JPH09260000A - Contact probe and socket for mounting contact probe - Google Patents
Contact probe and socket for mounting contact probeInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、IC、LSI、
LCDパネルなどの電子部品などの測定対象物の電気的
検査に用いられるいわゆるコンタクトプローブおよびコ
ンタクトプローブ取付用ソケットに関し、より詳細に
は、前記電子部品のリード部などの電極にコンタクトプ
ローブのピンを接しさせて、該電子部品の回路間を電気
的に接続して検査を行うに際して、各コンタクトプロー
ブに伝送される信号へのノイズの入り込みを防止する絶
縁構造を備えたコンタクトプローブおよびコンタクトプ
ローブ取付用ソケットに関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to an IC, an LSI,
The present invention relates to a so-called contact probe and a socket for mounting a contact probe, which are used for electrical inspection of an object to be measured such as an electronic part such as an LCD panel. And a socket for mounting a contact probe having an insulating structure for preventing noise from entering a signal transmitted to each contact probe when the circuits of the electronic component are electrically connected and tested. Regarding
【0002】[0002]
【従来の技術】IC、LSI、LCDパネルなどの電子
部品などの測定対象物の電気的検査に用いられるいわゆ
るコンタクトプローブでは、前記電子部品などの回路間
の検査を的確に行うために、特定のコンタクトプローブ
が接する特定の電極からもたらされる信号以外の信号、
例えば、検査の対象となる前記電子部品以外の周辺機器
からもたらされる電磁波などにより生じる電流に起因し
た不要な信号からのシールド性が求められている。2. Description of the Related Art In a so-called contact probe used for electrically inspecting an object to be measured such as an electronic component such as an IC, an LSI, an LCD panel, etc., in order to perform an accurate inspection between circuits such as the electronic component, Signals other than those coming from the particular electrode that the contact probe contacts,
For example, it is required to have a shielding property from an unnecessary signal due to a current generated by an electromagnetic wave or the like brought from a peripheral device other than the electronic component to be inspected.
【0003】こうしたことから、この種のコンタクトプ
ローブにあっては、前記電子部品の電極に接するピン
と、このピンを出没自在に収め入れる筒状のスリーブと
からなるコンタクトプローブにおける当該スリーブの外
側にプラスチックなどの絶縁材による絶縁層を形成させ
ると共に、このコンタクトプローブが差し込み取り付け
られる取付穴を備えた導電性材料よりなる取付部材(通
例取付ヘッドと称される。)を接地させて前記電磁波等
に起因したノイズがコンタクトプローブに伝送される信
号に入り込むことを防止していた。For this reason, in this type of contact probe, a plastic is formed on the outside of the sleeve of the contact probe, which is composed of a pin that comes into contact with the electrode of the electronic component and a cylindrical sleeve that retractably accommodates the pin. An insulating layer made of an insulating material such as is formed, and a mounting member (usually referred to as a mounting head) made of a conductive material having a mounting hole into which the contact probe is inserted and grounded is grounded to cause the electromagnetic waves. The generated noise was prevented from entering the signal transmitted to the contact probe.
【0004】そして従来は、前記コンタクトプローブを
差し込める内径を備えたプラスチック製のチューブを用
意し、このチューブ内に前記コンタクトプローブを差し
込んで、当該コンタクトプローブにおける前記スリーブ
の外側に絶縁層を設けていた。Conventionally, a plastic tube having an inner diameter into which the contact probe can be inserted is prepared, the contact probe is inserted into the tube, and an insulating layer is provided outside the sleeve of the contact probe. It was
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ここで、前記コンタク
トプローブによる前記電子部品などの測定対象物の電気
的測定は、当該コンタクトプローブに伝送される信号を
適宜の測定器に印加させることによりなされるところ、
この測定器による測定を正確になすためには、コンタク
トプローブ側のインピーダンスが一定の値に保たれてい
る必要がある。The electrical measurement of the measuring object such as the electronic component by the contact probe is performed by applying a signal transmitted to the contact probe to an appropriate measuring device. By the way
In order to make accurate measurements with this measuring instrument, the impedance on the contact probe side must be maintained at a constant value.
【0006】しかるに、かかるコンタクトプローブ側の
インピーダンスは主としてコンタクトプローブの径と、
このコンタクトプローブと導電性材料よりなる取付部材
との間に設けられた前記絶縁層の厚さおよび当該絶縁層
を構成する絶縁材の誘電率により定まることから、かか
るコンタクトプローブ側のインピーダンスを一定に保つ
ためには、特に、前記絶縁層の厚さ寸法を正確に管理す
ることが求められる。However, the impedance on the contact probe side mainly depends on the diameter of the contact probe and
Since the thickness is determined by the thickness of the insulating layer provided between the contact probe and the mounting member made of a conductive material and the dielectric constant of the insulating material forming the insulating layer, the impedance on the contact probe side is kept constant. In order to keep it, it is particularly required to accurately control the thickness dimension of the insulating layer.
【0007】しかしながら、かかる絶縁層を前記プラス
チック製のチューブにより設ける従来の手法では、当該
チューブの成形技術上、当該チューブの厚さ寸法を正確
に管理することには限界があり、コンタクトプローブ側
のインピーダンスをより厳密に一定値に保つ観点から、
その改善が要請されていた。However, in the conventional method of providing such an insulating layer by the plastic tube, there is a limit in accurately controlling the thickness dimension of the tube due to the molding technology of the tube, and the contact probe side is limited. From the viewpoint of keeping the impedance at a constant value more strictly,
The improvement was requested.
【0008】また一方、近年におけるIC、LSI、L
CDパネル等の電子部品の高集積化、微細化に伴い、こ
うした電子部品に設けられる複数の電極間のピッチも極
小化してきていることから、極小ピッチで配列されるこ
うした電子部品の複数の電極からの信号の採取を可能と
するために、コンタクトプローブを可能な限り狭ピッチ
で前記取付部材に配列できるように、できる限り前記絶
縁層の厚さを小さくできるように当該絶縁層を構成する
ことが要請されている。On the other hand, in recent years, IC, LSI, L
With the high integration and miniaturization of electronic components such as CD panels, the pitch between the plurality of electrodes provided in such electronic components has also been minimized. Therefore, the plurality of electrodes of such electronic components arranged at a minimum pitch. In order to be able to collect signals from the contact probe, the contact probe can be arranged on the mounting member at a pitch as narrow as possible, and the insulation layer is configured so that the thickness of the insulation layer can be made as small as possible. Has been requested.
【0009】そこでこの発明は、かかる従来の技術の不
都合を是正することを目的としている。Therefore, the present invention aims to correct the disadvantages of the conventional techniques.
【0010】また、コンタクトプローブ又はコンタクト
プローブの取付用ソケットに設けられる絶縁層の厚さ管
理を容易かつ正確になし得るようにすることを目的とす
る。Another object of the present invention is to make it possible to easily and accurately control the thickness of the insulating layer provided on the contact probe or the socket for mounting the contact probe.
