JP4538362B2 - 情報記録装置 - Google Patents

Description

本発明は記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは物理的性質の異なるマークを形成することによって情報を記録する情報記録装置に関するものであり、もっぱら光ディスク装置に関するものである。

現在一般に流通している光ディスクは、記録膜を加熱することにより記録膜上に反転磁区によるマークを形成する光磁気ディスクと、加熱時のエネルギー投入量を制御することにより記録膜の冷却速度を変化させ、記録膜上にアモルファス領域によるマークを形成する相変化ディスクに大別できる。これらの光ディスクにおいて記録再生時の情報転送速度の向上を図るためには、記録線密度を上昇させるか、光スポットによる記録媒体の走査速度を上昇させる方法がある。記録線密度を上昇させるにはマーク，スペース長そのものを縮小するほかに、マーク長，スペース長の変化の刻みを短くしてマーク・エッジ位置を検出する時間幅を狭くとる方法があげられる。しかし記録線密度を上昇させる方法では再生信号における信号対雑音比が問題となり、大幅な記録線密度上昇は望めない状況にある。

光ディスク上に高精度な微小マークを形成する目的では、特開平５―２９８７３７号公報に記載の第１の従来技術では、マーク形成期間に相当する記録波形を記録符号列のマークの長さに対応した一連のパルス列から構成し、各パルスの個数および振幅を記録符号列の長さに応じて制御する方法が開示されている。マーク形成期間の記録波形は先頭部と後続部分の２つの部分に分けられ、各パルスのパルス高は一般に異なっている。さらに記録波形のマーク非形成期間には、スペース部を前置して記録補助パルスを発生する。以上により本第１の従来技術公報においては、本方法によりスペース長によらず先行するマーク形成部分から直後のマークの前エッジ位置への熱拡散を補償でき、マーク幅およびマーク・エッジ位置が高精度に制御できるとしている。ここでマーク形成期間とは記録符号列におけるマークの長さを反映し、図３に示すように、ある単一のマークの形成に必要な記録エネルギーを供給するエネルギー・レベルを有するパルス、すなわち該エネルギー・レベルが発生されなければマークが形成されないエネルギー・レベルを有するパルスの、最初のパルスの立ち上がりから最後のパルスの立ち下がりまでとして定義される。またマーク非形成期間とは記録符号列におけるスペースの長さを反映し、マーク形成期間以外の期間として定義する。以上の定義は本明細書中の記述において共通とする。

また特開平８―７２７７号公報に記載の第２の従来技術には、個々の記録符号を異なる長さの複数の基本的な要素に分解し、各要素に１つの記録パルスを対応させ、個々の記録符号を各記録パルスによる各々独立した一連の記録マークとして形成する方法が開示されている。本第２の従来技術公報においては、本方法により独立したマークを記録しても再生信号レベルの低下を生じることがなく、長いマークを含む変調方式においても安定に記録が行えるとしている。さらに書き換え型記録媒体においては、多数回書き換え後の再生信号のジッタ増大を抑えることが出来るとしていた。

さらに特開平９―１３４５２５号公報に記載の第３の従来技術には、先頭加熱パルスと後続する複数個の後部加熱パルスと後部冷却パルスおよび最後尾冷却パルスからなるマルチ・パルス記録方式において、記録チャンネル・クロック周期に対する偶数長と奇数長のいずれか一方のマーク長を記録する場合に、後部加熱パルスと後部冷却パルスのパルス幅を記録チャンネル・クロック周期と略同一とする方法が開示されている。本第３の従来技術公報においては、本方法により記録媒体の冷却時間が十分に確保でき、正確なエッジ位置の制御が可能になるとしている。

