JPH09129771A - ダミーボールを用いたbga半導体パッケージ及びその補修方法 - Google Patents
ダミーボールを用いたbga半導体パッケージ及びその補修方法Info
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Abstract
き補修を行い得るダミーボールを用いたBGA半導体パ
ッケージ及びその補修方法を提供しようとするものであ
る。 【解決手段】半導体基板の成形体露出部位に複数のダミ
ー導電性ボール及びアクチーブ導電性ボールを夫々形成
し、それらダミー導電性ボール及びアクチーブ導電性ボ
ールに対応する印刷基板上に夫々ダミー導電性ボールパ
ッド及びアクチーブ導電性ボールパッドを形成して、そ
れら半導体基板と印刷回路基板との電気的連結時に不良
が発生すると、該ダミー導電性ボールにより不良なアク
チーブ導電性ボールを補修し得るダミーボールを用いた
半導体パッケージ及びその補修方法が提供されている。
Description
mmy ball)を用いたボールグリッドアレイ(ball grid
arrays 以下、BGAと略称す)半導体パッケージ及
びその補修方法に係るもので、詳しくは、ソルダージョ
イント部位に不良が発生したとき、局部的に補修を行い
得るダミーボールを用いたBGA半導体パッケージ及び
その補修方法に関するものである。
は、図4に示したように、基板1の両方側上下両面に所
定大きさのレジストフィルム9が夫々接着され、それら
レシズトフィルム9間に貫通ホール8が夫々形成され、
それら貫通ホール8内部に上部5a及び下部5bを有す
る導体パターン5が夫々収納され、前記基板1***部
位に半導体チップ3が接着剤2により接着され、該半導
体チップ3上面両方側にパッド3aが夫々形成されてそ
れらパッド3aがワイヤー4により前記導体パターン5
の上部5aに夫々ワイヤーボンディングされ、該導体パ
ターン5の下部5bとエポキシ成形体の下部露出面とに
は複数のソルダーボール6が夫々掛合されていた。
路基板10上に実装し、電気的に連結するときは、図5
に示したように、パッド10aの成形された印刷回路基
板10上に、BGA半導体パッケージの各ソルダーボー
ル6を夫々合致させ、リフロー(refLow)接合を施して
それらソルダーボール6を印刷回路基板10上の各パッ
ド10aに夫々電気的に連結させていた。
来BGA半導体パッケージにおいては、各ソルだーボー
ルの電気的接続の不良な状態が発生した場合は、電気的
検査時にインピーダンスの値が上昇し、巳むを得ず全て
のソルダーボールを除去してクリーニング工程を施し、
再び、BGA半導体パッケージの各ソルダーボール6を
印刷回路基板10上の各パッド10aに電気的連結する
工程を施行するようになるという不都合な点があった。
ボールを用いソルダーボールの電気的連結不良状態が発
生したとき局部的に補修を行い得るダミーボールを用い
たBGA半導体パッケージ及びその補修方法を提供しよ
うとするものである。叉、本発明の他の目的は、半導体
パッケージを効率的に印刷回路基板上に実装して電気的
に連結させ、生産性を向上して原価を減少し得るダミー
ボールを用いたBGA半導体パッケージ及びその補修方
法を提供しようとするものである。
パッケージの基板下面エポキシ成形体の露出部位に複数
のダミー導電線ボールが所定間隔を置いて夫々掛合さ
れ、それらダミー導電性ボールの周辺放射状位置にアク
チーブ導電性ボールが夫々配置掛合され、それらアクチ
ーブ導電性ボールに対応する印刷回路基板上面に所定形
状の延長部を有したアクチーブ導電性ボールパッドが夫
々形成され、それらダミー導電性ボールに対応する印刷
回路基板上面に所定形状の延長部を有したダミー導電性
ボールパッドが夫々形成され、実装の場合それらアクチ
ーブ導電性ボールが各アクチーブ導電性ボールパッドに
電気的連結されるとき不良状態が発生すると、前記ダミ
ー導電性ボール及びダミー導電性ボールパッドにより該
不良の状態を補修し得るように構成されたダミーボール
を用いたBGA半導体パッケージを提供することにより
達成される。
上に所定形状の延長部を有する複数のダミー導電性ボー
ルパッドを夫々形成する段階と、それらダミー導電性ボ
ールパッドの周辺放射状位置に複数のアクチーブ導電性
