JPH08288036A - Bgaパッケージ用ソケットおよびその組み立て方法 - Google Patents

Bgaパッケージ用ソケットおよびその組み立て方法

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JPH08288036A
JPH08288036A JP7084082A JP8408295A JPH08288036A JP H08288036 A JPH08288036 A JP H08288036A JP 7084082 A JP7084082 A JP 7084082A JP 8408295 A JP8408295 A JP 8408295A JP H08288036 A JPH08288036 A JP H08288036A
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JP
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solder ball
contactor
bga package
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contacting
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JP7084082A
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English (en)
Inventor
Ryoichi Takagi
亮一 高木
Hiroshi Noda
寛 野田
Masahiko Hiyouzou
正彦 兵三
Hirotaka Kakiuchi
裕隆 垣内
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速動作する半導体集積回路の特性試験にお
いて、半導体集積回路を安定に機能させることができる
とともに、BGAパッケージの半田ボールの変形を伴わ
ないBGAパッケージ用ソケットを得る。 【構成】 弾力性を有する絶縁性のシート10の一方の
主面側から、BGAパッケージの特性試験に際して半田
ボールに接触する半田ボール接触用コンタクタ20が垂
直に挿入され、他方の主面側からテストボードとの電気
的接続を行う電極接触用コンタクタ30が斜めに挿入さ
れている。 【効果】 半田ボールに加わる圧力が減殺され、テスト
時に半田ボールが損傷することが防止されるとともに、
インダクタンスを低減することができ、高速動作する半
導体集積回路の特性試験において、半導体集積回路を安
定に機能させることができるBGAパッケージ用ソケッ
トが得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はBGAパッケージと試験
装置との電気的な接続を行うBGAパッケージ用ソケッ
トに関し、特にBGAパッケージの半田ボールの変形を
防止したBGAパッケージ用ソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、リードピンを挿入孔に挿入して電
気的な接続を行うピン挿入型パッケージに代わって、パ
ッケージ下面に設けられた半田ボールを介して基板上の
電極に半田付けするボールグリッドアレイ型(BGA)
パッケージが開発されている。このようなBGAパッケ
ージの特性試験を行うためには、ピン挿入型パッケージ
用のソケットとは異なった構造のソケットが必要にな
る。
【0003】以下、図21を用いて、従来のBGAパッ
ケージ用ソケットについて説明する。図21は従来のB
GAパッケージ用ソケットにBGAパッケージを取り付
けた状態を示す断面図である。図21においてテストボ
ード4の上に、ガイド枠3が設けられ、その内部にBG
Aパッケージ1の下面に形成された半田ボールSBが接
触する複数のコンタクタ21を整列させる整列ブロック
2(または板)が配置されてBGAパッケージ用ソケッ
ト5が構成されている。
【0004】整列ブロック2のそれぞれのコンタクタ2
1には、テストボード4に形成されたピン挿入孔との電
気的接続を行うためのピン22が接続されている。ピン
22はテストボード4に形成されたピン挿入孔に挿入さ
れ半田付けされる。
【0005】BGAパッケージ1は半田ボールSBがコ
ンタクタ21に接触するように載置され、ガイド枠3に
付属する蓋31を閉じ、蓋31を固定するための固定つ
め32をガイド枠3に係合させることで半田ボールSB
がコンタクタ21に圧接され電気的接触が確実に得られ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のBGAパッケー
ジ用ソケット2においては、ピン22の半田付け後のテ
ストボード4の上面から半田ボールSBまでの長さが2
0mm前後となる。このためインダクタンスが20nH
もあり瞬間過渡電流により電源−GND間にインダクタ
ンスにより誘起される電圧ノイズが発生し、電圧ノイズ
により半導体集積回路の機能動作が不安定になるという
問題があった。これは、従来のBGAパッケージ用ソケ
ットが高周波対応、すなわち高速動作する半導体集積回
路に対応していないことを示している。
【0007】また、半田ボールSBをコンタクタ21に
押し付けて圧接することで電気的接触得るので、半田ボ
ールSBが圧力により変形するという問題があった。
【0008】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、高速動作する半導体集積回路の特
性試験において、半導体集積回路を安定に機能させるこ
とができるとともに、BGAパッケージの半田ボールの
変形を伴わないBGAパッケージ用ソケットを得ること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る請求項1記
載のBGAパッケージ用ソケットは、弾力性を有する絶
縁板と、その一方の端面にBGAパッケージの半田ボー
ルが接触する半田ボール接触用コンタクタと、その一方
の端面が略球形で前記BGAパッケージの試験装置の電
極板に接触する電極接触用コンタクタとを備え、前記半
田ボール接触用コンタクタは、その他方の端面側が前記
絶縁板の一方の主面内に垂直に挿入され、前記電極接触
用コンタクタは、その他方の端面側が前記絶縁板の他方
の主面内に斜めに挿入され、その側面が前記半田ボール
接触用コンタクタの他方の端面に接触している。
【0010】本発明に係る請求項2記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、前記半田ボール接触用コンタクタの
前記一方の端面の形状が、前記BGAパッケージの半田
ボールの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であ
り、前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面
の形状は略球形状であり、前記電極接触用コンタクタの
側面には、前記半田ボール接触用コンタクタの略球形状
の前記他方の端面の曲率に略一致する曲率を有し、前記
半田ボール接触用コンタクタの略球形状の前記他方の端
面に嵌合する嵌合溝が軸方向に沿って備えられている。
【0011】本発明に係る請求項3記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、前記半田ボール接触用コンタクタの
前記一方の端面の形状が、前記BGAパッケージの半田
ボールの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であ
り、前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面
の形状は、所定の角度で円柱を斜めに切り取った形状で
あり、前記電極接触用コンタクタの側面には、前記半田
ボール接触用コンタクタの前記他方の端面と係合するよ
うに、平面形状が前記半田ボール接触用コンタクタの前
記他方の端面の形状に合致し、かつ、前記所定の角度と
同一の傾斜角となるように形成された係合面を有する突
出した係合部が備えられている。
【0012】本発明に係る請求項4記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、前記半田ボール接触用コンタクタの
前記一方の端面の形状が、前記BGAパッケージの半田
ボールの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であ
