JPH09306009A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成により、コストが低減されるよう
にした、ＣＤ−Ｒの記録再生のための光学ピックアップ
及び光ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 光源として異なる波長を有する記録用光
ビームと検出用光ビームを出射する二つの半導体レーザ
素子２４，２１ｃを備えるように、光学ピックアップ２
０を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、一度だけ
書き込みが可能なコンパクトディスク（以下、ＣＤ−Ｒ
という）等の記録を行うことができるとともに、光ディ
スクの再生を行うことができる光学ピックアップ及び光
ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＣＤ−Ｒの記録再生を行なうため
の光学ピックアップは、図１１に示すように構成されて
いる。図１１において、光学ピックアップ１は、半導体
レーザ素子２，グレーティング３，ビームスプリッタ
４，コリメータレンズ５，立ち上げミラー６，対物レン
ズ７，平凸レンズ８及び光検出器９と、半導体レーザ素
子２の出力モニタ用の光検出器９ａとから構成されてい
る。

【０００３】このような構成の光学ピックアップ１によ
れば、半導体レーザ素子２から出射された光ビームは、
グレーティング３によりメインビーム及びサイドビーム
に分割された後、ビームスプリッタ４の反射面４ａで反
射され、さらにコリメータレンズ５により平行光に変換
され、対物レンズ７を介して、光ディスクＤの信号記録
面上のある一点に集束され、記録が行なわれる。

【０００４】また、光ディスクＤの信号記録面で反射さ
れた戻り光ビームは、再び対物レンズ７を介して、立ち
上げミラー６で反射された後、コリメータレンズ５を介
して、ビームスプリッタ４に入射する。ここで、戻り光
ビームは、ビームスプリッタ４を透過して、平凸レンズ
８を介して、光検出器９の受光部に入射する。これによ
り、光検出器９の受光部から出力される検出信号に基づ
いて、光ディスクＤの信号記録面に記録された情報の再
生または記録時のモニタが行なわれると共に、対物レン
ズのサーボエラー信号が検出され、このサーボエラー信
号に基づいて、対物レンズのサーボが行なわれる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体レー
ザ素子２による記録は、以下のように行なわれる。即
ち、図１２において、図式的に示された記録データに対
して、半導体レーザ素子２のパワー制御は、レベル１と
なる立上りで、光ディスクＤの記録膜を急激に加熱する
ために、瞬間的に比較的高いパワーａに設定され、ピッ
ト形成開始後は、ピット形成を持続するために必要な出
力レベルｂに保持される。これに対して、レベル０の状
態では、光ディスクＤからの戻り光により、対物レンズ
のサーボエラー信号を検出するために必要なパワーｃに
絞られることになる。

【０００６】ここで、パワーｃにおいては、半導体レー
ザ素子２が記録用として高出力のものが使用されている
ために、ノイズ（所謂スクープ効果）が発生しやすいの
で、図１２で拡大して示すように、数１０ＭＨｚで高速
スイッチングを行なうことにより、サーボエラー信号の
安定化が図られている。

【０００７】これにより、サーボエラー信号は、図１２
に示すように、上記パワーａ，ｂの期間では、検出が困
難であることから、記録データが０レベルの間で、且つ
前後のΔＴのマージン期間を除いた部分にて、光検出器
９の検出信号をサンプリングすることによって、検出信
号を平坦化して、サーボエラー信号が検出されるように
なっている。これは、記録の際に、ピット形成によって
信号記録面の反射率が変化してしまい、且つ半導体レー
ザ素子２の出力もパワーａ，ｂと途中で変動することか
ら、サーボエラー信号のＳ／Ｎが十分に得られなくなる
ことによる。従って、対物レンズのサーボエラーを検出
するために、上述のような処理をするための複雑な回路
が必要となり、製造コストが高くなってしまうという問
題があった。

