JPH09129921A - 半導体発光素子 - Google Patents
半導体発光素子Info
- Publication number
- JPH09129921A JPH09129921A JP28069295A JP28069295A JPH09129921A JP H09129921 A JPH09129921 A JP H09129921A JP 28069295 A JP28069295 A JP 28069295A JP 28069295 A JP28069295 A JP 28069295A JP H09129921 A JPH09129921 A JP H09129921A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- layer
- electrode
- semiconductor
- current blocking
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Led Devices (AREA)
Abstract
合物半導体からなる発光層を含む半導体発光素子におい
て、動作電流の一部が電極直下の発光部に流入し、その
部分からの発光が外部への光の取り出しに寄与しない問
題点を解決する。 【解決手段】 透光性の導電性薄膜電極と台座電極から
なる電極の台座電極と発光部の間に、動作電流の流通を
防止する層を挿入する。
Description
N)や窒化アルミニウム(AlN)や窒化インジウム
(InN)及びそれらの混晶等の、V族元素として窒素
を含有するIII −V族化合物半導体を発光層とする、主
に短波長の発光をもたらす発光ダイオード(LED)等
の半導体発光素子に係わり、特に発光面積が拡大された
半導体発光素子に関するものである。
aInN)等のV族元素として窒素を含有するIII −V
族化合物半導体は、青色或いは青緑色等の短波長LED
の発光層として利用されている(「豊田合成技報」、第
35巻(1993)、91〜95頁や「アプライド フ
ィジクス レターズ(Appl.Phys.Let
t.)」、第64巻(1994)、1687〜1689
頁.)。
のダブルヘテロ接合型青色LEDの断面構造の一例を示
す模式図である。従来のダブルヘテロ接合型青色LED
は、基板(101)上に下部クラッド層(102)、発
光層(103)、上部クラッド層(104)、コンタク
ト層(105)を順次積層し、コンタクト層(105)
上の一部、および下部クラッド層(102)上の一部に
それぞれ電極を形成した構造になっている。
LEDにおいては、基板(101)はアルミナ単結晶
(サファイア)からなる。下部クラッド層(102)
は、n形のGaN層からなり、基板(101)と発光層
(103)との間の緩衝層の役割を兼ねている。発光層
(103)は、珪素(Si)と、亜鉛(Zn)またはマ
グネシウム(Mg)が添加されたn形のGaInN層か
らなる。上部クラッド層(104)は、マグネシウムを
添加したp形の窒化アルミニウム・ガリウム(AlGa
N)からなる。上述の下部クラッド層(102)、発光
層(103)、上部クラッド層(104)によりダブル
ヘテロ接合が形成されている。また、n形の発光層(1
03)とp形の上部クラッド層(104)によりpn接
合が形成されている。そしてこの下部クラッド層(10
2)、発光層(103)、上部クラッド層(104)に
より発光部が構成されている。
発光部からの発光を吸収しない程度にバンドギャップ
(禁止帯幅)が小さい半導体材料からなるのが通例であ
る。また、コンタクト層(105)の伝導型は、その直
下に存在する層、例えば図2に示すダブルヘテロ構造の
LEDにあっては上部クラッド層(104)を構成する
半導体層の伝導型と同一とするのが常である。n形のG
aInN層を発光層とする図2に示す従来のLEDにあ
っては、上部クラッド層(104)がp形層であること
から、コンタクト層(105)はp形のGaNから構成
されるのが通例である。
および、下部クラッド層(102)上の一部にそれぞれ
形成されている。従来の発光ダイオードにおいては、発
光層からの光は発光層に対して基板(101)と反対側
の表面から取り出される。従って図2に例示したLED
では、コンタクト層(105)上の一部に形成された第
1の電極(106)が発光の取り出し方向に配置された
電極となる。第2の電極(107)は、下部クラッド層
(102)上に形成される。これは、基板(101)が
絶縁性であるためである。基板が導電性を有する場合
は、第2の電極は基板(101)に被着して形成するの
が一般的である。
導体との接合において、良好なオーム接触を得る目的で
形成される。また該コンタクト層が低抵抗であれば、発
光を得るための動作電流の広範囲への拡散が促進され、
発光面積の拡張がもたらされ得る。しかし、上述した従
来の発光ダイオードでは、コンタクト層として用いられ
るp形GaN層のキャリア濃度は一般に高くても概ね1
017cm-3程度であった。これは以下の理由による。す
なわち、GaNは室温において、III −V族化合物半導
体にあっては比較的大きな約3.4eVのバンドギャッ
プを有する。しかも、気相成長方法により得られるGa
Nは、通常高濃度の窒素の空孔(vacancy)等の
欠陥の存在により、1018〜1019cm-3の高いキャリ
ア濃度を有するn形層となる。n形キャリアとして作用
するこの高濃度の空孔の存在のために、それを電気的に
補償して、動作電流を発光領域へと拡散させるに充分に
足る低抵抗のp形GaN層を形成するのは現状では困難
であった。
は、コンタクト層としてはやはり1018cm-3程度或い
はそれを越えるキャリア濃度の低抵抗層が望ましい。前
記の様な比較的高い抵抗のp形GaN層をコンタクト層
とした場合には、その表面上に直接被着された電極から
供給される動作電流は、コンタクト層内の広い領域に亘
って流通させることができない。このため、動作電流を
発光領域へ充分に拡散させるには至らない。このこと
が、低キャリア濃度のp形のGaNコンタクト層の表面
上に電極が直接被着された従来の構造からなるLEDに
あって、発光面積を拡張することによって発光強度に優
れるLEDを得るにあたっての障害となっていた。
り広範囲な領域に拡散させることはLEDにあって発光
面積の拡張を果たすために是非とも必要である。そのた
め、発光の取り出し面例えば図2に示した従来のLED
にあってはp形GaNコンタクト層表面上に、半導体材
料に比較すれば遥かに抵抗が小さい金属材料からなる透
光性の被膜を導電性薄膜電極として被着したLEDが提
示されている(特開平6−338632)。
て、動作電流の発光部の広範囲に亘る拡散を果たすこと
を意図しているものである。この導電性薄膜電極を例え
ば発光部のほぼ全域に相当するコンタクト層の表面上の