なお、波形制御に関するものとしては、他に特開昭５５―１３９６９３号、特開昭６１―２３７２３３号などがある。

特開平５―２９８７３７号公報

前記第１の従来技術では、検出窓幅分のマークの延長に１発の記録パルスが対応している。このため検出窓幅が短縮した場合、記録エネルギー発生源である半導体レーザ・ダイオードを従来以上に高速に駆動する必要が出てくる。例えば一般的な（１,７）変調方式を用いて磁気ディスク装置なみの１０ＭＢｙｔｅｓ／ｓｅｃのバースト転送速度を実現しようとした場合、再生信号における検出窓幅は約８.３ｎｓとなり、したがって最短の記録電流パルス幅は検出窓幅の約１／２の約４.２ｎｓとなる。しかし半導体レーザの立ち上がりには数ｎｓ程度必要であり、正確な記録光パルス発生は困難である。また仮に正確な記録光パルスが発生できたとしても、相変化ディスクのように加熱部分の冷却速度によってマークの形成を制御する媒体に対してマルチ・パルス記録を行う場合には、加熱部分が十分に冷却されないうちに次の光パルスが照射されるため、正常なマーク形成が不可能となる。例えば同様に（１,７）変調方式を用いて１０ＭＢｙｔｅｓ／ｓｅｃのバースト転送速度を実現しようとした場合、記録媒体の冷却時間も最短の記録電流パルス幅に等しい約４.２ｎｓとなるので、記録媒体の特性によってはマークが正しく形成できない。

前記第２の従来技術では、個々の記録符号を異なる長さの複数の基本的な要素に分解し、各要素に１つの記録パルスを対応させ、個々の記録符号を各記録パルスによる各々独立した一連の記録マークとして形成する方法が開示されている。
しかし本従来技術では各要素に対応した記録パルス間の熱的なバランスが考慮されておらず、記録線密度を上昇させていく場合、マーク・エッジ位置の制御に問題が生ずる。すなわち１つの記録符号に対応するマークを形成しようとする場合、記録符号先頭部と記録符号後端部では記録膜における熱の蓄積量が異なるために、位置によって記録マーク幅が変動し、正確なエッジ記録が出来なくなる。

前記第３の従来技術では、マーク形成期間の中央部付近で検出窓幅よりも相当短いパルスが記録波形に挿入されるケースが存在し、その近傍でのマーク幅が他の部分に比べて大きく変動する。本従来技術の説明ではマーク・エッジ記録を行う場合、マークのエッジ位置さえ正確であればマーク中央部分での信号振幅の変動は大きな問題にはならないとしている。しかし再生信号の平均レベルを検出して記録再生条件を決定するような記録再生装置の場合、このような再生信号の歪みは装置の動作に悪影響を与える。例えば相変化記録媒体の場合、位相ピット型記録媒体と同様に反射率の変化で信号が検出できる。このため相変化記録媒体では位相ピット型記録媒体と再生装置を共用しやすいという利点を有するが、位相ピット型記録媒体からの再生信号には前述の歪みが存在しないため、位相ピット型記録媒体用と同一の装置による再生が困難となる。

したがって以上説明した通り、前記の各従来技術では高転送速度時にマークを十分な精度で形成することができず、結果として十分な記録面密度と信頼性を実現することができなかった。

マークを安定に形成し信頼性の高い記録再生を行うためには、前記の問題が生じない記録波形を選択しなければならない。記録波形に要求される条件には、高精度なマーク形成が可能であることに加えて次の２点がある。すなわち第１には光源である半導体レーザが駆動しやすいことであり、第２には記録媒体に十分な冷却時間を確保できることである。

