JPH08254677A - Contact device for testing lighting of liquid crystal panel - Google Patents

Contact device for testing lighting of liquid crystal panel

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JPH08254677A
JPH08254677A JP29058295A JP29058295A JPH08254677A JP H08254677 A JPH08254677 A JP H08254677A JP 29058295 A JP29058295 A JP 29058295A JP 29058295 A JP29058295 A JP 29058295A JP H08254677 A JPH08254677 A JP H08254677A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal panel
contact
probe
flexible surface
Prior art date
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Pending
Application number
JP29058295A
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Japanese (ja)
Inventor
Noriya Wada
憲也 和田
Yoshihiro Koshio
義宏 小塩
Hiroshi Umetsu
寛 梅津
Hideki Moriya
秀喜 守屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE: To make it possible tb surely carry out a lighting test of even liquid crystal panels formed with electrodes at extremely fine pitch intervals. CONSTITUTION: A contact section into which the liquid crystal panel 10 is carried is liftably provided with a contact unit 40 and its supporting frame 41 is provided with a provide holder 53 and a contact press 54. A probe unit 60 is mounted in the probe holder 53. The probe unit 60 is composed of a PCB 61 and TABs 62 and flexible surface probes 63. These probes 63 are formed with leads and are stuck to the TABs 62. The inner leads 64 of the TABs 62 are electrically connected to the respective leads of the probes 63. Contacts are mounted on the other side of the respective leads. Elastic pad parts are mounted at the contact press 54. The contacts of the probes 63 are pressed to the electrodes of the liquid crystal panel 10 by these contacts and are thus electrically connected thereto.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレイ
を構成する液晶パネルの点灯試験を行うために用いられ
るコンタクト装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contact device used for performing a lighting test of a liquid crystal panel which constitutes a liquid crystal display.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶ディスプレイは、液晶パネルにドラ
イバICを組み込んだTAB(Tape Automated Bondin
g)を搭載し、このTABに直接またはフレキシブル基
板を介してPCB(Print Circuit Board )が接続さ
れ、さらにバックライト部を装着する構成としたもので
ある。そして、液晶パネルにTAB等の部材を組み込む
前の段階で、液晶パネルの全面を点灯させる点灯試験が
行われるが、この点灯試験を行うに当っては、液晶パネ
ルにTAB及びPCB乃至それらに相当する部材を接続
する必要がある。
2. Description of the Related Art A liquid crystal display is a TAB (Tape Automated Bondin) in which a driver IC is incorporated in a liquid crystal panel.
g) is mounted, a PCB (Print Circuit Board) is connected to this TAB directly or via a flexible substrate, and a backlight unit is further mounted. Then, a lighting test for lighting the entire surface of the liquid crystal panel is performed before a member such as TAB is incorporated in the liquid crystal panel. In performing the lighting test, the liquid crystal panel is equivalent to TAB and PCB or their equivalent. It is necessary to connect the members to be connected.

【0003】液晶パネルは間に液晶を封入した2枚の透
明基板から構成されるが、一方の基板には、その周囲に
おける1乃至複数の辺に多数の電極が設けられ、これら
多数の電極は所定の数の電極を群として、各群の電極に
つきTABが1枚ずつ接続されるものであり、点灯試験
を行うに当っては、これら液晶パネルにおける各群の電
極の全てとTABの全ての電極との間を確実に接続させ
なければならない。点灯試験用として用いられるTAB
には液晶パネルの電極に接続するためのコンタクト部を
設けなければならないが、従来技術においては、ブロッ
ク状の部材にコンタクトピンを出没可能に設けたコンタ
クトピンブロックを用い、このコンタクトピンブロック
にインターフェイスボードを介してTABを連結するよ
うに構成したものが用いられている。そして、このコン
タクトピンブロックには、液晶パネルの電極の数と同じ
数のコンタクトピンを設け、これらコンタクトピンに
は、電極と確実に電気的に接続できるようにするため
に、ばね等の付勢手段でコンタクトピンブロックから突
出する方向に付勢しておき、液晶パネルに対してコンタ
クトピンを押し付けるようにして接続するようにしてい
る。
A liquid crystal panel is composed of two transparent substrates in which liquid crystal is sealed, and one substrate is provided with a large number of electrodes on one or a plurality of sides around the transparent substrate. A predetermined number of electrodes are used as a group, and one TAB is connected to each electrode of each group. When performing a lighting test, all of the electrodes of each group and all of the TAB of these liquid crystal panels are to be tested. There must be a reliable connection with the electrodes. TAB used for lighting test
In the related art, a contact portion for connecting to an electrode of a liquid crystal panel must be provided, but in the conventional technique, a contact pin block in which a contact pin is capable of projecting and retracting is used in a block-shaped member, and an interface is provided to this contact pin block. A structure in which TABs are connected via a board is used. Then, this contact pin block is provided with the same number of contact pins as the number of electrodes of the liquid crystal panel, and these contact pins are biased by springs or the like in order to ensure reliable electrical connection with the electrodes. The device is biased in a direction projecting from the contact pin block, and the contact pin is pressed against the liquid crystal panel for connection.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、液晶ディス
プレイにカラー映像を表示する場合等にあっては、液晶
パネル及びこれに接続されるTABの電極はファインピ
ッチ化される傾向にあり、このためにコンタクトピンブ
ロックに設けられるコンタクトピンの数は極めて多くな
る。コンタクトピンには、耐久性等の観点から、ある程
度の強度を持たせる必要があり、従ってあまり細径化す
ることはできず、しかもより確実な接続を可能ならしめ
るために、コンタクトピンに付勢力を作用させなければ
ならないこと等から、たとえ千鳥状に配列する等、配列
に工夫をするにしても、コンタクトピンブロックに設け
られるコンタクトピンの数には限度があり、カラー液晶
ディスプレイ等の液晶パネルのように、極めて微小な間
隔に多数の電極が設けられているものに適応するような
コンタクトピンブロックを構成するのは、極めて困難で
あるという問題点があった。
By the way, when displaying a color image on a liquid crystal display, the liquid crystal panel and the TAB electrodes connected thereto tend to have a fine pitch. The number of contact pins provided in the contact pin block is extremely large. From the viewpoint of durability, it is necessary for the contact pin to have a certain degree of strength. Therefore, it is not possible to reduce the diameter too much, and in addition, in order to ensure a more reliable connection, the contact pin has an urging force. Therefore, even if the arrangement is devised such as staggered arrangement, the number of contact pins provided in the contact pin block is limited, and a liquid crystal panel such as a color liquid crystal display. As described above, there is a problem in that it is extremely difficult to construct a contact pin block that is adaptable to one in which a large number of electrodes are provided at extremely small intervals.

【0005】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、電極が極めて微細な
ピッチ間隔に形成された液晶パネルでも、確実に点灯試
験を行えるようにすることにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to make it possible to reliably perform a lighting test even with a liquid crystal panel in which electrodes are formed at extremely fine pitch intervals. Especially.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、一対の透明基板間に液晶を封入して
なる液晶パネルに、その各電極に通電させて、点灯試験
を行うための装置であって、前記液晶パネルの各電極に
接続するための電極を備えた回路基板と、可撓性を有す
るフィルム状の基板にリードパターンが形成され、この
リードの一側がこの回路基板の電極に接続するように固
定され、他側には前記液晶パネルの各電極に接離する接
点を設けた可撓性面プローブとを備える構成したことを
その特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention conducts a lighting test by energizing each electrode of a liquid crystal panel in which liquid crystal is sealed between a pair of transparent substrates. A circuit board having electrodes for connecting to the respective electrodes of the liquid crystal panel, and a flexible film-like substrate on which a lead pattern is formed, and one side of the leads is the circuit board. The flexible surface probe is provided so as to be fixed so as to be connected to the electrodes of the liquid crystal panel, and the other side of the liquid crystal panel is provided with contacts for contacting and separating the respective electrodes of the liquid crystal panel.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】液晶パネルの点灯試験を行うため
に、回路基板を用いる。液晶ディスプレイにおいては、
液晶パネルに、ドライバICが組み込まれ、所定の回路
パターンを設けたTABが搭載され、またこのTABに
は直接またはフレキシブル基板を介してPCBが接続さ
れる。従って、このTAB,フレキシブル基板及びPC
Bからなる回路基板をユニット化して、TABを液晶パ
ネルと接続することにより点灯試験を行うことができ
る。ただし、TABはACF(Anisotropic Conductive
Film )を介して液晶パネルに搭載されることから、T
ABを直接液晶パネルに接触させたとしても、電気的な
コンタクトが得られるものではない。また、TABは熱
圧着により液晶パネルに搭載されるが、TABと液晶パ
ネルとでは熱膨張率に大きな差がある。従って、TAB
の電極のピッチ間隔は、この熱膨張を見越して設計され
ることから、熱圧着前の段階におけるTABの電極のピ
ッチ間隔と液晶パネルの電極のピッチ間隔との間には熱
膨張分だけのずれがある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A circuit board is used to perform a lighting test of a liquid crystal panel. In a liquid crystal display,
A driver IC is incorporated in the liquid crystal panel, a TAB provided with a predetermined circuit pattern is mounted, and a PCB is connected to the TAB directly or via a flexible substrate. Therefore, this TAB, flexible board and PC
The lighting test can be performed by unitizing the circuit board made of B and connecting the TAB to the liquid crystal panel. However, TAB is ACF (Anisotropic Conductive)
Since it is mounted on the liquid crystal panel via the
Even if AB is directly contacted with the liquid crystal panel, electrical contact cannot be obtained. Further, TAB is mounted on the liquid crystal panel by thermocompression bonding, but there is a large difference in thermal expansion coefficient between the TAB and the liquid crystal panel. Therefore, TAB
Since the pitch pitch of the electrodes of the TAB is designed in consideration of this thermal expansion, the pitch pitch of the electrodes of the TAB and the pitch pitch of the electrodes of the liquid crystal panel in the stage before thermocompression bonding are deviated by the amount of thermal expansion. There is.

