JPH08152412A - 外観検査装置 - Google Patents

外観検査装置

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JPH08152412A
JPH08152412A JP6294307A JP29430794A JPH08152412A JP H08152412 A JPH08152412 A JP H08152412A JP 6294307 A JP6294307 A JP 6294307A JP 29430794 A JP29430794 A JP 29430794A JP H08152412 A JPH08152412 A JP H08152412A
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陽一郎 上田
Kenji Okamoto
健二 岡本
Kazuhiro Ikurumi
和宏 王生
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 TABテープ19からの反射光を、カラーC
CDカメラ4により撮像する。このとき、照明3または
カラーCCDカメラ4の絞りは、レジスト、樹脂封止等
の信号レベルの小さい対象物の信号が十分見分けられる
レベルに調整する。画像はカラー画像処理部14に渡さ
れ、色座標変換部15にて輝度および色度の情報に変換
される。その際、制御部10は検査データ保持部18に
保持されている検査データを解読して、検査データ中に
記述されている色座標を指定するデータに基づいて、色
座標データ保持部17より色座標データを読み込む。色
座標データは色座標変換部15に渡され、検査対象に応
じた色座標変換を行う。色座標変換された画像情報は色
抽出部16において、撮像画面毎に検査データ保持部1
8に記憶してある2値化しきい値に応じて2値処理を行
う。次いで判定部8において2値画像処理を行い良否を
判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、FA分野における複数
色のカラー画像を処理して、プリント基板上の電子部品
やクリーム半田、およびTABテープなどの良否を判定
する外観検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般にTABテープや実装基板の製造
は、ほとんどの場合自動機によって行われる。このよう
に自動機を用いた場合、様々な要因により、TABテー
プの場合ではリードのエッチング不良や表面上の汚れや
キズ、実装基板の場合では印刷不良や実装不良等の不良
品が発生することがあり、検査工程は製造上無くてはな
らないものである。
【0003】しかし、このような検査を検査作業員によ
る目視検査に頼っていたのでは、検査ミスの発生を完全
になくすことができず、また近年の検査対象物の小型
化、狭ピッチ化、TABテープの採用に伴い目視による
検査は限界にきている。
【0004】そこで、TABテープや実装基板の自動検
査機が重要になってくるのだが、方式としては白黒カメ
ラ、カラーカメラ、3次元カメラ、X線カメラなど、様
々な提案が各社からなされている。精度、タクト、コス
トなどの諸性能を考えた場合、インラインでの検査機に
おいてはタクトが特に重要であり、撮像時間が短く、か
つ情報量が多いカラーカメラによる検査が注目されてい
る。
【0005】以下、図面を参照しながら、上述した従来
のカラー画像による実装基板の検査装置について説明す
る。
【0006】図4は特開昭62−180250号公報に
示されている従来のカラー画像による部品実装基板の検
査装置である。図4において、1は被検査対象であるプ
リント基板、2はプリント基板を乗せるX−Yテーブ
ル、3はプリント基板を照らす照明、4はカラー画像の
撮像部、5は撮像部の信号を処理する処理部、6,7,
8,9,10は処理部5を構成する画像入力部、画像処
理部、判定部、メモリ、制御部、11は画像コントロー
ラ、12はテーブルコントローラ、13は判定結果出力
部である。
【0007】このような構成要素からなる部品実装基板
の検査装置について、以下これら構成要素間の関係とそ
の動作について説明する。まず、照明3によりX−Yテ
ーブル2上の被検査対象であるプリント基板1を照ら
し、カラー画像の撮像部4で撮像を行う。そして、撮像
部4の信号を処理する処理部5にて画像の処理を行い、
判定結果出力部12に判定結果を出力する。このとき処
理部5の内部では、撮像部4の出力画像信号が画像入力
部6を通してメモリ9に送られ蓄えられる。このように
してメモリ9に蓄えられた画像信号は画像処理部7、判
定部8、制御部10にて良否が判定されて判定結果出力
部13に出力される。
【0008】このとき、基板、電子部品、クリーム半田
などの部品を各画素の色情報の差によって見分けてい
る。これに対して、白黒カメラで撮像した場合は輝度情
報のみで識別しているため識別できない部品が多くな
る。このようにして図4の従来例ではカラー画像による
部品実装基板の検査装置を実現している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成でTABテープ上のリード部、レジスト部、樹
脂封止部または実装基板上の部品などを各画素の色情報
の差によって見分けるには次のような問題がある。図2
は基板を撮像したときの各画素の色度ならびに輝度をプ
ロットした図である。ここにみられるように見分けなけ
ればならないほとんどの部位の色度情報は最大値の10
%程度以内に集中しており、また、リード部の輝度情報
は大変高い。このとき色度の分解能を上げるため照明部
