JPH08226936A - 無線周波数パラメータ測定装置 - Google Patents
無線周波数パラメータ測定装置Info
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- JPH08226936A JPH08226936A JP7303410A JP30341095A JPH08226936A JP H08226936 A JPH08226936 A JP H08226936A JP 7303410 A JP7303410 A JP 7303410A JP 30341095 A JP30341095 A JP 30341095A JP H08226936 A JPH08226936 A JP H08226936A
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- Japan
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- probe
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- antenna
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
- G01R21/01—Arrangements for measuring electric power or power factor in circuits having distributed constants
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＲＦパラメータを測定する装置を提供する。
【解決手段】 本発明の４分に１波長のストリップライ
ンを介してアンテナ４４と接続されたＲＦトランスミッ
ターステージ３４のアウトプットパワーを測定する装置
において、手動プローブ２０はトランスミッターステー
ジのアウトプットをパワーメータ２４と接続し、ストリ
ップライン３８のアウトプット終端を接地するために適
用される。従って、アンテナ４４に送られた信号は、パ
ワーメータに切り替えられる。アンテナを有する全ての
電気回路はハウジング内に設けられた印刷回路基板に取
り付けられ、ハウジングはプローブ２０が挿入される開
口を有する。適当なメータを設けることでＲＦを除いた
パラメータを測定することができる。
ンを介してアンテナ４４と接続されたＲＦトランスミッ
ターステージ３４のアウトプットパワーを測定する装置
において、手動プローブ２０はトランスミッターステー
ジのアウトプットをパワーメータ２４と接続し、ストリ
ップライン３８のアウトプット終端を接地するために適
用される。従って、アンテナ４４に送られた信号は、パ
ワーメータに切り替えられる。アンテナを有する全ての
電気回路はハウジング内に設けられた印刷回路基板に取
り付けられ、ハウジングはプローブ２０が挿入される開
口を有する。適当なメータを設けることでＲＦを除いた
パラメータを測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気回路を通って
処理される無線周波数（ＲＦ）のＲＦパラメータを測定
する装置に関する。
処理される無線周波数（ＲＦ）のＲＦパラメータを測定
する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＲＦ回路が複数の相互に結合されたステ
ージを有するところでは、２つのＲＦステージ間の相互
に接続された点でＲＦパラメータを測定する必要があ
る。例えば、アンテナに接続されているＲＦトランスミ
ッターのアウトプットＲＦパワーを測定することが望ま
しい。コネクタを半田付けするか、または電源を切るな
ど機械的な変更なしでそのような相互接続ポイントでＲ
Ｆパラメータを測定することは困難である。
ージを有するところでは、２つのＲＦステージ間の相互
に接続された点でＲＦパラメータを測定する必要があ
る。例えば、アンテナに接続されているＲＦトランスミ
ッターのアウトプットＲＦパワーを測定することが望ま
しい。コネクタを半田付けするか、または電源を切るな
ど機械的な変更なしでそのような相互接続ポイントでＲ
Ｆパラメータを測定することは困難である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、物理
的接触で測定が行えるＲＦパラメータ測定装置を提供す
るものである。
的接触で測定が行えるＲＦパラメータ測定装置を提供す
るものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、回路基
板に取り付けられ、ＲＦ信号用のアウトップトを有する
第１ＲＦステージに関するＲＦパラメータを測定する装
置を提供し、前記第１のＲＦステージのアウトプットの
ＲＦ信号が前記第２のＲＦステージに送られるのを抑制
し、かつ前記プローブ装置を介して前記ＲＦパラメータ
