JPH0981909A - ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するリードパラメータ調整方法 - Google Patents
ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するリードパラメータ調整方法Info
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- JPH0981909A JPH0981909A JP23541795A JP23541795A JPH0981909A JP H0981909 A JPH0981909 A JP H0981909A JP 23541795 A JP23541795 A JP 23541795A JP 23541795 A JP23541795 A JP 23541795A JP H0981909 A JPH0981909 A JP H0981909A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ＭＲヘッドを使用したディスク記録再生装置に
おいて、ＭＲヘッドのセンス電流の調整機能を利用し
て、リードエラーの発生時のリトライ処理の効率化を図
り、かつデータ再生時のリードエラーの発生を減少させ
ることにある。 【構成】ＣＰＵ１１はデータ再生時にリードエラーが発
生したときに、リトライ処理を所定の規定回数だけ繰返
した後に、ＭＲヘッド２のセンス電流量を変更して、リ
トライ処理を実行させる。このリトライ処理により、正
常なデータ再生動作を実行した場合には、その変更した
センス電流量をメモリ１４に記憶する。これにより、無
駄なリトライ処理の回数を減少させて、結果的にリトラ
イ処理の効率化を図ることができる。
おいて、ＭＲヘッドのセンス電流の調整機能を利用し
て、リードエラーの発生時のリトライ処理の効率化を図
り、かつデータ再生時のリードエラーの発生を減少させ
ることにある。 【構成】ＣＰＵ１１はデータ再生時にリードエラーが発
生したときに、リトライ処理を所定の規定回数だけ繰返
した後に、ＭＲヘッド２のセンス電流量を変更して、リ
トライ処理を実行させる。このリトライ処理により、正
常なデータ再生動作を実行した場合には、その変更した
センス電流量をメモリ１４に記憶する。これにより、無
駄なリトライ処理の回数を減少させて、結果的にリトラ
イ処理の効率化を図ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばハードディ
スク装置等のディスク記録再生装置に関し、特に再生専
用のＭＲヘッドを使用したディスク記録再生装置に関す
る。
スク装置等のディスク記録再生装置に関し、特に再生専
用のＭＲヘッドを使用したディスク記録再生装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えばハードディスク装置（ＨＤ
Ｄ）等のディスク記録再生装置は、記録媒体であるディ
スクに対して、磁気ヘッド（以下単にヘッドと称する）
によりデータの記録再生動作を実行する。
Ｄ）等のディスク記録再生装置は、記録媒体であるディ
スクに対して、磁気ヘッド（以下単にヘッドと称する）
によりデータの記録再生動作を実行する。
【０００３】近年、特に小型かつ高記録密度のＨＤＤに
は、データ記録用として誘導型薄膜ヘッドを使用し、デ
ータ再生用として再生専用のＭＲ（ｍａｇｎｅｔｏｒｅ
ｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッドを使用する記録再生分離型（複
合ヘッド構造型）ヘッドが注目されている。
は、データ記録用として誘導型薄膜ヘッドを使用し、デ
ータ再生用として再生専用のＭＲ（ｍａｇｎｅｔｏｒｅ
ｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッドを使用する記録再生分離型（複
合ヘッド構造型）ヘッドが注目されている。
【０００４】特にＭＲヘッドは、高感度かつ再生出力が
ディスクの走行速度（周速度）に依存しない（相対的に
高い再生出力を得られる）等の利点を有するため、高記
録密度化技術の重要な要素の一つとなっている。
ディスクの走行速度（周速度）に依存しない（相対的に
高い再生出力を得られる）等の利点を有するため、高記
録密度化技術の重要な要素の一つとなっている。
【０００５】ＭＲヘッドは、磁気抵抗素子（ＭＲ素子）
の異方性磁気抵抗効果を利用して、ディスクの表面に発
生する記録磁界を抵抗値の変化として検出する磁気抵抗
効果型のヘッドである。
の異方性磁気抵抗効果を利用して、ディスクの表面に発
生する記録磁界を抵抗値の変化として検出する磁気抵抗
効果型のヘッドである。
【０００６】ＭＲヘッドの動作原理は、図７（Ａ）に示
すように、ディスク１のトラック（リードアクセス対
象）上に近接して位置決めされたＭＲ素子（ＭＲ薄膜）
２に対してセンス電流（Ｉ）を流し、ディスク１からの
記録磁界（垂直磁界Ｈ）に応じて変化する抵抗率を電圧
信号（Ｖ）として取出す。
すように、ディスク１のトラック（リードアクセス対
象）上に近接して位置決めされたＭＲ素子（ＭＲ薄膜）
２に対してセンス電流（Ｉ）を流し、ディスク１からの
記録磁界（垂直磁界Ｈ）に応じて変化する抵抗率を電圧
信号（Ｖ）として取出す。
【０００７】即ち、センス電流（Ｉ）は記録磁界による
抵抗変化を電圧変化として検出するための駆動電流であ
る。電圧信号（Ｖ）は再生信号として、ヘッドアンプに
より増幅されてリードチャネルと称するデータ再生回路
に送られる。
抵抗変化を電圧変化として検出するための駆動電流であ
る。電圧信号（Ｖ）は再生信号として、ヘッドアンプに
より増幅されてリードチャネルと称するデータ再生回路
に送られる。
【０００８】ここで、ＭＲ素子２の抵抗率ρ、抵抗率ρ
の最大変化量Δρｍ、センス電流Ｉ、垂直磁界Ｈによる
ＭＲ素子２の磁化Ｍにおいて、図７（Ｂ）に示すよう
に、センス電流Ｉの方向と磁化Ｍの方向となす角度をθ
とした場合に、以下のような関係式（１）が成立する。 ρ＝Δρｍ＊ｃｏｓ2 θ…（１） 。
の最大変化量Δρｍ、センス電流Ｉ、垂直磁界Ｈによる
ＭＲ素子２の磁化Ｍにおいて、図７（Ｂ）に示すよう
に、センス電流Ｉの方向と磁化Ｍの方向となす角度をθ
とした場合に、以下のような関係式（１）が成立する。 ρ＝Δρｍ＊ｃｏｓ2 θ…（１） 。
【０００９】また、ＭＲヘッドには、線形領域での再生
動作を可能にするためバイアス磁界を必要とする。図７
（Ｃ），（Ｄ）はＭＲヘッドの記録磁界Ｈに対するＭＲ
抵抗値の特性を示す図である。図７（Ｃ）はバイアス磁
界が無い場合を示し、図７（Ｄ）はバイアス磁界をかけ
た場合を示している。
動作を可能にするためバイアス磁界を必要とする。図７
（Ｃ），（Ｄ）はＭＲヘッドの記録磁界Ｈに対するＭＲ
抵抗値の特性を示す図である。図７（Ｃ）はバイアス磁
界が無い場合を示し、図７（Ｄ）はバイアス磁界をかけ
た場合を示している。
【００１０】このバイアス磁界を発生させるために、セ
ンス電流（即ち、バイアス電流）をＭＲ素子またはその
センス電流の分流をＭＲ素子に隣接したバイアス膜に供
給する。
ンス電流（即ち、バイアス電流）をＭＲ素子またはその
センス電流の分流をＭＲ素子に隣接したバイアス膜に供
給する。
【００１１】前記のようなＭＲヘッドの動作原理によ
り、センス電流量（センス電流値）はＭＲヘッドの特性
を決定する重要なパラメータの一つである。このため、
従来ではＨＤＤの製造工程において、ＭＲヘッドの動作
特性に従って、センス電流量は適正値になるように設定
されている。具体的には、ＭＲヘッドの再生信号波形の
上下対称性とノイズ特性（バルクハウゼンノイズ）に従
って、その非対称性やノイズレベルを最小限にするよう
なセンス電流量が設定されることになる。
り、センス電流量（センス電流値）はＭＲヘッドの特性
を決定する重要なパラメータの一つである。このため、
従来ではＨＤＤの製造工程において、ＭＲヘッドの動作
特性に従って、センス電流量は適正値になるように設定
