JPH0777748B2 - 成形条件のモニタ方法およびそれに使用するデータ収集装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、射出成形機やダイカスト機等の成形機の成形
条件のモニタ方法およびそれに使用するデータ収集装置
に関するものである。

〔従来の技術〕

ダイカスト機・射出成形機等の成形品の品質を決定する
射出速度や充填圧力をモニタする装置は、例えば特開昭
61-229458号（特公平４−70111号）公報に記載されてい
るように、マイコン技術の発達により、CRT等の表示媒
体の画面上に連続的な軌跡をモニタ表示でき、カーソル
による軌跡のデジタル変換技術も可能となっている。

ところで、ダイカスト機・射出成形機等の成形機は、
「型締」→「射出」→「冷却」→「型開き」→「製品取
り出し」→「金型スプレー」→「型締」→・・・という
サイクリックな運転を基本としており、このようなサイ
クリックな運転を行う成形機において、そのモニタ装置
を用いた成形条件の画面上への表示は、一般的に「射
出」工程を中心とする各工程別としている。

第３図は、型締工程における成形条件データの表示例を
示し、基準軸である横軸に時間をとり、型締工程の動作
のうち、型位置Ｓおよび型締力Ｆを画面上に軌跡図とし
て表示したものである。また、第４図は、射出工程にお
ける成形条件データの表示例を示し、基準軸である横軸
に時間をとり、射出工程の動作のうち、射出速度ｖおよ
び射出圧力Ｐを画面上に軌跡図として表示したものであ
る。

各工程別にその成形条件データを画面上に表示する理由
としては、上述したサイクリックな工程全体を一つの画
面上に表示した場合、その細部までの表示が困難となる
ためである。すなわち、製品の品質に大きな影響を与え
るという点で、殊に射出工程においてはその成形条件デ
ータの細部までの表示を必要とし、サイクリックな工程
全体を一つの画面上に表示すると、射出工程における成
形条件データがその画面上の制約により細部まで表示で
きなくなる虞れがある。

第５図は、第３図に示した型締工程における成形条件デ
ータと第４図に示した射出工程における成形条件データ
とを、一つの画面上に同時に表示した場合を示し、表示
媒体の制約（縦，横の寸法又はデータ量）により、その
成形条件データがきめの荒いサンプリングとなる。

また、成形条件のモニタ方法として、用紙等の記録媒体
へのモニタ記録も行われている。例えば、「型締」，
「射出」等の各工程別のモニタ値をチャート紙にその時
間軸を基準軸として記録し、この各工程別のチャート紙
を継ぎ合わせて使用したり、各入力の汎用記録計に各工
程で必要とする入力を接続し、チャート紙に同時記録し
たりしている。同時記録する場合、一画面上において同
時表示する場合と同様、その成形条件データがきめの荒
いサンプリングとなるか、または長い記録紙が必要とな
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、近年、サイクルの短縮による能力アップ
の検討により、型締完了と同時に射出を開始したり、型
締動作の完了を予測して射出開始等の同時動作を行うケ
ースも考えられるようになった。また、金型キャビティ
内のガス抜きのために、型内に成形材料が充填されるま
で型締力を小さくする試みや、射出系，型締系の併用に
よる成形技術も試行されてきている。

このため、このような業界の動向に対応すべく、成形機
運転における異なる工程（特に射出工程と型締工程）の
成形条件データを同時にモニタでき、しかもそのモニタ
媒体（表示媒体，記録媒体）の制約下において、特に重
要とする部分を細部まで判り易く読み取ることのできる
モニタ方法の開発が急務とされている。

