JPH09265926A - 画像形成装置及びその製造方法 - Google Patents

画像形成装置及びその製造方法

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JPH09265926A
JPH09265926A JP7802596A JP7802596A JPH09265926A JP H09265926 A JPH09265926 A JP H09265926A JP 7802596 A JP7802596 A JP 7802596A JP 7802596 A JP7802596 A JP 7802596A JP H09265926 A JPH09265926 A JP H09265926A
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JP
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electron
image forming
forming apparatus
emitting device
voltage
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JP7802596A
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English (en)
Inventor
Tatsuya Iwasaki
達哉 岩崎
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Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 安定で長寿命な電子放出素子を提供し、動作
安定性に優れた電子源及び画像形成装置を提供すること
を課題とする。 【解決手段】 少なくとも電子放出素子と前記電子放出
素子が接する減圧部と前記電子放出素子からの電子を受
ける電極とを有する画像形成装置において、前記電子放
出素子は、少なくとも一部に6A族の元素を有し、前記
減圧部は前記6A族の元素に比し還元力が強い気体から
なることを特徴とする。また、少なくとも電子放出素子
と前記電子放出素子が接する減圧部と前記電子放出素子
からの電子を受ける電極とを有する画像形成装置に関
し、前記電子放出素子は、絶縁性基板上に形成された一
対の素子電極と、前記素子電極にまたがって形成され、
電子放出部を有する導電性薄膜を備え、前記導電性薄膜
の少なくとも一部に6A族の元素を有し、前記減圧部が
前記6A族の元素に比し還元力が強い気体からなること
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子を用
いた画像形成装置及びその製造方法に関し、例えば表面
伝導型電子放出素子を用いた画像形成装置及びその製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子 としては大別
して熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種
類のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界
放出型(以下、「FE型」という。)、金属/絶縁層/
金属型(以下、「MIM型」という。)や表面伝導型電
子放出素子等がある。FE型の例としてはW. P. Dyke&
W. W. Dolan、"Field emission"、Advance in Electron P
hysics、8、89(1956) あるいはC.A.Spindt,"PHYSICAL Pr
operties of thin-film field emission cathodeswith
molybdenium cones",J.Appl.Phys.,47,5248(1976) 等
に開示されたものが知られている。
【0003】また、MIM型の例としてはC. A. Mea
d、”Operation of Tunnel-Emission Devices"、J. Appl
y. Phys. 、32、646 (1961)等に開示されたものが知られ
ている。
【0004】さらに、表面伝導型電子放出素子型の例と
しては、M. I. Elinson、Radio Eng.Electron Pys. 、10、
1290,(1965)等に開示されたものがある。
【0005】ここで、表面伝導型電子放出素子は、基板
上に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流
すことにより、電子放出が生ずる現象を利用するもので
ある。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリ
ンソン等によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜に
よるもの[G. Dittmer:"Thin Solid Films"、9、317(197
2)]、In23/SnO2薄膜によるもの[M. Hartwell
and C. G. Fonstad:"IEEE Trans. ED Conf. "、519(19
75)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告されてい
る。
【0006】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜を予め通電フ
ォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部を形
成するのが一般的であった。即ち、通電フォーミングと
は前記導電性薄膜の両端に直流電圧あるいは非常にゆっ
くりとした昇電圧、例えば1V/分程度を印加通電し、
導電性薄膜を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、
電気的に高抵抗な状態にした電子放出部を形成すること
である。尚、電子放出部は導電性薄膜の一部に亀裂が発
生し、その亀裂付近から電子放出が行われる。前記通電
フォーミング処理をした表面伝導型電子放出素子は、上
述の導電性薄膜に電圧を印加し、素子に電流を流すこと
により、上述電子放出部より電子を放出せしめるもので
ある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】表面伝導型電子放出素
子については画像形成装置に用い、上述の電子放出素子
を縦横に多数配列し、該電子放出素子の電子放出部から
電子を放出させ、その電子を受ける陽極側に蛍光体を設
けて蛍光を発して画像を形成するが、適用した画像形成
装置が明るい表示画像を長期にわたり安定して提供でき
るように、更に安定で長寿命な電子放出特性及び電子放
出の効率向上が要望されている。ここでの効率は、表面
伝導型電子放出素子の一対の素子電極に電圧を印加した
際に、両電極間を流れる電流(以下、「素子電流」とい
う。)と真空中に放出される電子による電流(以下、
「電子放出電流」という。)との比で評価されるもので
あり、素子電流が小さく、電子放出電流が大きい電子放
出素子が望まれている。安定的に制御し得る電子放出特
性と効率の向上及び長寿命化がなされれば、例えば蛍光
体を画像形成部材とする画像形成装置においては、低電
力(低電圧、低電流)で明るい高品位な画像形成装置、
例えばフラットテレビが実現できる。また、低電力化に
ともない、画像形成装置を構成する駆動回路等のロ−コ
スト化も図れる。
【0008】しかしながら、従来の表面伝導型電子放出
素子にあっては、安定な電子放出特性、及び寿命につい
て、必ずしも満足のゆくものが得られておらず、これを
用いて高輝度で動作的に安定性に優れた画像形成装置を
提供するのは難しいというのが実状である。本出願人に
よって、上述の表面伝導型電子放出素子の特性の向上を
はかるために、フォーミング後、化学的気相成長法によ
り、電子放出部に金属を主成分とする被膜を被覆するこ
とが行われている(例えば、特願平6−181286
号)。この手法においては、図24に示すように、主に
電子放出部及びその高電位側に金属を主成分とする膜9
97が選択的に形成される。図24において、1は絶縁
基板、2,3は電極、4は導電性薄膜であり、電極3を
+電源に、電極2にー電源を印加して通電フォーミング
処理を行ない、高融点の金属を主成分とする膜997を
形成し、その後化学的気相成長法によって活性化処理を
行なうものである。
【0009】ところで、表面伝導型放出素子は、構造が
単純で製造も容易であることから、大面積にわた多数素
子を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生
かせるようないろいろな応用が研究されている。例え
ば、荷電ビーム源、画像形成装置としての表示装置等が
あげられる。多数の表面伝導型放出素子を配列形成した
例としては、後述する様に、並列に表面伝導型電子放出
素子を配列し、個々の素子の両端を配線(共通配線とも
呼ぶ)でそれぞれ結線した行を多数行配列した電子源が
あげられる。例えば、特開昭64−031332号公
報、特開平1−283749号公報、特開平2−257
552号公報等に開示されている。また,特に表示装置
等の画像形成装置においては、近年、液晶を用いた平板
型表示装置が、CRTに替わって、普及してきたが、自
発光型でないため、バックライトを持たなければならな
い等の問題点があり、自発光型の表示装置の開発が、望
まれてきた。自発光型表示装置としては、表面伝導型放
出素子を多数配置した電子源と電子源より放出された電
子によって、可視光を発光せしめる蛍光体とを組み合わ
せた表示装置である画像形成装置が、あげられる。例え
ば、米国特許USP5,066,883に開示されてい
る。
【0010】これらを鑑み、本発明の課題は、安定で長
寿命な電子放出素子を提供し、動作安定性に優れた電子
源及び画像形成装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するために鋭意検討を行って成されたものであ
り、下記する構成のものである。
【0012】第1に、少なくとも電子放出素子と前記電
子放出素子が接する減圧部を有する画像形成装置に関
し、前記電子放出素子は、少なくとも一部に6A族の元
素を有し、前記減圧部は前記6A族の元素に比し還元力
が強い気体からなることを特徴とする画像形成装置であ
る。
【0013】特に、前記電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された一対の素子電極と、前記素子電極にまたが
って形成され、電子放出部を有する導電性薄膜を備え、
前記導電性薄膜の少なくとも一部に6A族の元素を有す
る画像形成装置である。
【0014】さらには、前記減圧部の気体の主成分がH
2であること、又は前記減圧部の気体の主成分がCOで
あることを特徴とする。また、前記減圧部の気体が、 H2分圧 > H2O分圧 > O2分圧 なる条件を満たすことを特徴とする。
【0015】さらに、減圧部のO2分圧が10-9tor
r以下であることを、又は減圧部の全圧が10-4tor
r以下であること、さらに前記6A族の元素がW(タン
グステン)であることを特徴とする。
【0016】また、前記電子放出素子が表面伝導型電子
放出素子であることを特徴とする画像形成装置である。
【0017】また、第2に、上記画像形成装置の製造方
法において、少なくとも、前記6A族の元素は揮発性金
属化合物中において上記素子電極間に電圧を印加するこ
とにより堆積する工程を有することを特徴とする画像形
成装置の製造方法である。特に、前記揮発性金属化合物
はW(CO)6,WF6,W(C55)2H2であり、又
は前記揮発性金属化合物はMo(CO)6,MoF6,M
o(C662であり、前記6A族の元素を堆積する工
程が活性化工程であることを特徴とする。さらに、前記
減圧部の形成において、少なくとも、前記減圧部にH2
を導入する工程を有する。また、前記減圧部の形成にお
いて、少なくとも、前記減圧部にCOを導入する工程を
有する。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明による画像形成装置の表示
パネルの基本的構成を図1、図8を用いて説明する。
【0019】図1は、本発明の画像形成装置の基本的構
成を示す断面図、図8はその斜視図である。図1及び図
8において、71は電子放出素子74を縦横に複数配し
た電子源基板、81は電子源基板71を固定したリアプ
レート、86はガラス基板83と、ガラス基板83の内
面に蛍光膜84とメタルバック85等が形成されたフェ
ースプレート、82は支持枠である。72、73は、表
面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続されたX
方向配線及びY方向配線である。但し、リアプレート8
1は主に基板71の強度を補強する目的で設けられるた
め、基板71自体で十分な強度を持つ場合は別体のリア
プレート81は不要とすることができる。
【0020】フェースープレート86と、支持枠82、
リアプレート81で外囲器88が構成され、外囲気88
内は減圧部90である。外囲器88は、例えば大気中あ
るいは、窒素中で、400〜500℃の温度範囲で10
分以上焼成することで、封着して構成される。また、フ
ェースープレート86とリアプレート81間に、スペー
サーとよばれる不図示の支持体を設置することにより、
大気圧に対して十分な強度をもつ外囲器88を構成する
こともできる。
【0021】この表示パネルに、不図示の駆動装置等が
接続されることにより、画像形成装置が構成され、駆動