【0011】また、かかる絶縁層の厚さをできる限り小
さくできるようにすることを目的とする。Another object is to make the thickness of the insulating layer as small as possible.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明では、コンタクトプローブC
を、測定対象物Tの電極Taに接する導電性材料よりな
るピンPと、当該ピンPが一端を突き出させるように差
し入れ、組み付けられる導電性材料よりなる少なくとも
一端が開口された筒状スリーブSとを備え、当該スリー
ブSの取付穴Haを備えると共に接地Aしてある導電性
材料よりなる取付部材Hにおける当該取付穴Haより少
なくとも前記ピンPの一端を突き出させるように当該取
付穴Haに嵌め付けられるコンタクトプローブCであっ
て、このコンタクトプローブCが、前記スリーブSの外
側に、当該コンタクトプローブCと前記取付部材Hとを
絶縁する絶縁層Zを備えると共に、この絶縁層Zが、前
記スリーブSに巻き付けられた絶縁テープZa又は絶縁
糸状体Zbにより構成してあるものとした。In order to achieve the above object, the contact probe C according to the invention of claim 1 is provided.
A pin P made of a conductive material, which is in contact with the electrode Ta of the measuring object T, and a cylindrical sleeve S having at least one end made of a conductive material, which is inserted so that the pin P protrudes at one end and which is assembled. The mounting hole Ha of the sleeve S, and at least one end of the pin P protrudes from the mounting hole Ha of the mounting member H made of a conductive material grounded A and fitted into the mounting hole Ha. The contact probe C is provided with an insulating layer Z that insulates the contact probe C and the mounting member H from the outside of the sleeve S, and the insulating layer Z includes the insulating layer Z. The insulating tape Za or the insulating filamentous member Zb wound around the above is used.
【0013】また、請求項2記載の発明では、請求項1
記載の発明にかかるコンタクトプローブCにおける絶縁
テープZa又は絶縁糸状体Zbが、多孔質テフロンより
なる構成のものとした。Further, according to the invention described in claim 2, according to claim 1,
The insulating tape Za or the insulating filamentous member Zb in the contact probe C according to the described invention is made of porous Teflon.
【0014】また、請求項3記載の発明では、コンタク
トプローブCの取付用ソケットUを、測定対象物Tの電
極Taに接する導電性材料よりなるピンPと、当該ピン
Pが一端を突き出させるように差し入れ、組み付けられ
る導電性材料よりなる少なくとも一端が開口された筒状
スリーブSとを備えるコンタクトプローブCを収める導
電性材料よりなる筒状ソケットUであって、このソケッ
トUが、当該ソケットUの取付穴Haを備えると共に接
地Aしてある導電性材料よりなる取付部材Hにおける当
該取付穴Haより少なくとも前記コンタクトプローブC
のピンPの一端を突き出させるように当該取付穴Haに
嵌め付けられると共に、このソケットUが、当該ソケッ
トUの外側に、当該ソケットUと前記取付部材Hとを絶
縁する絶縁層Zを備えており、この絶縁層Zが、前記ソ
ケットUに巻き付けられた絶縁テープZa又は絶縁糸状
体Zbにより構成してあるものとした。According to the third aspect of the present invention, the mounting socket U of the contact probe C has a pin P made of a conductive material that is in contact with the electrode Ta of the object T to be measured, and one end of the pin P projects. A cylindrical socket U made of a conductive material, which accommodates a contact probe C provided with a cylindrical sleeve S having at least one end opened and made of a conductive material to be assembled into the socket U. At least the contact probe C from the mounting hole Ha in the mounting member H made of a conductive material that has the mounting hole Ha and is grounded A
Of the pin P is fitted into the mounting hole Ha so that one end of the pin P is projected, and the socket U is provided with an insulating layer Z for insulating the socket U and the mounting member H from the outside of the socket U. It is assumed that the insulating layer Z is composed of the insulating tape Za or the insulating thread Zb wound around the socket U.
【0015】また、請求項4記載の発明では、請求項3
記載の発明にかかるコンタクトプローブCの取付ソケッ
トUにおける絶縁テープZa又は絶縁糸状体Zbが、多
孔質テフロンよりなる構成のものとした。Further, according to the invention of claim 4, in claim 3,
The insulating tape Za or the insulating filamentous member Zb in the mounting socket U of the contact probe C according to the described invention is made of porous Teflon.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、図1ないし図8に基づい
て、この発明の典型的な実施の形態について説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A typical embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
【0017】この実施の形態にかかるコンタクトプロー
ブCは、測定対象物Tの電極Taに接する導電性材料よ
りなるピンPと、当該ピンPが一端を突き出させるよう
に差し入れ、組み付けられる導電性材料よりなる少なく
とも一端が開口された筒状スリーブSとを備え、当該ス
リーブSの取付穴Haを備えると共に接地Aしてある導
電性材料よりなる取付部材Hにおける当該取付穴Haよ
り少なくとも前記ピンPの一端を突き出させるように当
該取付穴Haに嵌め付けられるコンタクトプローブCで
あって、このコンタクトプローブCが、前記スリーブS
の外側に、当該コンタクトプローブCと前記取付部材H
とを絶縁する絶縁層Zを備えると共に、この絶縁層Z
が、前記スリーブSに巻き付けられた絶縁テープZa又
は絶縁糸状体Zbにより構成してある。The contact probe C according to this embodiment has a pin P made of a conductive material which is in contact with the electrode Ta of the object T to be measured, and a conductive material which is inserted and inserted so that the pin P projects at one end. At least one end of the pin P from the mounting hole Ha of the mounting member H made of a conductive material that is equipped with a cylindrical sleeve S having at least one end opened and has a mounting hole Ha of the sleeve S and is grounded A. Is a contact probe C fitted into the mounting hole Ha so as to protrude, and the contact probe C is the sleeve S.
On the outside of the contact probe C and the mounting member H.
And an insulating layer Z for insulating
Is composed of an insulating tape Za or an insulating thread Zb wound around the sleeve S.
【0018】かかる構成により、この実施の形態にかか
るコンタクトプローブCによれば、前記絶縁層Zの厚さ
を当該コンタクトプローブCの長さ方向に亙って、前記
絶縁テープZaの厚さ寸法又は絶縁糸状体Zbの径寸法
に正確に揃えることができ、この結果、当該絶縁層Zの
厚さ寸法に相応して変動されるコンタクトプローブC側
のインピーダンスを所要の一定値に正確に保つことがで
きる。With such a configuration, according to the contact probe C according to this embodiment, the thickness of the insulating layer Z is spread over the length direction of the contact probe C, and the thickness of the insulating tape Za or The diameter of the insulating filamentous body Zb can be accurately aligned, and as a result, the impedance of the contact probe C side, which varies depending on the thickness of the insulating layer Z, can be accurately maintained at a required constant value. it can.
【0019】すなわち、かかる絶縁テープZa又は絶縁
糸状体Zbは、成形上、当該絶縁テープZaの厚さ又は
絶縁糸状体Zbの径を均一に保ち易いことから、前記絶
縁層Zを絶縁材料を一体に成形して構成したチューブと
する場合に比べ、当該絶縁層Zの厚さ寸法を前記コンタ
クトプローブCの長さ方向に亙ってバラ付きなく当該絶
縁テープZaの厚さ寸法又は当該絶縁糸状体Zbの径寸
法に正確に揃えることができる。That is, since the insulating tape Za or the insulating thread Zb is easy to keep the thickness of the insulating tape Za or the diameter of the insulating thread Zb uniform during molding, the insulating layer Z is made of an insulating material. In comparison with the case where the tube is formed by molding, the thickness dimension of the insulating layer Z does not vary over the length direction of the contact probe C, and the thickness dimension of the insulating tape Za or the insulating filamentous body. It is possible to accurately match the diameter dimension of Zb.
