JPH0992625A - 熱処理用ボ−ト - Google Patents

熱処理用ボ−ト

Info

Publication number
JPH0992625A
JPH0992625A JP26653195A JP26653195A JPH0992625A JP H0992625 A JPH0992625 A JP H0992625A JP 26653195 A JP26653195 A JP 26653195A JP 26653195 A JP26653195 A JP 26653195A JP H0992625 A JPH0992625 A JP H0992625A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
heat treatment
substrate
peripheral edge
processed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26653195A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Osawa
哲 大沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Tohoku Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Tohoku Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd, Tokyo Electron Tohoku Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP26653195A priority Critical patent/JPH0992625A/ja
Priority to US08/715,241 priority patent/US5820367A/en
Priority to KR19960041008A priority patent/KR970018349A/ko
Publication of JPH0992625A publication Critical patent/JPH0992625A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B31/00Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
    • C30B31/06Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor by contacting with diffusion material in the gaseous state
    • C30B31/14Substrate holders or susceptors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/12Substrate holders or susceptors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被処理基板例えば半導体ウエハを熱処理する
ときに発生するスリップと呼ばれる表面欠陥をなくすこ
と。 【解決手段】 垂立する4本の支柱41〜44にウエハ
支持部材5を各々上下に間隔をおいて設ける。ウエハ支
持部材5は、リング体50の内周縁に沿って環状の突状
部51を設けると共に、外周縁に沿って壁部52を設け
て構成される。ウエハWは反りの有無に拘らずウエハ支
持部材5の突状部51により、外周縁よりも内方側の位
置で確実に支持され、ウエハWの自重による荷重は突状
部51全体に分散されるので、支持部分の特定箇所への
応力の集中が抑えられ、スリップの発生が抑制される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハなど
の被処理基板に対して熱処理を行うために用いられる熱
処理用ボートに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)
の製造プロセスの1つとして、酸化膜の形成やドーパン
トの拡散などを行うために高温下で熱処理を行うプロセ
スがある。この熱処理を行う縦型熱処理装置において
は、多数のウエハを上下に間隔をおいて搭載する熱処理
用ボートによりウエハが熱処理炉にロードされ、所定の
熱処理が行なわれる。このような熱処理用ボートでは、
従来4本の支柱に支持溝を形成し、この支持溝にてウエ
ハを保持させることにより、ウエハの外周縁部の4点を
支持するようにしていた。