測定手段に送信することができるように、前記アウトプ
ットは第２のＲＦステージへの接続手段により接続さ
れ、ＲＦパラメータ測定手段に接続されたプローブ装置
により特徴付けられ前記接続手段に接続される。
板に取り付けられ、ＲＦ信号用のアウトップトを有する
第１ＲＦステージに関するＲＦパラメータを測定する装
置を提供し、前記第１のＲＦステージのアウトプットの
ＲＦ信号が前記第２のＲＦステージに送られるのを抑制
し、かつ前記プローブ装置を介して前記ＲＦパラメータ
測定手段に送信することができるように、前記アウトプ
ットは第２のＲＦステージへの接続手段により接続さ
れ、ＲＦパラメータ測定手段に接続されたプローブ装置
により特徴付けられ前記接続手段に接続される。
【０００５】
【発明の実施の形態】図１にはＲＦパワー測定装置が示
されている。装置１０はアンテナを含むエレクトロニク
ス回路が設けられた印刷回路基板（図１に図示しない）
を含むハウジング１４を有するモジュール１２を有す
る。モジュール１２には例えばＲＦ信号の送受信用アン
テナに操作可能に接続されるパーソナル・コンピュータ
（ＰＣ）などの機器のために接続可能なケーブル１６が
設けられている。アンテナはハウジング１４内に設けら
れている。ハウジング１４には同軸ケーブル２２を介し
てＲＦパワーメータ２４に接続されたプローブ２０が挿
入できる開口１８が設けられている。もし別のＲＦパラ
メータの測定が必要ならばＲＦスペクトルを測定するス
ペクトル測定装置のようなそのパラメータに適した測定
装置に置換することができる。
されている。装置１０はアンテナを含むエレクトロニク
ス回路が設けられた印刷回路基板（図１に図示しない）
を含むハウジング１４を有するモジュール１２を有す
る。モジュール１２には例えばＲＦ信号の送受信用アン
テナに操作可能に接続されるパーソナル・コンピュータ
（ＰＣ）などの機器のために接続可能なケーブル１６が
設けられている。アンテナはハウジング１４内に設けら
れている。ハウジング１４には同軸ケーブル２２を介し
てＲＦパワーメータ２４に接続されたプローブ２０が挿
入できる開口１８が設けられている。もし別のＲＦパラ
メータの測定が必要ならばＲＦスペクトルを測定するス
ペクトル測定装置のようなそのパラメータに適した測定
装置に置換することができる。
【０００６】図２には、図１のハウジング内に設けら
れ、ハウジング内の印刷回路基板に設けられた回路３０
の簡素化された回路図が示されている。印刷回路基板の
他の回路（図示せず）から信号が供給されるライン３２
は印刷回路基板に設けられた４分の１波長ストリップラ
イン３８に接続されたアウトプットライン３６を有する
ＲＦ増幅器３４と接続されている。４分の１波長ストリ
ップライン３８は、導入されるＲＦ信号のほぼ４分の１
波長に等しい電気的長さを有している。ストリップライ
ン３８の特性インピーダンスは、ＲＦトランスミッショ
ンシステムと同じであるが、インピーダンスマッチング
の効果が必要ならば異なるものとなる。
れ、ハウジング内の印刷回路基板に設けられた回路３０
の簡素化された回路図が示されている。印刷回路基板の
他の回路（図示せず）から信号が供給されるライン３２
は印刷回路基板に設けられた４分の１波長ストリップラ
イン３８に接続されたアウトプットライン３６を有する
ＲＦ増幅器３４と接続されている。４分の１波長ストリ
ップライン３８は、導入されるＲＦ信号のほぼ４分の１
波長に等しい電気的長さを有している。ストリップライ
ン３８の特性インピーダンスは、ＲＦトランスミッショ
ンシステムと同じであるが、インピーダンスマッチング
の効果が必要ならば異なるものとなる。
【０００７】上述のように、４分の１波長ストリップラ
イン３８は、アンテナ４４と接続されるノード４２に接
続される印刷回路基板に設けられ、ハウジング１４（図
１）に内装されている。ノード４２は、アースに接続さ
れた第２の極５２を有するスイッチ５０の第１極４８に
ライン４６で接続されている。プローブ２０は、内側の
導電体５４と同軸の外側の導電体５６を有している。プ
ローブ２０が開口１８に正しく設置されているとき内側
の導線がライン３６と電気的に接触し、常開のスイッチ
５０は図２に例示するように閉じる。４分の１波長スト
リップライン３８が非常に高いインピーダンスとして作
用し、増幅器３４のアウトプットのＲＦ信号がアンテナ
４４に流れるのを抑制し、ケーブル２２からパワー測定
目的でＲＦパワーメータ２４にプローブ２０を介してプ
ローブに信号を送るのを抑制することが認められる。
イン３８は、アンテナ４４と接続されるノード４２に接
続される印刷回路基板に設けられ、ハウジング１４（図
１）に内装されている。ノード４２は、アースに接続さ
れた第２の極５２を有するスイッチ５０の第１極４８に
ライン４６で接続されている。プローブ２０は、内側の
導電体５４と同軸の外側の導電体５６を有している。プ
ローブ２０が開口１８に正しく設置されているとき内側
の導線がライン３６と電気的に接触し、常開のスイッチ
５０は図２に例示するように閉じる。４分の１波長スト
