JPH09146849A - 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法 - Google Patents

情報処理システム及びそのメモリ再構成方法

Info

Publication number
JPH09146849A
JPH09146849A JP7302399A JP30239995A JPH09146849A JP H09146849 A JPH09146849 A JP H09146849A JP 7302399 A JP7302399 A JP 7302399A JP 30239995 A JP30239995 A JP 30239995A JP H09146849 A JPH09146849 A JP H09146849A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
error
memory card
information processing
processing system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7302399A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Shingo
美紀 新郷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7302399A priority Critical patent/JPH09146849A/ja
Priority to US08/748,656 priority patent/US5892896A/en
Publication of JPH09146849A publication Critical patent/JPH09146849A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/88Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/83Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with reduced power consumption
    • G11C29/832Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with reduced power consumption with disconnection of faulty elements
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/008Reliability or availability analysis

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Memory System (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 間欠的な障害及び致命的ではない障害につい
てもメモリ切離しの対象とすることにより、システムの
信頼性を向上させるとともに、システムの性能を向上さ
せる。 【解決手段】 エラー発生時には、エラー発生時刻、エ
ラー発生カード番号及びエラー状況からなるエラー情報
を、システムバス400に接続されたRAM200内の
エラー履歴情報に順次記憶していく。このエラー履歴情
報に基づいてエラーの発生したメモリカードのエラー回
数及びエラー間隔を計算し、規定値からはずれた場合に
は、間欠障害または障害発生頻度の高いメモリカードと
して切り離す。メモリアクセス時には、アドレスデコー
ドレジスタ312が参照され、アドレスの上位部分から
メモリカード番号が判明する。