【０００８】また、半導体レーザ素子２の出力光とし
て、７８０ｎｍ帯の赤外光を使用する場合、対物レンズ
のトラッキングエラー検出のためには、７７０ｎｍより
長い波長が必要であり、また記録感度のためには、７９
０ｎｍより短い波長が必要となるので、使用可能な波長
帯域が狭くなってしまう。従って、半導体レーザ素子の
波長が温度依存性を有していることもあって、７８０プ
ラスマイナス１０ｎｍの半導体レーザ素子が必要となる
が、半導体レーザ素子は、製造の際のバラツキを厳しく
管理する必要があり、歩留りを考えると、製造コストが
高価になってしまうという問題があった。

【０００９】本発明は、以上の点に鑑み、簡単な構成に
より、コストが低減されるようにした、光ディスクの記
録再生のための光学ピックアップ及び光ディスク装置を
提供することを目的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、この光源から出射さ
れた光ビームを信号記録面に集束させる対物レンズと、
前記光源と対物レンズの間に配設された光分離手段と、
光ディスクの信号記録面で反射された戻り光ビームを受
光する光検出器と、光検出器からの検出信号に基づい
て、対物レンズのサーボエラー信号を生成する検出回路
とを含んでおり、前記光源として互いに異なる波長を有
する記録用光ビームと検出用光ビームとを出射する二つ
の半導体レーザ素子を備えている、光学ピックアップに
より、達成される。

【００１１】上記構成によれば、記録用及び検出用にそ
れぞれ専用の半導体レーザ素子が備えられているので、
検出用の半導体レーザ素子による光ディスクからの戻り
光を光検出器により検出して、サーボエラー信号が生成
される。

【００１２】従って、第一の半導体レーザ素子からの比
較的短い波長を有する光が、対物レンズにより光ディス
クの信号記録面に集束され、光ディスクの記録が行なわ
れる。 また、第二の半導体レーザ素子からの比較的長
い波長の光が、対物レンズにより光ディスクの信号記録
面に対して集束され、光ディスクの信号記録面からの戻
り光が光検出器に入射する。これにより、光検出器から
の検出信号に基づいて、常にサーボエラー信号が検出さ
れることになるので、従来のように、記録時に中断され
ることがなく、常に正確な対物レンズのサーボが行われ
ることになる。また、記録用スポットと検出用スポット
がそれぞれ独立的に制御されるので、制御回路の構成が
簡単になる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図９を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００１４】図１は、本発明による光学ピックアップの
一実施形態を組み込んだ光ディスク装置の構成を示して
いる。図１において、光ディスク装置１０は、光ディス
ク１１を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモー
タ１２と、光学ピックアップ１３を備えている。ここ
で、スピンドルモータ１２は、光ディスクドライブコン
トローラ１４により駆動制御され、所定の回転数で回転
される。光ディスク１１は、複数の種類の光ディスクを
選択して、それぞれ再生できるようになっている。

【００１５】また、光学ピックアップ１３は、この回転
する光ディスク１１の信号記録面に対して、光を照射し
て、信号の記録を行ない、またはこの信号記録面からの
戻り光を検出するために、信号復調器１５に対して戻り
光に基づく再生信号を出力する。

【００１６】これにより、信号復調器１５にて復調され
た記録信号は、誤り訂正回路１６を介して誤り訂正さ
れ、インターフェイス１７を介して、外部コンピュータ
等に送出される。これにより、外部コンピュータ等は、
光ディスク１１に記録された信号を再生信号として受け
取ることができるようになっている。

【００１７】上記光学ピックアップ１３には、例えば光
ディスク１１上の所定の記録トラックまで、トラックジ
ャンプ等により移動させるためのヘッドアクセス制御部
１８が接続されている。さらに、この移動された所定位
置において、光学ピックアップ１３の対物レンズを保持
する二軸アクチュエータ（後述）に対して、当該対物レ
ンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向に移動
させるためのサーボ回路１９が接続されている。

