JPH10197812A - カスケード走査光学系の書き出し位置調整装置 - Google Patents

カスケード走査光学系の書き出し位置調整装置

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JPH10197812A
JPH10197812A JP9000410A JP41097A JPH10197812A JP H10197812 A JPH10197812 A JP H10197812A JP 9000410 A JP9000410 A JP 9000410A JP 41097 A JP41097 A JP 41097A JP H10197812 A JPH10197812 A JP H10197812A
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laser
scanning optical
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Masatoshi Takano
正寿 高野
Eiji Takasugi
英次 高杉
Shinji Kikuchi
信司 菊地
Tsutomu Sato
勉 佐藤
Hiroyuki Saito
裕行 齋藤
Yoshiyuki Araki
佳幸 荒木
Mitsunori Iima
光規 飯間
Takashi Sasaki
隆 佐々木
Takayuki Iizuka
隆之 飯塚
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】カスケード走査光学系における一対の走査レー
ザビームの主走査方向のドットずれを防止できるカスケ
ード走査光学系の書き出し位置調整装置を提供する。 【構成】一対のポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂそれぞれ
によって偏向した走査レーザビームによって感光ドラム
１０の同一周方向位置において隣接する異なる軸方向領
域を主走査するレーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂを一対
備えたカスケード光学系であって、上記感光ドラム１０
の軸方向領域を走査する前および後の各走査レーザビー
ムを受光するビームディテクタ２９Ａ、２９Ｂおよび走
査終了ビームディテクタ３０Ａ、３０Ｂおよび走査幅検
出回路７１Ａ、７１Ｂによって走査幅（時間）を検出
し、検出走査幅と基準走査幅とを基準走査幅メモリ回路
７３Ａ、７３Ｂにメモリするとともに、走査幅比較回路
７５Ａ、７５Ｂで比較し、その差に基づいて書き出し遅
延量を遅延量設定回路７７Ａ、７７Ｂで設定して、各走
査レザービームによる書き出し位置（書き出し開始時
間）を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の技術分野】本発明は、一対のレーザ走査光学系
を主走査方向に並べ、同期させて駆動することにより、
広い走査幅を得ることができるカスケード走査光学の走
査幅補正装置に関する。
【０００２】
【従来技術およびその問題点】この種のカスケード光学
系を構成するレーザ走査光学系は、例えば特開昭６１−
１１７２０号公報が提案している。各レーザ走査光学系
は、レーザ光源、偏光器としてのポリゴンミラー（多面
鏡）、ｆθレンズを備えており、この一対のレーザビー
ム光学系の走査レーザビームが同一の感光体ドラム（被
走査面）の同一の周方向位置（副走査方向位置）であっ
て異なる軸方向領域（異なる主走査方向領域）に照射さ
れる。
【０００３】このようなカスケード走査光学系の基本的
な問題点の一つは、複数の走査レーザビームのつなぎ目
（境界、接続部）を如何に正確に確保するかにある。ｆ
θレンズは、コストダウンのためにプラスチックレンズ
が使用される傾向にある。プラスチックレンズは、温
度、湿度など環境の影響を受けやすく、環境の影響によ
って伸縮し、また屈折力が変化してしまう。そのため、
ポリゴンミラーが定速回転していても、ポリゴンミラー
の一定回転角（一定回転時間）における走査レーザビー
ムの走査幅が変化する。つまり、一つの走査レーザビー
ムの境界点が相対的に変動して、境界点が主走査方向に