〔課題を解決するための手段〕

本発明はこのような課題を解決するためになされたもの
で、時間軸を基準軸として各種成形条件をモニタする成
形条件のモニタ方法において、成形機運転における型締
工程および射出工程の成形条件データを、型締工程では
基準軸の単位増分として使用するパラメータを型位置と
して、射出工程では基準軸の単位増分として使用するパ
ラメータを射出シリンダ位置および単位時間として、同
時にモニタするようになす一方、基準軸の単位増分とし
て型位置のパラメータを使用する区間においては、前も
って準備されたスケジュールにしたがって順次設定され
る設定型位置毎に、その成形条件データをモニタするよ
うにし、基準軸の単位増分として射出シリンダ位置のパ
ラメータを使用する区間においては、前もって準備され
たスケジュールにしたがって順次設定される設定射出シ
リンダ位置毎に、その成形条件をモニタするようにし、
基準軸の単位増分として単位時間のパラメータを使用す
る区間においては、前もって準備されたスケジュールに
したがって順次設定される設定分周率により基準クロッ
ク信号を分周して得られる分周出力毎に、その設定条件
をモニタするようにしたものである。

また、この成形条件のモニタ方法において、その成形条
件データの効率的な収集を行うために、型位置に応じた
位置信号を送出する型位置トランスデューサと、射出シ
リンダ位置に応じた位置信号を送出する射出シリンダ位
置トランスデューサと、基準クロック信号を発生する時
間信号発生器とを備え、前もって準備されたスケジュー
ルにしたがって順次設定される設定型位置と型位置トラ
ンスデューサの送出する位置信号に基づく実際の型位置
とを比較し、それらが合致したとき計測信号を発生する
第１の計測信号発生手段と、前もって準備されたスケジ
ュールにしたがって順次設定される設定射出シリンダ位
置と射出シリンダ位置トランスデューサの送出する位置
信号に基づく実際の射出シリンダ位置とを比較し、それ
らが合致したとき計測信号を発生する第２の計測信号発
生手段と、前もって準備されたスケジュールにしたがっ
て順次設定される設定分周率により時間信号発生器から
の基準クロック信号を分周しその分周出力として計測信
号を発生する第３の計測信号発生手段と、第1,第２およ
び第３の計測信号発生手段への設定型位置，設定射出シ
リンダ位置および設定分周率の設定開始タイミングを定
める情報に基づき、その第1,第２および第３の計測信号
発生手段の発生する計測信号を順次切り替えて選択する
計測信号選択手段と、この計測信号選択手段の選択する
計測信号に基づきその計測信号の発生順位に対応づけて
各種成形条件を読み取り記憶する成形条件記憶手段とを
備えてなるデータ収集装置を使用するものとしたもので
ある。

〔作用〕

したがってこの発明による成形条件のモニタ方法によれ
ば、型締工程では基準軸の単位増分として使用するパラ
メータを型位置として、射出工程では基準軸の単位増分
として使用するパラメータを射出シリンダ位置および単
位時間として、型締工程および射出工程の成形条件デー
タが同時にモニタされ、モニタ媒体の制約下にあって
も、予測される重要部分（例えば、射出工程の充填過
程）を、必要に応じて拡大してモニタすることが可能と
なる。

また、基準軸の単位増分として使用するパラメータを型
位置，射出シリンダ位置および単位時間とする区間にお
いては、前もって準備されたスケジュールにしたがって
順次設定される設定型位置毎，設定射出シリンダ位置毎
および設定分周率により得られる分周出力毎にその成形
条件がモニタされ、スケジュールの設定によって、例え
ば型締工程でのモニタ間隔を中盤では粗く終盤では細か
くというように、任意に変化させることが可能となる。

また、この発明によるデータ収集装置を使用すれば、基
準軸の単位増分として使用するパラメータを型位置，射
出シリンダ位置および単位時間として、前もって準備さ
れたスケジュールにしたがって順次設定される設定型位
置，設定射出シリンダ位置および設定分周率毎に、各種
成形条件データの読み取り記憶が効率的に行われるもの
となる。

〔実施例〕

以下、本発明に係る成形条件のモニタ方法を詳細に説明
する。

第１図は、この成形条件のモニタ方法の一実施例を示す
モニタ表示図であり、前述の第３図および第４図に示し
た成形条件データを、CRTの一画面上へ同時に表示する
ものとしている。すなわち、射出圧力P,射出速度v,型締
力F,型位置Ｓおよび経過時間taの読み取り用スケールを
図示左右端に付すと共に、その工業単位系を時間とした
横軸（基準軸）上にこの基準軸に対して垂直に立ち上が
る固定カーソル1,2および移動カーソル３を付し、各成
形条件データを同時に混在表示するものとしている。

