JPH0619805A - メモリ異常箇所特定方法 - Google Patents
メモリ異常箇所特定方法Info
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- JPH0619805A JPH0619805A JP4172107A JP17210792A JPH0619805A JP H0619805 A JPH0619805 A JP H0619805A JP 4172107 A JP4172107 A JP 4172107A JP 17210792 A JP17210792 A JP 17210792A JP H0619805 A JPH0619805 A JP H0619805A
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- slot
- simm
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/10—Test algorithms, e.g. memory scan [MScan] algorithms; Test patterns, e.g. checkerboard patterns
-
- G—PHYSICS
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- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/44—Indication or identification of errors, e.g. for repair
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、メモリの異常箇所を特定するメモ
リ異常箇所特定方法に関し、複数の規格化したSIMM
(交換最小単位のメモリ)などを搭載したメモリボード
のメモリ診断時に、メモリ異常のときにスロット番号お
よびSIMMなどの番号を指摘し、保守のスムーズな対
応と不良箇所の迅速な措置を可能とすることを目的とす
る。 【構成】 メモリアドレスn番地にデータを書き込んだ
後、読み出して両者を比較し、等しくないときに当該メ
モリアドレスn番地に対応するスロット番号を求める
(S4)と共にこのスロット番号のメモリサイズを求め
(S5)、このメモリサイズをもとにSIMMテーブル
14からデータビット位置と規格化したSIMM番号と
の対応を求め、この対応から上記等しくないビットに対
するSIMM番号を算出し、メモリ異常のスロット番号
およびSIMM番号を特定するように構成する。
リ異常箇所特定方法に関し、複数の規格化したSIMM
(交換最小単位のメモリ)などを搭載したメモリボード
のメモリ診断時に、メモリ異常のときにスロット番号お
よびSIMMなどの番号を指摘し、保守のスムーズな対
応と不良箇所の迅速な措置を可能とすることを目的とす
る。 【構成】 メモリアドレスn番地にデータを書き込んだ
後、読み出して両者を比較し、等しくないときに当該メ
モリアドレスn番地に対応するスロット番号を求める
(S4)と共にこのスロット番号のメモリサイズを求め
(S5)、このメモリサイズをもとにSIMMテーブル
14からデータビット位置と規格化したSIMM番号と
の対応を求め、この対応から上記等しくないビットに対
するSIMM番号を算出し、メモリ異常のスロット番号
およびSIMM番号を特定するように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メモリの異常箇所を特
定するメモリ異常箇所特定方法に関するものである。
定するメモリ異常箇所特定方法に関するものである。
【0002】近年、コンピュータシステムの主記憶は、
増設に柔軟なシステムがユーザから求められている。こ
のためにメモリは、規格化されたいわゆるSIMM(Sin
gleInline Memory Module) を主記憶に使うことで増設
を柔軟にしている。また、規格化されたSIMMを使う
ことで異なる装置であっても使用することができるメリ
ットがある。このため、メモリ異常時に、複数のSIM
Mにより構成されるスロットについて、SIMMが交換
単位となり、スロット番号のみでなく、SIMM番号を
指定することが要求されている。
増設に柔軟なシステムがユーザから求められている。こ
のためにメモリは、規格化されたいわゆるSIMM(Sin
gleInline Memory Module) を主記憶に使うことで増設
を柔軟にしている。また、規格化されたSIMMを使う
ことで異なる装置であっても使用することができるメリ
ットがある。このため、メモリ異常時に、複数のSIM
Mにより構成されるスロットについて、SIMMが交換
単位となり、スロット番号のみでなく、SIMM番号を
指定することが要求されている。
【0003】
【従来の技術】従来、複数のSIMMにより構成される
メモリボードを有するコンピュータシステムは、図8に
示すように、メモリ異常のメモリスロット番号を見つけ
ていた。そして、このメモリ異常のスロットの全体を交
換するようにしていた。以下図8について簡単に説明す
る。
メモリボードを有するコンピュータシステムは、図8に
示すように、メモリ異常のメモリスロット番号を見つけ
ていた。そして、このメモリ異常のスロットの全体を交
換するようにしていた。以下図8について簡単に説明す
る。
【0004】図8は、従来技術の説明図を示す。図8に
おいて、S41は、メモリアドレス#n番地に0xa5
a5a5a5a5a5a5a5のパターンを書き込む。
これは、メモリ診断時に、主記憶のメモリアドレス#n
番地にデータ0xa5a5a5a5a5a5a5a5を
書き込む。
おいて、S41は、メモリアドレス#n番地に0xa5
a5a5a5a5a5a5a5のパターンを書き込む。
これは、メモリ診断時に、主記憶のメモリアドレス#n
番地にデータ0xa5a5a5a5a5a5a5a5を
書き込む。
【0005】S42は、メモリアドレス#n番地を64
ビット幅でread(リード)する。S43は、com
pareチェック(比較チェック)を行う。これは、S
41でライトしたデータと、S42でリードしたデータ
とを比較し、等しいか否かをチェックする。等しい場合
には、メモリが正常であったので、S46に進む。一
方、等しくない場合には、メモリが異常であったので、
S44に進む。
ビット幅でread(リード)する。S43は、com
pareチェック(比較チェック)を行う。これは、S
41でライトしたデータと、S42でリードしたデータ
とを比較し、等しいか否かをチェックする。等しい場合
には、メモリが正常であったので、S46に進む。一
方、等しくない場合には、メモリが異常であったので、
S44に進む。
【0006】S44は、メモリアドレス#n番地から、
スロットアドレスレジスタを参照して、スロットNo
(スロット番号)を求める。これは、ライトしたデータ
と、リードしたデータとが等しくなかったメモリアドレ
ス#n番地をもとにスロットアドレスレジスタを参照し
て、メモリ異常のスロット番号を獲得する。
スロットアドレスレジスタを参照して、スロットNo
(スロット番号)を求める。これは、ライトしたデータ
と、リードしたデータとが等しくなかったメモリアドレ
ス#n番地をもとにスロットアドレスレジスタを参照し
て、メモリ異常のスロット番号を獲得する。
【0007】S45は、メモリロギング情報にスロット
No(スロット番号)をセットする。そして、同様に他
のメモリアドレスについて行う。S46は、メモリ異常
有りか否かを判別する。これは、全てのメモリアドレス
(あるいは代表的なメモリアドレス)についてS41か
らS45を行い、メモリロギング情報にメモリ異常のス
ロットNoがセットされているかを判別する。YESの
場合には、メモリ異常のスロットNoがセットされてい
たので、S47でコンソール又はLCD(液晶パネル)
にメモリ診断情報を表示する。例えば“スロットNo.