離反したり（図２の一点鎖線参照）、あるいは重なり合
ったりする（図２の破線参照）、という問題があった。
【０００４】
【発明の目的】本発明は、カスケード走査光学系におけ
る一対のレーザ走査光学系の走査レーザビームのつなぎ
目が主走査方向にずれないカスケード走査光学系の書き
出し位置調整装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【発明の概要】本発明は、一対のレーザ走査光学系によ
る走査レーザビームが、単一の回転被走査媒体上の同一
の周方向位置で隣接する異なる軸方向領域をその境界点
側から離反する方向に走査して描画するカスケード走査
光学系を備えた記録装置において、走査レーザビームを
偏向して、上記軸方向領域を隣接する軸方向領域の境界
点から離反する方向に走査させるポリゴンミラーと、上
記各レーザ走査光学系のポリゴンミラーを回転駆動させ
るモータユニットと、上記軸方向領域の境界点を走査す
る前に上記各走査レーザビームの通過を検出する開始位
置検出手段と、上記軸方向領域の走査終了後の上記各走
査レーザビームの通過を検出する終了位置検出手段と、
上記開始位置検出手段および終了検出手段の検出に基づ
いて上記走査レーザビームが上記開始位置検出手段と上
記終了位置検出手段との間を走査するのに要する走査時
間を測定する測定手段と、上記走査時間と予め設定され
た基準走査時間とを比較して、上記開始位置検知手段に
よる検知時から書き出し開始までの時間を設定する調整
量設定手段と、上記調整量調整手段によって設定された
調整時間に基づいて上記レーザ走査光学系の書き出し開
始時間を調整する調整手段を備えたことに特徴を有す
る。
【０００６】本発明は、上記調整手段を、上記モータユ
ニットの回転速度を調整する調整手段とすれば、書き出
し開始位置および走査幅を調整できる。上記終了位置検
出手段、測定手段、調整量設定手段および調整手段を各
レーザ走査光学系に備えれば、各レーザ走査光学系につ
いて調整できるので、より高精度な調整が可能になる。
【０００７】上記終了位置検出手段、測定手段および調
整量設定手段は上記一方のレーザ走査光学系に備え、上
記調整手段は上記一対のレーザ走査光学系それぞれに備
えて、上記他方のレーザ走査光学系の調整手段は、上記
一方の調整量設定手段によって設定された調整量により
動作させる構成にできる。また本発明は、上記終了位置
検出手段、測定手段、調整量設定手段および調整手段
は、上記一方のレーザ走査光学系に備え、上記調整手段
は、上記比較結果の２倍の値に基づいて上記調整を実行
する構成も可能である。さらに本発明は、上記終了位置
検出手段、測定手段および調整量設定手段は上記一対の
レーザ走査光学系のそれぞれに備え、上記調整手段は上
記一方のレーザ走査光学系に備えてあり、この調整手段
は上記両方の調整量設定手段によって設定された調整量
に基づいて動作する構成にもできる。これらの発明によ
れば、部材が減少し、回路構成が簡単になる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて本発明を説明
する。図示実施の形態は、本発明のカスケード走査光学
系をレーザビームプリンタの感光体ドラム１０へのレー
ザ走査光学系に適用したものである。図１に示すよう
に、一対のレーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂは、走査レ
ーザビームの感光体ドラム１０への入射角度が、走査位
置によって変化する非テレセントリック系である。一対
のレーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂは、レーザコリメー
タユニット２１Ａ、２１Ｂ、シリンドリカルレンズ２３
Ａ、２３Ｂ、ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂ、ｆθレン
ズ２５Ａ、２５Ｂ、補助レンズ２６Ａ、２６Ｂ、全反射
ミラー２７Ａ、２７Ｂを共通要素とし、感光体ドラム１
０の軸方向に位置を異ならせてケーシング３５に支持さ
れている。
【０００９】レーザコリメータユニット２１Ａ、２１Ｂ
のレーザ光源ＬＤからの出射レーザビームは、コリメー
タレンズ２２Ａ、２２Ｂによって平行光束とされてお
