JPH09211026A - プローブ - Google Patents

プローブ

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Publication number
JPH09211026A
JPH09211026A JP1864696A JP1864696A JPH09211026A JP H09211026 A JPH09211026 A JP H09211026A JP 1864696 A JP1864696 A JP 1864696A JP 1864696 A JP1864696 A JP 1864696A JP H09211026 A JPH09211026 A JP H09211026A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
current
ground lead
probes
input terminals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1864696A
Other languages
English (en)
Inventor
▲はが▼憲一朗
Kenichirou Haga
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP1864696A priority Critical patent/JPH09211026A/ja
Publication of JPH09211026A publication Critical patent/JPH09211026A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 2次元方向に流れる電流の大きさを2次元表
示することができ、周囲の磁界の影響を受けにくいプロ
ーブを提供する。 【解決手段】 十字の位置に配置された4本の探針と、
この探針の出力のシールド線を束ねて形成されたケーブ
ルと、前記シールド線と接続されるグランドリードから
なり、前記探針の対向する2本が互いに対とされてオシ
ロスコープの差動入力端子の正,負の2対の入力端子に
夫々接続されると共に前記グランドリードが測定対象部
材の共通電位点に接続した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オシロスコープに用い
られるプローブの改良に関し、更に詳しくは電子機器等
の平面金属板(シャーシ等)を流れる電流測定に用いて
好適なプローブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子機器の設計に際し、機器のノイズ
(雑音)を考慮した設計が行われる。その場合、機器の
電源からシャーシ或いはケースを介して流れるリターン
電流等がノイズ源として問題となることがある。従って
製品化に先立って実験機器を作製し前記リターン電流等
のノイズ源となる電流の方向や大きさを知り、回路に適
切な対策を施したり電源や他の部品を最適に配置する必
要がある。
【0003】図4はシャーシ等に流れるリターン電流等
を測定するプローブの従来例を示すもので、1は電子機
器のシャーシ(但し、部品は省略)、2,3はプローブ
であり、夫々のプローブにはグランドリード2a,3a
が設けられている。そして、これらのプローブの一方は
シールド線2bを介してオシロスコープ4の差動入力端
子の正入力(+)に、他方は同様にリード線3bを介し
て負入力(−)に接続されている。このような構成にお
いて、2本の探針を適当な距離に離間して先端をシャー
シに接触させると、探針間の電圧降下からシャーシに流
れる電流の方向と大きさを測定することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法では1カ所の電流の方向を特定するために、何
度も2本のプローブの方向を変えながら先端をシャーシ
に接触させて測定する必要があり、オシロスコープの画
面表示としては電流の大きさ(電圧降下)しか表示され
ないので、電流の方向の特定が難しいという問題があ
る。また、単にシャーシを流れる電流の他に探針とグラ
ンドリードの間のループを横切る周囲の磁界の影響を受
けるので正確な測定が難しいという問題がある。
【0005】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたもので、電流の方向と大きさを2次元表示するとと
もに、周囲の磁界の影響を受けにくいプローブを提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、十字の位置に配置された4本の探針と、こ
の探針の出力のシールド線を束ねて形成されたケーブル
と、前記シールド線と接続されるグランドリードからな
り、前記探針の対向する2本が互いに対とされてオシロ
スコープの差動入力端子の正,負の2対の入力端子に夫
々接続されると共に前記グランドリードが測定対象部材
の共通電位点に接続されたことを特徴とするものであ
る。
【0007】
【発明の実施の形態】図1(a),(b)は本発明のプ
ローブの概要を示す構成図であり、(a)はプローブを
オシロスコープの差動入力端子に接続した図、(b)は
プローブの探針の配置状態を示す上面図である。これら
の図において、15は探針固定部材(形状は図示の例に
限らず方形や円形でもよい)であり、図示の例では十字
状に形成されていて先端部の夫々に探針12,12a,
13,13aが固定されている。これら探針は固定部材
15の中心部に対してほぼ等距離に位置し、対向する探
針12および12aはオシロスコープ4のチャンネル
(CH)1の正(+),負(−)の入力端子に接続さ
れ、13および13aの探針は(CH)2の正(+),
負(−)の入力端子に接続されている。
【0008】また、各探針は探針固定部材に固定した状
態でシャーシ等の平面部に当接させたときには4本が過
不足なく接触する様な長さに調整されている。そして、
例えばCH1はオシロスコープの表示画面のX軸に、C
H2はY軸に対応しているものとする。16はグランド
リードであり、絶縁状態で束ねられた4本のシールド線
を包む導電部材が延長されてシャーシの共通電位点に接
続される。
【0009】ここで、例えばシャーシを流れる電流の大
きさが100mA,プローブ間のシャーシの抵抗分が1
0mΩ(市販の炭素鋼板で探針間を20mm程度とした
場合に得られる抵抗)であったとすると、探針間の電圧
降下は 100mA×10mΩ=1mV となる。この程度の信号電圧であれば差動入力端子を有
する高感度なオシロスコープで十分測定可能な信号レベ
ルである。
【0010】図2は本発明のプローブを用いてシャーシ
を流れる電流(直流)の方向と大きさを測定した例を示
すもので、電流が図の右上から左下へ流れているものと
する。このような場合、図示の様に各探針を流れに対し
て45°に配置したとすると、オシロスコープの表示部
には図3に示す位置に点Pとして表示される。
【0011】また、電流の流れる方向が図2に点線で示
す様にX軸に対して80°の位置であった場合は、図3
に2点鎖線で示す位置に点P’として表示される。な
お、電流の大きさは表示器の中心を0とした場合電流が
大きければ0から離れた位置に表示され、小さい場合は
表示器の中心近くに表示されることになる。つまり、電
流の大きさと表示器の0からの距離は比例することにな
る。また、電流が交流の場合は図3中に線分aで示す様
に線で示されることになる(線分aは図2の探針の配置
に対して第2象限と第4象限を流れている場合を示して
いる)。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、4
本の探針の先端を十字の位置に配置し、探針のリード線
を束ねたケーブルのシールド部から延長して1本のグラ
ンドリードを設け、対向する2本の探針をオシロスコー
プの差動入力端子の正,負の入力端子に夫々接続するこ
とで、2次元方向に流れる電流の大きさを2次元表示す
ることができる。また、グランドリードを共通電位点に
接続して共通化したので探針とグランドリードで構成さ
れるループを横切る磁界による妨害を差動入力の同相
(コモンモード)信号として相殺することができるの
で、周囲の磁界の影響を受けにくいプローブを実現する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の発明の実施の形態の一例を示す図であ
る。
【図2】本発明のプローブを用いた電流の測定例を示す
図である。
【図3】オシロスコープの表示部に表示された電流の方
向と大きさを示す図である。
【図4】シャーシを流れる電流を測定するプローブの従
来例を示す図である。
【符号の説明】
4 差動入力付きオシロスコープ 10 プローブ本体 11 ケーブル 12,13 探針 15 探針固定部材 16 グランドリード

