JPH0823589B2

JPH0823589B2 - ガンマカメラの解像を良好ならしめる方法およびその改良されたガンマカメラ

Info

Publication number: JPH0823589B2
Application number: JP58083960A
Authority: JP
Inventors: ダン・インバ−
Original assignee: エルシントインコーポレーテツド
Priority date: 1982-05-12
Filing date: 1983-05-12
Publication date: 1996-03-06
Anticipated expiration: 2011-03-06
Also published as: NL8301699A; FR2530824B1; IL68656A; NL192352C; JPS5920880A; NL192352B; FR2530824A1; DE3317292C2; US4429226A; IL68656A0; DE3317292A1

Description

【発明の詳細な説明】技術分野本発明はガンマカメラ、さらに詳しくいうとこの種カ
メラの解像力を改良する方法と装置に関するものであ
る。

従来技術周知のとおり、従来のガンマカメラは放射刺激に応答
して、その刺激がクリスタルの格子構造と相互作用を起
こす位置において、そのクリスタル内に感光事象（ligh
t event）を生ずるシンチレーシヨンクリスタルを持つ
ている。そのクリスタルに操作的に結合している光増倍
器（photomultiplier）の配列が、感光事象（light eve
nt）に応答して個個の出力を生じ、これらの出力は各感
光事象（light event）の座標を計算する計算回路によ
り処理される。

クリスタル上に像を作つた放射場の強度分布をデイス
プレーし、クリスタル中に感光事象（light event）を
作り出すために、クリスタル内に、事象（event）の密
度分布のある種の表現を、貯蔵登録装置（storage regi
ster）のマトリツクスを利用して貯えるのが常法であつ
て、このマトリツクスの要素はクリスタルの素面積に１
対１の対応をしているのである。１つの感光事象（ligh
t event）がクリスタル内で起こる度にその座標が計算
され、マトリツクスのこれらの座標を含んでいる要素
（element）の内容が増加する。かくして、このマトリ
ツクスのある与えられた要素の内容は、そのクリスタル
の素面積内で、予め決められた期間内に起こつた事象
（event）の数を表わす数字であつて、素面積（element
al area）はマトリツクス中の上記与えられた要素の位
置と対応している。この数字はマトリツクスの前記与え
られた要素の関連づけられた放射場の素面積から放射さ
れた放射の強度と正比例している。それゆえ、前記マト
リツクスの要素に対応してデイスプレーの画面要素（pi
cture element）の明るさを決めるのに、この数字を用
いることにより、放射場の強度分布がそのデイスプレー
の明るさの分布の形でデイスプレーすることができる。

米国特許第3011057号に示された古い型のガンマカメ
ラにおいては、感光事象（light event）の座標は、光
増倍器（photomultiplier）の出力シグナルに作用させ
ることにより計算されている。特に、上記光増倍器（ph
otomultiplier）のシグナルの、いわゆる“重心”は、
各光増倍器（photomultiplier）に、そのクリスタル内
のある座標軸に関連づけたその相対位置に応じて、ある
種のウエイトを割付け、その光増倍器（photomultiplie
r）のウエイトとその出力とをかけ合わせて、これら光
増倍器（photomultiplier）のすべての加重出力を合計
し、光増倍器の数字をこの合計値で割つている。当業者
に周知の理由により、ある感光事象（light event）の
計算された位置は、そのクリスタル内の現実の位置から
はずれている可能性がある。その結果、このようにして
その内容を作られたマトリツクスから生ずる像は必らず
しも現実の放射場を再生できない。もし、その系におけ
る非線形性に補償がなされると、正確度は増す。

１つのアプローチとして、米国特許第4060730号に、
この計算を、先づ事象の一般的な位置を大体決めて、そ
の後でその事象の座標を決めるためにその一般的な位置
に近い光増倍器（photomultiplier）の出力について予
じめ決めておいた関数を用いるステツプバイステツプ方
向を用いて計算することが記載されている。他のアプロ
ーチとして米国特許第4095108号に、キヤリブレーシヨ
ンマツプ、またはマトリツクスが与えられたガンマカメ
ラについて得られており、かつ計算された座標がそのキ
ヤリブレーシヨンマツプにより修正されることが述べら
れている。しかしながら、ガンマカメラの固有の問題で
ある放射場の像を正確にデイスプレーするためには、両
手段とも充分成功しているとは言い得ない。

