JPH09101205A - 消耗型光ファイバ温度計及び消耗型光ファイバ温度計に よる温度測定方法 - Google Patents
消耗型光ファイバ温度計及び消耗型光ファイバ温度計に よる温度測定方法Info
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- JPH09101205A JPH09101205A JP7256376A JP25637695A JPH09101205A JP H09101205 A JPH09101205 A JP H09101205A JP 7256376 A JP7256376 A JP 7256376A JP 25637695 A JP25637695 A JP 25637695A JP H09101205 A JPH09101205 A JP H09101205A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 消耗する光ファイバからの光を非消耗のダミ
ー光ファイバを介して放射温度計に導くことにより、光
ファイバの消耗に伴う温度誤差の補正を正確に行う。 【解決手段】 溶鋼１２からの放射光は、消耗部６、結
合部８、非消耗部７、光コネクタ２を介して放射温度計
により受信される。非消耗部６の長さを、クラッディン
グモード光に起因する検出誤差が許容誤差以内に入る長
さ以上の長さとすることにより、測定誤差を許容誤差以
内に収めることができる。
ー光ファイバを介して放射温度計に導くことにより、光
ファイバの消耗に伴う温度誤差の補正を正確に行う。 【解決手段】 溶鋼１２からの放射光は、消耗部６、結
合部８、非消耗部７、光コネクタ２を介して放射温度計
により受信される。非消耗部６の長さを、クラッディン
グモード光に起因する検出誤差が許容誤差以内に入る長
さ以上の長さとすることにより、測定誤差を許容誤差以
内に収めることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、高温被測定物から
放出される放射光を光ファイバの一端より入射し、他端
から出射される光を放射温度計により測定して温度を測
定する消耗型光ファイバ温度計及びそれを用いた温度測
定方法に関するものである。
放出される放射光を光ファイバの一端より入射し、他端
から出射される光を放射温度計により測定して温度を測
定する消耗型光ファイバ温度計及びそれを用いた温度測
定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】溶鋼等の溶融金属の温度を測定する温度
計として、消耗型光ファイバー温度計が広く使用されて
いる。図７に消耗型光ファイバー温度計の構成例を示
す。図７において、１はＦＩＭＴ、２は光コネクタ、３
は放射温度計、４はＦＩＭＴドラム、５はＦＩＭＴ供給
ローラ、１１は連続鋳造機のモールド、１２は溶鋼、１
３は連続鋳造機の浸漬ノズル、１４はパウダである。こ
こで、ＦＩＭＴ（Fiber inMetallic Tube）とは、光フ
ァイバを金属管で被覆し、さらにその上をポリエチレン
等の被覆材で被覆したものである。
計として、消耗型光ファイバー温度計が広く使用されて
いる。図７に消耗型光ファイバー温度計の構成例を示
す。図７において、１はＦＩＭＴ、２は光コネクタ、３
は放射温度計、４はＦＩＭＴドラム、５はＦＩＭＴ供給
ローラ、１１は連続鋳造機のモールド、１２は溶鋼、１
３は連続鋳造機の浸漬ノズル、１４はパウダである。こ
こで、ＦＩＭＴ（Fiber inMetallic Tube）とは、光フ
ァイバを金属管で被覆し、さらにその上をポリエチレン
等の被覆材で被覆したものである。
【０００３】ＦＩＭＴ１をＦＩＭＴドラム４より巻き戻
し、その先端をＦＩＭＴ供給ローラ５により溶鋼１２中
に挿入する。ＦＩＭＴ１の他端は光コネクタ２を介して
放射温度計３に接続されている。ＦＩＭＴ１の先端が溶
鋼１２中に浸漬されると、被覆体が炭化されて断熱層を
形成し、金属管と光ファイバが断熱層で保護されながら
溶鋼１２中に浸漬される。光ファイバの径は１２５μｍ
と極めて細いため、浸漬された光ファイバ先端部の溶鋼
と接する部分には透明ガラスの均熱微小空洞が形成さ
れ、黒体条件が満たされる。これは、放射温度計におい
