JPH10163619A - Icパッケージ実装方法 - Google Patents
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Abstract
良を防止し、ソルダリングの信頼性を向上して、作業時
間を短縮するICパッケージの実装方法を提供する。 【解決手段】 PCB上の異物を除去する段階(S21
0)と、PCB上に形成されたリードパタンにフラック
スを塗布する段階(S230)と、ICパッケージのリ
ードをフラックスが塗布されたPCB上のリードパタン
上に揃える段階(S240)と、揃えたICパッケージ
の半導体チップ部分をホールディングブロックでカバー
して全面に光ビームを照射して前記リードと前記リード
パタンとをソルダリングする段階(S250)と、ソル
ダリングされたPCB及びホールディングブロックを冷
却する段階(S260)とを含むことを特徴とする。
Description
B)にテープキャリアパッケージ(Tape CarrierPackag
e:TCP)を実装する方法に関する。
用されるICは高機能、高集積化が進んでいる。これに
伴い、ICの熱対策のためのICパッケージも発展して
いる。ICは、高機能になるとパッド数が増加し、パッ
ケージのリード数も増加してリード密度が高くなるた
め、PCBにパッケージを実装する技術の研究も進んで
いる。
型コンピュータでも高性能が要求されている。ノート型
コンピュータの場合は小型/軽量が製品の特徴であるた
め、実装するICパッケージが小さいほど良いが、小さ
くなると熱対策が困難になる。
る高微細部品であり、一般の半導体チップで用いられる
ワイヤボンディングが無く、小さくできるのでPCBを
小さく形成することができる。
る。
心に、半導体チップ100がポリイミドフィルム103
に対して上下に突出して置かれる。半導体チップ100
に接着されたリード102は、ポリイミドフィルム10
3のチップ表面側にパタン形成されてリード間の絶縁を
維持し、外部の衝撃から保護される。また、ポリイミド
フィルム103において、半導体チップ100の各エッ
ジから所定間隔離れた位置にエッジに対向してスロット
106が開けられリード102の一部を露出させてい
る。
装する従来の方法について説明すると次のようになる。
リードが実装されるPCBのリードパタン上にフラック
スを均一に塗布する。ここに、別の工程で切断/整形さ
れたTCPを、リードとPCB上のリードパタンが対応
するように置いた後、TCPのリードを加熱及び加圧す
ることによりPCB上のリードパタンにTCPのリード
を実装する。次に、ソルダリング後のPCBを冷却し
て、トレーから取り外す。
程は、TCPを切断/整形部に取り込んでPCB上のリ
ードパタンに適合するように切断/整形装置により切断
する。具体的に説明すると、切断/整形部に移送された
TCPを切断/整形装置により図7のA−A’線に沿っ
て切断する。
てソルダリングされた状態のTCPの断面図で、図9は
TCPにヒートシンクを付着する方法について説明する
断面図である。
にあるポリイミドフィルム103’を含んで切断が行わ
れる。その後、切断されたリードはすぐ切断/整形装置
により所定形態に整形されてPCB内のリードパタンに
適合するリード形態になる。
は、PCBは半導体チップ100動作時の熱を外部に放
出するヒートシンク130を付着するために、TCPの
装着位置に半導体チップ100の大きさの開口部116
を持つ。半導体チップ100の裏面はポリイミドフィル
ム103から突出しているので、この突出部分とヒート
シンク130に伝導性接着パッド113、113’を付
着し、PCBの開口部116に半導体チップ100の突
出部分(裏面)を挿入し、逆方向からヒートシンク13
0を半導体チップ100に装着する。
によると、ソルダリング段階でTCPのリードを圧着す
る際にリードの整列状態が乱れる場合があり、これによ
って隣接リード間のショートが多発する問題がある。ま
た、ホットバーによりリードに直接圧力が加わることに
