JPH08297806A - Ｍｒヘッドのセンス電流設定方法 - Google Patents
Ｍｒヘッドのセンス電流設定方法Info
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- JPH08297806A JPH08297806A JP10192795A JP10192795A JPH08297806A JP H08297806 A JPH08297806 A JP H08297806A JP 10192795 A JP10192795 A JP 10192795A JP 10192795 A JP10192795 A JP 10192795A JP H08297806 A JPH08297806 A JP H08297806A
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- Japan
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- sense current
- head
- current value
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置で、Ｍ
Ｒヘッドに流すセンス電流値の最適値を、Ｒ／Ｗマージ
ンの結果から決定し、設定する。 【構成】１のパソコンから、８のＭＲヘッドに流すセン
ス電流値を変化させた状態でＲ／Ｗ試験をおこない、そ
れぞれのセンス電流値でのデータ判定結果を集計してセ
ンス電流のＲ／Ｗマージンを求め、その中心値をセンス
電流最適値として設定する。 【効果】本発明により、従来のセンス電流設定方法では
設定できなかったＲ／Ｗ動作に関した最適値に設定する
ことが可能となり、ＭＲヘッドのＲ／Ｗにおける信頼性
向上と、センス電流値設定不良による不良数を大幅に低
減することができる。
Ｒヘッドに流すセンス電流値の最適値を、Ｒ／Ｗマージ
ンの結果から決定し、設定する。 【構成】１のパソコンから、８のＭＲヘッドに流すセン
ス電流値を変化させた状態でＲ／Ｗ試験をおこない、そ
れぞれのセンス電流値でのデータ判定結果を集計してセ
ンス電流のＲ／Ｗマージンを求め、その中心値をセンス
電流最適値として設定する。 【効果】本発明により、従来のセンス電流設定方法では
設定できなかったＲ／Ｗ動作に関した最適値に設定する
ことが可能となり、ＭＲヘッドのＲ／Ｗにおける信頼性
向上と、センス電流値設定不良による不良数を大幅に低
減することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディス
ク装置、ＨＤＡ、及びＭＲヘッド。
ク装置、ＨＤＡ、及びＭＲヘッド。
【０００２】
【従来の技術】ＭＲヘッドに流すセンス電流値を変える
ことにより、図１−（ａ），（ｂ）のように、磁化反転
が同一周期で発生するデータパターンでの再生信号の出
力波形が、＋側と−側とで、振幅の非対称性が変化す
る。このことを利用して、出力波形の＋側出力、−側出
力それぞれのピーク値をコンパレータで比較し、差が最
小になるとき（図１−（ｂ））のセンス電流値をそのヘ
ッドのセンス電流最適値として設定する方法が（特開平
０６−２５９７１４号公報）にて提案されている。
ことにより、図１−（ａ），（ｂ）のように、磁化反転
が同一周期で発生するデータパターンでの再生信号の出
力波形が、＋側と−側とで、振幅の非対称性が変化す
る。このことを利用して、出力波形の＋側出力、−側出
力それぞれのピーク値をコンパレータで比較し、差が最
小になるとき（図１−（ｂ））のセンス電流値をそのヘ
ッドのセンス電流最適値として設定する方法が（特開平
０６−２５９７１４号公報）にて提案されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】センス電流値に相関す
るＲ／Ｗ特性（書き込みデータが、正確に再生できる動
作特性）の要因には、再生信号の出力波形の対称性の他
にもバルクハウゼンノイズ等たくさんの要因がある為、
再生信号の出力波形の対称性が最適になる条件は、必ず
