JPH10177999A - 基板搬送用ハンド及びポリッシング装置 - Google Patents

基板搬送用ハンド及びポリッシング装置

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JPH10177999A
JPH10177999A JP2435797A JP2435797A JPH10177999A JP H10177999 A JPH10177999 A JP H10177999A JP 2435797 A JP2435797 A JP 2435797A JP 2435797 A JP2435797 A JP 2435797A JP H10177999 A JPH10177999 A JP H10177999A
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JP
Japan
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hand
substrate
semiconductor wafer
storage portion
central surface
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JP2435797A
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Tetsuji Togawa
哲二 戸川
Kuniaki Yamaguchi
都章 山口
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Ebara Corp
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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板(半導体ウエハ)を他の機器から確実に
受け取ることができ、また受け取った基板がハンドに付
着した液体によって汚染される恐れのない基板搬送用ハ
ンドを提供する。 【解決手段】 上面に基板を収納する収納部11を設
け、その外側にガイド31,31を設けてなるハンド1
である。収納部11は基板の外周下面が当接する当接面
13,13と、当接面13,13の内側で当接面13,
13よりもその面の高さを低くしてなる中央面15とを
具備する。当接面13,13と中央面15の面の高低差
を、中央面15上に付着した液体が表面張力によって最
も大きい水滴になる高さ寸法よりもさらに大きい寸法に
する。中央面15の中央に開口17を設ける。中央面1
5を斜めに傾斜することで排水用テーパ部Pとする。ガ
イド31,31の上端辺にテーパー状の案内面33,3
3を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はトップリングや洗浄
機などの基板を扱う各種装置とロボットアームとの間で
基板の受け渡しを行なうのに使用する基板搬送用ハンド
及び該基板搬送用ハンドを用いたポリッシング装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体ウエハの製造工程において
は、半導体ウエハ表面を平坦且つ鏡面化するためにポリ
ッシング装置が使用されている。
【0003】この種のポリッシング装置は、各々独立し
た回転数で回転するターンテーブルとトップリングとを
有し、トップリングの下面に保持した半導体ウエハの表
面をターンテーブル上に設けた研磨面に接触して砥液を
供給しながら研磨する。
【0004】またこのポリッシング装置には研磨後の半
導体ウエハを洗浄・乾燥するための洗浄装置が併設され
ている。
【0005】ところで前記トップリングへの半導体ウエ
ハの受け渡しや、洗浄装置内におけるある装置から別の
装置への搬送(例えば洗浄機から別の洗浄機への搬送、
或いは洗浄機から乾燥機への搬送)は、ロボットのアー
ムの先端に取り付けたハンドによって行なわれていた。
【0006】図4はこれらの受け渡しの内、トップリン
グとハンドの間における半導体ウエハの受け渡し状態の
1例を示す図である。同図に示すようにハンド80は、
略平板状であってその中央に凹状の収納部81を設け、
また該収納部81の周囲にガイド83を突出して構成さ
れている。
【0007】収納部81には、半導体ウエハ100の外
周下面が当接する当接面85と、該当接面85の内側で
あって該当接面85よりもその面の高さを低くしてなる
中央面87とが設けられている。
【0008】なおこのハンド80は図示しないロボット
のアームに取り付けられることによって、水平方向(矢
印a,b方向)と、垂直方向(矢印c,d方向)への移
動が可能となっている。
【0009】一方トップリング90は略円板状であって
その下面に真空吸着面91を設け、その外周にガイドリ
ング97を取り付けて構成されている。
【0010】そしてトップリング90からハンド80に