装置より電圧印加されることにより、電子放出素子から
放出される電子線を高圧のメタルバック85で加速して
蛍光体の蛍光膜84に照射することにより発光、画像形
成するものである。
【0022】図2(a)は、本発明に使用可能な表面伝
導型電子放出素子74を示す平面図、図2(b)はその
断面図である。図2示すように、絶縁性基板1上に一対
の素子電極2,3が配され、さらに素子電極2,3にま
たがって、電子放出部5を有する導電性薄膜4が配され
る。また、本発明においては、少なくとも導電性薄膜4
の一部には元素の周期表による6A族元素(Cr,M
o,W)を有する。
【0023】また、導電性薄膜4、特に電子放出部5及
びその近傍は、動作時に高温や高電界に課せられるた
め、安定且つ長寿命の電子放出を得るためには高融点材
料を配することが望まれる。6A族金属、その中でも特
にW(タングステン)は単体として、高融点の性質を有
することから特に望ましい材料である。
【0024】本発明においては、6A族元素を有する導
電性薄膜4に加え、さらに減圧部90として、6A族元
素に比し還元力が強い気体(雰囲気)が配される。具体
的にはH2を主成分とする雰囲気が挙げられ、H2O,O
2等は極力少ないことが望ましい。これは一般に、6A
族元素は酸化すると、蒸気圧が高くなったり、融点が低
くなる傾向がある事に起因する。例えば、真空中で、W
の融点は3410℃であるが、酸化されたWO2は15
00〜1600程度まで、酸化されたWO3は1473
℃まで融点が下がってしまう。また、蒸気圧が10-6
orr程度になる温度で見ても、Wでは2500℃程度
なのに対し、WO2では1600℃、WO3では1200
℃程度である(応用物理H.B参照)。これより、6A
族元素の高融点、低蒸気圧の性質が維持され、安定且つ
長寿命の電子放出を得るために、還元性が強い気体(雰
囲気)中において電子放出素子を動作させ、酸化を防ぐ
ことが望まれるのである。他にも、このような雰囲気中
においては、6A族金属の清浄表面が維持され、仕事関
数の変動を抑えることができると考える。
【0025】以下、本発明の画像形成装置の各々の構成
部位について詳説する。まず、減圧部について、次に、
蛍光体について、次に、表面伝導型電子放出素子の構
成、さらにその製造方法、特性について、さらに、電子
源基板上の電子放出素子の配列とそれらの駆動方法につ
いて説明する。
【0026】<減圧部>まず、還元性を有する減圧部9
0について説明する。先に述べたように、本発明におい
ては、減圧部90には、「6A族元素に比し、還元力が
強い気体(雰囲気)」が配される。例えば、H2を主成
分とする気体(雰囲気)が挙げられ、酸化剤となるH2
O,O2等は極力少ないことが望ましい。
【0027】以下、より具体的に、「6A族元素に比
し、還元力が強い気体」について、広く酸化還元反応に
用いられる、「酸化物の標準生成自由エネルギーΔGo
を用いた議論」(治金物理化学/丸善参照)により、説
明する。たとえば金属Mの酸化物MO2間の酸化還元反
応、 M+O2 = MO2 (1) における自由エネルギーの変化は、 ΔG=ΔG0 +RTlnK =ΔG0 +ln(PO2) (2) 但し、K;平衡定数、R=8.31[J/mol*
K]、T[K];絶対温度、 となる。上記反応が平衡状態にあるのは、ΔG=0、す
なわち、 ΔG0=ーRTlnK =ーRTln(PO2) (3) 但し、PO2;酸素分圧、 となる。すなわち、金属と酸化物が平衡する酸素分圧P
2は、酸化物の標準生成自由エネルギーより見積もる
ことができる。酸素圧がその平衡酸素圧より低い場合
は、この金属酸化物は金属と酸素に分解し、平衡酸素圧
より高い場合は金属の酸化が進行する。
【0028】図19に6A族元素の酸化物及びH2Oの
標準生成自由エネルギーΔGoを示した。
【0029】Wの場合を例にとると、酸素との反応、 W+O2 = WO2 (4) における、T=1600KのΔGO=300kJ/mo
lを用い、(3)式より平衡酸素圧を見積もると、PO
2=2×10-13torrとなり、T=2000KのΔG
O=235kJ/molを用いるとPO2=1×10-9
orrと見積もられる。表面伝導型電子放出素子の電子
放出素子部近傍の温度は、定かではないが、1500K
以上とも2000K程度とも言われており、酸素分圧1
-9torr程度以下、望ましくはさらに低い分圧であ
れば、6A族元素は金属として酸化せずに安定に存在し
えることが分かる。
【0030】一方、H2などの還元ガスの存在下では、
より酸化を抑制できるであろう。H2やCOと酸化物の
酸化還元反応は、 MO2+2H2 = M + 2H2O (5) ΔG=ΔG0 +RTlnK =ΔG0 +ln(PH2
O/PH2) 但し、PH2OはH2Oの分圧を、PH2はH2の分圧を示
す。で記される。これは反応(1)と、 2H2 + O2 = 2H2O (6) なる反応の差により与えられる。反応(4)、(5)の
自由エネルギーの変化ΔGは、それぞれ、酸化物の自由
エネルギーとH2Oの自由エネルギーの差分により与え
られる。一方、図19に見るように6A族金属酸化物W
2やMo2と、H 2Oの自由エネルギーはT=1500
〜2000K付近では、かなり近い値をとる事が分か
る。このことより、反応(5)の平衡は、 RTlnK=0、 すなわち、 RTln(PH2O/PH2)=0 (7) の時に達成される事を意味する。つまり、減圧部におい
て、PH2/PH2O比が1である近傍の雰囲気下で反応
(5)は平衡状態を示し、1以上であれば6A族金属酸
化物に還元作用を働く。つまり、反応(5)、(6)の
右への反応が進むであろう。
【0031】このPH2/PH2O>1が満たされたとし
ても、O2が存在するときには、反応(4)と(5)の
反応の競争になることから、さらに、PO2はPH2Oよ
り小さいことも付け加えることにする。
【0032】上記、議論より、減圧部に必要な条件、す
なわち、「6A族元素に比し還元力が強い気体」の基準
として、 PH2 > PH2O > PO2 さらに、PO2が10-9torr以下であること、等が
挙げられるであろう。
【0033】但し、実際は、減圧部90で、系が非平衡
状態でありえること、減圧下であり反応ガスの離脱が起
こること、電子放出素子の動作に伴い温度上昇は局所的
になされること、電子線によるガスのイオン化が生じ得
ること等により、低分圧で複雑な反応を示すことが期待
される。この観点から、ここでの議論はあくまでも目安
であることを付記しておく。
【0034】また、本出願者らは、鋭意検討によって、
上記基準が、実験結果と大きく違わないことを確認して
いる。
【0035】上記の還元性を有する減圧部90は、例え
ば以下のようにして製造される。図20に示すように、
外囲器88をイオンポンプ、ソープションポンプなどの
オイルを使用しない排気ポンプ56の排気装置により不
図示の排気管を通じて排気する。この際、H2O及びO2
を十分に排気するために、外囲器88を適宜加熱しなが
ら排気することが望ましい。排気後、H2等の還元性ガ
スを導入したのち、封止することにより減圧部を形成す
ることもできる。この際、減圧部90の真空雰囲気は、
四重極マススペクトルメーター等で分析可能である。
【0036】但し、排気及びベーキングによりH2O及
びO2が十分に排気でき、残留気体の主成分がH2等であ
り、真空自体がすでに還元力を十分に有する場合には、
あえて還元性気体を導入する必要はない。
【0037】また、外囲器88の封止後の真空度を維持
するために、ゲッター処理を行なうこともできる。これ
は、外囲器88の封止を行う直前あるいは封止後に、抵
抗加熱あるいは高周波加熱等を用いた加熱により、外囲
器88内の所定の位置(不図示)に配置されたゲッター
を加熱し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通
常Ba等が主成分であり、前記蒸着膜の吸着作用によ
り、たとえば1×10-5torr乃至は1×10-7to
rrの真空度を維持するものである。
【0038】また、減圧部90の全圧は、電子放出素子
から放出される電子線に起因する放電現象を防ぐため、
通常10-4torr以下に設定される。
【0039】<蛍光体について>次に、蛍光体84につ
いて説明する。
【0040】図9は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材91と蛍光体92とから構
成することができる。ブラックストライプ、ブラックマ
トリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要とな
る三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分け部を黒くす
ることで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜84に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプ等の黒色導電材91の材
料としては、通常用いられている黒鉛を主成分とする材
料の他、導電性があって、光の透過及び光の反射が少な
い材料を用いることができる。
【0041】ガラス基板83に蛍光膜84を塗布する方
法は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法、印刷法
等が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタル
バック85が設けられる。メタルバック85を設ける目
的は、蛍光体84の発光のうち内面側への光をフェース
プレート86側へ鏡面反射させることにより輝度を向上
させること、電子ビーム加速電圧を印加するための電極
として作用させること、外囲器88内で発生した負イオ
ンの衝突によるダメージから蛍光体84を保護すること
等である。メタルバック85は、蛍光膜84を作製後、
蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、「フィル
ミング」と呼ばれる。)を行い、その後Alを真空蒸着
等を用いて堆積させることで作製できる。
【0042】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0043】前述の外囲器88内の封着を行う際には、
カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子とを対応させ
る必要があり、十分な位置合わせが不可欠となる。
【0044】<本発明を用いた表面伝導型電子放出素子
の構成>次に、本発明に適用し得る表面伝導型電子放出
素子の基本的構成について説明する。表面伝導型電子放
出素子には大別して、平面型及び垂直型の2つがある。
まず、平面型表面伝導型電子放出素子について説明す
る。
【0045】本発明を用いた表面伝導型電子放出素子を
模式的に示す平面図を図2(a)に、それを模式的に示
す断面図を図2(b)に示す。図2(a)、(b)にお
いて1は絶縁性基板、2,3は素子電極、4は導電性薄
膜、5は電子放出部である。
【0046】絶縁性基板1としては、石英ガラス,Na
等の不純物含有量を減少したガラス,青板ガラス,青板
ガラスにスパッタ法等により形成したSiO2を積層し
たガラス基板及びアルミナ等のセラミックス及びSi基
板等を用いることができる。
【0047】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができる。これは、例え
ばNi,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,C
u,Pd等の金属、或は合金、及びPd,Ag,Au,
RuO2 ,Pd−Ag等の金属、或は金属酸化物と、
ガラス等から構成されるの印刷導体、In23−SnO
2等の透明導電体及びポリシリコン等の半導体導体材料
等から適宜選択することができる。
【0048】素子電極2,3の間隔L、素子電極2,3
の長さW、導電性薄膜4の形状等は、応用される形態等
を考慮して、設計される。素子電極間隔Lは、好まし
く、数千オングストロームから数百マイクロメートルの
範囲とすることができ、より好ましくは、素子電極2,
3間に印加する電圧等を考慮して数マイクロメートルか
ら数十マイクロメートルの範囲とすることができる。素
子電極長さWは、電極の抵抗値、電子放出特性を考慮し
て、数マイクロメートルから数百マイクロメートルの範
囲とすることができる。素子電極2、3の膜厚dは、数
百オングストロームから数マイクロメートルの範囲とす
ることができる。
【0049】尚、図1に示した構成だけでなく、絶縁性
基板1上に、導電性薄膜4、対向する素子電極2,3の
順に積層した構成とすることもできる。
【0050】導電性薄膜4には、良好な電子放出特性を
得るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが
好ましい。その膜厚は,素子電極2、3へのステップカ
バレージ、素子電極2、3間の抵抗値及び後述するフォ
ーミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は、
数オングストロームから数千オングストロームの範囲と
するのが好ましく、より好ましくは1nmより50nm
の範囲とするのが良い。その抵抗値は、Rsが102
ら107Ω/□の値である。なおRsは、厚さがt、幅
がwで長さがlの薄膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)
とおいたときに現れる。本発明において、フォーミング
処理については、通電処理を例に挙げて説明するが、フ
ォーミング処理はこれに限られるものではなく、膜に亀
