JPH09205128A - 半導体ウェハ移送ロボット用アーム - Google Patents
半導体ウェハ移送ロボット用アームInfo
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- JPH09205128A JPH09205128A JP8312473A JP31247396A JPH09205128A JP H09205128 A JPH09205128 A JP H09205128A JP 8312473 A JP8312473 A JP 8312473A JP 31247396 A JP31247396 A JP 31247396A JP H09205128 A JPH09205128 A JP H09205128A
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J15/00—Gripping heads and other end effectors
- B25J15/06—Gripping heads and other end effectors with vacuum or magnetic holding means
- B25J15/0616—Gripping heads and other end effectors with vacuum or magnetic holding means with vacuum
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ウェハがウェハ支持板上に常に水平状態で置
かれるようにしてウェハの移送の際に真空圧のリーク現
象によるウェハの移送エラーが誘発されないようにし、
かつウェハの汚染を防止できる半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームを提供すること。 【解決手段】 長方形の本体11の一側面から外側に所
定の長さで突出された左右一対のウェハ支持板12の延
長部15上の所定位置と前記本体11の上面の所定位置
の3個所に、ウェハ支持板12上の真空ホール14と同
一高さ、あるいはそれよりやや低く水平維持手段として
整列ピン20を設ける。
かれるようにしてウェハの移送の際に真空圧のリーク現
象によるウェハの移送エラーが誘発されないようにし、
かつウェハの汚染を防止できる半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームを提供すること。 【解決手段】 長方形の本体11の一側面から外側に所
定の長さで突出された左右一対のウェハ支持板12の延
長部15上の所定位置と前記本体11の上面の所定位置
の3個所に、ウェハ支持板12上の真空ホール14と同
一高さ、あるいはそれよりやや低く水平維持手段として
整列ピン20を設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウェハ移送ロ
ボット用アームに関するもので、特にキャリアから引出
されたウェハを決められた位置に整列させるために移送
させる場合に真空圧のリークによるウェハ移送エラーが
発生しないようにした半導体ウェハ移送ロボット用アー
ムに関する。
ボット用アームに関するもので、特にキャリアから引出
されたウェハを決められた位置に整列させるために移送
させる場合に真空圧のリークによるウェハ移送エラーが
発生しないようにした半導体ウェハ移送ロボット用アー
ムに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ウェハ移送ロボット用アームは
半導体素子の製造工程中、フォトアライン(Photo
Align)工程でキャリアから引出したウェハの整
列のために該ウェハをステージへ移動させたり、写真工
程を終えたウェハをスピナー設備へアンローディングさ
せる際に使用される。
半導体素子の製造工程中、フォトアライン(Photo
Align)工程でキャリアから引出したウェハの整
列のために該ウェハをステージへ移動させたり、写真工
程を終えたウェハをスピナー設備へアンローディングさ
せる際に使用される。
【0003】図3(a)は従来の半導体ウェハ移送ロボ
ット用アームを示す平面図であり、図3(b)は図3
(a)の作動状態を示す側面図である。
ット用アームを示す平面図であり、図3(b)は図3
(a)の作動状態を示す側面図である。
【0004】図3(a)を参照すると、従来の半導体ウ
ェハ移送ロボット用アーム100は、一定の厚さと大き
さを有する長方形の本体110と、この本体110の一
側面から外側に所定の長さで突出する左右一対のウェハ
支持板120と、このウェハ支持板120の上面の所定
の位置にてそのウェハ支持板120及び本体110の内
部を通して形成された真空ライン130と連通できるよ
うに形成された所定の高さの真空ホール140とからな
っている。
ェハ移送ロボット用アーム100は、一定の厚さと大き
さを有する長方形の本体110と、この本体110の一
側面から外側に所定の長さで突出する左右一対のウェハ
支持板120と、このウェハ支持板120の上面の所定
の位置にてそのウェハ支持板120及び本体110の内
部を通して形成された真空ライン130と連通できるよ
うに形成された所定の高さの真空ホール140とからな
っている。
【0005】このように構成された半導体ウェハ移送ロ
ボット用アーム100を用いてウェハ200を移送しよ