領域に敷設すれば、発光を呈する面積の拡大がもたらさ
れる利点がある。p形GaNコンタクト層の表面上に直
接、透光性の導電性薄膜電極を設けた構成からなるV族
元素として窒素を含有するIII −V族化合物半導体を発
光層とするLEDの従来例を図3に掲示する。図3に示
すLEDにおいて、コンタクト層(105)上の透光性
の導電性薄膜電極(109)及びその上の台座電極(1
10)以外の構造は図2に示したLEDと同じである。
この導電性薄膜電極(109)は発光の取り出し面上に
形成されるため、発光に対して透過性を確保するため膜
厚を厚くすることはできず、約100nm程度の薄膜か
ら構成されている。透光性の導電性薄膜電極(109)
は金(Au)及びニッケル(Ni)から構成される例が
ある。これらの導電性薄膜電極(109)はその一部が
台座電極(110)と電気的に導通している。
光性の導電性薄膜電極を備えた従来のLEDにあって
は、導電性薄膜電極が直下に存在する層を構成する半導
体材料に比較すれば低抵抗である金属材料より構成され
ているが故に、動作電流は台座電極から導電性薄膜電極
を経由して導電性薄膜電極が被着されている領域のほぼ
全域に行き渡るようになる。とはいえ、台座電極から発
光層に直接注入される動作電流による発光は、台座電極
によって遮られて外部への光の取り出しには寄与しな
い。発光部の広い領域に亘り動作電流の拡散を促すに
は、台座電極から発光部への直接的な動作電流の流入を
防止する措置を施す必要があった。本発明では、この課
題を解決する手段を提供する。
基板と、該基板上に形成されたV族元素として窒素を含
有するIII −V族化合物半導体からなる発光層を含む発
光部と、発光部上の基板と反対側の表面上に配置された
第1の電極と、該電極に対して発光層を挟んで反対側に
存する基板もしくは半導体層上に配置された第2の電極
とを具備し、発光部上の基板と反対側の表面から光を取
り出す半導体発光素子に於いて、発光部上の基板と反対
側の表面上に配置された第1の電極は、回路基板等への
実装或いは結線に供される台座電極と該台座電極に導通
する導電性薄膜電極からなり、該導電性薄膜電極は発光
部から放出される光に対して透過性を有し、かつ前記台
座電極と発光部の間には電流阻止層が存し、該台座電極
は該電流阻止層上に配置されており、該電流阻止層は半
導体発光素子をなす半導体からなる積層構造の最上部に
形成されており、かつ該電流阻止層は比抵抗が1Ω・c
m以上の高抵抗の層あるいは発光部を構成する最上層の
半導体層とは異なる導電型を有する半導体層からなるこ
とを特徴とする。
し方向に配置する第1の電極は、回路基板等への実装或
いは結線に供される台座電極と、該台座電極と電気的に
導通させた導電性薄膜電極とから構成する。更に本発明
では、発光の取り出し方向に配置する第1の電極のうち
の台座電極は、コンタクト層上に直接被着するのではな
く、コンタクト層上の少なくとも一部の領域に形成され
た、比抵抗が1Ω・cm以上の高抵抗の層或いは発光部
を構成する最上層の半導体層とは異なる導電型を有する
半導体層からなる電流阻止層上に配置する。これは、当
該台座電極から発光部へ動作電流が短絡的に流入するの
を防止するためである。この結果、動作電流は第1の電
極のうちの台座電極からは短絡的に発光部へ流入せず、
主に導電性薄膜電極を介して発光部へ均等に流入するよ
うになる。
電性薄膜電極を台座電極の上表面或いは下表面に接触さ
せれば確保できる。しかし、回路基板等への実装或いは
結線に供される台座電極は発光を透過させる必要がある
導電性薄膜電極に比べれば一般には厚い。このため、導
電性薄膜電極を台座電極の上表面上に接触する様に敷設
すると、台座電極の厚さに相当する段差が少なくとも存
在するため、この段差により導電性薄膜電極に不連続性
が生ずる不具合が発生する。従って、導電性薄膜電極は
電流阻止層と台座電極との中間に挿入して、台座電極と
の電気的な接触を保持するのが好ましい。この配置によ
り、台座電極と電気的に導通し、且つ連続性が確保され
た導電性薄膜電極を形成することができる。これによ
り、電流阻止層によって台座電極から発光部への流通が
妨げられた動作電流を、導電性薄膜電極を介して、光を
取り出す表面に沿って有効に導通させられる。台座電極
はアルミニウム(Al)、マグネシウム(Mg)や金
(Au)などの従来からある金属材料から構成すれば良
い(「ジャーナル オブ フィジクスアンド ケミスト
リ オブ ソリッド(J.Phys.Chem.Sol
ids)」、第29巻(1968)、1255〜126
7頁)。台座電極と接触している領域以外にある導電性
薄膜電極は発光層からの光を取り出す表面のコンタクト
層に接触させる。
高抵抗の層あるいは発光部を構成する最上層の半導体層
とは異なる導電型を有する半導体層から構成する。比抵
抗が1Ω・cm以上の高抵抗の電流阻止層には、元素周
期律表の第II族に属するマグネシウムや亜鉛等が適量ド
ーピングされ、ドナー成分を電気的に補償した高抵抗の
GaN、AlNやAlGaN等のV族元素として窒素を
含有するIII −V族化合物半導体層が利用できる。電流
阻止層は上記のV族元素として窒素を含有するIII −V
族化合物半導体から構成する必要は必ずしもなく、例え
ばヒ化ガリウム(GaAs)やヒ化アルミニウム・ガリ
ウム(AlGaAs)等から構成しても差し支えはな
い。酸化珪素膜や窒化珪素膜等の絶縁膜を利用すること
もできる。電流阻止層として要求される主たる電気的性
質は抵抗率であって、それが大きい程好ましい。電流阻
止層となる高抵抗層は、電流阻止層が積層される電流阻
止層の直下の層の比抵抗に比較して、少なくとも約1桁
以上高い比抵抗を有することが好ましく、具体的にはそ
の比抵抗を約1Ω・cmから102 Ω・cm以上とする
のが望ましい。電流阻止層を比抵抗が1Ω・cm未満で
約0.1Ω・cm程度である半導体層から構成した場
合、台座電極から発光部への動作電流の短絡的な流通を
阻止するに充分な効果は必ずしも得られない。
は伝導形を異にする半導体から構成してもよい。発光部
を構成する最上層とは、例えばダブルヘテロ接合型LE
Dにあっては上部クラッド層であり、ホモ接合型或いは
下部クラッド層のみを備えたシングルヘテロ接合型LE
Dにあっては、発光層そのものとなる。従って、例えば
ダブルヘテロ接合型LEDの場合、上部クラッド層がn
形であれば、上部クラッド層上のコンタククト層上に
は、p形の伝導形を呈する半導体からなる電流阻止層を
設ける。コンタクト層を発光部を構成する最上層の表面
上に設ける場合、コンタクト層の伝導型はその最上層の
伝導型と同一とするのが常である。例えば、上部クラッ
ド層とコンタクト層とを備えたLEDにあって、コンタ
クト層の伝導型はn形の上部クラッド層についてはn
