JPH0789093B2 - 光コネクタのパラメ−タ測定方法 - Google Patents
光コネクタのパラメ−タ測定方法Info
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- JPH0789093B2 JPH0789093B2 JP20320287A JP20320287A JPH0789093B2 JP H0789093 B2 JPH0789093 B2 JP H0789093B2 JP 20320287 A JP20320287 A JP 20320287A JP 20320287 A JP20320287 A JP 20320287A JP H0789093 B2 JPH0789093 B2 JP H0789093B2
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- Japan
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- optical connector
- optical
- connector
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/36—Mechanical coupling means
- G02B6/38—Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
- G02B6/3807—Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はシングルモード光ファイバを用いた光通信の分
野において使用される光コネクタの諸パラメータを測定
する方法に関するものである。
野において使用される光コネクタの諸パラメータを測定
する方法に関するものである。
(従来の技術) 光コネクタの損失要因は、光コネクタの構成要素である
一対のコネクタプラグ内の光ファイバの位置関係で決ま
る(1)端面間隔z、(2)傾き角度θ、(3)軸ずれ
dである。従来、光コネクタのパラメータを第2図乃至
第4図で示す様な測定手段により個別に測定されてい
た。各図において1はコネクタプラグ、2は光ファイ
バ、3はホルダー、4は顕微鏡、5はテレビカメラ、6
はモニタテレビ、7はHe−Neレーザ、8はスクリーン、
9は光源、10はレンズ、11はセンサ、12はアンプ、13は
ディジタルボルトメータである。これらはすべて円筒形
のコネクタプラグを前提とし、測定はいずれも図中に示
す様に矢印の方向にコネクタプラグ1を回転して行う。
第2図はコネクタプラグ1内の光ファイバ2の軸ずれを
光ファイバ2の像を顕微鏡4、テレビカメラ5を介して
モニタテレビ6で映し出し、この像から計測する方法で
ある。また、第3図は、He−Neレーザ7からのレーザ光
を光ファイバ2に入射し、コネクタプラグ1から出射し
た光をスクリーン8に投影する。コネクタプラグ1を回
転することで、投影光はスクリーン8上で円を描くが、
その半径をrとする。コネクタプラグ1とスクリーン8
との距離をlとすると、角度θはθ=tan-1(r/l)で求
まる。第3図に示す方法を電子的にし、スクリーン8の
代りにセンサ11で検出するものが第4図であり、測定原
理は同様である。即ち、光源9の光をレンズ10を介して
光ファイバ2に入射し、コネクタプラグ1から出射した
光をセンサ11に投影し該センサ11の円周部における出力
信号をアンプ12を介してディジタルボルトメータ13に送
り、該ディジタルボルトメータ3の指示値を用いて角度
θを割出す。
一対のコネクタプラグ内の光ファイバの位置関係で決ま
る(1)端面間隔z、(2)傾き角度θ、(3)軸ずれ
dである。従来、光コネクタのパラメータを第2図乃至
第4図で示す様な測定手段により個別に測定されてい
た。各図において1はコネクタプラグ、2は光ファイ
バ、3はホルダー、4は顕微鏡、5はテレビカメラ、6
はモニタテレビ、7はHe−Neレーザ、8はスクリーン、
9は光源、10はレンズ、11はセンサ、12はアンプ、13は
ディジタルボルトメータである。これらはすべて円筒形
のコネクタプラグを前提とし、測定はいずれも図中に示
す様に矢印の方向にコネクタプラグ1を回転して行う。
第2図はコネクタプラグ1内の光ファイバ2の軸ずれを
光ファイバ2の像を顕微鏡4、テレビカメラ5を介して
モニタテレビ6で映し出し、この像から計測する方法で