Description

【発明の詳細な説明】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理システム
に関し、特にメモリカード単位の切離しが可能な情報処
理システムに関する。
【0001】
【従来の技術】従来この種の技術では、メモリの固定障
害によるエラー発生を検出することにより、そのエラー
に係るメモリ部分を切り離すようにしている。たとえ
ば、特開昭60−123949号公報には、固定障害発
生時にバッファメモリをブロック単位で切り離す記憶装
置制御方式の技術が記載されている。この従来技術で
は、切り離しブロックのカラムアドレス及びロー番号を
デリートカラムアドレスレジスタ及びデリートローアド
レスレジスタに登録しておくことにより、当該切り離し
ブロックへのアクセスを抑止する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来技術では、
システム立上げ時にメモリチェックを行うか、運用時に
パリティチェック等によりメモリ障害を検出して、障害
を有するメモリ部分を切り離している。従って、固定障
害であればこのチェックにより検出することができる。
一方、間欠的な障害の場合には、チェック時に障害が発
生しなければそのまま運用を継続することになる。
【0003】また、障害の内容として、例えば2ビット
以上のエラーが同時に発生した場合には修復不可能であ
り致命的なものとして扱われるが、1ビットエラーの場
合には修復が可能なので特に致命的なものとして扱わな
くても運用を継続することはできる。
【0004】しかし、間欠的障害であってもそれが頻繁
に発生する場合には、システムの信頼性を損なうおそれ
がある。また、そのような頻繁に障害を発生するメモリ
は、当初は致命的な障害ではなくても、いずれ致命的な
障害を引き起こす可能性を含んでおり、システムの信頼
性を低下させるのみならず、エラー訂正等による障害回
復に時間を要してシステム性能が低下するという問題が
ある。
【0005】本発明の目的は、間欠的な障害及び致命的
ではない障害についてもメモリ切離しの対象とすること
により、システムの信頼性を向上させることにある。
【0006】また、本発明の他の目的は、エラー訂正等
による障害回復を回避することにより、システムの性能
を向上させることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の情報処理システムは、エラー履歴情報に基づ
いて間欠的または致命的ではないが発生頻度の高い障害
に係るメモリ部分を切り離す。
【0008】また、本発明の他の情報処理システムは、
少なくとも一つのメモリ制御回路とこのメモリ制御回路
にそれぞれ少なくとも一つ接続されたメモリカードとを
有するメモリと、前記メモリカードにおいて発生したエ
ラーの履歴を保持する不揮発性メモリとを含み、前記メ
モリ制御回路は、前記不揮発性メモリに保持されたエラ
ーの履歴に基づいて間欠的または致命的ではないが発生
頻度の高い障害に係るメモリカードを切り離す。
【0009】また、本発明の他の情報処理システムにお
いて、前記不揮発性メモリに保持されたエラーの履歴
は、エラー発生時刻とエラー発生カード番号とエラー状
況とをさらに含んで構成される。
【0010】また、本発明の他の情報処理システムにお
いて、前記不揮発性メモリは、前記メモリカードが実装
されているか否かを示すメモリ実装情報をさらに保持す
る。
【0011】また、本発明の他の情報処理システムにお
いて、前記メモリ制御回路は、アドレスとメモリカード
番号との対応関係を保持するアドレスデコードレジスタ
を含む。
【0012】また、本発明のメモリ再構成方法は、少な
くとも一つのメモリ制御回路とこのメモリ制御回路にそ
れぞれ少なくとも一つ接続されたメモリカードとを有す
るメモリと、前記メモリカードにおいて発生したエラー
の履歴を保持する不揮発性メモリとを有する情報処理シ
ステムにおいて、エラーの発生したメモリカードの番号
と発生したエラーの状況とその時刻とをエラーの履歴と
して前記不揮発性メモリに追加するステップと、前記発
生したエラーが間欠的または致命的ではないが発生頻度
の高いものであるか否かを判断するステップと、前記発
生したエラーが間欠的または致命的ではないが発生頻度
の高いものである場合にはそのメモリカードの切り離す
ステップとを含む。
【0013】
【発明の実施の形態】次に本発明の情報処理システムの
一実施例について図面を参照して詳細に説明する。
【0014】図1を参照すると、本発明の第1の実施例
である情報処理システムは、情報処理を行うCPU11
0を含むCPUボード100と、主記憶として機能する
メモリボード300と、これらCPUボード100及び
メモリボード300を接続するシステムバス400とを
含む情報処理システムであって、さらに不揮発性メモリ
であるRAM200をシステムバス400に接続して構
成される。
【0015】CPUボード100は、メモリ制御のため
の各種プログラムを格納するROM120を含んでい
る。このプログラムには、メモリカードの実装状態をチ
ェックする実装チェックプログラム、メモリエラーの状
態を解析するメモリエラー解析プログラム、メモリエラ
ーの状態に応じてメモリの実装状態を変更するメモリ縮
退制御プログラム、及び、アドレスとメモリカードとの
対応関係を変更するメモリ再構成プログラム等が含まれ
ている。
【0016】メモリボード300は、少なくとも一つの
メモリ制御回路310を含み、メモリ制御回路310の
配下には少なくとも一つのメモリカード320が接続さ
れる。図1の構成では、2つのメモリ制御回路のそれぞ
れに4つのメモリカードが接続されている。各メモリカ
ードには、#0から#7までの識別番号がふられてい
る。
【0017】メモリ制御回路310は、メモリカードに
おいてエラーが発生したことを検出するエラー検出回路
311と、システムバス400側から与えられたアドレ
スに基づいて物理的にどのメモリカードにアクセスすべ
きかを判断するアドレスデコードレジスタ312とを含
んでいる。アドレスデコードレジスタ312において、
実装されていないメモリ空間へのアクセスが検出され
て、エラー検出回路311に報告される。
【0018】図2を参照すると、アドレスデコードレジ
スタ312は、複数語からなるレジスタ群であり、各々
の語は対応するメモリカード番号を記憶する。システム
バス400からのアドレス301は、上位部分302と
下位部分303に分けられる。上位部分302は、アド
レスデコードレジスタ312を索引するために使用され
る。下位部分303は、各メモリカード320において
メモリアクセスにそのまま使用される。
【0019】例えば、メモリカード1枚当たり16MB
である場合、16進数表記で下位6桁が下位部分303
に相当し、残りの部分が上位部分302に相当する。上
位部分が”0”であればアドレスデコードレジスタ31
2の第0語を、上位部分が”1”であればアドレスデコ
ードレジスタ312の第1語を参照することにより、配
下のいずれのメモリカードにアクセスすべきかが判明す
る。アドレスデコードレジスタ312は原則として、対
応するメモリカード番号を記憶するが、対応するメモリ
空間にメモリカードが実装されていない場合には、メモ
リ空間として使用されていない番号を記憶することによ
