JPH0743766B2 - Ｘ線画像処理方法および装置 - Google Patents
Ｘ線画像処理方法および装置Info
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- JPH0743766B2 JPH0743766B2 JP62265016A JP26501687A JPH0743766B2 JP H0743766 B2 JPH0743766 B2 JP H0743766B2 JP 62265016 A JP62265016 A JP 62265016A JP 26501687 A JP26501687 A JP 26501687A JP H0743766 B2 JPH0743766 B2 JP H0743766B2
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- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＸ線を被写体に照射して得られた画像（以下
「Ｘ線画像」という）をコピーする際に、Ｘ線画像が記
録されている原板（以下「オリジナル写真」という）か
ら一旦オリジナル写真に記録されたＸ線画像の濃度（以
下「オリジナル画像濃度」という）を読み取た後、この
オリジナル画像濃度を表わす信号に施す画像処理に関
し、特に、コピー写真等に可視像として再生されたＸ線
画像の粒状性を向上させるＸ線画像処理方法およびこの
方法を実施する装置に関するものである。
「Ｘ線画像」という）をコピーする際に、Ｘ線画像が記
録されている原板（以下「オリジナル写真」という）か
ら一旦オリジナル写真に記録されたＸ線画像の濃度（以
下「オリジナル画像濃度」という）を読み取た後、この
オリジナル画像濃度を表わす信号に施す画像処理に関
し、特に、コピー写真等に可視像として再生されたＸ線
画像の粒状性を向上させるＸ線画像処理方法およびこの
方法を実施する装置に関するものである。
（従来の技術） Ｘ線画像を記録する写真フィルムは撮影に充分な感度と
広い露光域とを持ち、かつ観察読影に必要な高いコント
ラストやシャープネス、細かい粒状性をかねそなえてい
る必要がある。しかし、これらの条件は互いに矛盾する
ところが多く、Ｘ線を直接写真フィルムに撮影したので
は、これらの条件すべてに満足のいくＸ線画像を得るこ
とは困難であり、撮影適性と観察読影適性とを少しずつ
犠牲にしてフィルムを設計しているのが現実である。
広い露光域とを持ち、かつ観察読影に必要な高いコント
ラストやシャープネス、細かい粒状性をかねそなえてい
る必要がある。しかし、これらの条件は互いに矛盾する
ところが多く、Ｘ線を直接写真フィルムに撮影したので
は、これらの条件すべてに満足のいくＸ線画像を得るこ
とは困難であり、撮影適性と観察読影適性とを少しずつ
犠牲にしてフィルムを設計しているのが現実である。
そこで、後の画像処理にあうように設計されたガンマ値
の低い写真フィルムを用いてＸ線画像を記録し、このＸ
線画像が記録されたオリジナル写真からＸ線画像を読み
取って電気信号に変換し、これに画像処理を施した後、
コピー写真等に可視像として再生することにより、コン
トラスト、シャープネス、粒状性を改善する方法が種々
検討されている。
の低い写真フィルムを用いてＸ線画像を記録し、このＸ
線画像が記録されたオリジナル写真からＸ線画像を読み
取って電気信号に変換し、これに画像処理を施した後、
コピー写真等に可視像として再生することにより、コン
トラスト、シャープネス、粒状性を改善する方法が種々
検討されている。
（発明が解決しようとする問題点） Ｘ線は被曝線量が多くなると、人体等に有害である場合
が多く、できるだけ低線量のＸ線で撮影を行なうことが
望ましい。
が多く、できるだけ低線量のＸ線で撮影を行なうことが
望ましい。
しかしながら、撮影時に被写体に照射するＸ線量を低減
させるほどＸ線の量子雑音等のＸ線画像に与える影響が
大きくなり画像の粒状性が劣化し、粗くざらついた印象
の再生画像となってしまう。
させるほどＸ線の量子雑音等のＸ線画像に与える影響が
大きくなり画像の粒状性が劣化し、粗くざらついた印象
の再生画像となってしまう。
この粒状性を改良するひとつの方法として、写真フィル
ムを厚くするまたは大粒化する等により撮影時にぼけた
画像を記録する方法もあるが、シャープネス等の他の画
質性能の劣化を最小限に押え、かつ粒状性を改良するに
は限度があり、前述したように、Ｘ線画像が記録された
オリジナル写真からＸ線画像を読み取って電気信号に変
換しこれに画像処理を施した後、コピー写真等に可視像
として再生する方法が望ましい。
ムを厚くするまたは大粒化する等により撮影時にぼけた
画像を記録する方法もあるが、シャープネス等の他の画
質性能の劣化を最小限に押え、かつ粒状性を改良するに
は限度があり、前述したように、Ｘ線画像が記録された
オリジナル写真からＸ線画像を読み取って電気信号に変
換しこれに画像処理を施した後、コピー写真等に可視像
として再生する方法が望ましい。
この粒状性を改良する方法のうち装置上の工夫として
は、走査する励起光の径を大きくして読取時に画像をぼ
かして読み取る、読み取ったアナログの画像信号をアナ
ログフィルターに入力してぼかす等が考えられる。粒状
性を向上させるとともにシャープネス等の他の画像性能
の劣化を極力押えるには微妙な制御が必要であるにもか
かわらず上記方法では、それぞれ、機構が複雑となる割
には制御できる自由度が極めて低い、時系列な画像信号
の流れの方向（主走査の方向）しか制御できない等の問
題点を有する。また、この粒状性を画像処理により改良
させる方法としては、FFT（Fast Fourier Transform）
を用いて周波数処理をする方法、ディジタル的に、各走
査点についてこの走査点の周囲の画像濃度の平均値を求
めることによりぼかす方法等が考えられる。FFTを用い
る方法は制御できる自由度は極めて大きいが、大容量の
画像信号に適用するには処理速度が遅すぎる、またこれ
を高速化するには大きなコストアップを伴う等の問題点
を有する。上記ディジタル的にぼかす方法は処理時間は
早いが微妙な制御はできず、通常ぼかし過ぎとなってし
まうという問題点を有する。
は、走査する励起光の径を大きくして読取時に画像をぼ
かして読み取る、読み取ったアナログの画像信号をアナ
ログフィルターに入力してぼかす等が考えられる。粒状
性を向上させるとともにシャープネス等の他の画像性能
の劣化を極力押えるには微妙な制御が必要であるにもか
