JPH08203413A - 漏電しゃ断器 - Google Patents
漏電しゃ断器Info
- Publication number
- JPH08203413A JPH08203413A JP1367395A JP1367395A JPH08203413A JP H08203413 A JPH08203413 A JP H08203413A JP 1367395 A JP1367395 A JP 1367395A JP 1367395 A JP1367395 A JP 1367395A JP H08203413 A JPH08203413 A JP H08203413A
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- Japan
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- test
- circuit
- current
- earth leakage
- switching means
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Abstract
(57)【要約】
【目的】テストスイッチのＯＮの状態が継続するときに
テスト回路に電流が流れ続けることを防止したテスト装
置を内蔵した逆接続が可能な漏電しゃ断器を提供する。 【構成】テスト抵抗１とスイッチング手段２が直列に電
源接続部３に接続され、テスト電流を非接触的に検知す
るＺＣＴ４を備えるとともに、スイッチング手段２はテ
ストスイッチ５を含む制御回路６に接続されていおり、
その制御回路６にはテスト開始後所定時間経過するとス
イッチング手段２をＯＦＦとするタイマー７を備えてい
る。
テスト回路に電流が流れ続けることを防止したテスト装
置を内蔵した逆接続が可能な漏電しゃ断器を提供する。 【構成】テスト抵抗１とスイッチング手段２が直列に電
源接続部３に接続され、テスト電流を非接触的に検知す
るＺＣＴ４を備えるとともに、スイッチング手段２はテ
ストスイッチ５を含む制御回路６に接続されていおり、
その制御回路６にはテスト開始後所定時間経過するとス
イッチング手段２をＯＦＦとするタイマー７を備えてい
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、漏電しゃ断器のしゃ断
性能をチェックするための改良されたテスト装置を内蔵
した漏電しゃ断器に関する。
性能をチェックするための改良されたテスト装置を内蔵
した漏電しゃ断器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、テスト装置を内蔵した漏電しゃ断
器においては、図３（Ａ）に示すような回路からなるテ
スト装置が使用されている。このテスト装置では、テス
トスイッチ５をＯＮにするとテスト回路に電流が流れ、
その電流をＺＣＴ４が検知して漏電しゃ断器（図示せ
ず）を作動させることにより漏電しゃ断器のしゃ断性能
をチェックすることができる。なお、漏電しゃ断器が順
接続されている場合には、テスト装置は漏電しゃ断器の
出力側を電源としているから漏電しゃ断器を作動させる
と同時にテスト装置の電源もＯＦＦとなるので、この回
路には電流は流れなくなるのである。しかし、このよう
なテスト装置は、漏電しゃ断器が逆接続された場合に
は、テスト装置の電源は入力側に接続されることになる
のでテストスイッチ５のＯＮの状態が継続するとしゃ断
器がトリップしても電源がＯＦＦにならない。そのため
テスト回路には定格値の回路電流が流れ続けることとな
るが、テスト抵抗１は、通常定格電流に長時間耐えるよ
うに設計されていないため、この継続する電流のために
品質が劣化したりときには焼損するおそれがあった。
器においては、図３（Ａ）に示すような回路からなるテ
スト装置が使用されている。このテスト装置では、テス
トスイッチ５をＯＮにするとテスト回路に電流が流れ、
その電流をＺＣＴ４が検知して漏電しゃ断器（図示せ
ず）を作動させることにより漏電しゃ断器のしゃ断性能
をチェックすることができる。なお、漏電しゃ断器が順
接続されている場合には、テスト装置は漏電しゃ断器の
出力側を電源としているから漏電しゃ断器を作動させる
と同時にテスト装置の電源もＯＦＦとなるので、この回
路には電流は流れなくなるのである。しかし、このよう