されている。具体的には、ＭＲヘッドの再生信号波形の
上下対称性とノイズ特性（バルクハウゼンノイズ）に従
って、その非対称性やノイズレベルを最小限にするよう
なセンス電流量が設定されることになる。
【００１２】センス電流量は、ＨＤＤに設けられた複数
のヘッドの各ＭＲヘッド毎に最適値が設定されており、
通常では固定値である。したがって、製造工程時に調整
された後、即ちＨＤＤが製品として出荷後では、センス
電流量は変更されないのが一般的である。
のヘッドの各ＭＲヘッド毎に最適値が設定されており、
通常では固定値である。したがって、製造工程時に調整
された後、即ちＨＤＤが製品として出荷後では、センス
電流量は変更されないのが一般的である。
【００１３】ところで、ＨＤＤでは、データ再生時に、
ヘッドからのリード信号から正常なリードデータが再生
できない場合（リードエラーの発生）、通常では再度、
同一のデータ再生動作が実行される。これをリトライ処
理と称する。
ヘッドからのリード信号から正常なリードデータが再生
できない場合（リードエラーの発生）、通常では再度、
同一のデータ再生動作が実行される。これをリトライ処
理と称する。
【００１４】リトライ処理では、所定の規定回数だけ同
一のデータ再生動作が繰返し実行される。この規定回数
だけリトライ処理が実行されても、リードエラーが発生
する場合には、エラー処理となる。
一のデータ再生動作が繰返し実行される。この規定回数
だけリトライ処理が実行されても、リードエラーが発生
する場合には、エラー処理となる。
【００１５】エラー処理には、通常ではディスク上のア
クセス対象のセクタまたはトラックに欠陥が存在すると
判定し、その欠陥セクタまたは欠陥トラックの使用を禁
止し、代替セクタまたは代替トラックの割り当てを実行
する方式がある。また、ヘッドの故障であると判定した
場合には、そのヘッドに対応するディスクのデータ面の
使用を禁止するなどの方式がある。
クセス対象のセクタまたはトラックに欠陥が存在すると
判定し、その欠陥セクタまたは欠陥トラックの使用を禁
止し、代替セクタまたは代替トラックの割り当てを実行
する方式がある。また、ヘッドの故障であると判定した
場合には、そのヘッドに対応するディスクのデータ面の
使用を禁止するなどの方式がある。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、高記録
密度化のＨＤＤには、データ再生用としてＭＲヘッドを
使用したヘッドが注目されている。このＭＲヘッドによ
るデータ再生動作時に、リードエラーが発生すると、従
来では所定の規定回数だけリトライ処理が実行される。
密度化のＨＤＤには、データ再生用としてＭＲヘッドを
使用したヘッドが注目されている。このＭＲヘッドによ
るデータ再生動作時に、リードエラーが発生すると、従
来では所定の規定回数だけリトライ処理が実行される。
【００１７】ＭＲヘッドは、前述のようにセンス電流値
が動作特性に大きく影響し、このセンス電流値が不適正
な値の場合にはリードエラーの発生確率が高くなること
が予想される。具体的には、ＭＲヘッドの特性に合致し
ないセンス電流値の場合に、ＭＲヘッドのリード信号波
形の非対称性やノイズレベルが大きくなり、リードエラ
ー発生の要因となる。このＭＲヘッドのセンス電流値
は、ＨＤＤの製造工程時に固定値として設定される。
が動作特性に大きく影響し、このセンス電流値が不適正
な値の場合にはリードエラーの発生確率が高くなること
が予想される。具体的には、ＭＲヘッドの特性に合致し
ないセンス電流値の場合に、ＭＲヘッドのリード信号波
形の非対称性やノイズレベルが大きくなり、リードエラ
ー発生の要因となる。このＭＲヘッドのセンス電流値
は、ＨＤＤの製造工程時に固定値として設定される。
【００１８】しかし、ＨＤＤの周囲温度が変化して、Ｍ
Ｒ素子の抵抗値の変動を引き起こすと、設定されたセン
ス電流値は必ずしも最適値とはならない。また、製造工
程時での設定作業時に、なんらかの原因により最適値が
設定されていない場合もある。このようなＭＲヘッドの
動作特性を要因とする場合には、リトライ処理を何回繰
返しても、リードエラーが発生して、正常なデータ再生
動作が不可能になる。したがって、無駄なリトライ処理
を繰返して、結果的にＨＤＤの動作効率が低下する要因
となっている。
Ｒ素子の抵抗値の変動を引き起こすと、設定されたセン
ス電流値は必ずしも最適値とはならない。また、製造工
程時での設定作業時に、なんらかの原因により最適値が
設定されていない場合もある。このようなＭＲヘッドの
動作特性を要因とする場合には、リトライ処理を何回繰
返しても、リードエラーが発生して、正常なデータ再生
動作が不可能になる。したがって、無駄なリトライ処理
を繰返して、結果的にＨＤＤの動作効率が低下する要因
となっている。
【００１９】本発明の目的は、ＭＲヘッドを使用したデ
ィスク記録再生装置において、ＭＲヘッドのセンス電流
の調整機能を利用して、リードエラーの発生時のリトラ
イ処理の効率化を図り、合わせてデータ再生時のリード
エラーの発生を減少させることにある。
ィスク記録再生装置において、ＭＲヘッドのセンス電流
の調整機能を利用して、リードエラーの発生時のリトラ
イ処理の効率化を図り、合わせてデータ再生時のリード
エラーの発生を減少させることにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の側面は、
データ再生時にリードエラーが発生したときに、リトラ
イ処理を所定の規定回数だけ繰返した後に、制御手段は
センス電流供給手段を介してＭＲヘッドのセンス電流量
を変更して、リトライ処理を実行させる。もし、センス
電流調整範囲内でもリードエラーが発生する場合は、リ
ードエラーが最小となるセンス電流を設定し、リード／
ライトチャネルのパラメータを調整するリトライ処理を
行なう。このリトライ処理により、正常なデータ再生動
作を実行した場合には、その変更したセンス電流量及び
パラメータをメモリに記憶する。
データ再生時にリードエラーが発生したときに、リトラ
イ処理を所定の規定回数だけ繰返した後に、制御手段は
センス電流供給手段を介してＭＲヘッドのセンス電流量
を変更して、リトライ処理を実行させる。もし、センス
電流調整範囲内でもリードエラーが発生する場合は、リ
ードエラーが最小となるセンス電流を設定し、リード／
ライトチャネルのパラメータを調整するリトライ処理を
行なう。このリトライ処理により、正常なデータ再生動
作を実行した場合には、その変更したセンス電流量及び
パラメータをメモリに記憶する。
【００２１】これにより、無駄なリトライ処理の回数を
減少させて、結果的にリトライ処理の効率化を図ること
ができる。また、次回のデータ再生動作時には、適正値
と推定される新たなセンス電流量とパラメータを供給し
て、リードエラーの発生を大幅に抑制することが可能と
なる。
減少させて、結果的にリトライ処理の効率化を図ること
ができる。また、次回のデータ再生動作時には、適正値
と推定される新たなセンス電流量とパラメータを供給し
て、リードエラーの発生を大幅に抑制することが可能と
なる。
【００２２】本発明の第２の側面は、ＨＤＤ内の温度変
化を検知するための温度検知手段を設けて、その温度変
化が許容範囲を越えたことを検知したときに、リードテ
スト動作を実行してリードエラーを判定するリードテス
ト手段を有する。
化を検知するための温度検知手段を設けて、その温度変
化が許容範囲を越えたことを検知したときに、リードテ
スト動作を実行してリードエラーを判定するリードテス
ト手段を有する。
【００２３】制御手段は、センス電流供給手段の調整機
能を介してセンス電流量を変更してリードテスト動作を
再実行させて、正常なリード動作の場合にその変更した
センス電流量をメモリに記憶する。
能を介してセンス電流量を変更してリードテスト動作を
再実行させて、正常なリード動作の場合にその変更した
センス電流量をメモリに記憶する。
【００２４】これにより、ＨＤＤの周囲温度の変化によ
