JPH08128936A - 熱疲労試験機 - Google Patents
熱疲労試験機Info
- Publication number
- JPH08128936A JPH08128936A JP26575494A JP26575494A JPH08128936A JP H08128936 A JPH08128936 A JP H08128936A JP 26575494 A JP26575494 A JP 26575494A JP 26575494 A JP26575494 A JP 26575494A JP H08128936 A JPH08128936 A JP H08128936A
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- JP
- Japan
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- test piece
- thermal expansion
- actuator
- load
- test specimen
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- Pending
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 試験片の熱膨張量を補正することで、熱膨張
量の影響を排除した真の負荷を試験片に与えることがで
きる熱疲労試験機を提供する。 【構成】 本体１は、テーブル２にサーボ弁３の開閉に
よって制御されるアクチュエータ４を取り付けてなり、
テーブル２には、支柱５ａ、５ｂによって支持されるク
ロスヘッド６が設けられている。クロスヘッド６にはロ
ードセル７を介して上方のチャック８ａが取り付けら
れ、アクチュエータ４の可動ロッド４ａの上端部には下
方チャック８ｂが取り付けられ、両チャック８ａ、８ｂ
によって試験片Ｔが把持されている。また、試験片Ｔに
は、レバー式変位計９が取り付けられている。試験片Ｔ
を囲むように保温槽１０が設けられ、この保温槽１０に
は、試験片Ｔに熱サイクルを付与する加熱装置１１及び
冷却装置１２と、保温槽１０内部温度を計測する温度セ
ンサ１３とが設けられている。
量の影響を排除した真の負荷を試験片に与えることがで
きる熱疲労試験機を提供する。 【構成】 本体１は、テーブル２にサーボ弁３の開閉に
よって制御されるアクチュエータ４を取り付けてなり、
テーブル２には、支柱５ａ、５ｂによって支持されるク
ロスヘッド６が設けられている。クロスヘッド６にはロ
ードセル７を介して上方のチャック８ａが取り付けら
れ、アクチュエータ４の可動ロッド４ａの上端部には下
方チャック８ｂが取り付けられ、両チャック８ａ、８ｂ
によって試験片Ｔが把持されている。また、試験片Ｔに
は、レバー式変位計９が取り付けられている。試験片Ｔ
を囲むように保温槽１０が設けられ、この保温槽１０に
は、試験片Ｔに熱サイクルを付与する加熱装置１１及び
冷却装置１２と、保温槽１０内部温度を計測する温度セ
ンサ１３とが設けられている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験片に熱サイクルを
付与して、材料の熱疲労度を評価する熱疲労試験機に関
する。
付与して、材料の熱疲労度を評価する熱疲労試験機に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、熱疲労試験機では、加熱装置及び
冷却装置を備えた保温槽内に配置した試験片に対して、
アクチュエータにより予負荷を与えた後、加熱装置及び
冷却装置によって、試験片に予め設定した熱サイクルを
与える一方で、この試験片の伸び、すなわち標点間距離
が常にある値で一定となるように、アクチュエータによ
る試験片への負荷を制御する、いわゆる定歪制御が行わ
れている。
冷却装置を備えた保温槽内に配置した試験片に対して、
アクチュエータにより予負荷を与えた後、加熱装置及び
冷却装置によって、試験片に予め設定した熱サイクルを
与える一方で、この試験片の伸び、すなわち標点間距離
が常にある値で一定となるように、アクチュエータによ
る試験片への負荷を制御する、いわゆる定歪制御が行わ
れている。