それゆえ本発明の目的の１つは上記した型のガンマカ
メラの解像力を良くする新しくかつ改良された方法と装
置を提供することである。

発明の集約ガンマカメラのシンチレーシヨンクリスタル内で感光
事象（light event）の密度分布を表現するマトリツク
スの各要素が、該カメラの解像力を良くするようにウエ
イトをつけてある。ある要素のウエイトは、その要素に
該当する素面積内で起こつたと計算された１つの事象が
現実にその位置で起こつた確率により決めるのである。
この発明の実施態様を示す１実施例においては、この種
確率は、クリスタル上の既知の位置にキヤリブレーシヨ
ン用のガンマ線を衝突させ、ガンマカメラによりその事
象の位置を計算するキヤリブレーシヨン方式を用いて計
算される。クリスタル内のある固定点上に前記キヤリブ
レーシヨン線を衝突させる事象の平均計算位置が算出さ
れ、この平均計算位置とこの事象の既知の位置との距た
りは、キヤリブレーシヨン点において起こつたと計算さ
れた事象が、現実にその点で起こつた確率と、逆相関的
（inversely）関係にある。それゆえ、このキヤリブレ
ーシヨン方法は、与えられた素面積内で起こつたと計算
されたある事象が現実にその位置で起こつたことに対す
る信頼性の尺度を提供する。

このキヤリブレーシヨン方法は、ある事象の計算され
た座標との関連づけを行うことによつて、計算された座
標において多数の事象が起こることによる分布を表わす
該カメラの光増倍器の出力の平均分布でもあり得るので
ある。その計算された座標で、ある事象が起こつた確率
は、その平均分布と現実の出力の分布との間の相互相関
に関係しているであろう。かくして、与えられた位置で
起こつたと計算されたある事象が、現実にその位置で起
こつた確率を示すウエイトは、ケース・バイ・ケース方
式で各事象に割当てることができ、その結果をデイスプ
レー用にメモリーにたくわえることができる。このキヤ
リブレーシヨン手続において、前記平均分布は、解析的
に光増倍器（photomultiplier）のスペース分布によつ
ても得られるが、望ましくは、クリスタル中の複数の既
知位置のそれぞれにおいて、多数の事象を起こさせ、既
知位置のそれぞれについて平均出力分布を記録する現実
キヤリブレーシヨン方法により得られる。この既知の位
置は、光増倍器（photomultiplier）の配列の１つの反
復パターンの１つのモチーフ（反復されるテーマ的事
象）に限定することも、そのクリスタルの全面にわたら
せることも可能である。未知放射場を走査していると
き、本カメラでキヤリブレーシヨンできない位置の平均
分布を決定するために、内挿法を用いることもできる。

発明の構成第１図において、１は前記米国特許第3011057号に示
された従来のガンマカメラを示す。カメラ（１）は、放
射場から放射された放射刺激に応答して、その刺激がク
リスタルの格子構造と相互作用する位置においてそのク
リスタル内に感光事象（light event）を生ずるシンチ
レーシヨンクリスタル（12）を持つている。光検知器例
えば光増倍器（photomultiplier）（14）の配列がこの
クリスタルと操作的に結合されており、感光事象（ligh
t event）に応答して、各感光事象（light event）の座
標を計算するために、計算回路（16）により処理される
個個の出力を作り出す。ガンマ線の放射原点（point so
urce）（18）が、ガンマ線のビーム（20）を作り、図示
してない適宜の視準儀（collimator）と、そのビームが
クリスタル（12）における位置（22）（X₁、Y₁）で衝突
し、この既知位置に感光事象を作り出す。座標シグナル
の標準化（その座標シグナルを全感光事象（light even
t）の全エネルギーで割る作業）が実際には行われるの
であるが、単純化のためにこのブロツクダイヤグラムで
は省略してある。

前述放射原点のクリスタルに対する相対位置は、比較
的多数、例えば1000回の感光事象（light event）が起
こるに充分で、かつ、これら事象の座標の計算が比較目
的のために充分計算し得る期間は固定されている。この
状態を第２図に示す。同図で、感光事象（22）の現実の
座標はX₁、Y₁で示され、鎖線（24）は、現実にX₁、Y₁で
起こつている事象に対し、回路（16）で計算された座標
点のすべてを包含する境界を表わす。比較的多数の座標
点が計算された後、平均座標、もつと現実的な表現を用
いてこれら座標すべての重心の座標▲Ｘ^′ _１▼、▲Ｙ^′
_１▼は常法により計算される。感光事象（light even
t）、X₁、Y₁の既知の位置と、それら事象の平均計算位
置、▲Ｘ^′ _１▼、▲Ｙ^′ _１▼との距たりD₁は、座標X₁、
Y₁に相当するクリスタルの素面積に関係しており、以後
キヤリブレーシヨンデイスタンスと呼ぶ。