裂を生じさせて高抵抗状態を形成する処理を包含するも
のである。
【0051】導電性薄膜4を構成する材料は、Pd、P
t、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、Cr、F
e、Zn、Sn、Ta、W、Pb等の金属、PdO、S
nO2、In23、PbO、Sb23等の酸化物、Hf
2、ZrB2、LaB6、CeB6、YB4、GdB4等の
硼化物、TiC、ZrC、HfC、TaC、SiC、W
C等の炭化物、TiN、ZrN、HfN等の窒化物、S
i、Ge等の半導体、カーボン等の中から適宜選択され
る。
【0052】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数オングストロームから数千オン
グストロームの範囲、好ましくは、1nmから20nm
の範囲である。
【0053】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。小さ
な粒子を「微粒子」と呼び、これよりも小さなものを
「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」よりもさらに小さく
原子の数が数百個程度以下のものを「クラスター」と呼
ぶことは広く行われている。
【0054】しかしながら、それぞれの境は厳密なもの
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。「実験物理学講座14 表面・微粒
子」(木下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発
行)では次のように記述されている。
【0055】「本稿で微粒子と言うときにはその直径が
だいたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特
に超微粒子というときは粒径が10nm程度から2〜3
nm程度までを意味することにする。両者を一括して単
に微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目) 付言すると、新技術開発事業団の”林・超微粒子プロジ
ェクト’での「超微粒子」の定義は、粒径の下限はさら
に小さく、次のようなものであった。
【0056】「創造科学技術推進制度の”超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)」では、粒子の大き
さ(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを”超微
粒子”(ultra fine particle)と呼ぶことにした。す
ると1個の超微粒子はおよそ100〜108個くらいの
原子の集合体という事になる(??この表示の範囲でよ
いのですか??)。原子の尺度でみれば超微粒子は大〜
巨大粒子である。」(「超微粒子−創造科学技術−」林
主税、上田良二、田崎明 編;三田出版 1988年
2ページ1〜4行目)「超微粒子よりさらに小さいも
の、すなわち原子が数個〜数百個で構成される1個の粒
子は、ふつうクラスターと呼ばれる」(同書2ページ1
2〜13行目) 上記のような一般的な呼び方をふまえて、本明細書にお
いて「微粒子」とは多数の原子・分子の集合体で、粒径
の下限は数オングストローム〜10オングストローム程
度、上限は数μm程度のものを指すこととする。
【0057】電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に形
成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜4の
膜厚、膜質、材料及び後述する通電フォーミング等の手
法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部には、
数オングストロームから数百オングストロームの範囲の
粒径の導電性微粒子が存在する場合もある。この導電性
微粒子は、導電性薄膜4を構成する材料の元素の一部、
あるいは全ての元素を含有するものとなる。
【0058】先に述べたように、本発明を用いた表面伝
導型電子放出素子においては、少なくとも導電性薄膜の
一部に6A族元素が存在する。このような構成は、例え
ば、6A族元素を含有する導電性薄膜を用いる場合や、
後述の活性化のような手法で6A族元素を電子放出部及
びその近傍に堆積することにより実現可能である。
【0059】また、6A族元素に加え、電子放出部5及
びその近傍の導電性薄膜4には、炭素及び炭素化合物を
有することもできる。
【0060】次に、垂直型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。図2(c)は、本発明を用いた表面伝導
型電子放出素子を適用できる垂直型表面伝導型電子放出
素子の一例を示す模式図である。
【0061】図2(c)においては、図2(a),
(b)に示した部位と同じ部位には図2に付した符号と
同一の符号を付している。21は、段さ形成部である。
基板1、素子電極2及び3、導電性薄膜4、電子放出部
5は、前述した平面型表面伝導型電子放出素子の場合と
同様の材料で構成することができる。段さ形成部21
は、真空蒸着法,印刷法,スパッタ法等で形成されたS
iO2等の絶縁性材料で構成することができる。段さ形
成部21の膜厚は、先に述べた平面型表面伝導型電子放
出素子の素子電極間隔Lに対応し、数千オングストロー
ムから数十マイクロメートルの範囲とすることができ
る。この膜厚は、段さ形成部の製法,及び,素子電極間
に印加する電圧を考慮して設定されるが、数百オングス
トロームから数マイクロメートルの範囲が好ましい。
【0062】導電性薄膜4は、素子電極2 及び3と段
さ形成部21作成後に、前記素子電極2、3の上に積層
される。電子放出部5は、図2(c)においては、段差
形成部21に形成されているが、作成条件、フォーミン
グ条件等に依存し、形状、位置ともこれに限られるもの
でない。
【0063】<本発明を用いた表面伝導型電子放出素子
の製造方法>本発明を用いた表面伝導型電子放出素子の
ように、6A族元素を有する導電性薄膜4の表面伝導型
電子放出素子の作成には、(1)あらかじめ6A族元素
を有する導電性薄膜を作成し、それをフォーミングする
手法と、(2)フォーミング後に活性化工程として、6
A族元素を有する堆積物を電子放出部及びその近傍に堆
積する手法と、が挙げられる。
【0064】以下、図2及び図3を参照しながら製造方
法の一例について説明する。図3においても、図2に示
した部位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号
を付している。
【0065】(1)絶縁性基板1を洗剤、純水および有
機溶剤等を用いて十分に洗浄し,真空蒸着法、スパッタ
法等により素子電極材料を堆積後,例えばフォトリソグ
ラフィー技術を用いて絶縁性基板1上に素子電極2、3
を形成する(図3(a))。
【0066】(2)素子電極2、3を設けた絶縁性基板
1に、有機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成す
る。有機金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属
を主元素とする有機金属化合物の溶液を用いることがで
きる。尚、前述した予め6A族金属を有する導電性薄膜
を用いる場合には、有機金属溶液の金属を6A族元素と
する。有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エ
ッチング等によりパターニングし、導電性薄膜4を形成
する(図3(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法
を挙げて説明したが、導電性薄膜4の形成法はこれに限
られるものでなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気
相堆積法、分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法
等を用いることもできる。
【0067】(3)つづいて、フォーミング工程を施
す。このフォーミング工程の方法の一例として通電処理
による方法を説明する。素子電極2、3間に、不図示の
電源を用いて、通電を行うと、導電性薄膜4の部位に、
構造の変化した電子放出部5が形成される(図3
(c))。通電フォーミングによれば導電性薄膜4に局
所的に破壊、変形もしくは変質等の構造の変化した部位
が形成される。前記部位が電子放出部5を構成する。通
電フォーミングの電圧波形の例を図4に示す。電圧波形
は、パルス波形が、好ましい。これにはパルス波高値を
定電圧としたパルスを連続的に印加する図4(a)に示
した手法とパルス波高値を増加させながら、電圧パルス
を印加する図4(b)に示した手法がある。
【0068】図4(a)におけるT1及びT2は電圧波
形のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイク
ロ秒〜10ミリ秒、T2は、10マイクロ秒〜100ミ
リ秒の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォー
ミング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の
形態に応じて適宜選択される。このような条件のもと、
例えば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形
は三角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の
波形を採用することができる。図4(b)におけるT1
及びT2は、図4(a)に示したのと同様とすることが
できる。三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク
電圧)は、例えば0.1Vステップ程度づつ、増加させ
ることができる。
【0069】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子
電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示
した時、通電フォーミングを終了させる。
【0070】(4)フォーミングを終えた素子には、以
下に述べる活性化工程と呼ばれる処理を施すことにより
著しく変化、向上させる事ができる。活性化工程は、例
えば、揮発性金属化合物を含有する雰囲気下で、電圧パ
ルスの印加を繰り返すことで行うことができる。この活
性化工程により、電子放出部及びその近傍に堆積物が堆
積される。
【0071】一方、揮発性金属化合物の雰囲気下で行っ
た場合には、堆積物は、揮発性金属化合物の中心金属を
主成分とする多結晶、単結晶あるいはアモルファスによ
る金属、金属化合物(酸化物、チッカ物)、半導体等で
ある。また、堆積物のなかには、時に、炭素が混入する
事もある。また、複数の揮発性金属化合物を混合して使
用することにより、化合物を堆積することも可能であ
る。
【0072】上述の揮発性金属化合物について説明す
る。揮発性金属化合物とは、通常のCVD法に用いられ
るガスを指し、金属アルコキシドをはじめとする有機金
属化合物や、ハロゲン化合物、カルボニル化合物等をは
じめとする無機化合物が挙げられる。より詳しくは、A
l(CH33,B(C253,Au(CH32(C5
72),Ir(C353,Mg(C552,Y(C5
53,Mo(C5522,W(C5522,Al
(OCH33,Mg(OCH32,Nb(OCH32
Zr(OC254,Al(AcAc)3,Ba(AcA
c)2,La(DPM)3,Ba(DPM),等の有機金
属化合物や、AlCl3,BCl3,CsF,W(CO)
6,WF6,LaCl3,Cs2CO3,Na2CO3,等の
無機化合物が挙げられる。
【0073】ここで、AcAcはCH3COCH2COC
3、DPMは(CH33CCOCH2COC(CH33
の略名である。
【0074】尚。前述した活性化工程において6A族元
素を堆積する場合には、揮発性金属化合物としてW(C
O)6,WF6,W(C5522Mo(CO)6,Mo
6,Mo(C662を用いることが挙げられる。
【0075】次に、揮発性金属化合物の真空装置(パネ
ルでは外囲器)への供給方法の一例について、図18を
用いて概説する。図18において、バブラー61内の揮
発性金属化合物材料62は、その蒸気圧により、配管を
介し、真空装置へと導入される。バブラー61及び配管
は恒温漕内に配置され、揮発性金属化合物材料62に対
して所望のの蒸気圧が得られる温度に制御される。ま
た、キャリアガスとしてH2,N2,Ar等を用い(図の
ボンベ)、混合して導入することもできる。
【0076】活性化工程における有機物質及び揮発性金
属化合物のガス圧は、前述の電子放出素子の構成、真空
容器(外囲器)の形状や、有機物質の種類などにより異
なるため場合に応じ適宜設定される。
【0077】また、活性化工程の終了判定は、素子電流
Ifと放出電流Ieを測定しながら、適宜行う。なおパ
ルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜設定され
る。
【0078】(5)このような工程を経て得られた電子
放出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工
程は、真空容器内の有機物質等を排気する工程である。
真空容器(外囲器)内つまり減圧部の圧力を、1×10
-7torr以下、さらに好ましくは1×10-8torr