【０００３】しかし、このような熱疲労試験機では、標
点間距離として検出された値には、試験片の熱膨脹によ
る変位が含まれる。したがって、アクチュエータを制御
して試験片の標点間距離が一定となるように試験片の負
荷を制御したとしても、実際には熱膨脹量と同等の伸び
を発生させるのに相当する負荷量だけ小さい負荷によっ
て、見かけ上、試験片の標点間距離が所定量に保たれる
ひずみ（変位）制御がなされてしまう。よって、試験片
には真に必要な負荷が与えられないという問題がある。
点間距離として検出された値には、試験片の熱膨脹によ
る変位が含まれる。したがって、アクチュエータを制御
して試験片の標点間距離が一定となるように試験片の負
荷を制御したとしても、実際には熱膨脹量と同等の伸び
を発生させるのに相当する負荷量だけ小さい負荷によっ
て、見かけ上、試験片の標点間距離が所定量に保たれる
ひずみ（変位）制御がなされてしまう。よって、試験片
には真に必要な負荷が与えられないという問題がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、熱疲労試験
機において、上記した問題点を解決するために創案され
たもので、その目的は、変位計等で検出した試験片の標
点間距離に対して、試験片の熱膨張量を補正するようア
クチュエータを制御することで、熱膨張量による影響を
排除した真に必要な負荷を試験片に与える熱疲労試験機
を提供することである。
機において、上記した問題点を解決するために創案され
たもので、その目的は、変位計等で検出した試験片の標
点間距離に対して、試験片の熱膨張量を補正するようア
クチュエータを制御することで、熱膨張量による影響を
排除した真に必要な負荷を試験片に与える熱疲労試験機
を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、試験片に負荷
を与えるアクチュエータと、試験片に加えられた負荷量
を検出する荷重検出手段と、試験片の標点間距離を測定
する変位検出手段と、試験片に予め設定した熱サイクル
を与える熱サイクル付与手段と、この熱サイクルが付与
された試験片の標点間距離が一定となるように、アクチ
ュエータを制御するアクチュエータ定歪制御手段とを備
えた熱疲労試験機において、試験片の熱膨脹量を算出す
る熱膨脹量算出手段と、この熱膨脹量に相当する試験片
の変位を前記試験片に付与するための熱膨脹補正変位発
生手段を前記アクチュエータ定歪制御手段に併せ備えた
ことを特徴とする。
を与えるアクチュエータと、試験片に加えられた負荷量
を検出する荷重検出手段と、試験片の標点間距離を測定
する変位検出手段と、試験片に予め設定した熱サイクル
を与える熱サイクル付与手段と、この熱サイクルが付与
された試験片の標点間距離が一定となるように、アクチ
ュエータを制御するアクチュエータ定歪制御手段とを備
えた熱疲労試験機において、試験片の熱膨脹量を算出す
る熱膨脹量算出手段と、この熱膨脹量に相当する試験片
の変位を前記試験片に付与するための熱膨脹補正変位発
生手段を前記アクチュエータ定歪制御手段に併せ備えた
ことを特徴とする。
【０００６】
【作用】熱サイクル試験開始前にアクチュエータを作動
して試験片に予荷重を加えた後、熱サイクル付与手段を
制御して、試験片に熱サイクルを与える。そして、この
試験片の標点間距離を変位検出手段で検出し、この標点
間距離が一定となるようにアクチュエータを制御する一
方で、熱サイクル中の試験片の温度に対応した熱膨張量
を算出し、この熱膨脹量に相当する試験片の伸びを追加
的に負荷するように、前記アクチュエータを制御する。
して試験片に予荷重を加えた後、熱サイクル付与手段を
制御して、試験片に熱サイクルを与える。そして、この
試験片の標点間距離を変位検出手段で検出し、この標点
間距離が一定となるようにアクチュエータを制御する一
方で、熱サイクル中の試験片の温度に対応した熱膨張量
を算出し、この熱膨脹量に相当する試験片の伸びを追加
的に負荷するように、前記アクチュエータを制御する。
【０００７】
【実施例】図１は、本発明の実施例である熱疲労試験機
の概略構成を示し、１は試験機本体、２はテーブル、３
はサーボ弁、４はアクチュエータ、４ａはアクチュエー
タの可動ロッド、５ａ、５ｂは左右の支柱、６はクロス
