JPH0844583A - 情報処理装置における診断システム - Google Patents

情報処理装置における診断システム

Info

Publication number
JPH0844583A
JPH0844583A JP6194700A JP19470094A JPH0844583A JP H0844583 A JPH0844583 A JP H0844583A JP 6194700 A JP6194700 A JP 6194700A JP 19470094 A JP19470094 A JP 19470094A JP H0844583 A JPH0844583 A JP H0844583A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
execution
information processing
processing apparatus
result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6194700A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Goto
実 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP6194700A priority Critical patent/JPH0844583A/ja
Publication of JPH0844583A publication Critical patent/JPH0844583A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 各テスト実行部100−1〜100−nは、
情報処理装置の障害箇所の診断を行うためのテストを実
行する。テストテーブル200は、各テスト実行部10
0−1〜100−nの実行結果に対する次のテスト実行
部100−1〜100−nと障害箇所とを示している。
診断部300は、障害箇所診断を行う場合、先ず、テス
トテーブル200を使用して、あるテスト実行部100
−1〜100−nに実行指示を行う。次に、テストの実
行結果に基づき、テストテーブル200を参照して、次
のテスト実行部100−1〜100−nを示している
か、あるいは障害箇所を示しているかを調べる。ここで
次のテスト実行部100−1〜100−nを示していた
場合は、そのテスト実行部100−1〜100−nの実
行指示を行い、障害箇所を示していた場合はこれを診断
結果とする。 【効果】 操作員の能力や経験に左右されない診断結果
を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置における
各部の診断を行って、故障箇所を特定する情報処理装置
における診断システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、情報処理装置の故障箇所を診断す
る場合は、テストプログラムを実行し、その結果、エラ
ーが発生した場合、そのテストプログラムの対象として
いるハードウェアからの生情報(ステータスレジスタ等
のデータ)を、ディスプレイ等に表示している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような診断方法では、情報処理装置の障害箇所を特定す
るためには、操作員がテスト内容の分析やエラー情報の
解析を行った上で、次にどのテストを行えばよいかを判
断し、何種類かのテストを行って情報を収集しなければ
ならない。従って、このような方法は、操作員の負担が
大きく、しかも、操作員の能力や経験により、障害箇所
の診断結果に差が生じるといった恐れもあった。
【0004】このような点から、操作員の負担を軽減
し、かつ、操作員の能力や経験が障害箇所診断結果に影
響を与えない情報処理装置における診断システムが要望
されていた。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の情報処理装置に
おける診断システムは、前述の課題を解決するために、
情報処理装置の障害箇所を検出するためのテストを実行
する複数のテスト実行部と、これらのテスト実行部のテ
スト実行結果に対する障害箇所、およびテスト実行部の
テスト実行結果に対する次のテスト実行部へのポインタ
を示すテストテーブルと、情報処理装置の障害箇所診断
を行う場合は、テストテーブルを使用して、各テスト実
行部の実行を指示し、更に、その実行結果が次のテスト
実行部へのポインタを示していた場合は、示された次の
テスト実行部の実行を指示し、また、実行結果が障害箇
所を示していた場合は、その障害箇所を診断結果とする
診断部とを備えたことを特徴とするものである。
【0006】
【作用】本発明の情報処理装置における診断システムに
おいては、情報処理装置の障害箇所診断を行う場合、診
断部は、テストテーブルを使用して、対応するテスト実
行部に対してテスト実行を指示する。これにより、テス
ト実行部がテストを実行し、診断部はこのテスト実行結
果を受け取る。そして、診断部はテストテーブルを参照
して、そのテスト実行結果に対応した次のテスト実行部
へのポインタ、あるいは障害箇所を得る。ここで、テス
トテーブルが次のテスト実行部へのポインタを示してい
た場合は、示されたテスト実行部への実行指示を行い、
障害箇所を示していた場合は、その障害箇所を診断結果
として出力する。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。図1は本発明の情報処理装置における診断シ
ステムの実施例を示すブロック図である。図のシステム
は、テストプログラム群100、テストテーブル20
0、診断部300から構成されている。
【0008】テストプログラム群100は、複数のテス
ト実行部100−1〜100−nからなり、これらテス
ト実行部100−1〜100−nは、診断部300から
のテスト実行指示によって、実行を開始し、また、実行
結果を診断部300に送出するよう構成されている。各
