JPH10206435A - プローブの作製方法及びプローブ - Google Patents

プローブの作製方法及びプローブ

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JPH10206435A
JPH10206435A JP1782397A JP1782397A JPH10206435A JP H10206435 A JPH10206435 A JP H10206435A JP 1782397 A JP1782397 A JP 1782397A JP 1782397 A JP1782397 A JP 1782397A JP H10206435 A JPH10206435 A JP H10206435A
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JP
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gold
flat
substrate
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JP1782397A
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Takehiko Kawasaki
岳彦 川崎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、極めて抵抗率の低い導電体よりな
り、先端曲率半径が小さく、さらに先端曲率半径のばら
つきの小さいプローブの作製方法及びプローブ、特に、
STM、あるいはSTMとAFMを複合した装置、もし
くはこれらを応用した微細加工装置や情報記録再生装置
に用いられるプローブを提供することを目的としてい
る。 【解決手段】本発明は、導電性基材の自由端に金単結晶
からなる探針を有するプローブの作製方法またはそのプ
ローブであって、前記探針が金錯体溶液中における金錯
体の分解処理による平板状金単結晶で形成することを特
徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブの作製方
法及びプローブであって、特に、走査型プローブ顕微鏡
並びにこれを応用した微細加工装置、情報記録再生装置
などに用いられる導電性プローブの作製方法及びそのプ
ローブに関する。
【0002】
【従来の技術】物質表面を極めて高い分解能で観察可能
な装置として、走査型プローブ顕微鏡(Scannin
g Probe Microscope:以下SPM)
が開発されている。これは、プローブ先端と物質表面を
ごく近接させた時に生じる各種の相互作用を利用したも
ので、プローブと物質表面を相対的に走査して、物質表
面の微細な形状や、導電率などの諸物理特性の分布を直
接観察するものである。また近年においては、SPMの
原理を応用し、物質表面に各種の加工を行う微細加工装
置や、記録媒体表面に記録ビットを形成して記録を行い
さらにその再生を行う情報記録再生装置も提案されてい
る。
【0003】SPMの中でもとりわけ高い分解能を持つ
ものに、走査型トンネル顕微鏡(Scanning T
unnnel Microscope:以下STM)が
ある。これは前記の相互作用として、導電性のプローブ
先端と物質表面をごく近接させたうえで適当な電界を印
加した時に流れるトンネル電流を利用したものである。
このトンネル電流の大きさはプローブ先端と物質表面の
距離に極めて大きく依存することから、トンネル電流を
一定にするようにプローブと物質表面の距離(Z方向)
を制御しながら横(X−Y方向)に走査し、その際のプ
ローブのZ方向の動きを見ることで物質表面の形状を観
察するものである。STMによれば、物質表面の原子配
列といった極めて微細な情報まで得ることができる。
【0004】また、このSTMと原子間力顕微鏡(At
omic Force Microscope:以下A
FM)を複合した装置も提案されている。このような装
置では、カンチレバーの先端部に探針を設けたプローブ
を用いて、物質表面の同一箇所のSTM像とAFM像を
観察することができる。このようなSTM、あるいはS
TMとAFMを複合した装置に用いられるプローブとし
ては、微弱なトンネル電流を検出するために抵抗率の低
い導電体であることが望ましい。また、横方向の分解能
を高めるために先端曲率半径が小さく、さらにプローブ
を交換した時の像観察の再現性を高めるために先端曲率
半径のばらつきは小さいことが望ましい。
【0005】従来、このようなプローブとしては、Wや
Ptなどの金属の細い線を機械研磨、または電界研磨に
よって加工し、尖った先端部を持つようにしたものが用
いられていた(J.Vac.Sci.Technol.
