JPH09246228A - 基板の液切り装置 - Google Patents
基板の液切り装置Info
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- JPH09246228A JPH09246228A JP4521896A JP4521896A JPH09246228A JP H09246228 A JPH09246228 A JP H09246228A JP 4521896 A JP4521896 A JP 4521896A JP 4521896 A JP4521896 A JP 4521896A JP H09246228 A JPH09246228 A JP H09246228A
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
及び製造コストの増加を最小に抑え、しかも調整作業を
容易にして、基板に付着した処理液を完全に吹き飛ば
す。 【解決手段】 液切り槽2は、搬送方向に向かって片側
に角度ωで傾斜した搬送面Pを形成する搬送ローラ6、
搬送面Pの上下に設けられたエアーナイフ11、および
エアーナイフ11の搬送方向下流側のスポット噴射手段
21を備える。エアナイフ11は下端が上端よりも搬送
方向下流側へずれるように搬送面Pの幅方向に対して角
度θ1だけ傾斜している。スポット噴射手段21は、搬
送面Pに向いたスリット状の噴射口21aを有し、この
噴射口21aはその下端が上端よりも搬送方向下流側へ
ずれるように搬送面Pの幅方向に対して角度θ2だけ傾
斜している。
Description
用のガラス基板、半導体ウエハ基板等を対象とし、処理
液が付着したこれら基板の表面に向けて気体を噴射する
ようにした基板の液切り装置に関する。
合、板状のガラス基板の表面に種々の処理液を順次供給
する、いわゆる湿式表面処理が施される。この湿式表面
処理は、ガラス基板の表面を洗浄した後に、現像、エッ
チング、剥膜等の薬液処理を施すもので、各薬液処理毎
に純水による水洗処理が行われる。これらの水洗処理が
施された基板上には水洗に使用された処理液が基板表面
に付着しているが、この付着液は各水洗処理工程毎に除
去しておく必要がある。そのために用いられる液切り装
置としては従来、例えば図9に示すように、搬送ローラ
51,…を搬送方向に並列軸支してなる搬送機構に対し
て、この搬送面の上下に、搬送面の幅方向に延びるスリ
ット状の噴射口52aを有したエアーナイフ52を、噴
射口52aの一端が他端よりも搬送方向下流側へずれる
ように平面視で搬送方向と直交する方向に対して角度θ
だけ傾斜させて設け、水平状態で搬送される基板53の
表面に向けてエアーナイフ52の噴射口52aから気体
を噴射し、この噴流によって基板53に付着した処理液
を角部53aへ押し流し、吹き飛ばすようにしたものが
知られている(例えば特開平7ー302779号公報を
参照)。
基板53の後部が前工程の湿式表面処理のエリアから未
だ出きっていないときには、処理液が基板53の表面を
伝って前部へと流れ込むから、この状態でエアーナイフ
52から気体を吹き付けると、処理液が跳ねて却って水
切りを阻害する。そこで、エアーナイフ52よりも搬送
方向上流側にほぼ基板53の全長分に相当する長さのニ
ュートラルゾーンNを設けておき、このニュートラルゾ
ーンNでは単に基板53を搬送するだけにし、これを過
ぎて基板53が完全に液切り装置の中に入ってから、エ
アーナイフ52からの気体を吹き付けるようにしてい
た。このため、液切り装置の全長が長くなるという問題
があった。
処理液は角部53aを構成する基板の表裏面および基板
端面に亘って付着するが、基板の端面部はエアーナイフ
の噴流の力を受けにくいため、噴流によって完全に吹き
飛ばすことができないことがあり、そのときに水滴状に
残留した処理液により基板表面にシミが発生し基板汚染
の原因となったり、乾燥して基板表面に残留した固形物
がパーティクル発生の原因となるなどの問題が発生す
る。そのための対策として、エアーナイフ52の搬送方
向下流側に更にエアーナイフ52を追設し、2段構えに
したものが採用されているが、この追設のためにスペー
スを要して装置が大型化するし、気体の使用量が倍増
し、製造コストも増す。しかも噴流の流量などを両エア
ーナイフ52,52の噴射口52a,52aの全長に亘
って均一に調整する作業は困難である。更に近年、処理
される基板が大型化されており、エアーナイフ自体も大
型化するため、益々不利な条件となっている。またエア
ーナイフを2段構えにしても基板角部の水滴は充分に除
去しきれないといった問題があった。
ためになされたものであり、搬送面を幅方向に傾斜させ
て基板表面に流れ込む処理液が溜まらないようにしつつ
エアーナイフで処理液を効果的に吹き飛ばし、さらに角
部に残留する処理液に気体のスポット流を当てることに
より、装置を短くコンパクトに収め、気体の使用量及び
製造コストの増加を最小に抑え、しかも調整作業を容易
にして、基板に付着した処理液を完全に吹き飛ばすこと
ができる基板の液切り装置を提供することを目的として
いる。