り、ＭＲヘッドの動作特性が変動したことを要因とする
リードエラーが発生した場合には、センス電流量の調整
を伴ったリードテスト動作を実行できる。したがって、
リードエラーが発生したときに、リトライ処理の効率化
を図ることができる。また、適正値と推定される新たな
センス電流量を記憶することにより、以後のリードエラ
ーの発生を大幅に抑制することが可能となる。
り、ＭＲヘッドの動作特性が変動したことを要因とする
リードエラーが発生した場合には、センス電流量の調整
を伴ったリードテスト動作を実行できる。したがって、
リードエラーが発生したときに、リトライ処理の効率化
を図ることができる。また、適正値と推定される新たな
センス電流量を記憶することにより、以後のリードエラ
ーの発生を大幅に抑制することが可能となる。
【００２５】本発明の第３の側面は、特にＣＤＲ方式の
ＨＤＤに適用し、特定ゾーンにリードエラーが多発した
場合に、ＭＲヘッドの動作特性が要因であると推定し、
ゾーン内の例えば最内周トラックを使用してリードテス
ト処理を実行する。このリードテスト処理により得られ
る再生信号波形が正常になるように、センス電流供給手
段の調整機能を介してセンス電流量を調整する。
ＨＤＤに適用し、特定ゾーンにリードエラーが多発した
場合に、ＭＲヘッドの動作特性が要因であると推定し、
ゾーン内の例えば最内周トラックを使用してリードテス
ト処理を実行する。このリードテスト処理により得られ
る再生信号波形が正常になるように、センス電流供給手
段の調整機能を介してセンス電流量を調整する。
【００２６】したがって、センス電流量を最適値に設定
できることにより、ＭＲヘッドの動作特性を要因とする
ゾーン内のリードエラーの多発現象をなくすことが可能
となる。
できることにより、ＭＲヘッドの動作特性を要因とする
ゾーン内のリードエラーの多発現象をなくすことが可能
となる。
【００２７】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態を説明する。図１は第１乃至第３の実施形態に関
係するＨＤＤの要部を示すブロック図であり、図２は特
に第３の実施形態に関係するＣＤＲ方式のディスクのフ
ォーマットを説明するための概念図であり、図３は特に
第１の実施形態に関係するリードチャネルのパラメータ
変更処理を説明するためのブロック図であり、第４図は
第１の実施形態に関係する動作を説明するためのフロー
チャートであり、第５図は第２の実施形態に関係する動
作を説明するためのフローチャートであり、第６図は第
３の実施形態に関係する動作を説明するためのフローチ
ャートである。（ＨＤＤの構成）本実施形態のＨＤＤ
は、図１に示すように、再生専用のＭＲヘッド２と記録
動作用の誘導型薄膜ヘッド３とを組合わせた記録再生分
離型のヘッド４を使用し、後述するようにＣＤＲ方式の
ディスクフォーマットのディスク１を使用した装置を想
定している。
の形態を説明する。図１は第１乃至第３の実施形態に関
係するＨＤＤの要部を示すブロック図であり、図２は特
に第３の実施形態に関係するＣＤＲ方式のディスクのフ
ォーマットを説明するための概念図であり、図３は特に
第１の実施形態に関係するリードチャネルのパラメータ
変更処理を説明するためのブロック図であり、第４図は
第１の実施形態に関係する動作を説明するためのフロー
チャートであり、第５図は第２の実施形態に関係する動
作を説明するためのフローチャートであり、第６図は第
３の実施形態に関係する動作を説明するためのフローチ
ャートである。（ＨＤＤの構成）本実施形態のＨＤＤ
は、図１に示すように、再生専用のＭＲヘッド２と記録
動作用の誘導型薄膜ヘッド３とを組合わせた記録再生分
離型のヘッド４を使用し、後述するようにＣＤＲ方式の
ディスクフォーマットのディスク１を使用した装置を想
定している。
【００２８】ディスク１は便宜的に１枚とする。ヘッド
４はディスク１の両面のそれぞれに対応して配置されて
いる。ディスク１はスピンドルモータ５により高速回転
運動している。ヘッド４はヘッドアクチュエータ６によ
り保持されており、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）７に
より、ディスク１の半径方向に回転移動される。
４はディスク１の両面のそれぞれに対応して配置されて
いる。ディスク１はスピンドルモータ５により高速回転
運動している。ヘッド４はヘッドアクチュエータ６によ
り保持されており、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）７に
より、ディスク１の半径方向に回転移動される。
【００２９】スピンドルモータ（ＳＰＭ）５とＶＣＭ７
はそれぞれ、マイクロコントローラ（ＣＰＵ１１）１０
の制御により、ＶＣＭ／ＳＰＭドライバ（ダブルドライ
バ）８から駆動電流を供給されて駆動する。
はそれぞれ、マイクロコントローラ（ＣＰＵ１１）１０
の制御により、ＶＣＭ／ＳＰＭドライバ（ダブルドライ
バ）８から駆動電流を供給されて駆動する。
【００３０】マイクロコントローラ１０は、ＨＤＤの主
制御装置であり、ヘッド４の位置決め制御（サーボ処
理）、本実施形態に関係するＭＲヘッド２のセンス電流
量の調整処理、後述するリードチャネルのパラメータ変
更処理、リードテスト処理、リトライ処理等の各種制御
処理を実行する。
制御装置であり、ヘッド４の位置決め制御（サーボ処
理）、本実施形態に関係するＭＲヘッド２のセンス電流
量の調整処理、後述するリードチャネルのパラメータ変
更処理、リードテスト処理、リトライ処理等の各種制御
処理を実行する。
【００３１】マイクロコントローラ１０は、マイクロプ
ロセッサ（ＣＰＵ）１１と、Ａ／Ｄコンバータ１２と、
Ｄ／Ａコンバータ１３とを有する。ＣＰＵ１１はコント
ローラ１０の主構成要素であり、前記の各種制御処理を
実行する。
ロセッサ（ＣＰＵ）１１と、Ａ／Ｄコンバータ１２と、
Ｄ／Ａコンバータ１３とを有する。ＣＰＵ１１はコント
ローラ１０の主構成要素であり、前記の各種制御処理を
実行する。
【００３２】Ａ／Ｄコンバータ１２は、リード／ライト
回路１５のリードチャネル（図３を参照）を介して生成
されるバースト信号（位置誤差信号）をディジタルデー
タに変換する。ＣＰＵ１１はそのバースト信号を使用し
て、ヘッド４を目標トラックの中心に位置決めするため
の位置制御を実行する。
回路１５のリードチャネル（図３を参照）を介して生成
されるバースト信号（位置誤差信号）をディジタルデー
タに変換する。ＣＰＵ１１はそのバースト信号を使用し
て、ヘッド４を目標トラックの中心に位置決めするため
の位置制御を実行する。
【００３３】Ｄ／Ａコンバータ１３は、ＣＰＵ１１が算
出したヘッド４の位置決め制御に関係する操作制御量を
アナログ信号に変換して、ＶＣＭ／ＳＰＭドライバ８に
出力する。
出したヘッド４の位置決め制御に関係する操作制御量を
アナログ信号に変換して、ＶＣＭ／ＳＰＭドライバ８に
出力する。
【００３４】メモリ１４は、ＣＰＵ１１によりアクセス
されて、後述するようにセンス電流量データＳＩとリー
ドチャネルのパラメータデータＰＡを記憶する。リード
／ライト回路１５は、ＨＤＤのリード／ライト信号を処
理する回路であり、データ再生時にＭＲヘッド２から出
力されたリード信号をデータに再生するためのリードチ
ャネルを有する。
されて、後述するようにセンス電流量データＳＩとリー
ドチャネルのパラメータデータＰＡを記憶する。リード
／ライト回路１５は、ＨＤＤのリード／ライト信号を処
理する回路であり、データ再生時にＭＲヘッド２から出
力されたリード信号をデータに再生するためのリードチ
ャネルを有する。
【００３５】リードチャネル２５は、図３に示すよう
に、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２５ａやパルス生成回
路等の信号処理回路を有し、ユーザデータとサーボデー
タを含むリードデータを再生する。
に、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２５ａやパルス生成回