形、逆にp形の上部クラッド層についてはp形となる。
従って、LED用途の積層構造にあって、発光部の最上
層より発光の取り出し方向の上部に存在する半導体層の
伝導形は、発光部の最上層の伝導形と同一とするのが通
例であって、これより、光の取り出し方向に在る電極を
設けるための電流阻止層の伝導形は発光部を構成する最
上層の伝導形をもって規定することができる。電流阻止
層と発光部の最上層との伝導形を異にするのは、電流阻
止層と電流阻止層が積層される電流阻止層の直下の層と
の間でpn接合を形成して、動作電流の発光部への直接
的で短絡的な漏洩を防止するためである。
層或いはpn接合をもたらす半導体層からなる電流阻止
層の好ましい膜厚の範囲は、概ね、50nm以上で10
00nm以下の範囲である。50nm以下の膜厚では高
電界の印加時に動作電流が通過し易い。電流阻止層を1
000nmを越える膜厚とすると、電流阻止層の側面で
電極に不連続を生じる可能性があるなどの問題を生ずる
おそれがあるため好ましくはない。望ましい膜厚は10
0〜200nmの範囲である。なお、コンタクト層がな
くても電極と半導体の良好なオーム接触を得られる場
合、上述した本発明に係わる半導体発光素子においては
コンタクト層を省略しても良い。その場合、上述の電流
阻止層は発光部の最上層上に形成する。また、発光部上
に半導体多重膜反射層等の機能層を積層する構造のLE
Dにおいては、該機能層上に本発明における電流阻止層
を形成することも可能である。
阻止層は、半導体発光素子をなす半導体からなる積層構
造の内部に設けるのではなく半導体からなる積層構造の
最上部に設けることを特徴とする。これは電流阻止層を
半導体からなる積層構造の内部に設けるようにした場
合、以下に述べるような問題が生じるためである。すな
わち電流阻止層を半導体からなる積層構造の内部に設け
るためには、半導体層の積層の途中で積層のプロセスを
一度中断し、電流阻止層を形成するための半導体の積層
とは別個のプロセスを経た後、再度半導体の積層を行う
必要がある。そのため、半導体の積層のプロセスが複雑
になる、或いは半導体の積層プロセスの中断のために積
層する半導体層の品質が低下するといった問題が生じ
る。本発明においては、電流阻止層を半導体からなる積
層構造の最上部に設けることにより、上記の問題の発生
を防止することができる。
層が占有する領域の表面積を台座電極の表面積(S)に
対し、0.7×S以上で2.45×S以下とすると、台
座電極から発光部への動作電流の漏洩が低減され、且つ
動作電流のより広範囲に亘る拡散を果たすに特に効果が
あることが見い出した。電流阻止層の表面積が台座電極
の表面積(S)に対し、0.7×Sで与えられる値未満
である場合、漏洩電流の流通を抑制する電流阻止層の表
面積は台座電極が占める表面積より著しく小さくなる。
従って、台座電極の下方のこの様な電流阻止層が欠損し
た領域の割合が増加し短絡的に発光部へと流入する動作
電流が増加するため好ましくない。台座電極から発光部
へと短絡的に流通する動作電流によっても一応の発光は
得られるが、台座電極直下からの発光は、透光性の導電
性薄膜電極に比較すれば膜厚を大とする台座電極に遮光
されるためLEDの発光強度を顕著に増大させるには然
したる寄与を示さない。また、台座電極の占有する領域
に対して電流形成層が占有する表面積が小となると、漏
れ電流の発生のために、導電性薄膜電極を経由して発光
の取り出し面に沿って横方向に流れる電流が減少し、導
電性薄膜電極を設けて発光面積を拡張する施策を施して
も導電性薄膜電極に流入する動作電流の割合の低下を招
き、発光強度の増大には不都合となる。
数値を越える電流阻止層上に台座電極を設けると、台座
電極より電流阻止層の表面積が大となるため、動作電流
の発光部への短絡的な流通を回避するには充分となる。
しかし、逆に表面積の大きな電流阻止層を配置すれば、
この電流阻止層の直下の領域には動作電流が流入し難い
ため、動作電流が流入し得る発光部の面積がそもそも減
少し、発光面積を拡張するに充分な効果が得られない。
即ち、電流阻止層の表面積の上限を2.45×Sと規定
する主たる理由は、電流阻止層の表面積の増大に伴い動
作電流が流通し得る発光部の領域が縮小し、発光面積が
拡張された発光強度に優れる発光素子を得るに効率的と
はならないからである。
極と前記の電流阻止層とが平面形状に於いて略相似形を
なすように構成すると、動作電流の台座電極から発光部
への短絡的な漏洩を低減するのに特に有効である。電流
阻止層の平面形状がその上方に敷設する台座電極の平面
形状と著しく異なる場合、台座電極の下方には電流阻止
層が存在しない領域ができる。電流阻止層が存在しない
領域に被着された台座電極からは動作電流が発光部へ直
接流れ込む。即ち、発光領域への短絡的で局所的な動作
電流の流入が起こる。よって、電流阻止層と同層の上方
に設ける台座電極とは略相似形とし、形状の顕著な差異
に基づき台座電極が電流阻止層から”はみ出す”領域を
減少させることが、動作電流の台座電極から発光部への
短絡的な漏洩を低減するために有効に働く。
薄膜電極は発光部から放出される発光に対して透過性を
有するものとする。本発明の半導体発光素子の発光部か
らの光は、該導電性薄膜電極を透過して外部に放出され
る。よって、導電性薄膜電極は発光に対し透過性を有す
る必要がある。本発明に係わる透光性の導電性薄膜電極
は、Al、MgやAuなどの金属材料から構成する場合
にあっては、その金属膜の膜厚を単純に薄くすれば、透
光性が増大し、透光性の導電性薄膜電極と成すことがで
きる。導電性薄膜電極を構成する金属膜の最適な厚さは
発光波長により変化するが、発光波長を400〜500
nmとするGaN系LEDにあっては概ね、100nm
程度を最大の膜厚とする。また、導電性薄膜電極はイン
ジウム・錫酸化膜(略称ITO)等の透明である無機材
質から構成することもできる。ITOの様な、元来透明
な材料から透光性電極を構成する場合にあっては、その
膜厚を敢えて金属材料からなる薄膜を採用する際の様に
100nm程度に抑制する必要は勿論ない。また、導電
性薄膜電極は窒化チタン(TiN)、窒化アルミニウム
チタン(TiAlN)等の高融点金属元素を含む窒素化
合物材料から構成してもよい。特に、これらの窒素化合
物材料はLEDの積層構造を構成するGaN等と同類の
窒化物であり好都合である。導電性薄膜電極と台座電極
とは同一の材料から構成しても構わない。また、導電性
薄膜電極を例えばチタン(Ti)とし、台座電極をアル
ミニウム(Al)とするように、導電性薄膜電極と台座
電極とを異なる材料から構成することも可能である。導
電性薄膜電極は台座電極共々、多層構造としても差し支
えない。多層構造からなる導電性薄膜電極の場合、各層
の膜厚を合計した膜厚は発光の透過率の極端な低下を防
止するためやはり最大100nm程度とする。上に例示