ヘッド、７はロードセル、８ａ、８ｂは上下のチャッ
ク、９はレバー式変位計、１０は保温槽、１１は加熱装
置、１２は冷却装置、１３は温度センサ、１４はサーボ
アンプ、１５はロードアンプ、１６はストレインアン
プ、１７は試験機コントローラ、１７ａはアクチュエー
タ定歪制御部、１７ｂは熱膨脹量算出部、１７ｃは熱膨
脹補正変位発生部、１８は記憶装置、Ｔは試験片を示
す。
の概略構成を示し、１は試験機本体、２はテーブル、３
はサーボ弁、４はアクチュエータ、４ａはアクチュエー
タの可動ロッド、５ａ、５ｂは左右の支柱、６はクロス
ヘッド、７はロードセル、８ａ、８ｂは上下のチャッ
ク、９はレバー式変位計、１０は保温槽、１１は加熱装
置、１２は冷却装置、１３は温度センサ、１４はサーボ
アンプ、１５はロードアンプ、１６はストレインアン
プ、１７は試験機コントローラ、１７ａはアクチュエー
タ定歪制御部、１７ｂは熱膨脹量算出部、１７ｃは熱膨
脹補正変位発生部、１８は記憶装置、Ｔは試験片を示
す。
【０００８】本体１は、テーブル２にサーボ弁３の開閉
によって制御されるアクチュエータ４を取り付けてな
り、テーブル２には、左右一対の支柱５ａ、５ｂと、こ
れら支柱５ａ、５ｂによって支持されるクロスヘッド６
が設けられている。このクロスヘッド６にはロードセル
７を介して上方のチャック８ａが取り付けられ、アクチ
ュエータ４の可動ロッド４ａの上端部には下方チャック
８ｂが取り付けられ、これら両チャック８ａ、８ｂによ
って試験片Ｔが把持されている。また、試験片Ｔには、
レバー式変位計９が取り付けられている。さらに、試験
片Ｔを囲むように保温槽１０が設けられ、この保温槽１
０には、試験片Ｔに熱サイクルを付与する加熱装置１１
及び冷却装置１２と、保温槽１０内部温度を計測する温
度センサ１３とが設けられている。さらにまた、試験機
コントローラ１７の定歪制御部１７ａには、上記サーボ
弁３、ロードセル７、レバー式変位計９の出力がそれぞ
れサーボアンプ１４、ロードアンプ１５、ストレインア
ンプ１６を介して、また加熱装置１１、冷却装置１２及
び温度センサ１３の出力が、電気的に接続され、また各
種材料の任意温度に対する熱膨張率を格納した記憶装置
１８が、熱膨脹量算出部１７ｂに接続される。さらに、
この試験機コントローラ１７には熱膨脹補正変位発生部
１７ｃが備えられている。
によって制御されるアクチュエータ４を取り付けてな
り、テーブル２には、左右一対の支柱５ａ、５ｂと、こ
れら支柱５ａ、５ｂによって支持されるクロスヘッド６
が設けられている。このクロスヘッド６にはロードセル
７を介して上方のチャック８ａが取り付けられ、アクチ
ュエータ４の可動ロッド４ａの上端部には下方チャック
８ｂが取り付けられ、これら両チャック８ａ、８ｂによ
って試験片Ｔが把持されている。また、試験片Ｔには、
レバー式変位計９が取り付けられている。さらに、試験
片Ｔを囲むように保温槽１０が設けられ、この保温槽１
０には、試験片Ｔに熱サイクルを付与する加熱装置１１
及び冷却装置１２と、保温槽１０内部温度を計測する温
度センサ１３とが設けられている。さらにまた、試験機
コントローラ１７の定歪制御部１７ａには、上記サーボ
弁３、ロードセル７、レバー式変位計９の出力がそれぞ
れサーボアンプ１４、ロードアンプ１５、ストレインア
ンプ１６を介して、また加熱装置１１、冷却装置１２及
び温度センサ１３の出力が、電気的に接続され、また各
種材料の任意温度に対する熱膨張率を格納した記憶装置
１８が、熱膨脹量算出部１７ｂに接続される。さらに、
この試験機コントローラ１７には熱膨脹補正変位発生部
１７ｃが備えられている。
【０００９】次に、本発明の熱疲労試験機に適用した場
合の具体的動作を、図１、図２及び図３を用いて説明す
る。図２は熱サイクルに対応する標点間距離及び荷重値
を示す図であって、（ａ）は試験片に与える温度サイク
ル、（ｂ）は仮に試験片に与える荷重値を一定とした場
合の標点間距離の変化、（ｃ）はレバー式変位計で検出
される標点間距離とそれに含まれる熱膨脹量、（ｄ）は
所定量である標点間距離に対し、熱膨脹量を補正した
値、（ｅ）は熱膨脹量を補正した場合及びしない場合の
荷重値の変化、をそれぞれ示し、図３は記憶装置に格納
する熱膨脹率テーブルを示す。