しもＲ／Ｗ特性の最適条件とは一致しないので従来の設
定方法ではＲ／Ｗ特性が最適になるセンス電流値に設定
することができない。そのため、装置検査工程等Ｒ／Ｗ
試験を繰り返す検査工程で、センス電流値がＲ／Ｗ特性
の最適値でないために不良品と判定されるヘッドが多数
存在し、必要外に不良率が高くなり、生産性、コストパ
フォーマンス等の向上を妨げる原因となる。
るＲ／Ｗ特性（書き込みデータが、正確に再生できる動
作特性）の要因には、再生信号の出力波形の対称性の他
にもバルクハウゼンノイズ等たくさんの要因がある為、
再生信号の出力波形の対称性が最適になる条件は、必ず
しもＲ／Ｗ特性の最適条件とは一致しないので従来の設
定方法ではＲ／Ｗ特性が最適になるセンス電流値に設定
することができない。そのため、装置検査工程等Ｒ／Ｗ
試験を繰り返す検査工程で、センス電流値がＲ／Ｗ特性
の最適値でないために不良品と判定されるヘッドが多数
存在し、必要外に不良率が高くなり、生産性、コストパ
フォーマンス等の向上を妨げる原因となる。
【０００４】本発明の目的は、ＭＲヘッドに流すセンス
電流値をＲ／Ｗ特性の最適値に設定することにより、Ｍ
ＲヘッドをＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させることが
可能となり、設定不良による不良品の数を大幅に低減で
き、Ｒ／Ｗ動作の信頼性、生産性、コストパフォーマン
スを向上することにある。
電流値をＲ／Ｗ特性の最適値に設定することにより、Ｍ
ＲヘッドをＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させることが
可能となり、設定不良による不良品の数を大幅に低減で
き、Ｒ／Ｗ動作の信頼性、生産性、コストパフォーマン
スを向上することにある。
【０００５】第５、第６の発明は、上記目的に加えて経
時的にヘッドのＲ／Ｗ特性が変化した場合でも実機上で
センス電流値をその時点の最適値に設定することによ
り、ヘッド、ＨＤＡ等、ハード面の交換なしに、半永続
的にＭＲヘッドをＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させる
ことにある。
時的にヘッドのＲ／Ｗ特性が変化した場合でも実機上で
センス電流値をその時点の最適値に設定することによ
り、ヘッド、ＨＤＡ等、ハード面の交換なしに、半永続
的にＭＲヘッドをＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させる
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１〜第４の発明は、セ
ンス電流値を変化させてＲ／Ｗ試験を繰り返すことによ
り、センス電流のＲ／Ｗマージン（書き込みデータが、
正確に再生可能なセンス電流値の範囲）を測定し、その
結果から最適値を求め設定することにより、ＭＲヘッド
をＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させることが可能とな
り、上記課題を達成できる。
ンス電流値を変化させてＲ／Ｗ試験を繰り返すことによ
り、センス電流のＲ／Ｗマージン（書き込みデータが、
正確に再生可能なセンス電流値の範囲）を測定し、その
結果から最適値を求め設定することにより、ＭＲヘッド
をＲ／Ｗ特性の最適条件下で動作させることが可能とな
り、上記課題を達成できる。
【０００７】第５の発明は、一定期間、上位装置からデ
ータアクセスがない場合、データエリア外の専用シリン
ダに於いてセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定し、その
結果から最適値を求め更新設定することにより、経時的
なヘッド、ディスク等ハード面のＲ／Ｗ特性の変化に、
定期的に対応することができる。
ータアクセスがない場合、データエリア外の専用シリン
ダに於いてセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定し、その