り未実装であることを表現することができる。
【0020】なお、このアドレスデコードレジスタ31
2は、独立したレジスタとして実現してもよく、また、
メモリ空間の一部に割り当てるようにしてもよい。
【0021】RAM200は不揮発性メモリであり、例
えば電池を内蔵して外部からの電源が断になってもその
記憶内容を維持する機能を有するものである。このRA
M200は、メモリにおいて発生したエラーの履歴を保
持するエラー履歴情報と、メモリカードの実装状態を表
示するメモリ実装情報とを格納する。
【0022】図3を参照すると、エラー履歴情報は、発
生した各エラーに対応したエラー情報を記憶する。この
エラー情報は、エラーの発生した時刻であるエラー発生
時刻と、エラーの発生したメモリカードのカード番号で
あるエラー発生カード番号と、発生したエラーの状況で
あるエラー状況とを含んでいる。図3の例では、199
5年12月1日午前3時3分3秒にカード番号7番で1
ビットエラーが発生し、修復されたことがわかる。ま
た、1995年12月2日午前11時33秒にカード番
号3番でタイムアウトが発生したことがわかる。
【0023】図4を参照すると、メモリ実装情報は、対
応する配下のメモリカードが実装状態にあれば”1”、
未実装状態であれば”0”を示す。この図4の例では各
カード毎に1つのフィールドを使用しているが、例えば
カード2枚毎を切離し単位としてカード2枚毎に1つの
フィールドを使用するようにしてもよい。
【0024】次に本発明の情報処理システムの上記第1
の実施例の動作について図面を参照して説明する。
【0025】図5を参照すると、システム立上げ時に、
メモリ実装チェックが行われ、いずれのメモリカードが
実装されているのかが得られる(ステップS901)。
このメモリ実装に関する情報は、RAM200内にメモ
リ実装情報として設定される(ステップS902)。
【0026】上記設定後、運用中にメモリカード320
においてエラーが発生すると、エラー検出回路311を
介してCPU110に報告される。メモリカード未実装
のアドレス空間へのアクセスはアドレスデコードレジス
タ312によって検出されて、同様にエラー検出回路3
11を介してCPU110に報告される。CPU110
にエラーが報告されると(ステップS903)、CPU
110はエラー発生処理(S910)として図7に示さ
れる動作を行う。
【0027】図6を参照すると、CPU110は、エラ
ーの発生したメモリカードのカード番号と発生したエラ
ーの状況とをエラー検出回路311から受け取り(ステ
ップS911)、その時の時刻とともに、エラー情報と
してRAM200内のエラー履歴情報に追加する(ステ
ップS912)。
【0028】CPU110は、この発生したエラーが致
命的か否かを判断する(ステップS913)。ここで致
命的なエラーとは、修復が不可能または困難なエラーを
いう。例えば、2ビットエラーや、タイムアウトとして
検出されたエラーがこれに該当する。逆に、1ビットエ
ラー等は通常は修復可能なのでその場合には致命的なエ
ラーとして扱わない。ステップS913で致命的と判断
された場合には、当該メモリを切り離すべく、RAM2
00内のメモリ実装情報の対応するフィールドを”0”
に設定する(ステップS916)。そして、アドレスデ
コードレジスタ312の設定を変更して、切り離したメ
モリカードにアクセスしないように再構成する(ステッ
プS917)。
【0029】一方、ステップS913において致命的で
ないと判断した場合には、RAM200内のエラー履歴
情報を参照することにより、当該メモリカードに関する
エラーの回数や、前回のエラーとの時間的間隔を計算す
る(ステップS914)。この計算の結果、エラーの回
数が所定の値よりも多くなった場合、または、エラーの
間隔が所定の値よりも小さくなった場合には、故障頻度
が高いと考えて当該メモリの切り離しを行う(ステップ
S915)。すなわち、この場合も致命的エラーと同様
に、RAM200内のメモリ実装情報の対応するフィー
ルドを”0”に設定するとともに(ステップS91
6)、アドレスデコードレジスタ312の設定を変更し
てメモリを再構成する(ステップS917)。
【0030】なお、ここでは、全体の処理についてまと
めて説明したが、ステップS901とS902を実装チ
ェックプログラムで、ステップS911とS912をメ
モリエラー解析プログラムで、ステップS913からS
916をメモリ縮退制御プログラムで、ステップS91
7をメモリ再構成プログラムで行うようにしてもよい。
【0031】このように、本発明の第1の実施例である
情報処理システムによれば、RAM200内のエラー履
歴情報を参照することにより、間欠的障害を発生するメ
モリカードや、致命的ではないが発生頻度の高いメモリ
カードをアドレスデコードレジスタ312によって切り
離すことができるため、システムの信頼性が向上する。
また、かかるメモリカードについても、エラー訂正等に
よる障害回復を回避できるため、システムの性能を向上
することができる。
【0032】次に本発明の情報処理システムの第2の実
施例について図面を参照して説明する。
【0033】図7を参照すると、本発明の第2の実施例
である情報処理システムは、システムバス400上に診
断制御装置500を接続する点以外は第1の実施例と同
様である。診断制御装置500は、エラー検出後の処理
を行う診断処理装置510と、メモリ制御のための各種
プログラムを格納するROM520とを含んでいる。
【0034】診断制御装置500は、第1の実施例とし
て説明した図5及び図6の動作を行う。この際、ROM
520に格納されたプログラムを使用することができ
る。この診断制御装置500は、第1の実施例のCPU
ボード100よりも少ない部品点数で実現され、故障率
が低い。
【0035】この第2の実施例の構成によれば、メモリ
制御を行う装置500を独立して有することにより、よ
り信頼性の高いシステムを構築することができる。
【0036】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よると、間欠的障害を発生するメモリカードや、致命的
ではないが発生頻度の高いメモリカードを切り離すこと
ができるため、システムの信頼性が向上する。また、か
かるメモリカードについても、エラー訂正等による障害
回復を回避できるため、システムの性能を向上すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の情報処理システムの一実施例の構成を
示すブロック図である。
【図2】本発明におけるアドレスデコーダの働きを説明
するための図である。
【図3】本発明におけるエラー履歴情報の内容を示す図
である。
【図4】本発明におけるメモリ実装情報の内容を示す図
である。
【図5】本発明の一実施例の情報処理システムにおける
全体動作を表す図である。
【図6】本発明の一実施例の情報処理システムにおける
メモリ再構成方法の動作を表す図である。
【図7】本発明の情報処理システムの他の実施例の構成
を示すブロック図である。
【符号の説明】
100 CPUボード 110 CPU 120 ROM 200 RAM 300 メモリボード 310 メモリ制御回路 311 エラー検出回路 312 アドレスデコードレジスタ 320 メモリカード 400 システムバス 500 診断制御装置