かわらず上記方法では、それぞれ、機構が複雑となる割
には制御できる自由度が極めて低い、時系列な画像信号
の流れの方向（主走査の方向）しか制御できない等の問
題点を有する。また、この粒状性を画像処理により改良
させる方法としては、FFT（Fast Fourier Transform）
を用いて周波数処理をする方法、ディジタル的に、各走
査点についてこの走査点の周囲の画像濃度の平均値を求
めることによりぼかす方法等が考えられる。FFTを用い
る方法は制御できる自由度は極めて大きいが、大容量の
画像信号に適用するには処理速度が遅すぎる、またこれ
を高速化するには大きなコストアップを伴う等の問題点
を有する。上記ディジタル的にぼかす方法は処理時間は
早いが微妙な制御はできず、通常ぼかし過ぎとなってし
まうという問題点を有する。
本発明は、上記問題点に鑑み、Ｘ線画像の粒状性を改良
させるとともに他の画質性能の劣化を最小限に押さえる
ことができ、しかも装置を複雑化することなく、演算時
間も十分許容できる範囲内にあるＸ線画像処理方法、お
よびこの方法を実施することのできる装置を提供するこ
とを目的とするものである。
させるとともに他の画質性能の劣化を最小限に押さえる
ことができ、しかも装置を複雑化することなく、演算時
間も十分許容できる範囲内にあるＸ線画像処理方法、お
よびこの方法を実施することのできる装置を提供するこ
とを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段） 本発明のＸ線画像処理方法は、Ｘ線画像情報が記録され
ているオリジナル写真を走査し、各走査点のオリジナル
画像濃度を読み取った後、コピー写真等にＸ線画像を可
視像として再生するにあたり、 各走査点に対応して周囲の所定範囲内のオリジナル画像
濃度またはこのオリジナル画像濃度を表わす信号に中間
処理を施した画像濃度を平均化することにより求めた１
個または上記所定範囲を変えて求めた複数個のボケマス
クの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…,n;nはボケマスクの個数
を示す整数）、オリジナル画像濃度またはオリジナル画
像濃度を表わす信号に中間処理を施した後の画像濃度を
Db1,Db2、上記１個または複数個のボケマスクにそれぞ
れ対応する１個または複数個の減衰係数をβｋ（ｋ＝1,
2,…,n）、演算処理後の画像濃度をＤ′としたときに、 減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１個の
減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が ０＜βｌ＜１（但しβｌ≠１） の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行ない、 減衰係数βｌに対応するボケマスクの濃度Ｄus.lが有す
る空間周波数成分より高い空間周波数成分を減衰させる
ことを特徴とするものである。
ているオリジナル写真を走査し、各走査点のオリジナル
画像濃度を読み取った後、コピー写真等にＸ線画像を可
視像として再生するにあたり、 各走査点に対応して周囲の所定範囲内のオリジナル画像
濃度またはこのオリジナル画像濃度を表わす信号に中間
処理を施した画像濃度を平均化することにより求めた１
個または上記所定範囲を変えて求めた複数個のボケマス
クの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…,n;nはボケマスクの個数
を示す整数）、オリジナル画像濃度またはオリジナル画
像濃度を表わす信号に中間処理を施した後の画像濃度を
Db1,Db2、上記１個または複数個のボケマスクにそれぞ
れ対応する１個または複数個の減衰係数をβｋ（ｋ＝1,
2,…,n）、演算処理後の画像濃度をＤ′としたときに、 減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１個の
減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が ０＜βｌ＜１（但しβｌ≠１） の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行ない、 減衰係数βｌに対応するボケマスクの濃度Ｄus.lが有す
る空間周波数成分より高い空間周波数成分を減衰させる
ことを特徴とするものである。
また、上記Ｘ線画像処理方法を実施するための本発明の
Ｘ線画像処理装置は、Ｘ線画像情報が記録されているオ
リジナル写真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度
を読み取った後、このオリジナル画像濃度を表わす信号
を演算部で処理し、処理後の画像濃度信号に基づいて、
コピー写真等にＸ線画像を可視像として再生するＸ線画
像処理装置において、 前記演算部が、各走査点に対応して周囲の所定範囲内の
オリジナル画像濃度またはこのオリジナル画像濃度を表
わす信号に中間処理を施した画像濃度を平均化すること
により求めた１個または前記所定範囲を変えて求めた複
数個のボケマスクの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…,n;nはボ
ケマスクの個数を示す整数）、前記オリジナル画像濃度
またはこのオリジナル画像濃度を表わす信号に中間処理
を施した後の画像濃度をDb1,Db2、前記１個または複数
個のボケマスクにそれぞれ対応する１個または複数個の
減衰係数をβｋ（ｋ＝1,2,…,n）、演算処理後の画像濃
度をＤ′としたときに、 前記減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１
個の減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が、 ０＜βｌ＜１（但しβｌ≠１） の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行なうことを特徴とするもので
ある。
Ｘ線画像処理装置は、Ｘ線画像情報が記録されているオ
リジナル写真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度
を読み取った後、このオリジナル画像濃度を表わす信号
を演算部で処理し、処理後の画像濃度信号に基づいて、
コピー写真等にＸ線画像を可視像として再生するＸ線画
像処理装置において、 前記演算部が、各走査点に対応して周囲の所定範囲内の
