰｗ４になるよう、レベル発生
信号１２５を制御する。ここでＰｗ３とＰｗ４の値は異
なるものとする。また別の例として、情報記録装置がｎ
番目のマークに引き続いてｎ番目のスペースを記録しよ
うとしている場合、マーク長ラッチ３００はｎ番目のス
ペースを記録する間ｎ番目のマーク長Ｍ（ｎ）を保持
し、その結果を記録パターン認識器３０２に与え続け
る。記録パターン認識器３０２は記録符号列１２６およ
びこのＭ（ｎ）の値を参照し、例えば図２（ｄ）の記録
波形の場合、Ｍ（ｎ）が３Ｌ以上であればｎ番目のスペ
ース記録時（マーク非形成期間）の先頭に設けた低レベ
ル期間がＴｂ１に、Ｍ（ｎ）が３Ｌ未満であればｎ番目
のスペース記録時に先頭に設けた低レベル期間がＴｂ２
になるよう、レベル発生信号１２５を制御する。ここで
Ｔｂ１とＴｂ２の値は異なるものとする。本動作例では
記録パターン認識器３０２が参照する先行記録パターン
の情報が、直前のマーク長，スペース長のみであるとし
た。しかしこれはマーク長ラッチ，スペース長ラッチの
構成，動作を何ら限定する物ではなく、２個以上前のマ
ーク長，スペース長を含んでも良い。
【００２３】図９は、図３の記録パターン認識器３０２
の構成の一例をさらに詳しく説明した図である。本例で
は記録データは（１，７）ＲＬＬ変調後、マーク・エッ
ジ記録されるものとし、記録波形としては図２（ｄ）の
波形を発生するものとする。まず記録データ１２７は符
号器１１３において（１，７）ＲＬＬ変調後ＮＲＺＩ変
調を施され、記録符号列１２６に変換される。次に記録
符号列１２６はマーク長ラッチ３００およびカウンタ１
０００に入力される。マーク長ラッチ３００は記録符号
列１２６中のマーク長を次のマーク期間開始まで保持
し、保持データは比較器１００２に入力される。比較器
はこのマーク長を符号器１１３による最短マーク長であ
る２Ｌと比較し、マーク長が２Ｌであるか、あるいは３
Ｌ以上であるかの判定結果を波形エンコーダ１００１に
伝達する。カウンタ１０００は周期Ｌのクロック信号で
ある基準時間信号１２８を参照して、記録符号列１２６
におけるマークあるいはスペースの先頭からの経過時間
をＬ単位で計測し、その計時結果を波形エンコーダ１０
０１に与える。波形エンコーダ１００１は記録符号列１
２６，カウンタ１０００の計時結果および比較器１００
２の出力を参照し、図２（ｄ）の記録波形に対応したＰ
ｂ発生信号３１１，Ｐａ発生信号３１２，Ｐｗ１発生信
号３１３，Ｐｗ２発生信号３１４を排他的に発生する。
これらのレベル発生信号１２５は先行する記録パターン
に応じて適応的に発生される。すなわち本例の場合、マ
ーク非形成期間先頭におけるＰｂ発生信号３１１の発生
期間は、比較器１００２による比較結果にしたがい、記
録符号列１２６における直前のマーク長が最短である２
Ｌの場合にはＴｂ２、３Ｌ以上の場合にはＴｂ１の長さ
となる。ここでＴｂ１，Ｔｂ２は記録符号列１２６にお
けるスペース長には依存せず、またＴｂ１＞Ｔｂ２の大
小関係がある。したがって本例ではスペース長ラッチは
特に必要ではない。またその他の期間では、記録符号列
１２６におけるマークまたはスペースの先頭からの経過
時間にしたがって、一定パターンのレベル発生信号１２
５が順に波形エンコーダ１００１から出力される。レー
ザ駆動回路１１１はレベル発生信号１２５を参照してレ
ーザ駆動電流１２４を合成し、記録エネルギー源である
レーザ１１０を駆動する。全体は基準時間信号１２８に
よって制御されており、各種信号の伝達および発生は基
準時間信号３１０に同期して行われる。
【００２４】図１０は図９に示した本発明の導入効果を
説明するものである。グラフは光磁気記録媒体にマーク
・エッジ記録を行った場合の再生信号におけるマーク・
エッジ位置の測定結果の一例である。黒プロットは従来
装置、白プロットは本発明による装置の結果を示す。本
測定では２つのマーク間隔を固定して、先行マーク長に
対する後続マーク形状の変化を測定した。ここでマーク
間隔および後続マーク長は符号器１１３の符号化規則に
おける最短の２Ｌとし、先行マーク長は２Ｌから８Ｌの
範囲で変化させた。光スポット直径は約１．２μｍ（マ
イクロメートル）、検出窓幅Ｌは０．２７μｍである。
ΔＥ（デルタＥ）は後続マーク前エッジの理想位置から
のシフトを意味し、シフト量の符号は遅れる方向が正で
ある。プロットはΔＥが検出窓幅Ｌに占める割合をパー
センテージとして行った。従来装置では先行マークが長
くなるほど前エッジは前へ徐々にシフトする。また特に
先行マークが３Ｌ以上の場合には、先行マークが２Ｌの
場合から大きくシフトしている。すなわち言い換えれ