テスト実行部100−1〜100−nは、各々テストプ
ログラムからなり、例えばメモリテスト用プログラムや
DMACテスト用プログラム等から構成されている。
【0009】テストテーブル200は、各テスト実行部
100−1〜100−nのテスト実行結果と、障害箇所
との対応関係を示すと共に、各テスト実行部100−1
〜100−nのテスト実行結果と、次のテスト実行部1
00−1〜100−nへのポインタを示す診断情報ファ
イルである。
【0010】図2に、そのテストテーブル200の構成
例を示す。各テストテーブルは、そのテストを実行した
結果としての終了ステータスに対する次テストテーブル
ポインタと、障害箇所との対応関係を示すテーブルであ
る。例えば、HD(ハードディスク)ライト・リード・
コンペアテストテーブルでは、その終了ステータスがコ
ンペアエラーであった場合は、次テストテーブルポイン
タはメモリテスト、一方、終了ステータスがOK(異常
なし)であった場合は、次テストテーブルポインタはE
ND(次テストなし)、障害箇所はNONE(障害箇所
なし)となっている。
【0011】このような各テスト実行部100−1〜1
00−nの実行順は、ツリー構造となっており、これを
以下に示す。図3は、各テスト実行部100−1〜10
0−nの実行順のツリー構造の説明図である。また、図
4は、各テスト実行部100−1〜100−nの実行範
囲を示す説明図である。
【0012】これらの図に示すように、各テスト実行部
100−1〜100−nは、予め、テストの実行順序が
決定されており、各テストの実行中にエラーが発生した
場合にその終了ステータスから、テストテーブル200
に基づき、障害箇所を特定するものである。即ち、実行
順序は、情報処理装置における主要部から周辺部へとテ
スト実行対象の範囲を拡大するよう決定されている。
尚、各テスト実行部100−1〜100−nの実行動作
に関しては、後で詳述する。また、これらの図におい
て、DMACはダイレクト・メモリ・アクセス・コント
ローラ、SCSIはスモール・コンピュータ・システム
・インタフェースを示している。
【0013】診断部300は、情報処理装置における各
部の診断を行う場合、上述したテストテーブル200に
基づき、各テスト実行部100−1〜100−nへの実
行指示を行い、また、各テスト実行部100−1〜10
0−nからのテスト終了結果を入力して、そのテスト終
了結果に基づきテストテーブル200を参照して、次の
テスト実行部100−1〜100−nへの実行指示、ま
たは障害箇所の特定を行う機能を備えたものであり、テ
ストプログラム起動部301、実行結果解析部302、
障害箇所出力部303を備えている。
【0014】ここで、テストプログラム起動部301
は、操作員によるテスト実行部100−1〜100−n
の指示や、実行結果解析部302により生成されるテス
ト実行部100−1〜100−n起動コマンドにより、
各テスト実行部100−1〜100−nに対して起動指
示を行う機能を備えている。
【0015】また、実行結果解析部302は、テスト実
行部100−1〜100−nの実行結果を取得し、テス
トテーブル200を参照して、次に実行するテストの起
動コマンドを生成すると共に、テストテーブル200を
参照した結果、障害箇所を示していた場合は、その障害
箇所を診断結果として出力する機能を備えている。
【0016】更に、障害箇所出力部303は、実行結果
解析部302で診断結果として出力された障害箇所を操
作員に通知するための機能を備え、図示しないディスプ
レイ等に表示させる表示信号等を出力する機能を備えて
いる。
【0017】次に、本実施例の動作について説明する。
図5は、本実施例の動作フローチャートである。先ず、
本システムに対し、操作員から起動コマンドが入力され
ると、診断部300は、この起動コマンドに対応して、
テスト実行部100−1〜100−nの実行指示を行う
(ステップS1)。尚、この実行指示は、診断対象のモ
ジュールの全ての動作が含まれるようなテストを行うテ
スト実行部100−1〜100−nへの実行指示であ
る。
【0018】これにより、実行指示されたテスト実行部
100−1〜100−nは、対応するテストを行い(ス
テップS2)、そのテストを実行した結果(=終了ステ
ータス)を出力する。テスト実行部100−1〜100
−nから出力された終了ステータスは、実行結果解析部
302で解析される(ステップS3)。即ち、実行結果
解析部302は、テストテーブル200を参照し、それ
に対応する次テストテーブルポインタまたは障害箇所を
抽出する。
【0019】ここで、次テストテーブルポインタが「E
ND」であるか否かによって診断終了か否かを判定し
(ステップS4)、次テストテーブルポインタが「EN
D」でない場合は、診断処理は続行であり、その欄に示
されている次テストテーブルの起動コマンドを生成し、
対応するテスト実行部100−1〜100−nに対して
その起動を指示し(ステップS5)、ステップS2に戻
る。一方、ステップS4において、次テストテーブルポ
インタが「END」であった場合は、診断処理が終了で
あるため、実行結果解析部302は、障害箇所欄に記載
されている障害箇所名を解析結果とし、また障害箇所出
力部303は、図示しないディスプレイ等にこれを表示
する(ステップS6)。
【0020】次に、具体例を図2〜図4を参照して説明
する。先ず、図3に示す診断ツリーは、あるテストとそ
の実行結果により次に実行するテストを関連付けたツリ
ーである。たとえば、HDライト・リード・コンペアテ
ストを行った際、コンペアエラーが発生した場合、次に
メモリテストを行い、更に、その実行結果により、ツリ
ーをたどり最下段にたどりつくと、障害箇所が判明する
ものである。そして、このツリーの作成においては、図
4に示すように、ハードウェアをモデル化し、テストの
動作範囲(そのテストにより動作するハードウェアの範
囲)を順次広げていくことが必要である。これにより、
正常動作が保証されるハードウェアの範囲を広げていく
ことで、障害箇所の特定が行えるものである。
【0021】即ち、本実施例では、最初に、情報処理装