オリジナル画像濃度またはこのオリジナル画像濃度を表
わす信号に中間処理を施した画像濃度を平均化すること
により求めた１個または前記所定範囲を変えて求めた複
数個のボケマスクの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…,n;nはボ
ケマスクの個数を示す整数）、前記オリジナル画像濃度
またはこのオリジナル画像濃度を表わす信号に中間処理
を施した後の画像濃度をDb1,Db2、前記１個または複数
個のボケマスクにそれぞれ対応する１個または複数個の
減衰係数をβｋ（ｋ＝1,2,…,n）、演算処理後の画像濃
度をＤ′としたときに、 前記減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１
個の減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が、 ０＜βｌ＜１（但しβｌ≠１） の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行なうことを特徴とするもので
ある。
（作用） 本発明のＸ線画像処理方法は、前述したように減衰係数
βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくともひとつの減衰係
数βｌが ０＜βｌ＜１（βｌ≠１） の範囲内にある定数であり、 の式にしたがって演算を行なうようにしたものである。
βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくともひとつの減衰係
数βｌが ０＜βｌ＜１（βｌ≠１） の範囲内にある定数であり、 の式にしたがって演算を行なうようにしたものである。
上記（１）を変形すると、 となる。
この（２）式の第２項βｌ（Db2−Ｄus.l）に着目する
と、この項のかっこ内Db2−Ｄus.lにより、たとえばオ
リジナル画像濃度であるDb2からボケマスクの濃度Ｄ
us.lを引き算することにより、Db2からボケマスクの濃
度Ｄus.lが有している低い空間周波数成分に引き算され
る。このDb2−Ｄus.lに０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の減
衰係数βｌをかけ算したβｌ（Db2−Ｄus.l）をさらに
たとえばオリジナル画像濃度であるDb1から引き算する
ことにより、Db1からDb2−Ｄus.lの有する高い空間周波
数成分を減衰させることができる。この高い空間周波数
成分を画像の粒状雑音と一致させ、かつ減衰係数βｌを
０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の適切な値に定めることによ
り、画像の粒状雑音を減衰させるとともに、シャープネ
ス等他の画質性能の劣化を最小限にとどめることができ
る。またこの演算方法を実施するためのＸ線画像処理装
置は、従来のＸ線画像処理装置と比べ、装置を特に複雑
化することなく上記Ｘ線画像処理方法を実施するための
装置を実現することができ、また演算時間も十分許容で
きる範囲内とすることができる。上記画像濃度Db1,Db2
は、双方ともオリジナル画像濃度であってもよく、一方
または双方がオリジナル画像濃度を表わす信号に中間的
な画像処理を施し、この画像処理を施した後の画像濃度
であってもよい。
と、この項のかっこ内Db2−Ｄus.lにより、たとえばオ
リジナル画像濃度であるDb2からボケマスクの濃度Ｄ
us.lを引き算することにより、Db2からボケマスクの濃
度Ｄus.lが有している低い空間周波数成分に引き算され
る。このDb2−Ｄus.lに０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の減
衰係数βｌをかけ算したβｌ（Db2−Ｄus.l）をさらに
たとえばオリジナル画像濃度であるDb1から引き算する
ことにより、Db1からDb2−Ｄus.lの有する高い空間周波
数成分を減衰させることができる。この高い空間周波数
成分を画像の粒状雑音と一致させ、かつ減衰係数βｌを
０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の適切な値に定めることによ
り、画像の粒状雑音を減衰させるとともに、シャープネ
ス等他の画質性能の劣化を最小限にとどめることができ
る。またこの演算方法を実施するためのＸ線画像処理装
置は、従来のＸ線画像処理装置と比べ、装置を特に複雑
化することなく上記Ｘ線画像処理方法を実施するための
装置を実現することができ、また演算時間も十分許容で
きる範囲内とすることができる。上記画像濃度Db1,Db2
は、双方ともオリジナル画像濃度であってもよく、一方
または双方がオリジナル画像濃度を表わす信号に中間的
な画像処理を施し、この画像処理を施した後の画像濃度
であってもよい。
次に上記（２）式の第３項、第４項について説明する。
粒状雑音はかなり広範囲な空間周波数成分を有してい
る。したがって上記（２）式第１項および第２項の組み
合わせで十分に粒状雑音を押えることができない場合
は、第２項とは空間周波数帯を変えて、第２項と同様の
演算を第３項または第４項で行なうことができるように
したものである。また、第３項、第４項で減衰係数βｍ
（ｍ≠ｌ）をβｍ＜０とし、たとえば特開昭55−87953
号において本出願人が提案した、特定の空間周波数成分
を強調する演算を組み合わせてもよい。
粒状雑音はかなり広範囲な空間周波数成分を有してい
る。したがって上記（２）式第１項および第２項の組み
合わせで十分に粒状雑音を押えることができない場合
は、第２項とは空間周波数帯を変えて、第２項と同様の
演算を第３項または第４項で行なうことができるように
したものである。また、第３項、第４項で減衰係数βｍ
（ｍ≠ｌ）をβｍ＜０とし、たとえば特開昭55−87953
号において本出願人が提案した、特定の空間周波数成分
を強調する演算を組み合わせてもよい。
ここで、上記画像処理方法を、本出願人が上記特開昭55
−87953号等において提案した、 非鋭鮮マスクの濃度をDus、オリジナル写真の濃度をD
org,強調係数をβ、コピー写真等に再生される濃度を
Ｄ′としたときに、 Ｄ′＝Dorg＋β（Dorg−Dus） ……（３） の式にしたがって特定の空間周波数成分を強調する演算
を行なう場合との基本的な差異について説明する。
−87953号等において提案した、 非鋭鮮マスクの濃度をDus、オリジナル写真の濃度をD