よりリード自体が薄いために損傷して、ソルダリングさ
れてもリードの寿命が短くなったり接触不良が発生する
ことがあった。また、従来の構造でヒートシンクを装着
するのは長時間必要で作業が困難である。
めに本発明は、TCP型ICパッケージの印刷回路基板
(PCB)への実装方法において、PCB上の異物を除
去する段階と、PCB上に形成されたリードパタンにフ
ラックスを塗布する段階と、ICパッケージのリードを
フラックスが塗布されたPCB上のリードパタン上に揃
える段階と、揃えたICパッケージの半導体チップ部分
をホールディングブロックでカバーして全面に光ビーム
を照射して前記リードと前記リードパタンとをソルダリ
ングする段階と、ソルダリングされたPCB及びホール
ディングブロックを冷却する段階とを含むことを特徴と
するICパッケージ実装方法を提供する。フラックスを
塗布する前には、ICパッケージの半導体チップが位置
する部分に伝導性ボンドを塗布する段階を含む。伝導性
ボンドは、半導体チップサイズの60%の面積にわたっ
て塗布され、伝導性ボンドは、PCBに形成されたビア
ホ−ルを通してPCBの裏面にも塗布される。このPC
Bの裏面に塗布された伝導性ボンドを介在してヒートシ
ンクを付着する。フラックスは、ノズルにより塗布す
る。フラックスは、リードパタンが刻印されたスタンプ
を利用して塗布する。ホールディングブロックに付着し
た磁性体と磁石固定治具の磁石によりPCBが固定され
る。PCB上の認識マークを基準にしてICパッケージ
をPCB上に取り付ける。キセノン(Xe)光ビームー
によりソルダリングを行う。ホールディングブロックを
介在してICパッケージを吸着した後、ICパッケージ
のリードをPCB上のリードパタン上に揃える。
て詳細に説明する。
を示すブロック図である。本実装システムは、PCBを
実装システムに取り込むロ−ダ部10と、取り込んだP
CBのTCP裏面に対応する部分に伝導性ボンドを塗布
するディスペンサ部20と、TCPを所定の大きさに切
断してリードを整形する切断/整形部30と、伝導性ボ
ンドが塗布されたPCBのTCPリードパタンにフラッ
クスを塗布して整形したTCPのリードがPCBのリー
ドパタンと一致するように揃えるマウント部40と、P
CBに装着したTCPをキセノン(Xe)光ビームでソ
ルダリングするソルダリング部50と、ソルダリングさ
れたPCBを冷却する冷却部60とからなる。
図3はTCPのリード切断工程図、図4Aはホールディ
ングブロックの斜視図、図4Bはホールディングブロッ
クがTCP上に位置したときの一部破断した斜視図、図
5AはPCBを装着した磁石固定治具の断面図、図5B
は磁石固定治具の斜視図、図6はTCPを装着したPC
Bにヒートシンクを取り付けたときの図である。
する。以下の実施形態において、PCBは4枚のPCB
がアレイ状に組合わされている。
段階でロ−ダ部10に供給された4枚のPCB110
は、S210段階で表面に付着している汚染物質を除去
される。次に、PCB110は図5A及び図5Bに図示
された磁石固定治具120上に置かれる。
と、この平板プレート122の各頂点に形成された支持
脚124とで構成される。平板プレート122上には4
枚のPCB110に対応して、4個の開口部128があ
り、この開口部128はPCB110のリードパタン部
に対応する。また、各開口部128の四隅には、ホール
ディングブロック150を固定するための磁石126が
平板プレート122の表面と同一面になるような深さに
埋設されている。この開口部に置かれるPCB110
は、図4Bに図示されるように、対角線方向に一対の認
識マーク115があり、ホールディングブロック150
をPCB110上に取り付ける時の基準マークとなる。
定後、S220段階でディスペンサ部20に設置された
ディスペンサにより、伝導性ボンド114がPCB11
0上のTCP半導体チップ100が安着される領域の中
央部から一定面積だけ塗布される。塗布する面積は、半
導体チップ100の面積の60%の面積に該当する部分