【0003】しかし後述の理由からウエハの外周縁部の
3点を支持する構成が開発されている。図8は3点支持
の熱処理用ボート1を示すものであるが、この熱処理用
ボート1は、断熱材である保温筒10の上に設けられ、
上下にそれぞれ対向して配置された円形の天板11a及
び底板11bの間に、例えば石英よりなる3本の支柱1
2を設け、この支柱12にウエハWの外周縁部下面を支
持する支持溝を形成して構成される。図中13は搬送ア
ームである。
【0004】ここで4点支持よりも3点支持が優れてい
る点について、熱処理時のスリップ現象に関連させて簡
単に述べる。ウエハの熱処理プロセスの中には、例えば
ウエハにイオン注入を行った後に、注入されたドーパン
ト(不純物イオン)を所定の深さまで拡散させるために
1200℃程度の高温で長時間加熱する場合がある。ウ
エハの基材がシリコンである場合には、シリコンの融点
が1410℃であることから1200℃の温度下ではシ
リコンウエハの降伏応力も極端に小さくなっている。
【0005】一方、ウエハは大口径化が進みつつあり、
そのサイズは6インチから8インチへ移行し始めてお
り、さらには12インチへの移行も検討されている。こ
のようにウエハが大口径化してくると、上述のようにウ
エハの基材の融点に近い温度で熱処理を行ったときに、
熱処理用ボートの支柱により支持されている個所の付近
において、スリップと呼ばれる結晶欠陥がウエハに発生
しやすい。このスリップは、目視では確認しにくい程度
の微小な断層であり、拡大鏡や顕微鏡などにより見るこ
とができる。スリップが発生する原因としては、ウエ
ハの自重による内部応力、ウエハの面内温度不均一に
基づく熱歪応力、が推定原因として挙げられている。
【0006】ここでウエハを4点支持により支持する場
合には、ウエハには規格値内での反りや加熱時の温度分
布に基づく反りがあり、一方支柱の支持溝の加工におい
ても製作上の誤差があるため、4点あるウエハの支持点
の1ヶ所が離れてウエハの支持点が3点になってしまう
現象が生じる。この際支柱の配置によって各支持点の荷
重はアンバランスになるので、支持点の1ヶ所にウエハ
の自重による荷重が加わって過大な応力の集中が起こ
り、スリップが発生しやすい。
【0007】これに対して3点支持の熱処理用ボ−ト1
では、ウエハWを周方向にほぼ3等分した位置の3点で
支持することにより、ウエハWに反りがあっても各支柱
により確実に支持し、これによってウエハWの自重によ
る荷重を分散させ、支持点の1ヶ所に応力が集中するこ
とができる利点がある。
【0008】一方支持溝にウエハを保持させる構造の他
に、図9に示すように支柱に平らな支持面を備えたリン
グ状の支持部材15を配置し、この上にウエハWを載置
するようにした熱処理用ボート14が実施されている。
この熱処理用ボート14では、ウエハWの外周縁部を支
持部材15により面接触で支持するようにして、支持箇
所付近におけるウエハWの自重による内部応力を4点で
支持する場合よりも緩和させウエハWに反りがあって
も、支持面が広いため1ヶ所に大きな荷重がかかること
を防止している。また支持部材15の外周縁部に遮熱用
の壁部16を設け、ウエハWの外周縁部の過熱を防いで
熱歪応力の発生を抑えるようにしている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述のウ
エハWを3点で支持する構成の熱処理用ボート1では、
ウエハの自重を3点の支持部に分散させているものの、
ウエハは外周縁部の3ヶ所のみで支持されるため、ウエ
ハWが超大口径化して例えば12インチものサイズにな
ると、ウエハの自重も相当大きく、このためウエハWの
外周縁部において、支持点よりも内方側のウエハWの重
量に相当する大きなモ−メントが作用して支持点付近に
おける応力が過大になる。またウエハを昇温させるとき
に熱処理用ボート1の支柱12を経由して熱が出入りす
るため、ウエハの中心部と周縁部との間に温度差が生じ
て熱歪応力が発生してしまい、これらの総和により結果
としてスリップが発生するおそれもある。
【0010】一方リング状の支持部材15にてウエハW
を支持する熱処理用ボート14では壁部16により、ウ
エハWの外周縁部の過熱を防いで熱歪応力の発生を抑え
ていると共に、平らな支持面によりウエハWの外周縁及
びそれよりも若干内方側の領域を面接触で支持するよう
にしており、このためウエハWの外周縁部を3点あるい
は4点を支持する場合に比べてウエハWに発生する応力
は小さいと考えられる。しかしながらウエハWの反りや
支持部材15の加工の精度により、図10に示すように
ウエハWの支持点が外周部に移動する場合があり、図1
1はウエハWが湾曲した状態を示す斜視図であるが、こ