の光量を上げるとリード部の輝度が飽和してしまいリー
ド部の色抽出精度が落ちてしまう。また逆にリード部の
色抽出精度を上げようとすると照明部の光量を落とす必
要があり、レジスト部と樹脂封止部が見分けられなくな
る。図3は光量を上げた場合の例を示した図であり、リ
ード部は白(R,G最大)に近い状態になっている。一
般にカラーCCDカメラのCCDセンサは青色に対する
光量感度が他の色よりも弱く、そのため他の色(R,
G)と同じ信号レベルまでゲインを上げた場合、信号レ
ベルの低い対象物の場合、相対的にノイズ分も多くなる
といった傾向もある。
【0010】こうしたことから、通常の光量下で従来の
撮像手段の場合、信号レベルの大きいものと小さいもの
双方の十分な色の分解能を得ることが難しいという問題
点がある。
【0011】また、人間の目の特性は対数特性であり、
暗い色の色相の差の分解能が高いこともこれに合致した
現象である。
【0012】本発明は、上記問題点に対して、リード
部、レジスト部、樹脂封止部などの色の差と輝度の差を
十分な分解能で見分け、良否の検査を安定に実現できる
外観検査装置を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の外観検査装置は、カラー画像を撮像する撮
像手段と、前記撮像手段により撮像された被撮像物の色
の3原色を輝度と色度の空間に変換する色座標変換手段
と、前記色座標変換手段における演算係数を保持する色
座標データ保持手段と、検査対象物の情報を持つ検査デ
ータを保持する検査データ保持手段と、前記検査データ
を解読して、予め前記色座標データ保持手段に登録され
ている演算係数データに切り替える制御手段を備えたも
のである。
【0014】また本発明の外観検査装置は、色座標変換
手段に保持する演算係数として、輝度の高い被検査物を
検査するために、色の3原色のうち最も撮像手段におけ
る光量感度がにぶい青色からのみ輝度を演算するように
した演算係数と、輝度が低い被検査物を検査するために
光量感度が鈍い青色以外から輝度と色度を演算するよう
にした演算係数を保持し、検査実行中に各々の被検査物
に応じて即座に演算係数を切り替える制御手段を備えた
ものである。
【0015】
【作用】本発明の外観検査装置は、検査に際して信号レ
ベルの大きいリードに対しては青色のみから輝度を演算
する色座標変換系を使用し、信号レベルの小さいレジス
ト、樹脂封止部に対しては青色以外の色信号から輝度と
色度を演算する色座標変換系を使用することにより、従
来の一定の入射光量による方法ではリード部とレジスト
部または樹脂封止部の双方を精度よく識別することが困
難であったものが、確実に識別することが可能となり、
検査対象の良否が検査できる。
【0016】このとき、検査対象に応じて色座標変換系
を変えているため、リード部、レジスト部、樹脂封止部
などの各カラー映像信号出力に対して十分な分解能を得
ることができる。
【0017】このようにして、検査対象に応じて色座標
変換系を切り換える手段を備えることによって、信号が
小さく高い分解能を必要とするレジスト部や樹脂封止
部、ならびに信号が大きく輝度が飽和しやすいリード部
の識別を安定に行い、リード、レジスト、樹脂封止の良
否を精度よく検査することができる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の外観検査装置の一実施例を図
面を参照しながら説明する。
【0019】図1は本発明の第1の実施例における外観
検査装置の構成を示すブロック図である。図1におい
て、14は色座標変換と色抽出を行うためのカラー画像
処理部、15は色座標変換部、16は色抽出手段、17
は色座標データ保持手段、18は検査データ保持手段、
19は検査対象であるTABテープである。
【0020】このような構成要素からなる実装基板検査
装置について、以下これら構成要素間の関係とその動作
を説明する。第1の実施例は、検査対象であるTABテ
ープ19からの反射光を、撮像のためのカラーCCDカ
メラ4により撮像する。このとき、照明3またはカラー
CCDカメラ4の絞りは、レジスト、樹脂封止等の信号
レベルの小さい対象物の信号が十分見分けられるレベル
に調整する。撮像された画像はカラー画像処理部14に
渡され、色座標変換部15にて輝度および色度の情報に
変換される。その際、制御部10は検査データ保持部1
8に保持されている検査データを解読して、検査データ
中に記述されている色座標を指定するデータに基づい
て、色座標データ保持部17より色座標データを読み込
む。読み困れた色座標データは色座標変換部15に渡さ
れ、検査対象に応じた色座標変換を行う。色座標変換部
15にて変換された画像情報は色抽出部16において、
撮像画面毎に検査データ保持部18に記憶してある2値
化しきい値に応じて2値処理を行う。次いで判定部8に
おいて2値画像処理を行い良否を判定する。
【0021】また本発明の第2の実施例によれば、色座
標データ保持部17に保持されるデータとして、信号レ
ベルが大きいリード部に対して光量感度の鈍い青色のみ
による色座標変換を実現する式(数1)に示す演算デー
タを使用し、その他の信号レベルが小さいレジスト部や
樹脂封止部に対しては、信号レベルが小さい場合にはノ
イズ分の影響を受けやすい青色をのぞいた色座標変換を
実現する式(数2)に示す演算データを使用する。
【0022】
【数1】
【0023】
【数2】
【0024】このようにして検査対象に応じた色座標変
換系を検査中に逐次切り換えることによって、信号レベ
ルの大きいリード部と信号レベルの小さいレジスト部や
樹脂封止部の双方の識別を安定に精度よく行い、リー
ド、レジスト、樹脂封止の良否を安定して検査する外観