【0020】また、前記コンタクトプローブCのスリー
ブSに巻き付ける前記絶縁テープZa又は絶縁糸状体Z
bの巻き数を変えることにより、前記絶縁層Zの厚さを
容易に調整することができ、これにより要求されるイン
ピーダンスに合わせてコンタクトプローブCのインピー
ダンスを容易かつ正確に調整することができる特長を有
する。Further, the insulating tape Za or the insulating thread Z wound around the sleeve S of the contact probe C.
The thickness of the insulating layer Z can be easily adjusted by changing the number of turns of b, whereby the impedance of the contact probe C can be easily and accurately adjusted according to the required impedance. Have.
【0021】すなわち、前記絶縁テープZaの厚さ寸法
又は絶縁糸状体Zbの径寸法は比較的均一に管理し得る
ことから、かかる絶縁テープZa又は絶縁糸状体Zbの
巻き数に前記絶縁層Zの厚さ寸法は正確に比例するもの
とされ、この結果、当該巻き数の増減・調整により要求
されるインピーダンスを備えるようにコンタクトプロー
ブCのインピーダンスを容易かつ正確に増減・調整する
ことができる。That is, since the thickness dimension of the insulating tape Za or the diameter dimension of the insulating thread Zb can be managed relatively uniformly, the number of windings of the insulating tape Za or the insulating thread Zb can be set to the insulating layer Z. The thickness dimension is exactly proportional, and as a result, the impedance of the contact probe C can be easily and accurately increased or decreased so as to have the impedance required by increasing or decreasing the number of turns.
【0022】また、前記コンタクトプローブCにおける
絶縁テープZa又は絶縁糸状体Zbを、多孔質テフロン
により構成することが、この発明の最良の実施の形態の
一つとされる。Further, it is one of the best modes of the present invention that the insulating tape Za or the insulating thread Zb in the contact probe C is made of porous Teflon.
【0023】かかる構成により、この実施の形態にかか
るコンタクトプローブCによれば、所定のインピーダン
スを当該コンタクトプローブCに持たせるにあたり必要
とされる前記絶縁層Zの厚さ寸法をできる限り小さいも
のとすることができる。With such a configuration, according to the contact probe C of this embodiment, the thickness dimension of the insulating layer Z required to give the contact probe C a predetermined impedance is as small as possible. can do.
【0024】すなわち、多孔質テフロンは、微細な孔な
いしは隙間を備えることからこの孔などに入り込んだ空
気により誘電率は比較的低いものとされ(空気の誘電率
を1とした場合に多孔質テフロンの誘電率は1.2
%)、この結果、所定のインピーダンスをコンタクトプ
ローブC側に付与する場合に必要とされる前記絶縁層Z
の厚さ寸法を、他の素材、特に従来かかる絶縁層Zに広
く用いられているテフロンに比べ、さらに小さくするこ
とができる。That is, since the porous Teflon has fine pores or gaps, the air entering the pores or the like has a relatively low dielectric constant (when the dielectric constant of air is 1, the porous Teflon is a porous Teflon. Has a dielectric constant of 1.2
%), And as a result, the insulating layer Z required when a predetermined impedance is applied to the contact probe C side.
The thickness can be made smaller than that of other materials, especially Teflon which has been widely used in the conventional insulating layer Z.
【0025】この結果、この実施の形態にかかるコンタ
クトプローブCによれば、複数のコンタクトプローブC
を、隣り合う一対のコンタクトプローブC、C間の間隔
をできる限り狭めるように前記取付部材Hに対し配設さ
せることができ、複数の電極Ta、Ta…間のピッチを
極小化させた電子部品などの測定対象物Tの測定に適し
たコンタクトプローブCを容易に構成することができる
特長を有する。As a result, according to the contact probe C according to this embodiment, a plurality of contact probes C are used.
Can be arranged with respect to the mounting member H so that the distance between the pair of adjacent contact probes C, C can be as narrow as possible, and the pitch between the plurality of electrodes Ta, Ta ... The contact probe C suitable for the measurement of the measuring object T such as is easily manufactured.
【0026】また、この実施の形態にかかるコンタクト
プローブCの取付用ソケットUは、測定対象物Tの電極
Taに接する導電性材料よりなるピンPと、当該ピンP
が一端を突き出させるように差し入れ、組み付けられる
導電性材料よりなる少なくとも一端が開口された筒状ス
リーブSとを備えるコンタクトプローブCを収める導電
性材料よりなる筒状ソケットUであって、このソケット
Uが、当該ソケットUの取付穴Haを備えると共に接地
Aしてある導電性材料よりなる取付部材Hにおける当該
取付穴Haより少なくとも前記コンタクトプローブCの
ピンPの一端を突き出させるように当該取付穴Haに嵌
め付けられると共に、このソケットUが、当該ソケット
Uの外側に、当該ソケットUと前記取付部材Hとを絶縁
する絶縁層Zを備えており、この絶縁層Zが、前記スリ
ーブSに巻き付けられた絶縁テープZa又は絶縁糸状体
Zbにより構成してある。Further, the mounting socket U of the contact probe C according to this embodiment has a pin P made of a conductive material, which is in contact with the electrode Ta of the measuring object T, and the pin P.
Is a cylindrical socket U made of a conductive material, which accommodates a contact probe C having a cylindrical sleeve S made of a conductive material which is inserted so that one end thereof is protruded and at least one end of which is opened. However, at least one end of the pin P of the contact probe C is projected from the mounting hole Ha of the mounting member H made of a conductive material having the mounting hole Ha of the socket U and grounded A. The socket U is provided with an insulating layer Z for insulating the socket U from the mounting member H, and the insulating layer Z is wound around the sleeve S. The insulating tape Za or the insulating thread Zb is used.
【0027】かかる構成により、この実施の形態にかか
るコンタクトプローブCの取付用ソケットUによれば、
前記絶縁層Zの厚さを当該コンタクトプローブCの取付
用ソケットUの長さ方向に亙って、前記絶縁テープZa
の厚さ寸法又は絶縁糸状体Zbの径寸法に正確に揃える
ことができ、この結果、当該絶縁層Zの厚さ寸法に相応
して変動されるコンタクトプローブC側のインピーダン
スを所要の一定値に正確に保つことができる。With this configuration, according to the mounting socket U of the contact probe C of this embodiment,
The thickness of the insulating layer Z along the length direction of the mounting socket U of the contact probe C is set to the insulating tape Za.
Can be accurately aligned with the thickness dimension of the insulating filament Zb or the diameter dimension of the insulating filamentous body Zb, and as a result, the impedance on the contact probe C side, which is varied according to the thickness dimension of the insulating layer Z, can be set to a required constant value. Can be kept accurate.
【0028】すなわち、かかる絶縁テープZa又は絶縁
糸状体Zbは、成形上、当該絶縁テープZaの厚さ又は
絶縁糸状体Zbの径を均一に保ち易いことから、前記絶
縁層Zを絶縁材料を一体に成形して構成したチューブと
する場合に比べ、当該絶縁層Zの厚さ寸法を前記コンタ
クトプローブCの取付用ソケットUの長さ方向に亙って
バラ付きなく、当該絶縁テープZaの厚さ寸法又は当該
絶縁糸状体Zbの径寸法に正確に揃えることができる。That is, since the insulating tape Za or the insulating thread Zb is easy to keep the thickness of the insulating tape Za or the diameter of the insulating thread Zb uniform in molding, the insulating layer Z is made of an insulating material. In comparison with the case where the tube is formed by molding, the thickness dimension of the insulating layer Z does not vary along the length direction of the mounting socket U of the contact probe C, and the thickness of the insulating tape Za. The size or the diameter of the insulating thread Zb can be accurately aligned.
