JPH08279154A

JPH08279154A - 情報の記録方法および情報記録再生装置

Info

Publication number: JPH08279154A
Application number: JP7080349A
Authority: JP
Inventors: Yasushi Miyauchi; 靖宮内; Motoyasu Terao; 元康寺尾; Akemi Hirotsune; 朱美廣常; Hiroyuki Minemura; 浩行峯邑; Tetsuya Fushimi; 哲也伏見
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1995-04-05
Filing date: 1995-04-05
Publication date: 1996-10-22

Abstract

(57)【要約】【目的】情報記録媒体の記録感度の変動やその環境温
度の変動があっても、最適な状態で情報を記録できるよ
うにする。【構成】使用する信号変調方式における最短記録符号
である１Ｔ符号と、その最短記録符号の１０倍の長さを
持つ最長記録符号である１０Ｔ符号とを情報記録媒体に
記録する。記録された１Ｔ符号と１０Ｔ符号を再生し
て、それら両符号に対応する二つの再生信号を得る。１
Ｔ符号の再生信号の振幅１Ｔと１０Ｔ符号の再生信号の
振幅１０Ｔの比（１０Ｔ／１Ｔ）が０．６〜１．０の範
囲の所定値に一致する時のレーザ光パワー値Ｐｗ１を検
出し、その検出されたパワー値をレーザ光の最適な記録
パワー値とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、レーザ光等の記録用
エネルギービームによって、アナログ情報（たとえば映
像や音声などのアナログ符号をＦＭ変調して得たもの）
や、ディジタル情報（たとえば電子計算機のデータや、
ファクシミリ信号やディジタルオーディオ信号など）
を、リアルタイムで記録することが可能な情報の記録方
法と、その方法に使用する情報記録再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、情報の多種多様化、情報量の増加
に伴い、ユーザが情報を記録／書き換えできる大容量の
書き換え可能形の光ディスクの需要が高まっている。そ
こで、この需要に対応すべく、各種研究機関において光
ディスクの高記録密度化が活発に検討されている。

【０００３】高記録密度化のための方策の一つとして、
記録マークの両端（エッジ）に情報を持たせる「マーク
エッジ記録」が採用されつつある。この「マークエッジ
記録」では、トラック方向に細長い記録マークを記録層
に形成するので、熱伝導による余熱効果により、レーザ
光に後に照射される場所ほど温度が高くなる。その結
果、記録層に形成される記録マークはその後端に近くな
るほど記録マークの幅が広くなり、「涙滴状」となる。
このような記録マークから情報を再生すると、記録信号
に正確に対応した再生信号が得られないなどの問題があ
る。

【０００４】そこで、この問題を解消するため、従来よ
り次のような方法が開発されている。第１の方法は、特
開昭６３−２５８３０号公報に開示されているもので、
長さの異なる記録符号のそれぞれに対して、それらの長
さに比例した数だけレーザ光の基本パルス（一定長さ）
を繰り返し記録層に照射するものである。この方法で
は、各長さの記録符号が、基本パルスに対応するスポッ
ト状記録マークの連続した列によって形成されるので、
長い記録符号に対応する記録マークであっても涙滴状に
ならなくなる。この方法では、一つの記録符号にスポッ
ト状記録マークの列が対応する。

【０００５】第２の方法は、特開平１−１５０２３０号
公報に開示されているもので、記録符号に対応するレー
ザ光パルスを分割して二つ以上のパルス列により構成
し、そのパルス列に対応するレーザ光エネルギーを記録
マークの後部に近づくにしたがって小さくするというも
のである。この方法では、一つの記録符号に一つの記録
マークが対応する。

【０００６】これらの改良により、涙滴状の記録マーク
の形成が防止される。また、「マークエッジ記録」にお
いて再生信号のジッターを減少させることができ、記録
信号に正確に対応した再生信号を得ることが可能とな
る。

【０００７】なお、その他の関連する従来技術として、
特開平６−１９５７１６号公報に開示された「光ディス
ク装置の記録パワーの設定方法」がある。これは、光デ
ィスク装置の最適な記録パワーを精度良く求めることを
目的とし、前後それぞれ２ｎＴ（ｎは正の整数、Ｔは記
録信号のクロック周期）以上の消去レベルに囲まれた１
ｎＴの記録レベル信号と、前後それぞれ２ｎＴ以上の記
録レベルに囲まれた１ｎＴの消去レベル信号の繰り返し
からなるＮＲＺデータを記録し、１ｎＴの記録レベル信
号に対応した再生信号の振幅Ｖaと、１ｎＴの消去レベ
ル信号に対応した再生信号の振幅Ｖｂを、複数の異なる
記録パワーに対して測定し、測定した各記録パワーでの
ＶaとＶbの大小関係から、最適な記録パワーを求めるも
のである

【０００８】。

【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術のう
ち、一つの記録符号にスポット状記録マークの列を対応
させた特開昭６３−２５８３０号公報に開示された方法
では、スポット状記録マークが小さいために、相変化型
光ディスクにおける記録層の多数回の書き換えによる物
質移動は抑制されるものの、最適と思われるレーザパワ
ーに設定して記録しても、製造時のバラツキによって光
ディスクの記録感度が高くなった場合や、周囲温度の変
動等によって記録パワー自体が大きくなった場合には、
隣接するスポット状記録マーク同志が重なってしまい、
その結果、記録層の物質移動が生じてしまうという問題
がある。

【０００９】逆に、光ディスクの記録感度が低い場合や
記録パワーが小さくなった場合には、急激に再生信号レ
ベルが低下して読み出しエラーが増加してしまうという
問題がある。

【００１０】また、一つの記録符号に対して一つの記録
マークを対応させた特開平１−１５０２３０号公報に開
示された方法では、記録マークが長い変調方式の場合
に、多数回書き換えを行なうとレーザ光スポット内の温
度分布の非対称性に起因する記録層の物質移動（流動）
が生じやすくなり、その結果、Ｓ／Ｎが低下するという
問題がある。

【００１１】特開平６−１９５７１６号公報に開示され
た方法では、前後それぞれ２ｎＴ以上の消去レベルに囲
まれた１ｎＴの記録レベル信号と、前後それぞれ２ｎＴ
以上の記録レベルに囲まれた１ｎＴの消去レベル信号の
繰り返しからなるＮＲＺデータに限定されるという問題
がある。

【００１２】そこで、この発明の目的は、情報記録媒体
の記録感度の変動やその環境温度の変動があっても、最
適な状態で情報を記録できる情報の記録方法および装置
を提供することにある。

【００１３】この発明の他の目的は、相変化型の情報記
録媒体において、多数回書き換えによる記録層の物質移
動を防止して最適な状態で情報を記録できる情報の記録
方法および装置を提供することにある。

【００１４】この発明のさらに他の目的は、情報記録媒
体から得た再生信号波形の中心レベルのゆらぎを防止で
きる情報の記録方法および装置を提供することにある。

【００１５】この発明のさらに他の目的は、マークエッ
ジ記録において再生信号のジッターを抑制できる情報の
記録方法および装置を提供することにある。

【００１６】この発明のさらに他の目的は、記録に使用
する変調方式に対応した記録波形を用いて最適な記録条
件を検出できる情報の記録方法および装置を提供するこ
とにある。

【００１７】

【課題を解決するための手段】

（１）この発明の第１の情報の記録方法は、所定の信
号変調方式により変調したエネルギービームの照射によ
って情報記録媒体に情報を記録する方法において、前記
エネルギービームの最適な記録パワーを求める試し書き
動作を含み、その試し書き動作は、前記エネルギービー
ムのパワーを複数の異なる値に設定して、前記信号変調
方式における最短あるいはそれに近い長さの第１記録符
号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整
数）あるいはそれに近い長さの第２記録符号とを前記情
報記録媒体に記録する工程と、前記情報記録媒体に記録
された前記第１記録符号と前記第２記録符号とを再生し
て、前記第１記録符号に対応する第１再生信号と前記第
２記録符号に対応する第２再生信号とを得る工程と、前
記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅との比
が所定値となる場合の前記エネルギービームのパワー値
を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エネ
ルギービームの最適な記録パワー値を決定する工程とを
備えていることを特徴とする。

【００１８】前記エネルギービームの最適な記録パワー
値は、前記第２再生信号の振幅と前記第１再生信号の振
幅との比が所定値となる場合のパワー値に等しくしても
よいし、前記第２再生信号の振幅と前記第１再生信号の
振幅との比が所定値となる場合のパワー値から所定値だ
けずれた値としてもよい。

【００１９】前記第１再生信号の振幅をＡ１、前記第２
再生信号の振幅をＡ２とすると、それら振幅の比（Ａ２
／Ａ１）の所定値は０．６以上、１．０以下の範囲内に
あるのが好ましく、０．７以上、０．９以下の範囲内に
あるのがより好ましい。

【００２０】０．６未満であれば、記録マーク間の距離
が長くなり、再生信号電圧が極端に低くなってＣ／Ｎが
悪くなるからであり、１．０を越えると、記録マーク同
士が近接または接触してしまい、多数回オーバーライト
時に記録層の流動が生じる恐れがあるからである。ま
た、０．７以上、０．９以下の範囲であれば、大きなＣ
／Ｎが得られ、多数回オーバーライト時に記録層の流動
が生じる恐れがない。

【００２１】前記第２記録符号が複数の基本パルスの列
から構成され、且つそれら基本パルス列により前記情報
記録媒体に形成されるスポット状マークが、前記第２再
生信号では１つのパルス波形として検出されるように、
前記エネルギービームのパワーの所定値を設定するのが
好ましい。この場合、前記第２記録符号が長くなって
も、記録マークが涙滴状にならない利点がある。

【００２２】前記情報記録媒体がオーバーライト可能で
あり、前記第１記録符号に対応する記録パルスが、記録
パワーレベルに保持される第１期間と、それに続く消去
パワーレベルよりも低いパワーレベルに保持される第２
期間とを含んでいるのが好ましい。この場合、急冷効果
により記録マークが確実に形成されるという利点が得ら
れる。

【００２３】前記試し書き動作は、少なくとも前記情報
記録媒体についての記録動作の開始時および前記情報記
録媒体の交換時に実施されるのが好ましい。これらの場
合に最適な記録パワー値を検出する必要性が高いからで
ある。

【００２４】前記情報記録媒体は、多数回書き換えによ
る再生信号のレベル変化を検出するためのモニター領域
を有しているのが好ましい。この場合、情報を記録する
前に前記モニター領域に前記第１記録符号を記録してか
ら再生し、得られた再生信号のレベルが所定範囲から外
れていれば前記試し書き動作を行なうようにする。こう
すれば、前記試し書き動作が必要か否かを容易に判定で
き、しかも必要時にのみ前記試し書き動作を行なうよう
にできる利点がある。

【００２５】前記第２記録符号としては、前記信号変調
方式における最長記録符号を用いるのが好ましい。記録
マーク長が長いほど多数回オーバーライト時の記録層の
流動が生じやすいため、この最長記録符号に対応する記
録マークで試し書きを行なって最適パワーを求めれば、
記録層の流動を確実に防止できるからである。

【００２６】また、この場合、最短記録符号以外の記録
符号は、それらの長さに比例した数だけ前記信号変調方
式における最短記録符号を繰り返して形成するのが好ま
しい。簡単な回路で記録できるようになるからである。

【００２７】（２）この発明の第２の情報の記録方法
は、所定の信号変調方式により変調したエネルギービー
ムの照射によって情報記録媒体に情報を記録する方法に
おいて、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求
める試し書き動作を含み、その試し書き動作は、前記エ
ネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定して、
前記信号変調方式における最短あるいはそれに近い長さ
の第１記録符号の繰り返しからなる第１記録波形と、前
記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整数）あるい
はそれに近い長さの第２記録符号の繰り返しからなる第
２記録波形とを前記情報記録媒体に記録する工程と、前
記情報記録媒体に記録された前記第１記録波形と前記第
２記録波形とを再生して、前記第１記録波形に対応する
第１再生信号波形と前記第２記録波形に対応する第２再
生信号波形とを得る工程と、前記第１再生信号波形の中
心レベルと前記第２再生信号波形の中心レベルとを比較
して、それらの中心レベルがほぼ一致するパワー値を検
出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エネルギ
ービームの最適な記録パワー値を決定する工程とを備え
ていることを特徴とする。

【００２８】前記第１再生信号波形の中心レベルと前記
第２再生信号波形の中心レベルとがほぼ一致するパワー
値を、前記エネルギービームの最適な記録パワー値とす
るのが好ましい。

【００２９】前記第１再生信号波形の中心レベルと前記
第２再生信号波形の中心レベルとが完全に一致するのが
最も好ましいが、それら中心レベルの電圧差が前記第２
再生信号波形の未記録部の電圧に対する電圧差の±５％
以内にあれば、実用上十分な効果が得られる。

【００３０】この発明の第２の情報の記録方法において
も、前記試し書き動作は、少なくとも前記情報記録媒体
についての記録動作の開始時および前記情報記録媒体の
交換時に実施されるのが好ましい。これらの場合に最適
な記録パワー値を検出する必要性が高いからである。

【００３１】前記情報記録媒体は、多数回書き換えによ
る再生信号のレベル変化を検出するためのモニター領域
を有しているのが好ましい。この場合、情報を記録する
前に前記モニター領域に前記第１記録波形を記録してか
ら再生し、得られた再生信号のレベルが所定範囲から外
れていれば前記試し書き動作を行なうようにする。こう
すれば、前記試し書き動作が必要か否かを容易に判定で
き、しかも必要時にのみ前記試し書き動作を行なうよう
にできる利点がある。

【００３２】前記第１記録符号波形としては、前記信号
変調方式における最短記録符号の繰り返しからなる最密
パターンを用い、前記第２記録符号波形としては、前記
信号変調方式における最長記録符号の繰り返しからなる
最疎パターンを用いるのが好ましい。前記第１記録符号
波形の最適な記録パワー値がより確実に得られるからで
ある。

【００３３】前記情報記録媒体がオーバーライト可能で
あり、前記第１記録符号に対応する記録パルスが、記録
パワーレベルに保持される第１期間と、それに続く消去
パワーレベルよりも低いパワーレベルに保持される第２
期間とを含んでいるのが好ましい。この場合、急冷効果
により記録マークを確実に形成できるからである。

【００３４】（３）この発明の第３の情報の記録方法
は、所定の信号変調方式により変調したエネルギービー
ムの照射によって情報記録媒体に情報を記録する方法に
おいて、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求
める試し書き動作を含み、その試し書き動作は、前記信
号変調方式における最短記録符号の繰り返しからなり、
且つ、高低両レベルのピークが所定の高パワーレベルと
低パワーレベルにそれぞれ等しい中間部と、高レベル側
のピークが前記所定の高パワーレベルとは異なる前端部
と、低レベル側のピークが前記所定の低パワーレベルと
は異なる後端部とを含んで構成される記録波形を生成す
る工程と、前記記録波形の前端部および後端部における
前記エネルギービームのパワー値を複数の異なる値にそ
れぞれ設定して、その記録波形を前記情報記録媒体に記
録する工程と、前記情報記録媒体に記録された前記記録
波形を再生して再生信号波形を得る工程と、前記再生信
号波形の前端および後端の位置を比較し、その前端の位
置のずれがほぼ最小となる場合の前記記録波形の前端部
のパワー値をその前端部における前記エネルギービーム
の最適な記録パワー値とし、その後端の位置のずれがほ
ぼ最小となる場合の前記記録波形の後端部のパワー値を
その後端部における前記エネルギービームの最適な記録
パワー値とする工程とを備えていることを特徴とする。

【００３５】前記記録波形は、前記信号変調方式におけ
る最長記録符号に対応するものであるのが好ましい。こ
の最長記録符号に対応する記録マークで試し書きを行な
って最適パワーを求めれば、記録層の流動を確実に防止
できるからである。