結果から最適値を求め更新設定することにより、経時的
なヘッド、ディスク等ハード面のＲ／Ｗ特性の変化に、
定期的に対応することができる。
【０００８】第６の発明は、上位装置からｎ回データラ
イトアクセスがあると、次のデータライトコマンド内
で、ターゲットトラックにおいてライトデータを使って
センス電流のＲ／Ｗマージンを測定し、その結果から最
適値を求め更新設定することにより、経時的なヘッド、
ディスク等ハード面のＲ／Ｗ特性の変化に、ライト動作
回数に合わせて対応することができる。
イトアクセスがあると、次のデータライトコマンド内
で、ターゲットトラックにおいてライトデータを使って
センス電流のＲ／Ｗマージンを測定し、その結果から最
適値を求め更新設定することにより、経時的なヘッド、
ディスク等ハード面のＲ／Ｗ特性の変化に、ライト動作
回数に合わせて対応することができる。
【０００９】
【作用】ＭＲヘッドに流すセンス電流値を、設定可能範
囲内で何点かに設定する。
囲内で何点かに設定する。
【００１０】それぞれのセンス電流値設定条件下でＲ／
Ｗ試験を行い、Ｒ／Ｗ性能を満足したときのセンス電流
値をＲ／Ｗ動作の可能範囲として、多点で上記動作を繰
り返せばＲ／Ｗ動作の可能なセンス電流範囲が求まる。
これは、出力波形の非対称性や、バルクハウゼンノイズ
等、たくさんの要因が影響し合った結果、最終的にＲ／
Ｗ動作にどれだけ影響を及ぼしているか、又は、影響を
受けにくいセンス電流領域はどこかを総合的に判断した
ことになる。このセンス電流範囲の中心値をセンス電流
値とすれば、Ｒ／Ｗ動作に関して最適値に設定したこと
になる。
Ｗ試験を行い、Ｒ／Ｗ性能を満足したときのセンス電流
値をＲ／Ｗ動作の可能範囲として、多点で上記動作を繰
り返せばＲ／Ｗ動作の可能なセンス電流範囲が求まる。
これは、出力波形の非対称性や、バルクハウゼンノイズ
等、たくさんの要因が影響し合った結果、最終的にＲ／
Ｗ動作にどれだけ影響を及ぼしているか、又は、影響を
受けにくいセンス電流領域はどこかを総合的に判断した
ことになる。このセンス電流範囲の中心値をセンス電流
値とすれば、Ｒ／Ｗ動作に関して最適値に設定したこと
になる。
【００１１】第５、第６の発明は、上記の設定を定期的
に行えるため、ＭＲヘッドの性能劣化や装置の環境変化
等によるＲ／Ｗ性能の変化に対応することができ、自動
的に保守が行え、また、障害の早期発見にもつながる。
に行えるため、ＭＲヘッドの性能劣化や装置の環境変化
等によるＲ／Ｗ性能の変化に対応することができ、自動
的に保守が行え、また、障害の早期発見にもつながる。
【００１２】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。
る。
【００１３】図２は、センス電流のＲ／Ｗマージン測定
時のブロック図である。１のパソコンから、５のＩ／Ｆ
回路を介して１２の各ヘッドごとのセンス電流値制御部
にセンス電流値Ｉs1を設定する。１２のセンス電流値制
御部は、６のセンス電流駆動回路を制御して、８のＭＲ
ヘッドに設定されたセンス電流値Ｉs1を流す。８のＭＲ
ヘッドは、７の磁気記録媒体上の漏洩磁束の変化をセン
ス電流値Ｉs1にて電気信号に変換し、再生信号は、９の
作動増幅器、１０のデータ弁別回路を経て１１のデータ
制御部にて、データ判定される。データ判定結果は５の
Ｉ／Ｆ回路を介して１のパソコンに報告される。
時のブロック図である。１のパソコンから、５のＩ／Ｆ
回路を介して１２の各ヘッドごとのセンス電流値制御部
にセンス電流値Ｉs1を設定する。１２のセンス電流値制
御部は、６のセンス電流駆動回路を制御して、８のＭＲ
ヘッドに設定されたセンス電流値Ｉs1を流す。８のＭＲ
ヘッドは、７の磁気記録媒体上の漏洩磁束の変化をセン
ス電流値Ｉs1にて電気信号に変換し、再生信号は、９の
作動増幅器、１０のデータ弁別回路を経て１１のデータ
制御部にて、データ判定される。データ判定結果は５の
Ｉ／Ｆ回路を介して１のパソコンに報告される。
【００１４】１のパソコンは、このデータ判定結果をセ
ンス電流値Ｉs1でのＲ／Ｗ試験の結果として処理する。