第３図に示したような線図を用いて、このキヤリブレ
ーシヨンデイスタンスは、キヤリブレーシヨンデイスタ
ンスと、関数的に逆相関関係にある信頼フアクター（co
nfidence factor）に変換し得る。例えばキヤリブレー
シヨンデイスタンスが０の場合、すなわち、計算された
事象の座標がその事象の現実の座標と同じ場合に信頼フ
アクターは１または100％である。このような状態は、
光増倍器（photomultiplier）の幾何学的中心で、感光
事象が起こる場合に起こるであろう。

一方、比較的大きいキヤリブレーシヨンデイスタンス
の場合には、０に近い比較的低い信頼フアクターを持つ
ことになろう。この状態は、感光事象（light event）
が、クリスタルの周縁近くでかつ複数の光増倍器（phot
omultiplier）の境界域で起こる。いずれにせよ、こう
して得られた信頼フアクターは平均座標▲Ｘ^′ _１▼、▲
Ｙ^′ _１▼と結合され、前記平均座標と関連したアドレス
において補正マトリツクス中にたくわえられる。

次に、ガンマ線の放射原点をそのビームがクリスタル
のX₂、Y₁点に衝突するまで移動させて上記のプロセスを
つくり返し、▲Ｘ^′ _２▼、▲Ｙ^′ _１▼の位置についての
キヤリブレーシヨンデイスタンスをみつける。すでに述
べたように、キヤリブレーシヨンデイスタンスD₂に基づ
いた別の信頼フアクターが計算され、補正マトリツクス
内の座標が▲Ｘ^′ _２▼、▲Ｙ^′ _１▼に相当する位置にた
くわえられる。この手順をクリスタル（12）の全表面に
わたつてくり返す、この手順を示すフローチヤートを第
５図に示す。同図では各キヤリブレーシヨンデイスタン
スを計算するのに1000個の感光事象が必要と仮定してい
るが、この数字は本発明を説明するためのものに過ぎず
他の数字を用いても差支えない。

第６図は、補正マトリツクス内の種種の要素の信頼フ
アクターを計算するのに、第５図に示した計算回路を用
いるかわりに光増倍器（photomultiplier）の出力をた
くわえるフローチヤートを示す。さて第６図において、
ガンマ線の放射原点は、既知の位置でクリスタルに衝突
するビームを作り、光増倍器（photomultiplier）の各
々にシンチレーシヨンクリスタルに関連する配列につい
ての出力を生じる。例えば、クリスタルに19個の光増倍
器（photomultiplier）があるとしよう；この場合これ
らの光増倍器（photomultiplier）の各々の出力は、１
つの事象が起こるごとにたくわえられることになる。こ
のことは、第６図に、1000個の感光事象が起こつてしま
うまで継続する条件のもとで図示されている。そのシー
クエンスの最後の感光事象（light event）が起こる
と、各光増倍器（photomultiplier）の出力を加算した
後事象の数で割ることにより、各光増倍器（photomulti
plier）の平均出力が得られる。各光増倍器（photomult
iplier）の平均出力から、平均座標Ｘ′、Ｙ′が、ガン
マカメラの計算回路を用いて計算される。この情報を用
いて、キヤリブレーシヨンデイスタンスを計算すること
ができ、第３図の線図から信頼フアクターが決定でき、
補正マトリツクス中にたくわえられる。

信頼フアクターを得るためにどの手順をとろうと、キ
ヤリブレーシヨンプロセスは第４図に示された補正マト
リツクス（30）の各要素のエントリーを与える。図示さ
れているとおり、各要素の内容はＣ（Ｘ、Ｙ）の形で、
その意味はマトリツクス中のＸ、Ｙで示される位置の信
頼フアクターがＣということである。