置における全ての要素(診断対象となるハードウェア)
を含むようなテストを行い、このテストで何らかのエラ
ーが発生した場合、動作として上位のハードウェアから
下位のハードウェア(主要部から周辺部)へ、正常動作
が保証されるハードウェアを広げていくことで障害箇所
を特定するものである。
【0022】また、図2は、図3の診断ツリーをデータ
構造に変換したものである。例えば、このようなテーブ
ルを用いることによって、HDライト・リード・コンペ
アテストで、コンペアエラーが発生した場合、次はメモ
リテストが実行され、更に、メモリテストでは“O
K”、DMACテストでは“OK”、SCSIテストで
ステータスエラーとなった場合は、障害箇所はSCSI
と特定されるものである。
【0023】尚、上記実施例では、診断対象となるハー
ドウェアを、HDユニット、SCSI、DMAC、メモ
リとしたが、これに限定されるものではなく、各種のハ
ードウェアに対して、障害箇所が特定されるようテスト
テーブル200を設定することによって、任意の診断を
行うことが可能である。
【0024】以上のように、上記実施例の情報処理装置
における診断システムでは、テストテーブルが、テスト
実行部の終了ステータスに対する次テストテーブルポイ
ンタと障害箇所とを示し、かつ、次テストテーブルポイ
ンタが今回のテストでの終了を示している場合に障害箇
所を示すよう構成され、また、診断部は、主要部から周
辺部へとテスト実行対象の範囲を拡大するよう予めテス
トの実行順序が決定され、この実行順序に従ってテスト
実行部に実行指示を行うよう構成されているため、障害
箇所の特定が容易に行え、かつ、正確な診断結果を得る
ことができる。また、このような診断システムは、特に
保守員がフィールドで情報処理装置の保守を行う場合に
高い効果を奏するものである。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の情報処理
装置における診断システムによれば、テスト実行結果と
障害箇所との対応関係を示すと共に、テスト実行結果と
次のテストへのポインタを示すテストテーブルを設け、
各部の診断を行う場合は、そのテストテーブルに基づ
き、実行結果が障害箇所を示しているまで、テストを実
行するようにしたので、操作員の負担を軽減することが
できると共に、操作員の能力や経験に左右されない診断
結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の情報処理装置における診断システムの
構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の情報処理装置における診断システムに
おけるテストテーブルの構成例を示す図である。
【図3】本発明の情報処理装置における診断システムに
おけるテスト実行順の説明図である。
【図4】本発明の情報処理装置における診断システムに
おける各テストの実行範囲の説明図である。
【図5】本発明の情報処理装置における診断システムの
動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
100−1〜100−n テスト実行部 200 テストテーブル 300 診断部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報処理装置の障害箇所の診断を行うた
    めのテストを実行する複数のテスト実行部と、 前記テスト実行部のテスト実行結果と、障害箇所との対
    応関係を示すと共に、当該テスト実行部の実行結果と、
    次のテスト実行部へのポインタを示すテストテーブル
    と、 前記情報処理装置の障害箇所診断を行う場合、前記テス
    トテーブルを使用して、各テスト実行部の実行を指示
    し、その実行結果が次のテスト実行部へのポインタを示
    していた場合は、当該次のテスト実行部の実行を指示
    し、前記実行結果が障害箇所を示していた場合は、当該
    障害箇所を診断結果とする診断部とを備えたことを特徴
    とする情報処理装置における診断システム。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の情報処理装置における診
    断システムにおいて、 テストテーブルは、テスト実行部の終了ステータスに対
    する次テストテーブルポインタと障害箇所とを示し、か
    つ、次テストテーブルポインタが今回のテストでの終了
    を示している場合に障害箇所を示すよう構成されている
    ことを特徴とする情報処理装置における診断システム。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の情報処理装置における診
    断システムにおいて、 診断部は、情報処理装置の障害箇所診断を行う場合、当
    該情報処理装置における主要部から周辺部へとテスト実
    行対象の範囲を拡大するよう予め実行順序が決定され、
    この実行順序に従ってテスト実行部に実行指示を行うよ
    う構成されていることを特徴とする情報処理装置におけ
    る診断システム。
JP6194700A 1994-07-27 1994-07-27 情報処理装置における診断システム Pending JPH0844583A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6194700A JPH0844583A (ja) 1994-07-27 1994-07-27 情報処理装置における診断システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6194700A JPH0844583A (ja) 1994-07-27 1994-07-27 情報処理装置における診断システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0844583A true JPH0844583A (ja) 1996-02-16