うとする場合には、まず移送ロボットを決められた位置
に移動させた後、その移送ロボットのアーム100の上
面に、複数枚のウェハ200が挿入されているキャリア
カセットから別途のウェハ引出手段によりウェハ200
を一枚引出して該ウェハ200が一枚アーム100上に
置かれるようにする。
ボット用アーム100を用いてウェハ200を移送しよ
うとする場合には、まず移送ロボットを決められた位置
に移動させた後、その移送ロボットのアーム100の上
面に、複数枚のウェハ200が挿入されているキャリア
カセットから別途のウェハ引出手段によりウェハ200
を一枚引出して該ウェハ200が一枚アーム100上に
置かれるようにする。
【0006】そして、ウェハ200がアーム100の上
部面に置かれると、上記アーム100を所定の高さに上
げてウェハ200をベルト移送部から分離させるが、ウ
ェハ200はアーム100上においては、該アーム10
0の本体100及びウェハ支持板120の上面に接触せ
ず、所定の高さを有する真空ホール140の上面に置か
れるようになる。
部面に置かれると、上記アーム100を所定の高さに上
げてウェハ200をベルト移送部から分離させるが、ウ
ェハ200はアーム100上においては、該アーム10
0の本体100及びウェハ支持板120の上面に接触せ
ず、所定の高さを有する真空ホール140の上面に置か
れるようになる。
【0007】さらに、真空ホール140の上面に置かれ
たウェハ200は上記真空ホール140と連通された真
空ライン130を通して作用する真空圧により吸着さ
れ、その状態で移送ロボットの回転動作に従って左側ま
たは右側の望む方向に移送される。
たウェハ200は上記真空ホール140と連通された真
空ライン130を通して作用する真空圧により吸着さ
れ、その状態で移送ロボットの回転動作に従って左側ま
たは右側の望む方向に移送される。
【0008】そして、この移送動作によりウェハ200
が決められたステージへの引渡し位置に到達すると、ウ
ェハ支持板120上の真空ホール140に作用していた
真空圧が消去されることによってウェハ200が吸着状
態から解除され自由状態となってアーム100のウェハ
支持板120上から分離されステージの上に置かれるよ
うになる。
が決められたステージへの引渡し位置に到達すると、ウ
ェハ支持板120上の真空ホール140に作用していた
真空圧が消去されることによってウェハ200が吸着状
態から解除され自由状態となってアーム100のウェハ
支持板120上から分離されステージの上に置かれるよ
うになる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の半導体ウェハ移送ロボット用アーム構造では、上
述したような一連の連続動作の中で装置の外部から作用
する振動または作業者の不注意などによってウェハ20
0の重さの重心が定められた位置から外れた場合に、図
3(b)に示すようにウェハ200がウェハ支持板12
0上の真空ホール140の上に正確に置かれず、前側ま
たは後側に傾きながら置かれる。
従来の半導体ウェハ移送ロボット用アーム構造では、上
述したような一連の連続動作の中で装置の外部から作用
する振動または作業者の不注意などによってウェハ20
0の重さの重心が定められた位置から外れた場合に、図
3(b)に示すようにウェハ200がウェハ支持板12
0上の真空ホール140の上に正確に置かれず、前側ま
たは後側に傾きながら置かれる。
【0010】そして、このようにウェハ200が本体1
10及びウェハ支持板120の上方で水平状態に置かれ
ず、一側に傾いた状態で置かれた場合は、真空ホール1
40の上面とそれに対応するウェハ200の底面が互い
に完全に密着できず、真空ライン130を通して真空ホ
ール140に真空圧が作用した時、その密着されていな
い部分から真空圧がリークする現象が発生する。
10及びウェハ支持板120の上方で水平状態に置かれ
ず、一側に傾いた状態で置かれた場合は、真空ホール1
40の上面とそれに対応するウェハ200の底面が互い
に完全に密着できず、真空ライン130を通して真空ホ
ール140に真空圧が作用した時、その密着されていな
い部分から真空圧がリークする現象が発生する。
【0011】そして、このような真空圧のリーク現象は
真空ホール140を通してのウェハ200の吸着が十分
に行われず、不安定なウェハ200のホールディング状
態を招いてウェハ移送エラーを誘発させることによって
よくある設備の瞬間停止の原因となり、このような設備
の停止は設備の稼動効率を低下させ結果的には製品の生
産効率を低下させることになる。
真空ホール140を通してのウェハ200の吸着が十分
に行われず、不安定なウェハ200のホールディング状
態を招いてウェハ移送エラーを誘発させることによって
よくある設備の瞬間停止の原因となり、このような設備
の停止は設備の稼動効率を低下させ結果的には製品の生
産効率を低下させることになる。
【0012】なお、ウェハ移送ロボット用アームは図3
の従来例以外にも種々開発されているが、例えば実開平
7−22545号公報のように一点で吸着するものはや
はりウェハの安定性に問題があり、実開平6−3938
号公報や特開平8−46014号公報のように複数の個
所で支持、吸着するものは、支持体の面がウェハに接触
するので、ウェハの汚染の問題がある。
の従来例以外にも種々開発されているが、例えば実開平
7−22545号公報のように一点で吸着するものはや
はりウェハの安定性に問題があり、実開平6−3938
