JPH0743419A - Printed circuit board inspection jig - Google Patents
Printed circuit board inspection jigInfo
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- JPH0743419A JPH0743419A JP5158728A JP15872893A JPH0743419A JP H0743419 A JPH0743419 A JP H0743419A JP 5158728 A JP5158728 A JP 5158728A JP 15872893 A JP15872893 A JP 15872893A JP H0743419 A JPH0743419 A JP H0743419A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板の製造
工程における、検査装置の一部をなす検査治具に関する
ものであり、特にコンピュータをはじめとするＯＡ機器
等に使用される高密度なプリント配線板のテスト用ラン
ドに接触させ、部品実装後の品質を評価確認するために
用いられるプリント配線板検査装置の検査治具に関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection jig which is a part of an inspection device in a manufacturing process of a printed wiring board, and particularly to a high density used for OA equipment such as computers. The present invention relates to an inspection jig of a printed wiring board inspection device which is used for making contact with a test land of a printed wiring board and evaluating and confirming quality after component mounting.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近年、ＯＡ機器をはじめ電子機器は、商
品力強化のために小型化が進められており、それに伴い
電子機器を構成するプリント配線板にも、高密度、高集
積化が要求されている。このような背景のもとで、プリ
ント配線板の組み立て工程では、プリント配線板の部品
実装後の検査に多くの時間を費やしており、その困難度
も増大しつつある。そこで、高密度に実装されたプリン
ト配線板上の多数の回路部品の検査評価を、いかに短時
間に行うかということが求められてきている。2. Description of the Related Art In recent years, electronic equipments such as office automation equipments have been miniaturized in order to enhance the product power, and accordingly, printed wiring boards constituting the electronic equipments are required to have high density and high integration. Has been done. Against such a background, in the process of assembling the printed wiring board, a lot of time is spent on the inspection after mounting the components of the printed wiring board, and the difficulty is increasing. Therefore, how to inspect and evaluate a large number of circuit components on a printed wiring board mounted at high density in a short time is required.
【０００３】そのため、従来よりプリント配線板の検査
方法として、多数のプローブピンを被検査プリント配線
板の各テスト用ランドに一斉に接触させ、検査装置と電
気的に接続することにより、プリント配線板と部品との
半田付けの良否判定、各部の電圧測定、および実装され
た回路部品の動作確認を短時間のうちに行う方法が一般
的に採られている。Therefore, as a conventional method for inspecting a printed wiring board, a large number of probe pins are simultaneously brought into contact with respective test lands of the inspected printed wiring board and electrically connected to the inspection device, whereby the printed wiring board is inspected. Generally, a method is adopted in which the quality of soldering of components and components, the voltage measurement of each part, and the operation confirmation of mounted circuit components are performed in a short time.
【０００４】以下、従来のプリント配線板検査治具につ
いて、図面を参照しながら説明する。図３は従来のプリ
ント配線板検査治具の構成を示す断面図である。図３に
おいて、１は電気部品２が実装された被検査プリント配
線板で、被検査プリント配線板１は、その表面に導電体
パターンで形成した多数のテスト用ランド３を有してお
り、テスト用ランド３は部品実装後の被検査プリント配
線板１の検査に使用される。４は絶縁材料で形成される
プリント配線板検査治具の治具基板で、被検査プリント
配線板１に設けられたテスト用ランド３に対応する位置
に貫通穴を設け、ケーシング６を埋設している。５は治
具基板４と被検査プリント配線板１を支える支柱、７は
ケーシング６の内部に装着されたプローブピンで、ケー
シング６と電気的導通を有し、ケーシング６内部のバネ
により付勢されている。８はケーシング６のラッピング
部９と検査手段１４のインタフェース部１１の端子基板
１３に固定された端子１０のラッピング部１２にそれぞ
れ巻き付けられ、接続しているリード線であり、リード
線８はラッピング部９に密に巻き付けられることにより
電気的導通が確保されている。検査手段１４は、被検査
プリント配線板１に電源を供給して動作させ、各部の電
圧測定を行い、実装部品の動作確認を行うものである。A conventional printed wiring board inspection jig will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a sectional view showing a structure of a conventional printed wiring board inspection jig. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes an inspected printed wiring board on which an electric component 2 is mounted, and the inspected printed wiring board 1 has a large number of test lands 3 formed in a conductor pattern on its surface. The land 3 is used for inspecting the inspected printed wiring board 1 after the components are mounted. Reference numeral 4 denotes a jig substrate of a printed wiring board inspection jig formed of an insulating material. Through holes are provided at positions corresponding to the test lands 3 provided on the inspected printed wiring board 1, and the casing 6 is embedded. There is. Reference numeral 5 is a support for supporting the jig substrate 4 and the printed wiring board 1 to be inspected. Reference numeral 7 is a probe pin mounted inside the casing 6. The probe pin is electrically connected to the casing 6 and is biased by a spring inside the casing 6. ing. Reference numeral 8 is a lead wire that is wound around and connected to the wrapping portion 9 of the casing 6 and the wrapping portion 12 of the terminal 10 that is fixed to the terminal board 13 of the interface portion 11 of the inspection unit 14, and the lead wire 8 is the wrapping portion. By tightly winding it around 9, electrical continuity is secured. The inspection means 14 supplies power to the inspected printed wiring board 1 to operate it, measures the voltage of each part, and confirms the operation of the mounted components.
