JPH08271236A - 熔接電極の状態検査装置 - Google Patents
熔接電極の状態検査装置Info
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- JPH08271236A JPH08271236A JP7430295A JP7430295A JPH08271236A JP H08271236 A JPH08271236 A JP H08271236A JP 7430295 A JP7430295 A JP 7430295A JP 7430295 A JP7430295 A JP 7430295A JP H08271236 A JPH08271236 A JP H08271236A
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- welding electrode
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 熔接を行なった後の電極の良否判定と、研磨
を行なった後の電極の良否判定とを行なうことのできる
熔接電極の状態検査装置を提案する。 【構成】 熔接電極10の先端の画像を取り込むカメラ
2とこのカメラ2が取り込んだ画像の処理を行なう画像
処理装置5とを具備し、熔接に用いた後の熔接電極10
の先端の、カメラ2によって取り込まれた画像に基づい
て熔接電極10の研磨が必要か否かの良否判定(ステッ
プS16)を行なうと共に、研磨した後の熔接電極10
の先端の、カメラ2によって取り込まれた画像に基づい
て、研磨が、熔接電極10がその後の熔接に使用できる
程度に研磨されたか否かの良否判定(ステップS16)
を行なう。
を行なった後の電極の良否判定とを行なうことのできる
熔接電極の状態検査装置を提案する。 【構成】 熔接電極10の先端の画像を取り込むカメラ
2とこのカメラ2が取り込んだ画像の処理を行なう画像
処理装置5とを具備し、熔接に用いた後の熔接電極10
の先端の、カメラ2によって取り込まれた画像に基づい
て熔接電極10の研磨が必要か否かの良否判定(ステッ
プS16)を行なうと共に、研磨した後の熔接電極10
の先端の、カメラ2によって取り込まれた画像に基づい
て、研磨が、熔接電極10がその後の熔接に使用できる
程度に研磨されたか否かの良否判定(ステップS16)
を行なう。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、熔接に用いられる電
極の磨耗状態を調べる熔接電極の状態検査装置に関す
る。
極の磨耗状態を調べる熔接電極の状態検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】熔接ロボットがスポット熔接などを繰り
返していくと、電極先端が磨耗しあるいは先端に不純物
が付着して熔接が正常にできなくなるおそれがある。こ
のような状態を検出するために、熔接電極の状態検査装
置として例えば特開平1−192486号がある。この
従来技術では、電極先端の明暗を画像センサで検出し、
その信号を画像処理して電極先端部の計測を行なうこと
により検査の迅速化と検査精度の向上を図るものであ
る。具体的には、測定対象の電極を治具などに固定し、
電極先端の電極の長軸方向の画像を取り込むものであ
る。
返していくと、電極先端が磨耗しあるいは先端に不純物
が付着して熔接が正常にできなくなるおそれがある。こ
のような状態を検出するために、熔接電極の状態検査装
置として例えば特開平1−192486号がある。この
従来技術では、電極先端の明暗を画像センサで検出し、
その信号を画像処理して電極先端部の計測を行なうこと
により検査の迅速化と検査精度の向上を図るものであ
る。具体的には、測定対象の電極を治具などに固定し、
電極先端の電極の長軸方向の画像を取り込むものであ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の状態検査装置で
検査した結果、熔接の用いることが好ましくないと判定
された場合には、電極を検査装置から外して、その先端
を研磨すれば、その電極を再度利用することが考えられ
る。しかしながら、従来では、研磨後の電極の良否判定