【0008】以上のことから、TABに可撓性面プロー
ブを接続し、この可撓性面プローブを液晶パネルに当接
させる。可撓性面プローブは、液晶パネルに当接させた
時に、この液晶パネルの各電極と確実に電気的に接続さ
れる接点と、この接点に通じるリードとを可撓性のある
樹脂フィルム等からなるフィルム基板に設けることによ
り形成される。
From the above, the flexible surface probe is connected to the TAB, and the flexible surface probe is brought into contact with the liquid crystal panel. When a flexible surface probe is brought into contact with a liquid crystal panel, a contact that is securely electrically connected to each electrode of the liquid crystal panel and a lead that leads to the contact are formed from a flexible resin film or the like. It is formed by providing the film substrate.

【0009】TABと可撓性面プローブとの接続は、T
ABを液晶パネルに搭載する際に用いられるACFを介
して熱圧着することにより行える。可撓性面プローブに
おける接点のピッチ間隔は液晶パネルのピッチ間隔と一
致させる。これに対して、TABの電極に接続されるリ
ードのピッチ間隔は、TABの電極のピッチ間隔に合わ
せる。ここで、可撓性面プローブの基板とTABの基板
とを同じ材質で、同じ厚みのものとすれば、熱膨張率が
同じであるから、リードのピッチ間隔と電極のピッチ間
隔が熱圧着時にずれるおそれはない。通常、TABは液
晶パネルの各辺に複数枚搭載されるが、可撓性面プロー
ブは1枚で形成することもできる。ただし、可撓性面プ
ローブを1枚で形成すると、リード及び接点の数が膨大
なものとなり、誤差が累積する等により微妙なピッチの
ずれが生じるおそれがあることから、可撓性面プローブ
はTABの数と同じ数に分割するのが好ましい。
The connection between the TAB and the flexible surface probe is T
This can be performed by thermocompression bonding via ACF used when mounting AB on a liquid crystal panel. The pitch spacing of the contacts in the flexible surface probe is matched with the pitch spacing of the liquid crystal panel. On the other hand, the pitch interval of the leads connected to the TAB electrodes is adjusted to the pitch interval of the TAB electrodes. Here, if the substrate of the flexible surface probe and the substrate of the TAB are made of the same material and have the same thickness, the coefficient of thermal expansion is the same. There is no risk of slipping. Normally, a plurality of TABs are mounted on each side of the liquid crystal panel, but a single flexible surface probe can be formed. However, if one flexible surface probe is formed, the number of leads and contacts becomes enormous, and a slight pitch shift may occur due to accumulated errors. It is preferable to divide into the same number as the number of TABs.

【0010】点灯試験用のコンタクト装置は、このよう
にTABを含む回路基板と可撓性面プローブとから構成
されるから、極めて微小なピッチ間隔で接点を設けるこ
とができる。しかも、可撓性面プローブは可撓性のある
フィルム基板から形成されるから、液晶パネルに当接さ
せた時に、この液晶パネルに倣わせることができて、接
点は確実に液晶パネルの電極と電気的に接続する。そし
て、この点灯試験の結果、液晶パネルの全面が点灯する
と、それは良品として次の工程に移行させ、液晶パネル
の一部または全部が点灯しない場合には、不良品として
排除できる。この結果、不良品が次の工程に送り込まれ
るという無駄の発生を予防できる。
Since the contact device for the lighting test is composed of the circuit board including the TAB and the flexible surface probe as described above, the contacts can be provided at an extremely fine pitch interval. Moreover, since the flexible surface probe is formed of a flexible film substrate, it can be made to follow the liquid crystal panel when it is brought into contact with the liquid crystal panel, and the contact points can be reliably connected to the electrodes of the liquid crystal panel. To be electrically connected to. Then, as a result of this lighting test, when the entire surface of the liquid crystal panel is turned on, it is regarded as a good product and is transferred to the next step, and when a part or all of the liquid crystal panel is not turned on, it can be excluded as a defective product. As a result, it is possible to prevent waste of defective products being sent to the next process.

【0011】このコンタクト装置を用いて実際に液晶パ
ネルの点灯試験を行う際には、コンタクト装置を構成す
る可撓性面プローブと液晶パネルとの間を接離させる機
構が必要となる。点灯試験を行うに当っては、コンタク
ト装置を固定的に保持して、液晶パネルをこのコンタク
ト装置に接離する方式も考えられるが、液晶パネルを位
置決め固定し、コンタクト装置を液晶パネルに接離させ
るのが合理的である。このためには、コンタクト装置を
保持する手段としてのプローブホルダを設け、このプロ
ーブホルダを駆動手段により少なくとも上下方向に変位
させることによって、液晶パネルに接離させる。勿論、
コンタクト装置側の接点を液晶パネルの電極と正確に一
致させるためには、コンタクト時に相互の位置合わせが
必要であるが、画像処理手段等を用いれば、確実にアラ
イメントを行うことができる。
When actually performing a lighting test of a liquid crystal panel using this contact device, a mechanism for contacting and separating the flexible surface probe forming the contact device and the liquid crystal panel is required. In conducting a lighting test, a method of holding the contact device in a fixed manner and contacting and separating the liquid crystal panel with the contact device may be considered. However, positioning and fixing the liquid crystal panel and contacting and separating the contact device with the liquid crystal panel. It is rational to let them do. To this end, a probe holder is provided as a means for holding the contact device, and the probe holder is displaced at least in the vertical direction by the driving means to bring the probe holder into and out of contact with the liquid crystal panel. Of course,
In order to accurately match the contact on the contact device side with the electrode of the liquid crystal panel, mutual alignment is required at the time of contact, but if image processing means or the like is used, alignment can be surely performed.

【0012】コンタクト装置を構成する可撓性面プロー
ブを液晶パネルに当接させた時において、接点と電極と
の間の電気的な接続をより確実に行うには、可撓性面プ
ローブに加圧力を作用させるのが好ましい。この加圧力
を作用させるためにプレス手段を用いるが、プローブホ
ルダとの位置関係を一定にするためには、プレス手段を
プローブホルダに設ける。ここで、プレス手段は一直線
状に配置すれば良いことから、1本の棒状の部材で形成
できるが、液晶パネルには、1辺について、複数枚のT
ABが搭載されることから、コンタクト装置としては、
TABの数に応じた数の可撓性面プローブに分割したも
のを用いる場合には、プレス手段を複数に分割して各プ
レス部材で可撓性面プローブを加圧することも可能であ
る。しかも、これら各プレス部材にばねやゴムその他の
弾性部材等からなる付勢手段を作用させることにより、
弾性的に当接させる構成とする。これによって、液晶パ
ネルの厚みのばらつきや、液晶パネルが装着される位置
決め用のテーブルの変形、さらにはプレス手段の変形等
が多少あったとしても、誤差が累積するのを防止でき
て、一部の接点と電極とが接続不良になる等の事態が生
じることはない。
When the flexible surface probe constituting the contact device is brought into contact with the liquid crystal panel, in order to more securely make an electrical connection between the contact and the electrode, the flexible surface probe is added to the liquid crystal panel. It is preferable to apply pressure. The pressing means is used to apply this pressing force, but in order to keep the positional relationship with the probe holder constant, the pressing means is provided on the probe holder. Here, since the pressing means may be arranged in a straight line, it can be formed of one rod-shaped member. However, in the liquid crystal panel, a plurality of T
Since AB is mounted, the contact device is
When a flexible surface probe is divided into a number corresponding to the number of TABs, it is possible to divide the pressing means into a plurality and press each flexible member to press the flexible surface probe. Moreover, by applying an urging means composed of a spring, rubber or other elastic member to each of these press members,
It is configured to elastically abut. This makes it possible to prevent the error from accumulating even if there is some variation in the thickness of the liquid crystal panel, deformation of the positioning table on which the liquid crystal panel is mounted, and further deformation of the pressing means, and it is possible to prevent errors from partially accumulating. There is no possibility that the connection between the contact and the electrode will be poor.