【０００５】以上のように構成されたプリント配線板検
査治具において、以下その動作について説明する。ま
ず、被検査プリント配線板１を支柱５に装着し、被検査
プリント配線板１のテスト用ランド３と、治具基板４に
設けられたケーシング６に装着されたプローブピン７の
先端部とを接触させる。プローブピン７はバネにより付
勢されているため、被検査プリント配線板１のテスト用
ランド３とケーシング６とは電気的に安定して導通す
る。ケーシング６と検査手段１４のインターフェース部
１１の端子１０とを接続するリード線８は、ケーシング
６及び端子１０のラッピング部９及び１２にラッピング
作業により巻き付けて接続されているため、プローブピ
ン７を介して被検査プリント配線板１の多数のテストラ
ンド３に検査手段１４が接続され、プリント配線板と電
気部品との半田付けの良否判定、各部の電圧測定、なら
びに実装された回路部品の動作確認などが短時間のうち
に行える。The operation of the printed wiring board inspection jig configured as described above will be described below. First, the printed wiring board 1 to be inspected is mounted on the column 5, and the test land 3 of the printed wiring board 1 to be inspected and the tip end portion of the probe pin 7 mounted on the casing 6 provided on the jig substrate 4 are mounted. Contact. Since the probe pin 7 is biased by a spring, the test land 3 of the inspected printed wiring board 1 and the casing 6 are electrically and stably connected. The lead wire 8 that connects the casing 6 and the terminal 10 of the interface unit 11 of the inspection means 14 is wound around the wrapping portions 9 and 12 of the casing 6 and the terminal 10 by the wrapping operation, and thus connected via the probe pin 7. The inspection means 14 is connected to a large number of test lands 3 of the printed wiring board 1 to be inspected, and the quality of soldering between the printed wiring board and electric parts is determined, the voltage of each part is measured, and the operation of mounted circuit parts is confirmed. Can be done in a short time.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のプリント配線板検査治具では、プローブピン
７を装着したケーシング６を治具基板４に固定する場
合、治具基板４に貫通穴を開けてケーシング６を圧入す
ることから、治具基板４に多数の貫通穴を開けることに
なる。よって、貫通穴と貫通穴の間隔は、ケーシング６
の太さより狭めることができないため、隣合うケーシン
グ６の太さより高密度の検査はできなかった。また、ケ
ーシングおよびプローブピンを細くすることで隣合うプ
ローブピンを近接することができるが、プローブピンを
細くすると、プローブピンの強度、耐久性が弱くなり、
信頼性の確保が困難になる。However, in such a conventional printed wiring board inspection jig, when the casing 6 having the probe pins 7 mounted thereon is fixed to the jig substrate 4, a through hole is formed in the jig substrate 4. Since the casing 6 is opened and press-fitted, a large number of through holes are formed in the jig substrate 4. Therefore, the space between the through holes is determined by the casing 6
Since it cannot be narrower than the thickness of the adjacent casing 6, it is not possible to perform a test with a higher density than the thickness of the adjacent casings 6. Also, by making the casing and the probe pin narrower, adjacent probe pins can be brought closer to each other, but if the probe pin is made thinner, the strength and durability of the probe pin become weaker,
It becomes difficult to secure reliability.
