JPH092836A - 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク - Google Patents

磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク

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JPH092836A
JPH092836A JP10033196A JP10033196A JPH092836A JP H092836 A JPH092836 A JP H092836A JP 10033196 A JP10033196 A JP 10033196A JP 10033196 A JP10033196 A JP 10033196A JP H092836 A JPH092836 A JP H092836A
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glass
glass substrate
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JP10033196A
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Ichiro Hayashi
一郎 林
Takashi Maeda
敬 前田
Kazuo Mannami
和夫 万波
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Abstract

(57)【要約】 【課題】充分な機械的強度があり、かつガラス基板上の
金属磁性膜の腐食を改善するガラス基板を提供する。 【解決手段】組成が重量%表示で実質的にSiO2 :5
0〜65、Al23 :5〜15、Na2 O:2〜7、
2 O:4〜9、Na2 O+K2 O:7〜14、MgO
+CaO+SrO+BaO:12〜25、ZrO2 :1
〜6、であるガラスを化学強化処理してなる磁気ディス
ク用ガラス基板。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク用ガラ
ス基板および磁気ディスクに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスクは、基板の上にスパッタ、
メッキ、蒸着等のプロセスにより磁性膜および保護膜が
形成されたものであり、一般にガラスは表面の平滑性に
優れ、硬く、変形抵抗が大きく、かつ表面欠陥が少ない
等の理由から高密度化に適した磁気ディスク用基板の材
料として注目されている。
【0003】ガラス基板として比較的安価なアルカリを
含むガラス、たとえばソーダライムシリカガラス、を用
いた場合、特に多湿環境下やエイジング処理をした場合
において磁性膜のピンホール部または磁性膜の周辺部な
ど磁性膜が薄い部分またはガラスが露出した部分からア
ルカリイオンが析出し、これが引きがねとなって磁性膜
が腐食または変色することが見出されている。
【0004】これを回避するためにはアルカリ含有量の
きわめて低いガラス、たとえばノンアルカリガラスを用
いればよいことになる。
【0005】しかし、ノンアルカリガラスを用いたので
は、実用上充分な強度を得ることが難しい。これは、イ
オン交換強化処理を行えないためである。実用上充分な
強度を得るために施すガラスの強化処理としては、風冷
強化やイオン交換強化があるが、厚さの薄いディスク用
ガラス基板においては、平坦性を保持するため、低温で
行えるイオン交換強化処理を採用する必要がある。イオ
ン交換処理とは、具体的には、Naを含むガラスの転移
温度以下の温度でガラス中のNa+ イオンをそれよりイ
オン半径の大きいK+ イオンと交換する処理である。
【0006】ガラスに含有されるアルカリは上記したよ
うにイオン交換される成分であるから、ノンアルカリガ
ラスはイオン交換強化の対策になり得ない。したがって
低温型イオン交換処理を行う以上は基板ガラスはアルカ
リを含むガラスでなければならない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述のように磁気ディ
スクなどのガラス基板に要求される(1)多湿環境下ま
たはエイジングによる磁性膜の劣化を生起させないこ
と、および(2)実用上充分な強度を有すること、は相
反する性質であり、両者を満足することは難しい。
【0008】本発明の目的は、充分な機械的強度を得る
ためにイオン交換強化ができ、かつ従来のソーダライム
ガラスシリカで問題となっていたガラス基板上の金属磁
性膜の腐食を改善するガラス基板を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、組成が重量%