のようにウエハに変形が生じた場合には、特に図10に
示す支持点の移動が発生しやすい。そして支持点が移動
すると、支持部材15との接触面が小さくなり、12イ
ンチの超大口径のウエハWでは、やはり既述のようにウ
エハWの外周縁部に大きなモ−メントが作用して支持部
材15との接触部分に自重による応力が集中し、結局ス
リップの発生が避けられなかった。
【0011】本発明はこのような事情の下になされたも
のであり、その目的は被処理基板を熱処理する場合にス
リップの発生を軽減することのできる熱処理用ボートを
提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、支柱
に支持部材を各々上下に間隔をおいて設け、前記被処理
基板を支持部材に支持させて縦型熱処理炉内に搬入出す
る熱処理用ボ−トにおいて、前記支持部材は、被処理基
板の外周縁よりも内方側の部位を支持する位置に、上方
に突出する突状部を備え、この突状部により前記被処理
基板を支持するものであることを特徴とする。
【0013】請求項2の発明は、支柱にリング体よりな
る支持部材を各々上下に間隔をおいて設け、前記被処理
基板を支持部材に支持させて縦型熱処理炉内に搬入出す
る熱処理用ボ−トにおいて、前記リング体は、被処理基
板の外周縁よりも内方側の部位を支持する位置に、上方
に突出する突状部を備え、この突状部により前記被処理
基板を支持するものであることを特徴とする。
【0014】請求項3の発明は、請求項1または2記載
の発明において、突状部は、被処理基板の周方向に沿っ
てリング状に形成されたことを特徴とする。
【0015】請求項4の発明は、請求項1または2記載
の発明において、突状部は被処理基板の周方向の3箇所
の位置に間隔をおいて形成されたことを特徴とする。
【0016】請求項5の発明は、請求項1、2、3また
は4記載の発明において、支持部材の外周縁に沿って、
被処理基板よりも高い壁部を設けたことを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る熱処理
用ボートを含む縦型熱処理装置の一部を示す概観斜視
図、図2、図3は熱処理用ボートの一部を示す図であ
る。この実施例の熱処理用ボート3は、被処理基板であ
るウエハを熱処理するために用いられるものであり、以
下熱処理用ボートをウエハボート、支持部材をウエハ支
持部材と呼ぶことにする。
【0018】ウエハボート3は、上下にそれぞれ対向し
て配置された円形の例えばSiCからなる天板31及び
底板32を備え、これらの間に例えば4本のSiCやポ
リシリコンよりなる支柱41〜44が固定されている。
これらの支柱のうち、2本の支柱41、42については
後述するウエハWの進入方向(図中矢印で示す)手前側
の左右位置を夫々支持し、また残りの2本の支柱43、
44についてはウエハWの進入方向奥側の左右位置を夫
々支持するような位置関係に配置されている。
【0019】天板31と底板32との間には、例えば1
50枚のウエハ支持部材5が所定の間隔をおいて平行に
配置されており、これら支持部材5の材質は、ウエハW
がシリコンウエハである場合には、例えばポリシリコン
が用いられる。各ウエハ支持部材5は、図2に示すよう
に、リング体50の上面に内周縁に沿って、上方に突出
する環状の突状部51を形成すると共に、リング体50
の外周縁に壁部52を形成した形状をなしている。ウエ
ハ支持部材5の大きさは、リング体50の外径(壁部の
内径)L1はウエハWの外径よりも大きく、またリング
体50の内径(突状部51の内径)L2は後述するウエ
ハWの移し替え処理の際に、突き上げ機構が突状部51
の内部空間を通過できる大きさに設定されており、例え
ば12インチのウエハWを支持する場合は、L1=30
4mm、L2=200mm程度に設定される。
【0020】また突状部51の高さL3は、ウエハWに
反りがあってもウエハWの外周縁部がリング体50に接
しないように、例えば12インチのウエハWを支持する
場合は0.3〜0.4mm程度に設定されており、壁部
52の高さL4は、突状部51にウエハWを支持させた
ときに、壁部52がウエハWの上面よりも高い位置とな
るように、例えば1.5mm程度に設定される。これら
のウエハ支持部材5は、その外周縁が図4に示すように
各支柱41〜44に設けた4つの溝部45に挿入されて
当該溝部45の底面に水平に保持され、かつ溝部45の
側面に当接するように、各支柱41〜44に取り付けら
れている。
【0021】以上のように構成されたウエハボート3
は、図1に示すように下部にフランジ部20を備えた保
温筒2の上に着脱自在に装着されており、この保温筒2
はボートエレベータ21上に載置されている。このウエ