路等の信号処理回路を有し、ユーザデータとサーボデー
タを含むリードデータを再生する。
【００３６】データ記録時には、リード／ライト回路１
５は、ＨＤＣ２０からのライトデータをライト信号（書
込み電流）に変換してヘッドアンプ回路９を介して薄膜
ヘッド３に供給する。
５は、ＨＤＣ２０からのライトデータをライト信号（書
込み電流）に変換してヘッドアンプ回路９を介して薄膜
ヘッド３に供給する。
【００３７】ヘッドアンプ回路９は、ＭＲヘッド２から
のリード信号を増幅するリードアンプとライト信号を増
幅するライトアンプとを有する。さらに、ヘッドアンプ
回路９は、本実施形態に関係するＭＲヘッド２のセンス
電流を供給するためのセンス電流源回路を含む。
のリード信号を増幅するリードアンプとライト信号を増
幅するライトアンプとを有する。さらに、ヘッドアンプ
回路９は、本実施形態に関係するＭＲヘッド２のセンス
電流を供給するためのセンス電流源回路を含む。
【００３８】リード／ライト回路１５は、ＣＰＵ１１の
制御（センス電流量データ）に従ってセンス電流源回路
のセンス電流量を調整するための調整回路を有する。Ｈ
ＤＣ１６は、ＨＤＤとホストコンピュータとのインター
フェース及びＨＤＤのデータコントローラとしての機能
を有する。ＨＤＣ１６はバッファメモリ１７を使用し
て、リード／ライト回路１５との間で記録再生データの
転送を制御する。ＨＤＣ１６はＥＣＣ回路を有し、リー
ドデータのリードエラーを検出する機能を有する。
制御（センス電流量データ）に従ってセンス電流源回路
のセンス電流量を調整するための調整回路を有する。Ｈ
ＤＣ１６は、ＨＤＤとホストコンピュータとのインター
フェース及びＨＤＤのデータコントローラとしての機能
を有する。ＨＤＣ１６はバッファメモリ１７を使用し
て、リード／ライト回路１５との間で記録再生データの
転送を制御する。ＨＤＣ１６はＥＣＣ回路を有し、リー
ドデータのリードエラーを検出する機能を有する。
【００３９】なお、本実施形態は、再生専用のＭＲヘッ
ド２によるデータ再生動作に関するものであるため、デ
ータ記録動作やサーボ処理（ヘッド位置決め制御）に関
係する説明は省略する。 （第１の実施形態の動作）本実施形態は、データ再生時
にリードエラーが発生すると、同一のリード動作を繰返
すリトライ処理を実行するＨＤＤを想定している。
ド２によるデータ再生動作に関するものであるため、デ
ータ記録動作やサーボ処理（ヘッド位置決め制御）に関
係する説明は省略する。 （第１の実施形態の動作）本実施形態は、データ再生時
にリードエラーが発生すると、同一のリード動作を繰返
すリトライ処理を実行するＨＤＤを想定している。
【００４０】即ち、データ再生時には、ＭＲヘッド２
が、ＣＰＵ１１のサーボ処理により目標トラック上に位
置決めされて、アクセス対象のセクタから記録データを
読出すリード動作を実行する（ステップＳ１）。
が、ＣＰＵ１１のサーボ処理により目標トラック上に位
置決めされて、アクセス対象のセクタから記録データを
読出すリード動作を実行する（ステップＳ１）。
【００４１】リード／ライト回路１５のリードチャネル
は、ＭＲヘッド２からのリード信号からリードデータ
（ユーザデータ）を再生して、ＨＤＣ１６に出力する。
ＨＤＣ１６はＥＣＣ処理により、リードデータが正常出
あるか否かをチェックする。
は、ＭＲヘッド２からのリード信号からリードデータ
（ユーザデータ）を再生して、ＨＤＣ１６に出力する。
ＨＤＣ１６はＥＣＣ処理により、リードデータが正常出
あるか否かをチェックする。
【００４２】このチェック処理によりリードエラーが発
生すると、ＣＰＵ１１はリトライ処理を実行する（ステ
ップＳ２のＹＥＳ）。ＣＰＵ１１は、予め設定された規
定の回数（例えば１０回）だけリトライ処理を繰返す
（ステップＳ３，Ｓ４）。
生すると、ＣＰＵ１１はリトライ処理を実行する（ステ
ップＳ２のＹＥＳ）。ＣＰＵ１１は、予め設定された規
定の回数（例えば１０回）だけリトライ処理を繰返す
（ステップＳ３，Ｓ４）。
【００４３】規定回数のリトライ処理を繰返しても、リ
ードエラーが発生する場合に、ＣＰＵ１１はＭＲヘッド
２のセンス電流量が適正値でないと推定し、センス電流
量を変更する処理を実行する（ステップＳ４のＹＥＳ，
Ｓ５）。
ードエラーが発生する場合に、ＣＰＵ１１はＭＲヘッド
２のセンス電流量が適正値でないと推定し、センス電流
量を変更する処理を実行する（ステップＳ４のＹＥＳ，
Ｓ５）。
【００４４】具体的には、ＣＰＵ１１はセンス電流量デ
ータを算出して、リード／ライト回路１５の調整回路に
出力する。この調整回路により、ヘッドアンプ回路９の
センス電流源回路からのセンス電流量が調整されて、Ｍ
Ｒヘッド２に供給される。
ータを算出して、リード／ライト回路１５の調整回路に
出力する。この調整回路により、ヘッドアンプ回路９の
センス電流源回路からのセンス電流量が調整されて、Ｍ
Ｒヘッド２に供給される。
【００４５】ＣＰＵ１１は、センス電流量を変更した後
に、再度のリトライ処理を実行する（ステップＳ６）。
ＣＰＵ１１は、正常なリードデータが再生されるまで、
センス電流量を変更しながらリトライ処理を繰返す。
に、再度のリトライ処理を実行する（ステップＳ６）。
ＣＰＵ１１は、正常なリードデータが再生されるまで、
センス電流量を変更しながらリトライ処理を繰返す。
【００４６】所定のセンス電流量の範囲内で、正常なリ
ードデータを再生したときに、ＣＰＵ１１はそのときの
センス電流量データをメモリ１４に格納する（ステップ
Ｓ７のＮＯ，Ｓ８）。即ち、正常なリードデータを再生
したときのセンス電流量を、該当するＭＲヘッド２には
最適値として再設定することになる。したがって、メモ
リ１４には、ＭＲヘッド２毎にセンス電流量データが記
憶される。
ードデータを再生したときに、ＣＰＵ１１はそのときの
センス電流量データをメモリ１４に格納する（ステップ
Ｓ７のＮＯ，Ｓ８）。即ち、正常なリードデータを再生
したときのセンス電流量を、該当するＭＲヘッド２には
最適値として再設定することになる。したがって、メモ
リ１４には、ＭＲヘッド２毎にセンス電流量データが記
憶される。
【００４７】これにより、次回のリード動作からは、Ｃ
ＰＵ１１はＭＲヘッド２に対して、メモリ１４に記憶し
たセンス電流量のセンス電流を供給するように制御す
る。一方、所定のセンス電流量の範囲内の変更によるリ
トライ処理でも、リードエラーが発生する場合には、Ｃ
ＰＵ１１はセンス電流量と共に、リードチャネルのパラ
メータを調整する処理に移行する（ステップＳ７のＹＥ
Ｓ，Ｓ９）。
ＰＵ１１はＭＲヘッド２に対して、メモリ１４に記憶し
たセンス電流量のセンス電流を供給するように制御す
る。一方、所定のセンス電流量の範囲内の変更によるリ
トライ処理でも、リードエラーが発生する場合には、Ｃ
ＰＵ１１はセンス電流量と共に、リードチャネルのパラ
メータを調整する処理に移行する（ステップＳ７のＹＥ
Ｓ，Ｓ９）。
【００４８】ここで、リードチャネルは、外部（ＣＰＵ
１１）からの入力により、リード信号処理に必要なＬＰ
Ｆ等のパラメータを調整する機能を備えたＬＳＩであ
る。パラメータには、ＬＰＦのカットオフ周波数やブー
スト量がある。
１１）からの入力により、リード信号処理に必要なＬＰ
Ｆ等のパラメータを調整する機能を備えたＬＳＩであ
る。パラメータには、ＬＰＦのカットオフ周波数やブー
スト量がある。
【００４９】ＣＰＵ１１は、所定の回数（変更範囲）を
限度として、正常なリードデータが再生されるまで、セ
ンス電流量とリードチャネルのパラメータを変更しなが
らリトライ処理を繰返す（ステップＳ１０）。
限度として、正常なリードデータが再生されるまで、セ
ンス電流量とリードチャネルのパラメータを変更しなが
らリトライ処理を繰返す（ステップＳ１０）。
【００５０】正常なリードデータを再生したときに、Ｃ
ＰＵ１１はそのときのセンス電流量とパラメータをメモ
リ１４に格納する（ステップＳ１１のＮＯ，Ｓ１３）。
即ち、変更したセンス電流量を最適値として再設定し、
かつ変更したパラメータもリードチャネルの最適値とし