て他に例を見ない優れた特徴であり、この特徴により溶
鋼１２の放射率に依存しない高精度の測温が実現され
る。
し、その先端をＦＩＭＴ供給ローラ５により溶鋼１２中
に挿入する。ＦＩＭＴ１の他端は光コネクタ２を介して
放射温度計３に接続されている。ＦＩＭＴ１の先端が溶
鋼１２中に浸漬されると、被覆体が炭化されて断熱層を
形成し、金属管と光ファイバが断熱層で保護されながら
溶鋼１２中に浸漬される。光ファイバの径は１２５μｍ
と極めて細いため、浸漬された光ファイバ先端部の溶鋼
と接する部分には透明ガラスの均熱微小空洞が形成さ
れ、黒体条件が満たされる。これは、放射温度計におい
て他に例を見ない優れた特徴であり、この特徴により溶
鋼１２の放射率に依存しない高精度の測温が実現され
る。
【０００４】測定に伴い、ＦＩＭＴ１の先端は高温の為
に消耗するが、ＦＩＭＴ供給ローラ５により順次新しい
ＦＩＭＴ１を供給することにより、温度測定が実施され
る。
に消耗するが、ＦＩＭＴ供給ローラ５により順次新しい
ＦＩＭＴ１を供給することにより、温度測定が実施され
る。
【０００５】ＦＩＭＴ１中を伝播する光は、伝播と共に
減衰する。よって、ＦＩＭＴ１が消耗して長さが短くな
ると共に減衰量が少なくなり温度計が高めの指示をする
ようになる。よって、正確な測温を行うためにはＦＩＭ
Ｔ供給ローラ５をメジャリングロールとして使用する等
によりＦＩＭＴ１の残り長さを把握し、ＦＩＭＴ１に固
有の伝送損失を補償するような補正を行うことが行われ
ている。
減衰する。よって、ＦＩＭＴ１が消耗して長さが短くな
ると共に減衰量が少なくなり温度計が高めの指示をする
ようになる。よって、正確な測温を行うためにはＦＩＭ
Ｔ供給ローラ５をメジャリングロールとして使用する等
によりＦＩＭＴ１の残り長さを把握し、ＦＩＭＴ１に固
有の伝送損失を補償するような補正を行うことが行われ
ている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な補償を行うための伝送損失として光ファイバの規格値
を使用すると、ＦＩＭＴの残長が短くなった場合に、実
際の温度と放射温度計の指示値との誤差が大きくなると
いう問題点がある。
な補償を行うための伝送損失として光ファイバの規格値
を使用すると、ＦＩＭＴの残長が短くなった場合に、実
際の温度と放射温度計の指示値との誤差が大きくなると
いう問題点がある。
【０００７】図５は、発明者らが発見した光ファイバ残
長と温度計の指示値の変化の関係を示すグラフである。
図５において、横軸は光ファイバ残長、縦軸は光ファイ
バ残長６５０ｍにおける温度計の指示値を基準とした放
射温度計の指示値を示し、ｘはSi放射温度計を使用した
実測値、・はInGaAs放射温度計を使用した実績値、実線
及び破線は、光ファイバの規格伝送損失から算出したそ
れぞれの放射温度計の指示値（カタログ値）を示す。
長と温度計の指示値の変化の関係を示すグラフである。
図５において、横軸は光ファイバ残長、縦軸は光ファイ
バ残長６５０ｍにおける温度計の指示値を基準とした放
射温度計の指示値を示し、ｘはSi放射温度計を使用した
実測値、・はInGaAs放射温度計を使用した実績値、実線
及び破線は、光ファイバの規格伝送損失から算出したそ
れぞれの放射温度計の指示値（カタログ値）を示す。
【０００８】図５を見ると以下のことがわかる。 (1) Si放射温度計、InGaAs放射温度計のいずれにおいて
も、実際の指示値の方がカタログ値よりも高く、その差
は光ファイバ残長が少なくなるに従って増大する。 (2) 光ファイバ残長と実際の指示値との関係は、光ファ
イバ残長がある程度以上ではほぼ直線の関係にあるが、
光ファイバ残長が少なくなると直線の関係が崩れる。
も、実際の指示値の方がカタログ値よりも高く、その差
は光ファイバ残長が少なくなるに従って増大する。 (2) 光ファイバ残長と実際の指示値との関係は、光ファ
イバ残長がある程度以上ではほぼ直線の関係にあるが、
光ファイバ残長が少なくなると直線の関係が崩れる。
【０００９】この原因は、クラッディングモードによる
伝播光によるものであると推定される。図６は、光ファ
イバ中を伝播する光を表した図である。光ファイバはコ
アとクラッド、及びその上を被覆する被覆樹脂により構
成される。通常の光通信等に使用される光はコアとクラ