に塗布することが好ましい。
の伝導性ボンド114が塗布される部分には、ビアホ−
ル(スルーホール)118が形成され、伝導性ボンド1
14はビアホ−ル118を通じてPCB110の裏面に
も塗布される。PCB110の裏面に塗布された伝導性
ボンド114’は、ヒートシンク130をPCB110
の裏面に付着させて半導体チップ110の動作時に発生
する熱を放熱する。
0を付着するためにPCB110内に開口部を形成する
必要がなく、裏面に塗布された伝導性ボンド114’に
よりヒートシンク130をPCB110に付着すること
が可能になるため作業が容易になる。また、塗布された
伝導性ボンド114は、整形時に曲げるTCPのリード
102のためにTCPの半導体チップ100とPCB1
10との間隔を補償するのでTCPの装着安定性を高め
る。同一方法で他の3個のPCB110にも伝導性ボン
ド114を塗布する。
をノズルでPCB110上のリードパタンに均一に塗布
する。この時、TCPのリードパタンを刻印したスタン
プにフラックスを付けPCB110上のリードパタン上
に押すことにより迅速かつ均一にフラックスが塗布でき
る。フラックスは次のソルダリング段階でソルダリング
を円滑にするための潤滑剤として使用される。フラック
スが塗布されたPCB110は、PCB110上のリー
ドパタン330部分を拡大してモニタできるようにカメ
ラが装着されたマウント部40に移送される。
取り込まれたTCPは、S310段階でPCB110上
のリードパタン330に適合する大きさに切断/整形さ
れる。具体的には図3A、3Bに図示されるように、切
断/整形装置160はスロット106内の外側端部近傍
で多数のリード102を一斉に切断する。この時、スロ
ット106の外側のポリイミドフィルム103は含まな
い。次に、図3Cに図示されるように切断されたリード
102は、すぐ切断/整形装置160によりPCB11
0に接合されるように所定曲率を持つ形態に整形され
る。切断/整形が完了したTCPは、S240段階でマ
ウント部40内に設置したPCB110上のリードパタ
ン330上に移され取り付けられる。
0が真空ポンプにより吸着されてTCPの上へ移送され
る。図4Aに示すように、ホールディングブロック15
0はTCPの半導体チップ100の形状に対応して四角
形状で所定の厚さを持ち、中央部には実装システム内に
設置された真空ポンプを利用してホールディングブロッ
ク150内部に位置したTCPを吸着できるようにホ−
ル154が開けられる。この時、ホールディングブロッ
ク150の裏面にはTCPの半導体チップ100の位置
決め溝が形成されておりTCPを安定に吸着できる。ま
た、ホールディングブロック150の四隅には支持部1
52が形成され、支持部152の下部には、図5Aに図
示されるように、所定の厚さをもつ磁性体156が付着
する。この磁性体156が、取り付け段階で磁石126
に引っ張られることによりホールディングブロック15
0を固定する。
により、自動あるいは手動で行うことができる。即ち、
PCB110上の認識マーク115を利用して、磁石固
定治具120に固定されたPCB110の位置を確認し
て、TCPのリード102をPCB110上のリードパ
タン330上に正確に揃える。
示されるように、真空ポンプを操作してTCPを吸着し
たホールディングブロック150と共にPCB110上
のリードパタン330上に位置させる。すると図5Aに
示されるように、ホールディングブロック150の支持
部152の下部に付着した磁性体156と磁石固定治具
120に埋設された4個の磁石126が引き合うので固
定され、間に位置するPCB110も固定される。これ
によって、TCPをPCB110上に位置させる時発生
するホールディングブロック150のこじれが防止でき
る。TCPのリード102がPCB110上のリードパ
タン330に対応して整列した後、ホールディングブロ
ック150とTCPが位置するPCB110をソルダリ
ング部50に移動して、S250段階に移る。
