JPH07318614A - ファンクションテスト・システム - Google Patents
ファンクションテスト・システムInfo
- Publication number
- JPH07318614A JPH07318614A JP6108409A JP10840994A JPH07318614A JP H07318614 A JPH07318614 A JP H07318614A JP 6108409 A JP6108409 A JP 6108409A JP 10840994 A JP10840994 A JP 10840994A JP H07318614 A JPH07318614 A JP H07318614A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- function
- measurement
- input
- inspection
- testers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】投資効果が高く、被測定プリント基板の品質向
上と検査の生産性向上に寄与する、コンパクトな汎用フ
ァンクションテスタを提供する。 【構成】各種の計測器および制御器を同一寸法の薄い矩
形状モジュールに形成し、各モジュールを、計測器ラッ
クに平行に設けられた複数のスロットに任意の順序で挿
入してコンパクトな計測制御モジュール群を構成する。
この計測制御モジュール群を、検査プログラムを内蔵す
るパソコンとVMEバスを介して接続すると共に、被測
定基板と測定バスで接続する。
上と検査の生産性向上に寄与する、コンパクトな汎用フ
ァンクションテスタを提供する。 【構成】各種の計測器および制御器を同一寸法の薄い矩
形状モジュールに形成し、各モジュールを、計測器ラッ
クに平行に設けられた複数のスロットに任意の順序で挿
入してコンパクトな計測制御モジュール群を構成する。
この計測制御モジュール群を、検査プログラムを内蔵す
るパソコンとVMEバスを介して接続すると共に、被測
定基板と測定バスで接続する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器等の測定物、
例えばプリント基板に搭載されている素子、配線等の広
範囲な機能試験に使用する各種のファンクションテスタ
で構成された汎用性のあるシステムに関する。
例えばプリント基板に搭載されている素子、配線等の広
範囲な機能試験に使用する各種のファンクションテスタ
で構成された汎用性のあるシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術における電子機器の製造工程に
おいては、それを構成する各種の測定物、例えば各種の
プリント基板の品質保証のために各種機能試験が行われ
ている。これらの機能試験を行うためのテストシステム
には、汎用テスタを組み合わせた簡単で安価な計測装置
から、それぞれのプリント基板用に構築された高価な専
用のテスタ、例えばディジタルインサーキットテスタま
で色々存在する。
おいては、それを構成する各種の測定物、例えば各種の
プリント基板の品質保証のために各種機能試験が行われ
ている。これらの機能試験を行うためのテストシステム
には、汎用テスタを組み合わせた簡単で安価な計測装置
から、それぞれのプリント基板用に構築された高価な専
用のテスタ、例えばディジタルインサーキットテスタま
で色々存在する。
【0003】そして、これらのテスタを利用して、プリ
ント基板に搭載されている素子、配線等からなる回路の
機能を検査するために、プリント基板を治具に納め、そ
の上側、又は下側から測定用接続端子を予め定まった位
置に接続し、所定の信号を供給して、その結果を測定し
たり、又、所定の電圧をかけ、その電圧の変動状態を観
察したり、又は所定の周波数からなる信号を供給して、
その信号がどのように変化するか等のプリント基板のに
搭載されているマイコン等の素子を形成するブロック単
位での機能検査に限定されず、基板全体の機能検査をし
てより信頼性のあるプリント基板等を供給する。
ント基板に搭載されている素子、配線等からなる回路の
機能を検査するために、プリント基板を治具に納め、そ
の上側、又は下側から測定用接続端子を予め定まった位
置に接続し、所定の信号を供給して、その結果を測定し
たり、又、所定の電圧をかけ、その電圧の変動状態を観
察したり、又は所定の周波数からなる信号を供給して、
その信号がどのように変化するか等のプリント基板のに
搭載されているマイコン等の素子を形成するブロック単
位での機能検査に限定されず、基板全体の機能検査をし
てより信頼性のあるプリント基板等を供給する。
【0004】そのため、機能検査の項1目によっては極
めて正確なデータを要求され、単に導通試験等の測定領
域を逸脱した高性能のテスタ、即ちファンクションテス
タが必要となり、且つ、機能検査項目に対応した専用の
ファンクションテスタを備えて、各種の機能検査を行っ
ていた。
めて正確なデータを要求され、単に導通試験等の測定領
域を逸脱した高性能のテスタ、即ちファンクションテス
タが必要となり、且つ、機能検査項目に対応した専用の
ファンクションテスタを備えて、各種の機能検査を行っ
ていた。
【0005】このようなファンクションテスタを動作さ
せるためには、専用の言語、及びプログラムを解析、解
読して独自の機能検査用のテストパターンの作成、測定
対象物に対応した独特の検査項目に合わせた測定項目の
設定等全て専門的な技術を必要としていた。
せるためには、専用の言語、及びプログラムを解析、解
読して独自の機能検査用のテストパターンの作成、測定
対象物に対応した独特の検査項目に合わせた測定項目の
設定等全て専門的な技術を必要としていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記説
明した従来のファンクションテスタには、下記のような
問題点がある。
明した従来のファンクションテスタには、下記のような
問題点がある。
【0007】(1)プリント基板の回路の解析、テスト
パターンの作成、プログラムの作成、デバッグ等に多大
の開発費用と開発時間がかかる。特に近年、検査対象プ
リント基板が多品種少量化する傾向にあるため、この問
題は特に重要な問題となっている。
パターンの作成、プログラムの作成、デバッグ等に多大
の開発費用と開発時間がかかる。特に近年、検査対象プ
リント基板が多品種少量化する傾向にあるため、この問
題は特に重要な問題となっている。
【0008】(2)テストプログラムは複雑なテスト専
用プログラム言語を用いて作成されているため、専門の
技術者でなければ作成することにができないため、測定
作業にゆくまでに多大な時間を必要としているという問
題点。
用プログラム言語を用いて作成されているため、専門の
技術者でなければ作成することにができないため、測定
作業にゆくまでに多大な時間を必要としているという問
題点。
【0009】(3)汎用性がないため、多品種少量のプ
リント基板に適用できる融通性が少なく、高性能高額化
しているファンクションテスタの投資効果が低くなって
きているという問題点。
リント基板に適用できる融通性が少なく、高性能高額化
しているファンクションテスタの投資効果が低くなって
きているという問題点。
【0010】(4)部品レベルまたはコンポーネントレ
ベルでの単体での機能試験を目的とするものが多く、電
子機器全体の機能試験を行うためには機能を異なる各種
のファンクションテスタを組み合わせる機能試験には不
向きな構成となっているという問題点。
ベルでの単体での機能試験を目的とするものが多く、電
子機器全体の機能試験を行うためには機能を異なる各種
のファンクションテスタを組み合わせる機能試験には不
向きな構成となっているという問題点。
【0011】(5)基板毎に測定治具(フィクスチャ
ー)が異なるうえ、プログラム作成及びデバッグに要す
るコストが高くついてしまうという問題点。
ー)が異なるうえ、プログラム作成及びデバッグに要す
るコストが高くついてしまうという問題点。
【0012】従って、機能の異なる各種のファンクショ
ンテスタを利用して、異なる各種の機能検査をする操作
及び測定手順等の共通化を図ることに解決しなければな
らない課題を有している。
ンテスタを利用して、異なる各種の機能検査をする操作
及び測定手順等の共通化を図ることに解決しなければな
らない課題を有している。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明によるファンクションテスト・システムは、
被測定物を装着するための治具と、該測定物の機能を検
査するために異なる検査機能を有する各種のファンクシ
ョンテスタと、該ファンクションテスタの機能検査を操
作する検査制御部とからなり、前記各種のファンクショ
ンテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形成したこ
とである。
に、本発明によるファンクションテスト・システムは、
被測定物を装着するための治具と、該測定物の機能を検
査するために異なる検査機能を有する各種のファンクシ
ョンテスタと、該ファンクションテスタの機能検査を操
作する検査制御部とからなり、前記各種のファンクショ
ンテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形成したこ
とである。
【0014】又、上記各種のモジュールタイプのファン
クションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロット
を設けたこと;上記各種のファンクションテスタは、前
記検査制御部とバスラインで接続したこと;上記各種の
ファンクションテスタの相互間をバスラインで接続した
こと;上記各種のファンクションテスタの操作は、画面
上に表示された疑似パネルで行うようにしたこと;上記
各種のファンクションテスタは、前記測定物の機能検査
項目に応じて適宜選択できるようにしたこと;上記各種
のファンクションテスタで測定する前記測定物は、プリ
ント基板であるファンクションテスト・システムであ
る。
クションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロット
を設けたこと;上記各種のファンクションテスタは、前
記検査制御部とバスラインで接続したこと;上記各種の
ファンクションテスタの相互間をバスラインで接続した
こと;上記各種のファンクションテスタの操作は、画面
上に表示された疑似パネルで行うようにしたこと;上記
各種のファンクションテスタは、前記測定物の機能検査
項目に応じて適宜選択できるようにしたこと;上記各種
のファンクションテスタで測定する前記測定物は、プリ
ント基板であるファンクションテスト・システムであ
る。
【0015】
【作用】上記構成にした本発明に係るファンクションテ
スト・システムは下記に示すような作用を奏する。
スト・システムは下記に示すような作用を奏する。
【0016】(1)異なる検査機能を有する各種のファ
ンクションテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形
成したことにより、コンパクトにまとめたモジュール群
にすることができ、単体計測器を、例えばGP−IB等
のバスラインで接続し、C−言語等で計測できるシステ
ムの構築を図ることができるようになる。
ンクションテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形
成したことにより、コンパクトにまとめたモジュール群
にすることができ、単体計測器を、例えばGP−IB等
のバスラインで接続し、C−言語等で計測できるシステ
ムの構築を図ることができるようになる。
【0017】(2)各種のモジュールタイプのファンク
ションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロットを
設けたことにより、測定物の機能検査項目に対応したフ
ァンクションテスタだけを適宜組み替えることができ、
例えば顧客仕様による専用ファンクションテスタのシス
テムの構築が容易に行えるようになる。
ションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロットを
設けたことにより、測定物の機能検査項目に対応したフ
ァンクションテスタだけを適宜組み替えることができ、
例えば顧客仕様による専用ファンクションテスタのシス
テムの構築が容易に行えるようになる。
【0018】(3)各種のファンクションテスタは、検
査制御部とバスラインで接続したことにより、測定物の
検査項目に対応したファンクションテスタを組み替えて