ハボート3の上方側には縦型炉6が配置されている。6
1は縦型炉6内の図では見えない反応管内に所定のガス
を供給するガス供給管、62は反応管内を排気する排気
管である。
【0022】次に上述の作用について説明する。先ず別
の領域においてウエハボート3へのウエハWの受け渡し
を行うが、このとき図示しない突上げ機構をウエハ支持
部材5の突状部51の内部空間を通過するように上昇さ
せ、この突上げ機構上に一旦ウエハWを図示しない搬送
アームにより載置し、次いで突上げ機構を下降させるこ
とにより、ウエハ支持部材5の突状部51上にウエハW
を受け渡す。この際ウエハWは、周縁部から内方側の部
位がウエハ支持部材5の突状部51の上面に面接触され
る。
【0023】このようなウエハWの受け渡しを例えばウ
エハボート3の上段側から順次行い、ウエハボート3に
所定枚数例えば150枚搭載した後、ボートエレベータ
22上の保温筒20の上にウエハボート3を移載し、ボ
ートエレベータ22を上昇させてウエハWを縦型炉6内
にロードする。例えば約1200℃の温度で熱処理を行
う場合は、縦型炉6内は例えば約800℃に加熱されて
おり、ウエハWがロードされた後約1200℃まで昇温
され、所定の熱処理が行われる。その後ボートエレベー
タ22が下降して、ウエハWがアンロードされ、ウエハ
ボート3が別の領域に移し変えられて、上述と逆の操作
でウエハWがウエハボート3から取り出される。
【0024】このような実施の形態によれば、各ウエハ
Wは反りがなければ図4(a)に示すように外周縁部よ
り内方側の位置でウエハ支持部材5の突状部51の上面
と接触し、接触面の全体で支持されるので、ウエハWの
自重による荷重は前記接触面全体に分散される。またウ
エハWは外周縁部よりも内方側の位置で支持されるの
で、外周縁部において支持される場合よりもモーメント
が小さくなり、このため支持点における荷重による応力
は小さくなる。この結果ウエハWの1ヶ所に大きな荷重
が加わって過大な応力が集中することはないので、スリ
ップの発生原因を軽減することができる。
【0025】ここで突状部51の高さは、上述のように
ウエハWの反りを考慮に入れて設定されているので、上
述の図11のようにウエハWが湾曲しても図4(b)に
示すようにウエハWはウエハ支持部材5の突状部51に
より、外周縁部よりも内方側の位置で確実に支持され、
ウエハWの外周縁部がウエハ支持部材5に接触してこの
接触点が支持点になるようなことはない。このためこの
場合においてもウエハWの1ヶ所に過大な荷重が加わる
ことはないので、1ヶ所への過大な応力集中が抑えられ
スリップの発生原因が軽減される。
【0026】さらにウエハ支持部材の外周縁には、壁部
52が設けられているので、この壁部52によりウエハ
Wの周縁部に直接入射する熱線が遮られ、ウエハWの周
縁部における過度の温度上昇が妨げられる。このためウ
エハWの中心部と周辺部との間の温度差が小さくなり、
熱歪応力の発生を抑えることができる。この結果上述の
応力集中の防止と相俟ってスリップの発生原因を大幅に
軽減することができる。
【0027】次にウエハ支持部材の他の例について説明
する。図5(a)に示すウエハ支持部材7は、環状の突
状部の代わりに、リング体70の内周縁部上面の周方向
にほぼ3等分した個所に、3つの突状部71を設けたも
のである。またこれら環状の突状部51や3点支持用の
突状部71は、例えば図5(b)に3点支持用の例で示
すように、リング体70上面のウエハの外周縁よりも内
方側の位置、例えばリング体70の内周縁と外周縁との
ほぼ中間の位置に設けるようにしてもよい。さらにウエ
ハ支持部材7においては壁部は必ずしも必要ではなく、
図5(c)に環状の突状部の例で示すように外周縁に壁
部を持たないリング体の内周縁部に突状部72を設けた
ものでもよい。
【0028】さらにまたウエハ支持部材は、例えば図6
(a)に示すように、幅狭なリング体に例えば周方向に
3等分する位置から内方側に向って延びる3本の支持棒
74を設け、その先端部に突状部75を設けるようにし
てもよいし、図6(b)に示すように3点支持用の突状
部の代わりに環状の突状部76を設けるようにしてもよ
い。
【0029】次に本発明の実施の形態の他の例について
図7により説明する。この実施の形態では、ウエハ支持
部材8は、例えばその内周縁に沿って環状の突状部81
を設け、外周縁に沿って壁部82を設けたリング体80
の一部に、突状部81を残して搬送アーム83が進入す
るに十分な大きさの切り欠き8aを形成して構成され
る。
【0030】このようなウエハ支持部材8を用いた場
合、搬送アーム83によりウエハWをウエハ支持部材8
の切り欠き8aからウエハボート内のウエハ支持部材8
の直上まで進入させ、次いで搬送アームをウエハボート