ルディングブロック150とTCPにキセノン(Xe)
光ビームを照射することにより約300℃でソルダリン
グを実行する。この時、光ビームをPCB110上のリ
ードパタン全体に照射するために均一にソルダリングが
行われる。
S260段階で冷却部60に移送され、ソルダリングに
より高温状態になったPCB110とホールディングブ
ロック150を冷却する。その後、S270段階でホー
ルディングブロック150は、真空ポンプによりPCB
110から取り外され、他の3個のPCBに対して前記
過程が反復実行される。
と、直接加圧せずにソルダリングするのでリードの損傷
が無く、作業後に不良が発生しない。また光ビームソル
ダリングを実行することにより、ソルダリング品質が向
上し、ソルダリング時リードを加圧しないので実装後の
TCPの信頼性を向上させる効果がある。また、ソルダ
リングを行う際に全リードに対して一斉にソルダリング
するため作業時間を短縮することができる。また、印刷
回路基板のTCPが実装される位置に伝導性ボンドを既
塗布することにより、TCPをPCB上に装着する時、
整形されたリードによるPCBと半導体チップ間の間隔
を報償してTCPの装着安定性を高めて、ヒートシンク
を付着するための開口部をPCBに形成する必要がな
く、裏面上に塗布された伝導性ボンドを介在してヒート
シンクをPCBに付着することにより作業が容易にな
る。
整形工程図。
図BはホールディングブロックがTCP上に位置した一
部破断した斜視図。
面図、分図Bは磁石固定治具の斜視図。
図。
グしたTCPの断面図。
図。
Claims (12)
- 【請求項1】 TCP型ICパッケージの印刷回路基板
(PCB)への実装方法において、 PCB上の異物を除去する段階と、PCB上に形成され
たリードパタンにフラックスを塗布する段階と、ICパ
ッケージのリードをフラックスが塗布されたPCB上の
リードパタン上に揃える段階と、揃えたICパッケージ
の半導体チップ部分をホールディングブロックでカバー
して全面に光ビームを照射して前記リードと前記リード
パタンとをソルダリングする段階と、ソルダリングされ
たPCB及びホールディングブロックを冷却する段階と
を含むことを特徴とするICパッケージ実装方法。 - 【請求項2】 フラックスを塗布する前にICパッケー
ジの半導体チップが位置する部分に伝導性ボンドを塗布
する段階を含む請求項1記載のICパッケージ実装方
法。 - 【請求項3】 伝導性ボンドは、半導体チップサイズの
60%の面積にわたって塗布される請求項2記載のIC
パッケージ実装方法。 - 【請求項4】 伝導性ボンドは、PCBに形成されたビ
アホ−ルを通してPCBの裏面にも塗布される請求項2
記載のICパッケージ実装方法。 - 【請求項5】 PCBの裏面に塗布された伝導性ボンド
を介在してヒートシンクを付着する請求項4記載のIC
パッケージ実装方法。 - 【請求項6】 フラックスは、ノズルにより塗布する請
求項1記載のICパッケージ実装方法。 - 【請求項7】 フラックスは、リードパタンが刻印され
たスタンプを利用して塗布する請求項1記載のICパッ
ケージ実装方法。 - 【請求項8】 PCBを磁石固定治具を利用して固定す
る請求項1記載のICパッケージ実装方法。 - 【請求項9】 ホールディングブロックに付着した磁性
体と磁石固定治具の磁石によりPCBが固定される請求
項8記載のICパッケージ実装方法。 - 【請求項10】 PCB上の認識マークを基準にしてI
CパッケージをPCB上に取り付ける請求項1記載のI
Cパッケージ実装方法。 - 【請求項11】 キセノン(Xe)光ビームーによりソ
ルダリングを行う請求項1記載のICパッケージ実装方
法。 - 【請求項12】 ホールディングブロックを介在してI
Cパッケージを吸着した後、ICパッケージのリードを
PCB上のリードパタン上に揃える請求項1記載のIC
パッケージ実装方法。
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