【0029】また、前記コンタクトプローブCの取付用
ソケットUに巻き付ける前記絶縁テープZa又は絶縁糸
状体Zbの巻き数を変えることにより、前記絶縁層Zの
厚さを容易に調整することができ、これにより要求され
るインピーダンスに合わせてコンタクトプローブC側の
インピーダンスを容易かつ正確に調整することができる
特長を有する。The thickness of the insulating layer Z can be easily adjusted by changing the number of windings of the insulating tape Za or the insulating thread Zb wound around the mounting socket U of the contact probe C. The impedance on the contact probe C side can be easily and accurately adjusted according to the impedance required by
【0030】すなわち、前記絶縁テープZaの厚さ寸法
又は絶縁糸状体Zbの径寸法は比較的均一に管理し得る
ことから、かかる絶縁テープZa又は絶縁糸状体Zbの
巻き数に前記絶縁層Zの厚さ寸法は正確に比例するもの
とされ、この結果、当該巻き数の増減・調整により要求
されるインピーダンスを備えるようにコンタクトプロー
ブC側のインピーダンスを容易かつ正確に増減・調整す
ることができる。That is, since the thickness dimension of the insulating tape Za or the diameter dimension of the insulating thread Zb can be controlled relatively uniformly, the number of windings of the insulating tape Za or the insulating thread Zb is equal to the insulating layer Z. The thickness dimension is accurately proportional, and as a result, the impedance on the contact probe C side can be easily and accurately increased or decreased so that the impedance required by increasing or decreasing the number of turns is provided.
【0031】また、前記コンタクトプローブCの取付用
ソケットUにおける絶縁テープZa又は絶縁糸状体Zb
を、多孔質テフロンにより構成することが、この発明の
最良の実施の形態の一つとされる。Further, the insulating tape Za or the insulating thread Zb in the mounting socket U of the contact probe C is attached.
Is made of porous Teflon as one of the best modes for carrying out the present invention.
【0032】かかる構成により、この実施の形態にかか
るコンタクトプローブCの取付用ソケットUによれば、
所定のインピーダンスを当該コンタクトプローブCに持
たせるにあたり必要とされる前記絶縁層Zの厚さ寸法を
できる限り小さいものとすることができる。With this configuration, according to the mounting socket U of the contact probe C of this embodiment,
The thickness dimension of the insulating layer Z required for providing the contact probe C with a predetermined impedance can be made as small as possible.
【0033】すなわち、多孔質テフロンは、微細な孔な
いしは隙間を備えることからこの孔などに入り込んだ空
気により誘電率は比較的低いものとされ(空気の誘電率
を1とした場合に多孔質テフロンの誘電率は1.2
%)、この結果、所定のインピーダンスをコンタクトプ
ローブC側に付与する場合に必要とされる前記絶縁層Z
の厚さ寸法を、他の素材、特に従来かかる絶縁層Zに広
く用いられているテフロンに比べ、さらに小さくするこ
とができる。That is, since the porous Teflon has fine pores or gaps, it is considered that the dielectric constant is relatively low due to the air entering the pores (when the dielectric constant of air is 1, the porous Teflon is a porous Teflon. Has a dielectric constant of 1.2
%), And as a result, the insulating layer Z required when a predetermined impedance is applied to the contact probe C side.
The thickness can be made smaller than that of other materials, especially Teflon which has been widely used in the conventional insulating layer Z.
【0034】この結果、この実施の形態にかかるコンタ
クトプローブCの取付用ソケットUによれば、複数のコ
ンタクトプローブCを、隣り合う一対のコンタクトプロ
ーブC、C間の間隔をできる限り狭めるように前記取付
部材Hに対し配設させることができ、複数の電極Ta間
のピッチを極小化させた電子部品などの測定対象物Tの
測定に適したコンタクトプローブCを容易に構成するこ
とができる特長を有する。As a result, according to the mounting socket U for the contact probe C according to this embodiment, the plurality of contact probes C are arranged so that the distance between the pair of adjacent contact probes C, C is as narrow as possible. The contact probe C, which can be disposed on the mounting member H and is suitable for measurement of the measurement target T such as an electronic component in which the pitch between the plurality of electrodes Ta is minimized, can be easily configured. Have.
【0035】次いで、図1および図2に示されるこの発
明に係るコンタクトプローブC1のより具体的な実施の
形態について、詳細に説明する。Next, a more specific embodiment of the contact probe C1 according to the present invention shown in FIGS. 1 and 2 will be described in detail.
【0036】なお、図1は、この実施の形態にかかるコ
ンタクトプローブC1の全体構成を理解し易いように、
当該コンタクトプローブC1および当該コンタクトプロ
ーブC1を組み付けた取付部材Hを当該コンタクトプロ
ーブC1の長さ方向に沿って断面にして示している。ま
た、図2は、当該コンタクトプローブC1に対する絶縁
テープZaの巻き付け状態を理解し易いように、当該コ
ンタクトプローブC1に絶縁テープZaを巻き付けてい
る途中の状態で、当該コンタクトプローブC1と当該絶
縁テープZaを斜視の状態として示している。It should be noted that FIG. 1 shows the entire structure of the contact probe C1 according to the present embodiment in order to facilitate understanding.
The contact probe C1 and the mounting member H to which the contact probe C1 is assembled are shown in cross section along the length direction of the contact probe C1. Further, in FIG. 2, in order to facilitate understanding of the winding state of the insulating tape Za around the contact probe C1, the contact probe C1 and the insulating tape Za are in a state in which the insulating tape Za is being wound around the contact probe C1. Is shown as a perspective state.
【0037】この実施の形態にかかるコンタクトプロー
ブC1は、導電性を有する金属材料から構成される筒状
をなすスリーブS1と、このスリーブS1内に収め入れ
られる導電性を有する金属材料から構成されるピンP
と、前記スリーブS1の外側に設けられる絶縁層Zとを
備えている。The contact probe C1 according to this embodiment is composed of a cylindrical sleeve S1 made of a conductive metal material and a conductive metal material housed in the sleeve S1. Pin P
And an insulating layer Z provided outside the sleeve S1.
【0038】この実施の形態にあっては、前記スリーブ
S1は両端を開口させた構成としてあり、また、当該ス
リーブS1の一方の開口側に測定対象物Tの電極Taに
接する第一のピンP1を当該一方の開口から当該第一の
ピンP1の尖端1aが突き出されるように備えると共
に、当該スリーブS1の他方の開口側に適宜の測定器に
電気的に接続される電極Paを備えた基板Pの当該電極
Paに接する第二のピンP2を当該他方の開口から当該
第二のピンP2の尖端2aが突き出されるように備えて
いる。In this embodiment, the sleeve S1 has a structure in which both ends are opened, and the first pin P1 in contact with the electrode Ta of the measuring object T is provided on one opening side of the sleeve S1. A substrate having an electrode Pa electrically connected to an appropriate measuring device on the other opening side of the sleeve S1 while the tip 1a of the first pin P1 is projected from the one opening. A second pin P2 of P that is in contact with the electrode Pa is provided so that the tip 2a of the second pin P2 projects from the other opening.