り、副走査方向にパワーを持つシリンドリカルレンズ２
３Ａ、２３Ｂにより線像とされてポリゴンミラー２４
Ａ、２４Ｂに入射する。ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂ
が回転すると、ｆθレンズ２５Ａ、２５Ｂ及び補助レン
ズ２６Ａ、２６Ｂを介して全反射ミラー２７Ａ、２７Ｂ
に入射し、全反射ミラー２７Ａ、２７Ｂで反射した走査
レーザビームがそれぞれ、感光体ドラム１０表面の互い
に隣接する描画領域上を主走査方向に走査される。
【００１０】補助レンズ２６Ａ、２６Ｂは、主に主走査
方向と直交する副走査方向にパワーを持つもので、小型
化のために省略する場合もある。この場合には、ｆθレ
ンズ２５Ａ、２５Ｂにその副走査方向のパワーを持たせ
る。
【００１１】この例では、ポリゴンミラー２４Ａ、２４
Ｂはそれぞれ、感光体ドラム１０の中心から互いに離反
する外側へ向かう反対方向にレーザビームを走査させる
ように、互いに反対方向に回転駆動される。ケーシング
３５には、ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂが回転すると
き、各反射面で反射しｆθレンズ２５Ａ、２５Ｂを透過
したレーザビームが、感光体ドラム１０（描画領域）に
入射する前に入射する位置にミラー２８Ａ、２８Ｂが設
けられ、このミラー２８Ａ、２８Ｂで反射したレーザビ
ームは、書き出し制御用の走査開始ビームディテクタ
（ＢＤ）２９Ａ、２９Ｂにそれぞれ入射する。さらにケ
ーシング３５には、感光体ドラム１０の描画領域を走査
終了した走査レーザビームが入射する走査終了ビームデ
ィテクタ（ＳＯＢ）３１Ａ、３１Ｂが固定されている。
【００１２】レーザコリメータユニット２１Ａ、２１Ｂ
から射出されるレーザビームは、図示しないプロセッサ
ーにより、コンピュータなどから送られてくる描画デー
タに基づきオンオフ変調され、回転駆動される感光体ド
ラム１０上に、所要の潜像による印字パターンを描く。
感光体ドラム１０上に描画された潜像は、周知の電子写
真法により現像され、普通紙上に転写定着される。すな
わち、第１レーザ走査光学系２０Ａからの走査レーザビ
ーム（のドット）の書き出し始点と、第２レーザ走査光
学系２０Ｂからの走査レーザビーム（のドット）の書き
出し始点とが、感光体ドラム１０の中心（走査のつなぎ
目）に正しく隣り合い、その後互い外側（反対方向）に
走査されるように、ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂを回
転制御することにより、感光体ドラム１０上に、一連の
描画レーザ光を走査させることができる。よって、レー
ザコリメータユニット２１Ａ、２１Ｂのレーザ光源ＬＤ
を描画データに従ってオンオフさせ、ポリゴンミラー２
４Ａ、２４Ｂを連続回転させるとともに、感光体ドラム
１０に回転方向の送りを与えることにより、感光体ドラ
ム１０上に所望の潜像を描き、これを現像することで所
要のレーザビーム印刷を行なうことができる。
【００１３】このカスケード走査光学系の制御系の構成
の第１の実施の形態を、図３に示した。この第１の実施
の形態は、第１レーザ走査光学系２０Ａ、第２レーザ走
査光学系による走査レーザビームの走査幅を、レーザビ
ームディテクタ２９Ａ、２９Ｂによる検出時から走査終
了ビームディテクタ３１Ａ、３１Ｂによる検出時までの
走査時間を測定して走査幅を求め、書き出し位置を補正
することに特徴を有する。つまり、例えば図２におい
て、測定走査時間が基準走査時間よりも短いときには、
基準走査時間では破線で示す走査レーザビームの幅を走
査し、測定走査時間が基準走査時間よりも長いときには
基準走査時間では一点鎖線で示す走査レーザビームの幅
を走査している。そこで本実施の形態では、第１、第２
ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂの回転速度は変えずに、
書き出し位置、つまり、レーザビームディテクタ２９
Ａ、２９Ｂによる検出時から書き出し開始時までの時間
を調整して、書き出し位置を補正する。
【００１４】第１、第２ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂ
をそれぞれ回転駆動する第１、第２モータユニット５５