合の具体的動作を、図１、図２及び図３を用いて説明す
る。図２は熱サイクルに対応する標点間距離及び荷重値
を示す図であって、（ａ）は試験片に与える温度サイク
ル、（ｂ）は仮に試験片に与える荷重値を一定とした場
合の標点間距離の変化、（ｃ）はレバー式変位計で検出
される標点間距離とそれに含まれる熱膨脹量、（ｄ）は
所定量である標点間距離に対し、熱膨脹量を補正した
値、（ｅ）は熱膨脹量を補正した場合及びしない場合の
荷重値の変化、をそれぞれ示し、図３は記憶装置に格納
する熱膨脹率テーブルを示す。
【００１０】まず、熱サイクル試験の開始前に、アクチ
ュエータ４を作動して試験片に予荷重を加え、その後、
アクチュエータ定歪制御部１７ａによって、加熱装置１
１及び冷却装置１２を制御して、例えば、図２（ａ）に
示した熱サイクルを与える。通常、温度サイクルの一周
期は、１min 程度のものである。このとき、保温槽１０
内に設けた温度センサ１３によって検出された温度信号
がアクチュエータ定歪制御部１７ａへ入力されており、
保温槽１０内温度がフィードバック制御される。仮に、
ここで試験片Ｔに対して予荷重を与えた状態を保つと、
図２（ｂ）に示す標点間距離の変化を示すが、本発明に
かかる熱疲労試験は、この標点間距離量が常に一定とな
るように、アクチュエータ４を制御するものである。
ュエータ４を作動して試験片に予荷重を加え、その後、
アクチュエータ定歪制御部１７ａによって、加熱装置１
１及び冷却装置１２を制御して、例えば、図２（ａ）に
示した熱サイクルを与える。通常、温度サイクルの一周
期は、１min 程度のものである。このとき、保温槽１０
内に設けた温度センサ１３によって検出された温度信号
がアクチュエータ定歪制御部１７ａへ入力されており、
保温槽１０内温度がフィードバック制御される。仮に、
ここで試験片Ｔに対して予荷重を与えた状態を保つと、
図２（ｂ）に示す標点間距離の変化を示すが、本発明に
かかる熱疲労試験は、この標点間距離量が常に一定とな
るように、アクチュエータ４を制御するものである。
【００１１】ところが、実際には、試験片Ｔの歪み、す
なわちレバー式変位計９で検出される標点間距離は、図
２（ｃ）の斜線部に示すように、熱サイクルの付与によ
って膨脹した試験片Ｔの熱膨脹量を含んでおり、従来、
このような熱膨脹量を考慮する事なく、レバー式変位計
９で検出された標点間距離が、常に所定の値で一定とな
るよう、試験片Ｔに負荷を与えていたので、上述した問
題点（「従来技術」の項参照）が発生した。
なわちレバー式変位計９で検出される標点間距離は、図
２（ｃ）の斜線部に示すように、熱サイクルの付与によ
って膨脹した試験片Ｔの熱膨脹量を含んでおり、従来、
このような熱膨脹量を考慮する事なく、レバー式変位計
９で検出された標点間距離が、常に所定の値で一定とな
るよう、試験片Ｔに負荷を与えていたので、上述した問
題点（「従来技術」の項参照）が発生した。
【００１２】そこで、本発明では、試験機コントローラ
１７に備えられた熱膨脹量算出手段１７ｂが、温度セン
サ１３によって計測した温度に対応する試験片Ｔの熱膨
張率（線膨張率）を、図３に示すようにテーブル化して
記憶した記憶装置１８から呼び出し、熱サイクルを付与
された試験片Ｔの熱膨脹量を算出する。ここで、所望す
る温度に対応する熱膨張率が記憶されていないときは、
補間法により熱膨張率を演算することで、任意の温度に
対応する熱膨張率を得るようにする。
１７に備えられた熱膨脹量算出手段１７ｂが、温度セン
サ１３によって計測した温度に対応する試験片Ｔの熱膨
張率（線膨張率）を、図３に示すようにテーブル化して
記憶した記憶装置１８から呼び出し、熱サイクルを付与
された試験片Ｔの熱膨脹量を算出する。ここで、所望す
る温度に対応する熱膨張率が記憶されていないときは、
補間法により熱膨張率を演算することで、任意の温度に
対応する熱膨張率を得るようにする。
【００１３】そして、図２（ｄ）に示すように、一定値
とする前記標点間距離に対し、さらにこの熱膨脹量に相
当する試験片の伸びが加えて得られるように、熱膨脹補
正変位発生部１７ｃで求めたこの熱膨脹量に相当する試
験片の伸びを得るための補正荷重値を付加して、前記ア
クチュエータ４を制御することで、試験片Ｔに対して真