に対して相対的に下降させることにより、ウエハWがウ
エハボートのウエハ支持部材8に受け渡される。従って
このウエハ支持部材8では、ウエハボートを別の領域に
移動させる必要がないので、ウエハWの移載作業を簡易
かつ短時間で行なうことが可能となる。
【0031】
【発明の効果】本発明によれば、支持部材の突状部によ
り被処理基板の外周縁よりも内方側の位置で被処理基板
を支持するようにしているので、被処理基板の反りの有
無に拘らず、被処理基板は前記突状部に支持される。こ
の結果被処理基板の支持点が常に外周縁よりも内方に寄
るので、被処理基板の自重による応力が小さくなり、ス
リップの発生を軽減することができ、特に被処理基板の
サイズが大型化してその自重が大きい場合に有効であ
る。また支持部材の外周縁に壁部を設けると、被処理基
板の周縁部と中心部との温度差が小さくなり、熱歪応力
の発生が抑えられ、スリップの発生をより一層軽減する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の全体を示す斜視図であ
る。
【図2】本発明の実施の形態におけるウエハ支持部材を
示す斜視図である。
【図3】ウエハボートの一部を示す断面図である。
【図4】ウエハ支持部材にウエハを支持させた状態を示
す断面図である。
【図5】ウエハ支持部材の他の例を示す斜視図である。
【図6】ウエハ支持部材の他の例を示す平面図である。
【図7】本発明の他の実施の形態におけるウエハ支持部
材を示す斜視図である。
【図8】従来の熱処理用ボートの概観を示す斜視図であ
る。
【図9】従来の熱処理用ボートの概観を示す斜視図であ
る。
【図10】従来の支持部材にウエハを支持させた状態を
示す断面図である。
【図11】ウエハが湾曲した状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
W ウエハ(被処理基板) 3 ウエハボート 41〜44 支柱 5、7、8 ウエハ支持部材 50、70、73、80 リング体 51、71、72、75、81 突状部 52、82 壁部 8a 切り欠き

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 支柱に支持部材を各々上下に間隔をおい
    て設け、前記被処理基板を支持部材に支持させて縦型熱
    処理炉内に搬入出する熱処理用ボ−トにおいて、 前記支持部材は、被処理基板の外周縁よりも内方側の部
    位を支持する位置に、上方に突出する突状部を備え、こ
    の突状部により前記被処理基板を支持するものであるこ
    とを特徴とする熱処理用ボ−ト。
  2. 【請求項2】 支柱にリング体よりなる支持部材を各々
    上下に間隔をおいて設け、前記被処理基板を支持部材に
    支持させて縦型熱処理炉内に搬入出する熱処理用ボ−ト
    において、 前記リング体は、被処理基板の外周縁よりも内方側の部
    位を支持する位置に、上方に突出する突状部を備え、こ
    の突状部により前記被処理基板を支持するものであるこ
    とを特徴とする熱処理用ボ−ト。
  3. 【請求項3】 突状部は、被処理基板の周方向に沿って
    リング状に形成されたことを特徴とする請求項1または
    2記載の熱処理用ボ−ト。
  4. 【請求項4】 突状部は被処理基板の周方向の3箇所の
    位置に間隔をおいて形成されたことを特徴とする請求項
    1または2記載の熱処理用ボ−ト。
  5. 【請求項5】 支持部材の外周縁に沿って、被処理基板
    よりも高い壁部を設けたことを特徴とする請求項1、
    2、3または4記載の熱処理用ボ−ト。
JP26653195A 1995-09-20 1995-09-20 熱処理用ボ−ト Pending JPH0992625A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26653195A JPH0992625A (ja) 1995-09-20 1995-09-20 熱処理用ボ−ト
US08/715,241 US5820367A (en) 1995-09-20 1996-09-18 Boat for heat treatment
KR19960041008A KR970018349A (ja) 1995-09-20 1996-09-20

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26653195A JPH0992625A (ja) 1995-09-20 1995-09-20 熱処理用ボ−ト