なテスト装置は、漏電しゃ断器が逆接続された場合に
は、テスト装置の電源は入力側に接続されることになる
のでテストスイッチ５のＯＮの状態が継続するとしゃ断
器がトリップしても電源がＯＦＦにならない。そのため
テスト回路には定格値の回路電流が流れ続けることとな
るが、テスト抵抗１は、通常定格電流に長時間耐えるよ
うに設計されていないため、この継続する電流のために
品質が劣化したりときには焼損するおそれがあった。
【０００３】また、逆接続が可能である漏電しゃ断器の
テスト装置として、図３（Ｂ）に示す回路からなるもの
がある。この回路では、しゃ断器のブレーカの入切動作
と連動して入切動作を行う連動スイッチ５１が回路に直
列に組み込まれているから、逆接続の場合においても、
しゃ断器が作動すれば連動スイッチ５１が連動してＯＦ
Ｆとなり、テスト回路の電流が断たれるようになってい
る。しかしながら、前記の（Ａ）および（Ｂ）のいずれ
の回路においても、テストスイッチ５のＯＮの状態が継
続するときに何らかの理由でしゃ断器が作動しないとき
には、テスト回路の電流が流れ続けることになるので上
記と同様な問題があった。
テスト装置として、図３（Ｂ）に示す回路からなるもの
がある。この回路では、しゃ断器のブレーカの入切動作
と連動して入切動作を行う連動スイッチ５１が回路に直
列に組み込まれているから、逆接続の場合においても、
しゃ断器が作動すれば連動スイッチ５１が連動してＯＦ
Ｆとなり、テスト回路の電流が断たれるようになってい
る。しかしながら、前記の（Ａ）および（Ｂ）のいずれ
の回路においても、テストスイッチ５のＯＮの状態が継
続するときに何らかの理由でしゃ断器が作動しないとき
には、テスト回路の電流が流れ続けることになるので上
記と同様な問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の問題
点を解決するためになされたものであり、テストスイッ
チのＯＮの状態が継続するときにテスト回路に電流が流
れ続けることを防止したテスト装置を内蔵した逆接続が
可能な漏電しゃ断器を提供する。
点を解決するためになされたものであり、テストスイッ
チのＯＮの状態が継続するときにテスト回路に電流が流
れ続けることを防止したテスト装置を内蔵した逆接続が
可能な漏電しゃ断器を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の問題は、テスト電
流の通電が、テストスイッチＯＮによりＯＮとなり、そ
の後所定時間経過後にＯＦＦとなるタイマーを備えた制
御回路により制御されるスイッチング手段によっておこ
なわれるテスト装置を内蔵したことを特徴とする漏電し
ゃ断器により解決することができる。
流の通電が、テストスイッチＯＮによりＯＮとなり、そ
の後所定時間経過後にＯＦＦとなるタイマーを備えた制
御回路により制御されるスイッチング手段によっておこ
なわれるテスト装置を内蔵したことを特徴とする漏電し
ゃ断器により解決することができる。
【０００６】
【作用】上記に実施例の説明の通り、本発明では、テス
ト電流の通電は、テストスイッチＯＮによりＯＮとなり
その後所定時間経過後にＯＦＦとなるタイマーを備えた
制御回路により制御されるスイッチング手段のＯＮＯＦ
Ｆによっておこなわれるから、順接続、逆接続いずれの
場合にも適用が可能であり、さらにしゃ断器が何らかの
理由でテスト時に作動しなくとも、テスト電流は所定の
時間以上には流れない。従って、テスト抵抗の品質の劣
化を招くおそれが解消できるのである。
ト電流の通電は、テストスイッチＯＮによりＯＮとなり
その後所定時間経過後にＯＦＦとなるタイマーを備えた
制御回路により制御されるスイッチング手段のＯＮＯＦ
Ｆによっておこなわれるから、順接続、逆接続いずれの
場合にも適用が可能であり、さらにしゃ断器が何らかの
理由でテスト時に作動しなくとも、テスト電流は所定の
時間以上には流れない。従って、テスト抵抗の品質の劣
化を招くおそれが解消できるのである。
【０００７】
【実施例】次に、図１、図２に示す実施例に基づいて本
発明を詳細に説明する。 （実施例１）先ず図１において、本発明の漏電しゃ断器
に内蔵されるテスト装置に係る電気回路の概要を示す。
テスト抵抗１とスイッチング手段２が直列に電源接続部
３に接続される電気回路の一部がテスト電流を非接触的
に検知するＺＣＴ４を通過するよう構成されている。そ