した電極材料は通常の真空蒸着法やスパッタリング法等
の公知の薄膜形成技術を利用して被着させることができ
る。
性薄膜電極は発光部からの発光の取り出し面の略全面に
設けられているように構成すると、発光面積を拡大する
のに有効である。すなわち、導電性薄膜電極の面積に比
例して動作電流が拡散される領域の拡張が果たせるた
め、導電性薄膜電極を発光の取り出し面の略全面に設け
るのが最良であって、電界が発光部のほぼ全域に充分に
波及する様に形成されているのが好ましい。
の漏洩を防止する。導電性薄膜電極は、動作電流を発光
部の広範囲に亘り拡散させ、発光に寄与する動作電流の
有効成分の割合を増ずる作用を有する。また、導電性薄
膜電極は発光部から放出される光に対して透過性を有す
るようにすることにより、発光部からの光を外部に有効
に取り出せるようになる。これらの作用により、発光面
積が拡大された半導体発光素子を得ることができるよう
になる。また、電流阻止層の占有する領域の表面積を、
台座電極の表面積(S)に対し0.7×S以上で2.4
5×S以下とすることにより、発光に寄与する動作電流
の有効成分の割合を増し、かつ電流阻止層の形成によっ
て減ずる発光部の有効面積を最小限にすることができ
る。さらに、台座電極を電流阻止層と平面形状に於いて
略相似形をなすようにすることにより、動作電流の漏洩
を低減することが出来る。また、導電性薄膜電極を発光
部からの発光の取り出し面の略全面に設けることによ
り、動作電流の拡散する発光部の領域の面積を拡張させ
ることが出来る。
に本発明の実施例に係わるLEDの平面模式図を示す。
図1には、図4に示す破線A−A’に沿った断面模式図
を示す。
素子をなす積層構造は、面方位を{0001}(C面)
とするサファイア(アルミナ単結晶)からなる基板(1
01)上に構成した。V族元素として窒素を含有するII
I −V族化合物半導体からなる各層はトリメチルガリウ
ム((CH3 )3 Ga)をガリウム(Ga)源とし、ア
ンモニア(NH3 )を窒素(N)源とする通常の常圧方
式の有機金属熱分解気相成長(MOCVD)法で成長さ
せた。このMOCVD成長系により650℃〜1080
℃の成長温度範囲に於いて、基板(101)上に第1か
ら第4のV族元素として窒素を含有するIII −V族化合
物半導体層(102)〜(105)と第5の層とした電
流阻止層(108)とを含めて合計5層のV族元素とし
て窒素を含有するIII −V族化合物半導体層を順次積層
した。
厚を約2μmとするキャリア濃度が約1×1018cm-3
のn形GaNからなる下部クラッド層(102)であ
る。第2の層は下部クラッド層(102)上に堆積され
た亜鉛(Zn)を再結合中心としてドーピングしたキャ
リア濃度を約6×1017cm-3とするn形のIn0. 05G
a0.95Nからなる発光層(103)である。発光層(1
03)の成長温度は890℃とし、また、膜厚は約10
0nmとした。発光層(103)上には、第3の層とし
て成長温度1080℃でマグネシウム(Mg)をドーピ
ングしたキャリア濃度を約6×1016cm-3とした膜厚
約100nmのp形のAl0.05Ga0.95N混晶からなる
上部クラッド層(104)を設けた。上記の下部クラッ
ド層(102)、発光層(103)、上部クラッド層
(104)でLEDの発光部を構成した。上部クラッド
層(104)の上には、成長温度を約1000℃として
マグネシウムを添加した膜厚を約200nmのp形のG
aNからなるコンタクト層(105)を第4の層として
設けた。コンタクト層(105)はキャリア濃度は約1
×1017cm-3であって、比抵抗にすれば約10Ω・c
mであった。
5)上には、成長温度を650℃として、第5の電流阻
止層(108)に用いる高抵抗のGaN層を形成した。
この高抵抗のGaN層の膜厚は約50nmであり、比抵
抗は約103 Ω・cmであった。本実施例に於ける電流
阻止層(108)に用いる高抵抗のGaN層の比抵抗
は、それを堆積したコンタクト層(105)の比抵抗に
比較し約2桁高い値になっている。
に依るパターニング技術を利用して、選択された領域に
限りGaNからなる下部クラッド層(102)の表面が
露呈するに至る迄、エッチングを進めた。露呈した下部
クラッド層(102)の表面上には、後に通常の真空蒸
着法等のプロセス手法により金(Au)を被着し、電極
(107)を形成した。
のフォトリソグラフィー技術を駆使して、後に発光の取
り出し方向に設ける台座電極(110)を配置する領域
をパターニングした。パターニングを施したのは平面形
状を長方形とする、表面積が1.45×10-4cm2 の
領域である。パターニングした領域は、台座電極(11
0)と相似である長方形とした。この表面積は台座電極
(110)の表面積である1.20×10-4cm2 の
1.21倍に相当した。このパターニングされた領域に
限り高抵抗のGaN層を残存させながら、それ以外の領
域に在る高抵抗のGaN層はエッチングにより除去し
た。これにより、残存する高抵抗のGaN層は台座電極
(110)を配置する予定の領域のみとなり、この残存
させた高抵抗のGaN層は電流阻止層(108)として
利用した。
電流阻止層(108)を残存させた積層構造の表面にア
ルミニウム(Al)からなる薄膜を通常の真空蒸着法に
より被着した。公知のパターニング技術及びリフトオフ
技術により、このアルミニウム薄膜を発光層(103)
のほぼ全域に相当するp形GaNコンタクト層(10
5)上に残存させ、透光性の導電性薄膜電極(109)
とした。この透光性の導電性薄膜電極(109)の膜厚
は約80nmとした。同時に電流阻止層(108)の表
面及び側壁周囲も上記の導電性薄膜電極(109)で被
覆した。然る後に、再びアルミニウムを真空蒸着し、リ
フトオフ工程等を経て、発光の取り出し方向に配置する
台座電極(110)を形成した。台座電極(110)は
図1に示す断面模式図から明かな様に、電流阻止層(1
08)上に導電性薄膜電極(109)を介在して敷設さ
れており、導電性薄膜電極(109)とは電気的に導通
している。台座電極(110)の膜厚は約1300nm
とした。
実施例に係わる半導体発光素子に、20mAの動作電流
を流通した場合に得られる特性を表1に纏める。同表に
は比較のため、本発明に係わる電流阻止層を備えていな
いが本実施例とは同様の半導体積層構成からなるLED
の特性を従来例として示してある。本発明及び従来例共
に、LEDからの発光の中心の発光波長は450nmで
あり、両者に差異は認められない。これは、本実施例に
係わるLEDに於いても、従来例と同じく発光が再結合
中心である亜鉛によっているからである。発光スペクト
ルの半値幅を比較すれば、双方共に65nm(本実施
例)から72nm(従来例)の範囲であり、極端な差異