号公報や特開平8−46014号公報のように複数の個
所で支持、吸着するものは、支持体の面がウェハに接触
するので、ウェハの汚染の問題がある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、一定の厚さと大きさを有する長方形の本
体と、この本体の一側面から外側に所定の長さで突出す
る左右一対のウェハ支持板と、このウェハ支持板の上面
の所定の位置でそのウェハ支持板及び上記本体の内部を
通して形成される真空ラインと連通して形成された所定
の高さの真空ホールを有する半導体ウェハ移送ロボット
用アームにおいて、上記各ウェハ支持板の先端部から延
長形成された所定の長さの延長部と、この延長部及び上
記本体の上面の所定位置に設けられ、上記ウェハ支持板
の上部に置かれるウェハが水平状態で位置できるように
する水平維持手段とを具備することを特徴とする半導体
ウェハ移送ロボット用アームとする。
決するために、一定の厚さと大きさを有する長方形の本
体と、この本体の一側面から外側に所定の長さで突出す
る左右一対のウェハ支持板と、このウェハ支持板の上面
の所定の位置でそのウェハ支持板及び上記本体の内部を
通して形成される真空ラインと連通して形成された所定
の高さの真空ホールを有する半導体ウェハ移送ロボット
用アームにおいて、上記各ウェハ支持板の先端部から延
長形成された所定の長さの延長部と、この延長部及び上
記本体の上面の所定位置に設けられ、上記ウェハ支持板
の上部に置かれるウェハが水平状態で位置できるように
する水平維持手段とを具備することを特徴とする半導体
ウェハ移送ロボット用アームとする。
【0014】上記水平維持手段は、一具体例としては、
上記各ウェハ支持板の延長部の上面及び本体の上面の所
定の位置で真空ホールと同一の高さで形成された三つの
整列ピンからなる。この整列ピンは、真空ホールの高さ
に比べて相対的にやや低く形成することもできる。
上記各ウェハ支持板の延長部の上面及び本体の上面の所
定の位置で真空ホールと同一の高さで形成された三つの
整列ピンからなる。この整列ピンは、真空ホールの高さ
に比べて相対的にやや低く形成することもできる。
【0015】また、本発明は、一定の厚さと大きさを有
する長方形の本体と、この本体の一側面から外側に所定
の長さで突出する左右一対のウェハ支持板と、このウェ
ハ支持板の上面の所定の位置でそのウェハ支持板及び上
記本体の内部を通して形成される真空ラインと連通して
形成された所定の高さの真空ホールとを有する半導体ウ
ェハ移送ロボット用アームにおいて、上記各ウェハ支持
板間の中間位置に該当する上記本体の上面上に、上記真
空ラインと連通し、かつ上記各ウェハ支持板上の真空ホ
ールと同一の高さを有する他の真空ホールを更に一つ形
成したことを特徴とする半導体ウェハ移送ロボット用ア
ームとする。
する長方形の本体と、この本体の一側面から外側に所定
の長さで突出する左右一対のウェハ支持板と、このウェ
ハ支持板の上面の所定の位置でそのウェハ支持板及び上
記本体の内部を通して形成される真空ラインと連通して
形成された所定の高さの真空ホールとを有する半導体ウ
ェハ移送ロボット用アームにおいて、上記各ウェハ支持
板間の中間位置に該当する上記本体の上面上に、上記真
空ラインと連通し、かつ上記各ウェハ支持板上の真空ホ
ールと同一の高さを有する他の真空ホールを更に一つ形
成したことを特徴とする半導体ウェハ移送ロボット用ア
ームとする。
【0016】
【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明に
よる半導体ウェハ移送ロボット用アームの実施の形態を
詳細に説明する。図1(a)は本発明の第1の実施の形
態による半導体ウェハ移送ロボット用アームを示す平面
図であり、図1(b)は図1(a)の作動状態を示す側
面図である。図1(a)に図示されるように、本発明の
第1の実施の形態のウェハ移送ロボット用アーム10
は、一定の厚さと大きさを有する長方形の本体11を有
する。この本体11の一側面からは、外側に、左右一対
所定の長さでウェハ支持板12が突出される。このウェ
ハ支持板12の上面の所定の位置には、ウェハ支持板1
2及び本体11の内部を通して形成される真空ライン1
3と連通される所定の高さの真空ホール14が形成され
る。この真空ホール14は、ウェハ支持板12の上面の
所定の位置に、上面が平坦な円形の突部16を設けて、
この突出部16の中央に形成することにより、所定の高
さを維持している。上記各ウェハ支持板12の先端部か
らは延長部15が所定の長さで形成される。この延長部
15及び本体11の上面の所定の位置には、上記ウェハ
支持板12の上部に置かれるウェハ30が水平状態に位
置できるようにする水平維持手段が設けられる。この水
平維持手段は、各ウェハ支持板12の延長部15の上面
及び本体11の上面の所定の位置に、上記真空ホール1
4と同一の高さで形成された3つの整列ピン20で構成
される。この整列ピン20は、真空ホール14の高さと
同一ではなく、真空ホール14に比べ相対的にやや低く
形成することもできる。なお、整列ピン20が形成され
る本体11の上面の所定の位置とは、一対のウェハ支持
板12間の中間位置に該当する。
よる半導体ウェハ移送ロボット用アームの実施の形態を
詳細に説明する。図1(a)は本発明の第1の実施の形
態による半導体ウェハ移送ロボット用アームを示す平面
図であり、図1(b)は図1(a)の作動状態を示す側