は人間が行なっていたが故に、効率が悪く、またその判
定精度も高いとはいえなかった。
検査した結果、熔接の用いることが好ましくないと判定
された場合には、電極を検査装置から外して、その先端
を研磨すれば、その電極を再度利用することが考えられ
る。しかしながら、従来では、研磨後の電極の良否判定
は人間が行なっていたが故に、効率が悪く、またその判
定精度も高いとはいえなかった。
【0004】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、研磨した後の電極が熔
接への再利用に耐えられるかの良否判定を人間に代わっ
て行なう熔接電極の状態検査装置を提案する所にある。
本発明の他の目的は、熔接を行なった後の電極の良否判
定と、研磨を行なった後の電極の良否判定とを行なうこ
とのできる熔接電極の状態検査装置を提案する所にあ
る。
あり、その目的とするところは、研磨した後の電極が熔
接への再利用に耐えられるかの良否判定を人間に代わっ
て行なう熔接電極の状態検査装置を提案する所にある。
本発明の他の目的は、熔接を行なった後の電極の良否判
定と、研磨を行なった後の電極の良否判定とを行なうこ
とのできる熔接電極の状態検査装置を提案する所にあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべ
く、請求項1に係る本発明の、熔接電極の磨耗状態を検
査する装置は、研磨された熔接電極の先端の画像を取り
込むカメラ手段と、取り込んだ画像に基づいて、前記熔
接電極が熔接に使用か否かの良否判定を行なう手段とを
具備することを特徴とする。
く、請求項1に係る本発明の、熔接電極の磨耗状態を検
査する装置は、研磨された熔接電極の先端の画像を取り
込むカメラ手段と、取り込んだ画像に基づいて、前記熔
接電極が熔接に使用か否かの良否判定を行なう手段とを
具備することを特徴とする。
【0006】研磨後に画像処理による電極の検査を行な
うので、研磨が正常に行なわれたか否かが人手がかから
ず効率的に行なわれる。請求項2にかかる、熔接電極の
状態を検査する装置は、熔接電極の先端の画像を取り込
むカメラ手段と、熔接に用いた後の前記熔接電極の先端
の、前記カメラ手段によって取り込まれた画像に基づい
て前記熔接電極の研磨が必要か否かの良否判定を行なう
第1の判定手段と、研磨した後の前記熔接電極の先端
の、前記カメラ手段によって取り込まれた画像に基づい
て、研磨が、前記熔接電極がその後の熔接に使用できる
程度に研磨されたか否かの良否判定を行なう第2の判定
手段とを具備することを特徴とする。
うので、研磨が正常に行なわれたか否かが人手がかから
ず効率的に行なわれる。請求項2にかかる、熔接電極の
状態を検査する装置は、熔接電極の先端の画像を取り込
むカメラ手段と、熔接に用いた後の前記熔接電極の先端
の、前記カメラ手段によって取り込まれた画像に基づい
て前記熔接電極の研磨が必要か否かの良否判定を行なう
第1の判定手段と、研磨した後の前記熔接電極の先端
の、前記カメラ手段によって取り込まれた画像に基づい
て、研磨が、前記熔接電極がその後の熔接に使用できる
程度に研磨されたか否かの良否判定を行なう第2の判定
手段とを具備することを特徴とする。
【0007】熔接後に、研磨が必要なほど磨耗したか否
かを、電極画像の画像処理に基づいて判定しているの
で、判定が正確になる。またさらに、磨耗していると判
定されたならば、研磨を行ない、この研磨の後に再度画
像処理による検査を行なっているので、上記の効果が倍
化される。請求項3の発明によれば、さらに、前記カメ
ラ手段によって取り込まれた電極の画像に基づいて熔接
電極を交換すべきか否かの判定を行なう第3の判定手段
を具備しているので、電極の交換時期の判定も行なうこ
ととなり、さらなる効率的な運用が可能である。
かを、電極画像の画像処理に基づいて判定しているの
で、判定が正確になる。またさらに、磨耗していると判
定されたならば、研磨を行ない、この研磨の後に再度画
像処理による検査を行なっているので、上記の効果が倍
化される。請求項3の発明によれば、さらに、前記カメ
ラ手段によって取り込まれた電極の画像に基づいて熔接
電極を交換すべきか否かの判定を行なう第3の判定手段
を具備しているので、電極の交換時期の判定も行なうこ
ととなり、さらなる効率的な運用が可能である。