そこで前記の問題を解決する目的で、複数のパルス状のエネルギーを記録媒体に注入して、記録マークを形成することによって、エッジに情報を持たせて記録する情報記録装置において、情報を記録符号列に変換する符号化手段と、前記記録符号列中のマーク長を、検出窓幅Ｔｗに対し、奇数倍長と偶数倍長に分類する分類手段と、記録に必要なエネルギーを発生するエネルギー発生手段と、前記記録符号列中のマーク長が２Ｔｗ増加する毎に、前記マーク形成期間内の注入エネルギーのパルス数を１つ増加させ、前記奇数倍長と前記偶数倍長とで前記分類手段での分類結果に応じて異なる記録波形となるように、前記エネルギー発生手段を駆動させる駆動手段とを有し、前記異なる記録波形は、前記奇数倍長のマーク形成先頭部分の記録波形の形状と、前記偶数倍のマーク形成先頭部分の記録波形の形状が異なるようにされ、一方の前記マーク形成先頭部分の記録波形の形状は、第１のパワーレベルから第２のパワーレベルに立ち上げて保持した後、立ち下げるものであり、他方の前記マーク形成先頭部分の記録波形の形状は、第１のパワーレベルから第２のパワーレベルに立ち上げて保持した後、前記第１と前記第２のパワーレベルの間の第３のパワーレベルに立ち下げて保持した後、更に立ち下げるものであり、前記他方のマーク形成先頭部分の記録波形の、前記第２のパワーレベルに保持する期間と前記第３のパワーレベルに保持する期間と合わせた期間が、前記一方のマーク形成先頭部分の記録波形の前記第２のパワーレベルに保持する期間よりも長いように構成した。

以上により記録媒体の冷却時間が十分確保できるようになり、あるいはレーザ駆動電流の周波数成分が低減されるので、高転送速度時でもマークを十分な精度で形成することができ、十分な記録面密度と信頼性を実現することができる。

本発明によれば、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは物理的性質の異なるマークを形成することによって情報を記録する情報記録装置において、高速に高精度のマーク形成が可能となる。これにより記録方式として高記録線密度化に有利なマーク・エッジ記録方式を用いることが可能となる。以上により記録／再生動作の高速化，高信頼化が図られ、同時に情報記録装置および記録媒体の小型化が実現されるので、コストの点で有利となる。

以下、本発明の実施形態の例を説明する。本実施例では記録媒体として光磁気記録媒体を例にとって説明するが、これは記録媒体を特に限定するものではなく、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは物理的性質の異なるマークを形成することによって情報を記録する記録媒体（例えば相変化型記録媒体等）に共通の技術である。

また以下の実施例において、記録エネルギーのレベルとは検出窓幅（マーク，スペースのエッジ位置の変化単位）の１／２倍程度の期間にわたる平均エネルギー・レベルを意味し、何らかの理由（例えばレーザ・ノイズの抑圧のため等）で検出窓幅に相当する周期の周波数よりも十分に高い周波数成分が記録波形に重畳されているような場合には、その周波数成分の影響が無視できる程度以上の期間にわたる平均エネルギー・レベルを指すものとする。