してスイッチング手段２はテストスイッチ５を含む制御
回路６に接続されるいるとともに、次のように機能する
ようタイマー７を備えている。
発明を詳細に説明する。 （実施例１）先ず図１において、本発明の漏電しゃ断器
に内蔵されるテスト装置に係る電気回路の概要を示す。
テスト抵抗１とスイッチング手段２が直列に電源接続部
３に接続される電気回路の一部がテスト電流を非接触的
に検知するＺＣＴ４を通過するよう構成されている。そ
してスイッチング手段２はテストスイッチ５を含む制御
回路６に接続されるいるとともに、次のように機能する
ようタイマー７を備えている。
【０００８】この制御回路６は、テストスイッチ５のＯ
Ｎによりスイッチング手段２をＯＮに制御するが、その
後所定時間経過後にスイッチング手段２をＯＦＦとする
タイマー７を備えているのである。このタイマー７によ
り、テスト電流の通電時間はしゃ断器が作動するに必要
な時間例えば０．０５秒から２秒の間に可変に設定する
ことが可能である。また、スイッチング手段２として
は、機械的スイッチ例えばリレースイッチまたは電子的
スイッチ例えばトライアックのいずれも適用が可能であ
る。タイマー７としては、機械的タイマー例えばバイメ
タル接点方式のタイマーまたは電子的タイマー例えば電
子時計方式あるいは抵抗体、コンデンサおよびトランジ
スタを組み合わせた電子タイマーなどが必要に応じて適
用ができる。
Ｎによりスイッチング手段２をＯＮに制御するが、その
後所定時間経過後にスイッチング手段２をＯＦＦとする
タイマー７を備えているのである。このタイマー７によ
り、テスト電流の通電時間はしゃ断器が作動するに必要
な時間例えば０．０５秒から２秒の間に可変に設定する
ことが可能である。また、スイッチング手段２として
は、機械的スイッチ例えばリレースイッチまたは電子的
スイッチ例えばトライアックのいずれも適用が可能であ
る。タイマー７としては、機械的タイマー例えばバイメ
タル接点方式のタイマーまたは電子的タイマー例えば電
子時計方式あるいは抵抗体、コンデンサおよびトランジ
スタを組み合わせた電子タイマーなどが必要に応じて適
用ができる。
【０００９】（実施例２）次に、電子タイマーを備える
ことで本発明をより具体化した図２に示す実施例を参照
して説明する。テスト抵抗１とスイッチング手段２が直
列に電源接続部３に接続される電気回路の一部がテスト
電流を非接触的に検知するＺＣＴ４を通過するよう構成
されている点は上記実施例１と同様であるが、この場合
のスイッチング手段２には交流をＯＮＯＦＦできるトラ
イアックが用いられている。
ことで本発明をより具体化した図２に示す実施例を参照
して説明する。テスト抵抗１とスイッチング手段２が直
列に電源接続部３に接続される電気回路の一部がテスト
電流を非接触的に検知するＺＣＴ４を通過するよう構成
されている点は上記実施例１と同様であるが、この場合
のスイッチング手段２には交流をＯＮＯＦＦできるトラ
イアックが用いられている。
【００１０】ダイオードＥ１、抵抗Ｒ１、コンデンサＣ
１および定電圧素子Ｅ２からなる一連の回路は、テスト
スイッチ５を含む制御回路の一部を構成して後記のタイ
マー回路に電流を供給する直流定電圧回路である。タイ
マー回路として、テストスイッチ５は、抵抗Ｒ２をはさ
んで定電圧回路の母線Ａに、抵抗Ｒ３とコンデンサＣ２
をはさんで定電圧回路の母線Ｂに接続している。トラン
ジスタＴ１のベースは、抵抗Ｒ３とコンデンサＣ２に中
間に接続され、コレクタはトランジスタＴ２のベースへ
接続され、またエミッタは定電圧回路の母線Ｂに接続し
ている。またトランジスタＴ２のベースは、テストスイ
ッチ５と抵抗Ｒ３の中間に接続している抵抗Ｒ４と定電
圧回路の母線Ｂに接続している抵抗Ｒ５との中間に接続
され、エミッタは定電圧回路の母線Ｂに接続していると
ともにコレクタは抵抗Ｒ６、Ｒ７を経て定電圧回路の母
線Ａに接続している。そしてトライアック２のゲートは
抵抗Ｒ６、Ｒ７の中間に接続されているのである。
１および定電圧素子Ｅ２からなる一連の回路は、テスト
スイッチ５を含む制御回路の一部を構成して後記のタイ
マー回路に電流を供給する直流定電圧回路である。タイ
マー回路として、テストスイッチ５は、抵抗Ｒ２をはさ
んで定電圧回路の母線Ａに、抵抗Ｒ３とコンデンサＣ２
をはさんで定電圧回路の母線Ｂに接続している。トラン
ジスタＴ１のベースは、抵抗Ｒ３とコンデンサＣ２に中