【0039】そして、この実施の形態にあっては、前記
第一のピンP1と前記第二のピンP2との間に圧縮コイ
ルバネ3が介装されており、これにより前記第一および
第二のピンP1、P2はスリーブS1内に押し込まれた
際に該スリーブS1内から突き出す方向に向けて付勢さ
れる構成としてある。Further, in this embodiment, the compression coil spring 3 is interposed between the first pin P1 and the second pin P2, whereby the first and second pins are arranged. When the pins P1 and P2 are pushed into the sleeve S1, the pins P1 and P2 are biased in a direction of protruding from the sleeve S1.
【0040】また、前記第一および第二のピンP1、P
2は、その中間部1b、2bを両端部に比べて細径に形
成しており、一方、この第一および第二のピンP1、P
2の細径部にそれぞれ接するように前記スリーブS1の
一部には内側に向けた突出部4が上下二か所に形成され
ている。Further, the first and second pins P1 and P
2 has its intermediate portions 1b, 2b formed to have a smaller diameter than both ends thereof, while the first and second pins P1, P
Two inwardly projecting portions 4 are formed at upper and lower portions of a part of the sleeve S1 so as to be in contact with the respective small diameter portions.
【0041】したがって、前記第一および第二のピンP
1、P2は、前記細径をなす中間部1b、2bと当該第
一および第二のピンP1、P2が前記バネ3と接する側
の端部との間の段部1c、2cを前記突出部4に接しさ
せる位置より先に突き出されることはなく、また、前記
中間部1b、2bと前記第一および第二のピンP1、P
2の尖端1a、2a部との間の段部1d、2dを前記突
出部4に接しさせる位置まで押し込むことができる構成
とされている。Therefore, the first and second pins P are
Reference numerals 1 and P2 denote stepped portions 1c and 2c between the intermediate portions 1b and 2b having the small diameter and the end portions on the side where the first and second pins P1 and P2 contact the spring 3, respectively. 4 is not projected before the position where it contacts with 4, and the intermediate portions 1b, 2b and the first and second pins P1, P
The stepped portions 1d and 2d between the two pointed portions 1a and 2a can be pushed to a position where they contact the protruding portion 4.
【0042】また、この実施の形態にあっては、前記ス
リーブS1の外側に当該スリーブS1の長さ寸法と略同
寸法の幅寸法を備える絶縁テープZaを巻き付けて、前
記絶縁層Zを構成している。この実施の形態にあって
は、当該絶縁層Zは前記コンタクトプローブC1の外径
寸法と略等しい厚さ寸法をなすように、前記スリーブS
1の外側に絶縁テープZaを五回巻き付けて、構成して
ある。Also, in this embodiment, the insulating layer Z is formed by winding an insulating tape Za having a width dimension substantially the same as the length dimension of the sleeve S1 on the outer side of the sleeve S1. ing. In this embodiment, the sleeve S has a thickness dimension that is substantially equal to the outer diameter dimension of the contact probe C1.
The insulating tape Za is wound around the outside of No. 1 five times.
【0043】この実施の形態にかかるコンタクトプロー
ブC1は以上の構成を備えることから、導電性材料より
なり、厚さ方向に複数の取付穴Ha、Ha…が開設して
あると共に、接地Aしてある取付部材Hに対し、当該複
数の取付穴Ha、Ha…の一端部から前記第一のピンP
1が尖端1aを突き出し、かつ、当該取付穴Haの他端
部から前記第二のピンP2が尖端1aを突き出させるよ
うに、差し込むことにより、当該取付部材Hに所定の間
隔を開けて複数本組み付けることができる。Since the contact probe C1 according to this embodiment has the above-mentioned structure, it is made of a conductive material and has a plurality of mounting holes Ha, Ha ... With respect to a certain mounting member H, the first pin P from one end of the plurality of mounting holes Ha, Ha ...
1 protrudes the tip 1a, and the second pin P2 protrudes from the other end of the mounting hole Ha so that the tip 1a protrudes. Can be assembled.
【0044】そして、測定対象物Tの電極Taに対して
前記第一のピンP1の尖端1a部を接しさせることによ
り、この電極Taから伝送される電気信号へのノイズの
入り込みを十分に防止した状態で、当該電気信号を前記
第二のピンP2に接する基板Pの電極Paを通じて適宜
の測定器に送ることができる。Then, the tip 1a of the first pin P1 is brought into contact with the electrode Ta of the measuring object T to sufficiently prevent noise from entering the electric signal transmitted from the electrode Ta. In this state, the electric signal can be sent to an appropriate measuring instrument through the electrode Pa of the substrate P which is in contact with the second pin P2.
【0045】なお、この実施の形態にあっては、前記第
一のピンP1はスリーブS1内への押し込み時に前記バ
ネ3の付勢を受ける構成としてあることから、前記測定
対象物Tの電極Taに前記第一のピンP1の尖端1aを
前記バネ3の付勢により常時密着させた状態で接触させ
ることができると共に、かかる測定対象物Tが複数の電
極Ta、Ta…を備える場合に各電極Ta、Ta…の高
さに若干誤差があっても、かかる誤差を吸収して当該各
電極Ta、Ta…に前記尖端1aを適切に密着させるこ
とができる特長を有する。In this embodiment, since the first pin P1 is configured to receive the bias of the spring 3 when it is pushed into the sleeve S1, the electrode Ta of the measuring object T is measured. Can be brought into contact with the tip 1a of the first pin P1 in a state in which the first pin P1 is always brought into close contact with the spring 3 by the biasing force of the spring 3, and when the measurement object T includes a plurality of electrodes Ta, Ta ... Even if there is a slight error in the height of Ta, Ta ..., There is a feature that the error can be absorbed and the tips 1a can be appropriately brought into close contact with the respective electrodes Ta, Ta.
【0046】次いで、図3および図4に示されるこの発
明に係るコンタクトプローブC2のより具体的な実施の
形態について、詳細に説明する。Next, a more specific embodiment of the contact probe C2 according to the present invention shown in FIGS. 3 and 4 will be described in detail.
【0047】なお、図3は、この実施の形態にかかるコ
ンタクトプローブC2の全体構成を理解し易いように、
当該コンタクトプローブC2および当該コンタクトプロ
ーブC2を組み付けた取付部材Hを当該コンタクトプロ
ーブC2の長さ方向に沿って断面にして示している。ま
た、図3は、当該コンタクトプローブC2に対する絶縁
糸状体Zbの巻き付け状態を理解し易いように、当該コ
ンタクトプローブC2に絶縁糸状体Zbを巻き付けてい
る途中の状態で、当該コンタクトプローブC2と当該絶
縁糸状体Zbを斜視の状態として示している。It should be noted that, in FIG. 3, for easy understanding of the overall structure of the contact probe C2 according to the present embodiment,
The contact probe C2 and the mounting member H to which the contact probe C2 is assembled are shown in cross section along the length direction of the contact probe C2. Further, in FIG. 3, in order to make it easy to understand the winding state of the insulating filamentous member Zb around the contact probe C2, the insulating state of the insulating filamentous member Zb around the contact probe C2 and the insulating state The filamentous body Zb is shown in a perspective view.