Ａ、５５Ｂは、起動時は、クロック回路（CLOCK)５１か
ら出力され、分周回路５３で分周された同一のクロック
で同期駆動される。分周回路５３から出力されるクロッ
クは、第１モータユニット５５Ａにはダイレクトに入力
されるが、第２モータユニット５５Ｂには、マルチプレ
クサ６７を介して入力される。マルチプレクサ６７は、
この初期状態では、分周回路５３から出力されたクロッ
クをスルーして第２モータユニット５５Ｂに出力する。
なお、第１、第２モータユニット５５Ａ、５５Ｂはスピ
ンドルモータを備え、このスピンドルモータのスピンド
ルにポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂが直接固定されてい
る。第１、第２ビームディテクタ２９Ａ、２９Ｂは、走
査レーザビームを受光したときに検出信号を、対応する
第１、第２周期検出回路５７Ａ、５７Ｂおよび走査幅測
定回路７１Ａ、７１Ｂに出力する。さらに第１ビームデ
ィテクタ２９Ａの検出信号は、遅延回路７９Ａおよび位
相比較器５９に出力され、第２ビームディテクタ２９Ｂ
の検出信号は、遅延回路７９Ｂおよび位相比較器５９に
出力される。
【００１５】遅延回路７９Ａ、７９Ｂは、第１、第２ビ
ームディテクタ２９Ａ、２９Ｂの検出出力を所定時間遅
延させて、水平同期信号（書き出し位置同期信号）ＨＳ
ＹＮＣとしてプロセッサーに出力する。水平同期信号Ｈ
ＳＹＮＣは、各水平ラインの描画開始タイミング信号と
して利用される。つまり、プロセッサーは、水平同期信
号ＨＳＹＮＣを入力した時を基準時にして、所定時間経
過時を書き出し開始時として１水平ライン（主走査方向
１ライン）分の描画を行う。１水平方向の描画が完了す
ると、感光体ドラム１０が１水平ライン分回転して、次
の１水平ラインの描画を実行する。
【００１６】位相比較器５９は、第１、第２ビームディ
テクタ２９Ａ、２９Ｂの検出出力に基づいて位相差を検
出し、位相差電圧をＬＰＦ６１およびAND ゲート６９に
出力する。AND ゲート６９には、第２モータユニット５
５ＢからのＰＬＬ制御によるロック信号が入力されてい
る。したがってAND ゲート６９は、位相比較器５９から
位相一致信号が出力され、かつ第２モータユニット５５
Ｂからロック信号が出力されたときに、ロックアウト信
号をプロセッサに出力する。プロセッサは、このロック
アウト信号が出力されてから、描画処理を実行する。
【００１７】ここで、第２ビームディテクタ２９Ｂの位
相の方が遅れている場合には、位相比較器５９は正の位
相差電圧をローパスフィルタ（ＬＰＦ(Low Pass Filte
r) ）６１に出力し、第２ビームディテクタ２９Ｂの位
相の方が進んでいる場合には、位相比較器５９は負の位
相差電圧をローパスフィルタ６１に出力する。
【００１８】ローパスフィルタ６１は、入力した位相差
電圧を、その周期（パルス幅）に応じたＤＣ電圧に変換
して電圧制御発振器（ＶＣＯ(Voltage Controlled Osci
llator) ）６３に出力する。電圧制御発振器６３は、入
力したＤＣ電圧に応じて出力クロックの周波数を変更し
て、そのクロックをマルチプレクサ６７に出力する。マ
ルチプレクサ６７は、電圧制御発振器６３が出力したク
ロックを第２モータユニット５５Ｂに出力し、第２モー
タユニット５５Ｂは、このクロックに基づいた速度で回
転する。この実施の形態では、電圧制御発振器６３は入
力電圧が高いと高い周波数のクロックを出力し、入力電
圧が低いと低い周波数のクロックを出力する。この作用
によって、第１ポリゴンミラー２４Ａに対して第２ポリ
ゴンミラー２４Ｂの位相が遅れている場合は第２モータ
ユニット５５Ｂの回転速度が上がり、第２ポリゴンミラ
ー２４Ｂの位相が進んでいる場合は第２モータユニット
５５Ｂの回転速度が落ちることで、第１、第２ポリゴン
ミラー２４Ａ、２４Ｂの位相が一致する。
【００１９】マルチプレクサ６７は、ＰＬＬ制御による
ロック信号がモータユニット５５Ａから出力されていな
いか、ロック信号が出力されていても同期検出器５７
Ａ、５７Ｂから同時に検出信号（図３ではマイナスのパ
ルス信号）が出力されているときは、分周回路５３が出
力するクロックをモータユニット５５Ｂに出力し、ＰＬ
Ｌ制御によるロック信号がモータユニット５５Ａから出