間に接続され、コレクタはトランジスタＴ２のベースへ
接続され、またエミッタは定電圧回路の母線Ｂに接続し
ている。またトランジスタＴ２のベースは、テストスイ
ッチ５と抵抗Ｒ３の中間に接続している抵抗Ｒ４と定電
圧回路の母線Ｂに接続している抵抗Ｒ５との中間に接続
され、エミッタは定電圧回路の母線Ｂに接続していると
ともにコレクタは抵抗Ｒ６、Ｒ７を経て定電圧回路の母
線Ａに接続している。そしてトライアック２のゲートは
抵抗Ｒ６、Ｒ７の中間に接続されているのである。
【００１１】このように構成された回路において、テス
トスイッチ５がＯＮになったときトランジスタＴ１はコ
ンデンサＣ２があるためＯＦＦのままであるが、トラン
ジスタＴ２は抵抗Ｒ４、Ｒ５で定まる電圧によりＯＮに
作動し、トライアック２のゲートに通電され結果トライ
アック２がＯＮの状態になるから、テスト抵抗１にテス
ト電流が流れるとともにそれをＺＣＴ４が感知してしゃ
断器を作動するように機能する。ところが、テストスイ
ッチ５がＯＮのままなんらかの理由でしゃ断器が作動し
なかった場合においても、ある時間経過するとコンデン
サＣ２が充電されるのでトランジスタＴ１がＯＮにはい
るから、トランジスタＴ２の作動電圧が低下しＯＦＦに
転換して、結果トライアック２のＯＮの状態が解除さ
れ、テスト電流が停止させられるのである。なお、この
ようなタイマーが機能する所要時間は、抵抗Ｒ３とコン
デンサＣ２の値によって定めることができるが、０．０
５秒から２秒の範囲内が好ましいものである。
トスイッチ５がＯＮになったときトランジスタＴ１はコ
ンデンサＣ２があるためＯＦＦのままであるが、トラン
ジスタＴ２は抵抗Ｒ４、Ｒ５で定まる電圧によりＯＮに
作動し、トライアック２のゲートに通電され結果トライ
アック２がＯＮの状態になるから、テスト抵抗１にテス
ト電流が流れるとともにそれをＺＣＴ４が感知してしゃ
断器を作動するように機能する。ところが、テストスイ
ッチ５がＯＮのままなんらかの理由でしゃ断器が作動し
なかった場合においても、ある時間経過するとコンデン
サＣ２が充電されるのでトランジスタＴ１がＯＮにはい
るから、トランジスタＴ２の作動電圧が低下しＯＦＦに
転換して、結果トライアック２のＯＮの状態が解除さ
れ、テスト電流が停止させられるのである。なお、この
ようなタイマーが機能する所要時間は、抵抗Ｒ３とコン
デンサＣ２の値によって定めることができるが、０．０
５秒から２秒の範囲内が好ましいものである。
【００１２】以上説明した通り、この実施例２において
も、テスト電流の通電は、テストスイッチＯＮによりＯ
Ｎとなりその後所定時間経過後にＯＦＦとなる電子タイ
マーを備えた制御回路により制御されるスイッチング手
段トライアックのＯＮＯＦＦによっておこなわれるか
ら、実施例１の場合と同様に、順接続、逆接続いずれの
場合にも適用が可能であり、さらにしゃ断器が何らかの
理由でテスト時に作動しなくとも、テスト電流は所定の
時間以上には流れない。さらに、スイッチング手段の操
作電圧を下げることが可能である小型スイッチを用いる
ことができ、機器の小型化も可能となった。また、この
テスト装置を使用すると、しゃ断器の作動に必要な最低
限の時間だけ通電することができるので、このテスト装
置の漏電検出回路に使用している電子素子に異常があっ
たときには、しゃ断器がトリップしないことにより、そ
の異常を発見できるなどテスト自体の信頼性も向上する
という利点がある。
も、テスト電流の通電は、テストスイッチＯＮによりＯ
Ｎとなりその後所定時間経過後にＯＦＦとなる電子タイ
マーを備えた制御回路により制御されるスイッチング手
段トライアックのＯＮＯＦＦによっておこなわれるか
ら、実施例１の場合と同様に、順接続、逆接続いずれの
場合にも適用が可能であり、さらにしゃ断器が何らかの
理由でテスト時に作動しなくとも、テスト電流は所定の
時間以上には流れない。さらに、スイッチング手段の操
作電圧を下げることが可能である小型スイッチを用いる
ことができ、機器の小型化も可能となった。また、この
テスト装置を使用すると、しゃ断器の作動に必要な最低
限の時間だけ通電することができるので、このテスト装
置の漏電検出回路に使用している電子素子に異常があっ
たときには、しゃ断器がトリップしないことにより、そ
の異常を発見できるなどテスト自体の信頼性も向上する