ある。また、第3図は、He−Neレーザ7からのレーザ光
を光ファイバ2に入射し、コネクタプラグ1から出射し
た光をスクリーン8に投影する。コネクタプラグ1を回
転することで、投影光はスクリーン8上で円を描くが、
その半径をrとする。コネクタプラグ1とスクリーン8
との距離をlとすると、角度θはθ=tan-1(r/l)で求
まる。第3図に示す方法を電子的にし、スクリーン8の
代りにセンサ11で検出するものが第4図であり、測定原
理は同様である。即ち、光源9の光をレンズ10を介して
光ファイバ2に入射し、コネクタプラグ1から出射した
光をセンサ11に投影し該センサ11の円周部における出力
信号をアンプ12を介してディジタルボルトメータ13に送
り、該ディジタルボルトメータ3の指示値を用いて角度
θを割出す。
(発明が解決しようとする問題点) これらの方法は、コネクタプラグ内の光ファイバの軸ず
れ、角度を測定する方法として有用であるが、(i)測
定に回転が必要であり、非円断面のコネクタプラグに適
用困難、(ii)実際の接続状態での軸ずれや角度ずれ、
さらには端面間隔の測定が出来ない。という欠点があっ
た。例えば、非円断面のコネクタプラグの例を第5図に
示す。これは、多心一括光コネクタである。14は複数心
の光ファイバを収容した光ファイバリボン心線であり、
15は保護スリーブ、16はクランプ、17はガイドピン、18
はコネクタプラグ1は取付けられた光ファイバである。
この様な光コネクタでは、円筒形状を前提とした従来の
方法では、測定が困難である。接続状態における光コネ
クタのパラメータを測定し、損失要因を分析する事で、
光コネクタの低損化が可能となる。第6図(a)(b)
に円筒形のコネクタプラグ1同志が接続している状態の
例を示す。19はスリーブである。第6図(a)はコネク
タプラグ1の軸ずれと端面間隔のある場合、第6図
(b)はコネクタプラグ1が「ハ」の字となり、角度ず
れのある場合を示す。第6図(a)と同図(b)の例で
接続損失が同一であったとしても、低損失化を図るため
の対策は異なってくる。このため、接続状態における光
コネクタのパラメータを分離測定することは、ハウジン
グ、コネクタプラグの改良に非常に有用である。しかし
ながら、これらのパラメータを測定する手段が従来はな
かった。
れ、角度を測定する方法として有用であるが、(i)測
定に回転が必要であり、非円断面のコネクタプラグに適
用困難、(ii)実際の接続状態での軸ずれや角度ずれ、
さらには端面間隔の測定が出来ない。という欠点があっ
た。例えば、非円断面のコネクタプラグの例を第5図に
示す。これは、多心一括光コネクタである。14は複数心
の光ファイバを収容した光ファイバリボン心線であり、
15は保護スリーブ、16はクランプ、17はガイドピン、18
はコネクタプラグ1は取付けられた光ファイバである。
この様な光コネクタでは、円筒形状を前提とした従来の
方法では、測定が困難である。接続状態における光コネ
クタのパラメータを測定し、損失要因を分析する事で、
光コネクタの低損化が可能となる。第6図(a)(b)
に円筒形のコネクタプラグ1同志が接続している状態の
例を示す。19はスリーブである。第6図(a)はコネク
タプラグ1の軸ずれと端面間隔のある場合、第6図
(b)はコネクタプラグ1が「ハ」の字となり、角度ず
れのある場合を示す。第6図(a)と同図(b)の例で
接続損失が同一であったとしても、低損失化を図るため
の対策は異なってくる。このため、接続状態における光
コネクタのパラメータを分離測定することは、ハウジン
グ、コネクタプラグの改良に非常に有用である。しかし
ながら、これらのパラメータを測定する手段が従来はな
かった。
本発明の目的は前述の問題点に鑑み、接続状態における
シングルモード用の光コネクタの損失要因を分離測定す
る簡便な方法を提供することにある。
シングルモード用の光コネクタの損失要因を分離測定す
る簡便な方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記問題点を解決するため、シングルモード
光ファイバを接続するための光コネクタのパラメータ測
定方法において、光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入
れない状態にして、接続損失の波長特性α(λ)を測定