×がメモリ異常です”というように表示し、終了する。
一方、NOの場合には、メモリ異常がなかったので終了
する。
No(スロット番号)をセットする。そして、同様に他
のメモリアドレスについて行う。S46は、メモリ異常
有りか否かを判別する。これは、全てのメモリアドレス
(あるいは代表的なメモリアドレス)についてS41か
らS45を行い、メモリロギング情報にメモリ異常のス
ロットNoがセットされているかを判別する。YESの
場合には、メモリ異常のスロットNoがセットされてい
たので、S47でコンソール又はLCD(液晶パネル)
にメモリ診断情報を表示する。例えば“スロットNo.
×がメモリ異常です”というように表示し、終了する。
一方、NOの場合には、メモリ異常がなかったので終了
する。
【0008】以上のように、従来のメモリ診断は、規格
化したSIMMを複数搭載したメモリボードであって
も、スロットNo単位にメモリ異常か否かをメモリ診断
するようにしていた。。
化したSIMMを複数搭載したメモリボードであって
も、スロットNo単位にメモリ異常か否かをメモリ診断
するようにしていた。。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来は、上述したよう
に、規格化したSIMMを複数搭載したメモリボードで
あっても、メモリ診断時にスロット単位にしかメモリ異
常を指摘しなかったため、スロットに複数のSIMMが
あって正常なSIMMをも含めて全てを交換せざるを得
ないという問題があった。
に、規格化したSIMMを複数搭載したメモリボードで
あっても、メモリ診断時にスロット単位にしかメモリ異
常を指摘しなかったため、スロットに複数のSIMMが
あって正常なSIMMをも含めて全てを交換せざるを得
ないという問題があった。
【0010】本発明は、この問題を解決するため、複数
の規格化したSIMM(交換最小単位のメモリ)などを
搭載したメモリボードのメモリ診断時に、メモリ異常の
ときにスロット番号およびSIMMなどの番号を指摘
し、保守のスムーズな対応と不良箇所の迅速な措置を可
能とすることを目的としている。
の規格化したSIMM(交換最小単位のメモリ)などを
搭載したメモリボードのメモリ診断時に、メモリ異常の
ときにスロット番号およびSIMMなどの番号を指摘
し、保守のスムーズな対応と不良箇所の迅速な措置を可
能とすることを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図1において、スロット
nアドレスレジスタ12は、スロット番号nを求めるた
めのレジスタである。
決するための手段を説明する。図1において、スロット
nアドレスレジスタ12は、スロット番号nを求めるた
めのレジスタである。
【0012】スロットn容量認識レジスタ13は、スロ
ット番号nのメモリ容量を求めるためのレジスタであ
る。SIMMテーブル14は、メモリサイズ毎にデータ
ビット位置とSIMM番号との対応関係を予め設定した
テーブルである。
ット番号nのメモリ容量を求めるためのレジスタであ
る。SIMMテーブル14は、メモリサイズ毎にデータ
ビット位置とSIMM番号との対応関係を予め設定した
テーブルである。
【0013】
【作用】本発明は、図1に示すように、メモリアドレス
n番地にデータを書き込んだ後、読み出して両者を比較
し、等しくないときに当該メモリアドレスn番地をもと
にスロットnアドレッスレジスタ12を参照してスロッ
ト番号を求め、このスロット番号をもとにスロットn容
量認識レジスタ13を参照してメモリサイズを求め、こ
のメモリサイズをもとにSIMMテーブル14からデー
タビット位置と規格化したSIMM番号との対応を求
め、この対応から等しくないビットに対するSIMM番
号を算出し、メモリ異常のスロット番号およびSIMM
番号を指摘するようにしている。
n番地にデータを書き込んだ後、読み出して両者を比較
し、等しくないときに当該メモリアドレスn番地をもと
にスロットnアドレッスレジスタ12を参照してスロッ
ト番号を求め、このスロット番号をもとにスロットn容
量認識レジスタ13を参照してメモリサイズを求め、こ
のメモリサイズをもとにSIMMテーブル14からデー
タビット位置と規格化したSIMM番号との対応を求
め、この対応から等しくないビットに対するSIMM番
号を算出し、メモリ異常のスロット番号およびSIMM
番号を指摘するようにしている。
【0014】従って、複数の規格化したSIMM(交換
最小単位のメモリ)などを搭載したメモリボードのメモ
リ診断時に、メモリ異常のときにスロット番号およびS
IMM番号を指摘することにより、スロット内の異常の
SIMM番号を特定し、保守のスムーズな対応と不良箇
所の迅速な措置が可能となる。
最小単位のメモリ)などを搭載したメモリボードのメモ
リ診断時に、メモリ異常のときにスロット番号およびS
IMM番号を指摘することにより、スロット内の異常の
SIMM番号を特定し、保守のスムーズな対応と不良箇
所の迅速な措置が可能となる。
【0015】
【実施例】次に、図1から図7を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。
の構成および動作を順次詳細に説明する。
【0016】図1は、本発明の1実施例構成図を示す。
図1において、スロットnアドレスレジスタ12は、ス
ロット番号nを求めるためのレジスタであって、例えば
後述する図2の(c)に示すように、スロットアドレス
(例えばスロットnの所定数の先頭ビットのアドレス)
を設定したレジスタである。
図1において、スロットnアドレスレジスタ12は、ス