操作時には、模型的に画かれたガンマカメラ（32）は
常法どおり放射場からデータを集めるように働く。計算
回路（34）は、前記米国特許第3011057号または同第406
0730号と同様に各感光事象（light event）の座標を作
り出す。これらの座標は計算された座標に関係するマト
リツクスのその要素を増加させる目的で、貯蔵マトリツ
クス（36）に供給される。同図に示されているように、
各要素の内容はＮ（Ｘ、Ｙ）の形で、この形はＸ、Ｙで
示された位置に貯えられた事象の数がＮであることを示
す。すなわち、Ｎは、計算された位置Ｘ、Ｙでクリスタ
ル内に起こつた事象の現実の数を表わす。

この位置で起こつた事象を加重した数がデイスプレー
マトリツクス（38）にたくわえられる。このマトリツク
スの要素はＮ′（Ｘ、Ｙ）として示される。この記号は
位置Ｘ、Ｙにおいて加重された数Ｎ′の事象が起こつた
ことを示す。与えられた位置での加重された事象の数
は、その位置の現実の事象数から、この現実の事象数と
与えられた位置における信頼フアクターとをかけて得ら
れる。すなわち、Ｎ′（Ｘ、Ｙ）＝〔Ｎ（Ｘ、Ｙ）〕〔Ｃ（Ｘ、Ｙ）〕で
ある。

貯蔵マトリツクス（36）のかわりにデイスプレーマト
リツクス（38）をデイスプレー用に用いることにより、
各事象はキヤリブレーシヨンプロセスの間に作られた信
頼フアクターにより再分布（redistribution）が行われ
る。すなわち、比較的低い信頼フアクターを持つ位置で
起こつた事象の数は、信頼フアクターの高い位置に比べ
て減少する。このようにして、本発明のカメラの解像力
は著しく良くなる。そのうえ、この改良は現存のガンマ
カメラのすべてに対して可能であつて、このことは、現
存カメラに補正マトリツクスおよびデイスプレーマトリ
ツクスを取付け得ることを意味する。必要なのは、上記
したキヤリブレーシヨンプロセスを実行し、従来使つて
いた貯蔵マトリツクスに対して乗数として用いられる補
正マトリツクスを新設することである。

既に述べたように、本発明は、その目的として、ガン
マカメラの座標計算回路により計算された事象の座標
が、ずれ（dislocation）等に対する在来補正法のすべ
てを考慮に入れた後の状態で、その事象の現実の座標と
同じであるとの確実な決定を含んでいる。この目的は、
計算された座標値と、これら座標において多数の事象が
起こることに由来する分布を表わすガンマカメラの光検
知器（photodetector）の出力の平均分布とを関係づけ
ることにより、達せられる。平均分布と、現実の分布
（すなわち、その座標の計算に使われた座標）との相互
相関は、現実の分布を起こす事象がその計算された座標
で起こつた確率の尺度である。

さて、第７図において、（50）は７個の光検知器（ph
otodetector）（複数の光増倍器（51）がシンチレーシ
ヨンクリスタル（52）上に配設された形式をとつてい
る。）であるが、７個だけを使つたのは本発明の図面お
よび記述を簡単にする目的からであることを理解された
い。これら光検知器は参照文字Ａ〜Ｇにより示されてお
り、それぞれ、第８図において、点X₀、Y₀で現実に起こ
る事象に応答する曲線群（53）により典型的に示されて
いるような出力を持つ。常法により積分と標準化（norm
alization）を行い、これら出力はパルス（54）により
表わされ、その振巾が光増倍器（photomultiplier）の
出力のそれぞれの積分値を表わす。ある事象の計算され
た座標を作り上げるのは、計算回路により処理された、
積分されたシグナルである。同じ位置での他の事象につ
いての光検知器（photodetector）の出力の分布は、含
まれているプロセスのスタテイステイクスが違つてくる
ので、異なるものとなるであろう。もし、多数の事象に
ついて分布を集めることができると、出力のいわゆる平
均分布が、平均化手法の１つを使つて計算でき、その結
果は、点X₀、Y₀における現実の事象に関する出力の平均
分布となるのであろう。点X₀、Y₀における平均分布は、
放射原点（point radioactive source）を用いて、正確
に点X₀、Y₀においてクリスタルを照射し、その点上に、
例えば1000回の事象（event）を与えるに充分な期間に
わたり、それぞれの光増倍器（photomultiplier）の出
力を平均することにより得られる。この場合、上記した
従来の場合とは異なり、その事象の座標は計算されるの
でなく、出力自身が個別に貯蔵され、平均されるのであ
る。