リップライン３８が非常に高いインピーダンスとして作
用し、増幅器３４のアウトプットのＲＦ信号がアンテナ
４４に流れるのを抑制し、ケーブル２２からパワー測定
目的でＲＦパワーメータ２４にプローブ２０を介してプ
ローブに信号を送るのを抑制することが認められる。
【０００８】図３は平面図を伴ったプローブの斜視図に
より印刷回路基板６０に置かれた導電性材料の２個の重
ねられた層を説明している。プローブ２０は、６２−
１、６２ー２、６２ー３として個々に番号が付されたる
３個の同一構造の接地ピンユニットを有する。ピンコネ
クタ６４は、６６ー１、６６ー２、６６ー３として個々
に番号が付された引用されるスプリング６６に取付られ
ている。
より印刷回路基板６０に置かれた導電性材料の２個の重
ねられた層を説明している。プローブ２０は、６２−
１、６２ー２、６２ー３として個々に番号が付されたる
３個の同一構造の接地ピンユニットを有する。ピンコネ
クタ６４は、６６ー１、６６ー２、６６ー３として個々
に番号が付された引用されるスプリング６６に取付られ
ている。
【０００９】スプリング６６は、プローブ２９の外側の
と電気的に接触する６８ー１、６８ー２、６８ー３とし
て個々に付されたる円筒形の導電性鞘６８内に設けられ
ている。プローブ２０は、プローブ２０の内側の導電体
５４（図２）に接続された中心に置かれた信号ピン７０
を有する。ピン７０はスプリング７２に取り付けられて
いる。
と電気的に接触する６８ー１、６８ー２、６８ー３とし
て個々に付されたる円筒形の導電性鞘６８内に設けられ
ている。プローブ２０は、プローブ２０の内側の導電体
５４（図２）に接続された中心に置かれた信号ピン７０
を有する。ピン７０はスプリング７２に取り付けられて
いる。
【００１０】ピンコネクタ６４は、８４ー１、８４ー
２、８４ー３として個々に引用される点線８４によって
示されるように８２ー１、８２ー２、８２ー３として個
々に付された媒介孔８２に嵌合する。プローブ２０の信
号ピン７０は、点線８８で示されるように印刷回路基板
の媒介孔８６に嵌合する。印刷回路基板６０の一番上の
表面には切欠部９２を有する電導性接地面が設けられて
いる。
２、８４ー３として個々に引用される点線８４によって
示されるように８２ー１、８２ー２、８２ー３として個
々に付された媒介孔８２に嵌合する。プローブ２０の信
号ピン７０は、点線８８で示されるように印刷回路基板
の媒介孔８６に嵌合する。印刷回路基板６０の一番上の
表面には切欠部９２を有する電導性接地面が設けられて
いる。
【００１１】図３には媒介孔８２ー３、８６に挿入され
るようにループ形状を有するストリップライン３８（図
２に図示）を有した第１の中間導電体層の一部が示され
ている。また、第１の中間導電体層には増幅器３４とア
ンテナ４４をそれぞれに接続するために導電線３６と４
０が設けられている。
るようにループ形状を有するストリップライン３８（図
２に図示）を有した第１の中間導電体層の一部が示され
ている。また、第１の中間導電体層には増幅器３４とア
ンテナ４４をそれぞれに接続するために導電線３６と４
０が設けられている。
【００１２】図４、５は印刷回路基板６０の断面図であ
る。図４は接地ピンユニット６２ー１、６２ー２及び信
号ピン７０が、各々媒介孔８２ー１、８２ー２及びスプ
リング６６との嵌合状態を説明する断面図の一部であ
る。接地ピンユニット６２ー３（図５に図示せず）は、
同様に媒介孔８２ー３に嵌合する。プローブ２０の本体
は、図４、５には図示しない。図４、５には印刷回路基
板６０がパターン化された導電体層が設けられた３個の
絶縁体層１０２を有するのが示されている。
る。図４は接地ピンユニット６２ー１、６２ー２及び信
号ピン７０が、各々媒介孔８２ー１、８２ー２及びスプ
リング６６との嵌合状態を説明する断面図の一部であ
る。接地ピンユニット６２ー３（図５に図示せず）は、
同様に媒介孔８２ー３に嵌合する。プローブ２０の本体
は、図４、５には図示しない。図４、５には印刷回路基
板６０がパターン化された導電体層が設けられた３個の
絶縁体層１０２を有するのが示されている。
【００１３】媒介孔８２ー１、８２ー２、８２ー３、８
６は、内部導電体コーティング有し、印刷回路基板６０
の様々な導電体層と接続し電気的な導電性媒介として作
用する。図４では媒介孔８２ー１により接地面９０を印
刷回路基板６０の絶縁体層１０４、１０６の間の第２の
中間的な導電体層に置かれた他の接地面１１２に接続さ
れている。媒介孔８２ー２により接地面９０は他の接地
面１１２に接続されている。
６は、内部導電体コーティング有し、印刷回路基板６０
の様々な導電体層と接続し電気的な導電性媒介として作
用する。図４では媒介孔８２ー１により接地面９０を印
刷回路基板６０の絶縁体層１０４、１０６の間の第２の
中間的な導電体層に置かれた他の接地面１１２に接続さ
れている。媒介孔８２ー２により接地面９０は他の接地
面１１２に接続されている。
【００１４】操作状態位置にあるプローブ２０で、接地