ロット番号nを求めるためのレジスタであって、例えば
後述する図2の(c)に示すように、スロットアドレス
(例えばスロットnの所定数の先頭ビットのアドレス)
を設定したレジスタである。
【0017】スロットn容量認識レジスタ13は、スロ
ット番号nのメモリ容量を求めるためのレジスタであっ
て、例えば後述する図2の(b)に示すように、スロッ
ト番号nに対応づけてメモリ容量を設定したレジスタで
ある。
ット番号nのメモリ容量を求めるためのレジスタであっ
て、例えば後述する図2の(b)に示すように、スロッ
ト番号nに対応づけてメモリ容量を設定したレジスタで
ある。
【0018】simmテーブル14は、メモリサイズ毎
にデータビット位置とsimm番号との対応関係を予め
設定したテーブルであって、例えば後述する図3に示す
ように、メモリサイズ毎にデータビット位置とsimm
番号との対応関係を設定したテーブルである。
にデータビット位置とsimm番号との対応関係を予め
設定したテーブルであって、例えば後述する図3に示す
ように、メモリサイズ毎にデータビット位置とsimm
番号との対応関係を設定したテーブルである。
【0019】次に、S1からS12の順序により本発明
の動作を説明する。図1において、S1は、メモリアド
レス#n番地にデータ0xa5a5a5a5a5a5a
5a5のパターンを書き込む。これは、例えば図7に示
すようなメモリボード15に対して、メモリアドレス#
n番地に64ビット幅のデータ0xa5a5a5a5a
5a5a5a5のパターンを書き込む。
の動作を説明する。図1において、S1は、メモリアド
レス#n番地にデータ0xa5a5a5a5a5a5a
5a5のパターンを書き込む。これは、例えば図7に示
すようなメモリボード15に対して、メモリアドレス#
n番地に64ビット幅のデータ0xa5a5a5a5a
5a5a5a5のパターンを書き込む。
【0020】S2は、メモリアドレス#n番地から64
ビット幅でデータをリードする。これは、S1で書き込
んだと同じメモリアドレス#n番地から64ビット幅の
データをリードする。
ビット幅でデータをリードする。これは、S1で書き込
んだと同じメモリアドレス#n番地から64ビット幅の
データをリードする。
【0021】S3は、compareチェックする。こ
れは、S1で書き込んだデータと、S2で読み出したデ
ータとを比較し、等しいか否かをチェックする。等しい
場合には、メモリが正常であるので、S11に進む。一
方、等しくない場合には、メモリ異常であるので、S4
からS10によって、メモリ異常のスロット番号および
SIMM番号を特定する。以下説明する。
れは、S1で書き込んだデータと、S2で読み出したデ
ータとを比較し、等しいか否かをチェックする。等しい
場合には、メモリが正常であるので、S11に進む。一
方、等しくない場合には、メモリ異常であるので、S4
からS10によって、メモリ異常のスロット番号および
SIMM番号を特定する。以下説明する。
【0022】S4は、メモリアドレス#n番地から、ス
ロットnアドレスレジスタ12を参照して、スロットN
o(スロット番号)を求める。これは、ライト/リード
してそのデータが等しくなかったメモリアドレス#n番
地について、例えば図2の(c)のスロットnアドレス
レジスタ12を参照してスロット番号を求める。
ロットnアドレスレジスタ12を参照して、スロットN
o(スロット番号)を求める。これは、ライト/リード
してそのデータが等しくなかったメモリアドレス#n番
地について、例えば図2の(c)のスロットnアドレス
レジスタ12を参照してスロット番号を求める。
【0023】S5は、スロット容量認識レジスタ13か
らスロットのメモリサイズを求める。これは、例えば図
2の(b)のスロットn容量認識レジスタ13を参照し
て当該スロット番号のメモリサイズ(メモリ容量)を求
める。
らスロットのメモリサイズを求める。これは、例えば図
2の(b)のスロットn容量認識レジスタ13を参照し
て当該スロット番号のメモリサイズ(メモリ容量)を求
める。
【0024】S6は、simmテーブル14を参照し
て、求めたスロットメモリサイズからsimmとアドレ
スビット位置の対応表をポイントする。これは、例えば
図3のsimmテーブル14を参照して、S5で求めた
スロットのメモリサイズに対応するsimm番号とアド
レスビット位置との対応表をポイントする。
て、求めたスロットメモリサイズからsimmとアドレ
スビット位置の対応表をポイントする。これは、例えば
図3のsimmテーブル14を参照して、S5で求めた
スロットのメモリサイズに対応するsimm番号とアド
レスビット位置との対応表をポイントする。
【0025】S7は、simmテーブル14のsimm
に対応するビット位置のreadデータ、writeデ
ータをそれぞれ編集して、比較する。これは、例えば後
述する図3のsimmテーブル14で、スロットのメモ
リ容量が8Mバイトのとき、データビット0〜15ビッ
ト目がsimm0に対応しているので、readデー
タ、writeデータのビット0〜15をそれぞれ取り
出して比較する。
に対応するビット位置のreadデータ、writeデ
ータをそれぞれ編集して、比較する。これは、例えば後
述する図3のsimmテーブル14で、スロットのメモ
リ容量が8Mバイトのとき、データビット0〜15ビッ
ト目がsimm0に対応しているので、readデー
タ、writeデータのビット0〜15をそれぞれ取り
出して比較する。
【0026】S8は、compareチェックする。即
ちS7で編集したwriteデータと、readデータ
とを比較し、等しいか否かを判別する。等しい場合に