て再設定することになる。
ＰＵ１１はそのときのセンス電流量とパラメータをメモ
リ１４に格納する（ステップＳ１１のＮＯ，Ｓ１３）。
即ち、変更したセンス電流量を最適値として再設定し、
かつ変更したパラメータもリードチャネルの最適値とし
て再設定することになる。
【００５１】所定のリトライ処理回数の範囲内では、リ
ードエラーの発生が無くならない場合には、ＣＰＵ１１
は所定のエラー処理に移行する（ステップＳ１１のＹＥ
Ｓ，Ｓ１２）。エラー処理は、例えば欠陥トラックまた
は欠陥セクタに対するディフェクト処理やＭＲヘッド２
を含むヘッド４を欠陥ヘッドとして取り扱う処理であ
る。通常では、欠陥トラックまたは欠陥セクタの場合に
は使用を禁止し、代替トラックや代替セクタを割り当て
る。ＭＲヘッド２の欠陥処理の場合には、そのヘッド４
に対応するディスク１のデータ面全てが使用禁止とな
る。
ードエラーの発生が無くならない場合には、ＣＰＵ１１
は所定のエラー処理に移行する（ステップＳ１１のＹＥ
Ｓ，Ｓ１２）。エラー処理は、例えば欠陥トラックまた
は欠陥セクタに対するディフェクト処理やＭＲヘッド２
を含むヘッド４を欠陥ヘッドとして取り扱う処理であ
る。通常では、欠陥トラックまたは欠陥セクタの場合に
は使用を禁止し、代替トラックや代替セクタを割り当て
る。ＭＲヘッド２の欠陥処理の場合には、そのヘッド４
に対応するディスク１のデータ面全てが使用禁止とな
る。
【００５２】以上のように本実施形態によれば、所定回
数のリトライ処理でも正常なリード動作が実行できず、
リードエラーが発生する場合に、ＭＲヘッド２のセンス
電流量が最適値でないと推定し、このセンス電流量を変
更してリトライ処理を繰返す。そして、正常なリード動
作が実行できた場合には、変更したセンス電流量を最適
値としてメモリ１４に記憶し、次回のリード動作から再
設定する。
数のリトライ処理でも正常なリード動作が実行できず、
リードエラーが発生する場合に、ＭＲヘッド２のセンス
電流量が最適値でないと推定し、このセンス電流量を変
更してリトライ処理を繰返す。そして、正常なリード動
作が実行できた場合には、変更したセンス電流量を最適
値としてメモリ１４に記憶し、次回のリード動作から再
設定する。
【００５３】したがって、ＭＲヘッド２のセンス電流量
が最適値に設定されていないことを要因とするリードエ
ラーの発生を防止し、無駄なリトライ処理の繰返しをな
くすことが可能となる。
が最適値に設定されていないことを要因とするリードエ
ラーの発生を防止し、無駄なリトライ処理の繰返しをな
くすことが可能となる。
【００５４】さらに、センス電流量と共に、リードチャ
ネルのパラメータを変更してリトライ処理を実行するこ
とにより、複合的な要因により発生したリードエラーを
解消できる確率を大幅に高めることができる。 （第２の実施形態）第２の実施形態は、ＨＤＤの周囲温
度が許容範囲を越えて変化した場合に、ＭＲヘッド２の
動作特性である抵抗特性が変化し、初期設定したセンス
電流量が結果的に最適値にならないことを想定したもの
である。
ネルのパラメータを変更してリトライ処理を実行するこ
とにより、複合的な要因により発生したリードエラーを
解消できる確率を大幅に高めることができる。 （第２の実施形態）第２の実施形態は、ＨＤＤの周囲温
度が許容範囲を越えて変化した場合に、ＭＲヘッド２の
動作特性である抵抗特性が変化し、初期設定したセンス
電流量が結果的に最適値にならないことを想定したもの
である。
【００５５】第２の実施形態は、図１に示すように、Ｈ
ＤＤの内部に温度検知装置（サーミスタ等を使用した装
置）１８を配置し、これによりＨＤＤの内部温度を監視
する。温度検知装置１８は、予め設定された基準温度を
越えた場合に、検知信号をマイクロコントローラ１０に
出力する。
ＤＤの内部に温度検知装置（サーミスタ等を使用した装
置）１８を配置し、これによりＨＤＤの内部温度を監視
する。温度検知装置１８は、予め設定された基準温度を
越えた場合に、検知信号をマイクロコントローラ１０に
出力する。
【００５６】ＣＰＵ１１は、温度検知装置１８からの検
知信号に応じて、ＨＤＤの内部温度が許容範囲を越えて
変化したと判定し、リードテスト動作を実行する（ステ
ップＳ２０のＹＥＳ，Ｓ２１）。
知信号に応じて、ＨＤＤの内部温度が許容範囲を越えて
変化したと判定し、リードテスト動作を実行する（ステ
ップＳ２０のＹＥＳ，Ｓ２１）。
【００５７】リードテスト動作とは、ディスク１から実
際にデータを読出して、正常なリードデータを再生した
か否かを検査するための処理であり、実行中のアクセス
を停止して実行するか、または終了後に実行する。ま
た、検査には、予め用意したテストデータを記録した後
に、そのテストデータを再生する方式または実際に記録
されたているユーザデータを利用する方式のいずれでも
よい。
際にデータを読出して、正常なリードデータを再生した
か否かを検査するための処理であり、実行中のアクセス
を停止して実行するか、または終了後に実行する。ま
た、検査には、予め用意したテストデータを記録した後
に、そのテストデータを再生する方式または実際に記録
されたているユーザデータを利用する方式のいずれでも
よい。
【００５８】ＣＰＵ１１は、リードテスト動作により異
常を発見しない場合には、当然ながらＭＲヘッド２のセ
ンス電流量の変更は実行しない。リードテスト動作によ
り、リードエラーが発生すると、ＣＰＵ１１は前述のよ
うなセンス電流量を変更して、再度のリードテスト動作
を実行する（ステップＳ２２のＹＥＳ，Ｓ２３）。所定
の規定回数のリードテスト動作の範囲内（即ち、センス
電流量の範囲内）で、正常なリード動作が実行された場
合には、ＣＰＵ１１はそのときのセンス電流量をメモリ
１４に記憶する（ステップＳ２４のＮＯ，Ｓ２２のＮ
Ｏ，Ｓ２５）。即ち、変更したセンス電流量を最適値と
して再設定することになる。
常を発見しない場合には、当然ながらＭＲヘッド２のセ
ンス電流量の変更は実行しない。リードテスト動作によ
り、リードエラーが発生すると、ＣＰＵ１１は前述のよ
うなセンス電流量を変更して、再度のリードテスト動作
を実行する（ステップＳ２２のＹＥＳ，Ｓ２３）。所定
の規定回数のリードテスト動作の範囲内（即ち、センス
電流量の範囲内）で、正常なリード動作が実行された場
合には、ＣＰＵ１１はそのときのセンス電流量をメモリ
１４に記憶する（ステップＳ２４のＮＯ，Ｓ２２のＮ
Ｏ，Ｓ２５）。即ち、変更したセンス電流量を最適値と
して再設定することになる。
【００５９】所定の規定回数の範囲内で、正常なリード
動作が実行できない場合には、前述のように、センス電
流量とリードチャネルのパラメータを変更しながらリー
ドテスト動作を繰返す（ステップＳ２６，Ｓ２７）。
動作が実行できない場合には、前述のように、センス電
流量とリードチャネルのパラメータを変更しながらリー
ドテスト動作を繰返す（ステップＳ２６，Ｓ２７）。
【００６０】正常なリードデータを再生したときは、Ｃ
ＰＵ１１はそのときのセンス電流量とパラメータをメモ
リ１４に格納する（ステップＳ２８のＮＯ，Ｓ３０）。
即ち、変更したセンス電流量を最適値として再設定し、
かつ変更したパラメータもリードチャネルの最適値とし
て再設定することになる。また、所定の回数のリードテ
スト動作を繰返しても、リードエラーの発生が無くなら
ない場合には、ＣＰＵ１１は所定のエラー処理に移行す
る。エラー処理は、前述の第１の実施形態の場合と同様
である。
ＰＵ１１はそのときのセンス電流量とパラメータをメモ
リ１４に格納する（ステップＳ２８のＮＯ，Ｓ３０）。
即ち、変更したセンス電流量を最適値として再設定し、
かつ変更したパラメータもリードチャネルの最適値とし
て再設定することになる。また、所定の回数のリードテ
スト動作を繰返しても、リードエラーの発生が無くなら
ない場合には、ＣＰＵ１１は所定のエラー処理に移行す
る。エラー処理は、前述の第１の実施形態の場合と同様
である。
【００６１】以上のように本実施形態によれば、ＨＤＤ
の周囲温度が変化した場合に、ＭＲヘッド２の抵抗特性