り、前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面
の形状は、部分的に突出した突出部を備える形状であ
り、前記電極接触用コンタクタの側面には、前記半田ボ
ール接触用コンタクタの突出部の横手幅に略一致する溝
幅を有し、前記半田ボール接触用コンタクタの前記突出
部に嵌合する嵌合溝が軸方向に沿って備えられている。
【0013】本発明に係る請求項5記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、その一方の端面にBGAパッケージ
の半田ボールが接触する半田ボール接触体と、その一方
端が前記BGAパッケージの試験装置の電極孔に挿入さ
れるコンタクトピンと、前記半田ボール接触体と前記コ
ンタクトピンとの間を接続するように、前記半田ボール
接触体の他方の端面から前記コンタクトピンの他方端に
渡って等間隔で環状に配列された弾力性を有する複数の
支柱板とを備え、前記複数の支柱板は、前記半田ボール
接触体が押圧された場合には外側に向けて撓み、そうで
ない場合は復元して略直線形状となるように撓み癖を有
している。
【0014】本発明に係る請求項6記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、前記支柱板を4枚備えている。
【0015】本発明に係る請求項7記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、弾力性を有する導体線で形成され、
試験時にBGAパッケージの半田ボールの表面に巻き付
くように渦を巻きながら螺旋状に広がったスプリング体
と、一方端が前記BGAパッケージの試験装置の電極孔
に挿入され、他方端に前記スプリング体の中央部の巻き
始め部分が接続されたコンタクトピンとを備えている。
【0016】本発明に係る請求項8記載のBGAパッケ
ージ用ソケットは、その一方の端面にBGAパッケージ
の半田ボールが接触する半田ボール接触体と、その一方
の端面に前記BGAパッケージの試験装置の電極孔に挿
入される挿入部をを有するコンタクトピンと、前記半田
ボール接触体と前記コンタクトピンとの間を電気的に接
続するように、前記半田ボール接触体の他方の端面と前
記コンタクトピンの他方の端面との間に介挿された導電
性のバネと、前記コンタクトピン、前記バネ、前記半田
ボール接触体を収容する中空状のハウジングとを備え、
前記ハウジングの一方端側には、前記挿入部が前記ハウ
ジングから露出するように前記コンタクトピンが固定し
て配置され、前記ハウジングの他方端側には、前記半田
ボール接触体が前記ハウジングから露出するとともに、
前記半田ボール接触体が前記バネの伸縮に伴って可動す
るように配置されている。
【0017】本発明に係る請求項9記載のBGAパッケ
ージ用ソケットの組み立て方法は、(a)前記絶縁板の一
方の主面の所定位置に垂直方向に第1のガイド孔を形成
する工程と、(b)前記絶縁板の他方の主面の所定位置に
斜め方向に第2のガイド孔を形成する工程と、(c)前記
半田ボール接触用用コンタクタの他方の端面側を前記第
1の未貫通孔に挿入する工程と、(d)前記電極接触用コ
ンタクタの他方の端面側を前記第2の未貫通孔に挿入す
る工程とを備え、前記第1の未貫通孔の直径を前記半田
ボール接触用コンタクタの挿入部分の最大寸法よりも小
さく形成し、前記第2の未貫通孔の直径を前記電極接触
用コンタクタの挿入部分の最大寸法よりも小さく形成す
る。
【0018】本発明に係る請求項10記載のBGAパッ
ケージ用ソケットの組み立て方法は、前記工程(c)が、
前記接触用コンタクタを加熱した状態で前記第1の未貫
通孔に挿入する工程を含み、前記工程(d)が、前記接触
用コンタクタを加熱した状態で前記第2の未貫通孔に挿
入する工程を含んでいる。
【0019】
【作用】本発明に係る請求項1記載のBGAパッケージ
用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタクタの他
方の端面が絶縁板の一方の主面内に垂直に挿入され、電
極接触用コンタクタは、その他方の端面側が絶縁板の他
方の主面内に斜めに挿入され、その側面が半田ボール接
触用コンタクタの他方の端面に接触しているので、半田
ボール接触用コンタクタに加わった垂直方向の圧力は電
極接触用コンタクタを介して水平方向に分散されるとと
もに、半田ボール接触用コンタクタの他方の端面が電極
接触用コンタクタの側面を滑るので、半田ボール接触用
コンタクタが垂直方向に沈み込み、半田ボールに加わる
圧力が減殺されることになる。また、半田ボール接触用
コンタクタと電極接触用コンタクタの接続後の長さが短
いのでインダクタンスを低減することができる。
【0020】本発明に係る請求項2記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタクタ
の一方の端面の形状がBGAパッケージの半田ボールの
曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であるので、半
田ボールの接触面積が増加することになり、半田ボール
接触用コンタクタに垂直方向の圧力が加わった場合に、
半田ボールの一点に圧力が集中することが防止される。
また、半田ボール接触用コンタクタの略球形状の他方の
端面が嵌合溝に嵌合することで、半田ボール接触用コン
タクタと電極接触用コンタクタとの電気的接続が良好に
なるとともに、機械的にも強固に接合され、簡単に接続
が断たれることが防止される。
【0021】本発明に係る請求項3記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタクタ
の一方の端面の形状がBGAパッケージの半田ボールの
曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であるので、半
田ボールの接触面積が増加することになり、半田ボール
接触用コンタクタに垂直方向の圧力が加わった場合に、
半田ボールの一点に圧力が集中することが防止される。
また、半田ボール接触用コンタクタの円柱を斜めに切り
取った形状の他方の端面が、電極接触用コンタクタの側
面から突出する係合部に係合することで、半田ボール接
触用コンタクタと電極接触用コンタクタとの電気的接続
が良好になるとともに、機械的にも強固に接合され、簡
単に接続が断たれることが防止される。
【0022】本発明に係る請求項4記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタクタ
の一方の端面の形状がBGAパッケージの半田ボールの
曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であるので、半
田ボールの接触面積が増加することになり、半田ボール
接触用コンタクタに垂直方向の圧力が加わった場合に、
半田ボールの一点に圧力が集中することが防止される。
また、半田ボール接触用コンタクタの他方の端面の突出
部が電極接触用コンタクタの嵌合溝に嵌合することで、
半田ボール接触用コンタクタと電極接触用コンタクタと
の電気的接続が良好になるとともに、機械的にも強固に
接合され、簡単に接続が断たれることが防止される。
【0023】本発明に係る請求項5記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触体とコンタク
トピンとの間を接続するように、半田ボール接触体の他
方の端面からコンタクトピンの他方端に渡って等間隔で
環状に配列された弾力性を有する複数の支柱板が、半田
ボール接触体が押圧された場合には外側に向けて撓み、
そうでない場合は復元して略直線形状となるように撓み
癖を有しているので、半田ボール接触体に加わった垂直
方向の圧力は支柱板の撓みによって吸収され半田ボール
に加わる圧力が減殺されることになる。また、半田ボー
ル接触体とコンタクトピンとの間に複数の支柱板が並列
に接続されているのでインダクタンスを低減することが
できる。
【0024】本発明に係る請求項6記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、支柱板を4枚とすることで、
支柱板が撓んだ状態での半田ボール接触体側から見た平
面視形状は十字型であり、回転させることでX字型とな
る。よって、支柱板の撓み方向を考慮して配列すること
で、隣合うBGAパッケージ用ソケットどうしが接触せ
ず、単位面積当たりの個数を増やすことができる。
【0025】本発明に係る請求項7記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、渦を巻きながら螺旋状に広が