【００１８】図２は、上記光ディスク装置１０に組み込
まれた光学ピックアップの好適な実施形態を示してい
る。図２において、光学ピックアップ２０は、受発光装
置２１，波長分離手段としての二波長分離プリズム（ダ
イクロックミラー）２２，コリメータレンズ２３，対物
レンズ２４と、光源としての半導体レーザ素子２５，レ
ンズ２６及び半導体レーザ素子２５の出力モニタ用光検
出器２７とから構成されている。

【００１９】上記受発光装置２１は、図３に示すよう
に、第一の半導体基板２１ａ上に光出力用の第二の半導
体基板２１ｂが載置され、この第二の半導体基板２１ｂ
上に発光素子としての半導体レーザ素子２１ｃが搭載さ
れている。半導体レーザ素子２１ｃの前方の第一の半導
体基板２１ａ上には、台形形状のマイクロプリズム２１
ｄが、その半透過面としての傾斜面２１ｅを半導体レー
ザ素子２１ｃ側にして、設置されている。ここで、上記
マイクロプリズム２１ｄは、その傾斜面２１ｅが、例え
ば７８０ｎｍ程度の比較的長い波長の光ビームに対し
て、ほぼ５０％の反射率を有する光学膜２２ａが形成さ
れている。

【００２０】これにより、半導体レーザ素子２１ｃから
第二の半導体基板２１ｂの表面に平行に出射した光ビー
ムは、マイクロプリズム２１ｄの傾斜面にて反射され
て、上方に向かって進み、二波長分離プリズム２２及び
対物レンズ２３を介して、光ディスクＤに達することに
なる。また、光ディスクＤの信号記録面からの戻り光
は、対物レンズ２３及び二波長分離プリズム２２を介し
て、マイクロプリズム２１ｄの傾斜面２１ｅに形成され
た光学膜２２ａがほぼ５０％の透過率を有しているた
め、透過してマイクロプリズム２１ｄの底面に達する。
このマイクロプリズム２１ｄの底面に達した戻り光は、
一部がこの底面を透過すると共に、一部がこの底面で反
射され、マイクロプリズム２１ｄの上面に向かって進
む。

【００２１】ここで、マイクロプリズム２１ｄの戻り光
入射位置の下部の第一の半導体基板２１ａ上には、第一
の光検出器２１ｆが形成されている。また、上記底面で
反射された戻り光は、マイクロプリズム２１ｄの上面に
て反射されて、再びマイクロプリズム２１ｄの底面に入
射される。そして、マイクロプリズム２１ｄの上面で反
射された戻り光の入射されるマイクロプリズム２１ｄの
底面部分の下部の第一の半導体基板２１ａには、第二の
光検出器２１ｇが形成されている。

【００２２】上記第一の光検出器２１ｆ，第二の光検出
器２１ｇは、それぞれ複数の受光部に分割されており、
各受光部の検出信号がそれぞれ独立して出力されるよう
になっている。尚、第二の半導体基板２１ｂ上には、半
導体レーザ素子２１ｃの出射側とは反対側に、第三の光
検出器２１ｈが備えられている。この第三の光検出器２
１ｈは、半導体レーザ素子２１ｃの発光強度をモニタす
るためのものである。

【００２３】上記半導体レーザ素子２１ｃは、半導体の
再結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用
される。この場合、半導体レーザ素子２１ｃは、ＣＤ
（コンパクトディスク）やＣＤ−ＲＯＭ（リードオンリ
ーメモリ）等の光ディスクの再生に対応した、例えば７
８０ｎｍ程度の比較的長い波長の光ビームを出射するよ
うに、構成されている。

【００２４】上記二波長分離プリズム２２は、図示のよ
うに、二つのガラス製三角柱を張り合わせることにより
構成されており、その張り合わせ面に、図８に示すよう
に、例えば７８０ｎｍ程度の比較的長い波長の光ビーム
に対して、ほぼ１００％の透過率を有し、且つ例えば６
３５乃至６８０ｎｍ程度の比較的短い波長の光ビームに
対して、ほぼ１００％の反射率を有する光学膜２２ａが
形成されている。