面図である。図1(a)に図示されるように、本発明の
第1の実施の形態のウェハ移送ロボット用アーム10
は、一定の厚さと大きさを有する長方形の本体11を有
する。この本体11の一側面からは、外側に、左右一対
所定の長さでウェハ支持板12が突出される。このウェ
ハ支持板12の上面の所定の位置には、ウェハ支持板1
2及び本体11の内部を通して形成される真空ライン1
3と連通される所定の高さの真空ホール14が形成され
る。この真空ホール14は、ウェハ支持板12の上面の
所定の位置に、上面が平坦な円形の突部16を設けて、
この突出部16の中央に形成することにより、所定の高
さを維持している。上記各ウェハ支持板12の先端部か
らは延長部15が所定の長さで形成される。この延長部
15及び本体11の上面の所定の位置には、上記ウェハ
支持板12の上部に置かれるウェハ30が水平状態に位
置できるようにする水平維持手段が設けられる。この水
平維持手段は、各ウェハ支持板12の延長部15の上面
及び本体11の上面の所定の位置に、上記真空ホール1
4と同一の高さで形成された3つの整列ピン20で構成
される。この整列ピン20は、真空ホール14の高さと
同一ではなく、真空ホール14に比べ相対的にやや低く
形成することもできる。なお、整列ピン20が形成され
る本体11の上面の所定の位置とは、一対のウェハ支持
板12間の中間位置に該当する。
【0017】このように構成された本発明の第1の実施
の形態による半導体ウェハ移送ロボット用アーム10の
作動状態を図(b)に示す。この図に示されるように、
アーム10では、移送しようとするウェハ30が置かれ
た時、三つの整列ピン20でウェハ30の底面を三つの
点で支えるので、ウェハ30は傾かず水平状態に維持さ
れる。
の形態による半導体ウェハ移送ロボット用アーム10の
作動状態を図(b)に示す。この図に示されるように、
アーム10では、移送しようとするウェハ30が置かれ
た時、三つの整列ピン20でウェハ30の底面を三つの
点で支えるので、ウェハ30は傾かず水平状態に維持さ
れる。
【0018】そして、このようにウェハ30がウェハ支
持板12の上方で水平状態に置かれると、そのウェハ3
0の底面がウェハ支持板12の上面に突出した真空ホー
ル14の上面に緊密に密着する。したがって、真空圧の
リークが発生せず、本体11及びウェハ支持板12の内
部を通して形成された真空ライン13を通して真空ホー
ル14に作用する真空圧によりウェハ30が充分に吸着
された状態で、該ウェハ30が移送ロボットの回転動作
により決められた位置に移送される。また、このアーム
10によれば、すべて点でウェハ30に接触するので、
ウェハの汚染が少ない。
持板12の上方で水平状態に置かれると、そのウェハ3
0の底面がウェハ支持板12の上面に突出した真空ホー
ル14の上面に緊密に密着する。したがって、真空圧の
リークが発生せず、本体11及びウェハ支持板12の内
部を通して形成された真空ライン13を通して真空ホー
ル14に作用する真空圧によりウェハ30が充分に吸着
された状態で、該ウェハ30が移送ロボットの回転動作
により決められた位置に移送される。また、このアーム
10によれば、すべて点でウェハ30に接触するので、
ウェハの汚染が少ない。
【0019】図2(a)は本発明の第2の実施の形態に
よる半導体ウェハ移送ロボット用アームを示す平面図で
あり、図2(b)は図2(a)の作動状態を示す側面図
である。図2(a)に図示されるように、本発明の第2
の実施の形態のアーム40は、一定の厚さと大きさを有
する長方形の本体41を有する。この本体41の一側面
からは、外側に、左右一対所定の長さにウェハ支持板4
2が突出される。このウェハ支持板42の上面の所定の
位置には、該位置に設けた上面平坦な円形の突部43の
中央部に穿設して所定の高さに真空ホール44が形成さ
れる。同様に、各ウェハ支持板42間の中間位置に該当
する本体41の上面には、該上面に設けた上面平坦な円
形の突部45の中央部に穿設して上記各ウェハ支持板4
2上の真空ホール44と同一の高さに他の1つの真空ホ
ール46が形成される。この真空ホール46と真空ホー
ル44は、ウェハ支持板42および本体41の内部を通
して形成された真空ライン47と連通される。
よる半導体ウェハ移送ロボット用アームを示す平面図で
あり、図2(b)は図2(a)の作動状態を示す側面図
である。図2(a)に図示されるように、本発明の第2
の実施の形態のアーム40は、一定の厚さと大きさを有
する長方形の本体41を有する。この本体41の一側面
からは、外側に、左右一対所定の長さにウェハ支持板4
2が突出される。このウェハ支持板42の上面の所定の
位置には、該位置に設けた上面平坦な円形の突部43の
中央部に穿設して所定の高さに真空ホール44が形成さ
れる。同様に、各ウェハ支持板42間の中間位置に該当
する本体41の上面には、該上面に設けた上面平坦な円
形の突部45の中央部に穿設して上記各ウェハ支持板4
2上の真空ホール44と同一の高さに他の1つの真空ホ
ール46が形成される。この真空ホール46と真空ホー
ル44は、ウェハ支持板42および本体41の内部を通
して形成された真空ライン47と連通される。
【0020】図2(b)は、このような第2の実施の形
態のアーム40の作動状態を示す側面図で、ウェハ30
は本体41及び各ウェハ支持板42上に設けられた三つ
の真空ホール46,44の上面に水平状態で置かれる。
したがって、ウェハ30が傾くことによって発生する真