は、比較したsimm番号のwriteデータとrea
dデータとが等しくてメモリ異常がないと判明したの
で、S10に進む。一方、等しくない場合には、比較し
たsimm番号のwriteデータとreadデータと
が等しくなくてメモリ異常と判明したので、S9でスロ
ット詳細情報にsimmNoをセットし、メモリ異常の
simm番号を記憶し、S10に進む。
ちS7で編集したwriteデータと、readデータ
とを比較し、等しいか否かを判別する。等しい場合に
は、比較したsimm番号のwriteデータとrea
dデータとが等しくてメモリ異常がないと判明したの
で、S10に進む。一方、等しくない場合には、比較し
たsimm番号のwriteデータとreadデータと
が等しくなくてメモリ異常と判明したので、S9でスロ
ット詳細情報にsimmNoをセットし、メモリ異常の
simm番号を記憶し、S10に進む。
【0027】S10は、全ビットのチェック完了か判別
する。これは、simm番号の全てのチェックが完了し
たか判別する。YESの場合には、全てのsimm番号
のチェックが完了したので、S11に進む。一方、NO
の場合には、S7に戻り、次のsimm番号のチェック
を行う。
する。これは、simm番号の全てのチェックが完了し
たか判別する。YESの場合には、全てのsimm番号
のチェックが完了したので、S11に進む。一方、NO
の場合には、S7に戻り、次のsimm番号のチェック
を行う。
【0028】S11は、メモリ異常有りか判別する。こ
れは、S9でスロット詳細情報にメモリ異常のsimm
番号が設定されているか判別する。YESの場合には、
S12でコンソール又はLCD(液晶パネル)にメモリ
診断情報を表示する。例えば後述する図6、図5に示す
ようにメモリ診断情報を表示し、保守者にメモリ異常の
スロット番号とsimm番号を知らせる。
れは、S9でスロット詳細情報にメモリ異常のsimm
番号が設定されているか判別する。YESの場合には、
S12でコンソール又はLCD(液晶パネル)にメモリ
診断情報を表示する。例えば後述する図6、図5に示す
ようにメモリ診断情報を表示し、保守者にメモリ異常の
スロット番号とsimm番号を知らせる。
【0029】以上によって、複数のスロットを持つメモ
リボードについて、データをライト/リードし、両者の
データを比較して一致しなくてメモリ異常のときに、ス
ロットnアドレスレジスタ12を参照してスロット番号
を求め、更にスロット番号をもとにスロットn容量認識
レジスタ13を参照してメモリ容量を求め、次に、si
mmテーブル14を参照してこのメモリ容量のときのs
imm番号とデータビット位置との対応関係を取り出
し、writeデータとreadデータとが一致しない
ビット位置からメモリ異常のsimm番号を見つけ出
す。そして、メモリ異常の見つかったスロット番号とs
imm番号を併せて表示する。これを見た保守者は、ス
ロット番号のうちの最小交換単位であるsimm番号の
みを交換すればよい。これにより、従来のように異常な
simmおよび正常なsimmを含めてスロット全体を
交換しなくてもよく、故障箇所のみを効率的に迅速に交
換して復旧を図ることが可能となる。
リボードについて、データをライト/リードし、両者の
データを比較して一致しなくてメモリ異常のときに、ス
ロットnアドレスレジスタ12を参照してスロット番号
を求め、更にスロット番号をもとにスロットn容量認識
レジスタ13を参照してメモリ容量を求め、次に、si
mmテーブル14を参照してこのメモリ容量のときのs
imm番号とデータビット位置との対応関係を取り出
し、writeデータとreadデータとが一致しない
ビット位置からメモリ異常のsimm番号を見つけ出
す。そして、メモリ異常の見つかったスロット番号とs
imm番号を併せて表示する。これを見た保守者は、ス
ロット番号のうちの最小交換単位であるsimm番号の
みを交換すればよい。これにより、従来のように異常な
simmおよび正常なsimmを含めてスロット全体を
交換しなくてもよく、故障箇所のみを効率的に迅速に交
換して復旧を図ることが可能となる。
【0030】以下順次詳細に説明する。図2は、本発明
のメモリ診断説明図を示す。図2の(a)は、メモリ制
御レジスタ11の例を示す。これは、図1で既述したよ
うに、メモリコントローラが、メモリアドレス#n番地
にデータ0xa5a5a5a5a5a5a5a5をライ
トした後、同じ番地からリードしたときの両者の64ビ
ットのデータを比較して等しくなくメモリ異常となった
ときに、いずれのスロット番号、simm番号かを特定
するためのレジスタである。メモリ制御レジスタ11
は、スロット番号を求めるスロットnアドレスレジスタ
12と、スロット番号からメモリ容量を求めるスロット
n容量認識レジスタ13から構成されている。
のメモリ診断説明図を示す。図2の(a)は、メモリ制
御レジスタ11の例を示す。これは、図1で既述したよ
うに、メモリコントローラが、メモリアドレス#n番地
にデータ0xa5a5a5a5a5a5a5a5をライ
トした後、同じ番地からリードしたときの両者の64ビ
ットのデータを比較して等しくなくメモリ異常となった
ときに、いずれのスロット番号、simm番号かを特定
するためのレジスタである。メモリ制御レジスタ11
は、スロット番号を求めるスロットnアドレスレジスタ
12と、スロット番号からメモリ容量を求めるスロット
n容量認識レジスタ13から構成されている。
【0031】図2の(c)は、スロットnアドレスレジ
スタ12の例を示す。これは、図1のS4で既述したよ
うに、メモリアドレス#n番地にデータをライトし、同