搬送される基板の表面に向けてエアーナイフのスリット
状の噴射口から気体を噴射するようにした基板の液切り
装置において、搬送面を搬送方向に向かって片側へ傾斜
させて設定すると共に、上記エアーナイフを、噴射口の
下端が上端よりも搬送方向下流側へずれるように搬送面
の幅方向に対して傾斜させて設け、上記噴射口下端の下
流側に、基板の角部に向けて気体のスポット流を噴射す
るスポット噴射手段を設けたことを特徴とするものであ
る。
かって片側へ傾斜するから、前工程から流れ込む処理液
が基板の側方へ流れ落ち、基板表面に溜まらない。した
がってニュートラルゾーンが不要となると共に、エアー
ナイフの液切りに対する負荷が軽減される。そして、エ
アーナイフの噴射口から噴射される噴流により基板上の
大部分の処理液は液切りされ、基板の端面に付着した処
理液は角部へ押し流される。次いでスポット噴射手段か
ら噴射される気体のスポット流により上記角部に残留す
る処理液が完全に吹き飛ばされる。その場合、エアーナ
イフを2段構えにすることに較べれば、装置がコンパク
トであり、気体の使用量は少なく、製造コストは安くつ
き、スポット噴射手段の流量調整が容易となる。
明において、上記スポット噴射手段の噴射口がスリット
状に形成され、このスポット噴射手段が、上記エアーナ
イフとほぼ同じ方向に搬送面の幅方向に対して傾斜させ
て設けられていることを特徴とするものである。この発
明によれば、スポット噴射手段からの噴流が、ある程度
の幅をもつ均一な流れとなるから、上記角部に残留する
処理液が確実に吹き飛ばされる。
載の発明において、上記エアーナイフが、噴射口からの
噴流が直下よりも搬送方向上流側へ向くように搬送面に
垂直な方向に対して傾斜して設けられていることを特徴
とするものである。この発明によれば、エアーナイフの
噴射口から噴射される噴流が搬送方向上流側へと方向づ
けられるから、基板に付着する処理液が確実に角部へ押
し流される。
の発明において、上記エアーナイフ及びスポット噴射手
段が、搬送面の上下にそれぞれ一対ずつ設けられている
ことを特徴とするものである。この発明によれば、基板
の上面及び下面の両方に付着した処理液が、共に完全に
吹き飛ばされる。
切り装置1の一実施形態を示す一部切欠き斜視図であ
る。同図において、2は箱形の液切り槽であって、この
液切り槽2の側板には基板受入口3が開口し、液切り槽
2の内部がこの基板受入口3を介して隣接する水洗装置
4の内部に連通している。液切り槽2の内部には基板B
の搬送機構5を設けている。
れた搬送ローラ6,…と、これらの搬送ローラ6,…を
同期して回転させる駆動機構7とを備え、水洗装置4で
水洗処理された基板Bを基板受入口3で受取り、これを
搬送ローラ6,…上に仮想的に設定された搬送面Pに沿
って搬送し、次行程へと送るようにしている。そして、
図3に示すように、搬送ローラ6,…の回転軸を水平軸
に対して角度ωだけ傾斜させて設けており、これによっ
て上記搬送機構5は、搬送面Pを搬送方向に向かって片
側へ角度ωだけ傾斜して設定されている。この角度ω
は、本実施形態では約4〜6度程度に設定されている。
これは傾斜が緩過ぎると処理液が流れ落ちにくくなって
液切れ性が悪いからであり、傾斜がきつ過ぎると処理液
が流れ過ぎて直水洗後の部分的なシミが発生する可能性
があるからである。しかし、本発明は上記の角度に限定
されるものではない。なお、8はドレンパンである。
エアーナイフであって、ほぼ搬送面Pの幅方向に延び、
且つ搬送面Pに向いたスリット状の噴射口11a、12
aを有している。図2に示すように、これらのエアーナ
イフ11、12は、噴射口11a、12aの下端が上端
よりも搬送方向下流側へずれるように搬送面Pの幅方向
に対して角度θ1だけ傾斜して設けられている。この角
度θ1は、45度前後が好ましいが、搬送ローラ6など
の周辺部材の取付作業性を確保する理由から、約7度程
度に設定されているが、これに限定されるものではな
い。エアーナイフ11、12はエア管路13を介して清
浄エアー源14に接続されていて、清浄エアー源14か
ら供給される高圧エアーを、噴射口11a、12aから
搬送面Pに向けて噴射するようにしている。15はエア
管路13に設けられた流量調整用の制御弁である。ま
た、清浄エアー源14から供給される気体は清浄エアー
に限定されるものではなく、N2ガスなどの不活性ガス
を用いてもよい。
両端部のうち、上記搬送方向下流側へずれている下端の
下流側には、スポット噴射手段21、22が設けられて
いる。このスポット噴射手段21、22は上記エアーナ
イフ11、12とほぼ同様の構造であり、ほぼ搬送面P
の幅方向に延び、且つ搬送面Pに向いたスリット状の噴
射口21a、22aを有している。図2に示すように、
これらのスポット噴射手段21、22は、噴射口21
a、22aの下端が上端よりも搬送方向下流側へずれる
ように搬送面Pの幅方向に対して角度θ2だけ傾斜して
設けられている。この角度θ2は、本実施形態では約1
0度程度に設定されているが、これに限定されるもので
はない。スポット噴射手段21、22は上記エア管路1
3を介して清浄エアー源14に接続されていて、清浄エ