【００３６】前記情報記録媒体がオーバーライト可能で
あり、前記最短記録符号に対応する記録パルスが、記録
パワーレベルに保持される第１期間と、それに続く消去
パワーレベルよりも低いパワーレベルに保持される第２
期間とを含んでいるのが好ましい。記録マークを確実に
形成できるからである。

【００３７】（４）この発明の第４の情報の記録方法
は、所定の信号変調方式により変調したエネルギービー
ムの照射によって情報記録媒体に情報を記録する方法に
おいて、前記情報記録媒体として、照射される前記エネ
ルギービームのパワーに応じて多数回書き換えによる再
生信号波形の歪の方向が異なる性質を持つ情報記録媒体
を使用し、前記情報記録媒体に対する試し書きにより、
前記再生信号波形の歪がほぼ最小となる前記エネルギー
ビームの最適なパワー値を求め、そのパワー値で前記情
報記録媒体に情報を記録することを特徴とする。

【００３８】前記情報記録媒体に対する試し書きとして
は、好ましくは、この発明の第１の情報の記録方法を適
用できる。すなわち、この試し書き動作は、前記エネル
ギービームのパワーを複数の異なる値に設定して、前記
信号変調方式における最短あるいはそれに近い長さの第
１記録符号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の
正の整数）あるいはそれに近い長さの第２記録符号とを
前記情報記録媒体に記録する工程と、前記情報記録媒体
に記録された前記第１記録符号と前記第２記録符号とを
再生して、前記第１記録符号に対応する第１再生信号と
前記第２記録符号に対応する第２再生信号とを得る工程
と、前記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅
との比が所定値となる場合の前記エネルギービームのパ
ワー値を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前
記エネルギービームの最適な記録パワー値を決定する工
程とを備えている。

【００３９】この試し書き動作を行なう場合、前記情報
記録媒体にある線速度で単一周波数（ｄｕｔｙ：４０〜
６０％、パルス分割なし）で情報を記録したときに、２
次高調波が最小となるまたは消去比が最大となる前記エ
ネルギービームのパワー値を求めておき、そのパワー値
と前記試し書きで求めた前記エネルギービームの最適な
記録パワー値との差を前記情報記録媒体に記録しておく
のが好ましい。こうすれば、試し書き動作を行なうだけ
で、所望の情報記録媒体の最適な記録パワーを直ちに求
めることができるからである。

【００４０】また、ｄｕｔｙが４０〜６０％、パルス分
割なしとするのは、２次高調波が最小となるパワー値を
求めやすくするためである。

【００４１】前記パワー値の差は、前記情報記録媒体の
コントロールトラックに記録されているのが好ましい。
こうすることにより、確実にまた瞬時に最適な記録パワ
ーを求めることができるからである。

【００４２】前記試し書き動作で求めた多数回書き換え
により再生信号波形の歪みがほぼ最小となるパワー値
と、２次高調波最小または消去比最大となる前記パワー
値とが、ほぼ同じであるのが好ましい。これにより、予
めコントロールトラックにパワー値を記録しておく必要
がなくなるからである。

【００４３】（５）この発明の第１の情報の記録再生
装置は、所定の信号変調方式により変調したエネルギー
ビームの照射によって情報記録媒体に情報を記録する情
報記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適
な記録パワーを求めるための試し書き動作を行なう試し
書き手段を含み、その試し書き手段は、前記エネルギー
ビームのパワーを複数の異なる値に設定して、前記信号
変調方式における最短あるいはそれに近い長さの第１記
録符号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の
整数）あるいはそれに近い長さの第２記録符号とを前記
情報記録媒体に記録する手段と、前記情報記録媒体に記
録された前記第１記録符号と前記第２記録符号とを再生
して、前記第１記録符号に対応する第１再生信号と前記
第２記録符号に対応する第２再生信号とを得る手段と、
前記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅との
比が所定値となる場合の前記エネルギービームのパワー
値を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エ
ネルギービームの最適な記録パワー値を決定する手段と
を備えていることを特徴とする。

【００４４】（６）この発明の第２の情報の記録再生
装置は、所定の信号変調方式により変調したエネルギー
ビームの照射によって情報記録媒体に情報を記録する情
報記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適
な記録パワーを求めるための試し書き動作を行なう試し
書き手段を含み、その試し書き手段は、前記エネルギー
ビームのパワーを複数の異なる値に設定して、前記信号
変調方式における最短あるいはそれに近い長さの第１記
録符号の繰り返しからなる第１記録波形と、前記第１記
録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整数）あるいはそれに
近い長さの第２記録符号の繰り返しからなる第２記録波
形とを前記情報記録媒体に記録する手段と、前記情報記
録媒体に記録された前記第１記録波形と前記第２記録波
形とを再生して、前記第１記録波形に対応する第１再生
信号波形と前記第２記録波形に対応する第２再生信号波
形とを得る手段と、前記第１再生信号波形の中心レベル
と前記第２再生信号波形の中心レベルとを比較して、そ
れらの中心レベルがほぼ一致するパワー値を検出し、そ
の検出されたパワー値に基づいて前記エネルギービーム
の最適な記録パワー値を決定する手段とを備えているこ
とを特徴とする。

【００４５】（７）この発明の第３の情報の記録再生
装置は、所定の信号変調方式により変調したエネルギー
ビームの照射によって情報記録媒体に情報を記録する情
報記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適
な記録パワーを求めるための試し書き動作を行なう試し
書き手段を含み、その試し書き手段は、前記信号変調方
式における最短記録符号の繰り返しからなり、且つ、高
低両レベルのピークが所定の高パワーレベルと低パワー
レベルにそれぞれ等しい中間部と、高レベル側のピーク
が前記所定の高パワーレベルとは異なる前端部と、低レ
ベル側のピークが前記所定の低パワーレベルとは異なる
後端部とを含んで構成される記録波形を生成する手段
と、前記記録波形の前端部および後端部における前記エ
ネルギービームのパワー値を複数の異なる値にそれぞれ
設定して、その記録波形を前記情報記録媒体に記録する
手段と、前記情報記録媒体に記録された前記記録波形を
再生して再生信号波形を得る手段と、前記再生信号波形
の前端および後端の位置を比較し、その前端の位置のず
れがほぼ最小となる場合の前記記録波形の前端部のパワ
ー値をその前端部における前記エネルギービームの最適
な記録パワー値とし、その後端の位置のずれがほぼ最小
となる場合の前記記録波形の後端部のパワー値をその後
端部における前記エネルギービームの最適な記録パワー
値とする手段とを備えていることを特徴とする。

【００４６】（８）この発明の第４の情報の記録再生
装置は、所定の信号変調方式により変調したエネルギー
ビームの照射によって情報記録媒体に情報を記録する情
報記録再生装置であって、前記情報記録媒体として、照
射される前記エネルギービームのパワーに応じて多数回
書き換えによる再生信号波形の歪の方向が異なる性質を
持つ情報記録媒体が使用され、前記記録再生装置は、前
記エネルギービームの最適な記録パワーを求めるための
試し書き動作を行なう試し書き手段を含み、その試し書
き手段による前記情報記録媒体に対する試し書きによ
り、前記再生信号波形の歪がほぼ最小となる前記エネル
ギービームの最適なパワー値を求め、そのパワー値で前
記情報記録媒体に情報を記録するようにしたことを特徴
とする。

【００４７】（９）この発明の第１の情報の記録方法
についてさらに説明すると、次の通りである。

【００４８】一つの記録符号に対して隣接する複数の記
録マーク、すなわち記録マーク列が対応している場合
（たとえば、特開昭６３−２５８３０号公報に記載の方
法の場合）、周囲温度の変動などによってエネルギービ
ームの記録パワーが最適値よりも高くなると、情報記録
媒体の記録層において、ある記録マークを形成するため
に溶融する領域がそれに隣接する次の記録マークを形成
するために溶融する領域と重なるようになる。このた
め、隣接する記録マークが順送りに重なって、広範囲の
物質移動が生じる可能性がある。

【００４９】この場合、記録マーク列の各記録マーク同
志も重なっている場合が多いが、情報記録媒体の記録層
の再結晶化速度が速い場合には、溶融部分の周辺部が急
速に再結晶化して記録マーク（非晶質領域）でなくなる
ため、記録マーク同志が重なっていないこともある。

【００５０】逆に、エネルギービームの記録パワーが最
適値よりも低くなると、記録マーク列の各記録マークの
直径が小さくなってしまい、再生信号のジッターが増大
したりＳ／Ｎが劣化したりする可能性がある。

【００５１】そこで、再生信号のＳ／Ｎの低下を防止し
ながら、情報記録媒体の記録層が溶融する領域が重なら
ないように、照射するエネルギービームのパワーすなわ
ち記録パワーを最適値に設定することが必要である。

【００５２】この発明の第１の情報の記録方法では、エ
ネルギービームの記録パワーの最適値を求めるために、
エネルギービームの信号変調方式における最短の記録符
号あるいはそれに近い長さの「第１記録符号」と、前記
最短記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整数）あるいは
それに近い長さの「第２記録符号」とを用いる。これら
第１記録符号および第２記録符号を、エネルギービーム
の記録パワーを変えて情報記録媒体に記録した後、それ
らを再生して第１記録符号に対応する第１再生信号と第
２記録符号に対応する第２再生信号を得る。そして、第
１再生信号振幅と第２再生信号振幅の比が記録パワーに
よってどのように変化するかを調査し、この振幅比が所
定の値に一致する記録パワーを求めて、その記録パワー
値を最適値とする。

【００５３】（１０）図１（ａ）は、「第１記録符
号」および「第２記録符号」として使用するレーザパワ
ーの記録信号波形を示し、図１（ｂ）は、図１（ａ）の
「第１記録符号」および「第２記録符号」により記録層
に形成される記録マークを示し、図１（ｃ）は、図１
（ｂ）の記録マークより再生される再生信号波形を示
す。

【００５４】図１（ｂ）より明らかなように、最短記録
符号に対応する記録マークは光学的に孤立している。ま
た、最長記録符号に対応する記録マーク列は光学的に分
解不能であり、その結果、図１（ｃ）に示すように、単
一の記録符号として再生される。

【００５５】図１では、最短記録符号が「１Ｔ符号」
（Ｔは最小反転周期）であり、最長記録符号が「１０Ｔ
符号」（ｎ＝１０）である信号変調方式の場合を示して
いる。「１Ｔ符号」は、記録パワーを０．５Ｔの間、高
パワーレベルＰｗ１（記録パワーレベルに等しい）に保
持した後、０．５Ｔの間、低パワーレベルＰｗ２（再生
パワーレベルＰｒに等しい）に保持する。

【００５６】ここでは、高パワーレベルＰｗ１の保持時
間ｔ_PW1と低パワーレベルＰｗ２の保持時間ｔ_PW2は同じ
である。換言すれば、高パワーレベルＰｗ１の保持時間
ｔ_PW₁と低パワーレベルＰｗ２の保持時間ｔ_PW2との比
（ｔ_PW1／ｔ_PW2）は、（１／１）である。しかし、比
（ｔ_PW1／ｔ_PW2）は（１／１）である必要はない。比
（ｔ_PW1／ｔ_PW2）の好ましい範囲は（１／０．２）〜
（０．３／１）である。この範囲にあれば、記録マーク
を確実に形成できるからである。

【００５７】「１０Ｔ符号」は、１０個の同じパターン
の繰り返しからなっている。各パターンは「１Ｔ符号」
と同様であり、記録パワーを０．５Ｔの間、高パワーレ
ベルＰｗ１（記録パワーレベルに等しい）に保持した
後、０．５Ｔの間、低パワーレベルＰｗ２（再生パワー
レベルＰｒに等しい）に保持するものである。

【００５８】ここでは、「１Ｔ符号」と「１０Ｔ符号」
の記録パワーレベルは同じ値Ｐｗ１に設定してあるが、
それらのパワーレベルは異なってもよい。

【００５９】中間パワーレベルＰｗ３は、消去パワーレ
ベルを示している。この消去パワーレベルは、消去比が
２５ｄＢ以上となる消去パワーマージンのほぼ中心のパ
ワーで表わされ、高パワーレベルＰｗ１の（１／２）に
近い値になる場合が多い。

【００６０】低パワーレベルＰｗ２は、再生パワーレベ
ルと同じである必要はなく、消去パワーレベルＰｗ３よ
りも低い値に設定すればよい。消去パワーレベルと再生
パワーレベルの間の中央値よりも再生パワーレベルに近
い値に設定する方が、記録層の急冷効果が出て好まし
い。場合によっては、低パワーレベルＰｗ２をゼロレベ
ルに設定してもよい。

【００６１】なお、図１では、説明の簡単化のため、そ
れぞれ１個の「１Ｔ符号」と「１０Ｔ符号」のみを示し
ているが、それぞれ複数個の「１Ｔ符号」と「１０Ｔ符
号」を用いてもよいことは勿論である。この場合、それ
ら複数個の「１Ｔ符号」と「１０Ｔ符号」から得られた
値の平均を求めるのが好ましい。特異な場合を避けられ
るからである。

【００６２】（１１）図１（ａ）に示した波形を持つ
記録信号を情報記録媒体に記録すると、図１（ｃ）に示
した再生信号波形が得られる。最短記録符号である「１
Ｔ符号」に対応して第１再生信号が得られ、最長記録符
号である「１０Ｔ符号」に対応して第２再生信号が得ら
れる。図１（ｃ）において、第１再生信号の振幅（記録
状態と消去状態における再生信号電圧の差）は（１Ｔ）
であり、第２再生信号の振幅は（１０Ｔ）である。

【００６３】ここでは、「１０Ｔ符号」に対して複数の
記録マークを形成しているが、これらの記録マークは互
いに近接して形成されているため、読み出し用のレーザ
スポットで再生しても分解できず、一個の長いマークに
対応した再生信号と同様な波形で再生される。

【００６４】これら第１再生信号および第２再生信号を
用い、第１再生信号の振幅（１０Ｔ）の第２再生信号の
振幅（１）Ｔに対する比（１０Ｔ／１Ｔ）が所定値とな
る記録パワーを求める。そして、求められた記録パワー
のその値、あるいはその値から所定値だけ離れた値を、
最長記録符号すなわち「１０Ｔ符号」によって記録層の
物質移動が生じない最適な記録パワー値Ｐｗ１’とす
る。

【００６５】第１再生信号の振幅（１０Ｔ）の第２再生
信号の振幅（１Ｔ）に対する比（１０Ｔ／１Ｔ）は、
０．６以上、１．０以下の範囲内の所定値とする。この
範囲内の記録パワー値であれば、Ｃ／Ｎを比較的大きく
保ちながら記録層の物質移動を防止できるからである。

【００６６】振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）が０．７以上、
０．９以下の範囲内にある記録パワー値がより好まし
い。０．７未満であれば、安定に記録マークが形成され
ないためＣ／Ｎが低下し、０．９を越えると、記録マー
ク同士が重なり合って、多数回オーバーライト時に記録
層の流動が生じる恐れがあるからである。

【００６７】ここで、記録層の再結晶化速度が速い場合
には、記録層の溶融した部分が冷却する間に再結晶化
し、最終的に形成される記録マーク径が小さくなる。特
に、記録マークが近接して配置される「１０Ｔ符号」で
は、各記録マークの幅が狭くなり、振幅比（１０Ｔ／１
Ｔ）の値が小さく（例えば０．６に近く）なる。

【００６８】逆に、記録層の再結晶化速度が遅い場合に
は、記録層の溶融した部分が冷却する間には再結晶化し
にくいため、最終的に形成される記録マーク径は「１Ｔ
符号」と「１０Ｔ符号」とで大きな差がなくなる。よっ
て、振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値は１．０に近づく。

【００６９】記録パワーがさらに高くなると、「１０Ｔ
符号」の各記録マークが重なり合って記録マークの幅が
広くなるため、振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値は１よりも
大きくなる。

【００７０】消去パワーレベルＰｗ３は、記録パワーレ
ベルＰｗ１の（１／２）に近い値とするのが好ましい。
消去パワーレベルＰｗ３が消去パワーマージンのほぼ中
心となるからである。