面９０と１１２は共に媒介接地ピンユニット６２ー１、
６２ー２に接続され、プローブ２０の外側の導電体５６
を接地する。媒介孔８６により信号ピン７０がストリッ
プライン３８の一端及び増幅器２４からアウトプットラ
イン３６に接続されている導電パッド１２０に接続され
ている（図２）。図３及び５には、図３で最も良く見ら
れる形態で媒介孔８２ー３がストリップライン３８に接
続されている導電性パッド１２２が接続されている。３
個の接地ピンユニット６２及び信号ピン７０が３個の媒
介孔８２及び媒介孔８６に接触するようにハウジング１
４の媒介孔１８（図１）を貫通することで所定の位置に
置かれ手動で保持される。
面９０と１１２は共に媒介接地ピンユニット６２ー１、
６２ー２に接続され、プローブ２０の外側の導電体５６
を接地する。媒介孔８６により信号ピン７０がストリッ
プライン３８の一端及び増幅器２４からアウトプットラ
イン３６に接続されている導電パッド１２０に接続され
ている（図２）。図３及び５には、図３で最も良く見ら
れる形態で媒介孔８２ー３がストリップライン３８に接
続されている導電性パッド１２２が接続されている。３
個の接地ピンユニット６２及び信号ピン７０が３個の媒
介孔８２及び媒介孔８６に接触するようにハウジング１
４の媒介孔１８（図１）を貫通することで所定の位置に
置かれ手動で保持される。
【００１５】この操作でそれぞれスプリング６６、７２
の動作に抗して接触ピン６４と信号ピン７０が押し下げ
られる。媒介孔８２、８６が貫通した接触の効果によ
り、上述のようにライン３６（図２、３）を介して増幅
器３４（図２）のアウトプットは導電パッド１２０、プ
ローブ２０の内部導電体５４（図２）につながる信号ピ
ン７０に接続されている。
の動作に抗して接触ピン６４と信号ピン７０が押し下げ
られる。媒介孔８２、８６が貫通した接触の効果によ
り、上述のようにライン３６（図２、３）を介して増幅
器３４（図２）のアウトプットは導電パッド１２０、プ
ローブ２０の内部導電体５４（図２）につながる信号ピ
ン７０に接続されている。
【００１６】ストリップライン３８の他端は導電パッド
１２２、媒介孔８２ー３を介しプローブ２０の外側の導
電体５６に接続されている接地ピンユニット６２ー３に
接続されている。このことにより、ストリップライン３
８のインプット終端をオープン回路にし、正常期間中ア
ンテナに流れる全てのパワーはかわりにＲＦパワーメー
タ２４に流れる。
１２２、媒介孔８２ー３を介しプローブ２０の外側の導
電体５６に接続されている接地ピンユニット６２ー３に
接続されている。このことにより、ストリップライン３
８のインプット終端をオープン回路にし、正常期間中ア
ンテナに流れる全てのパワーはかわりにＲＦパワーメー
タ２４に流れる。
【００１７】上述実施態様でスイッチ５０（図２）の操
作はプローブ２０の接地ピンユニット６２と印刷回路基
板６０の接地パネル９０、１１２との協同によりもたら
されるけれど、切り替え配列で図２に示されるスイッチ
５０に応答して、印刷回路基板６０に配設されたスイッ
チを操作することでプローブを介して電気信号に適用で
きることが理解できるであろう。他の実施態様に於いて
は、アンテナ４４は上述実施態様に於けるように印刷回
路基板の取り付けられているよりはむしろ接続されてい
る。
作はプローブ２０の接地ピンユニット６２と印刷回路基
板６０の接地パネル９０、１１２との協同によりもたら
されるけれど、切り替え配列で図２に示されるスイッチ
５０に応答して、印刷回路基板６０に配設されたスイッ
チを操作することでプローブを介して電気信号に適用で
きることが理解できるであろう。他の実施態様に於いて
は、アンテナ４４は上述実施態様に於けるように印刷回
路基板の取り付けられているよりはむしろ接続されてい
る。
【００１８】
【発明の効果】従って、上述印刷回路基板のＲＦパワー
測定装置は、安価であり、基板に追加の構成部品を必要
とせず、さらに構造の大部分はそれ自身をボードの層上
に配設できるので小形である。また、低挿入損があるだ
けなので、高性能が達成できる。さらに、機械的な変更
は必要とせず、プローブは手動で十分適用が可能であ
る。別の利点は最終組立後でも測定が可能であることで
ある。
測定装置は、安価であり、基板に追加の構成部品を必要
とせず、さらに構造の大部分はそれ自身をボードの層上
に配設できるので小形である。また、低挿入損があるだ
けなので、高性能が達成できる。さらに、機械的な変更
は必要とせず、プローブは手動で十分適用が可能であ
る。別の利点は最終組立後でも測定が可能であることで
ある。
【図１】エレクトロニクス回路を含むハウジングを有し
プローブと協同する本発明の装置を示す概念図である。
プローブと協同する本発明の装置を示す概念図である。
【図２】本発明の装置を説明するため簡素化された回路
図である。
図である。
【図３】斜視図および印刷回路基板の協同部分の平面図
である。
である。
【図４】プローブのピンと協同する回路基板の断面図で
ある。
ある。