アー源14から供給される高圧エアーを、噴射口21
a、22aから搬送面Pに向けてスポット流にして噴射
するようにしている。
1、12及びスポット噴射手段21、22は、いずれも
噴射口11a、12a及び21a、22aからの噴流が
直下よりも搬送方向上流側へ向くように側面視で角度φ
1、φ2だけそれぞれ傾斜して設けられている。この角度
φ1、φ2は、本実施形態では約30度程度に等しく設定
されているが、これに限定されるものではなく、また一
致させなくてもよい。それぞれの角度φ1、φ2は、処理
液の種類や噴射液圧、噴射エア圧、搬送速度などを勘案
して所要の角度が設定される。
装置4から基板Bを搬入すると、基板Bの後部が水洗装
置4から未だ出きっていないときには、純水などの処理
液Lが基板Bの表面を伝わって前部へと流れ込むが、搬
送面Pが搬送方向に向かって片側へ傾斜するから、基板
へ供給された処理液Lは基板Bの側方へ流れ落ち、基板
表面に溜らない。したがってエアーナイフ11,12の
液切りに対する負荷が軽減されるので、ニュートラルゾ
ーンが不要となり、その分だけ装置の全長を短くするこ
とができる。そして、この基板Bが更に下流へ搬送され
ると、エアーナイフ11、12の噴射口11a、12a
から噴射される噴流により基板B上の処理液Lの大部分
は除去され、端面部の処理液Lは角部bへ押し流される
(図5の状態)。次いでスポット噴射手段21、22の
噴射口21a、22aから噴射されるエアのスポット流
により上記角部bに水滴状に残留する処理液Lが完全に
吹き飛ばされ(図6の状態)、これにより基板B上に残
留液のシミができることがなくなる。その場合、エアー
ナイフを2段構えにすることに較べれば、エアーナイフ
11、12よりも小さなスポット噴射手段21、22を
設けるに過ぎないから装置がコンパクトであり、またス
ポット流であるために気体の使用量は少なく、製造コス
トは安くつき、しかもスポット噴射手段21、22の流
量調整も容易となり、手間がかからない。
口21a、22aがスリット状に形成され、しかもエア
ーナイフ11、12とほぼ同じ方向に角度θ2だけ傾斜
しているから、スポット噴射手段21、22からの噴流
が、ある程度の幅をもつ均一な流れとなり、基板Bの角
部bに残留する処理液Lを確実に吹き飛ばすことができ
る。
口11a、12aからの噴流が直下よりも搬送方向上流
側へ向くように傾斜しているから、エアーナイフ11、
12の噴射口11a、12aから噴射される噴流が搬送
方向上流側へと方向付けられ、基板Bに付着する処理液
Lを確実に基板Bの角部bへ押し流すことができる。
ト噴射手段21、22が、搬送面Pの上下にそれぞれ一
対ずつ設けられているから、基板Bの上面及び下面の両
方に付着した処理液Lを、一挙に完全に吹き飛ばすこと
ができる。
22をスリット状の噴射口21a、22aを有するエア
ーナイフ11、12とほぼ同様の構造のものとしたが、
図7に示すように開口21′aが搬送面Pに向くキャピ
ラリーチューブによりスポット噴射手段21′を構成し
てもよい。また図8に示すように開口21″aが搬送面
Pに向く複数の管を並設することによりスポット噴射手
段21″を構成してもよい。
及びスポット噴射手段21、22へエアを供給したが、
他の気体を供給したものについても本発明を用いること
ができる。また実施形態ではスポット噴射手段21、2
2を側面視で角度φ2だけ傾斜させたが、スポット噴射
手段21、22はスポット流により角部bに残留する処
理液Lを吹き飛ばすものであるから、スポット噴射手段
21、22を搬送面Pに対して垂直に設けてもよい。
処理された基板表面の処理液を除去する場合について記
載したが、水洗装置ではなく、現像、エッチング、剥離
などの薬液処理後の液切り装置として用いることもでき
る。
程から流れ込む処理液を基板の側方へ流れ落とすから、
ニュートラルゾーンが不要となり、装置を短くすること
ができる。さらに処理液を流れ落とした状態でエアーナ
イフの噴流により基板に付着する処理液を角部へ押し流
し、スポット噴射手段のスポット流を上記角部に噴射す
るので、エアーナイフを2段構えにすること等に較べて
装置をコンパクト化し、気体の使用量を少なくし、製造
コストを安くし、且つ流量調整作業を容易としながら、
基板に付着した処理液を完全に吹き飛ばすことができ、
基板上に残留液のシミが現れることを確実に防止でき
る。
度の幅をもつ均一な噴流によって角部に残留する処理液
を確実に吹き飛ばすことができる。
ナイフの噴流が搬送方向上流側へと方向づけられるか
ら、基板に付着する処理液を確実に角部へ押し流すこと
ができ、スポット流による残留処理液の吹き飛ばしを確
実に行うことができる。
上面及び下面の両方に付着した処理液を、共に完全に吹
き飛ばすことができる。
である。
みた図である。
2相当図である。
の図2相当図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 搬送される基板の表面に向けてエアーナ
イフのスリット状の噴射口から気体を噴射するようにし
た基板の液切り装置において、搬送面を搬送方向に向か
って片側へ傾斜させて設定すると共に、上記エアーナイ