ったスプリング体が、試験時にBGAパッケージの半田
ボールの表面に巻き付くことで半田ボールとの電気的接
続が保たれ、半田ボールに位置ずれがある場合でも、ス
プリング体の弾性により、ずれの方向にスプリング体が
変形するので、半田ボールSBの表面との接触を保つこ
とができる。
【0026】本発明に係る請求項8記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、ハウジングの一方端側には、
挿入部がハウジングから露出するようにコンタクトピン
が固定して配置され、ハウジングの他方端側には、半田
ボール接触体がハウジングから露出露出するとともに、
半田ボール接触体がバネの伸縮に伴って可動するように
配置されているので、半田ボール接触用コンタクタに加
わった垂直方向の圧力はバネによって吸収され半田ボー
ルに加わる圧力が減殺されることになる。
【0027】本発明に係る請求項9記載のBGAパッケ
ージ用ソケットの組み立て方法によれば、第1のガイド
孔の直径を半田ボール接触用コンタクタの挿入部分の最
大寸法よりも小さく形成し、第2のガイド孔の直径を電
極接触用コンタクタの挿入部分の最大寸法よりも小さく
形成することにより、工程(c)において挿入された半田
ボール接触用コンタクタおよび、工程(d)において挿入
された電極接触用コンタクタが絶縁板の弾力性により固
定されることになる。
【0028】本発明に係る請求項10記載のBGAパッ
ケージ用ソケットの組み立て方法によれば、工程(c)
が、接触用コンタクタを加熱した状態で第1の未貫通孔
に挿入する工程を含み、工程(d)が、接触用コンタクタ
を加熱した状態で第2の未貫通孔に挿入する工程を含む
ので、半田ボール接触用コンタクタおよび電極接触用コ
ンタクタの挿入部分が熱によって溶けた絶縁板で覆わ
れ、冷却して固化することで絶縁板に固着されることに
なる。
【0029】
【実施例】
<A.第1の実施例> <A−1.BGAパッケージ用ソケット100>図1に
本発明に係る第1の実施例としてBGAパッケージ用ソ
ケット100の部分断面図を示す。図1において、弾力
性を有する絶縁性のシート10の一方の主面側から、B
GAパッケージの特性試験に際して半田ボールに接触す
る導伝性のコンタクタ(以後「半田ボール接触用コンタ
クタ」と呼称)20が垂直に挿入され、他方の主面側か
らテストボードとの電気的接続を行う導伝性のコンタク
タ(以後、電極接触用コンタクタと呼称)30が斜めに
挿入されている。ここで、半田ボール接触用コンタクタ
20はBGAパッケージの半田ボールの個数および配列
に合わせて配置されている。なお、便宜上図1において
はシート10内に挿入されている部分も実線で示す。
【0030】半田ボール接触用コンタクタ20は、略円
柱形状の本体201の一方端がBGAパッケージの特性
試験に際しての半田ボール接触面202となっており、
半田ボールの曲率と一致、もしくは3〜4パーセント程
度大きい曲率となるように凹状に湾曲した形状、すなわ
ち凹面形状となっている。また、シート10に挿入され
た他方端は電極接触用コンタクタ30との接触球203
となっており、球形状をなしている。
【0031】一方、電極接触用コンタクタ30は、略円
柱形状の本体301の両端が球形状をなしており、一方
端がテストボード上の接続電極(以後「ランド」と呼
称)に接触するランド接触球302であり、他方端が電
極接触用コンタクタ30の脱落を防止する脱落防止球3
03である。また、略円柱形状の本体301表面には、
半田ボール接触用コンタクタ20の接触球203が嵌合
する嵌合溝304が軸方向に沿って形成されている。嵌
合溝304は、半田ボール接触用コンタクタ20の接触
球203の曲率と略一致する曲率を有するように形成さ
れている。
【0032】接触球203と電極接触用コンタクタ30
の嵌合溝304とが嵌合することによって、半田ボール
接触用コンタクタ20と電極接触用コンタクタ30との
電気的接続が良好になるとともに、機械的にも強固に接
合され、簡単に接続が断たれることが防止される。
【0033】図2にBGAパッケージ用ソケット100
にBGAパッケージ1を取り付けて特性試験を行う場合
の取付状態の断面図を示す。図2において、テストボー
ド40の主面上にガイド枠50が載置されている。BG
Aパッケージ用ソケット100は電極接触用コンタクタ
30が挿入された面を下にしてガイド枠50内に嵌め込
まれる。ガイド枠50に囲まれたテストボード40の表
面には、電極接触用コンタクタ30の個数および配列に
合わせて複数のランド60が形成されており、BGAパ
ッケージ用ソケット100をガイド枠50に嵌め込むこ
とで、電極接触用コンタクタ30のランド接触球302
がランド60に接触することになる。
【0034】BGAパッケージ用ソケット100の上に
BGAパッケージ1を載置することで、半田ボールSB
と半田ボール接触用コンタクタ20の半田ボール接触面
202とが接触するが、この状態では接触が不完全なの
でガイド枠50に付属する蓋501を閉じ、蓋501を
固定するための固定つめ502をガイド枠50に係合さ
せることで半田ボールSBが半田ボール接触面202に
押し付けられ電気的接触が確実に得られる。
【0035】BGAパッケージ用ソケット100の構成
において、半田ボール接触用コンタクタ20の半田ボー
ル接触面202からテストボード40のランド60まで
の経路長は、ほぼシート10の厚さに等しく、シート1
0の厚さは半田ボール接触用コンタクタ20および電極
接触用コンタクタ30の寸法によって決まるが、半田ボ
ール接触用コンタクタ20および電極接触用コンタクタ
30の寸法は半田ボールSBの寸法に対応して決められ
る。従って、一般的な寸法の半田ボールSBに合わせる
ならば、シート10の厚さは3〜5mm程度であり、厚
さの均一性はプラスマイナス0.1mm以下となる。ま
た、半田ボール接触用コンタクタ20の半田ボール接触
面202の直径は0.9〜1.0mmである。
【0036】従来のBGAパッケージ4においてはピン
22の半田付け後のテストボード1の上面から半田ボー
ルSBまでの長さが20mm前後であったので、4分の
1程度に短縮されたことになる。従って、インダクタン
スも比例して小さくなり、瞬間過渡電流により誘起され
る電圧ノイズの発生が抑制され、半導体集積回路の機能
動作を安定に保つことができる。
【0037】次に、半田ボールSBの変形防止について
説明する。半田ボールSBを介して半田ボール接触面2
02に加わった垂直下方向の力は、接触球203から電
極接触用コンタクタ30に与えられるが、半田ボール接
触用コンタクタ20に対して斜めに接続された電極接触
用コンタクタ30においては、力が水平方向にも分散さ
れ嵌合溝304内を接触球203が下方向に摺動する。
シート10は弾力性を有しているので、垂直および水平
方向の力が吸収され、接触球203の摺動に伴って半田
ボール接触用コンタクタ20は若干沈み込むことにな
る。従って、半田ボールに加わる圧力が減殺され半田ボ
ールSBの変形が防止されることになる。
【0038】<A−2.BGAパッケージ用ソケット2
00>以上説明したBGAパッケージ用ソケット100
は、半田ボール接触用コンタクタ20の接触球203と
電極接触用コンタクタ30の嵌合溝304とが嵌合する
ことによって電極接触用コンタクタ30とが電気的に接
続されるとともに、機械的にも強固に接合され、簡単に
接続が断たれることが防止される構成であったが、BG
Aパッケージ用ソケット200として以下に説明するよ
うな構成であっても良い。
【0039】図3にBGAパッケージ用ソケット200
の部分断面図を示す。図3において、弾力性を有する絶
縁性のシート10の一方の主面側から、半田ボール接触
用コンタクタ20Aが垂直に挿入され、他方の主面側か
ら電極接触用コンタクタ30Aが斜めに挿入されてい
る。
【0040】半田ボール接触用コンタクタ20Aは、略
円柱形状の本体201Aの一方端がBGAパッケージの
特性試験に際しての半田ボール接触面202Aとなって
おり、半田ボールの曲率と一致、もしくは3〜4パーセ
ント程度大きい曲率となるように凹状に湾曲した形状、
すなわち凹面形状となっている。また、シート10に挿
入された他方端は電極接触用コンタクタ30Aとの接触
端面203Aとなっており、円柱を斜めに切り取った形
状となっている。
【0041】一方、電極接触用コンタクタ30Aは、略
円柱形状の本体301Aの両端が球形状をなしており、
一方端がランド接触球302Aであり、他方端が電極接
触用コンタクタ30Aの脱落を防止する脱落防止球30