ば、先行マークが３Ｌ以上の場合、後続マークは先行マ
ークが２Ｌの場合に比べてかなり大きめに形成されてい
るということである。これらのエッジ・シフトは、理想
マークが形成できれば先行マーク長によらず一定であ
る。また一定であれば信号処理によって除去することが
できるが、先行マーク長に依存して変化した場合には除
去が困難となる。したがってデータの安定した記録再生
のためにはこれらのエッジ・シフトが先行マーク長によ
らずほぼ一定であることが望ましい。従来装置では、マ
ーク形成期間直後に加熱を休止する熱遮断期間（図２
（ｄ）のＰｂレベルの期間）を常に一定長さだけ設け、
先行スペース長に応じた熱干渉の補償、すなわち距離に
関する熱干渉の補償を行っていた。つまり一定長さの加
熱休止期間によって先行マーク長，先行スペース長によ
らずエッジ・シフトはほぼ一定となるとしていた。これ
は先行マークからの熱伝導効果と、マーク非形成期間に
おける予熱期間（図２（ｄ）のＰａレベルの期間）の効
果がバランスし、その和が常に略一定となることによっ
てその直後のマークが安定に形成できるとしていたわけ
である。しかし従来装置では、先行マーク形成時に投入
された熱量に関する補償、すなわち熱源の大きさに関す
る補償は行っていなかった。このため記録線密度が上昇
し、先行マークから後続マーク位置への熱伝導の変化が
無視できない場合には上記のような問題が生ずるわけで
ある。
【００２５】このように従来装置では、高線密度記録に
限界が存在する。図１０の黒プロットを詳細に検討する
と、先行マーク長が最短の２Ｌの場合と３Ｌ以上の場合
で後続マークのエッジ・シフトには大きな差が出てい
る。これは先行マーク形成時に、先行マーク後端から前
方（光スポットの走査方向と逆方向）２Ｌ以上の部分に
マークを形成したか否か、すなわち先行マーク長が最短
の２Ｌであるか否かによって、後続マークに対する熱伝
導が異なることを示している。つまり先行マーク後端か
ら前方２Ｌ以上の部分にマークを形成した熱が後続マー
ク位置に熱伝導するか否かで、後続マーク形状が異なっ
ているわけである。したがって後続マークを安定して形
成するためには、後続マークの形成条件を先行マークが
最短マーク長であるか否かに応じて適応的に補償しなけ
ればならない。そこで先行マーク長によって場合分けを
行い、後続マークの形成条件を適応的に変化させること
にしたのが図９の構成による図２（ｄ）の記録波形であ
る。後続マークの形成条件を調整する方法としてはいく
つかの方法が考えられるが、図９の場合すなわち図２
（ｄ）の記録波形では熱遮断期間の長さを変化させる方
法を選択している。すなわち先行マーク長が３Ｌ以上
で、後続マーク形成位置に過剰な熱伝導が予想される場
合には、熱遮断期間を延長することによって予熱量を減
少させ補償を行う。その結果図１０の白プロットでは先
行マーク長によらず後続マークのエッジ位置が安定して
おり、理想に近いマーク形成が行われていることが確認
できた。本例では後続マークの形成条件を調整する方法
として熱遮断期間の長さを変化させる例を説明したが、
これは前述した通り、図２（ｃ）に示すように後続マー
ク自体に対応する記録波形を変化させる等の他の方法を
用いても良い。
【００２６】図４（ａ）〜（ｊ）および図５，６は、図
２の記録パターン認識器３０２の動作を説明するため
に、マーク配列とそれを記録する記録波形を示した図で
ある。図４（ａ），５（ａ），６（ａ）は記録符号列に
対応して記録媒体上に形成すべきマーク配列のイメージ
を示しており、Ｌはマーク４００，５００，６００スペ
ース４０２，５０２，６０２の長さの変化量の最小単位
（チャネル・ビット長）である。記録・再生用のレーザ
光スポットは図４（ａ），５（ａ），６（ａ）中左から
右へ走査する。ここでマーク４０１，５０１，６０１お
よびスペース４０２，５０２，６０２の目標エッジ間隔
は、必ずＬの整数倍である。
【００２７】図４（ｂ）は基準時間信号であり記録処理
系を制御する周期Ｔのクロック信号であり、記録波形を
含む記録処理系の信号は該クロック信号に同期して生
成，伝達される。Ｔはチャネル・ビット長Ｌに相当する
検出窓の期間の長さであり、レーザ光スポットの移動速
度をｖとするとＬ＝ｖＴの関係にある。クロック４０３
はデューティ５０％の矩形波であり、ハイ・レベル，ロ
ー・レベルの期間はいずれもＴｗに等しい。本実施例に
おいてはＴ＝２Ｔｗの関係があり、以下で説明する各エ
ネルギー・レベルの保持時間はＴｗの整数倍すなわち基
準時間信号の周期Ｔの整数倍もしくは半奇数倍となって
いる。