org,強調係数をβ、コピー写真等に再生される濃度を
Ｄ′としたときに、 Ｄ′＝Dorg＋β（Dorg−Dus） ……（３） の式にしたがって特定の空間周波数成分を強調する演算
を行なう場合との基本的な差異について説明する。
本発明についての最も単純な式は、上記（２）式の第１
項と第２項のみ、すなわち Ｄ′＝Db1−βｌ（Db2−Ｄus.l） ……（４） である。
項と第２項のみ、すなわち Ｄ′＝Db1−βｌ（Db2−Ｄus.l） ……（４） である。
この式（４）は前述したように、粒状雑音が有する空間
周波数成分を積極的に減衰させることを示している。
周波数成分を積極的に減衰させることを示している。
ところが粒子雑音が有する空間周波数は同時にシャープ
ネス等他の画質性能に影響する空間周波数と重なってい
ることが上記特開昭55−87953号の発明者らによって明
らかとなっており、このため粒子雑音が有する空間周波
数を積極的に減衰させると他の画質性能も回復不可能な
程度に劣化することが十分想像でき、したがって従来は
粒子雑音が有する空間周波数成分を積極的に減衰させず
に、粒状性能への寄与率よりシャープネス等他の画質性
能への寄与率が比較的大きな空間周波数成分を強調する
ことにより画質の改善を図っていたものである。
ネス等他の画質性能に影響する空間周波数と重なってい
ることが上記特開昭55−87953号の発明者らによって明
らかとなっており、このため粒子雑音が有する空間周波
数を積極的に減衰させると他の画質性能も回復不可能な
程度に劣化することが十分想像でき、したがって従来は
粒子雑音が有する空間周波数成分を積極的に減衰させず
に、粒状性能への寄与率よりシャープネス等他の画質性
能への寄与率が比較的大きな空間周波数成分を強調する
ことにより画質の改善を図っていたものである。
本発明者らは、粒状雑音の性質をさらに詳細に検討した
結果、減衰させるべき空間周波数と、この空間周波数を
減衰させる程度を微妙に選択して粒状雑音が有する空間
周波数成分を積極的に押えることにより、粒状雑音を目
立たなくし、かつシャープネス等他の画質性能を劣化を
最小限に押え得ることを見出したのである。しかも、上
記減衰を行なうための減衰係数βｌの最適値は、Ｘ線画
像の種類等により異なるが、０＜βｌ＜１の範囲内にこ
の最適値が存在していることが多いことから本願発明に
至ったものである。
結果、減衰させるべき空間周波数と、この空間周波数を
減衰させる程度を微妙に選択して粒状雑音が有する空間
周波数成分を積極的に押えることにより、粒状雑音を目
立たなくし、かつシャープネス等他の画質性能を劣化を
最小限に押え得ることを見出したのである。しかも、上
記減衰を行なうための減衰係数βｌの最適値は、Ｘ線画
像の種類等により異なるが、０＜βｌ＜１の範囲内にこ
の最適値が存在していることが多いことから本願発明に
至ったものである。
（実 施 例） 以下、添付図面を参照して本発明の実施例ついて説明す
る。
る。
第２図は、本発明のＸ線画像処理方法を使用したＸ線画
像処理装置の一例を示す斜視図である。
像処理装置の一例を示す斜視図である。
被写体のＸ線画像情報が記録されたオリジナル写真１は
モータ２により駆動される写真搬送手段３により、矢印
Ｙ方向に搬送（副走査）される。一方、レーザ光源４か
ら発せられた読出光５はモータ13により駆動され矢印方
向に高速回転する回転多面鏡６によって反射偏向され、
ｆθレンズ等の集束レンズ７を通過した後、ミラー８に
より光路を変えて前記オリジナル写真１に入射し前記副
走査の方向（矢印Ｙ方向）と略垂直な矢印Ｘ方向に主走
査する。この読出光５は、オリジナル写真１に記録され
たＸ線画像の濃度（オリジナル画像濃度）により強度変
調されて透過し、この透過した読出光が集光体10によっ
て集光され、光検出器としてのフォトマルチプライヤー
（光電子増倍管）11によって光電的に検出される。上記
集光体10はアクリル板等の導光性材料を成形して作られ
たものであり、直線状をなす入射端面10aがオリジナル
写真１上の主走査線に沿って延びるように配され、円環
状に形成された出射端面10bに上記フォトマルチプライ
ヤー11の受光面が結合されている。上記入射端面10aか
ら集光体10内に入射した読出光５は、該集光体10の内部
を全反射を繰り返して進み、出射端面10bから出射して
フォトマルチプライヤー11に受光され、前記Ｘ線画像情
報を担持する読出光５の光量がフォトマルチプライヤー
11によって検出される。
モータ２により駆動される写真搬送手段３により、矢印
Ｙ方向に搬送（副走査）される。一方、レーザ光源４か
ら発せられた読出光５はモータ13により駆動され矢印方
向に高速回転する回転多面鏡６によって反射偏向され、
ｆθレンズ等の集束レンズ７を通過した後、ミラー８に
より光路を変えて前記オリジナル写真１に入射し前記副
走査の方向（矢印Ｙ方向）と略垂直な矢印Ｘ方向に主走
査する。この読出光５は、オリジナル写真１に記録され
たＸ線画像の濃度（オリジナル画像濃度）により強度変
調されて透過し、この透過した読出光が集光体10によっ
て集光され、光検出器としてのフォトマルチプライヤー
（光電子増倍管）11によって光電的に検出される。上記
集光体10はアクリル板等の導光性材料を成形して作られ
たものであり、直線状をなす入射端面10aがオリジナル
写真１上の主走査線に沿って延びるように配され、円環
状に形成された出射端面10bに上記フォトマルチプライ
ヤー11の受光面が結合されている。上記入射端面10aか
ら集光体10内に入射した読出光５は、該集光体10の内部
を全反射を繰り返して進み、出射端面10bから出射して
フォトマルチプライヤー11に受光され、前記Ｘ線画像情
報を担持する読出光５の光量がフォトマルチプライヤー
11によって検出される。
フォトマルチプライヤー11から出力されたアナログ出力
信号Ｄは増幅器16によって増幅され、A/D変換器17にお
いて所定の収録スケールファクターでディジタル化され
る。
信号Ｄは増幅器16によって増幅され、A/D変換器17にお
いて所定の収録スケールファクターでディジタル化され
る。
このようにして得られたディジタル化されたオリジナル
画像濃度Dorgを表わす信号が演算部18に入力され、演算
部18では、各走査点に対応して周囲の所定範囲内の画像
濃度を平均化することによりボケマスクの濃度Ｄ
us.k（ｋ＝1,2,…,n;nは上記所定範囲を変えて求めたボ
ケマスクの個数）が求められ、演算部18に入力されたオ
リジナル画像濃度Dorgまたはこのオリジナル画像濃度D