も操作及び検査手順等が簡単に行うことができ、例えば
高級高性能と称するディジタルインサーキットテスタに
代替えするテスタを構築できるようになる。
査制御部とバスラインで接続したことにより、測定物の
検査項目に対応したファンクションテスタを組み替えて
も操作及び検査手順等が簡単に行うことができ、例えば
高級高性能と称するディジタルインサーキットテスタに
代替えするテスタを構築できるようになる。
【0019】(4)各種のファンクションテスタの相互
間をバスラインで接続したことにより、例え測定物の機
能検査が複数項目、及び全体的な検査であっても簡単な
操作で行うことができ、例えばGP−IB等のバスライ
ンで接続し、Cー言語等で計測できるシステムの構築が
極めて容易となる。
間をバスラインで接続したことにより、例え測定物の機
能検査が複数項目、及び全体的な検査であっても簡単な
操作で行うことができ、例えばGP−IB等のバスライ
ンで接続し、Cー言語等で計測できるシステムの構築が
極めて容易となる。
【0020】(5)各種のファンクションテスタの操作
は、画面上に表示された疑似パネルで行うようにしたこ
とにより、夫々のファンクションテスタの操作を同一箇
所で迅速、且つ簡単に行うことができ、例えば装備され
ているファンクションテスタの名称を登録したり、疑似
パネルで単体計測器の操作パネルを実際に操作するのと
同じ要領で計測条件をセットできるようになる。
は、画面上に表示された疑似パネルで行うようにしたこ
とにより、夫々のファンクションテスタの操作を同一箇
所で迅速、且つ簡単に行うことができ、例えば装備され
ているファンクションテスタの名称を登録したり、疑似
パネルで単体計測器の操作パネルを実際に操作するのと
同じ要領で計測条件をセットできるようになる。
【0021】また、測定者は、表示画面に表示される計
測器疑似パネルを見ながら、実物のファンクションテス
タを操作するのと同じ感覚で測定を行うことができ、夫
々のファンクションテスタ特有のテスタ言語を修得する
必要性がなくなり、検査の生産性が向上する。
測器疑似パネルを見ながら、実物のファンクションテス
タを操作するのと同じ感覚で測定を行うことができ、夫
々のファンクションテスタ特有のテスタ言語を修得する
必要性がなくなり、検査の生産性が向上する。
【0022】更に、表示画面上で簡単なテストステップ
からなるテストプログラムを作成することができるか
ら、テストプログラムを楽に短時間で作成することがで
きる。このテストプログラムは、あらかじめ被測定物に
関する分析と検査計画とによって綿密にプログラムされ
ているから、検査の落ちや誤りが起こらず、従って、検
査の品質が向上する。
からなるテストプログラムを作成することができるか
ら、テストプログラムを楽に短時間で作成することがで
きる。このテストプログラムは、あらかじめ被測定物に
関する分析と検査計画とによって綿密にプログラムされ
ているから、検査の落ちや誤りが起こらず、従って、検
査の品質が向上する。
【0023】(6)各種のファンクションテスタは、測
定物の機能検査項目に応じて適宜選択できるようにした
ことにより、例え必要としないファンクションテスタが
混在していても機能検査項目に応じた機能検査設定が容
易に行うことができるようになる。
定物の機能検査項目に応じて適宜選択できるようにした
ことにより、例え必要としないファンクションテスタが
混在していても機能検査項目に応じた機能検査設定が容
易に行うことができるようになる。
【0024】(7)各種のファンクションテスタで測定
する測定物は、プリント基板であることにより、種類の
異なるプリント基板及び多品種少量のプリント基板であ
っても、夫々に応じた機能検査項目の設定が容易に行う
ことができるようになる。
する測定物は、プリント基板であることにより、種類の
異なるプリント基板及び多品種少量のプリント基板であ
っても、夫々に応じた機能検査項目の設定が容易に行う
ことができるようになる。
【0025】
【実施例】以下、本発明によるファンクションテスト・
システムの実施例について説明する。尚、実施例におい
て被測定物である検査対象物はプリント基板を対象にし
て説明する。
システムの実施例について説明する。尚、実施例におい
て被測定物である検査対象物はプリント基板を対象にし
て説明する。
【0026】本実施例のファンクションテスト・システ
ムの基本構成は、図1に示すように、パソコン1と、シ
ステムコントロール2と、各種のファンクションテスタ
に相当する計測制御モジュール群3と、治具に相当する
フィクスチャ4と、ファンクションテスタ用バス5と、
計測バス6と、計測器7とから構成されている。
ムの基本構成は、図1に示すように、パソコン1と、シ
ステムコントロール2と、各種のファンクションテスタ
に相当する計測制御モジュール群3と、治具に相当する
フィクスチャ4と、ファンクションテスタ用バス5と、
計測バス6と、計測器7とから構成されている。
【0027】パソコン1は、通常汎用されているパソコ
ンであって、ハードウェアとしては、CPU、メモリ、
ディスプレイ、フロッピーディスクドライブ、ハードデ
ィスクドライブ、プリンタ、キーボード、マウス、VM
Eアダプタ等を備えており、ソフトウェアとしては、オ
ペレーティングシステムとして汎用のMSーDOSと、
この汎用ファンクションテスタのために開発されたファ
ンクションテスタ用ソフトウェアを備えている。
ンであって、ハードウェアとしては、CPU、メモリ、
ディスプレイ、フロッピーディスクドライブ、ハードデ
ィスクドライブ、プリンタ、キーボード、マウス、VM
Eアダプタ等を備えており、ソフトウェアとしては、オ
ペレーティングシステムとして汎用のMSーDOSと、
この汎用ファンクションテスタのために開発されたファ
ンクションテスタ用ソフトウェアを備えている。
【0028】このファンクションテスタ用ソフトウェア
は、使用者が従来のような複雑なテスト用言語を使用す
る必要がなく、ディスプレイに表示される対話型ポップ
パネルを用いて対話式のテストステップ定義を実行する
ことにより、誰でも簡単に短時間でテストプログラムの
開発を行うことができるように構成されている。
は、使用者が従来のような複雑なテスト用言語を使用す
る必要がなく、ディスプレイに表示される対話型ポップ
パネルを用いて対話式のテストステップ定義を実行する
ことにより、誰でも簡単に短時間でテストプログラムの
開発を行うことができるように構成されている。
【0029】また、ファンクションテスタ用ソフトウェ
アは、使用者がディスプレイに表示される仮想計測器疑
似パネルをマウスで操作することによって、従来の計測
器を操作するのと同様の感覚で自動基板検査および手動
による故障診断等を行うことができるように構成されて
いる。
アは、使用者がディスプレイに表示される仮想計測器疑
似パネルをマウスで操作することによって、従来の計測
器を操作するのと同様の感覚で自動基板検査および手動
による故障診断等を行うことができるように構成されて
いる。
【0030】さらに、ファンクションテスタ用ソフトウ
ェアは、測定物であるプリント基板の検査結果の統計処
理、表示、印刷等を容易に行うことができるように構成
されている。
ェアは、測定物であるプリント基板の検査結果の統計処
理、表示、印刷等を容易に行うことができるように構成
されている。
【0031】システムコントロール2は、プリント基板
の検査時にパソコン1へ入力される使用者の各種要求信
号に応じて、計測制御モジュール群3の選択、計測の実
施、計測結果のパソコン1への転送等の計測全般を制御
する。なお、システムコントロール2は後述する計測制
御モジュールと同一形状に形成され、計測制御モジュー
ルラックの一端に固定収納されている。
の検査時にパソコン1へ入力される使用者の各種要求信
号に応じて、計測制御モジュール群3の選択、計測の実
施、計測結果のパソコン1への転送等の計測全般を制御
する。なお、システムコントロール2は後述する計測制
御モジュールと同一形状に形成され、計測制御モジュー
ルラックの一端に固定収納されている。
【0032】計測制御モジュール群3は、所謂異なる機
能検査を有する各種のファンクションテスタで構成さ
れ、夫々が同形の矩形形状に形成されており、基本仕様
モジュールとしてデジタルマルチメータ、電源コントロ
ール、マルチプレクサーの3つのモジュールを有し、こ
の他オプションとして、ユニバーサルカウンタ、ファン
クションジェネレータ、波形テスト、ディジタルテス
ト、ディジタル入出力、キーボードマトリックス、ブザ
ーLEDテスト、ROMエミュレーション、リレー、バ
ーコード、GRIBアダプタ等の豊富な計測制御モジュ
ールを有している。
能検査を有する各種のファンクションテスタで構成さ
れ、夫々が同形の矩形形状に形成されており、基本仕様
モジュールとしてデジタルマルチメータ、電源コントロ
ール、マルチプレクサーの3つのモジュールを有し、こ
の他オプションとして、ユニバーサルカウンタ、ファン
クションジェネレータ、波形テスト、ディジタルテス
ト、ディジタル入出力、キーボードマトリックス、ブザ
ーLEDテスト、ROMエミュレーション、リレー、バ
ーコード、GRIBアダプタ等の豊富な計測制御モジュ
ールを有している。
【0033】上記のファンクションテスタの相当する各
計測制御モジュールは、同一の矩形、薄厚の箱状に形成
されており、、図2に示すように、適当な計測制御モジ
ュールラック3aの中に平行に設けられた複数(例えば
21個)のスロット3bに任意の順序で挿入されるよう
になっている。このようにして、コンパクトで小型の計
測制御モジュール群3が形成される。
計測制御モジュールは、同一の矩形、薄厚の箱状に形成
されており、、図2に示すように、適当な計測制御モジ
ュールラック3aの中に平行に設けられた複数(例えば
21個)のスロット3bに任意の順序で挿入されるよう
になっている。このようにして、コンパクトで小型の計
測制御モジュール群3が形成される。
【0034】しかも各計測制御モジュールは、スロット
3bの位置を選ばず、自由なスロット3bに抜き差しで
きる構造となっており、そのモジュールの認識はバスを
介して各モジュールの持っている認識番号等で判別され
る。
3bの位置を選ばず、自由なスロット3bに抜き差しで
きる構造となっており、そのモジュールの認識はバスを
介して各モジュールの持っている認識番号等で判別され
る。
【0035】計測制御モジュール群3を構成する計測制
御モジュールとしては、検査対象となるプリント基板に
より色々な組み合わせが可能である。例えば、ワープロ
のプリント基板用、多機能電話機のプリント基板用、オ
ーディオアンプのプリント基板等のファンクションテス
タの計測制御モジュール群は、それぞれ、下記のように
構成することができる。
御モジュールとしては、検査対象となるプリント基板に
より色々な組み合わせが可能である。例えば、ワープロ
のプリント基板用、多機能電話機のプリント基板用、オ
ーディオアンプのプリント基板等のファンクションテス
タの計測制御モジュール群は、それぞれ、下記のように
構成することができる。
【0036】(構成例1)ワープロプリント基板用ファ
ンクションテスタ ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール
ンクションテスタ ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール
【0037】・オプションモジュール(ファンクション
テスタ)として、 (1)LCD基本データの吸い上げのためのディジタル
テストモジュール (2)各クロックの測定のためのユニバーサルカウンタ (3)疑似キーボードのためのキーボードマトリックス (4)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール
テスタ)として、 (1)LCD基本データの吸い上げのためのディジタル
テストモジュール (2)各クロックの測定のためのユニバーサルカウンタ (3)疑似キーボードのためのキーボードマトリックス (4)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール
【0038】(構成例2)多機能電話機のプリント基板
用ファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール ・オプション計測制御モジュール(ファンクションテス
タ)として、 (1)電話回線信号発生のためのファンクションジェネ
レータ (2)スイッチ設定のためのリレイモジュール (3)疑似キーボードのためのキーボードマトリックス (4)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール (5)パルスの測定のためのユニバーサルカウンタ
用ファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール ・オプション計測制御モジュール(ファンクションテス
タ)として、 (1)電話回線信号発生のためのファンクションジェネ
レータ (2)スイッチ設定のためのリレイモジュール (3)疑似キーボードのためのキーボードマトリックス (4)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール (5)パルスの測定のためのユニバーサルカウンタ
【0039】(構成例3)オーディオアンプのプリント
基板のファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール ・オプション計測制御モジュール(ファンクションテス
タ)として、 (1)テープ疑似信号発生のためのファンクションジェ
ネレータ (2)スイッチ設定のためのリレイモジュール (3)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール
基板のファンクションテスタ 上記基本計測制御モジュールに下記のオプション計測制
御モジュールを加える。即ち、 ・基本計測制御モジュール(ファンクションテスタ)と
して、 (1)ディジタルマルチメータ (2)マルチプレクサー(30ポイント、4つの測定バ
スの接続) (3)電源コントロール ・オプション計測制御モジュール(ファンクションテス
タ)として、 (1)テープ疑似信号発生のためのファンクションジェ
ネレータ (2)スイッチ設定のためのリレイモジュール (3)ブザー、LEDのチェックのためのブザーLED
テストモジュール
【0040】フィクスチャ4は、検査対象プリント基板
を装着するための治具であり、その上側又は下側から複
数の測定用の接続ピンが下降、上昇して特定の測定ポイ
ントに接続される。
を装着するための治具であり、その上側又は下側から複
数の測定用の接続ピンが下降、上昇して特定の測定ポイ
ントに接続される。
【0041】VME標準バス5は、システムコントロー
ル2とファンクションテスタである各計測制御モジュー
ルとの間の接続をするバスである。
ル2とファンクションテスタである各計測制御モジュー
ルとの間の接続をするバスである。
【0042】測定バス6は、ファンクションテスタであ
る各計測制御モジュールと被測定基板との間、および、
各計測制御モジュールの相互間を接続しているバスであ
る。
る各計測制御モジュールと被測定基板との間、および、
各計測制御モジュールの相互間を接続しているバスであ
る。
【0043】計測器7は、従来の計測器であり、計測器
用バス8によりパソコン1と接続されており、これによ
って、ファンクションテスト・システムであっても従来
からのファンクションテスタ等の計測器をも適宜使用す
ることができる構成となっている。
用バス8によりパソコン1と接続されており、これによ
って、ファンクションテスト・システムであっても従来
からのファンクションテスタ等の計測器をも適宜使用す
ることができる構成となっている。
【0044】上記構成にしたファンクションテスト・シ
ステムにおいては、例えば下記のようなアナログ測定お
よびディジタル測定を行うことができる。 1.アナログ測定 1.1 入力 直流電圧測定 10μV〜300V 交流電圧測定 10μV〜300V(RMS) 抵抗測定 10mΩ〜1MΩ 周波数測定 0.1Hz〜100MHz 周期、時間間隔測定 100ns〜40s 周波数比の測定 0.1HZ〜100MHz カウント 1〜10,000,000,000 任意波形入力 リアルサンプリング DC〜5MHz 等価サンプリング DC〜100MHz 入力最大ポイント数 480
ステムにおいては、例えば下記のようなアナログ測定お
よびディジタル測定を行うことができる。 1.アナログ測定 1.1 入力 直流電圧測定 10μV〜300V 交流電圧測定 10μV〜300V(RMS) 抵抗測定 10mΩ〜1MΩ 周波数測定 0.1Hz〜100MHz 周期、時間間隔測定 100ns〜40s 周波数比の測定 0.1HZ〜100MHz カウント 1〜10,000,000,000 任意波形入力 リアルサンプリング DC〜5MHz 等価サンプリング DC〜100MHz 入力最大ポイント数 480
【0045】 1.2 出力 出力波形 SIN波、三角波、任意波、TTLパルス 周波数 SIN波 0.5Hz〜2.0MHz 三角波 0.5Hz〜256KHz 任意波 0.5Hz〜256KHz TTL 25.6Hz〜25.6MHz 電圧範囲 −10V〜+10V(開放の時) 50Ω出力インピーダンス 出力モード 連続、シングル、外部ゲート 同時出力チャンネル数 4チャンネル 最大出力数 1MHz以下で480ポイント
【0046】 2.ディジタル測定 2.1 入力 入力チャンネル 16チャンネル/モジュール (最大16モジュール) サンプリングレート 200ms〜50ns パターン長 1Kバイト(最大32Kバイト)
【0047】 2.2 出力 出力チャンネル 16チャンネル/モジュール (最大16モジュール) 出力分解能 200ms〜50ns パターン長 1Kバイト(最大32Kバイト)
【0048】3.その他 上記機能の他下記の利用が可能である。 測定器用アダプタによる外部計測器の利用 8×8キーボードマトリックス 2チャンネルのブザー、8チャンネルのLED検出 32チャンネルリレー 疑似負荷
【0049】以下、上記構成及び機能を備えたファンク
ションテスト・システムにおけるファンクションテスタ
用ソフトウェアによるテストプログラムの作成から、プ
リント基板の機能検査の実行および故障診断の流れにつ
いて図3及び図4に示すフローチャートを用いて説明す
る。
ションテスト・システムにおけるファンクションテスタ
用ソフトウェアによるテストプログラムの作成から、プ
リント基板の機能検査の実行および故障診断の流れにつ
いて図3及び図4に示すフローチャートを用いて説明す
る。
【0050】(1)検査対象となるプリント基板の検査
仕様および回路図に基づき基板詳細検査仕様を決定する
(ステップST1、ST2、ST3)。
仕様および回路図に基づき基板詳細検査仕様を決定する
(ステップST1、ST2、ST3)。
【0051】(2)ディスプレイに表示される図4に示
すような対話型ポップパネルの画面によりプリント基板
に対して最大32個のテストプログラムを割り当て、編
集画面表示による編集をする(ステップST4)。編集
画面表示は、図5に示すように、例えば電圧不足、バス
のタイミング状態、・オプション計測制御モジュール
(ファンクションテスタ)として、パターンの出力等の
各種の機能検査の結果を”PASS”、”FAIL”等
の表示で素人でも理解できるように表示される。
すような対話型ポップパネルの画面によりプリント基板
に対して最大32個のテストプログラムを割り当て、編
集画面表示による編集をする(ステップST4)。編集
画面表示は、図5に示すように、例えば電圧不足、バス
のタイミング状態、・オプション計測制御モジュール
(ファンクションテスタ)として、パターンの出力等の
各種の機能検査の結果を”PASS”、”FAIL”等
の表示で素人でも理解できるように表示される。
【0052】(3)次に、最初のテストプログラムの各
検査ステップを定義すると共に、計測制御モジュールを
選択する(ステップST5)。検査ステップは、高機能
の編集コマンド(削除、コピー、ペースト、挿入)を用
いて、簡単なコマンドステップ(フェールストップ、ス
テップリトライ)により定義することができるようにな
っている。
検査ステップを定義すると共に、計測制御モジュールを
選択する(ステップST5)。検査ステップは、高機能
の編集コマンド(削除、コピー、ペースト、挿入)を用
いて、簡単なコマンドステップ(フェールストップ、ス
テップリトライ)により定義することができるようにな
っている。
【0053】又、検査ステップは、1ステップ毎のデバ
ッグが可能である。また、ステップの不良辞典として、
最大256文字のコメントを入力することができるよう
になっている。
ッグが可能である。また、ステップの不良辞典として、
最大256文字のコメントを入力することができるよう
になっている。
【0054】(4)計測器疑似パネルをディスプレイ上
に表示させ、これにより、各測定条件を設定する(ステ
ップST6)。
に表示させ、これにより、各測定条件を設定する(ステ
ップST6)。
【0055】(5)計測器疑似パネル上のEDITボタ
ンを押して自動判定基準を設定する(ステップST
7)。
ンを押して自動判定基準を設定する(ステップST
7)。
【0056】(6)このテストプログラム内のすべての
検査ステップについて上記ステップST5〜ST7を繰
り返す(ステップST8)。
検査ステップについて上記ステップST5〜ST7を繰
り返す(ステップST8)。
【0057】(7)このテストプログラムについて、上
記編集が終了したら、つぎのテストプログラムについ
て、ステップST4〜ステップST8を繰り返す(ステ
ップST9)。
記編集が終了したら、つぎのテストプログラムについ
て、ステップST4〜ステップST8を繰り返す(ステ
ップST9)。
【0058】(8)テストプロジェクトの中の全てのテ
ストプログラムについての編集が終了したら、テストプ
ロジェクトと、テストプログラムを記録媒体、例えばフ
ロッピィディスク等に保存する(ステップST10)。
ストプログラムについての編集が終了したら、テストプ
ロジェクトと、テストプログラムを記録媒体、例えばフ
ロッピィディスク等に保存する(ステップST10)。
【0059】尚、テストプログラムは、プリント基板の
機能ブロックまたは物理的ブロック毎に最大256ステ
ップで作成され、最大32個のテストプログラムで一つ
のテストプロジェクトにまとめられて記録媒体に格納さ
れライブラリ化される。
機能ブロックまたは物理的ブロック毎に最大256ステ
ップで作成され、最大32個のテストプログラムで一つ
のテストプロジェクトにまとめられて記録媒体に格納さ
れライブラリ化される。
【0060】(9)上記格納されているテストプログラ
ムを読出し、プリント基板の機能検査(GO/NG検
査)を行う(ステップST11)。機能検査は計測器疑
似パネルにより、本物の計測器を操作するのと同様の感
覚で、自動テストからプリント基板診断のための手動計
測まで自由に行うことができる。また、検査中、テスト
ステップをスクロール表示させることができる。
ムを読出し、プリント基板の機能検査(GO/NG検
査)を行う(ステップST11)。機能検査は計測器疑
似パネルにより、本物の計測器を操作するのと同様の感
覚で、自動テストからプリント基板診断のための手動計
測まで自由に行うことができる。また、検査中、テスト
ステップをスクロール表示させることができる。
【0061】(10)検査の結果、”GO”となった時
は、検査成績書を作成、印刷させた後、つぎの工程へ進
む(ステップST12)。
は、検査成績書を作成、印刷させた後、つぎの工程へ進
む(ステップST12)。
【0062】(11)検査の結果、”NG”となった時
は、NG(不良)情報を印刷させる(ステップST1
3)。NG情報には、豊富な統計処理機能により、テス
トプログラム毎のNG率やワースト10ステップ情報等
を出力させることができる。
は、NG(不良)情報を印刷させる(ステップST1
3)。NG情報には、豊富な統計処理機能により、テス
トプログラム毎のNG率やワースト10ステップ情報等
を出力させることができる。
【0063】(12)NGとなったテストプログラムま
たは検査ステップについて、不良辞書機能と手動計測モ
ードでの詳細計測により不良箇所を判定し(ステップS
T14)、不良箇所の修理を行う(ステップST1
5)。この場合、サンプリング機能により、測定データ
を表示させながら手動調整を行うことができるようにな
っている。
たは検査ステップについて、不良辞書機能と手動計測モ
ードでの詳細計測により不良箇所を判定し(ステップS
T14)、不良箇所の修理を行う(ステップST1
5)。この場合、サンプリング機能により、測定データ
を表示させながら手動調整を行うことができるようにな
っている。
【0064】このようにして共通化された検査手順を介
して種々の機能検査に必要な操作を画面を見ながら行う
ことができるのである。以下、ファンクションテスタで
あるところの基本計測制御モジュールの内、ディジタル
マルチメータと、オプションモジュールの中のユニバー
サルカウンタと、ディジタルテストモジュールと、ディ
ジタル入出力モジュールとについて図面を参照にして説
明する。
して種々の機能検査に必要な操作を画面を見ながら行う