【0008】請求項4の発明によれば、前記第1の判定
手段と第2の判定手段は、画像のパターンマッチングに
基づいて判定するので、デジタル的な磨耗判定を行なう
ことができる。請求項5の発明によれば、前記第1の判
定手段と第2の判定手段は、前記電極の画像中の第1の
値を有する画素の面積と第2の値を有する画素の面積と
の割合に基づいて判定するので、アナログ的な磨耗度の
判定(曖昧さに強い判定)を行なうことができる。
手段と第2の判定手段は、画像のパターンマッチングに
基づいて判定するので、デジタル的な磨耗判定を行なう
ことができる。請求項5の発明によれば、前記第1の判
定手段と第2の判定手段は、前記電極の画像中の第1の
値を有する画素の面積と第2の値を有する画素の面積と
の割合に基づいて判定するので、アナログ的な磨耗度の
判定(曖昧さに強い判定)を行なうことができる。
【0009】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら本発明の好適
な実施例を説明する。図1は、本発明を適用した熔接・
検査システムの実施例を示す斜視図である。同図におい
て、1は熔接ロボットであり、そのアームの先端に熔接
ガン3が取付けられている。2は熔接ガン3の先端の熔
接電極部分の画像を取り込むCCDカメラである。カメ
ラ2は固定位置に設定されている。カメラ2が取り込ん
だ画像に対しては画像処理装置5が所定の処理を施し
て、電極の磨耗度を検査して使用可能か否かを判断す
る。また、4は固定位置に設定された電極研磨装置であ
り、電極を研磨する。
な実施例を説明する。図1は、本発明を適用した熔接・
検査システムの実施例を示す斜視図である。同図におい
て、1は熔接ロボットであり、そのアームの先端に熔接
ガン3が取付けられている。2は熔接ガン3の先端の熔
接電極部分の画像を取り込むCCDカメラである。カメ
ラ2は固定位置に設定されている。カメラ2が取り込ん
だ画像に対しては画像処理装置5が所定の処理を施し
て、電極の磨耗度を検査して使用可能か否かを判断す
る。また、4は固定位置に設定された電極研磨装置であ
り、電極を研磨する。
【0010】ロボットコントローラ7は、熔接ロボット
1の動作(ガン3の熔接位置への移動、熔接の開始・停
止の制御、ガン3の検査位置への移動)を制御すると共
に、研磨装置4も制御する。ロボットコントローラ7
は、画像処理装置5をパソコン6を介して制御する。コ
ントローラ7は、ロボット1及び熔接ガン3、さらに研
磨装置4を制御するためのコマンドを解釈実行すること
ができる。一方、画像処理については、例えば、パター
ン認識等のための画像処理は画像処理装置5において実
行されるために、コントローラ7において画像処理のた
めのコマンドのみを用意し、このコマンドの実際の実行
は処理装置5において行なわせる。コントローラ7は画
像処理コマンドを見つけると、そのコマンド(パラメー
タと共に)をパソコン6に渡す。パソコン6は画像処理
装置5とコントローラ7とのインタフェースを司るもの
で、コントローラ7から受け取った画像処理コマンドを
解釈して画像処理装置5に対してそのコマンドで定義さ
れた所定の画像処理を実行せしめる。装置5における画
像処理は周知であるのでその詳細はここでの説明は省略
する。
1の動作(ガン3の熔接位置への移動、熔接の開始・停
止の制御、ガン3の検査位置への移動)を制御すると共
に、研磨装置4も制御する。ロボットコントローラ7
は、画像処理装置5をパソコン6を介して制御する。コ
ントローラ7は、ロボット1及び熔接ガン3、さらに研
磨装置4を制御するためのコマンドを解釈実行すること
ができる。一方、画像処理については、例えば、パター
ン認識等のための画像処理は画像処理装置5において実
行されるために、コントローラ7において画像処理のた
めのコマンドのみを用意し、このコマンドの実際の実行
は処理装置5において行なわせる。コントローラ7は画
像処理コマンドを見つけると、そのコマンド(パラメー
タと共に)をパソコン6に渡す。パソコン6は画像処理
装置5とコントローラ7とのインタフェースを司るもの
で、コントローラ7から受け取った画像処理コマンドを
解釈して画像処理装置5に対してそのコマンドで定義さ
れた所定の画像処理を実行せしめる。装置5における画