orgを表わす信号に中間処理を施した画像濃度をDb1,Db2
および上記ボケマスクにそれぞれ対応してあらかじめ用
意されていた減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）を用いて、 の式に従って演算処理後の画像濃度Ｄ′が求められる。
画像濃度Dorgを表わす信号が演算部18に入力され、演算
部18では、各走査点に対応して周囲の所定範囲内の画像
濃度を平均化することによりボケマスクの濃度Ｄ
us.k（ｋ＝1,2,…,n;nは上記所定範囲を変えて求めたボ
ケマスクの個数）が求められ、演算部18に入力されたオ
リジナル画像濃度Dorgまたはこのオリジナル画像濃度D
orgを表わす信号に中間処理を施した画像濃度をDb1,Db2
および上記ボケマスクにそれぞれ対応してあらかじめ用
意されていた減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）を用いて、 の式に従って演算処理後の画像濃度Ｄ′が求められる。
尚、本明細書では、簡単のため、「画像濃度」を表わす
場合と、この「画像濃度を表わす信号」を表わす場合と
で同一の記号たとえばDorg等を用いている。
場合と、この「画像濃度を表わす信号」を表わす場合と
で同一の記号たとえばDorg等を用いている。
上記（５）式に示す演算処理のうち最も単純な演算処理
は、濃度Ｄus.lを有する１個のボケマスクと減衰係数β
ｌ（０＜βｌ＜１（βｌ≠１））を用いて、 Ｄ′＝Db1−βｌ（Db2−Ｄus.l） ……（６） の式に従った演算処理である。この演算処理は、ボケマ
スクの濃度Ｄus.lが有する空間周波数成分より高い空間
周波数成分を減衰させることを意味しており、減衰させ
る空間周波数成分と減衰の程度を適切に選択することに
より、身かけ上画像の粒状性能を向上させるとともに、
シャープネス等他の画質性能の劣化を最小限に押えるこ
とができる。
は、濃度Ｄus.lを有する１個のボケマスクと減衰係数β
ｌ（０＜βｌ＜１（βｌ≠１））を用いて、 Ｄ′＝Db1−βｌ（Db2−Ｄus.l） ……（６） の式に従った演算処理である。この演算処理は、ボケマ
スクの濃度Ｄus.lが有する空間周波数成分より高い空間
周波数成分を減衰させることを意味しており、減衰させ
る空間周波数成分と減衰の程度を適切に選択することに
より、身かけ上画像の粒状性能を向上させるとともに、
シャープネス等他の画質性能の劣化を最小限に押えるこ
とができる。
演算部18で上記演算の施された後の画像濃度Ｄ′はメモ
リ19に記録され、必要に応じて画像表示装置20にこの画
像濃度を表わす信号に基づくＸ線画像が再生表示され
る。
リ19に記録され、必要に応じて画像表示装置20にこの画
像濃度を表わす信号に基づくＸ線画像が再生表示され
る。
第3A図〜第3C図は、各々第２図に示した演算部18のそれ
ぞれ異なる構成例を示したブロック図である。
ぞれ異なる構成例を示したブロック図である。
第3A図の構成例では、オリジナル画像濃度Dorgを表わす
信号が図の左側から記憶手段21に入力され、一時記憶さ
れる。記憶手段21に一時記憶されたオリジナル画像濃度
Dorgを表わす信号が後述する減算手段24に直接入力され
るとともに第１のボケマスクの濃度を計算するボケマス
ク濃度計算手段22a等のｎ個のボケマスク濃度計算手段2
2a,22b,…,22nの並列に入力される。これらのボケマス
ク濃度計算手段22a,22b,…,22nでは、それぞれ各走査点
に対応して周囲のN1×N1個,N2×N2個，…,Nn×Nn個の走
査点の画像濃度を平均化してボケマスクの濃度Ｄus.1,D
us.2，…,Dus.nが求められる。これらのボケマスクの濃
度Ｄus.1,Dus.2，…,Dus.nはそれぞれ第１の減衰項計算
手段23a等のｎ個の減衰項計算手段23a,23b,…,23nに入
力され、それぞれ減衰項β１（Dorg−Ｄus.1），β
２（Dorg−Ｄus.2），…，βｎ（Dorg−Ｄus.n）が計算
される。これらの減衰項およびオリジナル画像濃度Dorg
が減算手段24に入力されて、 が計算され、演算処理後の画像濃度Ｄ′が求められる。
信号が図の左側から記憶手段21に入力され、一時記憶さ
れる。記憶手段21に一時記憶されたオリジナル画像濃度
Dorgを表わす信号が後述する減算手段24に直接入力され
るとともに第１のボケマスクの濃度を計算するボケマス
ク濃度計算手段22a等のｎ個のボケマスク濃度計算手段2
2a,22b,…,22nの並列に入力される。これらのボケマス
ク濃度計算手段22a,22b,…,22nでは、それぞれ各走査点
に対応して周囲のN1×N1個,N2×N2個，…,Nn×Nn個の走
査点の画像濃度を平均化してボケマスクの濃度Ｄus.1,D
us.2，…,Dus.nが求められる。これらのボケマスクの濃
度Ｄus.1,Dus.2，…,Dus.nはそれぞれ第１の減衰項計算
手段23a等のｎ個の減衰項計算手段23a,23b,…,23nに入
力され、それぞれ減衰項β１（Dorg−Ｄus.1），β
２（Dorg−Ｄus.2），…，βｎ（Dorg−Ｄus.n）が計算
される。これらの減衰項およびオリジナル画像濃度Dorg
が減算手段24に入力されて、 が計算され、演算処理後の画像濃度Ｄ′が求められる。
第3B図は、第3A図とは異なる演算部18の構成例を示した
ブロック図である。第3A図と同一の部分については第3A
図と同一の番号を付し、説明は省略する。
ブロック図である。第3A図と同一の部分については第3A
図と同一の番号を付し、説明は省略する。
この構成例におけるボケマスク濃度計算手段22′では、
まず各走査点を中心として３×３個の走査点の平均値を
求め、さらにこの平均値の平均値を求めることにより９
×９個、15×15個の走査点の平均値を求めるようにし
て、各減衰項計算手段23a,23b,…,23nに対応したボケマ
スクの濃度を計算し、各減衰項計算手段23a,23b,…,23n
に送るようにしたものである。こうすることによりボケ
マスクの濃度を効率よく計算することができる。
まず各走査点を中心として３×３個の走査点の平均値を
求め、さらにこの平均値の平均値を求めることにより９
×９個、15×15個の走査点の平均値を求めるようにし
て、各減衰項計算手段23a,23b,…,23nに対応したボケマ
スクの濃度を計算し、各減衰項計算手段23a,23b,…,23n
に送るようにしたものである。こうすることによりボケ
マスクの濃度を効率よく計算することができる。
第3C図は、第２図に示す演算部18の、さらに異なる構成