A8(4),3558)。あるいは、真空蒸着法により
金属を円錐型に堆積したものなども用いられていた
(J.Vac.Sci.Technol.A8(4),
3386)。さらに別の例としては、ZnOウィスカよ
りなる針状結晶を導電性の細線の先端に固定したものな
ども用いられていた(特開平5−332713号公
報)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例のプローブには以下に述べる問題点があった。すな
わち、WやPtなどの金属の細い線を機械研磨、または
電界研磨によって加工した場合、先端曲率半径のばらつ
きを抑えることが難しく、また、真空蒸着法により金属
を円錐型に堆積したものは、蒸着により堆積した金属が
多結晶となり探針の先端に複数の結晶粒が成長するた
め、同様に先端曲率半径のばらつきを抑えることが難し
いという点に問題があった。このため、これらのプロー
ブで再現性の高いSTM観察を行うためには、多数作製
したプローブの中から所望の曲率半径になっているもの
を選択して用いる必要があり、歩留が悪いという問題を
有していた。また、ZnOウィスカよりなる針状結晶
は、n型半導体であり抵抗率が約7Ω・cmと高く、こ
のため、STM観察に使用した場合、観察の際の電圧の
印加条件が大きく制限され、安定した像が得られない場
合があった。
【0007】そこで、本発明は上記従来のものにおける
課題を解決し、極めて抵抗率の低い導電体よりなり、先
端曲率半径が小さく、さらに先端曲率半径のばらつきの
小さいプローブの作製方法及びプローブ、特に、ST
M、あるいはSTMとAFMを複合した装置、もしくは
これらを応用した微細加工装置や情報記録再生装置に用
いられるプローブを提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、プローブの作製方法及びプローブをつぎの
ように構成したことを特徴としている。まず、本発明の
プローブの作製方法は、導電性基材の自由端に金単結晶
からなる探針を有するプローブの作製方法であって、前
記探針を金錯体溶液中における金錯体の分解処理による
平板状金単結晶の析出成長で形成することを特徴として
いる。このプローブの作製方法は、金錯体溶液中の金錯
体を分解処理することで結晶析出を行い、平板状金単結
晶からなる探針を形成する工程と、自由端を持つ導電性
の基材を準備する工程と、基材の自由端上に前記平板状
金単結晶からなる探針を固定する工程と、を有すること
を特徴としている。また、本発明の他のプローブの作製
方法は、基材の自由端上に核形成密度の大きい材料から
なる第1の面と、該第1の面に隣接して核形成密度の小
さい材料からなる第2の面とを配した導電性の基材を作
製する工程と、金錯体溶液中の金錯体を分解処理するこ
とで前記第1の面より平板状金単結晶を成長させて、前
記基材の自由端上に該平板状金単結晶からなる探針を形
成する工程と、を有することを特徴としている。また、
本発明のプローブは、導電性基材と、該導電性基材の自
由端に探針を有するプローブであって、前記探針が金錯
体溶液中における金錯体の分解処理による平板状金単結
晶で構成されていることを特徴としており、また本発明
の他のプローブは、その基材が、カンチレバーであるこ
とを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】上記したとおり、本発明のプロー
ブは、自由端を持つ導電性の基材と、基材自由端上に設
けた平板状金単結晶からなる探針により構成されてお
り、図1に、その実施の形態の一例であるプローブの概
略図を示す。図1aは平板状金単結晶の主面方向から見
た図、図1bは平板状金単結晶の側面方向から見た図で
ある。図1において、1は平板状金単結晶からなる探
針、2は基材、3は導電体層、4はプローブである。本
発明のプローブは、基材の自由端側に平板状金単結晶か
らなる探針を設け、基材の固定端側を使用するSPM装
置のプローブ駆動装置に固定して使用できるようにする
ものである。
【0010】本発明に用いる平板状金単結晶からなる探
針は、以下のような特徴を持つものである。特開平5−
201793号公報に金錯体溶液から基板表面に金単結
晶を析出させる方法が開示されている。この例は、金の