が変化して、予め設定されたセンス電流量が不適正値と
なり、それを要因とするリードエラーの発生を未然に防
止することが可能となる。
の周囲温度が変化した場合に、ＭＲヘッド２の抵抗特性
が変化して、予め設定されたセンス電流量が不適正値と
なり、それを要因とするリードエラーの発生を未然に防
止することが可能となる。
【００６２】即ち、温度変化の検知に従って、リードテ
スト動作を実行してリードエラーが発生した場合には、
ＭＲヘッド２のセンス電流量の不適正値が要因であると
推定し、センス電流量の変更処理を実行する。これによ
り、センス電流量を最適値に再設定することができる。
スト動作を実行してリードエラーが発生した場合には、
ＭＲヘッド２のセンス電流量の不適正値が要因であると
推定し、センス電流量の変更処理を実行する。これによ
り、センス電流量を最適値に再設定することができる。
【００６３】また、温度変化により、センス電流量だけ
でなく、リードチャネルのパラメータも不適正値になっ
た場合には、リードチャネルのパラメータも変更してリ
ードテスト動作を実行して、センス電流量と共に、リー
ドチャネルのパラメータも最適値に再設定することがで
きる。したがって、温度変化に伴って、複合的な要因に
よりリードエラーが発生するような事態を未然に防止す
ることが可能となる。 （第３の実施形態）第３の実施形態は、図２に示すよう
に、ＣＤＲ（ｃｏｎｓｔａｎｔ ｄｅｎｓｉｔｙ ｒｅ
ｃｏｒｄｉｎｇ）方式のディスクフォーマットのディス
ク１を使用するＨＤＤであって、各ゾーン毎にＭＲヘッ
ド２のセンス電流量を設定する方式を想定している。
でなく、リードチャネルのパラメータも不適正値になっ
た場合には、リードチャネルのパラメータも変更してリ
ードテスト動作を実行して、センス電流量と共に、リー
ドチャネルのパラメータも最適値に再設定することがで
きる。したがって、温度変化に伴って、複合的な要因に
よりリードエラーが発生するような事態を未然に防止す
ることが可能となる。 （第３の実施形態）第３の実施形態は、図２に示すよう
に、ＣＤＲ（ｃｏｎｓｔａｎｔ ｄｅｎｓｉｔｙ ｒｅ
ｃｏｒｄｉｎｇ）方式のディスクフォーマットのディス
ク１を使用するＨＤＤであって、各ゾーン毎にＭＲヘッ
ド２のセンス電流量を設定する方式を想定している。
【００６４】ＣＤＲ方式では、図２に示すように、ディ
スク１上の多数のトラックが複数のゾーン０〜２に分割
されて、各ゾーン０〜２毎にデータ転送速度等のデータ
記録再生特性が異なる。
スク１上の多数のトラックが複数のゾーン０〜２に分割
されて、各ゾーン０〜２毎にデータ転送速度等のデータ
記録再生特性が異なる。
【００６５】ＨＤＤでは、データアクセスは通常では、
ゾーンの範囲内でシーケンシャルに実行されることが多
い。このため、ＭＲヘッド２の動作特性を要因とするリ
ードエラーが、特定のゾーンで多発する可能性が高い。
ゾーンの範囲内でシーケンシャルに実行されることが多
い。このため、ＭＲヘッド２の動作特性を要因とするリ
ードエラーが、特定のゾーンで多発する可能性が高い。
【００６６】そこで、本実施形態は、ゾーン毎にリード
エラーの発生回数を測定し、その発生回数が所定の基準
値より多頻度である場合に、リードエラーの発生要因が
ＭＲヘッド２の動作特性、即ち、センス電流量にあると
推定する。
エラーの発生回数を測定し、その発生回数が所定の基準
値より多頻度である場合に、リードエラーの発生要因が
ＭＲヘッド２の動作特性、即ち、センス電流量にあると
推定する。
【００６７】以下、図６のフローチャートを参照して、
具体的に説明する。ＣＰＵ１１は、データ再生時に発生
したリードエラーの発生回数を、ゾーン毎にカウントし
てメモリ１４または内部レジスタに記憶しておく（ステ
ップＳ４０）。
具体的に説明する。ＣＰＵ１１は、データ再生時に発生
したリードエラーの発生回数を、ゾーン毎にカウントし
てメモリ１４または内部レジスタに記憶しておく（ステ
ップＳ４０）。
【００６８】ＣＰＵ１１は、記憶したリードエラーの発
生回数に基づいて、所定の基準値と比較して、リードエ
ラーが多発していると判定したゾーン（ここではゾーン
０とする）を特定する（ステップＳ４１）。
生回数に基づいて、所定の基準値と比較して、リードエ
ラーが多発していると判定したゾーン（ここではゾーン
０とする）を特定する（ステップＳ４１）。
【００６９】このゾーン０において、図２に示すよう
に、ＣＰＵ１１は最内周のトラックＴＺ０にヘッド４を
シークさせて、薄膜ヘッド３により予め用意したテスト
データを記録させる（ステップＳ４２，Ｓ４３）。
に、ＣＰＵ１１は最内周のトラックＴＺ０にヘッド４を
シークさせて、薄膜ヘッド３により予め用意したテスト
データを記録させる（ステップＳ４２，Ｓ４３）。
【００７０】さらに、ＣＰＵ１１は、ヘッド４のＭＲヘ
ッド２により、そのテストデータを読出すリード動作を
実行させる（ステップＳ４４）。このリード動作によ
り、リードエラーが発生しない場合には、ＭＲヘッド２
の動作特性、即ちセンス電流量は適正値であると判定
し、リードエラーの発生要因から除外することになる。
ッド２により、そのテストデータを読出すリード動作を
実行させる（ステップＳ４４）。このリード動作によ
り、リードエラーが発生しない場合には、ＭＲヘッド２
の動作特性、即ちセンス電流量は適正値であると判定
し、リードエラーの発生要因から除外することになる。
【００７１】リード動作により、リードエラーが発生す
ると、ＣＰＵ１１は、リード／ライト回路１５に対して
センス電流量の調整処理の実行を指示する（ステップＳ
４５，Ｓ４６のＮＯ）。
ると、ＣＰＵ１１は、リード／ライト回路１５に対して
センス電流量の調整処理の実行を指示する（ステップＳ
４５，Ｓ４６のＮＯ）。
【００７２】ここで、本実施形態では、図３に示すよう
に、リード／ライト回路１５のリードチャネル２５に
は、リード信号波形の非対称性を検出し、この非対称性
を解消するようにセンス電流量の調整回路が設けられて
いる。
に、リード／ライト回路１５のリードチャネル２５に
は、リード信号波形の非対称性を検出し、この非対称性
を解消するようにセンス電流量の調整回路が設けられて
いる。
【００７３】ＣＰＵ１１は、調整されたセンス電流量を
リードチャネル２５から入力し、一時的に内部レジスタ
に記憶する。次に、ＣＰＵ１１は、リードチャネル２５
のＬＰＦ２４ａのパラメータ（カットオフ周波数やブー
スト量）の調整処理を実行する（ステップＳ４７）。こ
こで、当然ながら、センス電流量の調整で、リードエラ
ーが解消されたならば、パラメータは初期設定された値
のままでよい。
リードチャネル２５から入力し、一時的に内部レジスタ
に記憶する。次に、ＣＰＵ１１は、リードチャネル２５
のＬＰＦ２４ａのパラメータ（カットオフ周波数やブー
スト量）の調整処理を実行する（ステップＳ４７）。こ
こで、当然ながら、センス電流量の調整で、リードエラ
ーが解消されたならば、パラメータは初期設定された値
のままでよい。
【００７４】ＣＰＵ１１は、最終的にリードエラーが発
生しないセンス電流量とパラメータを決定すると、それ
ぞれをメモリ１４に記憶する（ステップＳ４９）。即
ち、図３に示すように、メモリ１４において、センス電
流データ記憶用メモリ１４ａにはゾーン０に対するセン
ス電流量データＳＩ０を格納し、またパラメータデータ
記憶用メモリ１４ｂにはゾーン０に対するパラメータデ
ータＰＡ０を格納する。
生しないセンス電流量とパラメータを決定すると、それ
ぞれをメモリ１４に記憶する（ステップＳ４９）。即
ち、図３に示すように、メモリ１４において、センス電
流データ記憶用メモリ１４ａにはゾーン０に対するセン
ス電流量データＳＩ０を格納し、またパラメータデータ
記憶用メモリ１４ｂにはゾーン０に対するパラメータデ
ータＰＡ０を格納する。
【００７５】なお、各メモリ１４ａ，１４ｂには、他の
ゾーン毎のセンス電流量データとパラメータデータが記
憶されている。ＣＰＵ１１は、例えばＨＤＤの起動時に
これらのデータに基づいて、ＭＲヘッド２のセンス電流