例を示したブロック図である。
例を示したブロック図である。
オリジナル画像濃度Dorgを表わす信号が一旦記憶手段2
1″に記憶された後、ボケマスク濃度計算手段22″に送
られる。ボケマスク濃度計算手段22″ではオリジナル画
像濃度Dorgに基づいて減衰係数β１に対応するボケマス
クの濃度Ｄus.lが計算される。このボケマスクの濃度Ｄ
us.lを表わす信号が減衰項計算手段23″に送られ、減衰
項計算手段23″ではβ１（Dorg−Ｄus.l）が計算され、
減算手段24″に送られる。減算手段24″では、オリジナ
ル画像濃度Dorgに中間処理を施した後の画像濃度D1＝D
org−β１（Dorg−Ｄus.l）が計算される。
1″に記憶された後、ボケマスク濃度計算手段22″に送
られる。ボケマスク濃度計算手段22″ではオリジナル画
像濃度Dorgに基づいて減衰係数β１に対応するボケマス
クの濃度Ｄus.lが計算される。このボケマスクの濃度Ｄ
us.lを表わす信号が減衰項計算手段23″に送られ、減衰
項計算手段23″ではβ１（Dorg−Ｄus.l）が計算され、
減算手段24″に送られる。減算手段24″では、オリジナ
ル画像濃度Dorgに中間処理を施した後の画像濃度D1＝D
org−β１（Dorg−Ｄus.l）が計算される。
この計算結果の画像濃度D1を表わす信号が、記憶手段2
1″に戻され、記憶手段21″に記憶されていたオリジナ
ル画像濃度Dorgのかわりに記憶される。この画像濃度D1
を表わす信号がボケマスク濃度計算手段22″に送られ、
今度は画像濃度D1に基づいて減衰係数β２に対応するボ
ケマスクの濃度Ｄus.2が計算され、このボケマスクの濃
度Ｄus.2を表わす信号が減衰項計算手段23″に送られβ
２（D1−Ｄus.2）の計算がなされる。この計算結果が減
算手段24″に送られ、画像濃度D1を表わす信号にさらに
第２の中間処理を施した画像濃度D2＝D1−β２（D1−Ｄ
us.2）が計算される。
1″に戻され、記憶手段21″に記憶されていたオリジナ
ル画像濃度Dorgのかわりに記憶される。この画像濃度D1
を表わす信号がボケマスク濃度計算手段22″に送られ、
今度は画像濃度D1に基づいて減衰係数β２に対応するボ
ケマスクの濃度Ｄus.2が計算され、このボケマスクの濃
度Ｄus.2を表わす信号が減衰項計算手段23″に送られβ
２（D1−Ｄus.2）の計算がなされる。この計算結果が減
算手段24″に送られ、画像濃度D1を表わす信号にさらに
第２の中間処理を施した画像濃度D2＝D1−β２（D1−Ｄ
us.2）が計算される。
以上のループをｎ回繰り返すことにより、最終的な演算
処理が施された画像濃度Ｄ′が、 Ｄ′＝Dn-1−βｎ（Dn-1−Ｄus.n） ……（７） として求まる。
処理が施された画像濃度Ｄ′が、 Ｄ′＝Dn-1−βｎ（Dn-1−Ｄus.n） ……（７） として求まる。
このように、中間処理を施した画像濃度D1,D2,…,Dn-1
を用いてボケマスクの濃度Ｄus.1,Dus.2，……,Dus.nの
計算および（７）式に代表される計算を行なうことによ
ってもシャープネス等の画質性能の劣化を最小限に押え
ながら粒状雑音を有効的に減衰させることができる。
を用いてボケマスクの濃度Ｄus.1,Dus.2，……,Dus.nの
計算および（７）式に代表される計算を行なうことによ
ってもシャープネス等の画質性能の劣化を最小限に押え
ながら粒状雑音を有効的に減衰させることができる。
上式（７）は、前述した第（５）式と比較すると、画像
濃度Db1,Db2として同一の画像濃度Dn-1を用いている
が、たとえば第３図に示す減衰項計算手段23″にもオリ
ジナル画像濃度Dorgを表わす信号を直接入力して記憶し
ておき、この減衰項計算手段23″における計算では中間
処理後の画像濃度D1,D2,…,Dn-1を使用せず、常にオリ
ジナル画像濃度Dorgを使用して、 β１（Dorg−Ｄus.1） β２（Dorg−Ｄus.2） ………………………… 等の計算を行ない、最終的に Ｄ′＝Dn-1−βｎ（Dorg−Ｄus.n） ……（８） の計算を行なう等、画像信号Db1,Db2が異なっていても
よい。
濃度Db1,Db2として同一の画像濃度Dn-1を用いている
が、たとえば第３図に示す減衰項計算手段23″にもオリ
ジナル画像濃度Dorgを表わす信号を直接入力して記憶し
ておき、この減衰項計算手段23″における計算では中間
処理後の画像濃度D1,D2,…,Dn-1を使用せず、常にオリ
ジナル画像濃度Dorgを使用して、 β１（Dorg−Ｄus.1） β２（Dorg−Ｄus.2） ………………………… 等の計算を行ない、最終的に Ｄ′＝Dn-1−βｎ（Dorg−Ｄus.n） ……（８） の計算を行なう等、画像信号Db1,Db2が異なっていても
よい。
第１図は、本発明のＸ線画像処理方法を用いてｎ＝２
（ボケマスクおよび減衰係数が２個）の場合について計
算した例を空間周波数領域で示したグラフである。横軸
は空間周波数を示しており、縦軸は直流成分を１とした
相対値を示している。簡単のため、演算処理後の画像濃
度Ｄ′を表わす信号をフーリエ変換して空間周波数領域
で示した信号も同様にＤ′で表現した。
（ボケマスクおよび減衰係数が２個）の場合について計
算した例を空間周波数領域で示したグラフである。横軸
は空間周波数を示しており、縦軸は直流成分を１とした
相対値を示している。簡単のため、演算処理後の画像濃
度Ｄ′を表わす信号をフーリエ変換して空間周波数領域
で示した信号も同様にＤ′で表現した。
グラフＡはあるＸ線画像について粒状雑音を押え、かつ
シャープネス等他の画質性能の劣化を最小限に押えるた
めに適切な空間周波数特性を示した理想的なグラフであ
る。このグラフＡに対しグラフＡ′は、ボケマスクの濃
度Ｄus.1,Dus.2としてそれぞれ各走査点の周囲15×15
個,5×５個の走査点の平均値を用い、減衰係数β1,β２
として各々β１＝0.1,β２＝0.4を用いて Ｄ′＝Dorg−β１（Dor8−Ｄus.1） −β２（Dorg−Ｄus.2） ……（９） の演算結果を空間周波数領域で示したグラフであり、グ
ラフＡと十分に近似している。
シャープネス等他の画質性能の劣化を最小限に押えるた
めに適切な空間周波数特性を示した理想的なグラフであ
る。このグラフＡに対しグラフＡ′は、ボケマスクの濃
度Ｄus.1,Dus.2としてそれぞれ各走査点の周囲15×15
個,5×５個の走査点の平均値を用い、減衰係数β1,β２