【００７１】また、消去パワーレベルＰｗ３から立ち下
げたパワーＰｗ２は、再生パワーレベルＰｒと同じ値に
しているが、これは冷却速度を速くして、確実に記録マ
ークを形成するためである。

【００７２】情報記録媒体の構造によっては、パワーＰ
ｗ２の値をゼロレベルに設定してもよい。こうすれば、
冷却速度をいっそう速くすることができ、記録マークの
形状の制御が容易になるからである。

【００７３】ここでは、高パワーレベル（＝記録パワー
レベル）Ｐｗ１に保持される記録信号の時間（パルス
幅）と、低パワーレベルＰｗ２（＝再生パワーレベルＰ
ｒ）に保持される記録信号の時間（パルス幅）は、それ
ぞれ０．５Ｔに固定しているが、これらは変化させても
よい。

【００７４】（１２）次に、この発明の第２の情報の
記録方法について説明する。この発明の第１の情報の記
録方法によれば、以上のようにして、最長記録符号すな
わち「１０Ｔ符号」によって記録層の物質移動が生じな
い最適な記録パワーＰｗ１’を求めることができる。こ
の発明の第２の情報の記録方法では、再生信号波形の中
心レベルのゆらぎを防止できる。

【００７５】すなわち、この種の情報の記録方法では、
記録マークの大きさや記録マークの密度の違いから、再
生信号波形のある範囲でその中心レベルが大きくゆらぐ
ことがある。その場合、再生信号波形を２値化するため
のスライスレベルのマージンが狭くなるという問題が生
じる。

【００７６】そこで、記録信号が、最密または最密に近
い第１記録波形（最短またはそれより少し長い記録符号
の繰り返しから構成される）と、最粗または最粗に近い
記録波形（最長またはそれより少し短い記録符号の繰り
返しから構成される）とを含む場合、再生信号波形の平
均レベルのゆらぎが小さくなる記録パワーを求めること
が必要となる。

【００７７】この発明の第２の情報の記録方法では、上
述した第１の情報の記録方法と同様に、エネルギービー
ムの最適な記録パワーを求める試し書き動作を行なう。

【００７８】この試し書き動作では、信号変調方式にお
ける最短あるいはそれに近い長さの第１記録符号の繰り
返しからなる「第１記録波形」と、前記第１記録符号の
整数倍あるいはそれに近い長さの第２記録符号の繰り返
しからなる「第２記録波形」とを用いる。これら「第１
記録波形」および「第２記録波形」を所定の記録パワー
で前記情報記録媒体に記録し、その記録された「第１記
録波形」および「第２記録波形」を再生して「第１再生
信号波形」および「第２再生信号波形」を得る。そし
て、それら第１再生信号波形の中心レベルと前記第２再
生信号波形の中心レベルとを比較し、それら中心レベル
がほぼ一致する記録パワーを求めて、その記録パワーを
最適値とする。

【００７９】（１３）例えば、図２（ａ）に示すよう
に、図１に示す最短記録符号である「１Ｔ符号」の繰り
返し（１Ｔ符号列）からなる最密パターンを、レーザ記
録パワーの「第１記録波形」とし、図１に示す最長記録
符号である「１０Ｔ符号」の繰り返し（１０Ｔ符号列）
からなる最粗パターンを、レーザ記録パワーの「第２記
録波形」として用いる。

【００８０】これらの「第１記録波形」と「第２記録波
形」を情報記録媒体に記録すると、図２（ｂ）のよう
に、それら記録波形に対応した記録マークが形成され
る。それらの記録マークより、図２（ｃ）のように、
「第１記録波形」と「第２記録波形」にそれぞれ対応し
て、「第１再生信号波形」と「第２再生信号波形」が得
られる。

【００８１】「第１記録波形」に対応する「第１再生信
号波形」では、その振幅（peak topeak）の中心レベル
の電圧は、未記録部の電圧に対して（Ｒ-１Ｔ）の電圧
差を持つ。「第２記録波形」に対応する「第２再生信号
波形」では、その振幅（peakto peak）の中心レベルの
電圧は、未記録部の電圧に対して（Ｒ-１０Ｔ）の電圧
差を持つ。

【００８２】「第１再生信号波形」と「第２再生信号波
形」の中心レベルの電圧差ΔＶは、 ΔＶ＝（Ｒ-１Ｔ）−（Ｒ１０Ｔ）で表わされる。そこで、「第１再生信号波形」と「第２
再生信号波形」の中心レベルの電圧がほぼ一致する、換
言すれば、ΔＶ≒０が成立する記録パワーの値を求めれ
ば、その値から「第１再生信号波形」の最適な記録パワ
ーＰｗ４’を求めることができる。

【００８３】「第１再生信号波形」と「第２再生信号波
形」の中心レベルの電圧が完全に一致する（ΔＶ＝０）
のが最も好ましいが、多少ずれてもよい。その範囲は、
「第２再生信号波形」の未記録部の電圧に対する電圧差
（Ｒ-１０Ｔ）の値の±５％以内が好ましい。この範囲
であれば、「第１記録波形」と「第２記録波形」を含む
再生信号波形において、その中心レベルのゆらぎを抑制
することができる。

【００８４】なお、「第２記録波形」の記録パワーＰｗ
１は、この発明の第１の情報の記録方法で求めた、記録
層の物質移動が生じない最適なパワー値Ｐｗ１’に設定
するのが好ましい。

【００８５】この発明の第２の情報の記録方法によれ
ば、以上のようにして、再生信号波形の中心レベルのゆ
らぎを防止できる、最短記録符号すなわち「１Ｔ符号」
の最適な記録パワーＰｗ４’を求めることができる。

【００８６】（１４）次に、この発明の第３の情報の
記録方法について説明する。この発明の第１および第２
の情報の記録方法によれば、多数回書き換えによる情報
記録媒体の物質移動を防止できると共に、再生信号波形
の平均レベルのゆらぎを抑制できる。しかし、再生信号
のエッジの位置が記録信号に忠実になるように、記録波
形の制御がさらに必要となる場合がある。こうすれば、
各記録符号に対してエッジシフトやジッターを抑制でき
るからである。

【００８７】そこで、この発明の第３の情報の記録方法
では、次のような試し書き動作を行なう。

【００８８】まず、記録波形として、信号変調方式にお
ける最短の記録符号の繰り返しからなり、且つ、高低両
レベルのピークが所定の高パワーレベルと低パワーレベ
ルにそれぞれ等しい中間部と、高レベル側のピークが前
記所定の高パワーレベルとは異なる前端部と、低レベル
側のピークが前記所定の低パワーレベルとは異なる後端
部とを含んで構成されるものを用いる。この記録波形の
前端部の記録パワーレベルおよび後端部の記録パワーレ
ベルを変えて、その記録波形を所定の記録パワーで前記
情報記録媒体に記録し、その記録された記録波形を再生
して再生信号波形を得る。そして、この再生信号波形の
前端および後端の位置を比較し、その前端の位置のずれ
がほぼ最小となる前記記録波形の前端部の記録パワーを
その前端部の最適値とし、その後端の位置のずれがほぼ
最小となる前記記録波形の後端部の記録パワーをその後
端部の最適値とする。

【００８９】（１５）例えば、図３に示すような、図
１に示す最短記録符号である「１Ｔ符号」の繰り返し
（１Ｔ符号列）からなる最長記録符号である「１０Ｔ符
号」について、最適な記録波形を求める場合、次のよう
にする。なお、「１Ｔ符号」は、記録パワーを０．５Ｔ
の間、高パワーレベルＰｗ１（記録パワーレベルに等し
い）に保持した後、０．５Ｔの間、低パワーレベルＰｗ
２（再生パワーレベルＰｒに等しい）に保持するもので
ある。

【００９０】「１０Ｔ符号」の中間部は、８個（第２〜
第９）の１Ｔ符号の繰り返しからなり、高低両レベルの
ピークが所定の高パワーレベルＰｗ１と低パワーレベル
Ｐｗ２にそれぞれ等しい。「１０Ｔ符号」の前端部すな
わち第１の１Ｔ符号は、高レベル側のピークＰｗ５が高
パワーレベルＰｗ１よりも低く、消去レベルＰｗ３より
も高い。「１０Ｔ符号」の後端部すなわち第１０の１Ｔ
符号は、低レベル側のピークＰｗ６が低パワーレベルＰ
ｗ２よりも高く、消去レベルＰｗ３よりも低い。

【００９１】そして、高パワーレベルＰｗ１と低パワー
レベルＰｗ２を一定にし、前端部の記録パワーレベルＰ
ｗ５および後端部の記録パワーレベルＰｗ６を変えなが
ら、情報記録媒体に記録し、その記録された記録波形を
再生して再生信号波形を得る。そして、この再生信号波
形の前端および後端の位置を比較し、その前端の位置の
ずれがほぼ最小となる「１０Ｔ符号」の前端部の記録パ
ワーＰｗ５’をその前端部の最適値とし、その後端の位
置のずれがほぼ最小となる「１０Ｔ符号」の後端部の記
録パワーＰｗ６’をその後端部の最適値とする。

【００９２】この「１０Ｔ符号」では、前端部の最適パ
ワーＰｗ５’を高パワーレベルＰｗ１よりも低い値にし
ている。これは、「１０Ｔ符号」の前端部では、記録パ
ワーを消去パワーレベルＰｗ３から立ちあげているの
で、これに対応して形成される記録マークの前端部にお
いて記録層の温度が比較的上昇しやすいためである。高
パワーレベルＰｗ１まで立ちあげると、記録マーク幅の
前端が広くなり過ぎる可能性がある。

【００９３】この「１０Ｔ符号」ではまた、後端部の最
適パワーＰｗ６’を低パワーレベルＰｗ２よりも高い値
にしている。これは、記録層の再結晶化速度の程度や熱
伝導率の大きさの程度などを考慮して、情報記録媒体ご
とに決めるものである。例えば、再結晶化速度が速い記
録層の場合には、記録マークの後端部では熱が蓄積され
ているために冷却速度が遅く、冷却中に再結晶化して記
録マークの幅が狭くなる可能性がある。そこで、後端部
の最適パワーＰｗ６’は冷却速度を早めるために再生パ
ワーＰｒに近い値とするのが好ましい。

【００９４】なお、ここでは最長記録符号「１０Ｔ符
号」について述べたが、最短記録符号を除く任意の長さ
の記録符号についても、最短記録符号「１Ｔ符号」の繰
り返し数を変えることにより、これと同様にして最適パ
ワーＰｗ５’、Ｐｗ６’を求めることができる。

【００９５】（１６）この発明の第１〜第３の情報の
記録方法は、それぞれ単独で実施することができるのは
勿論であるが、それらを組み合わせて実施することも可
能である。

【００９６】この発明の第１〜第３の情報の記録方法を
光ディスク装置に適用する場合、例えば次のようにな
る。

【００９７】まず、光ディスク装置の電源を投入した時
に、情報記録媒体すなわち光ディスクが装置にセットし
てある場合は、電源の投入と同時に光ディスクが回転し
始める。光ディスクがセットされていない場合は、待機
状態となり、光ディスクはセットされた段階で回転を始
める。そして、所定の回転数に達すると、光ディスクの
コントロールトラックに予め記録されている情報（例え
ば、光ディスクのフォーマット形式や最適な記録パワー
値など）を再生し、当該装置のメモリー内に記憶する。
その後、自動的に上述した試し書き動作が開始される。

【００９８】試し書きの際の記録波形としては、例え
ば、図４に示すようなものが用いられる。図４の記録波
形パターンは、最短記録符号である「１Ｔ符号」と、そ
の「１Ｔ符号」の繰り返しからなる「１Ｔ符号列」と、
１０個の「１Ｔ符号」の繰り返しからなる最長記録符号
である「１０Ｔ符号」との組み合わせである。

【００９９】まず、光ディスクの記録層の流動を防止で
きる記録パワーＰｗ１の最適値Ｐｗ１’は、以下の結果
から求めることができる。

【０１００】図４の記録波形パターンをＰｗ１＝Ｐｗ４
＝Ｐｗ５、Ｐｗ２＝Ｐｗ６＝Ｐｒとして生成し、Ｐｗ１
とＰｗ２の値を変えながらレーザビームを光ディスクの
所定領域に照射する。こうして、前記「１Ｔ符号」、
「１Ｔ符号列」および「１０Ｔ符号」を光ディスクに記
録する。その後、それらの符号を再生し、「１Ｔ符号」
に対応する再生信号と「１０Ｔ符号」に対応する再生信
号を得る。そして、それら両再生信号の振幅の比がＰｗ
１の値によってどのように変化するかを調査し、この振
幅比（１０Ｔ／１Ｔ）が約０．８に一致するＰｗ１の値
を求める。この値がＰｗ１の最適値Ｐｗ１’となる。

【０１０１】なお、Ｐｗ３は消去比２５ｄＢ以上となる
消去パワーマージンの中心パワーである。

【０１０２】また、この最適値Ｐｗ１’における「１Ｔ
符号列」と「１０Ｔ符号列」のそれぞれの中心レベル
（Ｒ-１Ｔ）および（Ｒ-１０Ｔ）を比較すると、両中心
レベルがほぼ等しくなる（すなわちΔＶ≒０）記録パワ
ーを求めることができる。この時の記録パワーが、「１
Ｔ符号」または「１Ｔ符号列」の最適な記録パワー値Ｐ
ｗ４’となる。

【０１０３】さらに、Ｐｗ１の最適値Ｐｗ１’で、「１
０Ｔ符号」の前端部の記録パワーＰｗ５および後端部の
記録パワーＰｗ６を変えながら情報記録媒体に記録し、
その記録された記録波形を再生して再生信号波形を得
る。そして、この再生信号波形の前端および後端の位置
を比較し、その前端の位置のずれが最小となる「１０Ｔ
符号」の前端部の記録パワーＰｗ５’をその前端部の最
適値とし、その後端の位置のずれが最小となる「１０Ｔ
符号」の後端部の記録パワーＰｗ６’をその後端部の最
適値とする。

【０１０４】この時、これと同様にして、「１０Ｔ符
号」よりも小さい記録符号においても、それぞれ最適な
パワー値Ｐｗ５’およびＰｗ６’を求めてもよい。

【０１０５】以上のようにして、光ディスクの交換に伴
う記録層の層厚の変動や環境温度の変動、あるいは当該
光ディスク装置の特性変化による光ディスクに対する最
適記録パワーの変動などによる影響をなくすことがで
き、安定した記録が可能となる。

【０１０６】このような試し書き動作は、少なくとも光
ディスク装置の立ち上げ時と光ディスクを交換した時に
行なえば足りる。しかし、長時間使用した時あるいは環
境温度が大きく変化した時にも、所定の時間ごと、ある
いは再生特性が変化した時にその都度、試し書き動作を
行なうのが好ましい。

【０１０７】（１７）上記光ディスク装置の試し書き
動作のフローチャートの一例を図５に示す。使用する記
録波形パターンは、図６に示すものである。

【０１０８】試し書き命令信号が出されると、レーザビ
ームは、光ディスクの指定された試し書き領域の先頭位
置に移動し（ステップＳ１）、メモリーに記憶されてい
たＰｗ１’の値を再生する（ステップＳ２）。

【０１０９】次に、記録パワーＰｗ１の値をメモリーよ
り再生した最適パワー値Ｐｗ１’よりも５ｍＷ少ない値
に設定してから（ステップＳ３）、図６の試し書きの記
録波形パターンを光ディスクに記録する（ステップＳ
４）。これにより、光ディスクの記録層にこの記録波形
パターンに対応した記録マークが形成される。

【０１１０】この記録マークを再生し、得られた再生信
号波形から、「１Ｔ符号列」の中心レベル（Ｒ-１Ｔ）
と「１０Ｔ符号列」の中心レベル（Ｒ-１０Ｔ）の値を
検出する（ステップＳ５）。そして、それら符号列の中
心レベルの差ΔＶ ΔＶ＝（Ｒ−１Ｔ）−（Ｒ−１０Ｔ）を計算する（ステップＳ６）。なお、ΔＶは０に近い方
が好ましく、０に等しいのが最も好ましいい。