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】十字の位置に配置された4本の探針と、こ
    の探針の出力のシールド線を束ねて形成されたケーブル
    と、前記シールド線と接続されるグランドリードからな
    り、前記探針の対向する2本が互いに対とされてオシロ
    スコープの差動入力端子の正,負の2対の入力端子に夫
    々接続されると共に前記グランドリードが測定対象部材
    の共通電位点に接続されたことを特徴とするプローブ。
JP1864696A 1996-02-05 1996-02-05 プローブ Pending JPH09211026A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1864696A JPH09211026A (ja) 1996-02-05 1996-02-05 プローブ

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JP1864696A JPH09211026A (ja) 1996-02-05 1996-02-05 プローブ

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JPH09211026A true JPH09211026A (ja) 1997-08-15

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ID=11977386

Family Applications (1)

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JP1864696A Pending JPH09211026A (ja) 1996-02-05 1996-02-05 プローブ

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JP (1) JPH09211026A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001007660A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Advantest Corp アナログ信号処理回路、ad変換装置、半導体デバイス試験装置およびオシロスコープ
JPWO2022162924A1 (ja) * 2021-02-01 2022-08-04

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001007660A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Advantest Corp アナログ信号処理回路、ad変換装置、半導体デバイス試験装置およびオシロスコープ
JPWO2022162924A1 (ja) * 2021-02-01 2022-08-04
WO2022162924A1 (ja) * 2021-02-01 2022-08-04 三菱電機株式会社 センサ回路および電子機器

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