3Aであることは図1を用いて説明した電極接触用コン
タクタ30と同様である。
【0042】略円柱形状の本体301Aには、半田ボー
ル接触用コンタクタ20Aの接触端面203Aが係合す
るための係合部304Aが突出するように設けられてい
る。係合部304Aに円柱を斜めに切り取った形状であ
る接触端面203Aが係合して両者が機械的にも強固に
なるためには、係合部304Aに接触端面203Aの傾
斜角と同様の傾斜角を有する平面が必要となる。図3に
おいてはその面を係合面305Aとして示す。係合面3
05Aは接触端面203Aの形状に合致するように形成
されている。従って、半田ボール接触用コンタクタ20
Aおよび電極接触用コンタクタ30Aをシート10に挿
入することによって、係合面305Aと接触端面203
Aとが密着し、半田ボール接触用コンタクタ20Aと電
極接触用コンタクタ30Aとの電気的接続が良好にな
る。
【0043】BGAパッケージ1の特性試験のための構
成は図2に示したBGAパッケージ用ソケット100を
用いる場合とほぼ同様の構成であるので重複する説明は
省略する。BGAパッケージ1の特性試験において半田
ボールSBを介して半田ボール接触面202Aに加わっ
た垂直下方向の力は、電極接触用コンタクタ30を下方
向に押し付けるように加わり、係合面305Aおよび接
触端面203Aは垂直下方向の力を受けてより強固に密
着することになる。シート10は弾力性を有しているの
で、垂直下方向の力が吸収され半田ボール接触用コンタ
クタ20Aは若干沈み込むことになる。従って、半田ボ
ールに加わる圧力が減殺され半田ボールSBの変形が防
止されることになる。
【0044】なお、半田ボール接触用コンタクタ20A
の半田ボール接触面202Aからテストボード40のラ
ンド60までの経路長が、従来のBGAパッケージ4の
テストボード1の上面から半田ボールSBまでの長さの
4分の1程度に短縮されることについてはBGAパッケ
ージ用ソケット100の場合と同様である。
【0045】<A−3.BGAパッケージ用ソケット3
00>以下にBGAパッケージ用ソケット300の構成
について説明する。図4にBGAパッケージ用ソケット
300の部分断面図を示す。図4において、弾力性を有
する絶縁性のシート10の一方の主面側から、半田ボー
ル接触用コンタクタ20Bが垂直に挿入され、他方の主
面側から電極接触用コンタクタ30Bが斜めに挿入され
ている。
【0046】半田ボール接触用コンタクタ20Bは、略
円柱形状の本体201Bの一方端がBGAパッケージの
特性試験に際しての半田ボール接触面202Bとなって
おり、半田ボールの曲率と略一致、もしくは3〜4パー
セント程度大きい曲率となるように凹状に湾曲した形状
となっている。また、シート10に挿入された他方端は
電極接触用コンタクタ30Bとの接触のための突出部2
03Bとなっており、端面のほぼ中央部が突出した形状
となっている。
【0047】一方、電極接触用コンタクタ30Bは、略
円柱形状の本体301Bの両端が球形状をなしており、
一方端がランド接触球302Bであり、他方端が電極接
触用コンタクタ30Bの脱落を防止する脱落防止球30
3Bであることは図1を用いて説明した電極接触用コン
タクタ30と同様である。
【0048】略円柱形状の本体301Bの表面には、半
田ボール接触用コンタクタ20Bの突出部203Bが嵌
合する嵌合溝304Bが軸方向に沿って形成されてい
る。嵌合溝304Bは、半田ボール接触用コンタクタ2
0Bの突出部203Bの横幅とと略一致する溝幅を有す
るように形成されている。また、突出部203Bの突出
長さは、斜めに配置された電極接触用コンタクタ30B
の嵌合溝304B内に十分達する長さに設定される。
【0049】突出部203Bと電極接触用コンタクタ3
0Bの嵌合溝304Bとが嵌合することによって、半田
ボール接触用コンタクタ20Bと電極接触用コンタクタ
30Bとが電気的に接続されるとともに、機械的にも強
固に接合され、簡単に接続が断たれることが防止され
る。
【0050】BGAパッケージ1の特性試験のための構
成については、図2に示したBGAパッケージ用ソケッ
ト100を用いる場合とほぼ同様であるので重複する説
明は省略する。BGAパッケージ1の特性試験におい
て、半田ボールSBを介して半田ボール接触面202B
に加わった垂直下方向の力は、突出部203Bから電極
接触用コンタクタ30Bに与えられるが、半田ボール接
触用コンタクタ20Bに対して斜めに接続された電極接
触用コンタクタ30Bにおいては、力が水平方向にも分
散され嵌合溝304B内を突出部203Bが下方向に摺
動する。シート10は弾力性を有しているので、垂直お
よび水平方向の力が吸収され、突出部203Bの摺動に
伴って半田ボール接触用コンタクタ20Bは若干沈み込
むことになる。従って、半田ボールSBの変形が防止さ
れることになる。
【0051】なお、半田ボール接触用コンタクタ20B
の半田ボール接触面202Bからテストボード40のラ
ンド60までの経路長が、従来のBGAパッケージ4の
テストボード1の上面から半田ボールSBまでの長さの
4分の1程度に短縮されることについてはBGAパッケ
ージ用ソケット100の場合と同様である。
【0052】なお、以上説明したBGAパッケージ用ソ
ケット100〜300では電極接触用コンタクタ30、
30A、30Bの一方端に、脱落防止のための脱落防止
球303、303A、303Bを付加した構成を示して
いるが、必ずしも脱落防止球303、303A、303
Bを設ける必要はない。
【0053】<A−4.本発明に係るBGAパッケージ
用ソケットの製造方法>以上説明した本発明に係るBG
Aパッケージ用ソケット100〜300は何れも以下の
ようにして形成される。一例としてBGAパッケージ用
ソケット100の製造工程を示す断面図を図5および図
6に示す。
【0054】図5に示す工程において、シート10を準
備し、半田ボール接触用コンタクタ20および電極接触
用コンタクタ30を挿入するためのガイド孔H1および
H2を所定の位置に形成する。図5にはガイド孔H1お
よびH2はそれぞれ1つしか示していないが、先に説明
したように半田ボール接触用コンタクタ20および電極
接触用コンタクタ30はBGAパッケージ1の半田ボー
ルSBの個数および配列に合わせて形成されるので、ガ
イド孔H1およびH2も半田ボールSBの個数に合わせ
て形成される。また、ガイド孔H1およびH2を形成す
る所定の位置は半田ボールSBの配列に合わせて設定さ
れる。なお、半田ボール接触用コンタクタ20および電
極接触用コンタクタ30の配列ピッチには、1mm、
1.27mm、1.50mm、2.57mmなどの種類
があり、これらの配列ピッチに対応する半田ボール接触
用コンタクタ20および電極接触用コンタクタ30の本
体201および301の直径は0.8mm以下となる。
【0055】ガイド孔H1およびH2の形状は、半田ボ
ール接触用コンタクタ20および電極接触用コンタクタ
30の形状に合わせる必要はなく単純な孔形状で良い
が、孔径はそれぞれのコンタクタの最大幅より少なくと
も1割程度は小さくする必要がある。このとき、ガイド
孔H1はガイド孔H2と貫通させるが、ガイド孔H2が
シート10を貫通しないようにする。
【0056】次に図6に示す工程において、シート10
が溶ける程の温度に熱した半田ボール接触用コンタクタ
20および電極接触用コンタクタ30を、それぞれガイ
ド孔H1およびH2に挿入する。熱された半田ボール接
触用コンタクタ20および電極接触用コンタクタ30
は、小さめに形成されたガイド孔H1およびH2の壁面
を溶かしながら進み、予め設定された所定位置に達した
段階で挿入を停止する。ここで予め設定された所定位置
とは、半田ボール接触用コンタクタ20の接触球203
が電極接触用コンタクタ30の嵌合溝304に嵌合する
位置である。ここで、シート10はバーンイン試験にも
適応できるように少なくとも175℃の温度では物性が
劣化しないような材質で形成されている。
【0057】シート10の熱によって溶けた部分は、挿
入された半田ボール接触用コンタクタ20および電極接
触用コンタクタ30を覆いながら冷却して固化する。従
って、半田ボール接触用コンタクタ20および電極接触
用コンタクタ30がシート10に固着され、脱落が防止
されることになる。なお、接触球203と嵌合溝304
との嵌合は、冷却後に熱によって溶けたシート10を破
るように再度行われる。これは、BGAパッケージ用ソ
ケット200および300においても同様である。
【0058】以上の工程を複数回繰り返すことで、複数
の半田ボール接触用コンタクタ20および電極接触用コ
ンタクタ30を有するBGAパッケージ用ソケット10