力されているときには、同期検出器５７Ａ、５７Ｂから
同時に検出信号が出力されていないときに電圧制御発振
器６３が出力するパルスをモータユニット５５Ｂに出力
する。そして、位相が一致すると、マルチプレクサ６７
は、分周回路５３から出力されるクロックを第２モータ
ユニット５５Ｂに出力し、第１、第２モータユニット５
５Ａ、５５Ｂを同一のクロックによって同期回転する。
【００２０】ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂの回転が安
定し、第１、第２モータユニット５５Ａ、５５ＢにＰＬ
Ｌ（Phase-Locked Loop ）制御がかかると、レーザビー
ムディテクタ２９Ａ、２９Ｂによる検出時から走査終了
ビームディテクタ３１Ａ、３１Ｂによる検出時までの時
間を測定して走査幅を求め、書き出し位置を調整する調
整処理を開始する。
【００２１】ポリゴンミラー２４Ａ、２４ＢがＰＬＬ制
御によって定速同期回転を始めると、ビームディテクタ
２９Ａ、２９Ｂおよび走査終了ビームディテクタ３１
Ａ、３１Ｂの検出出力に基づいて、検出時間間隔を走査
幅測定回路７１Ａ、７１Ｂによって測定し、測定データ
を基準走査幅メモリ回路７３Ａ、７３Ｂに出力する。基
準走査幅メモリ回路７３Ａ、７３Ｂは、走査幅測定回路
７１Ａ、７１Ｂによって測定された走査幅をメモリする
とともに、予めEEPROMなどの記憶手段にメモリされ、あ
るいはディプスイッチ手段によって設定された基準走査
幅をメモリする。
【００２２】基準走査幅メモリ回路７３Ａ、７３Ｂにメ
モリした基準走査幅と、走査幅測定回路７１Ａ、７１Ｂ
で実際に測定した現走査幅とを走査幅比較回路７５Ａ、
７５Ｂで比較する。走査幅比較回路７５Ａ、７５Ｂは、
その差データを遅延量設定回路７７Ａ、７７Ｂに出力す
る。遅延量設定回路７７Ａ、７７Ｂには、基準走査幅同
様に予め設定された基準遅延量が入力されていて、この
基準遅延量と差データとに基づいて遅延量を遅延回路７
９Ａ、７９Ｂに出力する。この遅延量によって、書き出
し開始時間が調整される。つまり、各走査レーザによる
書き出し開始位置が調整されるので、第１、第２レーザ
走査光学系２０Ａ、２０Ｂによる描画面のつなぎ目に主
走査方向の重複や空白が無く、高精度の描画ができる。
なお、本実施の形態では、走査幅比較回路７５Ａ、７５
Ｂおよび遅延量設定回路７７Ａ、７７Ｂによって調整量
設定手段が構成され、遅延回路７９Ａ、７９Ｂによって
各走査レーザによる書き出し開始位置が調整される。
【００２３】図３の第１の実施の形態では、第１、第２
レーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂのそれぞれについて走
査幅を測定し、それぞれの測定値に基づいてそれぞれ独
自の書き出し位置の補正を行った。本発明の第２の実施
の形態では、第１、第２レーザ走査光学系２０Ａ、２０
Ｂの一方を基準として一方のみについて走査幅を測定
し、その測定値と基準走査幅との差に基づいて第１、第
２遅延回路７９Ａ、７９Ｂが遅延動作し、第１、第２レ
ーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂの両方について書き出し
位置の補正を、つまり重複したり離反したりしないよう
に補正する。
【００２４】第２の実施の形態を、図４に示した。図３
の実施の形態と同一の部材には同一の符号を付して説明
を省略する。この第２の実施の形態では、第１、第２レ
ーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂが、ほぼ同一の走査幅誤
差を生じることに着目し、第２レーザ走査光学系２０Ｂ
には走査幅を測定する回路を持たせずに、第１レーザ走
査光学系２０Ａについて測定した走査幅の差データに基
づいて、遅延量設定回路７７Ｂ２により遅延量を設定
し、遅延回路７９Ｂにより遅延させる構成とした。第１
のレーザ走査光学系２０Ａの方は、図３に示した第１の
実施の形態と同一の構成である。
【００２５】第１、第２の実施の形態では、第１、第２
レーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂそれぞれについて書き
出し位置の補正を行った。本発明の第３の実施の形態で