空圧のリーク現象が防止され、ウェハ30の真空吸着に
よるホールディング効果を高めることができる。また、
このアーム40によれば、すべて点でウェハ30に接触
するので、ウェハの汚染が少ない。
態のアーム40の作動状態を示す側面図で、ウェハ30
は本体41及び各ウェハ支持板42上に設けられた三つ
の真空ホール46,44の上面に水平状態で置かれる。
したがって、ウェハ30が傾くことによって発生する真
空圧のリーク現象が防止され、ウェハ30の真空吸着に
よるホールディング効果を高めることができる。また、
このアーム40によれば、すべて点でウェハ30に接触
するので、ウェハの汚染が少ない。
【0021】
【発明の効果】このように本発明による半導体ウェハ移
送ロボット用アームによれば、ウェハの大きさの変化ま
たは外部の振動や作業者の不注意によりウェハの重さ重
心が決められた位置からやや外れてもウェハがいつも水
平を維持できるようになる。したがって、真空圧のリー
クに起因するウェハ移送エラーの発生による設備の稼動
中止の予防と生産性の向上の利点がある。また、すべて
点でウェハと接触するので、ウェハの汚染が少ない利点
がある。
送ロボット用アームによれば、ウェハの大きさの変化ま
たは外部の振動や作業者の不注意によりウェハの重さ重
心が決められた位置からやや外れてもウェハがいつも水
平を維持できるようになる。したがって、真空圧のリー
クに起因するウェハ移送エラーの発生による設備の稼動
中止の予防と生産性の向上の利点がある。また、すべて
点でウェハと接触するので、ウェハの汚染が少ない利点
がある。
【図1】本発明による半導体ウェハ移送ロボット用アー
ムの第1の実施の形態を示す平面図および側面図。
ムの第1の実施の形態を示す平面図および側面図。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示す平面図および
側面図。
側面図。
【図3】従来の半導体ウェハ移送ロボット用アームを示
す平面図および側面図。
す平面図および側面図。
10,40 アーム 11,41 本体 12,42 ウェハ支持板 13,47 真空ライン 14,44,46 真空ホール 15 延長部 20 整列ピン
Claims (4)
- 【請求項1】 一定の厚さと大きさを有する長方形の本
体と、この本体の一側面から外側に所定の長さで突出す
る左右一対のウェハ支持板と、このウェハ支持板の上面
の所定の位置でそのウェハ支持板及び上記本体の内部を
通して形成される真空ラインと連通して形成された所定
の高さの真空ホールとを有する半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームにおいて、 上記各ウェハ支持板の先端部から延長形成された所定の
長さの延長部と、 上記延長部及び上記本体の上面の所定の位置に設けら
れ、上記ウェハ支持板の上部に置かれるウェハが水平状
態で位置できるようにする水平維持手段とを具備するこ
とを特徴とする半導体ウェハ移送ロボット用アーム。 - 【請求項2】 請求項1記載の半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームにおいて、上記水平維持手段は、上記各ウェ
ハ支持板の延長部の上面及び本体の上面の所定の位置で
上記真空ホールと同一の高さで形成された三つの整列ピ
ンからなることを特徴とする半導体ウェハ移送ロボット
用アーム。 - 【請求項3】 請求項2記載の半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームにおいて、上記整列ピンは上記真空ホールの
高さに比べて相対的にやや低く形成されることを特徴と
する半導体ウェハ移送ロボット用アーム。 - 【請求項4】 一定の厚さと大きさを有する長方形の本
体と、この本体の一側面から外側に所定の長さで突出す
る左右一対のウェハ支持板と、このウェハ支持板の上面
の所定の位置でそのウェハ支持板及び上記本体の内部を
通して形成される真空ラインと連通して形成された所定
の高さの真空ホールとを有する半導体ウェハ移送ロボッ
ト用アームにおいて、 上記各ウェハ支持板間の中間位置に該当する上記本体の
上面上に、上記真空ラインと連通し、かつ上記各ウェハ
支持板上の真空ホールと同一の高さを有する他の真空ホ
ールを更に一つ形成したことを特徴とする半導体ウェハ
移送ロボット用アーム。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1038314A1 (en) * | 1997-11-21 | 2000-09-27 | ASM America, Inc. | Substrate transfer system for semiconductor processing equipment |
JP2002305233A (ja) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Olympus Optical Co Ltd | ウェハ搬送用アーム |
KR100384134B1 (ko) * | 2001-05-03 | 2003-05-14 | 주식회사 미래엔지니어링 | 복합재료 샌드위치 로봇 핸드 |
KR100417571B1 (ko) * | 1998-06-08 | 2004-02-05 | 구라이 테크 가부시끼가이샤 | 판상재의 척 및 흡인반 |