【０００７】また、治具基板４に貫通穴を開けた後に、
プリント配線板１の配線パターンに変更があり、プリン
ト配線板１に設けられたテスト用ランド３が僅かに移動
し、テスト用ランド３にプローブピン７が接触しなくな
った時には、治具基板４に貫通穴を開けプローブピン７
を動かそうとしても、元からある貫通穴と、新規に開け
ようとする貫通穴が接触または重なり、ケーシング６が
固定できなくなるという問題点があった。After the through hole is formed in the jig substrate 4,
When the wiring pattern of the printed wiring board 1 is changed and the test lands 3 provided on the printed wiring board 1 slightly move and the probe pins 7 no longer come into contact with the test lands 3, the jig board 4 is fixed. Make a through hole and probe pin 7
There was a problem that even if the user tried to move the casing 6, the original through hole and the through hole to be newly opened contacted or overlapped with each other, and the casing 6 could not be fixed.
【０００８】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、より高密度の検査が行え、さらに、テストランドの
僅かな位置の変更にも対応できるプリント板検査治具を
提供することを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a printed board inspection jig capable of higher density inspection and capable of handling a slight change in the position of the test land. And
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のプリント配線板検査治具は、検査装置との
接続部を有する治具基板と、前記治具基板に埋設された
ケーシングと、前記ケーシングに装着され前記ケーシン
グの同心軸上から偏心した位置に被検査用プリント配線
板のテスト用ランドとの接触点を有するプローブピンと
を備えるとともに、前記プローブピンと前記ケーシング
の嵌合する部分を多角形の断面で形成した構成を有す
る。In order to achieve the above object, a printed wiring board inspection jig of the present invention comprises a jig substrate having a connecting portion with an inspection device, and a casing embedded in the jig substrate. And a probe pin that is attached to the casing and has a contact point with a test land of a printed wiring board to be inspected at a position eccentric from a concentric axis of the casing, and a portion where the probe pin and the casing are fitted to each other. Has a polygonal cross section.
【００１０】[0010]
【作用】本発明は上記した構成によって、ケーシングの
太さより近接してプローブピンを設置でき、さらに高密
度化に対応できるようにし、また、プリント配線板のテ
スト用ランドの位置が変更された場合において、治具基
板に貫通穴の開け直しを不要にできるものである。According to the present invention, the probe pin can be installed closer than the thickness of the casing by the above-mentioned constitution, and it is possible to cope with higher density, and when the position of the test land of the printed wiring board is changed. In the above, it is possible to eliminate the need to reopen the through hole in the jig substrate.
【００１１】[0011]
【実施例】以下、本発明の一実施例のプリント配線板検
査治具について、図面を参照しながら説明する。なお、
従来例と同じ箇所には同一番号を付与し、説明を省略す
る。図１は、本発明の一実施例のプリント配線板検査治
具の構成を示す断面図である。図２はプリント配線板検
査治具のプローブピンとケーシングの構成を示す分解斜
視図である。図１において、四角形の開口部２０を有す
る多角形ケーシング１６は治具基板４に圧入され埋設さ
れている。多角形ケーシング１６には、屈曲プローブピ
ン１５の案内部１７が開口部２０に挿入され、嵌合して
いる。屈曲プローブピン１５は、２回折り曲げられた屈
曲部１８が形成され、先端部１９に多角形ケーシング１
６の同心軸上から偏心した位置にあるテスト用ランド３
との接触点を有し、もう片端の案内部１７は多角形ケー
シング１６の開口部２０と同じ四角形の断面形状を有し
ている。ケーシング６から検査手段１４までの構成は従
来例と同じものである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A printed wiring board inspection jig according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition,
The same parts as those in the conventional example are given the same numbers, and the description thereof will be omitted. FIG. 1 is a sectional view showing the structure of a printed wiring board inspection jig according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view showing the configuration of the probe pin and the casing of the printed wiring board inspection jig. In FIG. 1, a polygonal casing 16 having a square opening 20 is press-fitted and embedded in the jig substrate 4. The guide portion 17 of the bent probe pin 15 is inserted into the opening 20 and fitted into the polygonal casing 16. The bent probe pin 15 has a bent portion 18 that is bent twice, and has a polygonal casing 1 at the tip portion 19.