【００２５】これにより、前記半導体レーザ素子２１ｃ
からの比較的長い波長の光ビームは、二波長分離プリズ
ム２２を透過して、コリメータレンズ２３により平行光
に変換された後、対物レンズ２４を介して、光ディスク
Ｄに導かれ、その戻り光は、同様にして二波長分離プリ
ズム２２を透過して、受発光装置２１の第一及び第二の
光検出器２１ｆ，２１ｇに達する。また、後述するよう
に、半導体レーザ素子２５からの比較的短い波長の光
は、二波長分離プリズム２２で反射され、コリメータレ
ンズ２３及び対物レンズ２４を介して、光ディスクＤに
導かれ、その戻り光は、二波長分離プリズム２２が図８
に示すように、ほぼ０％の透過率を有するので、二波長
分離プリズム２２で反射され、受発光装置２１の第一及
び第二の光検出器２１ｆ，２１ｇに入射することはな
い。

【００２６】コリメータレンズ２３は、凸レンズであっ
て、二波長分離プリズム２２から出射した光ビームを平
行光に変換する。

【００２７】対物レンズ２４は、図２に示すように、凸
レンズであって、コリメータレンズ２３からの平行光
を、回転駆動される光ディスクＤの信号記録面の所望の
トラック上に集束させる。

【００２８】ここで、対物レンズ２４は、図示しない二
軸アクチュエータにより、二軸方向即ちフォーカシング
方向及びトラッキング方向に移動可能に支持されている
と共に、図１のサーボ回路１９によってフォーカスサー
ボ及びトラッキングサーボが行なわれ、また光ディスク
ドライブコントローラ１４により、光ディスクＤの線速
度が制御されるようになっている。

【００２９】上記半導体レーザ素子２５は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、第二の半導体レー
ザ素子として使用される。この場合、半導体レーザ素子
２５は、例えばＣＤ−Ｒの記録に対応した、例えば６３
５乃至６９０ｎｍ程度の比較的短い波長の光ビームを出
射するように、構成されている。

【００３０】レンズ２６は、図示の場合、凹レンズであ
るが、凸レンズであってもよい。レンズ２６は、図５に
示すように、上記半導体レーザ素子２５と二波長分離プ
リズム２２との間の光路中にて、光軸からΔεだけ偏心
して、且つ光軸の周りに回動可能に配設されている。

【００３１】本発明実施形態による光学ピックアップ２
０は、以上のように構成されており、ＣＤ−Ｒの記録時
には、受発光装置２１の半導体レーザ素子２１ｃと半導
体レーザ素子２５が発光する。これにより、半導体レー
ザ素子２５からの例えば６３５乃至６８０ｎｍの波長を
有する光ビームは、レンズ２６を介して、二波長分離プ
リズム２２にて反射され、コリメータレンズ２３及び対
物レンズ２４を介して、光ディスクＤに照射される。従
って、半導体レーザ素子２５のパワーが、記録すべき記
録データに基づいて制御されて、光ディスクＤへの記録
が行なわれる。この際、半導体レーザ素子２５のパワー
は、光検出器２７によってモニタされており、このモニ
タ結果に基づいて、正確に制御されるようになってい
る。

【００３２】光ディスクＤからの戻り光は、再び対物レ
ンズ２４，コリメータレンズ２３を介して、二波長分離
プリズム２２にて反射されるので、受発光装置２１に入
射するようなことはない。

【００３３】他方、受発光装置２１の半導体レーザ素子
２１ｃからの比較的長い波長を有する光ビームは、プリ
ズム２１ｄの傾斜面２１ｅにて５０％以上が反射され、
さらに二波長分離プリズム２２をほぼ１００％が透過し
た後、コリメータレンズ２３，対物レンズ２４を介し
て、光ディスクＤに照射される。