ッドの境界面で反射されてコア中を伝播する光であり、
伝播モード光といわれる。この他に、わずかではあるが
クラッドと被覆樹脂の境界面で反射されてクラッド・コ
ア中を伝播する光、被覆樹脂の界面で反射されて被覆樹
脂・クラッド・コア中を伝播する光があり、クラッディ
ングモード光といわれている。クラッディングモード光
は伝播モード光に対して減衰が大きいため、光ファイバ
の長さが長くなると無視できるようになるが、光ファイ
バの残長が短くなると完全には減衰せずに放射温度計に
まで到達する。即ち、図５における直線及び破線は、伝
播モード光の減衰による温度指示への影響を示し、実線
又は破線と実測データとの差は、クラッディングモード
光の減衰による温度指示への影響を示すものである。
伝播光によるものであると推定される。図６は、光ファ
イバ中を伝播する光を表した図である。光ファイバはコ
アとクラッド、及びその上を被覆する被覆樹脂により構
成される。通常の光通信等に使用される光はコアとクラ
ッドの境界面で反射されてコア中を伝播する光であり、
伝播モード光といわれる。この他に、わずかではあるが
クラッドと被覆樹脂の境界面で反射されてクラッド・コ
ア中を伝播する光、被覆樹脂の界面で反射されて被覆樹
脂・クラッド・コア中を伝播する光があり、クラッディ
ングモード光といわれている。クラッディングモード光
は伝播モード光に対して減衰が大きいため、光ファイバ
の長さが長くなると無視できるようになるが、光ファイ
バの残長が短くなると完全には減衰せずに放射温度計に
まで到達する。即ち、図５における直線及び破線は、伝
播モード光の減衰による温度指示への影響を示し、実線
又は破線と実測データとの差は、クラッディングモード
光の減衰による温度指示への影響を示すものである。
【００１０】一方、光ファイバの規格伝送損失は伝播モ
ード光についてのものであってクラッディングモード光
については考慮されていないので、規格値に基づいて補
正を行うと誤差が発生するものである。（上記の推定を
基に、特許請求の範囲を含め本明細書中においては、図
５における、実測値と光ファイバの規格伝送損失から算
出したそれぞれの放射温度計の指示値（カタログ値）と
の誤差を「クラッディングモード光に起因する検出誤
差」と称する。）
ード光についてのものであってクラッディングモード光
については考慮されていないので、規格値に基づいて補
正を行うと誤差が発生するものである。（上記の推定を
基に、特許請求の範囲を含め本明細書中においては、図
５における、実測値と光ファイバの規格伝送損失から算
出したそれぞれの放射温度計の指示値（カタログ値）と
の誤差を「クラッディングモード光に起因する検出誤
差」と称する。）
【００１１】本発明は上記のような問題点を解決するた
めになされたものであり、光ファイバの消耗に伴う温度
誤差の補正を正確に行うことが可能な、消耗型光ファイ
バ温度計および消耗型光ファイバ温度計による温度測定
方法を提供することを目的とする。
めになされたものであり、光ファイバの消耗に伴う温度
誤差の補正を正確に行うことが可能な、消耗型光ファイ
バ温度計および消耗型光ファイバ温度計による温度測定
方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題は、高温被測定
物から放出される放射光を光ファイバの一端より入射
し、他端から出射される光を放射温度計により測定して
温度を測定する消耗型光ファイバ温度計であって、光フ
ァイバが、測定に伴い先端部から消耗する消耗部と、消
耗部と放射温度計の間に接続された非消耗部とからな
り、非消耗部は、クラッディングモード光に起因する検
出誤差が許容誤差以内に入る長さ以上の長さを有するこ
とを特徴とする消耗型光ファイバ温度計により解決され
る。
物から放出される放射光を光ファイバの一端より入射
し、他端から出射される光を放射温度計により測定して
温度を測定する消耗型光ファイバ温度計であって、光フ
ァイバが、測定に伴い先端部から消耗する消耗部と、消
耗部と放射温度計の間に接続された非消耗部とからな
り、非消耗部は、クラッディングモード光に起因する検
出誤差が許容誤差以内に入る長さ以上の長さを有するこ
とを特徴とする消耗型光ファイバ温度計により解決され
る。
【００１３】この温度計においては、光ファイバ残長
