JPH09204750A

JPH09204750A - カートリッジ

Info

Publication number: JPH09204750A
Application number: JP8344832A
Authority: JP
Inventors: Naoyasu Miyagawa; 直康宮川; Yasuhiro Goto; 泰宏後藤
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1996-12-25
Filing date: 1996-12-25
Publication date: 1997-08-05

Abstract

(57)【要約】【課題】ディスク基板の厚さの異なるＮ個の光ディス
クに対応可能な複数の光学系を有する装置に対しても対
応できるカートリッジを提供すること。【解決手段】カートリッジ２上に識別孔７を有し、光
ディスク１の種類によって識別孔７の開閉が切り換えら
れることにより装置側で使用する光学系が選択され、そ
の光学系に対応する位置に配された開口部のスライドシ
ャッタ１４が開成することにより光ディスク１の読みと
り，記録が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は情報信号の記録，再
生または消去が可能なカートリッジに関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＣＤプレーヤなどの再生専用の光
ディスク装置に加えて、信号の記録再生の可能な光ディ
スク装置の開発が盛んである。通常、光ディスクの記録
再生は、半導体レーザなどの放射ビームをレンズによっ
て光ディスクの記録層に集束させることによって行われ
る。ここで、記録層とは、ＣＤではピット層を、記録可
能光ディスクでは集束レーザビームによって変形または
磁区の形成などがなされる層のことである。光ディスク
の記録密度を上げるためには、この集束ビームのスポッ
ト径ｒを小さくする必要があるが、ｒはレンズの開口数
ＮＡとレーザ光の波長λに対し（数１）のような関係に
なる。

【０００３】

【数１】

【０００４】(数１)は、ＮＡの大きなものがスポット径
ｒを小さくでき、高密度記録が可能であることを示して
いる。ところが、高ＮＡレンズを使用する場合は、ディ
スクの傾き（チルト）などによるスポットの収差が大き
くなる。これを抑えるには光ディスクのディスク基板の
厚さを薄くすると効果があるため、高密度記録が可能な
光ディスクではディスク基板の厚さが従来の光ディスク
に比べて薄い方が好ましい。

【０００５】従って、光ディスクの記録密度を上げるた
めの方策として、光ディスク側では従来よりも薄いディ
スク基板を採用し、光ディスク装置側では高ＮＡのレン
ズを使用し、かつ、薄いディスク基板に対応した集束光
学系の光ヘッドが必要となる。第９図はそのような光デ
ィスク装置の構成を示す図である。同図において、１０
１は光ディスクであり、第１０図に示すように、従来よ
りも薄い厚さｄのディスク基板と、記録またはピット層
と、保護層とから構成されている。１０２は光ヘッドで
あり、図示しない高ＮＡの対物レンズ，半導体レーザ，
フォトディテクタなどの光学素子からなる。１０３はリ
ニアモータであり、光ディスク１０１の下部に設置され
ている。１０４はリニアモータ１０４を駆動するための
ドライブ回路、１０５はスピンドルモータ、１０６はサ
ーボ回路、１０７はコントローラである。

【０００６】以上のように構成された従来の光ディスク
装置について、以下その動作を説明する。サーボ回路１
０６は、スピンドルモータ１０５を制御し、光ディスク
１０１を線速度一定（ＣＬＶ）または周速度一定（ＣＡ
Ｖ）などで回転される。光ヘッド１０２は、光ディスク
１０１の記録またはピット層にレーザ光を集束し、しか
も、厚さｄの基板による収差を補正するような光学系が
設計されており、ディスク上に信号を記録し、また、デ
ィスク上の信号を再生する。また、サーボ回路１０６
は、光ヘッド１０２の出力するサーボ信号にしたがっ
て、レーザ光を光ディスク１０１に集束させたり、コン
トローラ１０７の命令によって、ドライブ回路１０４を
通じてリニアモータ１０３を制御し、光ヘッド１０２を
ディスクの内周方向または外周方向へ移動させる。

【０００７】また、従来の光ディスク装置は光学系を１
つ有するものであったため、光ディスクを収納したカー
トリッジについても開口部は１つだけしか設けられてい
なかった。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、もしこ
のような薄いディスク基板に対応した光ディスク装置
で、従来の厚いディスク基板を有する光ディスク上にレ
ーザ光を集束させようとすると、ディスク基板の厚さの
違いのためビームスポットに収差が生じ、信号の記録ま
たは再生が困難になる。すなわち、互換が実現できない
という課題を有していた。