検査装置を構成することができる。
【0025】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、電子部
品実装基板やTABテープの良否を複数色のカラー画像
撮像手段を用いて検査する検査装置において、検査対象
に応じて色座標変換系の座標データを切り換える手段を
備えることにより、従来例のように、通常の撮像手段を
使う構成では、信号レベルが小さいレジスト部や樹脂封
止部ならびに信号レベルが大きいリード部の双方の識別
という相反する問題を克服でき、レジスト部、樹脂封止
部、リード部などの色の差を十分な分解能で見分け、電
子部品実装基板やTABテープの良否を安定して検査す
ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1,2の実施例における外観検査装
置のブロック図
【図2】TABテープ上のリード、レジスト、樹脂封止
部の色分布を示す図
【図3】光量を上げたときのTABテープ上のリード、
レジスト、樹脂封止部の色分布を示す図
【図4】従来例である実装基板検査装置のブロック図
【符号の説明】
1 プリント基板 2 X−Yテーブル 3 照明 4 カラーCCDカメラ 8 認識判定部 10 制御部 14 カラー画像処理部 15 色座標変換部 16 色抽出部 17 色座標データ保持部 18 検査データ保持部 19 TABテープ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カラー画像を撮像する撮像手段と、前記
    撮像手段により撮像された被撮像物の色の3原色を変換
    する色座標変換手段と、色座標変換手段において色の3
    原色のうち最も撮像手段における光量感度がにぶい青色
    からのみ輝度を演算するようにしたことを特徴とする外
    観検査装置。
  2. 【請求項2】 カラー画像を撮像する撮像手段と、前記
    撮像手段により撮像された被撮像物の色の3原色を変換
    する色座標変換手段と、色座標変換手段において、色の
    3原色のうち最も撮像手段における光量感度がにぶい青
    色以外から輝度と色度を演算するようにしたことを特徴
    とする外観検査装置。
  3. 【請求項3】 色座標変換手段は色座標を演算する複数
    種類の演算係数を保持するための色座標データ保持手段
    と、検査対象物の情報を持つ検査データを保持する検査
    データ保持手段と、前記検査データを解読して、予め前
    記色座標保持手段に登録されている演算係数データに切
    り換える制御手段を備え、制御手段において検査実行中
    に各々の被検査物に応じて即座に演算係数を切り替える
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の外観検査
    装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10313200A (ja) * 1997-05-13 1998-11-24 Mitsubishi Electric Corp 部品検査装置及び部品検査方法
JP2002039967A (ja) * 2000-07-28 2002-02-06 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法及び検査装置
JP2006242953A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Ajuhitek Inc 自動光学検査システム及び方法
JP2007183274A (ja) * 2005-12-28 2007-07-19 Stemco Co Ltd フレキシブル回路基板の外観検査装置及び検査方法
CN100399039C (zh) * 2004-03-31 2008-07-02 安立株式会社 印刷电路板检查装置
CN103743754A (zh) * 2014-01-26 2014-04-23 宜昌宏箭铝业有限责任公司 一种铝型材表处后焊合线缺陷的基材即时鉴定方法和设备

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10313200A (ja) * 1997-05-13 1998-11-24 Mitsubishi Electric Corp 部品検査装置及び部品検査方法
JP2002039967A (ja) * 2000-07-28 2002-02-06 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法及び検査装置
CN100399039C (zh) * 2004-03-31 2008-07-02 安立株式会社 印刷电路板检查装置
JP2006242953A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Ajuhitek Inc 自動光学検査システム及び方法
JP2007183274A (ja) * 2005-12-28 2007-07-19 Stemco Co Ltd フレキシブル回路基板の外観検査装置及び検査方法
CN103743754A (zh) * 2014-01-26 2014-04-23 宜昌宏箭铝业有限责任公司 一种铝型材表处后焊合线缺陷的基材即时鉴定方法和设备
CN103743754B (zh) * 2014-01-26 2016-04-13 宜昌宏箭铝业有限责任公司 一种铝型材表处后焊合线缺陷的基材即时鉴定方法和设备

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