図１は本発明による情報記録装置の全体構成の一例を説明する図である。記録されるユーザ・データ１１５はコントローラ１１８によって管理され、所定の量に達するまでバッファ１１４に一旦蓄えられる。バッファ１１４から送り出された記録データ１２７は、符号器１１３において光磁気記録媒体１１７上に形成されるマーク（図示せず）配置に対応する記録符号列１２６に変換される。記録符号列１２６は記録波形発生回路１１２に伝達され、ここで記録波形に対応したレベル発生信号１２５に変換される。符号器１１３，記録波形発生回路１１２は基準時間発生器１１９の発生する基準時間信号１２８に同期して動作する。レーザ駆動回路１１１はレベル発生信号１２５を参照してレーザ駆動電流１２４を発生し、記録エネルギー源であるレーザ１１０を所定の記録波形にしたがって発光させる。レーザ１１０から放出されたレーザ光１２３はコリメート・レンズ１０９，ハーフ・ミラー１０８，対物レンズ１１６を経由して光磁気記録媒体１１７上に集光され、記録膜（図示せず）を加熱してマークを形成する。情報の再生時にはマークを破壊しない程度に低いレベルのレーザ光１２３で光磁気記録媒体１１７上のマーク配列を走査する。光磁気記録媒体１１７からの反射光は対物レンズ１１６，ハーフ・ミラー１０８を経由し、偏光分離素子１０７に入射される。偏光分離素子１０７では、マークの磁化方向に応じて偏光面が回転した反射光を互いに直交する偏光に分離し、各々は検出レンズ１０６を通じて光検出器１００上に導かれる。光検出器１００は互いに直交する偏光の強度を、それらに比例した電気信号に変換する。該電気信号は各々の光検出器１００に設けられた前置増幅器１０１によって増幅された後、差動増幅器１０２に伝達される。差動増幅器１０２は入力信号間の差を演算し、光磁気記録媒体１１７上の走査位置におけるマークの有無に対応した光磁気再生信号１２０を生成する。光磁気再生信号１２０は波形等化器１０３によって波形等化処理を受け、さらに２値化器１０４において２値化再生信号１２１に変換される。さらに復号器１０５はこの２値化再生信号１２１に対して符号器１１３の逆変換を施して再生データ１２２をバッファ１１４に蓄える。バッファ１１４中の再生データ１２２はコントローラ１１８によって管理され、所定の量に達すると最終的に再生されたユーザ・データ１１５として装置外部に出力される。

図２は図１における記録処理系１２９の構成の一例を詳細に説明する図である。記録データ１２７は符号器１１３においてマーク長およびスペース長およびその先頭位置の情報である記録符号列１２６に変換される。記録符号列１２６はマーク長分類器２０１および記録波形テーブル２０２に伝達される。マーク長分類器２０１では記録符号列１２６のマーク長を所定の規則にしたがって分類し、その分類結果をマーク長分類信号２０４として記録波形テーブル２０２に入力する。一方カウンタ２００は記録符号列１２６を参照し、基準時間信号１２８を単位としてマーク先頭位置からの時間を計時し、カウント信号２０５を生成する。記録波形テーブルは記録符号列１２６，マーク長分類信号２０４，カウント信号２０５にしたがって、所定の記録波形を反映したレベル発生信号１２５をレーザ駆動回路１１１に伝える。レーザ駆動回路１１１はこれらのレベル発生信号１２５を参照してレーザ駆動電流１２４を合成し、記録エネルギー源であるレーザ１１０を駆動する。

図３（a）〜（g）は従来発明装置および本発明装置における記録符号列のマーク，スペースと、それを記録する記録波形発生動作の一例を説明する図である。
なお以降の記録波形の説明は、何らかの理由で前後の記録パターン等を参照して記録波形の一部の期間の長さまたはレベルを微調整するような場合には、該微調整前の記録波形を比較したものである。したがって以降の記録波形の説明は形成するマークの前後十分長い距離にわたって記録パターンが同一である場合の記録波形を比較したものである。ここで十分長い距離とは、検出窓幅程度の期間にわたる記録エネルギーの注入によって影響を受ける媒体上の距離よりも十分に長い距離を意味する。図３（a）は記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、Tw の周期を取る。図３（b）は記録データを符号器１１３で変換した結果の記録符号列１２６を表している。ここで Tw は検出窓幅であり、記録符号列１２６におけるマーク長およびスペース長の変化量の最小単位である。図３（c）は記録媒体上のマーク配列のイメージを示したもので、記録再生用のレーザ光スポットは図３（c）中を左から右へ走査する。マーク３０１は記録符号列１２６中の "１" レベルに１対１で対応しており、その期間に比例した長さで形成される。図３（d）は本発明装置におけるマーク長分類信号２０４であり、本例ではマーク長を奇数倍長と偶数倍長の場合に分類している。図３（e）は本発明におけるカウント信号２０５であり、マーク３０１およびスペース３０２の先頭からの時間を Tw 単位で計時する。図３（f）,３（g）はおのおの図３（b）の記録符号列１２６に対応した従来発明装置および本発明装置における記録波形の一例である。これらの記録波形３０３,３０４はカウント信号２０５，記録符号列１２６を参照して生成される。また本発明装置では前記の各信号に加えてマーク長分類信号２０４も参照する。従来発明装置における記録波形パルスの最短周期は Tw であるのに対し本発明装置では２Tw となっており、本発明装置による記録波形の例３０４における最短冷却時間は従来発明装置による記録波形の例３０３の約２倍確保されている。