以下にまで排気するのが望ましい。真空容器を排気する
真空排気装置は、装置から発生するオイルが素子の特性
に影響を与えないように、オイルを使用しないものを用
いるのが好ましい。具体的には、ソープションポンプ、
イオンポンプ等の真空排気装置を挙げることが出来る。
さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全体を
加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着した有
機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。このとき
の加熱条件は、80〜200℃で5時間以上が望ましい
が、特にこの条件に限るものではなく、真空容器の大き
さや形状、電子放出素子の構成などの諸条件により適宜
選ばれる条件により行う。このような行程を施すことに
より、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆積を抑制でき
る真空雰囲気が得られ、結果として素子電流If,放出
電流Ieが、安定する。
【0079】但し、本行程を行うまでもなく、真空容器
中の有機物質が十分除去されており、素子表面の清浄度
も十分に高い際には、この安定化行程は必ずしも必要で
はない。この後、真空すなわち減圧部90を、先に述べ
た還元力のあるものにするために、H2,CO等の還元
性ガスを導入してもよい。
【0080】<本発明を用いた表面伝導型電子放出素子
の基本特性>上述した工程を経て得られた本発明を適用
可能な電子放出素子の基本特性について図5、図6を参
照しながら説明する。図5は、真空処理装置の一例を示
す模式図であり、この真空処理装置は測定評価装置とし
ての機能をも兼ね備えている。図5においても、図2に
示した部位と同じ部位には同一の符号を付している。図
5において、55は真空容器であり、56は排気ポンプ
である。真空容器55内には電子放出素子が配されてい
る。即ち、1は電子放出素子を構成する基体であり、2
及び3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部で
ある。51は、電子放出素子に素子電圧Vfを印加する
ための電源、50は素子電極2・3間の導電性薄膜4を
流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54は素
子の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉する
ためのメタルバック85に該当するアノード電極であ
る。53はアノード電極54に電圧を印加するための高
圧電源、52は素子の電子放出部5より放出される放出
電流Ieを測定するための電流計である。一例として、
アノード電極54の電圧を1kV〜10kVの範囲と
し、アノード電極54と電子放出素子との距離Hを2m
m〜8mmの範囲として測定を行うことができる。
【0081】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系と、更にイオンポンプ
等からなる超高真空装置系とにより構成されている。こ
こに示した電子源基板1を配した真空処理装置の全体
は、不図示のヒーターにより200℃まで加熱できる。
従って、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォ
ーミング以降の工程も行うことができる。
【0082】図6は、図5に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧V
fの関係を模式的に示した図である。図6においては、
放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、それぞれ任意単位で示している。なお。縦・横軸と
もリニアスケールである。
【0083】図6からも明らかなように、本発明に適用
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て三つの特徴的性質を有する。
【0084】即ち、(i)本素子はある電圧(しきい値
電圧と呼ぶ、図6中のVth)以上の素子電圧Vfを印
加すると、急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値
電圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されな
い。つまり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧
Vthを持った非線形素子である。
【0085】(ii)放出電流Ieが素子電圧Vfに単調
増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御
できる。
【0086】(iii)アノード電極54に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。つ
まり、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子電
圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0087】以上の説明より理解されるように、入力信
号に応じて、電子放出特性を容易に制御できることにな
る。この性質を利用すると複数の電子放出素子を配して
構成した電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可
能となる。図6においては、素子電流Ifが素子電圧V
fに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。これら特
性は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0088】<電子放出素子の配列と駆動方法>次に、
電子源基板1上の電子放出素子の配列について説明す
る。一例として、並列に配置した多数の電子放出素子の
個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数個配し
(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列方向と
呼ぶ)で、前記電子放出素子の上方に配した制御電極
(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子からの電子
を制御駆動するはしご状配置のものがある。これとは別
に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複数個
配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極の一
方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配された
複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線に共
通に接続するものが挙げられる。このようなものは所謂
単純マトリクス配置である。
【0089】まず単純マトリクス配置について以下に詳
述する。本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素子に
ついては、前述したとおり(i)乃至(iii)の特性が
ある。即ち、表面伝導型電子放出素子からの放出電子
は、しきい値電圧Vth以上では、対向する素子電極間
に印加するパルス状電圧の波高値と巾で制御できる。一
方、しきい値電圧Vth以下では、殆ど放出されない。
この特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合
においても、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加す
れれば、入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を
選択して電子放出量を制御できる。
【0090】以下、この原理に基ずき、本発明を適用可
能な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につ
いて、図7を用いて説明する。図7において、71は電
子源基板、72はX方向配線、73はY方向配線であ
る。74は表面伝導型電子放出素子、75は結線であ
る。尚、表面伝導型電子放出素74は、前述した平面型
あるいは垂直型のどちらであってもよい。
【0091】m本のX方向配線72は,DX1,DX
2,..DXmからなり,真空蒸着法,印刷法,スパッ
タ法等を用いて形成された導電性金属等で構成すること
ができる。配線の材料、膜厚、巾は、適宜設計される。
Y方向配線73は,DY1,DY2,..DYnのn本
の配線よりなり,X方向配線72と同様に形成される。
これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線73と
の間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、両者
を電気的に分離している(m,nは,共に正の整数)。
不図示の層間絶縁層は,真空蒸着法,印刷法,スパッタ
法等を用いて形成されたSiO2等で構成される。例え
ば、X方向配線72を形成した基板71の全面或は一部
に所望の形状で形成され,特に,X方向配線72とY方
向配線73の交差部の電位差に耐え得るように,膜厚,
材料,製法が,適宜設定される。X方向配線72とY方
向配線73は,それぞれ外部端子として引き出されてい
る。
【0092】表面伝導型放出素子74を構成する一対の
電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本のY方
向配線73と導電性金属等からなる結線75によって電
気的に接続されている。配線72と配線73を構成する
材料、結線75を構成する材料及び一対の素子電極を構
成する材料は、その構成元素の一部あるいは全部が同一
であっても、またそれぞれ異なってもよい。これら材料
は、例えば前述の素子電極2,3の材料より適宜選択さ
れる。素子電極2,3を構成する材料と配線材料が同一
である場合には、素子電極2,3に接続した配線は素子
電極ということもできる。
【0093】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型放出素子74の行を選択するための走査信号を
印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導型
放出素子74の各列を入力信号に応じて、変調するため
の不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放出
素子に印加される駆動電圧は、当前記素子に印加される
走査信号と変調信号の差電圧として供給される。
【0094】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0095】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図10を用いて説明する。図10において、
101は画像表示表示パネル、102は走査回路、10
3は制御回路、104はシフトレジスタである。105
はラインメモリ、106は同期信号分離回路、107は
変調信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0096】表示パネル101は、図7に示す電子放出
素子を複数配した電子源基板と同様に、端子Dox1乃
至Doxm、端子Doy1乃至Doyn、及び高圧端子
Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子Do
x1乃至Doxmには、表示パネル内に設けられている
電子源、即ち、m行n列の行列状にマトリクス配線され
た表面伝導型電子放出素子群を一行(n素子)ずつ順次
駆動する為の走査信号が印加される。
【0097】端子Dy1乃至Dynには、前記走査信号
により選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各素
子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印加され
る。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば1
0K[V]の直流電圧が供給されるが、これは表面伝導
型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍光体を励
起するのに十分なエネルギーを付与する為の加速電圧で
ある。
【0098】走査回路102について説明する。同走査
回路は、内部にm個のスイッチング素子を備えたもので
(図中,S1ないしSmで模式的に示している)ある。
各スイッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もし
くは0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択
し、表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気
的に接続される。また、S1乃至Smの各スイッチング
素子は、制御回路103が出力する制御信号Tscan
に基づいて動作するものであり、例えば電界効果トラン
ジスタFETのようなスイッチング素子を組み合わせる