じ番地からデータをリードし、両者のデータを比較して
等しくないときに、当該番地からいずれのスロット番号
にメモリ異常が発生したかを求めるためのものである。
ここでは、アドレスのビット23、24、25にスロッ
トアドレスの先頭の3ビットを予め設定し、この部分が
一致するメモリアドレス#n番地のときに、当該スロッ
トnアドレスレジタのスロットnとして求めるようにし
ている。
スタ12の例を示す。これは、図1のS4で既述したよ
うに、メモリアドレス#n番地にデータをライトし、同
じ番地からデータをリードし、両者のデータを比較して
等しくないときに、当該番地からいずれのスロット番号
にメモリ異常が発生したかを求めるためのものである。
ここでは、アドレスのビット23、24、25にスロッ
トアドレスの先頭の3ビットを予め設定し、この部分が
一致するメモリアドレス#n番地のときに、当該スロッ
トnアドレスレジタのスロットnとして求めるようにし
ている。
【0032】図2の(b)は、スロットn容量認識レジ
スタ13の例を示す。これは、図1のS5で既述したよ
うに、メモリ異常のときに図2の(c)で求めたスロッ
ト番号(スロットn)のスロットメモリ容量を求めるた
めのものである。ここでは、スロットnに対応するスロ
ットn容量認識レジスタ13からビット23、24、2
5に設定されている値を読み出し、 001のとき8MB 010のとき16MB 100のとき32MB と求める。この際、先頭のEN=“1”のときにスロッ
トが有効であることを表す。
スタ13の例を示す。これは、図1のS5で既述したよ
うに、メモリ異常のときに図2の(c)で求めたスロッ
ト番号(スロットn)のスロットメモリ容量を求めるた
めのものである。ここでは、スロットnに対応するスロ
ットn容量認識レジスタ13からビット23、24、2
5に設定されている値を読み出し、 001のとき8MB 010のとき16MB 100のとき32MB と求める。この際、先頭のEN=“1”のときにスロッ
トが有効であることを表す。
【0033】以上のスロットnレジスタ12およびスロ
ットn容量認識レジスタ13を参照し、メモリボード1
5にデータをライトした後のリードして等しくなかった
ときにメモリ異常のスロット番号およびこれのメモリ容
量を求めることができる。
ットn容量認識レジスタ13を参照し、メモリボード1
5にデータをライトした後のリードして等しくなかった
ときにメモリ異常のスロット番号およびこれのメモリ容
量を求めることができる。
【0034】図3は、本発明のsimmテーブル例を示
す。これは、メモリ容量毎にデータビット位置とsim
m番号との対応関係を予め設定したものである。例えば
図2のスロットnアドレスレジスタ12およびスロット
n容量認識レジスタ13を参照してメモリ異常のスロッ
トnおよびメモリ容量が8MBと求められたとき、この
simmテーブル14を参照し、 データビット00〜15ビット目がsimm0 データビット16〜31ビット目がsimm1 データビット32〜47ビット目がsimm2 データビット48〜63ビット目がsimm3 (表1) と求められる。従って、writeデータとreadデ
ータとを比較し、データビット00から15ビットの範
囲内のエラーのときはsimm0がメモリ異常と特定で
きる。同様に、他のsimm1からsimm3について
特定できる。
す。これは、メモリ容量毎にデータビット位置とsim
m番号との対応関係を予め設定したものである。例えば
図2のスロットnアドレスレジスタ12およびスロット
n容量認識レジスタ13を参照してメモリ異常のスロッ
トnおよびメモリ容量が8MBと求められたとき、この
simmテーブル14を参照し、 データビット00〜15ビット目がsimm0 データビット16〜31ビット目がsimm1 データビット32〜47ビット目がsimm2 データビット48〜63ビット目がsimm3 (表1) と求められる。従って、writeデータとreadデ
ータとを比較し、データビット00から15ビットの範
囲内のエラーのときはsimm0がメモリ異常と特定で
きる。同様に、他のsimm1からsimm3について
特定できる。
【0035】以下具体例について説明する。 (1) メモリアドレス#n番地にデータ0xa5a5
a5a5a5a5a5a5をメモリボード15にライト
する。
a5a5a5a5a5a5をメモリボード15にライト
する。
【0036】(2) 同一のメモリアドレス#n番地か
ら64ビットのデータをメモリボードよりリードする。 (3) (1)でライトしたwriteデータと、
(2)でリードしたreadデータとを比較し、等しい
ときは次のアドレスについて(1)、(2)を繰り返
す。等しくなかったときに次の(4)に進む。
ら64ビットのデータをメモリボードよりリードする。 (3) (1)でライトしたwriteデータと、
(2)でリードしたreadデータとを比較し、等しい
ときは次のアドレスについて(1)、(2)を繰り返
す。等しくなかったときに次の(4)に進む。
【0037】(4) writeデータとreadデー
タとが等しくなかったので、図2の(c)のスロットn
アドレスレジスタ12を参照してスロットn(スロット
番号)を求める。
タとが等しくなかったので、図2の(c)のスロットn
アドレスレジスタ12を参照してスロットn(スロット
番号)を求める。
【0038】(5) (4)で求めたスロットn(スロ
ット番号)をもとに図2の(b)のスロットn容量認識
レジスタ13を参照してスロットnのメモリ容量を求め
る。 (6) (5)で求めたスロットのメモリ容量をもと
に、図3のsimmテーブル14からデータビット位置