は認められない。一方発光の強度は、本発明では1.2
mWであるのに対し、従来例では0.94mWであり、
本発明により約1.28倍の向上が果たされている。こ
れは本発明に係わる電流阻止層を設けることにより、台
座電極から発光層への短絡的に流入する動作電流成分が
減少され、動作電流のほとんどが導電性薄膜電極を介し
て発光部のほぼ全域に拡散された結果、発光面積が拡張
されたことによるものである。
電流の発光部への拡散が助長され発光強度を増大させる
効果が得られる。本発明は、金属等からなる透光性の導
電性薄膜電極を用いて動作電流の発光部への拡散を図る
半導体発光素子において有効に働く。本発明は、上述し
てきたような半導体層によっては動作電流の発光部への
十分な拡散が図れないV族元素として窒素を含有するII
I −V族化合物半導体からなる半導体発光素子において
特に有効であるが、他のIII −V族化合物半導体からな
る半導体発光素子においても同様に用いることができ
る。あるいはV族元素として窒素を含有するIII −V族
化合物半導体と他のIII −V族化合物半導体とを組み合
わせてなる半導体発光素子においても用いることが出来
る。特にV族元素として窒素を含有するIII −V族化合
物半導体からなる発光層を有する青ないし青緑色等の発
光をなすLEDにおいて本発明を用いると、従来のLE
Dに比較して発光強度の優れたLEDを得ることが出来
る。
ある。
族化合物半導体からなるLEDの断面模式図である。
EDの一構造例を示す断面模式図である。
面模式図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 基板と、該基板上に形成されたV族元素
として窒素を含有するIII −V族化合物半導体からなる
発光層を含む発光部と、発光部上の基板と反対側の表面
上に配置された第1の電極と、該電極に対して発光層を
挟んで反対側に存する基板もしくは半導体層上に配置さ
れた第2の電極とを具備し、発光部上の基板と反対側の
表面から光を取り出す半導体発光素子に於いて、 発光部上の基板と反対側の表面上に配置された第1の電
極は、回路基板等への実装或いは結線に供される台座電
極と該台座電極に導通する導電性薄膜電極からなり、該
導電性薄膜電極は発光部から放出される光に対して透過
性を有し、かつ前記台座電極と発光部の間には電流阻止
層が存し、該台座電極は該電流阻止層上に配置されてお
り、該電流阻止層は半導体発光素子をなす半導体からな
る積層構造の最上部に形成されており、かつ該電流阻止
層は比抵抗が1Ω・cm以上の高抵抗の層あるいは発光
部を構成する最上層の半導体層とは異なる導電型を有す
る半導体層からなることを特徴とする半導体発光素子。 - 【請求項2】 前記の電流阻止層は、その占有する領域
の表面積が前記の台座電極の表面積(S)に対し0.7
×S以上で2.45×S以下であることを特徴とする請
求項1に記載の半導体発光素子。 - 【請求項3】 台座電極は、電流阻止層と平面形状に於
いて略相似形をなすことを特徴とする請求項2に記載の
半導体発光素子。 - 【請求項4】 導電性薄膜電極は、発光部からの光の取
り出し面の略全面に設けられていることを特徴とする請
求項1乃至3に記載の半導体発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28069295A JP3675003B2 (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 半導体発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28069295A JP3675003B2 (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 半導体発光素子 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004035044A Division JP2004140416A (ja) | 2004-02-12 | 2004-02-12 | 半導体発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09129921A true JPH09129921A (ja) | 1997-05-16 |
JP3675003B2 JP3675003B2 (ja) | 2005-07-27 |
Family
ID=17628621
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28069295A Expired - Fee Related JP3675003B2 (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 半導体発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3675003B2 (ja) |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11145512A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-05-28 | Sharp Corp | 半導体発光素子 |
US6281524B1 (en) | 1997-02-21 | 2001-08-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device |
WO2002021605A1 (en) * | 2000-09-04 | 2002-03-14 | Epivalley Co., Ltd. | The semiconductor led device and producing method |
WO2002056393A1 (fr) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Element semi-conducteur compose a base de nitrure du groupe iii des elements |
US6800501B2 (en) | 1997-05-08 | 2004-10-05 | Showa Denko K.K. | Electrode for light-emitting semiconductor devices and method of producing the electrode |
JP2006032952A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Shogen Koden Kofun Yugenkoshi | 透明性導電層を含む全方向性リフレクタを有する発光ダイオード |