ことにより構成することができる。
【0099】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出のしきい値電圧)に
基づき走査されていない素子に印加される駆動電圧が電
子放出のしきい値電圧以下となるような一定電圧を出力
するよう設定されている。制御回路103は、外部より
入力する画像信号に基づいて適切な表示が行なわれるよ
うに各部の動作を整合させる機能を有する。制御回路1
03は、同期信号分離回路106より送られる同期信号
Tsyncに基づいて、各部に対してTscanおよび
TsftおよびTmryの各制御信号を発生する。
【0100】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分及び色差信号成分とを分離する為の回路で、
一般的な周波数分離(フィルター)回路等を用いて構成
できる。同期信号分離回路106により分離された同期
信号は、垂直同期信号と水平同期信号より成るが、ここ
では説明の便宜上Tsync信号として図示した。前記
テレビ信号から分離された画像の輝度信号成分及び色差
信号成分は便宜上DATA信号と表した。前記DATA
信号はシフトレジスタ104に入力される。
【0101】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは,シフトレジスタ
104のシフトクロックであるということもでき
る。)。またカラー信号の場合には例えばR,G,B信
号に変換されて、それぞれパラレル信号に変換される。
シリアル/パラレル変換された画像1ライン分(電子放
出素子n素子分の駆動データに相当)のデータは、Id
1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフトレジス
タ104より出力される。
【0102】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、I’d1乃至I’dnとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0103】変調信号発生器107は、画像データI’
d1乃至I’dnの各々に応じて表面伝導型電子放出素
子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、その
出力信号は、端子Doy1乃至Doynを通じて表示パ
ネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
【0104】前述したように、本発明を適用可能な電子
放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vth
があり、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出
が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、電
子放出素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化
する。このことから、本電子放出素子にパルス状の電圧
を印加する場合、例えば電子放出しきい値以下の電圧を
印加しても電子放出は生じないが、電子放出しきい値以
上の電圧を印加する場合には電子ビームが出力される。
その際、パルスの波高値Vmを変化させる事により出力
電子ビームの強度を制御することが可能である。また、
パルスの幅Pwを変化させることにより出力される電子
ビームの電荷の総量を制御する事が可能である。
【0105】従って、入力信号に応じて、電子放出素子
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107として、一定長さの電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いること
ができる。
【0106】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
【0107】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものをもアナログ信号式のもの
をも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0108】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路な
どを付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生
器107には、例えば高速の発振器および発振器の出力
する波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出
力値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレ
ータ)を組み合せた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
【0109】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフ
ト回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式
の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を
採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。
【0110】このような構成をとり得る本発明による適
用可能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、
容器外端子Dox1乃至Doxm、Doy1乃至Doy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介してメタルバック85、あるいは
透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速
する。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が
生じて画像が形成される。
【0111】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL,SECAM方式など他、
これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
【0112】図17は、前記説明の表面伝導型放出素子
を電子ビーム源として用いたディスプレイパネルに、た
とえばテレビジョン放送をはじめとする種々の画像情報
源より提供される画像情報を表示できるように構成した
表示装置の一例を示すためのブロック図である。図中、
3300は上述の画像表示装置を用いたディスプレイパ
ネル、3301はディスプレイパネルの駆動回路、33
02はディスプレイコントローラ、3303はマチプレ
クサ、3304はデコーダ、3305は入出力インター
フェース回路、3306はCPU、3307は画像生成
回路、3308および3309および3310は画像メ
モリーインターフェース回路、3311は画像入力イン
ターフェース回路、3312および3313はTV信号
受信回路、3314は入力部である。なお、本表示装置
は、たとえばテレビジョン信号のように映像情報と音声
情報の両方を含む信号を受信する場合には、当然映像の
表示と同時に音声を再生するものであるが、本発明の特
徴と直接関係しない音声情報の受信、分離、再生、処
理、記憶などに関する回路やスピーカーなどについては
説明を省略する。
【0113】以下、画像信号の流れに沿って各部の機能
を説明してゆく。
【0114】まず、TV信号受信回路3313は、たと
えば電波や空間光通信などのような無線伝送系を用いて
伝送されるTV画像信号を受信する為の回路である。受
信するTV信号の方式は特に限られるものではなく、た
とえば、NTSC方式、PAL方式、SECAM方式、
衛星放送方式、衛星通信方式などの諸方式でもよい。ま
た、これらよりさらに多数の走査線よりなるTV信号
(たとえばMUSE方式をはじめとするいわゆる高品位
TV)は、大面積化や大画素数化に適した前記ディスプ
レイパネルの利点を生かすのに好適な信号源である。T
V信号受信回路3313で受信されたTV信号は、デコ
ーダ3304に出力される。
【0115】また、TV信号受信回路3312は、たと
えば同軸ケーブルや光ファイバーなどのような有線伝送
系を用いて伝送されるTV画像信号を受信するための回
路である。前記TV信号受信回路3313と同様に、受
信するTV信号の方式は特に限られるものではなく、ま
た本回路で受信されたTV信号もデコーダ3304に出
力される。
【0116】また、画像入力インターフェース回路33
11は、たとえばTVカメラや画像読み取りスキャナー
などの画像入力装置から供給される画像信号を取り込む
ための回路で、上述と同様にいずれの方式の画像信号で
もよく、取り込まれた画像信号はデコーダ3304に出
力される。
【0117】また、画像メモリーインターフェース回路
3310はビデオテープレコーダー(以下VTRと略
す)に記憶されている画像信号を取り込むための回路
で、上述と同様にいずれの方式の画像信号でもよく、取
り込まれた画像信号はデコーダ3304に出力される。
【0118】また、画像メモリインターフェース回路3
309は、ビデオディスク等に記憶されている画像信号
を取り込むための回路で、上述と同様にいずれの方式の
画像信号でもよく、取り込まれた画像信号はデコーダ3
304に出力される。
【0119】また、画像メモリインターフェース回路3
308は、いわゆる静止画ディスクや静止画カメラ等の
ように、静止画像データを記憶している装置から画像信
号を取り込むための回路で、取り込まれた静止画像デー
タはデコーダ3304に入力される。
【0120】また、入出力インターフェース回路330
5は、本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコン
ピュータネットワークもしくはプリンターなどの出力装
置とを接続するための回路である。画像データや文字・
図形情報の入出力を行うのはもちろんのこと、場合によ
っては本表示装置の備えるCPU3306と外部との間
で制御信号や数値データの入出力などを行うことも可能
である。
【0121】また、画像生成回路3307は、前記入出
力インターフェース回路3305を介して外部から入力
される画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU
3306より出力される画像データや文字・図形情報に
もとずき表示用画像データを生成するための回路であ
る。本回路の内部には、たとえば画像データや文字・図
形情報を蓄積するための書き換え可能メモリーや、文字
コードに対応する画像パターンが記憶されている読み出
し専用メモリーや、画像処理を行うためのプロセッサー
などをはじめとして画像の生成に必要な回路が組み込ま
れている。
【0122】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ3304に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路3305を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンターに出力するこ
とも可能である。
【0123】また、CPU3306は、主として本表示
装置の動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わ
る作業を行う。
【0124】たとえば、マルチプレクサ3303に制御
信号を出力し、ディスプレイパネルに表示する画像信号
を適宜選択したり組み合わせたりする。また、その際に
は表示する画像信号に応じてディスプレイパネルコント
ローラ3302に対して制御信号を発生し、画面表示周
波数や走査方法(たとえばインターレースかノンインタ
ーレースか)や一画面の走査線の数など表示装置の動作
を適宜制御する。
【0125】また、前記画像生成回路3307に対して
画像データや文字・図形情報を直接出力したり、あるい
は前記入出力インターフェース回路3305を介して外
部のコンピュータやメモリーをアクセスして画像データ
や文字・図形情報を入力する。 なお、CPU3306
は、むろんこれ以外の目的の作業にも関わるものであっ
ても良い。たとえば、パーソナルコンピュータやワード
プロセッサなどのように、情報を生成したり処理する機
能に直接関わっても良い。あるいは、前述したように入
出力インターフェース回路3305を介して外部のコン
ピュータネットワークと接続し、たとえば数値計算など
の作業を外部機器と協同して行っても良い。
【0126】また、入力部3314は、前記CPU33
06に使用者が命令やプログラム、あるいはデータなど
を入力するためのものであり、たとえばキーボードやマ
ウスのほか、ジョイスティック、バーコードリーダー、
音声認識装置など多様な入力機器を用いる事が可能であ
る。
【0127】また、デコーダ3304は、前記3307
ないし3313より入力される種々の画像信号を3原色
信号、または輝度信号とI信号、Q信号に逆変換するた
めの回路である。なお、同図中に実線で示すように、デ
コーダ3304は内部に画像メモリーを備えるのが望ま
しい。これは、たとえばMUSE方式をはじめとして、
逆変換するに際して画像メモリーを必要とするようなテ
レビ信号を扱うためである。また、画像メモリーを備え
