JPH0890230A - アーク溶接モニタ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 ［目的］高速のサンプリングおよび複雑な演算を不要に
して装置コストを下げるとともにＣＰＵ機能を高め、さ
らには任意の平均化時間を設定可能として測定精度ない
し監視精度を向上させる。 ［構成］アーク電圧検出回路１８の出力端子にはアーク
電圧Ｅを表すアナログの電圧信号ＶＥが得られる。Ｖ−
Ｆ変換回路２０は、この電圧信号ＶＥを入力し、その電
圧レベルにほぼ比例する周波数を有するパルス信号ＰＥ
を出力する。カウンタ２２は、このパルス信号ＰＥを一
定時間毎に計数し、その計数値ＮＥをＣＰＵ２４に与え
る。溶接電流検出回路２８の出力端子には溶接電流Ｉを
表すアナログの電圧信号ＶＩが得られる。Ｖ−Ｆ変換回
路２０は、この電圧信号ＶＩを入力し、その電圧レベル
にほぼ比例する周波数を有するパルス信号ＰＩを出力す
る。カウンタ２２は、このパルス信号ＰＩを一定時間毎
に計数し、その計数値ＮＩをＣＰＵ２４に与える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、アーク溶接を監視する
アーク溶接モニタ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】アーク溶接は、溶接電極（アーク溶接
棒）と被溶接材（母材）との間に電圧を印加すると溶接
電極の先端がアーク熱で加熱され溶滴となって母材表面
に移行する現象を利用して、被溶接材を融接する溶接法
であり、自動車、電気・電子部品等の加工に広く活用さ
れている。

【０００３】アーク溶接では、溶接電流およびアーク電
圧に溶接状況ないし溶接結果が反映されるが、アークと
いう電離層（気体）が溶接回路の一部を構成するため
に、瞬時値が測定できないほど溶接電流およびアーク電
圧が激しく変動する。そこで、一定時間毎に溶接電流お
よびアーク電圧を平均化し、平均値を測定値とする方法
が行われている。

【０００４】従来のアーク溶接モニタ装置は、溶接電流
またはアーク電圧を検出するセンサのアナログ出力信号
をＡ／Ｄ変換器によってディジタル信号（サンプリング
・データ）に変換し、ＣＰＵ（マイクロプロセッサ）に
おいてＡ／Ｄ変換器からのサンプリング・データを一定
時間Ｔ毎に累積し、その累積値を累積時間Ｔで割算する
ことで、サンプリング・データの平均値を求め、ひいて
は溶接電流またはアーク電圧の平均値を求めていた。そ
して、この平均値を監視値と比較して、その比較結果か
ら溶接状況ないし溶接結果を判定していた。

【０００５】図７に、従来のアーク溶接モニタ装置にお
けるＣＰＵの演算制御動作をフローチャートで示す。Ｃ
ＰＵは、Ａ／Ｄ変換器からディジタル信号（サンプリン
グ・データ）を取り込む度毎にそのサンプリング・デー
タをメモリに格納する（ステップ１００）。一定の平均
化時間Ｔ分のサンプリング・データを取り込むと（ステ
ップ１０２）、それらのサンプリング・データを累積
し、その累積値を平均化時間Ｔで割算してサンプリング
・データの平均値ひいては溶接電流またはアーク電圧の
平均値（測定値）を求め（ステップ１０４）、この平均
値（測定値）をメモリに記憶すると同時に用済みの一周
期分のサンプリング・データを消去する（ステップ１０
６）。そして、平均値（測定値）を監視値と比較して当
該平均化時間（監視区間）Ｔにおけるアーク溶接が正常
であるのか異常であるのかを判定し（ステップ１０
８）、判定結果を表示出力する（ステップ１１０，１１
２）。溶接時間が終了するまで上記の処理を繰り返す
（ステップ１１４，１１６）。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のア
ーク溶接モニタ装置におけるＣＰＵ処理では、溶接電流
またはアーク電圧の測定精度を高くしようとすると、高
速（たとえばサンプリング周波数が５０００Ｈｚ）のＡ
／Ｄ変換器が必要となり、したがってＣＰＵも高速のも
のが必要となり、またサンプリングデータを記憶するた
めのメモリも大容量のものが必要となり、装置コストが
高くついていた。