半導体ウエハ100を渡す場合は、半導体ウエハ100
を吸着したトップリング90の真下にハンド80を接近
させた状態でトップリング90による半導体ウエハ10
0の吸着を解除して、図4に一点鎖線で示すように、半
導体ウエハ100をハンド80の収納部81内に落下し
て保持させる。そしてハンド80を矢印d,b方向に移
動する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のハンド80には、以下のような問題点があった。 従来のハンド80のガイド83はその上端角部が直角
に加工されていたので、半導体ウエハ100を受け取る
際にトップリング90とハンド80の間にずれが生じて
いた場合、半導体ウエハ100の外周下面が該ガイド8
3の上端角部にひっかかって半導体ウエハ100を収納
部81内に正規に落し込むことができなくなる恐れがあ
った。
【0012】ハンド80の中央面87には、トップリ
ング90や半導体ウエハ100から砥液等の液体110
が落下して付着している場合がある。そしてこの液体1
10は表面張力によって球状の水滴になるが、ハンド8
0の当接面85と中央面87間の高低差は1.5mm程度
しかなかったので、図4に示すように、この液体110
が半導体ウエハ100に接触してしまうことがある。従
って例えば砥液が付着したハンド80を用いて洗浄後の
半導体ウエハ100の受け渡しを行なったような場合、
該液体110によって洗浄後の半導体ウエハ100が逆
に汚染されてしまうという問題点があった。
【0013】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
ありその目的は、半導体ウエハを他の機器からハンドの
収納部内に確実に受け取ることができ、また半導体ウエ
ハがハンドに付着した液体によって汚染される恐れがな
く、また同時に軽量化が図れる基板搬送用ハンド及びポ
リッシング装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め本発明は、ロボットのアームに取り付けられ、その上
面に基板を収納する凹状の収納部を形成してなる基板搬
送用ハンドにおいて、前記収納部は、前記基板の外周下
面が当接する当接面と、該当接面の内側であって該当接
面よりもその面の高さを低くしてなる中央面とを具備
し、前記当接面と中央面との面の高低差を、前記中央面
上に付着した液体が表面張力によって最も大きい水滴に
なる高さ寸法よりもさらに大きい寸法に形成した。また
本発明は、収納部の中央面を斜めに傾斜することで排水
用テーパ部を形成した。また本発明は、収納部の外側に
形成されるガイドの上端の収納部側の辺にテーパー状の
案内面を設けた。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて詳細に説明する。図1は本発明の一実施形態に
かかるハンド1を示す斜視図、図2は図1のA−A線で
の断面図である。
【0016】図1,図2に示すようにこのハンド1は、
所定の厚みを有する略長方形状の板の上面に、円板状の
半導体ウエハ100を収納する寸法形状の凹状の収納部
11を設け、該収納部11を設けることで該収納部11
の外側にガイド31,31を形成し、且つその外周から
取っ手51を突出して構成されている。
【0017】前記収納部11は、前記半導体ウエハ10
0の外周下面が当接する円弧状の2つの当接面13,1
3と、該両当接面13,13の間であって該当接面1
3,13の面よりもその面の高さを低くしてなる中央面
15と、該中央面15の中央に設けられる略小判型の開
口17とによって構成されている。
【0018】ここで前記中央面15はいずれの部分も開
口17に向かって下降するように傾斜する排水用テーパ
部Pになっている。
【0019】また前記当接面13,13と中央面15の
面(最も高い部分)の高低差T1(図2参照)は、中央
面15上に付着した液体が表面張力によって最も大きい
球になる高さ寸法よりもさらに大きい寸法となるように
形成されている。この実施形態では具体的にはT1=6
mm以上に設計している。
【0020】一方前記ガイド31の上端内周辺の部分に
は、上方向に向かって広がるように傾斜するテーパー状
の案内面33が設けられている。この案内面33のテー
パ角度θは、該案内面33に半導体ウエハ100が接し
つつ滑り落ちるのにあまり大きい角度は望ましくなく、
20°前後が望ましい。
【0021】なおこのハンド1は金属板(例えばアルミ
板やSUS)の表面に、ハンド1の錆を防止したり、金
属で直接半導体ウエハ100を触らないことで金属汚染
を防止したりする等のために、合成樹脂被膜を施して構
成されている。また合成樹脂皮膜を施す代わりに、半導
体ウエハ100と直接接する部分、即ちガイド31の案
内面33を含む内側側面と当接面13の部分をハンド1
とは別体に合成樹脂の成形品などで形成し、これをハン
ド1に取り付けるように構成しても良い。なお取っ手5