次に、１のパソコンはセンス電流値Ｉs2を設定し、同上
の流れにてデータ判定結果をセンス電流値Ｉs2でのＲ／
Ｗ試験の結果として処理する。これをｎ回繰り返して、
Ｒ／Ｗ試験の結果がＲ／Ｗ性能の仕様を満足する時のセ
ンス電流値の範囲をセンス電流のＲ／Ｗマージンとす
る。
ンス電流値Ｉs1でのＲ／Ｗ試験の結果として処理する。
次に、１のパソコンはセンス電流値Ｉs2を設定し、同上
の流れにてデータ判定結果をセンス電流値Ｉs2でのＲ／
Ｗ試験の結果として処理する。これをｎ回繰り返して、
Ｒ／Ｗ試験の結果がＲ／Ｗ性能の仕様を満足する時のセ
ンス電流値の範囲をセンス電流のＲ／Ｗマージンとす
る。
【００１５】図３は、センス電流のＲ／Ｗマージン測定
からセンス電流値設定までのフロー図である。パソコン
よりヘッド一本ずつ、全ヘッドについてセンス電流のＲ
／Ｗマージンを測定する。図２での動作と同様に、セン
ス電流値をＩs1に設定し、Ｒ／Ｗテストを実施して、合
否判定する。次に、次のセンス電流値Ｉs2にて同様に繰
返し、Ｉsnまでｎ回繰返し、連続した合格Ｉsxの数を判
定し、敷居値以下の場合は、当ヘッドを不合格とする。
敷居値以上の場合は、このセンス電流値の範囲をセンス
電流のＲ／Ｗマージンとして、その中心値を設定値Ｉsc
とする。パソコンより設定値ＩscをＩsを管理制御する
ＲＡＭに書き込み登録する。磁気記録媒体上に設定値を
保管するエリアがある装置の場合は、磁気記録媒体上に
書き込み登録する。磁気記録媒体上に設定値を保管する
エリアがない装置の場合は、ディスク制御装置等に記録
し、制御したり、設定値データとして他媒体に記録して
おき、後で別の方法により制御する。以上のシーケンス
を全ヘッドについて実行し、総合判定で不合格ヘッドが
ないかを判定し、センス電流値設定終了とする。このよ
うに実機上で、実際のＲ／Ｗ動作でのマージンから求め
たセンス電流設定値を設定することにより、Ｒ／Ｗ動作
における最適条件に、設定することが可能になる。
からセンス電流値設定までのフロー図である。パソコン
よりヘッド一本ずつ、全ヘッドについてセンス電流のＲ
／Ｗマージンを測定する。図２での動作と同様に、セン
ス電流値をＩs1に設定し、Ｒ／Ｗテストを実施して、合
否判定する。次に、次のセンス電流値Ｉs2にて同様に繰
返し、Ｉsnまでｎ回繰返し、連続した合格Ｉsxの数を判
定し、敷居値以下の場合は、当ヘッドを不合格とする。
敷居値以上の場合は、このセンス電流値の範囲をセンス
電流のＲ／Ｗマージンとして、その中心値を設定値Ｉsc
とする。パソコンより設定値ＩscをＩsを管理制御する
ＲＡＭに書き込み登録する。磁気記録媒体上に設定値を
保管するエリアがある装置の場合は、磁気記録媒体上に
書き込み登録する。磁気記録媒体上に設定値を保管する
エリアがない装置の場合は、ディスク制御装置等に記録
し、制御したり、設定値データとして他媒体に記録して
おき、後で別の方法により制御する。以上のシーケンス
を全ヘッドについて実行し、総合判定で不合格ヘッドが
ないかを判定し、センス電流値設定終了とする。このよ
うに実機上で、実際のＲ／Ｗ動作でのマージンから求め
たセンス電流設定値を設定することにより、Ｒ／Ｗ動作
における最適条件に、設定することが可能になる。
【００１６】次に、上記設定方法による設定を実施する
際の装置構成例について説明する。
際の装置構成例について説明する。
【００１７】図４は、上位に２のディスク制御装置を接
続して３の磁気ディスク装置のセンス電流値を設定する
方法のブロック図である。この場合、２のディスク制御
装置が、３の磁気ディスク装置のＲ／Ｗ制御を行うの
で、１のパソコンからは、センス電流値設定コマンド、
Ｒ／Ｗ試験実行コマンド等を発行するだけで済み、Ｒ／
Ｗ試験実行結果は、Ｒ／Ｗ試験終了後に、２のディスク
制御装置から１のパソコンに報告するので、その時にセ
ンス電流値設定の処理を行えばよく、パソコンにかかる
負担が少ないので、多数の装置を同時に設定することが
できる。
続して３の磁気ディスク装置のセンス電流値を設定する
方法のブロック図である。この場合、２のディスク制御
装置が、３の磁気ディスク装置のＲ／Ｗ制御を行うの