【０００７】そのうえ、ＣＰＵはサンプリング・データ
の取り込みに処理時間の大部分を割かれるため、上記の
測定監視処理（１００〜１１６）の合間に他の監視制御
たとえば溶接条件の切り替えやスイッチ制御等を行うこ
とが難しかった。

【０００８】また、平均値演算やサンプリングデータの
記憶管理等が面倒なことから、平均化時間を任意に設定
することができず、現状では２０ｍｓｅｃ，５０ｍｓｅ
ｃ，１００ｍｓｅｃの３種類の平均化時間の中から１つ
だけを選ぶようにしており、種々の溶接条件に適応する
のが難しかった。たとえば、あるアーク溶接では平均化
時間を７０ｍｓｅｃに設定したときに最も精度の高い平
均値（測定値）を得ることができるはずなのに５０ｍｓ
ｅｃまたは１００ｍｓｅｃの平均化時間でしか測定でき
ないため、測定精度ないし監視精度に誤差を来すことが
あった。

【０００９】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、高速のサンプリングおよび複雑な演算を不要に
して装置コストを下げるとともにＣＰＵ機能を高め、さ
らには種々の溶接条件に対して任意の平均化時間を設定
できるようにして測定精度ないし監視精度を向上させる
ようにしたアーク溶接モニタ装置を提供することを目的
とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の第１のアーク溶接モニタ装置は、アーク
溶接機によるアーク溶接を監視するアーク溶接モニタ装
置において、溶接電極と母材を流れる溶接電流を検出
し、前記溶接電流の電流値を表すアナログの電圧信号を
出力する溶接電流検出手段と、前記溶接電流検出手段か
らの前記アナログ電圧信号をその電圧レベルにほぼ比例
した周波数を有するパルス信号に変換する電圧−周波数
変換回路と、前記電圧−周波数変換回路からの前記パル
ス信号を一定時間毎に計数するパルス計数手段と、前記
パルス計数手段からの計数値に基づいて一定時間毎の前
記溶接電流の平均値を求める溶接電流平均値演算手段
と、前記溶接電流平均値演算手段で求められた前記溶接
電流の平均値に基づいて溶接状況ないし溶接結果を判定
する判定手段とを具備する構成とした。

【００１１】また、本発明の第２のアーク溶接モニタ装
置は、アーク溶接機によるアーク溶接を監視するアーク
溶接モニタ装置において、溶接電極と母材間のアーク電
圧を検出し、前記アーク電圧の電圧値を表すアナログの
電圧信号を出力するアーク電圧検出手段と、前記アーク
電圧検出手段からの前記アナログ電圧信号をその電圧レ
ベルにほぼ比例した周波数を有するパルス信号に変換す
る電圧−周波数変換回路と、前記電圧−周波数変換回路
からの前記パルス信号を一定時間毎に計数するパルス計
数手段と、前記パルス計数手段からの計数値に基づいて
一定時間毎の前記アーク電圧の平均値を求めるアーク電
圧平均値演算手段と、前記アーク電圧平均値演算手段で
求められた前記アーク電圧の平均値に基づいて溶接状況
ないし溶接結果を判定する判定手段とを具備する構成と
した。

【００１２】

【作用】本発明では、電圧−周波数変換回路より出力さ
れるパルス信号をパルス計数手段が一定時間毎に計数す
る。このパルス計数値は、計数時間におけるパルス信号
の周波数の平均値に比例し、ひいてはアーク溶接測定対
象（溶接電流またはアーク電圧）の平均値に比例した値
である。したがって、特別な演算を要することなく、こ
のパルス計数値からアーク溶接測定対象の平均値を求め
ることができる。この平均値を監視値と比較すること
で、その比較結果を基にアーク溶接の溶接状況ないし溶
接結果を判定することができる。

【００１３】

【実施例】以下、図１〜図６を参照して本発明の実施例
を説明する。

【００１４】図１は、本発明のアーク溶接モニタ装置を
直流アーク溶接機に適用した一実施例の全体構成を示
す。この直流アーク溶接機は、電源装置１０より溶接ト
ーチ１２側の溶接電極（溶接ワイヤ）１４と母材１６と
の間に直流電圧を印加し、ガスシールドアーク溶接法に
よりＭＩＧ溶接またはＭＡＧ溶接を行う。溶接ワイヤ１
４と母材１６との間では、不活性ガスまたは炭酸ガス等
からなるシールドガスの雰囲気中でアークが発生し、消
耗性の溶接ワイヤ１４は溶融しながら所定の速度で母材
１６側へ送給されるようになっている。