0が完成する。
【0059】なお、BGAパッケージ用ソケット100
などは、半田ボール接触用コンタクタ20および電極接
触用コンタクタ30の形状が比較的簡単であるので、熱
しない状態でガイド孔H1およびH2に押し込むように
して挿入するだけでも良い。
【0060】<B.第2の実施例> <B−1.BGAパッケージ用ソケット400>図7に
本発明に係る第2の実施例としてBGAパッケージ用ソ
ケット400の斜視図を示す。図7において、BGAパ
ッケージ用ソケット400はBGAパッケージの特性試
験に際して半田ボールと接触する円錐形状の半田ボール
接触体70を有し、半田ボール接触体70の頂上部には
4本の支柱板80が等間隔で接続されている。また、4
本の支柱板80の一方端はテストボードに接続される円
錐形状のコンタクトピン90の底面部に等間隔で接続さ
れてBGAパッケージ用ソケット400をなしている。
【0061】半田ボール接触体70の底面は半田ボール
と接触する半田ボール接触面701であり、半田ボール
の曲率と一致、もしくは3〜4パーセント程度大きい曲
率となるように凹状に湾曲した形状、すなわち凹面形状
となっている。
【0062】支柱板80はバネ性を有した導電体板で形
成され、通常はほぼ直線形状を保っているが、半田ボー
ル接触体70の半田ボール接触面701の方向から力が
加わると、外側に向けて撓むように撓み癖を有してい
る。なお、図7では力が加わって支柱板80が撓んだ状
態を示している。
【0063】図8にBGAパッケージ用ソケット400
を用いてBGAパッケージ1の特性試験を行う場合の取
付状態の断面図を示す。図8において、テストボード4
0Aの主面上にガイド枠50が載置され、テストボード
40Aに形成されたピン挿入孔PHにはBGAパッケー
ジ用ソケット400のコンタクトピン90が挿入され、
半田付けによってテストボード40Aとの電気的接触を
得るとともに、位置が固定されている。ここで、ピン挿
入孔PHはBGAパッケージ用ソケット400の個数お
よび配列、すなわちBGAパッケージ1の半田ボールS
Bの個数および配列に合わせて形成されている。
【0064】BGAパッケージ1を、配列された複数の
BGAパッケージ用ソケット400の上に載置すること
で半田ボールSBと半田ボール接触体70の半田ボール
接触面701とが接触するが、この状態では接触が不完
全なのでガイド枠50に付属する蓋501を閉じ、蓋5
01を固定するための固定つめ502をガイド枠50に
係合させることで半田ボールSBが半田ボール接触面7
01に押し付けられ電気的接触が確実に得られる。
【0065】BGAパッケージ用ソケット400の構成
において、半田ボール接触体70の半田ボール接触面7
01からテストボード40Aのピン挿入孔PHまでの経
路長は、ほぼ支柱板80の長さに等しく、その長さは3
〜5mm程度となり、従来のBGAパッケージ4におい
てはピン22の半田付け後のテストボード1の上面から
半田ボールSBまでの長さが20mm前後であったの
で、4分の1程度に短縮されたことになる。また、半田
ボール接触体70とコンタクトピン90との間には4本
の支柱板80が並列に接続されているので、支柱板80
が1本の場合に比べてインダクタンスは4分の1にな
る。従って、従来のBGAパッケージ4と比較すると、
インダクタンスは16分の1になる。インダクタンスが
小さくなることにより、瞬間過渡電流により誘起される
電圧ノイズの発生が抑制され、半導体集積回路の機能動
作を安定に保つことができる。
【0066】また、ガイド枠50に付属する蓋501を
閉じ、蓋501を固定するための固定つめ502をガイ
ド枠50に係合させることで半田ボールSBが半田ボー
ル接触面701に押し付けられた場合、先に説明したよ
うに4本の支柱板80は外側に向けて撓み、垂直方向の
力が水平方向に分散される。従って、半田ボールに加わ
る圧力が減殺され半田ボールSBの変形が防止されるこ
とになる。
【0067】なお、図7を用いて説明したBGAパッケ
ージ用ソケット400は、半田ボール接触体70の半田
ボール接触面701が半田ボールの曲率とほぼ一致、も
しくは3〜4パーセント程度大きい曲率となるように凹
状に湾曲した形状であったが、図9に示すように平面で
あっても良い。
【0068】次に、図10および図11を用いてテスト
ボード40A上におけるBGAパッケージ用ソケット4
00の配置状態を説明する。図10はテストボード40
A上にBGAパッケージ用ソケット400が配置され、
圧力が加えられていない状態をBGAパッケージ1側か
ら見た平面図であり、図11はBGAパッケージ用ソケ
ット400に圧力を加えた状態をBGAパッケージ1側
から見た平面図である。
【0069】図10に示すように、BGAパッケージ用
ソケット400は縦横等間隔の格子状に配置されおり、
圧力が加えられていない状態では支柱板80は半田ボー
ル接触体70に隠れて見えないが、圧力が加えられて支
柱板80が外側に撓んだ場合に隣合って配置されたBG
Aパッケージ用ソケット400の支柱板どうしが相互に
接触しないように、支柱板80の撓み方向を考慮してB
GAパッケージ用ソケット400を配列する。すなわ
ち、図11に示すように支柱板80が縦横方向に撓むよ
うに配置されたもの、すなわち平面視形状が十字型にな
るように配置されたものと、支柱板80が左右斜め方向
に撓むように配置されたもの、すなわち平面視形状がX
字型になるように配置されたものとが交互になるように
配列する。
【0070】ここで、図11においてBGAパッケージ
用ソケット400の中心間のピッチをL、加圧時の支柱
板80の広がりの長さ(BGAパッケージ用ソケット4
00の中心からの長さ)をMとすると、少なくとも
【0071】
【数1】
【0072】の関係を満たすように配列する。
【0073】以上のように配列することで、隣合うBG
Aパッケージ用ソケット400どうしが接触することな
く、かつ単位面積当たりのBGAパッケージ用ソケット
400の個数を増やすことができる。
【0074】<B−2.変形例>以上説明したBGAパ
ッケージ用ソケット400は半田ボール接触体70の頂
上部とコンタクトピン90の底面部との間に4本の支柱
板80を等間隔で並列に接続した構成であったが、支柱
板80を3本としても良い。
【0075】図12に3本の支柱板80で構成されるB
GAパッケージ用ソケット400Aに圧力を加えた状態
をBGAパッケージ1側から見た平面図を示す。支柱板
80が3本であれば図12に示すように千鳥状に配列す
ることができ、単位面積当たりのBGAパッケージ用ソ
ケットの個数をさらに増やすことができる。
【0076】<C.第3の実施例>図13に本発明に係
る第3の実施例としてBGAパッケージ用ソケット50
0の斜視図を示す。図13において、BGAパッケージ
用ソケット500はBGAパッケージの特性試験に際し
て半田ボールと接触するスプリング体110と、スプリ
ング体110の一方端に接続されたコンタクトピン12
0とを有している。
【0077】スプリング体110はバネ性を有した導体
線で形成され、コンタクトピン120に接続された一方
端から螺旋を描いて広がった形状であり、広がりの程度
は半田ボールの表面に接しながら半田ボールを覆うよう
に設定されている。図14にBGAパッケージ用ソケッ
ト500を半田ボール側から見た平面図を示す。また、
図14のA−A’線における断面図を図15に示す。
【0078】次に図16および図17を用いてBGAパ
ッケージ用ソケット500の動作について説明する。図
16および図17は半田ボールSBをスプリング体11
0内に保持した状態を模式的に示した断面図であり、半
田ボールSBを単なる球体として示している。図16は
半田ボールSBに位置ずれがない場合に半田ボールSB
を保持するスプリング体110の状態を表し、図17は
半田ボールSBの位置がずれている場合に半田ボールS
Bを保持するスプリング体110の状態を表している。
図16に示すように半田ボールSBに位置ずれがない場
合、スプリング体110は半田ボールSBの表面に接触
し良好な導通状態が得られている。一方、図17に示す
ように半田ボールSBに位置ずれがある場合でも、スプ
リング体110の弾性により、ずれの方向にスプリング
体110が変形するので、半田ボールSBの表面との接
触が保たれ、良好な導通状態が得られることになる。な
お、半田ボールSBの位置ずれはBGAパッケージ1の
製作時に、半田位置がずれることにより発生する。ま
た、半田ボールSBの位置ずれは前後、左右、上下方向
に発生し、BGAパッケージ用ソケット500はいずれ
の場合でもスプリング体110の変形により対応するこ
とができる。