1は図示しないロボットアームに取り付けられる。
【0022】次にこのハンド1の作用について説明す
る。まずこのハンド1に例えば図4に示すトップリング
90に吸着した半導体ウエハ100を落し込む場合は、
半導体ウエハ100を吸着したトップリング90の真下
に図1に示すハンド1を接近させた状態でトップリング
90による吸着を解除し、これによって半導体ウエハ1
00をハンド1の収納部11内に落下させる。
【0023】そして半導体ウエハ100を落下させたと
き、トップリング90とハンド1の位置がずれていたと
しても、該半導体ウエハ100の外周はガイド31に設
けた案内面33に当接して案内されて滑り落ちるので、
半導体ウエハ100は該ガイド31の上端にひっかかる
ことなく、確実に収納部11内に落ち込む。
【0024】一方トップリング90には半導体ウエハ1
00を研磨した際の砥液や水等の液体が付着しているの
で、該液体がハンド1上に落下し、該ハンド1上に溜ろ
うとする。
【0025】しかしながらこのハンド1においては図2
に示すように、中央面15上に付着した液体が表面張力
によって最も大きい球状の水滴40になったとしても、
中央面15と当接面13,13間の高さ寸法T1は最も
大きい水滴40の高さ寸法よりも大きい寸法に形成され
ているので、該水滴40は半導体ウエハ100の下面に
触れる恐れはない。
【0026】しかも本実施形態の場合は、中央面15を
排水用テーパ部Pとしているので、中央面15上に付着
した水滴40は該中央面15上を滑って開口17から下
に落下する。
【0027】また開口17を設けたので、トップリング
90や半導体ウエハ100等から落下してくる液体を受
ける中央面15自体の面積が小さく、この点からも中央
面15上に水滴が溜りにくい。
【0028】つまりたとえハンド1上に液体が落下して
も該ハンド1に付着したままの状態になりにくく、また
たとえ付着した液体が水滴40となって大きくなったと
しても、半導体ウエハ100にこの水滴が触れる恐れも
なく、これらのことから半導体ウエハ100が汚染され
る恐れはなくなる。
【0029】なおハンド1に開口17を設けたのは、前
記目的の他に、ハンド1の軽量化を図るためでもある。
【0030】上記各作用は、トップリングとの半導体ウ
エハの受け渡し時のみでなく、他の反転機や洗浄機や乾
燥機等との受け渡し時にも同様に生じることは言うまで
もない。
【0031】ここで図3は本発明の他の実施形態にかか
るハンドの中央面15−2の部分の横断面図(図1のB
−B部分に相当する部分の断面図)である。同図に示す
ようにこの中央面15−2の場合、その中央を最も高く
することでその両側に排水用テーパ部P1,P2を設け
ている。このように構成しても前記実施形態と同様の作
用が発揮される。
【0032】なお収納部や排水用テーパ面や開口等の形
状は上記実施形態の他に種々の変形が可能であることは
言うまでもない。
【0033】図5は上記ハンド1を利用するポリッシン
グ装置の1例の内部構造を示す概略平面図である。同図
に示すようにこのポリッシング装置はポリッシング部2
30と洗浄部250とから構成されている。
【0034】ポリッシング部230はターンテーブル2
33の両側にトップリング235を取り付けたポリッシ
ングユニット237と、ドレッシングツール239を取
り付けたドレッシングユニット241とを設置し、更に
ワーク受渡装置243を設置して構成されている。
【0035】洗浄部250は、中央に矢印Z方向に移動
可能な2台の搬送ロボット251,253を設置し、そ
の一方側に1次・2次洗浄機255,257とスピン乾
燥機(又は洗浄機能付きスピン乾燥機)259を並列に
設置し、他方側にウエット用のワーク反転機261と、
ドライ用のワーク反転機263を並列に設置して構成さ
れている。
【0036】ここで図6は洗浄部250の要部斜視図で
ある。同図に示すように、搬送ロボット251,253
は何れもその上面に2組ずつのアーム機構254を取り
付けて構成されている。各アーム機構254の先端には
それぞれ半導体ウエハを保持するハンド355,35
6,357,358が取り付けられている。なおハンド
355,356と、ハンド357,358はそれぞれ上
下に重なるように配置されている。
【0037】なお3つのハンド355,356,358
は何れも前記図1に示すハンド1であり、もう1つのハ
ンド357はその上面に半導体ウエハを真空吸着して保
持する構造の真空吸着機構付きのハンドである。
【0038】このポリッシング装置全体の動作を図5,
図6を用いて説明すると、研磨前の半導体ウエハを収納
したカセット265が図示する位置にセットされると、
搬送ロボット253のハンド357がカセット265か
ら半導体ウエハを1枚ずつ取り出してワーク反転機26
3に受け渡して反転する。さらに該半導体ウエハはワー
ク反転機263から搬送ロボット251のハンド355
に受け渡されてポリッシング部230のワーク受け渡し