で、１のパソコンからは、センス電流値設定コマンド、
Ｒ／Ｗ試験実行コマンド等を発行するだけで済み、Ｒ／
Ｗ試験実行結果は、Ｒ／Ｗ試験終了後に、２のディスク
制御装置から１のパソコンに報告するので、その時にセ
ンス電流値設定の処理を行えばよく、パソコンにかかる
負担が少ないので、多数の装置を同時に設定することが
できる。
【００１８】図５は、４の制御用マイクロプログラムを
搭載した磁気ディスク装置に、直接１のパソコンを接続
してセンス電流値を設定する方法のブロック図である。
この場合、４の制御用マイクロプログラムが磁気ディス
ク装置のＲ／Ｗ制御を行うので、図４の場合と同様で、
１のパソコンからは、センス電流値設定コマンド、Ｒ／
Ｗ試験実行コマンド等を発行するだけで済み、Ｒ／Ｗ試
験実行結果は、Ｒ／Ｗ試験終了後に、４の制御用マイク
ロプログラムから１のパソコンに報告するので、その時
にセンス電流値設定の処理を行えばよく、パソコンにか
かる負担が少ないので、多数の装置を同時に設定するこ
とができる。
搭載した磁気ディスク装置に、直接１のパソコンを接続
してセンス電流値を設定する方法のブロック図である。
この場合、４の制御用マイクロプログラムが磁気ディス
ク装置のＲ／Ｗ制御を行うので、図４の場合と同様で、
１のパソコンからは、センス電流値設定コマンド、Ｒ／
Ｗ試験実行コマンド等を発行するだけで済み、Ｒ／Ｗ試
験実行結果は、Ｒ／Ｗ試験終了後に、４の制御用マイク
ロプログラムから１のパソコンに報告するので、その時
にセンス電流値設定の処理を行えばよく、パソコンにか
かる負担が少ないので、多数の装置を同時に設定するこ
とができる。
【００１９】図６は、１のパソコンに、３の磁気ディス
ク装置を直接接続してセンス電流値を設定する方法のブ
ロック図である。この場合、１のパソコンが磁気ディス
ク装置のＲ／Ｗ制御まで行わなくてはならず、パソコン
の負担が膨大になり、一台ずつの設定方法となる。
ク装置を直接接続してセンス電流値を設定する方法のブ
ロック図である。この場合、１のパソコンが磁気ディス
ク装置のＲ／Ｗ制御まで行わなくてはならず、パソコン
の負担が膨大になり、一台ずつの設定方法となる。
【００２０】第５の発明は、図７を使って説明する。上
位に２のディスク制御装置が接続された３の磁気ディス
ク装置や、４の制御用マイクロプログラムを搭載した磁
気ディスク装置において、最上位の１３のＣＰＵから一
定期間データアクセスがない場合、２のディスク制御装
置内、又は、３の磁気ディスク装置内のマイクロプログ
ラムが、データエリア外の専用トラックにて上記と同様
のセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定する。測定結果か
ら設定値を求め、Ｉｓを管理制御するＲＡＭと磁気記録
媒体上に書き込み、更新登録する。このようにして、Ｏ
Ｎ ＬＩＮＥ中の磁気ディスク装置をＯＮ ＬＩＮＥの
まま定期的に、センス電流値を最適値に更新することが
でき、経時的なヘッド、ディスク等のハード面の変化に
も対応することができる。
位に２のディスク制御装置が接続された３の磁気ディス
ク装置や、４の制御用マイクロプログラムを搭載した磁
気ディスク装置において、最上位の１３のＣＰＵから一
定期間データアクセスがない場合、２のディスク制御装
置内、又は、３の磁気ディスク装置内のマイクロプログ
ラムが、データエリア外の専用トラックにて上記と同様
のセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定する。測定結果か
ら設定値を求め、Ｉｓを管理制御するＲＡＭと磁気記録
媒体上に書き込み、更新登録する。このようにして、Ｏ
Ｎ ＬＩＮＥ中の磁気ディスク装置をＯＮ ＬＩＮＥの
まま定期的に、センス電流値を最適値に更新することが
でき、経時的なヘッド、ディスク等のハード面の変化に
も対応することができる。
【００２１】第６の発明は、図７を使って説明する。上
位に２のディスク制御装置が接続された３の磁気ディス
ク装置や、４の制御用マイクロプログラムを搭載した磁