に必要な負荷を与えることができる。例えば、図２
（ａ）に示した温度サイクルに対応して、標点間距離
（伸び）を一定とする場合の荷重サイクルは、図２
（ｅ）の実線に示すようになり、補正しない場合（点
線）との差は、熱膨脹量と同等の歪みを発生させるのに
必要な分の負荷量に相当する。
とする前記標点間距離に対し、さらにこの熱膨脹量に相
当する試験片の伸びが加えて得られるように、熱膨脹補
正変位発生部１７ｃで求めたこの熱膨脹量に相当する試
験片の伸びを得るための補正荷重値を付加して、前記ア
クチュエータ４を制御することで、試験片Ｔに対して真
に必要な負荷を与えることができる。例えば、図２
（ａ）に示した温度サイクルに対応して、標点間距離
（伸び）を一定とする場合の荷重サイクルは、図２
（ｅ）の実線に示すようになり、補正しない場合（点
線）との差は、熱膨脹量と同等の歪みを発生させるのに
必要な分の負荷量に相当する。
【００１４】このような熱疲労試験を行うと、やがて試
験片Ｔは破断する。そして、例えば、この温度サイクル
の周期の数、すなわち、アクチュエータ４による負荷の
繰り返し回数を基準として試験片Ｔの強度評価を行う。
験片Ｔは破断する。そして、例えば、この温度サイクル
の周期の数、すなわち、アクチュエータ４による負荷の
繰り返し回数を基準として試験片Ｔの強度評価を行う。
【００１５】ところで、本発明の実施態様として、以下
のような実施例も含まれる。
のような実施例も含まれる。
【００１６】（１）本実施例では、加熱装置１１及び冷
却装置１２の両方を用いて試験片に熱サイクルを付与し
たが、加熱装置１１若しくは冷却装置１２の一方を設
け、それをＯＮ／ＯＦＦすることで、熱サイクルを制御
してもよい。
却装置１２の両方を用いて試験片に熱サイクルを付与し
たが、加熱装置１１若しくは冷却装置１２の一方を設
け、それをＯＮ／ＯＦＦすることで、熱サイクルを制御
してもよい。
【００１７】（２）本実施例では、任意の温度に対応す
る熱膨張率をテーブル化して、記憶装置１８に格納した
が、最小二乗法等により温度と熱膨張率との関係を表す
近似式を記憶装置１８に格納し、随時温度値を入力する
ことで、熱膨張率を算出してもよい。
る熱膨張率をテーブル化して、記憶装置１８に格納した
が、最小二乗法等により温度と熱膨張率との関係を表す
近似式を記憶装置１８に格納し、随時温度値を入力する
ことで、熱膨張率を算出してもよい。
【００１８】（３）本実施例では、レバー式変位計９を
用いて、試験片Ｔの標点間距離を検出したが、試験片Ｔ
に歪みゲージを張り付けることよって、試験片Ｔの歪み
（標点間距離）を検出するようにしてもよい。また、可
動ロッド４ａに差動トランスを設けることで、試験片Ｔ
の標点間距離を検出してもよい。
用いて、試験片Ｔの標点間距離を検出したが、試験片Ｔ
に歪みゲージを張り付けることよって、試験片Ｔの歪み
（標点間距離）を検出するようにしてもよい。また、可
動ロッド４ａに差動トランスを設けることで、試験片Ｔ
の標点間距離を検出してもよい。
【００１９】（４）本実施例では、一定である標点間距
離に対し、さらに熱膨脹量に相当する試験片Ｔの伸びが
加えて得られるように、熱膨脹補正変位発生部１７ｃで
求めた荷重値を付加してアクチュエータ４を制御した
が、はじめに、一定である標点間距離から熱膨脹量を差
し引き、この補正後の標点間距離が、常に一定となるよ
うに、アクチュエータ４を制御して試験片Ｔに負荷を与
えても、同様の効果が得られる。
離に対し、さらに熱膨脹量に相当する試験片Ｔの伸びが
加えて得られるように、熱膨脹補正変位発生部１７ｃで
求めた荷重値を付加してアクチュエータ４を制御した
が、はじめに、一定である標点間距離から熱膨脹量を差
し引き、この補正後の標点間距離が、常に一定となるよ
うに、アクチュエータ４を制御して試験片Ｔに負荷を与
えても、同様の効果が得られる。
【００２０】
【発明の効果】本発明の熱疲労試験機は、アクチュエー
タを制御して試験片の標点間距離が一定となるように試
験片に負荷を与える際、所定の標点間距離を基準にし
て、さらに熱膨脹量に相当する伸びを得られるようにア
クチュエータの制御を行うため、熱疲労試験において、
真の負荷を試験片に与えることができる。
タを制御して試験片の標点間距離が一定となるように試