る事により、静止画の表示が容易になる。また、画像圧
縮された画像信号を受信した場合には所定の方式によっ
て画像信号を伸長する場合にも必要である。あるいは前
記画像生成回路3307およびCPU3306と協同し
て画像の間引き、補間、拡大、縮小、合成をはじめとす
る画像処理や編集が容易に行えるようになるという利点
が生まれるからである。
【0128】また、マルチプレクサ3303は、前記C
PU3306より入力される制御信号にもとずき、表示
画像を適宜選択するものである。すなわち、マルチプレ
クサ3303はデコーダ3304から入力される逆変換
された画像信号のうちから所望の画像信号を選択して駆
動回路3301に出力する。その場合には、一画面表示
時間内で画像信号を切り替えて選択することにより、い
わゆる多画面テレビのように、一画面を複数の領域に分
けて領域によって異なる画像を表示することも可能であ
る。
【0129】また、ディスプレイパネルコントローラ3
302は、前記CPU3306より入力される制御信号
にもとずき駆動回路3301の動作を制御するための回
路である。
【0130】まず、ディスプレイパネルの基本的な動作
に関わるものとして、たとえばディスプレイパネルの駆
動用電源(図示せず)の動作シーケンスを制御するため
の信号を駆動回路3301に対して出力する。また、デ
ィスプレイパネルの駆動方法に関わるものとして、たと
えば画面表示周波数や走査方法(たとえばインターレー
スかノンインターレースか)を制御するための信号を駆
動回路3301に対して出力する。
【0131】また、場合によっては表示画像の輝度やコ
ントラストや色調やシャープネスといった画質の調整に
関わる制御信号を駆動回路3301に対して出力する場
合もある。
【0132】また、駆動回路3301は、ディスプレイ
パネル3300に印加する駆動信号を発生するための回
路であり、前記マルチプレクサ3303から入力される
画像信号と、前記ディスプレイパネルコントローラ33
02より入力される制御信号にもとずいて動作するもの
である。
【0133】以上、各部の機能を説明したが、図17に
例示した構成により、本表示装置においては多様な画像
情報源より入力される画像情報をディスプレイパネル3
300に表示する事が可能である。すなわち、テレビジ
ョン放送をはじめとする各種の画像信号はデコーダ33
04において逆変換・表示可能画像化された後、マルチ
プレクサ3303において適宜選択され、駆動回路33
01に入力される。一方、デイスプレイコントローラ3
302は、表示する画像信号に応じて駆動回路3301
の動作を制御するための制御信号を発生する。駆動回路
3301は、上記画像信号と制御信号に基づいて、ディ
スプレイパネル3300に駆動信号を印加する。これに
より、ディスプレイパネル3300において画像が表示
される。これらの一連の動作は、CPU3306により
統括的に制御される。
【0134】また、本表示装置においては、前記デコー
ダ3304に内蔵する画像メモリや、画像生成回路33
07および情報の中から選択したものを表示するだけで
なく、表示する画像情報に対して、たとえば拡大、縮
小、回転、移動、エッジ強調、間引き、補間、色変換、
画像の縦横比変換などをはじめとする画像処理や、合
成、消去、接続、入れ換え、はめ込みなどをはじめとす
る画像編集を行う事も可能である。また、本実施例の説
明では特に触れなかったが、上記画像処理や画像編集と
同様に、音声情報に関しても処理や編集を行なうための
専用回路を設けても良い。
【0135】したがって、本表示装置は、テレビジョン
放送の表示機器、テレビ会議の端末機器、静止画像およ
び動画像を扱う画像編集機器、コンピュータの端末機
器、ワードプロセッサをはじめとする事務用端末機器、
ゲーム機などの機能を一台で兼ね備えることが可能で、
産業用あるいは民生用として極めて応用範囲が広い。
【0136】なお、上記図17は、表面伝導形放出素子
を電子ビーム源とするディスプレイパネルを用いた表示
装置の構成の一例を示したにすぎず、これのみに限定さ
れるものでない事は言うまでもない。たとえば、図17
の構成要素のうち使用目的上必要のない機能に関わる回
路は省いても差し支えない。またこれとは逆に、使用目
的によってはさらに構成要素を追加しても良い。たとえ
ば、本表示装置をテレビ電話機として応用する場合に
は、テレビカメラ、音声マイク、照明機、モデムを含む
送受信回路などを構成要素に追加するのが好適である。
【0137】本表示装置においては、とりわけ表面伝導
型放出素子を電子ビーム源とするデイスプレイパネルの
薄形化が容易なため、表示装置の奥行きを小さくするこ
とができる。それに加えて、本発明を用いた表面伝導型
放出素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルは輝
度が高く、駆動時の安定性の高い表示装置であった。
【0138】次に、はしご型配置の電子源及び画像形成
装置について図11及び図12を用いて説明する。
【0139】図11は、はしご型配置の電子源の一例を
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112、Dx1〜D
x10は、電子放出素子111を接続するための共通配
線である。電子放出素子111は、基板110上に、X
方向に並列に複数個配されている(これを素子行と呼
ぶ)。この素子行が複数個配されて、電子源を構成して
いる。各素子行の共通配線間に駆動電圧を印加すること
で、各素子行を独立に駆動させることができる。即ち、
電子ビームを放出させたい素子行には、電子放出しきい
値以上の電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、
電子放出しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の
共通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2、Dx3を同
一配線とすることもできる。
【0140】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120はグリッド電極、121は電子が通過する
ため空孔、122はDox1,Dox2,...Dox
mよりなる容器外端子である。123はグリッド電極1
20と接続されたG1、G2、....Gnからなる容
器外端子、124は各素子行間の共通配線を同一配線と
した電子源基板である。図12においては、図8、図1
1に示した部位と同じ部位には、これらの図に付したの
と同一の符号を付している。ここに示した画像形成装置
と、図8に示した単純マトリクス配置の画像形成装置と
の大きな違いは、電子源基板110とフェースプレート
86の間にグリッド電極120を備えているか否かであ
る。
【0141】図12においては、基板110とフェ−ス
プレ−ト86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型放出素子か
ら放出された電子ビ−ムを変調するためのものであり、
はしご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ
状の電極に電子ビ−ムを通過させるため、各素子に対応
して1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリ
ッドの形状や設置位置は図12に示したものに限定され
るものではない。例えば、開口121としてメッシュ状
に多数の通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝
導型放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。容器
外端子122およびグリッド容器外端子123は、不図
示の制御回路と電気的に接続されている。
【0142】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビ−ムの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示すことができる。
【0143】本発明の画像形成装置は、テレビジョン放
送の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等
の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光
プリンターとしての画像形成装置等としても用いること
ができる。
【0144】
【実施例】以下、具体的な実施例を挙げて本発明を詳し
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0145】[実施例1]画像形成装置 本実施例は、表面伝導型電子放出素子74として、Mo
の導電性薄膜4をフォーミングし、アセトン中で活性化
を行い、Auを主成分とする被膜を電子放出部及びその
近傍に堆積したを物を用い、減圧部90としてH2を主
成分とするを配した画像形成装置の例である。
【0146】本発明の画像形成装置の表示パネルの構成
は図1、図8と同様である。図1は本発明の画像形成装
置の表示パネルの基本的構成を示す断面図、図8は斜視
図である。図1及び図8において、71は電子放出素子
74を複数配した電子源基板、81は電子源基板71を
固定したリアプレート、86はガラス基板83の内面に
蛍光膜84とメタルバック85等が形成されたフェース
プレート、82は支持枠である。フェースープレート8
6、支持枠82、リアプレート81で外囲器88が構成
され、外囲気内は減圧部90である。72、73は、表
面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続されたX
方向配線及びY方向配線である。これに、不図示の駆動
装置が接続、電圧印加されることにより、電子放出素子
から放出される電子線を蛍光体8に照射することにより
発光、画像形成するものである。
【0147】本実施例にかかわる表面伝導型電子放出素
子74の構成は、図2(a)、(b)と同様である。図
2において1は絶縁性基板、2、3は素子電極、4は導
電性薄膜、5は電子放出部である。
【0148】電子源基板71の一部の平面図を図13に
示す。また、図中のA−A’断面図を図14に、製造手
順を図15及び図16に示す。但し、図13、図14,
図15及び図16で、同じ記号を示したものは、同じも
のを示す。ここで71は電子源基板、72は図7のDx
nに対応するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図
7のDynに対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、
74は表面伝導型電子放出素子、4は導電性薄膜、2,
3は素子電極、151は層間絶縁層、112は素子電極
2と下配線72と電気的接続のためのコンタクトホール
である。
【0149】次に製造方法を,図15及び図16に基づ
いて工程順に従って具体的に説明する。尚、以下の各工
程a〜gは図15及び図16の(a)〜(g)に対応す
るものである。
【0150】工程−a:下配線形成 清浄化した青板ガラス上に厚さ0.5ミクロンのシリコ
ン酸化膜をスパッタ法で形成した基板1上に、真空蒸着
により厚さ50オングストロームのCr、厚さ6000
オングストロームのAuを順次積層した後、ホトレジス
ト(AZ1370:ヘキスト社製)をスピンナーにより
回転塗布、ベークした後、ホトマスク像を露光、現像し
て、下配線72のレジストパターンを形成し、Au/C
r堆積膜をウヱットエッチングして、所望の形状の下配
線72を形成する 工程−b:層間絶縁層形成 次に、厚さ1.0ミクロンのシリコン酸化膜からなる層
間絶縁層151をRFスパッタ法により堆積する。
【0151】工程−c:コンタクトホール形成 工程bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール1
52を形成するためのホトレジストパターンを作り、こ
れをマスクとして層間絶縁層151をエッチングしてコ
ンタクトホール152を形成する。エッチングはCF4
とH2ガスを用いたRIE(Reactive Ion Etching)法
によった。
【0152】工程−d:素子電極形成 その後、素子電極2と素子電極間ギャップGとなるべき
パターンをホトレジスト(RD−2000N−41 日
立化成社製)形成し、真空蒸着法により、厚さ50オン
グストロームのTi、厚さ1000オングストロームの
Niを順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤
で溶解し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極
間隔L1は3ミクロンとし、素子電極の幅W1を300
ミクロン、を有する素子電極2,3を形成した。
【0153】工程−e:上配線形成 素子電極5,6の上に上配線73のホトレジストパター
ンを形成した後、厚さ50オングストロームのTi、厚
さ5000オングストロームのAuを順次真空蒸着によ
り堆積し、リフトオフにより不要の部分を除去して、所
望の形状の上配線73を形成した。
【0154】工程−f:導電性薄膜を形成 次に、導電性薄膜となるMo膜をEB蒸着(電子線加熱
蒸着)により堆積した。こうして形成されたMoよりな
る微粒子からなる導電性薄膜4の膜厚は20オングスト
ローム、シート抵抗値は5×104Ω/□であった。な
おここで述べる微粒子膜とは、上述したように、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接、あるいは、重なり合った状態(島状も含む)の