量やリードチャネルのパラメータを設定する。
ゾーン毎のセンス電流量データとパラメータデータが記
憶されている。ＣＰＵ１１は、例えばＨＤＤの起動時に
これらのデータに基づいて、ＭＲヘッド２のセンス電流
量やリードチャネルのパラメータを設定する。
【００７６】また、センス電流量とパラメータの調整処
理を実行しても、リードエラーの発生が無くならない場
合には、ＣＰＵ１１は所定のエラー処理に移行する（ス
テップＳ５０）。エラー処理は、前述の第１の実施形態
の場合と同様である。
理を実行しても、リードエラーの発生が無くならない場
合には、ＣＰＵ１１は所定のエラー処理に移行する（ス
テップＳ５０）。エラー処理は、前述の第１の実施形態
の場合と同様である。
【００７７】以上のように本実施形態によれば、リード
エラーの発生が多発するゾーンを特定し、リードエラー
の発生要因がＭＲヘッド２のセンス電流量およびリード
チャネルのパラメータであると推定し、センス電流量と
パラメータの調整処理を実行する。この場合、センス電
流量調整処理のみでもよい。
エラーの発生が多発するゾーンを特定し、リードエラー
の発生要因がＭＲヘッド２のセンス電流量およびリード
チャネルのパラメータであると推定し、センス電流量と
パラメータの調整処理を実行する。この場合、センス電
流量調整処理のみでもよい。
【００７８】ＣＤＲ方式のＨＤＤでは、ゾーン毎にシー
ケンシャルなアクセスが多いため、リードエラーが多発
する場合には、ＭＲヘッド２の動作特性やリードチャネ
ルのパラメータの不適正が要因である可能性が高い。そ
こで、本実施形態は、センス電流量とパラメータの調整
処理を実行することにより、リードエラーの発生要因の
中で確率の高いものを解消する。これにより、リードエ
ラーの発生時にリード動作のリトライ処理を実行する前
に、推定した要因を解消できるため、結果的に少ないリ
トライ処理によりリードエラーを解消できる可能性が高
くなる。換言すれば、リードエラーの発生時のリトライ
処理の効率化を図ることができる。
ケンシャルなアクセスが多いため、リードエラーが多発
する場合には、ＭＲヘッド２の動作特性やリードチャネ
ルのパラメータの不適正が要因である可能性が高い。そ
こで、本実施形態は、センス電流量とパラメータの調整
処理を実行することにより、リードエラーの発生要因の
中で確率の高いものを解消する。これにより、リードエ
ラーの発生時にリード動作のリトライ処理を実行する前
に、推定した要因を解消できるため、結果的に少ないリ
トライ処理によりリードエラーを解消できる可能性が高
くなる。換言すれば、リードエラーの発生時のリトライ
処理の効率化を図ることができる。
【００７９】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、デ
ータ再生用としてＭＲヘッドを使用したディスク記録再
生装置において、リードエラー発生時のリード動作のリ
トライ処理時に、ＭＲヘッドのセンス電流量の調整機能
を利用して、ＭＲヘッドの動作特性を要因とするリード
エラー発生を解消することができる。したがって、ＭＲ
ヘッドの動作特性を要因とする場合に、無駄なリトライ
処理を減少させ、リトライ処理の効率化を図ることがで
きる。したがって、結果的に装置の動作効率を高めるこ
とが可能となる。
ータ再生用としてＭＲヘッドを使用したディスク記録再
生装置において、リードエラー発生時のリード動作のリ
トライ処理時に、ＭＲヘッドのセンス電流量の調整機能
を利用して、ＭＲヘッドの動作特性を要因とするリード
エラー発生を解消することができる。したがって、ＭＲ
ヘッドの動作特性を要因とする場合に、無駄なリトライ
処理を減少させ、リトライ処理の効率化を図ることがで
きる。したがって、結果的に装置の動作効率を高めるこ
とが可能となる。
【００８０】また、装置の周囲温度が変化した場合に、
ＭＲヘッドの動作特性を要因とするリードエラー発生を
想定としたリードテスト動作を実行することにより、同
様にリトライ処理の効率化を図ることができる。この場
合、そのときの温度状態に応じた適正なセンス電流量を
設定することができる。
ＭＲヘッドの動作特性を要因とするリードエラー発生を
想定としたリードテスト動作を実行することにより、同
様にリトライ処理の効率化を図ることができる。この場
合、そのときの温度状態に応じた適正なセンス電流量を
設定することができる。
【００８１】さらに、ＣＤＲ方式のＨＤＤ等に適用した
場合に、リードエラーが多発する特定ゾーンに対して、
ＭＲヘッドの動作特性を要因を想定したリードテスト動
作を実行する。即ち、センス電流量の調整を伴ったリー
ドテスト動作により、ＭＲヘッドの動作特性を要因とす
るゾーン内のリードエラーの多発現象をなくすことが可
能となる。
場合に、リードエラーが多発する特定ゾーンに対して、
ＭＲヘッドの動作特性を要因を想定したリードテスト動
作を実行する。即ち、センス電流量の調整を伴ったリー
ドテスト動作により、ＭＲヘッドの動作特性を要因とす
るゾーン内のリードエラーの多発現象をなくすことが可
能となる。
【図１】第１乃至第３の実施形態に関係するＨＤＤの要
部を示すブロック図。
部を示すブロック図。
【図２】第３の実施形態に関係するＣＤＲ方式のディス
クのフォーマットを説明するための概念図。
クのフォーマットを説明するための概念図。
【図３】第１の実施形態に関係するリードチャネルのパ
ラメータ変更処理を説明するためのブロック図。
ラメータ変更処理を説明するためのブロック図。
【図４】第１の実施形態に関係する動作を説明するため
のフローチャート。
のフローチャート。
【図５】第２の実施形態に関係する動作を説明するため
のフローチャート。
のフローチャート。
【図６】第３の実施形態に関係する動作を説明するため
のフローチャート。
のフローチャート。
【図７】従来のＭＲヘッドの動作原理を説明するための
図。
図。
１…ディスク ２…ＭＲヘッド ３…誘導型薄膜ヘッド ４…ヘッド ５…スピンドルモータ ６…ヘッドアクチュエータ ７…ボイスコイルモータ ８…ＶＣＭ／ＳＰＭドライバ ９…ヘッドアンプ回路（センス電流源回路） １０…マイクロコントローラ １１…ＣＰＵ（制御手段） １４…メモリ １５…リード／ライト回路（センス電流調整回路） １６…ディスクコントローラ（ＨＤＣ） １７…バッファメモリ １８…温度検知装置
Claims (6)
- 【請求項１】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生するディスク記録再生装置であって、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドにセンス電流を供給す
る手段であって、前記センス電流量を調整する調整機能
を有するセンス電流供給手段と、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドから出力されたリード
信号の再生処理を実行し、再生処理に必要なパラメータ
の調整機能を有するリード信号処理手段と、 前記データ再生時にリードエラーが発生したときに、デ
ータ再生動作を繰返すリトライ処理を所定の規定回数だ
け実行するリトライ処理手段と、 前記規定回数の前記リトライ処理が終了してもリードエ
ラーが発生している場合に、前記センス電流供給手段の
調整機能を介してセンス電流量を変更して、前記リトラ
イ処理を実行させて正常なリード動作の場合に変更した
センス電流量を記憶し、リードエラーが発生した場合に
は前記リード信号処理手段のパラメータを調整する制御
手段とを具備したことを特徴とするディスク記録再生装
置。 - 【請求項２】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生するディスク記録再生装置であって、 装置内の温度変化を検知するための温度検知手段と、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドにセンス電流を供給す
る手段であって、前記センス電流量を調整する調整機能