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0992625A true JPH0992625A (ja) 1997-04-04

Family

ID=17432179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26653195A Pending JPH0992625A (ja) 1995-09-20 1995-09-20 熱処理用ボ−ト

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5820367A (ja)
JP (1) JPH0992625A (ja)
KR (1) KR970018349A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2771084A1 (fr) * 1997-11-20 1999-05-21 Lg Electronics Inc Une cassette de chargement pour substrat en verre
JP2002110585A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置とその設計方法及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2002246449A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Nippon Steel Corp ウェハ支持部材、ウェハ保持具およびウェハ保持装置
US6799940B2 (en) 2002-12-05 2004-10-05 Tokyo Electron Limited Removable semiconductor wafer susceptor
KR100475011B1 (ko) * 1997-09-22 2005-05-16 삼성전자주식회사 박막형성장치,그제조방법및이를이용한박막형성방법
JP2006278806A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 熱処理装置
KR100657502B1 (ko) * 2005-04-25 2006-12-20 주식회사 테라세미콘 반도체 제조장치의 기판 로딩용 홀더 제조방법 및 이홀더가 장착된 배치식보트
JPWO2006035879A1 (ja) * 2004-09-30 2008-05-15 株式会社日立国際電気 熱処理装置及び基板の製造方法
JP2010157755A (ja) * 2004-01-20 2010-07-15 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
JP2014175510A (ja) * 2013-03-11 2014-09-22 Tokyo Electron Ltd 支持部材及び半導体製造装置
WO2017110552A1 (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 昭和電工株式会社 ウェハ支持機構、化学気相成長装置およびエピタキシャルウェハの製造方法
JP2021019143A (ja) * 2019-07-23 2021-02-15 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム
KR20220058984A (ko) * 2020-11-02 2022-05-10 명지대학교 산학협력단 실리콘 웨이퍼 습식 식각 장치 및 이의 조립 공정

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6395363B1 (en) 1996-11-05 2002-05-28 Applied Materials, Inc. Sloped substrate support
USD423026S (en) * 1997-08-20 2000-04-18 Tokyo Electron Limited Quartz cover
US6280183B1 (en) * 1998-04-01 2001-08-28 Applied Materials, Inc. Substrate support for a thermal processing chamber
KR20000002833A (ko) * 1998-06-23 2000-01-15 윤종용 반도체 웨이퍼 보트
NL1012004C2 (nl) 1999-05-07 2000-11-13 Asm Int Werkwijze voor het verplaatsen van wafers alsmede ring.