（消耗部長さ＋非消耗部長さ）による補正を、光ファイ
バの規格伝送損失値に基づいて行っても（即ち、光ファ
イバ残長と検出される温度の関係が図５の実線又は破線
の関係にあるとして補正を行っても）、非消耗部によ
り、クラッディングモード光が許容誤差以内の影響しか
及ぼさない程度に減衰させられるので、測定誤差を許容
誤差以内に収めることができる。
（消耗部長さ＋非消耗部長さ）による補正を、光ファイ
バの規格伝送損失値に基づいて行っても（即ち、光ファ
イバ残長と検出される温度の関係が図５の実線又は破線
の関係にあるとして補正を行っても）、非消耗部によ
り、クラッディングモード光が許容誤差以内の影響しか
及ぼさない程度に減衰させられるので、測定誤差を許容
誤差以内に収めることができる。
【００１４】消耗部とは別に非消耗部を設けることな
く、１本の光ファイバを使用し、クラッディングモード
光に起因する検出誤差が許容誤差以内に入る長さ以上の
長さの光ファイバを残して光ファイバを交換するように
しても同じ作用効果が得られる。
く、１本の光ファイバを使用し、クラッディングモード
光に起因する検出誤差が許容誤差以内に入る長さ以上の
長さの光ファイバを残して光ファイバを交換するように
しても同じ作用効果が得られる。
【００１５】上記課題は、また、高温被測定物から放出
される放射光を光ファイバの一端より入射し、他端から
出射される光を放射温度計により測定して温度を測定す
る消耗型光ファイバ温度計であって、光ファイバが、測
定に伴い先端部から消耗する消耗部と、消耗部と放射温
度計の間に接続された非消耗部とからなり、非消耗部
は、直線で近似された光ファイバの長さに対する温度指
示補正値と実際に必要な温度指示補正値との差が許容測
定誤差以内に入るような長さ以上の長さを有することを
特徴とする消耗型光ファイバ温度計によっても解決され
る。
される放射光を光ファイバの一端より入射し、他端から
出射される光を放射温度計により測定して温度を測定す
る消耗型光ファイバ温度計であって、光ファイバが、測
定に伴い先端部から消耗する消耗部と、消耗部と放射温
度計の間に接続された非消耗部とからなり、非消耗部
は、直線で近似された光ファイバの長さに対する温度指
示補正値と実際に必要な温度指示補正値との差が許容測
定誤差以内に入るような長さ以上の長さを有することを
特徴とする消耗型光ファイバ温度計によっても解決され
る。
【００１６】この温度計においては、光ファイバ残長と
温度指示補正値との関係を直線で近似しても、非消耗部
により、非線型性に影響を与えるクラッディングモード
光が許容誤差以内の影響しか及ぼさない程度に減衰させ
られるので、測定誤差を許容誤差以内に収めることがで
きる。
温度指示補正値との関係を直線で近似しても、非消耗部
により、非線型性に影響を与えるクラッディングモード
光が許容誤差以内の影響しか及ぼさない程度に減衰させ
られるので、測定誤差を許容誤差以内に収めることがで
きる。
【００１７】消耗部とは別に非消耗部を設けることな
く、１本の光ファイバを使用し、直線で近似された光フ
ァイバの長さに対する温度指示補正値と実際に必要な温
度指示補正値との差が許容測定誤差以内に入るような長
さ以上の長さの光ファイバを残して光ファイバを交換す
るようにしても同じ作用効果が得られる。
く、１本の光ファイバを使用し、直線で近似された光フ
ァイバの長さに対する温度指示補正値と実際に必要な温
度指示補正値との差が許容測定誤差以内に入るような長
さ以上の長さの光ファイバを残して光ファイバを交換す
るようにしても同じ作用効果が得られる。
【００１８】なお、上記手段において、光ファイバとは
必ずしもＦＩＭＴに限定されるものではない。とくに、
非消耗部は、直接厳しい環境に曝されるものではないた
め、通常の光ファイバをそのまま使用することができ
る。
必ずしもＦＩＭＴに限定されるものではない。とくに、
非消耗部は、直接厳しい環境に曝されるものではないた
め、通常の光ファイバをそのまま使用することができ
る。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例を
図を用いて説明する。図１及び図２は、本発明の実施の
形態を示す構成図である。これらの図において、図７と
同じ部位には同じ符号を付し、その説明を省略する。図