次に図４（a）〜（i）を用いて従来装置における記録波形の例４００〜４０６を示す。例として符号器１１３による符号化規則を、（１,７）符号変調後にｎRZI 変調を施すものであると仮定する。したがってマーク長，スペース長は必ず２Tw 以上８Tw 以下となる。図４（a）は基準時間信号１２８を示したものであり、記録処理系１２９の各要素はこれにしたがって動作する。図４（b）はカウント信号であり、マーク先頭からの時間を検出窓幅 Tw 単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。
図４（c）は２Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は長さ１Tw，レベル Pw１のパルスから構成される。マーク非形成期間は先頭に１Tw 幅，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。図４（d）は３Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は図４（c）と同じく長さ１Tw，レベル Pw１のパルスに引き続き、長さ０.５Tw，レベル Pa の期間，長さ０.５Tw，レベル Pw２の期間が続く。図４（e）〜（i）はおのおの４Tw〜８Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク長１Tw あたり長さ０.５Tw，レベル Pa の期間，長さ０.５Tw，レベル Pw２の期間がマーク形成部の後端に付加される。マーク非形成期間はスペース長によらず、先頭に長さ１Tw，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。本記録波形例では、マーク形成期間３０５における最短冷却期間は０.５Tw となっている。

次に図２中の記録波形発生回路１１２の動作を説明するために、図５（a）〜（i）を用いて本発明装置における記録波形の一例５００〜５０６を示す。符号器１１３の符号化規則は図４（a）〜（i）と同じく（１,７）符号変調後にｎRZI 変調を施すものであるとする。したがってマーク長，スペース長は必ず２Tw 以上８Tw 以下となる。しかしこのことは符号器１１３の符号化規則に限定を加えるものではなく、任意の符号化規則（例えばEight−to−Fourteen Modulation,８−１６変調等）を有する符号器１１３に本発明は適用可能である。また図２中のマーク長分類器２０１の動作は除数２による除算（剰余の演算）であるとし、マーク長分類信号は記録符号列のマーク／スペースを検出窓幅 Tw の偶数倍長の場合と奇数倍長の場合で識別するものとする。除数として、３以上の他の除数を用いても差し支えないが、本発明では、除数が２の場合について、特徴のある構成を示している。さらにマーク長分類器２０１の動作を剰余の演算としたが、これもマーク長分類器２０１の構造，動作を特に限定するものではなく、他の分類方法によるものでもよい。図５（b）はカウンタ２００によって発生されるカウント信号２０５であり、マーク先頭からの時間を検出窓幅 Tw 単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。図５（c）は２Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は長さ１Tw，レベル Pw１のパルスから構成される。マーク非形成期間は先頭に長さ１Tw，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。図５（e）は４Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は図５（c）と同じ長さ１Tw，レベル Pw１のパルスに引き続き、長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間が続く。以降図５（g），（i）に図示する通り、検出窓幅 Tw の偶数倍長マークの場合には、マーク長２Tw あたり長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間がマーク形成部の後端に付加される。図５（d）は３Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は図５（c）と同じ長さ１Tw，レベル Pw１のパルスに引き続き、長さ１Tw，レベル Pw２の期間が続く。以降図５（f），（h）に図示する通り、検出窓幅 Tw の奇数倍長マークの場合には、マーク長２Tw あたり長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間がマーク形成部の後端に付加される。マーク非形成期間はスペース長によらず、先頭に長さ１Tw，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。本記録波形例では、マーク形成期間３０５における最短冷却期間は１Tw となっている。