ことができるのである。以下、ファンクションテスタで
あるところの基本計測制御モジュールの内、ディジタル
マルチメータと、オプションモジュールの中のユニバー
サルカウンタと、ディジタルテストモジュールと、ディ
ジタル入出力モジュールとについて図面を参照にして説
明する。
【0065】1.ディジタルマルチメータ 1.1 概要 5桁浮動式平衡型のディジタルマルチメータは、計測制
御モジュールと計測器疑似パネルとから構成されてい
る。
御モジュールと計測器疑似パネルとから構成されてい
る。
【0066】被検査プリント基板をモジュールのフロン
トパネルの端子に接続することによって単体計測器とし
て使用するか、または、画面上に表示される図6に示す
ようなマトリックスボード(MPXボード)を使って多
ポイントの電圧および抵抗を自動測定を行うことができ
る。
トパネルの端子に接続することによって単体計測器とし
て使用するか、または、画面上に表示される図6に示す
ようなマトリックスボード(MPXボード)を使って多
ポイントの電圧および抵抗を自動測定を行うことができ
る。
【0067】MPX画面では、テストステップ毎に、測
定バスと抽出ピンとをマウスを使用して接続することが
できる。
定バスと抽出ピンとをマウスを使用して接続することが
できる。
【0068】1.2 特徴 (1)測定機能 DC電圧 AC電圧 抵抗測定 (2)積分型A/Dコンバータを使用し、通常のノイズ
の除去ができる。 (3)浮動式平衡型の入力により、コモンモード電圧を
除去することができる。 (4)オートゼロおよび自動調整により、測定精度を自
動的に調整することができる。 (5)外部トリガによって測定を起動することができ
る。 (6)トリガを受けると、最大100回の測定(サンプ
リング)を指定することができる。
の除去ができる。 (3)浮動式平衡型の入力により、コモンモード電圧を
除去することができる。 (4)オートゼロおよび自動調整により、測定精度を自
動的に調整することができる。 (5)外部トリガによって測定を起動することができ
る。 (6)トリガを受けると、最大100回の測定(サンプ
リング)を指定することができる。
【0069】1.3 仕様と機能 (1)ディジタルマルチメータは、VXIバスBサイズ
(160mm×234mm)の寸法であり、計測制御モ
ジュールラックの2スロット(幅40mm)を占める。
電源電圧は、+5V、+12V、−12Vである。
(160mm×234mm)の寸法であり、計測制御モ
ジュールラックの2スロット(幅40mm)を占める。
電源電圧は、+5V、+12V、−12Vである。
【0070】 (2)測定機能と範囲 DC電圧測定:0V〜±300V(フロントパネルから入力) 0V〜±40V(MPX、リアコネクタを通じて入力) AC電圧測定:0V〜±300Vrms(フロントパネルから入力) 0V〜±40Vpp(MPX、リアコネクタを通じて入 力) 周波数 20Hz〜10KHz AC結合 抵抗測定 :0Ω〜1MΩ (3)入力 方式 :浮動式平衡型 インピーダンス:10MΩ (4)A/Dコンバータ 方式 :積分型AD変換 分解能 :3バイト 積分時間 :100μs、2.5ms、20ms、320ms 16.7ms、267ms(60Hz電源を使用する場 合) (5)トリガ機能 :トリガソース 即時、バス、外部の各モード :トリガ遅延 1ms〜10s (6)サンプリング回数:最大100回 (7)自動補正 :オートゼロおよびオフセット補正
【0071】1.4 ディジタルマルチメータの使用法 1.4.1.入力特性と接続 ディジタルマルチメータの入力端子は、図7に示すよう
に、本体から絶縁された浮動平衡型差動式であって、端
子HTと端子COMとの間のインピーダンスは等しい。
HT端子とLT端子の相違は極性だけである。
に、本体から絶縁された浮動平衡型差動式であって、端
子HTと端子COMとの間のインピーダンスは等しい。
HT端子とLT端子の相違は極性だけである。
【0072】ディジタルマルチメータの計測器疑似パネ
ルを図8に示す。計測器疑似パネルにおいて、”入力は
MPX”と設定する場合には、HT入力を測定バスのA
バスに、LT入力をBバスに、COM端子をグランド
に、それぞれ接続する。これにより、被測定電圧および
被測定抵抗は、MPXボードによりAバスおよびBバス
を通してディジタルマルチメータに入力する。
ルを図8に示す。計測器疑似パネルにおいて、”入力は
MPX”と設定する場合には、HT入力を測定バスのA
バスに、LT入力をBバスに、COM端子をグランド
に、それぞれ接続する。これにより、被測定電圧および
被測定抵抗は、MPXボードによりAバスおよびBバス
を通してディジタルマルチメータに入力する。
【0073】計測器疑似パネルにおいて、”入力はFR
ONT”と設定する場合には、COM端子をグランドと
接続し、HT端子、LT端子はそれぞれ、モジュールの
LT端子、HT端子と接続する。
ONT”と設定する場合には、COM端子をグランドと
接続し、HT端子、LT端子はそれぞれ、モジュールの
LT端子、HT端子と接続する。
【0074】1.4.2.DC電圧の測定 入力のLT端子およびHT端子を両方共被測定基板と接
続する。また、グランドに対して他の点の電圧を測定す
る時には、LT端子をグランドに接続する。分解能はレ
ンジとアパーチャ時間(または積分時間)により選ぶ。
積分時間はAC電源の1サイクルあるいは16サイクル
を選択することができる。レンジと積分時間とを指定し
たときの電圧測定の分解能を表1に示す。
続する。また、グランドに対して他の点の電圧を測定す
る時には、LT端子をグランドに接続する。分解能はレ
ンジとアパーチャ時間(または積分時間)により選ぶ。
積分時間はAC電源の1サイクルあるいは16サイクル
を選択することができる。レンジと積分時間とを指定し
たときの電圧測定の分解能を表1に示す。
【0075】
【表1】
【0076】1.4.3 AC電圧の測定 AC電圧の測定方法はDC電圧の測定と同様である。A
C電圧の測定は、AC結合で行われる。従って、DCオ
フセットは印加されない。また、RMSコンバータを使
用しているので、非正弦波の電圧を正確に測定すること
ができる。
C電圧の測定は、AC結合で行われる。従って、DCオ
フセットは印加されない。また、RMSコンバータを使
用しているので、非正弦波の電圧を正確に測定すること
ができる。
【0077】1.4.4 抵抗の測定 抵抗の測定は、内部電流源をオンにし、未知抵抗器の両
端に電圧を発生させ、発生した電圧を印加電流で割算し
て抵抗を算出する。抵抗測定の分解能は表2の通りであ
る。
端に電圧を発生させ、発生した電圧を印加電流で割算し
て抵抗を算出する。抵抗測定の分解能は表2の通りであ
る。
【0078】
【表2】
【0079】抵抗の測定は2線式で行い、測定リードの
抵抗は無視される。また、MPXボードから入力する場
合には、自動補正の設定をオンにすると、MPXボード
のオン抵抗を測定し、それを測定抵抗値から引き算して
補正するようになっている。
抵抗は無視される。また、MPXボードから入力する場
合には、自動補正の設定をオンにすると、MPXボード
のオン抵抗を測定し、それを測定抵抗値から引き算して
補正するようになっている。
【0080】1.4.5 レンジの設定 レンジの設定にはマニュアルレンジとオートレンジとが
ある。オートレンジに設定すると、ディジタルマルチメ
ータがトリガされた時に入力信号をサンプリングして正
しいレンジを選択するようになっている。
ある。オートレンジに設定すると、ディジタルマルチメ
ータがトリガされた時に入力信号をサンプリングして正
しいレンジを選択するようになっている。
【0081】入力信号のレベルに合わせて下記に配慮し
て測定レンジを設定する。 (1)最良の分解能を得るにはできるだけ低いレンジを
選択する。 (2)自動テストの時には、マニュアルレンジで測定す
る。ただし、ステップを設定するときは、オートレンジ
によりレンジの問い合わせができる。 (3)高い分解能を得るためには、積分時間を長くする
(テスト時間は長くなる)。
て測定レンジを設定する。 (1)最良の分解能を得るにはできるだけ低いレンジを
選択する。 (2)自動テストの時には、マニュアルレンジで測定す
る。ただし、ステップを設定するときは、オートレンジ
によりレンジの問い合わせができる。 (3)高い分解能を得るためには、積分時間を長くする
(テスト時間は長くなる)。
【0082】1.4.6.積分時間の設定 積分時間は、ディジタルマルチメータが入力信号をサン
プリングする時間である。積分時間を指定すると、ノー
マルモード除去率(NMR)が決まる。測定は多くの場
合ノーマルモードノイズ、特に50Hzまたは60Hz
の電源から発生するノイズのある状態で行われるから、
A/D変換時に積分処理によりノイズを平均化し除去す
るようになっている。
プリングする時間である。積分時間を指定すると、ノー
マルモード除去率(NMR)が決まる。測定は多くの場
合ノーマルモードノイズ、特に50Hzまたは60Hz
の電源から発生するノイズのある状態で行われるから、
A/D変換時に積分処理によりノイズを平均化し除去す
るようになっている。
【0083】積分時間の設定に当たっては、下記の点を
考慮する必要がある。 (1)50Hzまたは60Hzのノイズのノーマルモー
ド除去は、積分時間が20ms(50Hz)または1
6.7ms(60Hz)の時のみ達成される。 (2)積分時間を長くすると、NMRは高くなるが、読
み取り速度は低下する。 (3)測定分解能は積分時間が短くなると低下する。
考慮する必要がある。 (1)50Hzまたは60Hzのノイズのノーマルモー
ド除去は、積分時間が20ms(50Hz)または1
6.7ms(60Hz)の時のみ達成される。 (2)積分時間を長くすると、NMRは高くなるが、読
み取り速度は低下する。 (3)測定分解能は積分時間が短くなると低下する。
【0084】1.4.7.トリガとサンプルの設定 ディジタルマルチメータの動作には、アイドル状態とト
リガ待ち状態とがある。アイドル状態において、各パラ
メータを設定し、測定可能状態にしてトリガ待ち状態に
なる。トリガを受信すると測定を行う。
リガ待ち状態とがある。アイドル状態において、各パラ
メータを設定し、測定可能状態にしてトリガ待ち状態に
なる。トリガを受信すると測定を行う。
【0085】トリガ毎に一回の測定を行うように設定す
ることができ、この場合は、測定1回終える度にアイド
ル状態に戻るようになっている。
ることができ、この場合は、測定1回終える度にアイド
ル状態に戻るようになっている。
【0086】サンプルは、トリガ毎に、指定された複数
回(最大100回)の測定を行う機能、または、複数の
トリガを受ける機能である。前者の場合は、ディジタル
マルチメータは指定されたサンプル回数の測定を終える
とアイドル状態に戻る。
回(最大100回)の測定を行う機能、または、複数の
トリガを受ける機能である。前者の場合は、ディジタル
マルチメータは指定されたサンプル回数の測定を終える
とアイドル状態に戻る。
【0087】後者の場合、即ちトリガ待ちの状態の時
は、図9のフローチャート図に示すように、トリガ回数
とサンプル回数が指定されてトリガ待ちの状態になる
(ST16、ST17)。
は、図9のフローチャート図に示すように、トリガ回数
とサンプル回数が指定されてトリガ待ちの状態になる
(ST16、ST17)。
【0088】そして、指定された信号源からトリガ信号
を受け取るとトリガされた状態となる(ST18、ST
19)。
を受け取るとトリガされた状態となる(ST18、ST
19)。
【0089】トリガされた状態になると指定されたディ
レイ値で遅延し測定する(ST20、ST21)。
レイ値で遅延し測定する(ST20、ST21)。
【0090】測定は、各トリガ毎に指定されたサンプル
回数だけ行い、指定されたトリガ回数の測定を終了した
らアイドル状態に戻るようになっている(ST20、S
T21、ST22)。
回数だけ行い、指定されたトリガ回数の測定を終了した
らアイドル状態に戻るようになっている(ST20、S
T21、ST22)。
【0091】ここで、トリガされた状態、即ち、トリガ
ソースは、下記の3つのモードのいずれかを設定するこ
とができる。 (1)IMMモード(即時モード) このモードでは、ディジタルマルチメータがトリガ待ち
状態になると内部トリガ信号が必ず発生する。
ソースは、下記の3つのモードのいずれかを設定するこ
とができる。 (1)IMMモード(即時モード) このモードでは、ディジタルマルチメータがトリガ待ち
状態になると内部トリガ信号が必ず発生する。
【0092】(2)EXTモード このモードでは、ディジタルマルチメータの前面にあ
る”ExternalTrigger”コネクタに供給