し、光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入れた状態で接
続損失の波長特性α2(λ)を測定し、さらに光コネク
タに使用した光ファイバのモードフィールド半径の波長
特性ω(λ)を測定することで、光コネクタの端面間隔
Z、傾き角度θ、軸ずれdを測定することを特徴とす
る。
光ファイバを接続するための光コネクタのパラメータ測
定方法において、光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入
れない状態にして、接続損失の波長特性α(λ)を測定
し、光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入れた状態で接
続損失の波長特性α2(λ)を測定し、さらに光コネク
タに使用した光ファイバのモードフィールド半径の波長
特性ω(λ)を測定することで、光コネクタの端面間隔
Z、傾き角度θ、軸ずれdを測定することを特徴とす
る。
(作用) 本発明では光コネクタ端面間に屈折率整合剤の有,無の
2つの状態のおける接続損失の波長特性と、使用した光
ファイバのモードフィールド半径の波長特性を測定する
ことにより、接続状態における端面間隔Z、傾き角度
θ、軸ずれdを間接的に分離測定する。
2つの状態のおける接続損失の波長特性と、使用した光
ファイバのモードフィールド半径の波長特性を測定する
ことにより、接続状態における端面間隔Z、傾き角度
θ、軸ずれdを間接的に分離測定する。
(実施例) 本発明の実施例を、第1図、第7図乃至第11図について
説明する。第1図に接続損失の波長特性測定系の例を示
す。なお、図中従来例と同一構成部分は同一符号をもっ
て表わす。即ち、1はコネクタプラグ、2は光ファイ
バ、9は光源、10はレンズ、20は分光器、21はチョッ
パ、22は光検出器、23はロックインアンプである。チョ
ッパ21からの同期信号によりロックインアンプ23は同期
されて、光検出器22の出力を検出する。
説明する。第1図に接続損失の波長特性測定系の例を示
す。なお、図中従来例と同一構成部分は同一符号をもっ
て表わす。即ち、1はコネクタプラグ、2は光ファイ
バ、9は光源、10はレンズ、20は分光器、21はチョッ
パ、22は光検出器、23はロックインアンプである。チョ
ッパ21からの同期信号によりロックインアンプ23は同期
されて、光検出器22の出力を検出する。
本発明では、光コネクタの1対のコネクタプラグ1の端
面間隔Zに第7図に示すように、屈折率整合剤24を介在
する場合と、介在させない場合とにわけて接続損失の波
長特性を測定する。使用光ファイバのモードフィールド
半径ωは、従来より、フィールド法、ニアフィールド法
等の各種方法で測定可能である。第8図には、ニアフィ
ールド法の例を示す。25は光源、26はビジコンで、27は
演算処理回路であり、光ファイバ2へ入射させる光源25
の光の波長を変えることで、モードフィールド半径の波
長特性ω(λ)が測定できる。
面間隔Zに第7図に示すように、屈折率整合剤24を介在
する場合と、介在させない場合とにわけて接続損失の波
長特性を測定する。使用光ファイバのモードフィールド
半径ωは、従来より、フィールド法、ニアフィールド法
等の各種方法で測定可能である。第8図には、ニアフィ
ールド法の例を示す。25は光源、26はビジコンで、27は
演算処理回路であり、光ファイバ2へ入射させる光源25
の光の波長を変えることで、モードフィールド半径の波
長特性ω(λ)が測定できる。
本発明の測定原理について以下に述べる。光コネクタの
接続損失の波長特性をα(λ)とおくと、これらは各損
失要因により、以下の様に表現できる。
接続損失の波長特性をα(λ)とおくと、これらは各損
失要因により、以下の様に表現できる。
α(λ)=αd(λ)+αθ(λ)+αz(λ) ……
(1) 各損失は、B.S.T.J vo156,No.5,P.703〜718,1977年記載
のD.Marcuse氏の解析で以下の様に表現される。
(1) 各損失は、B.S.T.J vo156,No.5,P.703〜718,1977年記載
のD.Marcuse氏の解析で以下の様に表現される。
αd(λ)=4.343(d/ω/(λ))2(dB) ……
(2) αθ(λ)=4.343(nπθω(λ)/d)2(dB) ……
(3) ただし、P=Zλ/(n・2π・ω2(λ))であり、
nは光ファイバの屈折率である。これらの表現式から、