を有するセンス電流供給手段と、 前記温度検知手段により装置内の温度変化が許容範囲を
越えたことを検知されたときに、前記ディスクに対して
データ再生動作を実行してリードエラーの発生を判定す
るリードテスト手段と、 前記リードテスト手段によるデータ再生動作においてリ
ードエラーが発生したときに、前記センス電流供給手段
の調整機能を介してセンス電流量を変更して前記リード
テスト手段によるデータ再生動作を再実行させて、正常
なリード動作の場合に変更したセンス電流量を記憶する
制御手段とを具備したことを特徴とするディスク記録再
生装置。 - 【請求項３】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生するディスク記録再生装置であって、 装置内の温度変化を検知するための温度検知手段と、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドにセンス電流を供給す
る手段であって、前記センス電流量を調整する調整機能
を有するセンス電流供給手段と、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドから出力されたリード
信号の再生処理を実行し、再生処理に必要なパラメータ
の調整機能を有するリード信号処理手段と、 前記温度検知手段により装置内の温度変化が許容範囲を
越えたことを検知されたときに、前記ディスクに対して
データ再生動作を実行してリードエラーの発生を判定す
るリードテスト手段と、 前記リードテスト手段によるデータ再生動作においてリ
ードエラーが発生したときに、前記センス電流供給手段
の調整機能を介してセンス電流量を変更して前記リード
テスト手段によるデータ再生動作を再実行させて正常な
リード動作の場合に変更したセンス電流量を記憶し、リ
ードエラーが発生した場合には前記リード信号処理手段
のパラメータを調整する制御手段とを具備したことを特
徴とするディスク記録再生装置。 - 【請求項４】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生するディスク記録再生装置であって、 データ再生時に、前記ＭＲヘッドにセンス電流を供給す
る手段であって、前記センス電流量を調整する調整機能
を有するセンス電流供給手段と、 前記データ再生時にリードエラーが発生したときに、前
記ディスク上の所定のゾーン毎にリードエラー発生回数
を測定し、前記リードエラー発生回数が所定の基準発生
回数を越えたゾーンを特定する測定手段と、 前記測定手段により特定されたゾーン内の特定トラック
に前記ヘッドをシークしてテストデータをライトし、こ
のテストデータを前記ＭＲヘッドによりリードして前記
テストデータに対応する再生信号波形を生成するための
リードテスト手段と、 前記リードテスト手段により得られた前記再生信号波形
に基づいて、前記再生信号波形が正常になるように前記
センス電流供給手段の調整機能を介してセンス電流量を
調整して、調整されたセンス電流量を前記特定ゾーンに
対応する値として記憶する制御手段とを具備したことを
特徴とするディスク記録再生装置。 - 【請求項５】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生し、リードパラメータとして前記ＭＲヘッドに供
給するセンス電流量の調整機能を備えたディスク記録再
生装置のリードパラメータ調整方法であって、 前記装置内の温度変化を検知して、前記温度変化が許容
範囲を越えたときに、前記ディスクに対してテスト再生
動作を実行してリードエラーの発生を判定するステップ
と、 データ再生動作においてリードエラーが発生したとき
に、前記センス電流量を変更して前記テスト再生動作を
再実行させるステップと、 前記テスト再生動作を再実行により、正常なリード動作
の場合には変更した前記センス電流量を、データ再生時
に前記ＭＲヘッドに供給するためのセンス電流量として
記憶するステップとからなることをことを特徴とするリ
ードパラメータ調整方法。 - 【請求項６】 ディスクにデータを記録再生するための
ヘッドとして、再生専用のＭＲヘッドを使用してデータ
を再生し、リードパラメータとして前記ＭＲヘッドに供
給するセンス電流量の調整機能を備えたディスク記録再
生装置のリードパラメータ調整方法であって、 データ再生時にリードエラーが発生したときに、前記デ
ィスク上の所定のゾーン毎にリードエラー発生回数を測
定するステップと、 前記リードエラー発生回数が所定の基準発生回数を越え
たゾーンを特定するステップと、 特定されたゾーン内の特定トラックに前記ヘッドをシー
クしてテストデータをライトし、このテストデータを前
記ＭＲヘッドによりリードして前記テストデータに対応
する再生信号波形を生成するためのリードテスト処理を
実行するステップと、 リードテスト処理により得られた前記再生信号波形に基
づいて、前記再生信号波形が正常になるように前記セン
ス電流を調整して、調整されたセンス電流量を前記特定
ゾーンに対応する値として記憶するステップとからなる
ことを特徴とするリードパラメータ調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23541795A JPH0981909A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するリードパラメータ調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23541795A JPH0981909A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するリードパラメータ調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0981909A true JPH0981909A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16985797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23541795A Pending JPH0981909A (ja) | 1995-09-13 | 1995-09-13 | ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するリードパラメータ調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0981909A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6490115B1 (en) | 1997-12-25 | 2002-12-03 | International Business Machines Corporation | Error recovery in unit using GMR sensor |
| US6608728B1 (en) | 1999-07-06 | 2003-08-19 | Fujitsu Limited | Magnetic disk unit |
-
1995
- 1995-09-13 JP JP23541795A patent/JPH0981909A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6490115B1 (en) | 1997-12-25 | 2002-12-03 | International Business Machines Corporation | Error recovery in unit using GMR sensor |
| US6608728B1 (en) | 1999-07-06 | 2003-08-19 | Fujitsu Limited | Magnetic disk unit |
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