【０００９】本発明はかかる点に鑑み、ディスク基板の
厚さの異なるＮ個の光ディスクに、信号を記録，再生ま
たは消去可能な光ディスク装置を提供することを目的と
する。また、ディスク基板の厚さの異なるＮ個の光ディ
スクに対応可能な複数の光学系を有する装置に対しても
対応できるカートリッジを提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のカートリッジは、光ディスクを収納し、同一
面内に光ディスクの中心に対して対称に配置された複数
の開口部を有している。本発明は前記した構成により、
本発明のカートリッジは、複数の光学系を有する光ディ
スク装置に装着し、光学系の選択にあわせて開口部を選
択できる。

【００１１】

【発明の実施の形態】本実施例においては、ディスク基
板の厚さは２種類として以下説明する。第１図は本発明
の第１の実施例における光ディスク装置の構成図、第２
図は同実施例の主要部の配置を示す平面図、第３図は同
実施例における光ディスクのカートリッジの斜視図であ
る。以上の３つの図において、１は第１または第２の光
ディスクであり、それぞれディスク基板の厚さが異な
る。２はディスクを収納して保護するカートリッジであ
り、プラスチックなどの剛性を有した材料で形成されて
いる。３と５は第１の光ヘッドおよび第２の光ヘッドで
あり、それぞれ図示しない対物レンズ，半導体レーザ，
フォトディテクタ，ビームスプリッタなどからなる集束
光学系と、ベースおよびアクチュエータなどで構成され
る。４は光ディスク１の下面に設置され、第１の光ヘッ
ド３をディスクの半径方向に、ディスク面からの距離を
一定に保って移動させる第１のリニアモータである。ま
た、６は光ディスク１の下面に第１のリニアモータ４と
対向して設置され、第２の光ヘッド５を同様に移動させ
る第２のリニアモータであるが、第２図でわかるように
移動範囲は第１のリニアモータ４よりも長く、光ディス
ク１の外周部より外側まで延長されている。従って、第
２の光ヘッド５が最もディスクの外側へ移動したときに
は、ディスク面の外側にはみ出すことになる。７はカー
トリッジ２の表面に設置された識別孔である。第３図に
したがって本実施例のカートリッジについて説明する
と、収納されている光ディスクが第１の光ディスクの場
合には、識別孔７は閉じられており、第２の光ディスク
の場合には開けられている。また同図において、１４は
スライドシャッタであり、本実施例では２つの光ヘッド
を使用するために、２箇所に設けられている。また、光
ディスク装置から取り外されているときは、防塵のため
に閉じられている。８はカートリッジ２が本実施例の光
ディスク装置に装着されたときに、識別孔７の上部に位
置するように設置されたＬＥＤであり、９はＬＥＤ８と
カートリッジ２をはさんで対向する位置に設置されたフ
ォトダイオードであり、検出信号を後述するコントロー
ラ１３に出力する。１０はリニアモータ４および６を駆
動するためのドライブ回路である。１１はサーボ回路で
あり、第１の光ヘッド３または第２の光ヘッド５からサ
ーボ信号を入力され、それに応じて第１の光ヘッド３ま
たは第２の光ヘッド５のアクチュエータに駆動電流を供
給する。また、ドライブ回路１０に制御信号を出力し、
後述するスピンドルモータ１２に制御信号を出力する。
１３はフォトダイオード９の出力によって制御信号をド
ライブ回路１０やサーボ回路１１に出力するコントロー
ラである。

【００１２】ここで、第１の光ディスクは、従来のＣＤ
または同等の記録密度を有するもので、第４図(ａ)に示
すようにディスク基板の厚さをｄ₁とする。例えばｄ₁＝
１．２ｍｍである。また、第２の光ディスクはそれより
も高密度に記録が可能な光ディスクであり、第４図(ｂ)
に示すようにディスク基板の厚さをｄ₂とする。チルト
ずれによる集光スポットの収差を小さくするために、ｄ
₂はｄ₁よりも小さく設計されており、例えばｄ₂＝０．
３ｍｍとする。

【００１３】これに対し、第１の光ヘッド３は、例えば
波長７８０ｎｍの半導体レーザに対しＮＡが０．４５の
対物レンズを用いており、このときのディスクにおける
集光スポット径は約φ２．１μｍとなる。しかも、対物
レンズの光学設計は、厚さ１．２ｍｍのディスク基板に
よる収差を補正するようになされている。また、第２の
光ヘッド５は、例えばＮＡが０．７〜０．８の対物レン
ズを用いており、このときのスポット径は約φ１．４〜
１．２μｍである。しかも、対物レンズの光学設計は、
厚さ０．３ｍｍのディスク基板による収差を補正するよ
うになされている。