各要因を分離することは、不可能である。本発明は以下
の事実にもとづき、各要因の分離を行なっている。ま
ず、(4)式は、光ファイバ間が屈折率整合の場合の式
であり、光ファイバ間に空気を介在した場合は、 α(λ)=αd(λ)+αθ(λ)+αzp(λ) +αz(λ) ……(6) となることを注目した。ここで、αzp(λ)以外は、
(1)式と同一である。αzp(λ)は、光ファイバ−空
気−光ファイバの各境界における屈折率のわずかな差に
より生じる多重反射で接続損失に周期的な山や谷の生じ
る現象を表わす。多重反射を、平面波の垂直入射と近似
して解析すると、 となる。Rは境界での反射率で、この場合R=0.035と
なる。αzp(λ)以外は、周期的な接続損失を示さない
ため、(7)より、接続損失の山(谷でも良い)を示す
波長を測定し、これらをλ1,λ2とすると、端面間隔Z
は、 となる。もしも、測定範囲λ1〜λ2の間に、周期的な
接続損失を示さないときは、 となる。第9図に、第5図に示す5心一括光コネクタの
屈折率整合剤のない場合の損失波長特性の実測値を示
す。この結果から、(8)式により、Zは約3.5μmと
なる。
(2) αθ(λ)=4.343(nπθω(λ)/d)2(dB) ……
(3) ただし、P=Zλ/(n・2π・ω2(λ))であり、
nは光ファイバの屈折率である。これらの表現式から、
各要因を分離することは、不可能である。本発明は以下
の事実にもとづき、各要因の分離を行なっている。ま
ず、(4)式は、光ファイバ間が屈折率整合の場合の式
であり、光ファイバ間に空気を介在した場合は、 α(λ)=αd(λ)+αθ(λ)+αzp(λ) +αz(λ) ……(6) となることを注目した。ここで、αzp(λ)以外は、
(1)式と同一である。αzp(λ)は、光ファイバ−空
気−光ファイバの各境界における屈折率のわずかな差に
より生じる多重反射で接続損失に周期的な山や谷の生じ
る現象を表わす。多重反射を、平面波の垂直入射と近似
して解析すると、 となる。Rは境界での反射率で、この場合R=0.035と
なる。αzp(λ)以外は、周期的な接続損失を示さない
ため、(7)より、接続損失の山(谷でも良い)を示す
波長を測定し、これらをλ1,λ2とすると、端面間隔Z
は、 となる。もしも、測定範囲λ1〜λ2の間に、周期的な
接続損失を示さないときは、 となる。第9図に、第5図に示す5心一括光コネクタの
屈折率整合剤のない場合の損失波長特性の実測値を示
す。この結果から、(8)式により、Zは約3.5μmと
なる。
(6)式の表現から、Zが既知となった。(既知でない
(9)式の場合は、後述する。)次に、屈折率整合剤を
端面間隔Zに介在して、同様の損失波長特性を測定す
る。この場合、損失は(1)式で表わされる。上記測定
でZが既知であり、ω(λ)が、あらかじめ測定されて
いれば(4)式からαz(λ)は既知となる。従って、
αd(λ)とαθ(λ)の分離が必要となる。
(9)式の場合は、後述する。)次に、屈折率整合剤を
端面間隔Zに介在して、同様の損失波長特性を測定す
る。この場合、損失は(1)式で表わされる。上記測定
でZが既知であり、ω(λ)が、あらかじめ測定されて
いれば(4)式からαz(λ)は既知となる。従って、
αd(λ)とαθ(λ)の分離が必要となる。
(2)式、(3)式を用いかつω(λ)やd,θの実測値
を用いると、光コネクタにおいては、 が成立することがわかった。ここでd/dλは波長に対す
る微分を表わす。
を用いると、光コネクタにおいては、 が成立することがわかった。ここでd/dλは波長に対す
る微分を表わす。
これから、2波長間の接続損失の差Δαは以下の様に近
似できる。
似できる。
Δα≡α(λ1)−α(λ2) 〔αd(λ1)−αd(λ2)〕 +〔αz(λ1)−αz(λ2)〕 ……(11) αz(λ1)−αz(λ2)は既知であるので、Δα−
〔αz(λ1)−αz(λ2)〕の値から、dが求ま
る。
〔αz(λ1)−αz(λ2)〕の値から、dが求ま
る。
Z=3μmの場合の、Δαとdとの関係を第10図に示
す。
す。
この図は、2種類の光ファイバの場合について示したも
のである。次に、波長測定で山や谷を示さず、(9)式
で表現される場合を考える。この場合、例えば、λ1=
1.1μm,λ2=1.7μmとすると、 Z<1.56μm となり、λ1〜λ2で、αz(λ)は1.8×10-4dB〜4.3
×10-4dBで、非常に小さく、(11)式で〔αz(λ1)