固定カーソル１は、射出工程のスタート点（後述する射
出スタート信号入力時点に対応する位置）に付され、基
準軸の単位増分として使用するパラメータの第１の変更
点を示している。すなわち、基準軸である時間のサンプ
リングスケジュールの変更点を示し、固定カーソル１を
境とする図示左方の領域は型位置をパラメータとし、右
方の領域は射出シリンダ位置をパラメータとしている。
固定カーソル１の上方部には、この固定カーソル１の付
設位置に関する情報として、表示軌跡のスタート点すな
わち型締サイクルのスタート信号入力時点から射出スタ
ート信号入力時点までの経過時間のデジタル表示値，固
定カーソル１と型位置Ｓの軌跡との交点で示される型位
置のデジタル値，およびそのときの型締力Ｆのデジタル
値を表示するものとしている。

固定カーソル２は、基準軸の単位増分として使用するパ
ラメータの第２の変更点を示している。すなわち、基準
軸である時間のサンプリングスケジュールの第２の変更
点を示し、固定カーソル２を境とする図示左方の領域は
上記射出シリンダ位置をパラメータとし、右方の領域は
単位時間をパラメータとしている。固定カーソル２の上
方部には、この固定カーソル２の付設位置に関する情報
として、固定カーソル２と型位置S;型締力F;射出速度v;
射出圧力P;経過時間taの軌跡との交点で示される各デジ
タル値を表示するものとしている。

移動カーソル３は、図示せぬカーソル移動キーの操作に
より、基準軸上を任意の位置に移動でき、この移動カー
ソル３の移動位置で各種情報をデジタル値として得るこ
とができる。本例においては、この移動カーソル３と型
位置S;型締力F;射出速度v;射出圧力Ｐの軌跡との交点で
示される各デジタル値を、その画面下方の表示部４にお
いて示すものとしており、また移動カーソル３の情報
（位置，時間）をデジタル値で表示部５において示すも
のとしている。なお、表示部６においては、ショットナ
ンバー，金型ナンバー，マシンナンバー，ショットタイ
ム等の各種ショット情報を示すものとしている。

第２図は、このモニタ表示図を得るために使用するデー
タ収集装置の一実施例を示すブロック構成図である。

同図において、101は型位置に応じた位置信号ａを送出
する型位置トランスデューサ、102は射出シリンダ位置
に応じた位置信号ｂを送出する射出シリンダ位置トラン
スデューサ、103は基準クロック信号ｃを発生する時間
信号発生器、201はスケジュールデータ記憶器300を介し
て設定されるスケジュールデータ（後述する設定型位
置）と型位置トランスデューサ101の送出する位置信号
ａに基づく実際の型位置とを比較し、それらが合致した
とき一致信号（計測信号）ａ′を発生する第１の信号比
較器、202はスケジュールデータ記憶器300を介して設定
されるスケジュールデータ（後述する設定射出シリンダ
位置）と射出シリンダ位置トランスデューサ102の送出
する位置信号ｂに基づく実際の射出シリンダ位置とを比
較し、それらが合致したとき一致信号（計測信号）ｂ′
を発生する第２の信号比較器、203はスケジュールデー
タ記憶器300を介して設定されるスケジュールデータ
（後述する設定分周率）により時間信号発生器103から
の基準クロック信号ｃを分周し、その分周出力として計
測信号ｃ′を送出する分周器、204はスケジュールデー
タ記憶器300を介して与えられる切り替え指令データＤ
に基づきそのスイッチングモードが切り替えられる計測
信号選択器、400は型位置トランスデューサ101の送出す
る位置信号a,射出シリンダ位置トランスデューサ102の
送出する位置信号b,時間信号発生器103の発生する基準
クロック信号c,計測信号選択器204を介する計測信号
ａ′,b′,c′，スケジュールデータ記憶器300を介する
切り替え指令データＤおよび各種トランスデューサ（型
締力トランスデューサや射出圧力トランスデューサ等）
信号ｄ・・・d_x等を入力とするモニタ条件の入力処理部
である。スケジュールデータ記憶器300には、図示せぬC
PUを介して、下記表に示すようなスケジュールデータが
事前に設定記憶されている。同表において、項目Ａはパ
ラメータを型位置として成形条件データの計測を行う場
合の設定 型位置に係わるスケジュールデータ、項目Ｂはパラメー
タを射出シリンダ位置として成形条件データの計測を行
う場合の設定射出シリンダ位置に係わるスケジュールデ
ータ、項目Ｃはパラメータを単位時間として成形条件デ
ータの計測を行う場合の設定分周率に係わるスケジュー
ルデータである。