装置243(図5参照)に搬送される。
【0039】ワーク受渡装置243上の半導体ウエハ
は、矢印Pで示すように回動するポリッシングユニット
237のトップリング235下面に保持されてターンテ
ーブル233上に移動され、回転する研磨面234上で
研磨される。このとき研磨面234上には図示しない供
給管から砥液が供給される。
【0040】研磨後の半導体ウエハは再びワーク受渡装
置243に戻され、搬送ロボット251のハンド356
(図6参照)によってワーク反転機261に受け渡され
てリンス液でリンスされながら反転された後、ハンド3
56によって1次洗浄機255に移送されて洗浄され、
更にハンド355によって2次洗浄機257に移送され
て洗浄され、ハンド358によってスピン乾燥機259
でスピン乾燥され、ハンド357によって元のカセット
265に戻される。
【0041】なお図5に示すドレッシングユニット24
1は適宜矢印Rで示すようにターンテーブル233上に
移動し、回転するドレッシングツール239を回転する
研磨面234に押し付け、研磨面234の再生(目立
て)を行う。
【0042】以上のポリッシング装置において、ハンド
357は乾燥した半導体ウエハのみを扱うので本発明に
かかるハンド1を用いる必要はないが、それ以外のハン
ド355,356,358は砥液やリンス液や洗浄液が
付着した半導体ウエハを保持するので、本発明にかかる
ハンド1を用いることで、ハンド1上に落下した水滴に
よって半導体ウエハが汚染されることを防止するのであ
る。
【0043】図7は本発明の更に他の実施形態にかかる
ハンド1−3を示す斜視図である。なお前記図1に示す
ハンド1と同一又は相当部分には同一符号を付してその
詳細な説明は省略する。
【0044】このハンド1−3において前記図1に示す
ハンド1と相違する点は、ハンド1−3の収納部11を
縦方向に横切るように直線状の切欠き60を設けた点
と、取っ手51の上面に突部61を設けた点のみであ
る。なお切欠き60を設けることによって開口17は2
つに分割され、各開口17の周囲に排水用テーパ面Pが
形成されている。
【0045】本実施形態によれば、前記図1に示すハン
ド1の効果と同一の効果が発揮されるばかりか、更に本
実施形態においては以下の作用効果が生じる。
【0046】即ち切欠き60を設けることによって当接
面13の面積が減少し、半導体ウエハとの接触面積が更
に少なくなるため、半導体ウエハへのダスト等の付着も
更に少なくなる。
【0047】また半導体ウエハを保持して回転する回転
部材とハンド1−3との間における半導体ウエハの受け
渡しが可能となる。即ち例えば、図5に示す2次洗浄機
257やスピン乾燥機259では、図8に示すように半
導体ウエハ100の外周を複数本の爪71でチャックし
て高速回転するチャック機構が用いられるが、ハンド1
−3を用いれば、該ハンド1−3に設けた切欠き60の
部分に爪71を挿入することによって、爪71に把持し
たままの半導体ウエハ100の下にハンド1−3を容易
に挿入できるのである。
【0048】また図7に示す取っ手51に設けた突部6
1は、半導体ウエハ100の取り扱いに伴ってハンド1
−3に飛散した水滴が、このハンド1−3を取り付けた
ロボット本体にかからないようにするための水滴の飛び
出し防止部材である。
【0049】なおハンド1−3に付着した水滴がロボッ
ト本体にかからないようにするために、さらに図9に示
すように搬送ロボット251のアーム機構254に取り
付けたハンド1−3の下側に防水パン75を設置しても
良い。
【0050】なお上記各実施形態においてはハンドをポ
リッシング装置に適用させた例を述べたが、本発明にか
かるハンドはポリッシング装置に限らず、フォトレジス
ト装置,他の洗浄装置,スパッタリング装置など、他の
半導体製造装置に広く適用することができる。
【0051】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば以下のような優れた効果を有する。 ハンドの収納部内の当接面と中央面との面の高低差
を、中央面上に付着した液体が表面張力によって最も大
きい水滴になる高さ寸法よりもさらに大きい寸法に形成
したので、基板がハンドに付着した液体によって汚染さ
れる恐れがなくなる。
【0052】中央面に排水用テーパ部を設けた場合
は、該中央面上に付着した水滴が重力によって自然に滑
り落ちるのでハンド上に液体が溜らず、この点からも基
板の汚染が防止される。
【0053】ハンドの中央面に開口を設けた場合は、
ハンドの上から開口内に落下して通り抜けていく液体は
ハンド上に付着しなくなり、この点からも更に基板の汚
染が防止される。
【0054】ハンドに設けたガイドの上端内周辺にテ
ーパー状の案内面を設けたので、基板を他の機器からハ
ンドの収納部内に落下した際に該基板を収納部内に確実
に落し込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態にかかるハンド1を示す斜