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エラー履歴情報に基づいて間欠的または
    致命的ではないが発生頻度の高い障害に係るメモリ部分
    を切り離すことを特徴とする情報処理システム。
  2. 【請求項2】 少なくとも一つのメモリ制御回路とこの
    メモリ制御回路にそれぞれ少なくとも一つ接続されたメ
    モリカードとを有するメモリと、 前記メモリカードにおいて発生したエラーの履歴を保持
    する不揮発性メモリとを含み、 前記メモリ制御回路は、前記不揮発性メモリに保持され
    たエラーの履歴に基づいて間欠的または致命的ではない
    が発生頻度の高い障害に係るメモリカードを切り離すこ
    とを特徴とする情報処理システム。
  3. 【請求項3】 前記不揮発性メモリに保持されたエラー
    の履歴は、エラー発生時刻とエラー発生カード番号とエ
    ラー状況とを含むことを特徴とする請求項2記載の情報
    処理システム。
  4. 【請求項4】 前記不揮発性メモリは、前記メモリカー
    ドが実装されているか否かを示すメモリ実装情報をさら
    に保持することを特徴とする請求項3記載の情報処理シ
    ステム。
  5. 【請求項5】 前記メモリ制御回路は、アドレスとメモ
    リカード番号との対応関係を保持するアドレスデコード
    レジスタを含むことを特徴とする請求項4記載の情報処
    理システム。
  6. 【請求項6】 少なくとも一つのメモリ制御回路とこの
    メモリ制御回路にそれぞれ少なくとも一つ接続されたメ
    モリカードとを有するメモリと、前記メモリカードにお
    いて発生したエラーの履歴を保持する不揮発性メモリと
    を有する情報処理システムにおいて、 エラーの発生したメモリカードの番号と発生したエラー
    の状況とその時刻とをエラーの履歴として前記不揮発性
    メモリに追加するステップと、 前記発生したエラーが間欠的または致命的ではないが発
    生頻度の高いものであるか否かを判断するステップと、 前記発生したエラーが間欠的または致命的ではないが発
    生頻度の高いものである場合にはそのメモリカードの切
    り離すステップとを含むことを特徴とするメモリ再構成
    方法。
JP7302399A 1995-11-21 1995-11-21 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法 Pending JPH09146849A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7302399A JPH09146849A (ja) 1995-11-21 1995-11-21 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法
US08/748,656 US5892896A (en) 1995-11-21 1996-11-15 Computer system including memory and method for disconnecting memory card having predetermined fault