【００３４】光ディスクＤからの戻り光は、再び対物レ
ンズ２４，コリメータレンズ２３を介して、さらに二波
長分離プリズム２２を透過した後、受発光装置２１のプ
リズム２１ｄの傾斜面２１ｅにて一部が透過して、第一
及び第二の光検出器２１ｆ，２１ｇに集束する。これに
より、受発光装置２１の各光検出器２１ｆ，２１ｇから
の検出信号に基づいて、光ディスクＤの記録信号が再生
されると共に、サーボ信号が生成され、サーボ回路１９
により対物レンズのフォーカスサーボ及びトラッキング
サーボが行なわれ、また光ディスクドライブコントロー
ラ１４によって、光ディスクＤの線速度が制御される。

【００３５】ここで、半導体レーザ素子２５からの光ビ
ームは、図４に示すように、光ディスクＤ上の一つのグ
ルーブに対して、スポットＬ１を形成する。これに対し
て、受発光装置２１の半導体レーザ素子２１ｃからの光
ビームは、図４に示すように、光ディスクＤ上の同じグ
ルーブに対して、ディスク回転方向Ｘに関して後方に、
スポットＬ２を形成する。従って、スポットＬ１は、デ
ィスク回転方向Ｘに関して、先行するように配設されて
いる。

【００３６】このスポットＬ１，Ｌ２が同一グルーブ上
に正確に整列させるためには、上記レンズ２６を光軸の
周りに回動させればよい。これは、図５に示すように、
レンズ２６の光軸ずれΔεに対して、レンズ２６を透過
した光ビームは、θだけ光軸倒れが発生することにな
る。このθは、半導体レーザ素子２５とレンズ２６の距
離をＬとしたとき、

【数１】 で表わされる。従って、対物レンズ２４により光ディス
クＤ上に形成されるスポットＬ１は、対物レンズ２４の
焦点距離をＦｃとしたとき、

【数２】 なる距離ΔＥだけ、光軸から離れた位置に形成されるこ
とになる。

【００３７】従って、レンズ２６を図６に示すように、
光軸の周りに回動することにより、スポットＬ１は、図
７に示すスポットＬ２の周りに半径ΔＥの円を描くこと
になるので、レンズ２６を適宜に回動調整することによ
り、スポットＬ１とスポットＬ２とは同一グルーブ上に
形成されることになる。

【００３８】光ディスクＤ（ＣＤ−Ｒ）の記録の際に
は、スポットＬ２による戻り光が受発光装置２１により
検出されて、常にフォーカスサーボ及びトラッキングサ
ーボが行なわれると共に、光ディスクの線速度が制御さ
れ、同時に半導体レーザ素子２５のパワーが、図１２に
示すように制御される。しかし、記録データがレベル１
の場合には、パワーａ，ｂで記録が行なわれ、また記録
データがレベル０の場合には、半導体レーザ素子２５か
らの光ビームは、対物レンズのサーボエラー信号の検出
に使用されないので、半導体レーザ素子２５の出力はゼ
ロでよい。

【００３９】尚、上述したパワーａ，ｂの制御は、スポ
ットＬ１での記録後、記録されたピットをスポットＬ２
により受発光装置２１で検出し、この検出信号に基づい
て、例えばジッターが最適となるように、半導体レーザ
素子２５の駆動回路（図示せず）を制御することによ
り、行なわれる。さらに、半導体レーザ素子２５のパワ
ーを光検出器２７により直接にモニタすることによっ
て、より高精度のパワー制御が可能になる。この場合、
二波長分離プリズム２２は、その光学膜２２ａの光学特
性が、例えば図９に示すように、６３５乃至６８０ｎｍ
の波長に対して透過率が０％でなく、且つモニタ用の光
検出器２１ｆ，２１ｇの検出信号におけるＳ／Ｎが確保
できる範囲内で、０％でない値をすることも可能であ
る。