フを、噴射口の下端が上端よりも搬送方向下流側へずれ
るように搬送面の幅方向に対して傾斜させて設け、上記
噴射口下端の下流側に、基板の角部に向けて気体のスポ
ット流を噴射するスポット噴射手段を設けたことを特徴
とする基板の液切り装置。 - 【請求項2】 上記スポット噴射手段の噴射口がスリッ
ト状に形成され、このスポット噴射手段が、上記エアー
ナイフとほぼ同じ方向に搬送面の幅方向に対して傾斜さ
せて設けられている請求項1記載の基板の液切り装置。 - 【請求項3】 上記エアーナイフが、噴射口からの噴流
が直下よりも搬送方向上流側へ向くように搬送面に垂直
な方向に対して傾斜して設けられている請求項1又は2
記載の基板の液切り装置。 - 【請求項4】 上記エアーナイフ及び上記スポット噴射
手段が、搬送面の上下にそれぞれ一対ずつ設けられてい
る請求項1〜3のいずれかに記載の基板の液切り装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4521896A JP3659526B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 基板の液切り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4521896A JP3659526B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 基板の液切り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09246228A true JPH09246228A (ja) | 1997-09-19 |
JP3659526B2 JP3659526B2 (ja) | 2005-06-15 |
Family
ID=12713138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4521896A Expired - Fee Related JP3659526B2 (ja) | 1996-03-01 | 1996-03-01 | 基板の液切り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3659526B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003050600A1 (fr) * | 2001-12-13 | 2003-06-19 | Sumitomo Precision Products Co., Ltd | Systeme de traitement de substrat et dispositif de sechage de substrat |
WO2003050601A1 (fr) * | 2001-12-13 | 2003-06-19 | Sumitomo Precision Products Co., Ltd | Systeme de traitement de substrat et dispositif de sechage de substrat |
JP2009135508A (ja) * | 2008-12-22 | 2009-06-18 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板の処理装置 |
JP2010131485A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板の液切り装置および液切り方法 |
-
1996
- 1996-03-01 JP JP4521896A patent/JP3659526B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003050600A1 (fr) * | 2001-12-13 | 2003-06-19 | Sumitomo Precision Products Co., Ltd | Systeme de traitement de substrat et dispositif de sechage de substrat |
WO2003050601A1 (fr) * | 2001-12-13 | 2003-06-19 | Sumitomo Precision Products Co., Ltd | Systeme de traitement de substrat et dispositif de sechage de substrat |
JP2010131485A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板の液切り装置および液切り方法 |
JP2009135508A (ja) * | 2008-12-22 | 2009-06-18 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板の処理装置 |
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