ヨウ化物錯体等のハロゲン化物の溶液から基板表面に金
単結晶を析出させるものである。この方法によれば大型
の平板状金単結晶を得ることができる。この方法によっ
て得られる単結晶は、基板面に対して結晶の(111)
面が平行となる平板状の形状となる。また、これら単結
晶を基板の上方から見た場合の形状は、若千の割合で不
定型のものが存在するものの、金の結晶が面心立方格子
であり、かつ(111)面が主面となることから、結晶
構造の対称性より、正六角形もしくは正三角形となり、
多くが正三角形となる。また結晶の側面は(110)
(101)(011)及び(100)(010)(00
1)といった低指数の結晶面で囲まれた形状となる。図
2にこの平板状金単結晶の正三角形の頂点部分の模式的
な形状を示す。図2aは結晶の(111)面方向から見
た上面図、図2bは側面図である。図示したように、正
三角形の頂点部分はその最先端まで結晶の低指数面で囲
まれた形状となり、結晶の主面である(111)面に平
行な面に沿った頂角は必ず60°と鋭角になる。また単
結晶であるため、その最先端まで金原子が規則正しく配
列している。このため、先端は曲率半径が小さく、さら
に曲率半径のばらつきは小さい。また金は抵抗率が約
2.4×10-6Ω・cmと極めて小さい導電体である。
このため、この平板状金単結晶は探針に電流を流して用
いるSPM及びSPMを応用した微細加工装置や情報記
録再生装置に用いる探針として非常に好ましい。
【0011】この平板状金単結晶は、横方向の大きさに
対して厚さが薄く、さらに金は金属の中でも比較的柔ら
かいため変形しやすく、単体では装置への取り付け・取
りはずしなどの作業の際の取り扱いが難しい。そのた
め、所望の基材の自由端に固定して用いる。基材として
は、平板状金単結晶からなる探針への電圧の印加や電流
検出が容易にできるように、導電性を持つTi、Pt、
Au、Wなどの金属、あるいはSiなどの半導体やSi
O2、SiC、窒化シリコンなどの絶縁体に金属よりな
る導電体層を形成したものを用いる。基材は少なくとも
1つの自由端を持つ形状とし、例えばSTM装置に用い
る場合は短冊型もしくは細線型、棒型の形状とする。し
かし、基材の形状は使用するSPM装置に応じて任意に
決定することができ、特にSTMとAFMを複合した装
置に用いる場合はカンチレバー型の基材を用いる。
【0012】本発明のプローブの作製方法の第1の態様
について説明する。本方法においては、金錯体溶液中の
金を過飽和状態に移行させることにより金錯体を分解処
理することで前記平板状金単結晶からなる探針を形成す
る工程と、自由端を持つ導電性の基材を準備する工程
と、基材自由端上に前記平板状金単結晶からなる探針を
固定する工程とを行う。この方法としては、例えば基材
とは別の成長用基板に平板状金単結晶を成長させ、その
後成長用基板から剥離し所望の基材の自由端上に固定す
る方法を用いることができる。
【0013】まず、金錯体溶液中の金を過飽和状態に移
行させることにより金錯体を分解処理することで成長用
基板上に結晶析出を行い、前記平板状金単結晶からなる
探針を形成する。金錯体としては、ヨウ化金、臭化金、
塩化金などの金のハロゲン化物を用いることができる。
分解処理方法としては、溶液中からのハロゲン成分の揮
発による方法、飽和溶液の冷却による方法、溶液中への
還元剤の添加による方法などを用いることができる。こ
の方法により数10μmから数mmの大きさの平板状金
単結晶を形成することができる。さらに、前記のような
材料・形状からなる、自由端を持つ導電性の基材を準備
する。最後に、成長用基板から前記平板状金単結晶から
なる探針を成長用基板から剥離して基材自由端上に固定
する。この際の固定方法としては、金属ペーストなどの
接着剤を用いて接着する方法、基材と平板状金単結晶を
対向・接触させた後に荷重を加えて圧着する方法などが
用いられ、特に限定されるものではない。
【0014】また、本発明のプローブの作製方法におい
てより好ましい第2の態様としては平板状金単結晶を、
基材上の自由端上に直接成長させる。本方法において
は、基材自由端部に核形成密度の大きい材料からなる第
1の面を配しこれに隣接して核形成密度の小さい材料か
らなる第2の面を配した導電性の基材を作製する工程
と、金錯体溶液中の金を過飽和状態に移行させることに