なおマーク形成中間部分とは、マーク形成期間からマーク形成先端部分およびマーク形成後端部分を除いた部分であり、マーク長を反映して一定周期，一定振幅のパルスによって構成される部分である。マーク形成先端部分とはマーク形成期間内でマーク形成中間部分よりも前の部分であり、マーク形成先頭部にあたる部分である。またマーク形成後端部分とはマーク形成期間内でマーク形成中間部分よりも後の部分であり、マーク形成終端部にあたる部分である。また記録波形は一般にマーク形成先端部分，マーク形成中間部分，マーク形成後端部分から構成されるが、必ずしもこれらの３部分が必ずしも存在する必要はない。

図５（c）〜（i）に示した例におけるマーク形成期間３０５の記録波形は、マーク形成先端部分５０７，マーク形成中間部分５０８のみから構成される。任意長マークに対するマーク形成期間におけるエネルギー・レベルの任意の２変化点の間隔は常に Tw より長く、かつ Tw の整数倍となっている。マーク形成先端部分５０７は Pw１または Pw２のレベルを有する部分であり、マーク形成中間部分５０８はレベル Pw３，長さ１Tw の期間とレベル Pa，長さ１Tw の期間が交互に連続している部分である。マーク形成後端部分は長さが零であり、存在しない。この場合マーク形成先端部分がマーク長に関して２Tw の周期性を有している。すなわちマーク長が３Tw,５Tw,７Tw の場合（奇数系列）では、マーク形成先頭部分５０７の記録波形に周期的な類似性（長さ１Tw，レベル Pw１の後に長さ１Tw，レベル Pw２）を有する。またマーク長が２Tw,４Tw,６Tw,８Tw の場合（偶数系列）では、マーク形成先頭部分５０７の記録波形に周期的な類似性（長さ１Tw，レベル Pw１）を有する。

次に図６（a）〜（i）を用いて本発明装置における記録波形の他の例６００〜６０６を示す。符号器１１３の符号化規則は図４（a）〜（i）,５（a）〜（i）と同じ（１,７）符号変調後にｎRZI 変調を施すものであるとする。また図２中のマーク長分類器２０１の動作は除数２による除算（剰余の演算）であるとし、マーク長分類信号は記録符号列のマーク／スペースを検出窓幅 Tw の偶数倍長の場合と奇数倍長の場合を識別するものとする。図６（b）はカウンタ２００によって発生されるカウント信号２０５であり、マーク先頭からの時間を検出窓幅 Tw 単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングがマークもしくはスペースの先頭に対応する。図６（c）は２Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は長さ１Tw，レベル Pw１のパルスから構成される。マーク非形成期間は先頭に長さ１Tw，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。図６（e）は４Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は図５（c）と同じ長さ１Tw，レベル Pw１のパルスに引き続き、長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間が続く。以降図６（g），（i）に図示する通り、検出窓幅 Tw の偶数倍長マークの場合には、マーク長２Tw あたり長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間がマーク形成部の後端に付加される。図５（d）は３Tw 長マーク形成時の記録波形であり、マーク形成期間３０５は図５（c）と同じ長さ１Tw，レベル Pw１のパルスに引き続き、長さ１Tw，レベル Pw２の期間が続く。以降図５（f），（h）に図示する通り、検出窓幅 Tw の奇数倍長マークの場合には、マーク長２Tw あたり長さ１Tw，レベル Pa の期間，長さ１Tw，レベル Pw３の期間がマーク形成部の最後端に付加される。マーク非形成期間はスペース長によらず、先頭に長さ１Tw，レベル Pb の期間を置き、その後次のマーク形成期間まで Pa レベルを維持する。本記録波形例では、マーク形成期間３０５における最短冷却期間は１Tw となっている。