Test land 3 at a position eccentric from the concentric axis of 6
And the guide portion 17 at the other end has the same rectangular cross-sectional shape as the opening 20 of the polygonal casing 16. The structure from the casing 6 to the inspection means 14 is the same as the conventional example.
【００１２】以上のように構成されたプリント配線板検
査治具について、以下その動作について説明する。図２
において、まず多角形ケーシング１６の開口部２０に屈
曲プローブピン１５の案内部１７が挿入され嵌合する。
案内部１７、開口部２０はともに同一多角形の嵌合であ
ることから、屈曲プローブピン１５は回動せず、屈曲プ
ローブピン１５の屈曲方向は固定される。屈曲プローブ
ピン１５の先端部が多角形ケーシング１６の同心軸上よ
り離れる距離は屈曲部１８の長さにより可変することが
でき、距離の異なる多くの場合に対応することができ
る。The operation of the printed wiring board inspection jig configured as described above will be described below. Figure 2
First, the guide portion 17 of the bent probe pin 15 is inserted into and fitted into the opening 20 of the polygonal casing 16.
Since the guide portion 17 and the opening 20 are fitted in the same polygonal shape, the bending probe pin 15 does not rotate, and the bending direction of the bending probe pin 15 is fixed. The distance at which the tip of the bent probe pin 15 is separated from the concentric axis of the polygonal casing 16 can be changed by the length of the bent portion 18, and it is possible to cope with many different distances.
【００１３】屈曲プローブピン１５はテスト用ランド３
と電気的に接続され、多角形ケーシング１６、インター
フェース部１１を経て検査手段１４へと導通する。以下
の動作は従来例と同じである。尚、屈曲プローブピン１
５の案内部１７、多角形ケーシング１６の開口部２０の
断面形状を四角形としたが、屈曲プローブピンが回転す
るのを防止するためであり、真円でなければよく、例え
ば正八角形であれば、八方に屈曲プローブピンを向ける
ことができる。被検査用プリント配線板のテスト用ラン
ド３が近接している場合、ケーシング６と多角形ケーシ
ング１６との間隔は変えないままで、屈曲プローブピン
１５をケーシング１６に挿入し嵌合させることで、隣り
合うプローブピン７に接触しない距離まで屈曲プローブ
ピン１５を近傍に寄せ、テストランド３に接触させるこ
とができる。これにより、より高密度に実装されテスト
ランドの密集したプリント配線板に対応できる。さら
に、治具基板４にケーシング６を圧入させるための貫通
穴を開けた後、プリント配線板１に設けられたテスト用
ランド３が移動した場合でも、ケーシングの位置はその
ままで、屈曲プローブピン１５の屈曲長さＬの異なるも
のに変えるだけでテストランド３の位置に距離を合わせ
接触させることができる。The bent probe pin 15 is the test land 3
Is electrically connected to the inspection means 14 through the polygonal casing 16 and the interface portion 11. The following operation is the same as the conventional example. Bending probe pin 1
Although the guide portion 17 of 5 and the opening portion 20 of the polygonal casing 16 have a quadrangular cross-sectional shape, this is for preventing the bent probe pin from rotating, and may be any shape other than a perfect circle, such as a regular octagon. , The bent probe pin can be oriented in all directions. When the test lands 3 of the inspected printed wiring board are close to each other, the bending probe pin 15 is inserted and fitted into the casing 16 without changing the distance between the casing 6 and the polygonal casing 16. The bent probe pin 15 can be brought close to a distance that does not contact the adjacent probe pin 7 and contact the test land 3. As a result, it is possible to cope with a printed wiring board that is mounted at a higher density and has dense test lands. Further, even after the through holes for press-fitting the casing 6 into the jig substrate 4 are opened, even if the test lands 3 provided on the printed wiring board 1 move, the position of the casing remains the same, and the bending probe pin 15 does not change. The distance can be adjusted to the position of the test land 3 and contacted by simply changing the bending length L to a different one.
【００１４】また、嵌合部が多角形の断面を有している
ため、１つの屈曲プローブピンで多方向のテストランド
位置に容易に対応できる。Further, since the fitting portion has a polygonal cross section, one bending probe pin can easily cope with the test land positions in multiple directions.