験片に負荷を与える際、所定の標点間距離を基準にし
て、さらに熱膨脹量に相当する伸びを得られるようにア
クチュエータの制御を行うため、熱疲労試験において、
真の負荷を試験片に与えることができる。
【図１】本発明の実施例である熱疲労試験機の概略構成
を示す図である。
を示す図である。
【図２】熱サイクルに対応する歪み及び荷重値を示す図
である。
である。
【図３】記憶装置に格納する熱膨脹率テーブルを示す図
である。
である。
Claims (1)
- 【請求項１】 試験片に負荷を与えるアクチュエータ
と、試験片に加えられた負荷量を検出する荷重検出手段
と、試験片の標点間距離を測定する変位検出手段と、試
験片に予め設定した熱サイクルを与える熱サイクル付与
手段と、この熱サイクルが付与された試験片の標点間距
離が一定となるように、アクチュエータを制御するアク
チュエータ定歪制御手段とを備えた熱疲労試験機におい
て、試験片の熱膨脹量を算出する熱膨脹量算出手段と、
この熱膨脹量に相当する試験片の変位を前記試験片に付
与するための熱膨脹補正変位発生手段を前記アクチュエ
ータ定歪制御手段に併せ備えたことを特徴とする熱疲労
試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26575494A JPH08128936A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 熱疲労試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26575494A JPH08128936A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 熱疲労試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08128936A true JPH08128936A (ja) | 1996-05-21 |
Family
ID=17421554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26575494A Pending JPH08128936A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 熱疲労試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08128936A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020093220A (ko) * | 2001-06-07 | 2002-12-16 | 엘지전자 주식회사 | 발포가스가 포함된 플라스틱재의 열변형온도 및 동역학적거동 측정장치 |
| JP2005321382A (ja) * | 2004-04-06 | 2005-11-17 | Toyota Motor Corp | 圧縮クリープ試験装置 |
| JP2006162472A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 |
| KR100782792B1 (ko) * | 2003-08-22 | 2007-12-05 | 한국원자력연구원 | 열피로시험을 위한 열응력 발생장치의 제어 장치 및 제어방법 |
| KR100862223B1 (ko) * | 2007-02-05 | 2008-10-09 | 성균관대학교산학협력단 | 열피로 시험장치 및 방법 |
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| CN107917840A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-04-17 | 中国民航大学 | 小型自控式温度疲劳试验机 |
-
1994
- 1994-10-28 JP JP26575494A patent/JPH08128936A/ja active Pending
Cited By (10)
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