として各々β１＝0.1,β２＝0.4を用いて Ｄ′＝Dorg−β１（Dor8−Ｄus.1） −β２（Dorg−Ｄus.2） ……（９） の演算結果を空間周波数領域で示したグラフであり、グ
ラフＡと十分に近似している。
グラフＢは、他の放射線画像について最適な空間周波数
特性を示した理想グラフである。このグラフＢに対しグ
ラフＢ′は、ボケマスクの濃度Ｄus.1,Dus.2としてそれ
ぞれ各走査点の周囲15×15個,3×３個の走査点の平均値
を用い、減衰係数β1,β２として各々β１＝0.1,β２＝
0.8を用いて、 Ｄ′＝Dorg−β１（Dor8−Ｄus.1） −β２（Dorg−Ｄus.2） ……（10） の演算結果を空間周波数領域で示したグラフである。こ
の場合もグラフＢ′はグラフＢに十分に近似している。
特性を示した理想グラフである。このグラフＢに対しグ
ラフＢ′は、ボケマスクの濃度Ｄus.1,Dus.2としてそれ
ぞれ各走査点の周囲15×15個,3×３個の走査点の平均値
を用い、減衰係数β1,β２として各々β１＝0.1,β２＝
0.8を用いて、 Ｄ′＝Dorg−β１（Dor8−Ｄus.1） −β２（Dorg−Ｄus.2） ……（10） の演算結果を空間周波数領域で示したグラフである。こ
の場合もグラフＢ′はグラフＢに十分に近似している。
このように、被写体の種類、被写体に照射したＸ線の強
度等によりＸ線画像を区分しておき、各Ｘ線画像に適合
するようにボケマスクの濃度の計算方法および減衰係数
の値を定めておいて前述の方法にしたがって演算処理を
行なうことにより、そのＸ線画像の粒状雑音を効果的に
減衰させるとともにシャープネス等他の画質性能の劣化
を最小限に押えた再生画像を得ることができる。
度等によりＸ線画像を区分しておき、各Ｘ線画像に適合
するようにボケマスクの濃度の計算方法および減衰係数
の値を定めておいて前述の方法にしたがって演算処理を
行なうことにより、そのＸ線画像の粒状雑音を効果的に
減衰させるとともにシャープネス等他の画質性能の劣化
を最小限に押えた再生画像を得ることができる。
（発明の効果） 本発明は、Ｘ線画像情報が記録されているオリジナル写
真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度を読み取っ
た後、減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも
ひとつの減衰係数βｌが減衰を行うための最適値である
０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の範囲内にある定数であり、 の式にしたがって演算を行なうようにしたため、ボケマ
スクの濃度Ｄus.lが有している空間周波数成分より高い
空間周波数成分を減衰させることができ、Ｘ線画像の粒
状雑音を有効に減衰させるとともに、他の画質性能の劣
化を最小限に押えることができる。またこの方法を実施
する装置が特に複雑となることはなく、演算時間も十分
許容できる範囲内とすることができる。
真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度を読み取っ
た後、減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも
ひとつの減衰係数βｌが減衰を行うための最適値である
０＜βｌ＜１（βｌ≠１）の範囲内にある定数であり、 の式にしたがって演算を行なうようにしたため、ボケマ
スクの濃度Ｄus.lが有している空間周波数成分より高い
空間周波数成分を減衰させることができ、Ｘ線画像の粒
状雑音を有効に減衰させるとともに、他の画質性能の劣
化を最小限に押えることができる。またこの方法を実施
する装置が特に複雑となることはなく、演算時間も十分
許容できる範囲内とすることができる。
【図面の簡単な説明】 第１図は、本発明のＸ線画像処理方法を用いて計算した
例を空間周波数領域で示したグラフ、 第２図は、本発明のＸ線画像処理方法を実施したＸ線画
像処理装置の一例を示す斜視図、 第3A図〜第3C図は、第２図に示した演算部のそれぞれ異
なる構成例を示したブロック図である。 １……オリジナル写真 2,13……モータ、３……写真搬送手段 ４……レーザー、６……回転多面鏡 10……集光体 11……フォトマルチプライヤー 16……増幅器、17……A/D変換器 18……演算部、19……メモリ 20……画像表示装置
例を空間周波数領域で示したグラフ、 第２図は、本発明のＸ線画像処理方法を実施したＸ線画
像処理装置の一例を示す斜視図、 第3A図〜第3C図は、第２図に示した演算部のそれぞれ異
なる構成例を示したブロック図である。 １……オリジナル写真 2,13……モータ、３……写真搬送手段 ４……レーザー、６……回転多面鏡 10……集光体 11……フォトマルチプライヤー 16……増幅器、17……A/D変換器 18……演算部、19……メモリ 20……画像表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9163−4Ｃ Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０ Ｎ
Claims (5)
- 【請求項１】Ｘ線画像情報が記録されているオリジナル
写真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度を読み取
った後、コピー写真等にＸ線画像を可視像として再生す
るにあたり、 各走査点に対応して周囲の所定範囲内のオリジナル画像
濃度またはこのオリジナル画像濃度を表わす信号に中間
処理を施した画像濃度を平均化することにより求めた１
個または前期所定範囲を変えて求めた複数個のボケマス
クの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…,n;nはボケマスクの個数
を示す整数）、前記オリジナル画像濃度またはこのオリ
ジナル画像濃度を表わす信号に中間処理を施した後の画
像濃度をDb1,Db2、前記１個または複数個のボケマスク
にそれぞれ対応する１個または複数個の減衰係数をβｋ
（ｋ＝1,2,…,n）、演算処理後の画像濃度をＤ′とした
ときに、 前記減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１
個の減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が ０＜βｌ＜１ の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行ない、 前記減衰係数βｌに対応するボケマスクの濃度Ｄus.lが