【０１１１】続いて、中心レベルの差ΔＶが正か否かを
判定する（ステップＳ７）。ΔＶの値が正でなければ、
現在の記録パワーＰｗ１の値に０．１ｍＷを加え（ステ
ップＳ８）、その値でステップ４に戻る。そして、ステ
ップ５および６を経て、ステップ７で中心レベルの差Δ
Ｖが正か否かを再び判定する。ここでΔＶの値が正でな
ければ、ステップ４〜７をさらに繰り返す。この動作
は、最適パワーであるＰｗ１’よりも５ｍＷ多いパワー
値まで０．１ｍＷ刻みで繰り返す。

【０１１２】ステップ７で中心レベルの差ΔＶが正と判
定すると、予め記録されていた最適な記録パワー値（ス
テップＳ２参照）に代えて、その時の記録パワー値をＰ
ｗ１’用のメモリに入れる（ステップＳ９）。こうし
て、ΔＶの値が負から正に変化する記録パワー値Ｐｗ
１”が得られる。そこで、こうして得た新たな記録パワ
ー値Ｐｗ１”を用いて、当該光ディスク装置の正規動作
を開始する（ステップＳ１０）。

【０１１３】この発明では、最初にＰｗ１、Ｐｗ２、Ｐ
ｗ３、Ｐｗ４、Ｐｗ５、Ｐｗ６の値を種々変えて、所定
の試し書きパターンを記録した後、記録層に形成された
記録マークのすべてを再生し、得られた再生信号波形お
よびジッターの値から、最適なＰｗ１’、Ｐｗ２’、Ｐ
ｗ３’、Ｐｗ４’、Ｐｗ５’、Ｐｗ６’の値を自動的に
決定することもできる。

【０１１４】この場合、各パワーの変化幅および刻み
は、例えば、想定される光ディスクの最適な記録パワー
Ｐｗ１’が１２ｍＷの時、以下の値とする。

【０１１５】・Ｐｗ１：６ｍＷ〜２０ｍＷ、０．１ｍＷ刻み・Ｐｗ２：０ｍＷ〜１２ｍＷ、０．２ｍＷ刻み・Ｐｗ３：３ｍＷ〜１２ｍＷ、０．２ｍＷ刻み・Ｐｗ４：６ｍＷ〜２０ｍＷ、０．２ｍＷ刻み・Ｐｗ５：６ｍＷ〜２０ｍＷ、０．２ｍＷ刻み・Ｐｗ６：０ｍＷ〜１２ｍＷ、０．２ｍＷ刻みこれらの上、下限の値はこれらの値±３０％、刻みの値
はこれらの０．２倍から５倍の範囲で変更してもよい。
また、これらの値は光ディスクの想定される最適な記録
パワーが上記の値（１２ｍＷ）と異なるときは、その大
きさに比例して変化させればよい。

【０１１６】上記パワーの大きさは、例えば、Ｐｗ１＞
Ｐｗ４＞Ｐｗ３＞Ｐｗ２の条件を満たすようにする。こ
の場合、Ｐｗ５とＰｗ６の値は任意である。

【０１１７】図５のフローチャートでは、試し書きパタ
ーンとして、図６の記録波形を用いているが、より確実
な値を得るためには、図６の記録波形を複数回、繰り返
したものを用いるのが好ましい。繰り返し回数は、２〜
３回でもよいが、確実性をいっそう向上するには、５回
以上とするのがより好ましい。

【０１１８】また、上記の試し書き動作は、光ディスク
の指定領域（試し書き領域）内で行なうが、このような
試し書き領域を１箇所設けてもよいし、２箇所以上設け
てもよい。好ましくは、このような試し書き領域を３箇
所以上設け、各領域に対して同じ試し書きパターンを記
録・再生してから、それらの領域から得られた記録パワ
ー値の平均値を求めるのがより好ましい。選定した試し
書き領域の特異性を排除できるからである。

【０１１９】（１８）続いて、この発明の第４の情報
の記録方法について説明する。上述したこの発明の第１
〜第３の情報の記録方法は、一つの記録符号に対して複
数の記録マークが対応する場合に対応するものである
が、この発明の第４の情報の記録方法は、一つの記録符
号に対して一つの記録マークが対応する場合（特開平１
−１５０２３０号公報参照）に対応するものである。

【０１２０】情報記録媒体として、エネルギービームの
記録パワーに応じて多数回書き換えによる再生信号の波
形の歪みの方向が異なる性質を持つものを使用すると、
記録時の照射パワーを制御することにより、記録層の物
質移動などに伴う再生信号の波形の歪みを防止すること
が可能である。

【０１２１】前記エネルギービームのパワーは、再生信
号の波形の歪みが生じにくいレベルに設定される。

【０１２２】（１９）このように、多数回書き換えに
よる再生信号波形の歪みの方向が釣り合う記録層として
は、Ｃｒ₃Ｔｅ₄のように、融点が８００゜Ｃ以上の高融
点物質を含むものが挙げられる。このような性質は、記
録層中の高融点物質により記録層の溶融部分において物
質移動が生じにくくなるために生じると考えられる。

【０１２３】このような記録層を含む情報記録媒体を用
いた場合、試し書き方法としては、上述したこの発明の
第１の情報の記録方法が好適に使用できる。

【０１２４】（２０）例えば、光ディスクのコントロ
ールトラック上に、予め求めておいた各記録符号に対応
する最適な記録パワー値（例えば、図６の記録信号にお
けるパワー値Ｐｗ１’〜Ｐｗ６’）、および最長の「１
０Ｔ符号」の再生信号振幅と最短の「１Ｔ符号」の再生
信号振幅との比（１０Ｔ／１Ｔ）が１に近い値になる記
録パワー値、および「１０Ｔ符号」に対応する記録パル
スでの多数回書き換えにより再生信号波形の歪みを生じ
にくい照射パワーＰｗ１’の値との差のパワー値（＋
α）とを記録しておく。

【０１２５】そして、光ディスク装置の立ち上げ時およ
び光ディスクを交換した時に、この発明の第１の情報の
記録方法により振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が１に近く
なる記録パワーを求めると同時に、＋αの値を加えた記
録パワーをＰｗ１’として新たに記憶しなおす。その
後、この状態で正規の記録／再生動作を開始する。

【０１２６】また、光ディスクごとに予め、コントロー
ルトラック上に多数回書き換えにより再生信号波形歪み
を生じにくい記録パワー値と、ある線速度において単一
周波数（ｄｕｔｙ：４０〜６０％、パルス分割なし）で
記録した場合の２次高調波最小または消去比最大となる
記録パワー値との差を記録しておくのが好ましい。この
場合、環境温度の変動や、記録層の層厚の変動などによ
る記録感度の変動が生じ、それによって再生信号波形の
歪みが生じた場合にも、２次高調波最小または消去比最
大の記録パワー値から再生信号波形の歪みを生じにくい
記録パワー値を求め直すことができるからである。

【０１２７】ここで、光ディスクとして、多数回書き換
えにより再生信号波形歪みを生じにくい記録パワー値
と、２次高調波最小または消去比最大となる記録パワー
値とがほぼ同じであるものを用いるのが好ましい。ディ
スク毎に予め、コントロールトラック上に前記のパワー
差を記録しておく必要がないからである。

【０１２８】さらに、この発明の第４の情報の記録方法
では、物質移動方向が釣り合う記録パワー値が変化した
かどうかを検知するために、多数回書き換えによる再生
信号レベルの変化をモニターする領域（モニター領域）
を設けてもよい。例えば、光ディスク上のモニター領域
内の同一箇所に、使用する信号変調方式における最長ま
たは最長に近い記録符号に対応する記録パルスを情報を
記録する毎に照射して、記録符号の始端部および終端部
の再生信号のレベル（反射率に対応）の変化をモニター
する。そして、得られた再生信号レベルが所定範囲から
外れていれば、前記試し書き動作により最適パワーを求
めなおし、それ以後はこの求めなおしたパワー値で記録
する。

【０１２９】（２１）前記情報記録媒体の記録層とし
ては、高速結晶化が可能な結晶−非晶質間の相変化を利
用する記録層や、非晶質−非晶質間の相変化を利用する
記録層、結晶系や結晶粒径の変化などの結晶−結晶間の
相変化を利用する記録層など、相変化型の記録層が好ま
しい。しかし、光磁気記録層などの他の型の記録層も使
用可能である。

【０１３０】また、前記情報記録媒体はディスク状のみ
ならず、カード状などの他の任意の形態のものであって
もよい。

【０１３１】

【作用】この発明の第１の情報の記録方法および第１の
情報記録再生装置では、試し書き動作により、信号変調
方式における最短あるいはそれに近い長さの第１記録符
号と、前記第１記録符号のｎ倍あるいはそれに近い長さ
の第２記録符号とを、所定の記録パワーで情報記録媒体
に記録した後、それらを再生して第１および第２の再生
信号を得る。そして、それら両再生信号の振幅の比が所
定値となる記録パワーを検出し、その検出された記録パ
ワーから最適なパワー値を決定する。このため、相変化
型の情報記録媒体において多数回書き換えによる記録層
の物質移動が防止され、最適な状態で情報を記録できる
ようになる。

【０１３２】この発明の第２の情報の記録方法および第
２の情報記録再生装置では、試し書き動作により、信号
変調方式における最短あるいはそれに近い長さの第１記
録符号の繰り返しからなる第１記録波形と、前記第１記
録符号のｎ倍あるいはそれに近い長さの第２記録符号の
繰り返しからなる第２記録波形とを、所定の記録パワー
で情報記録媒体に記録した後、それらを再生して第１お
よび第２の再生信号波形を得る。そして、それら両再生
信号の中心レベルがほぼ一致する記録パワーを求めてそ
の記録パワーを最適値とする。このため、情報記録媒体
から得た再生信号波形の中心レベルのゆらぎを防止でき
る。

【０１３３】この発明の第３の情報の記録方法および第
３の情報記録再生装置では、試し書き動作において、ま
ず、信号変調方式における最短の記録符号の繰り返しか
らなり、且つ、高低両レベルのピークが所定の高パワー
レベルと低パワーレベルにそれぞれ等しい中間部と、高
レベル側のピークが前記所定の高パワーレベルとは異な
る前端部と、低レベル側のピークが前記所定の低パワー
レベルとは異なる後端部とを含んで構成される記録波形
を生成する。そして、その記録波形の前端部および後端
部の記録パワーレベルを変えて、所定の記録パワーで情
報記録媒体に記録した後、これらを再生して再生信号波
形を得る。その後、前記再生信号波形の前端および後端
の位置を比較して、その前端の位置のずれがほぼ最小と
なる前記記録波形の前端部の記録パワーをその前端部の
最適値とし、その後端の位置のずれがほぼ最小となる前
記記録波形の後端部の記録パワーをその後端部の最適値
とする。このため、マークエッジ記録において再生信号
のジッターを抑制することができる。

【０１３４】この発明の第４の情報の記録方法および第
４の情報記録再生装置では、情報記録媒体が、エネルギ
ービームのパワーによって多数回書き換えによる再生信
号の波形の歪みの方向が異なる性質を持っており、前記
エネルギービームのパワーが再生信号の波形の歪みがほ
ぼ最小となる値に設定される。再生信号の波形の歪みが
生じにくい前記エネルギービームのパワーレベルは、例
えばこの発明の第１の情報の記録方法によって求めるこ
とができる。よって、一つの記録符号に対して一つの記
録マークが対応する記録方式の場合でも、相変化型の情
報記録媒体において多数回書き換えによる記録層の物質
移動を防止して最適な状態で情報を記録できる。

【０１３５】さらに、この発明の第１〜第４の情報の記
録方法および第１〜第４の情報記録再生装置では、装置
の立ち上げ時や情報記録媒体の交換時などに前記試し書
きを行なえば、情報記録媒体の記録感度の変動やその環
境温度の変動があっても、常に最適な状態で情報を記録
できる。しかも、試し書きに使用する記録符号または記
録符号波形が特定のものに限定されないので、使用する
変調方式に対応した記録波形を用いて最適な記録条件を
検出できる。

【０１３６】

【実施例】以下、この発明を実施例を用いて詳細に説明
する。［実施例１］（情報記録媒体）この実施例では、情報記録媒体として
図７に示す書き換え可能型光ディスクを使用する。この
光ディスクは次のようにして製造したものである。

【０１３７】まず、直径５インチ、厚さ１．２ｍｍの案
内溝（Ｕ字型溝）を有するポリカーボネート基板１上
に、マグネトロンスパッタリング法によって厚さ約１２
５ｎｍのＺｎＳ−ＳｉＯ₂からなる保護層２を形成し
た。次に、Ｇｅ₂₂Ｓｂ₂₂Ｔｅ₅₆の組成の記録層３を約２
５ｎｍの厚さに形成し、その上にさらに、ＺｎＳ−Ｓｉ
Ｏ₂よりなる中間層４を約２０ｎｍの厚さに形成した。

【０１３８】さらに、Ａｌ−Ｔｉ合金よりなる反射層５
を中間層４の上に約１００ｎｍの厚さに形成した。これ
らの層２、３、４の形成は同一のスパッタリング装置内
で順次、行なった。その後、前記スパッタリング装置の
外で反射層５の上に紫外線硬化樹脂層６を塗布し、一方
のディスク部材を得た。

【０１３９】他方、上記と同じ方法で、上記と同じポリ
カーボネート基板１’上に、上記と同じ層構造を形成し
た。すなわち、基板１’上に、マグネトロンスパッタリ
ング法によってＺｎＳ−ＳｉＯ₂保護層２’、Ｇｅ₂₂Ｓ
ｂ₂₂Ｔｅ₅₆記録層３’、ＺｎＳ−ＳｉＯ₂中間層４’お
よびＡｌ−Ｔｉ反射層５’を順次、形成した。その後、
前記スパッタリング装置の外で反射層５’の上に紫外線
硬化樹脂層６’を塗布し、他方のディスク部材を得た。

【０１４０】その後、紫外線硬化樹脂層６、６’を対向
してホットメルト接着剤７を介して密着させ、両ディス
ク部材の接着を行なった。こうして、図７に示す書き換
え可能型光ディスクを得た。この光ディスクの記録層
３、３’は相変化型である。

【０１４１】（情報記録再生装置）次に、この実施例１
に使用した情報記録再生装置すなわち光ディスク装置に
ついて説明する。図８は、この光ディスク装置の記録再
生系を示したものである。図８において、変調器８は、
記録すべき情報（原信号）を所定の変調方式にしたがっ
て変調し、記録符号列を生成する。符号器９は、変調器
で生成された記録符号列を所定の規則に従って分割す
る。記録パルス生成器１０は、符号器９で分割された符
号または符号列のそれぞれに対応する記録パルス信号を
生成する。レーザ駆動器１１は、この記録パルス信号に
従って、光学ヘッド１３に設けられた半導体レーザ１２
の駆動電流を変調する。これにより、半導体レーザ１２
は原情報に応じて変調された記録用レーザ光を生成・照
射する。

【０１４２】半導体レーザ１２により生成された記録用
レーザ光は、集光されてから、回転している光ディスク
１４に向けて照射される。照射されたレーザ光により、
光ディスク１４の記録層３または３’に記録すべき情報
（原信号）に対応して記録マーク列が形成される。

【０１４３】半導体レーザ１２はまた、再生用レーザ光
を回転している光ディスク１４に照射する。光学ヘッド
１３に設けられた受光器１５は、光ディスク１４により
反射された再生用レーザ光を取り込み、電気信号に変換
する。再生信号増幅器１６は、受光器１５で生成された
電気信号を増幅する。波形等化器１７は、再生信号増幅
器１６で増幅された電気信号の波形を修正する。整形器
１８は、波形等化器１７で波形修正された電気信号を信
号の有無を表わすパルス信号に変換する。弁別器１９
は、こうして得られたパルス信号の有無を弁別し、それ
に応じた符号列を生成する。復号器２０は、その符号列
を復号し、光ディスク１４に記録されていた情報に対応
するデータビット列を生成する。