される外部トリガが供給源となり、ディジタルマルチメ
ータは、TTL信号の立ち上がりエッジでトリガされ
る。
る”ExternalTrigger”コネクタに供給
される外部トリガが供給源となり、ディジタルマルチメ
ータは、TTL信号の立ち上がりエッジでトリガされ
る。
【0093】(3)バスモード このモードでのトリガ源は、測定バスのクロストリガラ
インからの信号である。このクロストリガラインにディ
ジタルマルチメータに対応するトリガコードが現れる
と、ディジタルマルチメータはトリガされる。
インからの信号である。このクロストリガラインにディ
ジタルマルチメータに対応するトリガコードが現れる
と、ディジタルマルチメータはトリガされる。
【0094】また、トリガカウントを設定することによ
り、ディジタルマルチメータがトリガ待ち状態からアイ
ドル状態に戻るまでの間に受け取るトリガ回数(最大1
00回)を指定することができる。
り、ディジタルマルチメータがトリガ待ち状態からアイ
ドル状態に戻るまでの間に受け取るトリガ回数(最大1
00回)を指定することができる。
【0095】また、トリガ遅延を設定することにより、
トリガから測定までの時間(0000ms〜9999m
s)を指定することができる。また、サンプルカウント
の設定により、トリガ信号を受ける度に実行する測定回
数(最大100回)を指定することができる。
トリガから測定までの時間(0000ms〜9999m
s)を指定することができる。また、サンプルカウント
の設定により、トリガ信号を受ける度に実行する測定回
数(最大100回)を指定することができる。
【0096】連続した複数の測定間隔、すなわちサンプ
ル周期は最大64msである。サンプル周期は積分時間
より長くなければならない。
ル周期は最大64msである。サンプル周期は積分時間
より長くなければならない。
【0097】1.4.8.オートゼロ ディジタルマルチメータのオートゼロ機能は、DC電圧
と抵抗の測定値からディジタルマルチメータに内在する
オフセット電圧分を除去することである。
と抵抗の測定値からディジタルマルチメータに内在する
オフセット電圧分を除去することである。
【0098】オートゼロをオンに設定すると、ディジタ
ルマルチメータは入力電圧を測定し、つぎに、入力信号
を内部で切り離すかまたは電流源を切った後オフセット
電圧を測定し、この2つの測定値の差をディジタルマル
チメータの電圧測定値とする。この測定値は抵抗の測定
にも使用されるようになっている。
ルマルチメータは入力電圧を測定し、つぎに、入力信号
を内部で切り離すかまたは電流源を切った後オフセット
電圧を測定し、この2つの測定値の差をディジタルマル
チメータの電圧測定値とする。この測定値は抵抗の測定
にも使用されるようになっている。
【0099】1.4.9.オフセット補正 ディジタルマルチメータのオフセット補正は、抵抗の測
定時にディジタルマルチメータの内外に発生するオフセ
ット電圧を下記のように打ち消す機能である。 (1)電流源をオンにし、抵抗器両端に誘起される電圧
を測定する。 (2)つぎに、電流源をオフにしてオフセット電圧を測
定する。 (3)つぎに、(1)と(2)での測定電圧の差を取
り、その差を印加電流で割り算する。
定時にディジタルマルチメータの内外に発生するオフセ
ット電圧を下記のように打ち消す機能である。 (1)電流源をオンにし、抵抗器両端に誘起される電圧
を測定する。 (2)つぎに、電流源をオフにしてオフセット電圧を測
定する。 (3)つぎに、(1)と(2)での測定電圧の差を取
り、その差を印加電流で割り算する。
【0100】オフセット補正は任意のレンジで使用する
ことができるが、最高レンジでは、上記誘起電圧の値は
オフセット電圧よりはるかに大きいのでオフセット電圧
が測定精度に与える影響は無視し得る程小さくなる。
ことができるが、最高レンジでは、上記誘起電圧の値は
オフセット電圧よりはるかに大きいのでオフセット電圧
が測定精度に与える影響は無視し得る程小さくなる。
【0101】2.ユニバーサルカウンタ 2.1 概要 ユニバーサルカウンタは、ハードウェアとしては計測制
御モジュールラックの1スロットを占めるレジスタタイ
プモジュールである。
御モジュールラックの1スロットを占めるレジスタタイ
プモジュールである。
【0102】また、ユニバーサルカウンタは、図10に
示すように計測器疑似パネルとしてディスプレイの画面
に表示される。計測制御モジュールの前面から入力信号
を入力して単体の計測器として使用することもできる
し、また、MPXボードを利用して多チャンネルの自動
測定を行うこともできる。
示すように計測器疑似パネルとしてディスプレイの画面
に表示される。計測制御モジュールの前面から入力信号
を入力して単体の計測器として使用することもできる
し、また、MPXボードを利用して多チャンネルの自動
測定を行うこともできる。
【0103】このような構成からなるユニバーサルカウ
ンタは、チャンネルAとチャンネルBとの2チャンネル
を有する。仕様および機能は両チャンネル共下記の通り
である。 (1)周波数測定 測定範囲: 0.2Hz〜100MHz(DC結合) 100Hz〜100MHz(AC結合) 分解能 : 1/ゲートタイム (2)平均周期測定 測定範囲:100ns〜40s(DC結合) 100ns〜10ms(AC結合) 分解能 :10ns (3)パルス幅測定 測定範囲:200ns〜40s(DC結合) 200ns〜10ms(AC結合) 分解能 :100ns (4)時間間隔 測定範囲:200ns〜40s(DC結合) 200ns〜10ms(AC結合) 分解能 :100ns (5)加算計数 計数範囲:1〜1,000,000,000 最小パルス幅:10ns (6)周波数比 (7)タイムべース 周波数 :10MHz 安定度 :2ppm 年安定度:2ppm/年 温度特性:5ppm(0°C〜50°C以上) (8)入力信号コンディショニング(各チャンネルの別々設定は不可) 入力感度:25mV(0db) 250mV(20db) 結合 :DCまたはAC インピーダンス:1MΩ(並列50pF以下) 50Ω(並列50pF以下) フィルタ :100KHzローパスフィルタ アッテネーション:0dbまたは20db (9)トリガ レベル :−2.54V〜+2.54V(0db) −25.6V〜+25.6V(20db) 有効エッジ:立ち上がりまたは立ち下がり
ンタは、チャンネルAとチャンネルBとの2チャンネル
を有する。仕様および機能は両チャンネル共下記の通り
である。 (1)周波数測定 測定範囲: 0.2Hz〜100MHz(DC結合) 100Hz〜100MHz(AC結合) 分解能 : 1/ゲートタイム (2)平均周期測定 測定範囲:100ns〜40s(DC結合) 100ns〜10ms(AC結合) 分解能 :10ns (3)パルス幅測定 測定範囲:200ns〜40s(DC結合) 200ns〜10ms(AC結合) 分解能 :100ns (4)時間間隔 測定範囲:200ns〜40s(DC結合) 200ns〜10ms(AC結合) 分解能 :100ns (5)加算計数 計数範囲:1〜1,000,000,000 最小パルス幅:10ns (6)周波数比 (7)タイムべース 周波数 :10MHz 安定度 :2ppm 年安定度:2ppm/年 温度特性:5ppm(0°C〜50°C以上) (8)入力信号コンディショニング(各チャンネルの別々設定は不可) 入力感度:25mV(0db) 250mV(20db) 結合 :DCまたはAC インピーダンス:1MΩ(並列50pF以下) 50Ω(並列50pF以下) フィルタ :100KHzローパスフィルタ アッテネーション:0dbまたは20db (9)トリガ レベル :−2.54V〜+2.54V(0db) −25.6V〜+25.6V(20db) 有効エッジ:立ち上がりまたは立ち下がり
【0104】2.2.ユニバーサルカウンタ使用前の予
備知識 2.2.1 デフォルト状態 ユニバーサルカウンタは、電源を投入された時とリセッ
トされた時とに、入力および測定パラメータのデフォル
ト値が表3のように設定される。
備知識 2.2.1 デフォルト状態 ユニバーサルカウンタは、電源を投入された時とリセッ
トされた時とに、入力および測定パラメータのデフォル
ト値が表3のように設定される。
【0105】
【表3】
【0106】2.2.2.入力信号コンディショニング 信号の測定を行う前に、振幅、周波数、周期性や反復性
の有無等について入力信号コンディショニングを正しく
選択する必要がある。A、B両チャンネル共、イベント
レベル、イベントスロープ、入力アッテネーション、入
力結合、インピーダンスを選択することができる。ま
た、ローパスフィルタを使用することができる。
の有無等について入力信号コンディショニングを正しく
選択する必要がある。A、B両チャンネル共、イベント
レベル、イベントスロープ、入力アッテネーション、入
力結合、インピーダンスを選択することができる。ま
た、ローパスフィルタを使用することができる。
【0107】なお、アッテネーション、結合、インピー
ダンス、ローパスフィルタの各設定はA、B両チャンネ
ルとも同じである。例えば、チャンネルAの入力インピ
ーダンスを50Ωに設定するとチャンネルBの入力イン
ピーダンスも50Ωに設定される。しかし、イベントレ
ベルとイベントスロープは別々に設定することができ
る。
ダンス、ローパスフィルタの各設定はA、B両チャンネ
ルとも同じである。例えば、チャンネルAの入力インピ
ーダンスを50Ωに設定するとチャンネルBの入力イン
ピーダンスも50Ωに設定される。しかし、イベントレ
ベルとイベントスロープは別々に設定することができ
る。
【0108】以下、各パラメータの入力信号コンディシ
ョニングについて説明する。 2.2.2.1 イベントレベル イベントレベルは、測定しようとする入力信号の振幅を
表す。電源投入またはリセットの時にはA、B両チャン
ネル共イベントレベルは0Vのデフォルト値の設定さ
れ、入力信号が0Vを通過すると、測定が開始される。
ョニングについて説明する。 2.2.2.1 イベントレベル イベントレベルは、測定しようとする入力信号の振幅を
表す。電源投入またはリセットの時にはA、B両チャン
ネル共イベントレベルは0Vのデフォルト値の設定さ
れ、入力信号が0Vを通過すると、測定が開始される。
【0109】2.2.2.2 イベントスロープ イベントスロープは、測定しようとする入力信号の立ち
上がりまたは立ち下がりのスロープを表す。時間間隔測
定を行う時、測定を開始または終了する立ち上がりまた
は立ち下がりのエッジを指定するためにイベントスロー
プを指定する。また、イベントスロープは、パルス幅の
測定を行う時、正極性または負極性のパルス幅の指定に
使用される。
上がりまたは立ち下がりのスロープを表す。時間間隔測
定を行う時、測定を開始または終了する立ち上がりまた
は立ち下がりのエッジを指定するためにイベントスロー
プを指定する。また、イベントスロープは、パルス幅の
測定を行う時、正極性または負極性のパルス幅の指定に
使用される。
【0110】2.2.2.3.入力結合 ユニバーサルカウンタのチャンネルAおよびBは、AC
結合またはDC結合のいずれかの入力結合方式が選択さ
れる。入力結合にAC結合が必要となる2つの例を図1
1と図12とに示す。
結合またはDC結合のいずれかの入力結合方式が選択さ
れる。入力結合にAC結合が必要となる2つの例を図1
1と図12とに示す。
【0111】図11の例は、超低周波信号に乗っている
高周波信号を測定する場合である。このように低周波信
号の振幅が大きい時は、測定対象信号がイベントレベル
設定の最大値を越えてしまうためユニバーサルカウンタ
をトリガすることができずトリガエラーが発生する。従
って、入力をAC結合にして低周波分を除去すると、イ
ベントレベルで測定対象信号をトリガし、その結果、正
確なカウントを得ることができる。
高周波信号を測定する場合である。このように低周波信
号の振幅が大きい時は、測定対象信号がイベントレベル
設定の最大値を越えてしまうためユニバーサルカウンタ
をトリガすることができずトリガエラーが発生する。従
って、入力をAC結合にして低周波分を除去すると、イ
ベントレベルで測定対象信号をトリガし、その結果、正
確なカウントを得ることができる。
【0112】図12の例は、測定対象である200mV
信号に18mVの直流成分が存在する場合である。信号
を10分の1に減衰することによってイベントレベルの
範囲以内に収めると、測定対象信号は200mVに減衰
してユニバーサルカウンタの感度に達しなくなる。そこ
で、入力をAC結合にして直流分を除去すると、200
mV信号を0Vのイベントレベルで測定することができ
る。
信号に18mVの直流成分が存在する場合である。信号
を10分の1に減衰することによってイベントレベルの