気ディスク装置において、２のディスク制御装置内、又
は、３の磁気ディスク装置内のマイクロプログラムが、
最上位の１３のＣＰＵからデータアクセスの回数をカウ
ントし、ある一定回数に達した場合、次のデータライト
コマンドで、同のマイクロプログラムが、ターゲットト
ラックにて、上位から指定のライトデータを使って、上
記と同様のセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定する。測
定結果から設定値を求め、Ｉｓを管理制御するＲＡＭと
磁気記録媒体上に書き込み、更新登録する。このように
して、ＯＮ ＬＩＮＥ中の磁気ディスク装置をＯＮ Ｌ
ＩＮＥのままライト動作回数に合わせて、センス電流値
を最適値に更新することができ、経時的なヘッド、ディ
スク等のハード面の変化にも対応することができる。
位に２のディスク制御装置が接続された３の磁気ディス
ク装置や、４の制御用マイクロプログラムを搭載した磁
気ディスク装置において、２のディスク制御装置内、又
は、３の磁気ディスク装置内のマイクロプログラムが、
最上位の１３のＣＰＵからデータアクセスの回数をカウ
ントし、ある一定回数に達した場合、次のデータライト
コマンドで、同のマイクロプログラムが、ターゲットト
ラックにて、上位から指定のライトデータを使って、上
記と同様のセンス電流のＲ／Ｗマージンを測定する。測
定結果から設定値を求め、Ｉｓを管理制御するＲＡＭと
磁気記録媒体上に書き込み、更新登録する。このように
して、ＯＮ ＬＩＮＥ中の磁気ディスク装置をＯＮ Ｌ
ＩＮＥのままライト動作回数に合わせて、センス電流値
を最適値に更新することができ、経時的なヘッド、ディ
スク等のハード面の変化にも対応することができる。
【００２２】
【発明の効果】本発明により、従来のセンス電流設定方
法では設定できなかったＲ／Ｗ動作に関した最適値に設
定することが可能となり、ＭＲヘッドのＲ／Ｗにおける
信頼性向上と、センス電流値設定不良による不良数を大
幅に低減することができる。
法では設定できなかったＲ／Ｗ動作に関した最適値に設
定することが可能となり、ＭＲヘッドのＲ／Ｗにおける
信頼性向上と、センス電流値設定不良による不良数を大
幅に低減することができる。
【図１】再生信号の出力波形である。
【図２】センス電流のＲ／Ｗマージン測定時のブロック
図である。
図である。
【図３】センス電流のＲ／Ｗマージン測定からセンス電
流値設定のフローチャート図である。
流値設定のフローチャート図である。
【図４】本発明のセンス電流を設定するときの装置構成
例１である。
例１である。
【図５】本発明のセンス電流を設定するときの装置構成
例２である。
例２である。
【図６】本発明のセンス電流を設定するときの装置構成
例３である。
例３である。
【図７】本発明のセンス電流を設定するときの装置構成
例４である。
例４である。
１…パソコン、 ２…ディスク制御装置、 ３…磁
気ディスク装置、４…制御用マイクロプログラム内臓の
磁気ディスク装置、５…Ｉ／Ｆ回路、６…センス電流駆
動回路、 ７…磁気記録媒体、 ８…ＭＲヘッ
ド、９…差動増幅器、 １０…データ弁別回路、
１１…データ制御部、１２…センス電流値制御部、
１３…ＣＰＵ等の上位装置。
気ディスク装置、４…制御用マイクロプログラム内臓の
磁気ディスク装置、５…Ｉ／Ｆ回路、６…センス電流駆
動回路、 ７…磁気記録媒体、 ８…ＭＲヘッ
ド、９…差動増幅器、 １０…データ弁別回路、
１１…データ制御部、１２…センス電流値制御部、
１３…ＣＰＵ等の上位装置。
Claims (6)
- 【請求項１】磁気抵抗効果素子を用いた磁気ヘッド（以
下、ＭＲヘッドと称する）を搭載した磁気ディスク装置
で、ＭＲヘッドに流すセンス電流値を再生信号の出力波
形の非対称性等でなくＲ／Ｗマージン（書き込みデータ
が、正確に再生できる動作範囲）により設定することを
特徴とした磁気ディスク装置及びセンス電流設定方法。 - 【請求項２】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置
で、請求項１に記載した方法により、検査工程中にＭＲ