KR100442778B1 (ko) * | 2001-05-24 | 2004-08-04 | 주식회사 제일 | 웨이퍼 이송용 핑거 |
JP2009006441A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Kyocera Corp | 真空ピンセットおよびこれを用いた基板搬送装置ならびに基板処理装置 |
JP2010135744A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Kyocera Corp | 吸着搬送部材およびこれを用いた基板搬送装置 |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6749391B2 (en) | 1996-07-15 | 2004-06-15 | Semitool, Inc. | Microelectronic workpiece transfer devices and methods of using such devices in the processing of microelectronic workpieces |
US6318951B1 (en) * | 1999-07-09 | 2001-11-20 | Semitool, Inc. | Robots for microelectronic workpiece handling |
US6752584B2 (en) | 1996-07-15 | 2004-06-22 | Semitool, Inc. | Transfer devices for handling microelectronic workpieces within an environment of a processing machine and methods of manufacturing and using such devices in the processing of microelectronic workpieces |
US6749390B2 (en) | 1997-12-15 | 2004-06-15 | Semitool, Inc. | Integrated tools with transfer devices for handling microelectronic workpieces |
US6921467B2 (en) * | 1996-07-15 | 2005-07-26 | Semitool, Inc. | Processing tools, components of processing tools, and method of making and using same for electrochemical processing of microelectronic workpieces |
US6322119B1 (en) | 1999-07-09 | 2001-11-27 | Semitool, Inc. | Robots for microelectronic workpiece handling |
JP3850951B2 (ja) * | 1997-05-15 | 2006-11-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送装置及び基板搬送方法 |
US6068441A (en) * | 1997-11-21 | 2000-05-30 | Asm America, Inc. | Substrate transfer system for semiconductor processing equipment |
WO1999043021A1 (en) * | 1998-02-18 | 1999-08-26 | Applied Materials, Inc. | End effector for wafer handler in processing system |
CN1411420A (zh) * | 1998-07-11 | 2003-04-16 | 塞米用具公司 | 用于装卸微电子工件的机器人 |
JP2000195926A (ja) * | 1998-12-25 | 2000-07-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェ―ハ搬送装置 |
US6254155B1 (en) | 1999-01-11 | 2001-07-03 | Strasbaugh, Inc. | Apparatus and method for reliably releasing wet, thin wafers |
US6183026B1 (en) * | 1999-04-07 | 2001-02-06 | Gasonics International Corporation | End effector |
US6350097B1 (en) * | 1999-04-19 | 2002-02-26 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for processing wafers |
WO2000078654A1 (en) * | 1999-06-17 | 2000-12-28 | Speedfam-Ipec Corporation | Improved wafer handling apparatus |