Family

ID=16328819

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6194700A Pending JPH0844583A (ja) 1994-07-27 1994-07-27 情報処理装置における診断システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0844583A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012203681A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Fujitsu Ltd 監視方法、情報処理装置および監視プログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012203681A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Fujitsu Ltd 監視方法、情報処理装置および監視プログラム
US8904234B2 (en) 2011-03-25 2014-12-02 Fujitsu Limited Determination of items to examine for monitoring

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3206096B2 (ja) 入力データ処理装置
JPH0844583A (ja) 情報処理装置における診断システム
JPH0577143A (ja) 自動化ラインの故障診断装置
JP2002024052A (ja) コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法
JPH01286694A (ja) プラント分散制御システムの故障診断装置
JP2549690B2 (ja) チャネルプロセッサの擬似障害試験方式
JPS6014351A (ja) 自動試験方式
JPS6151578A (ja) 電子回路装置障害診断方式
JPH07248810A (ja) 数値制御装置
JPS5849900B2 (ja) Ipl時の診断方式
JPH0667921A (ja) 障害処理機能を有する情報処理装置
JPS62210551A (ja) マイクロプログラム追跡装置
JPH0224583A (ja) 半導体測定装置
JPS63201736A (ja) プログラマブルコントロ−ラのプログラミング装置
JPH1091477A (ja) 制御用マイクロコンピュータ装置及び該装置の保守ツール
JPH0341528A (ja) 計算機における診断装置
JPH06139093A (ja) ハードウェア障害の再現試験方式
JPS6125174B2 (ja)
JPH05143395A (ja) 診断プログラム実行方式およびそれに使用されるログ情報表示方式
JPH02232740A (ja) サービスプロセッサの試験方式
JPS6289144A (ja) 論理装置の故障診断方式
JPS63157244A (ja) 周辺装置試験プログラムデバグ方式
JPH01134539A (ja) マイクロプログラムトレース方式
JPH01131933A (ja) 電子計算機の診断方式
JPS624743B2 (ja)