【０１４４】試し書き器２１は、所定の試し書きデータ
を変調器８に供給する。その試し書きデータは、記録す
べき情報と同一の経路を経て光ディスク１４に記録され
る。その試し書きデータはまた、比較のために、符号器
９から比較器２３にも送られる。

【０１４５】光ディスク１４に記録された試し書きデー
タは、再生される情報と同一の経路を経て弁別器１９に
送られた後、制御器２２に送られる。制御器２２は、そ
の時点での最適パワーを決定するための計算などを行な
い、その結果を比較器２３と記録パルス生成器１０に送
る。

【０１４６】比較器２３は、符号器９から送られた試し
書きデータと、光ディスク１４から再生され、制御器２
２を経て送られた試し書きデータとを比較し、その結果
を記録パルス生成器１０に送る。

【０１４７】（正規の動作）次に、この光ディスク装置
の動作について説明する。正規の記録動作の際には、記
録すべき原信号（情報）が変調器８に入力され、使用す
る変調方式に対応した記録符号に変換される。こうして
得られた記録符号列は、符号器９で所定の規則に従って
分割された後、記録パルス生成器１０により、各符号に
対応した記録パルス信号が種々のパワーとしてレーザ駆
動器１１に向けて出力される。

【０１４８】その記録パルス信号は、レーザ駆動器１１
および半導体レーザ１２によりレーザ光パルスに変換さ
れる。そのレーザ光パルスは、回転している光ディスク
１４上に集光・照射され、記録層３または３’に前記記
録パルス信号に対応した記録マークが形成される。こう
して前記情報が光ディスク１４に記録される。

【０１４９】正規の再生動作時は、光ディスク１４の所
望のアドレスで反射されたレーザ光が受光器１５に取り
込まれ、電気信号に変換される。この電気信号は、再生
信号増幅器１６を通って波形等化器１７に入力される。
波形等化器１７を出た信号は整形器１８に入力され、信
号の有無を表わすパルス信号に変換される。このパルス
信号は、弁別器１９、復号器２０を経て前記情報に対応
したデータビット列となる。こうして前記情報が光ディ
スク１４から再生される。

【０１５０】（試し書き動作）試し書き動作は、次のよ
うにして行なわれる。まず最初に、この実施例における
試し書き動作を手動で行なった場合について説明し、そ
の後、自動で行なう場合について説明する。

【０１５１】使用した試し書きパターンは、図４（ａ）
のように、「１Ｔ符号」（最短記録符号）、４個の１Ｔ
符号の繰り返しからなる「１Ｔ符号列」（最密記録波
形）、および１０個の１Ｔ符号の繰り返しからなる「１
０Ｔ符号」（最長記録符号）の組み合わせを単位符号パ
ターンとし、その単位符号パターンを５個繰り返したも
のを用いた。各単位パターンは、それによって記録層３
または３’に形成された記録マークが互いに光学的に干
渉しない程度に距離をあけて配置した。

【０１５２】なお、ここでは、この単位符号パターンを
５個繰り返したものを用いたが、６個以上繰り返すのが
好ましい。より確実な値が得られるからである。

【０１５３】光ディスク１４に照射されるレーザパワー
は、図４の「１Ｔ符号」により、消去パワーレベルＰｗ
３から記録パワーレベルＰｗ１に上昇した後、０．５Ｔ
の間そのレベルに保持される。そして、記録パワーレベ
ルＰｗ１から再生パワーレベルＰｒ（＝Ｐｗ２）まで下
降し、０．５Ｔの間そのレベルに保持される。その後、
消去パワーレベルＰｗ３まで復帰する。

【０１５４】「１Ｔ符号列」では、レーザパワーは、消
去パワーレベルＰｗ３から記録パワーレベルＰｗ１に上
昇した後、０．５Ｔの間そのレベルに保持される。そし
て、記録パワーレベルＰｗ１から再生パワーレベルＰｒ
（＝Ｐｗ２）まで下降し、０．５Ｔの間そのレベルに保
持される。その後、消去パワーレベルＰｗ３まで復帰
し、１Ｔの間、消去パワーレベルＰｗ３に保持される。
そして、このパターンを４回繰り返す。

【０１５５】「１０Ｔ符号」では、「１Ｔ符号」と同じ
パターンを連続して１０回繰り返している。

【０１５６】高パワーレベルすなわち記録パワーレベル
Ｐｗ１は、「１Ｔ符号」、「１Ｔ符号列」および「１０
Ｔ符号」のいずれも同じ値とした。中間パワーレベルす
なわち消去パワーレベルＰｗ３は、消去パワーマージン
の中心パワーである６ｍＷとした。

【０１５７】低パワーレベルＰｗ２は、消去パワーレベ
ルＰｗ３よりも低い任意のパワーレベルに設定すればよ
い。この実施例では、冷却速度を速くし確実に記録マー
クを形成するために、低パワーレベルＰｗ２を再生パワ
ーレベルＰｒと同じ１．５ｍＷにした。しかし、低パワ
ーレベルＰｗ２をゼロレベル（０ｍＷ）に設定してもよ
い。

【０１５８】上記の試し書きパターンを、初期結晶化し
た記録層３、３’に記録すると、図４（ｂ）に示す記録
マークが繰り返して形成される。それらの記録マークを
再生すると、図４（ｃ）に示すような再生信号波形が得
られた。この再生信号波形から、図９のような結果が得
られた。図９には、「１Ｔ符号」に対応する再生信号振
幅（１Ｔ）、「１０Ｔ符号」に対応する再生信号振幅
（１０Ｔ）、「１Ｔ符号列」に対応する未記録部と再生
信号振幅の中心部との電圧差（Ｒ-１Ｔ）、「１０Ｔ符
号」に対応する未記録部と再生信号振幅の中心部との電
圧差（Ｒ-１０Ｔ）の値を示してある。

【０１５９】この図９と、「１０Ｔ符号」の記録パワー
Ｐｗ１と再生信号振幅の振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値と
の関係を調べ、物質移動に最も深く関係している「１０
Ｔ符号」の最適な記録パワー値Ｐｗ１’と、再生信号波
形におけるゆらぎが最小となる「１Ｔ符号」の最適な記
録パワー値Ｐｗ４’を求めた。なお、Ｐｗ２’は再生パ
ワーレベルの１．５ｍＷに等しく、Ｐｗ３’は６ｍＷで
ある。

【０１６０】その結果、この光ディスク１４では、「１
０Ｔ符号」を多数回繰り返したときに、記録層３または
３’の物質移動により再生信号のノイズが上昇し始める
記録パワーは、１４ｍＷであることが分かった。また、
再生信号のＣ／Ｎが５０ｄＢよりも小さくなり始めるパ
ワーは、１１ｍＷであることが分かった。よって、１１
ｍＷ以上、１４ｍＷ以下の範囲が、Ｃ／Ｎが比較的大き
く、且つ「１０Ｔ符号」の多数回書き換えによって記録
層３または３’の物質移動が生じない、最適な記録パワ
ー値Ｐｗ１’となる。

【０１６１】この１１ｍＷ以上、１４ｍＷ以下のパワー
範囲は、振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が０．６以上、
１．０以下の範囲に対応するから、（１０Ｔ／１Ｔ）の
値がこの範囲に入る時のレーザパワーを求めることによ
り、「１０Ｔ符号」の最適な記録パワーＰｗ１’を求め
ることが可能となる。

【０１６２】特に、振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が０．
７以上、０．９以下の範囲では、Ｃ／Ｎが比較的大きく
物質移動も生じにくく、好ましかった。

【０１６３】この光ディスク１４では、振幅比（１０Ｔ
／１Ｔ）の値が０．６以上、１．０以下の範囲の中心値
０．８に等しい場合が、「１０Ｔ符号」の最適な記録パ
ワーの中心値（Ｐｗ１’＝１２ｍＷ）である。その時の
電圧差（Ｒ-１０Ｔ）は、４５０ｍＶとなり、この値と
ほぼ同じ（ΔＶ≒０）になる電圧差（Ｒ-１Ｔ）のパワ
ーは１０ｍＷとなった。この１０ｍＷが、この光ディス
ク１４における「１Ｔ符号」の最適な記録パワー値Ｐｗ
４’となる。

【０１６４】次に、マークエッジ記録において再生信号
のジッターを抑制できるようにするため、上記とは異な
る試し書きパターンを用いて再度、試し書きを行ない、
記録パワー値Ｐｗ５およびＰｗ６を求めた。

【０１６５】今回の試し書きでは図３（ａ）に示す「１
０Ｔ符号」からなる記録信号波形を用いた。そして、レ
ーザパワーをＰｗ１＝Ｐｗ１’、Ｐｗ２＝Ｐｗ２’、Ｐ
ｗ３＝Ｐｗ３’に設定し、その「１０Ｔ符号」を構成す
る最初の「１Ｔ符号」の立上がりのレーザパワーレベル
Ｐｗ５（保持時間：０．５Ｔ）と、最後の「１Ｔ符号」
の立下がりのレーザパワーレベルＰｗ６（保持時間：
０．５Ｔ）を変化させて光ディスク１４に記録し、記録
マークの前端および後端のエッジシフトが小さくなるよ
うなＰｗ５’およびＰｗ６’の値を決定した。

【０１６６】その結果、Ｐｗ５’＝１０ｍＷ、Ｐｗ６’
＝３ｍＷの場合に、エッジシフトの平均値が３ｎｓ程度
であり、最小であった。

【０１６７】以上述べたように、２回の試し書き動作に
より求めた最適なレーザパワー値は、Ｐｗ１’＝１２ｍ
Ｗ、Ｐｗ２’＝１．５ｍＷ、Ｐｗ３’＝６ｍＷ、Ｐｗ
４’＝１０ｍＷ、Ｐｗ５’＝１０ｍＷ、Ｐｗ６’＝３ｍ
Ｗであった。このようなレーザパワー値に設定して光デ
ィスク１４に情報を記録することにより、多数回書き換
えによる記録層３または３’の物質移動を抑制すること
ができ、しかも、再生信号波形における中心レベルのゆ
らぎとそのエッジシフトの双方を小さくすることができ
た。

【０１６８】（試し書き動作の手順）続いて、この実施
例の「試し書き動作」を自動的に実行する場合の手順の
一例を、図１０〜図１３を参照しながら説明する。

【０１６９】図１０に示すように、装置の立ち上げ時に
は、電源投入後、自動的に試し書き命令信号が発生し、
「初期動作」が実行される（ステップＳ１１）。この
「初期動作」とは以下の動作を指す。

【０１７０】まず、光ディスク１４が光ディスク装置に
セットされているかどうかを判断する。その時、ディス
ク１４がセットされていれば、ディスク１４は直ちに回
転・駆動される。ディスク１４がセットされていなけれ
ば、待機状態となり、ディスク１４がセットされて時点
でディスク１４の回転・駆動が開始される。

【０１７１】この実施例の光ディスク１４のコントロー
ルトラックには、各種フォーマットに関する情報や最適
な記録パワーに関する情報などが予めピット（凹部）と
して記録しておく。そこで、このような初期動作が終了
し、ディスク１４が所定の回転数（この実施例では１８
００ｒｐｍ）に達すると同時に、ディスク１４の内周部
にあるコントロールトラック上の情報を再生し、光ディ
スク装置内のメモリに記憶する（ステップＳ１２）。そ
の後、以下のようにして「試し書き動作」を開始する。

【０１７２】なお、ディスク１４を交換した時にも、装
置の立ち上げ時と同じ手順（ステップＳ１１および１
２）を経て自動的に「試し書き動作」を開始する。

【０１７３】まず最初に、予め決められている、光ディ
スク１４の第１試し書き領域の先頭位置に、レーザ光ス
ポットが移動する（ステップＳ１３）。そして、光ディ
スク装置内のメモリから、記録パワーＰｗ１の変化範囲
およびその記録パワーの刻み量に関する情報を再生する
（ステップＳ１４）。この実施例１では、記録開始パワ
ーは６ｍＷであるから、ここではＰｗ１を６ｍＷに設定
する（ステップＳ１５）。

【０１７４】なお、同じディスク１４を長時間使用した
時には、規定時間ごとに、また、何らかの原因で再生特
性が大きく変化した時には、その変化した時点で、上記
の試し書き命令信号が発生する。そこで、同じ「試し書
き動作」をステップＳ１３より開始する。

【０１７５】次に、最短記録符号である「１Ｔ符号」と
最長記録符号である「１０Ｔ符号」とを用いた、図１の
記録波形からなる試し書きパターンを、光ディスク１４
の第１試し書き領域に記録する（ステップＳ１６）。こ
こでは、Ｐｗ２（＝Ｐｗ６）は再生パワーＰｒ（＝１．
５ｍＷ）に、Ｐｗ３は消去比が大きい消去パワー６ｍＷ
に固定している。Ｐｗ２’とＰｗ３’の値は、ここで
は、ディスク１４のコントロールトラック上に記録され
た値を読み取っているが、試し書き動作で求めてもよ
い。

【０１７６】次に、Ｐｗ１の値が２０ｍＷであるか否か
を判断し（ステップＳ１７）、２０ｍＷでなければ、現
在のＰｗ１の値（６ｍＷ）に０．１ｍＷを加えてから
（ステップＳ１８）、再度、同じ試し書きパターンを第
１試し書き領域に記録する（ステップＳ１６）。

【０１７７】こうして、Ｐｗ１（＝Ｐｗ４＝Ｐｗ５）の
値を６ｍＷから２０ｍＷまで０．１ｍＷ刻みで増加させ
ながら、同じ試し書きパターンを第１試し書き領域に記
録する（ステップＳ１６）。これが１回目の試し書きで
ある。

【０１７８】続いて、第１試し書き領域にＰｗ１＝６ｍ
Ｗで形成された記録マーク列から、「１Ｔ符号」に対応
する再生信号振幅（１Ｔ）と「１０Ｔ符号」に対応する
再生信号振幅（１０Ｔ）とを検出し（ステップＳ１
９）、それらの振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）を計算する（ス
テップＳ２０）。そして、その振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）
の値が０．８であるか否かを判断する（ステップＳ２
１）。

【０１７９】振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が０．８でな
ければ、次のパワーの再生データに切り換え（ステップ
Ｓ２２）、ステップＳ１９〜Ｓ２１の手順を繰り返す。
すなわち、次のパワー値であるＰｗ１＝６．１ｍＷで形
成された記録マーク列から、「１Ｔ符号」に対応する再
生信号振幅（１Ｔ）と「１０Ｔ符号」に対応する再生信
号振幅（１０Ｔ）とを検出し（ステップＳ１９）、それ
らの振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）を計算した後（ステップＳ
２０）、その振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が０．８であ
るか否かを判断する（ステップＳ２１）。

【０１８０】こうして、振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）の値が
０．８になるまで同じステップを繰り返す。振幅比（１
０Ｔ／１Ｔ）の値が０．８になると、その時の記録パワ
ー値Ｐｗ１’（＝１２ｍＷ）を最適な記録パワー値とし
て当該光ディスク装置のメモリに記憶する（ステップＳ
２３）。

【０１８１】以上のようにして最適な記録パワー値Ｐｗ
１’を求めた後、第１の試し書き領域にパワーを結晶化
レベルとした連続レーザ光（ＤＣ光）を照射し、上記の
試し書きにより記録された記録マークを消去した（ステ
ップＳ２４）。しかし、この消去動作は必ずしも必要で
はない。

【０１８２】次に、図１１に示すように、予め決められ
ている光ディスク１４の第２試し書き領域の先頭位置
に、レーザ光のスポットが移動する（ステップＳ２
５）。そして、光ディスク装置内のメモリから、記録パ
ワーＰｗ４の記録範囲および記録パワーの刻みに関する
情報を再生する（ステップＳ２６）。この実施例では、
記録開始パワーは６ｍＷであるから、ここではＰｗ４を
６ｍＷに設定する（ステップＳ２７）。