より金錯体を分解処理することで基材の核形成密度の大
きい材料からなる第1の面より平板状金単結晶を成長さ
せて基材自由端上に前記平板状金単結晶からなる探針を
形成する工程とを行う。すなわち、本実施態様において
は、基材上の探針を設けたい位置に核形成密度の大きい
材料からなる第1の面を配することで、基材上の所望の
位置に直接平板状金単結晶からなる探針を形成する。こ
の場合も必要に応じて、基材上に結晶を成長させた後で
接着剤などで補強固定したり、あるいは熱処理を行って
基材と平板状結晶の結合力を向上させるなどする。
【0015】尚、核形成密度の大きい材料からなる第1
の面と、核形成密度の小さい材料からなる第2の面に用
いる材料は、相対的に核形成密度の差があれば良い。好
ましくは、核形成密度の大きい材料からなる第1の面に
用いる材料としては特に核形成密度の大きいAu、W、
Ti、WSi、MoSi、Fe、Si、Geなどの導電
体、半導体を用い、核形成密度の小さい材料からなる第
2の面に用いる材料としては特に核形成密度の小さいS
iO2、SiC、窒化シリコン、Al23などの絶縁体
を用いる。このようにすることで、プローブの作製にお
いて、基材とは別の成長用基板から剥離する工程をなく
すことができ、平板状金単結晶に剥離に際して要する力
による損傷を与えることがなくなり、より歩留良くプロ
ーブを作製することができる。
【0016】本発明によれば、鋭角でかつその最先端ま
で金原子が規則正しく配列した頂点を持つ平板状金単結
晶を探針として用いることにより、極めて抵抗率が低
く、先端曲率半径が小さくさらに先端曲率半径のばらつ
きの小さいプローブを提供することができる。すなわち
本発明によれば、微弱なトンネル電流の検出が可能で安
定した像観察が行えると共に、横方向の分解能が高く、
さらにプローブを交換した時の像観察の再現性の高い、
STM、あるいはSTMとAFMを複合した装置、もし
くはこれらを応用した微細加工装置や情報記録再生装置
に用いられるプローブを提供することができる。
【0017】
【実施例】以下に、本発明の実施例を説明する。 [実施例1]図1に、本発明の実施例1における探針の
概略図を示す。図1において、1は平板状金単結晶から
なる探針、2は基材、3導電体層、4はプローブであ
る。図3に、本実施例のプローブの作製方法の該略図を
示す。本実施例のプローブは、基材2とは別の成長用基
板5上に形成した平板状金単結晶1を、基材2の自由端
上に圧着・固定し、さらに成長用基板5側から剥離して
作製した。まず、蒸留水1リットルにヨウ化カリウム8
0g及びヨウ素12gを投入して攪拌溶解させ溶媒を作
製し、更に金を3g溶解させ、金錯体を含有する成長溶
液を作製した。これを分取し成長容器に満たした。さら
に成長基板5として、表裏両面に熱酸化膜を形成したシ
リコンウエハを成長溶液に投入し、成長溶液を80℃に
昇温し成長溶液中からのヨウ素成分の揮発を促進した。
【0018】このようにすることで、成長溶液を過飽和
状態に移行させ、成長用基板5上に結晶を成長させるこ
とができた。約1日間結晶の成長を行ったところ、図3
aに示したように、成長用基板5上には、一辺の長さが
約1mmの正三角形の形状の平板状金単結晶1が得られ
た。なお、このようにして得られた結晶について、電子
線チャネリングコントラスト及びX線回折法で分析した
結果、成長用基板5に対して(111)面が平行でほぼ
無欠陥な単結晶であることを確認した。さらに、厚さ
0.5mmの単結晶シリコン板を2mm×10mmの短
冊型に切断し、さらにスパッタリング法によりCr5n
m、Au1μmを順に全面に積層して成膜して導電体層
3を形成し、基材2を作製した。最後に、平板状金単結
晶1からなる探針を基材2の自由端上に固定して、プロ
ーブを作製した。図3bに示したように、この基材2と
平板状金単結晶1を、基材2の自由端から平板状金単結
晶1の頂点が0.5mm突出するように位置合わせをし
て対向・接触させた後、さらに荷重を加えて接着した。
つづいて図3cに示したように、成長用基板5側から基
材2上に固定した平板状金単結晶を剥離した。以上のよ
うにして、基材2と、基材2の自由端上に固定した平板
状金単結晶からなる探針1により構成されるプローブ4
を作製した。