１において６はＦＩＭＴからなる消耗部、７は通常の光
ファイバからなる非消耗部である。８は消耗部６と非消
耗部７を光結合する結合部であり、通常は融着により消
耗部６と非消耗部７を接合する。９は非消耗部７用のフ
ァイバドラムである。
図を用いて説明する。図１及び図２は、本発明の実施の
形態を示す構成図である。これらの図において、図７と
同じ部位には同じ符号を付し、その説明を省略する。図
１において６はＦＩＭＴからなる消耗部、７は通常の光
ファイバからなる非消耗部である。８は消耗部６と非消
耗部７を光結合する結合部であり、通常は融着により消
耗部６と非消耗部７を接合する。９は非消耗部７用のフ
ァイバドラムである。
【００２０】ＦＩＭＴドラム４に巻き付けられて収納さ
れた消耗部６は、従来技術と同じようにＦＩＭＴ供給ロ
ーラ５によって溶鋼１２中に送り込まれ、測温が行われ
る。溶鋼１２からの放射光は、消耗部６、結合部８、非
消耗部７、光コネクタ２を介して放射温度計により受信
される。
れた消耗部６は、従来技術と同じようにＦＩＭＴ供給ロ
ーラ５によって溶鋼１２中に送り込まれ、測温が行われ
る。溶鋼１２からの放射光は、消耗部６、結合部８、非
消耗部７、光コネクタ２を介して放射温度計により受信
される。
【００２１】光ファイバの規格伝送損失値に基づいて補
正を行う場合には、非消耗部の長さを５００ｍ程度とす
ると、放射温度計がSi放射温度計の場合には補正誤差を
約１℃以内、放射温度計がInGaAs放射温度計の場合には
補正誤差を約３℃以内とすることができる。
正を行う場合には、非消耗部の長さを５００ｍ程度とす
ると、放射温度計がSi放射温度計の場合には補正誤差を
約１℃以内、放射温度計がInGaAs放射温度計の場合には
補正誤差を約３℃以内とすることができる。
【００２２】また、図５における実績データに基づい
て、光ファイバ残長と指示値の変動が直線関係にあると
して補正を行う場合には、非消耗部の長さを１００ｍ程
度としても同程度の補正誤差とすることができることが
図５より明らかである。
て、光ファイバ残長と指示値の変動が直線関係にあると
して補正を行う場合には、非消耗部の長さを１００ｍ程
度としても同程度の補正誤差とすることができることが
図５より明らかである。
【００２３】図２においては、装置の構成は従来技術と
同じであるが、本実施形態の場合は、ＦＩＭＴ１を最後
まで使用することなく、５００ｍ程度あるいは１００ｍ
残して使用をやめ、新しいＦＩＭＴと交換している。こ
れにより、非消耗部をそれぞれ５００ｍ、１００ｍとし
た場合と同じ効果が得られる。
同じであるが、本実施形態の場合は、ＦＩＭＴ１を最後
まで使用することなく、５００ｍ程度あるいは１００ｍ
残して使用をやめ、新しいＦＩＭＴと交換している。こ
れにより、非消耗部をそれぞれ５００ｍ、１００ｍとし
た場合と同じ効果が得られる。
【００２４】図３は、本発明の実施形態にかかる温度検
出部の構成の一例を示す図である。図３において、２０
は放射温度計、２１は光コネクタ２と結合されるレセプ
タクル、２２は光学系、２３は光電変換素子（Si、InGa
As等) 、２４は増幅器、２５はリニアライザ、２６は光
ファイバ残長補正演算器を示す。
出部の構成の一例を示す図である。図３において、２０
は放射温度計、２１は光コネクタ２と結合されるレセプ
タクル、２２は光学系、２３は光電変換素子（Si、InGa
As等) 、２４は増幅器、２５はリニアライザ、２６は光
ファイバ残長補正演算器を示す。
【００２５】光コネクタ２を介してレセプタクルにより
受光された光は、光学系２２を介して光電変換素子２３
により電気信号に変換され、増幅器２４で増幅された
後、リニアライザ２５でリニアライズされて光ファイバ
残長補正演算器２６に入力される。光ファイバ残長補正
演算器２６は、検出された光ファイバ残長に基づいて、
「光ファイバの規格伝送損失値に基づく補正」、又は
「光ファイバ残長と温度指示補正値の関係を直線関係で
近似した補正」を行って、補正後の値を出力する。
受光された光は、光学系２２を介して光電変換素子２３
により電気信号に変換され、増幅器２４で増幅された
後、リニアライザ２５でリニアライズされて光ファイバ
残長補正演算器２６に入力される。光ファイバ残長補正
演算器２６は、検出された光ファイバ残長に基づいて、