【0013】可撓性面プローブに均一な加圧力を作用さ
せるには、ゴム等の弾性部材を用いるのが好ましい。こ
の弾性部材は、プレス手段の可撓性面プローブへの当接
面に固着する構成としても良いが、複数の可撓性面プロ
ーブに各別に加圧力を作用させるために、独立した複数
のプレス部材を用いる場合には、このプレス部材を保持
する部材に1枚のフィルム状の弾性部材を設けて、この
弾性部材に各プレス部材の下方に回り込ませるように取
り付けることもできる。
In order to apply a uniform pressing force to the flexible surface probe, it is preferable to use an elastic member such as rubber. This elastic member may be fixed to the contact surface of the pressing means to the flexible surface probe, but in order to apply a pressing force to each of the plurality of flexible surface probes, a plurality of independent press members are used. When a member is used, a single film-like elastic member may be provided for the member that holds the press member, and the elastic member may be attached so as to wrap around the press member.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。まず、図1に液晶パネルの点灯試験装置の
全体構成を示す。図中において、1は装置本体であり、
この装置本体1には、液晶パネル10の搭載部2とコン
タクト部3とを備えている。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, FIG. 1 shows the overall configuration of a lighting test device for a liquid crystal panel. In the figure, 1 is the apparatus main body,
The device body 1 includes a mounting portion 2 for the liquid crystal panel 10 and a contact portion 3.

【0015】ここで、液晶パネル10は、図2に示した
ように、それぞれガラス等からなる透明部材の上基板1
1と下基板12とを有し、この上基板11と下基板12
との間には液晶が封入されている。下基板12は上基板
11より大きなサイズのもので、その3辺部には、それ
ぞれ所定のピッチ間隔で電極13が設けられている。な
お、液晶パネルの種類等によっては4辺部分に電極を設
けたものもあるし、さらには下基板12には2辺部分に
電極が設けられ、上基板11の下面の1辺に電極を設け
たものもある。電極13は、それぞれ所定の数を群とし
て、複数群形成されており、各電極群13Gの部位には
TAB14が取り付けられる。TAB14は、周知のよ
うに、フレキシブルなフィルム状の基板にドライバIC
15を搭載すると共に、インナリード16とアウタリー
ド17とが設けられている。インナリード16は、液晶
パネル10の電極13に接続されるものであり、またア
ウタリード17は図示しないPCBに接続される。点灯
試験装置によって点灯試験が行われるのは、液晶パネル
10にTAB14が搭載される前の段階である。
Here, the liquid crystal panel 10 is, as shown in FIG. 2, an upper substrate 1 of a transparent member made of glass or the like.
1 and a lower substrate 12, the upper substrate 11 and the lower substrate 12
A liquid crystal is enclosed between and. The lower substrate 12 has a size larger than that of the upper substrate 11, and electrodes 13 are provided on each of three sides thereof at a predetermined pitch. Depending on the type of liquid crystal panel and the like, there are those in which electrodes are provided on four sides, and further, electrodes are provided on two sides of the lower substrate 12 and electrodes are provided on one side of the lower surface of the upper substrate 11. There are also things. A plurality of electrodes 13 are formed, each having a predetermined number, and a TAB 14 is attached to a portion of each electrode group 13G. As is well known, the TAB 14 is a driver IC on a flexible film substrate.
15 is mounted, and an inner lead 16 and an outer lead 17 are provided. The inner leads 16 are connected to the electrodes 13 of the liquid crystal panel 10, and the outer leads 17 are connected to a PCB (not shown). The lighting test is conducted by the lighting test device before the TAB 14 is mounted on the liquid crystal panel 10.

【0016】装置本体1には、搭載部2とコンタクト部
3との間に往復移動する液晶パネル位置決めユニット2
0が設けられている。この液晶パネル位置決めユニット
20は、図3及び図4からも明らかなように、ボールね
じ送り手段21により搭載部2とコンタクト部3との間
に往復移動するベース22を有し、このベース22に
は、その移動方向と直交する方向に位置調整可能なY軸
テーブル23が設置されている。このY軸テーブル23
もボールねじ送り手段24により駆動される。ここで、
ベース22はボールねじ送り手段21によって、搭載部
2とコンタクト部3との間に往復移動するだけでなく、
コンタクト部3においては、微小移動させて、その位置
調整も行うことができる。即ち、このベース22はX軸
方向に液晶パネル10の位置を調整するX軸テーブルと
しても機能する。さらに、Y軸テーブル23上にはθテ
ーブル25が設けられている。このθテーブル25は、
Y軸テーブル23に立設した円筒支持部23aに回転可
能に嵌合されており、またY軸テーブル23には、ボー
ルねじ送り手段26が設けられて、このボールねじ送り
手段26のねじ軸26aには、スライド駒27がガイド
28に沿って移動するように設けられている。スライド
駒27は、θテーブル25に設けた作動板29に当接し
ており、この作動板29は、ばね30の作用によりスラ
イド駒27に当接する方向に付勢されている。
The apparatus body 1 includes a liquid crystal panel positioning unit 2 that reciprocates between the mounting portion 2 and the contact portion 3.
0 is provided. As is clear from FIGS. 3 and 4, the liquid crystal panel positioning unit 20 has a base 22 that reciprocates between the mounting portion 2 and the contact portion 3 by the ball screw feeding means 21. Is provided with a Y-axis table 23 whose position can be adjusted in a direction orthogonal to the moving direction. This Y-axis table 23
Is also driven by the ball screw feeding means 24. here,
The base 22 not only reciprocates between the mounting portion 2 and the contact portion 3 by the ball screw feeding means 21, but also
The contact portion 3 can be finely moved to adjust its position. That is, the base 22 also functions as an X-axis table for adjusting the position of the liquid crystal panel 10 in the X-axis direction. Further, a θ table 25 is provided on the Y-axis table 23. This θ table 25
The Y-axis table 23 is rotatably fitted to a cylindrical support portion 23a provided upright, and the Y-axis table 23 is provided with a ball screw feeding means 26. The ball screw feeding means 26 has a screw shaft 26a. The slide piece 27 is provided so as to move along the guide 28. The slide piece 27 is in contact with an operating plate 29 provided on the θ table 25, and the operating plate 29 is biased by the action of a spring 30 in the direction of contacting the slide piece 27.

【0017】31は液晶パネル10を保持するパネルホ
ルダであって、このパネルホルダ31はθテーブル25
上に設置されている。このパネルホルダ31の上面に
は、液晶パネル10を装着する透孔32が設けられてお
り、この透孔32は段差32aが形設されて、液晶パネ
ル10の外周縁部はこの段差32aに落とし込んだ状態
に保持される。また、パネルホルダ31の立壁部の一側
には開口33が形成されており、点灯試験時には、この
開口33を介してバックライトユニット34が液晶パネ
ル10の下面に臨むようになる。バックライトユニット
34は、コンタクト部3における装置本体1の奥側に配
置されて、シリンダ等の駆動手段によって、パネルホル
ダ31から離間した退避位置と、パネルホルダ31内に
臨む作動位置との間に往復変位する。
Reference numeral 31 is a panel holder for holding the liquid crystal panel 10. This panel holder 31 is a θ table 25.
It is installed on top. A through hole 32 for mounting the liquid crystal panel 10 is provided on the upper surface of the panel holder 31, and a step 32a is formed in the through hole 32, and the outer peripheral edge portion of the liquid crystal panel 10 is dropped into the step 32a. Be held in Further, an opening 33 is formed on one side of the standing wall portion of the panel holder 31, and the backlight unit 34 faces the lower surface of the liquid crystal panel 10 through the opening 33 during the lighting test. The backlight unit 34 is disposed on the back side of the apparatus main body 1 in the contact portion 3, and between a retracted position separated from the panel holder 31 and an operating position facing the panel holder 31 by a driving means such as a cylinder. Moves back and forth.