【００１４】このように、第１の光ヘッド３は第１の光
ディスクに対応して集束光学系が形成されており、第２
の光ヘッド５は第２の光ディスクに対応して集束光学系
が形成されている。以上のように構成された本実施例の
光ディスク装置において、以下その動作を説明する。ま
ず、第１または第２の光ディスクの入ったカートリッジ
２が本実施例の光ディスク装置に装着されると、ＬＥＤ
８が発光し、識別孔７を通過する透過光の有無をフォト
ダイオード９が検出する。透過光が検出された場合は、
コントローラ１３は、装着されたカートリッジ２の中身
が第２の光ディスクであると判断し、第２の光ヘッド５
と第２のリニアモータ６を駆動するようサーボ回路１１
に制御信号を出力する。その後はカートリッジ２が脱着
されるまで、第２の光ヘッド５によって光ディスク１の
記録または再生が行われる。

【００１５】すなわち、サーボ回路１１は、スピンドル
モータ１２を制御し、光ディスク１をＣＬＶまたはＣＡ
Ｖなどで回転させる。第２の光ヘッド５は、光ディスク
１のピット層にレーザ光が集束されるような光学系が、
ディスク基板の厚さｄ₂を考慮して形成されており、デ
ィスク上に信号を記録し、また、ディスク上の信号を再
生する。また、サーボ回路１１は、第２の光ヘッド５の
出力するサーボ信号にしたがって、レーザ光を光ディス
ク１の適切な位置に集束させたり、コントローラ１３の
命令によって、ドライブ回路１０を通じて第２のリニア
モータ６を制御し、第２の光ヘッド５を内周方向または
外周方向へ移動させる。

【００１６】一方、フォトダイオード９が透過光を検出
しない場合は、コントローラ１３はカートリッジ２の中
身を第１の光ディスクであると判断し、第１の光ヘッド
３と第１のリニアモータ４を駆動にするようサーボ回路
１１に制御信号を出力する。その後はカートリッジ２が
脱着されるまで、光ディスク１の記録または再生は第１
の光ヘッド３によって行われる。

【００１７】同時に、第１の光ヘッド３の動作中には、
コントローラ１３は第２のリニアモータ６を制御し、第
２の光ヘッド５を第２図に示したようにディスク面の外
側に退避させる。これによって、第２の光ヘッドの作動
距離の短い場合、高ＮＡ対物レンズが、ディスクの面振
れによってディスクの表面に衝突しないようにしてい
る。作動距離が短い場合、高ＮＡであっても対物レンズ
を小さくかつ軽くすることができる。また、焦点距離が
短い場合も同様である。

【００１８】以上のように本実施例によれば、第１およ
び第２の光ディスクのディスク基板の厚さに対応した集
束光学系を有する、第１の光ヘッド３および第２の光ヘ
ッド５を備えたことにより、それぞれのディスク基板の
厚さに適した集束光学系の光ヘッドで、信号を良好に記
録再生することができる。しかも、カートリッジ２上に
設けられた識別孔７と、その開閉を検出するＬＥＤ８と
フォトダイオード９からなるディスク判別手段とを備え
たことにより、カートリッジ２が装着されるだけで各々
の光ヘッドを自動的に正しく選択することができる。

【００１９】第５図は本発明の第２の実施例における光
ディスク装置の構成図を示すものである。同図におい
て、１の光ディスク，２のカートリッジ，４の第２のリ
ニアモータ，７の識別孔，８のＬＥＤ，９のフォトダイ
オード，１０のドライブ回路，１１のサーボ回路，１３
のコントローラは基本的には第１の実施例と同じであ
り、第１の光ヘッド３および第２の光ヘッド５の代わり
に光ヘッド２０の第３の光ヘッドを備えた構成を有して
いる。