「光ファイバの規格伝送損失値に基づく補正」、又は
「光ファイバ残長と温度指示補正値の関係を直線関係で
近似した補正」を行って、補正後の値を出力する。
【００２６】図４は、本発明の実施形態にかかる温度検
出部の構成の他の例を示す図である。図４において、図
３と同じ部位には同じ符号を付してその説明を省略す
る。図４においては、受光された光は光学系２２によっ
て２つに分けられ、別々の光電変換素子２３（Si）、２
３’（InGaAs）によって受光されて電気信号に変換さ
れ、それぞれ増幅器２４、リニアライザ２５を介して光
ファイバ残長補正演算器２６に入力される。
出部の構成の他の例を示す図である。図４において、図
３と同じ部位には同じ符号を付してその説明を省略す
る。図４においては、受光された光は光学系２２によっ
て２つに分けられ、別々の光電変換素子２３（Si）、２
３’（InGaAs）によって受光されて電気信号に変換さ
れ、それぞれ増幅器２４、リニアライザ２５を介して光
ファイバ残長補正演算器２６に入力される。
【００２７】図４における実施形態においては、光ファ
イバ残長補正演算器２６は、光ファイバ残長の変動の影
響を、２波長の光の受光強度を用いて演算して補償す
る。よって、この場合には、光ファイバの残長は測定す
る必要はない。この技術においても、クラッディングモ
ード光の影響により補償誤差が生じるが、本発明の方法
を使用することにより、クラッディングモード光の影響
が許容測定誤差以内に減衰されるため、正確な補正を行
うことができる。
イバ残長補正演算器２６は、光ファイバ残長の変動の影
響を、２波長の光の受光強度を用いて演算して補償す
る。よって、この場合には、光ファイバの残長は測定す
る必要はない。この技術においても、クラッディングモ
ード光の影響により補償誤差が生じるが、本発明の方法
を使用することにより、クラッディングモード光の影響
が許容測定誤差以内に減衰されるため、正確な補正を行
うことができる。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、クラッディングモード
光の影響が測定精度に影響を及ぼさない程度にまで減衰
するため、光ファイバの消耗に伴う温度誤差の補正を正
確に行うことできる。
光の影響が測定精度に影響を及ぼさない程度にまで減衰
するため、光ファイバの消耗に伴う温度誤差の補正を正
確に行うことできる。
【図１】 本発明の一実施形態の構成を示す図である。
【図２】 本発明の他の実施形態の構成を示す図であ
る。
る。
【図３】 本発明の実施形態に係る温度検出部の構成の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図４】 本発明の実施形態に係る温度検出部の構成の
他の例を示す図である。
他の例を示す図である。
【図５】 光ファイバ残長と温度計の指示値の変化の関
係を示すグラフである。
係を示すグラフである。
【図６】 光ファイバ中を伝播する光を表した図であ
る。
る。
【図７】 従来型の消耗型光ファイバー温度計の構成例
を示す図である。
を示す図である。
１ ＦＩＭＴ ２ 光コネクタ ３ 放射温度計 ４ ＦＩＭＴドラム ５ ＦＩＭＴ供給ローラ ６ 消耗部 ７ 非消耗部 ８ 結合部 ９ ファイバドラム ２０ 放射温度計
フロントページの続き (72)発明者 板倉 孝 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 前田 浩史 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 高温被測定物から放出される放射光を光
ファイバの一端より入射し、他端から出射される光を放
射温度計により測定して温度を測定する消耗型光ファイ
バ温度計であって、光ファイバが、測定に伴い先端部か
ら消耗する消耗部と、消耗部と放射温度計の間に接続さ
れた非消耗部とからなり、非消耗部は、クラッディング
モード光に起因する検出誤差が許容誤差以内に入る長さ
以上の長さを有することを特徴とする消耗型光ファイバ
温度計。 - 【請求項２】 高温被測定物から放出される放射光を光
ファイバの一端より入射し、他端から出射される光を放
射温度計により測定して温度を測定する消耗型光ファイ