とsimm番号の対応関係を取り出す。例えばメモリ容
量が8MBのとき、上記(表1)の対応関係を取り出
す。
ット番号)をもとに図2の(b)のスロットn容量認識
レジスタ13を参照してスロットnのメモリ容量を求め
る。 (6) (5)で求めたスロットのメモリ容量をもと
に、図3のsimmテーブル14からデータビット位置
とsimm番号の対応関係を取り出す。例えばメモリ容
量が8MBのとき、上記(表1)の対応関係を取り出
す。
【0039】(7) writeデータとreadデー
タとを比較し、いずれのsimm番号かを特定する。例
えばメモリ容量が8MBで writeデータ:0xa5a5a5a5a5a5a5
a5 readデータ :0xa5a5a5a5ffffff
ff であったとき、 simm0の位置のデータビット00〜15のデー
タを0xa5a5 (writeデータのビット00〜
15) 0xffff (readデータのビット00〜15) として取り出し、比較してここでは等しくなく当該si
mm0を不良と特定する。
タとを比較し、いずれのsimm番号かを特定する。例
えばメモリ容量が8MBで writeデータ:0xa5a5a5a5a5a5a5
a5 readデータ :0xa5a5a5a5ffffff
ff であったとき、 simm0の位置のデータビット00〜15のデー
タを0xa5a5 (writeデータのビット00〜
15) 0xffff (readデータのビット00〜15) として取り出し、比較してここでは等しくなく当該si
mm0を不良と特定する。
【0040】 simm1の位置のデータビット16
〜31のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット16〜3
1) 0xffff (readデータのビット16〜31) として取り出し、比較してここでは等しくなく当該si
mm1を不良と特定する。
〜31のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット16〜3
1) 0xffff (readデータのビット16〜31) として取り出し、比較してここでは等しくなく当該si
mm1を不良と特定する。
【0041】 simm2の位置のデータビット32
〜47のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット32〜4
7) 0xa5a5 (readデータのビット32〜47) として取り出し、比較してここでは等しく当該simm
2を良と特定する。
〜47のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット32〜4
7) 0xa5a5 (readデータのビット32〜47) として取り出し、比較してここでは等しく当該simm
2を良と特定する。
【0042】 simm3の位置のデータビット48
〜63のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット48〜6
3) 0xa5a5 (readデータのビット48〜63) として取り出し、比較してここでは等しく当該simm
3を良と特定する。
〜63のデータを 0xa5a5 (writeデータのビット48〜6
3) 0xa5a5 (readデータのビット48〜63) として取り出し、比較してここでは等しく当該simm
3を良と特定する。
【0043】図4は、本発明の動作説明図を示す。これ
は、メモリの実装状況、物理アドレス割当結果、および
診断結果を通知して表示などするための情報である。以
下説明する。
は、メモリの実装状況、物理アドレス割当結果、および
診断結果を通知して表示などするための情報である。以
下説明する。
【0044】図4の(a)は、物理メモリ・スロット情
報の例を示す。スロット0主記憶情報からスロット15
主記憶情報は、図4の(b)に示すように、スロットx
(x=0からx=15)の各種情報(実装フラグ、
割当物理アドレス、容量サイズ)を設定するものであ
る。
報の例を示す。スロット0主記憶情報からスロット15
主記憶情報は、図4の(b)に示すように、スロットx
(x=0からx=15)の各種情報(実装フラグ、
割当物理アドレス、容量サイズ)を設定するものであ
る。
【0045】主記憶総容量は、複数のスロット0からス
ロット15の総記憶容量である。スロトsimm詳細情
報は、図4の(c)に示すように、各スロットのいずれ
のsimm番号がメモリ異常かを表すビット列を設定す
るものである。
ロット15の総記憶容量である。スロトsimm詳細情
報は、図4の(c)に示すように、各スロットのいずれ
のsimm番号がメモリ異常かを表すビット列を設定す
るものである。
【0046】図4の(b)は、スロットX記憶情報の例
を示す。ここでは、 実装フラグとして、下段に記載したように、 0X80:実装されている 0X40:不良箇所が存在する 0X00:実装されていない のビットによってその内容を設定する。
を示す。ここでは、 実装フラグとして、下段に記載したように、 0X80:実装されている 0X40:不良箇所が存在する 0X00:実装されていない のビットによってその内容を設定する。
【0047】割当物理アドレス(単位:メガ)とし
て、下段に記載したように、 0X0000:0X0 0000 0000 0X0008:0X0 0080 0000 0X0010:0X0 0100 0000 0X0020:0X0 0200 0000 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 0X0040:0X0 0400 0000 0X0080:0X0 0800 0000 0X0100:0X0 1000 0000 とビットによってその内容を設定する。