【００１５】このアーク溶接機において、本実施例のア
ーク溶接モニタ装置は、次のようにアーク電圧および溶
接電流を検出するための手段を備える。

【００１６】アーク溶接を検出するために、溶接ワイヤ
１４および母材１６にアーク電圧検出回路１８の一対の
入力端子がそれぞれ接続される。アーク電圧検出回路１
８の出力端子はＶ−Ｆ（電圧−周波数）変換回路２０の
入力端子に接続され、Ｖ−Ｆ変換回路２０の出力端子は
カウンタ２２の入力端子に接続されている。カウンタ２
２の出力端子はＣＰＵ２４のデータ端子に接続されてい
る。アーク溶接中、アーク電圧検出回路１８の出力端子
には、アーク電圧Ｅを表すアナログの電圧信号ＶＥが得
られる。Ｖ−Ｆ変換回路２０は、この電圧信号ＶＥを入
力し、その電圧レベルにほぼ比例する周波数を有するパ
ルス信号ＰＥを出力する。カウンタ２２は、このパルス
信号ＰＥを一定時間毎に計数し、その計数値ＮＥをＣＰ
Ｕ２４に与える。

【００１７】また、溶接電流を検出するために、電源装
置１０と母材１６とを接続する導体１７に電流検出コイ
ル２６が取り付けられ、このコイル２６の出力端子に溶
接電流検出回路２８の入力端子が接続される。溶接電流
検出回路２８の出力端子はＶ−Ｆ変換回路３０の入力端
子に接続され、Ｖ−Ｆ変換回路３０の出力端子はカウン
タ３２の入力端子に接続されている。カウンタ３２の出
力端子はＣＰＵ２４のデータ端子に接続されている。ア
ーク溶接中、溶接電流検出回路２８の出力端子には、溶
接電流Ｉを表すアナログの電圧信号ＶＩが得られる。Ｖ
−Ｆ変換回路２０は、この電圧信号ＶＩを入力し、その
電圧レベルにほぼ比例する周波数を有するパルス信号Ｐ
Ｉを出力する。カウンタ２２は、このパルス信号ＰＩを
一定時間毎に計数し、その計数値ＮＩをＣＰＵ２４に与
える。

【００１８】ＣＰＵ２４は、キーボード３４，ＲＯＭ３
６，ＲＡＭ３８，表示装置４０，プリンタ４２および外
部インタフェース回路４４等とも接続しており、ＲＯＭ
３６に格納されているプログラムを実行することによ
り、本アーク溶接モニタ装置における各種の演算，制御
を行う。ＲＡＭ３８には，ＣＰＵ２４で演算されるデー
タが格納されるほか、キーボード３４を通じて入力され
た監視値や平均化時間等の各種設定値データ等も格納さ
れる。表示装置４０およびプリンタ４２は、測定値や判
定結果等の出力に用いられる。インタフェース４４は、
アーク溶接機のコントローラ等との接続に用いられる。

【００１９】図２は、本アーク溶接モニタ装置において
一般的な平均化法を用いてアーク溶接の監視処理を行う
場合のＣＰＵ２４の処理動作を示すフローチャートであ
る。ここで、一般的な平均化法とは、図３に示すよう
に、時間軸上で平均化時間Ｔを周期的に繰り返して各平
均化時間Ｔi 内の平均値を求める測定法である。

【００２０】アーク溶接中、図３の（Ａ）に示すような
溶接電流Ｉが流れると、この溶接電流Ｉの電流波形に対
応した電圧波形の電圧信号ＶＩが溶接電流検出回路２８
より出力される。この電圧信号ＶＩは、Ｖ−Ｆ変換回路
３０で図３の（Ｂ）に示すようなパルス信号ＰＩに変換
される。このパルス信号ＰＩはカウンタ３２に入力さ
れ、カウンタ３２の出力端子にパルス信号ＰＩの計数値
が得られる。たとえば、Ｖ−Ｆ変換回路３０が入力電圧
１０Ｖに対して周波数１ＭＨｚのパルス信号ＰＩを出力
するように動作する場合は、電圧信号ＶＩが１Ｖで１０
ｍｓｅｃ持続すると、その間にカウンタ３２は１０００
個（パルス）のパルス信号ＰＩを計数することになる。