像処理は周知であるのでその詳細はここでの説明は省略
する。
【0011】前述したように、熔接ロボット1は、アー
ムを熔接位置(不図示)へ移動することと検査位置へ移
動することが可能である。図1は、ロボット1が熔接ガ
ン3の先端を検査位置、即ち、熔接電極の先端がカメラ
2によって撮影される位置(ティーチングポイント)に
まで移動してきた状態を示す。カメラ2が取った画像を
処理して、研磨の必要性が認められたならば、コントロ
ーラ7はアームを移動して熔接ガンの3の先端が研磨装
置によって研磨される位置(ティーチングポイント)ま
で移動させて研磨する。
ムを熔接位置(不図示)へ移動することと検査位置へ移
動することが可能である。図1は、ロボット1が熔接ガ
ン3の先端を検査位置、即ち、熔接電極の先端がカメラ
2によって撮影される位置(ティーチングポイント)に
まで移動してきた状態を示す。カメラ2が取った画像を
処理して、研磨の必要性が認められたならば、コントロ
ーラ7はアームを移動して熔接ガンの3の先端が研磨装
置によって研磨される位置(ティーチングポイント)ま
で移動させて研磨する。
【0012】図2は、熔接ガン3の先端にシャンク11
を介して取付けられた電極10を示す。図3は、電極が
使用された結果磨耗した状態を示す。磨耗が発生する
と、図2の電極10のA部分のうち、先端が磨耗して図
3の13のようになり、さらに先端には不純物13が付
着する。図4は、画像処理装置5の内部の構成を示すブ
ロック図である。画像処理装置5は、内部に、CPU2
0とROM21とRAM22とディスク23と、パソコ
ン6との通信を制御するRS232Cインタフェース2
4とを有する。CPU20は、ROM21とRAM22
に格納されたプログラムに従ってパターンマッチングや
二値化処理を行なう。ディスク23は、パターンマッチ
ングに必要なテンプレートファイルを記憶する。
を介して取付けられた電極10を示す。図3は、電極が
使用された結果磨耗した状態を示す。磨耗が発生する
と、図2の電極10のA部分のうち、先端が磨耗して図
3の13のようになり、さらに先端には不純物13が付
着する。図4は、画像処理装置5の内部の構成を示すブ
ロック図である。画像処理装置5は、内部に、CPU2
0とROM21とRAM22とディスク23と、パソコ
ン6との通信を制御するRS232Cインタフェース2
4とを有する。CPU20は、ROM21とRAM22
に格納されたプログラムに従ってパターンマッチングや
二値化処理を行なう。ディスク23は、パターンマッチ
ングに必要なテンプレートファイルを記憶する。
【0013】図5は、コントローラ7の不図示のメモリ
に組み込まれたプログラムの制御手順を示す。コントロ
ーラ7の不図示のCPUは、図5の制御手順を実行する
ことにより、パソコン6を介して画像処理装置5を制御
する。以下、図5の制御手順を説明する。尚、制御手順
の実行に先立ち、パターンマッチングに必要なデータフ
ァイルはディスク23に前もって格納されているものと
する。
に組み込まれたプログラムの制御手順を示す。コントロ
ーラ7の不図示のCPUは、図5の制御手順を実行する
ことにより、パソコン6を介して画像処理装置5を制御
する。以下、図5の制御手順を説明する。尚、制御手順
の実行に先立ち、パターンマッチングに必要なデータフ
ァイルはディスク23に前もって格納されているものと
する。
【0014】図5のステップS2において、前もってテ
ィーチングされた熔接位置にガン3を移動する。ステッ
プS4ではこの位置に於て熔接を行なう。ステップS6
では、予めティーチングされた検査位置にガン3を移動
する。この検査位置に移動すると、図1に示すようにガ
ン3の先端の熔接電極はカメラ2の前方に位置される。
ステップS8では、画像取り込みコマンドをパソコン6
を介して画像処理装置5に送る。このコマンドを受けた
画像処理装置5はカメラ2に対して撮像を開始させる。
図6に示すように、カメラ2の画角は、熔接電極の画像
を横方向から取り込むようにセットされている。従っ
て、カメラ2は図2のAまたは図3のBに示された位置
の画像を取り込む。この画像は画像処理装置5の不図示
のメモリに送られる。
ィーチングされた熔接位置にガン3を移動する。ステッ