【0079】BGAパッケージ用ソケット500の構成
において、スプリング体110のインダクタンスは半田
ボールSBと接触していない部分の長さで決まるが、ス
プリング体110の大部分は半田ボールSBと接触して
おり、接触していない部分の長さは僅かであるのでイン
ダクタンスは小さくなる。インダクタンスが小さくなる
ことにより、瞬間過渡電流により誘起される電圧ノイズ
の発生が抑制され、半導体集積回路の機能動作を安定に
保つことができる。
【0080】図18にBGAパッケージ用ソケット50
0を用いてBGAパッケージ1の特性試験を行う場合の
取付状態の断面図を示す。図18において、テストボー
ド40Aの主面上にガイド枠50が載置され、テストボ
ード40Bに形成されたピン挿入孔PHにはBGAパッ
ケージ用ソケット500のコンタクトピン120が挿入
され、半田付けによってテストボード40Bとの電気的
接触を得るとともに、位置が固定されている。ここで、
ピン挿入孔PHはBGAパッケージ用ソケット500の
個数および配列、すなわちBGAパッケージ1の半田ボ
ールSBの個数および配列に合わせて形成されている。
【0081】BGAパッケージ1を、配列された複数の
BGAパッケージ用ソケット500の上に載置すること
で半田ボールSBとスプリング体110とが接触する
が、この状態では接触が不完全なのでガイド枠50に付
属する蓋501を閉じ、蓋501を固定するための固定
つめ502をガイド枠50に係合させることで半田ボー
ルSBがスプリング体110に押し付けられ電気的接触
が確実に得られる。
【0082】ここで、ガイド枠50に付属する蓋501
を閉じ、蓋501を固定するための固定つめ502をガ
イド枠50に係合させることで半田ボールSBがスプリ
ング体110に押し付けられた場合、スプリング体11
0が圧縮されて垂直方向の力が吸収される。従って、半
田ボールに加わる圧力が減殺され半田ボールSBの変形
が防止されることになる。
【0083】<D.第4の実施例>図19に本発明に係
る第4の実施例としてBGAパッケージ用ソケット60
0の部分断面図を示す。図19において、BGAパッケ
ージ用ソケット600はBGAパッケージの特性試験に
際して半田ボールと接触する半田ボール接触体210お
よびテストボードに接続されるコンタクトピン220
と、半田ボール接触体210とコンタクトピン220と
の間に介挿された導電性のバネ230と、それらを収容
する中空円筒形状の導電性のハウジング240とを備え
て構成されている。
【0084】半田ボール接触体210は、ハウジング2
40外にあって半田ボールが接触する半田ボール接触面
211と、ハウジング240内にあってバネ230の一
方端が接続される底部212と、半田ボール接触面21
1と底部212との間の支柱部213で構成されてい
る。なお、半田ボール接触面211は半田ボールの曲率
と一致、もしくは3〜4パーセント程度大きい曲率とな
るように凹状に湾曲した形状、すなわち凹面形状となっ
ている。
【0085】また、コンタクトピン220はテストボー
ドのピン挿入孔内に挿入され半田付けにより固定される
挿入部221と、ハウジング240内にあってバネ23
0の一方端が接続される底部222とで構成されてい
る。
【0086】ハウジング240の形状は、一方の端部に
蓋241を有する中空円筒であり、蓋の中央部には開口
部242を有している。開口部242はコンタクトピン
220の挿入部221が通過できる大きさであり、開口
部242から挿入部221が突出するようにコンタクト
ピン220が配置される。また、ハウジング240の他
方の端部は半田ボール接触体210の底部212および
バネ230、コンタクトピン220の底部222の寸法
よりも若干小さな開口部243を有している。
【0087】BGAパッケージ用ソケット600の組み
立て手順は、挿入部221が開口部242を通過するよ
うにコンタクトピン220をハウジング240内に挿入
する。このとき、コンタクトピン220の底部にはバネ
230が予め接続され、バネ230を介して半田ボール
接触体210が接続されている。従って、コンタクトピ
ン220を挿入することでバネ230および半田ボール
接触体210が連続的に挿入されることになる。なお、
バネ230は導電性であるのでコンタクトピン220は
バネ230を介して半田ボール接触体210に電気的に
つながっていることになる。
【0088】ここで、ハウジング240の開口部243
の寸法は、半田ボール接触体210の底部212および
バネ230、コンタクトピン220の底部222の寸法
よりも若干小さいが、それはミクロン単位で小さいとい
うことを意味している。例えば、開口部243の寸法が
半田ボール接触体210の底部212の寸法(円筒形の
場合は直径)よりも10〜20μm程度小さい場合であ
れば、半田ボール接触体210の挿入の際に若干強く押
込めば、半田ボール接触体210の底部212は開口部
243を通過してハウジング240内に挿入されること
になる。これは、コンタクトピン220およびバネ23
0においても同様である。また、ハウジング240内の
寸法(円筒形の場合は直径)は底部212の寸法よりも
大きく形成されているので、半田ボール接触体210は
自由にスライドできる。なお、バネ230の弾性力では
半田ボール接触体210の底部212は開口部243を
通過して飛び出すことはできないので、BGAパッケー
ジ用ソケット600が配列されたテストボードを傾斜さ
せても半田ボール接触体210およびバネ230がハウ
ジング240から飛び出すことはない。
【0089】図20にBGAパッケージ用ソケット60
0を用いてBGAパッケージ1の特性試験を行う場合の
取付状態の断面図を示す。図20において、テストボー
ド40Cの主面上にガイド枠50が載置され、テストボ
ード40Cに形成されたピン挿入孔PHにはBGAパッ
ケージ用ソケット500のコンタクトピン220の挿入
部221が挿入され、半田付けによってテストボード4
0Cとの電気的接触を得るとともに、位置が固定されて
いる。ここで、ピン挿入孔PHはBGAパッケージ用ソ
ケット600の個数および配列、すなわちBGAパッケ
ージ1の半田ボールSBの個数および配列に合わせて形
成されている。
【0090】BGAパッケージ1を、配列された複数の
BGAパッケージ用ソケット600の上に載置すること
で半田ボールSBと半田ボール接触体210の半田ボー
ル接触面211とが接触するが、この状態では接触が不
完全なのでガイド枠50に付属する蓋501を閉じ、蓋
501を固定するための固定つめ502をガイド枠50
に係合させることで半田ボールSBが半田ボール接触面
211に押し付けられ電気的接触が確実に得られる。
【0091】半田ボールSBが半田ボール接触面211
に押し付けられた場合、バネ230が縮んで垂直方向の
力が吸収される。従って、半田ボールに加わる圧力が減
殺され半田ボールSBの変形が防止されることになる。
【0092】また、バネ230の長さは引き延ばした状
態でも3〜5mm程度であり、従来のBGAパッケージ
4においてはピン22の半田付け後のテストボード1の
上面から半田ボールSBまでの長さが20mm前後であ
ったので、4分の1程度に短縮されたことになる。従っ
てインダクタンスが小さくなり、瞬間過渡電流により誘
起される電圧ノイズの発生が抑制され、半導体集積回路
の機能動作を安定に保つことができる。
【0093】
【発明の効果】本発明に係る請求項1記載のBGAパッ
ケージ用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタク
タに加わった垂直方向の圧力は電極接触用コンタクタを
介して水平方向に分散されるとともに、半田ボール接触
用コンタクタの他方の端面が電極接触用コンタクタの側
面を滑るので、半田ボール接触用コンタクタが垂直方向
に沈み込み、半田ボールに加わる圧力が減殺され、テス
ト時に半田ボールが損傷することが防止される。また、
半田ボール接触用コンタクタと電極接触用コンタクタの
接続後の長さが短いのでインダクタンスを低減すること
ができ、高速動作する半導体集積回路の特性試験におい
て、半導体集積回路を安定に機能させることができるB
GAパッケージ用ソケットが得られる。
【0094】本発明に係る請求項2記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボールの一点に圧力が集
中することが防止されるので半田ボールに加わる圧力が
減殺され、テスト時に半田ボールが損傷することが防止
される。また、半田ボール接触用コンタクタの略球形状
の他方の端面が嵌合溝に嵌合することで、半田ボール接