範囲以内に収めると、測定対象信号は200mVに減衰
してユニバーサルカウンタの感度に達しなくなる。そこ
で、入力をAC結合にして直流分を除去すると、200
mV信号を0Vのイベントレベルで測定することができ
る。
【0113】DC結合は、入力信号をDCレベルに指定
する。DC結合に入力では、測定を開始するイベントレ
ベルを波形上の点に設定することができる。
する。DC結合に入力では、測定を開始するイベントレ
ベルを波形上の点に設定することができる。
【0114】2.2.2.4 入力インピーダンス 両チャンネル共に、入力インピーダンスを1MΩまたは
50Ωのいずれかに設定することができる。
50Ωのいずれかに設定することができる。
【0115】2.2.2.5 入力ローパスフィルタ 両チャンネルにおいて、カットオフ周波数が100KH
zのローパスフィルタを選択することができる。これ
は、測定時のノーマルノイズの影響を減少する効果があ
り、周期の測定には特に重要である。
zのローパスフィルタを選択することができる。これ
は、測定時のノーマルノイズの影響を減少する効果があ
り、周期の測定には特に重要である。
【0116】2.2.3.周波数測定におけるタイムべ
ースの選択 ユニバーサルカウンタが周波数および周波数比を測定す
る場合に、入力信号をサンプリングして周波数を決定す
るための時間としてのタイムべースを選択する必要があ
る。このタイムべースによって分解能とレンジが直接決
まる。タイムべースとレンジとの関係を表4に示す。
ースの選択 ユニバーサルカウンタが周波数および周波数比を測定す
る場合に、入力信号をサンプリングして周波数を決定す
るための時間としてのタイムべースを選択する必要があ
る。このタイムべースによって分解能とレンジが直接決
まる。タイムべースとレンジとの関係を表4に示す。
【0117】
【表4】 分解能は、差異を識別することができる最小変化量であ
る。分解能を上げる程、タイムべースは増加し、測定が
遅くなる。
る。分解能を上げる程、タイムべースは増加し、測定が
遅くなる。
【0118】2.2.4.平均周期測定の周期数とレン
ジ ユニバーサルカウンタにおいて周期数とは、入力信号を
サンプリングして周期を測定するサイクル数のことであ
る。これによって、周期測定で得られる分解能とレンジ
が決まる。周期数とレンジとの関係を表5に示す。
ジ ユニバーサルカウンタにおいて周期数とは、入力信号を
サンプリングして周期を測定するサイクル数のことであ
る。これによって、周期測定で得られる分解能とレンジ
が決まる。周期数とレンジとの関係を表5に示す。
【0119】
【表5】
【0120】2.3 ユニバーサルカウンタの使用法 ユニバーサルカウンタを使用するには、測定したい信号
の性質をよく理解し、入力信号コンディショニングおよ
び測定コマンドを正しく選択し、上述のように入力パラ
メータを設定した後、測定を下記のように実行する。
の性質をよく理解し、入力信号コンディショニングおよ
び測定コマンドを正しく選択し、上述のように入力パラ
メータを設定した後、測定を下記のように実行する。
【0121】2.3.1 周波数の測定 周波数の測定レンジはDCから100MHzである。オ
ーディオレシーバの周波数の測定例を図13に示す。こ
の場合、チャンネルAでは、10MHzの正弦波のIF
信号を測定し、チャンネルBでは、2100Hzの検波
器出力を測定している。入力の振幅は±10Vとしてい
る。
ーディオレシーバの周波数の測定例を図13に示す。こ
の場合、チャンネルAでは、10MHzの正弦波のIF
信号を測定し、チャンネルBでは、2100Hzの検波
器出力を測定している。入力の振幅は±10Vとしてい
る。
【0122】この場合各パラメータの設定は下記のよう
に行う。 イベントレベル :入力信号は全て0Vで対称である
ので、イベントレベルは0Vとする。 イベントスロープ :イベントスロープを変更しても周
波数測定に影響は無い。
に行う。 イベントレベル :入力信号は全て0Vで対称である
ので、イベントレベルは0Vとする。 イベントスロープ :イベントスロープを変更しても周
波数測定に影響は無い。
【0123】アッテネーション :20dbを選択す
る。 結合 :AC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:1MΩを使用する。 タイムべース :CHAでは1024msを、CH
Bでは16msを使用する。
る。 結合 :AC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:1MΩを使用する。 タイムべース :CHAでは1024msを、CH
Bでは16msを使用する。
【0124】2.3.2 平均周波数の測定 平均周波数の測定レンジは200nsから40sまでで
ある。一例として、チャンネルAの入力信号が1MHz
のTTL信号を測定する場合のパラメータの設定は下記
のように行う。 イベントレベル :TTL信号ではイベントレベルは
+1.2Vを設定する。
ある。一例として、チャンネルAの入力信号が1MHz
のTTL信号を測定する場合のパラメータの設定は下記
のように行う。 イベントレベル :TTL信号ではイベントレベルは
+1.2Vを設定する。
【0125】イベントスロープ :イベントスロープを
変更しても周波数測定に影響は無い。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:1MΩを使用する。 周期数 :8192を使用する。
変更しても周波数測定に影響は無い。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:1MΩを使用する。 周期数 :8192を使用する。
【0126】2.3.3.パルス幅の測定 正のパルスは立ち上がりエッジから立ち下がりエッジま
でのパルスであり、負のパルスは立ち下がりエッジから
立ち上がりエッジまでのパルスである。測定範囲は、1
00ns〜40sである。
でのパルスであり、負のパルスは立ち下がりエッジから
立ち上がりエッジまでのパルスである。測定範囲は、1
00ns〜40sである。
【0127】図14に示すような、コンポジットビデオ
信号における水平同期パルスのパルス幅Wを測定する場
合の各パラメータの設定は下記のように行う。 イベントレベル :イベントレベルは+2.0Vを設
定する イベントスロープ :立ち下がりエッジを指定する。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:50Ωを使用する。 周期数 :1024を使用する。
信号における水平同期パルスのパルス幅Wを測定する場
合の各パラメータの設定は下記のように行う。 イベントレベル :イベントレベルは+2.0Vを設
定する イベントスロープ :立ち下がりエッジを指定する。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:50Ωを使用する。 周期数 :1024を使用する。
【0128】3.3.4.時間間隔の測定 時間の開始および停止は、それぞれ、パルスの立ち上が
りまたは立ち下がりを選択することができる。レンジは
200ns〜40sである。図14に示すようなコンポ
ジットビデオ信号における水平同期パルスの立ち下がり
エッジ間の時間間隔Tを測定するには、同じ信号をチャ
ンネルA、Bの両方に入力して行う。
りまたは立ち下がりを選択することができる。レンジは
200ns〜40sである。図14に示すようなコンポ
ジットビデオ信号における水平同期パルスの立ち下がり
エッジ間の時間間隔Tを測定するには、同じ信号をチャ
ンネルA、Bの両方に入力して行う。
【0129】この場合、各パラメータの設定は下記の通
り行う。 イベントレベル :イベントレベルは+2.0Vを設
定する イベントスロープ :CHA、CHB共立ち下がりエッ
ジを指定する。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:50Ωを使用する。 周期数 :1024を使用する。
り行う。 イベントレベル :イベントレベルは+2.0Vを設
定する イベントスロープ :CHA、CHB共立ち下がりエッ
ジを指定する。 アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:50Ωを使用する。 周期数 :1024を使用する。
【0130】3.3.5.周波数比の測定 周波数比の測定はチャンネルAとチャンネルBとで行
い、その測定結果の比をとる。最大周波数比は1E9D
で最小周波数比は1E−9である。図15は、元の周波
数とは異なる周波数を生成する回路での周波数比の測定
の例を示す。
い、その測定結果の比をとる。最大周波数比は1E9D
で最小周波数比は1E−9である。図15は、元の周波
数とは異なる周波数を生成する回路での周波数比の測定
の例を示す。
【0131】周波数比の測定時間は、入力信号の周波数
および測定する周期数により決まる。つまり、入力信号
が低周波数の場合には測定に長い時間がかかる。各パラ
メータの設定は下記の通り行う。 イベントレベル :イベントレベルは+1.2Vを設
定する イベントスロープ :設定しても測定に影響はない。
および測定する周期数により決まる。つまり、入力信号
が低周波数の場合には測定に長い時間がかかる。各パラ
メータの設定は下記の通り行う。 イベントレベル :イベントレベルは+1.2Vを設
定する イベントスロープ :設定しても測定に影響はない。
【0132】アッテネーション :0dbを選択する。 結合 :DC結合を選択する。 ローパスフィルタ :使用しない。 入力インピーダンス:1MΩを使用する。
【0133】3.3.6.加算計数 チャンネルAまたはチャンネルBで加算計数を行うとが
できる。最大読み取り値は999999である。カウン
トを読んでも加算計数は停止しない。カウントは、開始
されるとコマンドを書き込むまで続けられる。
できる。最大読み取り値は999999である。カウン
トを読んでも加算計数は停止しない。カウントは、開始
されるとコマンドを書き込むまで続けられる。
【0134】4.ディジタルテストモジュール 4.1 概要 ディジタルテストモジュールは、プリント基板へビット
データやパターンを供給したり、プリント基板から出力
されるタイミングチャート、パターンデータ等を入力す
ることによりプリント基板のディジタル機能の検査を効
率良く行うことができるように構成されている。最大2
0MHzのクロックレートで1024ステート16チャ
ンネルのパターンを発生し、16チャンネルのデータを
サンプリングすることができる。
データやパターンを供給したり、プリント基板から出力
されるタイミングチャート、パターンデータ等を入力す
ることによりプリント基板のディジタル機能の検査を効
率良く行うことができるように構成されている。最大2
0MHzのクロックレートで1024ステート16チャ
ンネルのパターンを発生し、16チャンネルのデータを
サンプリングすることができる。
【0135】4.2 構成 図16は、ディジタルテストモジュールの構成を示す。 4.2.1 パターン入力 パターン入力の仕様は下記の通りである。 チャンネル数 :16チャンネル 入力レベル :−40V〜+40V クロック :内部クロック 5Hz〜20MHz 外部クロック 最高20MHz パターン長さ :1K(標準)、4K、16K、32
K(オプション) トリガ :CH1〜CH4 レベルまたはエッ
ジ :CH5〜CH16 レベル クロストリガ インピーダンス :100KΩ
K(オプション) トリガ :CH1〜CH4 レベルまたはエッ
ジ :CH5〜CH16 レベル クロストリガ インピーダンス :100KΩ
【0136】コネクターCN1からの16チャンネルの
入力タイミングデータを最高20MHzでサンプリング
し、サンプリングしたデータをFIFOメモリに記憶す
る。上位コンピュータはVMEインタフェースおよびク
ロストリガインタフェースを介してFIFOメモリの内
容を読出し、タイミングデータの波形を表示し、標準波
形と比較することによってディジタルテストを行うよう
になっている。
入力タイミングデータを最高20MHzでサンプリング
し、サンプリングしたデータをFIFOメモリに記憶す
る。上位コンピュータはVMEインタフェースおよびク
ロストリガインタフェースを介してFIFOメモリの内
容を読出し、タイミングデータの波形を表示し、標準波
形と比較することによってディジタルテストを行うよう
になっている。
【0137】また、ディスプレイに表示されるコントロ
ールパネルを用いて、パターンのサンプリングクロック
レート、サンプリングデータの長さ、トリガ(パターン
トリガかエッジトリガかの別)、テストモード等を下記
のように設定する。