ボールパッドを所定形状の延長部を有して夫々形成する
段階と、それらダミー導電性ボールパッド及びアクチー
ブ導電性ボールパッド上にダミー導電性ボール及びアク
チーブ導電性ボールを夫々付着する段階と、BGA半導
体パッケージの基板下面エポキシ成形体の露出部位をそ
れらダミー導電性ボール及びアクチーブ導電性ボール上
に合致させリフロー接合を施してそれらアクチーブ導電
性ボールにより電気的連結する段階と、検査器を用い接
続の不良なアクチーブ導電性ボールを探索する段階と、
接続の不良なアクチーブ導電性ボールに隣接されたダミ
ー導電性ボールパッドの延長部と該不良なアクチーブ導
電性ボールのアクチーブ導電性ボールパッド延長部間の
半導体基板叉は印刷回路基板にマイクロドリルにより補
修孔を穿孔形成する段階と、該補修孔からソルダーペー
ストを注入しダミー導電性ボールの一部を該ダミー導電
性ボールパッド延長部から不良なアクチーブ導電性ボー
ルパッドの延長部を経て該不良なアクチーブ導電性ボー
ルに補充させ該不良なアクチーブ導電性ボールを補修す
る段階と、を順次行うBGA半導体パッケージの補修方
法を提供することにより達成される。
明する。図1及び図2に示したように、本発明に係るB
GA半導体パッケージにおいては、BGA半導体パッケ
ージの基板1下面エポキシ成形体7の露出部位に複数の
ダミー導電性ボール15aが夫々配列掛合され、それら
導電性ボール15aの周辺放射状位置に複数のアクチー
ブ導電性ボール15、15bが夫々配置掛合され、それ
らダミー導電性ボール15aに対応する印刷回路基板1
0上面に所定形状の延長部17を有するダミー導電性ボ
ールパッド2"j aが夫々形成され、それらアクチーブ
導電性ボール15に対応する印刷回路基板10上面に所
定形状の延長部17を有するアクチーブ導電性ボールパ
ッド25、25bが夫々形成され、半導体パッケージの
実装時にそれらアクチーブ導電性ボール15が各アクチ
ーブ導電性ボールパッド25に電気的連結されるとき不
良状態が発生すると、前記ダミー導電性ボール15a及
びダミー導電性ボールパッド25aにより該不良状態を
補修し得るようになっている。
5及びダミー導電性ボール15aは前記半導体基板1の
下面露出部位に掛合せず、前記印刷回路基板10上に前
記アクチーブ導電性ボールパッド25及びダミー導電性
ボールパッド25aを夫々形成するとき、それら形成さ
れたアクチーブ導電性ボールパッド25及びダミー導電
性ボールパッド25a上面にソルダーペーストと用いて
夫々アクチーブ導電性ボール15及びダミー導電性ボー
ル15aを接着形成することもできる。且つ、該ダミー
導電性ボール15aは前記アクチーブ導電性ボール15
とは異なって、半導体チップと電気的に連結されないよ
うに形成する。
0上にダミー導電性ボールパッド25a及びアクチーブ
導電性ボールパッド25を夫々形成する場合において
は、先ず、印刷回路基板10上に所定間隔を置いてダミ
ー導電性ボールパッド25aが夫々十字状の延長部17
を有して形成される。次いで、それらダミー導電性ボー
ルパッド25aに隣接された放射状の位置に夫々90°
の角度を有してアクチーブ導電性ボールパッド25がそ
れら十字状の延長部17に対応する延長部17を一方側
に有して印刷回路基板10上に形成される。
基板上にダミー導電性ボールパッド25aを中心とし放
射状にアクチーブ導電性ボールパッド25が夫々複数個
形成されるようになっているが、それらダミー導電性ボ
ールパッド及びアクチーブ導電性ボールパッドの配置形
態及び配置数の比率は多様な形態に変更して形成するこ
とができる。以下、本発明に係るダミーボールを用いた
BGA半導体パッケータの補修方法について説明する。
先ず、印刷回路基板上のアクチーブ導電性パッド25及
びダミー導電性パッド25a上に、BGA半導体基板1
下面のエポキシ成形体露出部位が合致され、リフロー接
合が施されてアクチーブ導電性ボール15により該BG
A半導体基板が印刷回路基板上に電気的連結された後、
電気的特性検査を施してそれらアクチーブ導電性ボール
15の不良状態を探索する。次いで、例えば、図2に示
したアクチーブ導電性ボールパッド25b上の図1に示
したアクチーブ導電性ボール15bが接続不良であると
判断されると、図3に示したように、該不良のアクチー