プS4ではこの位置に於て熔接を行なう。ステップS6
では、予めティーチングされた検査位置にガン3を移動
する。この検査位置に移動すると、図1に示すようにガ
ン3の先端の熔接電極はカメラ2の前方に位置される。
ステップS8では、画像取り込みコマンドをパソコン6
を介して画像処理装置5に送る。このコマンドを受けた
画像処理装置5はカメラ2に対して撮像を開始させる。
図6に示すように、カメラ2の画角は、熔接電極の画像
を横方向から取り込むようにセットされている。従っ
て、カメラ2は図2のAまたは図3のBに示された位置
の画像を取り込む。この画像は画像処理装置5の不図示
のメモリに送られる。
【0015】コントローラ7は、ステップS10で画像
処理装置5に対してパターンマッチングコマンドを送
る。このコマンドを受けた画像処理装置5は、上記メモ
リに格納されている画像に基づいて磨耗度の判定を行な
う。図5の制御手順では、 :電極の軸方向の長さが所定の長さにまで短くなった
ならば交換すべきと判断する。 :電極先端の横方向の外形が新品時の電極の外形と比
較して変形度が許容範囲外と判定されたならば、研磨す
べきと判定する。 :電極先端の横方向の画像の白画像部分と黒画像部分
に対する面積の割合が減少してきたならば、即ち、不純
物による黒画像部分の増加が許容限界を超えたならば、
研磨すべきと判定する。通常、電極の銅色部分は、二値
化処理を施せば(閾値を適当に選ぶことにより)、白画
像として認識され、不純物の付着した部分は黒画像とし
て認識されるからである。尚、上記許容限界は予め実験
などにより求めておく。
処理装置5に対してパターンマッチングコマンドを送
る。このコマンドを受けた画像処理装置5は、上記メモ
リに格納されている画像に基づいて磨耗度の判定を行な
う。図5の制御手順では、 :電極の軸方向の長さが所定の長さにまで短くなった
ならば交換すべきと判断する。 :電極先端の横方向の外形が新品時の電極の外形と比
較して変形度が許容範囲外と判定されたならば、研磨す
べきと判定する。 :電極先端の横方向の画像の白画像部分と黒画像部分
に対する面積の割合が減少してきたならば、即ち、不純
物による黒画像部分の増加が許容限界を超えたならば、
研磨すべきと判定する。通常、電極の銅色部分は、二値
化処理を施せば(閾値を適当に選ぶことにより)、白画
像として認識され、不純物の付着した部分は黒画像とし
て認識されるからである。尚、上記許容限界は予め実験
などにより求めておく。
【0016】ディスク23には、前述したように、電極
が新品の時に予め取っておいた画像(図2のAの画像)
に基づいて予めその画像の特徴(アウトライン、重心
等)が記憶されている。ステップS10では、ステップ
S8で取り込んだ画像の特徴、即ち、アウトラインや重
心などを計算し、新品時のアウトラインとステップS1
0で計算したアウトラインとの変化に基づいて、電極先
端部の形状変化(外形が許容寸法内に収まっているか)
や外的変形(脱落や変形が発生していないか)を検出す
る。電極の磨耗による変形等は電極の横方向の外形での
変化に顕著に現われる。本実施例では、電極を横方向か
ら撮影しているために、このような変形の検出には有利
である。ステップS12では、さらに及びの判定も
行なう。
が新品の時に予め取っておいた画像(図2のAの画像)
に基づいて予めその画像の特徴(アウトライン、重心
等)が記憶されている。ステップS10では、ステップ
S8で取り込んだ画像の特徴、即ち、アウトラインや重
心などを計算し、新品時のアウトラインとステップS1
0で計算したアウトラインとの変化に基づいて、電極先
端部の形状変化(外形が許容寸法内に収まっているか)
や外的変形(脱落や変形が発生していないか)を検出す
る。電極の磨耗による変形等は電極の横方向の外形での
変化に顕著に現われる。本実施例では、電極を横方向か
ら撮影しているために、このような変形の検出には有利
である。ステップS12では、さらに及びの判定も
行なう。
【0017】ステップS14では、の判定に基づいて
電極の寸法が交換すべき規定の長さにまで短くなったか
を判断する。短くなっていれば、ステップS30に進ん
で、電極の交換を行なうべく、操作者に指示を出す。ス
テップS14で、交換するほどにまで電極が磨耗してい
ないと判断されたならば、ステップS16で,の判