という利点がある。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、テスト電流の通電は、
テスト開始後所定時間を経過するとタイマーを備えた制
御回路により制御されるスイッチング手段によりＯＦＦ
となるから、順接続、逆接続いずれの場合にも適用が可
能であるとともにしゃ断器が何らかの理由で作動しなく
とも、テスト電流は所定の時間以上には流れない。従っ
て、テスト抵抗の品質の劣化を招くおそれが解消できる
という優れた効果があるからその工業的価値が大なるも
のがある。
テスト開始後所定時間を経過するとタイマーを備えた制
御回路により制御されるスイッチング手段によりＯＦＦ
となるから、順接続、逆接続いずれの場合にも適用が可
能であるとともにしゃ断器が何らかの理由で作動しなく
とも、テスト電流は所定の時間以上には流れない。従っ
て、テスト抵抗の品質の劣化を招くおそれが解消できる
という優れた効果があるからその工業的価値が大なるも
のがある。
【図１】本発明の実施例１のテスト装置の説明図。
【図２】実施例２のテスト装置の説明図。
【図３】従来のテスト装置の説明図。
１：テスト抵抗、２：スイッチング手段、３：電源接続
部、４：ＺＣＴ、５：テストスイッチ、６：制御回路、
７：タイマー。
部、４：ＺＣＴ、５：テストスイッチ、６：制御回路、
７：タイマー。
Claims (2)
- 【請求項１】テスト電流の通電が、テストスイッチＯＮ
によりＯＮとなり、その後所定時間経過後にＯＦＦとな
るタイマーを備えた制御回路により制御されるスイッチ
ング手段によっておこなわれるテスト装置を内蔵したこ
とを特徴とする漏電しゃ断器。 - 【請求項２】上記タイマーが電子回路からなるとともに
上記スイッチング手段が半導体スイッチング素子である
請求項１記載の漏電しゃ断器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1367395A JPH08203413A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 漏電しゃ断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1367395A JPH08203413A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 漏電しゃ断器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08203413A true JPH08203413A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11839718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1367395A Withdrawn JPH08203413A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 漏電しゃ断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08203413A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101159942B1 (ko) * | 2010-02-08 | 2012-06-26 | 이문형 | 비접촉 전계 감지 및 차단장치 |
| KR200471612Y1 (ko) * | 2012-10-04 | 2014-03-06 | 한전케이피에스 주식회사 | 누전차단기의 동작시험 경고음 발생기 |
-
1995
- 1995-01-31 JP JP1367395A patent/JPH08203413A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101159942B1 (ko) * | 2010-02-08 | 2012-06-26 | 이문형 | 비접촉 전계 감지 및 차단장치 |
| KR200471612Y1 (ko) * | 2012-10-04 | 2014-03-06 | 한전케이피에스 주식회사 | 누전차단기의 동작시험 경고음 발생기 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020402 |