US6322116B1 (en) * | 1999-07-23 | 2001-11-27 | Asm America, Inc. | Non-contact end effector |
WO2001062062A2 (en) * | 2000-02-17 | 2001-08-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Component mounting apparatus and component mounting method, and recognition apparatus for component mount panel, component mounting apparatus for liquid crystal panel, and component mounting method for liquid crystal panel |
US6517130B1 (en) * | 2000-03-14 | 2003-02-11 | Applied Materials, Inc. | Self positioning vacuum chuck |
US6631935B1 (en) * | 2000-08-04 | 2003-10-14 | Tru-Si Technologies, Inc. | Detection and handling of semiconductor wafer and wafer-like objects |
US6692219B2 (en) * | 2000-11-29 | 2004-02-17 | Tokyo Electron Limited | Reduced edge contact wafer handling system and method of retrofitting and using same |
US6558562B2 (en) | 2000-12-01 | 2003-05-06 | Speedfam-Ipec Corporation | Work piece wand and method for processing work pieces using a work piece handling wand |
US6615113B2 (en) | 2001-07-13 | 2003-09-02 | Tru-Si Technologies, Inc. | Articles holders with sensors detecting a type of article held by the holder |
US6935830B2 (en) * | 2001-07-13 | 2005-08-30 | Tru-Si Technologies, Inc. | Alignment of semiconductor wafers and other articles |
US6638004B2 (en) | 2001-07-13 | 2003-10-28 | Tru-Si Technologies, Inc. | Article holders and article positioning methods |
US7011484B2 (en) * | 2002-01-11 | 2006-03-14 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | End effector with tapered fingertips |
US6991710B2 (en) * | 2002-02-22 | 2006-01-31 | Semitool, Inc. | Apparatus for manually and automatically processing microelectronic workpieces |
US20030159921A1 (en) * | 2002-02-22 | 2003-08-28 | Randy Harris | Apparatus with processing stations for manually and automatically processing microelectronic workpieces |
KR100720415B1 (ko) * | 2002-03-08 | 2007-05-22 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 제조 공정용 반송 장치 |
US7104578B2 (en) * | 2002-03-15 | 2006-09-12 | Asm International N.V. | Two level end effector |
US20030234548A1 (en) * | 2002-06-24 | 2003-12-25 | Ravinder Aggarwal | Wafer handler |
DE10259836A1 (de) * | 2002-12-19 | 2004-07-15 | Siemens Ag | Greifer und Betriebsverfahren |
US7181132B2 (en) | 2003-08-20 | 2007-02-20 | Asm International N.V. | Method and system for loading substrate supports into a substrate holder |