【0018】コンタクト部3には、コンタクトユニット
40が設けられている。コンタクトユニット40は、支
持フレーム41を有し、この支持フレーム41は基台4
2に立設した4本のスライドガイド43に挿通した昇降
軸44の先端に連結されている。各昇降軸44の下端部
には、挾持部材45が上下方向に位置調整可能に装着さ
れており、この挾持部材45には回転円板46の偏心し
た位置に突設したローラ47が係合している。相隣接す
る2個のローラ47は回転軸48の両端に装着されてお
り、従って回転軸48は2本設けられている。そして、
これら2本の回転軸48は同時に回転駆動されるが、こ
のために1本の回転軸48にはギア49が取り付けられ
ており、このギア49はモータ50の出力軸50aに取
り付けた駆動ギア51と噛合している。また、このギア
49を設けた回転軸48と他方の回転軸48との間は、
タイミングベルト52を介して回転力の伝達が行われ
る。以上のように構成することによって、支持フレーム
41に連結した4本の昇降軸44は同時にスライドガイ
ド43に沿って昇降する。
The contact unit 3 is provided with a contact unit 40. The contact unit 40 has a support frame 41, which is a base 4
It is connected to the tip of an elevating shaft 44 which is inserted through four slide guides 43 which are vertically installed on the second shaft. A holding member 45 is attached to the lower end of each elevating shaft 44 so that its position can be adjusted in the vertical direction, and a roller 47 protruding from an eccentric position of a rotating disk 46 is engaged with the holding member 45. ing. Two rollers 47 adjacent to each other are mounted on both ends of the rotary shaft 48. Therefore, two rotary shafts 48 are provided. And
These two rotary shafts 48 are driven to rotate at the same time. For this reason, a gear 49 is attached to one rotary shaft 48, and this gear 49 is a drive gear 51 attached to the output shaft 50 a of the motor 50. Meshes with. Further, between the rotary shaft 48 provided with the gear 49 and the other rotary shaft 48,
The rotational force is transmitted via the timing belt 52. With the above configuration, the four lifting shafts 44 connected to the support frame 41 simultaneously move up and down along the slide guide 43.

【0019】支持フレーム41には、プローブホルダ5
3及びプレス手段としてのコンタクトプレス54が設け
られている。そして、このプローブホルダ53にはプロ
ーブユニット60が装着される。
On the support frame 41, the probe holder 5
3 and a contact press 54 as a pressing means. Then, the probe unit 60 is attached to the probe holder 53.

【0020】プローブユニット60は、図5乃至図7に
示したように、回路基板として、PCB61及びTAB
62と、可撓性面プローブ63とから構成され、PCB
61とTAB62との間にはフレキシブル基板64が介
装されており、このフレキシブル基板64によりPCB
61はプローブホルダ53の外部に導出されている。P
CB61及びTAB62、フレキシブル基板64は、液
晶ディスプレイを構成する部品と同じものを使用するこ
とができ、TAB62はインナリード65a及びアウタ
リード65bが形成され、ドライバIC66を設けてな
るもので、アウタリード65bはPCB61に接続され
ている。インナリード65aは直接液晶パネル10に接
離されるのではなく、可撓性面プローブ63を介して液
晶パネル10に接続される。
As shown in FIGS. 5 to 7, the probe unit 60 includes a PCB 61 and a TAB as a circuit board.
62 and a flexible surface probe 63,
A flexible board 64 is interposed between 61 and the TAB 62.
61 is led out of the probe holder 53. P
The CB61, TAB62, and flexible substrate 64 may be the same as those constituting the liquid crystal display. The TAB62 has the inner leads 65a and the outer leads 65b and the driver IC 66, and the outer leads 65b are the PCB61. It is connected to the. The inner leads 65 a are not directly contacted with or separated from the liquid crystal panel 10, but are connected to the liquid crystal panel 10 via the flexible surface probe 63.

【0021】可撓性面プローブ63は、フレキシブルな
ポリイミド等から構成されるフィルム状の基板63aを
有し、この基板63aには、TAB62におけるインナ
リード65aの数と同数の銅箔等からなるリード67の
パターンが形成されて、その一端側はACF68を介し
てTAB62に貼り付けられ、このACF68によっ
て、TAB62のインナリード65aは可撓性面プロー
ブ63の各リード67と電気的に接続されている。ま
た、可撓性面プローブ63の各リード67の他端側に
は、それぞれについて1個、または必要に応じて複数個
(図面においては2個)の接点69が取り付けられてい
る。この接点69は、可撓性面プローブ63のリード6
7が積層されている部位に設けたスルーホールを介して
リード67を設けた面とは反対側の面にほぼ半球面形状
に突出する導電部材、例えばニッケルのコアに金メッキ
を施した、所謂バンプで形成することができる。
The flexible surface probe 63 has a film-shaped substrate 63a made of flexible polyimide or the like, and the substrate 63a has leads made of copper foil or the like in the same number as the number of the inner leads 65a in the TAB 62. A pattern 67 is formed and one end thereof is attached to the TAB 62 via the ACF 68, and the inner lead 65 a of the TAB 62 is electrically connected to each lead 67 of the flexible surface probe 63 by this ACF 68. . Further, one or, if necessary, a plurality of (two in the drawing) contacts 69 are attached to the other end side of each lead 67 of the flexible surface probe 63. This contact 69 is connected to the lead 6 of the flexible surface probe 63.
7 is a conductive member that protrudes in a substantially hemispherical shape on the surface opposite to the surface on which the lead 67 is provided via a through hole provided in a portion where 7 is laminated, for example, a so-called bump in which a nickel core is plated with gold. Can be formed with.

【0022】また、図8に示したように、可撓性面プロ
ーブ63′として、基板63a′に設けたリード67′
の表面に導電粒子を分散させたペーストを塗布して、こ
の導電粒子を外部に露出させるようになし、この導電粒
子を接点69′とすることもできる。而して、この接点
69′は、TABを液晶パネルにACFを介して貼り付
ける方式と同様にして形成することができる。ただし、
可撓性面プローブ63′においては、相手方の部材に重
ね合わせた状態に保持するものではなく、接点69′を
構成する導電粒子は一部が外部に露出しており、この露
出部分は液晶パネルに接離されるものであるから、接点
69′が形成された後には、この接点69′を構成する
導電粒子を分散させたペーストを硬化させる必要があ
る。
Further, as shown in FIG. 8, a lead 67 'provided on a substrate 63a' as a flexible surface probe 63 '.
It is also possible to apply a paste in which conductive particles are dispersed to the surface of to expose the conductive particles to the outside, and use the conductive particles as the contact 69 ′. Thus, the contact 69 'can be formed in the same manner as the method of attaching the TAB to the liquid crystal panel via the ACF. However,
The flexible surface probe 63 'is not held in a state of being superposed on the other member, and a part of the conductive particles forming the contact 69' is exposed to the outside, and this exposed portion is the liquid crystal panel. Therefore, after the contact point 69 'is formed, it is necessary to cure the paste in which the conductive particles forming the contact point 69' are dispersed.

【0023】而して、TAB62と液晶パネル10とは
熱圧着される前の段階では、TAB62のインナリード
65aのピッチ間隔と液晶パネル10における下基板1
2に形成した電極13のピッチ間隔とは同一ではなく、
微妙にずれている。従って、図7の構成のものであれ、
図8の構成のものであれ、可撓性面プローブ63または
63′(以下、これらを総称する場合には面プローブ6
3という)に形成したリード67は直線的なものではな
く、TAB62に貼り付けられる側では、このTAB6
2にACF68を介して貼り付けた時に、TAB62側
のインナリード65aと確実に接続されるピッチ間隔と
なし、また接点69が設けられている側では、液晶パネ
ル10の電極13のピッチ間隔に対応するピッチ間隔と
する。即ち、面プローブ63の機能としては、まず微妙
にずれがあるTAB62のインナリード65aと液晶パ
ネル10の電極13との間のピッチ間隔を補正するため
のものである。このピッチ間隔の補正は、連続的に行っ
ても良いが、ずれ量が極めて微小であるために、複数本
置きにピッチ間隔を微小量補正することも可能である。
In the stage before the TAB 62 and the liquid crystal panel 10 are thermocompression bonded, the pitch interval between the inner leads 65a of the TAB 62 and the lower substrate 1 of the liquid crystal panel 10.
It is not the same as the pitch interval of the electrodes 13 formed in 2,
It is slightly deviated. Therefore, even with the configuration of FIG.
Even if it is the structure of FIG. 8, the flexible surface probe 63 or 63 '(Hereinafter, when it calls these generically, the surface probe 6
The lead 67 formed on the TAB6 is not a linear one, but on the side attached to the TAB62, the TAB6
2 does not have a pitch interval that is surely connected to the inner lead 65a on the TAB 62 side when attached via the ACF 68, and corresponds to the pitch interval of the electrodes 13 of the liquid crystal panel 10 on the side where the contacts 69 are provided. Pitch interval. That is, the function of the surface probe 63 is to correct the pitch interval between the inner lead 65a of the TAB 62 and the electrode 13 of the liquid crystal panel 10 which is slightly deviated. This correction of the pitch interval may be performed continuously, but since the deviation amount is extremely small, it is possible to correct the pitch interval by a small amount at intervals of a plurality of lines.