【0048】この実施の形態にあっては、前記スリーブ
S1の外側に当該スリーブS1の外周面の略全体を覆う
ように絶縁糸状体Zbを当該スリーブS1の一端側から
他端側に向けて順次巻き付けて、前記絶縁層Zを構成し
ている。この実施の形態にあっては、当該絶縁層Zは前
記コンタクトプローブC2の外径寸法と略等しい厚さ寸
法をなすように、前記スリーブS1の外側に前記絶縁糸
状体Zbを五回巻き付けて、構成してある。In this embodiment, the insulating filaments Zb are sequentially provided on the outside of the sleeve S1 from one end side to the other end side of the sleeve S1 so as to cover substantially the entire outer peripheral surface of the sleeve S1. The insulating layer Z is formed by winding. In this embodiment, the insulating thread Zb is wound around the outside of the sleeve S1 five times so that the insulating layer Z has a thickness substantially equal to the outer diameter of the contact probe C2. Configured.
【0049】この実施の形態にかかるコンタクトプロー
ブC2は、前記絶縁層Zを前記スリーブS1の外側に前
記絶縁糸状体Zbを巻き付けて構成してある点以外の構
成を、前記図1および図2に示されるコンタクトプロー
ブC1と同一又は実質的に同一の構成としてあることか
ら、この同一又は実質的に同一の構成部分については図
3および図4に図1および図2で用いた符号と同一の符
号を付してその説明を省略する。The contact probe C2 according to this embodiment has the same structure as that shown in FIGS. 1 and 2 except that the insulating layer Z is formed by winding the insulating filamentous member Zb around the outside of the sleeve S1. Since the contact probe C1 has the same or substantially the same configuration as that of the contact probe C1, the same or substantially the same components are denoted by the same reference numerals as those used in FIGS. 1 and 2 in FIGS. 3 and 4. Is attached and its description is omitted.
【0050】次いで、図5および図6に示されるこの発
明に係るコンタクトプローブC3の取付用ソケットU1
のより具体的な実施の形態について、詳細に説明する。Next, the mounting socket U1 of the contact probe C3 according to the present invention shown in FIGS.
The more specific embodiment will be described in detail.
【0051】なお、図5は、この実施の形態にかかる取
付用ソケットU1およびこの取付用ソケットU1により
取り付けられるコンタクトプローブC3の全体構成を理
解し易いように、当該コンタクトプローブC3取付用ソ
ケットU1および当該取付用ソケットU1により組み付
けたコンタクトプローブC3ならびに取付部材Hを当該
コンタクトプローブC3の長さ方向に沿って断面にして
示している。また、図6は、当該取付用ソケットU1に
対する絶縁テープZaの巻き付け状態を理解し易いよう
に、当該取付用ソケットU1に絶縁テープZaを巻き付
けている途中の状態で、当該取付用ソケットU1と当該
絶縁テープZaを斜視の状態として示している。Incidentally, in FIG. 5, in order to facilitate understanding of the overall structure of the mounting socket U1 according to the present embodiment and the contact probe C3 mounted by the mounting socket U1, the contact probe C3 mounting socket U1 and The contact probe C3 and the mounting member H assembled by the mounting socket U1 are shown in cross section along the length direction of the contact probe C3. Further, in FIG. 6, in order to facilitate understanding of the winding state of the insulating tape Za around the mounting socket U1, the state where the insulating tape Za is wound around the mounting socket U1 and the mounting socket U1 The insulating tape Za is shown in a perspective state.
【0052】この実施の形態にかかる取付用ソケットU
1は、導電性を有する筒状体として構成してあり、導電
性を有する金属材料から構成される筒状をなすスリーブ
S2と、このスリーブS2内に収め入れられる導電性を
有する金属材料から構成されるピンPとを備えるコンタ
クトプローブC3を、当該ピンPの一端を突き出させた
状態で、差し入れ、組み付ける構成としてある。Mounting socket U according to this embodiment
Reference numeral 1 denotes a cylindrical body having conductivity, which is composed of a sleeve S2 having a cylindrical shape made of a metal material having conductivity, and a metal material having conductivity stored in the sleeve S2. The contact probe C3 including the pin P is inserted and assembled with one end of the pin P protruding.
【0053】また、この実施の形態にかかる取付用ソケ
ットU1は、その外側に絶縁層Zを備えている。The mounting socket U1 according to this embodiment is provided with an insulating layer Z on the outer side thereof.
【0054】この実施の形態にあっては、前記コンタク
トプローブC3は、一端を開口させた鞘状をなすスリー
ブS2内に、測定対象物Tの電極Taに接するピンPを
当該開口から当該ピンPの尖端10aが突き出されるよ
うに収め入れて構成してある。In this embodiment, the contact probe C3 has a pin S which is in contact with the electrode Ta of the object T to be measured and is inserted into the pin P from the opening in a sleeve S2 having a sheath shape with one end opened. The tip 10a is housed so that it is projected.
【0055】そして、この実施の形態にあっては、前記
ピンPと前記スリーブS2の他端内側との間に圧縮コイ
ルバネ20が介装されており、これにより前記ピンPは
スリーブS2内に押し込まれた際に該スリーブS2内か
ら突き出す方向に向けて付勢される構成としてある。Further, in this embodiment, the compression coil spring 20 is interposed between the pin P and the inside of the other end of the sleeve S2, whereby the pin P is pushed into the sleeve S2. It is configured to be urged in the direction of protruding from the inside of the sleeve S2 when it is bent.
【0056】また、前記ピンPは、その中間部10bを
両端部に比べて細径に形成しており、一方、このピンP
の中間部10bに接するように前記スリーブS2の一部
には内側に向けた突出部30が形成されている。Further, the pin P has an intermediate portion 10b formed so as to have a smaller diameter than both ends thereof.
An inwardly projecting portion 30 is formed on a part of the sleeve S2 so as to contact the intermediate portion 10b.
【0057】したがって、前記ピンPは、前記中間部1
0bと当該ピンPが前記バネ20と接する側の端部との
間の段部10cを前記突出部30に接しさせる位置より
先に突き出されることはなく、また、前記中間部10b
と前記ピンPの尖端10a部との間の段部10dを前記
突出部30に接しさせる位置まで押し込むことができる
構成とされている。Therefore, the pin P is connected to the intermediate portion 1
0b and the end of the pin P on the side where the pin 20 contacts the spring 20 do not protrude beyond the position where the stepped portion 10c contacts the protruding portion 30, and the intermediate portion 10b.
The stepped portion 10d between the pin 10 and the tip 10a of the pin P can be pushed to a position where the stepped portion 10d contacts the protruding portion 30.
【0058】また、この実施の形態にあっては、前記ソ
ケットU1の外側に当該ソケットU1の長さ寸法と略同
寸法の幅寸法を備える絶縁テープZaを巻き付けて、前
記絶縁層Zを構成している。この実施の形態にあって
は、当該絶縁層Zは前記コンタクトプローブC3の外径
寸法と略等しい厚さ寸法をなすように、前記ソケットU
1の外側に絶縁テープZaを五回巻き付けて、構成して
ある。Also, in this embodiment, the insulating layer Z is formed by winding an insulating tape Za having a width dimension substantially the same as the length dimension of the socket U1 on the outside of the socket U1. ing. In the present embodiment, the insulating layer Z has a thickness dimension substantially equal to the outer diameter dimension of the contact probe C3.