−αz(λ2)〕を無視しても影響はない。
のである。次に、波長測定で山や谷を示さず、(9)式
で表現される場合を考える。この場合、例えば、λ1=
1.1μm,λ2=1.7μmとすると、 Z<1.56μm となり、λ1〜λ2で、αz(λ)は1.8×10-4dB〜4.3
×10-4dBで、非常に小さく、(11)式で〔αz(λ1)
−αz(λ2)〕を無視しても影響はない。
次に、Z,dが求まると、(1)式と(3)式からθを求
めることが出来る。
めることが出来る。
以上の測定原理から、屈折率整合剤を使用しないときの
測定〔(6)式に対応〕では、ある範囲(例えばλ1〜
λ2)の接続損失波長特性を測定する必要があるが、屈
折率整合剤を使用したときの測定〔(1)式に対応〕で
は、少なくとも2波長で接続損失を測定すれば良いこと
がわかる。しかし、2波長以上でも測定することで測定
誤差を小さくできる。
測定〔(6)式に対応〕では、ある範囲(例えばλ1〜
λ2)の接続損失波長特性を測定する必要があるが、屈
折率整合剤を使用したときの測定〔(1)式に対応〕で
は、少なくとも2波長で接続損失を測定すれば良いこと
がわかる。しかし、2波長以上でも測定することで測定
誤差を小さくできる。
本発明の測定方法によって測定した結果について述べ
る。第5図の5心一括光コネクタおよび通常の円筒形の
単心光コネクタを例にとる。使用した光ファイバはλ=
1.3μmでゼロ分散となる光ファイバである。端面間隔
Zについては、第9図で既に述べたので、屈折率整合例
を使用して、軸ずれdと傾き角度θの測定結果を第11図
に示す。この例では、λ1=1.3μm,λ2=1.55μm
としてΔαを測定した。この結果から明らかな様に、従
来測定出来なかった光コネクタの各パラメータが分離測
定可能であり、光コネクタの特性改善に資することが出
来る。本測定方法では、Zが非常に小さい場合や、dが
非常に小さい場合、数値そのものが測定不可能となる
が、Zやdの値がある値以下であると測定出来る。この
ため、測定限界となっても、有用なデータを得ることが
可能である。
る。第5図の5心一括光コネクタおよび通常の円筒形の
単心光コネクタを例にとる。使用した光ファイバはλ=
1.3μmでゼロ分散となる光ファイバである。端面間隔
Zについては、第9図で既に述べたので、屈折率整合例
を使用して、軸ずれdと傾き角度θの測定結果を第11図
に示す。この例では、λ1=1.3μm,λ2=1.55μm
としてΔαを測定した。この結果から明らかな様に、従
来測定出来なかった光コネクタの各パラメータが分離測
定可能であり、光コネクタの特性改善に資することが出
来る。本測定方法では、Zが非常に小さい場合や、dが
非常に小さい場合、数値そのものが測定不可能となる
が、Zやdの値がある値以下であると測定出来る。この
ため、測定限界となっても、有用なデータを得ることが
可能である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明はシングルモード用の光コ
ネクタの損失要因を、接続状態で分離測定できる利点が
あるから、光コネクタのコネクタプラグのみならず、光
コネクタのハウジングの改良に有用である。また、本発
明では、従来の方法の様に円筒形のコネクタプラグに限
定されることなく、任意の形状のプラグに適用できると
いう利点もある。さらに、測定に特殊な装置を必要とし
ないため、簡便にあるという利点がある。
ネクタの損失要因を、接続状態で分離測定できる利点が
あるから、光コネクタのコネクタプラグのみならず、光
コネクタのハウジングの改良に有用である。また、本発
明では、従来の方法の様に円筒形のコネクタプラグに限
定されることなく、任意の形状のプラグに適用できると
いう利点もある。さらに、測定に特殊な装置を必要とし
ないため、簡便にあるという利点がある。
第1図は本発明に係る接続損失の波長特性測定系の概念
図、第2図乃至第4図に従来の光コネクタのパラメータ
測定方法を示す図、第5図は多心一括光コネクタを示す
図、第6図は単心コネクタの接続状態を示す図、第7図
は屈折率整合剤を使用した光コネクタの接続状態を示す
図、第8図はモードフィールド半径を測定する系の1例
を示す図、第9図および第10図は本発明の測定原理を説
明する図、第11図は本発明の測定方法により測定された
結果を示した説明図である。 1……コネクタプラグ、2……光ファイバ、9……光
源、10……レンズ、20……分光器、21……チョッパ、22