【0019】本実施例の方法により複数本のプローブを
作製し、それぞれのプローブを図7に示したSTM装置
にセットして試料表面の観察実験を行った。図7におい
て、4はプローブ、18は試料、19はX−Yステー
ジ、20はX−Y駆動制御装置、21は電圧印加装置、
22はトンネル電流検出回路、23はZ軸駆動サーボ回
路、24は圧電素子からなるZ軸駆動装置、25は制御
用コンピュータである。試料18として高配向熱分解グ
ラファイト(HOPG)を用いて、その劈開面を観察し
たところ、広い範囲の測定条件で常に安定した像が得ら
れ、すべてのプローブで良好な原子像を得ることができ
た。
【0020】[実施例2]図4に、本発明の実施例2に
おけるプローブの概略図を示す。図4において、1は平
板状金単結晶からなる探針、2は基材、3は導電体層、
4はプローブである。本実施例では、基材2としてカン
チレバーを用いた。図5に、本実施例のプローブの作製
方法の概略図を示す。本実施例のプローブは、一旦基材
2とは別の成長用基板5上に形成した平板状金単結晶1
を成長用基板5から剥離し、カンチレバーよりなる基材
2の自由端上に接着して作製した。まず、図5aに示し
たように、成長用基板5上に平板状金単結晶1を成長さ
せた。結晶の成長は実施例1と同様の条件で約1時間結
晶の成長を行ったところ、図5aに示したように、成長
用基板5上には一辺の長さが約50μmの正三角形の形
状の平板状金単結晶1が得られた。なお、このようにし
て得られた結晶について電子線チャネリングコントラス
ト及びX線回折法で分析した結果、成長用基板5に対し
て(111)面が平行でほぼ無欠陥な単結晶であること
を確認した。
【0021】続いて、カンチレバー型のパターンを以下
のようにして作製した。まず、図5bに示したように、
単結晶シリコン板6の両面に熱酸化によりSiO2膜7
を0.5μm形成し、続いて低圧CVD法により窒化シ
リコン膜8を0.5μm形成した。次に、図5cに示し
たように、単結晶シリコン板6の表側の面の窒化シリコ
ン膜8をフォトリソグラフィーとエッチングによりカン
チレバー型のパターン9を形成し、さらに単結晶シリコ
ン板6のカンチレバー型のパターン8が形成された部分
の裏面の窒化シリコン膜8及びSiO2膜7の一部をフ
ォトリソグラフィーとエッチングにより除去した。さら
に、図5dに示したように、カンチレバー型のパターン
9の表面にスパッタリング法によりCr5nm、Au
0.1μmを順に全面に積層した後でパターニングし、
導電体層3を形成した。続いて、図5eに示したよう
に、カンチレバー型のパターンの自由端上に平板状金単
結晶を以下のようにして固定した。まず、精密ピンセッ
トを用いて成長用基板5上から平板状金単結晶を剥離し
た。次にカンチレバー型のパターン9の自由端上に、平
板状金単結晶をカンチレバーの面に対して垂直になるよ
うに銀ペースト10を用いて固定した。続いて熱処理を
行い、銀ペーストに含まれるバインダー成分を蒸発させ
た。最後に、カンチレバー型のパターン9の形成された
側の面をポリイミド樹脂を塗布して保護した上で、エチ
レンジアミンピロカテコール水溶液(EDP)を用いて
裏面側から単結晶シリコン板6をエッチングし、さらに
HF水溶液を用いてSiO2膜7をエッチング除去した
後にポリイミド樹脂を除去して、図5fに示したよう
な、カンチレバーからなる基材2の自由端上に平板状金
単結晶からなる探針1を固定したプローブ4を作製し
た。
【0022】本実施例の方法により複数本のプローブを
作製し、それぞれのプローブを図8に示したSTMとA
FMを複合した装置にセットして試料表面の観察実験を
行った。図8において、4はプローブ、18は試料、1
9はX−Yステージ、20はX−Y駆動制御装置、21
は電圧印加装置、22はトンネル電流検出回路、23は
Z軸駆動サーボ回路、24は圧電素子からなるZ軸駆動
装置、25は制御用コンピュータ、26は半導体レーザ
ー、27は4分割フォトダイオード、28は変位検出系
である。試料18として高配向熱分解グラファイト(H
OPG)を用いて、その劈開面を観察したところ、広い
範囲の測定条件で常に安定した像が得られ、すべてのプ
ローブで良好な観察を行うことができた。
【0023】[実施例3]図6に、本発明の実施例3に
おけるプローブの作製方法の概略図を示す。本実施例の