は、第１、第２レーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂの一方
のみについて走査幅を測定し、その測定値の２倍の量に
基づいて遅延量を設定し、一方の第１、第２レーザ走査
光学系２０Ａ、２０Ｂについて書き出し位置の補正を行
う。
【００２６】この第３の実施の形態を、図５に示した。
図３、図４の実施の形態と同一の部材には同一の符号を
付して説明を省略する。この第３の実施の形態は、第１
レーザ走査光学系２０Ａについて走査幅を測定し、走査
幅比較回路７５Ａで得た差データに基づいて遅延量を求
め、その遅延量を２倍して、その２倍遅延量に基づいて
遅延回路７９が遅延動作して、第１のレーザ走査光学系
２０Ａの書き出し位置が、第２のレーザ走査光学系２０
Ｂと合うように、つまり重複したり離反したりしないよ
うに補正する。
【００２７】第３の実施の形態では、一方のレーザ走査
光学系について走査幅を測定し、基準走査幅との差に基
づいて得た遅延量を２倍して一方のレーザ走査光学系に
ついてのみ書き出し位置を補正した。本発明の第４の実
施例では、両方のレーザ走査光学系についてそれぞれ走
査幅を測定し、基準走査幅との差に基づいて得たそれぞ
れの遅延量を加算して、一方のレーザ走査光学系につい
て書き出し位置を補正することに特徴を有する。
【００２８】この第４の実施の形態を、図６に示した。
図３、図４、図５の実施の形態と同一の部材には同一の
符号を付して説明を省略する。この第４の実施の形態
は、第１、第２レーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂそれぞ
れについて、ビームディテクタ２９Ａ、２９Ｂ、３１
Ａ、３１Ｂ、走査幅測定回路７１Ａ、７１Ｂ、走査幅メ
モリ回路７３Ａ、７３Ｂ、走査幅比較回路７５Ａ、７５
Ｂによって走査幅を測定し、得たそれぞれの差データに
基づいて、遅延量設定回路７７４で合成遅延量を求め、
その合成遅延量に基づいて遅延回路７９４が遅延動作さ
せて、第１のレーザ走査光学系２０Ａの書き出し位置
が、第２のレーザビーム２０Ａの書き出し位置と合うよ
うに、つまり重複したり離反したりしないように補正す
る。
【００２９】以上の各実施の形態において、走査幅を測
定し、基準走査幅メモリ回路にメモリしたら、以後は、
この測定走査幅と基準走査幅とに基づいた調整量に基づ
いて動作する。
【００３０】以上の通り本発明の第１の実施の形態によ
れば、ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂを第１、第２モー
タユニット５５Ａ、５５ＢのＰＬＬ制御によって同期定
速回転させる一方、ｆθレンズ２５Ａ、２５Ｂの屈折力
などの性能が温度、湿度等の環境の影響によって変化
し、第１、第２レーザ走査光学系２０Ａ、２０Ｂによる
走査幅が変化したときは、走査幅を測定して基準走査幅
との差に基づいて書き出し位置を補正するので、描画面
のつなぎ目に主走査方向の重複や空白が無く、副走査方
向のずれもない高精度の描画ができる。さらに本実施の
形態では、ポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂが回転位相差
を生じたとき、つまりポリゴンミラー２４Ａ、２４Ｂが
回転速度差を生じたときには、その位相差を位相比較器
５９で検出し、その位相差に応じたクロックを、ＬＰＦ
６１および電圧制御発振器６３で生成し、そのクロック
によって第２モータユニット５４Ｂを駆動制御して位相
差を無くすことができる。
【００３１】また、図示実施の形態では、ビームディテ
クタ２９Ａ、２９Ｂによる検出時から描画開始時までの
時間を補正する構成としたが、基準走査時間と測定走査
時間の比に基づいて、ドットの間隔も調整する構成とす
れば、走査幅を基準幅にすることができる。
【００３２】本発明の書き出し位置調整処理は、記録装
置の電源がオンされたときに実行する外、１ページ分の
描画が終了したとき、あるいはアイドリング中に実行す
る構成としてもよい。
【００３３】図示の一対のレーザ走査光学系２０Ａ、２
０Ｂは、レーザビームの走査を中心から互いに離反する
反対方向に行う構成であったが、本発明は、レーザビー
ムの走査を同一方向に行うカスケード走査光学系に対し
ても行うことができる。