触用コンタクタと電極接触用コンタクタとの電気的接続
が良好になるとともに、機械的にも強固に接合され、簡
単に接続が断たれることが防止されるので、耐久力のあ
るBGAパッケージ用ソケットが得られる。
【0095】本発明に係る請求項3記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボールの接触面積が増加
することになり、半田ボール接触用コンタクタに垂直方
向の圧力が加わった場合に、半田ボールの一点に圧力が
集中することが防止され半田ボールが損傷することが防
止されるとともに、半田ボールとの接触抵抗が低下して
良好な電気的接続を達成できる。また、半田ボール接触
用コンタクタと電極接触用コンタクタとの電気的接続が
良好になるとともに、機械的にも強固に接合され、簡単
に接続が断たれることが防止されるので、耐久力のある
BGAパッケージ用ソケットが得られる。
【0096】本発明に係る請求項4記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボールの接触面積が増加
することになり、半田ボール接触用コンタクタに垂直方
向の圧力が加わった場合に、半田ボールの一点に圧力が
集中することが防止され半田ボールが損傷することが防
止されるとともに、半田ボールとの接触抵抗が低下して
良好な電気的接続を達成できる。また、半田ボール接触
用コンタクタと電極接触用コンタクタとの電気的接続が
良好になるとともに、機械的にも強固に接合され、簡単
に接続が断たれることが防止されるので、耐久力のある
BGAパッケージ用ソケットが得られる。
【0097】本発明に係る請求項5記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触体に加わった
垂直方向の圧力は支柱板の撓みによって吸収され半田ボ
ールに加わる圧力が減殺され、テスト時に半田ボールが
損傷することが防止される。また、半田ボール接触体と
コンタクトピンとの間に複数の支柱板が並列に接続され
ているのでインダクタンスを低減することができ、高速
動作する半導体集積回路の特性試験において、半導体集
積回路を安定に機能させることができるBGAパッケー
ジ用ソケットが得られる。
【0098】本発明に係る請求項6記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、支柱板の撓み方向を考慮して
配列することで、隣合うBGAパッケージ用ソケットど
うしが接触せず、単位面積当たりのソケットの個数を増
やすことができるので、端子数の多いBGAパッケージ
に対応することができる。
【0099】本発明に係る請求項7記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボールに位置ずれがある
場合でも、スプリング体の弾性により、ずれの方向にス
プリング体が変形するので、半田ボールの表面との接触
を保つことができ、製作時に半田ボールの位置ずれが生
じたBGAパッケージに対応したBGAパッケージ用ソ
ケットが得られる。
【0100】本発明に係る請求項8記載のBGAパッケ
ージ用ソケットによれば、半田ボール接触用コンタクタ
に加わった垂直方向の圧力はバネによって吸収され半田
ボールに加わる圧力が減殺されることになるので、テス
ト時に半田ボールが損傷することを防止したBGAパッ
ケージ用ソケットが得られる。
【0101】本発明に係る請求項9記載のBGAパッケ
ージ用ソケットの組み立て方法によれば、工程(c)にお
いて挿入された半田ボール接触用コンタクタおよび、工
程(d)において挿入された電極接触用コンタクタが絶縁
板の弾力性により固定されることになるので、簡単な工
程で請求項1記載のBGAパッケージ用ソケットが得ら
れる。
【0102】本発明に係る請求項10記載のBGAパッ
ケージ用ソケットの組み立て方法によれば、半田ボール
接触用コンタクタおよび電極接触用コンタクタの挿入部
分が熱によって溶けた絶縁板で覆われ、冷却して固化す
ることで絶縁板に固着されることになるので、半田ボー
ル接触用コンタクタおよび電極接触用コンタクタが確実
に固定され、脱落や位置変動のないBGAパッケージ用
ソケットが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第1の実施例を説明する斜視図である。
【図2】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第1の実施例を用いた特性試験の装置構成を示す図であ
る。
【図3】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第1の実施例の変形例を説明する斜視図である。
【図4】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第1の実施例の変形例を説明する斜視図である。
【図5】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
組み立て方法を説明する工程図である。
【図6】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
組み立て方法を説明する工程図である。
【図7】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第2の実施例を説明する斜視図である。
【図8】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第2の実施例を用いた特性試験の装置構成を示す図であ
る。
【図9】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケットの
第2の実施例を説明する斜視図である。
【図10】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第2の実施例の配列状態を示す平面図である。
【図11】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第2の実施例の配列状態を示す平面図である。
【図12】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第2の実施例の変形例の配列状態を示す平面図であ
る。
【図13】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例を説明する斜視図である。
【図14】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例を説明する平面図である。
【図15】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例を説明する断面図である。
【図16】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例の動作を説明する図である。
【図17】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例の動作を説明する図である。
【図18】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第3の実施例を用いた特性試験の構成を示す図であ
る。
【図19】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第4の実施例を説明する断面図である。
【図20】 本発明に係るBGAパッケージ用ソケット
の第4の実施例を用いた特性試験の構成を示す図であ
る。
【図21】 従来のBGAパッケージ用ソケットを用い
た特性試験の装置構成を示す図である。
【符号の説明】
1 BGAパッケージ、10 シート、20,20A,
20B 半田ボール接触用コンタクタ、30,30A,
30B 電極接触用コンタクタ、40,40A,40
B,40C テストボード、50 ガイド枠、60 ラ
ンド、70 半田ボール接触体、80 支柱板、90
コンタクトピン、110 スプリング体、120 コン
タクトピン、201,201A,201B 本体、30
1,301A,301B 本体、202,202A,2
02B 半田ボール接触面、203A 接触端面、20
3B 突出部、203 接触球、302,302A ラ
ンド接触球、304A 係合部、305A 係合面、2
10 半田ボール接触体、211 半田ボール接触面、
212 底部、213 支柱部、220 コンタクトピ
ン、221 挿入部、222 底部、230 バネ、2