プローブは、平板状金単結晶を、基材の自由端上に直接
成長させて作製した。まず図6a及び図6bに示したよ
うにして、基材表面の結晶を成長させたい位置に核形成
密度の大きい材料からなる第1の面を配し、これに隣接
して核形成密度の小さい材料からなる第2の面を配した
基材2を作製した。図6aに示したように、2mm×1
0mmの短冊型に切断した上で全面に窒化シリコン皮膜
11を0.2μmの厚さに形成した厚さ0.5mmの単
結晶シリコン板12表面に、スパッタリング法によりW
膜13を0.1μm堆積し、さらにその上にECR−C
VD法によりSiO2膜14を0.2μm堆積した。続
いて図6bに示したようにフォトリソグラフィーとエッ
チングを用いて基材2の自由端から0.6mmの部分ま
でのSiO2膜14を除去してW膜13を露出させ、核
形成密度の大きい材料からなる第1の面15を形成し
た。W膜13を露出させた核形成密度の大きい材料から
なる第1の面15に対して、絶縁体であるSiO2膜1
4が露出した面は相対的に核形成密度が小さく、核形成
密度の小さい材料からなる第2の面16となる。以上の
ようにして基材2を用意した。
【0024】続いて図6cに示したように、用意した基
材2上の核形成密度の大きい材料からなる第1の面より
平板状金単結晶を成長させて、前記平板状金単結晶から
なる探針を形成した。蒸留水1リットルにヨウ化カリウ
ム80g及びヨウ素12gを投入して攪拌溶解させ溶媒
を作製し、更に金を3g溶解させ、金錯体を含有する成
長溶液を作製した。これを分取し成長容器に満たした。
さらに基材2を成長溶液に投入し、成長溶液を80℃に
昇温し成長溶液中からのヨウ素成分の揮発を促進した。
このようにすることで、成長溶液を過飽和状態に移行さ
せ、基材2上の核形成密度の大きい材料からなる第1の
面15上より結晶を成長させることができた。約1日間
結晶の成長を行ったところ、図6cに示したように、一
辺の長さが約1mmの正三角形の形状の平板状金単結晶
が、核形成密度の大きな材料からなる第1の面15から
1個成長し、基材2の自由端から平板状金単結晶の頂点
が約0.5mm突出するように形成された。なお、この
ようにして得られた結晶について、電子線チャネリング
コントラスト及びX線回折法で分析した結果、基材2に
対して(111)面が平行でほぼ無欠陥な単結晶である
ことを確認した。また、核形成密度の小さい材料からな
る第2の面16にもわずかに結晶の析出が見られたが、
このような結晶は不要であるためピンセットなどを用い
て除去した。また、HF水溶液によりSiO2膜14の
一部を除去してW膜13を露出させ、電流導入部17を
形成した。さらにW膜13と平板状金単結晶1の結合力
を向上させるために熱処理を行い、プローブ4を作製し
た。
【0025】本実施例の方法により複数本のプローブを
作製し、それぞれのプローブを図7に示したSTM装置
にセットして試料表面の観察実験を行った。図7におい
て、4はプローブ、18は試料、19はX−Yステー
ジ、20はX−Y駆動制御装置、21は電圧印加装置、
22はトンネル電流検出回路、23はZ軸駆動サーボ回
路、24は圧電素子からなるZ軸駆動装置、25は制御
用コンピュータである。試料18として高配向熱分解グ
ラファイト(HOPG)を用いて、その劈開面を観察し
たところ、広い範囲の測定条件で常に安定した像が得ら
れ、すべてのプローブで良好な原子像を得ることができ
た。
【0026】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、鋭角で
かつその最先端まで金原子が規則正しく配列した頂点を
持つ平板状金単結晶を探針として形成することができる
ため、極めて抵抗率が低く、先端曲率半径が小さく、さ
らに先端曲率半径のばらつきの小さいプローブを提供す
ることが可能となる。したがって、本発明によれば、微
弱なトンネル電流の検出が可能となり、安定した像観察
が行えると共に、横方向の分解能が高く、さらにプロー
ブを交換した時の像観察の再現性を高くすることがで
き、特に、STM、あるいはSTMとAFMを複合した
装置、もしくはこれらを応用した微細加工装置や情報記
録再生装置に好適なプローブを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1のプローブの概略を示す図で