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7302399A JPH09146849A (ja) 1995-11-21 1995-11-21 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09146849A true JPH09146849A (ja) 1997-06-06

Family

ID=17908452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7302399A Pending JPH09146849A (ja) 1995-11-21 1995-11-21 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5892896A (ja)
JP (1) JPH09146849A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6782492B1 (en) 1998-05-11 2004-08-24 Nec Corporation Memory error recovery method in a cluster computer and a cluster computer
JP2011150469A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Nec Corp メモリ障害処理システム、および、メモリ障害処理方法
US8644072B2 (en) 2008-01-28 2014-02-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Three dimensionally stacked memory and the isolation of memory cell layer
US8849504B2 (en) 2006-02-03 2014-09-30 Denso Corporation Electronic control apparatus for vehicles
WO2015145932A1 (ja) * 2014-03-28 2015-10-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 不揮発性メモリ装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6438716B1 (en) * 1998-10-22 2002-08-20 International Business Machines Corporation Composition of error messages in an error message system based upon non-local contextual information
US6779131B2 (en) * 2001-05-01 2004-08-17 Sun Microsystems, Inc. Reconfigurable multi-chip modules
JP2008139908A (ja) * 2006-11-29 2008-06-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd メモリ制御装置、コンピュータシステム及びデータ再生記録装置
JP5051514B2 (ja) * 2007-02-23 2012-10-17 日本電気株式会社 メモリエラーパターン記録システム、メモリエラーパターン記録方法
JP2008300020A (ja) * 2007-06-04 2008-12-11 Toshiba Corp 再生装置
KR100923832B1 (ko) * 2007-12-28 2009-10-27 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치의 불량 여부 테스트 방법, 블록 관리방법, 소거 방법 및 프로그램 방법
US8176367B2 (en) * 2009-05-28 2012-05-08 Agere Systems Inc. Systems and methods for managing end of life in a solid state drive
US8151137B2 (en) * 2009-05-28 2012-04-03 Lsi Corporation Systems and methods for governing the life cycle of a solid state drive
US9164828B2 (en) 2013-09-26 2015-10-20 Seagate Technology Llc Systems and methods for enhanced data recovery in a solid state memory system
US9424179B2 (en) 2013-10-17 2016-08-23 Seagate Technology Llc Systems and methods for latency based data recycling in a solid state memory system
US9201729B2 (en) 2013-10-21 2015-12-01 Seagate Technology, Llc Systems and methods for soft data utilization in a solid state memory system
US9378840B2 (en) 2013-10-28 2016-06-28 Seagate Technology Llc Systems and methods for sub-zero threshold characterization in a memory cell
US9276609B2 (en) 2013-11-16 2016-03-01 Seagate Technology Llc Systems and methods for soft decision generation in a solid state memory system
US9576683B2 (en) 2014-02-06 2017-02-21 Seagate Technology Llc Systems and methods for hard error reduction in a solid state memory device
US9378810B2 (en) 2014-02-11 2016-06-28 Seagate Technology Llc Systems and methods for last written page handling in a memory device
JP6598453B2 (ja) * 2014-11-12 2019-10-30 キヤノン株式会社 情報処理装置、制御方法、およびプログラム

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60168247A (ja) * 1983-09-29 1985-08-31 タンデム コンピユ−タ−ズ インコ−ポレ−テツド 自動的なメモリボ−ド再構成
JPH02143352A (ja) * 1988-11-24 1990-06-01 Nec Corp メモリエラー検出修正方式
JPH02166544A (ja) * 1988-12-20 1990-06-27 Fujitsu Ltd メモリアドレス変換方式
JPH04165548A (ja) * 1990-10-30 1992-06-11 Fujitsu Ltd メモリアドレス制御方式
JPH064409A (ja) * 1992-06-19 1994-01-14 Hokuriku Nippon Denki Software Kk メモリ障害処理方式
JPH06348605A (ja) * 1993-06-10 1994-12-22 Nec Corp メモリ制御装置
JPH07141265A (ja) * 1993-11-16 1995-06-02 Nippon Denki Joho Service Kk 磁気ディスク装置のエラー監視方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4209846A (en) * 1977-12-02 1980-06-24 Sperry Corporation Memory error logger which sorts transient errors from solid errors
US4535455A (en) * 1983-03-11 1985-08-13 At&T Bell Laboratories Correction and monitoring of transient errors in a memory system
US4875209A (en) * 1988-04-04 1989-10-17 Raytheon Company Transient and intermittent fault insertion
US4964130A (en) * 1988-12-21 1990-10-16 Bull Hn Information Systems Inc. System for determining status of errors in a memory subsystem
US5263032A (en) * 1991-06-27 1993-11-16 Digital Equipment Corporation Computer system operation with corrected read data function
US5220567A (en) * 1991-12-26 1993-06-15 Amdahl Corporation Signature detecting method and apparatus for isolating source of correctable errors
JPH0619805A (ja) * 1992-06-30 1994-01-28 Fujitsu Ltd メモリ異常箇所特定方法
US5410545A (en) * 1992-07-28 1995-04-25 Digital Equipment Corporation Long-term storage of controller performance
US5473753A (en) * 1992-10-30 1995-12-05 Intel Corporation Method of managing defects in flash disk memories
US5511164A (en) * 1995-03-01 1996-04-23 Unisys Corporation Method and apparatus for determining the source and nature of an error within a computer system