次に、このように構成されたデータ収集装置の動作を説
明する。すなわち、CPUにモニタデータ収集指令が入力
されると、CPUは、スケジュールデータ記憶器300に設定
記憶された項目Ａにおける最上段のデータ（850）を信
号比較器201へ設定すると共に、スケジュールデータ記
憶器300より切り替え指令データＤを送出せしめ、計測
信号選択器204におけるスイッチングモードを信号比較
器201との接続モードとする。次に。CPUに型締動作スタ
ート信号が入力されると、CPUは、型位置トランスデュ
ーサ101からの位置信号a,射出シリンダ位置トランスデ
ューサ102からの位置信号b,時間信号発生器103からの基
準クロック信号c,各種トランスデューサ信号ｄ・・・d_x
ならびにスケジュールデータ記憶器300からの切り替え
指令データＤを入力処理部400に読み取らせ、この読み
取らせた計測データ群を第１の計測データ群として図示
していないデータメモリに格納せしめる。

一方、信号比較器201は、型位置トランスデューサ101の
送出する位置信号ａに基づく実際の型位置とスケジュー
ルデータ記憶器300を介して設定される設定型位置（85
0）とを比較し、実際の型位置と設定型位置とが合致し
た時点で、計測信号ａ′を発生する。この計測信号ａ′
は計測信号選択器204を介して入力処理部400へ与えらえ
る。入力処理部400は、この供与される計測信号ａ′に
基づき、そのときの位置信号a,位置信号b,基準クロック
信号c,各種トランスデューサ信号ｄ・・・d_xならびに切
り替え指令データＤを読み取り、その読み取った計測デ
ータ群を第２の計測データ群としてデータメモリに格納
する。一方、入力処理部400への計測信号ａ′は、スケ
ジュールデータ記憶器300へも同時に与えられ、スケジ
ュールデータ記憶器300は、この入力される計測信号
ａ′に基づき、項目Ａにおける２段目のスケジュールデ
ータ（840）を、それまで設定されていた最上段のデー
タ（850）に代えて、信号比較器201へ設定する。信号比
較器201は、型位置トランスデューサ101からの位置信号
ａに基づく実際の型位置と、新たに設定された設定型位
置（840）とが合致した時点で、第２の計測信号ａ′を
発生する。この第２の計測信号ａ′に基づき、そのとき
の位置信号a,位置信号b,基準クロック信号c,各種トラン
スデューサ信号ｄ・・・d_xならびに切り替え指令データ
Ｄを入力処理部400が読み取り、その読み取った計測デ
ータ群を第３の計測データ群としてデータメモリに格納
する。以下、CPUに射出動作スタート信号が入力される
まで同様動作が繰り返され、項目Ａにおいてスケジュー
ルされた設定型位置に実際の型位置が合致する毎に、そ
の設定型位置に対応づけて（即ち、計測信号ａ′の発生
順位に対応づけて）、そのときの位置信号a,位置信号b,
基準クロック信号c,各種トランスデューサ信号ｄ・・・
d_xならびに切り替え指令データＤが読み取られ、その読
み取られた計測データ群が第４の計測データ群，第５の
計測データ群・・・第Ｎ番目の計測データ群としてデー
タメモリに格納されるようになる。

この場合、前記した表から分かるように、計測データ群
の読み取り間隔は、すなわち成形条件のモニタ間隔は、
型締工程の中盤では粗く、終盤では細かくされる。これ
により、少ないデータ採取で、要求精度を確保すること
ができる。