SE527337C2 (sv) * | 2004-06-23 | 2006-02-14 | Villa Ekbacka Ab | Metod att åstadkomma gripdon med integrerade vakuumkanaler |
US20080145957A1 (en) * | 2006-12-14 | 2008-06-19 | Lee Young-Sun | Wafer transferring robot in semiconductor device fabrication equipmentand method of detecting wafer warpage using the same |
WO2009073503A2 (en) * | 2007-11-30 | 2009-06-11 | Teradyne, Inc. | Vacuum assisted manipulation of objects |
US20090142169A1 (en) * | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Teradyne, Inc. | Vacuum Assisted Manipulation of Objects |
SG194239A1 (en) | 2012-04-09 | 2013-11-29 | Semiconductor Tech & Instr Inc | End handler |
JP6186124B2 (ja) * | 2012-12-14 | 2017-08-23 | 東京応化工業株式会社 | 搬送アーム、搬送装置および搬送方法 |
US9589825B2 (en) * | 2014-09-10 | 2017-03-07 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Glass substrate transfer system and robot arm thereof |
WO2018157179A2 (en) * | 2017-02-24 | 2018-08-30 | Fabworx Solutions, Inc. | Atmospheric robotic end effector |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0547899A (ja) * | 1991-08-20 | 1993-02-26 | Sharp Corp | ウエハー搬送用アーム |
JPH05208389A (ja) * | 1992-01-28 | 1993-08-20 | Kyoei Seigyo Kiki Kk | 板状体の吸着保持装置 |
-
1996
- 1996-10-28 TW TW086210282U patent/TW321192U/zh unknown
- 1996-11-22 JP JP8312473A patent/JPH09205128A/ja active Pending
- 1996-12-23 US US08/773,491 patent/US5765889A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1038314A1 (en) * | 1997-11-21 | 2000-09-27 | ASM America, Inc. | Substrate transfer system for semiconductor processing equipment |
EP1038314A4 (en) * | 1997-11-21 | 2009-01-21 | Asm Inc | SUBSTRATE TRANSFER SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR PROCESS EQUIPMENT |
KR100417571B1 (ko) * | 1998-06-08 | 2004-02-05 | 구라이 테크 가부시끼가이샤 | 판상재의 척 및 흡인반 |
JP2002305233A (ja) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Olympus Optical Co Ltd | ウェハ搬送用アーム |
KR100384134B1 (ko) * | 2001-05-03 | 2003-05-14 | 주식회사 미래엔지니어링 | 복합재료 샌드위치 로봇 핸드 |
KR100442778B1 (ko) * | 2001-05-24 | 2004-08-04 | 주식회사 제일 | 웨이퍼 이송용 핑거 |
JP2009006441A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Kyocera Corp | 真空ピンセットおよびこれを用いた基板搬送装置ならびに基板処理装置 |
JP2010135744A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Kyocera Corp | 吸着搬送部材およびこれを用いた基板搬送装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW321192U (en) | 1997-11-21 |
US5765889A (en) | 1998-06-16 |
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