【００２０】さらに、第６図は本発明の第２の実施例に
おける第３の光ヘッド２０の詳細な構成図を示すもので
ある。同図において、１は第１または第２の光ディス
ク、２２は光源となる第１の半導体レーザ、２３は第１
の半導体レーザ２２からの光を平行化する第１のコリメ
ータレンズ、２４は光を２分割する第１のビームスプリ
ッタ、２５は光の方向を変える第１のミラー、２６は光
を光ディスク１上に集光する第１の対物レンズ、２７は
ビームスプリッタ２４で分割された反射光を集光する第
１のセンサーレンズ、２８は集光された反射光から情報
再生信号やフォーカスエラー信号、トラッキングエラー
信号を得るための第２のフォトディテクタであり、第１
の実施例で述べた第１の集束光学系２１を構成してい
る。また、３２は光源となる第２の半導体レーザ、３３
は第２の半導体レーザ３２からの光を平行化する第２の
コリメータレンズ、３４は光を２分割する第２のビーム
スプリッタ、３５は光の方向を変える第２のミラー、３
６は光を光ディスク１上に集光する第２の対物レンズ、
３７は第２のビームスプリッタ３４で分割された反射光
を集光する第２のセンサレンズ、３８は集光された反射
光から情報再生信号やフォーカスエラー信号、トラッキ
ングエラー信号を得るための第２のフォトディテクタで
あり、第１の実施例で述べた第２の集束光学系３１を構
成している。そして、以上の第１の集束光学系２１およ
び第２の集束光学系３１は、図示しない同一のベース部
材上に設置され、第３の光ヘッド２０を構成している。
このベース部材は通常アルミニウムなどで形成され、上
記の第１の集束光学系２１および第２の集束光学系３１
を支持するとともに、第１のリニアモータ４に支持され
ている。

【００２１】ここでも、本発明の第１の実施例で述べた
たことと同様に、例えば、第１の対物レンズ２６は、半
導体レーザの放射光の波長７８０ｎｍに対しＮＡ＝０．
４５であり、このときのディスクにおける集光スポット
径は約φ２．１μｍとなる。しかも、１．２ｍｍのディ
スク基板による収差を補正するように設計されている。
また、第２の対物レンズ３６は、例えばＮＡ＝０．７〜
０．８であり、このときのスポット径は約φ１．４〜
１．２μｍである。しかも、厚さ０．３ｍｍのディスク
基板による収差を補正するように設計されている。

【００２２】以上のように構成された本実施例の光ディ
スク装置において、以下その動作を説明する。まず、カ
ートリッジ２が本実施例の光ディスク装置に装着される
と、ＬＥＤ８が発光し、識別孔７を通過する透過光の有
無をフォトダイオード９が検出する。透過光が検出され
た場合は、コントローラ１３は、装着されたカートリッ
ジ２の中身が第２の光ディスクであると判断し、第３の
光ヘッド２０の第２の集束光学系３１を選択し、第２の
半導体レーザ３２および第２のフォトディテクタ３８を
動作させるよう、第３の光ヘッド２０およびサーボ回路
１１に制御信号を出力する。すなわち、第２の集束光学
系３１では、第２の半導体レーザ３２の放射した光が第
２のコリメータレンズ３３によって平行光にされ、第２
のビームスプリッタ３４，第２のミラー３５を経て第２
の対物レンズ３６によって、第２の光ディスク上に集光
される。ディスクによって反射された光は、再び第２の
対物レンズ３６によって平行光にされ、第２のミラー３
５を経て第２のビームスプリッタ３４によって分離さ
れ、第２のセンサレンズ３７によって第２のフォトディ
テクタ３８上に集光される。第２のフォトディテクタ３
８は、集光されたディスク反射光から、フォーカスエラ
ー信号やトラッキングエラー信号をサーボ回路１１に出
力したり、ディスク上の情報信号を再生する。このよう
な動作は、カートリッジ２が脱着されるまで行われる。

【００２３】また、サーボ回路１１はスピンドルモータ
１２を制御し、光ディスク１をＣＬＶ，ＣＡＶなどで回
転させる。また、サーボ回路１１は、第３の光ヘッド２
０の出力するフォーカスエラー信号やトラッキングエラ
ー信号などのサーボ信号にしたがって、レーザ光を光デ
ィスク１に集束させたり、コントローラ１３の命令によ
って、ドライブ回路１０を通じて第１のリニアモータ４
を制御し、第３の光ヘッド２０を内周方向または外周方
向へ移動させる。

【００２４】一方、フォトダイオード９が透過光を検出
しないときは、コントローラ１３はカートリッジ２の中
身を前述の第１の光ディスクであると判断し、第３の光
ヘッド２０の第１の集束光学系２１を選択し、第１の半
導体レーザ２２および第１のフォトディテクタ２８を動
作させるよう、第３の光ヘッド２０及びサーボ回路１１
に制御信号を出力する。第１の集束光学系２１の動作は
基本的には前述した第２の集束光学系３１と同じであ
り、カートリッジ２が脱着されるまで第１の光ディスク
の記録または再生が第１の集束光学系２１によって行な
われる。