視図である。
【図2】図1のA−A線上断面図である。
【図3】本発明の他の実施形態にかかるハンドの中央面
15−2の横断面図である。
【図4】従来のトップリングとハンドの間における半導
体ウエハの受け渡し状態を示す図である。
【図5】ハンド1を利用するポリッシング装置の内部構
造を示す概略平面図である。
【図6】洗浄部250の要部斜視図である。
【図7】本発明の更に他の実施形態にかかるハンド1−
3を示す斜視図である。
【図8】チャック機構とハンド1−3の関係を示す図で
ある。
【図9】ハンド1−3と防水パン75を取り付けた搬送
ロボット251を示す図である。
【符号の説明】
1 ハンド 11 収納部 13,13 当接面 15 中央面 P 排水用テーパ部 17 開口 31 ガイド 33 案内面 100 半導体ウエハ(基板)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ロボットのアームに取り付けられ、その
    上面に基板を収納する凹状の収納部を形成してなる基板
    搬送用ハンドにおいて、 前記収納部は、前記基板の外周下面が当接する当接面
    と、該当接面の内側であって該当接面よりもその面の高
    さを低くしてなる中央面とを具備し、前記当接面と中央
    面との面の高低差を、前記中央面上に付着した液体が表
    面張力によって最も大きい水滴になる高さ寸法よりもさ
    らに大きい寸法に形成したことを特徴とする基板搬送用
    ハンド。
  2. 【請求項2】 ロボットのアームに取り付けられ、その
    上面に基板を収納する凹状の収納部を形成してなる基板
    搬送用ハンドにおいて、 前記収納部には、前記基板の外周下面が当接する当接面
    と、該当接面の内側であって該当接面よりもその面の高
    さを低くしてなる中央面とを設け、さらに前記中央面を
    斜めに傾斜することで排水用テーパ部を形成したことを
    特徴とする基板搬送用ハンド。
  3. 【請求項3】 前記ハンドの所定部分に切欠き又は開口
    を設けたことを特徴とする請求項1又は2記載の基板搬
    送用ハンド。
  4. 【請求項4】 ロボットのアームに取り付けられ、その
    上面に基板を収納する凹状の収納部を設けるとともに該
    収納部の外側にガイドを形成してなる基板搬送用ハンド
    において、 前記ガイドの上端の収納部側の辺にテーパー状の案内面
    を設けたことを特徴とする基板搬送用ハンド。
  5. 【請求項5】 ワークを保持するトップリングと、該ト
    ップリングに保持したワークの表面を研磨する研磨面を
    有するターンテーブルと、前記トップリングとターンテ
    ーブルによって研磨されたワークの受け渡しを行うハン
    ドを有するロボットとを具備し、 前記ハンドとして、請求項1乃至4のうちの何れか1項
    記載の基板搬送用ハンドを用いたことを特徴とするポリ
    ッシング装置。
JP2435797A 1996-02-28 1997-01-22 基板搬送用ハンド及びポリッシング装置 Pending JPH10177999A (ja)

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JP2435797A JPH10177999A (ja) 1996-10-15 1997-01-22 基板搬送用ハンド及びポリッシング装置
EP04019924A EP1498934A3 (en) 1996-02-28 1997-02-28 Robotic wafer transport apparatus
US08/808,690 US5893794A (en) 1996-02-28 1997-02-28 Polishing apparatus having robotic transport apparatus
DE69732157T DE69732157T2 (de) 1996-02-28 1997-02-28 Transportroboter mit Tropfwasserschutz
EP97103376A EP0793261B1 (en) 1996-02-28 1997-02-28 Robotic transport apparatus having a guard against water
US09/012,826 US5961380A (en) 1996-02-28 1998-01-23 Robotic transport apparatus

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JP8-294543 1996-10-15
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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