而して、CPUに射出動作スタート信号が入力されると、C
PUは、スケジュールデータ記憶器300に設定記憶された
項目Ｂのスケジュールデータを信号比較器202へ設定す
ると共に、スケジュールデータ記憶器300より切り替え
指令データＤを送出せしめ、計測信号選択器204におけ
るスイッチングモードを信号比較器202との接続モード
とする。また、CPUは、上記射出動作スタート信号に基
づき、そのときの位置信号a,位置信号b,基準クロック信
号c,各種トランスデューサ信号ｄ・・・d_xならびに切り
替え指令データＤを入力処理部400に読み取らせ、その
読み取った計測データ群を第Ｎ＋１番目の計測データ群
としてデータメモリに格納せしめる。そして、信号比較
器202において、その射出シリンダ位置トランスデュー
サ102の送出する位置信号ｂに基づく実際の射出シリン
ダ位置と、スケジュールデータ記憶器300を介して設定
された設定射出シリンダ位置とが合致すると、計測信号
ｂ′が発生するものとなる。そして、この計測信号ｂ′
が計測信号選択器204を介して入力処理部400へ与えら
れ、この供与される計測信号ｂ′に基づき、そのときの
位置信号a,位置信号b,基準クロック信号c,各種トランス
デューサ信号ｄ・・・d_xならびに切り替え指令データＤ
を入力処理部400が読み取り、その読み取った計測デー
タ群を第Ｎ＋２番目の計測データ群としてデータメモリ
に格納する。一方、入力処理部400への計測信号ｂ′
は、スケジュールデータ記憶器300へも同時に与えら
れ、スケジュールデータ記憶器300はこの計測信号ｂ′
に基づき、項目Ｂにおけるスケジュールデータの次の値
を信号比較器202へ設定する。以下項目Ｂに設定された
スケジュールデータの数（500データ）だけ同様動作が
繰り返され、その設定射出シリンダ位置に対応づけて
（即ち、計測信号ｂ′の発生順位に対応づけて）、その
ときの位置信号a,位置信号b,基準クロック信号c,各種ト
ランスデューサ信号ｄ・・・d_xならびに切り替え指令デ
ータＤの計測データ群がデータメモリに格納されるよう
になる。

項目Ｂにおいてそのスケジュールデータの数分の計測デ
ータ群のデータメモリへの格納が完了すると、スケジュ
ールデータ記憶器300は、時間単位としてのスケジュー
ルデータ（項目Ｃの値）を分周器203へ設定すると共
に、計測信号選択器204におけるスイッチングモードを
分周器203との接続モードとする。分周器203は、時間信
号発生器103からの基準クロック信号ｃを、スケジュー
ルデータ記憶器300を介して設定される設定値に応じて
定まる分周率で分周し、計測信号ｃ′を送出する。分周
器203からの計測信号ｃ′は計測信号選択器204を介して
入力処理部400へ与えられ、この供与される計測信号
ｃ′に基づき、そのときの位置信号a,位置信号b,基準ク
ロック信号c,各種トランスデューサ信号ｄ・・・d_xなら
びに切り替え指令データＤを入力処理部400が読み取
り、その読み取った計測データ群をデータメモリに格納
する。一方、入力処理部400への計測信号ｃ′は、スケ
ジュールデータ記憶器300へも同時に与えられ、スケジ
ュールデータ記憶器300はこの計測信号ｃ′に基づき、
項目Ｃにおける次の値を分周器203へ設定する。以下項
目Ｃに設定されたスケジュールデータの数（250デー
タ）だけ同様動作が繰り返され、その設定時間々隔毎に
順次（即ち、計測信号ｃ′の発生順位に対応づけて）、
そのときの位置信号a,位置信号b,基準クロック信号c,各
種トランスデューサ信号ｄ・・・d_xならびに切り替え指
令データＤの計測データ群がデータメモリに格納される
ようになる。なお、項目Ｃにおけるスケジュールデータ
の場合は、分周器203に順次設定される分周率は同一分
周率となる。