ールパネルを用いて、パターンのサンプリングクロック
レート、サンプリングデータの長さ、トリガ(パターン
トリガかエッジトリガかの別)、テストモード等を下記
のように設定する。
【0138】(1)サンプリングレート 内部サンプリングレートは、50ns〜200msを2
1段階に設定することができる。外部クロックはプロー
ブピンから入力する。
1段階に設定することができる。外部クロックはプロー
ブピンから入力する。
【0139】(2)サンプリングデータの長さは、10
0ビット〜16Kビットを5段階に設定することができ
る。
0ビット〜16Kビットを5段階に設定することができ
る。
【0140】(3)トリガ トリガの種類にはパターントリガとエッジトリガとがあ
る。パターントリガは、全チャンネルにおいて、1、0
のレベルからなるAND条件であり、任意のチャンネル
を無効にすることも可能である。また、エッジトリガ
は、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとからなるO
R条件である。また、パターントリガとエッジトリガと
の間はAND条件である。
る。パターントリガは、全チャンネルにおいて、1、0
のレベルからなるAND条件であり、任意のチャンネル
を無効にすることも可能である。また、エッジトリガ
は、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとからなるO
R条件である。また、パターントリガとエッジトリガと
の間はAND条件である。
【0141】トリガの位置設定は、0、1/4、1/
2、3/4の4段階に設定することができ、トリガ前の
サンプリングデータの長さとトリガ後のサンプリングデ
ータの長さとを設定する機能である。例えば、サンプリ
ングデータの長さを400、トリガの位置を1/4に設
定すると、トリガ前の100個のデータとトリガ後の3
00個のデータとがメモリに書き込まれる。
2、3/4の4段階に設定することができ、トリガ前の
サンプリングデータの長さとトリガ後のサンプリングデ
ータの長さとを設定する機能である。例えば、サンプリ
ングデータの長さを400、トリガの位置を1/4に設
定すると、トリガ前の100個のデータとトリガ後の3
00個のデータとがメモリに書き込まれる。
【0142】クロストリガは、クロストリガバス6から
のトリガコード(他の計測制御モジュールからの16進
55桁のトリガ信号)によりデータサンプリングを開始
させる機能である。
のトリガコード(他の計測制御モジュールからの16進
55桁のトリガ信号)によりデータサンプリングを開始
させる機能である。
【0143】(4)スレッショルド電圧の割り付け 各チャンネルのスレッショルド電圧は同一である。使用
可能なスレッショルド電圧は、TTL、−40V〜40
Vを20段階に設定することができる。
可能なスレッショルド電圧は、TTL、−40V〜40
Vを20段階に設定することができる。
【0144】4.2.2.パターンの出力 パターン出力の仕様は下記の通りである。 チャンネル数 :16チャンネル 出力レベル :TTL(プローブボックスによりそ
の他のレベルも可能) クロック :内部クロック 5Hz〜20MHz 外部クロック 最高20MHz パターン長さ :メモリ1K(標準)、4K、16
K、32K(オプション) トリガ出力 :指定されたポイントでトリガをクロ
ストリガバスに出力する。 パターン方式 :シングルモード 設定された長さの
パターンを1回出力。 連続モード 設定された長さのパターンを繰り返し
出力する。
の他のレベルも可能) クロック :内部クロック 5Hz〜20MHz 外部クロック 最高20MHz パターン長さ :メモリ1K(標準)、4K、16
K、32K(オプション) トリガ出力 :指定されたポイントでトリガをクロ
ストリガバスに出力する。 パターン方式 :シングルモード 設定された長さの
パターンを1回出力。 連続モード 設定された長さのパターンを繰り返し
出力する。
【0145】コントロールパネルでパターンを編集し、
パターンのクロックレート、パターンデータの長さ、ク
ロストリガ、出力モード等を下記のように設定する。
パターンのクロックレート、パターンデータの長さ、ク
ロストリガ、出力モード等を下記のように設定する。
【0146】(1)内部クロックレートは、50ns〜
1msを14段階に設定することができる。外部クロッ
クはプローブピンから入力する。
1msを14段階に設定することができる。外部クロッ
クはプローブピンから入力する。
【0147】(2)サンプリングデータの長さは、10
0ビット〜16Kビットを5段階に設定することができ
る。
0ビット〜16Kビットを5段階に設定することができ
る。
【0148】(3)パターン出力モード シングルモードでは設定された長さのパターンを1回出
力し、連続モードでは設定された長さのパターンを繰り
返し出力する。
力し、連続モードでは設定された長さのパターンを繰り
返し出力する。
【0149】(4)出力レベルは、プローブボックスに
より選定することができる。 (5)クロストリガの出力 パターンの中、設定されたポイントでクロストリガコー
ドを出力する。このクロストリガコードにより、他の計
測制御モジュールを起動させたり停止させたりすること
ができる。
より選定することができる。 (5)クロストリガの出力 パターンの中、設定されたポイントでクロストリガコー
ドを出力する。このクロストリガコードにより、他の計
測制御モジュールを起動させたり停止させたりすること
ができる。
【0150】5.ディジタル入出力モジュール 5.1 概要 ディジタル入出力モジュールは、レジスタ型のモジュー
ルであって、絶縁ディジタル入出力モジュールと、TT
Lディジタル入出力モジュールとがある。
ルであって、絶縁ディジタル入出力モジュールと、TT
Lディジタル入出力モジュールとがある。
【0151】5.2 絶縁ディジタル入出力モジュール 絶縁ディジタル入出力モジュールは、フォトアイソレー
ションで絶縁された30点づつの入力と出力とを持って
おり、入出力回路に絶縁された内部電源を供給し、ま
た、外部機器とのフレキシブルな接続を可能にするよう
に構成されている。
ションで絶縁された30点づつの入力と出力とを持って
おり、入出力回路に絶縁された内部電源を供給し、ま
た、外部機器とのフレキシブルな接続を可能にするよう
に構成されている。
【0152】5.2.1 入力回路 絶縁ディジタル入出力モジュールの入力回路の全入力に
は、図17に示すように、外部機器からのノイズを除去
するためにチャタリングレス回路を設け、また、入力端
子にはフォトカプラを設けている。
は、図17に示すように、外部機器からのノイズを除去
するためにチャタリングレス回路を設け、また、入力端
子にはフォトカプラを設けている。
【0153】入力回路の仕様は下記の通りである。 入力数 :30点 入力電流 :内部供給 8mA以上(低レ
ベル12Vの時) 外部供給 8mA以上(低レベル12Vの時) フィルタ入力 :全入力に2.3ms以下のチ
ャッタを除去するフィルタが設けられている。 入力接続 :フラットケーブル用34ピン アイソレーション :全入力に設けられている。
ベル12Vの時) 外部供給 8mA以上(低レベル12Vの時) フィルタ入力 :全入力に2.3ms以下のチ
ャッタを除去するフィルタが設けられている。 入力接続 :フラットケーブル用34ピン アイソレーション :全入力に設けられている。
【0154】5.2.2.出力回路 絶縁ディジタル入出力モジュールの出力回路は、図18
に示すように、主に外部機器インターフェースとしてフ
ォトカプラが設けられている。出力回路の仕様は下記の
通りである。 出力数 :30点 出力電圧 :内部電源 12V 外部電源 25V(最大) 出力電流 :最小5mA、通常12mA、
最大30mA(低レベルの時) 出力コネクタ :フラットケーブル用34ピン アイソレーション :全ての出力に設けられてい
る。
に示すように、主に外部機器インターフェースとしてフ
ォトカプラが設けられている。出力回路の仕様は下記の
通りである。 出力数 :30点 出力電圧 :内部電源 12V 外部電源 25V(最大) 出力電流 :最小5mA、通常12mA、
最大30mA(低レベルの時) 出力コネクタ :フラットケーブル用34ピン アイソレーション :全ての出力に設けられてい
る。
【0155】5.2.3 出力電源の設定 モジュールの出力電源の設定は、上位ソフトでリレーR
1を操作することにより、入力側にフォトカプラの電源
を設定することができ、また、リレーR2を操作するこ
とにより出力側にフォトカプラの電源を設定することが
できる。
1を操作することにより、入力側にフォトカプラの電源
を設定することができ、また、リレーR2を操作するこ
とにより出力側にフォトカプラの電源を設定することが
できる。
【0156】5.3 TTLディジタル入出力モジュー
ル TTLディジタル入出力モジュールは、64点のTTL
レベルの入出力を有しており、8ビット単位で入力、出
力、または、高インピーダンスの設定を行うことができ
る。図19は1点当たりの入出力回路を示す。
ル TTLディジタル入出力モジュールは、64点のTTL
レベルの入出力を有しており、8ビット単位で入力、出
力、または、高インピーダンスの設定を行うことができ
る。図19は1点当たりの入出力回路を示す。
【0157】以上、代表的な計測制御モジュールについ
て説明したが、他の計測制御モジュールも、それぞれの
機能に応じて構成されているが、詳細な説明は省略す
る。
て説明したが、他の計測制御モジュールも、それぞれの
機能に応じて構成されているが、詳細な説明は省略す
る。
【0158】各計測制御モジュール共、外形寸法は、V
IXバスBサイズで、計測制御モジュールラックのスロ
ット(20mm)にコンパクトに、かつ、任意の順序
で、挿脱自由に収容され、被測定基板によって、色々な
組み合わせで構成することができる。
IXバスBサイズで、計測制御モジュールラックのスロ
ット(20mm)にコンパクトに、かつ、任意の順序
で、挿脱自由に収容され、被測定基板によって、色々な
組み合わせで構成することができる。
【0159】また、各計測制御モジュールは、パソコン
1の画面に計測器疑似パネルとして表示され、あたかも
実物の計測器を操作するのと同様の感覚で操作すること
によりプリント基板の機能検査を効率的に行うことがで
きるようになっている。
1の画面に計測器疑似パネルとして表示され、あたかも
実物の計測器を操作するのと同様の感覚で操作すること
によりプリント基板の機能検査を効率的に行うことがで
きるようになっている。
【0160】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る汎用
ファンクションテスタは下記の効果を奏する。
ファンクションテスタは下記の効果を奏する。
【0161】(1)従来のように被測定プリント基板毎
に専用のファンクションテスタを設けることなく、小さ
なスペースにファンクションテスタを設置することによ
り、全ての測定物、例えばプリント基板の機能検査を簡
単に短時間で行うことができるので、高い投資効果が得
られると云う極めて優れた効果を奏する。
に専用のファンクションテスタを設けることなく、小さ
なスペースにファンクションテスタを設置することによ
り、全ての測定物、例えばプリント基板の機能検査を簡
単に短時間で行うことができるので、高い投資効果が得
られると云う極めて優れた効果を奏する。
【0162】(2)フアンクションテスタをバスライン
で接続して組み合わせた検査をすることができるので、
例えば部品レベルまたはコンポーネントレベルでのアナ
ログ検査の後に、プリント基板レベルでのディジタル検
査を行うことができると云う汎用性に富んだ機能検査が
でき、しかも検査が完全に行われ、その結果、プリント
基板の品質の向上に寄与すると云う極めて優れた効果を
奏する。
で接続して組み合わせた検査をすることができるので、
例えば部品レベルまたはコンポーネントレベルでのアナ
ログ検査の後に、プリント基板レベルでのディジタル検
査を行うことができると云う汎用性に富んだ機能検査が
でき、しかも検査が完全に行われ、その結果、プリント
基板の品質の向上に寄与すると云う極めて優れた効果を
奏する。
【0163】(3)画面表示による機能検査項目の設定
ができるため、例えば機能検査に必要なテストプログラ
ムの作成、デバッグが簡単に行うことができるので、専
門のテストエンジニアでなくても容易かつ短時間で機能
検査の操作手順の作成ができ、検査効率を向上させ、生
産性を上げることができると云う極めて優れた効果を奏
する。
ができるため、例えば機能検査に必要なテストプログラ
ムの作成、デバッグが簡単に行うことができるので、専