【０１８３】次に、最密記録符号列である「１Ｔ符号
列」と最疎記録符号列である「１０Ｔ符号列」とを用い
た、図２の記録波形からなる試し書きパターンを、光デ
ィスク１４の第２試し書き領域に記録する（ステップＳ
２８）。最疎記録符号である「１０Ｔ符号列」の高パワ
ーレベルＰｗ１は、図１０のステップで見出された最適
な記録パワー値１２ｍＷに固定する。また、低パワーレ
ベルＰｗ２は、再生パワーレベルＰｒに固定し、中間パ
ワーレベルＰｗ３は消去パワーレベル６ｍＷに固定す
る。

【０１８４】次に、Ｐｗ４の値が２０ｍＷであるか否か
を判断し（ステップＳ２９）、２０ｍＷでなければ、現
在のＰｗ４の値（６ｍＷ）に０．２ｍＷを加えてから
（ステップＳ３０）、再度、同じ試し書きパターンを第
２試し書き領域に記録する（ステップＳ２８）。

【０１８５】こうして、Ｐｗ４の値を６ｍＷから２０ｍ
Ｗまで０．２ｍＷ刻みで増加させながら、同じ試し書き
パターンを第２試し書き領域に記録する（ステップＳ２
９）。これが２回目の試し書きである。

【０１８６】続いて、第２試し書き領域にＰｗ４＝６ｍ
Ｗで形成された記録マーク列から、「１Ｔ符号列」に対
応する再生信号振幅の中心レベル（Ｒ−１Ｔ）と「１０
Ｔ符号列」に対応する再生信号振幅の中心レベル（Ｒ−
１０Ｔ）とを検出し（ステップＳ３１）、それらの差Δ
Ｖ＝（Ｒ−１Ｔ）−（Ｒ−１０Ｔ）を計算する（ステッ
プＳ３２）。そして、その差ΔＶの値が正であるか否か
を判断する（ステップＳ３３）。

【０１８７】中心レベルの差ΔＶ（１０Ｔ／１Ｔ）の値
が正でなければ、次のパワーの再生データに切り換え
（ステップＳ３４）、ステップＳ３１〜Ｓ３３の手順を
繰り返す。すなわち、次のパワー値であるＰｗ４＝６．
２ｍＷで形成された記録マーク列から、「１Ｔ符号列」
に対応する再生信号振幅の中心レベル（Ｒ−１Ｔ）と
「１０Ｔ符号列」に対応する再生信号振幅の中心レベル
（Ｒ−１０Ｔ）とを検出し（ステップＳ３１）、それら
の差ΔＶを計算した後（ステップＳ３２）、そのΔＶの
値が正であるか否かを判断する（ステップＳ３３）。

【０１８８】こうして、中心レベル差ΔＶの値が正にな
るまで同じステップを繰り返す。ΔＶの値が正になる
と、その時の記録パワーＰｗ４’（＝１０ｍＷ）を最適
な記録パワー値として当該光ディスク装置のメモリに記
憶する（ステップＳ３５）。こうして得た記録パワーＰ
ｗ４’の値は、ΔＶの値が負から正に変わる点の付近で
最も０に近い値である。

【０１８９】以上のようにして最適な記録パワー値Ｐｗ
４’を求めた後、第２の試し書き領域にパワーを結晶化
レベルとした連続レーザ光（ＤＣ光）を照射し、上記の
試し書きにより記録された記録マークを消去した（ステ
ップＳ３６）。しかし、この消去動作は必ずしも必要で
はない。

【０１９０】続いて、図１２に示すように、予め決めら
れている光ディスク１４の第３試し書き領域の先頭位置
に、レーザ光のスポットを移動する（ステップＳ３
７）。そして、光ディスク装置内のメモリから、記録パ
ワーＰｗ５の記録範囲および記録パワーの刻みに関する
情報を再生する（ステップＳ３８）。この実施例では、
記録開始パワーは６ｍＷであるから、ここではＰｗ５を
６ｍＷに設定する（ステップＳ３９）。

【０１９１】次に、最長記録符号である「１０Ｔ符号」
の前端と後端のパワーレベルをその中間のパワーレベル
とは異ならせた、図３の記録波形からなる試し書きパタ
ーンを、光ディスク１４の第３試し書き領域に記録する
（ステップＳ４０）。この時、「１０Ｔ符号」の高パワ
ーレベルＰｗ１は、図１０のステップで見出された最適
な記録パワー値１２ｍＷに固定し、低パワーレベルＰｗ
２は再生パワーレベルＰｒに固定し、中間パワーレベル
Ｐｗ３は消去パワーレベル（６ｍＷ）に固定する。ま
た、「１０Ｔ符号」の後端のパワーレベルＰｗ６は３ｍ
Ｗに固定する。

【０１９２】次に、Ｐｗ５の値が２０ｍＷであるか否か
を判断し（ステップＳ４１）、２０ｍＷでなければ、現
在のＰｗ５の値（６ｍＷ）に０．２ｍＷを加えてから
（ステップＳ４２）、再度、同じ試し書きパターンを第
３試し書き領域に記録する（ステップＳ４０）。

【０１９３】こうして、Ｐｗ５の値を６ｍＷから２０ｍ
Ｗまで０．２ｍＷ刻みで増加させながら、同じ試し書き
パターンを第３試し書き領域に記録する（ステップＳ４
０〜４２）。これが３回目の試し書きである。

【０１９４】続いて、第３試し書き領域にＰｗ５＝６ｍ
Ｗで形成された記録マーク列から、「１０Ｔ符号」に対
応する再生信号を取り出し、その再生信号から記録マー
クの前縁のエッジシフト量（Ｔ１）を検出する（ステッ
プＳ４３）。そして、エッジシフト量（Ｔ１）の値が最
小であるか否かを判断する（ステップＳ４４）。

【０１９５】エッジシフト量（Ｔ１）の値が最小でなけ
れば、次のパワーの再生データに切り換え（ステップＳ
４５）、ステップＳ４３〜Ｓ４４の手順を繰り返す。す
なわち、次のパワー値であるＰｗ５＝６．２ｍＷで形成
された記録マーク列の前縁のエッジシフト量（Ｔ１）を
検出し（ステップＳ４３）、その（Ｔ１）の値が最小で
あるか否かを判断する（ステップＳ４４）。

【０１９６】こうして、記録マーク列の前縁のエッジシ
フト量（Ｔ１）が最小になるまで同じステップを繰り返
す。エッジシフト量（Ｔ１）が最小になると、その時の
記録パワーＰｗ５’（＝１０ｍＷ）を最適な記録パワー
値として当該光ディスク装置のメモリに記憶する（ステ
ップＳ４６）。

【０１９７】以上のようにして最適な記録パワー値Ｐｗ
５’を求めた後、第３の試し書き領域にパワーを結晶化
レベルとした連続レーザ光（ＤＣ光）を照射し、上記の
試し書きにより記録された記録マークを消去する（ステ
ップＳ４７）。しかし、この消去動作は必ずしも必要で
はない。

【０１９８】続いて、図１３に示すように、予め決めら
れている光ディスク１４の第４試し書き領域の先頭位置
に、レーザ光のスポットを移動する（ステップＳ４
８）。そして、光ディスク装置内のメモリから、記録パ
ワーＰｗ６の記録範囲および記録パワーの刻みに関する
情報を再生する（ステップＳ４９）。この実施例では、
記録開始パワーは０ｍＷであるから、ここではＰｗ６を
０ｍＷに設定する（ステップＳ５０）。

【０１９９】次に、図１２の場合と同じ図３の記録波形
からなる試し書きパターンを、光ディスク１４の第４試
し書き領域に記録する（ステップＳ５１）。この時、
「１０Ｔ符号」の高パワーレベルＰｗ１は、図１０のス
テップで見出された最適な記録パワー値１２ｍＷに固定
し、低パワーレベルＰｗ２は再生パワーレベルＰｒに固
定し、中間パワーレベルＰｗ３は消去パワーレベル６ｍ
Ｗに固定する。また、「１０Ｔ符号」の前端のパワーレ
ベルＰｗ５は１０ｍＷに固定する。

【０２００】次に、Ｐｗ６の値が１２ｍＷであるか否か
を判断し（ステップＳ５２）、１２ｍＷでなければ、現
在のＰｗ６の値（０ｍＷ）に０．２ｍＷを加えてから
（ステップＳ５３）、再度、同じ試し書きパターンを第
４試し書き領域に記録する（ステップＳ５１）。

【０２０１】こうして、Ｐｗ６の値を０ｍＷから１２ｍ
Ｗまで０．２ｍＷ刻みで増加させながら、同じ試し書き
パターンを第４試し書き領域に記録する（ステップＳ５
１〜５３）。これが４回目の試し書きである。

【０２０２】続いて、第４試し書き領域にＰｗ６＝０ｍ
Ｗで形成された記録マーク列から、「１０Ｔ符号」に対
応する再生信号を取り出し、その再生信号から記録マー
クの後縁のエッジシフト量（Ｔ２）を検出する（ステッ
プＳ５４）。そして、エッジシフト量（Ｔ２）の値が最
小であるか否かを判断する（ステップＳ５５）。

【０２０３】エッジシフト量（Ｔ２）の値が最小でなけ
れば、次のパワーの再生データに切り換え（ステップＳ
５６）、ステップＳ５４〜Ｓ５５の手順を繰り返す。す
なわち、次のパワー値であるＰｗ６＝０．２ｍＷで形成
された記録マーク列の後縁のエッジシフト量（Ｔ２）を
検出し（ステップＳ５４）、その（Ｔ２）の値が最小で
あるか否かを判断する（ステップＳ５５）。

【０２０４】こうして、記録マーク列の後縁のエッジシ
フト量（Ｔ２）が最小になるまで同じステップを繰り返
す。エッジシフト量（Ｔ２）が最小になると、その時の
記録パワーＰｗ６’（＝３ｍＷ）を最適な記録パワー値
として当該光ディスク装置のメモリに記憶する（ステッ
プＳ５７）。

【０２０５】以上のようにして最適な記録パワー値Ｐｗ
６’を求めた後、第４の試し書き領域にパワーを結晶化
レベルとした連続レーザ光（ＤＣ光）を照射し、上記の
試し書きにより記録された記録マークを消去する（ステ
ップＳ５８）。しかし、この消去動作は必ずしも必要で
はない。

【０２０６】以上の動作を経て、当該光ディスク１４に
対する最適な記録パワー値Ｐｗ１’、Ｐｗ４’、Ｐｗ
５’およびＰｗ６’が求められる。すると、試し書き終
了信号が出力される（ステップＳ５９）ので、その信号
を受けて、当該光ディスク装置は正規の記録・再生動作
を開始する（ステップＳ６０）。

【０２０７】上記第１〜第４の試し書き領域は、１箇所
ずつ設けてもよいが、確実な値を得るためには、それら
試し書き領域を３箇所（あるいはそれ以上）ずつ設ける
のが好ましい。また、上記第１〜第４の試し書き動作
は、同じ試し書きパターンをそれぞれ５回（あるいはそ
れ以上）繰り返して記録し、それによって形成された記
録マークを再生して得られた値の平均値を用いるのが好
ましい。

【０２０８】上記の説明では、上記第１〜第４の試し書
き領域が、それぞれ異なる場所に設けられているとして
いるが、予め決められた同一範囲内に設けてもよい。そ
の場合には、先の試し書き動作が終了する度にその領域
に記録された記録マークを消去するのが好ましい。

【０２０９】（変形例）図１０〜図１３に示した手順で
は、レーザパワーＰｗ１、Ｐｗ４、Ｐｗ５およびＰｗ６
について、その値を所定値から少しずつ増加させながら
所定の試し書きパターンを記録してから順次、最適なレ
ーザパワー値を求めているが、この発明はこのような方
法に限定されない。

【０２１０】例えば、レーザパワーＰｗ１、Ｐｗ２、Ｐ
ｗ３、Ｐｗ４、Ｐｗ５およびＰｗ６のすべてについて、
値を種々変えながら所定の試し書きパターンを記録し、
その後、それらの全てのレーザパワー値についての再生
信号波形から最適なレーザパワー値Ｐｗ１’、Ｐｗ
２’、Ｐｗ３’、Ｐｗ４’、Ｐｗ５’およびＰｗ６’を
決定するようにしてもよい。この場合、記録パルスの幅
を変化させてもよい。

【０２１１】この場合のレーザパワーＰｗ１、Ｐｗ２、
Ｐｗ３、Ｐｗ４、Ｐｗ５およびＰｗ６の範囲および刻み
量としては、例えば以下の（ａ）〜（ｆ）ようなものが
挙げられる。

【０２１２】（ａ）Ｐｗ１：６ｍＷ〜２０ｍＷの範囲
で、０．１ｍＷ刻みで変化Ｐｗ２：１．５ｍＷ（固定）、Ｐｗ３：６ｍＷ（固
定）、Ｐｗ４：１０ｍＷ（固定）、Ｐｗ５：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ６：３ｍＷ（固定）（ｂ）Ｐｗ２：０ｍＷ〜１２ｍＷの範囲で、０．２ｍ
Ｗ刻みで変化Ｐｗ１：１２ｍＷ（固定）、Ｐｗ３：６ｍＷ（固
定）、Ｐｗ４：１０ｍＷ（固定）、Ｐｗ５：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ６：３ｍＷ（固定）（ｃ）Ｐｗ３：３ｍＷ〜１２ｍＷの範囲で、０．２ｍ
Ｗ刻みで変化Ｐｗ１：１２ｍＷ（固定）、Ｐｗ２：１．５ｍＷ（固
定）、Ｐｗ４：１０ｍＷ（固定）、Ｐｗ５：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ６：３ｍＷ（固定）（ｄ）Ｐｗ４：６ｍＷ〜２０ｍＷの範囲で、０．２ｍ
Ｗ刻みで変化Ｐｗ１：１２ｍＷ（固定）、Ｐｗ２：１．５ｍＷ（固
定）、Ｐｗ３：６ｍＷ（固定）、Ｐｗ５：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ６：３ｍＷ（固定）（ｅ）Ｐｗ５：６ｍＷ〜２０ｍＷの範囲で、０．２ｍ
Ｗ刻みで変化Ｐｗ１：１２ｍＷ（固定）、Ｐｗ２：１．５ｍＷ（固
定）、Ｐｗ３：６ｍＷ（固定）、Ｐｗ４：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ６：３ｍＷ（固定）（ｆ）Ｐｗ６：０ｍＷ〜１２ｍＷの範囲で、０．２ｍ
Ｗ刻みで変化Ｐｗ１：１２ｍＷ（固定）、Ｐｗ２：１．５ｍＷ（固
定）、Ｐｗ３：６ｍＷ（固定）、Ｐｗ４：１０ｍＷ
（固定）、Ｐｗ５：１０ｍＷ（固定）上記（ａ）〜（ｆ）において、パワーレベルＰｗ１、Ｐ
ｗ４、Ｐｗ３、Ｐｗ２はＰｗ１＞Ｐｗ４＞Ｐｗ３＞Ｐｗ２の条件を満たすように設定する。Ｐｗ５とＰｗ６は任意
である。

【０２１３】以上述べたように、図１０〜図１３の試し
書き手順によれば、４回の試し書きにより、使用する光
ディスク１４に応じて最適なレーザパワーを求めること
ができる。このため、多数回書き換えによる光ディスク
１４の記録層３または３’の物質移動だけでなく、その
光ディスク１４から得られる再生信号波形の中心レベル
のゆらぎをも防止することができる。また、マークエッ
ジ記録で情報を記録する場合においても、再生信号のジ
ッターを抑制することができる。

【０２１４】よって、この実施例の試し書き方法によれ
ば、光ディスク１４の記録感度の変動やその環境温度の
変動があっても、最適な状態で情報を記録することがで
きる。