【００２８】図４（ｃ）は従来技術による情報記録装置
の記録波形の例を説明する図である。記録波形は、マー
ク形成に必要な高レベルのエネルギーを間欠的に照射す
るマーク形成期間と、スペースに対応するマーク形成期
間以外のマーク非形成期間に大別される。マーク形成期
間ではエネルギー・レベルＰａ，Ｐｂ，Ｐｗ１，Ｐｗ２
のいずれかのレベルが発生されており、マーク非形成期
間ではＰｂ，Ｐａのエネルギー・レベルが順に発生され
る。本記録波形では直前のマーク長，スペース長すなわ
ち先行する記録パターンに関係なく、固定されたエネル
ギー・レベルが固定された順序にしたがって、対応する
マーク長およびスペース長のみを反映して、順次出力さ
れるのみである。すなわち２Ｔ長のマークに対応するマ
ーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパルス１発で構
成されており、以降マーク長がＴ伸びるごとに幅Ｔｗ，
レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周期Ｔで１発ずつ付加
される。またレベルＰｗ１，Ｐｗ２のパルス間のレベル
は常にＰｂであり、マーク非形成期間では先頭に幅Ｔｂ
＝３Ｔｗ，レベルＰｂの低レベル期間が設けられ、その
後マーク形成期間までＰａのレベルが維持される。
【００２９】図４（ｄ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の１例を説明する図である。マーク形成期間に
は初めＰｗ１，Ｐａ１，Ｐｗ３，Ｐａ２，Ｐｗ２，Ｐ
ｂ、以降Ｐｗ２，Ｐｂの繰り返しからなるパターンにし
たがってエネルギー・レベルを順次出力しており、記録
波形の上エンベロープおよび下エンベロープが該マーク
形成期間開始からの時間経過にしたがって低下してい
る。また各レベルの保持時間はＴｗに等しい。またマー
ク非形成期間では先頭にレベルＰｂの期間がＴｂ＝３Ｔ
ｗ設けられ、その後マーク形成期間までＰａのレベルが
維持される。
【００３０】図４（ｅ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下しており、各レベルの保持時間はＴｗに等し
い。本記録波形は先行する記録パターンすなわち直前の
マーク長を参照して、マーク非形成期間の記録波形が適
応的に変化する例である。すなわち２Ｔ長のマークを形
成する場合のマーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１の
パルス１発で構成されており、以降マーク長がＴ伸びる
ごとに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周期Ｔ
で１発ずつ付加される。レベルＰｗ１のパルスとレベル
Ｐｗ２のパルス間のレベルはＰａであり、レベルＰｗ２
のパルス同志の間のレベルはＰｂである。またマーク非
形成期間では先頭にレベルＰｂの期間が設けられ、その
後マーク形成期間直前までＰａのレベルが維持される。
レベルＰｂの期間は、先行するマーク長が２Ｔの場合Ｔ
ｂ１（＝３Ｔｗ）、３Ｔ以上の場合Ｔｂ２（＝４Ｔｗ）
に適応的に変化する。本例においては、簡単のために、
マーク形成期間の上エンベロープを形成するエネルギー
・レベルを２レベル、下エンベロープを形成するエネル
ギー・レベルを２レベルとして説明しているが、これは
特にエネルギー・レベル数を限定する意図のものではな
い。すなわち図４（ｄ）に示すように上エンベロープを
形成するエネルギー・レベル，下エンベロープを形成す
るエネルギー・レベルに各々３レベル以上を用いてもよ
い。これは以降の図４（ｆ）〜（ｊ）で説明される実施
例においても共通である。
【００３１】図４（ｆ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下しており、各レベルの保持時間はＴｗに等し
い。本記録波形は先行する記録パターンすなわち直前の
マーク長を参照して、マーク非形成期間の記録波形が適
応的に変化する例である。すなわち２Ｔ長のマークを形
成する場合のマーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１の
パルス１発で構成されており、以降マーク長がＴ伸びる
ごとに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周期Ｔ
で１発ずつ付加される。レベルＰｗ１のパルスとレベル
Ｐｗ２のパルス間のレベルはＰａであり、レベルＰｗ２
のパルス同志の間のレベルはＰｂである。またマーク非