表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al23 5〜15、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO+CaO+SrO+BaO 12〜25、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる磁気ディスク用
ガラス基板である。
【0010】本発明におけるガラス基板用ガラスの各成
分について以下に説明する。SiO2 はガラスのネット
ワークフォーマーであり、本発明では、50〜65重量
%とする。これが少ないと化学的耐久性が低下し、多す
ぎると熔解が困難になる傾向がある。より好ましくは5
2〜62重量%である。
【0011】Al23 はガラスの化学的耐久性を向上
させるとともに、ガラス表層部のアルカリ金属をよりイ
オン半径の大きいアルカリ金属で置換するイオン交換の
速度を増大させ、深い圧縮応力を形成させやすくする作
用があり、本発明では5〜15重量%とする。これが多
すぎると、熔解が困難になる。より好ましくは6〜9重
量%、特に好ましくは6〜8重量%である。
【0012】Na2 Oはガラス熔解時のフラックスとし
て作用するとともに、化学強化時にイオン交換される主
たる成分となる。本発明では、2〜7重量%とする。こ
れが多すぎると、化学的耐久性が低下するだけでなく、
Na+ イオンがガラス基板表面へ多く析出するようにな
るため、磁性膜の耐食性が劣化するおそれがある。
【0013】K2 Oの添加は化学強化時のイオン交換の
速度を向上させる。また、Na2 Oを一部置換すること
により、Na2 Oの添加量を低減させ、磁性膜の耐食性
を高めうる。K2 Oの添加量は4〜9重量%とする。K
2 Oが多くなり、Na2 Oが相対的に少なくなりすぎる
と、イオン交換そのものが起こりにくくなる。K2 O+
Na2 Oは以上の観点で、7〜14重量%とする。
【0014】MgO、CaO、SrOおよびBaOはガ
ラス熔解時のフラックスとしての作用があり、熔解を促
進させるために添加される。これを超えると、ガラスの
失透温度が高くなり、製板が困難になるおそれがある。
【0015】フロート法による成形を容易にするために
は、MgOは0.5〜5重量%とし、CaOは2〜8重
量%とし、またMgO+CaOは2.5〜10重量%と
することが好ましい。これらが多すぎると、失透温度が
高くなりフロート法による成形が困難になるおそれがあ
る。失透温度をある程度低くすることはフロート法によ
る成形性を確保するうえで重要である。つまり、フロー
ト法成形は、粘度104 ポイズ程度で行われるため、失
透温度が104 ポイズに相当する粘度を持つ温度より低
いガラスでないとフロート法による成形が難しくなる。
また、本発明において、CaOは、後に述べる発明者ら
の実験によると、多すぎる場合に化学強化が入りにくく
なる傾向がある。
【0016】以上の観点から、MgOは、より好ましく
は1〜3重量%である。またCaOは。より好ましくは
2〜5.5重量%であり、特に好ましくは3〜5.5重
量%である。さらに、MgO+CaOは、より好ましく
は4〜9重量%である。
【0017】SrOはフロート法による成形を容易にす
るためには、4〜10重量%とすることが好ましい。こ
れが多すぎると失透温度が高くなる。より好ましくは6
〜9重量%である。また、BaOは5〜12重量%とす
ることが好ましい。これも多すぎると、失透温度が高く
なる。より好ましくは6〜11重量%である。
【0018】ZrO2 は化学的耐久性を向上させる効果
がある。本発明では1〜6重量%とする。多すぎると、
熔解性が低下するおそれがある。好ましくは2〜5重量
%である。
【0019】本発明によるガラス基板は上記成分以外
に、ガラスの熔解性、清澄性、成形性を改善するため、
As23 、Sb23 、P25 、F、Cl、SO3
を合量で2重量%以下添加できる。また、ガラスの化学
的耐久性向上のため、La23 、TiO2 、SnO
2 、ZnOを合量で5重量%以下添加できる。さらに、
Fe23 、CoO、NiO、Nd23 等の着色材を
添加してガラスの色調を調整できる。この着色材の含有
量は合量で1重量%以下が好ましい。なお、K2 O、N
2 Oなどのアルカリ成分は、この若干量をLi2 Oに
置換できる。Li2Oの含有量は1重量%以下が好まし
い。
【0020】本発明のガラスは、たとえば、次のような
方法で製造できる。すなわち、通常使用される各成分の
原料を目標成分になるように調合し、これを熔解炉に連
続的に投入し、1500〜1600℃に加熱して、熔融
する。この熔融ガラスをフロート法により所定の板厚に
成形し、徐冷後切断する。
【0021】本発明のガラス基板においては、所定のサ