【０２１５】換言すれば、この実施例の試し書き方法に
よれば、光ディスク１４の交換に伴う記録層３または
３’の層厚の変動やその環境温度の変動、あるいは当該
光ディスク装置の特性の変化に起因する記録感度の変動
などによる影響をなくすことができるため、情報を安定
して記録することが可能となる。

【０２１６】（試し書き動作を行なうタイミング）上記
の試し書き動作は、少なくとも、光ディスク装置の立ち
上げ時および光ディスクを交換した時に行なえば足り
る。しかし、同じ光ディスク１４を長時間（例えば２０
時間以上）連続使用する場合には、その途中で所定時間
ごとに行なうのが好ましい。また、使用中に環境温度や
再生特性が大きく変化した場合には、その変化した時点
で改めて試し書きを行なうのが好ましい。

【０２１７】例えば、同じ光ディスク１４を２０時間、
連続して使用した場合、上記のような試し書き動作を通
じて、光ディスク装置の立ち上げ時（あるいは光ディス
ク１４の交換時）に求めたレーザパワーの最適値Ｐｗ
１’、Ｐｗ２’、Ｐｗ３’、Ｐｗ４’、Ｐｗ５’および
Ｐｗ６’の比率と同じ比率のレーザパワーで、図６の記
録波形からなる試し書きパターンを記録し、「１Ｔ符号
列」の中心レベル（Ｒ−１Ｔ）と「１０Ｔ符号列」の中
心レベル（Ｒ−１０Ｔ）がほぼ等しくなる（ΔＶ≒０）
ように、レーザパワーの最適値Ｐｗ１’を設定し直す。
その場合、例えば、最長記録符号に対応する「１０Ｔ符
号」の高レベルパワーＰｗ１の値を、７ｍＷから１７ｍ
Ｗの範囲で、０．１ｍＷ刻みで変化させる。

【０２１８】周囲温度が急激に上昇した場合には、半導
体レーザ１２のパワーが低下するため、一般に、最適な
レーザパワー値は上昇する前の設定パワーよりも若干高
くなる。

【０２１９】（記録層）この実施例では、記録層３、
３’としてＧｅ₂₂Ｓｂ₂₂Ｔｅ₅₆の組成を持つ相変化型記
録層を用いたが、これ以外の相変化型記録層でも実施可
能である。また、相変化型記録層以外の記録層、例えば
光磁気記録層を用いても、記録層の物質移動以外の点で
同様の効果が得られる。光磁気記録層では、例えば、Ｔ
ｂ−Ｆｅ−Ｃｏ系の光磁気記録層が好適に使用できる。

【０２２０】［実施例２］（情報記録媒体）この実施例では、情報記録媒体として
図１４に示す書き換え可能型光ディスクを使用する。こ
の光ディスクは次のようにして製造したものである。

【０２２１】まず、直径３．５インチ、厚さ０．６ｍｍ
のポリカーボネート基板２４上に、マグネトロンスパッ
タリング法によって厚さ約１２５ｎｍのＺｎＳ−ＳｉＯ
₂からなる保護層２５を形成した。この基板２４は、表
面にサンプルサーボ方式に対応するピットを有してい
る。

【０２２２】次に、Ｃｒ₁₀Ｇｅ₆Ｓｂ₂₄Ｔｅ₆₀の組成の
記録層２６を約２０ｎｍの厚さに形成し、その上にさら
に、ＺｎＳ−ＳｉＯ₂よりなる中間層２７を約２０ｎｍ
の厚さに形成した。さらに、Ａｌ−Ｔｉ合金よりなる反
射層２８を中間層２７の上に約１００ｎｍの厚さに形成
した。これらの層２５、２６、２７の形成は同一のスパ
ッタリング装置内で順次、行なった。その後、前記スパ
ッタリング装置の外で、反射層２８の上に紫外線硬化樹
脂層２９を塗布し、一方のディスク部材を得た。他
方、上記と同じ方法で、上記と同じポリカーボネート基
板２４’上に、上記と同じ層構造を形成した。すなわ
ち、基板２４’上に、マグネトロンスパッタリング法に
よってＺｎＳ−ＳｉＯ₂保護層２５’、Ｃｒ₁₀Ｇｅ₆Ｓｂ
₂₄Ｔｅ₆₀₆記録層２６’、ＺｎＳ−ＳｉＯ₂中間層２７’
およびＡｌ−Ｔｉ反射層２８’を順次、形成した。その
後、前記スパッタリング装置の外で反射層２８’の上に
紫外線硬化樹脂層２９’を塗布し、他方のディスク部材
を得た。

【０２２３】その後、紫外線硬化樹脂層２９、２９’を
対向してホットメルト接着剤３０を介して密着させ、両
ディスク部材の接着を行なった。こうして、図１４に示
す書き換え可能型光ディスクを得た。この光ディスクの
記録層２６、２６’は相変化型である。

【０２２４】この実施例２では、実施例１で使用したの
と同じ光ディスク装置を用いた。

【０２２５】この実施例２で用いる光ディスクの記録層
２６、２６’は、記録時のレーザパワーの大きさに応じ
て多数回書き換えによる再生信号波形の歪みの方向が異
なる特性を示す。すなわち、初期結晶化の後、多数回書
き換えを行なうと、レーザパワーが最適値よりも低い場
合には、レーザビーム・スポットの移動方向とは逆の方
向へ記録層２６、２６’が物質移動し（これを「後方流
動」という）、レーザパワーが最適値よりも高い場合に
は、レーザビーム・スポットの移動方向と同じ方向へ記
録層２６、２６’が物質移動する（これを「前方流動」
という）。

【０２２６】このような物質移動による記録層２６、２
６’の厚さの変化により、記録層２６、２６’の同一場
所に多数回レーザ光を照射した場合、記録マークの反射
率の変動により、例えば、後方流動の場合には再生信号
波形が図１５（ａ）に示すように右側に傾斜し、前方流
動の場合には再生信号波形が図１５（ｂ）に示すように
左側に傾斜する。このような波形の変化は、再生信号レ
ベルの変化を引き起こし、再生信号エラーの原因とな
る。

【０２２７】しかし、この実施例２で用いたような光デ
ィスクでは、多数回書き換え時の物質移動方向すなわち
再生信号波形の歪みの方向がレーザパワーの大きさによ
って異なることを利用すれば、以下のようにして記録時
のレーザパワーを制御することにより、記録層２６、２
６’の物質移動を防止することが可能となる。

【０２２８】（試し書き）まず、各記録符号に対応する
記録信号波形の最適なレーザパワー値の比（例えば、図
６に示した記録波形のＰｗ１’〜Ｐｗ６’の値の比）を
求めた。また、図１に示す試し書き用の記録信号波形に
ついて、最長記録符号である「１０Ｔ符号」と最短記録
符号である「１Ｔ符号」の再生信号の振幅の比（１０Ｔ
／１Ｔ）の値が１に近くなるレーザパワーの値と、「１
０Ｔ符号」の多数回書き換えにより再生信号波形の歪み
を生じにくいレーザパワーの最適値Ｐｗ１’との差（＋
α）を求めた。その後、こうして求めたレーザパワーの
比とレーザパワー差（＋α）とを、使用する光ディスク
のコントロールトラックに記録した。

【０２２９】そして、光ディスク装置の立ち上げ時また
は光ディスクの交換時に、図１の記録波形を用いて実施
例１で述べたのと同じ試し書き方法により、再生信号の
振幅比（１０Ｔ／１Ｔ）が１に近い値になるレーザパワ
ー値を求めた。この試し書きの工程では、高レベルパワ
ーＰｗ１は、７ｍＷ〜１７ｍＷの範囲で、０．１ｍＷ刻
みで変化させた。また、Ｐｗ２は１．０ｍＷに固定し、
Ｐｗ３は７ｍＷに固定した。

【０２３０】また、それと同時に、再生信号の振幅比
（１０Ｔ／１Ｔ）が１に近い値になるレーザパワー値に
（＋α）の値を加え、その値を最適値Ｐｗ１’として、
光ディスク装置のメモリに記憶しなおした。

【０２３１】その後、通常の方法によりこの光ディスク
に所望の情報を記録したところ、多数回書き換えによる
再生信号の波形の歪みがなく、最適な状態で記録できた
ことが分かった。

【０２３２】長時間使用時には、所定の時間（例えば１
０時間）ごとに同様な試し書き動作を行なうのが好まし
い。また、使用中に再生特性が変化した時あるいは環境
温度が大きく変化した時にも、同様な試し書き動作を行
なうのが好ましい。

【０２３３】この実施例では、一つの記録符号に対して
一つの記録マークが対応しており、各記録符号に対する
記録マークは、記録符号を複数のパルスに分割してもし
なくても、同様な効果が得られた。

【０２３４】［実施例３］この実施例３でも、実施例２
で述べた、記録時のレーザパワーを制御することによ
り、多数回書き換えによる再生信号波形の歪みを生じに
くくできる光ディスクを用いた。

【０２３５】（試し書き動作）この実施例３では、試し
書き動作により、単一周波数（ここでは、ｄｕｔｙ：５
０％、パルス分割なしとした）で記録したときの２次高
調波の値が最小となる、またはそのときの消去比が最大
となるレーザパワーを求め、それによって最適なレーザ
パワーを見出した。

【０２３６】まず、多数回書き換えにより再生信号波形
の歪みを生じにくいレーザパワーＰｗ１’の値を求め
た。他方、ある線速度において単一周波数の信号で記録
を行なったときの２次高調波の値が最小または消去比が
最大となるレーザパワーを求めた。次に、こうして求め
た両レーザパワーの差を求め、これを光ディスクのコン
トロールトラックに記録した。

【０２３７】その後、試し書き方法により、この光ディ
スクにおいて２次高調波の値が最小となるまたは消去比
が最大となる記録パワー値を求め、このパワー値から多
数回書き換えにより再生信号波形の歪みがほぼ最小にな
る記録パワー値を求めた。

【０２３８】ここでは、２次高調波が最小となる記録パ
ワーを求める方法について説明する。消去比が最大とな
る記録パワー値を求める場合も、これと同様である。線
速度１０ｍ／ｓ、記録周波数３ＭＨｚにおける２次高調
波の値が最小となる記録パワー値を測定すると、１３ｍ
Ｗであった。他方、最長記録符号「１０Ｔ符号」に対応
する記録波形での多数回書き換えにより再生信号波形の
歪みがほぼ最小になる記録パワー値は、１２．５ｍＷで
あった。そこで、これら両パワー値の差（＝０．５ｍ
Ｗ）を光ディスクのコントロールトラックに記録した。

【０２３９】その後、光ディスク装置の立ち上げ時など
に、線速度１０ｍ／ｓ、記録周波数３ＭＨｚの条件で、
レーザパワーを種々変えて情報を記録し、２次高調波の
値が最小となるパワー値を求めた。その際、試し書きの
ためのレーザパワーＰｗ１は、４ｍＷ〜２０ｍＷの範囲
で、０．１ｍＷ刻みで変化させた。

【０２４０】２次高調波の最小値を見つける方法として
は、スペクトルアナライザのようにフーリエ変換を行な
う回路を用いる方法や、前記単一周波数（ｄｕｔｙ：５
０％）で記録した信号を再生し、その再生信号を交流増
幅した後に振幅の中心レベルの上側と下側で個別に包絡
線検波する方法がある。後者の方法では、この包絡線検
波の出力を帯域フィルタに通して振幅成分を抽出した
後、それぞれの振幅ピーク値を検出する。そして、検出
した振幅ピーク値が等しくなれば、ｄｕｔｙ：５０％で
２次歪なし（すなわち、２次高調波が最小）と判断す
る。

【０２４１】例えば、環境温度が上昇して半導体レーザ
の出力が小さくなったため、２次高調波の値が最小とな
るパワーが１２．５ｍＷに変化したとすると、記録層の
物質移動方向が釣り合う最適なレーザパワーは１２．０
ｍＷとなり、０．５ｍＷだけ低下する。そこで、最適な
高レベルのレーザパワー値Ｐｗ１’を１２．５ｍＷから
１２．０ｍＷに変更する。

【０２４２】この実施例３で用いた光ディスクでは、多
数回書き換えにより再生信号波形の歪みを生じにくい記
録パワー値と、上記の線速度において上記の単一周波数
信号で記録したときの２次高調波の値が最小となる記録
パワー値とがほぼ一致する。このため、光ディスクごと
に予め、物質移動方向が釣り合うパワーの値と２次高調
波の値が最小となるパワーの差の値を記録しておく必要
がないという利点がある。

【０２４３】（モニター領域）この実施例３では、多数
回書き換えにより再生信号波形の歪みを生じにくいレー
ザパワーＰｗ１が、何らかの理由により変化したことを
検知するために、光ディスクに記録層の物質移動による
再生信号レベル（すなわち反射率）の変化を検知するモ
ニター領域を設けるのが好ましい。書き換えの度に、こ
のモニター領域の同一場所に最長記録符号に対応する
「１０Ｔ符号」を記録・再生することにより、多数回書
き換えによって再生信号の波形に歪みが生じたことを知
ることができる。

【０２４４】前記モニター領域は、光ディスクに複数箇
所（例えば５箇所）設けるのが好ましい。

【０２４５】この実施例３では、例えば、最適な記録パ
ワーが光ディスクの感度変化などによって変化した場
合、同じ記録パワーで多数回書き換えを行なうと記録層
の物質移動が生じ始め、再生信号の反射率レベルがプラ
スまたはマイナスのどちらかに大きく変化する。このよ
うな反射率レベルの変化を検知すると、前記試し書き動
作を実行して新たに最適なレーザパワーを求め直す。そ
の結果、物質移動による大きな反射率の変化を防ぐこと
が可能となる。

【０２４６】

【発明の効果】この発明の第１の情報の記録方法および
第１の情報記録再生装置によれば、相変化型の情報記録
媒体において多数回書き換えによる記録層の物質移動が
防止され、最適な状態で情報を記録できる。

【０２４７】この発明の第２の情報の記録方法および第
２の情報記録再生装置によれば、情報記録媒体から得た
再生信号波形の中心レベルのゆらぎを防止できる。

【０２４８】この発明の第３の情報の記録方法および第
３の情報記録再生装置によれば、マークエッジ記録にお
いて再生信号のジッターを抑制することができる。

【０２４９】この発明の第４の情報の記録方法および第
４の情報記録再生装置によれば、一つの記録符号に対し
て一つの記録マークが対応する記録方式の場合でも、相
変化型の情報記録媒体において多数回書き換えによる記
録層の物質移動を防止して最適な状態で情報を記録でき
る。

【０２５０】この発明の第１〜第４の情報の記録方法お
よび第１〜第４の情報記録再生装置によれば、装置の立
ち上げ時や情報記録媒体の交換時などに前記試し書きを
行なえば、情報記録媒体の記録感度の変動やその環境温
度の変動があっても、常に最適な状態で情報を記録でき
る。また、使用する変調方式に対応した記録波形を用い
て最適な記録条件を検出できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）はこの発明の情報の記録方法において
試し書きに使用する記録信号波形の一例を示し、（ｂ）
はその記録信号波形により記録層に形成される記録マー
クを示し、（ｃ）はその記録マークからの再生信号を示
す。

【図２】（ａ）はこの発明の情報の記録方法において
試し書きに使用する記録信号波形の他の例を示し、
（ｂ）はその記録信号波形により記録層に形成される記
録マークを示し、（ｃ）はその記録マークからの再生信
号を示す。

【図３】（ａ）はこの発明の情報の記録方法において
試し書きに使用する記録信号波形の他の例を示す。

【図４】（ａ）はこの発明の情報の記録方法において
試し書きに使用する記録信号波形の他の例を示し、
（ｂ）はその記録信号波形により記録層に形成される記
録マークを示し、（ｃ）はその記録マークからの再生信
号を示す。

【図５】この発明の情報の記録方法の試し書き動作の
手順を示すフローチャートである。

【図６】（ａ）はこの発明の情報の記録方法において
試し書きに使用する記録信号波形の他の例を示し、
（ｂ）はその記録信号波形により記録層に形成される記
録マークを示し、（ｃ）はその記録マークからの再生信
号を示す。