形成期間では先頭にレベルＰｂの期間がＴｂ（＝３Ｔ
ｗ）設けられ、その後マーク形成期間直前までＰａ１も
しくはＰａ２のレベルが維持される。レベルＰａ１，Ｐ
ａ２は、先行するマーク長が２Ｔの場合Ｐａ１、３Ｔ以
上の場合Ｐａ２に適応的に選択される。
【００３２】図４（ｇ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下しており、各レベルの保持時間はＴｗに等し
い。本記録波形は先行する記録パターンすなわち直前の
マーク長を参照して、マーク非形成期間の記録波形が適
応的に変化する例である。すなわち２Ｔ長のマークを形
成する場合のマーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１の
パルス１発で構成されており、以降マーク長がＴ伸びる
ごとに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周期Ｔ
で１発ずつ付加される。レベルＰｗ１のパルスとレベル
Ｐｗ２のパルス間のレベルはＰａであり、レベルＰｗ２
のパルス同志の間のレベルはＰｂである。またマーク非
形成期間では先頭に期間Ｔｈ１（＝Ｔｗ）もしくはＴｈ
２（＝２Ｔｗ），レベルＰａの期間が設けられ、その後
レベルＰｂ，期間Ｔｂ（＝３Ｔｗ）の期間を経てマーク
形成期間直前までＰａのレベルが維持される。期間Ｔｈ
１，Ｔｈ２は、先行するマーク長が２Ｔの場合Ｔｈ１、
３Ｔ以上の場合Ｔｈ２に適応的に選択される。
【００３３】図４（ｈ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下している。本記録波形は先行する記録パターン
すなわち直前のマーク長を参照して、マーク形成期間先
頭の記録波形が適応的に変化する例である。すなわち２
Ｔ長のマークを形成する場合のマーク形成期間は幅Ｔｗ
１（＝２Ｔｗ）もしくはＴｗ２（＝Ｔｗ），レベルＰｗ
１のパルス１発で構成されており、以降マーク長がＴ伸
びるごとに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周
期Ｔで１発ずつ付加される。レベルＰｗ１の期間は、先
行するマーク長が２Ｔの場合Ｔｗ１、３Ｔ以上の場合Ｔ
ｗ２に適応的に変化する。レベルＰｗ１のパルスとレベ
ルＰｗ２のパルス間のレベルはＰａであり、レベルＰｗ
２のパルス同志の間のレベルはＰｂである。またマーク
非形成期間では先頭にレベルＰｂ，期間Ｔｂ＝３Ｔｗの
区間が設けられ、その後マーク形成期間直前までＰａの
レベルが維持される。
【００３４】図４（ｉ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下しており、また各レベルの保持時間はＴｗに等
しい。本記録波形は先行する記録パターンすなわち直前
のマーク長を参照して、マーク形成期間先頭の記録波形
が適応的に変化する例である。すなわち２Ｔ長のマーク
を形成する場合のマーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ
１もしくはＰｗ３のパルス１発で構成されており、以降
マーク長がＴ伸びるごとに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパル
スが繰り返し周期Ｔで１発ずつ付加される。レベルＰｗ
１，Ｐｗ３の決定は、先行するマーク長が２Ｔの場合Ｐ
ｗ１、３Ｔ以上の場合Ｐｗ３に適応的に選択される。レ
ベルＰｗ１のパルスとレベルＰｗ２のパルス間，レベル
Ｐｗ２のパルスとレベルＰｗ３のパルス間のレベルはＰ
ａであり、レベルＰｗ２のパルス同志の間のレベルはＰ
ｂである。またマーク非形成期間では、先頭にレベルＰ
ｂ，期間Ｔｂ（＝３Ｔｗ）の区間が設けられ、その後マ
ーク形成期間直前までＰａのレベルが維持される。
【００３５】図４（ｊ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の上エンベロープおよび下エンベ
ロープが該マーク形成期間開始からの時間経過にしたが
って低下している。本記録波形は先行する記録パターン
すなわち直前のマーク長を参照して、マーク形成期間先
頭の記録波形が適応的に変化する例である。すなわち２
Ｔ長のマークを形成する場合のマーク形成期間は幅Ｔ
ｗ，レベルＰｗ１もしくはＰｗ３のパルス１発で構成さ
れており、直後にＴｍ１（＝２Ｔｗ）もしくはＴｍ２
（＝Ｔｗ）の期間を隔てて、以降マーク長がＴ伸びるご
とに幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパルスが繰り返し周期Ｔで