【００３４】図示実施の形態では、ビームディテクタ２
９Ａ、２９Ｂによる走査レーザビーム検出時から描画デ
ータの書き出し開始時（オン／オフ変調開始時）までの
時間を調整する構成にしたが、本発明は、ビームディテ
クタ２９Ａ、２９Ｂと３１Ａ、３１Ｂの間を走査するの
に要する時間を一定にするためにポリゴンミラー２４
Ａ、２４Ｂの回転速度を調整する構成としてもよい。
【００３５】
【発明の効果】以上の説明から明らかな通り本発明は、
一対のポリゴンミラーによって偏向される走査レーザビ
ームが、単一の回転被走査媒体上の同一の周方向位置で
隣接する異なる軸方向領域をその境界点側から離反する
方向に走査して描画するカスケード走査光学系を備えた
記録装置において、走査レザービームが走査開始前位置
と走査終了位置を通過するのに要する時間を測定し、基
準の時間と比較して書き出し時間を補正するので、走査
レーザ一対の走査レーザビームのつなぎ目に主走査方向
の重複や離反がなく、副走査方向のずれがない高精度の
カスケード走査光学系を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用したカスケード走査光学系の一実
施の形態の概要を示す斜視図である。
【図２】同カスケード光学系の走査レザービームの様子
を説明する図である。
【図３】本発明を適用したカスケード走査光学系の制御
回路構成の第１の実施の形態をブロックで示す図であ
る。
【図４】本発明を適用したカスケード走査光学系の制御
回路構成の第２の実施の形態をブロックで示す図であ
る。
【図５】本発明を適用したカスケード走査光学系の制御
回路構成の第３の実施の形態をブロックで示す図であ
る。
【図６】本発明を適用したカスケード走査光学系の制御
回路構成の第４の実施の形態をブロックで示す図であ
る。
【符号の説明】
１０ 感光体ドラム ２０Ａ ２０Ｂ レーザ走査光学系 ２４Ａ ２４Ｂ ポリゴンミラー ２９Ａ ２９Ｂ ビームディテクタ（ＢＤ） ３１Ａ ３１Ｂ 走査終了ビームディテクタ（ＳＯＢ） ５５Ａ ５５Ｂ モータユニット ５９ 位相比較器 ６１ ＬＰＦ ６３ 電圧制御発振器（ＶＣＯ） ６７ マルチプレクサ ７１Ａ ７１Ｂ 走査幅測定回路 ７３Ａ ７３Ｂ 基準走査幅メモリ回路 ７５Ａ ７５Ｂ 走査幅比較回路 ７７Ａ ７７Ｂ 遅延量設定回路 ７９Ａ ７９Ｂ 遅延回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 勉 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 齋藤 裕行 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 荒木 佳幸 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 飯間 光規 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 佐々木 隆 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 飯塚 隆之 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 一対のレーザ走査光学系による走査レー
    ザビームが、単一の回転被走査媒体上の同一の周方向位
    置で隣接する異なる軸方向領域をその境界点側から離反
    する方向に走査して描画するカスケード走査光学系を備
    えた記録装置において、 走査レーザビームを偏向して、上記軸方向領域を隣接す
    る軸方向領域の境界点から離反する方向に走査させるポ
    リゴンミラーと、 上記各レーザ走査光学系のポリゴンミラーを回転駆動さ
    せるモータユニットと、 上記軸方向領域の境界点を走査する前に上記各走査レー
    ザビームの通過を検出する開始位置検出手段と、 上記軸方向領域の走査終了後の上記各走査レーザビーム
    の通過を検出する終了位置検出手段と、 上記開始位置検出手段および終了検出手段の検出に基づ
    いて上記走査レーザビームが上記開始位置検出手段と上
    記終了位置検出手段との間を走査するのに要する走査時