【００２５】以上のようにこの実施例によれば、カート
リッジ２上に設けられた識別孔７と、その開閉を検出す
るＬＥＤ８とフォトダイオード９からなる判別手段と、
第１の光ディスクのディスク基板の厚さに対応した第１
の集束光学系２１と、第２の光ディスクのディスク基板
の厚さに対応した第２の集束光学系３１とを共通のベー
ス上に設置した第３の光ヘッド２０を備えたことによ
り、それぞれのディスク基板の厚さに適した集束光学系
で、信号を良好に記録再生することができる。

【００２６】しかも、第１の集束光学系２１と第２の集
束光学系３１とを、同一ベース上に設置して第３の光ヘ
ッド２０を構成したことにより、リニアモータを共通化
して部品点数の削減を図り、装置の小型化を実現するこ
とができる。第７図は本発明の第３の実施例における光
ディスク装置の構成図を示すものである。同図におい
て、４０の第４の光ヘッド以外は第５図に示した第２の
実施例における光ディスク装置と同じ構成であるので、
光ディスク装置全体の詳細な説明は省略する。

【００２７】さらに、第８図は本発明の第３の実施例に
おける第４の光ヘッド４０の詳細な構成図を示すもので
ある。同図において、１は第１または第２の光ディス
ク、４２は光源となる第３の半導体レーザ、４３は第３
の半導体レーザ４２からの光を平行化する第３のコリメ
ータレンズ、４４は光を２分割する第３のビームスプリ
ッタ、４５は光の方向を変える第３のミラーである。２
６と３６は本発明の第２の実施例で述べた第１の対物レ
ンズと第２の対物レンズと同じもので、それぞれ第３の
ビームスプリッタ４４および第３のミラー４５と光ディ
スク１との間に設置されている。４６は第１の対物レン
ズ２６を通る光路上で第３のビームスプリッタ４４との
間に設置された第１のシャッタ、４７は第２の対物レン
ズ３６を通る光路上で第３のミラー４５との間に設置さ
れた第２のシャッタであり、それぞれコントローラ１３
の制御信号により光路の開閉を行う。４８はビームスプ
リッタ４４で分割された反射光を集光する第３のセンサ
レンズ、４９は集光された反射光から情報再生信号やフ
ォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を得るた
めの第３のフォトディテクタである。以上述べた構成要
素のうち、第１の対物レンズ２６は第３の半導体レーザ
４２、第３のコリメータレンズ４３、第３のビームスプ
リッタ４４とともに本発明の第２の実施例で述べた第１
の集束光学系を構成し、第２の対物レンズ３６は第３の
半導体レーザ４２、第３のコリメータレンズ４３、第３
のビームスプリッタ４４、第３のミラー４５とともに第
２の集束光学系を構成している。そして、両者は第１の
シャッタ４６及び第２のシャッタ４７とともに図示しな
い共通のベース上に設置され、第４の光ヘッド４０を構
成している。

【００２８】以上のように構成された本実施例における
第４の光ヘッド４０について、以下その動作を説明す
る。まず、コントローラ１３から、第２の集束光学系を
選択するよう第４の光ヘッド４０に制御信号が入力され
ると、第１のシャッタ４６は閉じ、第２のシャッタ４７
は開いた状態になる。この状態では、第３の半導体レー
ザ４２の放射した光が第３のコリメータレンズ４３によ
って平行光にされ、第３のビームスプリッタ４４で透過
光と反射光とに２分割されるが、反射光は第１のシャッ
タ４６によって遮断される。そこで、透過光のみが第３
のミラー４５、第２のシャッタ４７を経て第２の対物レ
ンズ３６によって、光ディスク１上に集光される。光デ
ィスク１によって反射された光は、再び第２の対物レン
ズ３６によって平行光にされ、第３のシャッタ４７と第
３のミラー４５を経て第３のビームスプリッタ４４によ
って反射分離され、第３のセンサレンズ４８によって第
３のフォトディテクタ４９上に集光される。第３のフォ
トディテクタ４９は、集光されたディスク反射光から、
フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号をサー
ボ回路１１に出力したり、ディスク上の情報信号を再生
する。このような動作は、カートリッジ２が脱着される
まで行われる。