The insulating tape Za is wound around the outside of No. 1 five times.
【0059】この実施の形態にかかるコンタクトプロー
ブC3取付用ソケットU1は以上の構成を備えることか
ら、導電性材料よりなり、厚さ方向に複数の取付穴Ha
が開設してあると共に、接地Aしてある取付部材Hに対
し、先ず、当該取付穴Haに当該ソケットU1をそれぞ
れ差し入れ、組み付けておき、この後、当該ソケットU
1の一端部から前記ピンPが尖端1aを突き出させるよ
うに前記コンタクトプローブC3を当該ソケットU1内
に差し入れることにより、当該取付部材Hに所定の間隔
を開けて複数本のコンタクトプローブC3を組み付けさ
せることができる。Since the contact probe C3 mounting socket U1 according to this embodiment has the above-described structure, it is made of a conductive material and has a plurality of mounting holes Ha in the thickness direction.
First, the sockets U1 are respectively inserted and assembled in the mounting holes Ha with respect to the mounting members H which are opened and grounded A.
By inserting the contact probe C3 into the socket U1 such that the pin P protrudes the tip 1a from one end of the connector 1, a plurality of contact probes C3 are assembled to the mounting member H with a predetermined gap. Can be made.
【0060】かかるソケットU1はまた、前記ピンPの
突き出し側と反対の側の端部に導電線Rの固定部40を
備えており、この固定部40に適宜の測定器に電気的に
接続される導電線Rの一端をハンダ付けなどの手法によ
り固定することにより、前記測定対象物Tの電極Taに
接する前記ピンPから伝送される電気信号へのノイズの
入り込みを十分に防止した状態で、当該電気信号を当該
適宜の測定器に送ることができる。The socket U1 is also provided with a fixing portion 40 for the conductive wire R at the end opposite to the protruding side of the pin P, and this fixing portion 40 is electrically connected to an appropriate measuring instrument. By fixing one end of the conductive wire R by soldering or the like, it is possible to sufficiently prevent noise from entering an electric signal transmitted from the pin P in contact with the electrode Ta of the measuring object T, The electrical signal can be sent to the appropriate meter.
【0061】なお、この実施の形態にあっては、前記ピ
ンPはスリーブS2内への押し込み時に前記バネ20の
付勢を受ける構成としてあることから、前記測定対象物
Tの電極Taに前記ピンPの尖端10aを前記バネ20
の付勢により常時密着させた状態で接触させることがで
きると共に、測定対象物Tが複数の電極Ta、Ta…を
有する場合において各電極Ta、Ta…の高さに若干誤
差があっても、かかる誤差を吸収して当該各電極Ta、
Ta…に前記尖端10aを適切に密着させることができ
る特長を有する。In this embodiment, since the pin P is configured to receive the bias of the spring 20 when it is pushed into the sleeve S2, the pin Ta is attached to the electrode Ta of the measuring object T. Connect the tip 10a of P to the spring 20
Can be contacted in a state in which they are always in close contact with each other by the urging force of, and when the measurement target T has a plurality of electrodes Ta, Ta ... Even if there is a slight error in the height of each electrode Ta, Ta ... By absorbing such an error, the electrodes Ta,
It has a feature that the tip 10a can be appropriately brought into close contact with Ta.
【0062】また、前記コンタクトプローブC3の取り
替えなどを必要とする場合には、前記ソケットU1内か
ら交換すべきコンタクトプローブC3抜き出し、別のコ
ンタクトプローブC3を差し入れ組み付けることにより
容易に当該交換をなすことができる特長を有する。When it is necessary to replace the contact probe C3, the contact probe C3 to be replaced is extracted from the socket U1, another contact probe C3 is inserted and assembled, and the replacement is easily performed. It has the feature that
【0063】次いで、図7および図8に示されるこの発
明に係るコンタクトプローブC3取付用ソケットU1の
より具体的な実施の形態について、詳細に説明する。Next, a more specific embodiment of the contact probe C3 mounting socket U1 according to the present invention shown in FIGS. 7 and 8 will be described in detail.
【0064】なお、図7は、この実施の形態にかかる取
付用ソケットU2およびこの取付用ソケットU1により
取り付けられるコンタクトプローブC3の全体構成を理
解し易いように、当該コンタクトプローブC3取付用ソ
ケットU2および当該取付用ソケットU2により組み付
けたコンタクトプローブC3ならびに取付部材Hを当該
取付用ソケットU2の長さ方向に亙って断面にして示し
ており、また、図8は、当該取付用ソケットU2に対す
る絶縁糸状体Zbの巻き付け状態を理解し易いように、
当該取付用ソケットU2に絶縁糸状体Zbを巻き付けて
いる途中の状態で、当該取付用ソケットU2と当該絶縁
糸状体Zbを斜視の状態として示している。Incidentally, in FIG. 7, the contact probe C3 mounting socket U2 and the contact probe C3 mounting socket U2 according to the present embodiment are shown in order to facilitate understanding of the whole structure of the contact probe C3 mounted by the mounting socket U2. The contact probe C3 and the mounting member H assembled by the mounting socket U2 are shown in cross section along the length direction of the mounting socket U2, and FIG. 8 shows an insulating thread shape for the mounting socket U2. To make it easier to understand the winding state of the body Zb,
The mounting socket U2 and the insulating filamentous member Zb are shown in a perspective state while the insulating filamentous member Zb is being wound around the mounting socket U2.
【0065】この実施の形態にあっては、前記取付用ソ
ケットU2の外側に当該取付用ソケットU2の外周面の
略全体を覆うように絶縁糸状体Zbを当該取付用ソケッ
トU2の一端側から他端側に向けて順次巻き付けて、前
記絶縁層Zを構成している。この実施の形態にあって
は、当該絶縁層Zは前記コンタクトプローブC3の外径
寸法と略等しい厚さ寸法をなすように、前記取付用ソケ
ットU2の外側に前記絶縁糸状体Zbを五回巻き付け
て、構成してある。In this embodiment, an insulating thread Zb is attached to the outside of the mounting socket U2 from one end side of the mounting socket U2 so as to cover substantially the entire outer peripheral surface of the mounting socket U2. The insulating layer Z is formed by sequentially winding toward the end side. In this embodiment, the insulating thread Zb is wound five times on the outer side of the mounting socket U2 so that the insulating layer Z has a thickness substantially equal to the outer diameter of the contact probe C3. It is configured.
【0066】この実施の形態にかかる取付用ソケットU
2は、前記絶縁層Zを前記取付用ソケットU2の外側に
前記絶縁糸状体Zbを巻き付けて構成してある点以外の
構成を、前記図5および図6に示される取付用ソケット
U1と同一又は実質的に同一の構成としてあることか
ら、この同一又は実質的に同一の構成部分については図
7および図8に図5および図6で用いた符号と同一の符
号を付してその説明を省略する。Mounting socket U according to this embodiment
2 is the same as the mounting socket U1 shown in FIGS. 5 and 6 except that the insulating layer Z is formed by winding the insulating thread Zb around the mounting socket U2. Since they have substantially the same configuration, the same or substantially the same components are assigned the same reference numerals as those used in FIGS. 5 and 6 in FIGS. 7 and 8 and their description is omitted. To do.