複数のキヤリブレーシヨンポイントを形成するクリス
タルの全面にわたり、他の離散点において、他の平均分
布を得ることができるし、別法として、光検知器（phot
odetector）のパターンのうち、中央に位置した六角形
のモチーフ（55）内の多数の点についての分布を求め、
その結果を全パターンに外挿することもできる。全パタ
ーンが大きい場合（すなわち、そのモチーフが何回もく
り返される場合）、現実に測定が行われたモチーフ以外
のモチーフ内のキヤリブレーシヨンポイントは次に示す
２段法で得られる。すなわち、１つのモチーフ内の１つ
のキヤリブレーシヨンポイントと、そのモチーフの「モ
チーフフアクター」とを計算に使うのであつて、大きな
パターン内のそのモチーフの位置により、実験的にもし
くは解析的に得られるのである。さらに他の方法とし
て、前記分布が光検知器（photodetector）のスペース
内の分布とその既知の応答特性から解析的に決定でき
る。

本発明が上記アプローチ法により行われた様子は、第
９図からわかる。この図においては、ある事象が、図示
されていない未知の放射場で起こつたこと、ガンマカメ
ラがその事象の座標を計算し、その結果、その事象の見
かけの位置が位置（56）であつたことが仮定されてい
る。その事象が現実に位置（56）で起こつた確率の尺度
は、位置（56）と、出力の平均分布、例えば、多数のキ
ヤリブレーシヨンポイント（57）、（58）…を結合し
て、その平均分布と現実の分布とを相互相関することに
より確認できる。

上記した手法により求められる相互相関フアクター
は、もしその相関が100％であれば１の値をとり、相関
関係がない場合に０の値をとるように標準化することが
できる。このようなフアクターは、１組の与えられた座
標の位置において起こつたと計算されたある事象が現実
にその位置で起こつた確率の尺度として直接手を加えず
に用いることができる。

このフアクターは、その効果を強調するために２乗す
ることができ、また、その効果を減らすために平方根に
することもでき、さらに、このフアクターの他の関数を
用いることもできる。このようにして得られたフアクタ
ーは、増分（increment）として、セル（メモリーマト
リツクス内のこのセルのアドレスは、前記フアクターを
計算すべき原因となつた事象の、計算された座標によ
り、決定される。）の内容にそのフアクターを加えるこ
とにより、メモリー内に記録することができる。このよ
うな場合に、各メモリーセルの内容は、メモリーマトリ
ツクスの内容が、感光事象（light event）の現実の密
度分布に、（ウエートをつけない場合に比べて、）より
近づくよう加重されるのである。

ある事象の与えられたアドレスに対し計算された相互
相関フアクターを、同じアドレスにおけるメモリーマト
リツクスのセルに対し加えるべき増分値（incremental
value）として用いる代わりに、このフアクターを表わ
す値を、他の型のメモリー、すなわち、ブラウン管のス
クリーンに、このフアクターによりブラウン管のビーム
の強度を調整することにより蓄えることができる。この
場合、放射場の強度分布の１表現法は該ブラウン管のス
クリーンと操作的に結合している感光性のシート上に記
録することができる。かくして本発明は、クリスタル内
に事象が起こつたことを表わす方法として、アナログ方
式およびデイジタル方式のレコーデイングを考慮に入れ
ているのである。

本発明を実施するための装置の１型式を第10図に示
す。装置（60）は従来使用されてきたカメラヘツド（6
1）と計算回路（62）とを含む。カメラヘツド（61）
は、放射場（図示せず）からの放射線による刺激に応答
するシンチレーシヨンクリスタル（図示せず）を持ち、
その刺激がクリスタルと相互作用を起こす位置で感光事
象（light event）を生じる。カメラヘツド（61）はさ
らに配設された１組の光検知器（photodetector）を持
ち、このものは個個の出力を作り出すために感光事象
（light event）に応答する。回路（62）は光検知器の
出力の分布に応答して、その出力を起こす事象の座標を
計算する。いままで述べた装置の操作について考察を行
うことにより、計算された座標が同一となる多数の分布
が存在することがわかる。そして本発明は、ある事象の
計算された座標がその事象の現実の座標であることの確
率を求める手段を含んでいることを次に述べる。