【００２１】図２において、ＣＰＵ２４は、各平均化時
間Ｔi の終了時にカウンタ３２の出力を読み取り、当該
平均化時間Ｔi 分のパルス計数値ＮＩi を割り出す（ス
テップ１，２）。この計数値ＮＩi は、当該平均化時間
Ｔi におけるパルス信号ＰＩの周波数の平均値に比例
し、ひいては電圧信号ＶＩの電圧レベル平均値つまり溶
接電流Ｉの電流平均値に比例した値である。したがっ
て、計数値ＮＩi に所定の定数（校正値）を乗算するこ
とで溶接電流Ｉの平均値ＭＩi が求まり、ＣＰＵ２４は
この平均値ＭＩi を測定値としてＲＡＭ３８にいったん
格納する（ステップ２）。次に、ＣＰＵ２４は、平均値
ＭＩi と溶接電流監視値とをＲＡＭ３８より読み出して
それらを比較する（ステップ３）。溶接電流監視値は上
限および下限監視値として設定されている。ＣＰＵ２４
は、平均値（測定値）ＭＩi がその上限および下限監視
値の範囲内にあれば溶接正常、範囲外にあれば溶接異常
と判定し、表示装置４０またはプリンタ４２を通じて正
常表示または異常表示を行う（ステップ４，５）。そし
て、溶接時間が終了するまで、上記の処理を繰り返す
（ステップ６，７）。

【００２２】なお、ステップ１をタイマ回路に行わせ、
ステップ２〜６をＣＰＵ２４が割込みで処理するように
してもよい。そのようにすると、ＣＰＵ２４は多くの時
間を条件切り替えやインタフェース処理等の他の処理に
向けることができるので、ＣＰＵ処理の高度化・多機能
化をはかることができる。

【００２３】図２および図３には溶接電流Ｉについてア
ーク溶接を監視する部分（２４〜３２）の作用が示され
ているが、アーク電圧Ｖについてアーク溶接を監視する
部分（１８〜２４）においても上記と同様の作用が行わ
れる。これら２つの監視系を選択的に動作させてもよ
く、あるいは同時的に動作させてもよい。

【００２４】このように、本実施例のアーク溶接モニタ
装置では、Ｖ−Ｆ変換回路（２０，３０）より出力され
るパルス信号（ＰＶ，ＰＩ）をカウンタ（２２，３２）
が計数することで、各平均化時間Ｔi 当たりのパルス計
数値（ＭＶi ，ＭＩi ）がそのまま各平均化時間Ｔi 内
のアーク電圧Ｅ，溶接電流Ｉの平均値に比例した値とな
っている。ＣＰＵ２４は、各平均化時間Ｔi の終了時に
カウンタ（２２，３２）の出力を読み取るだけで、特別
な演算を要することなく、アーク電圧Ｅ，溶接電流Ｉの
平均値（測定値）を得ることができる。このように、サ
ンプリングデータを継続的に取り込む必要もなければ面
倒な平均値演算を行う必要もないので、多くの時間を他
の処理に向けることができる。

【００２５】また、Ｖ−Ｆ変換回路（２０，３０）とカ
ウンタ（２２，３２）の両者を合わせても高速Ａ／Ｄ変
換器よりは格段に安価な回路であり、ＣＰＵ２４も特に
高速のものである必要はなく、ＲＡＭ３６もサンプリン
グデータを格納する必要がなく小容量のメモリで足りる
ので、従来のアーク溶接モニタ装置と比較して装置コス
トが大幅に下がっている。

【００２６】また、平均化時間Ｔi を変える度にサンプ
リングデータ数や平均値演算式等を再設定する必要はな
く、計数時間を管理（認識）してさえいれば平均化時間
Ｔiがどのような値でもカウンタ（２２，３２）のパル
ス計数値（ＭＶi ，ＭＩi ）からその平均化時間Ｔi に
おけるアーク電圧Ｅ，溶接電流Ｉの平均値を容易に割り
出せるので、平均化時間Ｔi を多種類または任意に設定
することができる。したがって、種々の溶接条件に対し
て最適な平均化時間Ｔを設定することが可能であり、測
定ないし監視精度を向上させることができる。