【0024】また、面プローブ63のもう一つの機能と
しては、点灯試験を行う際に、確実に液晶パネル10の
電極13と電気的に接続させるためのものである。面プ
ローブ63に接点69が設けられるのは、この面プロー
ブ63を液晶パネル10の下基板12の上から押し付け
た時に、電極13に確実に接続させるためのものであ
る。従って、接点69はその形状がほぼ半球面形状に膨
出している。しかも、1本のリード67につき1個では
なく、複数個設けるようにすれば、より確実な接続が可
能となる。なお、各リード67に設けられる接点69の
数は、コンタクト時における電極13とリード67との
重なり合う部位の長さに制限されるが、さらに面プロー
ブ63の製造コスト等を考慮し、かつ実質的にコンタク
ト不良を来さないようにすることを考慮すれば、各リー
ド67について2個程度の接点69を設け、相隣接する
接点69は位置をずらせて設けるが最も好ましい。
Another function of the surface probe 63 is to ensure electrical connection with the electrode 13 of the liquid crystal panel 10 when performing a lighting test. The contact 69 is provided on the surface probe 63 so as to surely connect the surface probe 63 to the electrode 13 when the surface probe 63 is pressed from above the lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10. Therefore, the contact point 69 bulges out in a substantially hemispherical shape. Moreover, if a plurality of leads 67 are provided instead of one lead 67, more reliable connection can be achieved. The number of contacts 69 provided on each lead 67 is limited to the length of the portion where the electrode 13 and the lead 67 overlap each other at the time of contact, but in consideration of the manufacturing cost of the surface probe 63 and the like, and substantially. In consideration of preventing contact failure from occurring, it is most preferable to provide about two contacts 69 for each lead 67 and to dispose the adjacent contacts 69 at different positions.

【0025】プローブホルダ53は、以上の構成を有す
るプローブユニット60を着脱可能にホールドするもの
であり、図2に示したように、液晶パネル10の下基板
12には、その3辺部に複数の電極群13Gが形成され
ているものにあっては、プローブホルダ53は支持フレ
ーム41のそれに対応する各辺にそれぞれ独立した状態
に設けられて、これら各プローブホルダ53にはそれぞ
れ1枚のPCB61と、これら各PCB61に各辺の電
極群13Gの数のTAB62及び面プローブ63が装着
される。なお、4辺に電極群13Gが形成されている場
合には、プローブホルダ53も4辺に設けておく。ま
た、上基板11の下面にも電極群が設けられている場合
には、プローブホルダ53及びコンタクトプレス54は
反転した状態に装着する。
The probe holder 53 holds the probe unit 60 having the above-described structure in a detachable manner. As shown in FIG. 2, the lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10 has a plurality of three sides. In the case where the electrode group 13G is formed, the probe holder 53 is provided on each side corresponding to that of the support frame 41 in an independent state, and each of the probe holders 53 has one PCB 61. Then, the TABs 62 and the surface probes 63 corresponding to the number of the electrode groups 13G on each side are mounted on each of the PCBs 61. When the electrode group 13G is formed on the four sides, the probe holder 53 is also provided on the four sides. When the electrode group is also provided on the lower surface of the upper substrate 11, the probe holder 53 and the contact press 54 are mounted in an inverted state.

【0026】各々のプローブホルダ53は、図9に示し
たように、面プローブ63の中間部を上下から挾持する
ようにしてホールドし、接点69が設けられている部位
はプローブホルダ53から外方に突出している。ここ
で、各プローブホルダ53は、支持フレーム41に対し
て、面プローブ63におけるリード67の並び方向に微
小移動可能となっており、これによってプローブホルダ
53の位置微調整が可能となる。この位置微調整機構と
しては、送りねじを手動つまみ55で操作することによ
り行われるようになっており、またこれ以外でもカム機
構を利用したもの等で、手動または電動操作により調整
を行うようにすることもできる。
As shown in FIG. 9, each probe holder 53 holds by holding the middle portion of the surface probe 63 from above and below, and the portion where the contact 69 is provided is located outside the probe holder 53. Overhangs. Here, each probe holder 53 can be finely moved with respect to the support frame 41 in the direction in which the leads 67 of the surface probe 63 are arranged, whereby fine adjustment of the position of the probe holder 53 is possible. As the position fine adjustment mechanism, the feed screw is operated by the manual knob 55. Besides, a mechanism using a cam mechanism or the like is used, and the adjustment can be performed manually or electrically. You can also do it.

【0027】また、コンタクトプレス54は、プローブ
ホルダ53から前方に延びるように設けられており、そ
の先端部は下方に曲成されて、下端部には、例えばシリ
コンゴム等の弾性体からなる弾性パッド部54aが装着
されている。この弾性パッド部54aはプローブホルダ
53から突出する面プローブ63に当接している。而し
て、この弾性パッド54aによる面プローブ63の当接
部位は、少なくとも面プローブ63の接点69を含むも
のである。
Further, the contact press 54 is provided so as to extend forward from the probe holder 53, the tip end portion is bent downward, and the lower end portion is made of an elastic material such as silicon rubber. The pad portion 54a is attached. The elastic pad portion 54 a is in contact with the surface probe 63 protruding from the probe holder 53. The contact portion of the surface probe 63 with the elastic pad 54a includes at least the contact 69 of the surface probe 63.

【0028】さらに、図1において、70は各プローブ
ホルダ53の位置を正確に検出するために、XY軸変位
手段71に沿って移動可能なテレビカメラ、72は液晶
パネル10の位置検出用のテレビカメラであり、テレビ
カメラ72はそれぞれ間隔を置いて2台設けられてい
る。また、これら各テレビカメラ70,72からの画像
は装置本体1に設けたモニタ4,5に表示されるように
なっている。
Further, in FIG. 1, reference numeral 70 denotes a television camera movable along the XY axis displacement means 71 in order to accurately detect the position of each probe holder 53, and 72 a television for detecting the position of the liquid crystal panel 10. Two TV cameras 72 are provided at intervals. Images from these television cameras 70 and 72 are displayed on monitors 4 and 5 provided in the apparatus main body 1.

【0029】本実施例は以上のように構成されるもので
あって、液晶パネル10の点灯試験を行うに当っては、
まずテレビカメラ70により支持フレーム41に装着さ
れている各プローブホルダ53の位置を撮影して、モニ
タ4に映し出すようにして、それらが所定の位置に配置
されているか否かを検出される。プローブホルダ53が
位置ずれしていると、手動つまみ55を操作することに
よって、それぞれ個別的に位置補正を行う。そして、液
晶パネル位置決めユニット20を搭載部2に配置してお
く。
The present embodiment is configured as described above, and in performing the lighting test of the liquid crystal panel 10,
First, the position of each probe holder 53 mounted on the support frame 41 is photographed by the television camera 70 and projected on the monitor 4 to detect whether or not they are arranged at a predetermined position. When the probe holder 53 is misaligned, the manual knob 55 is operated to individually correct the position. Then, the liquid crystal panel positioning unit 20 is arranged on the mounting portion 2.

【0030】この状態で、液晶パネル10をその上基板
11が上方を向くようにして液晶パネル位置決めユニッ
ト20におけるパネルホルダ31の透孔32に嵌め込む
ように装着する。これによって、液晶パネル10は段差
32aに支承された状態に保持される。
In this state, the liquid crystal panel 10 is mounted so that the upper substrate 11 faces upward and is fitted into the through hole 32 of the panel holder 31 in the liquid crystal panel positioning unit 20. As a result, the liquid crystal panel 10 is held in a state of being supported by the step 32a.