ある。
【図2】平板状金単結晶の頂点部分の摸式的形状を示す
図である。
【図3】本発明の実施例1のプローブの作製方法の概略
を示す図である。
【図4】本発明の実施例2のプローブの概略を示す図で
ある。
【図5】本発明の実施例2のプローブの作製方法の概略
を示す図である。
【図6】本発明の実施例3のプローブの作製方法の概略
を示す図である。
【図7】STM装置の概略図である。
【図8】STMとAFMを複合した装置の概略図であ
る。
【符号の説明】
1:平板状金単結晶からなる探針 2:基材 3:導電体層 4:プローブ 5:成長用基板 6:単結晶シリコン板 7:SiO2膜 8:窒化シリコン膜 9:カンチレバー型のパターン 10:銀ペースト 11:窒化シリコン皮膜 12:単結晶シリコン板 13:W膜 14:SiO2膜 15:核形成密度の大きな材料からなる第1の面 16:核形成密度の小さい材料からなる第2の面 17:電流導入部 18:試料 19:X−Yステージ 20:X−Y駆動制御装置 21:電圧印加装置 22:トンネル電流検出回路 23:Z軸駆動サーボ回路 24:Z軸駆動装置 25:制御用コンピュータ 26:半導体レーザー 27:4分割フォトダイオード 28:変位検出系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/66 H01L 21/66 B

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】導電性基材の自由端に金単結晶からなる探
    針を有するプローブの作製方法であって、前記探針を金
    錯体溶液中における金錯体の分解処理による平板状金単
    結晶の析出成長で形成することを特徴とするプローブの
    作製方法。
  2. 【請求項2】前記プローブの作製方法は、 金錯体溶液中の金錯体を分解処理することで結晶析出を
    行い、平板状金単結晶からなる探針を形成する工程と、 自由端を持つ導電性の基材を準備する工程と、 基材の自由端上に前記平板状金単結晶からなる探針を固
    定する工程と、を有することを特徴とする請求項1に記
    載のプローブの作製方法。
  3. 【請求項3】前記プローブの作製方法は、 基材の自由端上に核形成密度の大きい材料からなる第1
    の面と、該第1の面に隣接して核形成密度の小さい材料
    からなる第2の面とを配した導電性の基材を作製する工
    程と、 金錯体溶液中の金錯体を分解処理することで前記第1の
    面より平板状金単結晶を成長させて、前記基材の自由端
    上に該平板状金単結晶からなる探針を形成する工程と、
    を有することを特徴とする請求項1に記載のプローブの
    作製方法。
  4. 【請求項4】導電性基材と、該導電性基材の自由端に探
    針を有するプローブであって、前記探針が金錯体溶液中
    における金錯体の分解処理による平板状金単結晶で構成
    されていることを特徴とするプローブ。
  5. 【請求項5】前記基材が、カンチレバーであることを特
    徴とする請求項4に記載のプローブ。
JP1782397A 1997-01-16 1997-01-16 プローブの作製方法及びプローブ Pending JPH10206435A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100744565B1 (ko) 2005-12-07 2007-08-01 한국전자통신연구원 실리콘 질화층 기반의 근접장 탐침 및 그 제조 방법
JP2012052848A (ja) * 2010-08-31 2012-03-15 Canon Inc 散乱型近接場光プローブ、散乱型近接場光プローブを備えた近接場光学顕微鏡

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100744565B1 (ko) 2005-12-07 2007-08-01 한국전자통신연구원 실리콘 질화층 기반의 근접장 탐침 및 그 제조 방법
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