【図５】回路基板の他の断面図である。
１０ 装置 １２ モジュール １４ … ハウジング １６ … ケーブル １８ … 開口 ２０ … プローブ ２２ … ケーブル ２４ … ＲＦパワーメータ ３０ … 回路 ３２ … ライン ３４ … ＲＦ増幅器 ３６ … アウトプットライン ３８ … 接続手段 ４０ … 導線 ４２ … ノード ４４ … アンテナ ４６ … ライン ４８ … １極 ５０ … スイッチ ５２ … 第２の極 ５６ … 同軸の外側の導電体 ６０ … 回路基板 ６２ー１、６２ー２、６２ー３ … 接地ピンユニット ６４ー１、６４ー２、６４ー３ … ピンコネクタ ６６ー１、６６ー２、６６ー３ … スプリング ６８ー１、６８ー２、６８ー３ … 導電性鞘 ７０ … 信号ピン ７２ … スプリング ８２ー１、８２ー２、８２ー３ … 媒介孔 ８６ … 媒介孔 ９０ … 接地面 ９２ … 切欠部 １０２ … 絶縁体層 １０４、１０６ … 導電体層 １１２ … 設地面 １２０、１２２ … 導電パット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フランシスカス ジョーアン フリリンク オランダ、ニューウェゲン 3436 エッチ ケー、アニスガード 19
Claims (1)
- 【請求項１】 回路基板（６０）に設けられ無線周波数
（ＲＦ）信号用のアウトプットを有する第１のＲＦステ
ージ（３４）に関連するＲＦパラメータ測定装置（２
４）において、 前記アウトプットは、接続手段（３８）を介して第２の
ＲＦステージ（４４）に接続され、 前記ＲＦパラメータ測定手段（２４）に接続され、前記
接続手段（３８）に接続するに適合した前記プローブ装
置（２０）は、前記第１のＲＦステージ（３４）の前記
アウトプットのＲＦ信号が、前記第２のＲＦステージ
（４４）に送られるのを抑制し、前記ＲＦパラメータを
測定する手段（２４）に接続されることを特徴としたＲ
Ｆパラメータ測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB9421829.4 | 1994-10-29 | ||
| GB9421829A GB9421829D0 (en) | 1994-10-29 | 1994-10-29 | Apparatus for measuring an RF parameter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08226936A true JPH08226936A (ja) | 1996-09-03 |
| JP3086861B2 JP3086861B2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=10763602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07303410A Expired - Fee Related JP3086861B2 (ja) | 1994-10-29 | 1995-10-30 | 無線周波数パラメータ測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5726566A (ja) |
| EP (1) | EP0709686A3 (ja) |
| JP (1) | JP3086861B2 (ja) |
| GB (1) | GB9421829D0 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004510164A (ja) * | 2000-09-28 | 2004-04-02 | テラダイン・インコーポレーテッド | 高性能テスターインタフェースモジュール |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE29806674U1 (de) * | 1998-04-14 | 1998-08-13 | Abb Patent Gmbh, 68309 Mannheim | Prüfeinrichtung für ein elektronisches Gerät, insbesondere ein Überlastrelais |
| US6442378B1 (en) | 1998-07-15 | 2002-08-27 | Avaya Technology Corp | Power level determination device in an RF booster for wireless communications |
| JP2001242210A (ja) * | 2000-02-29 | 2001-09-07 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波部品、通信装置および高周波部品の特性測定方法 |
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