EP1953838A2 (en) | 2007-02-01 | 2008-08-06 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
JP2008192710A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
WO2010024375A1 (ja) | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体発光素子及び半導体発光装置 |
US20100059765A1 (en) * | 2008-09-09 | 2010-03-11 | Bridgelux, Inc. | Light-Emitting Device With Improved Electrode Structures |
JP2010529658A (ja) * | 2007-05-30 | 2010-08-26 | バーティクル,インク | 発光ダイオードおよびその製造方法 |
WO2010100900A1 (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-10 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
WO2010100949A1 (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-10 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
KR101054169B1 (ko) * | 2011-02-22 | 2011-08-03 | (주)더리즈 | 질화갈륨계 반도체 발광소자 |
KR101054112B1 (ko) * | 2011-01-24 | 2011-08-03 | (주)더리즈 | 반도체 발광소자 및 그의 제조방법 |
WO2012020901A1 (en) * | 2010-08-12 | 2012-02-16 | Seoul Opto Device Co., Ltd. | Light emitting diode with improved light extraction efficiency |
KR101337612B1 (ko) * | 2012-03-08 | 2013-12-06 | 서울바이오시스 주식회사 | 개선된 광 추출 효율을 갖는 발광 다이오드 |
JP2013258208A (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-26 | Toshiba Corp | 半導体発光素子 |
CN103594595A (zh) * | 2009-05-27 | 2014-02-19 | 东芝技术中心有限公司 | 具有改进电极构造的发光设备 |
CN103682022A (zh) * | 2013-12-05 | 2014-03-26 | 上海蓝光科技有限公司 | Led器件结构 |
JP2014131074A (ja) * | 2006-05-19 | 2014-07-10 | Bridgelux Inc | Led用低光学損失電極構造体 |
JP2015029150A (ja) * | 2014-10-29 | 2015-02-12 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
-
1995
- 1995-10-27 JP JP28069295A patent/JP3675003B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6281524B1 (en) | 1997-02-21 | 2001-08-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device |
US6404792B2 (en) | 1997-02-21 | 2002-06-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device |
US6800501B2 (en) | 1997-05-08 | 2004-10-05 | Showa Denko K.K. | Electrode for light-emitting semiconductor devices and method of producing the electrode |
US7057210B2 (en) | 1997-05-08 | 2006-06-06 | Showa Denko K.K. | Electrode for light-emitting semiconductor devices and method of producing the electrode |
JPH11145512A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-05-28 | Sharp Corp | 半導体発光素子 |
WO2002021605A1 (en) * | 2000-09-04 | 2002-03-14 | Epivalley Co., Ltd. | The semiconductor led device and producing method |
US7053417B2 (en) | 2000-09-04 | 2006-05-30 | Epivalley Co., Ltd. | Semiconductor led device and producing method |
US7312472B2 (en) | 2001-01-15 | 2007-12-25 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Compound semiconductor element based on Group III element nitride |
WO2002056393A1 (fr) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Element semi-conducteur compose a base de nitrure du groupe iii des elements |
JP2006032952A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Shogen Koden Kofun Yugenkoshi | 透明性導電層を含む全方向性リフレクタを有する発光ダイオード |