【0031】そこで、ボールねじ送り手段21を作動さ
せて、液晶パネル位置決めユニット20を搭載部2から
コンタクト部3に移行させる。この状態で、テレビカメ
ラ72を作動させて、液晶パネル位置決めユニット20
のパネルホルダ31に支承されている液晶パネル10の
位置を検出する。ここで、液晶パネル10には、通常
は、TAB14を貼り付ける際に、その位置合せを行う
ためのアライメントマークが設けられているから、この
アライメントマークを基準にして位置検出を行うことが
できる。また、アライメントマークが設けられていない
場合や、設けられていても、他の機器との関係で、アラ
イメントマークの撮影を行えない場合には、アライメン
トマーク以外の、例えば端部位置の電極を撮影するよう
にしても良い。ともあれ、テレビカメラ72による画像
をモニタ5に映し出して、その位置を確認し、ベース2
2,Y軸テーブル23及びθテーブル25を適宜作動さ
せて、液晶パネル10が基準位置、即ちプローブホルダ
53が正確に接続できる位置となるように位置調整を行
う。なお、この液晶パネル10の位置調整及び前述した
プローブホルダ53の位置調整は、マイクロコンピュー
タを用いた画像処理手段により位置ずれを検出して、こ
の検出信号に基づいて自動的に位置調整を行えるように
構成することも可能である。
Then, the ball screw feeding means 21 is operated to move the liquid crystal panel positioning unit 20 from the mounting portion 2 to the contact portion 3. In this state, the TV camera 72 is operated to operate the liquid crystal panel positioning unit 20.
The position of the liquid crystal panel 10 supported by the panel holder 31 is detected. Here, since the liquid crystal panel 10 is usually provided with an alignment mark for aligning the TAB 14 when it is attached, the position can be detected based on this alignment mark. Also, if the alignment mark is not provided, or if it is provided but the alignment mark cannot be taken due to the relationship with other equipment, the electrode other than the alignment mark, for example, the electrode at the end position is taken. It may be done. In any case, the image taken by the TV camera 72 is displayed on the monitor 5, and its position is confirmed, and the base 2
2, the Y-axis table 23 and the θ table 25 are appropriately operated to adjust the position so that the liquid crystal panel 10 is at the reference position, that is, the position where the probe holder 53 can be accurately connected. The position adjustment of the liquid crystal panel 10 and the position adjustment of the probe holder 53 described above can be performed by detecting the positional deviation by the image processing means using a microcomputer and automatically adjusting the position based on the detection signal. It is also possible to configure.

【0032】液晶パネル10の位置が調整されると、バ
ックライト34をパネルホルダ31に形成した開口33
から液晶パネル10の下部における作動位置に臨むよう
に変位させる。この状態で、モータ50を作動させて、
回転軸48を回転させることにより、4本の昇降軸44
を同時に下降させる。この結果、コンタクトユニット4
0を構成する支持フレーム41が下降して、この支持フ
レーム41に設けたプローブホルダ53が液晶パネル1
0の方向に移動する。ここで、プローブホルダ53から
は面プローブ63が突出しており、この面プローブ63
の上面にはコンタクトプレス54が当接しているので、
面プローブ63が液晶パネル10に当接する。そして、
支持フレーム41の最下降位置においては、図10に示
したように、プローブホルダ53の面プローブ63をホ
ールドしている部位が液晶パネル10の表面より下方に
位置し、これにより面プローブ63はコンタクトプレス
54の弾性パッド部54aが撓む状態となり、面プロー
ブ63の接点69は液晶パネル10の下基板12におけ
る電極13に確実に接続される。
When the position of the liquid crystal panel 10 is adjusted, the opening 33 in which the backlight 34 is formed in the panel holder 31 is formed.
Is displaced so as to face the operating position in the lower part of the liquid crystal panel 10. In this state, operate the motor 50,
By rotating the rotary shaft 48, the four lifting shafts 44
At the same time. As a result, the contact unit 4
The support frame 41 constituting 0 moves down, and the probe holder 53 provided on the support frame 41 causes the liquid crystal panel 1 to move.
Move in the direction of 0. Here, the surface probe 63 projects from the probe holder 53.
Since the contact press 54 is in contact with the upper surface of the
The surface probe 63 contacts the liquid crystal panel 10. And
At the lowest position of the support frame 41, as shown in FIG. 10, the portion of the probe holder 53 holding the surface probe 63 is located below the surface of the liquid crystal panel 10, so that the surface probe 63 makes contact. The elastic pad portion 54a of the press 54 is bent, and the contact point 69 of the surface probe 63 is reliably connected to the electrode 13 on the lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10.

【0033】そこで、バックライト34を点灯させると
共に、プローブユニット60におけるPCB62に通電
させることによって、液晶パネル10を全点灯させて、
液晶表示領域全体が点灯するか否かの検査を行う。この
検査は、作業者の目視により行うことができるが、テレ
ビカメラを用いた画像処理により自動的に検査すること
も可能である。
Then, the backlight 34 is turned on, and the PCB 62 in the probe unit 60 is energized so that the liquid crystal panel 10 is fully turned on.
It is inspected whether or not the entire liquid crystal display area is turned on. This inspection can be performed visually by an operator, but it is also possible to perform the inspection automatically by image processing using a television camera.

【0034】液晶パネル10の点灯試験が終了すると、
バックライト34を退避位置に変位させ、液晶パネル位
置決めユニット20をコンタクト部3から搭載部2に移
行させて、パネルホルダ31から試験済の液晶パネル1
0を取り出し、新たな液晶パネル10を液晶パネル位置
決めユニット20に設置して、前述と同様の操作を行う
ことによって、順次液晶パネル10の点灯試験が行われ
る。なお、液晶パネル10のパネルホルダ31への着脱
は、作業者が手動で行うようにしても良いが、例えば真
空吸着手段等を用いて自動的に行うようにすることもで
きる。
When the lighting test of the liquid crystal panel 10 is completed,
The backlight 34 is displaced to the retracted position, the liquid crystal panel positioning unit 20 is moved from the contact portion 3 to the mounting portion 2, and the tested liquid crystal panel 1 from the panel holder 31.
By taking out 0, installing a new liquid crystal panel 10 in the liquid crystal panel positioning unit 20, and performing the same operation as described above, the lighting test of the liquid crystal panel 10 is sequentially performed. The liquid crystal panel 10 may be attached to or detached from the panel holder 31 manually by an operator, but may be automatically attached or removed by using, for example, a vacuum suction means.

【0035】プローブユニットには、複数の可撓性面プ
ローブが保持されているから、コンタクトプレスとして
は、これら各可撓性面プローブを個別的に加圧するよう
にするように構成できる。このように、独立に加圧を行
うようにすると、液晶パネルや液晶パネル位置決めユニ
ット、さらにはコンタクトプレスに寸法誤差や、組み付
け誤差、さらには反りその他の変形等があっても、これ
らの誤差が累積しないので、より均一で、確実なプレス
を行えるようになる。
Since the probe unit holds a plurality of flexible surface probes, the contact press can be constructed so as to individually pressurize each of these flexible surface probes. In this way, when pressure is applied independently, even if the liquid crystal panel, the liquid crystal panel positioning unit, and the contact press have dimensional errors, assembly errors, and even warpage and other deformations, these errors will occur. Since it does not accumulate, more uniform and reliable pressing can be performed.

【0036】そこで、以下に図11及び図12にプレス
手段の構成を示す。なお、これらの図において、前述し
た実施例と同一または均等な部材については、同一の符
号を付してその説明を省略する。
Therefore, the structure of the pressing means is shown in FIGS. 11 and 12 below. In these figures, the same or equivalent members as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0037】プローブユニット60を保持するプローブ
ホルダ53は昇降駆動用のアーム80に取り付けられ
て、このアーム80を上下動させることによって、液晶
パネル10に可撓性面プローブ63を接離させるように
構成されている。おり、このアーム80には2本のガイ
ドロッド81が立設されており、これらのガイドロッド
81に昇降ブロック82が昇降可能に装着されている。
また、昇降ブロック82にはボールブッシュ83が設け
られており、このボールブッシュ83にボールねじ84
が螺挿されている。そして、2本のガイドロッド81,
81間を掛け渡すようにして設けた支持板85にモータ
86を設けて、このモータ86によりボールねじ84を
回転駆動すると、昇降ブロック81が上下動するように
なっている。なお、図中87はアーム80に設けられ、
ボールねじ84を回転自在に支承する軸受である。
The probe holder 53, which holds the probe unit 60, is attached to the arm 80 for raising and lowering, and the flexible surface probe 63 is brought into contact with and separated from the liquid crystal panel 10 by moving the arm 80 up and down. It is configured. Two guide rods 81 are erected on the arm 80, and an elevating block 82 is attached to the guide rods 81 so as to be able to ascend and descend.
A ball bush 83 is provided on the lifting block 82, and a ball screw 84 is attached to the ball bush 83.
Is screwed in. And the two guide rods 81,
When a motor 86 is provided on a support plate 85 provided so as to span 81, and the ball screw 84 is rotationally driven by the motor 86, the elevating block 81 moves up and down. In the figure, 87 is provided on the arm 80,
The bearing rotatably supports the ball screw 84.