有する空間周波数成分より高い空間周波数成分を減衰さ
せることを特徴とするＸ線画像処理方法。 - 【請求項２】前記オリジナル画像濃度またはこのオリジ
ナル画像濃度を表わす信号に中間処理を施した後の画像
濃度Db1,Db2が、いずれも同一の前記オリジナル画像濃
度であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
Ｘ線画像処理方法。 - 【請求項３】前記オリジナル画像濃度またはこのオリジ
ナル画像濃度を表わす信号に中間処理を施した画像濃度
Db1,Db2が、いずれも前記オリジナル画像濃度を表わす
信号に同一の中間処理を施すことにより得られた、同一
の画像濃度であることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載のＸ線画像処理方法。 - 【請求項４】前記オリジナル画像濃度またはこのオリジ
ナル画像濃度を表わす信号に中間処理を施した画像濃度
Db1,Db2のうちの一方が、前記オリジナル画像濃度また
はこのオリジナル画像濃度を表わす信号に第１の中間処
理を施した画像濃度であり、他方が、前記オリジナル画
像濃度を表わす信号に第２の中間処理を施した画像濃度
であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ
線画像処理方法。 - 【請求項５】Ｘ線画像情報が記録されているオリジナル
写真を走査し、各走査点のオリジナル画像濃度を読み取
った後、このオリジナル画像濃度を表わす信号を演算部
で処理し、処理後の画像濃度を表わす信号に基づいて、
コピー写真等にＸ線画像を可視像として再生するＸ線画
像処理装置において、 前記演算部が、各走査点に対応して周囲の所定範囲内の
オリジナル画像濃度またはこのオリジナル画像濃度を表
わす信号に中間処理を施した画像濃度を平均化すること
により求めた１個または前記所定範囲を変えて複数個の
ボケマスクの濃度をＤus.k（ｋ＝1,2,…n;nはボケマス
クの個数を示す整数）、前記オリジナル画像濃度または
このオリジナル画像濃度を表わす信号に中間処理を施し
た画像濃度をDb1,Db2、前記１個または複数個のボケマ
スクにそれぞれ対応する１個または複数個の減衰係数を
βｋ（ｋ＝1,2,…,n）、演算処理後の画像濃度をＤ′と
したときに、 前期減衰係数βｋ（ｋ＝1,2,…,n）のうち少なくとも１
個の減衰係数βｌ（ｌは１〜ｎ内の整数）が ０＜βｌ＜１ の範囲にある定数であり、この減衰係数βｌを用いて、 の式にしたがって演算を行なうものであることを特徴と
するＸ線画像処理装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62265016A JPH0743766B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | Ｘ線画像処理方法および装置 |
| US07/259,814 US5051902A (en) | 1987-10-20 | 1988-10-19 | Method and apparatus for radiation image processing and x-ray image processing, including spatial frequency filtering to improve graininess |
| CA000580626A CA1316591C (en) | 1987-10-20 | 1988-10-19 | Method and apparatus for radiation image processing and x-ray image processing |
| EP88117483A EP0313042B1 (en) | 1987-10-20 | 1988-10-20 | Method and apparatus for radiation image processing and x-ray image processing |
| DE88117483T DE3887624T2 (de) | 1987-10-20 | 1988-10-20 | Verfahren und Vorrichtung zur Strahlungsbildverarbeitung und Röntgenstrahlen-Bildverarbeitung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62265016A JPH0743766B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | Ｘ線画像処理方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01106276A JPH01106276A (ja) | 1989-04-24 |
| JPH0743766B2 true JPH0743766B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=17411409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62265016A Expired - Fee Related JPH0743766B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | Ｘ線画像処理方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743766B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5633746B2 (ja) * | 1974-03-29 | 1981-08-05 | ||
| JPS59141871A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像走査記録時における鮮鋭度強調方法 |
-
1987
- 1987-10-20 JP JP62265016A patent/JPH0743766B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01106276A (ja) | 1989-04-24 |
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