US10741726B2 (en) | 2006-05-19 | 2020-08-11 | Bridgelux Inc. | LEDs with efficient electrode structures |
JP2014131074A (ja) * | 2006-05-19 | 2014-07-10 | Bridgelux Inc | Led用低光学損失電極構造体 |
US9099613B2 (en) | 2006-05-19 | 2015-08-04 | Bridgelux, Inc. | LEDs with efficient electrode structures |
US9105815B2 (en) | 2006-05-19 | 2015-08-11 | Bridgelux, Inc. | LEDs with efficient electrode structures |
US10199543B2 (en) | 2006-05-19 | 2019-02-05 | Bridgelux, Inc. | LEDs with efficient electrode structures |
USRE49298E1 (en) | 2007-02-01 | 2022-11-15 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
EP4068398A1 (en) | 2007-02-01 | 2022-10-05 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
EP3454383A1 (en) | 2007-02-01 | 2019-03-13 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
EP1953838A2 (en) | 2007-02-01 | 2008-08-06 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
US7982236B2 (en) | 2007-02-01 | 2011-07-19 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
EP3258506A1 (en) | 2007-02-01 | 2017-12-20 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
USRE49406E1 (en) | 2007-02-01 | 2023-01-31 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
KR101332053B1 (ko) * | 2007-02-01 | 2013-11-22 | 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 | 반도체 발광 소자 |
US8120057B2 (en) | 2007-02-01 | 2012-02-21 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element |
JP2008192710A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
JP2010529658A (ja) * | 2007-05-30 | 2010-08-26 | バーティクル,インク | 発光ダイオードおよびその製造方法 |
WO2010024375A1 (ja) | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体発光素子及び半導体発光装置 |
US8461617B2 (en) | 2008-08-29 | 2013-06-11 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting element and semiconductor light emitting device |
US9324915B2 (en) | 2008-09-09 | 2016-04-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light-emitting device with improved electrode structures |
US20100059765A1 (en) * | 2008-09-09 | 2010-03-11 | Bridgelux, Inc. | Light-Emitting Device With Improved Electrode Structures |
JP2010067963A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Bridgelux Inc | 向上した電極構造を有する発光素子 |
US8637891B2 (en) | 2008-09-09 | 2014-01-28 | Toshiba Techno Center Inc. | Light-emitting device with improved electrode structures |
US20140117404A1 (en) * | 2008-09-09 | 2014-05-01 | Toshiba Techno Center Inc. | Light-emitting device with improved electrode structures |
WO2010100900A1 (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-10 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
JP2010232642A (ja) * | 2009-03-02 | 2010-10-14 | Showa Denko Kk | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
WO2010100949A1 (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-10 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
JP2010232649A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-10-14 | Showa Denko Kk | Iii族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプ |