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60168247A (ja) * 1983-09-29 1985-08-31 タンデム コンピユ−タ−ズ インコ−ポレ−テツド 自動的なメモリボ−ド再構成
JPH02143352A (ja) * 1988-11-24 1990-06-01 Nec Corp メモリエラー検出修正方式
JPH02166544A (ja) * 1988-12-20 1990-06-27 Fujitsu Ltd メモリアドレス変換方式
JPH04165548A (ja) * 1990-10-30 1992-06-11 Fujitsu Ltd メモリアドレス制御方式
JPH064409A (ja) * 1992-06-19 1994-01-14 Hokuriku Nippon Denki Software Kk メモリ障害処理方式
JPH06348605A (ja) * 1993-06-10 1994-12-22 Nec Corp メモリ制御装置
JPH07141265A (ja) * 1993-11-16 1995-06-02 Nippon Denki Joho Service Kk 磁気ディスク装置のエラー監視方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6782492B1 (en) 1998-05-11 2004-08-24 Nec Corporation Memory error recovery method in a cluster computer and a cluster computer
US8849504B2 (en) 2006-02-03 2014-09-30 Denso Corporation Electronic control apparatus for vehicles
US8644072B2 (en) 2008-01-28 2014-02-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Three dimensionally stacked memory and the isolation of memory cell layer
JP2011150469A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Nec Corp メモリ障害処理システム、および、メモリ障害処理方法
WO2015145932A1 (ja) * 2014-03-28 2015-10-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 不揮発性メモリ装置
JPWO2015145932A1 (ja) * 2014-03-28 2017-04-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 不揮発性メモリ装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5892896A (en) 1999-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09146849A (ja) 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法
US20040168101A1 (en) Redundant memory system and memory controller used therefor
EP1890239B1 (en) Memory contoller and method of controlling memory
CN101040445A (zh) 对多组数据字进行错误保护
JPH05500724A (ja) 障害許容データ記憶システム
US6295617B1 (en) Testing method of semiconductor memory device and semiconductor memory device applicable to the method
US7898858B2 (en) Memory module
JPH03248251A (ja) 情報処理装置
US7313733B2 (en) System and method of improving memory yield in frame buffer memory using failing memory location
EP1116114A1 (en) Technique for detecting memory part failures and single, double, and triple bit errors
US5590278A (en) Method for detecting addressing errors in an electrical unit
JPS6237422B2 (ja)
US20020010891A1 (en) Redundant memory access system
US8250436B2 (en) Memory-module controller, memory controller and corresponding memory arrangement and also method for error correction
JPS6148061A (ja) マルチプロセッサ・コンピュータ・システム
EP1141830B1 (en) A method and apparatus for detecting errors in data output from memory and a device failure in the memory
EP3882774B1 (en) Data processing device
US20030081468A1 (en) Method and device for backing up data in a memory module and memory module
GB2283340A (en) Memory module not storing parity bits
US7251753B2 (en) Apparatus, system, and method for identifying a faulty communication module
JP2743756B2 (ja) 半導体ディスク装置
JPH0922387A (ja) メモリ装置
JPWO2005124562A1 (ja) エレベータ電子安全装置用システム
JPH10143445A (ja) 衛星回線接続装置
SU1026165A1 (ru) Запоминающее устройство с автономным контролем

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20060315

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060319

A711 Notification of change in applicant

Effective date: 20060529

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

A521 Written amendment

Effective date: 20060531

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060724

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20080201

A977 Report on retrieval

Effective date: 20090119

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20090127

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090602