１発ずつ付加される。幅Ｔｍ１，Ｔｍ２の決定は、先行
するマーク長が２Ｔの場合Ｔｍ１、３Ｔ以上の場合Ｔｍ
２に適応的に選択される。レベルＰｗ１のパルスとレベ
ルＰｗ２のパルス間のレベルはＰａであり、レベルＰｗ
２のパルス同志の間のレベルはＰｂである。またマーク
非形成期間では、先頭にレベルＰｂ，期間Ｔｂ（＝３Ｔ
ｗ）の区間が設けられ、その後マーク形成期間直前まで
Ｐａのレベルが維持される。
【００３６】図５（ｃ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の下エンベロープが該マーク形成
期間開始からの時間経過にしたがって低下している。本
記録波形は自己のスペース長を参照して、マーク非形成
期間自身の記録波形が適応的に変化する例である。すな
わち２Ｔ長のスペースを形成する場合のマーク非形成期
間は、前後に幅Ｔｗ，レベルＰｂの期間を設けた幅４Ｔ
ｗ，レベルＰａの期間から構成されている。３Ｔ長以上
のスペースを形成する場合のマーク非形成期間は、先頭
に幅Ｔｂ１（＝２Ｔｗ），レベルＰｂの期間が、最後に
幅Ｔｂ２（＝Ｔｗ），レベルＰｂの期間に続く幅Ｔｈ
（＝Ｔｗ），レベルＰａの期間から構成されており、以
降スペース長がＴ伸びるごとに前後にレベルＰｂの期間
を伴うレベルＰａの期間がＴずつ延長される。一方マー
ク形成期間の記録波形は、２Ｔ長のマークを形成する場
合のマーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパルス１
発で、３Ｔ長のマークを形成する場合のマーク形成期間
は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパルスに引き続き幅Ｔｗ，レ
ベルＰａの期間を前置した幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパル
スから構成される。以降マーク長がＴ伸びるごとに幅Ｔ
ｗ，レベルＰｂの期間を前置して幅Ｔｗ，レベルＰｗ２
のパルスが１発ずつ付加される。
【００３７】図６（ｃ）は本発明による情報記録装置の
記録波形の他の１例を説明する図である。マーク形成期
間においては記録波形の下エンベロープが該マーク形成
期間開始からの時間経過にしたがって低下している。本
記録波形は自己のスペース長を参照して、マーク非形成
期間自身の記録波形が適応的に変化する例である。すな
わち４Ｔ長以下のスペースを形成する場合のマーク非形
成期間は、先頭に幅Ｔｂ１（＝２Ｔｗ），レベルＰｂの
期間が、最後に幅Ｔｂ２（＝Ｔｗ），レベルＰｂの期間
に続いて幅Ｔｈ（＝Ｔｗ），レベルＰａの期間を設けた
レベルＰａの期間から構成されている。５Ｔｗ長以上の
スペースを形成する場合のマーク非形成期間は、先頭に
幅Ｔｂ２（＝Ｔｗ），レベルＰｂの期間が、最後に幅Ｔ
ｂ２（＝Ｔｗ），レベルＰｂの期間に続き幅Ｔｈ（＝Ｔ
ｗ），レベルＰａの期間から構成されており、以降スペ
ース長がＴ伸びるごとに前後にレベルＰｂの期間を伴う
レベルＰａの期間がＴずつ延長される。一方マーク形成
期間の記録波形は、２Ｔ長のマークを形成する場合のマ
ーク形成期間は幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパルス１発で、
３Ｔ長のマークを形成する場合のマーク形成期間は幅Ｔ
ｗ，レベルＰｗ１のパルスに引き続き幅Ｔｗ，レベルＰ
ａの期間を前置した幅Ｔｗ，レベルＰｗ１のパルスから
構成される。以降マーク長がＴ伸びるごとに幅Ｔｗ，レ
ベルＰｂの期間を前置した幅Ｔｗ，レベルＰｗ２のパル
スが１発ずつ付加される。
【００３８】最後に従来記録波形および本発明による記
録波形によって、マーク・エッジ記録を行った場合の比
例パワー設定値とジッタの関係を図７に示す。符号器の
変調規則は（１，７）コード、光源波長６８５ｎｍ，対
物レンズ開口数０．５５の光学系を用い、記録線密度
０．４０μｍ/ｂｉｔ（マイクロメートル／ビット）で
記録を行った場合の結果である。破線白プロットは従来
記録波形による記録で前エッジ同志の間隔を、破線黒プ
ロットは従来記録波形による記録で後エッジ同志の間隔
を測定した場合の対検出窓幅比ジッタである。従来記録
波形では先行する記録パターンに依存してマークの前エ
ッジの位置が理想位置から変動するために、前エッジ・
ジッタが後エッジ・ジッタに比べて全体的に大きくなっ
ている。さらに前エッジ・ジッタを最適化するパワー
と、後エッジ・ジッタを最適化するパワーが異なってい
る。これに対し実線白プロットは本発明の記録波形によ