【0038】昇降ブロック82にプレス手段88が設け
られている。このプレス手段88は、プレスホルダ89
を有し、このプレスホルダ89にはスライドガイド90
が設けられており、このスライドガイド90にプローブ
ユニット60に装着されている可撓性面プローブ63の
数に相当する数のコンタクトプレス91が上下動可能に
装着されている。コンタクトプレス91は、本体部91
aの下端部にプレスヘッド91bを連設してなるもので
あり、スライドガイド90にはコンタクトプレス91の
本体部91aとプレスヘッド91bとの間の段差部が当
接することによって、下降ストロークの下限位置を規制
する規制部90aが形成されている。さらに、コンタク
トプレス91には付勢手段としてのばね92が作用して
おり、このばね92のばね力を調整するために、プレス
ホルダ89には調整ねじ93が螺挿されている。調整ね
じ93はばね受け94と当接しており、この調整ねじ9
3を適宜螺回することにより、ばね93が伸縮して、コ
ンタクトプレス91に対する付勢力が調整される。しか
も、複数設けられるコンタクトプレス91に作用するば
ね92の付勢力を個別的に調整できるようになってい
る。
Pressing means 88 is provided on the elevating block 82. The pressing means 88 is a press holder 89.
The press holder 89 has a slide guide 90.
The slide guide 90 is provided with contact presses 91 as many as the flexible surface probes 63 mounted on the probe unit 60 so as to be vertically movable. The contact press 91 has a main body portion 91.
The press head 91b is connected to the lower end of a, and the lower end of the descending stroke is set by the step portion between the main body 91a of the contact press 91 and the press head 91b contacting the slide guide 90. A regulation portion 90a that regulates the position is formed. Further, a spring 92 as an urging means acts on the contact press 91, and an adjusting screw 93 is screwed into the press holder 89 to adjust the spring force of the spring 92. The adjusting screw 93 is in contact with the spring receiver 94, and the adjusting screw 9
By appropriately screwing 3, the spring 93 expands and contracts, and the urging force on the contact press 91 is adjusted. Moreover, the biasing force of the spring 92 acting on the plurality of contact presses 91 can be individually adjusted.

【0039】さらに、プレスホルダ89の下方側の背面
部とスライドガイド90の前面部との間には、全てのコ
ンタクトプレス91のプレスヘッド91bを下部に回り
込むようにして、所定の厚みを有する1枚のゴムシート
95が取り付けられており、コンタクトプレス91が可
撓性面プローブ63を加圧する際には、このコンタクト
プレス91のプレスヘッド91bが直接可撓性面プロー
ブ63に当接するのではなく、このゴムシート95を介
して加圧力が伝達されるようになっている。従って、こ
のゴムシート95の撓みにより各コンタクトプレス91
の全長にわたって、均一な加圧力を作用させることがで
きるように構成される。
Further, between the lower part of the press holder 89 and the front part of the slide guide 90, the press heads 91b of all the contact presses 91 are wound downward to have a predetermined thickness. A sheet of rubber sheet 95 is attached, and when the contact press 91 presses the flexible surface probe 63, the press head 91b of the contact press 91 does not directly contact the flexible surface probe 63. The pressing force is transmitted through the rubber sheet 95. Therefore, due to the bending of the rubber sheet 95, each contact press 91
Is configured so that a uniform pressing force can be applied over the entire length of the.

【0040】以上のように構成することによって、ま
ず、プローブホルダ53を作動させて、液晶パネル10
に対して所定の位置決めを行い、このプローブホルダ5
3に保持されている各可撓性面プローブ63を液晶パネ
ル10の下基板11の電極群13Gに対してアライメン
トさせる。その後に、プローブホルダ53を下降させ
て、プローブユニット60を構成する各可撓性面プロー
ブ63に設けた各接点69を液晶パネル10の電極13
に当接させる。そして、このプローブホルダ53上に設
けた昇降ブロック82を下降させて、プレス手段88を
構成する複数のコンタクトプレス91によって、各可撓
性面プローブ63の接点69を液晶パネル10の電極1
3に圧接させる。これによって、全ての接点69と全て
の電極13との間の電気的接続が確実に行われる。
With the above-described structure, first, the probe holder 53 is operated to activate the liquid crystal panel 10.
Predetermined positioning for the probe holder 5
Each of the flexible surface probes 63 held by No. 3 is aligned with the electrode group 13G of the lower substrate 11 of the liquid crystal panel 10. After that, the probe holder 53 is lowered to connect the contacts 69 provided on the flexible surface probes 63 constituting the probe unit 60 to the electrodes 13 of the liquid crystal panel 10.
Contact. Then, the elevating block 82 provided on the probe holder 53 is lowered, and the contact 69 of each flexible surface probe 63 is brought into contact with the electrode 1 of the liquid crystal panel 10 by the plurality of contact presses 91 constituting the pressing means 88.
Press into contact with 3. This ensures an electrical connection between all contacts 69 and all electrodes 13.

【0041】各コンタクトプレス91は、スライドガイ
ド90にそれぞれ個別にガイドされるようになってお
り、しかもそれぞれのコンタクトプレス91には独立に
ばね92が作用しているから、各可撓性面プローブ63
はばね92の荷重により個別的に加圧されることにな
る。従って、液晶パネル10の下基板11に厚みのばら
つきがあったとしても、またこの液晶パネル10を搬送
及び位置決めするための液晶パネル位置決めユニット2
0に寸法誤差や組み付け誤差等があっても、これらの誤
差が累積することはない。また、コンタクトプレス91
のプレスヘッド91bは幅の狭い部材であることから、
反り等の変形のおそれがあるが、コンタクトプレス91
を小さく分割することにより長さの短縮が図られるか
ら、変形の発生のおそれが少なく、また僅かに変形した
としても、加圧力の作用する部位に大きな誤差が生じな
い。しかも、コンタクトプレス91により直接可撓性面
プローブ63を直接加圧するのではなく、間にゴムシー
ト95が介在しているから、このゴムシート95の撓み
により誤差の吸収が行われるから、均一な加圧力を各々
の可撓性面プローブ63に作用させることができるよう
になり、接点69と電極13との電気的接続を極めて安
定できる。
The contact presses 91 are individually guided by the slide guides 90, and the springs 92 independently act on the contact presses 91. 63
Will be individually pressurized by the load of the spring 92. Therefore, even if the lower substrate 11 of the liquid crystal panel 10 has a variation in thickness, the liquid crystal panel positioning unit 2 for transporting and positioning the liquid crystal panel 10 again.
Even if 0 has a dimensional error or an assembly error, these errors will not be accumulated. Also, contact press 91
Since the press head 91b of is a narrow member,
Although there is a possibility of deformation such as warping, contact press 91
Since the length can be shortened by dividing into smaller parts, there is less risk of deformation, and even if slightly deformed, a large error does not occur in the portion where the pressing force acts. Moreover, since the contact press 91 does not directly press the flexible surface probe 63 directly, but the rubber sheet 95 is interposed therebetween, the flexure of the rubber sheet 95 absorbs the error, so that the contact is uniform. The pressing force can be applied to each flexible surface probe 63, and the electrical connection between the contact point 69 and the electrode 13 can be extremely stabilized.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明は以上のように構成したから、点
灯試験を行う際に、それぞれピッチ間隔が微妙に異なる
液晶パネルの電極とTABのインナリードとを間に可撓
性面プローブを介在させることにより補正するようにな
し、かつ可撓性面プローブには電極を突設しているか
ら、たとえ液晶パネルにおける電極のピッチ間隔が極め
て微細になっていても、液晶パネル全面を確実に点灯さ
せることができる等の効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, a flexible surface probe is interposed between the electrode of the liquid crystal panel and the inner lead of the TAB which have slightly different pitch intervals when performing the lighting test. By doing so, the electrodes are projected on the flexible surface probe, so that the entire surface of the liquid crystal panel is reliably turned on even if the electrode pitch in the liquid crystal panel is extremely fine. There is an effect that it can be made.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】液晶パネルの点灯試験の全体構成を示す外観図
である。
FIG. 1 is an external view showing an overall configuration of a lighting test of a liquid crystal panel.