膜をさし、その粒径とは、前記状態で粒子形状が認識可
能な微粒子ついての径をいう。
【0155】さらにホトレジストにより導電性薄膜とな
るべきパターニングを施し,Mo導電性薄膜4を酸エッ
チャントによりエッチングして所望のパターンを形成し
た。
【0156】工程−g:コンタクトホールを埋め込み コンタクトホール152部分以外にレジストを塗布する
ようなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ50オン
グストロームのTi、厚さ5000オングストロームの
Auを順次堆積した。リフトオフにより不要の部分を除
去することにより、コンタクトホール152を埋め込ん
だ。
【0157】工程−i:封着 以上のようにして多数の平面型表面伝導電子放出素子を
作製した 電子源基板71をリアプレート81上に固定
した後、基板1の5mm上方に、フェースプレート86
(ガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバック8
5が形成されて構成される)を支持枠82を介し配置
し、フェースプレート86、支持枠82、リアプレート
81の接合部にフリットガラスを塗布し、大気中し50
0℃で10分以上焼成することで封着した。またリアプ
レート81への電子源基板71の固定もフリットガラス
で行った。
【0158】蛍光膜84は、モノクロームの場合は蛍光
体のみから成るが、本実施例では蛍光体はストライプ形
状を採用し、先にブラックストライプを形成し、その間
隙部に各色蛍光体を塗布し、蛍光膜84を作製した。ブ
ラックストライプの材料として通常良く用いられている
黒鉛を主成分とする材料を用いた。ガラス基板83に蛍
光体を塗布する方法はスラリー法を用いた。
【0159】また、蛍光膜84の内面側には通常メタル
バック85が設けられる。メタルバック85は、蛍光膜
84作製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通
常、フィルミングと呼ばれる)を行い、その後,Alを
真空蒸着することで作製した。フェースプレート86に
は、更に蛍光膜84の導電性を高めるため、蛍光膜84
の外面側に透明電極(不図示)が設けられる場合もある
が、本実施例では、メタルバック85のみで十分な導電
性が得られたので省略した。
【0160】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
【0161】工程−j:フォーミング工程 以上のようにして完成したガラス容器内の雰囲気を排気
管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排気し、十分な真
空度に達した後、容器外端子Dxo1ないしDoxmと
Doy1ないしDoynを通じ電子放出素子74の電極
2、3間に電圧を印加し、フォーミング処理することに
より、電子放出部5を作成した。フォーミング処理の電
圧波形は、図4(b)と同様である。通電処理として
は、素子電圧Vfを印加するための電源51より、電極
2,3間にそれぞれ、図4(b)に示すような三角波の
電圧パルスを印加した。図4(b)中、T1及びT2は
電圧波形のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例では
T1を5ミリ秒、T2を10ミリ秒とし、矩形波の波高
値(フォーミング時のピーク電圧)は0.1Vステップ
で昇圧した。また、フォーミング処理中は、同時に、
0.1Vの電圧で、T2間に抵抗測定パルスを挿入し、
抵抗を測定した。尚フォーミング処理の終了は、抵抗測
定パルスでの測定値が、約1Mオーム以上になった時と
し、同時に、素子への電圧の印加を終了した。典型的な
素子のフォーミング電圧VFは、約8Vであった。
【0162】このように作成された電子放出部3は、M
oの元素を主成分とする微粒子が分散配置された状態と
なり、その微粒子の平均粒径は30オングストロームで
あった。
【0163】工程−k:活性化工程 続いて、活性化処理を施した。本実施例の活性化工程に
おいては、有機物質をとしてAu(CH32(C57
2)を2×10-4torrパネル内に導入し、16Vの
方形波電圧パルスを30min程度印加することにより
行った。この時、パルス幅T1は1ms,繰り返し周波
数1/T2は100Hzに設定した。
【0164】工程−l:安定化工程 次に、安定化処理として、120℃のべーキングを2時
間行った。この処理により、真空度は10ー8torrま
で排気された。
【0165】工程−m:減圧部形成 安定化工程に引き続き、H2ガスを10-7torrまで
パネル内に導入することにより、還元性を有する減圧部
90を形成した。このときのパネル内、つまり減圧部9
0の真空雰囲気分析を四重極マススペクトルメーターで
行ったところ、主成分はH2であり、次にN2,H2O,
CO2の順であった。O2分圧は5×10- 9torrであ
った。
【0166】工程−n:封止 不図示の排気管をガスバーナーで熱することで溶着し外
囲器の封止を行った。
【0167】これとは別に、比較例1として工程ーmを
施さない表示パネルを作成した。このときのパネル内、
つまり減圧部90の真空雰囲気分析を四重極マススペク
トルメーターで行ったところ、主成分はH2Oであり、
次にH2,N2,CO2の順であった。
【0168】<特性評価・比較>上述の工程ーaからー
nで作製した画像形成装置内の表面伝導電子放出素子の
特性を、図5と同様の測定評価装置において上記画像形
成装置内の雰囲気と同様にして測定し、特性評価した。
なお、アノード電極と電子放出素子間の距離を5mm、
アノード電極の電位を1kVで測定したところ図6でし
めされるような素子電流If,放出電流Ieが素子電圧
Vfにたいし、ほぼ単調増加の特性(MI特性)を示し
た。
【0169】次に、経時変化の評価をした。図21に示
したように、本実施例の画像形成装置に用いた素子と同
様の素子の放出電流は、図の下段に示す比較例1の画像
形成装置内の雰囲気と同様にした場合、測定評価装置内
の雰囲気と比べて、駆動直後から安定した放出量を維持
できていることが分かった、以上のように完成した本発
明の画像表示装置において、各電子放出素子には、容器
外端子Dx1ないしDxm,Dy1ないしDynを通
じ、走査信号及び変調信号を不図示の信号発生手段より
それぞれ、印加することにより、電子放出させ、高圧端
子Hvを通じ、メタルバック85に4kV以上の高圧を
印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、
励起・発光させることで画像を表示した。本実施例の画
像形成装置は安定な表示画像を長期にわたって得られる
画像形成装置であった。
【0170】また、μ−Auger、EPMA等の分析
により、電子放出部及びその近傍においてはMoと堆積
物としてAuが存在することが確認された。これより、
導電性薄膜の一部にMo元素を配し、H2を主とする減
圧部90を構成することにより、安定且つ長寿命の画像
形成装置が実現できることが分かった。
【0171】[実施例2]本実施例は、表面伝導型電子
放出素子として、PdOの導電性薄膜をフォーミング
し、W(C5522中で活性化を施しWを主成分とす
る膜を電子放出部及びその近傍に堆積した素子を用い、
減圧部90としてH2を主成分とする気体を配した画像
形成装置の例である。
【0172】本実施例において、導電性薄膜形成工程ー
f 及び 活性化工程ーk以降、を除いては、実施例1
と同様に画像形成装置を作成した。以下、工程ーf及び
活性化工程ーk以降についてのみ述べる。
【0173】工程−f:膜厚100ナノメートルのCr
膜を真空蒸着により堆積・パターニングし、そのうえに
有機Pd(ccp4230 奥野製薬(株)社製)をス
ピンナーにより回転塗布し、300℃で10分間の加熱
焼成処理をした。また、こうして形成された主元素とし
てPdよりなる微粒子からなる導電性薄膜4の膜厚は1
00オングストローム、シート抵抗値は5×104Ω/
□であった。なおここで述べる微粒子膜とは、上述した
ように、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構
造として、微粒子が個々に分散配置した状態のみなら
ず、微粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状態
(島状も含む)の膜をさし、その粒径とは、前記状態で
粒子形状が認識可能な微粒子ついての径をいう。
【0174】引き続き、Cr膜および焼成後の導電性薄
膜4を酸エッチャントによりエッチングして所望のパタ
ーンすることにより、PdOからなる導電性薄膜を形成
した。
【0175】活性化工程ーk:揮発性金属化合物をとし
てW(C5522を用いた。揮発性金属化合物の導入
には図18のような導入系を用い、バブラー温度は60
℃とし、揮発性金属化合物の分圧を1×10-5torr
程度としてパネル内に導入した。
【0176】次に、16Vの方形波電圧パルスを20m
in程度印加することにより行った。この時、パルス幅
T1は1ms,繰り返し周波数1/T2は100Hzに
設定した。
【0177】工程−l:安定化工程 次に、安定化処理として、120℃のべーキングを5時
間行った。この処理により、真空度は10ー8torr程
度まで排気された。
【0178】工程−m:減圧部形成 これに引き続き、H2ガスを10-7torrまで導入す
ることにより、還元性を有する減圧部90を形成した。
このときのパネル内、つまり減圧部90の真空雰囲気分
析を四重極マススペクトルメーターで行ったところ、主
成分はH2であり、次にN2,H2O,CO2の順であっ
た。O2分圧は4×10-10torrであった。
【0179】工程−n:封止 不図示の排気管をガスバーナーで熱することで溶着し外
囲器の封止を行った。
【0180】これとは別に、比較例2として工程ーmを
施さない表示パネルを作成した。このときのパネル内、
つまり減圧部90の真空雰囲気分析を四重極マススペク
トルメーターで行ったところ、主成分はH2Oであり、
次にH2,N2,CO2の順であった。
【0181】<特性評価・比較>実施例1と同様な特性
評価を行ったところ図6でしめされるような素子電流I
f,放出電流Ieが素子電圧Vfにたいし、ほぼ単調増
加の特性(MI特性)を示した。
【0182】次に、経時変化の評価をした。図21と同
じように、本実施例の画像形成装置の放出電流は、下段
に示す比較例2と比べて、駆動直後から安定した放出量
を維持できていることが分かった。
【0183】以上のように完成した本発明の画像表示装
置において、各電子放出素子には、容器外端子Dx1な
いしDxm,Dy1ないしDynを通じ、走査信号及び
変調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞれ、印加す
ることにより、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メ
タルバック85に3kV以上の高圧を印加し、電子ビー
ムを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させる
ことで画像を表示した。本実施例の画像形成装置は安定
な表示画像を長期にわたって得られる画像形成装置であ
った。
【0184】また、μ−Auger、EPMA等の分析
により、電子放出部及びその近傍に堆積物としてWが存
在することが確認された。
【0185】これより、導電性薄膜の一部にW元素を配
し、H2を主とする減圧部を構成することにより、安定
且つ長寿命の画像形成装置が実現できることが分かっ
た。
【0186】[実施例4]表面伝導型電子放出素子 本実施例は、真空装置内に、導電性薄膜の一部に6A族
の元素(W)を有する表面伝導型電子放出素子を配置
し、真空装置内の雰囲気の変化にともなう電子放出素子
の特性変化を測定評価した例である。
【0187】本実施例にかかわる表面伝導型電子放出素
子の構成は、図2と同様であるので説明を省略する。
【0188】工程−a:清浄化した青板ガラス上に厚さ
0.5ミクロンのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成し
た基板1上に、素子電極5と素子電極間ギャップGとな
るべきパターンをホトレジスト(RD−2000N−4
1 日立化成社製)により形成し、真空蒸着法により、
厚さ50オングストロームのTi、厚さ500オングス
トロームのPtを順次堆積した。ホトレジストパターン
を有機溶剤で溶解し、Pt/Ti堆積膜をリフトオフ
し、素子電極間隔L1は3ミクロンとし、素子電極の幅
W1を300ミクロン、を有する素子電極2,3を形成
した。
【0189】工程−b:次に、電子放出部を形成するた
めの導電性薄膜4を所定の形状にパターニングするため
に、通常良く用いられる蒸着マスクを素子電極上に配置
し、膜厚1000オングストロームのCr膜を真空蒸着
により堆積・パターニングし、そのうえに有機Pd(c
cp4230 奥野製薬(株)社製)をスピンナーによ
り回転塗布し、300℃で10分間の加熱焼成処理をし
た。また、こうして形成された主元素としてPdよりな
る微粒子からなる導電性薄膜4の膜厚は100オングス
トローム、シート抵抗値は2×104Ω/□であった。
なおここで述べる微粒子膜とは、上述したように、複数
の微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微
粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互
いに隣接、あるいは、重なり合った状態(島状も含む)