ヘッドに流すセンス電流値を設定することを特徴とした
検査方法。 - 【請求項３】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置
で、請求項１に記載した方法により、実機上で設定する
ことを特徴とした磁気ディスク装置及びセンス電流設定
方法。 - 【請求項４】請求項１に記載した方法により、センス電
流値を設定することを特徴としたＭＲヘッド、及びＨＤ
Ａの検査方法、及び設定方法。 - 【請求項５】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置
で、ＯＮ ＬＩＮＥ中一定期間上位装置からデータアク
セスがない時、データエリア以外のシリンダで、Ｒ／Ｗ
マージンを測定しその結果より、センス電流値を更新設
定することを特徴とした磁気ディスク装置及びセンス電
流設定方法。 - 【請求項６】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置
で、ＯＮ ＬＩＮＥ中一定回数上位装置からデータライ
トアクセスがあった場合、データエリアに於いて上位装
置から送られたライトデータ、ターゲットトラックを使
用して、Ｒ／Ｗマージンを測定しその結果より、センス
電流値を更新設定することを特徴とした磁気ディスク装
置及びセンス電流設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10192795A JPH08297806A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | Ｍｒヘッドのセンス電流設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10192795A JPH08297806A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | Ｍｒヘッドのセンス電流設定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08297806A true JPH08297806A (ja) | 1996-11-12 |
Family
ID=14313552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10192795A Pending JPH08297806A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | Ｍｒヘッドのセンス電流設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08297806A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1271474A1 (en) * | 2001-06-25 | 2003-01-02 | Nec Corporation | Function block |
| EP1286335A1 (de) * | 2001-08-17 | 2003-02-26 | Philips Corporate Intellectual Property GmbH | Schaltungsanordnung zur Steuerung eines magnetoresistiven Sensors |
| KR100505586B1 (ko) * | 1998-01-14 | 2005-09-30 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 번-인 테스트 진행 상태 판별 장치 및방법 |
-
1995
- 1995-04-26 JP JP10192795A patent/JPH08297806A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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