【００４０】ここで、スポットＬ１の半径φＤは、波長
λと開口数ＮＡに対して、

【数３】 で表わされる。そして、半導体レーザ素子２５の記録時
の熱源としてのパワーは、スポットＬ１の面積に比例す
る。また、ＣＤ−Ｒのメディアは、光吸収特性が波長依
存性を有し、例えば吸収係数Ｒは、７８０ｎｍでは約２
０％，６５０ｎｍでは約８０％になる。

【００４１】従って、従来のＮＡ０．５，波長７８０ｎ
ｍでの二倍速でのＣＤ−Ｒの記録パワーは、１０ｍＷ程
度必要であったが、記録用光ビームの波長が、従来の７
８０ｎｍ程度から６３５乃至６９０ｎｍ程度になったこ
とにより、例えば６５０ｎｍでの記録パワーＰは、

【数４】 となり、従来の約１／５乃至１／６になる。かくして、
特別の高出力半導体レーザ素子を使用しなくても、通常
の再生用半導体レーザ素子を使用することが可能とな
り、コストが低減されることになる。

【００４２】図１０は、本発明による光学ピックアップ
の第二の実施形態を示している。図１０において、光学
ピックアップ３０は、コリメータレンズ２３及び光検出
器２７が省略されている点と、対物レンズ２４が有限系
レンズである点を除いては、図２の光学ピックアップ２
０と同じ構成である。

【００４３】このような構成の光学ピックアップ３０に
よれば、図２の光学ピックアップ２０とほぼ同様に、光
ディスクＤに関して、記録データの記録及びモニタ、そ
して再生が行われると共に、記録時であっても、検出用
光ビームが受発光装置２１によって検出されるので、対
物レンズのサーボエラー信号が常に検出されることにな
り、正確なサーボ制御が行われる。さらに、この実施形
態においては、コリメータレンズ２３及び光検出器２７
が省略されていることにより、部品点数が少なくて済
み、部品コスト及び組立コストが低減されることにな
る。

【００４４】尚、上記実施形態においては、受発光装置
２１の受光部は、二波長分離プリズム２２の透過側に配
設されているが、これに限らず、反射側に配設されてい
てもよい。この場合、各波長の光に関する光学系は、二
波長分離プリズムに対して逆に配設されることになる。

【００４５】また、上記実施形態においては、ＣＤ−Ｒ
の記録時についてのみ説明されているが、これに限ら
ず、ＣＤ−Ｒの再生あるいはＣＤ−ＲＯＭの再生も可能
であることは明らかである。

【００４６】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、簡
単な構成により、コストが低減されるようにした、光デ
ィスクの記録再生のための光学ピックアップ及び光ディ
スク装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ピックアップの第一の実施形
態を組み込んだ光ディスク装置の構成を示すブロック図
である。

【図２】図１の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの第一の実施形態の構成を示す概略側面図である。