このように本実施例による成形条件のモニタ方法によれ
ば、成形機運転における型締工程および射出工程の成形
条件データを、その基準軸の単位増分として使用するパ
ラメータを型位置，射出シリンダ位置および単位時間と
して適宜切り替えて同時に表示するようになし、射出シ
リンダ位置をパラメータとする区間を細かくサンプリン
グするものとしているので、型締工程および射出工程の
成形条件データをその特に重要とする部分を細部まで判
り易く拡大して、一画面上に同時表示することができる
ものとなる。

なお、本実施例においては、単位時間を使用する区間の
決定として、前もって準備された単位時間テーブル（項
目Ｃ）から射出シリンダ位置の関数として自動選択する
ものとしたが、型締シリンダ位置の関数または後記する
成形条件のいずれか一つの関数として選択使用、又は単
純に区間設定値により成形条件を表示するようにするこ
ともできる。また、本実施例においては、表示媒体とし
てCRTを例として示したが、EL,プラズマディスプレイ等
を用いて表示することも考えられる。また、第２図に示
した信号比較器201,202,分周器203および計測信号選択
器204の仕事を入力処理部400で行うように構成してもよ
い。さらに、本実施例においては、表示媒体への表示を
例として示したが、記憶媒体への記憶も同様にして行う
ことが可能である。また、成形条件としては、型締制御
用液圧，型締速度，射出シリンダ制御用液圧，充填圧
力，金型内の成形品に加わる圧力，金型温度，スリーブ
温度，ノズル部やバレル部の温度・圧力，型移動時間，
射出時間，金型内の成形品の温度等種々考えられる。

なお、本方法を一般論で述べれば、マシン制御上、重点
的にモニタすべき点と、品質に影響を与えるであろうと
考えられるマシンの動きや成形機の状態とを事前に予測
・検証しておいて、成形機運転における工程（型締，射
出，冷却・・・）を通して、上記検証の結果、最も影響
度の大きなアイテムを選択し、このアイテムにおける動
作の重要点を予測し（例えば、型締工程においては型開
き限の位置，型開閉速度計測のための型位置、また射出
工程との同時動作を行う場合や型締機構を用いての成形
を行う場合には、型締限近辺の微妙な動き等）、データ
収集のスケジュールを作成記憶させておいて、このスケ
ジュールに基づいて最も影響度の大きなアイテムの計測
データ収集と共に、全モニタアイテムについて計測デー
タ収集を行う。

この場合、複数のアイテムがランダムとなる場合や最重
点アイテムの動きが不安定区域であったり、微妙な動き
となる場合が予測される時は、時間単位により全モニタ
アイテムについての計測データ収集を行うようにする。
この時間単位による計測データ収集においても、最重点
アイテムによる計測データ収集スケジュールと同様に、
最適なサンプリング周期を予測・検証して、データ収集
のスケジュール化を行うものである。

以上により、データ収集の演算効率化が図られるが、CR
T等に軌跡の形で表示する場合、横軸の表示単位である
時間を従来方式のように、均等単位増分とすることがで
きなくなる。そこで、横軸に垂直に立てた固定カーソル
によって横軸の単位増分の変化した位置や、データ収集
スケジュールの基本パラメータの変化があった点を表示
すると共に、固定カーソルとデータの軌跡が交差する点
のデータ類をデジタル表示するものとする。また、移動
カーソルにより、任意の横軸位置におけるデータ軌跡の
デジタル表示を行うものとする。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明による成形条件のモニタ方法
によると、型締工程では基準軸の単位増分として使用す
るパラメータを型位置として、射出工程では基準軸の単
位増分として使用するパラメータを射出シリンダ位置お
よび単位時間として、型締工程および射出工程の成形条
件データが同時にモニタされ、モニタ媒体の制約下にあ
っても、予測される重要部分（例えば、射出工程の充填
過程）を必要に応じて拡大してモニタすることが可能と
なり、正しいデータを素早く且つミスなく読み取れるも
のとなる。

また、基準軸の単位増分として使用するパラメータを型
位置，射出シリンダ位置および単位時間とする区間にお
いては、前もって準備されたスケジュールにしたがって
順次設定される設定型位置毎，設定射出シリンダ位置毎
および設定分周率により得られる分周出力毎にその成形
条件がモニタされ、スケジュールの設定によって、例え
ば型締工程でのモニタ間隔を中盤では粗く終盤では細か
くというように、任意に変化させることが可能となり、
少ないデータ採取で、要求精度を確保することが可能と
なる。