【図７】この発明の情報の記録方法の第１実施例に使
用する情報記録媒体の断面図である。

【図８】この発明の情報の記録方法の第１実施例に使
用する情報記録再生装置の機能ブロック図である。

【図９】この発明の情報の記録方法の第１実施例の試
し書きによって得られた、レーザパワーＰｗ１、Ｐ４お
よびＰｗ５と再生信号電圧との関係を示すグラフであ
る。

【図１０】この発明の情報の記録方法の第１実施例の
試し書き動作の手順の詳細を示すフローチャートであ
る。

【図１１】この発明の情報の記録方法の第１実施例の
試し書き動作の手順の詳細を示すフローチャートで、図
１０の続きである。

【図１２】この発明の情報の記録方法の第１実施例の
試し書き動作の手順の詳細を示すフローチャートで、図
１１の続きであるる。

【図１３】この発明の情報の記録方法の第１実施例の
試し書き動作の手順の詳細を示すフローチャートで、図
１２の続きである。

【図１４】この発明の情報の記録方法の第２、第３実
施例に使用する情報記録媒体の断面図である。

【図１５】この発明の情報の記録方法の第２、第３実
施例で使用する情報記録媒体の再生信号波形の概略を示
す図である。

【符号の説明】

１、１’ ポリカーボネート基板２、２’ ＺｎＳ−ＳｉＯ₂保護層３、３’ Ｇｅ₂₂Ｓｂ₂₂Ｔｅ₅₆記録層４、４’ ＺｎＳ−ＳｉＯ₂中間層５、５’ Ａｌ−Ｃｕ反射層６、６’ 紫外線硬化樹脂保護層７ホットメルト接着剤層８変調器９符号器１０記録パルス生成器１１レーザ駆動器１２半導体レーザ１３光学ヘッド１４ディスク１５受光器１６再生信号増幅器１７波形等化器１８整形器１９弁別器２０複号器２１試し書き器２２制御器２３比較器２４、２４’ ポリカーボネート基板２５、２５’ ＺｎＳ−ＳｉＯ₂保護層２６、２６’ Ｃｒ₁₀Ｇｅ₆Ｓｂ₂₄Ｔｅ₆₀記録膜２７、２７’ ＺｎＳ−ＳｉＯ₂中間層２８、２８’ Ａｌ−Ｔｉ反射層２９、２９’ 紫外線硬化樹脂保護層３０ホットメルト接着剤層

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者峯邑浩行東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者伏見哲也東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地株式会社日立製作所中央研究所内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】所定の信号変調方式により変調したエネ
ルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記録
する方法において、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求める試し
書き動作を含み、その試し書き動作は、前記エネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定
して、前記信号変調方式における最短あるいはそれに近
い長さの第１記録符号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎ
は２以上の正の整数）あるいはそれに近い長さの第２記
録符号とを前記情報記録媒体に記録する工程と、前記情報記録媒体に記録された前記第１記録符号と前記
第２記録符号とを再生して、前記第１記録符号に対応す
る第１再生信号と前記第２記録符号に対応する第２再生
信号とを得る工程と、前記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅との
比が所定値となる場合の前記エネルギービームのパワー
値を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エ
ネルギービームの最適な記録パワー値を決定する工程と
を備えていることを特徴とする情報の記録方法。
【請求項２】前記エネルギービームの最適な記録パワ
ー値を、前記第２再生信号の振幅と前記第１再生信号の
振幅との比が所定値となる場合のパワー値に等しくする
請求項１に記載の情報の記録方法。
【請求項３】前記エネルギービームの最適な記録パワ
ー値を、前記第２再生信号の振幅と前記第１再生信号の
振幅との比が所定値となる場合のパワー値から所定値だ
けずれた値に等しくする請求項１に記載の情報の記録方
法。
【請求項４】前記第１再生信号の振幅をＡ１、前記第
２再生信号の振幅をＡ２とすると、それら振幅の比（Ａ
２／Ａ１）の所定値が０．６以上、１．０以下の範囲内
にある請求項１〜３のいずれか記載の情報の記録方法。
【請求項５】前記第２記録符号が複数の基本パルスの
列から構成され、且つそれら基本パルス列により前記情
報記録媒体に形成されるスポット状マークが、前記第２
再生信号では１つのパルス波形として検出されるよう
に、前記エネルギービームのパワーの所定値を設定する
請求項１〜４のいずれかに記載の情報の記録方法。
【請求項６】前記情報記録媒体がオーバーライト可能
であり、前記第１記録符号に対応する記録パルスが、記
録パワーレベルに保持される第１期間と、それに続く消
去パワーレベルよりも低いパワーレベルに保持される第
２期間とを含んでいる請求項１〜５のいずれかに記載の
情報の記録方法。
【請求項７】前記試し書き動作が、少なくとも前記情
報記録媒体についての記録動作の開始時および前記情報
記録媒体の交換時に実施される請求項１〜６のいずれか
記載の情報の記録方法。
【請求項８】前記情報記録媒体が、多数回書き換えに
よる再生信号のレベル変化を検出するためのモニター領
域を有しており、しかも、情報を記録する前に前記モニ
ター領域に前記第１記録符号を記録してから再生し、得
られた再生信号のレベルが所定範囲から外れていれば前
記試し書き動作を行なう請求項１〜７のいずれかに記載
の情報の記録方法。
【請求項９】前記第２記録符号として、前記信号変調
方式における最長記録符号を用いる請求項１〜８のいず
れかに記載の情報の記録方法。
【請求項１０】所定の信号変調方式により変調したエ
ネルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記
録する方法において、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求める試し
書き動作を含み、その試し書き動作は、前記エネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定
して、前記信号変調方式における最短あるいはそれに近
い長さの第１記録符号の繰り返しからなる第１記録波形
と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整数）
あるいはそれに近い長さの第２記録符号の繰り返しから
なる第２記録波形とを前記情報記録媒体に記録する工程
と、前記情報記録媒体に記録された前記第１記録波形と前記
第２記録波形とを再生して、前記第１記録波形に対応す
る第１再生信号波形と前記第２記録波形に対応する第２
再生信号波形とを得る工程と、前記第１再生信号波形の中心レベルと前記第２再生信号
波形の中心レベルとを比較して、それらの中心レベルが
ほぼ一致するパワー値を検出し、その検出されたパワー
値に基づいて前記エネルギービームの最適な記録パワー
値を決定する工程とを備えていることを特徴とする情報
の記録方法。
【請求項１１】前記第１再生信号波形の中心レベルと
前記第２再生信号波形の中心レベルとがほぼ一致する記
録パワーを、前記エネルギービームの最適な記録パワー
値とする請求項１０に記載の情報の記録方法。
【請求項１２】前記第１再生信号波形の中心レベルと
前記第２再生信号波形の中心レベルの電圧差が、前記第
２再生信号波形の未記録部の電圧に対する電圧差の±５
％以内にある請求項１０または１１に記載の情報の記録
方法。
【請求項１３】前記試し書き動作が、少なくとも前記
情報記録媒体についての記録動作の開始時および前記情
報記録媒体の交換時に実施される請求項１１または１２
に記載の情報の記録方法。
【請求項１４】前記情報記録媒体が、多数回書き換え
による再生信号のレベル変化を検出するためのモニター
領域を有しており、しかも、情報を記録する前に前記モ
ニター領域に前記第１記録波形を記録してから再生し、
得られた再生信号のレベルが所定範囲から外れていれば
前記試し書き動作を行なう請求項１１〜１３のいずれか
に記載の情報の記録方法。
【請求項１５】前記第１記録符号波形として、前記信
号変調方式における最短記録符号の繰り返しからなる最
密パターンを用い、前記第２記録符号波形として、前記
信号変調方式における最長記録符号の繰り返しからなる
最疎パターンを用いる請求項１１〜１４のいずれかに記
載の情報の記録方法。
【請求項１６】前記情報記録媒体がオーバーライト可
能であり、前記第１記録符号に対応する記録パルスが、
記録パワーレベルに保持される第１期間と、それに続く
消去パワーレベルよりも低いパワーレベルに保持される
第２期間とを含んでいる請求項１１〜１５のいずれかに
記載の情報の記録方法。
【請求項１７】所定の信号変調方式により変調したエ
ネルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記
録する方法において、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求める試し
書き動作を含み、その試し書き動作は、前記信号変調方式における最短記録符号の繰り返しから
なり、且つ、高低両レベルのピークが所定の高パワーレ
ベルと低パワーレベルにそれぞれ等しい中間部と、高レ
ベル側のピークが前記所定の高パワーレベルとは異なる
前端部と、低レベル側のピークが前記所定の低パワーレ
ベルとは異なる後端部とを含んで構成される記録波形を
生成する工程と、前記記録波形の前端部および後端部における前記エネル
ギービームのパワー値を複数の異なる値にそれぞれ設定
して、その記録波形を前記情報記録媒体に記録する工程
と、前記情報記録媒体に記録された前記記録波形を再生して
再生信号波形を得る工程と、前記再生信号波形の前端および後端の位置を比較し、そ
の前端の位置のずれがほぼ最小となる場合の前記記録波
形の前端部のパワー値をその前端部における前記エネル
ギービームの最適な記録パワー値とし、その後端の位置
のずれがほぼ最小となる場合の前記記録波形の後端部の
パワー値をその後端部における前記エネルギービームの
最適な記録パワー値とする工程とを備えていることを特
徴とする情報の記録方法。
【請求項１８】前記記録波形が、前記信号変調方式に
おける最長記録符号である請求項１７に記載の情報の記
録方法。
【請求項１９】前記情報記録媒体がオーバーライト
可能であり、しかも、前記最短記録符号に対応する記録
パルスが、記録パワーレベルに保持される第１期間と、
それに続く消去パワーレベルよりも低いパワーレベルに
保持される第２期間とを含んでいる請求項１７または１
８に記載の情報の記録方法。
【請求項２０】所定の信号変調方式により変調したエ
ネルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記
録する方法において、前記情報記録媒体として、照射される前記エネルギービ
ームのパワーに応じて多数回書き換えによる再生信号波
形の歪の方向が異なる性質を持つ情報記録媒体を使用
し、前記情報記録媒体に対する試し書きにより、前記再生信
号波形の歪がほぼ最小となる前記エネルギービームの最
適なパワー値を求め、そのパワー値で前記情報記録媒体
に情報を記録することを特徴とする情報の記録方法。
【請求項２１】前記試し書き動作が、前記エネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定
して、前記信号変調方式における最短あるいはそれに近
い長さの第１記録符号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎ
は２以上の正の整数）あるいはそれに近い長さの第２記
録符号とを前記情報記録媒体に記録する工程と、前記情報記録媒体に記録された前記第１記録符号と前記
第２記録符号とを再生して、前記第１記録符号に対応す
る第１再生信号と前記第２記録符号に対応する第２再生
信号とを得る工程と、前記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅との
比が所定値となる場合の前記エネルギービームのパワー
値を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エ
ネルギービームの最適な記録パワー値を決定する工程と
を備えている請求項２０に記載の情報の記録方法。
【請求項２２】前記試し書き動作が、前記情報記録媒
体にある線速度で単一周波数で情報を記録したときに２
次高調波が最小となるまたは消去比が最大となる前記エ
ネルギービームのパワー値を求めておき、そのパワー値
と前記試し書きで求めた前記エネルギービームの最適な
記録パワー値との差が前記情報記録媒体に記録してある
請求項２０または２１に記載の情報の記録方法。
【請求項２３】前記パワー値の差が、前記情報記録媒
体のコントロールトラックに記録されている請求項２０
〜２２のいずれかに記載の情報の記録方法。
【請求項２４】前記試し書き動作で求めた多数回書き
換えにより再生信号波形の歪みがほぼ最小となるパワー
値と、２次高調波最小または消去比最大となる前記パワ
ー値とが、ほぼ同じである請求項２０〜２３のいずれか
に記載の情報の記録方法。
【請求項２５】所定の信号変調方式により変調したエ
ネルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記
録する情報記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求めるため
の試し書き動作を行なう試し書き手段を含み、その試し
書き手段は、前記エネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定
して、前記信号変調方式における最短あるいはそれに近
い長さの第１記録符号と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎ
は２以上の正の整数）あるいはそれに近い長さの第２記
録符号とを前記情報記録媒体に記録する手段と、前記情報記録媒体に記録された前記第１記録符号と前記
第２記録符号とを再生して、前記第１記録符号に対応す
る第１再生信号と前記第２記録符号に対応する第２再生
信号とを得る手段と、前記第１再生信号の振幅と前記第２再生信号の振幅との
比が所定値となる場合の前記エネルギービームのパワー
値を検出し、その検出されたパワー値に基づいて前記エ
ネルギービームの最適な記録パワー値を決定する手段と
を備えていることを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項２６】所定の信号変調方式により変調したエ
ネルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記
録する情報記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求めるため
の試し書き動作を行なう試し書き手段を含み、その試し
書き手段は、前記エネルギービームのパワーを複数の異なる値に設定
して、前記信号変調方式における最短あるいはそれに近
い長さの第１記録符号の繰り返しからなる第１記録波形
と、前記第１記録符号のｎ倍（ｎは２以上の正の整数）
あるいはそれに近い長さの第２記録符号の繰り返しから
なる第２記録波形とを前記情報記録媒体に記録する手段
と、前記情報記録媒体に記録された前記第１記録波形と前記
第２記録波形とを再生して、前記第１記録波形に対応す
る第１再生信号波形と前記第２記録波形に対応する第２
再生信号波形とを得る手段と、前記第１再生信号波形の中心レベルと前記第２再生信号
波形の中心レベルとを比較して、それらの中心レベルが
ほぼ一致するパワー値を検出し、その検出されたパワー
値に基づいて前記エネルギービームの最適な記録パワー
値を決定する手段とを備えていることを特徴とする情報
記録再生装置。
【請求項２７】所定の信号変調方式により変調したネ
ルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記録
する情報の記録再生装置であって、前記エネルギービームの最適な記録パワーを求めるため
の試し書き動作を行なう試し書き手段を含み、その試し
書き手段は、前記信号変調方式における最短記録符号の繰り返しから
なり、且つ、高低両レベルのピークが所定の高パワーレ
ベルと低パワーレベルにそれぞれ等しい中間部と、高レ
ベル側のピークが前記所定の高パワーレベルとは異なる
前端部と、低レベル側のピークが前記所定の低パワーレ
ベルとは異なる後端部とを含んで構成される記録波形を
生成する手段と、前記記録波形の前端部および後端部における前記エネル
ギービームのパワー値を複数の異なる値にそれぞれ設定
して、その記録波形を前記情報記録媒体に記録する手段
と、前記情報記録媒体に記録された前記記録波形を再生して
再生信号波形を得る手段と、前記再生信号波形の前端および後端の位置を比較し、そ
の前端の位置のずれがほぼ最小となる場合の前記記録波
形の前端部のパワー値をその前端部における前記エネル
ギービームの最適な記録パワー値とし、その後端の位置
のずれがほぼ最小となる場合の前記記録波形の後端部の
パワー値をその後端部における前記エネルギービームの
最適な記録パワー値とする手段とを備えていることを特
徴とする情報記録再生装置。
【請求項２８】所定の信号変調方式により変調したネ
ルギービームの照射によって情報記録媒体に情報を記録
する情報の記録再生装置であって、前記情報記録媒体として、照射される前記エネルギービ
ームのパワーに応じて多数回書き換えによる再生信号波
形の歪の方向が異なる性質を持つ情報記録媒体が使用さ
れ、前記記録再生装置は、前記エネルギービームの最適な記
録パワーを求めるための試し書き動作を行なう試し書き
手段を含み、その試し書き手段による前記情報記録媒体
に対する試し書きにより、前記再生信号波形の歪がほぼ
最小となる前記エネルギービームの最適なパワー値を求
め、そのパワー値で前記情報記録媒体に情報を記録する
ようにしたことを特徴とする情報記録再生装置。