の膜をさし、その粒径とは、前記状態で粒子形状が認識
可能な微粒子ついての径をいう。さらに、Cr膜および
焼成後の導電性薄膜4を酸エッチャントによりエッチン
グして所望のパターンを形成した。以上の工程により基
板1上に、素子電極2,3,導電性薄膜4等を形成し
た。
【0190】工程−c:フォーミング工程 次に、図5の真空処理装置に上記工程ーbを終えた素子
を設置した。図5は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図5においても、図2に示した部
位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号を付し
ている。図5において、55は真空容器であり、56は
排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素子が
配されている。即ち、1は電子放出素子を構成する基体
であり、2及び3は素子電極、4は導電性薄膜である。
51は、電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための
電源、50は素子電極2・3間の導電性薄膜4を流れる
素子電流Ifを測定するための電流計である。
【0191】これを、ターボポンプにて排気し、2×1
-6torrの真空度に達した後、通電処理によりフォ
ーミングを施した。通電処理としては、素子電圧Vfを
印加するための電源51より、2,3間にそれぞれ、図
4(b)に示すような三角波の電圧パルスを印加した。
図4(b)中、T1及びT2は電圧波形のパルス幅とパ
ルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、T2を
10ミリ秒とし、矩形波の波高値(フォーミング時のピ
ーク電圧)は0.1Vステップで昇圧した。また、フォ
ーミング処理中は、同時に、0.1Vの電圧で、T2間
に抵抗測定パルスを挿入し、抵抗を測定した。尚フォー
ミング処理の終了は、抵抗測定パルスでの測定値が、約
1Mオーム以上になった時とし、同時に、素子への電圧
の印加を終了した。典型的な素子のフォーミング電圧V
Fは6Vであった。
【0192】工程−d:活性化工程 続いて、フォーミング処理した素子に活性化処理を施し
た。本実施例の活性化工程においては、揮発性金属化合
物をとしてW(CO)6を用いた。揮発性金属化合物の
導入には図18のような導入系を用い、バブラー温度は
30℃とし、揮発性金属化合物の分圧を1×10-5to
rrパネル内に導入した。次に,16Vの方形波電圧パ
ルスを40min程度印加することにより活性化を行っ
た。この時パルス幅T1は1ms,繰り返し周波数1/
T2は100Hzに設定した。
【0193】工程ーe:安定化工程 最後に、真空雰囲気を有機物質のほぼ存在しない、超高
真空に移行するため、安定化処理として、150℃のべ
ーキングを5時間行った。
【0194】<特性評価>上述の工程ーaからーeで作
製し表面伝導電子放出素子の特性を、図5の測定評価装
置において測定し、特性評価した。なお、アノード電極
と電子放出素子間の距離を4mmとした。測定評価条件
は素子電圧Vfを16Vとし、その時の素子電流If及
び放出電流Ieを測定した。また、アノード電極の電位
は1〜10kVの間で適宜設定した。また、真空装置内
のベース真空度は4×10ー10torrであり、主成分
はH2であった。
【0195】まず、ベース真空中で、本実施例の素子特
性を測定したところ図6でしめされるような素子電流I
f,放出電流Ieが素子電圧Vfにたいしほぼ単調増加
の特性(MI特性)を示す事を確認した。
【0196】次に、H2、O2、H2O等のガスを導入す
ることにより、電子放出特性の変化を調べた。このと
き、随時、四重極マススペクトロメーターにより真空雰
囲気をモニターした。
【0197】まず、ベース真空より徐々にH2導入した
ところ、H2雰囲気により、経時劣化が抑制されること
が分かった。図22に、一例として、H2を10-7to
rr導入した時の経時変化を示す。
【0198】一方、図23に示すように。ベース真空よ
りO2導入したところ、10-9torr程度から経時劣
化が速くなるのが見られ、導入圧が高くなるに連れその
劣化はさらに速くなった。H2Oを導入した場合には、
その効果は小さいものの、O2と同様な傾向を示した。
【0199】また、あらかじめH2Oを5×10-9to
rr程度導入しておき、さらにH2を導入した際には、
2圧が1×10-8torr程度から効果が現われはじ
め、劣化が抑制された。このとき、四重極マススペクト
ロメーターにおいては、 「H2分圧 >H2O分圧 >O2分圧」 の条件が満たされていた。
【0200】また、ガスの種類において若干の差異があ
るものの、全圧を10-4torr程度以上導入すると、
特にアノード電圧が大きい場合には、放電現象が生じ、
電子放出量が急減することがあった。
【0201】最後に、本実施例に用いた電子放出部を、
μ−Auger、EPMA等の分析したところ、電子放
出部及びその高電位側においては堆積物としてWが存在
することが確認された。
【0202】これらより、H2中で等を主とする還元性
を有する気体を配することにより、電子放出の経時劣化
が抑制されることがわかった。また、特にO2分圧が1
-9torr以上であると劣化が速いことが分かった。
【0203】さらに、全圧が10-4torr以上である
と放電現象を伴う素子劣化が起こることがあった。
【0204】
【発明の効果】本発明は、表面伝導型電子放出素子と減
圧部を有する画像形成装置において、表面伝導型電子放
出素子としては導電性薄膜に6A族の元素(W,Mo,
Cr)を含むものを、減圧部としてはH等を主とする還
元性を有する気体を配した。これにより、導電性薄膜、
特に電子放出部の駆動による劣化を抑制でき、安定な画
像を長時間にわたり提供できる画像形成装置を実現する
ことができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像形成装置に用いる表示パネル
の構成図(断面図)である。
【図2】本発明による平面型表面伝導型電子放出素子を
示す概略的構成図であり、(a)は平面図、(b)は断
面図、(c)は垂直型表面伝導型電子放出素子を示す断
面図である。
【図3】本発明による表面伝導型電子放出素子の製造方
法を示す図である。
【図4】本発明によるフォーミング工程に用いる通電処
理の電圧波形を示す図である。
【図5】本発明に係わる表面伝導型電子放出素子の基本
的な測定評価系の一例を示す概略的構成図である。
【図6】本発明による表面伝導型電子放出素子の放出電
流ー素子電圧特性(I−V特性)を示す図である。
【図7】本発明による単純マトリックス配置の電子源基
板の概略的構成図である。
【図8】本発明による単純マトリックス配置の電子源基
板を用いた画像形成装置に用いる表示パネルの概略的構
成図である。
【図9】図8の表示パネルにおける蛍光膜を示す図であ
る。
【図10】図8の表示パネルを駆動する駆動回路の一例
を示す図である。
【図11】本発明による梯型配置の電子源基板の概略的
構成図である。
【図12】本発明による梯型配置の電子源基板を用いた
画像形成装置に用いる表示パネルの概略的構成図であ
る。
【図13】本発明による実施例1における電子放出装置
を示す概略的平面図である。
【図14】図13におけるA−A’部の断面図である。
【図15】本発明による実施例1における電子源基板の
製造手順(a)〜(d)を示す図である。
【図16】本発明による実施例1における電子源基板の
製造手順(e)〜(g)を示す図である。
【図17】本発明による実施例4における画像形成装置
を示すブロック図である。
【図18】本発明による揮発性金属化合物の導入系を示
す概略的構成図である。
【図19】本発明による6A族の金属酸化物の標準生成
自由エネルギーを示す図である。
【図20】本発明による減圧部形成に使用する排気装置
である。
【図21】本発明による実施例1、比較例1の放出電流
の経時変化を示す図である。
【図22】本発明による実施例4において、H2導入に
伴う放出電流の変化を示す図である。
【図23】本発明による実施例4において、O2導入に
伴う放出電流の変化を示す図である。
【図24】化学的気相成長法を用いて作成された表面伝
導型電子放出素子の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2,3 素子電極 4 導電性薄膜 5 電子放出部 21 段差形成部材 40 パルス印加装置 44 ガス導入管 50 素子電流Ifを測定するための電流計 51 電源 52 放出電流Ieを測定するための電流計 53 高圧電源 54 アノード電極 55 真空装置 56 排気ポンプ 61 バブラー 62 揮発性金属材料 63 マスフローコントローラー 71 電子源基板 72 x方向配線(下配線) 73 y方向配線(上配線) 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 88 外囲器 90 減圧部 91 黒色導電材 92 蛍光体 151 層間絶縁層 152 コンタクトホール 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 112 共通配線 120 グリッド電極 121 空孔 122 容器外端子 123 グリッドに接続された容器外端子 997 金属を主成分とする膜

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも電子放出素子と前記電子放出
    素子が接する減圧部と前記電子放出素子からの電子が照
    射されることで発光する発光体とを有する画像形成装置
    において、 前記電子放出素子は、少なくとも一部に6A族の元素を
    有し、 前記減圧部は前記6A族の元素に比し還元力が強い気体
    からなることを特徴とする画像形成装置。
  2. 【請求項2】 少なくとも電子放出素子と前記電子放出
    素子が接する減圧部と前記電子放出素子からの電子が照
    射されることで発光する発光体とを有する画像形成装置
    において、 前記電子放出素子は絶縁性基板上に形成された一対の素
    子電極にまたがって形成され、電子放出部を有する導電
    性薄膜を備え、前記導電性薄膜の少なくとも一部に6A
    族の元素を有し、 前記減圧部が前記6A族の元素に比し還元力が強い気体
    からなることを特徴とする画像形成装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載の画像形成装置に
    おいて、 前記減圧部の気体の主成分がH2であることを特徴とす
    る画像形成装置。
  4. 【請求項4】 請求項1又は2に記載の画像形成装置に
    おいて、 前記減圧部の気体が、 H2分圧 > H2O分圧 > O2分圧 なる条件を満たすことを特徴とする画像形成装置。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかの1項に記載
    の画像形成装置において、 前記減圧部のO2分圧が10-9torr以下であること
    を特徴とする画像形成装置。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかの1項に記載
    の画像形成装置において、 前記減圧部の全圧が10-4torr以下であることを特
    徴とする画像形成装置。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至6のいずれかの1項に記載
    の画像形成装置において、 前記6A族の元素がW(タングステン)であることを特
    徴とする画像形成装置。
  8. 【請求項8】 請求項2乃至6のいずれかの1項に記載
    の画像形成装置において、 前記電子放出素子が表面伝導型電子放出素子であること
    を特徴とする画像形成装置。
  9. 【請求項9】 請求項2乃至8のいずれかの1項に記載
    の画像形成装置の製造方法において、 少なくとも前記6A族の元素は揮発性金属化合物中にお
    いて前記素子電極間に電圧を印加することにより堆積す
    る工程を有することを特徴とする画像形成装置の製造方
    法。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の画像形成装置の製造
    方法において、 少なくとも前記揮発性金属化合物がW(CO)6,W
    6,W(C55)2H2のいずれかであることを特徴と
    する画像形成装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 請求項9に記載の画像形成装置の製造
    方法において、 少なくとも前記揮発性金属化合物がMo(CO)6,M
    oF6,Mo(C66 2のいずれかであることを特徴と
    する画像形成装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 請求項9乃至11のいずれかの1項に
    記載の画像形成装置の製造方法において、 前記6A族の元素を堆積する工程が活性化工程であるこ
    とを特徴とする画像形成装置の製造方法。
  13. 【請求項13】 請求項2乃至8のいずれかの1項に記
    載の画像形成装置の製造方法において、 前記減圧部の形成において、少なくとも前記減圧部にH
    2を導入する工程を有することを特徴とする画像形成装
    置の製造方法。
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