    間を測定する測定手段と、 上記走査時間と予め設定された基準走査時間とを比較し
    て、上記開始位置検知手段による検知時から書き出し開
    始までの時間を設定する調整量設定手段と、 上記調整量調整手段によって設定された調整時間に基づ
    いて上記レーザ走査光学系の書き出し開始時間を調整す
    る調整手段、を備えたことを特徴とするカスケード走査
    光学系の書き出し位置調整装置。
  2. 【請求項２】 一対のレーザ走査光学系による走査レー
    ザビームが、単一の回転被走査媒体上の同一の周方向位
    置で隣接する異なる軸方向領域をその境界点側から離反
    する方向に走査して描画するカスケード走査光学系を備
    えた記録装置において、 走査レーザビームを偏向して、上記軸方向領域を隣接す
    る軸方向領域の境界点から離反する方向に走査させるポ
    リゴンミラーと、 上記各レーザ走査光学系のポリゴンミラーを回転駆動さ
    せるモータユニットと、 上記軸方向領域の境界点を走査する前に上記各走査レー
    ザビームの通過を検出する開始検出手段と、 上記軸方向領域の走査終了後の上記各走査レーザビーム
    の通過を検出する終了検出手段と、 上記開始検出手段および終了検出手段の検出に基づいて
    上記走査レーザビームが上記開始検出手段と上記終了検
    出手段との間を走査するのに要する走査時間を測定する
    測定手段と、 上記走査時間と予め設定された基準走査時間とを比較し
    て、上記モータユニットの回転速度を調整する調整量を
    設定する調整量設定手段と、 上記調整量設定手段が設定した調整量に基づいて上記モ
    ータユニットの回転速度を調整する調整手段と、を備え
    たことを特徴とするカスケード走査光学系の書き出し位
    置調整装置。
  3. 【請求項３】 上記終了位置検出手段、測定手段、調整
    量設定手段および調整手段は、各レーザ走査光学系に備
    えられていることを特徴とする請求項１または２に記載
    のカスケード走査光学系の書き出し位置調整装置。
  4. 【請求項４】 上記終了位置検出手段、測定手段および
    調整量設定手段は上記一方のレーザ走査光学系に備えら
    れ、上記調整手段は上記一対のレーザ走査光学系それぞ
    れに備えられていて、上記各調整手段は、上記一方の調
    整量設定手段によって設定された調整量によってそれぞ
    れ動作すること特徴とする請求項１または２に記載のカ
    スケード走査光学系の書き出し位置調整装置。
  5. 【請求項５】 上記終了位置検出手段、測定手段、調整
    量設定手段および調整手段は上記一方のレーザ走査光学
    系に備えられていて、上記調整手段は、上記調整量設定
    手段による設定量の２倍の値に基づいて上記調整処理を
    実行することを特徴とする請求項１または２に記載のカ
    スケード走査光学系の書き出し位置調整装置。
  6. 【請求項６】 上記終了位置検出手段、測定手段および
    調整量設定手段は上記一対のレーザ走査光学系のそれぞ
    れに備えられ、上記調整手段は、上記各調整量設定手段
    によって設定された設定量に基づいて上記一方のレーザ
    走査光学系について上記調整処理を実行することを特徴
    とする請求項１または２に記載のカスケード走査光学系
    の書き出し位置調整装置。
  7. 【請求項７】 上記調整手段が調整する調整量を記憶す
    る記憶手段を備え、上記調整手段は、上記求めた調整量
    を上記記憶手段に記憶した後は、その記憶手段に記憶し
    た調整量に基づいて上記調整処理を実行することを特徴
    とする請求項１から６の何れか一項に記載のカスケード
    走査光学系の書き出し位置調整装置。
  8. 【請求項８】 上記調整量を上記記憶手段に記憶した
    後、上記走査開始検出手段の検出時および上記調整手段
    による調整を受けながら上記走査レーザビームによる描
    画を開始する描画手段を備えている請求項１から７の何
    れか一項に記載のカスケード走査光学系の書き出し位置
    調整装置。
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