【図３】図２の光学ピックアップにおける受発光装置の
構成例を示す断面図である。

【図４】図２の光学ピックアップにおける受発光装置及
び半導体レーザ素子からの光ビームによる光ディスク上
のスポットを示す拡大平面図である。

【図５】図２の光学ピックアップにおける偏心レンズに
よる光軸の傾きを示す概略図である。

【図６】図２の光学ピックアップにおける偏心レンズの
正面図である。

【図７】図２の光学ピックアップにおける偏心レンズに
よる光ディスク上でのスポットの光軸ずれを示す概略図
である。

【図８】図２の光学ピックアップにおける二波長分離プ
リズムの光学特性の一例を示すグラフである。

【図９】図２の光学ピックアップにおける二波長分離プ
リズムの光学特性の他の例を示すグラフである。

【図１０】本発明による光学ピックアップの第二の実施
形態を示す概略図である。

【図１１】従来の光学ピックアップの一例を示す概略図
である。

【図１２】記録の際の半導体レーザ素子の出力制御の様
子を示す図である。

【符号の説明】

１０・・・光ディスク装置、１１・・・光ディスク、１
２・・・スピンドルモータ、２１・・・光学ピックアッ
プ、１４・・・光ディスクドライブコントローラ、１５
・・・信号復調器、１６・・・誤り訂正回路、１７・・
・インターフェイス、１８・・・ヘッドアクセス制御
部、２０・・・光学ピックアップ、２１・・・受発光装
置、２１ｃ・・・半導体レーザ素子（検出用）、２２・
・・二波長分離プリズム、２３・・・コリメータレン
ズ、２４・・・対物レンズ、２５・・・半導体レーザ素
子（記録用）、３０・・・光学ピックアップ。

フロントページの続き (72)発明者 石橋 淳一 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを出射する光源と、 この光源から出射された光ビームを信号記録面に集束さ
   せる対物レンズと、 前記光源と対物レンズの間に配設された光分離手段と、 光ディスクの信号記録面で反射された戻り光ビームを受
   光する光検出器と、 光検出器からの検出信号に基づいて、対物レンズのサー
   ボエラー信号を生成する検出回路とを含んでおり、 前記光源として互いに異なる波長を有する記録用光ビー
   ムと検出用光ビームとを出射する二つの半導体レーザ素
   子を備えていることを特徴とする光学ピックアップ。
2. 【請求項２】 前記二つの半導体レーザ素子のうち、第
   一の半導体レーザ素子が、光ディスクの記録に適した、
   例えば６３５乃至６９０ｎｍ程度の比較的短い波長を有
   しており、第二の半導体レーザ素子が、光ディスクの再
   生及び対物レンズのサーボエラー検出に適した、例えば
   ７８０ｎｍ程度の比較的長い波長を有していることを特
   徴とする請求項１に記載の光学ピックアップ。
3. 【請求項３】 第一の半導体レーザ素子からの記録用光
   ビームの光ディスク上のスポットが、第二の半導体レー
   ザ素子からの検出用光ビームの光ディスク上のスポット
   に対して、同一グルーブ上で離れて先行して位置するよ
   うに、対物レンズの光軸に対して偏心し且つ対物レンズ
   の光軸の周りに回動調整可能に、レンズが設けられてい
   ることを特徴とする請求項１に記載の光学ピックアッ
   プ。
4. 【請求項４】 第一の半導体レーザ素子の出力制御が、
   光検出器の検出信号から生成された再生信号に基づい
   て、行なわれることを特徴とする請求項１に記載の光学
   ピックアップ。
5. 【請求項５】 二つの半導体レーザ素子からの出射光
   を、それぞれ反射及び透過させることにより、対物レン
   ズに導く波長分離手段を備えていることを特徴とする、
   請求項１に記載の光学ピックアップ。
6. 【請求項６】 光ディスクを回転駆動する駆動手段と、 回転する光ディスクに対して対物レンズを介して光を照
   射し、光ディスクからの信号記録面からの戻り光を対物
   レンズを介して光検出器により検出する光学ピックアッ
   プと、 対物レンズを二軸方向に移動可能に支持する二軸アクチ
   ュエータと、 光検出器からの検出信号に基づいて、再生信号を生成す
   る信号処理回路と、 光検出器からの検出信号に基づいて、光学ピックアップ
   の対物レンズを二軸方向に移動させるサーボ回路と、を
   含んでおり、 前記光学ピックアップが、 光ビームを出射する光源と、 この光源から出射された光ビームを信号記録面に集束さ
   せる対物レンズと、 前記光源と対物レンズの間に配設された光分離手段と、 光ディスクの信号記録面で反射された戻り光ビームを受
   光する光検出器と、 光検出器からの検出信号に基づいて、対物レンズのサー
   ボエラー信号を生成する検出回路とを含んでおり、 前記光源として互いに異なる波長を有する記録用光ビー
   ムと検出用光ビームとを出射する二つの半導体レーザ素
   子を備えていることを特徴とする、光ディスク装置。