装置（60）はルツクアツプテーブル（63）を持ち、こ
れには上記のようにして得られたキヤリブレーシヨンポ
イントの出力の平均分布が含まれている。ルツクアツプ
テーブルへの入力を与える回路（62）により作られる事
象のＸ、Ｙ座標を用いて、もし、充分なキヤリブレーシ
ヨンポイントが選ばれていれば直接に、さもなくば内挿
により、出力の平均分布を、計算された座標に関連づけ
ることができる。ルツクアツプテーブルの出力は相互相
関器（64）の１入力に適用される。相互相関器（64）の
他の入力として貯蔵装置（65）にたくわえられている出
力の現実の分布が用いられる。相互相関器（64）は当業
者に周知の慣用品でその構造及び操作は本発明の構成に
関係がない。このものは公知のとおり、入力を形成する
２つの分布についてコンボリユーシヨンタイプの掛け算
を行い、現実の分布とキヤリブレーシヨン操作により得
られた平均分布との間の相関の程度を示す出力を作り出
す。相互相関器（64）の出力は回路（62）の出力により
アドレスされるメモリー（66）に与えられる。このもの
は記憶装置中に、ある事象が、その事象の計算された位
置に対応するクリスタルの素面積で起こることを表わす
ある種の表現をたくわえる。

上記したように、相互相関器（64）の出力は記録可能
で、ある事象がその事象の計算された座標において起こ
つた確率の尺度を与える。また、相互相関器の出力の関
数、例えば出力の２乗、平方根などを、相関操作の効果
を強調するか抑制するかに応じて記録する別法もある。

このように、ある事象が起こることを表わす上記した
表現法には、その中に、計算を行なつた特定場所で現実
にその事象が起こつた確率を含ませてある。デイスプレ
ー（67）は、常法どおりメモリー（66）の内容をデイス
プレーするのに用いられ、それにより未知の放射場の地
図がデイスプレーされることになる。