バ温度計を用いて温度を測定する方法であって、クラッ
ディングモード光に起因する検出誤差が許容誤差以内に
入る長さ以上の長さの光ファイバを残して光ファイバを
交換することを特徴とする消耗型光ファイバ温度計によ
る温度測定方法。 - 【請求項３】 高温被測定物から放出される放射光を光
ファイバの一端より入射し、他端から出射される光を放
射温度計により測定して温度を測定する消耗型光ファイ
バ温度計であって、光ファイバが、測定に伴い先端部か
ら消耗する消耗部と、消耗部と放射温度計の間に接続さ
れた非消耗部とからなり、非消耗部は、直線で近似され
た光ファイバの長さに対する温度指示補正値と実際に必
要な温度指示補正値との差が許容測定誤差以内に入るよ
うな長さ以上の長さを有することを特徴とする消耗型光
ファイバ温度計。 - 【請求項４】 高温被測定物から放出される放射光を光
ファイバの一端より入射し、他端から出射される光を放
射温度計により測定して温度を測定する消耗型光ファイ
バ温度計を用いて温度を測定する方法であって、直線で
近似された光ファイバの長さに対する温度指示補正値と
実際に必要な温度指示補正値との差が許容測定誤差以内
に入るような長さ以上の長さの光ファイバを残して光フ
ァイバを交換することを特徴とする消耗型光ファイバ温
度計による温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7256376A JPH09101205A (ja) | 1995-10-03 | 1995-10-03 | 消耗型光ファイバ温度計及び消耗型光ファイバ温度計に よる温度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7256376A JPH09101205A (ja) | 1995-10-03 | 1995-10-03 | 消耗型光ファイバ温度計及び消耗型光ファイバ温度計に よる温度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09101205A true JPH09101205A (ja) | 1997-04-15 |
Family
ID=17291832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7256376A Pending JPH09101205A (ja) | 1995-10-03 | 1995-10-03 | 消耗型光ファイバ温度計及び消耗型光ファイバ温度計に よる温度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09101205A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017534880A (ja) * | 2014-09-01 | 2017-11-24 | ミンコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＭＩＮＫＯＮ ＧｍｂＨ | 溶融金属の光学的温度検出のための方法およびそのような方法を実施する繰り出し装置 |
-
1995
- 1995-10-03 JP JP7256376A patent/JPH09101205A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017534880A (ja) * | 2014-09-01 | 2017-11-24 | ミンコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＭＩＮＫＯＮ ＧｍｂＨ | 溶融金属の光学的温度検出のための方法およびそのような方法を実施する繰り出し装置 |
| US10228288B2 (en) | 2014-09-01 | 2019-03-12 | Minkon GmbH | Method for optically determining the temperature of a molten metal, and reeling device for carrying out said method |
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