……光検出器、23……ロックインアンプ、24……屈折率
整合剤、25……光源、26……ビジコン、27……演算処理
回路。
図、第2図乃至第4図に従来の光コネクタのパラメータ
測定方法を示す図、第5図は多心一括光コネクタを示す
図、第6図は単心コネクタの接続状態を示す図、第7図
は屈折率整合剤を使用した光コネクタの接続状態を示す
図、第8図はモードフィールド半径を測定する系の1例
を示す図、第9図および第10図は本発明の測定原理を説
明する図、第11図は本発明の測定方法により測定された
結果を示した説明図である。 1……コネクタプラグ、2……光ファイバ、9……光
源、10……レンズ、20……分光器、21……チョッパ、22
……光検出器、23……ロックインアンプ、24……屈折率
整合剤、25……光源、26……ビジコン、27……演算処理
回路。
Claims (2)
- 【請求項1】シングルモード光ファイバを接続するため
の光コネクタのパラメータ測定方法において、光コネク
タ端面間に屈折率整合剤を入れない状態にして、接続損
失の波長特性α(λ)を測定し、光コネクタ端面間に屈
折率整合剤を入れた状態で接続損失の波長特性α
2(λ)を測定し、さらに光コネクタに使用した光ファ
イバのモードフィールド半径の波長特性ω(λ)を測定
することで、光コネクタの端面間隔Z、傾き角度θ、軸
ずれdを測定することを特徴とする光コネクタのパラメ
ータ測定方法。 - 【請求項2】光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入れな
い状態にして、接続損失の波長特性波長特性α1(λ)
を測定し、さらに少なくとも2波長λ1,λ2以上の波長
において、光コネクタ端面間に屈折率整合剤を入れた状
態での接続損失α2(λ1),α2(λ2)および光コ
ネクタに使用した光ファイバのモードフィールド半径ω
(λ1),ω(λ2)を測定することで、光コネクタの
端面間隔Z、傾き角度θ、軸ずれdを測定することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の光コネクタのパラ
メータ測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20320287A JPH0789093B2 (ja) | 1987-08-17 | 1987-08-17 | 光コネクタのパラメ−タ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20320287A JPH0789093B2 (ja) | 1987-08-17 | 1987-08-17 | 光コネクタのパラメ−タ測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6446625A JPS6446625A (en) | 1989-02-21 |
JPH0789093B2 true JPH0789093B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=16470158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20320287A Expired - Lifetime JPH0789093B2 (ja) | 1987-08-17 | 1987-08-17 | 光コネクタのパラメ−タ測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0789093B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020143921A (ja) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | 東日本電信電話株式会社 | 現場組立光コネクタ内の光ファイバ接続部の光接続の良否を判断する装置 |
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1987
- 1987-08-17 JP JP20320287A patent/JPH0789093B2/ja not_active Expired - Lifetime
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