【００２９】一方、コントローラ１３から、第１の集束
光学系を選択するよう第４の光ヘッド４０に制御信号が
入力されると、第１のシャッタ４６は開き、第２のシャ
ッタ４７は閉じた状態になる。この状態では、第３のビ
ームスプリッタ４４における透過光と反射光のうち、透
過光の方が第２のシャッタ４７で遮断され、反射光のみ
が第１のシャッタ４６を経て、第１の対物レンズ２６に
よって光ディスク１上に集光される。以後の動作は前述
した第２の集束光学系が選択された場合と同じである。

【００３０】以上のように本実施例によれば、カートリ
ッジ２上に設けられた識別孔７と、その開閉を検出する
ＬＥＤ８とフォトダイオード９からなる検出手段と、第
１の光ディスクのディスク基板の厚さに対応した第１の
集束光学系と、第２の光ディスクのディスク基板の厚さ
に対応した第２の集束光学系とを共通のベース上に設置
した第４の光ヘッド４０を備えたことにより、それぞれ
のディスク基板の厚さに適した集束光学系で、信号を良
好に記録再生することができる。しかも、光束選択手段
として、第１のシャッタ４６及び第２のシャッタ４７を
備えたことにより、それぞれの集束光学系のうち半導体
レーザ、コリメータレンズ、ビームスプリッタ、センサ
レンズ、フォトディテクタを共通化でき、光ヘッドの小
型軽量化を実現することができる。これにより、シーク
時間の短縮等の性能向上を図ることが可能となる。

【００３１】なお、以上３つの実施例においては、ディ
スク基板の厚さが２種類として説明したが、３種類以上
でも本発明は適用できる。この場合には、例えばカート
リッジの識別孔の個数を複数にすれば、３種類以上の光
ディスクの識別が可能になる。例えば、ｎ個の識別孔を
設けることにより、２ⁿ種類の光ディスクを識別でき
る。

【００３２】また、ディスク判別手段として、カートリ
ッジ２上に設けられた識別孔７とＬＥＤ８及びフォトダ
イオード９を用いたが、識別孔の代わりに反射率の異な
る塗料で着色したり、ＬＥＤとフォトダイオードの代わ
りに機械式のスイッチなどを用いてもよい。更に、カー
トリッジを用いずにディスクからの反射レーザ光によっ
て、直接ディスク基板の板厚の違いを判別してもよい。
例えば、薄い基板厚に対応した集束光学系では、厚い基
板厚の光ディスクからは集束ビームの球面収差のため、
通常トラッキングエラー信号を得ることができない。従
ってトラッキングエラー信号の有無から、２つの板厚の
光ディスクを判別できる。この場合、ＬＥＤやフォトダ
イオードなどの検出器が不要になり、装置が簡略になる
という、優れた効果がある。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のカートリ
ッジによれば、同一面内に複数の開口部を有したので、
複数の光学系を有する装置に装着することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の構成図

【図２】同実施例における光ディスク装置の主要部の配
置を示した平面図

【図３】同実施例における光ディスクのカートリッジの
斜視図

【図４】同実施例における光ディスクの断面と対物レン
ズによる集光の様子を示す模式図

【図５】本発明の第２の実施例における光ディスク装置
の構成図

【図６】同実施例における光ヘッドの詳細な構成図

【図７】本発明の第３の実施例における光ディスク装置
の構成図

【図８】同実施例における光ヘッドの詳細な構成図

【図９】従来の光ディスク装置の構成図

【図１０】従来の光ディスク装置における光ディスクの
断面と対物レンズによる集光の様子を示す模式図

【符号の説明】

１光ディスク２カートリッジ３第１の光ヘッド５第２の光ヘッド７識別孔８ＬＥＤ９フォトダイオード２０第３の光ヘッド２１第１の集束光学系２２第１の半導体レーザ２４第１のビームスプリッタ２６第１の対物レンズ２８第１のフォトディテクタ３１第２の集束光学系３２第２の半導体レーザ３４第２のビームスプリッタ３６第２の対物レンズ３８第２のフォトディテクタ４０第４の光ヘッド４２第３の半導体レーザ４４第３のビームスプリッタ４６第１のシャッタ４７第２のシャッタ４９第３のフォトディテクタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクを収納し、同一面内に前記光
ディスクの中心に対して対称に配置された光ビーム入射
用の複数の開口部を有するカートリッジ。
【請求項２】収納した光ディスクの厚みにより、光ビ
ーム入射用の開口部を切り換えることを特徴とする請求
項１記載のカートリッジ。