【００１５】[0015]
【発明の効果】以上の実施例から明かなように本発明に
よれば、プリント配線板、特にコンピュータをはじめと
するＯＡ機器等に使用される高密度実装のプリント配線
板の組み立て工程における検査装置の一部をなす検査治
具を作成するにあたって、多角形の開口部断面をもつケ
ーシングに、前記多角形の開口部と同じ断面形状で形成
され屈曲したプローブピンの片端を挿入し、ケーシング
の同心軸上から外れたところにあるテスト用ランドに接
触させることによって、従来は隣合うプローブピンの太
さより近接してプローブピンを設けることを可能にし、
治具基板完成後プリント配線板に設けられたテスト用ラ
ンドの位置変更にも容易に対応できるものである。As is apparent from the above-described embodiments, according to the present invention, an inspection apparatus is used in the process of assembling a printed wiring board, especially a high-density mounted printed wiring board used in office automation equipment such as computers. To create an inspection jig that forms a part of the above, insert one end of a bent probe pin formed in the same cross-sectional shape as the polygonal opening into a casing with a polygonal opening cross-section, and By contacting with a test land that is off the axis, it has become possible to install probe pins closer than the thickness of adjacent probe pins,
After the jig substrate is completed, the position of the test land provided on the printed wiring board can be easily changed.
【図１】本発明の一実施例におけるプリント配線板検査
治具の構成を示す断面図FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of a printed wiring board inspection jig according to an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の一実施例におけるプリント配線板検査
治具の屈曲プローブピンと多角形ケーシングの構成を示
す分解斜視図FIG. 2 is an exploded perspective view showing configurations of a bent probe pin and a polygonal casing of a printed wiring board inspection jig according to an embodiment of the present invention.
【図３】従来のプリント配線板検査治具の構成を示す断
面図FIG. 3 is a cross-sectional view showing the structure of a conventional printed wiring board inspection jig.
１ 被検査プリント配線板 ３ テストランド ４ 治具基板 １５ 屈曲プローブピン １６ 多角形ケーシング １７ 案内部 １８ 屈曲部 ２０ 開口部 1 Printed wiring board to be inspected 3 Test land 4 Jig board 15 Bending probe pin 16 Polygonal casing 17 Guide part 18 Bending part 20 Opening
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 恵上 幸子 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Sachiko Egami 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Claims (2)
前記治具基板に埋設されたケーシングと、前記ケーシン
グに装着され前記ケーシングの同心軸上から偏心した位
置に被検査用プリント配線板のテスト用ランドとの接触
点を有するプローブピンとを備えたことを特徴とするプ
リント配線板検査治具。1. A jig substrate having a connection portion with an inspection device,
A casing embedded in the jig substrate, and a probe pin attached to the casing and having a contact point with a test land of the inspected printed wiring board at a position eccentric from a concentric axis of the casing, Characterized printed wiring board inspection jig.
を同一多角形の断面で形成したことを特徴とする請求項
１記載のプリント配線板検査治具。2. The printed wiring board inspection jig according to claim 1, wherein the fitting portion of the probe pin and the casing is formed with the same polygonal cross section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5158728A JPH0743419A (en) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | Printed circuit board inspection jig |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5158728A JPH0743419A (en) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | Printed circuit board inspection jig |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743419A true JPH0743419A (en) | 1995-02-14 |
Family
ID=15678042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5158728A Pending JPH0743419A (en) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | Printed circuit board inspection jig |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743419A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007534947A (en) * | 2004-04-26 | 2007-11-29 | フォームファクター， インコーポレイテッド | How to create a robust mechanical structure on a substrate surface |
| JP2008008624A (en) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Kiyota Seisakusho:Kk | Contact probe |
| WO2008133209A1 (en) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact and conductive contact unit |
| CN103605067A (en) * | 2013-11-21 | 2014-02-26 | 华东光电集成器件研究所 | Double-face wire arranging thick film circuit testing apparatus |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP5158728A patent/JPH0743419A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007534947A (en) * | 2004-04-26 | 2007-11-29 | フォームファクター， インコーポレイテッド | How to create a robust mechanical structure on a substrate surface |
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| WO2008133209A1 (en) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact and conductive contact unit |
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