る記録で前エッジ同志の間隔を、実線黒プロットは本発
明の記録波形による記録で後エッジ同志の間隔を測定し
た場合の対検出窓幅比ジッタである。本発明の記録波形
による記録では、マークの前エッジがほぼ理想位置に形
成されるため、全体的にジッタが改善され、同時に前エ
ッジ・ジッタを最適化するパワーと後エッジ・ジッタを
最適化するパワーが一致している。さらに前エッジ・ジ
ッタと後エッジ・ジッタの大きさがほぼ一致しており、
結果として記録パワー・マージンが大幅に拡大されてい
る。
【００３９】
【発明の効果】本発明によれば、記録媒体にエネルギー
を照射することによって記録媒体に局所的な物理的変化
を引き起こし情報の記録を行う情報記録装置情報記録装
置において、高精度のマーク形成が可能となる。これに
より記録方式として高記録線密度化に有利なマーク・エ
ッジ記録方式を用いることが可能となる。また熱蓄積の
一定化を実現することによって再生クロストークの一定
化が図れ、トラック間隔を縮小することができるので、
結果として記録面密度を向上できる。以上により記録・
再生動作の高信頼化が図られ、同時に情報記録装置およ
び記録媒体の小型化が実現されるので、コストの点で有
利となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるディスク装置の構成を説明する
図。
【図２】本発明による記録波形を説明する図。
【図３】本発明によるディスク装置の記録処理系部分の
構成を説明する図。
【図４】本発明による記録パターン認識器の動作を説明
する図。
【図５】本発明による記録パターン認識器の動作を説明
する図。
【図６】本発明による記録パターン認識器の動作を説明
する図。
【図７】本発明による高精度マーク形成の効果を説明す
る図。
【図８】異なる記録波形の組み合わせを説明する図。
【図９】本発明による情報記録装置の記録パターン認識
部の構成を説明する図。
【図１０】本発明による情報記録装置の動作原理および
その効果を説明する図。
【符号の説明】
１１０…レーザ １１１…レーザ駆動回路 １１２…記録波形発生回路 １１３…符号器 １１５…ユーザ・データ １１７…光磁気記録媒体 １２０…光磁気再生信号 １２２…再生データ １２５…レベル発生信号 １２６…記録符号列 １２７…記録データ １２８…基準時間信号 １２９…記録処理系 ３００…マーク長ラッチ ３０１…スペース長ラッチ ３０２…記録パターン認識器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 萬 雄彦 大阪府茨木市丑寅一丁目１番88号 日立マ クセル株式会社内

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、記録符号列における
    同一長のスペース記録時に少なくとも２通りの記録波形
    を発生する記録エネルギー照射手段を有することを特徴
    とした装置。
  2. 【請求項２】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、記録符号列における
    同一長のマーク記録時に少なくとも２通りの記録波形を
    発生する記録エネルギー照射手段を有することを特徴と
    した装置。
  3. 【請求項３】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列における記録パターン識別手段を有し、該記録符
    号列における同一長のスペース記録時に前記識別手段の
    識別結果に基づいて少なくとも２通りの記録波形を発生
    する記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした
    装置。
  4. 【請求項４】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列における記録パターン識別手段を有し、該記録符
    号列における同一長のマーク記録時に前記識別手段の識
    別結果に基づいて少なくとも２通りの記録波形を発生す
    る記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした装
    置。
  5. 【請求項５】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列におけるマーク長弁別手段を有し、該記録符号列
    における同一長の後続スペース記録時に前記弁別手段の
    弁別結果に基づいて少なくとも２通りの記録波形を発生
