JPH07318614A - ファンクションテスト・システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】投資効果が高く、被測定プリント基板の品質向
上と検査の生産性向上に寄与する、コンパクトな汎用フ
ァンクションテスタを提供する。 【構成】各種の計測器および制御器を同一寸法の薄い矩
形状モジュールに形成し、各モジュールを、計測器ラッ
クに平行に設けられた複数のスロットに任意の順序で挿
入してコンパクトな計測制御モジュール群を構成する。
この計測制御モジュール群を、検査プログラムを内蔵す
るパソコンとＶＭＥバスを介して接続すると共に、被測
定基板と測定バスで接続する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子機器等の測定物、
例えばプリント基板に搭載されている素子、配線等の広
範囲な機能試験に使用する各種のファンクションテスタ
で構成された汎用性のあるシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来技術における電子機器の製造工程に
おいては、それを構成する各種の測定物、例えば各種の
プリント基板の品質保証のために各種機能試験が行われ
ている。これらの機能試験を行うためのテストシステム
には、汎用テスタを組み合わせた簡単で安価な計測装置
から、それぞれのプリント基板用に構築された高価な専
用のテスタ、例えばディジタルインサーキットテスタま
で色々存在する。

【０００３】そして、これらのテスタを利用して、プリ
ント基板に搭載されている素子、配線等からなる回路の
機能を検査するために、プリント基板を治具に納め、そ
の上側、又は下側から測定用接続端子を予め定まった位
置に接続し、所定の信号を供給して、その結果を測定し
たり、又、所定の電圧をかけ、その電圧の変動状態を観
察したり、又は所定の周波数からなる信号を供給して、
その信号がどのように変化するか等のプリント基板のに
搭載されているマイコン等の素子を形成するブロック単
位での機能検査に限定されず、基板全体の機能検査をし
てより信頼性のあるプリント基板等を供給する。

【０００４】そのため、機能検査の項１目によっては極
めて正確なデータを要求され、単に導通試験等の測定領
域を逸脱した高性能のテスタ、即ちファンクションテス
タが必要となり、且つ、機能検査項目に対応した専用の
ファンクションテスタを備えて、各種の機能検査を行っ
ていた。

【０００５】このようなファンクションテスタを動作さ
せるためには、専用の言語、及びプログラムを解析、解
読して独自の機能検査用のテストパターンの作成、測定
対象物に対応した独特の検査項目に合わせた測定項目の
設定等全て専門的な技術を必要としていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記説
明した従来のファンクションテスタには、下記のような
問題点がある。

【０００７】（１）プリント基板の回路の解析、テスト
パターンの作成、プログラムの作成、デバッグ等に多大
の開発費用と開発時間がかかる。特に近年、検査対象プ
リント基板が多品種少量化する傾向にあるため、この問
題は特に重要な問題となっている。

【０００８】（２）テストプログラムは複雑なテスト専
用プログラム言語を用いて作成されているため、専門の
技術者でなければ作成することにができないため、測定
作業にゆくまでに多大な時間を必要としているという問
題点。

【０００９】（３）汎用性がないため、多品種少量のプ
リント基板に適用できる融通性が少なく、高性能高額化
しているファンクションテスタの投資効果が低くなって
きているという問題点。

【００１０】（４）部品レベルまたはコンポーネントレ
ベルでの単体での機能試験を目的とするものが多く、電
子機器全体の機能試験を行うためには機能を異なる各種
のファンクションテスタを組み合わせる機能試験には不
向きな構成となっているという問題点。

【００１１】（５）基板毎に測定治具（フィクスチャ
ー）が異なるうえ、プログラム作成及びデバッグに要す
るコストが高くついてしまうという問題点。

【００１２】従って、機能の異なる各種のファンクショ
ンテスタを利用して、異なる各種の機能検査をする操作
及び測定手順等の共通化を図ることに解決しなければな
らない課題を有している。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明によるファンクションテスト・システムは、
被測定物を装着するための治具と、該測定物の機能を検
査するために異なる検査機能を有する各種のファンクシ
ョンテスタと、該ファンクションテスタの機能検査を操
作する検査制御部とからなり、前記各種のファンクショ
ンテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形成したこ
とである。

【００１４】又、上記各種のモジュールタイプのファン
クションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロット
を設けたこと；上記各種のファンクションテスタは、前
記検査制御部とバスラインで接続したこと；上記各種の
ファンクションテスタの相互間をバスラインで接続した
こと；上記各種のファンクションテスタの操作は、画面
上に表示された疑似パネルで行うようにしたこと；上記
各種のファンクションテスタは、前記測定物の機能検査
項目に応じて適宜選択できるようにしたこと；上記各種
のファンクションテスタで測定する前記測定物は、プリ
ント基板であるファンクションテスト・システムであ
る。

【００１５】

【作用】上記構成にした本発明に係るファンクションテ
スト・システムは下記に示すような作用を奏する。

【００１６】（１）異なる検査機能を有する各種のファ
ンクションテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形
成したことにより、コンパクトにまとめたモジュール群
にすることができ、単体計測器を、例えばＧＰ−ＩＢ等
のバスラインで接続し、Ｃ−言語等で計測できるシステ
ムの構築を図ることができるようになる。

【００１７】（２）各種のモジュールタイプのファンク
ションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロットを
設けたことにより、測定物の機能検査項目に対応したフ
ァンクションテスタだけを適宜組み替えることができ、
例えば顧客仕様による専用ファンクションテスタのシス
テムの構築が容易に行えるようになる。

【００１８】（３）各種のファンクションテスタは、検
査制御部とバスラインで接続したことにより、測定物の
検査項目に対応したファンクションテスタを組み替えて
も操作及び検査手順等が簡単に行うことができ、例えば
高級高性能と称するディジタルインサーキットテスタに
代替えするテスタを構築できるようになる。

【００１９】（４）各種のファンクションテスタの相互
間をバスラインで接続したことにより、例え測定物の機
能検査が複数項目、及び全体的な検査であっても簡単な
操作で行うことができ、例えばＧＰ−ＩＢ等のバスライ
ンで接続し、Ｃー言語等で計測できるシステムの構築が
極めて容易となる。

【００２０】（５）各種のファンクションテスタの操作
は、画面上に表示された疑似パネルで行うようにしたこ
とにより、夫々のファンクションテスタの操作を同一箇
所で迅速、且つ簡単に行うことができ、例えば装備され
ているファンクションテスタの名称を登録したり、疑似
パネルで単体計測器の操作パネルを実際に操作するのと
同じ要領で計測条件をセットできるようになる。

【００２１】また、測定者は、表示画面に表示される計
測器疑似パネルを見ながら、実物のファンクションテス
タを操作するのと同じ感覚で測定を行うことができ、夫
々のファンクションテスタ特有のテスタ言語を修得する
必要性がなくなり、検査の生産性が向上する。

【００２２】更に、表示画面上で簡単なテストステップ
からなるテストプログラムを作成することができるか
ら、テストプログラムを楽に短時間で作成することがで
きる。このテストプログラムは、あらかじめ被測定物に
関する分析と検査計画とによって綿密にプログラムされ
ているから、検査の落ちや誤りが起こらず、従って、検
査の品質が向上する。

【００２３】（６）各種のファンクションテスタは、測
定物の機能検査項目に応じて適宜選択できるようにした
ことにより、例え必要としないファンクションテスタが
混在していても機能検査項目に応じた機能検査設定が容
易に行うことができるようになる。

【００２４】（７）各種のファンクションテスタで測定
する測定物は、プリント基板であることにより、種類の
異なるプリント基板及び多品種少量のプリント基板であ
っても、夫々に応じた機能検査項目の設定が容易に行う
ことができるようになる。

【００２５】

【実施例】以下、本発明によるファンクションテスト・
システムの実施例について説明する。尚、実施例におい
て被測定物である検査対象物はプリント基板を対象にし
て説明する。

【００２６】本実施例のファンクションテスト・システ
ムの基本構成は、図１に示すように、パソコン１と、シ
ステムコントロール２と、各種のファンクションテスタ
に相当する計測制御モジュール群３と、治具に相当する
フィクスチャ４と、ファンクションテスタ用バス５と、
計測バス６と、計測器７とから構成されている。

【００２７】パソコン１は、通常汎用されているパソコ
ンであって、ハードウェアとしては、ＣＰＵ、メモリ、
ディスプレイ、フロッピーディスクドライブ、ハードデ
ィスクドライブ、プリンタ、キーボード、マウス、ＶＭ
Ｅアダプタ等を備えており、ソフトウェアとしては、オ
ペレーティングシステムとして汎用のＭＳーＤＯＳと、
この汎用ファンクションテスタのために開発されたファ
ンクションテスタ用ソフトウェアを備えている。

【００２８】このファンクションテスタ用ソフトウェア
は、使用者が従来のような複雑なテスト用言語を使用す
る必要がなく、ディスプレイに表示される対話型ポップ
パネルを用いて対話式のテストステップ定義を実行する
ことにより、誰でも簡単に短時間でテストプログラムの
開発を行うことができるように構成されている。

【００２９】また、ファンクションテスタ用ソフトウェ
アは、使用者がディスプレイに表示される仮想計測器疑
似パネルをマウスで操作することによって、従来の計測
器を操作するのと同様の感覚で自動基板検査および手動
による故障診断等を行うことができるように構成されて
いる。

【００３０】さらに、ファンクションテスタ用ソフトウ
ェアは、測定物であるプリント基板の検査結果の統計処
理、表示、印刷等を容易に行うことができるように構成
されている。

【００３１】システムコントロール２は、プリント基板
の検査時にパソコン１へ入力される使用者の各種要求信
号に応じて、計測制御モジュール群３の選択、計測の実
施、計測結果のパソコン１への転送等の計測全般を制御
する。なお、システムコントロール２は後述する計測制
御モジュールと同一形状に形成され、計測制御モジュー
ルラックの一端に固定収納されている。

【００３２】計測制御モジュール群３は、所謂異なる機
能検査を有する各種のファンクションテスタで構成さ
れ、夫々が同形の矩形形状に形成されており、基本仕様
モジュールとしてデジタルマルチメータ、電源コントロ
ール、マルチプレクサーの３つのモジュールを有し、こ
の他オプションとして、ユニバーサルカウンタ、ファン
クションジェネレータ、波形テスト、ディジタルテス
ト、ディジタル入出力、キーボードマトリックス、ブザ
ーＬＥＤテスト、ＲＯＭエミュレーション、リレー、バ
ーコード、ＧＲＩＢアダプタ等の豊富な計測制御モジュ
ールを有している。

【００３３】上記のファンクションテスタの相当する各
計測制御モジュールは、同一の矩形、薄厚の箱状に形成
されており、、図２に示すように、適当な計測制御モジ
ュールラック３ａの中に平行に設けられた複数（例えば
２１個）のスロット３ｂに任意の順序で挿入されるよう
になっている。このようにして、コンパクトで小型の計
測制御モジュール群３が形成される。

【００３４】しかも各計測制御モジュールは、スロット
３ｂの位置を選ばず、自由なスロット３ｂに抜き差しで
きる構造となっており、そのモジュールの認識はバスを
介して各モジュールの持っている認識番号等で判別され
る。

【００３５】計測制御モジュール群３を構成する計測制
御モジュールとしては、検査対象となるプリント基板に
より色々な組み合わせが可能である。例えば、ワープロ
のプリント基板用、多機能電話機のプリント基板用、オ
ーディオアンプのプリント基板等のファンクションテス
タの計測制御モジュール群は、それぞれ、下記のように
構成することができる。

【００３６】（構成例１）ワープロプリント基板用ファ
ンクションテスタ ・基本計測制御モジュール（ファンクションテスタ）と
して、 （１）ディジタルマルチメータ （２）マルチプレクサー（３０ポイント、４つの測定バ
スの接続） （３）電源コントロール

【００３７】・オプションモジュール（ファンクション
テスタ）として、 （１）ＬＣＤ基本データの吸い上げのためのディジタル
テストモジュール （２）各クロックの測定のためのユニバーサルカウンタ （３）疑似キーボードのためのキーボードマトリックス （４）ブザー、ＬＥＤのチェックのためのブザーＬＥＤ
テストモジュール

【００３８】（構成例２）多機能電話機のプリント基板
用ファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール（ファンクションテスタ）と
して、 （１）ディジタルマルチメータ （２）マルチプレクサー（３０ポイント、４つの測定バ
スの接続） （３）電源コントロール ・オプション計測制御モジュール（ファンクションテス
タ）として、 （１）電話回線信号発生のためのファンクションジェネ
レータ （２）スイッチ設定のためのリレイモジュール （３）疑似キーボードのためのキーボードマトリックス （４）ブザー、ＬＥＤのチェックのためのブザーＬＥＤ
テストモジュール （５）パルスの測定のためのユニバーサルカウンタ

【００３９】（構成例３）オーディオアンプのプリント
基板のファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール（ファンクションテスタ）と
して、 （１）ディジタルマルチメータ （２）マルチプレクサー（３０ポイント、４つの測定バ
スの接続） （３）電源コントロール ・オプション計測制御モジュール（ファンクションテス
タ）として、 （１）テープ疑似信号発生のためのファンクションジェ
ネレータ （２）スイッチ設定のためのリレイモジュール （３）ブザー、ＬＥＤのチェックのためのブザーＬＥＤ
テストモジュール

【００４０】フィクスチャ４は、検査対象プリント基板
を装着するための治具であり、その上側又は下側から複
数の測定用の接続ピンが下降、上昇して特定の測定ポイ
ントに接続される。

【００４１】ＶＭＥ標準バス５は、システムコントロー
ル２とファンクションテスタである各計測制御モジュー
ルとの間の接続をするバスである。

【００４２】測定バス６は、ファンクションテスタであ
る各計測制御モジュールと被測定基板との間、および、
各計測制御モジュールの相互間を接続しているバスであ
る。

【００４３】計測器７は、従来の計測器であり、計測器
用バス８によりパソコン１と接続されており、これによ
って、ファンクションテスト・システムであっても従来
からのファンクションテスタ等の計測器をも適宜使用す
ることができる構成となっている。

【００４４】上記構成にしたファンクションテスト・シ
ステムにおいては、例えば下記のようなアナログ測定お
よびディジタル測定を行うことができる。 １．アナログ測定 １．１ 入力 直流電圧測定 １０μＶ〜３００Ｖ 交流電圧測定 １０μＶ〜３００Ｖ（ＲＭＳ） 抵抗測定 １０ｍΩ〜１ＭΩ 周波数測定 ０．１Ｈｚ〜１００ＭＨｚ 周期、時間間隔測定 １００ｎｓ〜４０ｓ 周波数比の測定 ０．１ＨＺ〜１００ＭＨｚ カウント １〜１０，０００，０００，０００ 任意波形入力 リアルサンプリング ＤＣ〜５ＭＨｚ 等価サンプリング ＤＣ〜１００ＭＨｚ 入力最大ポイント数 ４８０

【００４５】 １．２ 出力 出力波形 ＳＩＮ波、三角波、任意波、ＴＴＬパルス 周波数 ＳＩＮ波 ０．５Ｈｚ〜２．０ＭＨｚ 三角波 ０．５Ｈｚ〜２５６ＫＨｚ 任意波 ０．５Ｈｚ〜２５６ＫＨｚ ＴＴＬ ２５．６Ｈｚ〜２５．６ＭＨｚ 電圧範囲 −１０Ｖ〜＋１０Ｖ（開放の時） ５０Ω出力インピーダンス 出力モード 連続、シングル、外部ゲート 同時出力チャンネル数 ４チャンネル 最大出力数 １ＭＨｚ以下で４８０ポイント

【００４６】 ２．ディジタル測定 ２．１ 入力 入力チャンネル １６チャンネル／モジュール （最大１６モジュール） サンプリングレート ２００ｍｓ〜５０ｎｓ パターン長 １Ｋバイト（最大３２Ｋバイト）

【００４７】 ２．２ 出力 出力チャンネル １６チャンネル／モジュール （最大１６モジュール） 出力分解能 ２００ｍｓ〜５０ｎｓ パターン長 １Ｋバイト（最大３２Ｋバイト）

【００４８】３．その他 上記機能の他下記の利用が可能である。 測定器用アダプタによる外部計測器の利用 ８×８キーボードマトリックス ２チャンネルのブザー、８チャンネルのＬＥＤ検出 ３２チャンネルリレー 疑似負荷

【００４９】以下、上記構成及び機能を備えたファンク
ションテスト・システムにおけるファンクションテスタ
用ソフトウェアによるテストプログラムの作成から、プ
リント基板の機能検査の実行および故障診断の流れにつ
いて図３及び図４に示すフローチャートを用いて説明す
る。

【００５０】（１）検査対象となるプリント基板の検査
仕様および回路図に基づき基板詳細検査仕様を決定する
（ステップＳＴ１、ＳＴ２、ＳＴ３）。

【００５１】（２）ディスプレイに表示される図４に示
すような対話型ポップパネルの画面によりプリント基板
に対して最大３２個のテストプログラムを割り当て、編
集画面表示による編集をする（ステップＳＴ４）。編集
画面表示は、図５に示すように、例えば電圧不足、バス
のタイミング状態、・オプション計測制御モジュール
（ファンクションテスタ）として、パターンの出力等の
各種の機能検査の結果を”ＰＡＳＳ”、”ＦＡＩＬ”等
の表示で素人でも理解できるように表示される。

【００５２】（３）次に、最初のテストプログラムの各
検査ステップを定義すると共に、計測制御モジュールを
選択する（ステップＳＴ５）。検査ステップは、高機能
の編集コマンド（削除、コピー、ペースト、挿入）を用
いて、簡単なコマンドステップ（フェールストップ、ス
テップリトライ）により定義することができるようにな
っている。

【００５３】又、検査ステップは、１ステップ毎のデバ
ッグが可能である。また、ステップの不良辞典として、
最大２５６文字のコメントを入力することができるよう
になっている。

【００５４】（４）計測器疑似パネルをディスプレイ上
に表示させ、これにより、各測定条件を設定する（ステ
ップＳＴ６）。

【００５５】（５）計測器疑似パネル上のＥＤＩＴボタ
ンを押して自動判定基準を設定する（ステップＳＴ
７）。

【００５６】（６）このテストプログラム内のすべての
検査ステップについて上記ステップＳＴ５〜ＳＴ７を繰
り返す（ステップＳＴ８）。

【００５７】（７）このテストプログラムについて、上
記編集が終了したら、つぎのテストプログラムについ
て、ステップＳＴ４〜ステップＳＴ８を繰り返す（ステ
ップＳＴ９）。

【００５８】（８）テストプロジェクトの中の全てのテ
ストプログラムについての編集が終了したら、テストプ
ロジェクトと、テストプログラムを記録媒体、例えばフ
ロッピィディスク等に保存する（ステップＳＴ１０）。

【００５９】尚、テストプログラムは、プリント基板の
機能ブロックまたは物理的ブロック毎に最大２５６ステ
ップで作成され、最大３２個のテストプログラムで一つ
のテストプロジェクトにまとめられて記録媒体に格納さ
れライブラリ化される。

【００６０】（９）上記格納されているテストプログラ
ムを読出し、プリント基板の機能検査（ＧＯ／ＮＧ検
査）を行う（ステップＳＴ１１）。機能検査は計測器疑
似パネルにより、本物の計測器を操作するのと同様の感
覚で、自動テストからプリント基板診断のための手動計
測まで自由に行うことができる。また、検査中、テスト
ステップをスクロール表示させることができる。

【００６１】（１０）検査の結果、”ＧＯ”となった時
は、検査成績書を作成、印刷させた後、つぎの工程へ進
む（ステップＳＴ１２）。

【００６２】（１１）検査の結果、”ＮＧ”となった時
は、ＮＧ（不良）情報を印刷させる（ステップＳＴ１
３）。ＮＧ情報には、豊富な統計処理機能により、テス
トプログラム毎のＮＧ率やワースト１０ステップ情報等
を出力させることができる。

【００６３】（１２）ＮＧとなったテストプログラムま
たは検査ステップについて、不良辞書機能と手動計測モ
ードでの詳細計測により不良箇所を判定し（ステップＳ
Ｔ１４）、不良箇所の修理を行う（ステップＳＴ１
５）。この場合、サンプリング機能により、測定データ
を表示させながら手動調整を行うことができるようにな
っている。

【００６４】このようにして共通化された検査手順を介
して種々の機能検査に必要な操作を画面を見ながら行う
ことができるのである。以下、ファンクションテスタで
あるところの基本計測制御モジュールの内、ディジタル
マルチメータと、オプションモジュールの中のユニバー
サルカウンタと、ディジタルテストモジュールと、ディ
ジタル入出力モジュールとについて図面を参照にして説
明する。

【００６５】１．ディジタルマルチメータ １．１ 概要 ５桁浮動式平衡型のディジタルマルチメータは、計測制
御モジュールと計測器疑似パネルとから構成されてい
る。

【００６６】被検査プリント基板をモジュールのフロン
トパネルの端子に接続することによって単体計測器とし
て使用するか、または、画面上に表示される図６に示す
ようなマトリックスボード（ＭＰＸボード）を使って多
ポイントの電圧および抵抗を自動測定を行うことができ
る。

【００６７】ＭＰＸ画面では、テストステップ毎に、測
定バスと抽出ピンとをマウスを使用して接続することが
できる。

【００６８】１．２ 特徴 （１）測定機能 ＤＣ電圧 ＡＣ電圧 抵抗測定 （２）積分型Ａ／Ｄコンバータを使用し、通常のノイズ
の除去ができる。 （３）浮動式平衡型の入力により、コモンモード電圧を
除去することができる。 （４）オートゼロおよび自動調整により、測定精度を自
動的に調整することができる。 （５）外部トリガによって測定を起動することができ
る。 （６）トリガを受けると、最大１００回の測定（サンプ
リング）を指定することができる。

【００６９】１．３ 仕様と機能 （１）ディジタルマルチメータは、ＶＸＩバスＢサイズ
（１６０ｍｍ×２３４ｍｍ）の寸法であり、計測制御モ
ジュールラックの２スロット（幅４０ｍｍ）を占める。
電源電圧は、＋５Ｖ、＋１２Ｖ、−１２Ｖである。

【００７０】 （２）測定機能と範囲 ＤＣ電圧測定：０Ｖ〜±３００Ｖ（フロントパネルから入力） ０Ｖ〜±４０Ｖ（ＭＰＸ、リアコネクタを通じて入力） ＡＣ電圧測定：０Ｖ〜±３００Ｖｒｍｓ（フロントパネルから入力） ０Ｖ〜±４０Ｖｐｐ（ＭＰＸ、リアコネクタを通じて入 力） 周波数 ２０Ｈｚ〜１０ＫＨｚ ＡＣ結合 抵抗測定 ：０Ω〜１ＭΩ （３）入力 方式 ：浮動式平衡型 インピーダンス：１０ＭΩ （４）Ａ／Ｄコンバータ 方式 ：積分型ＡＤ変換 分解能 ：３バイト 積分時間 ：１００μｓ、２．５ｍｓ、２０ｍｓ、３２０ｍｓ １６．７ｍｓ、２６７ｍｓ（６０Ｈｚ電源を使用する場 合） （５）トリガ機能 ：トリガソース 即時、バス、外部の各モード ：トリガ遅延 １ｍｓ〜１０ｓ （６）サンプリング回数：最大１００回 （７）自動補正 ：オートゼロおよびオフセット補正

【００７１】１．４ ディジタルマルチメータの使用法 １．４．１．入力特性と接続 ディジタルマルチメータの入力端子は、図７に示すよう
に、本体から絶縁された浮動平衡型差動式であって、端
子ＨＴと端子ＣＯＭとの間のインピーダンスは等しい。
ＨＴ端子とＬＴ端子の相違は極性だけである。

【００７２】ディジタルマルチメータの計測器疑似パネ
ルを図８に示す。計測器疑似パネルにおいて、”入力は
ＭＰＸ”と設定する場合には、ＨＴ入力を測定バスのＡ
バスに、ＬＴ入力をＢバスに、ＣＯＭ端子をグランド
に、それぞれ接続する。これにより、被測定電圧および
被測定抵抗は、ＭＰＸボードによりＡバスおよびＢバス
を通してディジタルマルチメータに入力する。

【００７３】計測器疑似パネルにおいて、”入力はＦＲ
ＯＮＴ”と設定する場合には、ＣＯＭ端子をグランドと
接続し、ＨＴ端子、ＬＴ端子はそれぞれ、モジュールの
ＬＴ端子、ＨＴ端子と接続する。

【００７４】１．４．２．ＤＣ電圧の測定 入力のＬＴ端子およびＨＴ端子を両方共被測定基板と接
続する。また、グランドに対して他の点の電圧を測定す
る時には、ＬＴ端子をグランドに接続する。分解能はレ
ンジとアパーチャ時間（または積分時間）により選ぶ。
積分時間はＡＣ電源の１サイクルあるいは１６サイクル
を選択することができる。レンジと積分時間とを指定し
たときの電圧測定の分解能を表１に示す。

【００７５】

【表１】

【００７６】１．４．３ ＡＣ電圧の測定 ＡＣ電圧の測定方法はＤＣ電圧の測定と同様である。Ａ
Ｃ電圧の測定は、ＡＣ結合で行われる。従って、ＤＣオ
フセットは印加されない。また、ＲＭＳコンバータを使
用しているので、非正弦波の電圧を正確に測定すること
ができる。

【００７７】１．４．４ 抵抗の測定 抵抗の測定は、内部電流源をオンにし、未知抵抗器の両
端に電圧を発生させ、発生した電圧を印加電流で割算し
て抵抗を算出する。抵抗測定の分解能は表２の通りであ
る。

【００７８】

【表２】

【００７９】抵抗の測定は２線式で行い、測定リードの
抵抗は無視される。また、ＭＰＸボードから入力する場
合には、自動補正の設定をオンにすると、ＭＰＸボード
のオン抵抗を測定し、それを測定抵抗値から引き算して
補正するようになっている。

【００８０】１．４．５ レンジの設定 レンジの設定にはマニュアルレンジとオートレンジとが
ある。オートレンジに設定すると、ディジタルマルチメ
ータがトリガされた時に入力信号をサンプリングして正
しいレンジを選択するようになっている。

【００８１】入力信号のレベルに合わせて下記に配慮し
て測定レンジを設定する。 （１）最良の分解能を得るにはできるだけ低いレンジを
選択する。 （２）自動テストの時には、マニュアルレンジで測定す
る。ただし、ステップを設定するときは、オートレンジ
によりレンジの問い合わせができる。 （３）高い分解能を得るためには、積分時間を長くする
（テスト時間は長くなる）。

【００８２】１．４．６．積分時間の設定 積分時間は、ディジタルマルチメータが入力信号をサン
プリングする時間である。積分時間を指定すると、ノー
マルモード除去率（ＮＭＲ）が決まる。測定は多くの場
合ノーマルモードノイズ、特に５０Ｈｚまたは６０Ｈｚ
の電源から発生するノイズのある状態で行われるから、
Ａ／Ｄ変換時に積分処理によりノイズを平均化し除去す
るようになっている。

【００８３】積分時間の設定に当たっては、下記の点を
考慮する必要がある。 （１）５０Ｈｚまたは６０Ｈｚのノイズのノーマルモー
ド除去は、積分時間が２０ｍｓ（５０Ｈｚ）または１
６．７ｍｓ（６０Ｈｚ）の時のみ達成される。 （２）積分時間を長くすると、ＮＭＲは高くなるが、読
み取り速度は低下する。 （３）測定分解能は積分時間が短くなると低下する。

【００８４】１．４．７．トリガとサンプルの設定 ディジタルマルチメータの動作には、アイドル状態とト
リガ待ち状態とがある。アイドル状態において、各パラ
メータを設定し、測定可能状態にしてトリガ待ち状態に
なる。トリガを受信すると測定を行う。

【００８５】トリガ毎に一回の測定を行うように設定す
ることができ、この場合は、測定１回終える度にアイド
ル状態に戻るようになっている。

【００８６】サンプルは、トリガ毎に、指定された複数
回（最大１００回）の測定を行う機能、または、複数の
トリガを受ける機能である。前者の場合は、ディジタル
マルチメータは指定されたサンプル回数の測定を終える
とアイドル状態に戻る。

【００８７】後者の場合、即ちトリガ待ちの状態の時
は、図９のフローチャート図に示すように、トリガ回数
とサンプル回数が指定されてトリガ待ちの状態になる
（ＳＴ１６、ＳＴ１７）。

【００８８】そして、指定された信号源からトリガ信号
を受け取るとトリガされた状態となる（ＳＴ１８、ＳＴ
１９）。

【００８９】トリガされた状態になると指定されたディ
レイ値で遅延し測定する（ＳＴ２０、ＳＴ２１）。

【００９０】測定は、各トリガ毎に指定されたサンプル
回数だけ行い、指定されたトリガ回数の測定を終了した
らアイドル状態に戻るようになっている（ＳＴ２０、Ｓ
Ｔ２１、ＳＴ２２）。

【００９１】ここで、トリガされた状態、即ち、トリガ
ソースは、下記の３つのモードのいずれかを設定するこ
とができる。 （１）ＩＭＭモード（即時モード） このモードでは、ディジタルマルチメータがトリガ待ち
状態になると内部トリガ信号が必ず発生する。

【００９２】（２）ＥＸＴモード このモードでは、ディジタルマルチメータの前面にあ
る”ＥｘｔｅｒｎａｌＴｒｉｇｇｅｒ”コネクタに供給
される外部トリガが供給源となり、ディジタルマルチメ
ータは、ＴＴＬ信号の立ち上がりエッジでトリガされ
る。

【００９３】（３）バスモード このモードでのトリガ源は、測定バスのクロストリガラ
インからの信号である。このクロストリガラインにディ
ジタルマルチメータに対応するトリガコードが現れる
と、ディジタルマルチメータはトリガされる。

【００９４】また、トリガカウントを設定することによ
り、ディジタルマルチメータがトリガ待ち状態からアイ
ドル状態に戻るまでの間に受け取るトリガ回数（最大１
００回）を指定することができる。

【００９５】また、トリガ遅延を設定することにより、
トリガから測定までの時間（００００ｍｓ〜９９９９ｍ
ｓ）を指定することができる。また、サンプルカウント
の設定により、トリガ信号を受ける度に実行する測定回
数（最大１００回）を指定することができる。

【００９６】連続した複数の測定間隔、すなわちサンプ
ル周期は最大６４ｍｓである。サンプル周期は積分時間
より長くなければならない。

【００９７】１．４．８．オートゼロ ディジタルマルチメータのオートゼロ機能は、ＤＣ電圧
と抵抗の測定値からディジタルマルチメータに内在する
オフセット電圧分を除去することである。

【００９８】オートゼロをオンに設定すると、ディジタ
ルマルチメータは入力電圧を測定し、つぎに、入力信号
を内部で切り離すかまたは電流源を切った後オフセット
電圧を測定し、この２つの測定値の差をディジタルマル
チメータの電圧測定値とする。この測定値は抵抗の測定
にも使用されるようになっている。

【００９９】１．４．９．オフセット補正 ディジタルマルチメータのオフセット補正は、抵抗の測
定時にディジタルマルチメータの内外に発生するオフセ
ット電圧を下記のように打ち消す機能である。 （１）電流源をオンにし、抵抗器両端に誘起される電圧
を測定する。 （２）つぎに、電流源をオフにしてオフセット電圧を測
定する。 （３）つぎに、（１）と（２）での測定電圧の差を取
り、その差を印加電流で割り算する。

【０１００】オフセット補正は任意のレンジで使用する
ことができるが、最高レンジでは、上記誘起電圧の値は
オフセット電圧よりはるかに大きいのでオフセット電圧
が測定精度に与える影響は無視し得る程小さくなる。

【０１０１】２．ユニバーサルカウンタ ２．１ 概要 ユニバーサルカウンタは、ハードウェアとしては計測制
御モジュールラックの１スロットを占めるレジスタタイ
プモジュールである。

【０１０２】また、ユニバーサルカウンタは、図１０に
示すように計測器疑似パネルとしてディスプレイの画面
に表示される。計測制御モジュールの前面から入力信号
を入力して単体の計測器として使用することもできる
し、また、ＭＰＸボードを利用して多チャンネルの自動
測定を行うこともできる。

【０１０３】このような構成からなるユニバーサルカウ
ンタは、チャンネルＡとチャンネルＢとの２チャンネル
を有する。仕様および機能は両チャンネル共下記の通り
である。 （１）周波数測定 測定範囲： ０．２Ｈｚ〜１００ＭＨｚ（ＤＣ結合） １００Ｈｚ〜１００ＭＨｚ（ＡＣ結合） 分解能 ： １／ゲートタイム （２）平均周期測定 測定範囲：１００ｎｓ〜４０ｓ（ＤＣ結合） １００ｎｓ〜１０ｍｓ（ＡＣ結合） 分解能 ：１０ｎｓ （３）パルス幅測定 測定範囲：２００ｎｓ〜４０ｓ（ＤＣ結合） ２００ｎｓ〜１０ｍｓ（ＡＣ結合） 分解能 ：１００ｎｓ （４）時間間隔 測定範囲：２００ｎｓ〜４０ｓ（ＤＣ結合） ２００ｎｓ〜１０ｍｓ（ＡＣ結合） 分解能 ：１００ｎｓ （５）加算計数 計数範囲：１〜１，０００，０００，０００ 最小パルス幅：１０ｎｓ （６）周波数比 （７）タイムべース 周波数 ：１０ＭＨｚ 安定度 ：２ｐｐｍ 年安定度：２ｐｐｍ／年 温度特性：５ｐｐｍ（０°Ｃ〜５０°Ｃ以上） （８）入力信号コンディショニング（各チャンネルの別々設定は不可） 入力感度：２５ｍＶ（０ｄｂ） ２５０ｍＶ（２０ｄｂ） 結合 ：ＤＣまたはＡＣ インピーダンス：１ＭΩ（並列５０ｐＦ以下） ５０Ω（並列５０ｐＦ以下） フィルタ ：１００ＫＨｚローパスフィルタ アッテネーション：０ｄｂまたは２０ｄｂ （９）トリガ レベル ：−２．５４Ｖ〜＋２．５４Ｖ（０ｄｂ） −２５．６Ｖ〜＋２５．６Ｖ（２０ｄｂ） 有効エッジ：立ち上がりまたは立ち下がり

【０１０４】２．２．ユニバーサルカウンタ使用前の予
備知識 ２．２．１ デフォルト状態 ユニバーサルカウンタは、電源を投入された時とリセッ
トされた時とに、入力および測定パラメータのデフォル
ト値が表３のように設定される。

【０１０５】

【表３】

【０１０６】２．２．２．入力信号コンディショニング 信号の測定を行う前に、振幅、周波数、周期性や反復性
の有無等について入力信号コンディショニングを正しく
選択する必要がある。Ａ、Ｂ両チャンネル共、イベント
レベル、イベントスロープ、入力アッテネーション、入
力結合、インピーダンスを選択することができる。ま
た、ローパスフィルタを使用することができる。

【０１０７】なお、アッテネーション、結合、インピー
ダンス、ローパスフィルタの各設定はＡ、Ｂ両チャンネ
ルとも同じである。例えば、チャンネルＡの入力インピ
ーダンスを５０Ωに設定するとチャンネルＢの入力イン
ピーダンスも５０Ωに設定される。しかし、イベントレ
ベルとイベントスロープは別々に設定することができ
る。

【０１０８】以下、各パラメータの入力信号コンディシ
ョニングについて説明する。 ２．２．２．１ イベントレベル イベントレベルは、測定しようとする入力信号の振幅を
表す。電源投入またはリセットの時にはＡ、Ｂ両チャン
ネル共イベントレベルは０Ｖのデフォルト値の設定さ
れ、入力信号が０Ｖを通過すると、測定が開始される。

【０１０９】２．２．２．２ イベントスロープ イベントスロープは、測定しようとする入力信号の立ち
上がりまたは立ち下がりのスロープを表す。時間間隔測
定を行う時、測定を開始または終了する立ち上がりまた
は立ち下がりのエッジを指定するためにイベントスロー
プを指定する。また、イベントスロープは、パルス幅の
測定を行う時、正極性または負極性のパルス幅の指定に
使用される。

【０１１０】２．２．２．３．入力結合 ユニバーサルカウンタのチャンネルＡおよびＢは、ＡＣ
結合またはＤＣ結合のいずれかの入力結合方式が選択さ
れる。入力結合にＡＣ結合が必要となる２つの例を図１
１と図１２とに示す。

【０１１１】図１１の例は、超低周波信号に乗っている
高周波信号を測定する場合である。このように低周波信
号の振幅が大きい時は、測定対象信号がイベントレベル
設定の最大値を越えてしまうためユニバーサルカウンタ
をトリガすることができずトリガエラーが発生する。従
って、入力をＡＣ結合にして低周波分を除去すると、イ
ベントレベルで測定対象信号をトリガし、その結果、正
確なカウントを得ることができる。

【０１１２】図１２の例は、測定対象である２００ｍＶ
信号に１８ｍＶの直流成分が存在する場合である。信号
を１０分の１に減衰することによってイベントレベルの
範囲以内に収めると、測定対象信号は２００ｍＶに減衰
してユニバーサルカウンタの感度に達しなくなる。そこ
で、入力をＡＣ結合にして直流分を除去すると、２００
ｍＶ信号を０Ｖのイベントレベルで測定することができ
る。

【０１１３】ＤＣ結合は、入力信号をＤＣレベルに指定
する。ＤＣ結合に入力では、測定を開始するイベントレ
ベルを波形上の点に設定することができる。

【０１１４】２．２．２．４ 入力インピーダンス 両チャンネル共に、入力インピーダンスを１ＭΩまたは
５０Ωのいずれかに設定することができる。

【０１１５】２．２．２．５ 入力ローパスフィルタ 両チャンネルにおいて、カットオフ周波数が１００ＫＨ
ｚのローパスフィルタを選択することができる。これ
は、測定時のノーマルノイズの影響を減少する効果があ
り、周期の測定には特に重要である。

【０１１６】２．２．３．周波数測定におけるタイムべ
ースの選択 ユニバーサルカウンタが周波数および周波数比を測定す
る場合に、入力信号をサンプリングして周波数を決定す
るための時間としてのタイムべースを選択する必要があ
る。このタイムべースによって分解能とレンジが直接決
まる。タイムべースとレンジとの関係を表４に示す。

【０１１７】

【表４】 分解能は、差異を識別することができる最小変化量であ
る。分解能を上げる程、タイムべースは増加し、測定が
遅くなる。

【０１１８】２．２．４．平均周期測定の周期数とレン
ジ ユニバーサルカウンタにおいて周期数とは、入力信号を
サンプリングして周期を測定するサイクル数のことであ
る。これによって、周期測定で得られる分解能とレンジ
が決まる。周期数とレンジとの関係を表５に示す。

【０１１９】

【表５】

【０１２０】２．３ ユニバーサルカウンタの使用法 ユニバーサルカウンタを使用するには、測定したい信号
の性質をよく理解し、入力信号コンディショニングおよ
び測定コマンドを正しく選択し、上述のように入力パラ
メータを設定した後、測定を下記のように実行する。

【０１２１】２．３．１ 周波数の測定 周波数の測定レンジはＤＣから１００ＭＨｚである。オ
ーディオレシーバの周波数の測定例を図１３に示す。こ
の場合、チャンネルＡでは、１０ＭＨｚの正弦波のＩＦ
信号を測定し、チャンネルＢでは、２１００Ｈｚの検波
器出力を測定している。入力の振幅は±１０Ｖとしてい
る。

【０１２２】この場合各パラメータの設定は下記のよう
に行う。 イベントレベル ：入力信号は全て０Ｖで対称である
ので、イベントレベルは０Ｖとする。 イベントスロープ ：イベントスロープを変更しても周
波数測定に影響は無い。

【０１２３】アッテネーション ：２０ｄｂを選択す
る。 結合 ：ＡＣ結合を選択する。 ローパスフィルタ ：使用しない。 入力インピーダンス：１ＭΩを使用する。 タイムべース ：ＣＨＡでは１０２４ｍｓを、ＣＨ
Ｂでは１６ｍｓを使用する。

【０１２４】２．３．２ 平均周波数の測定 平均周波数の測定レンジは２００ｎｓから４０ｓまでで
ある。一例として、チャンネルＡの入力信号が１ＭＨｚ
のＴＴＬ信号を測定する場合のパラメータの設定は下記
のように行う。 イベントレベル ：ＴＴＬ信号ではイベントレベルは
＋１．２Ｖを設定する。

【０１２５】イベントスロープ ：イベントスロープを
変更しても周波数測定に影響は無い。 アッテネーション ：０ｄｂを選択する。 結合 ：ＤＣ結合を選択する。 ローパスフィルタ ：使用しない。 入力インピーダンス：１ＭΩを使用する。 周期数 ：８１９２を使用する。

【０１２６】２．３．３．パルス幅の測定 正のパルスは立ち上がりエッジから立ち下がりエッジま
でのパルスであり、負のパルスは立ち下がりエッジから
立ち上がりエッジまでのパルスである。測定範囲は、１
００ｎｓ〜４０ｓである。

【０１２７】図１４に示すような、コンポジットビデオ
信号における水平同期パルスのパルス幅Ｗを測定する場
合の各パラメータの設定は下記のように行う。 イベントレベル ：イベントレベルは＋２．０Ｖを設
定する イベントスロープ ：立ち下がりエッジを指定する。 アッテネーション ：０ｄｂを選択する。 結合 ：ＤＣ結合を選択する。 ローパスフィルタ ：使用しない。 入力インピーダンス：５０Ωを使用する。 周期数 ：１０２４を使用する。

【０１２８】３．３．４．時間間隔の測定 時間の開始および停止は、それぞれ、パルスの立ち上が
りまたは立ち下がりを選択することができる。レンジは
２００ｎｓ〜４０ｓである。図１４に示すようなコンポ
ジットビデオ信号における水平同期パルスの立ち下がり
エッジ間の時間間隔Ｔを測定するには、同じ信号をチャ
ンネルＡ、Ｂの両方に入力して行う。

【０１２９】この場合、各パラメータの設定は下記の通
り行う。 イベントレベル ：イベントレベルは＋２．０Ｖを設
定する イベントスロープ ：ＣＨＡ、ＣＨＢ共立ち下がりエッ
ジを指定する。 アッテネーション ：０ｄｂを選択する。 結合 ：ＤＣ結合を選択する。 ローパスフィルタ ：使用しない。 入力インピーダンス：５０Ωを使用する。 周期数 ：１０２４を使用する。

【０１３０】３．３．５．周波数比の測定 周波数比の測定はチャンネルＡとチャンネルＢとで行
い、その測定結果の比をとる。最大周波数比は１Ｅ９Ｄ
で最小周波数比は１Ｅ−９である。図１５は、元の周波
数とは異なる周波数を生成する回路での周波数比の測定
の例を示す。

【０１３１】周波数比の測定時間は、入力信号の周波数
および測定する周期数により決まる。つまり、入力信号
が低周波数の場合には測定に長い時間がかかる。各パラ
メータの設定は下記の通り行う。 イベントレベル ：イベントレベルは＋１．２Ｖを設
定する イベントスロープ ：設定しても測定に影響はない。

【０１３２】アッテネーション ：０ｄｂを選択する。 結合 ：ＤＣ結合を選択する。 ローパスフィルタ ：使用しない。 入力インピーダンス：１ＭΩを使用する。

【０１３３】３．３．６．加算計数 チャンネルＡまたはチャンネルＢで加算計数を行うとが
できる。最大読み取り値は９９９９９９である。カウン
トを読んでも加算計数は停止しない。カウントは、開始
されるとコマンドを書き込むまで続けられる。

【０１３４】４．ディジタルテストモジュール ４．１ 概要 ディジタルテストモジュールは、プリント基板へビット
データやパターンを供給したり、プリント基板から出力
されるタイミングチャート、パターンデータ等を入力す
ることによりプリント基板のディジタル機能の検査を効
率良く行うことができるように構成されている。最大２
０ＭＨｚのクロックレートで１０２４ステート１６チャ
ンネルのパターンを発生し、１６チャンネルのデータを
サンプリングすることができる。

【０１３５】４．２ 構成 図１６は、ディジタルテストモジュールの構成を示す。 ４．２．１ パターン入力 パターン入力の仕様は下記の通りである。 チャンネル数 ：１６チャンネル 入力レベル ：−４０Ｖ〜＋４０Ｖ クロック ：内部クロック ５Ｈｚ〜２０ＭＨｚ 外部クロック 最高２０ＭＨｚ パターン長さ ：１Ｋ（標準）、４Ｋ、１６Ｋ、３２
Ｋ（オプション） トリガ ：ＣＨ１〜ＣＨ４ レベルまたはエッ
ジ ：ＣＨ５〜ＣＨ１６ レベル クロストリガ インピーダンス ：１００ＫΩ

【０１３６】コネクターＣＮ１からの１６チャンネルの
入力タイミングデータを最高２０ＭＨｚでサンプリング
し、サンプリングしたデータをＦＩＦＯメモリに記憶す
る。上位コンピュータはＶＭＥインタフェースおよびク
ロストリガインタフェースを介してＦＩＦＯメモリの内
容を読出し、タイミングデータの波形を表示し、標準波
形と比較することによってディジタルテストを行うよう
になっている。

【０１３７】また、ディスプレイに表示されるコントロ
ールパネルを用いて、パターンのサンプリングクロック
レート、サンプリングデータの長さ、トリガ（パターン
トリガかエッジトリガかの別）、テストモード等を下記
のように設定する。

【０１３８】（１）サンプリングレート 内部サンプリングレートは、５０ｎｓ〜２００ｍｓを２
１段階に設定することができる。外部クロックはプロー
ブピンから入力する。

【０１３９】（２）サンプリングデータの長さは、１０
０ビット〜１６Ｋビットを５段階に設定することができ
る。

【０１４０】（３）トリガ トリガの種類にはパターントリガとエッジトリガとがあ
る。パターントリガは、全チャンネルにおいて、１、０
のレベルからなるＡＮＤ条件であり、任意のチャンネル
を無効にすることも可能である。また、エッジトリガ
は、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとからなるＯ
Ｒ条件である。また、パターントリガとエッジトリガと
の間はＡＮＤ条件である。

【０１４１】トリガの位置設定は、０、１／４、１／
２、３／４の４段階に設定することができ、トリガ前の
サンプリングデータの長さとトリガ後のサンプリングデ
ータの長さとを設定する機能である。例えば、サンプリ
ングデータの長さを４００、トリガの位置を１／４に設
定すると、トリガ前の１００個のデータとトリガ後の３
００個のデータとがメモリに書き込まれる。

【０１４２】クロストリガは、クロストリガバス６から
のトリガコード（他の計測制御モジュールからの１６進
５５桁のトリガ信号）によりデータサンプリングを開始
させる機能である。

【０１４３】（４）スレッショルド電圧の割り付け 各チャンネルのスレッショルド電圧は同一である。使用
可能なスレッショルド電圧は、ＴＴＬ、−４０Ｖ〜４０
Ｖを２０段階に設定することができる。

【０１４４】４．２．２．パターンの出力 パターン出力の仕様は下記の通りである。 チャンネル数 ：１６チャンネル 出力レベル ：ＴＴＬ（プローブボックスによりそ
の他のレベルも可能） クロック ：内部クロック ５Ｈｚ〜２０ＭＨｚ 外部クロック 最高２０ＭＨｚ パターン長さ ：メモリ１Ｋ（標準）、４Ｋ、１６
Ｋ、３２Ｋ（オプション） トリガ出力 ：指定されたポイントでトリガをクロ
ストリガバスに出力する。 パターン方式 ：シングルモード 設定された長さの
パターンを１回出力。 連続モード 設定された長さのパターンを繰り返し
出力する。

【０１４５】コントロールパネルでパターンを編集し、
パターンのクロックレート、パターンデータの長さ、ク
ロストリガ、出力モード等を下記のように設定する。

【０１４６】（１）内部クロックレートは、５０ｎｓ〜
１ｍｓを１４段階に設定することができる。外部クロッ
クはプローブピンから入力する。

【０１４７】（２）サンプリングデータの長さは、１０
０ビット〜１６Ｋビットを５段階に設定することができ
る。

【０１４８】（３）パターン出力モード シングルモードでは設定された長さのパターンを１回出
力し、連続モードでは設定された長さのパターンを繰り
返し出力する。

【０１４９】（４）出力レベルは、プローブボックスに
より選定することができる。 （５）クロストリガの出力 パターンの中、設定されたポイントでクロストリガコー
ドを出力する。このクロストリガコードにより、他の計
測制御モジュールを起動させたり停止させたりすること
ができる。

【０１５０】５．ディジタル入出力モジュール ５．１ 概要 ディジタル入出力モジュールは、レジスタ型のモジュー
ルであって、絶縁ディジタル入出力モジュールと、ＴＴ
Ｌディジタル入出力モジュールとがある。

【０１５１】５．２ 絶縁ディジタル入出力モジュール 絶縁ディジタル入出力モジュールは、フォトアイソレー
ションで絶縁された３０点づつの入力と出力とを持って
おり、入出力回路に絶縁された内部電源を供給し、ま
た、外部機器とのフレキシブルな接続を可能にするよう
に構成されている。

【０１５２】５．２．１ 入力回路 絶縁ディジタル入出力モジュールの入力回路の全入力に
は、図１７に示すように、外部機器からのノイズを除去
するためにチャタリングレス回路を設け、また、入力端
子にはフォトカプラを設けている。

【０１５３】入力回路の仕様は下記の通りである。 入力数 ：３０点 入力電流 ：内部供給 ８ｍＡ以上（低レ
ベル１２Ｖの時） 外部供給 ８ｍＡ以上（低レベル１２Ｖの時） フィルタ入力 ：全入力に２．３ｍｓ以下のチ
ャッタを除去するフィルタが設けられている。 入力接続 ：フラットケーブル用３４ピン アイソレーション ：全入力に設けられている。

【０１５４】５．２．２．出力回路 絶縁ディジタル入出力モジュールの出力回路は、図１８
に示すように、主に外部機器インターフェースとしてフ
ォトカプラが設けられている。出力回路の仕様は下記の
通りである。 出力数 ：３０点 出力電圧 ：内部電源 １２Ｖ 外部電源 ２５Ｖ（最大） 出力電流 ：最小５ｍＡ、通常１２ｍＡ、
最大３０ｍＡ（低レベルの時） 出力コネクタ ：フラットケーブル用３４ピン アイソレーション ：全ての出力に設けられてい
る。

【０１５５】５．２．３ 出力電源の設定 モジュールの出力電源の設定は、上位ソフトでリレーＲ
１を操作することにより、入力側にフォトカプラの電源
を設定することができ、また、リレーＲ２を操作するこ
とにより出力側にフォトカプラの電源を設定することが
できる。

【０１５６】５．３ ＴＴＬディジタル入出力モジュー
ル ＴＴＬディジタル入出力モジュールは、６４点のＴＴＬ
レベルの入出力を有しており、８ビット単位で入力、出
力、または、高インピーダンスの設定を行うことができ
る。図１９は１点当たりの入出力回路を示す。

【０１５７】以上、代表的な計測制御モジュールについ
て説明したが、他の計測制御モジュールも、それぞれの
機能に応じて構成されているが、詳細な説明は省略す
る。

【０１５８】各計測制御モジュール共、外形寸法は、Ｖ
ＩＸバスＢサイズで、計測制御モジュールラックのスロ
ット（２０ｍｍ）にコンパクトに、かつ、任意の順序
で、挿脱自由に収容され、被測定基板によって、色々な
組み合わせで構成することができる。

【０１５９】また、各計測制御モジュールは、パソコン
１の画面に計測器疑似パネルとして表示され、あたかも
実物の計測器を操作するのと同様の感覚で操作すること
によりプリント基板の機能検査を効率的に行うことがで
きるようになっている。

【０１６０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る汎用
ファンクションテスタは下記の効果を奏する。

【０１６１】（１）従来のように被測定プリント基板毎
に専用のファンクションテスタを設けることなく、小さ
なスペースにファンクションテスタを設置することによ
り、全ての測定物、例えばプリント基板の機能検査を簡
単に短時間で行うことができるので、高い投資効果が得
られると云う極めて優れた効果を奏する。

【０１６２】（２）フアンクションテスタをバスライン
で接続して組み合わせた検査をすることができるので、
例えば部品レベルまたはコンポーネントレベルでのアナ
ログ検査の後に、プリント基板レベルでのディジタル検
査を行うことができると云う汎用性に富んだ機能検査が
でき、しかも検査が完全に行われ、その結果、プリント
基板の品質の向上に寄与すると云う極めて優れた効果を
奏する。

【０１６３】（３）画面表示による機能検査項目の設定
ができるため、例えば機能検査に必要なテストプログラ
ムの作成、デバッグが簡単に行うことができるので、専
門のテストエンジニアでなくても容易かつ短時間で機能
検査の操作手順の作成ができ、検査効率を向上させ、生
産性を上げることができると云う極めて優れた効果を奏
する。

【０１６４】（４）ディスプレイに表示される計測器疑
似パネルを操作することによって、実物の計測器を操作
するのと同じ感覚で検査を行うことができるから、検査
が楽にかつ漏れや検査ミスがなく行われ、従って、検査
の質が向上すると云う極めて優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るファンクションテスト・システム
の実施例の全体構成を示す略示的ブロック図である。

【図２】同実施例の外観を示す説明図である。

【図３】同実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。

【図４】同実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。

【図５】同実施例における編集用画面表示例を示す説明
図である。

【図６】同実施例におけるマルチプレクサー用画面表示
例を示す説明図である。

【図７】同実施例におけるディジタルマルチメータモジ
ュールの入力を示す説明図である。

【図８】同ディジタルマルチメータの計測器疑似パネル
を示す説明図である。

【図９】同ディジタルマルチメータの動作を示すフロー
チャート図である。

【図１０】同実施例のユニバーサルカウンタの計測器疑
似パネルを示す説明図である。

【図１１】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。

【図１２】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。

【図１３】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。

【図１４】同ユニバーサルカウンタによるパルス幅測定
の例を示す説明図である。

【図１５】同ユニバーサルカウンタによる周波数比の測
定例を示す説明図である。

【図１６】同実施例のディジタルテストモジュールの構
成を示すブロック図である。

【図１７】同絶縁ディジタル入出力モジュールの入力回
路の構成を示す説明図である。

【図１８】同絶縁ディジタル入出力モジュールの出力回
路の構成を示す説明図である。

【図１９】同ＴＴＬディジタル入出力モジュールの出力
回路の構成を示す説明図である。

【符号の説明】

１ パソコン ２ システムコントロール ３ 計測制御モジュール群 ４ フィクスチャ ５ ＶＭＥバス ６ 測定バス ７ 計測器 ８ 測定器用バス

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物を装着するための治具と、該測
   定物の機能を検査するために異なる検査機能を有する各
   種のファンクションテスタと、該ファンクションテスタ
   の機能検査を操作する検査制御部とからなり、 前記各種のファンクションテスタは、夫々同形のモジュ
   ールタイプに形成したことを特徴とするファンクション
   テスト・システム。
2. 【請求項２】 上記各種のモジュールタイプのファンク
   ションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロットを
   設けたことを特徴とする請求項１に記載のファンクショ
   ンテスト・システム。
3. 【請求項３】 上記各種のファンクションテスタは、前
   記検査制御部とバスラインで接続したことを特徴とする
   請求項１又は２に記載のファンクションテスト・システ
   ム。
4. 【請求項４】 上記各種のファンクションテスタの相互
   間をバスラインで接続したことを特徴とする請求項１、
   ２又は３に記載のファンクションテスト・システム。
5. 【請求項５】 上記各種のファンクションテスタの操作
   は、画面上に表示された疑似パネルで行うようにしたこ
   とを特徴とする請求項１、２、３又は４に記載のファン
   クションテスト・システム。
6. 【請求項６】 上記各種のファンクションテスタは、前
   記測定物の機能検査項目に応じて適宜選択できるように
   したことを特徴とする請求項１、２、３、４又は５に記
   載のファンクションテスト・システム。
7. 【請求項７】 上記各種のファンクションテスタで測定
   する前記測定物は、プリント基板であることを特徴とす
   る請求項１、２、３、４、５又は６に記載のファンクシ
   ョンテスト・システム。