断に基づいて電極が研磨が必要なほどに磨耗していない
か否かを判定する。研磨が必要と判定されればす18で
研磨位置まで電極を移動する。研磨が終了すれば、ステ
ップS6に戻って検査を再度行なう。再度の検査の過程
のステップS16で磨耗が回復された判断されたならバ
ス2に戻って熔接を再開する。
電極の寸法が交換すべき規定の長さにまで短くなったか
を判断する。短くなっていれば、ステップS30に進ん
で、電極の交換を行なうべく、操作者に指示を出す。ス
テップS14で、交換するほどにまで電極が磨耗してい
ないと判断されたならば、ステップS16で,の判
断に基づいて電極が研磨が必要なほどに磨耗していない
か否かを判定する。研磨が必要と判定されればす18で
研磨位置まで電極を移動する。研磨が終了すれば、ステ
ップS6に戻って検査を再度行なう。再度の検査の過程
のステップS16で磨耗が回復された判断されたならバ
ス2に戻って熔接を再開する。
【0018】以上のようにして、この実施例の装置によ
れば、 :研磨後に画像処理による電極の検査を行なっている
ので、研磨が正常に行なわれたか否か人手がかからず効
率的に行なわれる。 :熔接後に、研磨が必要なほど磨耗したか否かを、電
極の横方向からの画像の画像処理に基づいて判定してい
るので、判定が正確になる。またさらに、磨耗している
と判定されたならば、研磨を行ない、この研磨の後に再
度画像処理による検査を行なっているので、の効果が
倍化される。 :磨耗の検査に、パターンマッチング(形状変化のデ
ジタル的検出)と、白画像部分と黒画像部分の面積の割
合の変化(形状変化のアナログ的な検出)とを併せて行
なっているので、判断が正確になる。 :磨耗の検査について、電極の研磨時期の判定と、電
極の研磨結果の良否の判定とが併せて行なわれているた
めに、効率的な運用が可能である。 :さらに電極の交換時期の判定も行なっているので、
さらなる効率的な運用が可能である。 :電極の研磨時期の判定と、電極の研磨結果の良否の
判定と、電極の交換時期の判定は全て画像処理に基づい
て行なわれるために、プログラムの変更若しくは追加で
対処できるためにハードにかかる投資が最小限に抑える
ことができる。
れば、 :研磨後に画像処理による電極の検査を行なっている
ので、研磨が正常に行なわれたか否か人手がかからず効
率的に行なわれる。 :熔接後に、研磨が必要なほど磨耗したか否かを、電
極の横方向からの画像の画像処理に基づいて判定してい
るので、判定が正確になる。またさらに、磨耗している
と判定されたならば、研磨を行ない、この研磨の後に再
度画像処理による検査を行なっているので、の効果が
倍化される。 :磨耗の検査に、パターンマッチング(形状変化のデ
ジタル的検出)と、白画像部分と黒画像部分の面積の割
合の変化(形状変化のアナログ的な検出)とを併せて行
なっているので、判断が正確になる。 :磨耗の検査について、電極の研磨時期の判定と、電
極の研磨結果の良否の判定とが併せて行なわれているた
めに、効率的な運用が可能である。 :さらに電極の交換時期の判定も行なっているので、
さらなる効率的な運用が可能である。 :電極の研磨時期の判定と、電極の研磨結果の良否の
判定と、電極の交換時期の判定は全て画像処理に基づい
て行なわれるために、プログラムの変更若しくは追加で
対処できるためにハードにかかる投資が最小限に抑える
ことができる。
【0019】〈変形〉本発明はその趣旨を逸脱しない範
囲で種々変形が可能である。例えば、上記実施例では、
磨耗の検査を熔接毎に毎回行なっていたが、所定回数毎
に一回の検査を行なうように変形してもよい。また、交
換は規定寸法に達したか否かの判定により行なっていた
が、研磨を所定回数行なったならば無条件に交換するよ
うにしてもよい。
囲で種々変形が可能である。例えば、上記実施例では、
磨耗の検査を熔接毎に毎回行なっていたが、所定回数毎
に一回の検査を行なうように変形してもよい。また、交
換は規定寸法に達したか否かの判定により行なっていた
が、研磨を所定回数行なったならば無条件に交換するよ
うにしてもよい。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の熔接電極
の状態検査装置によれば、研磨した後の電極が熔接への