US6474987B1 (en) * 1999-09-03 2002-11-05 Mitsubishi Materials Silicon Corporation Wafer holder
US6287112B1 (en) * 2000-03-30 2001-09-11 Asm International, N.V. Wafer boat
WO2002033743A1 (fr) * 2000-10-16 2002-04-25 Nippon Steel Corporation Porte-plaquette, element de support de plaquette, dispositif porte-plaquette et four de traitement thermique
US7204887B2 (en) * 2000-10-16 2007-04-17 Nippon Steel Corporation Wafer holding, wafer support member, wafer boat and heat treatment furnace
US6794615B2 (en) * 2001-12-07 2004-09-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Semiconductor wafer tray positioning
EP1343261B1 (en) * 2002-02-28 2005-10-05 Alcatel Plesiochronous demultiplexer
US7104578B2 (en) * 2002-03-15 2006-09-12 Asm International N.V. Two level end effector
US6835039B2 (en) * 2002-03-15 2004-12-28 Asm International N.V. Method and apparatus for batch processing of wafers in a furnace
US7256375B2 (en) * 2002-08-30 2007-08-14 Asm International N.V. Susceptor plate for high temperature heat treatment
US7033126B2 (en) * 2003-04-02 2006-04-25 Asm International N.V. Method and apparatus for loading a batch of wafers into a wafer boat
US7410919B2 (en) * 2003-06-27 2008-08-12 International Business Machines Corporation Mask and substrate alignment for solder bump process
US6951775B2 (en) * 2003-06-28 2005-10-04 International Business Machines Corporation Method for forming interconnects on thin wafers
JP4667376B2 (ja) * 2003-07-02 2011-04-13 クック インコーポレイテッド 小ゲージ針カテーテル挿入器具
US7181132B2 (en) 2003-08-20 2007-02-20 Asm International N.V. Method and system for loading substrate supports into a substrate holder
US7163393B2 (en) * 2004-02-02 2007-01-16 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation Heat treatment jig for semiconductor silicon substrate
JP4534619B2 (ja) * 2004-06-21 2010-09-01 株式会社Sumco 半導体シリコン基板用熱処理治具
US20060065634A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-30 Van Den Berg Jannes R Low temperature susceptor cleaning
US20060060145A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-23 Van Den Berg Jannes R Susceptor with surface roughness for high temperature substrate processing
US7033168B1 (en) * 2005-01-24 2006-04-25 Memc Electronic Materials, Inc. Semiconductor wafer boat for a vertical furnace
US20060185589A1 (en) * 2005-02-23 2006-08-24 Raanan Zehavi Silicon gas injector and method of making
US7736436B2 (en) * 2005-07-08 2010-06-15 Integrated Materials, Incorporated Detachable edge ring for thermal processing support towers
US20080156260A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Memc Electronic Materials, Inc. Wafer Support and Method of Making Wafer Support
US7661544B2 (en) * 2007-02-01 2010-02-16 Tokyo Electron Limited Semiconductor wafer boat for batch processing
TWI408772B (zh) * 2008-02-21 2013-09-11 Saint Gobain Ceramics 陶瓷槳
JP5071217B2 (ja) * 2008-04-17 2012-11-14 信越半導体株式会社 縦型熱処理用ボートおよびそれを用いたシリコンウエーハの熱処理方法
US9583364B2 (en) 2012-12-31 2017-02-28 Sunedison Semiconductor Limited (Uen201334164H) Processes and apparatus for preparing heterostructures with reduced strain by radial compression
US10072892B2 (en) * 2015-10-26 2018-09-11 Globalwafers Co., Ltd. Semiconductor wafer support ring for heat treatment