    する記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした
    装置。
  6. 【請求項６】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列におけるスペース長弁別手段を有し、該記録符号
    列における同一長のスペース記録時に前記弁別手段の弁
    別結果に基づいて少なくとも２通りの記録波形を発生す
    る記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした装
    置。
  7. 【請求項７】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列におけるマーク長弁別手段を有し、該記録符号列
    における同一長の後続マーク記録時に前記弁別手段の弁
    別結果に基づいて少なくとも２通りの記録波形を発生す
    る記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした装
    置。
  8. 【請求項８】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列におけるマーク長弁別手段を有し、該記録符号列
    における同一長のスペース記録時に先行するマーク長に
    対する前記弁別手段の弁別結果に基づいてマーク非形成
    期間の総エネルギー照射量を少なくとも２通りに切り換
    える記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした
    装置。
  9. 【請求項９】記録媒体にエネルギーを照射することによ
    って記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報の
    記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記録
    符号列におけるスペース長弁別手段を有し、該記録符号
    列における同一長のスペース記録時に先行するスペース
    長に対する前記弁別手段の弁別結果に基づいてマーク非
    形成期間の総エネルギー照射量を少なくとも２通りに切
    り換える記録エネルギー照射手段を有することを特徴と
    した装置。
  10. 【請求項１０】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記
    録符号列におけるマーク長弁別手段を有し、該記録符号
    列における同一長のマーク記録時に先行するマーク長に
    対する前記弁別手段の弁別結果に基づいてマーク形成期
    間の総エネルギー照射量を少なくとも２通りに切り換え
    る記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした装
    置。
  11. 【請求項１１】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の個
    別マークに対応する総エネルギー照射量弁別手段を有
    し、マーク非形成期間における総エネルギー照射量を該
    弁別手段の弁別結果に基づいて少なくとも２通りに切り
    換える記録エネルギー照射手段を有することを特徴とし
    た装置。
  12. 【請求項１２】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の個
    別スペースに対応する総エネルギー照射量弁別手段を有
    し、マーク非形成期間における総エネルギー照射量を該
    弁別手段の弁別結果に基づいて少なくとも２通りに切り
    換える記録エネルギー照射手段を有することを特徴とし
    た装置。
  13. 【請求項１３】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の個
    別マークの対応する総エネルギー照射量弁別手段を有
    し、マーク形成期間における総エネルギー照射量を該弁
    別手段の弁別結果に基づいて少なくとも２通りに切り換
    える記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした
    装置。
  14. 【請求項１４】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記