【図2】液晶パネルにTABを搭載した状態を示す外観
図である。
FIG. 2 is an external view showing a state in which a TAB is mounted on a liquid crystal panel.

【図3】液晶パネル位置決めユニット及びコンタクトユ
ニットの構成を示す構成説明図である。
FIG. 3 is a configuration explanatory view showing configurations of a liquid crystal panel positioning unit and a contact unit.

【図4】液晶パネル位置決めユニットの構成を示す図3
のX−X断面図である。
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of a liquid crystal panel positioning unit.
FIG.

【図5】プローブユニットの要部外観図である。FIG. 5 is an external view of a main part of a probe unit.

【図6】可撓性面プローブの平面図である。FIG. 6 is a plan view of a flexible surface probe.

【図7】図6のY−Y断面図である。7 is a cross-sectional view taken along line YY of FIG.

【図8】図7とは異なる構造の可撓性面プローブの要部
断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of an essential part of a flexible surface probe having a structure different from that of FIG.

【図9】プローブプローブホルダ及びコンタクトプレス
と液晶パネルとの関係を示す拡大断面図である。
FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view showing the relationship between the probe holder and the contact press and the liquid crystal panel.

【図10】プローブユニットの液晶パネルに対するコン
タクト状態を示す作動説明図である。
FIG. 10 is an operation explanatory diagram showing a contact state of the probe unit with the liquid crystal panel.

【図11】本発明のプレス機構の他の例を示す断面図で
ある。
FIG. 11 is a sectional view showing another example of the pressing mechanism of the present invention.

【図12】図11のZ−Z断面図である。12 is a sectional view taken along line ZZ of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 装置本体 2 搭載部 3 コンタクト部 10 液晶パネル 11 上基板 12 下基板 13 電極 20 液晶パネル位置決めユニット 31 プローブホルダ 40 コンタクトユニット 53 プローブホルダ 54,91 コンタクトプレス 54a 弾性パッド部 60 プローブユニット 61 PCB 62 TAB 63,63′ 可撓性面プローブ 64 インナリード 65 アウタリード 66 ドライバIC 67 リード 69,69′ 接点 82 昇降ブロック 88 プレス手段 89 プレスホルダ 90 スライドガイド 92 ばね 95 ゴムシート 1 Device Main Body 2 Mounting Part 3 Contact Part 10 Liquid Crystal Panel 11 Upper Substrate 12 Lower Substrate 13 Electrode 20 Liquid Crystal Panel Positioning Unit 31 Probe Holder 40 Contact Unit 53 Probe Holder 54,91 Contact Press 54a Elastic Pad 60 Probe Unit 61 PCB 62 TAB 63, 63 'Flexible surface probe 64 Inner lead 65 Outer lead 66 Driver IC 67 Lead 69, 69' Contact 82 Elevating block 88 Pressing means 89 Press holder 90 Slide guide 92 Spring 95 Rubber sheet

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 守屋 秀喜 東京都渋谷区東3丁目16番3号 日立電子 エンジニアリング株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hideki Moriya 3-16-3 Higashi, Shibuya-ku, Tokyo Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一対の透明基板間に液晶を封入してなる
液晶パネルに、その各電極に通電させて、点灯試験を行
うための装置において、前記液晶パネルの各電極に接続
するための電極を備えた回路基板と、可撓性を有するフ
ィルム状の基板にリードパターンが形成され、このリー
ドの一側がこの回路基板の電極に接続するように固定さ
れ、他側には前記液晶パネルの各電極に接離する接点を
設けた可撓性面プローブとを備える構成としたことを特
徴とする液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置。
1. An electrode for connecting to each electrode of the liquid crystal panel in a device for conducting a lighting test by energizing each electrode of a liquid crystal panel in which liquid crystal is sealed between a pair of transparent substrates. A lead pattern is formed on a circuit board provided with a flexible film-like substrate, one side of the lead is fixed so as to connect to an electrode of the circuit board, and the other side is provided with each of the liquid crystal panels. A lighting device contact test device for a liquid crystal panel, comprising: a flexible surface probe provided with a contact that comes in contact with and separated from an electrode.
【請求項2】 前記回路基板はTABを含むものである
ことを特徴とする請求項1記載の液晶パネルの点灯試験
用コンタクト装置。
2. The contact device for lighting test of a liquid crystal panel according to claim 1, wherein the circuit board contains TAB.
【請求項3】 前記TABは複数枚並べて設けられ、前
記可撓性面プローブは各TAB毎にそれぞれ連結した複
数枚で構成したものであることを特徴とする請求項2記
載の液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置。
3. The liquid crystal panel lighting according to claim 2, wherein the plurality of TABs are provided side by side, and the flexible surface probe is composed of a plurality of sheets connected to each TAB. Test contact device.
【請求項4】 前記可撓性面プローブには、接点をその
表面から突出する状態に形成したことを特徴とする請求
項1乃至請求項3項のいずれかに記載の液晶パネルの点
灯試験用コンタクト装置。
4. The lighting test of a liquid crystal panel according to claim 1, wherein the flexible surface probe is formed with a contact in a state of protruding from the surface thereof. Contact device.
【請求項5】 前記接点は可撓性面プローブに設けた各
リードにつき複数個設ける構成としたことを特徴とする
請求項1乃至請求項3項のいずれかに記載の液晶パネル
の点灯試験用コンタクト装置。
5. The lighting test of a liquid crystal panel according to claim 1, wherein a plurality of the contacts are provided for each lead provided on the flexible surface probe. Contact device.
【請求項6】 前記可撓性面プローブは、その接点を含
めた所定の長さだけ外部に突出させる状態にして所定の
枚数分だけプローブホルダに装着し、このプローブホル
ダにより接点を前記液晶パネルの電極に接離させる構成
としたことを特徴とする請求項1乃至請求項3項のいず
れかに記載の液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置。
6. The flexible surface probe is attached to a probe holder by a predetermined number in a state in which the flexible surface probe is protruded to the outside by a predetermined length including the contact, and the contact is made by the probe holder. The contact device for lighting test of a liquid crystal panel according to any one of claims 1 to 3, wherein the contact device is brought into contact with and separated from the electrode.
【請求項7】 前記プローブホルダから突出する可撓性
面プローブを前記液晶パネルに押圧するためのプレス手
段を備える構成としたことを特徴とする請求項6記載の
液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置。
7. A contact device for a lighting test of a liquid crystal panel according to claim 6, further comprising a pressing means for pressing a flexible surface probe protruding from the probe holder against the liquid crystal panel. .
【請求項8】 前記プレス手段の前記可撓性面プローブ
への当接部には弾性部材を装着する構成としたことを特
徴とする請求項7記載の液晶パネルの点灯試験用コンタ
クト装置。
8. The contact device for lighting test of a liquid crystal panel according to claim 7, wherein an elastic member is attached to a contact portion of the pressing means with the flexible surface probe.
【請求項9】 前記プレス手段は、昇降ブロックに付勢
手段によりこの昇降ブロックから突出する方向に付勢し
た複数のプレス部材を設けて、これら各プレス部材によ
って、前記プローブホルダに装着されている複数枚の可
撓性面プローブを個別的に加圧する構成としたことを特
徴とする請求項7記載の液晶パネルの点灯試験用コンタ
クト装置。
9. The pressing means is provided with a plurality of pressing members which are urged by an urging means in a direction projecting from the ascending / descending block, and which are attached to the probe holder by the pressing members. The contact device for lighting test of a liquid crystal panel according to claim 7, wherein a plurality of flexible surface probes are individually pressed.
【請求項10】 前記昇降ブロックには、各プレス部材
の下部を回り込むように弾性体シートを装着し、各プレ
ス部材は前記可撓性面プローブに対して、この弾性体シ
ートを介して押し付けるように構成したことを特徴とす
る請求項9記載の液晶パネルの点灯試験用コンタクト装
置。
10. An elastic sheet is attached to the elevating block so as to wrap around a lower portion of each press member, and each press member is pressed against the flexible surface probe via the elastic sheet. The contact device for a lighting test of a liquid crystal panel according to claim 9, wherein the contact device is configured as described above.
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