て、下段に記載したように、 0X0000:0X0 0000 0000 0X0008:0X0 0080 0000 0X0010:0X0 0100 0000 0X0020:0X0 0200 0000 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 0X0040:0X0 0400 0000 0X0080:0X0 0800 0000 0X0100:0X0 1000 0000 とビットによってその内容を設定する。
【0048】容量サイズ(単位:バイト)として、下
段に記載したように、スロットのメモリ容量を16進で
格納する。図4の(c)は、スロットsimm詳細情報
を示す。ここでは、各スロットXについて、下段に記載
したように、 b“xxxx xxx1”:simm0異常 b“xxxx xx1x”:simm1異常 b“xxxx x1xx”:simm2異常 b“xxxx 1xxx”:simm3異常 b“xxx1 xxxx”:simm4異常 b“xx1x xxxx”:simm5異常 b“x1xx xxxx”:simm6異常 b“1xxx xxxx”:simm7異常 とメモリ異常を特定したsimmのビットを“1”にセ
ットし、記憶する。
段に記載したように、スロットのメモリ容量を16進で
格納する。図4の(c)は、スロットsimm詳細情報
を示す。ここでは、各スロットXについて、下段に記載
したように、 b“xxxx xxx1”:simm0異常 b“xxxx xx1x”:simm1異常 b“xxxx x1xx”:simm2異常 b“xxxx 1xxx”:simm3異常 b“xxx1 xxxx”:simm4異常 b“xx1x xxxx”:simm5異常 b“x1xx xxxx”:simm6異常 b“1xxx xxxx”:simm7異常 とメモリ異常を特定したsimmのビットを“1”にセ
ットし、記憶する。
【0049】図5は、本発明のメモリ診断異常時のLC
D表示例を示す。これは、図1、図2および図3に記載
した手順により、メモリ診断して異常と特定したスロッ
ト番号およびsimm番号を図4の物理メモリ・スロッ
ト情報に設定し、これをもとにLCD(液晶パネル)上
に表示した例を示す。ここでは、 ROM:ERROR:R0044×× ;××;××;××;×× と表示する。ここで、は、メモリ診断時にメモリエラ
ーを検出し、メモリ縮小運転も不可能な状態を表す。
D表示例を示す。これは、図1、図2および図3に記載
した手順により、メモリ診断して異常と特定したスロッ
ト番号およびsimm番号を図4の物理メモリ・スロッ
ト情報に設定し、これをもとにLCD(液晶パネル)上
に表示した例を示す。ここでは、 ROM:ERROR:R0044×× ;××;××;××;×× と表示する。ここで、は、メモリ診断時にメモリエラ
ーを検出し、メモリ縮小運転も不可能な状態を表す。
【0050】、、、、は、CPUボード上の
メモリのスロット番号X(0から4)をそれぞれ表し、
実装したsimmの状態を表す。ここで、XXは、下段
に記載したように、simmの位置を8ビット16進数
で表示し、それぞれがメモリ異常のときビット“1”と
し、メモリが正常のときにビット“0”とする。
メモリのスロット番号X(0から4)をそれぞれ表し、
実装したsimmの状態を表す。ここで、XXは、下段
に記載したように、simmの位置を8ビット16進数
で表示し、それぞれがメモリ異常のときビット“1”と
し、メモリが正常のときにビット“0”とする。
【0051】従って、メモリ診断時にLCD表示を保守
者が見ることにより、いずれのスロット番号のいずれの
simm番号がメモリ異常かを容易に判断し、最小交換
単位であるsimm単位に交換し、復旧することが可能
となる。
者が見ることにより、いずれのスロット番号のいずれの
simm番号がメモリ異常かを容易に判断し、最小交換
単位であるsimm単位に交換し、復旧することが可能
となる。
【0052】図6は、本発明の表示例を示す。これは、
メモリ診断結果をディスプレイ上に表示した例である。
この表示例 ROM:ERROR:R0044 01;80;30**; は、下記の表す。
メモリ診断結果をディスプレイ上に表示した例である。
この表示例 ROM:ERROR:R0044 01;80;30**; は、下記の表す。
【0053】・メモリ縮小運転が不可能な状態を表す。 ・“01;80;30;**; ”は、スロットN
o.0のNo.0のsimmが異常である。
o.0のNo.0のsimmが異常である。
【0054】スロットNo.1のNo.80のsimm
が異常である。スロットNo.2のNo.10、No.
20のsimmが異常である。スロットNo.3の本ス
ロットの周辺回路に異常がある。
が異常である。スロットNo.2のNo.10、No.
20のsimmが異常である。スロットNo.3の本ス
ロットの周辺回路に異常がある。
【0055】スロットNo.4の本スロトには、sim
mが実装されていない。図7は、本発明のスロット番
号、simm番号の実装位置の対応例を示す。図7にお
いて、メモリボード15は、複数のスロットを実装して
全体として主記憶装置を構成するものである。
mが実装されていない。図7は、本発明のスロット番
号、simm番号の実装位置の対応例を示す。図7にお
いて、メモリボード15は、複数のスロットを実装して
全体として主記憶装置を構成するものである。
【0056】SLOT NO.0からSLOT NO.