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03263823A (ja) * 1990-03-14 1991-11-25 Tokyo Electron Ltd 処理用ボート
JPH04144124A (ja) * 1990-09-17 1992-05-18 Mitsubishi Materials Corp 縦型熱処理炉用ウェーハボート
US5310339A (en) * 1990-09-26 1994-05-10 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus having a wafer boat
US5458688A (en) * 1993-03-09 1995-10-17 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Heat treatment boat
JP3125199B2 (ja) * 1993-03-18 2001-01-15 東京エレクトロン株式会社 縦型熱処理装置
US5626680A (en) * 1995-03-03 1997-05-06 Silicon Valley Group, Inc. Thermal processing apparatus and process
US5605574A (en) * 1995-09-20 1997-02-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor wafer support apparatus and method

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100475011B1 (ko) * 1997-09-22 2005-05-16 삼성전자주식회사 박막형성장치,그제조방법및이를이용한박막형성방법
FR2771084A1 (fr) * 1997-11-20 1999-05-21 Lg Electronics Inc Une cassette de chargement pour substrat en verre
JP2002110585A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置とその設計方法及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2002246449A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Nippon Steel Corp ウェハ支持部材、ウェハ保持具およびウェハ保持装置
JP4589545B2 (ja) * 2001-02-19 2010-12-01 新日本製鐵株式会社 ウェハ支持部材、ウェハ保持具およびウェハ保持装置
US6799940B2 (en) 2002-12-05 2004-10-05 Tokyo Electron Limited Removable semiconductor wafer susceptor
JP2010157755A (ja) * 2004-01-20 2010-07-15 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
JPWO2006035879A1 (ja) * 2004-09-30 2008-05-15 株式会社日立国際電気 熱処理装置及び基板の製造方法
JP4833074B2 (ja) * 2004-09-30 2011-12-07 株式会社日立国際電気 熱処理装置、熱処理方法、基板の製造方法及び半導体装置の製造方法
JP2006278806A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 熱処理装置
KR100657502B1 (ko) * 2005-04-25 2006-12-20 주식회사 테라세미콘 반도체 제조장치의 기판 로딩용 홀더 제조방법 및 이홀더가 장착된 배치식보트
JP2014175510A (ja) * 2013-03-11 2014-09-22 Tokyo Electron Ltd 支持部材及び半導体製造装置
WO2017110552A1 (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 昭和電工株式会社 ウェハ支持機構、化学気相成長装置およびエピタキシャルウェハの製造方法
US11427929B2 (en) 2015-12-21 2022-08-30 Showa Denko K.K. Wafer supporting mechanism, chemical vapor deposition apparatus, and epitaxial wafer manufacturing method
JP2021019143A (ja) * 2019-07-23 2021-02-15 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム
KR20220058984A (ko) * 2020-11-02 2022-05-10 명지대학교 산학협력단 실리콘 웨이퍼 습식 식각 장치 및 이의 조립 공정

Also Published As

Publication number Publication date
US5820367A (en) 1998-10-13
KR970018349A (ja) 1997-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0992625A (ja) 熱処理用ボ−ト
KR100290047B1 (ko) 열처리용보트
JP3348936B2 (ja) 縦型熱処理装置
JP3245246B2 (ja) 熱処理装置
JP3125199B2 (ja) 縦型熱処理装置
KR19980703007A (ko) 열처리장치
JPH09251961A (ja) 熱処理用ボート
JPH09199438A (ja) 熱処理用治具
JP3333577B2 (ja) 熱処理用ボート及び縦型熱処理装置
JP2007073865A (ja) 熱処理装置
JPH10242067A (ja) 熱処理用基板支持具
JPH1050626A (ja) 縦型ウエハ支持装置
JP2005101161A (ja) 熱処理用支持具、熱処理装置、熱処理方法、基板の製造方法及び半導体装置の製造方法
JP2006128316A (ja) 熱処理用縦型ボートおよび熱処理方法
JP3507624B2 (ja) 熱処理用ボ−ト及び熱処理装置
JP2001358086A (ja) ウェーハの熱処理方法とその装置
TWI797779B (zh) 直立型熱處理爐處理舟及半導體晶圓的熱處理方法
JP3084232B2 (ja) 縦型加熱処理装置
JP5724788B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2005086132A (ja) 熱処理装置、半導体装置の製造方法、基板の製造方法及び基板処理方法
JP3761646B2 (ja) 縦型ウエハ処理治具
JP2008085206A (ja) 半導体ウェーハ熱処理用ボートおよび半導体ウェーハの熱処理方法
JPH07326593A (ja) 熱処理装置及び熱処理方法
JP2006080294A (ja) 基板の製造方法
JPH08107080A (ja) 縦型ウェ−ハボ−ト