【0067】[0067]
【発明の効果】この発明にかかるコンタクトプローブC
およびコンタクトプローブCの取付用ソケットUによれ
ば、前記絶縁層Zの厚さを当該コンタクトプローブCの
長さ方向に亙って、前記絶縁テープZaの厚さ寸法又は
絶縁糸状体Zbの径寸法に正確に揃えることができ、こ
の結果、コンタクトプローブC側のインピーダンスを所
要の一定値に正確に保つことができる。EFFECT OF THE INVENTION Contact probe C according to the present invention
According to the mounting socket U for the contact probe C, the thickness of the insulating layer Z is set in the lengthwise direction of the contact probe C, and the thickness dimension of the insulating tape Za or the diameter dimension of the insulating filamentous body Zb. Therefore, the impedance on the contact probe C side can be accurately maintained at a required constant value.
【0068】また、前記コンタクトプローブCのスリー
ブS又は取付用ソケットUに巻き付ける前記絶縁テープ
Za又は絶縁糸状体Zbの巻き数を変えることにより、
前記絶縁層Zの厚さを容易に調整することができ、これ
により要求されるインピーダンスに合わせてコンタクト
プローブC側のインピーダンスを容易かつ正確に調整す
ることができる特長を有する。By changing the number of windings of the insulating tape Za or the insulating thread Zb wound around the sleeve S of the contact probe C or the mounting socket U,
The thickness of the insulating layer Z can be easily adjusted, whereby the impedance on the contact probe C side can be easily and accurately adjusted according to the required impedance.
【図1】コンタクトプローブC1および取付部材Hの断
面図FIG. 1 is a sectional view of a contact probe C1 and a mounting member H.
【図2】コンタクトプローブC1への絶縁テープZaの
巻き付け状態を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing a winding state of an insulating tape Za around a contact probe C1.
【図3】コンタクトプローブC2および取付部材Hの断
面図FIG. 3 is a sectional view of a contact probe C2 and a mounting member H.
【図4】コンタクトプローブC2への絶縁糸状体Zbの
巻き付け状態を示す斜視図FIG. 4 is a perspective view showing a state where an insulating filamentous member Zb is wound around a contact probe C2.
【図5】取付用ソケットU1、コンタクトプローブC3
および取付部材Hの断面図FIG. 5: Mounting socket U1, contact probe C3
And sectional view of the mounting member H
【図6】取付用ソケットU1への絶縁テープZaの巻き
付け状態を示す斜視図FIG. 6 is a perspective view showing a winding state of the insulating tape Za around the mounting socket U1.
【図7】取付用ソケットU2、コンタクトプローブC3
および取付部材Hの断面図FIG. 7: Mounting socket U2, contact probe C3
And sectional view of the mounting member H
【図8】取付用ソケットU2への絶縁糸状体Zbの巻き
付け状態を示す斜視図FIG. 8 is a perspective view showing a state in which the insulating filamentous member Zb is wound around the mounting socket U2.
C コンタクトプローブ T 測定対象物 Ta 電極 P ピン S スリーブ H 取付対象物 Ha 取付穴 A 接地 Z 絶縁層 Za 絶縁テープ Zb 絶縁糸状体 U ソケット C Contact probe T Object to be measured Ta Electrode P Pin S Sleeve H Object to be mounted Ha Mounting hole A Grounding Z Insulating layer Za Insulating tape Zb Insulating filament U Socket
Claims (4)
りなるピンと、 当該ピンが一端を突き出させるように差し入れ、組み付
けられる導電性材料よりなる少なくとも一端が開口され
た筒状スリーブとを備え、 当該スリーブの取付穴を備えると共に接地してある導電
性材料よりなる取付部材における当該取付穴より少なく
とも前記ピンの一端を突き出させるように当該取付穴に
嵌め付けられるコンタクトプローブであって、 このコンタクトプローブが、前記スリーブの外側に、当
該コンタクトプローブと前記取付部材とを絶縁する絶縁
層を備えると共に、 この絶縁層が、前記スリーブに巻き付けられた絶縁テー
プ又は絶縁糸状体により構成してあることを特徴とする
コンタクトプローブ。1. A pin comprising a conductive material, which is in contact with an electrode of an object to be measured, and a tubular sleeve, which is inserted so that the pin protrudes at one end and is made of a conductive material, at least one end of which is open, A contact probe fitted into the mounting hole so that at least one end of the pin projects from the mounting hole in the mounting member made of a conductive material that is equipped with the mounting hole of the sleeve and is grounded. Is provided with an insulating layer for insulating the contact probe and the mounting member on the outside of the sleeve, and the insulating layer is configured by an insulating tape or an insulating filament wound around the sleeve. And contact probe.
フロンよりなることを特徴とする請求項1記載のコンタ
クトプローブ。2. The contact probe according to claim 1, wherein the insulating tape or the insulating filamentous material is made of porous Teflon.
りなるピンと、 当該ピンが一端を突き出させるように差し入れ、組み付
けられる導電性材料よりなる少なくとも一端が開口され
た筒状スリーブとを備えるコンタクトプローブを収める
導電性材料よりなる筒状ソケットであって、 このソケットが、当該ソケットの取付穴を備えると共に
接地してある導電性材料よりなる取付部材における当該
取付穴より少なくとも前記コンタクトプローブのピンの
一端を突き出させるように当該取付穴に嵌め付けられる
と共に、 このソケットが、当該ソケットの外側に、当該ソケット
と前記取付部材とを絶縁する絶縁層を備えており、 この絶縁層が、前記ソケットに巻き付けられた絶縁テー
プ又は絶縁糸状体により構成してあることを特徴とする
コンタクトプローブ取付用ソケット。3. A contact comprising a pin made of a conductive material, which is in contact with an electrode of a measurement object, and a cylindrical sleeve, which is inserted so that the pin has one end protruding and is made of a conductive material, and at least one end of which is opened. A cylindrical socket made of a conductive material for accommodating a probe, the socket having a mounting hole for the socket and at least the pin of the contact probe from the mounting hole in the mounting member made of a conductive material grounded. The socket is fitted into the mounting hole so that one end is projected, and the socket is provided with an insulating layer on the outside of the socket for insulating the socket and the mounting member, and the insulating layer is attached to the socket. A contour formed by a wound insulating tape or insulating filamentous material Topurobu mounting socket.
フロンよりなることを特徴とする請求項3記載のコンタ
クトプローブ取付用ソケット。4. The contact probe mounting socket according to claim 3, wherein the insulating tape or the insulating filament is made of porous Teflon.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9181396A JPH09260000A (en) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | Contact probe and socket for mounting contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9181396A JPH09260000A (en) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | Contact probe and socket for mounting contact probe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09260000A true JPH09260000A (en) | 1997-10-03 |
Family
ID=14037084
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9181396A Pending JPH09260000A (en) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | Contact probe and socket for mounting contact probe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09260000A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006004932A (en) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Aries Electronics Inc | Shielded integrated circuit probe |
-
1996
- 1996-03-22 JP JP9181396A patent/JPH09260000A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006004932A (en) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Aries Electronics Inc | Shielded integrated circuit probe |
JP4695925B2 (en) * | 2004-06-17 | 2011-06-08 | アリエス.エレクトロニクス.インコーポレイテッド | Shielded integrated circuit probe |
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