JP2005156413A - 材料特性評価装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 試料(S)表面に圧子(3)を押し付けてくぼみを形成させ、該くぼみに基づいて試料の材料特性を評価する材料特性評価装置であって、試料を載置する試料台(2)と、試料台を加熱する加熱部(例えば、ヒータ6)と、試料台における試料近傍の温度を検出する温度センサ(7)と、温度センサの検出温度に基づいて、加熱部を制御して試料台の温度を制御する温度制御手段(例えば、CPU13)と、を備え、試料台は、セラミックスにより構成した。
【選択図】図1
Description
試料(S)表面に圧子(3)を押し付けてくぼみを形成させ、該くぼみに基づいて試料の所定の材料特性を評価する材料特性評価装置であって、
前記試料を載置する試料台(2)と、
前記試料台を加熱する加熱部(例えば、ヒータ6)と、
前記試料台における前記試料近傍の温度を検出する温度センサ(7)と、
前記温度センサの検出温度に基づいて、前記加熱部を制御して前記試料台の温度を制御する温度制御手段(例えば、CPU13)と、
を備え、
前記試料台は、セラミックスにより構成されていることを特徴とする。
ここで、所定の材料特性とは、例えば、試料の硬さ、弾性係数、密着力表面物性、対磨耗特性等の材料特性を指す。
前記圧子のくぼみ形成時における押込深さを測定する押込深さ測定手段(例えば、変位計9)を備えることを特徴とする。
前記セラミックスの材質は、窒化ホウ素であることを特徴とする。
図1は、本発明に係る材料特性評価装置の構成の模式図、図2は、図1の材料特性評価装置の温度制御系のブロック図である。
また、荷重負荷機構部5は、試験力を試験力信号として硬さ算出部20に出力する。試験力を硬さを算出するためのパラメータとして用いるためである。なお、ここでいう試験力信号とは、例えば、駆動コイルに駆動電流を供給する際の電圧信号等を指す。
具体的には、CPU13は、温度センサ7の検出温度に基づいて、ヒータ6を制御して試料台2の温度を制御する温度制御手段として機能する。例えば、温度センサ7の検出温度を入力し、この検出温度と予め設定された設定温度との関係に基づいて、電源(図示省略)から電圧を所定の周期でヒータ6内の駆動回路(図示省略)に出力させてヒータ6のオンオフをPID制御する。
具体的には、CPU23は、変位計9から出力される圧子3の変位信号(押込深さ)に基づいてくぼみの寸法を算出して、次いで、算出されたくぼみの寸法及び荷重負荷機構部5から出力される試験力信号に基づいて試料Sの硬さ等の材料特性を評価する。
また、操作部8は、例えばキーボードやマウス等からなり、ヒータ6の設定温度等の数値データや材料特性評価に関するコマンドを入力、或いは選択するためのものである。
そして、CPU23は、入力した変位信号に基づいて圧子3により試料Sに形成されたくぼみの寸法を算出して、次いで、算出されたくぼみの寸法及び入力した試験力信号に基づいて、試料Sの硬さを算出する。
また、上記実施形態では、硬さ算出部20を備えて、材料特性評価として試料Sの硬さ試験を行っているが、これに限定されるものではない。例えば、試料Sの弾性係数を算出するプログラムをROM25に格納しておき、試料Sに対する圧子3の押込中の押込深さを経時的に測定することにより、試料Sの弾性係数を測定することも可能である。その他、試料Sの密着力表面物性や対磨耗特性等の物性値も評価することができる。
2 試料台
3 圧子
6 ヒータ(加熱部)
7 温度センサ
9 変位計(押込深さ測定手段)
13 CPU(温度制御手段)
Claims (3)
- 試料表面に圧子を押し付けてくぼみを形成させ、該くぼみに基づいて試料の所定の材料特性を評価する材料特性評価装置であって、
前記試料を載置する試料台と、
前記試料台を加熱する加熱部と、
前記試料台における前記試料近傍の温度を検出する温度センサと、
前記温度センサの検出温度に基づいて、前記加熱部を制御して前記試料台の温度を制御する温度制御手段と、
を備え、
前記試料台は、セラミックスにより構成されていることを特徴とする材料特性評価装置。 - 前記圧子のくぼみ形成時における押込深さを測定する押込深さ測定手段を備えることを特徴とする請求項1記載の材料特性評価装置。
- 前記セラミックスの材質は、窒化ホウ素であることを特徴とする請求項1又は2記載の材料特性評価装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2003396951A JP2005156413A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 材料特性評価装置 |
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JP2003396951A JP2005156413A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 材料特性評価装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2005156413A true JP2005156413A (ja) | 2005-06-16 |
Family
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Family Applications (1)
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JP2003396951A Pending JP2005156413A (ja) | 2003-11-27 | 2003-11-27 | 材料特性評価装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2005156413A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007047068A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Mitsutoyo Corp | 押込み試験機、圧子軸及び変位測定方法 |
JP2007183108A (ja) * | 2006-01-04 | 2007-07-19 | Mitsutoyo Corp | 圧子軸及び材料試験機 |
JP2007218712A (ja) * | 2006-02-16 | 2007-08-30 | Mitsutoyo Corp | ずれ量推定機構、試料測定装置及び材料試験機 |
JP2017223444A (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 |
-
2003
- 2003-11-27 JP JP2003396951A patent/JP2005156413A/ja active Pending
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