本発明の方法と装置により提供された利点と改善され
た結果とは、本発明の上記具体例に対する以上の記述に
示されている。しかして、種種の変更、修正が特許請求
の範囲に記載した本発明の技術的思想、技術的範囲から
逸脱することなしに可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図はガンマカメラのカメラヘツドの斜視図とそれに
関係づけてキヤリブレーシヨン手法を示すために計算回
路を示したものである。第２図はガンマカメラヘツドのシンチレーシヨンクリス
タルの１部を示す部分図で、クリスタルの３つの素面積
とこの３つの素面積中で現実に起こる事象の平均計算位
置を示している。第３図は、クリスタルの表面積に対する補正フアクター
と１つの事象の現実に起こつた位置から事象の平均位置
への距離との間の関数関係を表わした図である。第４図は本発明の改良されたガンマカメラのブロツクダ
イヤグラムである。第５図と第６図はガンマカメラをキヤリブレートするた
めの２種類のフローダイヤグラムで、両者を同時に用い
る必要はない。第７図は、ガンマカメラのシンチレーシヨンクリスタル
上に配設された光増倍器（photomultiplier）の配列の
概略平面図である。第８図は、事前決定したクリスタル内の位置における事
象に対する第７図の光増倍器（photomultiplier）の出
力の平均分布の標準的なものである。第９図は、シンチレーシヨンクリスタルの平面図で、あ
るモチーフのキヤリブレーシヨンポイントとその配列の
モチーフとを重ね合わせて示したものである。第10図は、計算上ある決められた位置で起こつたことに
なつた事象が現実にその位置で起こつた確率を計算する
技術を示す概略ブロツクダイヤグラムである。１……ガンマカメラ、12……シンチレーシヨンクリスタ
ル、14……光増倍器、16……計算回路、18……放射原
点、20……ビーム、30……補正マトリツクス、32……ガ
ンマカメラのカメラヘツド、34……計算回路、36……ス
トレジマトリツクス、38……デイスプレー、50……ガン
マカメラのカメラヘツド、51……光増倍器、52……シン
チレーシヨンクリスタル、61……カメラヘツド、62……
計算回路、63……ルツクアツプテーブル、64……相互相
関器、66……メモリーおよびアドレス、67……デイスプ
レー、A.C.P……現実のキヤリブレーシヨンポイント、
C.L.E……事象の計算された位置、D.C.P……移動された
キヤリブレーシヨンポイント。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】放射刺激に応答して、その刺激がクリスタ
ルと相互作用を起こす位置に感光事象を生じるシンチレ
ーシヨンクリスタルと、感光事象に応答して個個の出力
を生じる光増倍器の配列と、該出力に応答して、その中
で事象が起こるべき該クリスタルの素面積を同定する回
路と、該クリスタルの素面積と１対１の関係で対応する
要素を持つマトリツクスを持ち、該マトリツクスの各要
素の内容が、該回路により同一と判断されたときに殖や
され、該マトリツクスの要素の位置に対応したクリスタ
ルの素面積内で、予め決められた時間内に起こつた事象
の数を表わし、これらによつて該マトリツクスの内容が
該クリスタル内における感光事象の密度分布を表わすガ
ンマカメラにおいて：クリスタルの各素面積に、キヤリブレーシヨン用の一
連のガンマ線のビームを衝突させ、各素面積ごとに、感
光事象の現実の位置と計算回路によるその感光事象の位
置との間の隔たり（キヤリブレーシヨンデイスタンス）
を計算し、クリスタルの各素面積ごとに、そのキヤリブ
レーシヨンデイスタンスと関数的に逆相関関係にある信
頼フアクターを選び、その素面積について貯えられた感
光事象の数に乗じることによりウエイトをつけた感光事
象の数を用いることにより、現実感光事象の分布に近づ
けるように該マトリツクスの要素の内容をウエイト付け
することを特徴とするガンマカメラの解像を良好ならし
める方法。
【請求項２】放射刺激に応答して、その刺激がクリスタ
ルと相互作用を起こす位置に感光事象を生じるシンチレ
ーシヨンクリスタルと、感光事象に応答して個個の出力
を生じる光増倍器との配列と、該出力に応答して、その
中で事象が起こるべき該クリスタルの素面積を同定する
回路と、該クリスタルの素面積と１対１の関係で対応す
る要素を持つマトリツクスを持ち、該マトリツクスの各
要素の内容が、該回路により同一と判断されたときに殖
やされ、該マトリツクスの要素の位置に対応したクリス
タルの素面積内で、予め決められた時間内に起こつた事
象の数を表わし、これらによつて該マトリツクスの内容
が該クリスタル内における感光事象の密度分布を表わす
ガンマカメラにおいて：次に述べる構成要件を持つ解像を良好ならしめるように
改良されたガンマカメラ。（ａ）放射原からの放射刺激に応答して、その刺激が
クリスタルと相互作用する位置において感光事象を生じ
るシンチレーシヨンクリスタルと、感光事象に応答して
個個の出力を生じる光検知器とを持つカメラヘツド、（ｂ）その素面積中で１つの事象が起こるべきクリス
タルの素面積を同定するため個個の出力を処理する回
路、（ｃ）そのマトリツクスの要素が前記結晶の前記素面
積と１対１の対応をし、該結晶の該要素の内容が、その
マトリツクス内の該要素の位置に対応した該クリスタル
の素面積内で予め決められた時間内に起こつたと同定さ
れる事象の数を表わすストレジマトリツクス、（ｄ）該ストレジマトリツクス内に、クリスタルの各
素面積に、キヤリブレーシヨン用の一連のガンマ線のビ
ームを衝突させ、各素面積ごとに、感光事象の現実位置
と計算回路によるその感光事象の位置との隔たり（キヤ
リブレーシヨンデイスタンス）を計算し、クリスタルの
素面積ごとに、このキヤリブレーシヨンデイスタンスと
関数的に逆相関関係にある信頼フアクターを選び、その
素面積について貯えられた感光事象の数に乗じることに
よりウエイトをつける装置
【請求項３】該ストレジマトリツクスの各要素の内容に
ウエイトをつける装置が、コレクシヨン（correction）
マトリツクスを含み、このマトリツクスの各要素がスト
レジマトリツクスの各要素と１対１の対応をしており、
該コレクシヨンマトリツクス内の各要素の内容が、前記
ウエイトを構成している特許請求の範囲第２項記載の改
良されたガンマカメラ。
【請求項４】該コレクシヨンマトリツクスのある要素の
ウエイトが、その要素に相当する与えられた素面積内で
起こつたと同定されるある事象が現実にその中で起こつ
た確率にしたがう特許請求の範囲第３項記載の改良され
たガンマカメラ。
【請求項５】ストレジマトリツクスとコレクシヨンマト
リツクスの対応する各要素の内容を掛け合わせる装置を
含む特許請求の範囲第３項記載の改良されたガンマカメ
ラ。