【００２７】また、このような本実施例における平均化
処理のフレキシビリティは、移動平均法によって平均化
測定を行う場合に大なる効果を発揮する。

【００２８】図４は、移動平均法を用いてアーク溶接の
監視制御を行う場合のＣＰＵ２４の処理動作を示すフロ
ーチャートである。ここで、移動平均法とは、図５に示
すように、時間軸上で平均化時間Ｔを一定のピッチδ
（δ＜Ｔ）で移動させながら、移動ピッチδ毎に各平均
化時間Ｔi 内の平均値を求める測定法である。なお、説
明の便宜上、図４において、電圧信号ＶＩつまり溶接電
流Ｉの波形（Ａ）およびパルス信号ＰＩの波形（Ｂ）は
それぞれ図３の波形（Ａ），（Ｂ）と同じであるとす
る。

【００２９】移動平均法においても、溶接電流Ｉの電流
波形に対応した電圧波形の電圧信号ＶＩが溶接電流検出
回路２８の出力端子に得られ、この電圧信号ＶＩがＶ−
Ｆ変換回路３０でパルス信号ＰＩに変換され、このパル
ス信号ＰＩがカウンタ３２に入力され、カウンタ３２の
出力端子にパルス信号ＰＩの計数値が得られる。

【００３０】ただし、移動平均法では、ＣＰＵ２４がカ
ウンタ３２の計数値を読み込むタイミングが一般的平均
化法と異なる。つまり、図５に示すように、ＣＰＵ２４
は、移動時間δi の終了時にカウンタ３２の出力ＮＩを
読み取り、当該移動時間δｉ分のパルス計数値Ｎδi を
割り出す（ステップ１’，２Ａ）。このように各移動ピ
ッチ毎に割り出したパルス計数値Ｎδi を割り出してメ
モリに記憶しておくことによって、当該平均化時間Ｔi
分のパルス計数値ＮＩi は次の式から求めることができ
る（ステップ２Ｂ）。 ＮＩi ＝ＮＩi-1 ＋Ｎδi −Ｎδi-3 ……（１）

【００３１】ここで、Ｎδi-3 は、直前の平均化時間Ｔ
i-1 と今回の平均化時間Ｔi との開始点の差に相当する
移動時間δi-3 分のパルス計数値Ｎδi である。このよ
うにして各平均化時間Ｔi 分のパルス計数値ＮＩi を求
めた後の処理（ステップ３〜７）は、上記一般平均化法
と同様に行ってよい。

【００３２】なお、図４および図５でも溶接電流Ｉにつ
いてアーク溶接を監視する部分（２４〜３２）の作用が
示されているが、アーク電圧Ｖについてアーク溶接を監
視する部分（１８〜２４）においても上記と同様の作用
が行われてよい。

【００３３】このような移動平均法によると、測定対象
（溶接電流、アーク電圧）ないし測定データに含まれる
アンダシュートやオーバシュート等の無意味なノイズ、
変動を広い平均化時間Ｔで除去または吸収することがで
きると同時に、実質的なアーク変動を狭い移動ピッチδ
で確実に捉えることが可能である。そのためには、平均
化時間Ｔおよび移動ピッチδをそれぞれ任意の値に設定
できることが好ましいのであるが、上記したように本実
施例のアーク溶接モニタ装置はこの条件に適うものであ
り、移動平均法の実用性を高めることができる。

【００３４】上記演算式（１）は一例であり、移動平均
法における平均値演算はソフトウェアに負担をかけるこ
となく種々の変形が可能である。また、移動平均法にお
いては、図６に示すように、カウンタ（たとえば３２）
を複数個（３２Ａ，３２Ｂ，…，３２Ｎ）設け、各移動
時間δi 毎にカウンタ３２Ａ，３２Ｂ，…，３２Ｎを順
次切り替えて計数させることで、各平均化時間Ｔi 分の
計数値ＮＩi がいずれかのカウンタの出力にそのまま得
られるようにすることができる。これにより、ＣＰＵ２
４は各移動時間δi 毎にそのカウンタの出力を読み取る
だけで、直ちに平均値を割り出すことが可能となる。