3は、メモリボード15に搭載したスロットを表す。こ
こでは、4つのスロットから構成されている。各SLO
T(スロット)は、右側に拡大して記載したように、S
IMM No.1、2、4、8、10、20、40、8
0の合計8個から構成されている。
3は、メモリボード15に搭載したスロットを表す。こ
こでは、4つのスロットから構成されている。各SLO
T(スロット)は、右側に拡大して記載したように、S
IMM No.1、2、4、8、10、20、40、8
0の合計8個から構成されている。
【0057】この図7のメモリボード15について、図
1の手順に従って、メモリ診断を行うと、メモリ異常の
スロット番号およびSIMM番号を特定し、LCD画面
上などにその内容を表示する。ここで、SIMMが最小
交換単位であるので、指摘されたSIMM単位に保守者
が交換して復旧を図ることができる。
1の手順に従って、メモリ診断を行うと、メモリ異常の
スロット番号およびSIMM番号を特定し、LCD画面
上などにその内容を表示する。ここで、SIMMが最小
交換単位であるので、指摘されたSIMM単位に保守者
が交換して復旧を図ることができる。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の規格化したSIMM(交換最小単位のメモリ)な
どを搭載したメモリボードのメモリ診断時に、メモリ異
常のときにスロット番号およびSIMM番号を特定して
表示などする構成を採用しているため、スロット内の異
常のSIMM番号を指摘することができる。これによ
り、従来のスロット番号を指摘した場合には、スロット
内の異常なsimmおよび正常なsimmの全体を交換
する必要があったが、本発明により、スロット内のメモ
リ異常のsimm番号を指摘するのでこのメモリ異常の
simmのみを交換すればよくなり、保守が簡便となる
と共に不良箇所の迅速な処置が可能となる。
複数の規格化したSIMM(交換最小単位のメモリ)な
どを搭載したメモリボードのメモリ診断時に、メモリ異
常のときにスロット番号およびSIMM番号を特定して
表示などする構成を採用しているため、スロット内の異
常のSIMM番号を指摘することができる。これによ
り、従来のスロット番号を指摘した場合には、スロット
内の異常なsimmおよび正常なsimmの全体を交換
する必要があったが、本発明により、スロット内のメモ
リ異常のsimm番号を指摘するのでこのメモリ異常の
simmのみを交換すればよくなり、保守が簡便となる
と共に不良箇所の迅速な処置が可能となる。
【図1】本発明の1実施例構成図である。
【図2】本発明のメモリ診断説明図である。
【図3】本発明のsimmテーブル例である。
【図4】本発明の動作説明図である。
【図5】本発明のメモリ診断異常時のLCD表示例であ
る。
る。
【図6】本発明の表示例である。
【図7】本発明のスロット番号、simm番号の実装位
置の対応例である。
置の対応例である。
【図8】従来技術の説明図である。
11:メモリ制御レジスタ 12:スロットnアドレスレジスタ 13:スロットn容量認識レジスタ 14:simmテーブル 15:メモリボード
Claims (1)
- 【請求項1】メモリの異常箇所を特定するメモリ異常箇
所特定方法において、 メモリアドレスn番地にデータを書き込んだ後、読み出
して両者を比較し、等しくないときに当該メモリアドレ
スn番地に対応するスロット番号を求める(S4)と共
にこのスロット番号のメモリサイズを求め(S5)、 このメモリサイズをもとにSIMMテーブル(14)か
らデータビット位置と規格化したSIMM番号との対応
を求め、この対応から上記等しくないビットに対するS
IMM番号を算出し、 メモリ異常のスロット番号およびSIMM番号を特定す
るように構成したことを特徴とするメモリ異常箇所特定
方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4172107A JPH0619805A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | メモリ異常箇所特定方法 |
GB9313313A GB2268295B (en) | 1992-06-30 | 1993-06-28 | Method of and apparatus for detecting defective memory locations |
US08/083,179 US5502814A (en) | 1992-06-30 | 1993-06-29 | Method of detecting defective memory locations in computer system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4172107A JPH0619805A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | メモリ異常箇所特定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0619805A true JPH0619805A (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=15935685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4172107A Pending JPH0619805A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | メモリ異常箇所特定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5502814A (ja) |
JP (1) | JPH0619805A (ja) |
GB (1) | GB2268295B (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9305801D0 (en) * | 1993-03-19 | 1993-05-05 | Deans Alexander R | Semiconductor memory system |
KR0143125B1 (ko) * | 1995-05-18 | 1998-08-17 | 김광호 | 어드레스 간의 데이타 백그라운드를 이용한 단방향 어드레스 메모리의 테스트 방법 |
GB2291992A (en) * | 1995-06-09 | 1996-02-07 | Memory Corp Plc | Method of producing memory modules using partial memory circuits |
JPH09146849A (ja) * | 1995-11-21 | 1997-06-06 | Nec Corp | 情報処理システム及びそのメモリ再構成方法 |
WO1999005599A1 (en) * | 1997-07-28 | 1999-02-04 | Intergraph Corporation | Apparatus and method for memory error detection and error reporting |
US6154851A (en) * | 1997-08-05 | 2000-11-28 | Micron Technology, Inc. | Memory repair |
US6163857A (en) * | 1998-04-30 | 2000-12-19 | International Business Machines Corporation | Computer system UE recovery logic |
US6148419A (en) * | 1998-09-30 | 2000-11-14 | International Business Machines Corp. | System diagnostic location codes |
US6842867B2 (en) | 2001-01-26 | 2005-01-11 | Dell Products L.P. | System and method for identifying memory modules having a failing or defective address |
US6851065B2 (en) * | 2001-09-10 | 2005-02-01 | Dell Products L.P. | System and method for executing resume tasks during a suspend routine |
US7184916B2 (en) * | 2003-05-20 | 2007-02-27 | Cray Inc. | Apparatus and method for testing memory cards |
US7320100B2 (en) * | 2003-05-20 | 2008-01-15 | Cray Inc. | Apparatus and method for memory with bit swapping on the fly and testing |
US7350109B2 (en) * | 2003-11-14 | 2008-03-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for testing a memory using DMA |
US8746548B2 (en) | 2011-09-15 | 2014-06-10 | Dell Products L.P. | Dynamic multidimensional barcodes for information handling system service information |
US8833661B2 (en) | 2011-09-15 | 2014-09-16 | Dell Products L.P. | Multidimensional barcodes for information handling system manufacture, assembly and service |
US10402781B2 (en) | 2011-09-15 | 2019-09-03 | Dell Products L.P. | Multidimensional barcodes for information handling system service information |
US8827149B1 (en) | 2013-03-14 | 2014-09-09 | Dell Products L.P. | Automated information handling system component compatibility |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0283564A3 (en) * | 1987-03-23 | 1989-04-05 | International Business Machines Corporation | Memory re-mapping in a microcomputer system |
US5274648A (en) * | 1990-01-24 | 1993-12-28 | International Business Machines Corporation | Memory card resident diagnostic testing |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP4172107A patent/JPH0619805A/ja active Pending
-
1993
- 1993-06-28 GB GB9313313A patent/GB2268295B/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-29 US US08/083,179 patent/US5502814A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5502814A (en) | 1996-03-26 |
GB2268295A (en) | 1994-01-05 |
GB9313313D0 (en) | 1993-08-11 |
GB2268295B (en) | 1995-12-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011016 |