イズに切断されたガラス板を化学強化処理する。化学強
化処理は公知の方法で行えばよい。すなわち、400〜
530℃の硝酸カリウムまたはこれと硝酸ナトリウムと
の混合液にガラス物品を2〜20時間程度浸漬した後取
り出し、徐冷することにより行える。
【0022】また、磁気ディスク上に必要に応じて所定
のテクスチャを形成するテクスチャ加工は、基板をドー
ナツ状に加工し、エッチング、研磨、洗浄した後、化学
強化処理の前に行われる。テクスチャ加工は、フッ酸の
液または蒸気を使用して行える。テクスチャ加工された
ガラス基板は化学強化処理がなされる。
【0023】本発明の磁気ディスク用ガラス基板によっ
て、磁気ディスクを形成するには、ガラス基板の上に順
次、下地層、磁性層、保護層、潤滑層を設ければよい。
【0024】本発明で用いられる磁気記録層としての磁
性層としては、Co−Cr系、Co−Cr−Pt系、C
o−Ni−Cr系、Co−Ni−Cr−Pt系、Co−
Ni−Pt系、Co−Cr−Ta系などのCo系合金を
好ましく採用できる。耐久性や磁気特性を向上するため
に、磁性層の下に設けられる下地層としては、Ni層、
Ni−P層、Cr層、SiO2 層などを採用できる。
【0025】本発明では、Cr層、Cr合金層、他の材
料からなる金属または合金層を磁性層の上または下に設
けうる。
【0026】保護層としては、50〜1000Åの厚み
のカーボンまたはシリカの層が使用でき、潤滑層を形成
するためには、30Å程度の厚みのパーフルオロポリエ
ーテル系の液体潤滑剤が使用できる。
【0027】
【実施例】
<板状ガラスの作成>表1に示した例1〜4の4種類の
組成について常法に従い調合・混合し、ガラスバッチを
調製した。次いで容量約500mlのPt−Rh10%
坩堝にガラスバッチを入れ1500℃で均質化のため約
1時間の撹拌を含め約4時間熔解し、カーボン板上に流
し出して板状とし徐冷後、常法に従い切断・研磨して約
1mm厚の板状ガラスサンプルを得た。表1には比較例
として通常のソーダライムシリカガラスも記載した(例
5)。
【0028】これらのガラスの失透温度、104 ポイズ
の温度、102 ポイズの温度、歪点温度を表1に併記す
る。
【0029】ついで例1〜5の板状ガラスサンプルを切
断・研磨して外径65mm、内径20mm、厚さ0.6
35mmのドーナツ状の円形ガラスディスク基板を各2
0枚作成した。
【0030】<ガラス基板の強度テスト>その後、上記
ガラスディスク基板の各10枚について化学強化処理を
行った。すなわち、例1〜4については480℃の熔融
硝酸カリウム塩に、また、例5については450℃の熔
融硝酸カリウム塩に、それぞれ10時間浸漬し、化学強
化処理を行った。
【0031】上記各ガラスディスク基板について、東芝
硝子製の主表面応力計FSW−60にて表面圧縮応力層
の厚みを測定した結果を表1に併記する。また、例1に
ついては、別途、500℃の熔融硝酸カリウム塩に10
時間浸漬し、化学強化処理を行ったところ、表面圧縮応
力層の厚みは20μmとなった。
【0032】表1に示した結果からは、本発明の実施例
にかかるガラス基板は10μm以上の表面圧縮応力層を
有し、かつCaOの含有量が5.5重量%未満のもの
は、14μm以上の表面圧縮応力層を有することがわか
る。すなわち、同条件で化学強化処理を行った場合、本
発明においては、CaOの含有量が少なくなると、表面
の圧縮応力相の深さは深くなり、化学強化が入りやすく
なる傾向がある。具体的には、前述したように、CaO
の含有量は2〜5.5重量%であることが好ましい。
【0033】前記ガラスディスク基板の未強化品および
強化品についてディスクの外周全周を支持し、内周部に
荷重をかける曲げ強度テストを各10枚のディスクにつ
いて行い平均強度を求めた。
【0034】例5の曲げ強度は未強化品が12.0kg
/mm2 、深さ20μmの圧縮応力層をもつ強化品が3
4.1kg/mm2 であった。これに対し、例1〜4未
強化品は15.5kg/mm2 であり、例1のガラス基
板に対して深さ20μmの圧縮応力層を形成した強化品
は43.6kg/mm2 であった。
【0035】これらの結果によれば、本発明のガラス基
板は従来のソーダライムシリカガラスからなる基板と遜
色のない化学強化処理ができ、その強化処理後の強度も
従来のソーダライムシリカガラスと同等以上のものであ
り、磁気記録媒体用として、実用上充分な強度を持つも
のと認められる。このことは、現在磁気ディスク基板と
して広く用いられているアルミニウムの降伏強度10k
g/mm2 に比べて上記の曲げ強度がはるかに大きいこ
とからも裏付けられる。
【0036】<磁気記録媒体の耐湿テスト>上記未強化
品および強化品のそれぞれの主表面上にスパッタ法によ
り厚さ約500ÅのCrからなる下地層を形成した後、
厚さ約600ÅのCo−30原子%Ni合金磁性層を形