また、この発明によるデータ収集装置を使用すれば、基
準軸の単位増分として使用するパラメータを型位置，射
出シリンダ位置および単位時間として、前もって準備さ
れたスケジュールにしたがって順次設定される設定型位
置，設定射出シリンダ位置および設定分周率毎に、成形
条件データの読み取り記憶が効率的に行われるものとな
り、必要とするデータのみのサンプリング並びに演算と
なるので、高速にその演算処理が図られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る成形条件のモニタ方法の一実施例
を示すモニタ表示図、第２図はこのモニタ方法に使用す
るデータ収集装置を示すブロック構成図、第３図は型締
工程における成形条件データの単独表示例を示す図、第
４図は射出工程における成形条件データの単独表示例を
示す図、第５図は第３図に示した成形条件データと第４
図に示した成形条件データとを一画面上に同時に表示し
た場合を示す図である。 1,2……固定カーソル、３……可動カーソル、101……型
位置トランスデューサ、102……射出シリンダ位置トラ
ンスデューサ、103……時間信号発生器、201,202……信
号比較器、203……分周器、204……計測信号選択器、30
0……スケジュールデータ記憶、400……入力処理部。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】時間軸を基準軸として各種成形条件をモニ
   タする成形条件のモニタ方法において、 成形機運転における型締工程および射出工程の成形条件
   データを、型締工程では基準軸の単位増分として使用す
   るパラメータを型位置として、射出工程では基準軸の単
   位増分として使用するパラメータを射出シリンダ位置お
   よび単位時間として、同時にモニタするようになす一
   方、 基準軸の単位増分として型位置のパラメータを使用する
   区間においては、前もって準備されたスケジュールにし
   たがって順次設定される設定型位置毎に、その成形条件
   データをモニタするようにし、 基準軸の単位増分として射出シリンダ位置のパラメータ
   を使用する区間においては、前もって準備されたスケジ
   ュールにしたがって順次設定される設定射出シリンダ位
   置毎に、その成形条件をモニタするようにし、 基準軸の単位増分として単位時間のパラメータを使用す
   る区間においては、前もって準備されたスケジュールに
   したがって順次設定される設定分周率により基準クロッ
   ク信号を分周して得られる分周出力毎に、その成形条件
   をモニタするようにした ことを特徴とする成形条件のモニタ方法。
2. 【請求項２】型位置に応じた位置信号を送出する型位置
   トランスデューサと、射出シリンダ位置に応じた位置信
   号を送出する射出シリンダ位置トランスデューサと、基
   準クロック信号を発生する時間信号発生器とを備え、 前もって準備されたスケジュールにしたがって順次設定
   される設定型位置と前記型位置トランスデューサの送出
   する位置信号に基づく実際の型位置とを比較し、それら
   が合致したとき計測信号を発生する第１の計測信号発生
   手段と、 前もって準備されたスケジュールにしたがって順次設定
   される設定射出シリンダ位置と前記射出シリンダ位置ト
   ランスデューサの送出する位置信号に基づく実際の射出
   シリンダ位置とを比較し、それらが合致したとき計測信
   号を発生する第２の計測信号発生手段と、 前もって準備されたスケジュールにしたがって順次設定
   される設定分周率により前記時間信号発生器からの基準
   クロック信号を分周しその分周出力として計測信号を発
   生する第３の計測信号発生手段と、 前記第１、第２および第３の計測信号発生手段への設定
   型位置、設定射出シリンダ位置および設定分周率の設定
   開始タイミングを定める情報に基づき、その第１、第２
   および第３の計測信号発生手段の発生する計測信号を順
   次切り替えて選択する計測信号選択手段と、 この計測信号選択手段の選択する計測信号に基づきその
   計測信号の発生順位に対応づけて各種成形条件を読み取
   り記憶する成形条件記憶手段と、 を備えてなるデータ収集装置。