40 ハウジング、241 蓋、242、243 開口
部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 兵三 正彦 兵庫県伊丹市瑞原4丁目1番地 三菱電機 株式会社システムエル・エス・アイ開発研 究所内 (72)発明者 垣内 裕隆 兵庫県伊丹市東野四丁目61番5号 三菱電 機エンジニアリング株式会社エル・エス・ アイ設計センター内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 弾力性を有する絶縁板と、 その一方の端面にBGAパッケージの半田ボールが接触
    する半田ボール接触用コンタクタと、 その一方の端面が略球形で前記BGAパッケージの試験
    装置の電極板に接触する電極接触用コンタクタとを備
    え、 前記半田ボール接触用コンタクタは、その他方の端面側
    が前記絶縁板の一方の主面内に垂直に挿入され、 前記電極接触用コンタクタは、その他方の端面側が前記
    絶縁板の他方の主面内に斜めに挿入され、その側面が前
    記半田ボール接触用コンタクタの他方の端面に接触して
    いることを特徴とするBGAパッケージ用ソケット。
  2. 【請求項2】 前記半田ボール接触用コンタクタの前記
    一方の端面の形状は、前記BGAパッケージの半田ボー
    ルの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であり、 前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面の形
    状は略球形状であり、 前記電極接触用コンタクタの側面には、前記半田ボール
    接触用コンタクタの略球形状の前記他方の端面の曲率に
    略一致する曲率を有し、前記半田ボール接触用コンタク
    タの略球形状の前記他方の端面に嵌合する嵌合溝が軸方
    向に沿って備えられる請求項1記載のBGAパッケージ
    用ソケット。
  3. 【請求項3】 前記半田ボール接触用コンタクタの前記
    一方の端面の形状は、前記BGAパッケージの半田ボー
    ルの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であり、 前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面の形
    状は、所定の角度で円柱を斜めに切り取った形状であ
    り、 前記電極接触用コンタクタの側面には、前記半田ボール
    接触用コンタクタの前記他方の端面と係合するように、
    平面形状が前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方
    の端面の形状に合致し、かつ、前記所定の角度と同一の
    傾斜角となるように形成された係合面を有する突出した
    係合部が備えられる請求項1記載のBGAパッケージ用
    ソケット。
  4. 【請求項4】 前記半田ボール接触用コンタクタの前記
    一方の端面の形状は、前記BGAパッケージの半田ボー
    ルの曲率と略一致する曲率を有する凹面形状であり、 前記半田ボール接触用コンタクタの前記他方の端面の形
    状は、部分的に突出した突出部を備える形状であり、 前記電極接触用コンタクタの側面には、前記半田ボール
    接触用コンタクタの突出部の横手幅に略一致する溝幅を
    有し、前記半田ボール接触用コンタクタの前記突出部に
    嵌合する嵌合溝が軸方向に沿って備えられる請求項1記
    載のBGAパッケージ用ソケット。
  5. 【請求項5】 その一方の端面にBGAパッケージの半
    田ボールが接触する半田ボール接触体と、 その一方端が前記BGAパッケージの試験装置の電極孔
    に挿入されるコンタクトピンと、 前記半田ボール接触体と前記コンタクトピンとの間を接
    続するように、前記半田ボール接触体の他方の端面から
    前記コンタクトピンの他方端に渡って等間隔で環状に配
    列された弾力性を有する複数の支柱板とを備え、 前記複数の支柱板は、前記半田ボール接触体が押圧され
    た場合には外側に向けて撓み、そうでない場合は復元し
    て略直線形状となるように撓み癖を有していることを特
    徴とするBGAパッケージ用ソケット。
  6. 【請求項6】 前記支柱板を4枚備える請求項5記載の
    BGAパッケージ用ソケット。
  7. 【請求項7】 弾力性を有する導体線で形成され、試験
    時にBGAパッケージの半田ボールの表面に巻き付くよ
    うに渦を巻きながら螺旋状に広がったスプリング体と、 一方端が前記BGAパッケージの試験装置の電極孔に挿
    入され、他方端に前記スプリング体の中央部の巻き始め
    部分が接続されたコンタクトピンとを備えるBGAパッ
    ケージ用ソケット。
  8. 【請求項8】 その一方の端面にBGAパッケージの半
    田ボールが接触する半田ボール接触体と、 その一方の端面に前記BGAパッケージの試験装置の電
    極孔に挿入される挿入部をを有するコンタクトピンと、 前記半田ボール接触体と前記コンタクトピンとの間を電
    気的に接続するように、前記半田ボール接触体の他方の
    端面と前記コンタクトピンの他方の端面との間に介挿さ
    れた導電性のバネと、 前記コンタクトピン、前記バネ、前記半田ボール接触体
    を収容する中空状のハウジングとを備え、 前記ハウジングの一方端側には、前記挿入部が前記ハウ
    ジングから露出するように前記コンタクトピンが固定し
    て配置され、 前記ハウジングの他方端側には、前記半田ボール接触体
    が前記ハウジングから露出するとともに、前記半田ボー
    ル接触体が前記バネの伸縮に伴って可動するように配置
    されていることを特徴とするBGAパッケージ用ソケッ
    ト。
  9. 【請求項9】 請求項1記載のBGAパッケージ用ソケ
    ットの組み立て方法であって、 (a)前記絶縁板の一方の主面の所定位置に垂直方向に第
    1のガイド孔を形成する工程と、 (b)前記絶縁板の他方の主面の所定位置に斜め方向に第
    2のガイド孔を形成する工程と、 (c)前記半田ボール接触用用コンタクタの他方の端面側
    を前記第1の未貫通孔に挿入する工程と、 (d)前記電極接触用コンタクタの他方の端面側を前記第
    2の未貫通孔に挿入する工程とを備え、 前記第1の未貫通孔の直径を前記半田ボール接触用コン
    タクタの挿入部分の最大寸法よりも小さく形成し、 前記第2の未貫通孔の直径を前記電極接触用コンタクタ
    の挿入部分の最大寸法よりも小さく形成することを特徴
    とするBGAパッケージ用ソケットの組み立て方法。
  10. 【請求項10】 前記工程(c)は、前記接触用コンタク
    タを加熱した状態で前記第1の未貫通孔に挿入する工程
    を含み、 前記工程(d)は、前記接触用コンタクタを加熱した状態
    で前記第2の未貫通孔に挿入する工程を含む請求項9記
    載のBGAパッケージ用ソケットの組み立て方法。
JP7084082A 1995-04-10 1995-04-10 Bgaパッケージ用ソケットおよびその組み立て方法 Pending JPH08288036A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5932891A (en) * 1997-08-28 1999-08-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device with test terminal and IC socket
WO2009084547A1 (ja) * 2007-12-28 2009-07-09 Alps Electric Co., Ltd. プローブカード
JP2015078931A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 富士通コンポーネント株式会社 コネクタ
JP2015530725A (ja) * 2012-10-05 2015-10-15 タイコ・エレクトロニクス・コーポレイションTyco Electronics Corporation 電気コンタクトアセンブリ
KR20220015688A (ko) * 2020-07-31 2022-02-08 주식회사 유씨에스 반도체 테스트용 소켓

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