【００３５】また、図６の回路構成において、各カウン
タ毎に移動ピッチδまたは平均化時間Ｔの長さを別々に
設定することで（たとえば平均化時間をカウンタ３２Ａ
には２０ｍｓｅｃ，カウンタ３２Ｂには５０ｍｓｅｃ，
…、カウンタ３２Ｎには１００ｍｓｅｃを割り当てるこ
とで）、アーク溶接をより多視的に監視することが可能
である。

【００３６】上記した実施例におけるアーク溶接機はＮ
ＩＧ溶接またはＭＡＧ溶接を行うものであったが、ＰＩ
Ｇ溶接を行うアーク溶接機にも本発明は適用可能であ
る。

【００３７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のアーク溶
接モニタ装置によれば、電圧−周波数変換回路とパルス
計数手段とを組み合わせた構成により、高速のサンプリ
ングおよび複雑な演算を不要にして装置コストを下げる
と同時にＣＰＵ機能を高めることができ、また種々の溶
接条件に対して任意の平均化時間を設定することも可能
であり、測定精度ないし監視精度を向上させることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のアーク溶接モニタ装置を直流アーク溶
接機に適用した一実施例の全体構成を示すブロック図で
ある。

【図２】実施例のアーク溶接モニタ装置において一般的
な平均化法を用いてアーク溶接の監視処理を行う場合の
ＣＰＵの処理動作を示すフローチャートである。

【図３】実施例における一般的な平均化法による平均値
測定の作用を説明するための図である。

【図４】実施例のアーク溶接モニタ装置において移動平
均法を用いてアーク溶接の監視処理を行う場合のＣＰＵ
の処理動作を示すフローチャートである。

【図５】実施例における移動平均法による平均値測定を
説明するための図である。

【図６】実施例のアーク溶接モニタ装置におけるカウン
タ回路の一変形例を示すブロック図である。

【図７】従来のアーク溶接モニタ装置におけるＣＰＵの
演算制御動作を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１４ 溶接ワイヤ（溶接電極） １６ 母材 １８ アーク電圧検出回路 ２０，３０ 電圧−周波数変換回路 ２２，３２ カウンタ ２４ ＣＰＵ（マイクロプロセッサ） ２６ 電流検出コイル ２８ 溶接電流検出回路 ３６ ＲＯＭ ３８ ＲＡＭ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 アーク溶接機によるアーク溶接を監視す
   るアーク溶接モニタ装置において、 溶接電極と母材を流れる溶接電流を検出し、前記溶接電
   流の電流値を表すアナログの電圧信号を出力する溶接電
   流検出手段と、 前記溶接電流検出手段からの前記アナログ電圧信号をそ
   の電圧レベルにほぼ比例した周波数を有するパルス信号
   に変換する電圧−周波数変換回路と、 前記電圧−周波数変換回路からの前記パルス信号を一定
   時間毎に計数するパルス計数手段と、 前記パルス計数手段からの計数値に基づいて一定時間毎
   の前記溶接電流の平均値を求める溶接電流平均値演算手
   段と、 前記溶接電流平均値演算手段で求められた前記溶接電流
   の平均値に基づいて溶接状況ないし溶接結果を判定する
   判定手段と、を具備することを特徴とするアーク溶接モ
   ニタ装置。
2. 【請求項２】 アーク溶接機によるアーク溶接を監視す
   るアーク溶接モニタ装置において、 溶接電極と母材間のアーク電圧を検出し、前記アーク電
   圧の電圧値を表すアナログの電圧信号を出力するアーク
   電圧検出手段と、 前記アーク電圧検出手段からの前記アナログ電圧信号を
   その電圧レベルにほぼ比例した周波数を有するパルス信
   号に変換する電圧−周波数変換回路と、 前記電圧−周波数変換回路からの前記パルス信号を一定
   時間毎に計数するパルス計数手段と、 前記パルス計数手段からの計数値に基づいて一定時間毎
   の前記アーク電圧の平均値を求めるアーク電圧平均値演
   算手段と、 前記アーク電圧平均値演算手段で求められた前記アーク
   電圧の平均値に基づいて溶接状況ないし溶接結果を判定
   する判定手段と、を具備することを特徴とするアーク溶
   接モニタ装置。