US8502254B2 (en) | 2009-03-06 | 2013-08-06 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Group III nitride semiconductor light-emitting device and method of manufacturing the same, and lamp |
CN103594595A (zh) * | 2009-05-27 | 2014-02-19 | 东芝技术中心有限公司 | 具有改进电极构造的发光设备 |
WO2012020901A1 (en) * | 2010-08-12 | 2012-02-16 | Seoul Opto Device Co., Ltd. | Light emitting diode with improved light extraction efficiency |
US9755106B2 (en) | 2010-08-12 | 2017-09-05 | Seoul Viosys Co., Ltd. | Light emitting diode with improved light extraction efficiency |
US9030090B2 (en) | 2010-08-12 | 2015-05-12 | Seoul Viosys Co., Ltd. | Light emitting diode with improved light extraction efficiency |
KR101054112B1 (ko) * | 2011-01-24 | 2011-08-03 | (주)더리즈 | 반도체 발광소자 및 그의 제조방법 |
KR101054169B1 (ko) * | 2011-02-22 | 2011-08-03 | (주)더리즈 | 질화갈륨계 반도체 발광소자 |
KR101337612B1 (ko) * | 2012-03-08 | 2013-12-06 | 서울바이오시스 주식회사 | 개선된 광 추출 효율을 갖는 발광 다이오드 |
JP2013258208A (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-26 | Toshiba Corp | 半導体発光素子 |
CN103682022A (zh) * | 2013-12-05 | 2014-03-26 | 上海蓝光科技有限公司 | Led器件结构 |
JP2015029150A (ja) * | 2014-10-29 | 2015-02-12 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3675003B2 (ja) | 2005-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3675003B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
US6586773B2 (en) | Semiconductor light-emitting device | |
US7737451B2 (en) | High efficiency LED with tunnel junction layer | |
US9825088B2 (en) | Light-emitting device and manufacturing method thereof | |
CN102017143B (zh) | 辐射发射半导体芯片 | |
CN1846310B (zh) | 氮化物半导体元件及其制造方法 | |
US20050269588A1 (en) | Flip chip type nitride semiconductor light-emitting diode | |
US20140183590A1 (en) | Nitride semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same | |
JP3989658B2 (ja) | 半導体発光ダイオード | |
JPH10256601A (ja) | 発光素子 | |
JPH1012921A (ja) | 発光半導体素子 | |
JP2001077414A (ja) | Iii族窒化物半導体発光素子 | |
JP2001053338A (ja) | Iii族窒化物半導体発光素子 | |
JP4313478B2 (ja) | AlGaInP発光ダイオード | |
JP2004140416A (ja) | 半導体発光素子 | |
JP2012253074A (ja) | 窒化物系発光ダイオード素子 | |
JP3633018B2 (ja) | 半導体発光装置 | |
JPH09326508A (ja) | 半導体光素子 | |
KR100631970B1 (ko) | 플립칩용 질화물 반도체 발광소자 | |
JP2001144330A (ja) | 半導体発光ダイオード | |
JP4050435B2 (ja) | AlGaInP系発光ダイオード | |
JP2001168395A (ja) | Iii−v族化合物半導体発光ダイオード | |
JP3777869B2 (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 | |
JP2002185037A (ja) | 発光装置 | |
JP4376361B2 (ja) | AlGaInP発光ダイオード |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040727 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040908 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050412 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050425 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080513 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513 Year of fee payment: 9 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513 Year of fee payment: 9 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513 Year of fee payment: 9 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |