JPH08338847A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH08338847A
JPH08338847A JP8189056A JP18905696A JPH08338847A JP H08338847 A JPH08338847 A JP H08338847A JP 8189056 A JP8189056 A JP 8189056A JP 18905696 A JP18905696 A JP 18905696A JP H08338847 A JPH08338847 A JP H08338847A
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隆浩 小圷
Yukinobu Tagami
幸伸 田上
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Abstract

(57)【要約】 【課題】電源立ち上げ時で分析作業開始前に及び分析作
業後で電源オフ前に、オペレータによって選択された分
析装置の必要箇所に対し浄化のための準備動作を実行さ
せる。 【解決手段】複数の処理単位を有する処理一覧がCRT
118に表示されると、オペレータはその処理一覧の中
から必要な準備処理単位210を選ぶ。また、オペレー
タは電源立ち上げ時の処理か電源オフ前の処理かを分析
装置に指示しておく。時刻設定画面を介して予約された
電源立ち上げ時刻になると、電源立ち上げ時のために選
択された浄化準備動作が実行され、分析作業が済むと電
源オフ前のために選択された浄化準備動作が実行され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動分析装置に係
り、特に血液や尿の如き生体液試料を分析するに好適な
自動分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】特開昭61−223562号公報に示された従来
の自動分析装置は、分光光度計を備えており、分析装置
のメインスイッチを入れる時刻を設定できるタイマ装置
を備えている。この従来技術では、分析作業開始前の所
望の時刻にメインスイッチが入るようにタイマ装置を設
定しておくことにより、早めに電源を立ち上げ、光源や
増幅器などのウォーミングアップを早く開始させる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、安定し
た測定データを得るためには、液体試料と試薬を混合し
て反応させる反応容器の洗浄や、反応容器の温度を一定
に保持する反応槽の水交換などの分析準備処理を行う必
要がある。従来の自動分析装置では、この分析準備処理
をオペレータが行うことになり、そのために無駄な時間
を費やさざるを得ない。すなわち、図6の状態遷移図に
示すように、電源をオンして初期設定処理が完了して
も、装置がスタンバイ状態(入力待ち状態)になってか
ら反応容器の洗浄や、反応槽の水交換などの分析準備処
理を指示しなければならないため、分析開始可能なスタ
ンバイ状態になるまでオペレータは装置から離れること
ができない。
【0004】また、オペレータが指示しなければならな
い分析準備処理は複数個になることもあり、これらの処
理をオペレータが1つずつ指示して実行させようとする
と、オペレータは前の処理が終るまで次の処理を指示で
きず、無駄な時間を過ごすことになる。
【0005】本発明の目的は、分析装置による試料の分
析作業の開始前および試料分析作業が済んだ後であって
電源をオフにする前に、分析装置の選択された箇所を浄
化する準備動作をオペレータが不在であっても実行させ
ることができる自動分析装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料分析作業
時に、反応槽上に配置した反応容器内に試料と試薬を分
注し、該反応容器の内容物を測定し、内容物測定後の反
応容器を洗浄する自動分析装置において、反応容器の洗
浄や分注プローブの洗浄などの各処理単位を含む処理一
覧を記憶する処理一覧記憶手段と、その処理一覧と共
に、試料分析作業開始前の処理か試料分析作業後で電源
オフ前の処理かを区別して示す処理名称欄を画面に表示
する画面表示手段と、試料分析作業開始前の処理又は上
記電源オフ前の処理に対応させて画面を介して選択され
た処理単位からなる準備動作を記憶する準備動作記憶手
段と、分析装置の予約された電源立ち上げ時刻を記憶す
る時刻記憶手段と、予約された電源立ち上げ時刻になる
と、画面を介して選択された試料分析作業開始前の準備
動作を分析装置に実行させ、かつ、上記電源オフ前の処
理が指示されているときに画面を介して選択された上記
電源オフ前の準備動作を試料分析作業後に分析装置に実
行させる制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施例を図面に
従って説明する。図1は本発明を適用した自動分析装置
の全体構成概略図である。図において、反応容器106
を収納した反応槽109は恒温槽108に連結され、一
定温度に保持されている。反応槽109の外側には、試料
分注プローブ105と試薬分注プローブ110が配設さ
れている。試料分注プローブ105は、試料ディスク1
02上に設置されている試料カップ101内の試料を、
反応容器106に分注するためのものである。試薬分注
プローブ110は、試薬ディスク112A上に設置され
ている試薬ビン112内の試薬を反応容器106に分注
するためのものである。試料分注プローブ105は試料
用ポンプ107に、試薬分注プローブ110は試薬用ポ
ンプ111にそれぞれ接続されている。
【0008】また反応槽109の外側には、前記両分注
プローブ105,110の他に、撹拌装置113と洗浄
装置119が設けられている。そして洗浄装置119は
容器ポンプ120に接続されている。さらに反応槽10
9の近傍には多波長光度計115とその光源114が配
設されている。反応槽109上の反応容器、試料ディス
ク102および試薬ディスク112は各々回転自在であ
り、かつこの回転はインターフェイス104を介してコ
ンピュータ103により制御される。またインターフェ
イス104にはアナログ/デジタルコンバータ(以下、
A/Dコンバータという)116,プリンタ117,C
RT118,キーボード121およびハードディスク
(以下、H/Dという)122が接続されている。ま
た、試料用ポンプ107,試薬用ポンプ111,容器ポ
ンプ120はインターフェイス104に、多波長光度計1
15はA/Dコンバータ116に、それぞれ接続されて
いる。なお、図中123はタイマ装置、124は電源で
ある。
【0009】以上の構成において、試料ディスク102
は、試料の順番に従って、試料分注プローブ105の下
まで回転移動し、試料は試料分注プローブ105に連結
された試料用ポンプ107により、反応容器106の中
に所定量分注される。試料を分注された反応容器106
は、恒温槽108に連絡された反応槽109の中を試薬
添加位置まで移動する。試薬添加位置まで移動した反応
容器106には、試薬分注プローブ110に連結された
試薬分注プローブ110により試薬ビン112から吸引
された所定の試薬が加えられる。試薬添加後の反応容器
106は撹拌装置113の位置まで移動し、撹拌が行わ
れる。内容物が撹拌された反応容器106は光源114か
ら発した光束を通過し、このときの反応液の吸光度は、
多波長光度計115で検知される。検知された吸光度信
号は、A/Dコンバータ116を経由し、インターフェ
イス104を介して、コンピュータ103に入り、試料
中の測定対象項目の濃度に変換される。濃度変換された
データはインターフェイス104を介してプリンタ11
7から印字出力されるか、CRT118の画面上に表示
され、H/D122に格納される。反応液に関する測光
の終了した反応容器106は洗浄装置119の位置まで
移動し、容器ポンプ120により内部の液を排出後、水
で洗浄され次の分析に供される。
【0010】ところで、電源がオンされると、コンピュ
ータ103はH/D122より分析装置を立ち上げるた
めの初期プログラムを読み取り、実行する。コンピュー
タ103は周辺機器(恒温槽108や、容器ポンプ12
0など)の初期処理を行い、スタンバイ状態になる。
【0011】しかし、分析装置が分析可能となるまでに
は、種々の分析準備処理を実行する必要がある。その例
を、下記に示す。なお、( )内の時間は所要時間を示
している。
【0012】1.光度計チェック(1〜2分)……2つ
の反応容器に脱気水を注入し、登録されている光度計の
全波長を用いて測定し、データをプリント印字する。
【0013】2.反応容器洗浄(16〜20分)……反
応容器を水あるいは洗剤を注入する位置まで移動し、水
あるいは洗剤で洗浄した後、水あるいは洗剤を排出す
る。これを全反応容器について行う。
【0014】3.サンプルピペッタ洗浄(最大2分)…
…試料分注プローブを洗浄槽まで移動させ、数回水洗い
動作を行う。これにより流路中の気泡を抜く。
【0015】4.試薬ノズル洗浄(最大2分)……試料
分注プローブを洗浄槽まで移動し、吸入,排水を数回繰
り返す。これにより流路中の気泡を抜く。
【0016】5.セルブランク測定(17〜20分)…
…反応容器内に水を注入後、水の入った反応容器の吸光
度を測定する。全反応容器について行う。
【0017】6.反応槽水交換(約4分)……反応槽内
の水を排水,給水を2回繰り返す。 7.リセット(約30秒)……機構系を初期設定位置に
移動させる。
【0018】上記に示した例からも分かるように各準備
動作に要する処理時間が非常に長いものがある。しか
も、各々の準備動作は組み合わされて処理されることも
ある。例えば、分析装置の洗浄を重点的に行いたい場合
は、反応容器洗浄,サンプルピペッタ洗浄,試薬ノズル
洗浄の各準備動作を連続して実行する。
【0019】以上のように、自動分析装置における各個
所の準備動作は処理に時間がかかるものであるが、本実
施例では、このような準備動作処理を自動的に行う。
【0020】次に、処理登録について図2及び図3を用
いて説明する。まず、オペレータの要求に基づいて一括
準備動作画面がH/D122からコンピュータ103の
読み出し指示により読み出され、CRT118上に図2
に示すような画面を表示する(図3ではステップ30
1)。次にカーソルを処理番号登録位置203へ移動さ
せ、登録したい処理番号をキーボード121より入力す
ると、番号欄206にその番号が表示される(ステップ
302)。また、カーソルを処理名称登録位置204へ
移動させ、登録したい処理名称をキーボード121より
入力すると、処理名称欄207にその名称が表示される
(ステップ303)。そして、カーソルを処理登録項目
位置205へ移動させ、処理一覧を参照して、登録した
い処理番号209をキーボード121より入力する(ス
テップ304)。
【0021】ここで、処理一覧は、分析作業前の準備動
作の処理と、分析作業後で電源オフ前の準備動作の処理
に共通のコマンドで、図2の例では処理番号209と処
理単位名210が表示されており、これらのデータはH
/D122の所定のメモリエリアに処理一覧ファイルと
して登録されている。入力した処理番号209に対応す
る処理単位名210は実行予定準備動作表示欄208に
表示され、H/D122の登録番号に対応するファイル
(例えば、図2では登録番号3,名称スタートアップ3
のファイル)に、処理一覧から選んだ処理番号209,
処理単位名210が格納される(ステップ306)。そ
して、処理番号が0を入力されるまで登録を繰り返す
が、5つ以上入力した場合はエラーとなり、再び入力す
る。
【0022】次に、登録処理の実行について説明する。
まず、一括準備動作画面をH/D122よりコンピュー
タ103に読み出し、CRT118に表示する(図4の
ステップ401)。次に実行処理番号を入力する(ステ
ップ402)。入力された番号をもとにH/D122か
ら処理番号に対応するファイルを読み込み(ステップ4
03)、登録順に処理を実行する(ステップ404)。
そして、処理番号が0になるまで登録処理を実行する
(ステップ405)。以上の動作により複数の準備動作
を一括して表示した準備動作画面を用いて実行予定とし
て選択した準備動作の登録と、登録された準備動作の実
行が行える。
【0023】次に、電源立ち上げ時の試料の分析作業前
の準備動作の処理と、試料の分析作業後で電源オフ前の
準備動作の処理について説明する。前述したように、本
実施例の自動分析装置は、タイマ装置123を介して電
源124に接続されている。タイマ装置123が設定時
刻あるいは手動によりオンすると、分析装置への電源が
供給される。
【0024】電源立ち上げ時の分析作業開始前の準備処
理では、タイマ動作時刻登録画面を、コンピュータ10
3によってH/D122から読み出し、CRT上に図5
に示すような画面を表示する。次に、現在の月,日,
時,分の項目502を設定する。現在の月,日,時刻
は、一度設定すれば更新されるので毎回設定し直すこと
はない(登録画面を表示する際に、タイマ装置から現在
の月,日,時刻を読み出す)が、停電や、時刻のずれを
生じた場合に設定し直す。次に、タイマ動作に関する設
定として、タイマ動作時刻(電源オン時刻)の月,日,
時,分の項目503の設定を行う。毎日分析を行い、休
日がない場合は、月,日は考慮しなくても良いが、休日
には分析装置を立ち上げることを止め、休日明けにはタ
イマ動作を実行するために、月,日を設定する。このよ
うに、タイマ動作時刻登録画面の如き時刻設定画面を用
いて、自動分析装置に分析作業を行わせる日だけを予約
することができ、分析作業を行わせる日における分析装
置の電源立ち上げ時刻を予約することができる。
【0025】タイマ動作の時刻の登録を実行すると、電
源オンの月,日,時刻ファイルと現在の月,日,時刻フ
ァイルをタイマ装置123に格納する。ここで、タイマ
装置123に登録してある現在時刻は、常に更新されて
いる。タイマ動作に関する設定において、電源オンの
月,日,時刻が現在の月,日,時刻より過去の場合は、
タイマ動作による電源の立ち上げは実行しない。
【0026】電源がオンしたときの処理は、図2の一括
準備動作画面の番号欄206の"3"を電源立ち上げ時の
準備動作の処理予定エリアとして指定する。このとき、
処理名称欄207を“スタートアップ”としておき、電
源が立ち上がったときの準備動作処理を予め登録してお
く。これにより、電源立ち上げ時の準備動作の処理を選
択したことになる。
【0027】次に、電源立ち上げ時のために登録された
準備動作の実行について、説明する。タイマ装置の現在
の月,日,時,分の項目502がタイマ動作時刻の月,
日,時,分の項目503になると、タイマ装置123に
より電源スイッチがオンになり、電源が供給される。登
録処理番号が“0”の場合はタイマ動作を行わないが、
“3”の場合は、コンピュータ103は、光度計や増幅
器など、分析装置を動作するための機構系の初期設定を
行い、H/D122から電源立ち上げ時の処理ファイル
を読み込む。光度計の初期設定の例としては、光源ラン
プ冷却部の流路内の冷却水の交換及び光源ランプの点灯
動作がある。冷却水を交換する場合には、電源立ち上げ
に伴って冷却水を交換し、光源ランプを点灯する。光源
ランプが性能的に安定するまでの時間は、点灯から約3
0分である。分析前の準備処理の実行は、処理ファイル
に登録してある順にプログラムを検索し、実行する。そ
して、“0”を検索したならば、処理を終了する。全て
の登録処理を終了した後は、装置の状態を保持し、オペ
レータからの分析の要求を待つ。
【0028】また、電源を切るときの設定も同様に、図
5のタイマ動作時刻登録画面を用いて実現することがで
きる。
【0029】電源をオフにするときの終了時準備動作を
予約登録する場合は、図2の一括準備動作画面を用い、
番号欄206の“4”を終了時の準備動作処理の実行予
定エリアとして指定する。このとき、処理名称欄207
を“パワーダウン”としておき、電源が切れるときの処
理を上述した電源立ち上げのときと同様に予め登録して
おく。
【0030】そして、終了処理を実行する場合は、図4
のステップ402と同様に実行すべき処理番号を入力す
ることにより、“実行する”を選択し、“4”に登録さ
れている処理を実行する。全ての登録処理が終了した時
は、図2の一括準備動作画面の番号欄206の“4”と
処理終了情報“0”をコンピュータ103に送り、タイ
マ装置123へ電源を切る信号を送信し、タイマ装置1
23は3分後に分析装置の電源をオフにする。
【0031】
【発明の効果】本発明によれば、浄化に関する複数の処
理単位を含む処理一覧を表示した画面を用いて、分析装
置の電源立ち上げ時で試料分析作業開始前の準備動作及
び試料分析作業後で電源オフ前の終了準備動作を予め選
択しておき、電源立ち上げ時及び電源オフ前のそれぞれ
に応じて浄化のために選択された準備動作を自動的に実
行させることができるので、分析装置の浄化の必要な箇
所をオペレータ不在であっても選択的に浄化できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る自動分析装置の概略構成図であ
る。
【図2】処理一覧を表示した準備動作画面の例を示す図
である。
【図3】図2の画面を用いて分析作業前の準備動作を登
録するときのフローチャートである。
【図4】図3で登録された準備動作を実行するときのフ
ローチャートである。
【図5】タイマ動作時刻登録画面の例を示す図である。
【図6】従来の分析装置を用いた場合の状態遷移図であ
る。
【符号の説明】
101…試料カップ、103…コンピュータ、104…
インターフェイス、105…試料分注プローブ、106
…反応容器、109…反応槽、110…試薬分注プロー
ブ、112…試薬ディスク、113…撹拌装置、114
…光源、115…多波長光度計、118…CRT、119
…洗浄装置、121…キーボード、122…ハードディ
スク、123…タイマ装置、124…電源。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(A)試料分析作業時に、反応槽上に配置
    した反応容器内に試料と試薬を分注し、該反応容器の内
    容物を測定し、内容物測定後の反応容器を洗浄する自動
    分析装置において、(B)反応容器の洗浄及び分注プロ
    ーブの洗浄の各処理単位を含む処理一覧を記憶する処理
    一覧記憶手段と、(C)上記処理一覧と共に、試料分析
    作業開始前の処理か試料分析作業後で電源オフ前の処理
    かを区別して示す処理名称欄を画面に表示する画面表示
    手段と、(D)上記試料分析作業開始前の処理又は上記
    電源オフ前の処理に対応させて上記画面を介して選択さ
    れた処理単位からなる準備動作を記憶する準備動作記憶
    手段と、(E)分析装置の予約された電源立ち上げ時刻
    を記憶する時刻記憶手段と、(F)上記電源立ち上げ時
    刻になると、上記画面を介して選択された試料分析作業
    開始前の準備動作を上記分析装置に実行させ、かつ、上
    記電源オフ前の処理が指示されているときに上記画面を
    介して選択された上記電源オフ前の準備動作を上記試料
    分析作業後に上記分析装置に実行させる制御手段と、を
    備えたことを特徴とする自動分析装置。
  2. 【請求項2】(A)試料の分析作業のときに、反応槽に
    配置した反応容器内に試薬と試料を分注し、上記反応容
    器の内容物を測定し、内容物測定後の反応容器を洗浄す
    る自動分析装置において、(B)反応容器の水による洗
    浄及び反応容器の洗剤による洗浄の各処理単位を含む処
    理一覧を記憶する処理一覧記憶手段と、(C)上記処理
    一覧を画面に表示すると共に、試料分析作業開始前で電
    源立ち上げ時の処理か試料分析作業後で電源オフ前の処
    理かを区別して示す処理名称欄を上記画面に表示する画
    面表示手段と、(D)上記画面を介して選択された処理
    単位からなる準備動作を上記電源立ち上げ時の処理又は
    上記電源オフ前の処理に対応して記憶する準備動作記憶
    手段と、(E)分析装置の予約された電源立ち上げ時刻
    を記憶する時刻記憶手段と、(F)上記電源立ち上げ時
    刻になると、上記画面を介して選択された試料分析作業
    開始前の準備動作を上記分析装置に実行させ、かつ、上
    記電源オフ前の処理が指示されているときに上記画面を
    介して選択された上記電源オフ前の準備動作を上記試料
    分析作業後に上記分析装置に実行させる制御手段と、を
    備えたことを特徴とする自動分析装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000304751A (ja) * 1999-04-16 2000-11-02 Shimadzu Corp 自動分析装置
JP2008292159A (ja) * 2007-04-27 2008-12-04 Sysmex Corp 検体測定装置
WO2014073684A1 (ja) 2012-11-12 2014-05-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2017033598A1 (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2019073700A1 (ja) 2017-10-12 2019-04-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61218949A (ja) * 1985-03-25 1986-09-29 Hitachi Ltd 自動分析装置
JPS61223562A (ja) * 1985-03-28 1986-10-04 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPS6250931A (ja) * 1985-08-30 1987-03-05 Hitachi Ltd パラメ−タ・テ−ブルの利用方式
JPS62173896A (ja) * 1986-01-27 1987-07-30 Hioki Denki Kk 自動測定装置
JPS63196859A (ja) * 1987-02-10 1988-08-15 Yoshitomi Pharmaceut Ind Ltd 全自動溶出試験装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61218949A (ja) * 1985-03-25 1986-09-29 Hitachi Ltd 自動分析装置
JPS61223562A (ja) * 1985-03-28 1986-10-04 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPS6250931A (ja) * 1985-08-30 1987-03-05 Hitachi Ltd パラメ−タ・テ−ブルの利用方式
JPS62173896A (ja) * 1986-01-27 1987-07-30 Hioki Denki Kk 自動測定装置
JPS63196859A (ja) * 1987-02-10 1988-08-15 Yoshitomi Pharmaceut Ind Ltd 全自動溶出試験装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000304751A (ja) * 1999-04-16 2000-11-02 Shimadzu Corp 自動分析装置
JP2008292159A (ja) * 2007-04-27 2008-12-04 Sysmex Corp 検体測定装置
WO2014073684A1 (ja) 2012-11-12 2014-05-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US9784754B2 (en) 2012-11-12 2017-10-10 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
WO2017033598A1 (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JPWO2017033598A1 (ja) * 2015-08-26 2018-06-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US11085940B2 (en) * 2015-08-26 2021-08-10 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
WO2019073700A1 (ja) 2017-10-12 2019-04-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US11619639B2 (en) 2017-10-12 2023-04-04 Hitachi High-Technologies Corporation Automated analyzer

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