ブ導電性ボール15bのアクチーブ導電性ボールパッド
25bの延長部17と該不良のアクチーブ導電性ボール
15bに隣接されたダミー導電性ボールパッド25aの
延長部17間の半導体基板1叉は印刷回路基板20部位
をマイクロドリル叉はその他の切削工具により穿孔し補
修孔21を形成する。次いで、該補修孔21からソルダ
ーペーストを注入しダミー導電性ボール15aの一部を
ダミー導電性ボールパッド25aの延長部17から不良
なアクチーブ導電性ボールパッド25bの延長部17を
経て該不良なアクチーブ導電性ボール15bに補充さ
せ、該不良なアクチーブ導電性ボール15bを補修して
電気的に連結する。
ーボールを用いたBGA半導体パッケージ及びその補修
方法においては、ダミー導電性ボールを用い、半導体基
板と印刷回路基板間の電気的連結時に不良な状態が発生
するとき、該ダミー導電性ボールにより不良な導電性ボ
ールを補修して電気的連結を行うようになっているた
め、従来不良発生時に全ての導電性ボールを除去し再施
行していた工程が省かれ、生産性の向上と原価の低廉化
とを図り得るという効果がある。
体パッケージと印刷回路基板との電気的連結状態表示概
略断面図である。
状態を示した図1A部の拡大表示図である。
補修状態を示した説明図である。
である。
の電気的連結状態表示概略断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】ダミーボールを用いたBGA半導体パッケ
ージであって、 BGA半導体パッケージの基板下面エポキシ成形体の露
出部位に複数のダミー導電性ボールが所定間隔を有して
夫々掛合され、それらダミー導電性ボールの周辺放射状
の位置にアクチーブ導電性ボールが夫々掛合され、それ
らアクチーブ導電性ボールに対応する印刷回路基板上面
に所定形状の延長部を有するアクチーブ導電性ボールパ
ッドが夫々形成され、それらダミー導電性ボールに対応
する印刷回路基板上面に所定形状の延長部を有するダミ
ー導電性ボールパッドが夫々形成され、実装の場合それ
らアクチーブ導電性ボールが各アクチーブ導電性ボール
パッドに電気的に連結されるとき不良状態が発生する
と、前記ダミー導電性ボール及びダミー導電性ボールパ
ッドにより該不良状態を補修し得るように構成されたダ
ミーボールを用いたBGA半導体パッケージ。 - 【請求項2】前記ダミー導電性ボールパッドは、前記印
刷回路基板上に十字状に延長された延長部を有して形成
される請求項1記載のダミーボールを用いたBGA半導
体パッケージ。 - 【請求項3】前記アクチーブ導電性ボールパッドは、前
記印刷回路基板上に隣接されて前記十字状延長部を有す
るダミー導電性ボールパッドの隣接された延長部位に対
応し一方側にのみ延長される延長部を有して形成される
請求項1記載のダミーボールを用いたBGA半導体パッ
ケージ。 - 【請求項4】前記ダミー導電性ボールは、前記半導体パ
ッケージのチップとは電気的に連結されないように形成
される請求項1記載のダミーボールを用いたBGA半導
体パッケージ。 - 【請求項5】ダミーボールを用いたBGA半導体バッケ
ージの電気的連結部位の補修方法であって、 、印刷回路基板上のアクチーブ導電性パッド及びダミ
ー導電性パッド上に、半導体基板下面のエポキシ成形体
の露出部位が合致され、リフロー接合が施されてアクチ
ーブ導電性ボールにより該半導体基板が印刷回路基板上
に電気的連結される工程と、 、電気的特性検査を施しそれらアクチーブ導電性ボー
ルの接続不良状態を探索する工程と、 不良状態が検出されたとき、該不良なアクチーブ導電
性ボールのアクチーブ導電性ボールパッドの延長部と該
不良なアクチーブ導電性ボールに隣接されたダミー導電
性ボールパッドの延長部間の半導体基板叉は印刷回路基
板部位をマイクロドリルにより穿孔し補修孔を形成する
工程と、 、該補修孔からソルダーペーストを注入しダミー導電
性ボールの一部をダミー導電性ボールパッドの延長部か
ら不良なアクチーブ導電性ボールパッドの延長部を経て
該不良なアクチーブ導電性ボールに補充させ、該不良な
アクチーブ導電性ボールを補修して電気的連結させる工
程と、 を順次行うダミーボールを用いたBGA半導体パッケー
ジの補修方法。
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