門のテストエンジニアでなくても容易かつ短時間で機能
検査の操作手順の作成ができ、検査効率を向上させ、生
産性を上げることができると云う極めて優れた効果を奏
する。
【0164】(4)ディスプレイに表示される計測器疑
似パネルを操作することによって、実物の計測器を操作
するのと同じ感覚で検査を行うことができるから、検査
が楽にかつ漏れや検査ミスがなく行われ、従って、検査
の質が向上すると云う極めて優れた効果を奏する。
似パネルを操作することによって、実物の計測器を操作
するのと同じ感覚で検査を行うことができるから、検査
が楽にかつ漏れや検査ミスがなく行われ、従って、検査
の質が向上すると云う極めて優れた効果を奏する。
【図1】本発明に係るファンクションテスト・システム
の実施例の全体構成を示す略示的ブロック図である。
の実施例の全体構成を示す略示的ブロック図である。
【図2】同実施例の外観を示す説明図である。
【図3】同実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図4】同実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図5】同実施例における編集用画面表示例を示す説明
図である。
図である。
【図6】同実施例におけるマルチプレクサー用画面表示
例を示す説明図である。
例を示す説明図である。
【図7】同実施例におけるディジタルマルチメータモジ
ュールの入力を示す説明図である。
ュールの入力を示す説明図である。
【図8】同ディジタルマルチメータの計測器疑似パネル
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図9】同ディジタルマルチメータの動作を示すフロー
チャート図である。
チャート図である。
【図10】同実施例のユニバーサルカウンタの計測器疑
似パネルを示す説明図である。
似パネルを示す説明図である。
【図11】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。
例を示す説明図である。
【図12】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。
例を示す説明図である。
【図13】同ユニバーサルカウンタによる周波数測定の
例を示す説明図である。
例を示す説明図である。
【図14】同ユニバーサルカウンタによるパルス幅測定
の例を示す説明図である。
の例を示す説明図である。
【図15】同ユニバーサルカウンタによる周波数比の測
定例を示す説明図である。
定例を示す説明図である。
【図16】同実施例のディジタルテストモジュールの構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図17】同絶縁ディジタル入出力モジュールの入力回
路の構成を示す説明図である。
路の構成を示す説明図である。
【図18】同絶縁ディジタル入出力モジュールの出力回
路の構成を示す説明図である。
路の構成を示す説明図である。
【図19】同TTLディジタル入出力モジュールの出力
回路の構成を示す説明図である。
回路の構成を示す説明図である。
1 パソコン 2 システムコントロール 3 計測制御モジュール群 4 フィクスチャ 5 VMEバス 6 測定バス 7 計測器 8 測定器用バス
Claims (7)
- 【請求項1】 被測定物を装着するための治具と、該測
定物の機能を検査するために異なる検査機能を有する各
種のファンクションテスタと、該ファンクションテスタ
の機能検査を操作する検査制御部とからなり、 前記各種のファンクションテスタは、夫々同形のモジュ
ールタイプに形成したことを特徴とするファンクション
テスト・システム。 - 【請求項2】 上記各種のモジュールタイプのファンク
ションテスタを任意の位置に挿入する複数のスロットを
設けたことを特徴とする請求項1に記載のファンクショ
ンテスト・システム。 - 【請求項3】 上記各種のファンクションテスタは、前
記検査制御部とバスラインで接続したことを特徴とする
請求項1又は2に記載のファンクションテスト・システ
ム。 - 【請求項4】 上記各種のファンクションテスタの相互
間をバスラインで接続したことを特徴とする請求項1、
2又は3に記載のファンクションテスト・システム。 - 【請求項5】 上記各種のファンクションテスタの操作
は、画面上に表示された疑似パネルで行うようにしたこ
とを特徴とする請求項1、2、3又は4に記載のファン
クションテスト・システム。 - 【請求項6】 上記各種のファンクションテスタは、前
記測定物の機能検査項目に応じて適宜選択できるように
したことを特徴とする請求項1、2、3、4又は5に記
載のファンクションテスト・システム。 - 【請求項7】 上記各種のファンクションテスタで測定
する前記測定物は、プリント基板であることを特徴とす
る請求項1、2、3、4、5又は6に記載のファンクシ
ョンテスト・システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6108409A JPH07318614A (ja) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | ファンクションテスト・システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6108409A JPH07318614A (ja) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | ファンクションテスト・システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07318614A true JPH07318614A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14484029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6108409A Pending JPH07318614A (ja) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | ファンクションテスト・システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07318614A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6681142B2 (en) | 2000-03-02 | 2004-01-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and system for testing a test piece |
JP2008014778A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Anritsu Corp | 携帯端末用デバイス測定装置 |
JP5025042B2 (ja) * | 1998-04-15 | 2012-09-12 | テラダイン・インコーポレーテッド | 自動試験装置のための高速リアルタイム状態相互接続 |
JP2019029893A (ja) * | 2017-08-01 | 2019-02-21 | 東日本電信電話株式会社 | 判定装置 |
KR102382569B1 (ko) * | 2020-10-28 | 2022-04-01 | 주식회사 에머릭스 | Pcba 검사장치의 pcba 검사방법 |
KR20220056580A (ko) * | 2020-10-28 | 2022-05-06 | 주식회사 에머릭스 | Pcba 검사장치 |
-
1994
- 1994-05-23 JP JP6108409A patent/JPH07318614A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5025042B2 (ja) * | 1998-04-15 | 2012-09-12 | テラダイン・インコーポレーテッド | 自動試験装置のための高速リアルタイム状態相互接続 |
US6681142B2 (en) | 2000-03-02 | 2004-01-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and system for testing a test piece |
AT412242B (de) * | 2000-03-02 | 2004-11-25 | Siemens Ag Oesterreich | Verfahren und anordnung zum testen eines prüflings |
JP2008014778A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Anritsu Corp | 携帯端末用デバイス測定装置 |
JP2019029893A (ja) * | 2017-08-01 | 2019-02-21 | 東日本電信電話株式会社 | 判定装置 |
KR102382569B1 (ko) * | 2020-10-28 | 2022-04-01 | 주식회사 에머릭스 | Pcba 검사장치의 pcba 검사방법 |
KR20220056580A (ko) * | 2020-10-28 | 2022-05-06 | 주식회사 에머릭스 | Pcba 검사장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4828700B2 (ja) | 集積多重チャンネルアナログテスト装置のアーキテクチャ | |
US7609081B2 (en) | Testing system and method for testing an electronic device | |
US6140811A (en) | Hand-held measurement device combining two logic level indicators | |
TWI500945B (zh) | 電路板之測試系統 | |
US7266463B2 (en) | Signal identification method and apparatus for analogue electrical systems | |
JPS58502109A (ja) | 絶縁抵抗アナライザ装置及び使用方法 | |
JPH07318614A (ja) | ファンクションテスト・システム | |
US6990416B2 (en) | Qualification signal measurement, trigger, and/or display system | |
EP0702235A1 (en) | Graphical trend display methods and apparatus in a test instrument | |
CN115733543A (zh) | 一种光模块固件时序测试平台及测试方法 | |
CN109061524B (zh) | 电源测试电路及方法 | |
CN211123153U (zh) | 一种简易三极管放大电路参数及故障测试装置 | |
KR100219392B1 (ko) | 기능 검사가 가능한 범용 계측기 | |
KR100355716B1 (ko) | 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법 | |
TWI792282B (zh) | 自動化連續測試系統 | |
CN217007505U (zh) | 一种用于飞机盘箱件的特设调试台 | |
KR20000055048A (ko) | 자동 검사 시스템에서의 신호처리방법 | |
JP3247196U (ja) | 回路検査装置 | |
CN215263870U (zh) | 一种芯片管脚状态的自动化测试装置 | |
KR200234483Y1 (ko) | 회로기판상 전자부품측정장치 | |
KR0177218B1 (ko) | 기판자동검사기의 핀 검색방법 | |
CN111896804A (zh) | 一种测量设备及方法 | |
JP2983109B2 (ja) | 抵抗検査装置 | |
Czapski | Useful features of automated test systems in the R&D laboratory | |
GB2184555A (en) | Assembling a module library for the generation of a PCB test program |