    録符号列中のマークの長さを保持する手段と、該保持結
    果の弁別手段を有し、前記マークに対する該弁別手段の
    弁別結果に基づいて前記マーク直後のスペース記録時に
    少なくとも２通りの記録波形を発生する記録エネルギー
    照射手段を有することを特徴とした装置。
  15. 【請求項１５】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、データ記録時の記
    録符号列中の第１のマークの長さを保持する手段と、該
    保持結果の弁別手段を有し、第１のマークに対する該弁
    別手段の弁別結果に基づいて第１のマーク直後の第２の
    マーク記録時に少なくとも２通りの記録波形を発生する
    記録エネルギー照射手段を有することを特徴とした装
    置。
  16. 【請求項１６】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、マーク形成期間に
    対応する記録波形の上エンベロープおよび下エンベロー
    プがマーク形成開始時からの時間経過にしたがって低下
    する該記録波形を発生する記録エネルギー照射手段を有
    することを特徴とした装置。
  17. 【請求項１７】請求項１〜１５のうちいずれかに記載の
    情報記録装置において、マーク形成期間に対応する該記
    録波形の上エンベロープがマーク形成開始時からの時間
    経過にしたがって低下することを特徴とした装置。
  18. 【請求項１８】請求項１〜１５，１７のうちいずれかに
    記載の情報記録装置において、マーク形成期間に対応す
    る該記録波形の下エンベロープがマーク形成開始時から
    の時間経過にしたがって低下することを特徴とした装
    置。
  19. 【請求項１９】請求項１〜１８のうちいずれかに記載の
    情報記録装置において、該記録波形は少なくとも２つの
    エネルギー・レベルからなるマーク形成期間と、少なく
    とも２つのエネルギー・レベルからなるマーク非形成期
    間で構成されることを特徴とする装置。
  20. 【請求項２０】請求項１〜１９のうちいずれかに記載の
    情報記録装置において、記録波形を制御する基準時間発
    生手段を有し、前記各記録エネルギー・レベルの保持時
    間が該基準時間発生手段の発生する基準時間の略整数倍
    もしくは略半奇数倍であることを特徴とした装置。
  21. 【請求項２１】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし一連
    の記録マークを形成することによって情報の記録を行う
    情報の記録方法において、一連の記録マークのうち所定
    の記録マークを形成する際には、それ以前の記録マーク
    のパターンを識別し、該識別結果に基づいて、記録され
    る記録マークもしくは該記録マークと直前の記録マーク
    とのスペースに対して、少なくとも２通りの記録波形を
    発生することを特徴とした方法。
  22. 【請求項２２】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録装置において、上記エネルギーの
    記録波形におけるスペースの直前のマークのマーク長が
    最短マーク長であるかどうかを判定する比較器と、該ス
    ペースの先頭に設けられる第１のレベルの第１の期間と
    該第１の期間に続き上記第１のレベルよりも大きい第２
    のレベルの第２の期間のうち上記第１の期間の長さを上
    記比較器の出力により切り換える波形エンコーダとを有
    することを特徴とした装置。
  23. 【請求項２３】記録媒体にエネルギーを照射することに
    よって記録媒体に局所的な物理的変化を引き起こし情報
    の記録を行う情報記録方法において、上記エネルギーの
    記録波形におけるスペースの直前のマークのマーク長が
    最短マーク長であるかどうかを判定し、最短マーク長で
    あれば該スペースの先頭に設けられる第１のレベルの第
    １の期間と該第１の期間に続き上記第１のレベルよりも
    大きい第２のレベルの第２の期間のうち上記第１の期間
    の長さをＴｂ１とし、最短マーク長でなければ上記第１
    の期間を上記Ｔｂ１よりも短い時間とする方法。
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