図６に示した例におけるマーク形成期間３０５の記録波形は、マーク形成先端部分５０７，マーク形成中間部分５０８，マーク形成後端部分６０７から構成される。任意長マークに対するマーク形成期間におけるエネルギー・レベルの任意の２変化点の間隔は常に Tw より長く、かつ Tw の整数倍となっている。マーク形成先端部分５０７は Pw１のレベルを有する部分であり、マーク形成中間部分５０８はレベル Pw３，長さ１Tw の期間とレベル Pa，長さ１Tw の期間が交互に連続している部分、マーク形成後端部分６０７は Pw２のレベルを有する部分である。この場合マーク形成先端部分５０７が常に一定であるのに対して、マーク形成後端部分６０７がマーク長に関して２Tw の周期性を有している。すなわちマーク長が３Tw,５Tw,７Tw の場合（奇数系列）では、記録波形後端部分６０７の記録波形に周期的な類似性（長さ１Tw，レベル Pw２）を有する。またマーク長が４Tw,６Tw,８Tw の場合（偶数系列）では、記録波形後端部分６０７に周期的な類似性（長さ零）を有する。

本発明による情報記録装置の全体構成を説明する図。 本発明における記録処理系の構成を説明する図。 本発明および従来技術による記録処理系の動作を説明する図。 従来技術による記録処理系の記録波形の例を説明する図。 本発明による記録処理系の記録波形の例を説明する図。 本発明による記録処理系の記録波形の他の例を説明する図。

符号の説明

１１０… レーザ
１１１… レーザ駆動回路
１１２… 記録波形発生回路
１１３… 符号器
１１５… ユーザ・データ
１１７… 光磁気記録媒体
１１９… 基準時間発生器
１２０… 光磁気再生信号
１２２… 再生データ
１２４… レーザ駆動電流
１２５… レベル発生信号
１２６… 記録符号列
１２７… 記録データ
１２８… 基準時間信号
１２９… 記録処理系
２００… カウンタ
２０１… マーク長分類器
２０２… 記録波形テーブル
２０４… マーク長分類信号
２０５… カウント信号
３０５… マーク形成期間
５０７… マーク形成先端部分
５０８… マーク形成中間部分
６０７… マーク形成後端部分。

Claims (1)

1. 複数のパルス状のエネルギーを記録媒体に注入して、記録マークを形成することによって、エッジに情報を持たせて記録する情報記録装置において、
   情報を記録符号列に変換する符号化手段と、
   前記記録符号列中のマーク長を、検出窓幅Ｔｗに対し、奇数倍長と偶数倍長に分類する分類手段と、
   記録に必要なエネルギーを発生するエネルギー発生手段と、
   前記記録符号列中のマーク長が２Ｔｗ増加する毎に、前記マーク形成期間内の注入エネルギーのパルス数を１つ増加させ、前記奇数倍長と前記偶数倍長とで前記分類手段での分類結果に応じて異なる記録波形となるように、前記エネルギー発生手段を駆動させる駆動手段とを有し、
   前記異なる記録波形は、前記奇数倍長のマーク形成先頭部分の記録波形の形状と、前記偶数倍のマーク形成先頭部分の記録波形の形状が異なるようにされ、
   一方の前記マーク形成先頭部分の記録波形の形状は、第１のパワーレベルから第２のパワーレベルに立ち上げて保持した後、立ち下げるものであり、
   他方の前記マーク形成先頭部分の記録波形の形状は、第１のパワーレベルから第２のパワーレベルに立ち上げて保持した後、前記第１と前記第２のパワーレベルの間の第３のパワーレベルに立ち下げて保持した後、更に立ち下げるものであり、
   前記他方のマーク形成先頭部分の記録波形の、前記第２のパワーレベルに保持する期間と前記第３のパワーレベルに保持する期間と合わせた期間が、前記一方のマーク形成先頭部分の記録波形の前記第２のパワーレベルに保持する期間よりも長いことを特徴とする情報記録装置。

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