成し、その上に厚さ約300Åのカーボン保護膜を形成
し、さらにその上にパーフルオロポリエーテル系の液体
潤滑剤を塗布することにより磁気記録媒体を得た。
【0037】これらについて80℃、90%RHの雰囲
気条件で100時間保持することにより耐湿テストを実
施したところ、例5のガラス基板からなる未強化品磁気
記録媒体はディスクの内周および外周の端面から2〜3
mmの範囲にわたってCo−Ni合金層とガラスとの界
面から面内にかけて変色が認められ、例5のガラス基板
からなる強化品磁気記録媒体では同じく1〜2mmの範
囲にわたって変色が認められた。これに対し例1〜4の
ガラス基板からなる磁気記録媒体は未強化品、強化品と
もに変色が認められなかった。
【0038】<研磨テスト>鋳鉄定盤を備えた両面研磨
機を用いて、アルミナ・ジルコニア系の1500番の研
磨剤を用いて、加工圧60g/cm2 で研磨すると、ソ
ーダライムシリカガラスが厚み変化3.78μm/分で
あったのに対し、例1のガラスは、厚み変化4.35μ
m/分であった。
【0039】また、酸化セリウム含浸発泡ポリウレタン
パッドを備えた両面研磨機を用いて酸化セリウムからな
る研磨剤を用いて、加工圧100g/cm2 で研磨する
と、ソーダライムシリカガラスが厚み変化0.74μm
/分であったのに対し、例1のガラスは、厚み変化1.
15μm/分であった。
【0040】
【表1】
【0041】
【発明の効果】本発明の高強度な磁気ディスク用ガラス
基板はソーダライムシリカガラスを使用したガラス基板
に比べ、耐食性および耐エージング性がきわめて優れ
る。また、本発明のガラス基板はイオン交換強化の効果
が充分に得られ、実際使用上充分な機械的強度を有す
る。さらに、本発明のうちのひとつの磁気ディスク用ガ
ラス基板は、フロート法による成形にも適するものであ
る。また、本発明の基板ガラスは、加工性にも優れ、研
磨した場合の速度は、通常のソーダライムシリカガラス
と比べて15〜55%高い。したがって、生産性の点で
も有利である。
【0042】なお、本発明のガラス基板は、比較的、C
aOの含有量が少ないことから、化学強化用の熔融硝酸
カリウム塩にCaOが解けだしにくく、熔融硝酸カリウ
ム塩の寿命が長くなる効果も有することが予想される。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al23 5〜15、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO+CaO+SrO+BaO 12〜25、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる磁気ディスク用
    ガラス基板。
  2. 【請求項2】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al23 5〜9、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO 0.5〜5、 CaO 2〜8、 MgO+CaO 2.5〜10、 SrO 4〜10、 BaO 5〜12、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる請求項1記載の
    磁気ディスク用ガラス基板。
  3. 【請求項3】表面から10μm以上の厚さの圧縮応力層
    を有する請求項1または2記載の磁気ディスク用ガラス
    基板。
  4. 【請求項4】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al23 5〜9、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO 0.5〜5、 CaO 2〜5.5、 MgO+CaO 2.5〜9、 SrO 4〜10、 BaO 5〜12、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる請求項2記載の
    磁気ディスク用ガラス基板。
  5. 【請求項5】表面から14μm以上の厚さの圧縮応力層
    を有する請求項4記載の磁気ディスク用ガラス基板。
  6. 【請求項6】400〜530℃の硝酸カリウムまたはこ
    れと硝酸ナトリウムとの混合液にガラスを2〜20時間
    浸漬することによって化学強化処理されることを特徴と
    する請求項1〜5いずれか1項記載の磁気ディスク用ガ
    ラス基板。
  7. 【請求項7】請求項1〜6いずれか1項記載の磁気ディ
    スク用ガラス基板の上に、順次、下地層、磁性層、保護
    層、潤滑層を設けてなる磁気ディスク。
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