再利用に耐えられるかの良否判定を人間に代わって効率
的に行なうことができる。また、熔接を行なった後の電
極の良否判定と、研磨を行なった後の電極の良否判定と
を併せて行なうことができるので、装置の小規模化に寄
与できる。
の状態検査装置によれば、研磨した後の電極が熔接への
再利用に耐えられるかの良否判定を人間に代わって効率
的に行なうことができる。また、熔接を行なった後の電
極の良否判定と、研磨を行なった後の電極の良否判定と
を併せて行なうことができるので、装置の小規模化に寄
与できる。
【図1】本発明を適用した実施例の熔接・検査システム
の外観を示す図。
の外観を示す図。
【図2】実施例に用いられる電極の横方向の特徴を示す
図。
図。
【図3】実施例の電極が磨耗した状態を示す図。
【図4】実施例システム中の画像処理装置の構成を示す
図。
図。
【図5】ロボットコントローラ7の制御手順を示す図。
【図6】電極とカメラとの位置関係を示す図。
Claims (5)
- 【請求項1】 熔接電極の磨耗状態を検査する装置であ
って、 研磨された熔接電極の先端の画像を取り込むカメラ手段
と、 取り込んだ画像に基づいて、前記熔接電極が熔接に使用
か否かの良否判定を行なう手段とを具備することを特徴
とする熔接電極の状態検査装置。 - 【請求項2】 熔接電極の状態を検査する装置であっ
て、 熔接電極の先端の画像を取り込むカメラ手段と、 熔接に用いた後の前記熔接電極の先端の、前記カメラ手
段によって取り込まれた画像に基づいて前記熔接電極の
研磨が必要か否かの良否判定を行なう第1の判定手段
と、 研磨した後の前記熔接電極の先端の、前記カメラ手段に
よって取り込まれた画像に基づいて、研磨が、前記熔接
電極がその後の熔接に使用できる程度に研磨されたか否
かの良否判定を行なう第2の判定手段とを具備すること
を特徴とする熔接電極の状態検査装置。 - 【請求項3】 さらに、前記カメラ手段によって取り込
まれた電極の画像に基づいて熔接電極を交換すべきか否
かの判定を行なう第3の判定手段を具備したことを特徴
とする請求項2に記載の熔接電極の状態検査装置。 - 【請求項4】 前記第1の判定手段と第2の判定手段
は、画像のパターンマッチングに基づいて判定すること
を特徴とする請求項1に記載の熔接電極の状態検査装
置。 - 【請求項5】 前記第1の判定手段と第2の判定手段
は、前記電極の画像中の第1の値を有する画素の面積と
第2の値を有する画素の面積との割合に基づいて判定す
ることを特徴とする請求項1に記載の熔接電極の状態検
査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7430295A JPH08271236A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 熔接電極の状態検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7430295A JPH08271236A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 熔接電極の状態検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08271236A true JPH08271236A (ja) | 1996-10-18 |
Family
ID=13543207
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7430295A Pending JPH08271236A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 熔接電極の状態検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08271236A (ja) |
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- 1995-03-31 JP JP7430295A patent/JPH08271236A/ja active Pending
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